JP6760380B2 - 分析データ処理方法及び分析データ処理装置 - Google Patents
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Description
さらに、赤外分光光度計や蛍光X線分析装置等のスペクトル分析装置では、試料となる物質に所定の波長範囲の光を照射することにより該物質から放射される光を検出器で測定することにより、ある波長(波数)又はエネルギーにおける信号強度を示す点データの集合から成る分析データ(スペクトルデータ)が得られる。これら分析データを構成する点データの数は、分析装置が備える検出器のチャンネルの数に相当する。
分析装置により収集された分析データから調べたい内容、つまり分析データを解析する目的を変数(目的変数)y、検出器の各チャンネルの出力を変数(説明変数)x1、x2、x3・・・とすると変数yは変数x1、x2、x3・・・を使って表すことができる。変数x1、x2、x3・・・は互いに独立した変数であることから、統計学上、上記分析データは変数x1、x2、x3・・・の数だけ次元を有する多次元データとして扱われる。
多変量解析では、複数グループの試料について得られた分析データの間で、グラフに現れるピークの位置やピーク形状の比較を行い、その結果に基づき分析データの中から不要な点データを削除したり統合したりすることにより分析データを低次元に写像する。低次元に写像された分析データは、その後、回帰分析や判別分析の手法によりモデル化される。
例えば、蛍光X線分析装置の検出結果に基づきプラスチックの種類を判別する場合、予め、プラスチックの種類が既知の複数グループについてスペクトルデータを取得し、これら複数グループのデータ間で多変量解析が行われる。スペクトルには、プラスチックのベースとなる材料由来のピーク以外に塗料や可塑剤・難燃剤等の添加物由来のピークが含まれる。一般に、プラスチックの種類が異なると添加物の種類も異なるため、ベース材料由来のピークだけでなく添加物由来のピークも複数のグループのデータ間で変動することになる。従って、この場合はベース材料由来のピークと添加物由来のピークの両方を再現できるように分析データが低次元に写像される。
上述した添加物由来のピークや生活習慣に起因する成分由来のピークは、プラスチックの種類や癌疾患の特徴を表すものではなく、ピークの大きさとプラスチックの種類又は癌疾患であるか否か(疾患の状態)の間に因果関係がない。つまり、本来は両者の間に相関はなく、たとえ相関が見られたとしても偽の相関(偽相関)である。そのため、プラスチックの種類や疾患の状態が既知の複数の試料について得られた分析データを、モデル化するための学習データとした場合に、該学習データでは添加物由来のピークとプラスチックの種類、又は生活習慣に起因する成分由来のピークと疾患の状態との間で相関がみられたとしても、解析対象の分析データに同じような相関がみられるとは限らない。その結果、学習データと同じ手法が解析対象の分析データには適合しない、いわゆる過剰適合状態となる。
既知の試料について得られた分析データを表す非線形な回帰関数又は判別関数を算出し、
当該算出された非線形な回帰関数又は判別関数の微分値から、該非線形回帰関数又は前記非線形判別関数に対する、前記既知試料の分析データを構成する複数のチャンネルの出力値の各々の寄与度を算出し、
該寄与度に基づき、前記検出器の複数のチャンネルの中から、未知試料について得られた分析データの処理に用いるチャンネルを決定することを特徴とする。
また、既知の試料とは、含まれる成分が既知の試料、プラスチックの種類や癌患者であるか健常者であるか、というように属するグループが既知の試料等をいう。反対に、未知の試料とは、含まれる成分が未知の試料、属するグループが未知の試料をいう。
統計的機械学習には、ニューラルネットやサポートベクターマシン等の学習機械を用いることができる。
既知試料の分析データを表す非線形な回帰関数又は判別関数の微分値は、検出器の各チャンネルの出力値を表す変数(説明変数)で回帰関数又は判別関数を偏微分することにより算出することができるが、算出にかかる時間を低減するために分析データの一部のデータを抜粋したり、分析データをクラスタリングして各クラスターの代表点で代用したり、経験的に求められた標準的なデータパターンに対して微分値を求めたりしても良い。
この場合、過剰適合が発生しないように、選択するチャンネルの数nを決定すると良い。
過剰適合状態とは、回帰関数又は判別関数を求めるために用いた分析データ自身には、当該回帰関数又は判別関数が適合するが、それ以外の分析データには適合しない状態をいう。例えば、成分が既知の分析データを、回帰関数又は判別関数を求めるための学習データと、学習データについて得られた回帰関数又は判別関数を検証するためのテストデータに分け、学習データについて得られた回帰関数又は判別関数を、学習データ自身に適用した場合の適合率と、前記回帰関数又は判別関数をテストデータに適用した場合の適合率を求め、これらの差が大きければ大きいほど、過剰適合状態にあると判断することができる。
以上より、上記分析データ処理方法においては、既知試料について得られた分析データを学習データとテストデータに分け、学習データを用いて、未知試料について得られた分析データの処理に用いるチャンネルを仮決定し、前記仮決定したチャンネルを用いて前記学習データ及び前記テストデータを処理したときの、該学習データ及び該テストデータの適合率の差が所定範囲内にあるときは、前記仮決定したチャンネルを、未知試料について得られた分析データの処理に用いるチャンネルに正式に決定することが好ましい。
重み付けを行った後の複数のチャンネルに対して再び寄与度を算出し、重みを更新することを繰り返す。その重み又は寄与度に基づいて、未知試料について得られた分析データの処理に用いるチャンネルを決定する。
重み付けは、寄与度を強調するような処理、つまり、大きい寄与度はより大きくなるような処理が好ましく、例えば寄与度を累乗する、寄与度の対数をとる、といった処理が挙げられる。また、重みの大きさは、試料の種類や分析装置の種類等に応じて実験的に求めておいても良い。このように重み付けを行う場合も、寄与度から直接チャンネルを決定する場合も、決定されたチャンネルの出力値を用いた機械学習結果に対して再び同様のチャンネル決定を繰り返し行うことにより、チャンネルの数を段階的に減らして行くようにしても良い。
a)既知の試料について得られた分析データを表す非線形な回帰関数又は判別関数を算出する関数算出部と、
b)前記関数算出部で算出された非線形な回帰関数又は判別関数の微分値から、該非線形回帰関数又は前記非線形判別関数に対する、前記既知試料の分析データを構成する複数のチャンネルの出力値の各々の寄与度を算出する寄与度算出部と、
c)前記寄与度に基づき、前記検出器の複数のチャンネルの中から、未知試料について得られた分析データの処理に用いるチャンネルを決定するチャンネル決定部と
を備えることを特徴とする。
分析システムは、分析装置10とデータ処理装置20とから成る。分析装置10は、計測部11とマルチチャンネル検出器12(以下、検出器12という)と該検出器12による検出信号をデジタルデータに変換するアナログ-デジタル変換部(ADC)13とを備える。例えば分析装置10がフーリエ変換赤外分光光度計(FTIR)の場合、計測部11は、試料に照射する赤外干渉光を生成する干渉計から成り、検出器12は、TGS検出器やMCT検出器等から成る。
分析装置10によっては、検出器12の出力値の再現性が低く、たとえ同一試料であっても、測定する毎に検出器12の各チャンネルの出力値が異なる場合がある。また、分析装置10によっては、検出器12のチャンネル毎に感度やSN比が異なる場合もある。例えば質量分析装置では検出器の再現性が低く、マススペクトルに現れるピークの再現性が低い。また、FTIR等の吸光分析装置では、波長によって検出器の感度やSN比が大きく異なる。
学習データについて、ニューラルネットやSVM等の学習機械を用いた非線形回帰又は非線形判別(学習)を行う。学習データとは、例えば種類が既知の樹脂、癌患者か健常者のいずれであるかが既知の生体サンプルなど、解析結果が既知の試料について分析装置10から得られた分析データを指す。この場合、解析対象試料の分析データに対して適用する非線形回帰分析又は非線形判別分析と同じ回帰対象変数又は判別ラベルで、学習データの非線形回帰分析又は非線形判別分析を行う。ステップ2の処理により、学習データを表す回帰関数又は判別関数が求められる。
学習データについて得られた回帰関数・判別関数を偏微分する。偏微分は、例えば非特許文献4に記載されているような手法を用いることができる。この手法では、softmax関数に入力される値を出力値とみなして微分する。
ステップ3において算出された偏微分値を用いて各チャンネルの寄与度を算出する。例えば、樹脂種を識別するために得られたスペクトルデータのように、特定のチャンネルの信号強度値が大きくなればなるほど、ある物質を含む確度が上がるという場合は、偏微分値は正の値を示すため、偏微分値の平均を取れば良い。一方、例えばある疾病に罹患しているか否かを判断するための病理マーカを調べるためのマススペクトルデータでは、特定のチャンネルの信号値が適正値からどの程度外れているかが重要となる。このような場合は、正負両方の偏微分値が現れるため、偏微分値の二次ノルムから寄与度を算出する。
ステップ4で算出された寄与度の大きい順にn個のチャンネルを選ぶ。この場合、選択する数nとして一つの値を設定しても良いが、いくつかの値を設定し、既知のテストデータ(学習データとは別の既知の分析データ)について選択したn個のチャンネルの出力値を用いて、ステップ2の回帰・判別分析を行った結果、過剰適合が少なく、チャンネルを減らしたことによる精度低下が少なければ、それらn個のチャンネルを最終的にデータ処理に使用するチャンネルに決定すると良い。
図3、図5及び図6は、添加物など含むPP(ポリプロピレン)、PE(ポリエチレン)、PUR(ポリウレタン樹脂)、ABS樹脂(アクリルニトリル−ブタジエン−スチレン共重合合成樹脂)の4種類の樹脂についてFTIRで得られた分析データ(スペクトルデータ)に基づき、PPと非PPのいずれであるかを識別した結果を示す。
ニューラルネットワークの初期値にも依存するが、分析データに含まれる全てのチャンネルの出力値(1000チャンネル)を用いてPPか非PPかを識別したときのテストデータの正答率は94.1%、学習データの正答率は99.2%であった。つまり、学習データでは高い正答率が得られたが、テストデータでは、正答率が低下するという過剰適合状態となった。これに対して、チャンネルの数を減らしていくと、学習データの正答率は徐々に低下する一方、テストデータの正答率が上昇する傾向がみられ、チャンネルの数が40程度で頭打ちになることが分かった。以上より、この実験例では、寄与度の上位40のチャンネルの出力値を用いることにより過剰適合を抑えて、正答率(識別率)が向上することが分かる。
例えば、正規化する方法としては、ばらつきから求まる変動係数(=標準偏差/平均値)で除する周知の手法を用いることができる。
11…計測部
12…検出器
13…ADC
20…データ処理装置
21…データ収集部
22…グラフ作成部
23…データ解析部
231…関数算出部
232…寄与度算出部
233…チャンネル決定部
24…解析用データベース
25…表示部
Claims (9)
- 複数の試料の各々について分析装置により収集された、該分析装置が備えるマルチチャンネル検出器の複数のチャンネルの出力値から成る多次元の分析データに対して統計的機械学習を用いた解析手法を適用することにより該分析データを処理する方法であって、
既知の試料について得られた分析データを表す非線形な回帰関数又は判別関数を算出し、
当該算出された非線形な回帰関数又は判別関数の微分値から、該非線形回帰関数又は前記非線形判別関数に対する、前記既知試料の分析データを構成する複数のチャンネルの出力値の各々の寄与度を算出し、
該寄与度に基づき、前記検出器の複数のチャンネルの中から、未知試料について得られた分析データの処理に用いるチャンネルを決定することを特徴とするデータ処理方法。 - 請求項1に記載のデータ処理方法において、
前記寄与度に応じて前記既知試料の分析データを構成する複数のチャンネル毎に重み付けを行い、
重み付けを行った後の複数のチャンネルに対して再び寄与度を算出し、該寄与度に基づいて、未知試料について得られた分析データの処理に用いるチャンネルを決定することを特徴とする、データ処理方法。 - 請求項1に記載のデータ処理方法において、
決定されたチャンネルに関する情報を提示することを特徴とする、データ処理方法。 - 請求項2に記載のデータ処理方法において、
決定されたチャンネルに関する情報を提示することを特徴とする、データ処理方法。 - 請求項1に記載のデータ処理方法において、
既知試料について得られた分析データを学習データとテストデータに分け、学習データを用いて、未知試料について得られた分析データの処理に用いるチャンネルを仮決定し、前記仮決定したチャンネルを用いて前記学習データ及び前記テストデータを処理したときの、該学習データ及び該テストデータの適合率の差が所定範囲内にあるときは、前記仮決定したチャンネルを、未知試料について得られた分析データの処理に用いるチャンネルに正式に決定することを特徴とする、データ処理方法。 - 請求項2に記載のデータ処理方法において、
既知試料について得られた分析データを学習データとテストデータに分け、学習データを用いて、未知試料について得られた分析データの処理に用いるチャンネルを仮決定し、前記仮決定したチャンネルを用いて前記学習データ及び前記テストデータを処理したときの、該学習データ及び該テストデータの適合率の差が所定範囲内にあるときは、前記仮決定したチャンネルを、未知試料について得られた分析データの処理に用いるチャンネルに正式に決定することを特徴とする、データ処理方法。 - 複数の試料の各々について分析装置により収集された、該分析装置が備えるマルチチャンネル検出器の複数のチャンネルの出力値から成る多次元の分析データに対して統計的機械学習を用いた解析手法を適用することにより該分析データを処理する装置であって、
a)既知の試料について得られた分析データを表す非線形な回帰関数又は判別関数を算出する関数算出部と、
b)前記関数算出部で算出された非線形な回帰関数又は判別関数の微分値から、該非線形回帰関数又は前記非線形判別関数に対する、前記既知試料の分析データを構成する複数のチャンネルの出力値の各々の寄与度を算出する寄与度算出部と、
c)前記寄与度に基づき、前記検出器の複数のチャンネルの中から、未知試料について得られた分析データの処理に用いるチャンネルを決定するチャンネル決定部と
を備えることを特徴とするデータ処理装置。 - 請求項1に記載のデータ処理方法において、
前記微分値は前記非線形な回帰関数又は判別関数を説明変数で偏微分した値であることを特徴とする、データ処理方法。 - 請求項7に記載のデータ処理装置において、
前記微分値は前記非線形な回帰関数又は判別関数を説明変数で偏微分した値であることを特徴とする、データ処理装置。
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Families Citing this family (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| US11668655B2 (en) * | 2018-07-20 | 2023-06-06 | Kla Corporation | Multimode defect classification in semiconductor inspection |
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| JP6725928B1 (ja) * | 2020-02-13 | 2020-07-22 | 東洋インキScホールディングス株式会社 | 回帰モデル作成方法、回帰モデル作成装置、及び、回帰モデル作成プログラム |
| JP7297348B2 (ja) * | 2020-03-05 | 2023-06-26 | 国立研究開発法人物質・材料研究機構 | スペクトル汎化システム及び方法、並びに物質同定システム及び方法 |
| DE102020204140A1 (de) * | 2020-03-31 | 2021-09-30 | Siemens Aktiengesellschaft | Vorrichtung und automatisiertes Verfahren zur Auswertung von Sensormesswerten und Verwendung der Vorrichtung |
| JP2021179906A (ja) | 2020-05-15 | 2021-11-18 | 富士通株式会社 | 影響度算出プログラム、影響度算出装置、影響度算出方法 |
| EP4160204A4 (en) * | 2020-05-28 | 2024-07-03 | Shimadzu Corporation | Peak tracking device, peak tracking method, and peak tracking program |
| GB202108208D0 (en) * | 2021-06-09 | 2021-07-21 | Renishaw Plc | Method and apparatus for removing noise from data |
| JP7738295B2 (ja) * | 2021-12-23 | 2025-09-12 | 住友ゴム工業株式会社 | ゴム組成物の推定方法 |
| CN117296081B (zh) * | 2022-02-25 | 2024-07-19 | 株式会社爱发科 | 显示装置、显示方法以及计算机可读存储介质 |
Family Cites Families (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5228113A (en) * | 1991-06-17 | 1993-07-13 | The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration | Accelerated training apparatus for back propagation networks |
| JPH08292934A (ja) * | 1995-04-21 | 1996-11-05 | Power Reactor & Nuclear Fuel Dev Corp | ニューラルネットワークを用いた情報処理の方法 |
| US6909981B2 (en) * | 2003-01-27 | 2005-06-21 | Ciphergen Biosystems, Inc. | Data management system and method for processing signals from sample spots |
| US7254593B2 (en) * | 2004-01-16 | 2007-08-07 | International Business Machines Corporation | System and method for tracking annotations of data sources |
| US10219742B2 (en) * | 2008-04-14 | 2019-03-05 | Novadaq Technologies ULC | Locating and analyzing perforator flaps for plastic and reconstructive surgery |
| US8738584B2 (en) * | 2009-02-17 | 2014-05-27 | Microsoft Corporation | Context-aware management of shared composite data |
| CN101846617A (zh) * | 2009-12-29 | 2010-09-29 | 中国科学院地球化学研究所 | 一种基于光谱分析的培养基中蔗糖含量的无菌检测方法 |
| JP5476137B2 (ja) * | 2010-01-19 | 2014-04-23 | 株式会社日立製作所 | 生体および脳機能計測に基づくヒューマンインターフェイス |
| US8378296B1 (en) * | 2010-04-05 | 2013-02-19 | Stc.Unm | Enhancement of concentration range of chromatographically detectable components with array detector mass spectrometry |
| US8428889B2 (en) * | 2010-10-07 | 2013-04-23 | Thermo Finnigan Llc | Methods of automated spectral peak detection and quantification having learning mode |
| ES2396844B1 (es) | 2010-12-01 | 2014-01-27 | Universitat Politècnica De Catalunya | Sistema y método para la estimación simultánea y no invasiva de la glucosa en la sangre, nivel de glucocorticoides y presión arterial |
| US10515312B1 (en) * | 2015-12-30 | 2019-12-24 | Amazon Technologies, Inc. | Neural network model compaction using selective unit removal |
| GB2550591B (en) * | 2016-05-24 | 2018-06-27 | Microsaic Systems Plc | A method for extracting mass information from low resolution mass-to-charge ratio spectra of multiply charged species |
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