JP6800535B2 - Block gauge jig and extrusion device - Google Patents
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Description
本発明は、デジタルマイクロメータ等の測長器具を校正する際に用いられるブロックゲージの被測定箇所を規定する治具及び該治具に収容されたブロックゲージを押し出す押し出し器具に関する。 The present invention relates to a jig that defines a measurement point of a block gauge used when calibrating a length measuring instrument such as a digital micrometer, and an extrusion device that pushes out a block gauge housed in the jig.
機械加工された部品等の寸法を測定する測長器具として、製造現場では広くデジタルマイクロメータ(特許文献1参照)が使用される。該デジタルマイクロメータは、使用される場所の温度等の測定環境、経時変化によって誤差が生じる場合がある。そのため、測定作業の前に該デジタルマイクロメータの校正を実施する必要がある。 Digital micrometer (see Patent Document 1) is widely used at manufacturing sites as a length measuring instrument for measuring the dimensions of machined parts and the like. The digital micrometer may have an error depending on the measurement environment such as the temperature of the place where it is used and the change with time. Therefore, it is necessary to calibrate the digital micrometer before the measurement work.
ここで、校正とは、該デジタルマイクロメータの表示する寸法と、長さの標準となる物の長さと、の差を測定することをいう。該デジタルマイクロメータの校正には、長さの標準となるブロックゲージが用いられる。高い精度で長さが規定された該ブロックゲージを該デジタルマイクロメータで測定することで該デジタルマイクロメータを校正し、必要に応じてデジタルマイクロメータが真の値を表示するようにデジタルマイクロメータを調整できる。 Here, calibration means measuring the difference between the dimension displayed by the digital micrometer and the length of an object that is a standard length. A block gauge, which is a standard length, is used for calibration of the digital micrometer. Calibrate the digital micrometer by measuring the length-defined block gauge with the digital micrometer with high accuracy, and if necessary, set the digital micrometer so that the digital micrometer displays the true value. Can be adjusted.
ブロックゲージをデジタルマイクロメータで測定して該デジタルマイクロメータを校正する作業は、一般的に該デジタルマイクロメータを使用する作業者や校正担当者等の特定の校正作業者により日常的に実施される。該校正作業者は、校正を毎回同様に実施しようとするため、ブロックゲージの特定の箇所にはマイクロゲージのアンビル及びスピンドルが繰り返し当てられやすい。すると、ブロックゲージの該特定の部分が偏って摩耗してしまう。 The work of measuring a block gauge with a digital micrometer and calibrating the digital micrometer is generally carried out on a daily basis by a specific calibration worker such as a worker who uses the digital micrometer or a calibrator. .. Since the calibration worker tries to perform the calibration in the same manner every time, the anvil and the spindle of the micro gauge are likely to be repeatedly applied to a specific part of the block gauge. Then, the specific portion of the block gauge is unevenly worn.
摩耗が大きくなると摩耗が生じた部分はもはや校正に用いるには不向きとなる。しかし、該ブロックゲージの他の部分を使用すれば十分に校正は可能である。それにも関わらず、該校正作業者は校正の条件を維持しようとして摩耗が生じた部分を使用してしまう。そのため、該校正作業者に正しく校正作業を実施させるためには新しいブロックゲージを使用させなければならず、不経済である。 As the wear increases, the worn part is no longer suitable for calibration. However, it is possible to calibrate sufficiently by using other parts of the block gauge. Nevertheless, the calibration worker uses the worn part in an attempt to maintain the calibration conditions. Therefore, it is uneconomical to have the calibration worker use a new block gauge in order to correctly perform the calibration work.
本発明はかかる問題に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、ブロックゲージを用いた校正時にブロックゲージの被測定箇所を規定し、ブロックゲージの寿命を向上させることができるブロックゲージ用治具を提供することである。 The present invention has been made in view of such a problem, and an object of the present invention is a block gauge capable of defining a measurement point of the block gauge at the time of calibration using the block gauge and improving the life of the block gauge. To provide a jig for use.
本発明の一態様によれば、測長器具の校正に用いられるブロックゲージの被測定箇所を規定するブロックゲージ用治具であって、該ブロックゲージ用治具は、ブロックゲージを収容する筐体と、該筐体に設けられ該筐体に対してブロックゲージを出し入れ可能にする開口部と、該筐体に収容された該ブロックゲージの被測定箇所を規定するように該筐体の一部が切り欠かれて形成された一対の切り欠き部と、を備え、該測長器具の校正に用いられる該ブロックゲージの一対の面が該一対の切り欠き部からそれぞれ露出することを特徴とするブロックゲージ用治具が提供される。 According to one aspect of the present invention, it is a block gauge jig that defines a measurement point of a block gauge used for calibrating a length measuring instrument, and the block gauge jig is a housing for accommodating the block gauge. And a part of the housing so as to define an opening provided in the housing and allowing the block gauge to be taken in and out of the housing, and a measurement point of the block gauge housed in the housing. It is characterized in that a pair of notches formed by notching is provided, and a pair of surfaces of the block gauge used for calibrating the length measuring instrument are each exposed from the pair of notches. A jig for a block gauge is provided.
本発明の一態様において、該ブロックゲージ用治具は、該ブロックゲージに印字されている長さ表示文字を露出する窓部をさらに備えていてもよい。また、該ブロックゲージ用治具に収容されたブロックゲージを押し出す押し出し器具であって、基台と、該基台から突出した突起と、を備え、該突起は、該ブロックゲージ用治具の該開口部に対向する面に形成された挿通穴に突き通されることで該ブロックゲージ用治具に収容された該ブロックゲージを該ブロックゲージ用治具から押し出す機能を有することを特徴とする押し出し器具もまた本発明の一態様である。 In one aspect of the present invention, the block gauge jig may further include a window portion that exposes the length display characters printed on the block gauge. Further, it is an extrusion device for pushing out a block gauge housed in the block gauge jig, and includes a base and a protrusion protruding from the base, and the protrusion is the said of the block gauge jig. Extruding having a function of extruding the block gauge housed in the block gauge jig from the block gauge jig by being pierced through an insertion hole formed on a surface facing the opening. The device is also an aspect of the present invention.
本発明の一態様に係るブロックゲージ用治具は、ブロックゲージを収容できる筐体を有する。該筐体には該ブロックゲージを出し入れできる開口部と、該ブロックゲージの測定箇所を規定する一対の切り欠き部と、が形成されている。該開口部を通じて該ブロックゲージ用治具に収容された該ブロックゲージは、一部が該一対の切り欠き部から露出する。 The jig for a block gauge according to one aspect of the present invention has a housing capable of accommodating the block gauge. The housing is formed with an opening through which the block gauge can be taken in and out, and a pair of notches that define a measurement location of the block gauge. A part of the block gauge housed in the block gauge jig through the opening is exposed from the pair of notches.
デジタルマイクロメータ等の測長器具を校正する際は、ブロックゲージの該一対の切り欠き部に露出した部分にアンビル及びスピンドルを当てて測定する。このとき、該ブロックゲージの露出しない部分はデジタルマイクロメータの校正には使用できない。すなわち、該ブロックゲージ用治具は、デジタルマイクロメータの校正のためのブロックゲージの測定において、測定箇所を規定する。そのため、校正作業者の意思に依らずに測定箇所が制御される。 When calibrating a length measuring instrument such as a digital micrometer, an anvil and a spindle are applied to the exposed portion of the pair of notches of the block gauge for measurement. At this time, the unexposed portion of the block gauge cannot be used for calibration of the digital micrometer. That is, the block gauge jig defines a measurement point in the measurement of the block gauge for calibration of the digital micrometer. Therefore, the measurement location is controlled regardless of the intention of the calibration worker.
該ブロックゲージ用治具に収容されたブロックゲージを用いたデジタルマイクロメータの校正を所定の回数行った後は、例えば、該ブロックゲージを該ブロックゲージ用治具から取り出し、他のブロックゲージ用治具に収容する。ここで、該他のブロックゲージ用治具の切り欠き部を、元のブロックゲージ用治具の切り欠き部の形成位置とは異なる位置に形成する。すると、該ブロックゲージのデジタルマイクロメータの校正に使用される箇所を変えることができる。 After calibrating the digital micrometer using the block gauge housed in the block gauge jig a predetermined number of times, for example, the block gauge is taken out from the block gauge jig and treated for another block gauge. Store in a jig. Here, the cutout portion of the other block gauge jig is formed at a position different from the formation position of the cutout portion of the original block gauge jig. Then, the part used for calibrating the digital micrometer of the block gauge can be changed.
このように、該ブロックゲージ用治具を用いると、校正作業者の意図に依らず該ブロックゲージのデジタルマイクロメータの校正に使用される箇所を規定できるため、ブロックゲージの摩耗していない部分を校正に使用させることができる。そのため、ブロックゲージの特定の箇所のみが摩耗したこと理由にブロックゲージを取り換える必要がなくなるため、ブロックゲージの寿命を延ばすことができる。 In this way, by using the jig for the block gauge, it is possible to specify the part used for calibrating the digital micrometer of the block gauge regardless of the intention of the calibration worker. It can be used for calibration. Therefore, it is not necessary to replace the block gauge because only a specific part of the block gauge is worn, so that the life of the block gauge can be extended.
したがって、本発明の一態様により、ブロックゲージを用いた校正時にブロックゲージの測定箇所を規定し、ブロックゲージの寿命を向上させることができるブロックゲージ用治具が提供される。 Therefore, according to one aspect of the present invention, there is provided a jig for a block gauge capable of defining a measurement point of the block gauge at the time of calibration using the block gauge and improving the life of the block gauge.
本発明に係る実施形態について説明する。まず、本実施形態に係るブロックゲージ用治具に収容されるブロックゲージについて図1を用いて説明する。図1には、該ブロックゲージ1が模式的に示されている。 An embodiment according to the present invention will be described. First, the block gauge housed in the block gauge jig according to the present embodiment will be described with reference to FIG. FIG. 1 schematically shows the block gauge 1.
該ブロックゲージ1は、デジタルマイクロメータ等の測長器具の校正のために用いられる。該ブロックゲージ1は略直方体状に形成されており、該直方体を構成する1組の向かい合う平行な面が測長器具の校正に使用される。該1組の向かい合う平行な面間は極めて高い精度で互いに特定の距離となるように仕上げられており、該平行な面間の距離が長さの基準となる。ブロックゲージ1の側面には、該ブロックゲージ1が提供する基準の長さの値を示す長さ表示3が印字されている。 The block gauge 1 is used for calibrating a length measuring instrument such as a digital micrometer. The block gauge 1 is formed in a substantially rectangular parallelepiped shape, and a set of facing parallel surfaces constituting the rectangular parallelepiped is used for calibration of a length measuring instrument. The pair of parallel faces facing each other are finished so as to have a specific distance from each other with extremely high accuracy, and the distance between the parallel faces serves as a reference for the length. On the side surface of the block gauge 1, a length display 3 indicating a reference length value provided by the block gauge 1 is printed.
ブロックゲージ1は長さの基準となるため、セラミック等の硬質で温度変化に対して体積変化の小さい材料が用いられる。しかし、該ブロックゲージ1を用いてデジタルマイクロメータを繰り返し校正していくと、該デジタルマイクロメータのアンビルまたはスピンドルが当たることでブロックゲージ1が摩耗して、該平行な面間の距離が変化してしまう。そのため、ある程度ブロックゲージ1が摩耗したときは該ブロックゲージ1の使用を終了して新しいブロックゲージ1を使用する必要がある。 Since the block gauge 1 serves as a reference for the length, a hard material such as ceramic having a small volume change with respect to a temperature change is used. However, when the digital micrometer is repeatedly calibrated using the block gauge 1, the block gauge 1 is worn by the contact with the anvil or the spindle of the digital micrometer, and the distance between the parallel surfaces changes. Will end up. Therefore, when the block gauge 1 is worn to some extent, it is necessary to end the use of the block gauge 1 and use a new block gauge 1.
なお、ブロックゲージ1を用いた校正作業は、一般的には、デジタルマイクロメータを使用する作業者、または、校正担当者等の校正作業者が、該デジタルマイクロメータを用いた計測作業の前または途中に実施する。校正作業者は、計測を安定的に実施したいため、該校正作業を毎回同様に実施しようとする。すると、ブロックゲージ1の特定の箇所が校正作業に繰り返し使用されやすく、その箇所に偏って摩耗しやすくなる。 The calibration work using the block gauge 1 is generally performed by a worker using a digital micrometer or a calibration worker such as a calibrator before or after the measurement work using the digital micrometer. Carry out on the way. Since the calibration worker wants to carry out the measurement stably, he tries to carry out the calibration work in the same manner every time. Then, a specific portion of the block gauge 1 is likely to be repeatedly used for calibration work, and the portion is likely to be unevenly worn.
摩耗の生じていない部分はその後の校正作業に使用可能であるにも関わらず、校正作業者は引き続き摩耗した部分を使用してしまうため、ブロックゲージ1の交換をする必要がある。校正に使用できる部分を残しながらブロックゲージ1を交換するのはブロックゲージの寿命を早めることになり不経済である。 Although the non-weared portion can be used for the subsequent calibration work, the calibration worker continues to use the worn portion, so it is necessary to replace the block gauge 1. Replacing the block gauge 1 while leaving a part that can be used for calibration shortens the life of the block gauge, which is uneconomical.
そこで、ブロックゲージ1を本実施形態に係るブロックゲージ用治具に収容して校正作業に使用する。次に、該ブロックゲージ用治具について説明する。図1には、該ブロックゲージ用治具2が模式的に示されている。 Therefore, the block gauge 1 is housed in the block gauge jig according to the present embodiment and used for calibration work. Next, the block gauge jig will be described. FIG. 1 schematically shows the block gauge jig 2.
ブロックゲージ用治具2の筐体は、略直方体状の中空構造となっており、該筐体の大きさは、該ブロックゲージ1の大きさに合わせて形成される。すなわち、該筐体は、該ブロックゲージ1を収容できる形状及び大きさに形成される。ブロックゲージ1の出し入れ時にブロックゲージ1に傷や摩耗等の損傷を生じさせないように、該筐体には、例えば、アクリル樹脂やフッ素樹脂等の材料が用いられる。そして、例えば、射出成形や3Dプリント等の方法で形成される。 The housing of the block gauge jig 2 has a substantially rectangular parallelepiped hollow structure, and the size of the housing is formed according to the size of the block gauge 1. That is, the housing is formed in a shape and size that can accommodate the block gauge 1. A material such as acrylic resin or fluororesin is used for the housing so that the block gauge 1 is not damaged such as scratches and wear when the block gauge 1 is taken in and out. Then, for example, it is formed by a method such as injection molding or 3D printing.
該ブロックゲージ用治具2の筐体には、ブロックゲージ1を出し入れ可能にする該筐体の一面にわたって形成される開口部4が形成されている。該開口部4は、例えば、該ブロックゲージ用治具2の筐体の上面に形成され、上方から該開口部4を通じてブロックゲージを該ブロックゲージ用治具2に収容できる。 The housing of the block gauge jig 2 is formed with an opening 4 formed over one surface of the housing that allows the block gauge 1 to be taken in and out. The opening 4 is formed on, for example, the upper surface of the housing of the block gauge jig 2, and the block gauge can be accommodated in the block gauge jig 2 from above through the opening 4.
また、該ブロックゲージ用治具2の筐体には、該ブロックゲージ1の測定箇所を規定する一対の切り欠き部6が形成されている。該一対の切り欠き部6は、該切り欠き部を通してデジタルマイクロメータのアンビルまたはスピンドルを該ブロックゲージ用治具に収容されたブロックゲージ1に当てることができる大きさに形成される。 Further, the housing of the block gauge jig 2 is formed with a pair of notch portions 6 that define the measurement points of the block gauge 1. The pair of notch portions 6 are formed in a size such that the anvil or spindle of the digital micrometer can be applied to the block gauge 1 housed in the block gauge jig through the notch portions.
図2に、ブロックゲージ1を収容したブロックゲージ用治具2を模式的に示す斜視図を示す。図2に示す通り、該ブロックゲージ用治具2の側面には、ブロックゲージ1の長さ表示3に対応する位置に窓8が設けられており、該窓8を通して長さ表示3が外部から視認可能となる。 FIG. 2 shows a perspective view schematically showing a block gauge jig 2 accommodating the block gauge 1. As shown in FIG. 2, a window 8 is provided on the side surface of the block gauge jig 2 at a position corresponding to the length display 3 of the block gauge 1, and the length display 3 is seen from the outside through the window 8. It becomes visible.
なお、収容したブロックゲージ1が校正作業者の独自の判断で容易に取り出されないようにするためには、収容されたブロックゲージ1が該開口部4からはみ出さない大きさに該筐体が形成されるのが好ましい。または、作業性を向上のためにブロックゲージ1の取り出しが容易となるよう、ブロックゲージ1が該開口部4からはみ出す大きさに該筐体が形成されてもよい。 In order to prevent the housed block gauge 1 from being easily taken out at the calibrator's own discretion, the housing should be sized so that the housed block gauge 1 does not protrude from the opening 4. It is preferably formed. Alternatively, the housing may be formed in a size such that the block gauge 1 protrudes from the opening 4 so that the block gauge 1 can be easily taken out in order to improve workability.
また、図2に示される通り、収容されたブロックゲージ1は、該一対の切り欠き部6から外部に露出する。校正作業者は、ブロックゲージ1の露出した部分を用いてデジタルマイクロメータの校正を実施する。デジタルマイクロメータの校正について、図3を用いて説明する。図3は、ブロックゲージ用治具2に収容されたブロックゲージ1を用いたデジタルマイクロメータの校正作業を説明する上面図である。 Further, as shown in FIG. 2, the housed block gauge 1 is exposed to the outside from the pair of notch portions 6. The calibration worker calibrates the digital micrometer using the exposed portion of the block gauge 1. Calibration of the digital micrometer will be described with reference to FIG. FIG. 3 is a top view for explaining the calibration work of the digital micrometer using the block gauge 1 housed in the block gauge jig 2.
図3に示すデジタルマイクロメータ5は、上方から見てU字状の部分と、該U字状の部分の一端から突出する突出部分と、を備えるフレーム13を有する。該U字状の部分の内側の空間を挟んでフレーム13の一方側にアンビル7と、他方側にスピンドル9と、が軸上に並ぶように配設されている。スピンドル9は、該軸方向に移動可能にフレーム13に支持されている。 The digital micrometer 5 shown in FIG. 3 has a frame 13 including a U-shaped portion when viewed from above and a protruding portion protruding from one end of the U-shaped portion. Anvil 7 is arranged on one side of the frame 13 and a spindle 9 is arranged on the other side of the frame 13 so as to be aligned on the axis with the space inside the U-shaped portion interposed therebetween. The spindle 9 is supported by the frame 13 so as to be movable in the axial direction.
該フレーム13の突出部分には、該突出部分の周方向に回転可能なシンブル15が設けられている。該シンブル15は、機械的にスピンドル9に接続されており、該シンブル15を回転させるとスピンドル9が該軸方向に移動する。該スピンドルと、該シンブル15と、の間の位置の該フレーム13の突出部には表示部11が設けられている。表示部11は、スピンドル9の位置に応じて該スピンドル9と、アンビル7と、の間の距離の値を表示する。 A thimble 15 that can rotate in the circumferential direction of the protruding portion is provided on the protruding portion of the frame 13. The thimble 15 is mechanically connected to the spindle 9, and when the thimble 15 is rotated, the spindle 9 moves in the axial direction. A display portion 11 is provided on a protruding portion of the frame 13 at a position between the spindle and the thimble 15. The display unit 11 displays the value of the distance between the spindle 9 and the anvil 7 according to the position of the spindle 9.
デジタルマイクロメータ5による測長は、スピンドル9と、アンビル7と、の間に被測長物を挟み込ませることで実施される。このとき、スピンドル9と、アンビル7と、が被測長物を挟み込む力に応じて被測長物が変形する場合があるため、精度の高い測長のためには、一定の力で被測長物を挟み込むようにする必要がある。そこで、フレーム13の突出部の先端には、該フレームの周方向に回転可能なラチェットストップ17が設けられている。ラチェットストップ17を回転させると、シンブル15を回転できる。 The length measurement by the digital micrometer 5 is carried out by sandwiching the object to be measured between the spindle 9 and the anvil 7. At this time, since the object to be measured may be deformed according to the force of the spindle 9 and the anvil 7 sandwiching the object to be measured, the object to be measured may be deformed with a constant force for highly accurate length measurement. It is necessary to sandwich it. Therefore, a ratchet stop 17 that can rotate in the circumferential direction of the frame is provided at the tip of the protruding portion of the frame 13. By rotating the ratchet stop 17, the thimble 15 can be rotated.
スピンドル9を軸方向に移動させるとき、作業者がラチェットストップ17を持ってシンブル15を回転させると、被測長物が挟み込まれたときに、挟み込む力が所定の大きさになるとラチェットストップ17が空回りするようになっている。そのため、ラチェットストップ17を持ってシンブル15を回転させると、一定の力で被測長物が挟み込まれるようになる。 When the operator holds the ratchet stop 17 and rotates the thimble 15 when moving the spindle 9 in the axial direction, the ratchet stop 17 runs idle when the pinching force reaches a predetermined value when the object to be measured is pinched. It is designed to do. Therefore, when the thimble 15 is rotated by holding the ratchet stop 17, the object to be measured is pinched by a constant force.
ここで、表示部11に表示される値には誤差が生じる場合がある。そこで、正確な測定を実施するためには、ブロックゲージ1を用いてデジタルマイクロメータ5を校正する必要がある。図3に示す通り、ブロックゲージ1はブロックゲージ用治具2の一対の切り欠き部6で露出するため、スピンドル9と、アンビル7と、をそれぞれブロックゲージ1の露出した箇所に当てることで校正を実施できる。 Here, an error may occur in the value displayed on the display unit 11. Therefore, in order to carry out accurate measurement, it is necessary to calibrate the digital micrometer 5 using the block gauge 1. As shown in FIG. 3, since the block gauge 1 is exposed by the pair of notches 6 of the block gauge jig 2, the spindle 9 and the anvil 7 are calibrated by hitting the exposed portions of the block gauge 1 respectively. Can be carried out.
なお、ブロックゲージ1の露出していない部分は該ブロックゲージ用治具2により校正には使用されない。すなわち、該ブロックゲージ用治具2を使用すると、ブロックゲージ1の校正に使用される測定箇所を規定できる。ブロックゲージ1の露出した箇所を繰り返し校正作業に使用すると、該露出した箇所が徐々に摩耗していくため、長さの標準としての機能が失われていく。そのため、所定の回数校正作業を実施した後は、ブロックゲージ1の他の箇所を使用して校正作業を実施する必要がある。 The unexposed portion of the block gauge 1 is not used for calibration by the block gauge jig 2. That is, by using the block gauge jig 2, it is possible to specify the measurement point used for calibrating the block gauge 1. When the exposed portion of the block gauge 1 is repeatedly used for calibration work, the exposed portion gradually wears, so that the function as a standard length is lost. Therefore, after performing the calibration work a predetermined number of times, it is necessary to carry out the calibration work using another part of the block gauge 1.
ここで、図4を用いて、ブロックゲージ用治具2の他の構成例であるブロックゲージ用治具2aについて説明する。図4は、ブロックゲージ用治具2aを模式的に示す斜視図である。図4に示すブロックゲージ用治具2aの一対の切り欠き部6aは、図1等に示すブロックゲージ用治具2の一対の切り欠き部6とは異なる高さに形成される。 Here, the block gauge jig 2a, which is another configuration example of the block gauge jig 2, will be described with reference to FIG. FIG. 4 is a perspective view schematically showing the block gauge jig 2a. The pair of notch portions 6a of the block gauge jig 2a shown in FIG. 4 are formed at a height different from the pair of notch portions 6 of the block gauge jig 2 shown in FIG. 1 and the like.
例えば、図1等に示すブロックゲージ用治具2の一対の切り欠き部6がブロックゲージ用治具2の中央付近の高さに形成される場合、図4に示すブロックゲージ用治具2aの一対の切り欠き部6aを該中央付近以外の高さに形成する。より詳細には、上面の開口4に近い高さに形成する。 For example, when the pair of notch portions 6 of the block gauge jig 2 shown in FIG. 1 and the like are formed at a height near the center of the block gauge jig 2, the block gauge jig 2a shown in FIG. 4 A pair of notch portions 6a are formed at a height other than the vicinity of the center. More specifically, it is formed at a height close to the opening 4 on the upper surface.
すると、ブロックゲージ用治具2aにブロックゲージ1を収容すると、該一対の切り欠き部6aからブロックゲージ1が露出するが、露出する箇所はブロックゲージ用治具2が使用されたときに露出する箇所とは異なる。 Then, when the block gauge 1 is housed in the block gauge jig 2a, the block gauge 1 is exposed from the pair of notch portions 6a, but the exposed portion is exposed when the block gauge jig 2 is used. Different from the location.
そのため、ブロックゲージ用治具2を使用して校正を所定の回数実施した後は、ブロックゲージ1をブロックゲージ用治具2から取り出して、該ブロックゲージ1をブロックゲージ用治具2aに収容すれば、ブロックゲージ1の摩耗していない箇所を使用して校正を実施できる。校正作業者はブロックゲージ1の露出した箇所を使用して校正を実施せざるを得ないため、摩耗した箇所を使用して校正を実施するおそれがない。そのためブロックゲージ1を交換せずに該ブロックゲージ1を引き続き校正に使用できる。 Therefore, after the calibration is performed a predetermined number of times using the block gauge jig 2, the block gauge 1 is taken out from the block gauge jig 2 and the block gauge 1 is housed in the block gauge jig 2a. For example, calibration can be performed using a non-wearing portion of the block gauge 1. Since the calibration worker has no choice but to perform the calibration using the exposed portion of the block gauge 1, there is no risk of performing the calibration using the worn portion. Therefore, the block gauge 1 can be continuously used for calibration without replacing the block gauge 1.
さらに、ブロックゲージ用治具2aを使用して校正を繰り返し実施して一対の切り欠き部6aから露出した箇所が摩耗した後は、ブロックゲージ1を一度取り出して、上下を逆転させてブロックゲージ1を再びブロックゲージ用治具2aに収容する。該一対の切り欠き部6aはブロックゲージ用治具2aの中央付近の高さには形成されていないため、上下を逆転する前に露出されていた箇所とは異なる箇所が一対の切り欠き部6aから露出する。そのため、さらに引き続きブロックゲージ1を校正に使用することができる。 Further, after repeated calibration using the block gauge jig 2a and the exposed portion from the pair of notch portions 6a is worn, the block gauge 1 is taken out once and turned upside down to turn the block gauge 1 upside down. Is again housed in the block gauge jig 2a. Since the pair of cutouts 6a are not formed at a height near the center of the block gauge jig 2a, the pair of cutouts 6a are different from the parts that were exposed before being turned upside down. Exposed from. Therefore, the block gauge 1 can be continuously used for calibration.
なお、ブロックゲージ用治具2aの筐体の側面側には、窓8aと、窓8bと、が設けられている。該窓8a及び該窓8bは、ブロックゲージ1の長さ表示3に対応する高さに形成されており、ブロックゲージ1をブロックゲージ用治具2aに収容したときに、ブロックゲージ1の長さ表示3がいずれかの窓を通して外部から視認可能となる。 A window 8a and a window 8b are provided on the side surface side of the housing of the block gauge jig 2a. The window 8a and the window 8b are formed at a height corresponding to the length display 3 of the block gauge 1, and when the block gauge 1 is housed in the block gauge jig 2a, the length of the block gauge 1 is formed. The display 3 becomes visible from the outside through any of the windows.
このように、ブロックゲージ用治具を用いることで、デジタルマイクロメータの校正に用いられるブロックゲージの部分を規定できる。そのため、ブロックゲージの特定の箇所のみが摩耗したことを理由にブロックゲージを交換する必要がなくなる。したがって、ブロックゲージの寿命を延ばすことができて経済的である。 In this way, by using the jig for the block gauge, the portion of the block gauge used for calibrating the digital micrometer can be defined. Therefore, it is not necessary to replace the block gauge because only a specific part of the block gauge is worn. Therefore, the life of the block gauge can be extended, which is economical.
次に、ブロックゲージ用治具2からのブロックゲージ1の取り出しについて、図5(A)、図5(B)及び図6を用いて説明する。ブロックゲージ1の取り出しは、図5(B)に示す押し出し器具12を用いると容易となる。 Next, the removal of the block gauge 1 from the block gauge jig 2 will be described with reference to FIGS. 5 (A), 5 (B), and FIG. The block gauge 1 can be easily taken out by using the extrusion device 12 shown in FIG. 5 (B).
図5(A)は、ブロックゲージ用治具2の底部10側を模式的に示す斜視図である。図5(A)に示す通り、ブロックゲージ用治具2の該底部10には、挿通穴10aが形成される。図5(B)に示す押し出し器具12は、平板状の基台14から上方に突出する棒状の突起16と、平板状の基台14の両側方から立設された一対のガイド壁18と、が配設される。 FIG. 5A is a perspective view schematically showing the bottom 10 side of the block gauge jig 2. As shown in FIG. 5A, an insertion hole 10a is formed in the bottom portion 10 of the block gauge jig 2. The extrusion device 12 shown in FIG. 5B includes a rod-shaped protrusion 16 protruding upward from the flat plate-shaped base 14, a pair of guide walls 18 erected from both sides of the flat base 14, and a pair of guide walls 18. Is arranged.
ブロックゲージ用治具2の挿通穴10aと、押し出し器具12の突起16と、はそれぞれ同じ数だけ互いに対応する位置に対応した形状で形成される。例えば、該挿通穴10aは円形状または多角形状に形成され、該突起16は該挿通穴10aの形状に対応するように円柱状または多角柱状に形成される。このとき、該挿通穴10aは、該突起16の断面形状よりも大きく形成される。 The insertion holes 10a of the block gauge jig 2 and the protrusions 16 of the extrusion device 12 are formed in the same number and in shapes corresponding to the positions corresponding to each other. For example, the insertion hole 10a is formed in a circular shape or a polygonal shape, and the protrusion 16 is formed in a columnar shape or a polygonal columnar shape corresponding to the shape of the insertion hole 10a. At this time, the insertion hole 10a is formed to be larger than the cross-sectional shape of the protrusion 16.
該一対のガイド壁18は、その間の距離がブロックゲージ用治具2の幅(両側面の間の距離)に対応するように形成される。該一対のガイド壁18は、それぞれ、該押し出し器具12を側方から見たときに各突起16がガイド壁18により隠れる大きさに形成される。 The pair of guide walls 18 are formed so that the distance between them corresponds to the width of the block gauge jig 2 (distance between both side surfaces). Each of the pair of guide walls 18 is formed in such a size that each protrusion 16 is hidden by the guide wall 18 when the extrusion device 12 is viewed from the side.
該押し出し器具12には、例えば、アクリル樹脂やフッ素樹脂等の材料が用いられる。基台14、突起16、及び、一対のガイド壁18は、例えば、射出成形や3Dプリント等により一体的に形成される。ただし、突起16には大きな力が加わるため、突起16を金属等の強度の高い材料を用いて作製し、該突起16を基台14に組み込んで押し出し器具12を作製してもよい。 For the extrusion device 12, for example, a material such as an acrylic resin or a fluororesin is used. The base 14, the protrusions 16, and the pair of guide walls 18 are integrally formed by, for example, injection molding or 3D printing. However, since a large force is applied to the protrusion 16, the protrusion 16 may be made of a high-strength material such as metal, and the protrusion 16 may be incorporated into the base 14 to make the extrusion device 12.
図6は、押し出し器具12を用いたブロックゲージ用治具2からのブロックゲージ1の取り出しを模式的に示す斜視図である。ブロックゲージ用治具2は、底部10を押し出し器具12の基台14に向けた状態で押し出し器具12の上方に位置付けられる。このとき、押し出し器具12の突起16の上方に挿通穴10aが位置付けられる。なお、一対のガイド壁18がブロックゲージ用治具2の該幅方向における位置合わせを補助する。 FIG. 6 is a perspective view schematically showing the removal of the block gauge 1 from the block gauge jig 2 using the extrusion device 12. The block gauge jig 2 is positioned above the push-out device 12 with the bottom 10 facing the base 14 of the push-out device 12. At this time, the insertion hole 10a is positioned above the protrusion 16 of the extrusion device 12. The pair of guide walls 18 assists in aligning the block gauge jig 2 in the width direction.
次に、ブロックゲージ用治具2を押し出し器具12に向けて下降させる。すると、挿通穴10aに突起16が挿通されて、該突起16がブロックゲージ用治具2に収容されたブロックゲージ1に当たり該ブロックゲージ1を支えるようになる。すると、ブロックゲージ用治具2が下降する一方でブロックゲージ1が下降しないため、ブロックゲージ1が相対的に押し上げられてブロックゲージ用治具2からはみ出して摘み出すことがきできる。 Next, the block gauge jig 2 is lowered toward the extrusion device 12. Then, the protrusion 16 is inserted into the insertion hole 10a, and the protrusion 16 hits the block gauge 1 housed in the block gauge jig 2 and supports the block gauge 1. Then, since the block gauge 1 is lowered while the block gauge 1 is lowered, the block gauge 1 is relatively pushed up and can be pushed out from the block gauge jig 2 and picked up.
ここで、例えば、押し出し器具12が該ガイド壁18を有していない場合、ブロックゲージ用治具2と、押し出し器具12と、の位置がずれていた場合に、突起16には押し出し器具12の幅方向に向いた力が加わり、突起16が破損するおそれがある。これに対して、該ガイド壁18を有する押し出し器具12では、該ガイド壁18が該幅方向においてブロックゲージ用治具2と、押し出し器具12と、の位置を合わせるため、該突起16に該幅方向に向いた力がかからず、突起16の破損を抑制できる。 Here, for example, when the extrusion device 12 does not have the guide wall 18, when the positions of the block gauge jig 2 and the extrusion device 12 are misaligned, the protrusion 16 has the extrusion device 12 A force directed in the width direction is applied, and the protrusion 16 may be damaged. On the other hand, in the extrusion device 12 having the guide wall 18, the guide wall 18 has the width on the protrusion 16 in order to align the position of the block gauge jig 2 and the extrusion device 12 in the width direction. No force is applied in the direction, and damage to the protrusion 16 can be suppressed.
このように、押し出し器具12を用いると、ブロックゲージ用治具2からブロックゲージ1を容易に取り出すことができる。 In this way, when the extrusion device 12 is used, the block gauge 1 can be easily taken out from the block gauge jig 2.
なお、押し出し器具12は、異なる大きさのブロックゲージを収容する多種のブロックゲージ用治具2に対して使用できる。例えば、図6に示す通り、押し出し器具呼び寸法(校正に使用される面間の距離)が50mmのブロックゲージを収容するブロックゲージ用治具2に対しては、3本の突起16を用いて該ブロックゲージを押し出す。また、例えば、呼び寸法が10mmのブロックゲージを収容するブロックゲージ用治具に対しては、該3本の突起16のうち1本を用いて該ブロックゲージを押し出す。 The extrusion device 12 can be used for various types of block gauge jigs 2 that accommodate block gauges of different sizes. For example, as shown in FIG. 6, for a block gauge jig 2 accommodating a block gauge having a nominal size of an extrusion device (distance between surfaces used for calibration) of 50 mm, three protrusions 16 are used. Push out the block gauge. Further, for example, for a block gauge jig for accommodating a block gauge having a nominal size of 10 mm, the block gauge is pushed out using one of the three protrusions 16.
なお、本発明は、上記実施形態の記載に限定されず、種々変更して実施可能である。例えば、上記の実施形態では、ブロックゲージ用治具2の窓部8を通してブロックゲージ1の長さ表示3を外部から視認可能としていだが、本発明はこれに限定されない。例えば、ブロックゲージ用治具2に収容するブロックゲージの種別が予め決定されているのであれば、ブロックゲージ用治具2に窓部8を設けなくてもよく、その場合、ブロックゲージ用治具2の筐体に長さ表示を印字してもよい。 The present invention is not limited to the description of the above embodiment, and can be implemented with various modifications. For example, in the above embodiment, the length display 3 of the block gauge 1 can be visually recognized from the outside through the window portion 8 of the block gauge jig 2, but the present invention is not limited to this. For example, if the type of the block gauge to be accommodated in the block gauge jig 2 is determined in advance, it is not necessary to provide the window portion 8 in the block gauge jig 2, and in that case, the block gauge jig 2 The length display may be printed on the housing of 2.
また、上記の実施形態では、切り欠き部の形成位置の異なる2つのブロックゲージ用治具を用いて、校正に使用されるブロックゲージの面を3つの領域に分けて、各領域が順に露出されるようにブロックゲージ用治具を使用する例について説明した。本発明はこれに限定されず、例えば、ブロックゲージの該面を5つの領域に分けて、各領域が順に露出されるようにブロックゲージ用治具を使用してもよい。 Further, in the above embodiment, the surface of the block gauge used for calibration is divided into three regions by using two block gauge jigs having different cutout forming positions, and each region is exposed in order. An example of using a jig for a block gauge has been described. The present invention is not limited to this, and for example, the surface of the block gauge may be divided into five regions, and a block gauge jig may be used so that each region is exposed in order.
この場合、切り欠き部の形成位置の異なる3つのブロックゲージ用治具を用意する。すなわち、該5つの領域のうち中央の領域を露出する切り欠き部を有するブロックゲージ用治具と、該中央の領域に隣接する一方の領域を露出する切り欠き部を有するブロックゲージ用治具と、最外領域を露出する切り欠き部を有するブロックゲージ用治具と、を用意する。3つのブロックゲージ用治具を用いて、該5つの領域が順に露出させる。 In this case, three block gauge jigs having different positions for forming the notch portions are prepared. That is, a block gauge jig having a notch that exposes the central region of the five regions, and a block gauge jig having a notch that exposes one region adjacent to the central region. , Prepare a jig for a block gauge having a notch that exposes the outermost region. Using three block gauge jigs, the five regions are exposed in order.
同様に、4つのブロックゲージ用治具を用意し、ブロックゲージの該面を7つの領域に分け、各領域が順に露出されるようにブロックゲージ用治具を使用してもよい。このように、マイクロメータのアンビル及びスピンドルがブロックゲージの該面にアクセス可能である範囲で、切り欠き部の形成位置の異なる複数のブロックゲージ用治具を組み合わせて使用できる。 Similarly, four block gauge jigs may be prepared, the surface of the block gauge may be divided into seven regions, and the block gauge jig may be used so that each region is exposed in order. As described above, a plurality of block gauge jigs having different notched portions can be used in combination within a range in which the micrometer anvil and spindle can access the surface of the block gauge.
その他、上記実施形態に係る構造、方法等は、本発明の目的の範囲を逸脱しない限りにおいて適宜変更して実施できる。 In addition, the structure, method, etc. according to the above-described embodiment can be appropriately modified and implemented as long as they do not deviate from the scope of the object of the present invention.
1 ブロックゲージ
3 長さ表示
5 デジタルマイクロメータ
7 アンビル
9 スピンドル
11 表示部
13 フレーム
15 回転部
17 ラチェットストップ
2,2a ブロックゲージ用治具
4 開口部
6,6a 切り欠き部
8,8a,8b 窓部
10 底部
10a 挿通穴
12 押し出し器具
14 基台
16 突起
18 ガイド壁
1 Block gauge 3 Length display 5 Digital micrometer 7 Anvil 9 Spindle 11 Display part 13 Frame 15 Rotating part 17 Ratchet stop 2,2a Block gauge jig 4 Opening 6, 6a Notch 8, 8a, 8b Window 10 Bottom 10a Insertion hole 12 Extruder 14 Base 16 Protrusion 18 Guide wall
Claims (3)
該ブロックゲージ用治具は、ブロックゲージを収容する筐体と、該筐体に設けられ該筐体に対してブロックゲージを出し入れ可能にする開口部と、該筐体に収容された該ブロックゲージの被測定箇所を規定するように該筐体の一部が切り欠かれて形成された一対の切り欠き部と、を備え、
該測長器具の校正に用いられる該ブロックゲージの一対の面が該一対の切り欠き部からそれぞれ露出することを特徴とするブロックゲージ用治具。 It is a jig for block gauges that defines the measurement points of block gauges used for calibrating length measuring instruments.
The block gauge jig includes a housing for accommodating the block gauge, an opening provided in the housing for allowing the block gauge to be taken in and out of the housing, and the block gauge housed in the housing. It is provided with a pair of notches formed by notching a part of the housing so as to define the measurement location of the housing.
A jig for a block gauge, characterized in that a pair of surfaces of the block gauge used for calibrating the length measuring instrument are each exposed from the pair of notches.
基台と、該基台から突出した突起と、を備え、
該突起は、該ブロックゲージ用治具の該開口部に対向する面に形成された挿通穴に突き通されることで該ブロックゲージ用治具に収容された該ブロックゲージを該ブロックゲージ用治具から押し出す機能を有することを特徴とする押し出し器具。 An extrusion device for pushing out a block gauge housed in the block gauge jig according to the first and second aspects.
It is provided with a base and a protrusion protruding from the base.
The protrusion is pierced through an insertion hole formed on a surface of the block gauge jig facing the opening, so that the block gauge housed in the block gauge jig can be treated for the block gauge. An extruding device characterized by having a function of extruding from a tool.
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