JP6827073B2 - 構造化光およびタイムオブフライトを用いた深度マッピング - Google Patents
構造化光およびタイムオブフライトを用いた深度マッピング Download PDFInfo
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Description
局所領域の深度情報を取得する仮想現実システムのヘッドセットに関する。
ーザを取り囲む環境の捕捉を活用することができる。しかしながら、従来のデプスカメラ
撮像アーキテクチャは、サイズが比較的大きく、重量があり、相当量の電力を消費する。
シーンの3D情報を取得するための例示的な一般的なデプスカメラ撮像アーキテクチャに
は、タイムオブフライト(パルスおよび符号化波形の両方の直接検出)、構造化光(SL
)、およびステレオビジョンが含まれる。異なるデプスカメラ撮像アーキテクチャは、そ
れぞれ異なる長所および短所を提供するので、特定のデプスカメラ撮像アーキテクチャは
、異なる動作条件において他のものよりも優れた性能を提供することができる。例えば、
ステレオビジョンアーキテクチャは周囲照明と良好に動作し、一方、アクティブ照明源を
有するタイムオブフライト型アーキテクチャは周囲照明からの信号対雑音比の制限によっ
て十分に機能を果たさない可能性がある。しかしながら、従来のデプスカメラ撮像アーキ
テクチャの比較的大きなサイズにより、デプスカメラを含む多くのシステムは、通常、特
定の使用ケースのために構成された単一タイプのデプスカメラ撮像アーキテクチャを使用
している。ヘッドマウントシステムは、様々な動作条件および動作環境においてより広範
な機能を実行するように使用される傾向にあるので、ヘッドマウントシステムおよびユー
ザを取り囲む領域の深度情報を得るために単一のデプスカメラ撮像アーキテクチャを選択
することは、ヘッドマウントシステムでのユーザーエクスペリエンスが低下する可能性が
ある。
は、ヘッドセットを囲む領域内およびヘッドセットに含まれる撮像デバイスの視野(すな
わち、「局所領域」)内のヘッドセットと1つまたは複数の対象物との間の距離を決定す
るように構成されたデプスカメラ部品(DCA:depth camera assem
bly)を含む。DCAは、カメラ等の撮像デバイスと、対称ドットまたは準ランダムド
ット、グリッドまたは水平バーなどの特定のパターンをシーンに放射するように構成され
た照明源とを含む。例えば、照明源は、グリッドまたは一連の水平バーを局所領域に放射
する。DCAは、局所領域の表面に投影したときのパターンの変形に基づいて、三角測量
を活用して表面とヘッドセットとの間の距離を決定することができる。
る強度をパターンに埋め込む。照明源から放射された光が局所領域内の対象物から反射し
て撮像デバイスに戻る正味の往復時間を表す情報(「タイムオブフライト情報」)を捕捉
する際に、DCAは、ヘッドセットの局所領域の深度情報を捕捉するための追加の機構を
有する。DCAは、撮像デバイスによって捕捉される放射光の時間に基づいて、DCAと
、照明源からの光を反射する局所領域内の対象物との間の距離を決定する。例えば、DC
Aは、DCAに含まれる撮像デバイスによって捕捉される放射光に対して約2ナノ秒でD
CAと局所領域内の対象物との間の1フィート(30.48センチメートル)の距離を決
定する。タイムオブフライト情報および構造化光情報を捕捉するために、照明源は、照明
源によって放射されるパターンの時間的強度および空間的強度を、30メガヘルツなどの
特定の周波数を有する時間キャリア信号(temporal carrier sign
al)で変調する。
照明源によって放射される光を含む、局所領域からの光を捕捉する。局所領域内の対象物
によって反射された照明源からのタイムオブフライト情報を決定するために、撮像デバイ
スは画素群のアレイを含む検出器を含む。各画素群は、1つまたは複数の画素を含み、個
々の画素群は、照明源が放射されたパターンを変調するために使用されるキャリア信号の
位相に対して積分時間において個々の位相シフトに関連付けられる。検出器の個々の画素
群は個々の制御信号を受信するので、個々の画素群は、制御信号によって特定される個々
の時間に光を捕捉する。これにより、検出器の個々の画素群が変調されたパターンの個々
の位相を捕捉することが可能となる。例えば、互いに最も近い4つの画素群は、4つの画
素群の各々に個々の時間で光を捕捉させる個々の制御信号を受信し、4つの画素群の各々
によって捕捉された光は、4つの画素群内の他の画素群によって捕捉された光に対して9
0度の位相シフトを有する。DCAは、4つの画素群間の相対信号を比較して、相対的な
視野に基づいて検出器に亘って変化する対象物の位置に対するキャリア信号の正味の位相
または角度を導出する。導出された正味の位相または角度は、検出器の個々の画素群によ
って捕捉された光の信号差に基づく。DCAは、任意の適切な技術を用いて、相対信号に
おける時間オフセットを補償して、局所領域に放射された構造化パターンの画像を決定す
る。例えば、DCAは、相対信号の位相角を反転させて相対的な画素毎の放射照度をスケ
ーリングし、隣接する画素からの相対信号を加算して時間バイアスを除去するか、または
、相対信号の時間オフセットおよび検出器の個々の画素から導出された正味の位相または
角度におけるオフセットに基づいて他の適切な処理を行うことによって相対信号における
時間オフセットを補償する。したがって、DCAの撮像デバイスによって捕捉されたフレ
ームは、構造化光(すなわち空間)データおよびタイムオブフライト(すなわち時間的)
データを捕捉し、DCAによる局所領域の全体的な深度情報の算定が改善される。構造化
光データおよびタイムオブフライトデータは、DCAに対する局所領域の相対的な深度に
関する異なる情報を提供するので、フレーム内の構造化光データおよびタイムオブフライ
トデータを捕捉することにより、DCAによる深度算定の正確度、精度、およびロバスト
性が改善される。構造化光データおよびタイムオブフライトデータを単一のフレームで捕
捉することにより、DCAの移動変化または動き変化に対する感度が低下し、DCAが単
一の検出器を使用してタイムオブフライトデータと構造化光データの両方の相対強度を活
用することができ、小型で軽量でよりコスト効率の良いDCAの実施が提供される。
から、本明細書で説明した構造および方法の代替の実施形態を、本明細書に記載の原理ま
たは利点から逸脱することなく用いることができることを容易に認識するであろう。
図1は、VRコンソール110が動作する仮想現実(VR:virtual real
ity)システム環境100の一実施形態のブロック図である。なお、図1は、例示のた
めのVRシステム環境を示しており、本明細書に記載された構成要素および機能は、様々
な実施形態における拡張現実(AR:augmented reality)システムに
含まれてもよい。本明細書で使用されるように、VRシステム環境100は、ユーザが対
話することができる仮想環境をユーザに提示する仮想現実システム環境を含み得る。図1
に示すVRシステム環境100は、VRコンソール110に接続されたVRヘッドセット
105およびVR入出力(I/O)インタフェース115を備える。なお、図1は、1つ
のVRヘッドセット105および1つのVR I/Oインタフェース115を含む例示的
なシステム100を示しているが、他の実施形態では、任意の数のこれらの構成要素がV
Rシステム環境100に含まれてもよい。例えば、複数のVRヘッドセット105が設け
られ、各VRヘッドセット105が関連するVR I/Oインタフェース115を有し、
各VRヘッドセット105およびVR I/Oインタフェース115がVRコンソール1
10と通信してもよい。代替の構成では、異なる構成要素および/または追加の構成要素
をVRシステム環境100に含ませることができる。さらに、いくつかの実施形態におい
て、図1に示される1つまたは複数の構成要素と関連して説明される機能が、図1に関連
して説明したのとは異なる方法で複数の構成要素に分配されてもよい。例えば、VRコン
ソール110の機能の一部または全部は、VRヘッドセット105によって提供される。
たは3次元(3D)画像、2Dまたは3D動画、音声他)を用いて物理的な現実世界環境
の拡大ビューを含むコンテンツをユーザに提示するヘッドマウントディスプレイである。
いくつかの実施形態では、提示されるコンテンツは、VRヘッドセット105、VRコン
ソール110、またはその両方からオーディオ情報を受信し、オーディオ情報に基づいて
オーディオデータを提示する外部デバイス(例えば、スピーカおよび/またはヘッドフォ
ン)を介して提示されるオーディオを含む。VRヘッドセット105の一実施形態は、図
2および図3に関連して以下でさらに説明される。VRヘッドセット105は、互いに強
固にまたは非剛性に結合され得る1つまたは複数の剛体を備え得る。剛体間の堅固な結合
は、結合された剛体を単一の剛体として機能させる。対照的に、剛体間の非剛性結合は、
剛体が互いに対して移動することを可能にする。
assembly)120、電子ディスプレイ125、光学ブロック130、1つまたは
複数の位置センサ135、および慣性測定ユニット(IMU:inertial mea
surement Unit)140を含む。VRヘッドセット105のいくつかの実施
形態は、図1に関連して説明されるものとは異なる構成要素を有する。さらに、図1に関
連して説明した様々な構成要素によって提供される機能は、他の実施形態では、VRヘッ
ドセット105の構成要素において異なるようにして分散されてもよい。
捉する。DCA120のいくつかの実施形態は、1つまたは複数の撮像デバイス(たとえ
ば、カメラ、ビデオカメラ)と、構造化光(SL:structured light)
パターンを放射するように構成された照明源とを含む。以下にさらに説明するように、構
造化光は、対称ドットパターンまたは準ランダムドットパターン、グリッド、または水平
バーなどの特定のパターンをシーンに投影する。例えば、照明源は、VRヘッドセット1
05を取り囲む環境上にグリッドまたは一連の水平バーを放射する。三角測量または表面
に投影されたときのパターンの認識される変形に基づいて、シーン内の対象物の深度情報
および表面情報が決定される。
120は、照明源から放射された光がVRヘッドセット105を取り囲む領域内の対象物
から反射して1つまたは複数の撮像デバイスに戻る時間を表すタイムオブフライト(ti
me of flight)情報を捕捉する。様々な実施形態において、DCA120は
、構造化光情報と同時にまたはほぼ同時にタイムオブフライト情報を捕捉する。1つまた
は複数の撮像デバイスによって放射された光が捕捉される時間に基づいて、DCA120
は、DCA120と、照明源からの光を反射する、VRヘッドセット105を取り囲む領
域内の対象物との間の距離を決定する。タイムオブフライト情報および構造化光情報を捕
捉するために、照明源は、放射されるSLパターンを、30MHz(様々な実施形態では
、周波数は5MHzと5GHzとの間の周波数範囲から選択され得る)等の特定の周波数
を有するキャリア信号で変調する。
。撮像デバイスによって捕捉される例示的な光の波長帯域は、可視帯域(380nm〜7
50nm)、赤外線(IR)帯域(750nm〜2200nm)、紫外線帯域(100n
m〜380nm)、電磁波スペクトルの別の一部、またはそれらのいくつかの組合せを含
む。いくつかの実施形態では、撮像デバイスは、可視帯域および赤外帯域の光を含む画像
を捕捉する。VRヘッドセット105を取り囲む領域内の対象物から反射された構造化光
パターンからの光を共同で捕捉し、照明源からのキャリア信号がその領域内の対象物から
DCA120に反射する時間を決定するために、撮像デバイスは、画素群のアレイを含む
検出器を含む。各画素群は、1つまたは複数の画素を含み、個々の画素群は、キャリア信
号の位相とは異なる位相シフトで関連付けられている。様々な実施形態では、照明源によ
って放射されたキャリア信号によって変調された個々の時間位相のパターンを捕捉するた
めに個々の画素群が互いに異なる時間に起動される。例えば、画素群は、個々の時間に起
動され、隣接する画素群は、互いに対して約90度、180度、または270度の位相シ
フトを有する光を捕捉する。DCA120は、個々の画素群によって捕捉された信号デー
タから、DCA120からの深度と等しいキャリア信号の位相を導出する。また、捕捉さ
れたデータは、空間パターンの画像フレームを、時間領域に亘る全画素電荷の合計によっ
て、またはキャリア位相信号を補正した後に生成する。DCA120については、図3〜
図4Dを参照して以下でさらに説明する。
たは3D画像をユーザに表示する。種々の実施形態において、電子ディスプレイ125は
、単一の電子ディスプレイまたは複数の電子ディスプレイ(例えば、ユーザの各眼に対す
るディスプレイ)を含む。例示的な電子ディスプレイ125は、液晶ディスプレイ(LC
D:liquid crystal display)、有機発光ダイオード(OLED
:organic light emitting diode)ディスプレイ、アクテ
ィブマトリクス有機発光ダイオードディスプレイ(AMOLED:active−mat
rix organic light−emitting diode)、その他のディ
スプレイ、またはそれらの組合せを含む。
光に関連する光学誤差を補正し、かつ補正された画像光をVRヘッドセット105のユー
ザに提示する。様々な実施形態において、光学ブロック130は、1つまたは複数の光学
素子を含む。光学ブロック130に含まれる例示的な光学素子は、開口、フレネルレンズ
、凸レンズ、凹レンズ、フィルタ、反射面、または画像光に影響を与える他の任意の適切
な光学素子を含む。さらに、光学ブロック130は、異なる光学素子の組合せを含み得る
。いくつかの実施形態では、光学ブロック130内の1つまたは複数の光学素子は、反射
防止コーティングのような1つまたは複数のコーティングを有することができる。
電子ディスプレイ125を物理的に小さくし、重量を低減し、消費電力を低減することを
可能にする。さらに、拡大は、電子ディスプレイ125によって提示されるコンテンツの
視野を増加させる。例えば、表示されたコンテンツの視野は、表示されたコンテンツが、
ユーザの視野のほぼすべて(例えば、約110度傾斜)、および場合によっては全部を使
用して提示されるようになっている。さらにいくつかの実施形態では、光学素子を追加ま
たは除去することによって拡大の量を調整することができる。
を補正するように設計されてもよい。光学誤差の例には、バレル歪み、ピンクッション歪
み、軸上色収差、または横方向色収差が含まれる。他のタイプの光学誤差は、球面収差、
コマ収差またはレンズ像面湾曲による誤差、非点収差、または他のタイプの光学誤差をさ
らに含み得る。いくつかの実施形態では、表示のために電子ディスプレイ125に提供さ
れるコンテンツは予歪状態であり、光学ブロック130は、コンテンツに基づいて生成さ
れた電子ディスプレイ125から画像光を受け取るときに歪みを補正する。
、およびDCA120から受信した深度情報からVRヘッドセット105の位置を示すデ
ータを生成する電子デバイスである。位置センサ135は、VRヘッドセット105の動
きに応答した1つまたは複数の測定信号を生成する。位置センサ135の例には、1つま
たは複数の加速度計、1つまたは複数のジャイロスコープ、1つまたは複数の磁力計、動
きを検出する別の適切なタイプのセンサ、IMU140の誤差補正に使用されるあるタイ
プのセンサ、またはそれらの組合せが含まれる。位置センサ135は、IMU140の外
部に、IMU140の内部に、またはそれらの位置の組合せに配置することができる。
に基づいて、VRヘッドセット105の初期位置に対するVRヘッドセット105の推定
の現在位置を示すデータを生成する。例えば、位置センサ135は、並進運動(前後、上
下、左右)を測定する複数の加速度計、および回転運動(例えば、ピッチ、ヨー、ロール
)を測定する複数のジャイロスコープを含む。いくつかの実施形態では、IMU140は
測定信号を迅速にサンプリングし、サンプリングされたデータからVRヘッドセット10
5の推定の現在位置を計算する。例えば、IMU140は、加速度計から受信した測定信
号を経時的に積分して速度ベクトルを推定し、速度ベクトルを経時的に積分して、VRヘ
ッドセット105上の基準点の推定の現在位置を決定する。代替的に、IMU140は、
サンプリングされた測定信号をVRコンソール110に提供し、IMU140は、データ
を解釈して誤差を低減する。基準点は、VRヘッドセット105の位置を表すために使用
され得る点である。基準点は、一般に、VRヘッドセット105の向きおよび位置に関連
する空間内の点または位置として定義され得る。
以下でさらに説明するように、1つまたは複数のパラメータは、VRヘッドセット105
の追跡を維持するために使用される。受信したパラメータに基づいて、IMU140は、
1つまたは複数のIMUパラメータ(例えば、サンプルレート)を調整することができる
。いくつかの実施形態では、特定のパラメータによって、IMU140は、基準点の初期
位置が基準点の次の位置に対応するように基準点の初期位置を更新する。基準点の次の較
正された位置として基準点の初期位置を更新することは、IMU140の推定の現在の位
置に関連する累積誤差を低減するのに役立つ。累積誤差は、ドリフト誤差とも呼ばれ、推
定の基準点の位置を基準点の実際の位置から経時的に「離脱」させる。VRヘッドセット
105のいくつかの実施形態では、IMU140は、専用ハードウェアコンポーネントで
あってもよい。他の実施形態では、IMU140は、1つまたは複数のプロセッサに実装
されたソフトウェアコンポーネントであってもよい。
ール110から応答を受信することを可能にするデバイスである。アクション要求は、特
定のアクションを実行するための要求である。例えば、アクション要求は、画像またはビ
デオデータの捕捉を開始または終了するための命令、またはアプリケーション内で特定の
アクションを実行するための命令であってもよい。VR I/Oインタフェース115は
、1つまたは複数の入力デバイスを含むことができる。例示的な入力デバイスには、キー
ボード、マウス、ゲームコントローラ、またはアクション要求を受け取り、VRコンソー
ル110にアクション要求を伝達するための他の適切な装置が含まれる。VR I/Oイ
ンタフェース115によって受信されたアクション要求は、アクション要求に対応するア
クションを実行するVRコンソール110に伝達される。いくつかの実施形態では、VR
I/Oインタフェース115は、VR I/Oインタフェース115の初期位置に対す
るVR I/Oインタフェース115の推定の位置を示す較正データを取得する上述した
ようなIMU 140をさらに含む。いくつかの実施形態では、VR I/Oインタフェ
ース115は、VRコンソール110から受信した指示に従ってユーザに触覚フィードバ
ックを提供することができる。例えば、アクション要求が受信されたときに触覚フィード
バックが提供されるか、またはVRコンソール110がアクションを実行するときにVR
コンソール110がVR I/Oインタフェース115に命令を送り、VR I/Oイン
タフェース115に触覚フィードバックを生成させる。
Oインタフェース115のうちの1つまたは複数から受信した情報に従って処理するため
にVRヘッドセット105にコンテンツを提供する。図1に示すように、VRコンソール
110は、アプリケーションストア150、追跡モジュール155、およびVRエンジン
145を含む。VRコンソール110のいくつかの実施形態は、図1に関連して説明した
ものとは異なるモジュールまたは構成要素を有する。同様に、以下でさらに説明される機
能は、図1と関連して説明したものとは異なる方法で、VRコンソール110の複数の構
成要素に分散されてもよい。
は複数のアプリケーションを格納する。アプリケーションは、プロセッサによる実行時に
、ユーザに提示するためのコンテンツを生成する1つのグループの命令である。アプリケ
ーションによって生成されるコンテンツは、VRヘッドセット105またはVR I/O
インタフェース115の動きによりユーザから受信した入力に応答したものであってもよ
い。アプリケーションの例には、ゲームアプリケーション、会議アプリケーション、ビデ
オ再生アプリケーション、または他の適切なアプリケーションが含まれる。
境100を較正するとともに、1つまたは複数の較正パラメータを調整して、VRヘッド
セット105またはVR I/Oインタフェース115の位置の決定における誤差を低減
することができる。例えば、追跡モジュール155は、較正パラメータをDCA120に
伝達してDCA120の焦点を調整し、DCA120によって捕捉されるSL要素の位置
をより正確に決定する。追跡モジュール155によって実行される較正はまた、VRヘッ
ドセット105内のIMU140および/またはVR I/Oインタフェース115に含
まれるIMU140から受信した情報を考慮する。さらに、VRヘッドセット105の追
跡を喪失した場合(例えば、DCA120が少なくとも閾値数のSL要素の照準線を喪失
する)、追跡モジュール140は、VRシステム環境100の一部または全部を再較正す
ることができる。
140またはそれらのいくつかの組合せからの情報を使用してVRヘッドセット105ま
たはVR I/Oインタフェース115の動きを追跡する。例えば、追跡モジュール15
5は、VRヘッドセット105からの情報に基づいて局所領域のマッピングにおけるVR
ヘッドセット105の基準点の位置を決定する。追跡モジュール155は、IMU140
からのVRヘッドセット105の位置を示すデータを使用して、またはVR I/Oイン
タフェース115に含まれるIMU140からのVR I/Oインタフェース115の位
置を示すデータを使用して、VRヘッドセット105の基準点の位置またはVR I/O
インタフェース115の基準点を決定する。さらに、いくつかの実施形態では、追跡モジ
ュール155は、IMU140からのVRヘッドセット105の位置を示すデータの一部
ならびにDCA120からの局所領域の表現を使用してVRヘッドセット105の将来の
位置を予測することができる。追跡モジュール155は、VRヘッドセット105または
VR I/Oインタフェース115の推定または予測した将来の位置をVRエンジン14
5に提供する。
ッドセット105を取り囲む領域(即ち、「局所領域」)の3Dマッピングを生成する。
いくつかの実施形態では、VRエンジン145は、VRヘッドセット105のDCA12
0によって捕捉された変形したSL要素の画像に基づいて、DCA120によって放射さ
れた光がVRヘッドセット105を取り囲む領域内の1つまたは複数の対象物によって反
射された後にDCA120によって検出される経過時間に基づいて、またはDCA120
によって捕捉された変形したSL要素の画像と、DCA120によって放射された光がV
Rヘッドセット105を取り囲む領域内の1つまたは複数の対象物によって反射された後
にDCA120によって検出される経過時間との組合わせに基づいて局所領域の3Dマッ
ピングに関する深度情報を決定する。様々な実施形態では、VRエンジン145は、DC
A120によって決定された個々のタイプの情報、またはDCA120によって決定され
た組合せのタイプの情報を使用する。
、VRヘッドセット105の位置情報、加速度情報、速度情報、予測した将来の位置、ま
たはそれらのいくつかの組合せを追跡モジュール155から受信する。受信した情報に基
づいて、VRエンジン145は、ユーザに提示するためにVRヘッドセット105に提供
するコンテンツを決定する。例えば、受信した情報が、ユーザが左方向を見たことを示し
ている場合、VRエンジン145は、バーチャル環境または追加のコンテンツで局所領域
を拡張する環境においてユーザの動きを反映するVRヘッドセット105に対するコンテ
ンツを生成する。さらに、VRエンジン145は、VR I/Oインタフェース115か
ら受信したアクション要求に応答してVRコンソール110上で実行中のアプリケーショ
ン内でアクションを実行し、アクションが実行されたことをユーザにフィードバックする
。提供されるフィードバックは、VRヘッドセット105による視覚的または聴覚的なフ
ィードバックまたはVR I/Oインタフェース115による触覚フィードバックであり
得る。
は、VRヘッドセット105の一実施形態であり、前部剛体205、バンド210、基準
点215、左側面220A、上面220B、右側面220C、底面220D、および前面
220Eを含む。図2に示されたVRヘッドセット200はまた、図3および図4に関連
して以下でさらに説明される、カメラ225および照明源230を含む一実施形態のデプ
スカメラ部品(DCA)120を含む。前部剛体205は、電子ディスプレイ125の1
つまたは複数の電子ディスプレイ要素(図示せず)、IMU130、1つまたは複数の位
置センサ135、および基準点215を含む。
120と、既知の空間パターン(例えば、グリッド、一連のライン、対称ドットまたは準
ランダムに配向されたドットのパターン)を局所領域上に投影するように構成された照明
源230とを含む。例えば、空間パターンは、既知の幅と高さの1つまたは複数の幾何学
要素を含み、空間パターンが局所領域に投影されたときに様々な幾何学要素の変形を計算
して局所領域内の対象物に関する情報を提供することを可能にする。照明源230は、既
知の空間パターンを特定の周波数を有するキャリア信号で時間的に変調する。様々な実施
形態において、照明源230は、発光体に接続されたコントローラ(例えば、プロセッサ
)を含み、コントローラは、発光体によって放射される光をキャリア信号によって変調し
て、キャリア信号の変化に基づいて発光体によって放射された光の強度を経時的に変化さ
せる。発光体が既知の空間パターン(すなわち、「構造化光のパターン」または「構造化
光パターン」)を放射するとき、既知の空間パターンの強度は、キャリア信号に基づいて
経時的に変化する。例えば、照明源230は、既知の空間パターンを、10MHzの周波
数を有する正弦波、100MHzの周波数を有する方形波、または任意の他の適切な信号
で変調するコントローラに接続された発光体を含む。カメラ225は、局所領域の画像を
捕捉し、局所領域の画像は、図3〜4Bに関して以下にさらに説明するように、局所領域
の深度画像を計算するために使用される。
に示すように、前部剛体205は、撮像デバイス225および照明源230を含む。図3
の例において示すように、前部剛体205は、撮像デバイス225に接続されたプロセッ
サ315を含む。しかしながら、他の実施形態では、プロセッサ315は、撮像デバイス
225に含まれる。前部剛体205はまた、光が前部剛体205を伝搬する経路に対応す
る光軸も有する。いくつかの実施形態では、撮像デバイス225は、光軸に沿って配置さ
れており、かつ撮像デバイス225の視野内の前部剛体205を取り囲む環境の一部であ
る局所領域305の画像を捕捉する。さらに、前部剛体205は、図1に関連して前にさ
らに説明されている電子ディスプレイ125および光学ブロック130を含む。前部剛体
205はまた、ユーザの眼340が位置する射出瞳335を含む。説明のために、図3は
、単一の眼340による前部剛体205の断面を示す。局所領域305は、入射した環境
光ならびに照明源230によって投影された光を反射する。
に向けて画像を形成する光を放射し、光学ブロック130は、電子ディスプレイ125か
ら受け取った光を変更する。光学ブロック130は、変更した画像光をユーザの眼340
が位置している前部剛体205の位置にある射出瞳335に向ける。図3は、ユーザの単
一の眼340のための前部剛体205の断面図を示し、前部剛体205に含まれる図3に
示されるものとは別個の別の電子ディスプレイ125および光学ブロック130を用いて
、局所領域305の拡張表現または仮想コンテンツなどのコンテンツがユーザの別の眼に
提示される。
照明源230から放射された光が局所領域305内の対象物から反射されて撮像デバイス
225に戻る時間を表す情報を捕捉するとともに、検出器を用いて照明源230によって
局所領域305上に投影された構造化光パターンの画像を捕捉する。いくつかの実施形態
では、検出器は、撮像デバイス225に含まれる。前で説明したように、照明源230か
らの光が局所領域305内の対象物から反射する時間を捕捉するために、照明源230は
、構造化光パターンを特定の周波数を有するキャリア信号で変調する。例えば、照明源2
30は、構造化光パターンを10MHzの正弦波で変調し、照明源230によって放射さ
れた光が、キャリア信号に基づいて経時的に変化するようにする。
複数の画素群を含む検出器を含む。図4Aは、撮像デバイス225に含まれる検出器40
0の一例を示す。図4Aにおける検出器は、画像データを捕捉するために画素群410,
415,420,425を起動する個々の制御信号をそれぞれ受信する個々の画素群41
0,415,420,425を含む。個々の画素群410,415,420,425が個
々の制御信号を受信することにより、個々の画素群410,415,420,425がオ
フセットで、さらに制御されたタイミングシーケンスで画像データを捕捉することが可能
になる。例えば、画素群410,415,420,425によって受信された制御信号が
特定の値を有する場合、画素群410,415,420,425は、局所領域305から
の光を捕捉し、制御信号が別の値を有する場合、画素群410,415,420,425
は、局所領域305からの光を捕捉しない。検出器400内の画素群410,415,4
20,425は、互いに最も近い画素群410,415,420,425が個々の時間で
光を捕捉し、その結果、互いに最も近い画素群410,415,420,425によって
捕捉された光の間に特定の位相シフトがもたらされるように互いに対して位置決めされて
いる。図4Aの例において、画素群410によって捕捉された光は、画素群415によっ
て捕捉された光に対して90度の位相シフトを有し、画素群415によって捕捉された光
は、画素群420に対して90度の位相シフト(及び画素群410に対して180度の位
相シフト)を有するように、画素群410,画素群415,画素群420,画素群425
は個々の時間に光を捕捉する。しかしながら、他の実施形態では、画素群410によって
捕捉された光は、画素群410に最も近い他の画素群415,420,425によって捕
捉された光に対して任意の適切な特定の位相シフトを有する(例えば、45度の位相シフ
ト、10度の位相シフトなど)。図4の例では、画素群425は、画素群420に対して
90度の位相シフト(および画素群410に対して270度の位相シフト)を有する。同
様に、画素群415、画素群420、および画素群425の各々は、他の画素群410,
415,420,425に対して90度の位相シフトを有する光を捕捉する。例えば、画
素群410、画素群415、画素群420、および画素群425は、それぞれ0度の位相
シフト、90度の位相シフト、180度の位相シフト、および270度の位相シフトを有
する光を捕捉する。様々な実施形態では、画素群410,415,420,425は、繰
り返しパターンで検出器400内に配置される。例えば、検出器400は、図4Aに示す
ように相互に配置された画素群410,415,420,425をそれぞれ含む複数の2
×2の格子を含む。
310は、撮像デバイス225からデータを受け取り、以下にさらに説明するように、構
造化光のパターンを時間的に変調したキャリア信号の位相を決定する。キャリア信号の決
定された位相に基づいて、プロセッサ310は、構造化光の変調されたパターンが局所領
域内の1つまたは複数の対象物によって反射されて、撮像デバイス225の検出器400
によって捕捉される時間を決定する。プロセッサ310は、局所領域内の個々の対象物に
よる構造化光のパターンの反射に対して決定された時間から、検出器400から局所領域
内の1つまたは複数の対象物までの距離を決定し、検出器400内の各画素群410,4
15,420,425によって捕捉された光から構造化光のパターンを含むフレームを生
成する。
信される制御信号の一例を示す。図4Bの例において、制御信号が最大値を有する場合、
制御信号を受信する画素群410,415,420,425は光を捕捉し、個々の制御信
号を受信する画素群410,415,420,425は光を捕捉しない。同様に、制御信
号が最小値を有する場合、制御信号を受信する画素群410,415,420,425は
光を捕捉しない。図4Bに示すように、個々の画素群410,415,420,425に
対する制御信号は、個々の時間に最大値を有するので、単一の画素群410,415,4
20,425は特定の時間に光を捕捉する。例えば、画素群415で受信された制御信号
が最大値を有する場合、画素群410,420,425で受信される制御信号は最小値を
有するので、画素群410,420,425は光を捕捉せず、画素群415は光を捕捉す
る。個々の画素群410,415,420,425は、それらの制御信号に基づいて光を
連続的に捕捉する。各画素群410,415,420,425から光が捕捉されると、検
出器はフレームを生成する。様々な実施形態において、光が各画素群410,415,4
20,425から複数回捕捉され、検出器は、画素群410,415,420,425に
よって捕捉された蓄積光からフレームを生成して、フレームの信号対雑音比を改善する。
個々の画素群410,415,420,425から光を個々の時間に捕捉することが、各
フレームに対する全体的な積分時間および撮像デバイス225のフレームレートによって
決定された1つのフレームに対して光が捕捉される時間で、次のフレームに対して繰り返
される。
領域305からの光を、個々のオフセット時間で捕捉する。これらの捕捉は、空間パター
ンを変調するキャリア信号の周波数の往復時間の一部である。例えば、図4Cは、照明源
230が構造化光パターンを変調する例示的な正弦波キャリア信号430を示す。図4C
は、キャリア信号430を含む光を個々の時間に捕捉する個々の画素群410,415,
420,425を特定している。画素群410は、画素群410によって受信される制御
信号が最大値を有する時間の間にキャリア信号430の一部を含む光を捕捉し、画素群4
15,420,425は、キャリア信号の一部を含む光を捕捉しない。残りの画素群41
5,420,425は同様に、対応する画素群415,420,425によって受信され
る制御信号が最大値を有する時間間隔の間にキャリア信号430の一部を捕捉する。図4
Cは、キャリア信号430を正弦波として示しているが、他の実施形態では、キャリア信
号430は、方形波であるか、または周波数と高調波の組合わせを有する他の信号であっ
てもよい。図4A〜4Cの例では、画素群410が光を捕捉するとき、残りの画素群41
5,420,245は光を捕捉しないので、単一の画素群が光を捕捉しているとき、残り
の3つの画素群はその相対フレームの光を捕捉しない。各画素群410,415,420
,425が単一の連続パターンの光を捕捉した後、撮像デバイス225によって捕捉され
たフレームに対する積分時間中にシーケンスが繰り返される。
425によって受光された光の強度に基づいて、キャリア信号の位相を決定する。例えば
、DCA120は、画素群425によって捕捉された光と画素群415によって捕捉され
た光との間の差を決定する。さらに、DCA120は、画素群410によって捕捉された
光と画素群420によって捕捉された光との間の追加の差を決定する。(最小の直交配置
である)図4Aに示す検出器400の構成例において、DCA120は、キャリア信号の
位相を、差と追加の差との比の逆正接として決定する。決定された位相を用いて、DCA
120は、照明源230から放射された光が局所領域305内の対象物によって反射され
て撮像デバイス225に戻る時間を決定する。DCA120は、決定された時間から、1
つまたは複数のタイムオブフライト方法を使用して、DCA120と局所領域305内の
様々な対象物との間の距離を決定する。さらに、DCA120は、決定された位相を使用
して、個々の画素群410,415,420,425によって捕捉された光を、照明源3
10から放射された構造化光パターンが局所領域305に対するさらなる深度情報を提供
することを可能にするフレームに合成する。1つまたは複数のタイムオブフライト方法に
よって決定された距離は、局所領域305内の対象物とDCA120との間の距離情報を
提供し、撮像デバイス225によって捕捉された構造化光パターンの解析は、局所領域3
05内の対象物とDCA120との間に関連しているものの、固有の距離測定値を提供す
る。
示す。図4A〜図4Cに関連して説明された検出器400において、検出器400内の個
々の画素群410,415,420,425は、撮像デバイス225がフレームを生成す
るための積分時間の一部の光を捕捉するように示されている。図4Dの例において、検出
器405の各画素群410,415,420,425は、サーキュレータまたはスイッチ
のようなソフトウェアまたはハードウェアを介して実施することができる、各画素ごとに
複数の電荷格納領域を含む。これにより、各画素群410,415,420,425は積
分時間中に光を連続的に捕捉し、捕捉された光から生成された電流がキャリア信号430
の周波数および位相タイミングに基づいて結合される場所を動的に変化させることができ
る。個々の画素群410,415,420,425によって捕捉された光から蓄積される
電荷は、(図4Dに強調表示された矩形として示される)個々のサブウィンドウを提供す
る、個々の場所(例えば、メモリまたはコンデンサ)に蓄積される。図4Dに示すように
、サブウィンドウは互いに対して90度の位相シフトを有するサブウィンドウを示す斜線
に沿って合成される。各画素群410,415,420,425からのサブウィンドウは
、信号対雑音比を増加させ、かつタイムオブフライト測定のためのフレームを生成するた
めに位相が合成される。個々の時間に個々の画素群410,415,420,425によ
って捕捉された光は、前述した手法により合成され、キャリア信号430の位相が抽出さ
れる。図4Dの例では、各画素群410,415,420,425が連続的に光を捕捉し
、捕捉された光からの電荷がキャリア周波数の位相で蓄積される場所を変化させるので、
特定の最大積分時間内で強調表示されたサブウィンドウが合成される。例えば、図4Dの
検出器405の各画素群410,415,420,425は、同時に光を捕捉し、かつキ
ャリア周波数の位相を保持するためにキャリア信号430に基づいて画素群410,41
5,420,425によって蓄積される電荷が変化する場所を用いて、画素群41,41
5,420,425に対応する場所に電荷を蓄積する。いくつかの実施形態では、図4D
に示す検出器405の各画素群410,415,420,425は、検出器405の複数
の画素群410,415,420,425が、最大100%のデューティサイクルにまで
光を捕捉するように構成されて、いくつかの実施形態では、検出器405の複数の画素群
410,415,420,425が複数の画素群410,415,420,425によっ
て捕捉された光からの電荷を連続して同時に蓄積することを可能にする。前で説明したよ
うに、個々の画素群410,415,420,425によって決定された位相角は、構造
的な光パターンを分析するために放射測定の差異の補正を可能にする。また、図4Dの例
では、個々の画素群410,415,420,425による光の連続的な捕捉は、構造化
光の画像解析のための受動的な補正を可能にする。各画素群410,415,420,4
25について全積分ウィンドウに亘って捕捉された全電荷を合計することにより、検出器
405はカメラなどの画像捕捉デバイスとして動作する(画素レベルの積分タイミングに
オフセットがないように見えるため)。したがって、図4Dに示す検出器405は、構造
化光アルゴリズムに対する時間変調の影響を最小限に抑えることによって、相関する固定
パターンノイズ、時間的ノイズ、または系統的ノイズの可能性を低減する。
像デバイス225および照明源230の例示的な構成を示す。図5Aにおいて、例示的な
空間パターンは、照明源230の視野内に投影された垂直バーを含む。散乱反射または直
接反射を介して、空間パターンは、撮像デバイス内の検出器によって捕捉されて、照明源
230との三角測量により、構造光の手法が局所領域の3次元レイアウトを抽出すること
を可能にする。
パターン(空間パターンとも呼ばれる)を投影する照明源230の例示的な構成を示す。
図5Bでは、時間変調は、局所領域に到達する前に照明源230からほぼ等しい距離にあ
る矩形領域によって示されている。空間的なパターンが説明の便宜上、4つの垂直バーと
して図5Bに示されている。したがって、図5Bにおける撮像デバイス225および照明
源230は、空間パターンおよびタイムオブフライト情報を捕捉して、局所領域の深度を
抽出するための空間的手法および時間的手法の両方をそれぞれ提供することを可能にする
。図3〜図4Dに関連して前で説明したように、撮像デバイス225は、撮像デバイス2
25内の個々の画素群410,415,420,425の間の位相オフセットを制御する
ことによって、空間的情報および時間的情報の両方を捕捉する共通の検出器を含む。
と、または開示された正確な形態に特許権を限定することを意図するものではない。当業
者であれば、上記の開示を参照して多くの変更および変形が可能であることを理解するこ
とができる。
のであり、本発明の主題を画定または制限するために選択されていない。従って、特許権
の範囲は、この詳細な説明ではなく、本明細書に基づいて出願時の任意の特許請求の範囲
によって限定されることが意図される。従って、実施形態の開示は、特許権の範囲に限定
するものではなく例示的なものとすることを意図する。
Claims (20)
- 時間的に変調された構造化された光を放射するように構成された発光体と、
局所領域内の1つまたは複数の対象物から反射された、前記時間的に変調された構造化された光の強度を、異なるオフセット時間で捕捉するように構成された複数の画素群を含む検出器と、
プロセッサと
備えた装置であって、前記プロセッサが、
捕捉された前記強度の一部に基づいて時間的情報を決定し、
捕捉された前記強度に基づいて空間的情報を決定し、
前記時間的情報および前記空間的情報に基づいて、前記局所領域内の前記1つまたは複数の対象物に関する深度情報を決定する
ように構成されている、装置。 - 前記プロセッサがさらに、前記検出器の前記複数の画素群の隣接する画素群が、前記異なるオフセット時間で前記光の強度を捕捉するように、前記複数の画素群の動作を制御するように構成されている、請求項1に記載の装置。
- 前記複数の画素群の1つの画素群によって捕捉された前記反射された光の光信号が、前記1つの画素群に隣接する前記複数の画素群の別の画素群によって捕捉された前記反射された光の別の光信号に対して、位相シフトを有する、請求項1に記載の装置。
- 前記複数の画素群が、格子状のグリッドを含む繰り返しパターンで配置され、前記グリッド内の各画素群が、前記反射された光の光信号を捕捉し、当該光信号は、前記グリッド内の別の画素群によって捕捉された前記反射された光の別の光信号に対して位相シフトを有する、請求項1に記載の装置。
- 前記プロセッサはさらに、
捕捉された前記強度の前記一部に基づいて、前記構造化された光を時間的に変調するキャリア信号の位相を決定し、
前記時間的に変調された構造化された光が、前記1つまたは複数の対象物のうち1つの対象物によって反射され且つ前記検出器によって捕捉される時間を決定し、
決定された前記時間から、前記検出器から前記対象物までの距離を決定し、
決定された前記距離に部分的に基づいて、前記深度情報を決定する
ように構成されている、請求項1に記載の装置。 - 前記プロセッサはさらに、
複数の制御信号を生成し、各制御信号は値を有し、前記複数の制御信号のうち他の制御信号は別の値を有し、
対応する制御信号が前記値を有する時間オフセットの間、各画素群が前記反射された光の光信号を捕捉するように、前記複数の制御信号を前記複数の画素群に提供する
ように構成されている、請求項1に記載の装置。 - 前記プロセッサはさらに、
2つの強度、つまり前記複数の画素群の1つの画素群によって捕捉された前記反射された光の強度と、前記画素群に隣接する前記複数の画素群の別の画素群によって捕捉された前記反射された光の強度の差を決定し、
他の2つの強度、つまり前記複数の画素群の他の画素群によって捕捉された前記反射された光の強度と、前記他の画素群に隣接する前記複数の画素群のさらなる画素群によって捕捉された前記反射された光の強度の追加の差を決定し、ここで前記他の画素群と前記さらなる画素群は前記1つの画素群に隣接する、
前記追加の差に対する前記差の比に基づいて、前記構造化された光を時間的に変調するキャリア信号の位相を決定し、
決定された前記位相に部分的に基づいて、前記時間的情報を決定する
ように構成されている、請求項1に記載の装置。 - 前記プロセッサはさらに、
前記追加の差に対する前記差の逆正接としてキャリア信号の位相を決定する
ように構成されている、請求項7に記載の装置。 - 前記複数の画素群の各画素群が、その画素群内の各画素ごとに複数の電荷格納領域を含み、
各画素群が、前記反射された光を捕捉し、且つ、前記構造化された光を時間的に変調するキャリア信号の位相タイミングに部分的に基づいて、捕捉された前記反射された光からの電荷を対応する電荷格納領域内に蓄積する、請求項1に記載の装置。 - 前記プロセッサはさらに、
前記対応する電荷格納領域内に蓄積された前記電荷と、前記複数の画素群の他の画素群の対応する電荷格納領域内に蓄積された他の電荷に基づいて、前記キャリア信号の位相を決定し、
決定された前記位相に部分的に基づいて、前記時間的情報を決定する
ように構成されている、請求項9に記載の装置。 - 各画素群が、前記反射された光を捕捉し、且つ、捕捉された前記反射された光からの電荷を積分時間中に前記電荷格納領域内に蓄積し、前記プロセッサはさらに、各画素群について蓄積された前記電荷に部分的に基づいて前記空間的情報を決定するように構成されている、請求項9に記載の装置。
- 局所領域を照明する時間的に変調された構造化された光を生成することと、
前記局所領域内の1つまたは複数の対象物から反射された、前記時間的に変調された構造化された光の強度を、異なるオフセット時間で複数の画素群によって捕捉することと、
捕捉された前記強度の一部に基づいて時間的情報を決定することと、
捕捉された前記強度に基づいて空間的情報を決定することと、
前記時間的情報および前記空間的情報に基づいて、前記局所領域内の前記1つまたは複数の対象物に関する深度情報を決定すること
を含む、方法。 - 前記複数の画素群の隣接する画素群が前記異なるオフセット時間で前記光の強度を捕捉するように、前記複数の画素群の動作を制御することをさらに含む、請求項12に記載の方法。
- 前記複数の画素群の1つの画素群によって捕捉された前記反射された光の光信号が、前記1つの画素群に隣接する前記複数の画素群の別の画素群によって捕捉された前記反射された光の別の光信号に対して、位相シフトを有するように、前記複数の画素群の動作を制御することをさらに含む、請求項12に記載の方法。
- 前記複数の画素群が、格子状のグリッドを含む繰り返しパターンで配置され、前記方法がさらに、
前記グリッド内の各画素群が前記反射された光の光信号を捕捉するように前記複数の画素群の動作を制御すること
を含み、当該光信号は、前記グリッド内の別の画素群によって捕捉された前記反射された光の別の光信号に対して位相シフトを有する、請求項12に記載の方法。 - 捕捉された前記強度の前記一部に基づいて、前記構造化された光を時間的に変調するキャリア信号の位相を決定することと、
前記時間的に変調された構造化された光が、前記1つまたは複数の対象物のうち1つの対象物によって反射され且つ捕捉される時間を決定することと、
決定された前記時間に基づいて、前記対象物までの距離を決定することと、
決定された前記距離に部分的に基づいて、前記深度情報を決定すること
をさらに含む、請求項12に記載の方法。 - 複数の制御信号を生成することと、ここで各制御信号は値を有し、前記複数の制御信号のうち他の制御信号は別の値を有する、
対応する制御信号が前記値を有する時間オフセットの間、各画素群が前記反射された光の光信号を捕捉するように、前記複数の制御信号を前記複数の画素群に提供すること
をさらに含む、請求項12に記載の方法。 - 2つの強度、つまり前記複数の画素群の1つの画素群によって捕捉された前記反射された光の強度と、前記画素群に隣接する前記複数の画素群の別の画素群によって捕捉された前記反射された光の強度の差を決定することと、
他の2つの強度、つまり前記複数の画素群の他の画素群によって捕捉された前記反射された光の強度と、前記他の画素群に隣接する前記複数の画素群のさらなる画素群によって捕捉された前記反射された光の強度の追加の差を決定することと、ここで前記他の画素群と前記さらなる画素群は前記1つの画素群に隣接する、
前記追加の差に対する前記差の比に基づいて、前記構造化された光を時間的に変調するキャリア信号の位相を決定することと、
決定された前記位相に部分的に基づいて、前記時間的情報を決定すること
をさらに含む、請求項12に記載の方法。 - 各画素群によって、前記反射された光を捕捉し、且つ、前記構造化された光を時間的に変調するキャリア信号の位相タイミングに部分的に基づいて、捕捉された前記反射された光からの電荷を、その画素群の対応する電荷格納領域内に蓄積することと、
前記対応する電荷格納領域内に蓄積された前記電荷と、前記複数の画素群の他の画素群の対応する電荷格納領域内に蓄積された他の電荷に基づいて、前記キャリア信号の位相を決定することと、
決定された前記位相に部分的に基づいて、前記時間的情報を決定すること
をさらに含む、請求項12に記載の方法。 - 各画素群によって、前記反射された光を捕捉し、且つ、捕捉された前記反射された光からの電荷を積分時間中に複数の電荷格納領域内に蓄積することと、
各画素群について蓄積された前記電荷に部分的に基づいて前記空間的情報を決定すること
をさらに含む、請求項12に記載の方法。
Applications Claiming Priority (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US201662279629P | 2016-01-15 | 2016-01-15 | |
| US62/279,629 | 2016-01-15 | ||
| US15/268,325 US9858672B2 (en) | 2016-01-15 | 2016-09-16 | Depth mapping using structured light and time of flight |
| US15/268,325 | 2016-09-16 |
Related Parent Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2018533883A Division JP6546349B2 (ja) | 2016-01-15 | 2017-01-05 | 構造化光およびタイムオブフライトを用いた深度マッピング |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2019219399A JP2019219399A (ja) | 2019-12-26 |
| JP6827073B2 true JP6827073B2 (ja) | 2021-02-10 |
Family
ID=59312060
Family Applications (2)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2018533883A Active JP6546349B2 (ja) | 2016-01-15 | 2017-01-05 | 構造化光およびタイムオブフライトを用いた深度マッピング |
| JP2019114525A Expired - Fee Related JP6827073B2 (ja) | 2016-01-15 | 2019-06-20 | 構造化光およびタイムオブフライトを用いた深度マッピング |
Family Applications Before (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2018533883A Active JP6546349B2 (ja) | 2016-01-15 | 2017-01-05 | 構造化光およびタイムオブフライトを用いた深度マッピング |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (3) | US9858672B2 (ja) |
| EP (4) | EP4524638A3 (ja) |
| JP (2) | JP6546349B2 (ja) |
| KR (2) | KR102456961B1 (ja) |
| CN (1) | CN108463740B (ja) |
| WO (1) | WO2017123452A1 (ja) |
Families Citing this family (45)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US10481195B2 (en) | 2015-12-02 | 2019-11-19 | Machinesense, Llc | Distributed IoT based sensor analytics for power line diagnosis |
| US10648735B2 (en) | 2015-08-23 | 2020-05-12 | Machinesense, Llc | Machine learning based predictive maintenance of a dryer |
| JP6598673B2 (ja) * | 2015-12-24 | 2019-10-30 | キヤノン株式会社 | データ処理装置およびその方法 |
| US9858672B2 (en) * | 2016-01-15 | 2018-01-02 | Oculus Vr, Llc | Depth mapping using structured light and time of flight |
| US10033988B2 (en) * | 2016-10-31 | 2018-07-24 | Verizon Patent And Licensing Inc. | Methods and systems for capturing depth data using frequency-segregated structured light |
| US10025384B1 (en) * | 2017-01-06 | 2018-07-17 | Oculus Vr, Llc | Eye tracking architecture for common structured light and time-of-flight framework |
| US10154254B2 (en) | 2017-01-17 | 2018-12-11 | Facebook Technologies, Llc | Time-of-flight depth sensing for eye tracking |
| CN118260014A (zh) * | 2017-06-16 | 2024-06-28 | 微软技术许可有限责任公司 | 生成用户界面容器 |
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| JP6637936B2 (ja) * | 2017-09-14 | 2020-01-29 | 株式会社Subaru | 車両の路面判定装置 |
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| KR20130011692A (ko) | 2011-07-22 | 2013-01-30 | 삼성전자주식회사 | 깊이 영상과 컬러 영상을 획득하는 픽셀 구조를 가진 이미지 센서 |
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| TWI481901B (zh) * | 2012-12-03 | 2015-04-21 | Wistron Corp | 頭戴式顯示裝置 |
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| JP2014219621A (ja) | 2013-05-10 | 2014-11-20 | 株式会社タイトー | 表示装置、表示制御プログラム |
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| JP6146293B2 (ja) | 2013-12-25 | 2017-06-14 | ソニー株式会社 | 制御装置、制御方法および制御システム |
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| JP6621836B2 (ja) * | 2015-02-25 | 2019-12-18 | フェイスブック・テクノロジーズ・リミテッド・ライアビリティ・カンパニーFacebook Technologies, Llc | 光パターンの強度変動を利用した体積内の物体の深さマッピング |
| US10241569B2 (en) | 2015-12-08 | 2019-03-26 | Facebook Technologies, Llc | Focus adjustment method for a virtual reality headset |
| US9858672B2 (en) * | 2016-01-15 | 2018-01-02 | Oculus Vr, Llc | Depth mapping using structured light and time of flight |
-
2016
- 2016-09-16 US US15/268,325 patent/US9858672B2/en active Active
-
2017
- 2017-01-05 CN CN201780006774.7A patent/CN108463740B/zh active Active
- 2017-01-05 EP EP25154714.7A patent/EP4524638A3/en active Pending
- 2017-01-05 EP EP17738752.9A patent/EP3403131B1/en active Active
- 2017-01-05 KR KR1020197002260A patent/KR102456961B1/ko active Active
- 2017-01-05 EP EP20186409.7A patent/EP3745185B1/en active Active
- 2017-01-05 JP JP2018533883A patent/JP6546349B2/ja active Active
- 2017-01-05 WO PCT/US2017/012346 patent/WO2017123452A1/en not_active Ceased
- 2017-01-05 KR KR1020187019263A patent/KR101949950B1/ko active Active
- 2017-01-05 EP EP25154691.7A patent/EP4521156A3/en active Pending
- 2017-11-03 US US15/803,328 patent/US9976849B2/en active Active
-
2018
- 2018-04-10 US US15/949,529 patent/US10228240B2/en active Active
-
2019
- 2019-06-20 JP JP2019114525A patent/JP6827073B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US20180058844A1 (en) | 2018-03-01 |
| EP3745185B1 (en) | 2025-03-12 |
| KR101949950B1 (ko) | 2019-02-19 |
| US20180231372A1 (en) | 2018-08-16 |
| KR20190010742A (ko) | 2019-01-30 |
| US9976849B2 (en) | 2018-05-22 |
| EP3745185A1 (en) | 2020-12-02 |
| EP3403131A1 (en) | 2018-11-21 |
| CN108463740B (zh) | 2020-01-21 |
| EP3403131A4 (en) | 2019-08-21 |
| JP2019219399A (ja) | 2019-12-26 |
| JP6546349B2 (ja) | 2019-07-17 |
| JP2019504313A (ja) | 2019-02-14 |
| EP4521156A3 (en) | 2025-04-30 |
| CN108463740A (zh) | 2018-08-28 |
| US10228240B2 (en) | 2019-03-12 |
| KR20180081634A (ko) | 2018-07-16 |
| KR102456961B1 (ko) | 2022-10-21 |
| EP4524638A2 (en) | 2025-03-19 |
| EP3403131B1 (en) | 2020-11-18 |
| WO2017123452A1 (en) | 2017-07-20 |
| EP4521156A2 (en) | 2025-03-12 |
| EP4524638A3 (en) | 2025-04-30 |
| US20170206660A1 (en) | 2017-07-20 |
| US9858672B2 (en) | 2018-01-02 |
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Legal Events
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