JP6833508B2 - Automatic analyzer, how to set its start time, and how to perform measurements using standard samples - Google Patents
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Description
本発明の実施形態は、自動分析装置、その起動時刻の設定方法、及び標準試料を用いた測定の実施方法に関する。 Embodiments of the present invention relate to an automatic analyzer, a method of setting a start-up time thereof, and a method of performing measurement using a standard sample.
自動分析装置は、試料容器に収容される試料に含まれる、生化学検査項目、及び免疫検査項目等の検査項目に関する成分を測定するための装置である。自動分析装置では、試料容器に収容される試料は、サンプル分注プローブにより、反応管へ分注される。また、反応管へは、試薬分注プローブにより、試薬庫に収容される試薬が分注される。反応管において試料と試薬とは混合され、試料と試薬との混合液における所定の成分が光学的に測定される。 The automatic analyzer is a device for measuring components related to test items such as biochemical test items and immunological test items contained in a sample contained in a sample container. In the automatic analyzer, the sample contained in the sample container is dispensed into the reaction tube by the sample dispensing probe. In addition, the reagent contained in the reagent storage is dispensed into the reaction tube by the reagent dispensing probe. The sample and the reagent are mixed in the reaction tube, and a predetermined component in the mixed solution of the sample and the reagent is optically measured.
自動分析装置は、操作者が自動起動時刻を予め指定していた場合、指定された時刻に起動する。さらに、操作者が所定の保守動作を指定していた場合、自動分析装置は、指定された保守動作を、自動的に実行する。 If the operator has previously specified an automatic start time, the automatic analyzer starts at the specified time. Further, when the operator has specified a predetermined maintenance operation, the automatic analyzer automatically executes the specified maintenance operation.
自動分析装置は、保守動作が完了すると、例えば所定の標準試料を分注し、患者から採取される試料の測定に必要な検量線を作成する。また、自動分析装置は、所定の標準試料を分注し、検量線の精度管理に必要な測定を実施する。自動分析装置は、検量線の作成、及び、検量線の精度管理に必要な測定を実施した後に、患者から採取される試料の測定を開始する。 When the maintenance operation is completed, the automatic analyzer dispenses, for example, a predetermined standard sample and prepares a calibration curve necessary for measuring the sample collected from the patient. In addition, the automatic analyzer dispenses a predetermined standard sample and carries out the measurement necessary for quality control of the calibration curve. The automatic analyzer starts the measurement of the sample collected from the patient after performing the measurement necessary for preparing the calibration curve and controlling the quality of the calibration curve.
このとき、検量線の作成、及び、検量線の精度管理に必要な測定に要する時間だけ、患者から採取される試料の測定の開始が遅延することになる。 At this time, the start of measurement of the sample collected from the patient is delayed by the time required for the preparation of the calibration curve and the measurement required for the accuracy control of the calibration curve.
実施形態の目的は、検量線の作成、及び、検量線の精度管理に必要な測定が完了した状態で、予め指定された時刻から患者から採取される試料の測定を開始することが可能な自動分析装置を提供することにある。 The object of the embodiment is automatic that it is possible to start the measurement of the sample collected from the patient from a predetermined time in a state where the measurement necessary for the preparation of the calibration curve and the accuracy control of the calibration curve is completed. The purpose is to provide an analyzer.
実施形態によれば、自動分析装置は、測定要否判定部、及び起動時刻設定部を具備する。測定要否判定部は、当該自動分析装置のシャットダウン時に、当該自動分析装置において測定可能な全ての検査項目のうち少なくとも一部の検査項目に関し、標準試料を用いた標準試料測定の実施の要否を判定する。起動時刻設定部は、当該自動分析装置を起動するために指定された第1の時刻までに、前記実施が必要であると判定された標準試料測定が完了するように、前記標準試料測定に係る所要時間に基づいて、当該自動分析装置が実際に起動される起動時刻を表す第2の時刻を設定する。 According to the embodiment, the automatic analyzer includes a measurement necessity determination unit and a start-up time setting unit. When the automatic analyzer is shut down, the measurement necessity determination unit needs to perform standard sample measurement using a standard sample for at least some of the inspection items that can be measured by the automatic analyzer. To judge. The start-up time setting unit relates to the standard sample measurement so that the standard sample measurement determined to be necessary to be performed is completed by the first time specified for starting the automatic analyzer. Based on the required time, a second time representing the start-up time when the automatic analyzer is actually started is set.
以下、実施の形態について、図面を参照して説明する。 Hereinafter, embodiments will be described with reference to the drawings.
図1は、本実施形態に係る自動分析装置1の機能構成の例を示すブロック図である。図1に示される自動分析装置1は、分析機構2、解析回路3、駆動機構4、入力インタフェース回路5、出力インタフェース回路6、記憶回路7、及び制御回路8を具備する。 FIG. 1 is a block diagram showing an example of a functional configuration of the automatic analyzer 1 according to the present embodiment. The automatic analyzer 1 shown in FIG. 1 includes an analysis mechanism 2, an analysis circuit 3, a drive mechanism 4, an input interface circuit 5, an output interface circuit 6, a storage circuit 7, and a control circuit 8.
分析機構2は、キャリブレータ若しくはコントロール試料等として用いられる標準試料、又は被検試料等の試料と、この試料に設定される各検査項目で用いられる試薬とを混合する。分析機構2は、試料と試薬との混合液を測定し、例えば吸光度で表される標準データ、及び被検データを生成する。 The analysis mechanism 2 mixes a sample such as a standard sample or a test sample used as a calibrator or a control sample, and a reagent used in each test item set in this sample. The analytical mechanism 2 measures the mixed solution of the sample and the reagent, and generates, for example, standard data represented by absorbance and test data.
解析回路3は、分析機構2により生成される標準データ、及び被検データを解析することで、検量線、及び分析データ等を生成するプロセッサである。解析回路3は、制御回路8を介して記憶回路7から動作プログラムを読み出し、読み出した動作プログラムに従って検量線、及び分析データ等を生成する。例えば、解析回路3は、標準データに基づき、標準データと標準試料について予め設定された標準値との関係を示す検量線を生成する。また、解析回路3は、被検データと、この被検データに対応する検査項目の検量線とに基づき、濃度値、及び酵素の活性値として表される分析データを生成する。解析回路3は生成した検量線、及び分析データ等を制御回路8へ出力する。 The analysis circuit 3 is a processor that generates a calibration curve, analysis data, and the like by analyzing the standard data generated by the analysis mechanism 2 and the test data. The analysis circuit 3 reads an operation program from the storage circuit 7 via the control circuit 8 and generates a calibration curve, analysis data, and the like according to the read operation program. For example, the analysis circuit 3 generates a calibration curve showing the relationship between the standard data and the preset standard value for the standard sample based on the standard data. Further, the analysis circuit 3 generates analysis data represented as a concentration value and an enzyme activity value based on the test data and the calibration curve of the test item corresponding to the test data. The analysis circuit 3 outputs the generated calibration curve, analysis data, and the like to the control circuit 8.
駆動機構4は、ギア、ステッピングモータ、ベルトコンベア、及びリードスクリュー等により実現される。駆動機構4は、制御回路8の制御に従い、分析機構2を駆動する。 The drive mechanism 4 is realized by a gear, a stepping motor, a belt conveyor, a lead screw, and the like. The drive mechanism 4 drives the analysis mechanism 2 under the control of the control circuit 8.
入力インタフェース回路5は、例えば、マウス、キーボード、及び、操作面へ触れることで指示が入力されるタッチパッド等により実現される。入力インタフェース回路5は、例えば、操作者から測定を依頼された試料に係る各検査項目の分析パラメータ等の設定を受け付ける。入力インタフェース回路5は、制御回路8に接続され、操作者から入力される操作指示を電気信号へ変換し、電気信号を制御回路8へ出力する。なお、本明細書において入力インタフェース回路5はマウス、及びキーボード等の物理的な操作部品を備えるものだけに限られない。例えば、自動分析装置1とは別体に設けられた外部の入力機器から入力される操作指示に対応する電気信号を受け取り、この電気信号を制御回路8へ出力する電気信号の処理回路も入力インタフェース回路5の例に含まれる。 The input interface circuit 5 is realized by, for example, a mouse, a keyboard, a touch pad on which instructions are input by touching an operation surface, and the like. The input interface circuit 5 receives, for example, the setting of analysis parameters and the like of each inspection item related to the sample requested to be measured by the operator. The input interface circuit 5 is connected to the control circuit 8, converts an operation instruction input from the operator into an electric signal, and outputs the electric signal to the control circuit 8. In this specification, the input interface circuit 5 is not limited to the one provided with physical operating parts such as a mouse and a keyboard. For example, an electric signal processing circuit that receives an electric signal corresponding to an operation instruction input from an external input device provided separately from the automatic analyzer 1 and outputs the electric signal to the control circuit 8 is also an input interface. It is included in the example of the circuit 5.
出力インタフェース回路6は、例えばCRTディスプレイ、液晶ディスプレイ、有機ELディスプレイ、及びプラズマディスプレイ等の表示回路61、並びに、プリンタ等の印刷回路62を含む。なお、表示対象を表すデータをビデオ信号に変換し、ビデオ信号を外部へ出力する処理回路も表示回路61に含まれる。また、印刷対象を表すデータを外部へ出力する出力回路も印刷回路62に含まれる。出力インタフェース回路6は、制御回路8に接続され、制御回路8から供給される信号を出力する。 The output interface circuit 6 includes, for example, a display circuit 61 such as a CRT display, a liquid crystal display, an organic EL display, and a plasma display, and a printing circuit 62 such as a printer. The display circuit 61 also includes a processing circuit that converts data representing a display target into a video signal and outputs the video signal to the outside. The print circuit 62 also includes an output circuit that outputs data representing a print target to the outside. The output interface circuit 6 is connected to the control circuit 8 and outputs a signal supplied from the control circuit 8.
表示回路61は、例えば、制御回路8から供給される検量線及び分析データを表示する。 The display circuit 61 displays, for example, the calibration curve and analysis data supplied from the control circuit 8.
印刷回路62は、制御回路8から供給される検量線及び分析データを、予め設定されたフォーマットに従ってプリンタ用紙等に印刷する。 The printing circuit 62 prints the calibration curve and analysis data supplied from the control circuit 8 on printer paper or the like according to a preset format.
記憶回路7は、磁気的、若しくは光学的記録媒体、又は半導体メモリ等の、プロセッサにより読み取り可能な記録媒体等を含む。記憶回路7は、解析回路3で実行される動作プログラム、及び制御回路8で実行される動作プログラムを記憶する。記憶回路7は、解析回路3により生成される検量線を検査項目毎に記憶する。記憶回路7は、解析回路3により生成される分析データを被検試料毎に記憶する。また、記憶回路7は、有効期限管理テーブル71、及び測定予約管理テーブル72を記憶する。 The storage circuit 7 includes a magnetic or optical recording medium, a recording medium such as a semiconductor memory, which can be read by a processor, and the like. The storage circuit 7 stores an operation program executed by the analysis circuit 3 and an operation program executed by the control circuit 8. The storage circuit 7 stores the calibration curve generated by the analysis circuit 3 for each inspection item. The storage circuit 7 stores the analysis data generated by the analysis circuit 3 for each test sample. Further, the storage circuit 7 stores the expiration date management table 71 and the measurement reservation management table 72.
有効期限管理テーブル71は、検査項目毎に生成される検量線の有効期限に関する情報を記憶するテーブルである。有効期限管理テーブル71には、例えば、検査ID、検量線レベル、生成日時、有効期間、及び検量線有効期限等を示す情報が含まれる。 The expiration date management table 71 is a table that stores information regarding the expiration date of the calibration curve generated for each inspection item. The expiration date management table 71 includes, for example, information indicating an inspection ID, a calibration curve level, a generation date and time, an expiration date, a calibration curve expiration date, and the like.
検査IDは、検査項目を一意に特定する識別子である。検量線レベルは、検量線を生成する際の測定点の数を表す。 The inspection ID is an identifier that uniquely identifies the inspection item. The calibration curve level represents the number of measurement points when generating a calibration curve.
生成日時、有効期間、及び有効期限は、検量線が使用可能であるか否かを確認するための情報である。具体的には、生成日時は、解析回路3により検量線が生成された日時を表す。有効期限は、解析回路3により生成された検量線が測定に使用可能な期限を表す。具体的に有効期間は、例えば解析回路3により生成された検量線の生成時からの測定に使用可能な時間を表す。例えば、解析回路3により検量線が生成されると、生成された検量線に係る検査ID、検量線レベル、生成日時、有効期間、及び検量線有効期限等を示す情報が、有効期限管理テーブル71に登録される。 The generation date and time, the validity period, and the expiration date are information for confirming whether or not the calibration curve can be used. Specifically, the generation date and time represents the date and time when the calibration curve was generated by the analysis circuit 3. The expiration date represents the expiration date on which the calibration curve generated by the analysis circuit 3 can be used for measurement. Specifically, the valid period represents, for example, the time that can be used for measurement from the time of generation of the calibration curve generated by the analysis circuit 3. For example, when a calibration curve is generated by the analysis circuit 3, information indicating the inspection ID, the calibration curve level, the generation date and time, the validity period, the calibration curve expiration date, etc. related to the generated calibration curve is stored in the expiration date management table 71. To be registered in.
測定予約管理テーブル72は、実行する予定の標準試料を用いた測定を表す情報を記憶するテーブルである。測定予約管理テーブル72には、例えば、検査ID、及び測定種類等を示す情報が含まれる。測定種類は、標準試料を用いた測定の種類を表す。標準試料を用いた測定には、例えば、キャリブレーション測定、及びコントロール測定等が含まれる。本実施形態では、キャリブレーション測定とは、検量線を新たに作成するための測定をいう。またコントロール測定とは、作成された検量線、又は、既に設定されている検量線の精度管理に必要な測定をいう。例えば、自動シャットダウン動作中に、実行する予定の標準試料を用いた測定に係る検査ID、及び測定種類が、測定予約管理テーブル72に登録される。 The measurement reservation management table 72 is a table that stores information representing measurements using a standard sample to be performed. The measurement reservation management table 72 includes, for example, information indicating an inspection ID, a measurement type, and the like. The measurement type represents the type of measurement using a standard sample. Measurements using standard samples include, for example, calibration measurements, control measurements, and the like. In the present embodiment, the calibration measurement means a measurement for creating a new calibration curve. Further, the control measurement means a measurement necessary for quality control of the created calibration curve or the already set calibration curve. For example, during the automatic shutdown operation, the inspection ID and the measurement type related to the measurement using the standard sample to be executed are registered in the measurement reservation management table 72.
制御回路8は、自動分析装置1の中枢として機能するプロセッサである。制御回路8は、記憶回路7に記憶されている動作プログラムを実行することで、この動作プログラムに対応する機能を実現する。 The control circuit 8 is a processor that functions as the center of the automatic analyzer 1. The control circuit 8 realizes a function corresponding to this operation program by executing the operation program stored in the storage circuit 7.
図2は、図1に示される分析機構2の構成の一例を示す模式図である。また、図3は、図2に示される分析機構2の構成を示す斜視図である。図2、及び図3に示される分析機構2は、反応ディスク21、及び試薬庫22を備える。 FIG. 2 is a schematic diagram showing an example of the configuration of the analysis mechanism 2 shown in FIG. Further, FIG. 3 is a perspective view showing the configuration of the analysis mechanism 2 shown in FIG. The analytical mechanism 2 shown in FIGS. 2 and 3 includes a reaction disk 21 and a reagent storage 22.
反応ディスク21は、環状に配列された複数の反応管211を保持する。反応ディスク21は、駆動機構4により、既定の時間間隔で回動と停止とが交互に繰り返される。反応管211は、例えば、ガラスにより形成されている。 The reaction disk 21 holds a plurality of reaction tubes 211 arranged in a ring shape. The reaction disk 21 is alternately rotated and stopped at predetermined time intervals by the drive mechanism 4. The reaction tube 211 is made of, for example, glass.
試薬庫22は、標準試料、及び被検試料に含まれる所定の成分と反応する試薬を収容する試薬容器101を複数保冷する。また、試薬庫22は、標準試料を収容する標準試料容器を複数保冷する。試薬庫22は、反応ディスク21に隣接して設けられる。なお、図2、図3に示される自動分析装置1では、試薬庫22が、反応ディスク21と隣接して設けられる例を説明するが、試薬庫22が設けられる位置はこれに限定されない。また、試薬庫22は、1つに限定されず、複数設けられていても構わない。 The reagent storage 22 cools a plurality of reagent containers 101 containing a standard sample and a reagent that reacts with a predetermined component contained in a test sample. In addition, the reagent storage 22 keeps a plurality of standard sample containers containing standard samples cold. The reagent storage 22 is provided adjacent to the reaction disk 21. In the automatic analyzer 1 shown in FIGS. 2 and 3, an example in which the reagent storage 22 is provided adjacent to the reaction disk 21 will be described, but the position where the reagent storage 22 is provided is not limited to this. Further, the reagent storage 22 is not limited to one, and a plurality of reagent storages 22 may be provided.
試薬庫22は、試薬容器ラックにより、円周状に複数の試薬容器101を保持する。また、試薬庫22は、標準試料を用いた測定を実施するために、試薬容器ラックにより、円周状に複数の標準試料容器を保持する。図2及び図3に示される試薬庫22内の外円221は、例えば試薬庫22内で円周状に配列される試薬容器101のうち、外側の円周に配列される試薬容器101の開口部の位置を表す。また、試薬庫22の外側の円周には、標準試料容器が配列されている。試薬庫22内の内円222は、例えば試薬庫22内で円周状に配列される試薬容器101のうち、内側の円周に配列される試薬容器101の開口部の位置を表す。 The reagent storage 22 holds a plurality of reagent containers 101 in a circumferential shape by means of a reagent container rack. In addition, the reagent storage 22 holds a plurality of standard sample containers in a circumferential shape by the reagent container rack in order to carry out the measurement using the standard sample. The outer circle 221 in the reagent storage 22 shown in FIGS. 2 and 3 is, for example, an opening of the reagent container 101 arranged in the outer circumference of the reagent containers 101 arranged in a circumferential shape in the reagent storage 22. Represents the position of the part. In addition, standard sample containers are arranged on the outer circumference of the reagent storage 22. The inner circle 222 in the reagent storage 22 represents, for example, the position of the opening of the reagent container 101 arranged in the inner circumference of the reagent containers 101 arranged in a circumferential shape in the reagent storage 22.
試薬庫22に保持されている試薬容器101は、反応管211に分注される試薬を収容している。開口部が外円221に沿って配置される試薬容器101は、第1試薬を収容している。開口部が内円222に沿って配置される試薬容器は、第2試薬を収容している。第1及び第2試薬は、検査項目毎に使われるものが決められている。試薬容器ラックは、駆動機構4によって試薬庫22の中心を回転中心として回動される。 The reagent container 101 held in the reagent storage 22 contains the reagent to be dispensed into the reaction tube 211. The reagent container 101 whose opening is arranged along the outer circle 221 houses the first reagent. The reagent container in which the opening is arranged along the inner circle 222 houses the second reagent. As the first and second reagents, those used for each test item are determined. The reagent container rack is rotated around the center of the reagent storage 22 by the drive mechanism 4.
また、図2、及び図3に示される分析機構2は、サンプル分注アーム23、サンプル分注プローブ24、第1試薬分注アーム25、第1試薬分注プローブ26、第2試薬分注アーム27、第2試薬分注プローブ28、攪拌ユニット29、測光ユニット210、洗浄ユニット201、及び電解質測定ユニット202を備える。 Further, the analysis mechanism 2 shown in FIGS. 2 and 3 includes a sample dispensing arm 23, a sample dispensing probe 24, a first reagent dispensing arm 25, a first reagent dispensing probe 26, and a second reagent dispensing arm. 27, a second reagent dispensing probe 28, a stirring unit 29, a photometric unit 210, a cleaning unit 201, and an electrolyte measuring unit 202 are provided.
サンプル分注アーム23は、反応ディスク21とサンプリングレーン233との間に設けられている。サンプル分注アーム23は、駆動機構4により、鉛直方向に上下動自在、かつ、水平方向に回動自在に設けられている。サンプル分注アーム23は、一端にサンプル分注プローブ24を保持する。 The sample dispensing arm 23 is provided between the reaction disk 21 and the sampling lane 233. The sample dispensing arm 23 is provided by the drive mechanism 4 so as to be vertically movable in the vertical direction and rotatably in the horizontal direction. The sample dispensing arm 23 holds the sample dispensing probe 24 at one end.
サンプル分注プローブ24は、サンプル分注アーム23の回動に伴い、円弧状の回動軌道に沿って回動する。この回動軌道上には、サンプル分注プローブ24が試料容器から試料を吸引するためのサンプル吸引位置P1が設けられている。サンプル吸引位置P1は、サンプル分注プローブ24の回動軌道と、サンプリングレーン233上の試料容器の移動軌道との交点に相当する。 The sample dispensing probe 24 rotates along an arcuate rotation trajectory as the sample dispensing arm 23 rotates. A sample suction position P1 for the sample dispensing probe 24 to suck the sample from the sample container is provided on the rotating track. The sample suction position P1 corresponds to the intersection of the rotation trajectory of the sample dispensing probe 24 and the movement trajectory of the sample container on the sampling lane 233.
また、サンプル分注プローブ24の回動軌道上の、サンプル吸引位置P1とは異なる位置には、サンプル分注プローブ24が吸引した試料を反応管211へ吐出するためのサンプル吐出位置P2が設けられている。サンプル吐出位置P2は、サンプル分注プローブ24の回動軌跡と、反応ディスク21に保持されている反応管211の移動軌道との交点に相当する。 Further, a sample discharge position P2 for discharging the sample sucked by the sample dispensing probe 24 to the reaction tube 211 is provided at a position on the rotation trajectory of the sample dispensing probe 24 different from the sample suction position P1. ing. The sample discharge position P2 corresponds to the intersection of the rotation locus of the sample dispensing probe 24 and the moving trajectory of the reaction tube 211 held in the reaction disk 21.
また、サンプル分注プローブ24の回動軌道上の、サンプル吸引位置P1及びサンプル吐出位置P2とは異なる位置には、サンプル分注プローブ24が反応管211から標準試料を吸引するための希釈試料吸引位置P11が設けられている。希釈試料吸引位置P11は、サンプル分注プローブ24の回動軌跡と、反応ディスク21に保持されている反応管211の移動軌道とのサンプル吐出位置P2以外の交点に相当する。 Further, at a position different from the sample suction position P1 and the sample discharge position P2 on the rotation trajectory of the sample dispensing probe 24, the diluted sample suction for the sample dispensing probe 24 to suck the standard sample from the reaction tube 211 is performed. Position P11 is provided. The diluted sample suction position P11 corresponds to an intersection other than the sample discharge position P2 between the rotation locus of the sample dispensing probe 24 and the moving trajectory of the reaction tube 211 held in the reaction disk 21.
サンプル分注プローブ24は、駆動機構4によって駆動され、サンプル吸引位置P1、サンプル吐出位置P2、及び希釈試料吸引位置P11において上下方向に移動する。また、サンプル分注プローブ24は、制御回路8の制御に従い、サンプル吸引位置P1の直下に位置する試料容器から試料を吸引する。また、サンプル分注プローブ24は、制御回路8の制御に従い、希釈試料吸引位置P11の直下に位置する反応管211から標準試料を吸引する。また、サンプル分注プローブ24は、制御回路8の制御に従い、吸引した試料、又は吸引した標準試料を、サンプル吐出位置P2の直下に位置する反応管211へ吐出する。 The sample dispensing probe 24 is driven by the drive mechanism 4 and moves in the vertical direction at the sample suction position P1, the sample discharge position P2, and the diluted sample suction position P11. Further, the sample dispensing probe 24 sucks the sample from the sample container located directly below the sample suction position P1 under the control of the control circuit 8. Further, the sample dispensing probe 24 sucks the standard sample from the reaction tube 211 located directly below the diluted sample suction position P11 under the control of the control circuit 8. Further, the sample dispensing probe 24 discharges the sucked sample or the sucked standard sample to the reaction tube 211 located directly below the sample discharge position P2 under the control of the control circuit 8.
第1試薬分注アーム25は、試薬庫22の外周近傍に設けられている。第1試薬分注アーム25は、駆動機構4により、鉛直方向に上下動自在、かつ、水平方向に回動自在に設けられている。第1試薬分注アーム25は、一端に第1試薬分注プローブ26を保持する。 The first reagent dispensing arm 25 is provided near the outer periphery of the reagent storage 22. The first reagent dispensing arm 25 is provided by the drive mechanism 4 so as to be vertically movable in the vertical direction and rotatably in the horizontal direction. The first reagent dispensing arm 25 holds the first reagent dispensing probe 26 at one end.
第1試薬分注プローブ26は、第1試薬分注アーム25の回動に伴い、円弧状の回動軌道に沿って回動する。この回動軌道上には、試薬吸引位置P3が設けられている。試薬吸引位置P3は、第1試薬分注プローブ26の回動軌道と、試薬庫22内で外側の円周に配列される試薬容器101の開口部の移動軌道との交点に相当する。また、第1試薬分注プローブ26の回動軌道上には、第1試薬分注プローブ26が吸引した試薬を反応管211へ吐出するための第1試薬吐出位置P4が設定されている。第1試薬吐出位置P4は、第1試薬分注プローブ26の回動軌道と、反応ディスク21に保持されている反応管211の移動軌道との交点に相当する。 The first reagent dispensing probe 26 rotates along an arcuate rotation trajectory as the first reagent dispensing arm 25 rotates. A reagent suction position P3 is provided on this rotating track. The reagent suction position P3 corresponds to the intersection of the rotation trajectory of the first reagent dispensing probe 26 and the movement trajectory of the opening of the reagent container 101 arranged on the outer circumference in the reagent storage 22. Further, on the rotation orbit of the first reagent dispensing probe 26, a first reagent discharging position P4 for discharging the reagent sucked by the first reagent dispensing probe 26 to the reaction tube 211 is set. The first reagent discharge position P4 corresponds to the intersection of the rotation trajectory of the first reagent dispensing probe 26 and the movement trajectory of the reaction tube 211 held in the reaction disk 21.
第1試薬分注プローブ26は、駆動機構4によって駆動され、回動軌道上の試薬吸引位置P3、及び第1試薬吐出位置P4において上下方向に移動する。 The first reagent dispensing probe 26 is driven by the drive mechanism 4 and moves in the vertical direction at the reagent suction position P3 and the first reagent discharge position P4 on the rotation orbit.
また、第1試薬分注プローブ26は、制御回路8の制御に従い、試薬吸引位置P3の直下に位置する試薬容器101から試薬を吸引する。また、第1試薬分注プローブ26は、制御回路8の制御に従い、吸引した試薬を第1試薬として、第1試薬吐出位置P4の直下に位置する反応管211へ吐出する。 Further, the first reagent dispensing probe 26 sucks the reagent from the reagent container 101 located directly below the reagent suction position P3 under the control of the control circuit 8. Further, the first reagent dispensing probe 26 discharges the sucked reagent as the first reagent to the reaction tube 211 located directly below the first reagent discharge position P4 under the control of the control circuit 8.
また、第1試薬分注プローブ26は、制御回路8の制御に従い、試薬吸引位置P3の直下に位置する試料容器から標準試料を吸引する。また、第1試薬分注プローブ26は、制御回路8の制御に従い、吸引した標準試料を、第1試薬吐出位置P4の直下に位置する反応管211へ吐出する。 Further, the first reagent dispensing probe 26 sucks a standard sample from a sample container located directly below the reagent suction position P3 under the control of the control circuit 8. Further, the first reagent dispensing probe 26 discharges the sucked standard sample to the reaction tube 211 located directly below the first reagent discharge position P4 under the control of the control circuit 8.
第2試薬分注アーム27は、試薬庫22の外周近傍に設けられている。第2試薬分注アーム27は、駆動機構4により、鉛直方向に上下動自在、かつ、水平方向に回動自在に設けられている。第2試薬分注アーム27は、一端に第2試薬分注プローブ28を保持する。 The second reagent dispensing arm 27 is provided near the outer periphery of the reagent storage 22. The second reagent dispensing arm 27 is provided by the drive mechanism 4 so as to be vertically movable in the vertical direction and rotatably in the horizontal direction. The second reagent dispensing arm 27 holds the second reagent dispensing probe 28 at one end.
第2試薬分注プローブ28は、第2試薬分注アーム27の回動に伴い、円弧状の回動軌道に沿って回動する。この回動軌道上には、試薬吸引位置P5が設けられている。試薬吸引位置P5は、第2試薬分注プローブ28の回動軌道と、試薬庫22内で内側の円周に配列される試薬容器101の開口部の移動軌道との交点に相当する。また、第2試薬分注プローブ28の回動軌道上には、第2試薬分注プローブ28が吸引した試薬を反応管211へ吐出するための第2試薬吐出位置P6が設定されている。第2試薬吐出位置P6は、第2試薬分注プローブ28の回動軌道と、反応ディスク21に保持されている反応管211の移動軌道との交点に相当する。 The second reagent dispensing probe 28 rotates along an arcuate rotation trajectory as the second reagent dispensing arm 27 rotates. A reagent suction position P5 is provided on this rotating track. The reagent suction position P5 corresponds to the intersection of the rotation trajectory of the second reagent dispensing probe 28 and the movement trajectory of the opening of the reagent container 101 arranged on the inner circumference in the reagent storage 22. Further, a second reagent discharge position P6 for discharging the reagent sucked by the second reagent dispensing probe 28 into the reaction tube 211 is set on the rotation orbit of the second reagent dispensing probe 28. The second reagent discharge position P6 corresponds to the intersection of the rotation trajectory of the second reagent dispensing probe 28 and the movement trajectory of the reaction tube 211 held in the reaction disk 21.
第2試薬分注プローブ28は、駆動機構4によって駆動され、回動軌道上の試薬吸引位置P5、及び第2試薬吐出位置P6において上下方向に移動する。また、第2試薬分注プローブ28は、制御回路8の制御に従い、試薬吸引位置P5の直下に位置する試薬容器101から試薬を吸引する。また、第2試薬分注プローブ28は、制御回路8の制御に従い、吸引した試薬を第2試薬として、第2試薬吐出位置P4の直下に位置する反応管211へ吐出する。 The second reagent dispensing probe 28 is driven by the drive mechanism 4 and moves in the vertical direction at the reagent suction position P5 and the second reagent discharge position P6 on the rotation orbit. Further, the second reagent dispensing probe 28 sucks the reagent from the reagent container 101 located directly below the reagent suction position P5 under the control of the control circuit 8. Further, the second reagent dispensing probe 28 discharges the sucked reagent as the second reagent to the reaction tube 211 located directly below the second reagent discharge position P4 under the control of the control circuit 8.
攪拌ユニット29は、反応ディスク21の外周近傍に設けられている。攪拌ユニット29は、第1攪拌アーム、及び第1攪拌アームの先端に設けられる第1攪拌子を有する。攪拌ユニット29は、第1攪拌子により、反応ディスク21上の第1撹拌位置に配置される反応管211内に収容されている試料と第1試薬とを攪拌する。また、攪拌ユニット29は、第2攪拌アーム、及び第2攪拌アームの先端に設けられる第2攪拌子をさらに有する。攪拌ユニット29は、第2攪拌子により、反応ディスク21上の第2攪拌位置に配置される反応管211内に収容されている試料、第1試薬、及び第2試薬を攪拌する。 The stirring unit 29 is provided near the outer periphery of the reaction disk 21. The stirring unit 29 has a first stirring arm and a first stirrer provided at the tip of the first stirring arm. The stirring unit 29 uses the first stirrer to stir the sample and the first reagent contained in the reaction tube 211 arranged at the first stirring position on the reaction disk 21. Further, the stirring unit 29 further has a second stirring arm and a second stirring element provided at the tip of the second stirring arm. The stirring unit 29 uses the second stirrer to stir the sample, the first reagent, and the second reagent contained in the reaction tube 211 arranged at the second stirring position on the reaction disk 21.
測光ユニット210は、反応管211内に吐出された試料と試薬との混合液における所定の成分を光学的に測定する。測光ユニット210は、光源、及び光検出器を有する。測光ユニット210は、制御回路8の制御に従い、光源から反応管211へ光を照射する。光検出器は、反応管211内の標準試料と試薬との混合液を通過した光を検出し、検出した光の強度に基づいて例えば吸光度で表される標準データを生成する。また、光検出器は、反応管211内の被検試料と試薬との混合液を通過した光を検出し、検出した光の強度に基づいて例えば吸光度で表される被検データを生成する。測光ユニット210は、生成した標準データ、及び被検データを解析回路3へ出力する。 The photometric unit 210 optically measures a predetermined component in the mixed solution of the sample and the reagent discharged into the reaction tube 211. The photometric unit 210 includes a light source and a photodetector. The photometric unit 210 irradiates the reaction tube 211 with light from the light source according to the control of the control circuit 8. The photodetector detects the light that has passed through the mixture of the standard sample and the reagent in the reaction tube 211, and generates standard data represented by, for example, absorbance based on the intensity of the detected light. Further, the photodetector detects the light that has passed through the mixed solution of the test sample and the reagent in the reaction tube 211, and generates test data represented by, for example, absorbance based on the intensity of the detected light. The photometric unit 210 outputs the generated standard data and the test data to the analysis circuit 3.
洗浄ユニット201は、例えば、廃液ノズル、洗浄ノズル、及び乾燥ノズルを備える。洗浄ユニット201は、反応ディスク21の回動により洗浄位置へ配送される反応管211内の混合液を、廃液ノズルにより廃液として吸引する。洗浄ユニット201は、洗浄ノズルにより、混合液が吸引された反応管211へ純水、又は洗剤を吐出することで、反応管211を洗浄する。洗浄ユニット201は、乾燥ノズルにより、洗浄された反応管211へ乾燥空気を供給することで、反応管211を乾燥させる。 The cleaning unit 201 includes, for example, a waste liquid nozzle, a cleaning nozzle, and a drying nozzle. The cleaning unit 201 sucks the mixed liquid in the reaction tube 211 delivered to the cleaning position by the rotation of the reaction disk 21 as a waste liquid by the waste liquid nozzle. The cleaning unit 201 cleans the reaction tube 211 by discharging pure water or detergent into the reaction tube 211 in which the mixed solution is sucked by the cleaning nozzle. The cleaning unit 201 dries the reaction tube 211 by supplying dry air to the washed reaction tube 211 by a drying nozzle.
電解質測定ユニット202は、反応管211内の混合液中に存在する特定電解質の測定を行う。電解質測定ユニット202は、例えば特定電解質から発生するイオン濃度を測定する。 The electrolyte measurement unit 202 measures the specific electrolyte present in the mixed solution in the reaction tube 211. The electrolyte measuring unit 202 measures, for example, the ion concentration generated from the specific electrolyte.
また、図2、及び図3に示される分析機構2は、ラック投入レーン220、及びラック移動ユニット230を備える。ラック投入レーン220は、所定の本数の試料容器を保持するサンプルラックが投入される。試料容器には、標準試料、又は被検試料が収容される。サンプルラックは、所定の本数の試料容器を保持可能、かつ、ラック移動ユニット230に設けられる搬送アーム231によりピックアップ可能な形状を有する。 Further, the analysis mechanism 2 shown in FIGS. 2 and 3 includes a rack loading lane 220 and a rack moving unit 230. In the rack loading lane 220, a sample rack holding a predetermined number of sample containers is loaded. A standard sample or a test sample is stored in the sample container. The sample rack has a shape that can hold a predetermined number of sample containers and can be picked up by a transfer arm 231 provided in the rack moving unit 230.
ラック移動ユニット230は、搬送アーム231、搬送レール232、及びサンプリングレーン233を備える。 The rack moving unit 230 includes a transport arm 231 and a transport rail 232, and a sampling lane 233.
搬送アーム231は、駆動機構4によって駆動され、ラック投入レーン220に投入されたサンプルラックを搬送する。例えば、搬送アーム231は、ラック投入レーン220における所定の投入位置に載置されているサンプルラックを、搬送レール232に沿ってサンプリングレーン233へ搬送する。 The transport arm 231 is driven by the drive mechanism 4 and transports the sample rack loaded into the rack loading lane 220. For example, the transport arm 231 transports the sample rack mounted at a predetermined loading position in the rack loading lane 220 to the sampling lane 233 along the transport rail 232.
サンプリングレーン233は、駆動機構4によって駆動され、搬送アーム231により搬送されたサンプルラックを移動させる。例えば、サンプリングレーン233は、サンプルラックに保持される試料容器各々の開口を、サンプル吸引位置P1の直下へ移動させる。 The sampling lane 233 is driven by the drive mechanism 4 and moves the sample rack conveyed by the transfer arm 231. For example, the sampling lane 233 moves the opening of each sample container held in the sample rack directly below the sample suction position P1.
図1に示される制御回路8は、本実施形態に係る動作プログラムを実行することで、本実施形態に係る処理を実現する。具体的には、制御回路8は、動作プログラムを実行することで、システム制御機能81、測定要否判定機能82、起動時刻設定機能83、測定設定機能84、及び標準試料測定機能85を有する。なお、本実施形態では、単一のプロセッサによってシステム制御機能81、測定要否判定機能82、起動時刻設定機能83、測定設定機能84、及び標準試料測定機能85が実現される場合を説明するが、これに限定されない。例えば、複数の独立したプロセッサを組み合わせて制御回路を構成し、各プロセッサが動作プログラムを実行することによりシステム制御機能81、測定要否判定機能82、起動時刻設定機能83、測定設定機能84、及び標準試料測定機能85を実現しても構わない。 The control circuit 8 shown in FIG. 1 realizes the processing according to the present embodiment by executing the operation program according to the present embodiment. Specifically, the control circuit 8 has a system control function 81, a measurement necessity determination function 82, a start-up time setting function 83, a measurement setting function 84, and a standard sample measurement function 85 by executing an operation program. In this embodiment, the case where the system control function 81, the measurement necessity determination function 82, the start-up time setting function 83, the measurement setting function 84, and the standard sample measurement function 85 are realized by a single processor will be described. , Not limited to this. For example, a control circuit is configured by combining a plurality of independent processors, and each processor executes an operation program to execute a system control function 81, a measurement necessity determination function 82, a start-up time setting function 83, a measurement setting function 84, and the like. The standard sample measurement function 85 may be realized.
システム制御機能81は、入力インタフェース回路5から入力される入力情報に基づき、自動分析装置1における各部を統括して制御する機能である。例えば、システム制御機能81では、制御回路8は、入力インタフェース回路5から入力されるシャットダウン指示に基づき、自動シャットダウン動作を実行する。自動シャットダウン動作には、電源オフ前のメンテナンスに必要な予め設定された一連の処理が含まれる。 The system control function 81 is a function that controls each part of the automatic analyzer 1 in an integrated manner based on the input information input from the input interface circuit 5. For example, in the system control function 81, the control circuit 8 executes an automatic shutdown operation based on a shutdown instruction input from the input interface circuit 5. The automatic shutdown operation includes a set of preset processes required for maintenance before the power is turned off.
また、制御回路8は、予め設定された時刻になると、自動分析装置1の起動処理を開始する。自動分析装置1の起動処理には、自動分析装置1の電源オン、及び自動分析装置1が備えるOS(operation system)の立ち上げ等が含まれる。制御回路8は、自動分析装置1の起動処理が完了すると、自動スタートアップ動作を実行する。自動スタートアップ動作には、測定を開始するために必要な予め設定された保守動作、例えば自動分析装置1が備える各ユニットの動作確認、及び反応ディスク21に保持された反応管211を洗浄する洗浄動作等が含まれる。 Further, the control circuit 8 starts the activation process of the automatic analyzer 1 at a preset time. The activation process of the automatic analyzer 1 includes turning on the power of the automatic analyzer 1 and starting up the OS (operation system) included in the automatic analyzer 1. The control circuit 8 executes an automatic start-up operation when the start-up process of the automatic analyzer 1 is completed. The automatic start-up operation includes preset maintenance operations required for starting measurement, for example, operation confirmation of each unit included in the automatic analyzer 1, and cleaning operation for cleaning the reaction tube 211 held in the reaction disk 21. Etc. are included.
測定要否判定機能82は、所定の検査項目について、キャリブレーション測定、及びコントロール測定を実施するか否かを判定する機能である。具体的には、制御回路8は、自動分析装置1において測定可能な全ての検査項目に係る検量線の有効期限に基づき、当該全ての検査項目に係るキャリブレーション測定が必要であるか否かを判定する。また、制御回路8は、例えば入力インタフェース回路5を介して操作者から入力された指示であって、所定の検査項目に係るキャリブレーション測定を実施するか否かを示す指示に基づき、当該キャリブレーション測定を実施するか否かを判定する。また、制御回路8は、例えば入力インタフェース回路5を介して操作者から入力された指示であって、所定の検査項目に係るコントロール測定を実施するか否かを示す指示に基づき、当該コントロール測定を実施するか否かを判定する。 The measurement necessity determination function 82 is a function for determining whether or not to perform calibration measurement and control measurement for a predetermined inspection item. Specifically, the control circuit 8 determines whether or not calibration measurement for all the inspection items is necessary based on the expiration date of the calibration curve for all the inspection items that can be measured by the automatic analyzer 1. judge. Further, the control circuit 8 is, for example, an instruction input from the operator via the input interface circuit 5, and the calibration is based on an instruction indicating whether or not to carry out the calibration measurement related to a predetermined inspection item. Determine if the measurement is to be performed. Further, the control circuit 8 is an instruction input from the operator via, for example, the input interface circuit 5, and the control measurement is performed based on an instruction indicating whether or not to perform the control measurement related to a predetermined inspection item. Determine whether to implement.
なお、制御回路8は、自動分析装置1において測定可能な全ての検査項目のうち、一部の検査項目に係る検量線の有効期限に基づき、当該一部の検査項目に係るキャリブレーション測定が必要であるか否か判定してもよい。一部の検査項目は、例えば、入力インタフェース回路5を介して、操作者により指定された検査項目である。 The control circuit 8 needs to perform calibration measurement related to some of the inspection items based on the expiration date of the calibration curve related to some of the inspection items that can be measured by the automatic analyzer 1. It may be determined whether or not it is. Some inspection items are inspection items designated by the operator, for example, via the input interface circuit 5.
起動時刻設定機能83は、予め指定された時刻から実際に装置を起動する時刻までに必要な遡及時間を算出し、実際に自動分析装置1が起動される時刻を設定する機能である。遡及時間は、例えば自動分析装置1の起動から標準試料を用いた測定の完了までの時間であり、自動分析装置1の起動処理に必要な時間(自動立ち上げ処理時間)、自動スタートアップ動作に必要な時間(自動スタートアップ時間)、及び標準試料を用いた測定に係る所要時間(先行標準試料測定完了時間)を含む。なお、制御回路8は、標準試料を用いた測定に係る所要時間のみを遡及時間として算出してもよい。 The start-up time setting function 83 is a function of calculating the retroactive time required from the time specified in advance to the time when the device is actually started, and setting the time when the automatic analyzer 1 is actually started. The retroactive time is, for example, the time from the start-up of the automatic analyzer 1 to the completion of the measurement using the standard sample, the time required for the start-up process of the automatic analyzer 1 (automatic start-up processing time), and the time required for the automatic start-up operation. Includes time (automatic start-up time) and time required for measurement using a standard sample (preceding standard sample measurement completion time). The control circuit 8 may calculate only the time required for the measurement using the standard sample as the retroactive time.
例えば、起動時刻設定機能83では、制御回路8は、自動分析装置1の起動処理に必要な時間、自動スタートアップ動作に必要な時間、及び、標準試料を用いた測定に係る所要時間を加算し、遡及時間を算出する。自動分析装置1の起動処理に必要な時間は、自動分析装置1の電源オン、及び自動分析装置1が備えるOSの立ち上げ等に必要な時間が含まれる。自動スタートアップ動作に必要な時間は、自動スタートアップ動作として予め設定された保守動作等の実行に必要な時間が含まれる。 For example, in the start-up time setting function 83, the control circuit 8 adds the time required for the start-up process of the automatic analyzer 1, the time required for the automatic start-up operation, and the time required for the measurement using the standard sample. Calculate the retroactive time. The time required for the start-up process of the automatic analyzer 1 includes the time required for turning on the power of the automatic analyzer 1 and starting up the OS included in the automatic analyzer 1. The time required for the automatic start-up operation includes the time required for executing the maintenance operation or the like preset as the automatic start-up operation.
標準試料を用いた測定に係る所要時間には、標準試料測定スタートアップ時間、キャリブレーション測定分注時間、コントロール測定分注時間、及び、反応時間が含まれる。 The time required for measurement using a standard sample includes a standard sample measurement start-up time, a calibration measurement dispensing time, a control measurement dispensing time, and a reaction time.
標準試料測定スタートアップ時間は、標準試料を用いた測定を開始するためのスタートアップ動作に必要な時間である。標準試料測定スタートアップ時間には、例えば、恒温水交換、恒温槽添加剤注入、反応管洗浄、プローブ洗浄、撹拌子洗浄、電極洗浄、電極用校正液交換、及びエアパージ等を実施するのに必要な時間、並びに、恒温水の温度が所定の温度に上昇するまでに必要な待機時間が含まれる。 The standard sample measurement start-up time is the time required for the start-up operation to start the measurement using the standard sample. The standard sample measurement start-up time is required to perform, for example, constant temperature water exchange, constant temperature bath additive injection, reaction tube cleaning, probe cleaning, stirrer cleaning, electrode cleaning, electrode calibration solution exchange, air purge, and the like. The time and the waiting time required for the temperature of the constant temperature water to rise to a predetermined temperature are included.
エアパージとは、例えばサンプル分注プローブ24の一端に接続されているシリンジ内、及びその流路内の気泡をサンプル分注プローブ24から押し出す処理、第1試薬分注プローブ26の一端に接続されているシリンジ内、及びその流路内の気泡を第1試薬分注プローブ26から押し出す処理、並びに第2試薬分注プローブ28の一端に接続されているシリンジ内、及びその流路内の気泡を第2試薬分注プローブ28から押し出す処理等である。 The air purge is, for example, a process of pushing out air bubbles in the syringe connected to one end of the sample dispensing probe 24 and in the flow path thereof from the sample dispensing probe 24, and is connected to one end of the first reagent dispensing probe 26. The process of pushing out the bubbles in the syringe and the flow path thereof from the first reagent dispensing probe 26, and the bubbles in the syringe connected to one end of the second reagent dispensing probe 28 and in the flow path thereof are the first. 2 Reagent dispensing A process of extruding from the probe 28 or the like.
恒温水の温度が所定の温度に上昇するまでに必要な待機時間は、恒温水交換の実施が完了してから恒温水の温度が所定の温度に上昇するまでの待機時間である。なお、恒温水交換を実施しない場合は、自動分析装置1の起動から10分程度を、恒温水の温度が所定の温度に上昇するまでに必要な待機時間として、標準試料測定スタートアップ時間に含める。 The waiting time required for the temperature of the constant temperature water to rise to a predetermined temperature is the waiting time from the completion of the constant temperature water exchange to the rise of the temperature of the constant temperature water to the predetermined temperature. When the constant temperature water exchange is not performed, about 10 minutes from the start-up of the automatic analyzer 1 is included in the standard sample measurement start-up time as the waiting time required for the temperature of the constant temperature water to rise to a predetermined temperature.
キャリブレーション測定分注時間は、キャリブレーション測定で必要なキャリブレータ及び試薬の分注動作に要する時間である。制御回路8は、キャリブレーション測定分注時間を、例えば検査項目の数、及び検量線レベルに基づいて算出する。検査項目の数は、例えば測定が依頼された1つの試料について実施が必要な検査の数である。 The calibration measurement dispensing time is the time required for the dispensing operation of the calibrator and the reagent required for the calibration measurement. The control circuit 8 calculates the calibration measurement dispensing time based on, for example, the number of inspection items and the calibration curve level. The number of inspection items is, for example, the number of inspections that need to be performed on one sample for which measurement is requested.
コントロール測定分注時間は、コントロール測定で必要なコントロール試料及び試薬の分注動作に必要な時間である。制御回路8は、コントロール測定分注時間を、例えば検査項目の数に基づいて算出する。 The control measurement dispensing time is the time required for the dispensing operation of the control sample and the reagent required for the control measurement. The control circuit 8 calculates the control measurement dispensing time based on, for example, the number of inspection items.
反応時間は、標準試料と当該標準試料に対応する試薬とを反応させるための時間である。反応時間は、標準試料を用いた測定に係る所要時間を算出する際には、キャリブレーション測定、又はコントロール測定で必要な最後の分注動作のうち試薬の分注動作が完了した後から測定結果が出るまでの時間として加算される。 The reaction time is the time for reacting the standard sample with the reagent corresponding to the standard sample. The reaction time is the measurement result after the reagent dispensing operation is completed among the last dispensing operations required for calibration measurement or control measurement when calculating the time required for measurement using a standard sample. Is added as the time until is displayed.
なお、キャリブレーション測定が実施されない場合は、標準試料を用いた測定に係る所要時間に、キャリブレーション測定分注時間は含まれない。また、コントロール測定が実施されない場合は、標準試料を用いた測定に係る所要時間に、コントロール測定分注時間は含まれない。 If the calibration measurement is not performed, the calibration measurement dispensing time is not included in the time required for the measurement using the standard sample. In addition, when the control measurement is not performed, the control measurement dispensing time is not included in the time required for the measurement using the standard sample.
測定設定機能84は、自動スタートアップ動作の後に実行するキャリブレーション測定、又は/及びコントロール測定を設定する機能である。具体的には、制御回路8は、測定要否判定機能82により所定の検査項目について測定が必要であると判定されたキャリブレーション測定、又は/及びコントロール測定を、検査項目と関連付けて記憶回路7に記憶される測定予約管理テーブル72に登録する。 The measurement setting function 84 is a function for setting the calibration measurement and / and the control measurement to be executed after the automatic start-up operation. Specifically, the control circuit 8 associates the calibration measurement and / and the control measurement, which are determined by the measurement necessity determination function 82 to be necessary for the predetermined inspection item, with the inspection item, and the storage circuit 7 It is registered in the measurement reservation management table 72 stored in.
標準試料測定機能85は、自動スタートアップ動作が完了すると、キャリブレーション測定、又は/及びコントロール測定を実施する機能である。具体的には、制御回路8は、測定予約管理テーブル72に登録されているキャリブレーション測定、又は/及びコントロール測定に関するレコードから実行すべきキャリブレーション測定、又は/及びコントロール測定を特定する。制御回路8は、自動スタートアップ動作が完了すると、特定したキャリブレーション測定、又は/及びコントロール測定を検査項目毎に実行する。 The standard sample measurement function 85 is a function of performing calibration measurement and / and control measurement when the automatic start-up operation is completed. Specifically, the control circuit 8 identifies the calibration measurement and / and the calibration measurement to be performed from the record related to the calibration measurement and / and the control measurement registered in the measurement reservation management table 72. When the automatic start-up operation is completed, the control circuit 8 executes the specified calibration measurement and / and the control measurement for each inspection item.
次に、以上のように構成された自動分析装置1が、キャリブレーション測定、又は/及びコントロール測定を測定予約管理テーブル72に登録する際の動作を、図4及び図5を用いて説明する。図4及び図5は、本実施形態に係る自動分析装置1がキャリブレーション測定、又は/及びコントロール測定を測定予約管理テーブル72に登録する際の制御回路8の動作を示すフローチャートの例である。 Next, the operation when the automatic analyzer 1 configured as described above registers the calibration measurement and / and the control measurement in the measurement reservation management table 72 will be described with reference to FIGS. 4 and 5. 4 and 5 are examples of a flowchart showing the operation of the control circuit 8 when the automatic analyzer 1 according to the present embodiment registers the calibration measurement and / and the control measurement in the measurement reservation management table 72.
以下、図4及び図5の説明において、自動分析装置1は、自動シャットダウン動作時に、図4及び図5に示される動作を行うものとする。なお、自動分析装置1は、予め設定される時刻になると、自動起動されるように設定されているものとする。 Hereinafter, in the description of FIGS. 4 and 5, the automatic analyzer 1 shall perform the operations shown in FIGS. 4 and 5 during the automatic shutdown operation. It is assumed that the automatic analyzer 1 is set to be automatically started at a preset time.
制御回路8は、入力インタフェース回路5を介してシャットダウン指示が入力されると、自動分析装置1が自動起動されるように設定されているか否か判定する(ステップSA1)。 The control circuit 8 determines whether or not the automatic analyzer 1 is set to be automatically started when a shutdown instruction is input via the input interface circuit 5 (step SA1).
制御回路8は、自動分析装置1が自動起動されるように設定されていないと判定した場合(ステップSA1のNo)、処理を終了する。 When the control circuit 8 determines that the automatic analyzer 1 is not set to be automatically started (No in step SA1), the control circuit 8 ends the process.
制御回路8は、自動分析装置1が自動起動されるように設定されていると判定した場合(ステップSA1のYes)、表示回路61を制御して自動分析装置1の起動処理に関する設定を受け付けるための装置起動設定画面を表示する。制御回路8は、自動分析装置1の起動処理に関する設定を、入力インタフェース回路5を介して受け付ける(ステップSA2)。図6は、本実施形態に係る表示回路61に表示される、装置起動設定画面の一例を表す図である。 When the control circuit 8 determines that the automatic analyzer 1 is set to be automatically started (Yes in step SA1), the control circuit 8 controls the display circuit 61 to receive the setting related to the start processing of the automatic analyzer 1. Display the device startup setting screen of. The control circuit 8 receives a setting related to the activation process of the automatic analyzer 1 via the input interface circuit 5 (step SA2). FIG. 6 is a diagram showing an example of a device activation setting screen displayed on the display circuit 61 according to the present embodiment.
図6に示される装置起動設定画面では、例えば自動起動時刻(第1の時刻)、及び運用終了時刻を設定可能である。自動起動時刻は、自動分析装置1が自動起動される時刻であり、例えば操作者により入力インタフェース回路5を介して指定される。運用終了時刻は、例えば患者から採取される試料に係る測定の終了が予定される時刻である。 On the device start setting screen shown in FIG. 6, for example, an automatic start time (first time) and an operation end time can be set. The automatic start time is a time when the automatic analyzer 1 is automatically started, and is designated by an operator, for example, via the input interface circuit 5. The operation end time is, for example, the time when the measurement of the sample collected from the patient is scheduled to end.
例えば、図6に示される装置起動設定画面には、自動起動時刻、及び運用終了時刻の入力領域がそれぞれ設けられている。操作者は、入力インタフェース回路5を介して、入力領域に数字を入力することにより、自動起動時刻、及び運用終了時刻を設定できる。図6の例では、自動起動時刻が「2016/10/11 8:00」と設定され、運用終了時刻が「2016/10/11 18:00」と設定されている。このとき、運用時間、すなわち設定された自動起動時刻から運用終了時刻までの時間は、10時間である。 For example, the device start setting screen shown in FIG. 6 is provided with input areas for an automatic start time and an operation end time, respectively. The operator can set the automatic start time and the operation end time by inputting a number into the input area via the input interface circuit 5. In the example of FIG. 6, the automatic start time is set to "2016/10/11 8:00" and the operation end time is set to "2016/10/11 18:00". At this time, the operation time, that is, the time from the set automatic start time to the operation end time is 10 hours.
また、図6に示される装置起動設定画面では、キャリブレーション測定を実施するか否かを検査項目毎に設定可能である。例えば、図6に示される装置起動設定画面には、検査ID「A」、「B」、「C」、及び「D」と表示されている列の1列右側に、キャリブレーション測定を実施するか否かを設定可能なチェックボックスが設けられている。 Further, on the device activation setting screen shown in FIG. 6, it is possible to set whether or not to carry out the calibration measurement for each inspection item. For example, on the device activation setting screen shown in FIG. 6, calibration measurement is performed on the right side of one column in which the inspection IDs “A”, “B”, “C”, and “D” are displayed. There is a check box that allows you to set whether or not.
操作者は、入力インタフェース回路5を介して、チェックボックスに「レ」を入力することにより、キャリブレーション測定を実施するか否かを設定できる。図6の例では、検査ID「A」、「B」、「C」、及び「D」について、キャリブレーション測定の実施が「有効」に設定されている。 The operator can set whether or not to carry out the calibration measurement by inputting "check" in the check box via the input interface circuit 5. In the example of FIG. 6, the calibration measurement is set to "valid" for the inspection IDs "A", "B", "C", and "D".
また、図6に示される装置起動設定画面では、コントロール測定を実施するか否かを検査項目毎に設定可能である。例えば、図6に示される装置起動設定画面には、検査ID「A」、「B」、「C」、及び「D」と表示されている列の2列右側に、コントロール測定を実施するか否かを設定可能なチェックボックスが設けられている。 Further, on the device activation setting screen shown in FIG. 6, it is possible to set whether or not to perform control measurement for each inspection item. For example, on the device activation setting screen shown in FIG. 6, whether to perform control measurement on the right side of two columns in which the inspection IDs "A", "B", "C", and "D" are displayed. There is a check box that can be set whether or not.
操作者は、入力インタフェース回路5を介して、チェックボックスに「レ」を入力することにより、コントロール測定を実施するか否かを設定できる。図6の例では、検査ID「A」について、キャリブレーション測定の実施が「有効」に設定されている。また、図6の例では、検査ID「B」、「C」、及び「D」について、キャリブレーション測定の実施が「無効」に設定されている。 The operator can set whether or not to perform the control measurement by inputting "re" in the check box via the input interface circuit 5. In the example of FIG. 6, for the inspection ID “A”, the execution of the calibration measurement is set to “valid”. Further, in the example of FIG. 6, the calibration measurement is set to "invalid" for the inspection IDs "B", "C", and "D".
また、図6に示される装置起動設定画面には、確定ボタンB1が表示されている。例えば入力インタフェース回路5を介して、図6に示される確定ボタンB1にカーソルが合わせられると、自動起動時刻、運用終了時刻、並びに各検査項目におけるキャリブレーション測定、及びコントロール測定の実施に関する設定が受け付けられる。 Further, the confirmation button B1 is displayed on the device activation setting screen shown in FIG. For example, when the cursor is placed on the confirmation button B1 shown in FIG. 6 via the input interface circuit 5, the automatic start time, the operation end time, and the settings related to the calibration measurement and the control measurement in each inspection item are accepted. Be done.
制御回路8は、自動分析装置1の起動に関する設定が受け付けられると、測定要否判定機能82を実行する。測定要否判定機能82の実行により制御回路8は、検査項目毎に作成される検量線の有効期限に関する情報を取得する(ステップSA3)。具体的には、制御回路8は、記憶回路7に記憶された有効期限管理テーブル71に登録されている全てのレコードを読み出す。 The control circuit 8 executes the measurement necessity determination function 82 when the setting related to the activation of the automatic analyzer 1 is accepted. By executing the measurement necessity determination function 82, the control circuit 8 acquires information on the expiration date of the calibration curve created for each inspection item (step SA3). Specifically, the control circuit 8 reads out all the records registered in the expiration date management table 71 stored in the storage circuit 7.
図7は、本実施形態に係る有効期限管理テーブル71の例を示す図である。図6に示されるように、有効期限管理テーブル71には、「検査ID:A」、「検量線レベル:4」、「生成日時:2016/10/8 15:00」、「有効期間:72」、及び「検量線有効期限:2016/10/11 15:00」が登録されている。また、「検査ID:B」、「検量線レベル:4」、「生成日時:2016/10/7 10:00」、「有効期間:120」、及び「検量線有効期限:2016/10/12 10:00」が登録されている。また、「検査ID:C」、「検量線レベル:9」、「生成日時:2016/10/8 15:00」、「有効期間:72」、及び「検量線有効期限:2016/10/11 15:00」が登録されている。また、「検査ID:D」、「検量線レベル:9」、「生成日時:2016/10/9 17:00」、「有効期間:120」、及び「検量線有効期限:2016/10/14 17:00」が登録されている。 FIG. 7 is a diagram showing an example of the expiration date management table 71 according to the present embodiment. As shown in FIG. 6, in the expiration date management table 71, "inspection ID: A", "calibration curve level: 4", "generation date and time: 2016/10/8 15:00", "validity period: 72" , And "Calibration curve expiration date: 2016/10/11 15:00" are registered. In addition, "inspection ID: B", "calibration curve level: 4", "generation date and time: 2016/10/7 10:00", "validity period: 120", and "calibration curve expiration date: 2016/10/12" "10:00" is registered. In addition, "inspection ID: C", "calibration curve level: 9", "generation date and time: 2016/10/8 15:00", "validity period: 72", and "calibration curve expiration date: 2016/10/11" 15:00 "is registered. In addition, "inspection ID: D", "calibration curve level: 9", "generation date and time: 2016/10/9 17:00", "validity period: 120", and "calibration curve expiration date: 2016/10/14" 17:00 "is registered.
制御回路8は、取得した有効期限に関する情報から1レコード読み出す(ステップSA4)。例えば、制御回路8は、検査IDが「A」であるレコードを読み出す。 The control circuit 8 reads one record from the acquired information on the expiration date (step SA4). For example, the control circuit 8 reads a record whose inspection ID is “A”.
制御回路8は、読み出したレコードについて、ステップSA2において設定された自動起動時刻から所定の時間内に、検量線の有効期限が切れるか否か判定する(ステップSA5)。所定の時間は、例えば運用時間に合わせて予め設定される。所定の時間は、運用時間より短い時間でもよい。制御回路8は、例えば読み出した検査IDが「A」であるレコードの有効期限項目を参照してステップSA2において設定された自動起動時刻「2016/10/11 8:00」から運用時間である10時間以内に有効期限が切れるか否か判定する。なお、有効期限が切れるか否かの判定の開始時点は、シャットダウン指示の入力が予定された時刻、例えば運用終了時刻「2016/10/10 18:00」である。 The control circuit 8 determines whether or not the expiration date of the calibration curve of the read record expires within a predetermined time from the automatic start time set in step SA2 (step SA5). The predetermined time is set in advance according to, for example, the operating time. The predetermined time may be shorter than the operating time. The control circuit 8 is an operating time from the automatic start time “2016/10/11 8:00” set in step SA2 by referring to the expiration date item of the record whose read inspection ID is “A”, for example. Determine if the expiration date will expire within an hour. The start time of the determination as to whether or not the expiration date expires is the time when the shutdown instruction is scheduled to be input, for example, the operation end time "2016/10/10 18:00".
制御回路8は、読み出した検査IDが「A」であるレコードの有効期限「2016/10/11 15:00」は、ステップSA2において設定された自動起動時刻「2016/10/11 8:00」から10時間以内であるため、有効期限が切れると判定する(ステップSA5のYes)。制御回路8は、検査ID「A」を、キャリブレーション測定が必要な検査項目を表す検査IDとして設定する(ステップSA6)。 In the control circuit 8, the expiration date “2016/10/11 15:00” of the record whose read inspection ID is “A” is the automatic start time “2016/10/11 8:00” set in step SA2. Since it is within 10 hours from the above, it is determined that the expiration date has expired (Yes in step SA5). The control circuit 8 sets the inspection ID “A” as an inspection ID representing an inspection item that requires calibration measurement (step SA6).
制御回路8は、設定した検査IDについてキャリブレーション測定を実施するか否かの設定値が有効であるか否か判定する(ステップSA7)。なお、制御回路8は、キャリブレーション測定を実施するか否かの設定値が有効であるか否かの判定を、ステップSA5の前に実行してもよい。 The control circuit 8 determines whether or not the set value of whether or not to carry out the calibration measurement for the set inspection ID is valid (step SA7). The control circuit 8 may determine whether or not the set value of whether or not to carry out the calibration measurement is valid before step SA5.
制御回路8は、図6に示される検査ID「A」のキャリブレーション測定に係るチェックボックスに「レ」が入力されているため、検査ID「A」についてキャリブレーション測定の実施が有効であると判定し(ステップSA7のYes)、図8に示されるように、測定設定機能84の実行により測定予約管理テーブル72に、検査ID「A」、及び測定種類「キャリブレーション測定」であるレコードを登録する(ステップSA8)。 In the control circuit 8, since "re" is entered in the check box related to the calibration measurement of the inspection ID "A" shown in FIG. 6, it is effective to carry out the calibration measurement for the inspection ID "A". Judgment (Yes in step SA7), and as shown in FIG. 8, by executing the measurement setting function 84, a record having the inspection ID “A” and the measurement type “calibration measurement” is registered in the measurement reservation management table 72. (Step SA8).
制御回路8は、読み出した検査ID「A」についてコントロール測定を実施するか否かの設定値が有効であるか否か判定する(ステップSA9)。 The control circuit 8 determines whether or not the set value of whether or not to perform the control measurement is valid for the read inspection ID “A” (step SA9).
制御回路8は、図6に示される検査ID「A」のコントロール測定に係るチェックボックスに「レ」が入力されているため、検査ID「A」についてコントロール測定に関する設定が有効であると判定し(ステップSA9のYes)、図8に示されるように、測定設定機能84の実行により測定予約管理テーブル72に、検査ID「A」及び測定種類「コントロール測定」であるレコードを登録する(ステップSA10)。 Since the control circuit 8 has entered a check box for the control measurement of the inspection ID “A” shown in FIG. 6, it is determined that the setting related to the control measurement for the inspection ID “A” is valid. (Yes in step SA9), as shown in FIG. 8, by executing the measurement setting function 84, a record having the inspection ID “A” and the measurement type “control measurement” is registered in the measurement reservation management table 72 (step SA10). ).
制御回路8は、ステップSA2において有効期限管理テーブル71から読み出したレコードのうち、キャリブレーション測定、又は/及び、コントロール測定が必要か否か判定されていない他のレコードが存在するか否か判定する(ステップSA11)。 The control circuit 8 determines whether or not among the records read from the expiration date management table 71 in step SA2, there are other records for which calibration measurement and / and control measurement is not necessary or not determined. (Step SA11).
制御回路8は、判定されていない他のレコードが存在する場合(ステップSA11のYes)、ステップSA2において読み出したレコードから1レコード読み込み(ステップSA4)、ステップSA5からステップSA11までの処理を繰り返す。 When another record that has not been determined exists (Yes in step SA11), the control circuit 8 reads one record from the record read in step SA2 (step SA4), and repeats the processes from step SA5 to step SA11.
例えば、制御回路8は、図7に示されるレコードのうち、検査IDが「B」であるレコードについて、判定されていないため、検査ID「B」であるレコードを読み出す(ステップSA4)。 For example, among the records shown in FIG. 7, the control circuit 8 reads out the record having the inspection ID “B” because the record having the inspection ID “B” has not been determined (step SA4).
制御回路8は、読み出したレコードについて、ステップSA2において設定された自動起動時刻から所定の時間経過する時刻までに、検量線の有効期限が切れるか否か判定する(ステップSA5)。制御回路8は、例えば読み出した検査項目が「B」であるレコードの有効期限項目を参照して自動起動時刻「2016/10/11 8:00」から10時間以内に有効期限が切れるか否か判定する。 The control circuit 8 determines whether or not the expiration date of the calibration curve of the read record expires from the automatic start time set in step SA2 to the time when a predetermined time elapses (step SA5). For example, the control circuit 8 refers to the expiration date item of the record whose read inspection item is "B", and whether or not the expiration date expires within 10 hours from the automatic start time "2016/10/11 8:00". judge.
制御回路8は、読み出した検査IDが「B」であるレコードの有効期限は「2016/10/12 10:00」であるため、有効期限が切れないと判定する(ステップSA5のNo)。制御回路8は、読み出した検査ID「B」であるレコードについてコントロール測定を実施するか否かの設定値が有効であるか否か判定する(ステップSA9)。 Since the expiration date of the record whose read inspection ID is "B" is "2016/10/12 10:00", the control circuit 8 determines that the expiration date does not expire (No in step SA5). The control circuit 8 determines whether or not the set value of whether or not to perform the control measurement on the read record with the inspection ID “B” is valid (step SA9).
制御回路8は、図6に示される検査ID「B」のコントロール測定に係るチェックボックスにヌル値が入力されている、すなわち「レ」が入力されていないため、検査ID「B」についてコントロール測定を実施するか否かの設定値が無効であると判定し(ステップSA9のNo)、ステップSA2において有効期限管理テーブル71から読み出したレコードのうち、キャリブレーション測定、又は/及び、コントロール測定が必要か否か判定されていない他のレコードが存在するか否か判定する(ステップSA11)。 In the control circuit 8, since a null value is entered in the check box related to the control measurement of the inspection ID “B” shown in FIG. 6, that is, “re” is not entered, the control measurement is performed for the inspection ID “B”. It is determined that the set value of whether or not to execute is invalid (No in step SA9), and among the records read from the expiration date management table 71 in step SA2, calibration measurement and / and control measurement are required. It is determined whether or not there is another record that has not been determined to be present (step SA11).
制御回路8は、判定されていない検査ID「C」であるレコードを、ステップSA2において有効期限管理テーブル71から読み出したレコードから1レコード読み込み(ステップSA4)、ステップSA5からステップSA11までの処理を繰り返す。これにより、図8に示されるように、測定設定機能84の実行により測定予約管理テーブル72に、例えば検査ID「C」、及び測定種類「キャリブレーション測定」であるレコードが登録される。 The control circuit 8 reads one record from the record read from the expiration date management table 71 in step SA2 (step SA4), and repeats the processes from step SA5 to step SA11 for the record having the inspection ID “C” that has not been determined. .. As a result, as shown in FIG. 8, by executing the measurement setting function 84, for example, a record having the inspection ID “C” and the measurement type “calibration measurement” is registered in the measurement reservation management table 72.
また、制御回路8は、判定されていない検査ID「D」であるレコードを、ステップSA2において有効期限管理テーブル71から読み出したレコードから1レコード読み込み(ステップSA4)、ステップSA5からステップSA11までの処理を繰り返す。 Further, the control circuit 8 reads one record from the record read from the expiration date management table 71 in step SA2 (step SA4), and processes from step SA5 to step SA11 to read the record having the undetermined inspection ID “D”. repeat.
制御回路8は、判定されていない他のレコードが存在しない場合(ステップSA11のNo)、起動時刻設定機能83を実行する。起動時刻設定機能83の実行により制御回路8は、測定予約管理テーブル72に登録された測定に基づいて、標準試料を用いた測定に係る所要時間を算出する(ステップSA12)。 The control circuit 8 executes the start-up time setting function 83 when there is no other record that has not been determined (No in step SA11). By executing the start-up time setting function 83, the control circuit 8 calculates the required time for the measurement using the standard sample based on the measurement registered in the measurement reservation management table 72 (step SA12).
具体的には、制御回路8は、測定予約管理テーブル72に検査ID「A」に係るキャリブレーション測定、検査ID「A」に係るコントロール測定、及び検査ID「C」に係るコントロール測定が登録されているため、標準試料測定スタートアップ時間、キャリブレーション測定分注時間、コントロール測定分注時間、及び反応時間を加算し、標準試料を用いた測定に係る所要時間を算出する。標準試料測定スタートアップ時間は、例えば900秒に予め設定されている。 Specifically, in the control circuit 8, the calibration measurement related to the inspection ID "A", the control measurement related to the inspection ID "A", and the control measurement related to the inspection ID "C" are registered in the measurement reservation management table 72. Therefore, the standard sample measurement start-up time, the calibration measurement dispensing time, the control measurement dispensing time, and the reaction time are added to calculate the required time for the measurement using the standard sample. The standard sample measurement start-up time is preset to, for example, 900 seconds.
制御回路8は、有効期限管理テーブル71、及び測定予約管理テーブル72を参照し、キャリブレーション測定分注時間を算出する。 The control circuit 8 refers to the expiration date management table 71 and the measurement reservation management table 72, and calculates the calibration measurement dispensing time.
具体的には、制御回路8は、図7に示される測定予約管理テーブル72を参照し、検査ID「A」について、キャリブレーション測定が必要であると認識する。制御回路8は、図7に示される有効期限管理テーブル71を参照し、検査ID「A」に係る検量線レベルは「4」であると認識する。検量線レベルが「4」の場合、ブランク測定分を含めて5つの異なる濃度の標準試料が用いられる。1つの標準試料に対する測定の繰り返し回数が4回に設定され、かつ、サイクルタイムが4.5秒に設定されている場合、制御回路8は、キャリブレーション測定分注時間を、4.5×5×4=90秒と算出する。なお、制御回路8は、同一の標準試料を繰り返し測定した結果の平均値、又は中央値を取る。これにより、測定の精度を高めることが可能となる。繰り返し回数は、2回、3回、又は5回以上でもよい。 Specifically, the control circuit 8 refers to the measurement reservation management table 72 shown in FIG. 7 and recognizes that the inspection ID “A” needs to be calibrated. The control circuit 8 refers to the expiration date management table 71 shown in FIG. 7, and recognizes that the calibration curve level related to the inspection ID “A” is “4”. When the calibration curve level is "4", five different concentrations of standard sample are used, including the blank measurement. When the number of repetitions of the measurement for one standard sample is set to 4 and the cycle time is set to 4.5 seconds, the control circuit 8 sets the calibration measurement dispensing time to 4.5 × 5. Calculate as × 4 = 90 seconds. The control circuit 8 takes the average value or the median value of the results of repeated measurements of the same standard sample. This makes it possible to improve the accuracy of measurement. The number of repetitions may be 2, 3, or 5 or more.
なお、標準試料の分注に高い精度が要求される場合、例えば第1試薬分注プローブ26では正確に分注できない少量の標準試料を分注して測定しなければならない。この場合、第1試薬分注プローブ26から反応管211に吐出された標準試料を、サンプル分注プローブ24を用いて移し替えることが必要となる場合がある。この場合、制御回路8は、キャリブレーション測定分注時間を、例えば90×2=180秒と算出する。 When high accuracy is required for dispensing the standard sample, for example, a small amount of the standard sample that cannot be accurately dispensed by the first reagent dispensing probe 26 must be dispensed and measured. In this case, it may be necessary to transfer the standard sample discharged from the first reagent dispensing probe 26 to the reaction tube 211 using the sample dispensing probe 24. In this case, the control circuit 8 calculates the calibration measurement dispensing time as, for example, 90 × 2 = 180 seconds.
また、制御回路8は、図8に示される測定予約管理テーブル72を参照し、検査ID「C」について、キャリブレーション測定が必要であると認識する。制御回路8は、図7に示される有効期限管理テーブル71を参照し、検査ID「C」に係る検量線レベルは「9」であると認識する。検量線レベルが「9」の場合、ブランク測定分を含めて10つの異なる濃度の標準試料が用いられる。1つの標準試料に対する測定の繰り返し回数が4回に設定され、かつ、サイクルタイムが4.5秒に設定されている場合、制御回路8は、キャリブレーション測定分注時間を、4.5×10×4=180秒と算出する。 Further, the control circuit 8 refers to the measurement reservation management table 72 shown in FIG. 8 and recognizes that the inspection ID “C” requires calibration measurement. The control circuit 8 refers to the expiration date management table 71 shown in FIG. 7, and recognizes that the calibration curve level related to the inspection ID “C” is “9”. When the calibration curve level is "9", 10 standard samples with different concentrations are used, including the blank measurement. When the number of repetitions of the measurement for one standard sample is set to 4 and the cycle time is set to 4.5 seconds, the control circuit 8 sets the calibration measurement dispensing time to 4.5 × 10. It is calculated as × 4 = 180 seconds.
制御回路8は、測定予約管理テーブル72を参照し、コントロール測定分注時間を算出する。 The control circuit 8 refers to the measurement reservation management table 72 and calculates the control measurement dispensing time.
具体的には制御回路8は、図8に示される測定予約管理テーブル72を参照し、検査ID「A」について、コントロール測定が必要であると認識する。検査ID「A」に関するコントロール測定には、例えば、5つの異なる濃度の標準試料が用いられる。異なる濃度の標準試料の数は、例えば検査項目毎に予め設定される。1つの標準試料に対する測定の繰り返し回数が4回に設定され、かつ、サイクルタイムが4.5秒に設定されている場合、制御回路8は、コントロール測定分注時間を、4.5×5×4=90秒と算出する。 Specifically, the control circuit 8 refers to the measurement reservation management table 72 shown in FIG. 8 and recognizes that the control measurement is necessary for the inspection ID “A”. For control measurements with respect to test ID "A", for example, five different concentrations of standard samples are used. The number of standard samples with different concentrations is preset, for example, for each test item. When the number of repeated measurements for one standard sample is set to 4 and the cycle time is set to 4.5 seconds, the control circuit 8 sets the control measurement dispensing time to 4.5 × 5 ×. Calculate as 4 = 90 seconds.
以上により、測定予約管理テーブル72に登録されたキャリブレーション測定に係るキャリブレーション測定分注時間は、90秒と180秒とを加算した270秒であると算出される。また、測定予約管理テーブル72に登録されたコントロール測定に係るコントロール測定分注時間は、90秒であると算出される。 Based on the above, the calibration measurement dispensing time related to the calibration measurement registered in the measurement reservation management table 72 is calculated to be 270 seconds, which is the sum of 90 seconds and 180 seconds. Further, the control measurement dispensing time related to the control measurement registered in the measurement reservation management table 72 is calculated to be 90 seconds.
反応時間は、例えば600秒に予め設定されている。このため、標準試料を用いた測定に係る所要時間を算出する際には、反応時間600秒が、検査ID「C」に係るコントロール測定における最後の試薬分注の完了後に加算される。 The reaction time is preset to, for example, 600 seconds. Therefore, when calculating the time required for measurement using the standard sample, the reaction time of 600 seconds is added after the completion of the final reagent dispensing in the control measurement for test ID “C”.
制御回路8は、標準試料測定スタートアップ時間900秒、キャリブレーション測定分注時間270秒、コントロール測定分注時間90秒、及び反応時間600秒を加算し、標準試料を用いた測定に係る所要時間1860秒を算出する。 The control circuit 8 adds the standard sample measurement start-up time of 900 seconds, the calibration measurement dispensing time of 270 seconds, the control measurement dispensing time of 90 seconds, and the reaction time of 600 seconds, and the time required for measurement using the standard sample is 1860. Calculate the seconds.
続いて、制御回路8は、自動分析装置1の起動処理に必要な時間が300秒に設定され、かつ自動スタートアップ動作に必要な時間が1200秒に設定されている場合、これらの期間を、登録された標準試料を用いた測定に係る所要時間1860秒に加算し、遡及時間3360秒を算出する(ステップSA13)。 Subsequently, when the time required for the start processing of the automatic analyzer 1 is set to 300 seconds and the time required for the automatic start-up operation is set to 1200 seconds, the control circuit 8 registers these periods. The retroactive time of 3360 seconds is calculated by adding to the required time of 1860 seconds for the measurement using the standard sample (step SA13).
制御回路8は、遡及時間を算出した後、ステップSA2において設定された自動起動時刻を修正(設定)する(ステップSA14)。例えば、制御回路8は、ステップSA2において自動起動時刻が「2016/10/11 8:00」と設定されているため、この時刻からステップSA11において算出した3360秒、すなわち56分を差し引いて、自動起動時刻を「2016/10/11 8:00」から「2016/10/11 7:04」に修正する。 After calculating the retroactive time, the control circuit 8 corrects (sets) the automatic start time set in step SA2 (step SA14). For example, since the automatic start time of the control circuit 8 is set to "2016/10/11 8:00" in step SA2, 3360 seconds calculated in step SA11, that is, 56 minutes is subtracted from this time to automatically start the control circuit 8. The startup time is corrected from "2016/10/11 8:00" to "2016/10/11 7:04".
最後に、制御回路8は、表示回路61を制御し、自動分析装置1の起動に関する設定結果を表示する(ステップSA14)。図9は、本実施形態に係る表示回路61に表示される自動分析装置1の起動に関する設定結果の例を表す図である。図9に示されるように、自動分析装置1の起動に関する設定結果には、例えば検査項目毎に、登録された標準試料を用いた測定の測定種類、当該測定に必要な試料、第1試薬、及び第2試薬が表示されている。 Finally, the control circuit 8 controls the display circuit 61 and displays the setting result regarding the activation of the automatic analyzer 1 (step SA14). FIG. 9 is a diagram showing an example of a setting result relating to activation of the automatic analyzer 1 displayed on the display circuit 61 according to the present embodiment. As shown in FIG. 9, the setting results relating to the activation of the automatic analyzer 1 include, for example, for each inspection item, the measurement type of the measurement using the registered standard sample, the sample required for the measurement, the first reagent, and the like. And the second reagent are displayed.
具体的には、図9に示される検査ID「A」に関しては、測定種類「キャリブレーション測定」、試料「X」、第1試薬「X1」、及び第2試薬「X2」が表示されている。また、図9に示される検査ID「A」に関しては、測定種類「コントロール測定」、試料「Y」、第1試薬「X1」、及び第2試薬「X2」が表示されている。また、図9に示される検査ID「C」に関しては、測定種類「キャリブレーション測定」、試料「Z」、第1試薬「Z1」、及び第2試薬「Z2」が表示されている。 Specifically, for the test ID "A" shown in FIG. 9, the measurement type "calibration measurement", the sample "X", the first reagent "X1", and the second reagent "X2" are displayed. .. Further, regarding the test ID “A” shown in FIG. 9, the measurement type “control measurement”, the sample “Y”, the first reagent “X1”, and the second reagent “X2” are displayed. Further, regarding the test ID “C” shown in FIG. 9, the measurement type “calibration measurement”, the sample “Z”, the first reagent “Z1”, and the second reagent “Z2” are displayed.
また、図9に示される試料「Y」、第1試薬「X1」、及び第1試薬「Z1」の文字には下線が付されている。この下線は測定に必要な試料「Y」を収容する試料容器、第1試薬「X1」を収容する試薬容器101、及び第1試薬「Z1」を収容する試薬容器101が自動分析装置1内に配置されていないことを表す。 Further, the letters of the sample "Y", the first reagent "X1", and the first reagent "Z1" shown in FIG. 9 are underlined. This underline shows a sample container containing the sample "Y" required for measurement, a reagent container 101 containing the first reagent "X1", and a reagent container 101 containing the first reagent "Z1" in the automatic analyzer 1. Indicates that it is not placed.
また、図9に示される第2試薬「X2」、及び第2試薬「Z2」の文字が白抜き文字の形式で表示されている。この白抜き文字は、例えば、図4のステップSA2において設定された自動起動時刻「2016/10/11 8:00」に、患者から採取される試料の測定が実施される時間である10時間を加えた時刻「2016/10/11 18:00」までに第2試薬「X2」、及び第2試薬「Z2」の有効期限が切れることを表す。 Further, the characters of the second reagent "X2" and the second reagent "Z2" shown in FIG. 9 are displayed in outline characters. The outline characters indicate, for example, 10 hours, which is the time during which the measurement of the sample collected from the patient is performed at the automatic start time "2016/10/11 8:00" set in step SA2 of FIG. It indicates that the expiration date of the second reagent "X2" and the second reagent "Z2" will expire by the added time "2016/10/11 18:00".
また、図9に示される表示回路61には、変更前自動起動時刻、及び変更後自動起動時刻が表示されている。変更前自動起動時刻は、例えば図6に示される装置起動設定画面において、入力インタフェース回路5を介して入力された自動起動時刻(第1の時刻)である。変更後自動起動時刻は、例えば変更前自動起動時刻から遡及時間を差し引いた時刻である。図9の例では、変更前自動起動時刻は、「2016年10月11日08時00分」と表示されている。また、変更後自動起動時刻は、「2016年10月11日07時04分」と表示されている。これにより、自動分析装置1が実際に起動される時刻を明確に確認することができる。 Further, the display circuit 61 shown in FIG. 9 displays the automatic start time before the change and the automatic start time after the change. The automatic start time before change is, for example, the automatic start time (first time) input via the input interface circuit 5 on the device start setting screen shown in FIG. The automatic start time after the change is, for example, the time obtained by subtracting the retroactive time from the automatic start time before the change. In the example of FIG. 9, the automatic start time before change is displayed as "October 11, 2016, 08:00". In addition, the automatic start time after the change is displayed as "07:04 on October 11, 2016". This makes it possible to clearly confirm the time when the automatic analyzer 1 is actually started.
なお、制御回路8は、変更前自動起動時刻から標準試料を用いた測定に係る所要時間を差し引いた時刻を、変更後自動起動時刻として表示回路61に表示させてもよい。また、制御回路8は、標準試料を用いた測定に係る所要時間を表示回路61に表示させてもよい。 The control circuit 8 may display the time obtained by subtracting the time required for the measurement using the standard sample from the automatic start time before the change as the automatic start time after the change on the display circuit 61. Further, the control circuit 8 may display the time required for the measurement using the standard sample on the display circuit 61.
なお、自動分析装置1の起動に関する設定結果は、印刷回路62によりプリンタ用紙等に印刷されてもよい。 The setting result regarding the activation of the automatic analyzer 1 may be printed on printer paper or the like by the printing circuit 62.
また、図9に示される表示回路61には、操作者が自動分析装置1の起動に関する設定結果を承諾することを促す承諾ボタンB2が表示されている。図9に示される承諾ボタンB2にカーソルが合せられると、自動分析装置1の起動に関する設定結果の内容が確定される。 Further, the display circuit 61 shown in FIG. 9 displays a consent button B2 for prompting the operator to consent to the setting result relating to the activation of the automatic analyzer 1. When the cursor is placed on the consent button B2 shown in FIG. 9, the content of the setting result regarding the activation of the automatic analyzer 1 is confirmed.
次に、自動分析装置1が、装置起動後に、予約された標準試料測定を自動的に実施する際の動作を、図10を用いて説明する。図10は、本実施形態に係る自動分析装置1が、装置起動後に、設定された標準試料測定を自動的に実施する際の制御回路8の動作を示すフローチャートの例である。 Next, the operation when the automatic analyzer 1 automatically performs the reserved standard sample measurement after the device is started will be described with reference to FIG. FIG. 10 is an example of a flowchart showing the operation of the control circuit 8 when the automatic analyzer 1 according to the present embodiment automatically performs the set standard sample measurement after the device is started.
制御回路8は、図5に示されるステップSA14において修正された自動分析装置1の起動時刻「2016/10/11 7:04」になると、システム制御機能81を実行する。システム制御機能81の実行により制御回路8は、自動分析装置1の起動、すなわち自動分析装置1の電源オン、及び自動分析装置1が備えるOSの立ち上げ等を開始する(ステップSB1)。 The control circuit 8 executes the system control function 81 at the start time “2016/10/11 7:04” of the automatic analyzer 1 modified in step SA14 shown in FIG. By executing the system control function 81, the control circuit 8 starts starting the automatic analyzer 1, that is, turning on the power of the automatic analyzer 1, starting up the OS included in the automatic analyzer 1, and the like (step SB1).
制御回路8は、自動分析装置1の起動後、自動スタートアップ動作を実行する(ステップSB2)。 The control circuit 8 executes an automatic start-up operation after the automatic analyzer 1 is started (step SB2).
制御回路8は、自動スタートアップ動作が完了すると、測定予約管理テーブル72を参照し、登録されたキャリブレーション測定、及び/又はコントロール測定が存在するか否か判定する(ステップSB3)。 When the automatic start-up operation is completed, the control circuit 8 refers to the measurement reservation management table 72 and determines whether or not the registered calibration measurement and / or control measurement exists (step SB3).
制御回路8は、登録されたキャリブレーション測定、及び/又はコントロール測定が存在する場合(ステップSB3のYes)、標準試料測定機能85を実行する。標準試料測定機能85の実行により制御回路8は、当該キャリブレーション測定、及び/又はコントロール測定を実施する(ステップSB4)。例えば、制御回路8は、図8に示される検査ID「A」に係るキャリブレーション測定、検査ID「A」に係るコントロール測定、及び検査ID「C」に係るキャリブレーション測定を実施する。制御回路8は、表示回路61を制御し、「標準試料測定実施中」の旨を表示する。図11は、標準試料を用いた測定が実施されている間、標準試料測定実施中の旨を表示する表示回路61の表示例を表す図である。 The control circuit 8 executes the standard sample measurement function 85 when the registered calibration measurement and / or control measurement exists (Yes in step SB3). By executing the standard sample measurement function 85, the control circuit 8 performs the calibration measurement and / or the control measurement (step SB4). For example, the control circuit 8 carries out the calibration measurement related to the inspection ID “A” shown in FIG. 8, the control measurement related to the inspection ID “A”, and the calibration measurement related to the inspection ID “C”. The control circuit 8 controls the display circuit 61 and displays that "standard sample measurement is being performed". FIG. 11 is a diagram showing a display example of the display circuit 61 that indicates that the standard sample measurement is being performed while the measurement using the standard sample is being performed.
図11の例では、表示回路61には、検査ID「A」に係るキャリブレーション測定を表す領域が、斜線でハイライト表示されている。このハイライト表示は、検査ID「A」に係るキャリブレーション測定が実施中であることを表している。また、図11の例では、斜線でハイライト表示されていない検査ID「A」に係るコントロール測定、及び「C」に係るキャリブレーション測定は、実施中でないこと表す。測定は、例えば、検査ID「A」に係るキャリブレーション測定、検査ID「A」に係るコントロール測定、及び検査ID「C」に係るキャリブレーション測定の順で実施される。これにより、自動分析装置1は、操作者が想定しない時刻に起動した場合であっても、操作者を驚かせることなく、標準試料を用いた測定を実施することが可能となる。 In the example of FIG. 11, in the display circuit 61, the area representing the calibration measurement related to the inspection ID “A” is highlighted with diagonal lines. This highlight display indicates that the calibration measurement related to the inspection ID "A" is being performed. Further, in the example of FIG. 11, it is shown that the control measurement related to the inspection ID “A” and the calibration measurement related to the inspection ID “C”, which are not highlighted by diagonal lines, are not being performed. The measurement is performed in the order of, for example, the calibration measurement related to the inspection ID "A", the control measurement related to the inspection ID "A", and the calibration measurement related to the inspection ID "C". As a result, even if the automatic analyzer 1 is started at a time not expected by the operator, the measurement using the standard sample can be performed without astonishing the operator.
制御回路8は、登録されたキャリブレーション測定、及び/又はコントロール測定を全て実施した後、表示回路61を制御し、測定実施結果を表示する(ステップSB5)。図12は、本実施形態に係る表示回路61に表示される測定実施結果の例を表す図である。図12に示されるように、測定実施結果には、例えば検査項目毎に、実施された測定の測定種類、及び実施結果が表示されている。 After performing all the registered calibration measurement and / or control measurement, the control circuit 8 controls the display circuit 61 and displays the measurement execution result (step SB5). FIG. 12 is a diagram showing an example of measurement execution results displayed on the display circuit 61 according to the present embodiment. As shown in FIG. 12, in the measurement execution result, for example, the measurement type of the measurement performed and the implementation result are displayed for each inspection item.
具体的には、図12に示される検査ID「A」、及び測定種類「キャリブレーション測定」について、結果「終了」が表示されている。また、図12に示される検査ID「A」、及び測定種類「コントロール測定」について、結果「終了」が表示されている。また、図12に示される検査ID「C」、及び測定種類「キャリブレーション測定」について、結果「終了」が表示されている。ずなわち、図12の例では、全ての測定が問題なく終了したことが示されている。 Specifically, the result "end" is displayed for the inspection ID "A" shown in FIG. 12 and the measurement type "calibration measurement". Further, for the inspection ID "A" shown in FIG. 12 and the measurement type "control measurement", the result "end" is displayed. In addition, the result "end" is displayed for the inspection ID "C" shown in FIG. 12 and the measurement type "calibration measurement". That is, in the example of FIG. 12, it is shown that all the measurements were completed without any problem.
なお、全部、又は、一部の測定が異常終了した場合には、異常終了した測定に係る図12に示される「結果」の列の値を「失敗」と表示する等して、操作者に報知するようにしてもよい。 If all or part of the measurement ends abnormally, the value in the "Result" column shown in FIG. 12 related to the abnormally completed measurement is displayed as "Failure" to the operator. It may be notified.
制御回路8は、登録されたキャリブレーション測定、及び/又はコントロール測定が存在しない場合(ステップSB3のNo)、処理を終了する。これにより、図4のステップSA2において設定された自動起動時刻までに、患者から採取される試料の測定を開始させるのに必要な処理が完了する。 The control circuit 8 ends the process when the registered calibration measurement and / or the control measurement does not exist (No in step SB3). As a result, the process required to start the measurement of the sample collected from the patient is completed by the automatic start time set in step SA2 of FIG.
上記実施形態によれば、制御回路8は、自動分析装置1のシャットダウン時に、所定の検査項目に関し、標準試料を用いた測定の実施の要否を判定する。制御回路8は、入力インタフェース回路5を介して設定された変更前自動起動時刻(第1の時刻)までに、測定要否判定機能82により実施が必要であると判定された標準試料を用いた測定が完了するように、標準試料を用いた測定に係る所要時間に基づいて、設定された自動起動時刻(第1の時刻)を修正することにより、変更後自動起動時刻(第2の時刻)を設定する。 According to the above embodiment, when the automatic analyzer 1 is shut down, the control circuit 8 determines whether or not it is necessary to carry out measurement using a standard sample for a predetermined inspection item. The control circuit 8 used a standard sample determined by the measurement necessity determination function 82 to be performed by the pre-change automatic start time (first time) set via the input interface circuit 5. By modifying the set automatic start time (first time) based on the time required for measurement using the standard sample so that the measurement is completed, the changed automatic start time (second time) To set.
これにより、入力インタフェース回路5を介して設定された変更前自動起動時刻(第1の時刻)までに、患者から採取される試料の測定に必要な標準試料を用いた測定を完了することが可能となる。さらに、実施が必要であると判定された標準試料を用いた測定が大量に存在する場合であっても、制御回路8は、検査項目の数、及び検査レベル等を考慮して標準試料を用いた測定に係る所要時間算出するため、設定された変更前自動起動時刻(第1の時刻)までに当該標準試料を用いた測定を確実に完了することができる。 This makes it possible to complete the measurement using the standard sample required for the measurement of the sample collected from the patient by the pre-change automatic start time (first time) set via the input interface circuit 5. It becomes. Further, even if there are a large number of measurements using the standard sample determined to be necessary, the control circuit 8 uses the standard sample in consideration of the number of inspection items, the inspection level, and the like. Since the required time for the measured measurement is calculated, the measurement using the standard sample can be reliably completed by the set pre-change automatic start time (first time).
したがって、本実施形態に係る自動分析装置によれば、検量線の作成、及び、検量線の精度管理に必要な測定が完了した状態で、予め指定された時刻から患者から採取される試料の測定を開始することが可能となる。 Therefore, according to the automatic analyzer according to the present embodiment, the measurement of the sample collected from the patient from the time specified in advance is completed in the state where the measurement necessary for the preparation of the calibration curve and the accuracy control of the calibration curve is completed. Can be started.
また、上記実施形態によれば、制御回路8は、変更後自動起動時刻(第2の時刻)に装置が起動された後に、測定予約管理テーブル72に登録されたキャリブレーション測定、及びコントロール測定を実施する。これにより、自動分析装置1が自動起動された後に、操作者がキャリブレーション測定、及びコントロール測定を実施する手間を省略することが可能となる。 Further, according to the above embodiment, the control circuit 8 performs the calibration measurement and the control measurement registered in the measurement reservation management table 72 after the device is started at the changed automatic start time (second time). carry out. As a result, it is possible to save the operator the trouble of performing the calibration measurement and the control measurement after the automatic analyzer 1 is automatically started.
また、上記実施形態によれば、制御回路8は、表示回路61を制御し、検査項目毎に、予約されたキャリブレーション測定、及びコントロール測定に必要な標準試料、第1試薬、及び第2試薬を表示する。これにより、標準試料、及び/又は、試薬の置き忘れによるキャリブレーション測定、及びコントロール測定に係る測定の失敗を防ぐことができる。 Further, according to the above embodiment, the control circuit 8 controls the display circuit 61, and the standard sample, the first reagent, and the second reagent necessary for the reserved calibration measurement and the control measurement for each inspection item. Is displayed. As a result, it is possible to prevent the calibration measurement and the measurement related to the control measurement from failing due to misplacement of the standard sample and / or the reagent.
また、上記実施形態によれば、制御回路8は、表示回路61を制御し、変更後自動起動時刻(第2の時刻)を表示する。これにより、操作者は、自動分析装置1の起動時刻を明確に把握することが可能となる。 Further, according to the above embodiment, the control circuit 8 controls the display circuit 61 and displays the automatic start time (second time) after the change. As a result, the operator can clearly grasp the start-up time of the automatic analyzer 1.
また、上記実施形態によれば、制御回路8は、入力インタフェース回路5を介して設定された自動起動時刻(第1の時刻)から運用時間と同じ10時間以内に、検量線の有効期限が切れるか否か判定する。これにより、例えば運用終了時刻までに有効期限が切れる検量線はなくなる。よって、運用をキャリブレーション測定の実施等で中断させることなく、患者から採取される試料の測定を続けることが可能となる。 Further, according to the above embodiment, the calibration curve of the control circuit 8 expires within 10 hours, which is the same as the operating time, from the automatic start time (first time) set via the input interface circuit 5. Judge whether or not. As a result, for example, there is no calibration curve that expires by the operation end time. Therefore, it is possible to continue the measurement of the sample collected from the patient without interrupting the operation by performing the calibration measurement or the like.
[他の実施形態]
なお、この発明は上記実施形態に限定されるものではない。例えば、上記実施形態において、キャリブレーション測定分注時間は、検査項目の数、及び検査項目毎に設定される検量線レベルに基づいて算出されていたがこれに限定されない。すなわち、キャリブレーション測定分注時間は、予め設定された値を用いてもよい。
[Other Embodiments]
The present invention is not limited to the above embodiment. For example, in the above embodiment, the calibration measurement dispensing time is calculated based on the number of inspection items and the calibration curve level set for each inspection item, but is not limited thereto. That is, a preset value may be used for the calibration measurement dispensing time.
また、コントロール測定分注時間は、検査項目の数に基づいて算出されていたがこれに限定されない。すなわち、コントロール測定分注時間は、予め設定された値を用いてもよい。 In addition, the control measurement dispensing time was calculated based on the number of inspection items, but is not limited to this. That is, a preset value may be used for the control measurement dispensing time.
また、上記実施形態において、予め設定される所定の時間が、運用時間と同じ10時間である場合を例に検量線の有効期限が切れるか否かの判定の方法について説明したがこれに限定されない。例えば、予め設定される所定の時間が運用時間より短い10時間未満であってもよい。この場合、例えば、測定予約管理テーブル72に登録されるキャリブレーション測定の開始時刻を、当該キャリブレーション測定に対応する検量線の有効期限切れ直前の時刻に設定することで、有効期間が運用時間より短い検量線であっても、キャリブレーション測定を自動的に実施することが可能となる。これにより、運用時間中に、操作者がキャリブレーション測定、及びコントロール測定を実施する手間を省略することが可能となる。 Further, in the above embodiment, the method of determining whether or not the expiration date of the calibration curve expires has been described by taking as an example the case where the predetermined predetermined time is 10 hours, which is the same as the operating time, but the present invention is not limited to this. .. For example, the preset predetermined time may be less than 10 hours, which is shorter than the operating time. In this case, for example, by setting the start time of the calibration measurement registered in the measurement reservation management table 72 to the time immediately before the expiration date of the calibration curve corresponding to the calibration measurement, the valid period is shorter than the operating time. Even if it is a calibration curve, it is possible to automatically perform calibration measurement. This makes it possible to save the operator the trouble of performing calibration measurement and control measurement during the operation time.
また、上記実施形態において、自動分析装置1の起動に関する設定が受け付けられるタイミングは、自動シャットダウン動作時、すなわち図4に示されるステップSA2のタイミングに限定されない。すなわち、図6に示される装置起動設定画面における設定内容が、自動シャットダウン動作時以外の所定のタイミングで予め受け付けられてもよい。 Further, in the above embodiment, the timing at which the setting related to the activation of the automatic analyzer 1 is accepted is not limited to the time of the automatic shutdown operation, that is, the timing of step SA2 shown in FIG. That is, the setting contents on the device start setting screen shown in FIG. 6 may be accepted in advance at a predetermined timing other than the automatic shutdown operation.
また、上記実施形態において、制御回路8は、図6に示される装置起動設定画面において、自動分析装置1が自動的に起動される時刻である自動起動時刻の設定を受け付けていたが、これに限定されない。図13は、他の実施形態に係る表示回路61に表示される自動分析装置1の起動に関する設定を受け付けるための装置起動設定画面の一例を表す図である。例えば、図13に示される装置起動設定画面では、図6に示される「自動起動時刻」の代わりに、「標準試料測定完了時刻」の設定項目が表示されている。入力インタフェース回路5を介して「標準試料測定完了時刻」が設定されると、制御回路8は、設定された「標準試料測定完了時刻」から、遡及時間を差し引くことで自動分析装置1の自動起動の時刻を設定する。これにより、操作者は、設定した「標準試料測定完了時刻」から患者から採取される試料の測定を開始することが可能となる。 Further, in the above embodiment, the control circuit 8 accepts the setting of the automatic start time, which is the time when the automatic analyzer 1 is automatically started, on the device start setting screen shown in FIG. Not limited. FIG. 13 is a diagram showing an example of a device activation setting screen for accepting a setting related to activation of the automatic analyzer 1 displayed on the display circuit 61 according to another embodiment. For example, on the device activation setting screen shown in FIG. 13, a setting item of "standard sample measurement completion time" is displayed instead of the "automatic activation time" shown in FIG. When the "standard sample measurement completion time" is set via the input interface circuit 5, the control circuit 8 automatically starts the automatic analyzer 1 by subtracting the retroactive time from the set "standard sample measurement completion time". Set the time of. As a result, the operator can start the measurement of the sample collected from the patient from the set "standard sample measurement completion time".
上記説明において用いた「プロセッサ」という文言は、例えば、CPU(central processing unit)、GPU(Graphics Processing Unit)、或いは、特定用途向け集積回路(Application Specific Integrated Circuit:ASIC))、プログラマブル論理デバイス(例えば、単純プログラマブル論理デバイス(Simple Programmable Logic Device:SPLD)、複合プログラマブル論理デバイス(Complex Programmable Logic Device:CPLD)、及びフィールドプログラマブルゲートアレイ(Field Programmable Gate Array:FPGA))等の回路を意味する。プロセッサは記憶回路に保存されたプログラムを読み出し実行することで機能を実現する。なお、本実施形態の各プロセッサは、プロセッサごとに単一の回路として構成される場合に限らず、複数の独立した回路を組み合わせて1つのプロセッサとして構成し、その機能を実現するようにしてもよい。さらに、図1における複数の構成要素を1つのプロセッサへ統合してその機能を実現するようにしてもよい。 The word "processor" used in the above description means, for example, a CPU (central processing unit), a GPU (Graphics Processing Unit), an integrated circuit for a specific application (Application Specific Integrated Circuit: ASIC)), or a programmable logic device (for example, , Simple Programmable Logic Device (SPLD), Complex Programmable Logic Device (CPLD), and Field Programmable Gate Array (FPGA)). The processor realizes the function by reading and executing the program stored in the storage circuit. It should be noted that each processor of the present embodiment is not limited to the case where each processor is configured as a single circuit, and a plurality of independent circuits may be combined to form one processor to realize its function. Good. Further, the plurality of components in FIG. 1 may be integrated into one processor to realize the function.
本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれると同様に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれるものである。 Although some embodiments of the present invention have been described, these embodiments are presented as examples and are not intended to limit the scope of the invention. These embodiments can be implemented in various other forms, and various omissions, replacements, and changes can be made without departing from the gist of the invention. These embodiments and modifications thereof are included in the scope and gist of the invention, as well as in the scope of the invention described in the claims and the equivalent scope thereof.
1…自動分析装置、2…分析機構、3…解析回路、4…駆動機構、5…入力インタフェース回路、6…出力インタフェース回路、7…記憶回路、8…制御回路、21…反応ディスク、22…試薬庫、23…サンプル分注アーム、24…サンプル分注プローブ、25…第1試薬分注アーム、26…第1試薬分注プローブ、27…第2試薬分注アーム、28…第2試薬分注プローブ、29…攪拌ユニット、61…表示回路、62…印刷回路、71…有効期限管理テーブル、72…測定予約管理テーブル、81…システム制御機能、82…測定要否判定機能、83…起動時刻設定機能、84…測定設定機能、85…標準試料測定機能、101…試薬容器、201…洗浄ユニット、202…電解質測定ユニット、210…測光ユニット、211…反応管、220…ラック投入レーン、221…外円、222…内円、230…ラック移動ユニット、231…搬送アーム、232…搬送レール、233…サンプリングレーン。 1 ... Automatic analyzer, 2 ... Analysis mechanism, 3 ... Analysis circuit, 4 ... Drive mechanism, 5 ... Input interface circuit, 6 ... Output interface circuit, 7 ... Storage circuit, 8 ... Control circuit, 21 ... Reaction disk, 22 ... Reagent storage, 23 ... sample dispensing arm, 24 ... sample dispensing probe, 25 ... first reagent dispensing arm, 26 ... first reagent dispensing probe, 27 ... second reagent dispensing arm, 28 ... second reagent dispensing Note Probe, 29 ... Stirring unit, 61 ... Display circuit, 62 ... Printing circuit, 71 ... Expiration date management table, 72 ... Measurement reservation management table, 81 ... System control function, 82 ... Measurement necessity judgment function, 83 ... Start time Setting function, 84 ... Measurement setting function, 85 ... Standard sample measurement function, 101 ... Reagent container, 201 ... Cleaning unit, 202 ... Electrolyte measurement unit, 210 ... Photometric unit, 211 ... Reaction tube, 220 ... Rack input lane, 221 ... Outer circle, 222 ... inner circle, 230 ... rack moving unit, 231 ... transfer arm, 232 ... transfer rail, 233 ... sampling lane.
Claims (16)
当該自動分析装置を起動するために指定された第1の時刻までに、前記実施が必要であると判定された標準試料測定が完了するように、前記標準試料測定に係る所要時間に基づいて、当該自動分析装置が実際に起動される起動時刻を表す第2の時刻を設定する起動時刻設定部と
を具備する自動分析装置。 When the automatic analyzer is shut down, it is necessary to determine the necessity of performing standard sample measurement using a standard sample for at least some of the inspection items that can be measured by the automatic analyzer. Department and
Based on the time required for the standard sample measurement, the standard sample measurement determined to be required to be performed is completed by the first time specified to activate the automated analyzer. An automatic analyzer including a start-up time setting unit that sets a second time representing the start-up time when the automatic analyzer is actually started.
前記測定要否判定部は、当該自動分析装置において測定可能な全ての検査項目のうち少なくとも一部の検査項目の検量線の有効期限、及び前記第1の時刻に基づいて、前記キャリブレーション測定が必要であるか否かを判定する請求項1乃至7のうちいずれかに記載の自動分析装置。 The standard sample measurement determined to be necessary is a calibration measurement for creating a calibration curve for a predetermined test item.
The measurement necessity determination unit performs the calibration measurement based on the expiration date of the calibration curve of at least some of the inspection items measurable by the automatic analyzer and the first time. The automatic analyzer according to any one of claims 1 to 7, which determines whether or not it is necessary.
前記測定要否判定部は、前記コントロール測定に関する要否の設定に基づいて、前記コントロール測定が必要であるか否かを判定する請求項8乃至10のいずれかに記載の自動分析装置。 The standard sample measurement determined to be necessary is the calibration measurement and the control measurement for controlling the accuracy of the inspection line generated by the calibration measurement.
The automatic analyzer according to any one of claims 8 to 10, wherein the measurement necessity determination unit determines whether or not the control measurement is necessary based on the setting of necessity regarding the control measurement.
当該自動分析装置のシャットダウン時に、当該自動分析装置において測定可能な全ての検査項目のうち少なくとも一部の検査項目に関し、標準試料を用いた標準試料測定の実施の要否を判定する測定要否判定過程と、
当該自動分析装置を起動するために指定された第1の時刻までに、前記実施が必要であると判定された標準試料測定が完了するように、前記標準試料測定に係る所要時間に基づいて、当該自動分析装置が実際に起動される起動時刻を表す第2の時刻を設定する起動時刻設定過程と
を具備する自動分析装置の起動時刻の設定方法。 It is a method of setting the start time of the automatic analyzer executed by the automatic analyzer.
When the automatic analyzer is shut down, it is necessary to determine the necessity of performing standard sample measurement using a standard sample for at least some of the inspection items that can be measured by the automatic analyzer. The process and
Based on the time required for the standard sample measurement, the standard sample measurement determined to be required to be performed is completed by the first time specified for activating the automated analyzer. A method for setting a start-up time of an automatic analyzer, which comprises a start-up time setting process for setting a second time representing a start-up time when the automatic analyzer is actually started.
前記設定された第2の時刻に当該自動分析装置を起動するシステム制御過程と、
前記標準試料を用いた測定を、前記設定された第1の時刻までに完了するように実施する標準試料測定過程と
を具備する標準試料を用いた測定の実施方法。 Measurement necessity determination unit that determines the necessity of performing standard sample measurement using a standard sample for at least some of the inspection items that can be measured by the automatic analyzer when the automatic analyzer is shut down. Based on the time required for the standard sample measurement so that the standard sample measurement determined to be necessary to be performed is completed by the first time specified for starting the automatic analyzer. It is a method of performing a measurement using a standard sample executed by an automatic analyzer including a start time setting unit for setting a second time indicating the start time when the automatic analyzer is actually started.
A system control process for starting the automatic analyzer at the set second time, and
A method for carrying out a measurement using a standard sample, comprising a standard sample measurement process for carrying out the measurement using the standard sample so as to be completed by the set first time.
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| JP2018105807A JP2018105807A (en) | 2018-07-05 |
| JP2018105807A5 JP2018105807A5 (en) | 2020-02-13 |
| JP6833508B2 true JP6833508B2 (en) | 2021-02-24 |
Family
ID=62787152
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2016255008A Active JP6833508B2 (en) | 2016-12-28 | 2016-12-28 | Automatic analyzer, how to set its start time, and how to perform measurements using standard samples |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP6833508B2 (en) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2022118402A (en) * | 2021-02-02 | 2022-08-15 | キヤノンメディカルシステムズ株式会社 | Standard sample container and automatic analyzer |
| AU2022201245A1 (en) | 2021-03-04 | 2022-09-22 | Sysmex Corporation | Quality control method of specimen analysis system and specimen analysis system |
| JP7831052B2 (en) * | 2022-03-22 | 2026-03-17 | 東ソー株式会社 | automatic analyzer |
| CN114578072A (en) * | 2022-05-06 | 2022-06-03 | 深圳市帝迈生物技术有限公司 | Control method of sample analysis apparatus |
Family Cites Families (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04329358A (en) * | 1991-04-30 | 1992-11-18 | Shimadzu Corp | Automatic start-up device for automatic analyzer |
| JP3889877B2 (en) * | 1997-04-10 | 2007-03-07 | 株式会社日立製作所 | Automatic analyzer and its support system |
| JP2007322326A (en) * | 2006-06-02 | 2007-12-13 | Olympus Corp | Calibration term-of-validity management method, program for calibration term-of-validity management, and automatic analyzer |
| JP5191664B2 (en) * | 2007-01-09 | 2013-05-08 | ベックマン コールター, インコーポレイテッド | Analysis equipment |
| JP4960144B2 (en) * | 2007-04-27 | 2012-06-27 | シスメックス株式会社 | Sample measuring device |
| US8538727B2 (en) * | 2009-07-21 | 2013-09-17 | George S. Cembrowski | Method and apparatus for calibration and testing of scientific measurement equipment |
| JP2011149905A (en) * | 2010-01-25 | 2011-08-04 | Hitachi High-Technologies Corp | Automatic analyzer |
| JP5923314B2 (en) * | 2012-01-23 | 2016-05-24 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | Automatic analyzer |
-
2016
- 2016-12-28 JP JP2016255008A patent/JP6833508B2/en active Active
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2018105807A (en) | 2018-07-05 |
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| JP2024172408A (en) | Automated Analysis Equipment |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A521 | Written amendment |
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|
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|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20210105 |
|
| A977 | Report on retrieval |
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|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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