JP6847066B2 - Antenna calibration method - Google Patents
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Description
本発明は、複数のアンテナ素子、及び電磁波を反射する反射鏡を備えたアンテナ装置に適用されるアンテナ校正方法に関する。 The present invention relates to an antenna calibration method applied to an antenna device including a plurality of antenna elements and a reflector that reflects electromagnetic waves.
アンテナ装置のなかには、アレー給電方式を採用し、アンテナ素子群がそれぞれ放射する電磁波を反射鏡により反射させてアンテナビームを形成するタイプがある。そのようなアンテナ装置では、所望の放射特性を得るために、給電回路を含めた各アンテナ素子間の振幅、位相特性の差異を補償する校正が行われる。 Among the antenna devices, there is a type that adopts an array feeding method and forms an antenna beam by reflecting electromagnetic waves radiated by each antenna element group by a reflector. In such an antenna device, in order to obtain a desired radiation characteristic, calibration is performed to compensate for the difference in amplitude and phase characteristics between the antenna elements including the feeding circuit.
この校正に用いられる方法としては、素子電界ベクトル回転法がある(例えば、非特許文献1参照)。素子電界ベクトル回転法では、複数のアンテナ素子であるフェイズドアレーアンテナの遠方領域に、アンテナ素子から放射された電磁波を受信するピックアップアンテナを配置する。次に、フェイズドアレーアンテナにおいて、各アンテナ素子の移送器の位相を回転させた状態の電磁波を放射させ、その電磁波をピックアップアンテナで受信する。これを全アンテナ素子で繰り返し、受信した電磁波を基に、各アンテナ素子を校正する位相を算出する。 As a method used for this calibration, there is an element electric field vector rotation method (see, for example, Non-Patent Document 1). In the element electric field vector rotation method, a pickup antenna that receives an electromagnetic wave radiated from an antenna element is arranged in a distant region of a phased array antenna which is a plurality of antenna elements. Next, in the phased array antenna, an electromagnetic wave in a state where the phase of the transfer device of each antenna element is rotated is radiated, and the electromagnetic wave is received by the pickup antenna. This is repeated for all antenna elements, and the phase for calibrating each antenna element is calculated based on the received electromagnetic wave.
フェイズドアレーアンテナを備えたアンテナ装置の場合、放射可能なマルチビームは、それぞれ異なるエリアを照射する。そのため、単一場所のピックアップアンテナでアンテナビーム、つまり電磁波を受信可能なアンテナ素子は、限定されている。電磁波を受信できないアンテナ素子の校正はできない。 In the case of an antenna device equipped with a phased array antenna, the radiable multi-beams illuminate different areas. Therefore, the antenna beam, that is, the antenna element capable of receiving the electromagnetic wave with the pickup antenna at a single place is limited. Antenna elements that cannot receive electromagnetic waves cannot be calibrated.
形成されるアンテナビーム毎にピックアップアンテナを配置することにより、全アンテナ素子の校正は、可能となる。しかし、ピックアップアンテナを配置する場所の数が多くなるほど、全アンテナ素子の校正に要するコストは上昇する。従って、コストを抑えつつ、全アンテナ素子の校正を行えるようにすることが重要となる。 By arranging the pickup antenna for each antenna beam formed, it is possible to calibrate all the antenna elements. However, as the number of places where the pickup antennas are arranged increases, the cost required for calibrating all the antenna elements increases. Therefore, it is important to be able to calibrate all antenna elements while keeping costs down.
本発明は、かかる課題を解決するためになされたもので、その目的は、コストを抑えつつ、各アンテナ素子間の位相特性の差異を補償する校正を行うことが可能なアンテナ校正方法を提供することにある。 The present invention has been made to solve such a problem, and an object of the present invention is to provide an antenna calibration method capable of performing calibration for compensating for a difference in phase characteristics between antenna elements while suppressing costs. There is.
本発明に係るアンテナ校正方法は、複数のアンテナ素子、並びに各アンテナ素子から放射された電磁波の反射、及び該各アンテナ素子への電磁波の反射のうちの少なくとも一方に用いられる反射鏡を備えたアンテナ装置に適用されることを前提とし、複数のアンテナ素子のなかで同じエリアを対象とする2つ以上のアンテナ素子を想定し、2つ以上のエリアが重なる部分である重複エリア内に、電磁波の受信、及び該電磁波の放射のうちの少なくとも一方に用いる観測点を決定し、該決定した各観測点での電磁波の受信、及び電磁波の放射のうちの少なくとも一方を行うことにより、同じエリアを対象とする2つ以上のアンテナ素子の校正する位相を算出し、観測点は、アンテナ装置を機械的に移動させた場合の重複エリアを考慮し決定する。 The antenna calibration method according to the present invention is an antenna provided with a plurality of antenna elements, a reflector used for at least one of reflection of electromagnetic waves radiated from each antenna element and reflection of electromagnetic waves to each antenna element. Assuming that it is applied to a device, it is assumed that two or more antenna elements targeting the same area among multiple antenna elements, and electromagnetic waves are generated in an overlapping area where the two or more areas overlap. By determining the observation point to be used for reception and at least one of the emission of the electromagnetic wave, and receiving the electromagnetic wave at each of the determined observation points, and performing at least one of the emission of the electromagnetic wave, the same area is targeted. The calibrated phase of the two or more antenna elements is calculated, and the observation point is determined in consideration of the overlapping area when the antenna device is mechanically moved .
本発明によれば、コストを抑えつつ、全アンテナ素子の校正を行うことができる。 According to the present invention, it is possible to calibrate all antenna elements while suppressing the cost.
以下、本発明に係るリソース割当方法の各実施の形態を、図を参照して説明する。 Hereinafter, embodiments of the resource allocation method according to the present invention will be described with reference to the drawings.
実施の形態1.
図1は、本発明の実施の形態1に係るアンテナ校正方法が適用可能なアンテナ装置の構成例を説明する図である。
Embodiment 1.
FIG. 1 is a diagram illustrating a configuration example of an antenna device to which the antenna calibration method according to the first embodiment of the present invention can be applied.
このアンテナ装置は、アレー給電方式を採用したものである。図1に示すように、このアンテナ装置は、反射鏡1を備え、フェイズドアレイアンテナを構成する各アンテナ素子2(2−1〜n。nは4以上の整数)から放射された電磁波4を反射鏡1により反射させてアンテナビームを形成するようになっている。各アンテナ素子2にはそれぞれ対応するアンテナ素子2を励振する給電部3(3−1〜n)が接続されている。なお、反射鏡1は複数、存在していても良い。
This antenna device adopts an array feeding method. As shown in FIG. 1, this antenna device includes a reflector 1 and reflects an electromagnetic wave 4 emitted from each antenna element 2 (2-1 to n. N is an integer of 4 or more) constituting a phased array antenna. The antenna beam is formed by being reflected by the mirror 1. A feeding unit 3 (3-1 to n) for exciting the
アンテナ素子2に付した符号でハイフンに続く数字、及び給電部3に付した符号でハイフンに続く数字は、アンテナ素子2と給電部3間の対応関係を表している。それにより、例えばアンテナ素子2−1には給電部3−1が接続され、アンテナ素子2−nには給電部3−nが接続されている。
The code attached to the
図2は、図1に示すアンテナ装置が形成する各アンテナビームによって照射されるエリア、及び本発明の実施の形態1に係るアンテナ校正方法によるピックアップアンテナの設置箇所の例を説明する図である。図2には、各アンテナビームによって照射されるエリア21(21−1〜m。mはn以下の整数)と、ピックアップアンテナの2つの配置箇所22(22−1、22−2)とを示している。各エリア21は例えばセルに相当する。
FIG. 2 is a diagram illustrating an example of an area irradiated by each antenna beam formed by the antenna device shown in FIG. 1 and an installation location of a pickup antenna by the antenna calibration method according to the first embodiment of the present invention. FIG. 2 shows an area 21 (21-1 to m. M is an integer of n or less) irradiated by each antenna beam and two arrangement locations 22 (22-1 and 22-2) of the pickup antenna. ing. Each
各エリア21を照射するアンテナビームは、2つ以上のアンテナ素子2が放射する電磁波4によって形成される。ここでは、各アンテナビームは全て2つのアンテナ素子2が放射する電磁波4によって形成されると想定する。例えばエリア21−1を照射するアンテナビームは、アンテナ素子2−1及び2−2がそれぞれ放射する電磁波4によって形成される1番目のアンテナビームとする。エリア21−2を照射するアンテナビームは、アンテナ素子2−2及び2−3がそれぞれ放射する電磁波4によって形成される2番目のアンテナビームとする。エリア21−mを照射するアンテナビームは、アンテナ素子2−(n−1)及び2−nがそれぞれ放射する電磁波4によって形成されるm番目のアンテナビームとする。この想定では、m=n−1、の関係となる。同じエリア21の照射に用いられるアンテナ素子2の数は3以上であっても良い。
The antenna beam that irradiates each
複数のアンテナビームは、対象範囲とする全サービスエリアをカバーするように形成される。そのため、隣接するエリア21間には重なる部分が存在するのが普通である。本実施の形態1では、このことに着目し、ピックアップアンテナの配置箇所22は、隣接するエリア21が重なる部分としている。アンテナビームの観測は、各配置箇所22で行われる。このことから、以降、配置箇所22は「観測点22」と表記する。また、隣接するエリア21が重なる部分は、以降「重複エリア」と表記する。
The plurality of antenna beams are formed so as to cover the entire service area of interest. Therefore, there is usually an overlapping portion between the
重複エリア内に観測点22を設けた場合、エリア21毎に観測点22を設ける場合と比較して、観測点22の数をより少なくすることができる。観測点22の数が少なくなることにより、電磁波を受信する受信素子の数も減り、設置コストがより低減する。その受信素子が出力する信号を処理するシステムも、より安価に構築できるようになる。この結果、全アンテナ素子2の校正は、より低コストで行うことができる。
When the
観測点22−1では、エリア21−1を照射する1番目のアンテナビームと、エリア21−2を照射する2番目のアンテナビームとが主に観測される。これは、上記のように、アンテナ素子2−1〜3から放射された電磁波4が主に観測されることを意味する。この観測点22−1での実際の校正は、具体的には例えば次のように行われる。 At the observation point 22-1, the first antenna beam that irradiates the area 21-1 and the second antenna beam that irradiates the area 21-2 are mainly observed. This means that the electromagnetic wave 4 radiated from the antenna elements 2-1 to 3 is mainly observed as described above. Specifically, the actual calibration at the observation point 22-1 is performed as follows, for example.
先ず、1番目のアンテナビームに着目して、アンテナ素子2−1、及び2−2間の適切な位相量である校正位相φ1の算出を行う。観測点22−1では、アンテナ素子2−1及び2−2から放射された電磁波を受信することができる。この2つのアンテナ素子2−1及び2−2に対して、素子電界ベクトル法を適用することにより、校正位相φ1を算出することができる。校正位相φ1の算出を含む各種処理は、例えばアンテナ装置を管理する通信システムのなかで地上に構築された分のシステムである地上システム側で行われる。 First, focusing on the first antenna beam, the calibration phase φ1 which is an appropriate phase amount between the antenna elements 2-1 and 2-2 is calculated. At the observation point 22-1, the electromagnetic waves radiated from the antenna elements 2-1 and 2-2 can be received. The calibration phase φ1 can be calculated by applying the element electric field vector method to these two antenna elements 2-1 and 2-2. Various processes including the calculation of the calibration phase φ1 are performed on the ground system side, which is a system constructed on the ground in the communication system that manages the antenna device, for example.
あるいは、アンテナ素子2−1の位相を固定し、アンテナ素子2−2の位相を360度以上回転させたときに、観測点22−1における1番目のアンテナビームが最大となる位相を観測することにより、アンテナ素子2−1とアンテナ素子2−2間の校正位相φ1を算出することもできる。 Alternatively, when the phase of the antenna element 2-1 is fixed and the phase of the antenna element 2-2 is rotated by 360 degrees or more, the phase in which the first antenna beam at the observation point 22-1 is maximized is observed. Therefore, the calibration phase φ1 between the antenna element 2-1 and the antenna element 2-2 can be calculated.
次に、同じ観測点22−1において、2番目のアンテナビームに着目してアンテナ素子2−2、2−3間の校正位相φ2の算出を行う。観測点22−1では、2番目のアンテナビームを受信することができるため、アンテナ素子2−2、アンテナ素子2−3から放射された電磁波4を受信することができる。そこで、この2つのアンテナ素子2−2、2−3に対して、素子電界ベクトル法を適用することにより、校正位相φ2を算出することができる。 Next, at the same observation point 22-1, the calibration phase φ2 between the antenna elements 2-2 and 2-3 is calculated by focusing on the second antenna beam. Since the second antenna beam can be received at the observation point 22-1, the electromagnetic wave 4 radiated from the antenna element 2-2 and the antenna element 2-3 can be received. Therefore, the calibration phase φ2 can be calculated by applying the element electric field vector method to these two antenna elements 2-2, 2-3.
あるいは、アンテナ素子2−2の位相を固定し、アンテナ素子2−3の位相を360度以上回転させたときに、観測点22−1における2番目のアンテナビームが最大となる位相を観測することにより、校正位相φ2を算出することができる。 Alternatively, when the phase of the antenna element 2-2 is fixed and the phase of the antenna element 2-3 is rotated by 360 degrees or more, the phase in which the second antenna beam at the observation point 22-1 is maximized is observed. Therefore, the calibration phase φ2 can be calculated.
アンテナ素子2−1の位相をφ0とすると、アンテナ素子2−2の位相はφ0+φ1、アンテナ素子2−3の位相はφ0+φ1+φ2とすることにより、アンテナ素子2−1〜2−3の校正を行うことができる。すなわち、同一の観測点22−1において、1番目のアンテナビームおよび2番目のアンテナビームの2回の受信結果から、3つのアンテナ素子2−1〜2−3の位相を校正することができる。 Assuming that the phase of the antenna element 2-1 is φ0, the phase of the antenna element 2-2 is φ0 + φ1 and the phase of the antenna element 2-3 is φ0 + φ1 + φ2, so that the antenna elements 2-1 to 2-3 are calibrated. Can be done. That is, at the same observation point 22-1, the phases of the three antenna elements 2-1 to 2-3 can be calibrated from the results of receiving the first antenna beam and the second antenna beam twice.
次に、観測点22を変更し、例えば観測点22−2で上記と同様の処理を行い、3番目のアンテナビームからアンテナ素子2−3とアンテナ素子2−4との間の校正位相φ3の算出を行う。それにより、アンテナ素子2−2からアンテナ素子2−4までの3アンテナ素子2の各校正位相φ1〜φ3を算出することができる。以降も同様に、他の観測点22で同様の処理を継続的に実施することで、全アンテナ素子2の校正位相を算出することができる。
Next, the
算出された各校正位相、或いはその内容を示す情報は、例えば地上システムから通信システムを介してアンテナ装置に直接、或いは間接的に送信される。その結果、アンテナ装置は、設定内容の変更が必要な給電部3の設定変更を行う。それにより、各アンテナ素子2は、算出された校正位相に応じた電磁波4を放射する。
The calculated information indicating each calibration phase or its contents is directly or indirectly transmitted from the ground system to the antenna device via the communication system, for example. As a result, the antenna device changes the setting of the
なお、アンテナ素子2の位相を回転させる場合には、給電部3に搭載されている移相器を用いる他に、設定位相を回転させることで行っても良い。これは、デジタルビームフォーミングを行うアンテナ装置で可能である。
When the phase of the
なお、本実施の形態1では、アンテナ装置は、送信用である。しかし、アンテナ装置は、受信用であっても良い。これは、受信用であっても校正が必要であり、本実施の形態1は、共に、受信用のアンテナ装置にも適用可能だからである。ただし、この場合、観測点22から電磁波を放射させる必要がある。
In the first embodiment, the antenna device is for transmission. However, the antenna device may be for reception. This is because calibration is required even for reception, and both of the first embodiments can be applied to an antenna device for reception. However, in this case, it is necessary to radiate an electromagnetic wave from the
また、本実施の形態1では、各重複エリアに観測点22を設けているが、必ずしも各重複エリアに観測点22を設けなくとも良い。アンテナビームの形成に用いるアンテナ素子2の組み合わせによっては、例えば重複エリアが並ぶ方向において、一つおきに観測点22を設けても良い。その場合、図1に示す例では、観測点22−1と隣接する観測点22−2を、エリア21−3と図示しない隣接するエリア21−4の重複エリアに設けても良い。
Further, in the first embodiment, the observation points 22 are provided in each overlapping area, but it is not always necessary to provide the observation points 22 in each overlapping area. Depending on the combination of the
実施の形態2.
上記実施の形態1では、基本的に各重複エリア内に観測点22を設ける必要がある。これに対し、本実施の形態2は、より少ない観測点22により、全アンテナ素子2の校正を行えるようにしたものである。上記実施の形態1で用いた符号をそのまま用いて、その実施の形態1から異なる部分にのみ着目する形で説明を行う。
In the first embodiment, it is basically necessary to provide observation points 22 in each overlapping area. On the other hand, in the second embodiment, all the
図3は、本発明の実施の形態2に係るアンテナ校正方法により観測点で観測可能となるアンテナビームの例を説明する図である。 FIG. 3 is a diagram illustrating an example of an antenna beam that can be observed at an observation point by the antenna calibration method according to the second embodiment of the present invention.
図3に示す観測点22−1は、2番目のアンテナビームによって照射されるエリア21−2と、3番目のアンテナビームによって照射されるエリア21−3との重複エリア内に位置している。それにより、図2とは、重複エリアが異なっている。これは、図1に示すアンテナ装置を搭載した衛星において、そのアンテナ装置を機械的に回転させたことによるものである。機械的に回転させる前、エリア21−1とエリア21−2の重複エリア内に位置していた観測点22−1は、アンテナ装置を機械的に回転させたことにより、エリア21−2とエリア21−3の重複エリア内に移動する形となっている。 Observation point 22-1 shown in FIG. 3 is located in the overlapping area of the area 21-2 irradiated by the second antenna beam and the area 21-3 irradiated by the third antenna beam. As a result, the overlapping area is different from that of FIG. This is due to the mechanical rotation of the antenna device in the satellite equipped with the antenna device shown in FIG. Observation point 22-1, which was located in the overlapping area of area 21-1 and area 21-2 before being mechanically rotated, is located in area 21-2 and area 21-2 by mechanically rotating the antenna device. It is designed to move within the overlapping area of 21-3.
観測点22−1での校正位相の算出は、例えば、機械的に回転させる前、つまり図2に示す状態で先ず、1番目、及び2番目のアンテナビームに着目して行う。それにより、アンテナ素子2−1、及び2−2間の校正位相φ1、並びにアンテナ素子2−2、及び2−3間の校正位相φ2をそれぞれ算出する。その後、機械的に回転させて図3に示す状態に移行させた後、上記実施の形態1と同様に、アンテナ素子2−3及び2−4間の校正位相φ3を算出する。 The calibration phase at the observation point 22-1 is calculated, for example, by paying attention to the first and second antenna beams before the mechanical rotation, that is, in the state shown in FIG. As a result, the calibration phase φ1 between the antenna elements 2-1 and 2-2 and the calibration phase φ2 between the antenna elements 2-2 and 2-3 are calculated, respectively. Then, after mechanically rotating the device to shift to the state shown in FIG. 3, the calibration phase φ3 between the antenna elements 2-3 and 2-4 is calculated in the same manner as in the first embodiment.
このように、アンテナ装置を機械的に回転させることにより、1つの観測点22でより多くのアンテナ素子2の校正位相の算出を行えるようになる。そのため、上記実施の形態1と比較して、より少ない観測点22で全アンテナ素子2の校正を行うことができる。この結果、全アンテナ素子2の校正もより低コストで行えるようになる。
By mechanically rotating the antenna device in this way, it becomes possible to calculate more calibration phases of the
なお、本実施の形態2では、アンテナ装置を機械的に回転させているが、その回転は1軸を想定している。しかし、その回転は2軸以上で可能なことが多い。このことから、観測点22の決定では、アンテナ装置の機械的な移動可能方向、移動可能範囲等を考慮する必要がある。
In the second embodiment, the antenna device is mechanically rotated, but the rotation is assumed to be one axis. However, the rotation is often possible with two or more axes. Therefore, in determining the
1 反射鏡、2、2−1〜n アンテナ素子、3、3−1〜n 給電部、4 電磁波、21、21−1〜21−m エリア、22、22−1、22−2 観測点。 1 Reflector, 2,2-1 to n antenna element, 3,3-1 to n feeding part, 4 electromagnetic wave, 21,21 to 21-m area, 22, 22-1, 22-2 observation points.
Claims (1)
前記複数のアンテナ素子のなかで同じエリアを対象とする2つ以上のアンテナ素子を想定し、2つ以上のエリアが重なる部分である重複エリア内に、前記電磁波の受信、及び該電磁波の放射のうちの少なくとも一方に用いる観測点を決定し、
該決定した各観測点での前記電磁波の受信、及び前記電磁波の放射のうちの少なくとも一方を行うことにより、前記同じエリアを対象とする前記2つ以上のアンテナ素子の校正位相を算出し、
前記観測点は、前記アンテナ装置を機械的に移動させた場合の前記重複エリアを考慮し決定する、
アンテナ校正方法。 In an antenna calibration method applied to an antenna device having a reflector used for at least one of a plurality of antenna elements, reflection of electromagnetic waves radiated from each antenna element, and reflection of electromagnetic waves to each antenna element. ,
Assuming two or more antenna elements that target the same area among the plurality of antenna elements, the reception of the electromagnetic wave and the radiation of the electromagnetic wave are performed in the overlapping area where the two or more areas overlap. Determine the observation point to be used for at least one of them,
By receiving the electromagnetic wave at each of the determined observation points and radiating the electromagnetic wave at least one of them, the calibration phases of the two or more antenna elements targeting the same area are calculated .
The observation point is determined in consideration of the overlapping area when the antenna device is mechanically moved.
Antenna calibration method.
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