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JP6862045B2 - Processing method - Google Patents
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Description

本発明は、ウェーハ等の被加工物の加工方法に関する。 The present invention relates to a method for processing a workpiece such as a wafer.

ICやLSI等のデバイスが形成されたデバイスチップは、表面にデバイスが形成されたウェーハに対して該ウェーハを分断する加工方法を実施することで形成される。該ウェーハ等の被加工物の表面には格子状に配列された分断予定ラインが設定され、該分断予定ラインで区画される各領域にはデバイスが形成される。該加工方法では、例えば、環状の切削ブレードを回転させつつ該分断予定ラインに沿って被加工物に切り込ませることで該被加工物を分断してデバイスチップを形成する。 A device chip on which a device such as an IC or an LSI is formed is formed by carrying out a processing method for dividing the wafer on which the device is formed on the surface. Scheduled division lines arranged in a grid pattern are set on the surface of the workpiece such as the wafer, and devices are formed in each region partitioned by the scheduled division lines. In the processing method, for example, the annular cutting blade is rotated and cut into the workpiece along the planned division line to divide the workpiece to form a device chip.

該被加工物の裏面側には電極や放熱材となる金属膜が形成されることがある。裏面に金属膜が形成された被加工物を切削ブレードにより分断する際には、該切削ブレードを該金属膜にも切り込ませることとなる。すると、回転する切削ブレードにより該金属膜が引き伸ばされてバリと呼ばれる突起が発生する。製造されたデバイスチップにバリが残ると、該デバイスチップを所定の対象に実装するときに該バリが適切な実装の妨げとなる等の問題を引き起こすことがある。 A metal film serving as an electrode or a heat radiating material may be formed on the back surface side of the workpiece. When a work piece having a metal film formed on the back surface is divided by a cutting blade, the cutting blade is also cut into the metal film. Then, the metal film is stretched by the rotating cutting blade to generate protrusions called burrs. If burrs remain on the manufactured device chip, problems such as the burrs hindering proper mounting may occur when the device chip is mounted on a predetermined target.

また、被加工物の裏面側には、デバイスチップの保護や実装等のために樹脂膜が形成されることがある。該樹脂膜や金属膜等の延性を有する膜が裏面に形成された被加工物を該切削ブレードで切削すると、該切削ブレードに目詰まり等の不具合が生じる場合がある。目詰まり等が生じた切削ブレードを使用して引き続き切削を実施すると被加工物にチッピング(欠け)等の不良が発生しやすくなる。 Further, a resin film may be formed on the back surface side of the workpiece for protection and mounting of the device chip. When a workpiece having a ductile film such as a resin film or a metal film formed on the back surface is cut with the cutting blade, the cutting blade may have problems such as clogging. If cutting is continued using a cutting blade that is clogged or the like, defects such as chipping (chips) are likely to occur in the workpiece.

そこで、切削ブレードにより被加工物を切削する前に、分断予定ラインに沿って被加工物の裏面側にレーザビームを照射して、樹脂膜や金属膜を除去する方法が提案されている。分断予定ラインに沿って予め該膜を除去しておけば、切削ブレードにより該膜を切削することがなく、上述のような問題は発生しない。 Therefore, a method has been proposed in which a resin film or a metal film is removed by irradiating the back surface side of the work piece with a laser beam along a planned division line before cutting the work piece with a cutting blade. If the film is removed in advance along the planned division line, the film will not be cut by the cutting blade, and the above-mentioned problems will not occur.

特開2016−42526号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 2016-42526

しかし、レーザビームを照射して該膜を除去すると、デブリと呼ばれる固着物が発生して被加工物に固着するようになる。該デブリもまた製造されたデバイスチップの適切な実装の妨げ等となる場合があり問題となるが、固着した該デブリを除去するのは容易ではない。また、そもそもレーザビームを照射する工程では高価な装置であるレーザ加工装置を使用せねばならず、被加工物の加工コストが増大してしまう、との問題がある。 However, when the film is removed by irradiating the laser beam, a fixed substance called debris is generated and adheres to the workpiece. The debris may also hinder the proper mounting of the manufactured device chip, which is a problem, but it is not easy to remove the stuck debris. Further, in the process of irradiating the laser beam, it is necessary to use a laser processing apparatus which is an expensive apparatus, and there is a problem that the processing cost of the workpiece increases.

本発明はかかる問題点に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、裏面側に膜が形成されたウェーハ等の被加工物を分断予定ラインに沿って分断する新規な加工方法を提供することである。 The present invention has been made in view of such a problem, and an object of the present invention is a novel processing method for dividing a workpiece such as a wafer having a film formed on the back surface side along a planned division line. To provide.

本発明の一態様によれば、複数の分断予定ラインが設定され、裏面に膜が設けられた板状の被加工物の加工方法であって、該分断予定ラインに沿って被加工物の表面からドライエッチングにより溝を形成する溝形成ステップと、該溝形成ステップを実施した後、複数の該分断予定ラインに対応した凸部を有し該被加工物の該裏面側に位置付けられた押圧部材と、該被加工物と、の一方または両方を互いの方向に押圧することで該溝に対応する該膜に該凸部を貫通させ、被加工物を分断する分断ステップと、を備えた加工方法が提供される。 According to one aspect of the present invention, it is a method of processing a plate-shaped workpiece having a plurality of scheduled division lines and a film on the back surface, and the surface of the workpiece is formed along the scheduled division lines. a groove forming step of forming a trench by dry etching from, after performing the groove forming step, the pressing positioned in back surface side of the workpiece has a convex portion corresponding to a plurality of該分sectional planned line It is provided with a dividing step of penetrating the convex portion through the film corresponding to the groove by pressing one or both of the member and the workpiece in the direction of each other to divide the workpiece. A processing method is provided.

なお、本発明の一態様において、該溝形成ステップを実施する前に、該被加工物の該分断予定ラインに該押圧部材の該凸部の位置が合わせられるように被加工物の裏面側に該押圧部材を配置する配置ステップを実施し、該溝形成ステップでは、押圧部材が裏面側に配置された被加工物の表面からドライエッチングにより溝を形成してもよい。 In one aspect of the present invention, before carrying out the groove forming step, on the back surface side of the workpiece so that the position of the convex portion of the pressing member is aligned with the planned division line of the workpiece. An arrangement step for arranging the pressing member may be performed, and in the groove forming step, a groove may be formed by dry etching from the front surface of the workpiece on which the pressing member is arranged on the back surface side.

また、本発明の一態様において、該溝形成ステップは、被加工物の裏面にサポート部材が配設された状態で実施され、該分断ステップを実施する前に、被加工物の表面にテープを貼着するとともに該テープを介してフレームに被加工物を装着し、該サポート部材を除去することで被加工物の裏面側を露出させる転写ステップを備えてもよい。 Further, in one aspect of the present invention, the groove forming step is carried out with a support member disposed on the back surface of the work piece, and before the division step is carried out, a tape is applied to the surface of the work piece. A transfer step may be provided in which the workpiece is attached to the frame via the tape while being attached, and the back surface side of the workpiece is exposed by removing the support member.

また、本発明の一態様において、該溝形成ステップは、被加工物の裏面にテープを貼着するとともに該テープを介してフレームに被加工物を装着した状態で実施され、該分断ステップでは、該テープを介して該押圧部材の該凸部が該溝に対応する該膜を押圧して分断してもよい。 Further, in one aspect of the present invention, the groove forming step is carried out in a state where a tape is attached to the back surface of the work piece and the work piece is attached to the frame via the tape. The convex portion of the pressing member may press and divide the film corresponding to the groove via the tape.

本発明の一態様に係る加工方法によると、ウェーハ等の被加工物の表面から分断予定ラインに沿ってドライエッチングを実施し溝を形成する。また、複数の該分断予定ラインに対応した凸部を有する押圧部材を用意する。そして、該凸部を該被加工物の該裏面側に位置付けるように押圧部材を配し、該押圧部材及び該被加工物の一方または両方を互いの方向に押圧することで、該溝に対応する該膜に該凸部を貫通させ、被加工物を分断する。すると、個々のデバイスチップが形成される。 According to the processing method according to one aspect of the present invention, a groove is formed by performing dry etching from the surface of a work piece such as a wafer along a planned division line. In addition, a pressing member having a convex portion corresponding to the plurality of scheduled division lines is prepared. Then, a pressing member is arranged so that the convex portion is positioned on the back surface side of the workpiece, and one or both of the pressing member and the workpiece are pressed in each direction to correspond to the groove. The convex portion is passed through the film to be processed, and the workpiece is divided. Then, individual device chips are formed.

このように被加工物を分断すると、該被加工物の裏面側に設けられた金属膜や樹脂膜を切削ブレードやレーザビームによらずに分断できる。そのため、切削ブレードの目詰まりが問題となることはなく、また、デブリを生じることもない。 When the work piece is divided in this way, the metal film or resin film provided on the back surface side of the work piece can be divided without using a cutting blade or a laser beam. Therefore, clogging of the cutting blade does not become a problem, and debris does not occur.

したがって、本発明の一態様により裏面側に膜が形成されたウェーハ等の被加工物を分断予定ラインに沿って分断できる新規な加工方法が提供される。 Therefore, according to one aspect of the present invention, there is provided a novel processing method capable of dividing a workpiece such as a wafer having a film formed on the back surface side along a scheduled division line.

ドライエッチング装置を説明する断面模式図である。It is sectional drawing which describes the dry etching apparatus. 図2(A)は、被加工物を模式的に示す斜視図であり、図2(B)は、押圧部材を模式的に示す斜視図である。FIG. 2A is a perspective view schematically showing a work piece, and FIG. 2B is a perspective view schematically showing a pressing member. 図3(A)は、被加工物の裏面側に押圧部材を配した状態を示す断面模式図であり、図3(B)は、被加工物に溝を形成した状態を示す断面模式図であり、図3(C)は、被加工物を押圧部材に向けて押圧して膜に凸部を貫通させた状態を示す断面模式図である。FIG. 3A is a schematic cross-sectional view showing a state in which a pressing member is arranged on the back surface side of the work piece, and FIG. 3B is a schematic cross-sectional view showing a state in which a groove is formed in the work piece. FIG. 3C is a schematic cross-sectional view showing a state in which the workpiece is pressed toward the pressing member and the convex portion is penetrated through the film. 図4(A)は、サポート部材上に被加工物を貼着した状態を示す断面模式図であり、図4(B)は、被加工物に溝を形成した状態を示す断面模式図である。FIG. 4A is a schematic cross-sectional view showing a state in which a work piece is attached on a support member, and FIG. 4B is a schematic cross-sectional view showing a state in which a groove is formed in the work piece. .. 図5(A)は、テープを介してフレームに装着された被加工物を示す断面模式図であり、図5(B)は、押圧部材を被加工物に向けて押圧して膜に凸部を貫通させた状態を示す断面模式図である。FIG. 5A is a schematic cross-sectional view showing a work piece attached to the frame via tape, and FIG. 5B is a convex portion on the film by pressing the pressing member toward the work piece. It is a cross-sectional schematic diagram which shows the state which penetrated. 図6(A)は、テープを介してフレームに装着された被加工物を示す断面模式図であり、図6(B)は、被加工物に溝を形成した状態を示す断面模式図であり、図6(C)は、押圧部材を被加工物に向けて押圧して膜を分離した状態を示す断面模式図である。FIG. 6A is a schematic cross-sectional view showing a work piece attached to the frame via tape, and FIG. 6B is a schematic cross-sectional view showing a state in which a groove is formed in the work piece. 6 (C) is a schematic cross-sectional view showing a state in which the pressing member is pressed toward the workpiece to separate the film.

本発明に係る実施形態について説明する。まず、本実施形態に係る加工方法で使用するドライエッチング装置(プラズマエッチング装置)について説明する。図1は、ドライエッチング装置2を説明する断面模式図である。ドライエッチング装置2は、内部に処理用の空間が形成された真空チャンバ4を備えている。真空チャンバ4の側壁には、被加工物を搬入、搬出するための開口4aが形成されている。 An embodiment according to the present invention will be described. First, a dry etching apparatus (plasma etching apparatus) used in the processing method according to the present embodiment will be described. FIG. 1 is a schematic cross-sectional view illustrating the dry etching apparatus 2. The dry etching apparatus 2 includes a vacuum chamber 4 in which a space for processing is formed. An opening 4a for carrying in and out the workpiece is formed on the side wall of the vacuum chamber 4.

開口4aの外部には、開口4aを開閉するためのゲート6が設けられている。ゲート6には、開閉機構(不図示)が連結されており、この開閉機構によってゲート6は開閉される。ゲート6を開いて開口4aを露出させることで、開口4aを通じて被加工物を真空チャンバ4の内部の空間に搬入し、又は、被加工物を真空チャンバ4の内部の空間から搬出できる。 A gate 6 for opening and closing the opening 4a is provided outside the opening 4a. An opening / closing mechanism (not shown) is connected to the gate 6, and the opening / closing mechanism opens / closes the gate 6. By opening the gate 6 to expose the opening 4a, the workpiece can be carried into the space inside the vacuum chamber 4 through the opening 4a, or the workpiece can be carried out from the space inside the vacuum chamber 4.

真空チャンバ4の底壁には、排気口4bが形成されている。この排気口4bは、真空ポンプ等の排気ユニット8に接続されている。真空チャンバ4の空間内には、下部電極10が配置されている。下部電極10は、導電性の材料を用いて円盤状に形成されており、真空チャンバ4の外部において高周波電源12に接続されている。 An exhaust port 4b is formed on the bottom wall of the vacuum chamber 4. The exhaust port 4b is connected to an exhaust unit 8 such as a vacuum pump. The lower electrode 10 is arranged in the space of the vacuum chamber 4. The lower electrode 10 is formed in a disk shape using a conductive material, and is connected to the high frequency power supply 12 outside the vacuum chamber 4.

下部電極10の上面には、静電チャック14が配置されている。静電チャック14は、例えば、互いに絶縁された複数の電極16a,16bを備え、各電極16a,16bと被加工物との間に発生する電気的な力によって被加工物を吸着、保持する。なお、本実施形態の静電チャック14は、電極16aに直流電源18aの正極を接続でき、電極16bに直流電源18bの負極を接続できるように構成されている。 An electrostatic chuck 14 is arranged on the upper surface of the lower electrode 10. The electrostatic chuck 14 includes, for example, a plurality of electrodes 16a and 16b that are insulated from each other, and attracts and holds the workpiece by an electric force generated between the electrodes 16a and 16b and the workpiece. The electrostatic chuck 14 of the present embodiment is configured so that the positive electrode of the DC power supply 18a can be connected to the electrode 16a and the negative electrode of the DC power supply 18b can be connected to the electrode 16b.

真空チャンバ4の天井壁には、導電性の材料を用いて円盤状に形成された上部電極20が絶縁材を介して取り付けられている。上部電極20の下面側には、複数のガス噴出孔20aが形成されており、このガス噴出孔20aは、上部電極20の上面側に設けられたガス供給孔20b等を介してガス供給源22に接続されている。これにより、ドライエッチング用の原料ガスを真空チャンバ4の空間内に供給できる。この上部電極20も、真空チャンバ4の外部において高周波電源24に接続されている。 An upper electrode 20 formed in a disk shape using a conductive material is attached to the ceiling wall of the vacuum chamber 4 via an insulating material. A plurality of gas ejection holes 20a are formed on the lower surface side of the upper electrode 20, and the gas ejection holes 20a are formed through gas supply holes 20b and the like provided on the upper surface side of the upper electrode 20. It is connected to the. As a result, the raw material gas for dry etching can be supplied into the space of the vacuum chamber 4. The upper electrode 20 is also connected to the high frequency power supply 24 outside the vacuum chamber 4.

次に、本実施形態に係る加工方法の被加工物と、押圧部材と、について説明する。図2(A)は、被加工物1を模式的に示す斜視図であり、図2(B)は、押圧部材26を模式的に示す斜視図である。図3(A)は、該被加工物1と、該被加工物1の下に配された押圧部材26と、を模式的に示す断面図である。被加工物1は、例えば、表面1aにデバイス5が形成された半導体でなる略円板状のウェーハである。 Next, the workpiece and the pressing member of the processing method according to the present embodiment will be described. FIG. 2A is a perspective view schematically showing the workpiece 1, and FIG. 2B is a perspective view schematically showing the pressing member 26. FIG. 3A is a cross-sectional view schematically showing the workpiece 1 and the pressing member 26 arranged under the workpiece 1. The workpiece 1 is, for example, a substantially disk-shaped wafer made of a semiconductor in which the device 5 is formed on the surface 1a.

該被加工物1には、格子状に配列された複数の分断予定ライン3が設定され、該分断予定ライン3により区画された各領域にそれぞれ該デバイス5が形成されている。被加工物1は、最終的に該分断予定ライン3に沿って分断され、個々のデバイスチップが形成される。 A plurality of scheduled division lines 3 arranged in a grid pattern are set on the workpiece 1, and the device 5 is formed in each region partitioned by the scheduled division lines 3. The workpiece 1 is finally divided along the planned division line 3, and individual device chips are formed.

被加工物1の裏面1b側には膜7が形成されている。膜7は、例えば、電極や放熱材となる金属膜であり、または、被加工物1の保護等のための樹脂膜である。また、膜7は、被加工物1が分断されて形成されたデバイスチップを所定の実装対象に実装する際に用いられるDAF(ダイアタッチフィルム)、または、DBF(ダイバックサイドフィルム)等でもよい。 A film 7 is formed on the back surface 1b side of the workpiece 1. The film 7 is, for example, a metal film used as an electrode or a heat radiating material, or a resin film for protecting the workpiece 1. Further, the film 7 may be a DAF (diatouch film) or a DBF (die backside film) used when mounting a device chip formed by dividing the workpiece 1 on a predetermined mounting target. ..

膜7は、最終的に分断予定ライン3に沿って分断される。ここで、該膜7は金属膜や樹脂等の延性を有する材料で形成されるため、例えば、被加工物1を分断するのに際し被加工物1に対して切削ブレードを用いた切削加工を実施すると、該切削ブレードに該膜7に起因する目詰まりを生じてしまう。また、被加工物1にはバリと呼ばれる突起が生じて、該バリがデバイスチップの製造、搬送、または、実装の妨げとなる場合がある。 The film 7 is finally divided along the scheduled division line 3. Here, since the film 7 is formed of a ductile material such as a metal film or resin, for example, when the work piece 1 is divided, the work piece 1 is cut by using a cutting blade. Then, the cutting blade is clogged due to the film 7. In addition, protrusions called burrs may be formed on the workpiece 1, and the burrs may hinder the manufacture, transfer, or mounting of the device chip.

膜7を分断するために、被加工物1の裏面1b側に対してレーザビームを用いたアブレーション加工を実施すると、該膜7からデブリと呼ばれる固着物を生じて、これもまたデバイスチップの製造、搬送、または、実装の妨げとなる場合がある。そもそも、レーザビームを照射するレーザ加工装置は高価であるため、レーザ加工装置を使用する工程を実施すると、デバイスチップの製造コストが高くなるとの問題を生じる。 When ablation processing using a laser beam is performed on the back surface 1b side of the workpiece 1 in order to divide the film 7, a fixed substance called debris is generated from the film 7, which is also a manufacturing of a device chip. , Transport, or may interfere with mounting. In the first place, since the laser processing device that irradiates the laser beam is expensive, there is a problem that the manufacturing cost of the device chip becomes high when the process using the laser processing device is carried out.

これに対して、本実施形態に係る加工方法では、被加工物1の裏面1bに設けられた膜7を分断するのに押圧部材26が用いられる。該押圧部材26を用いて膜7を分断すると、このような問題を生じない。該押圧部材26は被加工物1と同様の平面形状であり、押圧部材26の一方の面には、被加工物1の分断予定ライン3に対応した凸部28が形成されている。例えば、被加工物1が半導体でなるウェーハである場合、押圧部材26もまた半導体でなるウェーハから加工されて形成される。 On the other hand, in the processing method according to the present embodiment, the pressing member 26 is used to divide the film 7 provided on the back surface 1b of the workpiece 1. When the film 7 is divided by using the pressing member 26, such a problem does not occur. The pressing member 26 has a planar shape similar to that of the workpiece 1, and a convex portion 28 corresponding to a planned division line 3 of the workpiece 1 is formed on one surface of the pressing member 26. For example, when the workpiece 1 is a wafer made of a semiconductor, the pressing member 26 is also formed by being processed from the wafer made of a semiconductor.

押圧部材26は、例えば、半導体でなるウェーハの一方の面に被加工物1の該分断予定ライン3に対応する領域にレジストマスクを形成し、該分断予定ライン3に対応しない領域に対してエッチング加工を行うことで形成される。このとき、該レジストマスクの形状または材質を適宜選択して、該レジストマスクが該エッチング加工の進行とともに後退するようにする。すると、膜7を突き破りやすいテーパー形状の凸部28を有する押圧部材26を形成できる。 For example, the pressing member 26 forms a resist mask on one surface of a wafer made of a semiconductor in a region corresponding to the scheduled division line 3 of the workpiece 1, and etches the region not corresponding to the scheduled division line 3. It is formed by processing. At this time, the shape or material of the resist mask is appropriately selected so that the resist mask recedes as the etching process progresses. Then, the pressing member 26 having the tapered convex portion 28 that easily penetrates the film 7 can be formed.

なお、押圧部材26の凸部28を形成する際に用いられるレジストマスクは、例えば、被加工物1に後述の溝28(図3(B)参照)を形成する際に用いられるフォトマスクを反転させて用いて形成できる。例えば、該溝28を形成するためにポジ型のレジストマスクを用いる場合、押圧部材26の凸部28を形成するためにネガ型のレジストマスクを用いる。すると、分断予定ラインに3に対応した形状の凸部28が形成される。 The resist mask used when forming the convex portion 28 of the pressing member 26 is, for example, an inverted photomask used when forming a groove 28 (see FIG. 3B) described later in the workpiece 1. It can be formed by using it. For example, when a positive type resist mask is used to form the groove 28, a negative type resist mask is used to form the convex portion 28 of the pressing member 26. Then, a convex portion 28 having a shape corresponding to 3 is formed on the scheduled division line.

また、該押圧部材26は他の方法で形成されてもよく、例えば、転写されると該凸部28となる形状の型を用意し、該型に金属または樹脂等を流し込み、これを固化して該型から分離させることで形成してもよい。または、被加工物1と同様の平面形状の基材の上に樹脂膜の材料を設け、該型を押し付けて該樹脂膜の材料を固化して形成してもよい。 Further, the pressing member 26 may be formed by another method. For example, a mold having a shape that becomes the convex portion 28 when transferred is prepared, and a metal or resin or the like is poured into the mold to solidify the mold. It may be formed by separating it from the mold. Alternatively, the resin film material may be provided on a flat base material similar to the workpiece 1, and the mold may be pressed to solidify the resin film material.

次に、本実施形態に係る加工方法の各ステップについて説明する。該加工方法は、分断予定ラインに沿って被加工物に溝を形成する溝形成ステップと、該押圧部材及び該被加工物の一方または両方を押圧して、該溝に対応する該膜に押圧部材の凸部を貫通させ、被加工物を分断する分断ステップと、を備える。 Next, each step of the processing method according to the present embodiment will be described. The processing method involves pressing one or both of the pressing member and the workpiece to form a groove in the workpiece along the planned division line, and pressing the film corresponding to the groove. It is provided with a dividing step of penetrating the convex portion of the member and dividing the workpiece.

まず、被加工物1の表面1aにレジストマスクの材料を塗布する。そして、塗布された該レジストマスクの材料に対して、例えば、上述のフォトマスクを用いて露光及び現像を行ってパターニングを実施する。被加工物1の該分断予定ライン3に沿って被加工物1の表面1aを露出させる一方で分断予定ライン3以外の領域をドライエッチング加工から保護するように、レジストマスク9を形成する。 First, a resist mask material is applied to the surface 1a of the workpiece 1. Then, the applied resist mask material is exposed and developed using, for example, the above-mentioned photomask to carry out patterning. The resist mask 9 is formed so as to expose the surface 1a of the workpiece 1 along the scheduled division line 3 of the workpiece 1 while protecting the region other than the scheduled division line 3 from the dry etching process.

次に、該被加工物1をドライエッチング装置2(プラズマエッチング装置)の内部に搬入する。まず、開閉機構によってゲート6を下降させる。次に、開口4aを通じて被加工物1を真空チャンバ4の空間内に搬入し、静電チャック14に載せる。その後、静電チャック14を作動させれば、被加工物1は、表面1a側のレジストマスク5が上方に露出した状態で静電チャック14に吸着、保持される。 Next, the workpiece 1 is carried into the dry etching apparatus 2 (plasma etching apparatus). First, the gate 6 is lowered by the opening / closing mechanism. Next, the workpiece 1 is carried into the space of the vacuum chamber 4 through the opening 4a and placed on the electrostatic chuck 14. After that, when the electrostatic chuck 14 is operated, the workpiece 1 is attracted to and held by the electrostatic chuck 14 with the resist mask 5 on the surface 1a side exposed upward.

図3(A)は、ドライエッチング装置2の内部に搬入された被加工物1を模式的に示す断面図である。図3(A)に示す通り、被加工物1をドライエッチング装置2の内部に搬入するとき、被加工物1の下には押圧部材26を配置して、押圧部材26ごと静電チャック14に保持させる。すなわち、被加工物1の裏面1b側に押圧部材26を配置する配置ステップを実施し、その後、裏面1b側に押圧部材26が配置された被加工物1に対してドライエッチングを行い、溝を形成する溝形成ステップを実施する。 FIG. 3A is a cross-sectional view schematically showing a workpiece 1 carried into the dry etching apparatus 2. As shown in FIG. 3A, when the workpiece 1 is carried into the dry etching apparatus 2, the pressing member 26 is arranged under the workpiece 1 and the pressing member 26 is attached to the electrostatic chuck 14. Hold it. That is, an arrangement step of arranging the pressing member 26 on the back surface 1b side of the workpiece 1 is performed, and then dry etching is performed on the workpiece 1 on which the pressing member 26 is arranged on the back surface 1b side to form a groove. Perform the groove formation step to be formed.

ここで、被加工物1の下に押圧部材26を配するとき、該被加工物1の分断予定ライン3に該押圧部材26の該凸部28の位置が合わせられるように被加工物1の裏面1b側に該押圧部材26を配置する。 Here, when the pressing member 26 is arranged under the workpiece 1, the workpiece 1 is arranged so that the position of the convex portion 28 of the pressing member 26 is aligned with the scheduled division line 3 of the workpiece 1. The pressing member 26 is arranged on the back surface 1b side.

被加工物1及び押圧部材26が半導体でなるウェーハから形成される場合、例えば、該ウェーハの外周部に設けられたノッチまたはオリエンテーションフラット等の欠け部を利用して位置及び方向が合わせられるように押圧部材26に凸部28を形成しておく。すると、被加工物1及び押圧部材26のそれぞれの該欠け部を合わせることで、押圧部材26の凸部28を被加工物1の分断予定ライン3に対応するように位置付けられる。 When the workpiece 1 and the pressing member 26 are formed of a wafer made of a semiconductor, for example, the positions and directions can be aligned by using a notch or a chipped portion such as an orientation flat provided on the outer peripheral portion of the wafer. A convex portion 28 is formed on the pressing member 26. Then, by aligning the chipped portions of the workpiece 1 and the pressing member 26, the convex portion 28 of the pressing member 26 is positioned so as to correspond to the scheduled division line 3 of the workpiece 1.

被加工物1をドライエッチング装置2の内部に搬入した後、開閉機構によってゲート6を上昇させて、真空チャンバ4の空間を密閉する。更に、排気ユニット8を作動させて、空間内を減圧する。この状態で、ガス供給源22からドライエッチング用の原料ガスを所定の流量で供給しつつ、高周波電源12,24で下部電極10及び上部電極20に適切な高周波電力を供給すると、下部電極10と上部電極20との間にラジカルやイオン等を含むプラズマが発生する。 After the workpiece 1 is carried into the dry etching apparatus 2, the gate 6 is raised by an opening / closing mechanism to seal the space of the vacuum chamber 4. Further, the exhaust unit 8 is operated to reduce the pressure in the space. In this state, when the raw material gas for dry etching is supplied from the gas supply source 22 at a predetermined flow rate and appropriate high-frequency power is supplied to the lower electrode 10 and the upper electrode 20 by the high-frequency power supplies 12 and 24, the lower electrode 10 and Plasma containing radicals, ions, etc. is generated between the upper electrode 20 and the electrode 20.

これにより、レジストマスクで覆われていない被加工物1の表面1a(すなわち、分断予定ライン3)がプラズマに曝され、被加工物1を加工できる。なお、ガス供給源22から供給されるドライエッチング用の原料ガスは、被加工物の材質等に応じて適切に選択される。そして、ドライエッチングにより分断予定ライン3に沿って被加工物1に溝11が形成される。図3(B)は、被加工物1に溝11が形成された状態を模式的に示す断面図である。 As a result, the surface 1a (that is, the scheduled division line 3) of the workpiece 1 not covered with the resist mask is exposed to plasma, and the workpiece 1 can be processed. The raw material gas for dry etching supplied from the gas supply source 22 is appropriately selected according to the material of the work piece and the like. Then, a groove 11 is formed in the workpiece 1 along the scheduled division line 3 by dry etching. FIG. 3B is a cross-sectional view schematically showing a state in which the groove 11 is formed in the workpiece 1.

このように、被加工物1の下に押圧部材26を配置してからドライエッチングを実施する場合、押圧部材26の材料は、該ドライエッチングに耐性を有する材料であることが好ましい。例えば、押圧部材26には、半導体でなるウェーハの他に、金属や樹脂で形成された基板を用いることができる。 As described above, when the pressing member 26 is arranged under the workpiece 1 and then the dry etching is performed, the material of the pressing member 26 is preferably a material having resistance to the dry etching. For example, as the pressing member 26, a substrate made of metal or resin can be used in addition to the wafer made of semiconductor.

なお、該ドライエッチングでは、形成される溝11の底部にウェーハ1の裏面側に設けられた膜7が必ずしも露出されなくてもよい。すなわち、ウェーハ1は該ドライエッチングにより厚さ方向のすべてに渡り除去されなくてもよく、溝11の底部にウェーハ1の一部が残留してもよい。その場合、後述の分断ステップにおいて、該一部を膜7ごと押圧部材26の凸部28に突き破らせる。 In the dry etching, the film 7 provided on the back surface side of the wafer 1 does not necessarily have to be exposed at the bottom of the groove 11 to be formed. That is, the wafer 1 may not be removed in all directions in the thickness direction by the dry etching, and a part of the wafer 1 may remain at the bottom of the groove 11. In that case, in the dividing step described later, a part of the film 7 is pierced by the convex portion 28 of the pressing member 26 together with the film 7.

次に、分断ステップについて説明する。該分断ステップでは、ウェーハ1の裏面1bに設けられた膜7を分断予定ライン3に沿って分断することで被加工物1を分断して個々のデバイスチップを形成する。分断ステップでは、押圧部材26を被加工物1側に向けて押圧して、または、被加工物1を押圧部材26側に向けて押圧して、凸部28から膜7に力をかける。なお、分断ステップは、例えば、ドライエッチング装置2の内部で引き続き実施される。 Next, the division step will be described. In the dividing step, the film 7 provided on the back surface 1b of the wafer 1 is divided along the scheduled division line 3 to divide the workpiece 1 to form individual device chips. In the dividing step, the pressing member 26 is pressed toward the workpiece 1 side, or the workpiece 1 is pressed toward the pressing member 26 side, and a force is applied from the convex portion 28 to the film 7. The division step is continuously performed inside the dry etching apparatus 2, for example.

図3(C)は、分断ステップを模式的に示す断面図である。ドライエッチング装置2のゲート6を下降させ、真空チャンバ4の内部にローラー30を進入させる。そして、図3(C)に示す通り、被加工物1の表面1a側にローラー30を使用してテープ13を貼着しつつ、ローラー30により被加工物1を押圧する。 FIG. 3C is a cross-sectional view schematically showing the dividing step. The gate 6 of the dry etching apparatus 2 is lowered to allow the roller 30 to enter the inside of the vacuum chamber 4. Then, as shown in FIG. 3C, the tape 13 is attached to the surface 1a side of the workpiece 1 by using the roller 30, and the workpiece 1 is pressed by the roller 30.

すると、被加工物1の裏面1bに設けられた膜7が押圧部材26の凸部28により突き破られて、凸部28が貫通する。そして、被加工物1を裏面1b側の押圧部材26から引き離す。これにより被加工物1は分断予定ライン3に沿って分断されて個々のデバイスチップが形成される。 Then, the film 7 provided on the back surface 1b of the workpiece 1 is pierced by the convex portion 28 of the pressing member 26, and the convex portion 28 penetrates. Then, the workpiece 1 is pulled away from the pressing member 26 on the back surface 1b side. As a result, the workpiece 1 is divided along the scheduled division line 3 to form individual device chips.

次に、形成された個々のデバイスチップの表面に該テープ13が貼着している状態で、個々のデバイスチップをドライエッチング装置2から外部に搬出する。そして、さらに個々のデバイスチップの裏面側に別のテープを貼着して、表面側のテープ13を剥離し、デバイスチップの表面のデバイス5を保護するように形成されたレジスト膜9を除去する。最終的にデバイスチップの裏面側に貼着された該テープからデバイスチップがピックアップされる。 Next, the individual device chips are carried out from the dry etching apparatus 2 in a state where the tape 13 is attached to the surface of the formed individual device chips. Then, another tape is attached to the back surface side of each device chip, the tape 13 on the front surface side is peeled off, and the resist film 9 formed so as to protect the device 5 on the front surface of the device chip is removed. .. Finally, the device chip is picked up from the tape attached to the back surface side of the device chip.

なお、分断ステップは、ドライエッチング装置2の外部で実施されてもよく、その場合、溝11が形成され押圧部材26上に載った状態の被加工物1を真空チャンバ4の内部から搬出し、ローラー30を使用してテープ13を貼着しつつ、膜7を分断する。 The dividing step may be performed outside the dry etching apparatus 2. In that case, the workpiece 1 in which the groove 11 is formed and rests on the pressing member 26 is carried out from the inside of the vacuum chamber 4. The film 7 is divided while the tape 13 is attached using the roller 30.

以上、説明した通り、本発明の一態様に係る加工方法によると、被加工物1の表面1aから分断予定ライン3に沿ってドライエッチングを実施し溝11を形成する。そして、該押圧部材及び該被加工物の一方または両方を互いの方向に押圧することで、該溝11に対応する膜7に押圧部材26の凸部28を貫通させ、被加工物1を分断する。 As described above, according to the processing method according to one aspect of the present invention, dry etching is performed from the surface 1a of the workpiece 1 along the scheduled division line 3 to form the groove 11. Then, by pressing one or both of the pressing member and the workpiece in each direction, the convex portion 28 of the pressing member 26 is penetrated through the film 7 corresponding to the groove 11, and the workpiece 1 is divided. To do.

このように、本実施形態に係る加工方法により被加工物1を分断すると、被加工物1の裏面1b側に設けられた金属膜や樹脂膜等の膜7を切削ブレードやレーザビームによらずに分断できる。そのため、金属膜や樹脂膜等に起因する切削ブレードの目詰まりが問題となることはなく、デブリやバリを生じることもない。 In this way, when the workpiece 1 is divided by the processing method according to the present embodiment, the film 7 such as a metal film or a resin film provided on the back surface 1b side of the workpiece 1 is formed regardless of the cutting blade or the laser beam. Can be divided into. Therefore, clogging of the cutting blade due to the metal film, the resin film, or the like does not become a problem, and debris and burrs do not occur.

なお、本実施形態に係る加工方法では、溝形成ステップにおいて、被加工物1の下側に押圧部材26を配置してからドライエッチングにより溝11を形成したが、本発明はこれに限られない。 In the processing method according to the present embodiment, in the groove forming step, the pressing member 26 is arranged under the workpiece 1 and then the groove 11 is formed by dry etching, but the present invention is not limited to this. ..

例えば、該溝形成ステップは、被加工物1の裏面1b側に被加工物1を支持するサポート部材が配設された状態で実施されてもよい。この場合、該分断ステップが実施される前に溝11が形成された被加工物1の表面1aにテープを貼着し、その後、該サポート部材を除去することで被加工物1の裏面1b側を露出させる転写ステップをさらに実施する。以下、このような場合について説明する。 For example, the groove forming step may be carried out in a state where a support member for supporting the workpiece 1 is arranged on the back surface 1b side of the workpiece 1. In this case, a tape is attached to the surface 1a of the workpiece 1 on which the groove 11 is formed before the dividing step is performed, and then the support member is removed to the back surface 1b side of the workpiece 1. Further carry out a transfer step to expose the. Hereinafter, such a case will be described.

図4(A)は、被加工物1の裏面1bに被加工物1を支持するサポート部材15が配置された状態を模式的に示す断面図である。ここで、サポート部材15は、被加工物1の平面形状と同様の平面形状の円板状の基材であり、例えば、半導体でなるウェーハ、金属でなる基板、または、樹脂でなる基板等である。被加工物1をサポート部材15に支持させるために、被加工物1と、サポート部材15と、の間に樹脂等の接着部材を設けてもよい。 FIG. 4A is a cross-sectional view schematically showing a state in which a support member 15 for supporting the workpiece 1 is arranged on the back surface 1b of the workpiece 1. Here, the support member 15 is a disk-shaped base material having a plane shape similar to the plane shape of the workpiece 1, and is, for example, a wafer made of a semiconductor, a substrate made of metal, a substrate made of resin, or the like. is there. In order to support the workpiece 1 on the support member 15, an adhesive member such as resin may be provided between the workpiece 1 and the support member 15.

被加工物1の裏面1b側にサポート部材15を配した後、被加工物1の表面1aのデバイス5をドライエッチングから保護するレジストマスクを形成する。その後、溝形成ステップを実施する。該溝形成ステップでは、裏面1b側にサポート部材15が配置された被加工物1をドライエッチング装置2に搬入し、ドライエッチングを実施して被加工物1に溝11を形成する。図4(B)は、被加工物1の裏面1bにサポート部材15が配置された状態で溝形成ステップが実施され、溝11が形成された被加工物1を模式的に示す断面図である。 After arranging the support member 15 on the back surface 1b side of the workpiece 1, a resist mask is formed to protect the device 5 on the surface 1a of the workpiece 1 from dry etching. After that, a groove forming step is carried out. In the groove forming step, the workpiece 1 in which the support member 15 is arranged on the back surface 1b side is carried into the dry etching apparatus 2, and dry etching is performed to form the groove 11 in the workpiece 1. FIG. 4B is a cross-sectional view schematically showing the workpiece 1 in which the groove forming step is carried out and the groove 11 is formed in a state where the support member 15 is arranged on the back surface 1b of the workpiece 1. ..

次に、被加工物1の裏面1b側を押圧部材26で押圧可能とするために、転写ステップを実施する。転写ステップでは、溝11が形成された被加工物1の表面1a側にテープを貼着し、その後、被加工物1の裏面1b側に配設されたサポート部材15を除去する。図5(A)は、転写ステップが実施されサポート部材15が除去された被加工物1を模式的に示す断面図である。 Next, a transfer step is performed so that the back surface 1b side of the workpiece 1 can be pressed by the pressing member 26. In the transfer step, the tape is attached to the front surface 1a side of the workpiece 1 on which the groove 11 is formed, and then the support member 15 arranged on the back surface 1b side of the workpiece 1 is removed. FIG. 5A is a cross-sectional view schematically showing a work piece 1 in which the transfer step is performed and the support member 15 is removed.

転写ステップでは、まず、環状のフレーム17に張られたテープ19を用意し、該テープ19を被加工物1の表面1a側に貼着する。すると、該テープ19を介して被加工物1はフレーム17に装着される。次に、被加工物1の裏面1b側に配設されたサポート部材15を除去する。すると、被加工物1の裏面1b側が露出されて、押圧部材26で被加工物1の該裏面1b側を押圧できるようになる。 In the transfer step, first, a tape 19 stretched on an annular frame 17 is prepared, and the tape 19 is attached to the surface 1a side of the workpiece 1. Then, the workpiece 1 is attached to the frame 17 via the tape 19. Next, the support member 15 arranged on the back surface 1b side of the workpiece 1 is removed. Then, the back surface 1b side of the workpiece 1 is exposed, and the pressing member 26 can press the back surface 1b side of the workpiece 1.

そして、分断ステップを実施する。図5(B)は、テープ19を介してフレーム17に装着された被加工物1の裏面1b側を押圧部材26により押圧し、凸部28により膜7を分断予定ライン3に沿って分断する分断ステップを模式的に説明する断面図である。分断ステップが実施されると、被加工物1が分断されて個々のデバイスチップが形成される。 Then, the division step is carried out. In FIG. 5B, the back surface 1b side of the workpiece 1 mounted on the frame 17 via the tape 19 is pressed by the pressing member 26, and the film 7 is divided along the scheduled division line 3 by the convex portion 28. It is sectional drawing which explains typically the division step. When the division step is performed, the workpiece 1 is divided to form individual device chips.

次に、押圧部材26を除去して、例えば、テープ19を所定の方法で外周方向に拡張する。すると、形成されたデバイスチップ間の隙間が広げられ、各デバイスチップを容易にピックアップできるようになる。 Next, the pressing member 26 is removed, and for example, the tape 19 is expanded in the outer peripheral direction by a predetermined method. Then, the gap between the formed device chips is widened, and each device chip can be easily picked up.

さらに、本発明に係る加工方法では、溝形成ステップよりも前に被加工物1の裏面1bにフレーム17に張られたテープ19を貼着し、フレーム17に装着された状態の被加工物1に対して溝形成ステップを実施してもよい。この場合、被加工物1をドライエッチング装置2の内部に搬入に搬入するとき、フレーム17を介して被加工物1を扱うことができるため、被加工物1の取り扱いが容易となる。以下、そのような場合について説明する。 Further, in the processing method according to the present invention, the tape 19 stretched on the frame 17 is attached to the back surface 1b of the workpiece 1 before the groove forming step, and the workpiece 1 is attached to the frame 17. The groove forming step may be carried out on the surface. In this case, when the workpiece 1 is carried into the inside of the dry etching apparatus 2, the workpiece 1 can be handled via the frame 17, so that the workpiece 1 can be easily handled. Hereinafter, such a case will be described.

図6(A)は、溝形成ステップよりも前に被加工物1の裏面1bにフレーム17に張られたテープ19を貼着した状態を模式的に示す断面図である。そして、溝形成ステップが実施され、図6(B)に示されるとおり、被加工物1に溝11が形成される。次に、被加工物1をドライエッチング装置2から搬出して、被加工物1の裏面1b側に該テープ19を介して押圧部材26を配設する。そして、押圧部材26で被加工物1の裏面1b側を押圧する分断ステップを実施する。 FIG. 6A is a cross-sectional view schematically showing a state in which the tape 19 stretched on the frame 17 is attached to the back surface 1b of the workpiece 1 before the groove forming step. Then, the groove forming step is carried out, and as shown in FIG. 6B, the groove 11 is formed in the workpiece 1. Next, the workpiece 1 is carried out from the dry etching apparatus 2, and the pressing member 26 is arranged on the back surface 1b side of the workpiece 1 via the tape 19. Then, the dividing step of pressing the back surface 1b side of the workpiece 1 with the pressing member 26 is performed.

図6(C)は、テープ19を介して被加工物1の裏面1b側を押圧部材26で押圧し、該押圧部材26の凸部28により溝11に対応する膜7が分断された状態を模式的に示す断面図である。この場合、分断ステップでは、該テープ19は押圧部材26により膜7ごと分断される。すると、被加工物1が分断されて形成されたデバイスチップにテープ19が残るため、デバイスチップの裏面から該テープ19を剥離する。 FIG. 6C shows a state in which the back surface 1b side of the workpiece 1 is pressed by the pressing member 26 via the tape 19, and the film 7 corresponding to the groove 11 is divided by the convex portion 28 of the pressing member 26. It is sectional drawing which shows typically. In this case, in the dividing step, the tape 19 is divided together with the film 7 by the pressing member 26. Then, since the tape 19 remains on the device chip formed by dividing the workpiece 1, the tape 19 is peeled off from the back surface of the device chip.

なお、該テープ19の材質を適宜選択してテープ19に伸縮可能なテープを用いると、テープ19が分断されない状態で膜7だけを分断することもできる場合がある。その場合、形成されたデバイスチップをピックアップすることでテープ19をデバイスチップから剥離できる。 If the material of the tape 19 is appropriately selected and a stretchable tape is used for the tape 19, it may be possible to divide only the film 7 without the tape 19 being divided. In that case, the tape 19 can be peeled off from the device chip by picking up the formed device chip.

その他、上記実施形態に係る構造、方法等は、本発明の目的の範囲を逸脱しない限りにおいて適宜変更して実施できる。 In addition, the structure, method, and the like according to the above-described embodiment can be appropriately modified and implemented as long as they do not deviate from the scope of the object of the present invention.

1 被加工物
1a 表面
1b 裏面
1c ノッチ
3 分断予定ライン
5 デバイス
7 膜
9 レジスト膜
11 溝
13 テープ
15 サポート部材
17 フレーム
19 テープ
2 ドライエッチング装置(プラズマエッチング装置)
4 真空チャンバ
4a 開口
4b 排気口
6 ゲート
8 排気ユニット
10 下部電極
12 高周波電源
14 静電チャック
16a,16b 電極
18a,18b 直流電源
20 上部電極
20a ガス噴出孔
20b ガス供給孔
22 ガス供給源
24 高周波電源
26 押圧部材
26a ノッチ
28 凸部
30 ローラー
1 Work piece 1a Front surface 1b Back surface 1c Notch 3 Scheduled division line 5 Device 7 Membrane 9 Resist film 11 Groove 13 Tape 15 Support member 17 Frame 19 Tape 2 Dry etching equipment (plasma etching equipment)
4 Vacuum chamber 4a Opening 4b Exhaust port 6 Gate 8 Exhaust unit 10 Lower electrode 12 High frequency power supply 14 Electrostatic chuck 16a, 16b Electrodes 18a, 18b DC power supply 20 Upper electrode 20a Gas ejection hole 20b Gas supply hole 22 Gas supply source 24 High frequency power supply 26 Pressing member 26a Notch 28 Convex part 30 Roller

Claims (4)

複数の分断予定ラインが設定され、裏面に膜が設けられた板状の被加工物の加工方法であって、
該分断予定ラインに沿って被加工物の表面からドライエッチングにより溝を形成する溝形成ステップと、
該溝形成ステップを実施した後、複数の該分断予定ラインに対応した凸部を有し該被加工物の該裏面側に位置付けられた押圧部材と、該被加工物と、の一方または両方を互いの方向に押圧することで該溝に対応する該膜に該凸部を貫通させ、被加工物を分断する分断ステップと、
を備えた加工方法。
It is a processing method of a plate-shaped workpiece with a plurality of scheduled division lines and a film on the back surface.
A groove forming step of forming a groove from the surface of the workpiece along the planned division line by dry etching,
After performing groove forming step, one or both of the push member positioned on the back surface side of the workpiece has a convex portion corresponding to a plurality of該分sectional scheduled line, the workpiece, By pressing in the direction of each other, the convex portion is penetrated through the film corresponding to the groove, and the work piece is divided.
Processing method with.
該溝形成ステップを実施する前に、該被加工物の該分断予定ラインに該押圧部材の該凸部の位置が合わせられるように被加工物の裏面側に該押圧部材を配置する配置ステップを実施し、
該溝形成ステップでは、押圧部材が裏面側に配置された被加工物の表面からドライエッチングにより溝を形成する、請求項1に記載の加工方法。
Before carrying out the groove forming step, an arrangement step of arranging the pressing member on the back surface side of the workpiece so that the position of the convex portion of the pressing member is aligned with the planned division line of the workpiece is performed. Carry out,
The processing method according to claim 1, wherein in the groove forming step, a pressing member forms a groove from the front surface of the workpiece arranged on the back surface side by dry etching.
該溝形成ステップは、被加工物の裏面にサポート部材が配設された状態で実施され、
該分断ステップを実施する前に、被加工物の表面にテープを貼着するとともに該テープを介してフレームに被加工物を装着し、該サポート部材を除去することで被加工物の裏面側を露出させる転写ステップを備えた請求項1に記載の加工方法。
The groove forming step is carried out with the support member disposed on the back surface of the workpiece.
Before carrying out the dividing step, a tape is attached to the surface of the work piece, the work piece is attached to the frame via the tape, and the support member is removed to remove the back side of the work piece. The processing method according to claim 1, further comprising a transfer step for exposing.
該溝形成ステップは、被加工物の裏面にテープを貼着するとともに該テープを介してフレームに被加工物を装着した状態で実施され、
該分断ステップでは、該テープを介して該押圧部材の該凸部が該溝に対応する該膜を押圧して分断する、請求項1に記載の加工方法。
The groove forming step is carried out in a state where a tape is attached to the back surface of the work piece and the work piece is attached to the frame via the tape.
The processing method according to claim 1, wherein in the dividing step, the convex portion of the pressing member presses and divides the film corresponding to the groove via the tape.
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