JP6863206B2 - 鋳片分析装置、鋳片分析方法及びプログラム - Google Patents
鋳片分析装置、鋳片分析方法及びプログラム Download PDFInfo
- Publication number
- JP6863206B2 JP6863206B2 JP2017188284A JP2017188284A JP6863206B2 JP 6863206 B2 JP6863206 B2 JP 6863206B2 JP 2017188284 A JP2017188284 A JP 2017188284A JP 2017188284 A JP2017188284 A JP 2017188284A JP 6863206 B2 JP6863206 B2 JP 6863206B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- cross
- sectional image
- section
- image
- slab
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Landscapes
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
また、本発明は、上述した鋳片分析装置による鋳片分析方法、及び、当該鋳片分析方法をコンピュータに実行させるためのプログラムを含む。
鋳片断面撮影機構110は、画像処理・制御装置120の制御に基づいて、例えば図1に示す例では紙面右側から紙面左側に移動しながら、エッチング処理が施された鋳片の断面201を撮影するための撮影機構である。なお、本実施形態においては、図1に示す例とは反対に、鋳片断面撮影機構110が鋳片200の左側に位置している場合には、鋳片断面撮影機構110は、画像処理・制御装置120の制御に基づいて、図1に示す紙面左側から紙面右側に移動しながら、エッチング処理が施された鋳片の断面201を撮影する。ここで、図1に示す鋳片200においては、その上面が、エッチング処理が施された鋳片の断面201となっている。本実施形態では、鋳片200を所定の位置に固定し静止させた状態で、鋳片断面撮影機構110を移動させることにより、鋳片の断面201の撮影を行う。
画像処理・制御装置120は、撮影装置111による撮影で得られた鋳片の断面201に係る断面画像の画像処理を行うとともに、本実施形態に係る鋳片分析装置100の動作を統括的に制御する。
判別部123は、断面画像生成部121で生成された第1の断面画像と、断面画像生成部121で生成された第2の断面画像及び第3の断面画像に基づく第4の断面画像とに基づいて、鋳片の断面201に形成された偏析512とポロシティ511とを判別する処理を行う。具体的に、判別部123は、二値化処理部122で生成された、第1の断面画像に基づく第1の二値画像と第4の断面画像に基づく第2の二値画像とを用いて、鋳片の断面201に形成された偏析512とポロシティ511とを判別する処理を行う。この判別部123による判別方法について図5を用いて説明する。判別部123は、第1の二値画像540における黒色領域(第1領域)541及び黒色領域(第1領域)542のうち、第2の二値画像590の対応する領域に黒色領域(第1領域)が存在している場合には、当該第1の二値画像540における黒色領域(第1領域)にポロシティ511が形成されていると判定し、第2の二値画像590の対応する領域に黒色領域(第1領域)が存在していない場合には、当該第1の二値画像540における黒色領域(第1領域)に偏析512が形成されていると判定する。図5に示す例では、判別部123は、第1の二値画像540における黒色領域(第1領域)541にポロシティ511が形成されていると判定し、第1の二値画像590における黒色領域(第1領域)542に偏析512が形成されていると判定して、鋳片の断面201に形成された偏析512とポロシティ511とを判別する処理を行う。
判別結果出力部124は、判別部123による上述した判別結果(鋳片200の偏析512及びポロシティ511に係る判別結果)を鋳片200の分析結果として、例えば鋳片の断面201に係る各断面画像とともに、表示装置140に出力して表示させたり、外部装置Gに出力したりする。
また、例えば、偏析512が多数且つ大量に存在する鋳片200の場合には、偏析512による強度低下が考えられるため、当初は強度に関して品質基準の厳しい製品向けとしていたものを、強度に関して品質基準の緩い他の製品に振り替えることを決定する。
ステップS303に進むと、第1の断面画像生成部1211は、図3(a)に示すように、可動ミラー1121を光路から外す処理を行う。
ステップS307に進むと、画像処理・制御装置120は、図3(a)に示す正反射撮影モード、図3(b)に示す第1のステレオ撮影モード及び図3(c)に示す第2のステレオ撮影モードにおける全ての撮影モードが終了したか否かを判断する。ここでは、最初の撮影モードである図3(a)に示す正反射撮影モードが終了した段階であるため、否定判断されることになる。
ステップS308に進むと、画像処理・制御装置120は、次の撮影モードを設定する。ここでは、最初の撮影モードである図3(a)に示す正反射撮影モードが終了した段階であるため、次の撮影モードとして、図3(b)に示す第1のステレオ撮影モードを設定する。この図3(b)に示す第1のステレオ撮影モードの設定に伴い、現在点灯させている照明装置(ここでは、第1の照明装置113)を消灯する処理も行う。
ここでは、現在設定されている撮影モードが図3(b)に示す第1のステレオ撮影モードであるとして説明を行う。この場合、ステップS302において、現在設定されている撮影モードが正反射撮影モードでないと判断され(S302/NO)、ステップS309に進む。
ステップS311に進むと、第2の断面画像生成部1212は、第2の照明装置114の消灯を維持した上で、第1の照明装置113を点灯させる処理を行う。
その後、ステップS307に進むが、ここでは、2番目の撮影モードである図3(b)に示す第1のステレオ撮影モードが終了した段階であるため、否定判断されて(S307/NO)、ステップS308に進み、次の撮影モードとして、図3(c)に示す第2のステレオ撮影モードを設定する。この図3(c)に示す第2のステレオ撮影モードの設定に伴い、現在点灯させている照明装置(ここでは、第1の照明装置113)を消灯する処理も行う。
ここでは、現在設定されている撮影モードが図3(c)に示す第2のステレオ撮影モードであるとして説明を行う。この場合、ステップS302において、現在設定されている撮影モードが正反射撮影モードでないと判断され(S302/NO)、ステップS309に進む。
ステップS314に進むと、第3の断面画像生成部1213は、第1の照明装置113の消灯を維持した上で、第2の照明装置114を点灯させる処理を行う。
その後、ステップS307に進み、ここでは、最後(3番目)の撮影モードである図3(c)に示す第2のステレオ撮影モードが終了した段階であるため、肯定判断される(S307/YES)。そして、画像処理・制御装置120は、現在点灯させている照明装置(ここでは、第2の照明装置114)を消灯する処理を行った上で、図7に示すフローチャートの処理を終了する。
次に、本発明の実施形態における実施例について説明する。
上述した本発明の実施形態では、正反射撮影モードによる撮影の際に第1の照明装置113から照明光を照射する形態について説明を行ったが、本発明においてはこの形態に限定されるものではない。例えば、図2に示す撮影装置111及び光学系112の配置を変更して、第2の照明装置114から照明光を照射することによって正反射撮影モードによる撮影を行う形態も、本発明に含まれる。即ち、本発明においては、一対の照明手段である第1の照明装置113及び第2の照明装置114のうちのいずれか1つの照明装置から照明光を照射することによって正反射撮影モードによる撮影を行う形態であればよい。
即ち、上述した本発明の実施形態に係る鋳片分析装置100の機能を実現するソフトウェア(プログラム)を、ネットワーク又は各種記憶媒体を介してシステム或いは装置に供給し、そのシステム或いは装置のコンピュータ(またはCPUやMPU等)がプログラムを読み出して実行する処理である。このプログラム及び当該プログラムを記憶したコンピュータ読み取り可能な記録媒体は、本発明に含まれる。
Claims (10)
- 鋳片の分析を行う鋳片分析装置であって、
エッチング処理が施された前記鋳片の断面を撮影する撮影手段と、
前記断面と交差する基準軸を挟むようにして配置された一対の照明手段と、
前記一対の照明手段のうちのいずれか1つの照明手段から前記断面と前記基準軸との交点に向けて照明光を照射させ、当該照明光の正反射方向から前記断面を前記撮影手段に撮影させて第1の断面画像を生成し、前記一対の照明手段のうちの第1の照明手段から前記交点に向けて照明光を照射させ、前記基準軸に沿った方向から前記断面を前記撮影手段に撮影させて第2の断面画像を生成し、前記一対の照明手段のうちの第2の照明手段から前記交点に向けて照明光を照射させ、前記基準軸に沿った方向から前記断面を前記撮影手段に撮影させて第3の断面画像を生成する断面画像生成手段と、
前記第1の断面画像、前記第2の断面画像および前記第3の断面画像に基づいて、前記断面に形成された偏析とポロシティとを判別する判別手段と
を有することを特徴とする鋳片分析装置。 - 前記断面画像生成手段は、前記第2の断面画像と前記第3の断面画像とを差分処理して、第4の断面画像を更に生成し、
前記判別手段は、前記第1の断面画像と前記第4の断面画像とに基づいて、前記断面に形成された偏析とポロシティとを判別することを特徴とする請求項1に記載の鋳片分析装置。 - 前記第1の断面画像を第1の二値化閾値を用いて二値化処理して第1の二値画像を生成するとともに、前記第4の断面画像を第2の二値化閾値を用いて二値化処理して第2の二値画像を生成する二値化処理手段を更に有し、
前記判別手段は、前記第1の二値画像と前記第2の二値画像とを用いて、前記断面に形成された偏析とポロシティとを判別することを特徴とする請求項2に記載の鋳片分析装置。 - 前記二値化処理手段は、
前記第1の二値画像を生成する際に、前記第1の断面画像において前記第1の二値化閾値未満の輝度値の領域を二値のうちの一方の値に係る第1領域とし、前記第1の断面画像において前記第1の二値化閾値以上の輝度値の領域を二値のうちの他方の値に係る第2領域とし、
前記第2の二値画像を生成する際に、前記第2の二値化閾値として上限閾値と下限閾値とを設定し、前記第4の断面画像において前記上限閾値以上または前記下限閾値未満の輝度値の領域を二値のうちの一方の値に係る第1領域とし、前記第4の断面画像において前記上限閾値未満で且つ前記下限閾値以上の輝度値の領域を二値のうちの他方の値に係る第2領域とし、
前記判別手段は、前記第1の二値画像における第1領域のうち、前記第2の二値画像の対応する領域に第1領域が存在している場合には、当該第1の二値画像における第1領域にポロシティが形成されていると判定し、前記第2の二値画像の対応する領域に第1領域が存在していない場合には、当該第1の二値画像における第1領域に偏析が形成されていると判定する
ことを特徴とする請求項3に記載の鋳片分析装置。 - 前記撮影手段は、光学系を介して前記断面を撮影するものであり、
前記断面画像生成手段は、前記光学系の設定によって前記正反射方向から前記断面を前記撮影手段に撮影させて前記第1の断面画像を生成し、前記光学系の設定によって前記基準軸に沿った方向から前記断面を前記撮影手段に撮影させて前記第2の断面画像を生成し、前記光学系の設定によって前記基準軸に沿った方向から前記断面を前記撮影手段に撮影させて前記第3の断面画像を生成することを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項に記載の鋳片分析装置。 - 前記光学系は、可動ミラーと固定ミラーとを含み構成されており、
前記第1の照明手段または前記第2の照明手段から照射された照明光が前記断面で反射して前記撮影手段に入射するまでの光路に対して、前記可動ミラーを挿抜する設定を行うことによって、前記第1の断面画像、前記第2の断面画像および前記第3の断面画像が生成されることを特徴とする請求項5に記載の鋳片分析装置。 - 前記第1の断面画像を生成する際の撮影において照明光が前記断面で反射してから前記撮影手段に入射するまでの第1の光路と、前記第2の断面画像を生成する際の撮影において照明光が前記断面で反射してから前記撮影手段に入射するまでの第2の光路と、前記第3の断面画像を生成する際の撮影において照明光が前記断面で反射してから前記撮影手段に入射するまでの第3の光路の各光路における光路長が等しくなるように、前記光学系を設定することを特徴とする請求項5または6に記載の鋳片分析装置。
- 前記撮影手段および前記一対の照明手段を含む撮影機構が設けられており、
前記断面画像生成手段は、前記撮影機構と前記断面とを相対的に移動させながら、前記第1の断面画像、前記第2の断面画像および前記第3の断面画像を生成することを特徴とする請求項1乃至7のいずれか1項に記載の鋳片分析装置。 - 鋳片の分析を行う鋳片分析装置による鋳片分析方法であって、
前記鋳片分析装置は、エッチング処理が施された前記鋳片の断面を撮影する撮影手段と、前記断面と交差する基準軸を挟むようにして配置された一対の照明手段と、を備えており、
前記一対の照明手段のうちのいずれか1つの照明手段から前記断面と前記基準軸との交点に向けて照明光を照射させ、当該照明光の正反射方向から前記断面を前記撮影手段に撮影させて第1の断面画像を生成し、前記一対の照明手段のうちの第1の照明手段から前記交点に向けて照明光を照射させ、前記基準軸に沿った方向から前記断面を前記撮影手段に撮影させて第2の断面画像を生成し、前記一対の照明手段のうちの第2の照明手段から前記交点に向けて照明光を照射させ、前記基準軸に沿った方向から前記断面を前記撮影手段に撮影させて第3の断面画像を生成する断面画像生成ステップと、
前記第1の断面画像、前記第2の断面画像および前記第3の断面画像に基づいて、前記断面に形成された偏析とポロシティとを判別する判別ステップと
を有することを特徴とする鋳片分析方法。 - 請求項9に記載の鋳片分析方法における各ステップをコンピュータに実行させるためのプログラム。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2017188284A JP6863206B2 (ja) | 2017-09-28 | 2017-09-28 | 鋳片分析装置、鋳片分析方法及びプログラム |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2017188284A JP6863206B2 (ja) | 2017-09-28 | 2017-09-28 | 鋳片分析装置、鋳片分析方法及びプログラム |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2019066189A JP2019066189A (ja) | 2019-04-25 |
| JP6863206B2 true JP6863206B2 (ja) | 2021-04-21 |
Family
ID=66339432
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2017188284A Active JP6863206B2 (ja) | 2017-09-28 | 2017-09-28 | 鋳片分析装置、鋳片分析方法及びプログラム |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP6863206B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2024006680A (ja) * | 2022-07-04 | 2024-01-17 | 新東工業株式会社 | 外観判定装置および外観判定方法 |
| JP7765419B2 (ja) * | 2023-01-12 | 2025-11-06 | 株式会社バンダイ | 検査プログラム及び検査システム |
| JP7782526B2 (ja) * | 2023-07-12 | 2025-12-09 | Jfeスチール株式会社 | 自動車用鋼板のめっき種類識別方法、装置及びプログラム |
Family Cites Families (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0599860A (ja) * | 1991-10-09 | 1993-04-23 | Nippon Steel Corp | 金属材料の表面品質および内部品質の評価装置および方法 |
| JPH07306161A (ja) * | 1994-05-11 | 1995-11-21 | Nippon Steel Corp | 金属材料の偏析検出方法 |
| ATE197503T1 (de) * | 1997-08-22 | 2000-11-11 | Fraunhofer Ges Forschung | Verfahren und vorrichtung zur automatischen prüfung bewegter oberflächen |
| JP5540849B2 (ja) * | 2010-04-08 | 2014-07-02 | 新日鐵住金株式会社 | 金属の欠陥検出方法及び欠陥検出装置 |
| JP5803788B2 (ja) * | 2012-04-04 | 2015-11-04 | 新日鐵住金株式会社 | 金属の欠陥検出方法 |
| BR112015025556B1 (pt) * | 2013-04-17 | 2021-12-14 | Nippon Steel Corporation | Método de inspeção de defeito de metal |
| JP6394514B2 (ja) * | 2015-06-25 | 2018-09-26 | Jfeスチール株式会社 | 表面欠陥検出方法、表面欠陥検出装置、及び鋼材の製造方法 |
| KR101733197B1 (ko) * | 2015-08-12 | 2017-05-08 | 삼성디스플레이 주식회사 | 멀티 광학 비전 장치 |
-
2017
- 2017-09-28 JP JP2017188284A patent/JP6863206B2/ja active Active
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2019066189A (ja) | 2019-04-25 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP5084398B2 (ja) | 測定装置、測定方法、及び、プログラム | |
| JP5014003B2 (ja) | 検査装置および方法 | |
| CN108445007A (zh) | 一种基于图像融合的检测方法及其检测装置 | |
| US20140340707A1 (en) | Measurement apparatus and control method thereof | |
| US10803572B2 (en) | Appearance inspection apparatus and appearance inspection method | |
| JP2007206797A (ja) | 画像処理方法および画像処理装置 | |
| JP6863206B2 (ja) | 鋳片分析装置、鋳片分析方法及びプログラム | |
| WO2017179243A1 (ja) | 被検査体撮像装置、被検査体撮像方法、表面検査装置及び表面検査方法 | |
| JP2017040510A (ja) | 検査装置、検査方法および物体製造方法 | |
| JP2012037425A (ja) | 多結晶シリコンウェーハの検査方法及びその装置 | |
| JP2021189044A (ja) | 表面検査装置および表面検査方法 | |
| JP4150390B2 (ja) | 外観検査方法及び外観検査装置 | |
| JP2022055348A (ja) | ラインスキャン用非ランバート性表面検査システム | |
| JP2013015389A (ja) | 溶接位置の検査方法及びその装置 | |
| JPWO2022070401A5 (ja) | 情報処理装置、情報処理方法、及び、プログラム | |
| JP2005214720A (ja) | 表面検査装置及び方法 | |
| JP6542173B2 (ja) | 角度測定装置およびその作動方法並びに角度測定プログラム | |
| JP2020134491A (ja) | 検査ユニット、プログラム及び記憶媒体 | |
| JP7251559B2 (ja) | 情報処理装置 | |
| WO2021049326A1 (ja) | 表面欠陥判別装置、外観検査装置及びプログラム | |
| JP2021173656A (ja) | 画像計測システム、画像計測方法、画像計測プログラムおよび記録媒体 | |
| KR102368707B1 (ko) | 라인 스캔용 논-램버시안 표면 검사 시스템 | |
| JP7178001B2 (ja) | 検査装置 | |
| JP5042503B2 (ja) | 欠陥検出方法 | |
| JP3984367B2 (ja) | 表面欠陥の検査方法および検査装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20200513 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20210226 |
|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20210302 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20210315 |
|
| R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 6863206 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |