JP6876382B2

JP6876382B2 - Coil test equipment

Info

Publication number: JP6876382B2
Application number: JP2016104765A
Authority: JP
Inventors: 正美北澤; 恒夫小川; 力山口
Original assignee: Hioki EE Corp
Current assignee: Hioki EE Corp
Priority date: 2016-05-26
Filing date: 2016-05-26
Publication date: 2021-05-26
Anticipated expiration: 2036-05-26
Also published as: JP2017211280A

Description

本発明は、試験対象のコイルにコンデンサを並列に接続すると共に、この接続状態でのコイルにインパルス電圧を印加したときにコイルの両端間に発生する減衰振動波形に基づいてコイルを試験するコイル試験装置に関するものである。 The present invention is a coil test in which a capacitor is connected in parallel to the coil to be tested and the coil is tested based on the damped vibration waveform generated between both ends of the coil when an impulse voltage is applied to the coil in this connected state. it relates to the equipment.

この種のコイル試験装置の一例として、下記の特許文献１に開示されたコイル試験装置（巻線診断システム）が知られている。このコイル試験装置は、コイル（巻線）に所定特性のインパルス電圧を印加するインパルス発生回路と、インパルス電圧が印加されたときにコイルの両端に発生する電圧（減衰振動電圧）を計測する電圧計測部と、この計測されたアナログ信号である電圧をデジタル信号に変換して出力するＡ／Ｄ変換回路と、Ａ／Ｄ変換回路から出力されたデジタル信号に基づいて特徴量ＬＣ，ＲＣを算出すると共にこの算出した特徴量ＬＣ，ＲＣを記憶部に設けた特徴量空間（例えば、特徴量ＬＣを横軸とし、特徴量ＲＣを縦軸とする座標空間）に記憶させる（例えば、特徴量ＬＣ，ＲＣを各軸についての座標値とする点（特徴点）として記憶させる）診断部とを備えている。 As an example of this type of coil test device, the coil test device (winding diagnostic system) disclosed in Patent Document 1 below is known. This coil test device has an impulse generation circuit that applies an impulse voltage of a predetermined characteristic to the coil (winding), and a voltage measurement that measures the voltage (damped vibration voltage) generated across the coil when the impulse voltage is applied. The feature quantities LC and RC are calculated based on the unit, the A / D conversion circuit that converts the measured voltage, which is an analog signal, into a digital signal and outputs it, and the digital signal output from the A / D conversion circuit. The calculated feature quantities LC and RC are stored in a feature quantity space provided in the storage unit (for example, a coordinate space having the feature quantity LC on the horizontal axis and the feature quantity RC on the vertical axis) (for example, the feature quantity LC, It is equipped with a diagnostic unit (which stores RC as a point (feature point) that is a coordinate value for each axis).

ここで、コイルとインパルス発生回路とから構成される回路の等価回路定数をインダクタンスＬ、キャパシタンスＣおよびレジスタンスＲとしたときに、インダクタンスＬおよびキャパシタンスＣの乗算値ＬＣとレジスタンスＲおよびキャパシタンスＣの乗算値ＲＣとで特徴量ＬＣ，ＲＣが構成されている。なお、キャパシタンスＣは、コイル自体の等価回路定数（つまり、コイルの浮遊容量）だけで構成することもできるが、この浮遊容量は一般的に容量値が小さいことから、減衰振動電圧の周波数（共振周波数）が高くなり過ぎてＡ／Ｄ変換回路において正確にデジタル信号に変換できない場合もある。このため、通常は、インパルス発生回路内に、コイルと並列接続されるキャパシタを別途配置して、このキャパシタの容量値を上記の等価回路定数であるキャパシタンスＣとしている。 Here, when the equivalent circuit constant of the circuit composed of the coil and the impulse generation circuit is the inductance L, the capacitance C and the resistance R, the multiplication value LC of the inductance L and the capacitance C and the multiplication value of the resistance R and the capacitance C The feature quantities LC and RC are composed of RC. The capacitance C can be configured only by the equivalent circuit constant of the coil itself (that is, the stray capacitance of the coil), but since this stray capacitance generally has a small capacitance value, the frequency of the decayed vibration voltage (resonance). In some cases, the frequency) becomes too high and cannot be accurately converted into a digital signal in the A / D conversion circuit. Therefore, normally, a capacitor connected in parallel with the coil is separately arranged in the impulse generation circuit, and the capacitance value of this capacitor is set to the capacitance C which is the above equivalent circuit constant.

このコイル試験装置を用いて診断対象（試験対象）のコイル（診断対象巻線）を診断する場合には、診断の際に必要となる診断情報を学習用のコイル（学習用巻線）を用いて予め取得する。具体的には、正常状態、および想定される種々の不良状態（例えば、１ターン短絡、２ターン短絡、層間短絡、断線等）のそれぞれの状態に設定した学習用のコイルを用意し、診断部に、これらの学習用のコイルをコイル試験装置に接続したときのそれぞれについての特徴量ＬＣ，ＲＣを算出させると共に、算出された各特徴量ＬＣ，ＲＣを学習用のコイルの上記の各状態（正常状態、種々の不良状態）に対応させて診断情報特徴量として、記憶部に設けた特徴量空間に記憶させる。 When diagnosing the coil (diagnosis target winding) of the diagnosis target (test target) using this coil test device, the learning coil (learning winding) is used for the diagnostic information required for the diagnosis. And get it in advance. Specifically, a learning coil is prepared in which the normal state and various assumed defective states (for example, 1-turn short-circuit, 2-turn short-circuit, interlayer short-circuit, disconnection, etc.) are set, and a diagnostic unit is prepared. To calculate the feature quantities LC and RC for each of these learning coils when they are connected to the coil test device, and to use the calculated feature quantities LC and RC for each of the above states of the learning coil ( It is stored in the feature quantity space provided in the storage unit as the diagnostic information feature quantity corresponding to the normal state and various defective states).

次いで、診断対象のコイルをコイル試験装置に接続すると共に、このときの特徴量ＬＣ，ＲＣを診断部に状態情報特徴量として算出させる。また、診断部に、記憶部に設けた特徴量空間上において、上記の各診断情報特徴量のうちから、算出した診断対象のコイルについての状態情報特徴量と最も近い診断情報特徴量をサーチさせ、サーチによって得られた診断情報特徴量が学習用のコイルの上記の各状態（正常状態、種々の不良状態）のいずれに対応するものかに基づいて、診断対象のコイルの状態を診断（試験）する。 Next, the coil to be diagnosed is connected to the coil test device, and the feature amounts LC and RC at this time are calculated by the diagnosis unit as the state information feature amount. In addition, the diagnostic unit is made to search the diagnostic information feature amount closest to the calculated state information feature amount of the coil to be diagnosed from each of the above diagnostic information feature amounts in the feature amount space provided in the storage unit. , Diagnosis based on which of the above-mentioned states (normal state, various defective states) of the learning coil corresponds to the diagnostic information feature amount obtained by the search, the state of the coil to be diagnosed is diagnosed (test). ).

特開２０１２−５８２２１号公報（第７−１２頁、第１−９図）Japanese Unexamined Patent Publication No. 2012-58221 (pages 7-12, Fig. 1-9)

ところが、上記したコイル試験装置には、以下のような改善すべき課題が存在している。すなわち、このコイル試験装置では、診断情報特徴量を算出するために学習用のコイルを予め複数用意する必要がある。このため、このコイル試験装置には、診断対象のコイルの良否を試験するだけの場合（正常ではないときに、不良状態の種類を判別する必要の無い場合）であっても、正常状態の学習用のコイルについては用意しなければならないため、手間がかかるという改善すべき課題が存在している。 However, the coil test apparatus described above has the following problems to be improved. That is, in this coil test apparatus, it is necessary to prepare a plurality of learning coils in advance in order to calculate the diagnostic information feature amount. Therefore, this coil test device can learn the normal state even when only testing the quality of the coil to be diagnosed (when it is not normal and it is not necessary to determine the type of defective state). Since it is necessary to prepare a coil for this purpose, there is a problem to be improved that it takes time and effort.

本発明は、かかる課題を改善するためになされたものであり、手間をかけずに試験対象のコイルの良否を試験し得るコイル試験装置を提供することを主目的とする。 The present invention has been made to improve the above problems, to provide a coil testing equipment capable of testing the quality of tested coils without the hassle primary purpose.

上記目的を達成すべく請求項１記載のコイル試験装置は、試験対象のコイルに並列接続されるキャパシタンスＣが既知のコンデンサ回路と、インパルス電圧信号を発生させて前記コイルおよび前記コンデンサ回路に供給するインパルス電圧発生部と、前記インパルス電圧信号の供給によって前記コイルの両端間に発生する減衰振動電圧の信号波形を測定する測定部と、前記信号波形をサンプリングして当該信号波形の瞬時値を示す波形データに変換するＡ／Ｄ変換部と、前記減衰振動電圧の発生時における前記コイルおよび前記コンデンサ回路で構成される回路についての等価回路定数としての前記コイルのインダクタンスＬ、当該コイルのレジスタンスＲおよび前記コンデンサ回路の前記キャパシタンスＣのうちの当該インダクタンスＬおよび当該キャパシタンスＣの乗算値ＬＣと当該レジスタンスＲおよび当該キャパシタンスＣの乗算値ＲＣとを状態情報特徴量として前記波形データに基づいて算出する状態情報算出処理、並びに当該状態情報特徴量ＬＣ，ＲＣを診断情報特徴量ＬＣｒｅｆ，ＲＣｒｅｆと比較して前記コイルの良否を判別するコイル試験処理を実行する処理部とを備えているコイル試験装置であって、前記診断情報特徴量ＬＣｒｅｆ，ＲＣｒｅｆを算出するための前記インダクタンスＬおよび前記レジスタンスＲのそれぞれについての上限値および下限値と、当該診断情報特徴量ＬＣｒｅｆ，ＲＣｒｅｆを算出するための前記インダクタンスＬおよび前記レジスタンスＲのそれぞれについての基準値および許容差とのうちのいずれかを前記処理部に入力するための入力部を備えている。 In order to achieve the above object, the coil test apparatus according to claim 1 generates an impulse voltage signal and supplies it to the coil and the coil circuit with a capacitor circuit having a known capacitance C connected in parallel to the coil to be tested. An impulse voltage generating unit, a measuring unit that measures a signal waveform of an attenuated vibration voltage generated between both ends of the coil by supplying the impulse voltage signal, and a waveform that samples the signal waveform and shows an instantaneous value of the signal waveform. The A / D conversion unit that converts data, the inductance L of the coil as an equivalent circuit constant for the circuit composed of the coil and the capacitor circuit when the attenuated vibration voltage is generated, the resistance R of the coil, and the said. State information calculation based on the waveform data, using the inductance L of the capacitor circuit, the multiplication value LC of the capacitance C, and the resistance R and the multiplication value RC of the capacitance C as state information feature quantities. It is a coil test apparatus provided with a processing unit and a processing unit for executing a coil test process for determining the quality of the coil by comparing the state information feature amounts LC and RC with the diagnostic information feature amounts LCref and RCref. the inductance L and the upper and lower limit values for each of the resistance R, the inductance L and the resistance to calculate the diagnostic information feature amount LCref, the RCref for calculating the diagnostic information feature amount LCref, the RCref An input unit for inputting either a reference value or a tolerance for each of R to the processing unit is provided.

請求項２記載のコイル試験装置は、請求項１記載のコイル試験装置において、前記処理部は、前記入力部から前記インダクタンスＬおよび前記レジスタンスＲのそれぞれについての前記上限値および前記下限値を入力したときには、当該上限値、当該下限値および前記キャパシタンスＣに基づいて前記診断情報特徴量ＬＣｒｅｆ，ＲＣｒｅｆを算出する診断情報算出処理を実行する。 The coil test apparatus according to claim 2 is the coil test apparatus according to claim 1, wherein the processing unit inputs the upper limit value and the lower limit value for each of the inductance L and the resistance R from the input unit. Occasionally, the diagnostic information calculation process for calculating the diagnostic information feature quantities LCref and RCref based on the upper limit value, the lower limit value, and the capacitance C is executed.

請求項３記載のコイル試験装置は、請求項１記載のコイル試験装置において、前記処理部は、前記入力部から前記インダクタンスＬおよび前記レジスタンスＲのそれぞれについての前記基準値および前記許容差を入力したときには、当該基準値、当該許容差および前記キャパシタンスＣに基づいて前記診断情報特徴量ＬＣｒｅｆ，ＲＣｒｅｆを算出する診断情報算出処理を実行する。 The coil test apparatus according to claim 3 is the coil test apparatus according to claim 1, wherein the processing unit inputs the reference value and the tolerance for each of the inductance L and the resistance R from the input unit. Occasionally, a diagnostic information calculation process for calculating the diagnostic information feature quantities LCref and RCref based on the reference value, the tolerance, and the capacitance C is executed.

請求項４記載のコイル試験装置は、請求項２または３記載のコイル試験装置において、表示部を備え、前記処理部は、乗算値ＬＣおよび乗算値ＲＣのうちの一方を縦軸とし、当該乗算値ＬＣおよび当該乗算値ＲＣのうちの他方を横軸とする特徴量空間を前記表示部の画面上に表示させ、かつ当該特徴量空間上における前記算出した診断情報特徴量ＬＣｒｅｆ，ＲＣｒｅｆで規定される位置に前記コイルについての判定エリアを示すエリア画像を表示させると共に前記算出した状態情報特徴量ＬＣ，ＲＣで規定される位置に状態情報画像を表示させる。 The coil test apparatus according to claim 4 includes a display unit in the coil test apparatus according to claim 2 or 3 , and the processing unit has one of the multiplication value LC and the multiplication value RC as the vertical axis and the multiplication. A feature space having the other of the value LC and the multiplication value RC as the horizontal axis is displayed on the screen of the display unit, and is defined by the calculated diagnostic information feature LCref and RCref on the feature space. An area image showing the determination area for the coil is displayed at a position, and a state information image is displayed at a position defined by the calculated state information feature amounts LC and RC.

請求項１記載のコイル試験装置では、診断情報特徴量ＬＣｒｅｆ，ＲＣｒｅｆを算出するためのインダクタンスＬおよびレジスタンスＲのそれぞれについての上限値および下限値と、診断情報特徴量ＬＣｒｅｆ，ＲＣｒｅｆを算出するためのインダクタンスＬおよびレジスタンスＲのそれぞれについての基準値および許容差のうちのいずれかを処理部に入力するための入力部を備えている。 Coil test apparatus of claim 1, wherein the diagnostic information feature amount LCref, the upper and lower limit values for each of the inductance L and resistance R for calculating the RCref, diagnostic information feature amount LCref, for calculating the RCref It is provided with an input unit for inputting one of a reference value and a tolerance for each of the inductance L and the resistance R of the above to the processing unit.

したがって、このコイル試験装置によれば、試験対象のコイルを試験する際に、診断情報特徴量を算出するために学習用のコイルを予め用意する必要が無いため、手間をかけずに試験対象のコイルの良否（良品（正常）状態であるか不良（異常）状態であるか）を試験することができる。 Therefore, according to the coil testing equipment, in testing coil being tested, it is not necessary to previously prepare a coil for learning in order to calculate the diagnostic information feature amount, tested without the hassle It is possible to test the quality of the coil (whether it is in a good (normal) state or a defective (abnormal) state).

請求項２，３記載の測定装置によれば、処理部によって診断情報特徴量ＬＣｒｅｆ，ＲＣｒｅｆが自動的に算出されるため、試験者が自ら診断情報特徴量ＬＣｒｅｆ，ＲＣｒｅｆを算出する構成と比較して、一層手間をかけずに試験対象のコイルの良否を試験することができる。 According to the measuring device according to claims 2 and 3, the diagnostic information feature amounts LCref and RCref are automatically calculated by the processing unit, so that the tester compares with the configuration in which the diagnostic information feature amounts LCref and RCref are calculated by himself / herself. Therefore, the quality of the coil to be tested can be tested with less effort.

請求項４記載の測定装置によれば、表示部の画面上に表示された特徴量空間に、コイルについての判定エリアを示すエリア画像と共に状態情報画像が表示されるため、これらの画像に基づいて試験対象のコイルの良否を目視にて試験することができる。 According to the measuring device according to claim 4, a state information image is displayed together with an area image showing a determination area for the coil in the feature amount space displayed on the screen of the display unit. Therefore, based on these images. The quality of the coil to be tested can be visually tested.

コイル試験装置１の構成図である。It is a block diagram of the coil test apparatus 1. 特徴量空間における各乗算値ＬＣｒｅｆ，ＲＣｒｅｆと方形の判定エリアＡＲとの関係、およびこの判定エリアＡＲと状態情報特徴量ＬＣｔｅ，ＲＣｔｅとの関係を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the relationship between each multiplication value LCref, RCref and a square determination area AR in a feature amount space, and the relationship between this determination area AR and a state information feature amount LCte, RCte. 特徴量空間における各乗算値ＬＣｒｅｆ，ＲＣｒｅｆと円形の判定エリアＡＲとの関係、およびこの判定エリアＡＲと状態情報特徴量ＬＣｔｅ，ＲＣｔｅとの関係を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the relationship between each multiplication value LCref, RCref and a circular determination area AR in a feature amount space, and the relationship between this determination area AR and a state information feature amount LCte, RCte.

以下、コイル試験装置の実施の形態について、添付図面を参照して説明する。 Hereinafter, embodiments of the coil testing equipment will be described with reference to the accompanying drawings.

最初に、コイル試験装置としてのコイル試験装置１の構成について、図面を参照して説明する。 First, the configuration of the coil test device 1 as the coil test device will be described with reference to the drawings.

コイル試験装置１は、図１に示すように、一対の接続端子２ａ，２ｂ、コンデンサ回路３、スイッチ４、インパルス電圧発生部５、測定部６、Ａ／Ｄ変換部７、処理部８、記憶部９、出力部１０および操作部１１を備え、一対の接続端子２ａ，２ｂ間に接続（直接的に接続、または不図示のプローブなどを介して間接的に接続）された試験対象のコイル（巻線）５１を試験する（絶縁耐力が不足しているか否かをチェックするための試験を行う）ことが可能に構成されている。また、本例のコイル試験装置１は、等価回路定数（インダクタンスＬおよびレジスタンスＲ）の異なる複数種類のコイル５１（本例では一例として、インダクタンスＬａおよびレジスタンスＲａのコイル５１ａ、およびインダクタンスＬｂおよびレジスタンスＲｂのコイル５１ｂの２種類のコイル５１を挙げて説明するが、３種類以上であってもよい）を試験対象として試験可能に構成されている。 As shown in FIG. 1, the coil test device 1 includes a pair of connection terminals 2a and 2b, a capacitor circuit 3, a switch 4, an impulse voltage generating unit 5, a measuring unit 6, an A / D conversion unit 7, a processing unit 8, and a storage unit. A coil to be tested (directly connected or indirectly connected via a probe (not shown)) including a unit 9, an output unit 10 and an operation unit 11 and connected between a pair of connection terminals 2a and 2b. The winding) 51 can be tested (a test is performed to check whether or not the dielectric strength is insufficient). Further, in the coil test device 1 of this example, a plurality of types of coils 51 having different equivalent circuit constants (inductance L and resistance R) (as an example in this example, the coil 51a of inductance La and resistance Ra, and the inductance Lb and resistance Rb). Although two types of coils 51 of the coil 51b will be described with reference to the above, three or more types of coils 51 may be used as test targets).

なお、インダクタンスＬａ，Ｌｂについて特に区別しないときにはインダクタンスＬともいい、レジスタンスＲａ，Ｒｂについて特に区別しないときにはレジスタンスＲともいい、コイル５１ａ，５１ｂについて特に区別しないときにはコイル５１ともいう。また、コイル５１には、浮遊容量も存在していることから、コイルの等価回路定数には、上記のインダクタンスＬおよびレジスタンスＲに加えてキャパシタンスも存在している。しかしながら、このコイル５１に対して並列接続されるコンデンサ回路３の後述するキャパシタンス（容量値）Ｃの設計値（基準値）Ｃｒがこの浮遊容量に対して十分に大きな値に規定されているため、この浮遊容量は無視するものとする。 When the inductances La and Lb are not particularly distinguished, they are also referred to as the inductance L, when the resistances Ra and Rb are not particularly distinguished, they are also referred to as the resistance R, and when the coils 51a and 51b are not particularly distinguished, they are also referred to as the coils 51. Further, since the coil 51 also has a stray capacitance, the equivalent circuit constant of the coil also has a capacitance in addition to the above-mentioned inductance L and resistance R. However, since the design value (reference value) Cr of the capacitance (capacitance value) C described later in the capacitor circuit 3 connected in parallel to the coil 51 is defined as a sufficiently large value with respect to this stray capacitance. This stray capacitance shall be ignored.

また、コイル５１ａについての良品時（良品状態のとき）のインダクタンスＬａおよびレジスタンスＲａ（例えばインダクタンスＬａおよびレジスタンスＲａの各設計値（基準値）Ｌａｒ，Ｒａｒ）は既知であるものとする。また、コイル５１ｂについての良品時（良品状態のとき）のインダクタンスＬｂおよびレジスタンスＲｂ（例えばインダクタンスＬｂおよびレジスタンスＲｂの各設計値（基準値）Ｌｂｒ，Ｒｂｒ）も既知であるものとする。また、インダクタンスＬの各設計値（基準値）Ｌａｒ，Ｌｂｒについて特に区別しないときには、設計値（基準値）Ｌｒともいい、レジスタンスＲａの各設計値（基準値）Ｒａｒ，Ｒｂｒについて特に区別しないときには、設計値（基準値）Ｒｒともいう。 Further, it is assumed that the inductance La and the resistance Ra (for example, the design values (reference values) La and Ra of the inductance La and the resistance Ra) of the coil 51a at the time of a non-defective product (in a non-defective state) are known. Further, it is assumed that the inductance Lb and the resistance Rb (for example, the design values (reference values) Lbr and Rbr of the inductance Lb and the resistance Rb) of the coil 51b at the time of a non-defective product (in a non-defective state) are also known. Further, when the design values (reference value) Lar and Lbr of the inductance L are not particularly distinguished, they are also referred to as the design value (reference value) Lr, and when the design values (reference value) Rar and Rbr of the resistance Ra are not particularly distinguished, the design values (reference value) Rar and Rbr are not particularly distinguished. Also called design value (reference value) Rr.

また、コイル５１ａの良品時におけるそのインダクタンスＬａのばらつきの範囲（インダクタンス許容範囲）についても既知であるものとする。具体的には、設計値Ｌａｒを基準とする下側の許容差ΔＬａ１および上側の許容差ΔＬａ２の組、並びにインダクタンス許容範囲の下限値（最小値）Ｌａｍｉｎ（＝Ｌａｒ−ΔＬａ１）および上限値（最大値）Ｌａｍａｘ（＝Ｌａｒ＋ΔＬａ２）の組の少なくとも一方の組が既知であるものとする。また、コイル５１ａの良品時におけるそのレジスタンスＲａのばらつきの範囲（レジスタンス許容範囲）についても既知であるものとする。具体的には、設計値Ｒａｒを基準とする下側の許容差ΔＲａ１および上側の許容差ΔＲａ２の組、並びにレジスタンス許容範囲の下限値（最小値）Ｒａｍｉｎ（＝Ｒａｒ−ΔＲａ１）および上限値（最大値）Ｒａｍａｘ（＝Ｒａｒ＋ΔＲａ２）の組の少なくとも一方の組が既知であるものとする。 Further, it is assumed that the range of variation (inductance allowable range) of the inductance La of the coil 51a when it is a non-defective product is also known. Specifically, a set of a lower tolerance ΔLa1 and an upper tolerance ΔLa2 based on the design value Lar, and a lower limit value (minimum value) Lamin (= Lar-ΔLa1) and an upper limit value (maximum value) of the inductance tolerance range. Value) It is assumed that at least one set of Lamax (= Lar + ΔLa2) sets is known. Further, it is assumed that the range of variation (resistance allowable range) of the resistance Ra of the coil 51a when it is a non-defective product is also known. Specifically, a set of a lower tolerance ΔRa1 and an upper tolerance ΔRa2 based on the design value Rar, and a lower limit value (minimum value) Ramin (= Rar-ΔRa1) and an upper limit value (maximum value) of the resistance tolerance range. Value) It is assumed that at least one set of Ramax (= Rar + ΔRa2) sets is known.

また、コイル５１ｂについても、その良品時におけるそのインダクタンスＬｂのばらつきの範囲（インダクタンス許容範囲）が既知であるものとする。具体的には、設計値Ｌｂｒを基準とする下側の許容差ΔＬｂ１および上側の許容差ΔＬｂ２の組、並びにインダクタンス許容範囲の下限値（最小値）Ｌｂｍｉｎ（＝Ｌｂｒ−ΔＬｂ１）および上限値（最大値）Ｌｂｍａｘ（＝Ｌｂｒ＋ΔＬｂ２）の組の少なくとも一方の組が既知であるものとする。また、コイル５１ｂの良品時におけるそのレジスタンスＲｂのばらつきの範囲（レジスタンス許容範囲）についても既知であるものとする。具体的には、設計値Ｒｂｒを基準とする下側の許容差ΔＲｂ１および上側の許容差ΔＲｂ２の組、並びにレジスタンス許容範囲の下限値（最小値）Ｒｂｍｉｎ（＝Ｒｂｒ−ΔＲｂ１）および上限値（最大値）Ｒｂｍａｘ（＝Ｒｂｒ＋ΔＲｂ２）の組の少なくとも一方の組が既知であるものとする。 Further, it is assumed that the range of variation (inductance allowable range) of the inductance Lb of the coil 51b at the time of its non-defective product is known. Specifically, a set of a lower tolerance ΔLb1 and an upper tolerance ΔLb2 based on the design value Lbr, and a lower limit value (minimum value) Lbmin (= Lbr-ΔLb1) and an upper limit value (maximum value) of the inductance tolerance range. Value) It is assumed that at least one set of Lbmax (= Lbr + ΔLb2) sets is known. Further, it is assumed that the range of variation (resistance allowable range) of the resistance Rb of the coil 51b when it is a non-defective product is also known. Specifically, a set of a lower tolerance ΔRb1 and an upper tolerance ΔRb2 based on the design value Rbr, and a lower limit value (minimum value) Rbmin (= Rbr-ΔRb1) and an upper limit value (maximum value) of the resistance tolerance range. Value) It is assumed that at least one set of Rbmax (= Rbr + ΔRb2) sets is known.

なお、設計値Ｌｒの各下側の許容差ΔＬａ１，ΔＬｂ１について特に区別しないときには許容差ΔＬ１ともいい、各上側の許容差ΔＬａ２，ΔＬｂ２について特に区別しないときには許容差ΔＬ２ともいう。また、設計値Ｒｒの各下側の許容差ΔＲａ１，ΔＲｂ１について特に区別しないときには許容差ΔＲ１ともいい、各上側の許容差ΔＲａ２，ΔＲｂ２について特に区別しないときには許容差ΔＲ２ともいう。また、インダクタンス許容範囲の各下限値Ｌａｍｉｎ，Ｌｂｍｉｎについて特に区別しないときには下限値Ｌｍｉｎともいい、各上限値Ｌａｍａｘ，Ｌｂｍａｘについて特に区別しないときには上限値Ｌｍａｘともいう。また、レジスタンス許容範囲の各下限値Ｒａｍｉｎ，Ｒｂｍｉｎについて特に区別しないときには下限値Ｒｍｉｎともいい、各上限値Ｒａｍａｘ，Ｒｂｍａｘについて特に区別しないときには上限値Ｒｍａｘともいう。 When the lower tolerances ΔLa1 and ΔLb1 of the design value Lr are not particularly distinguished, they are also referred to as tolerances ΔL1, and when the upper tolerances ΔLa2 and ΔLb2 are not particularly distinguished, they are also referred to as tolerances ΔL2. Further, when the tolerances ΔRa1 and ΔRb1 on each lower side of the design value Rr are not particularly distinguished, they are also referred to as tolerances ΔR1, and when the tolerances ΔRa2 and ΔRb2 on each upper side are not particularly distinguished, they are also referred to as tolerances ΔR2. Further, when the lower limit values Lamin and Lbmin of the inductance allowable range are not particularly distinguished, they are also referred to as lower limit values Lmin, and when the upper limit values Lamax and Lbmax are not particularly distinguished, they are also referred to as upper limit values Lmax. Further, when the lower limit values Ramin and Rbmin of the resistance allowable range are not particularly distinguished, they are also referred to as lower limit values Rmin, and when the upper limit values Ramax and Rbmax are not particularly distinguished, they are also referred to as upper limit values Rmax.

一対の接続端子２ａ，２ｂのうちの一方の接続端子２ａは、スイッチ４を介してインパルス電圧発生部５の一対の出力端子５ａ，５ｂのうちの一方の出力端子５ａに接続されている。また、他方の接続端子２ｂは、インパルス電圧発生部５の他方の出力端子５ｂに接続されている。 One of the pair of connection terminals 2a and 2b is connected to the output terminal 5a of the pair of output terminals 5a and 5b of the impulse voltage generating unit 5 via the switch 4. Further, the other connection terminal 2b is connected to the other output terminal 5b of the impulse voltage generation unit 5.

コンデンサ回路３は、１または２以上の不図示のコンデンサで構成されて、全体としてのキャパシタンス（容量値）Ｃの設計値（基準値）Ｃｒが一定（既知）であって、かつこのキャパシタンスＣのばらつきの範囲（キャパシタンス許容範囲）の下限値（最小値）Ｃｍｉｎ（≫コイル５１の浮遊容量）および上限値（最大値）Ｃｍａｘ（＞Ｃｒ＞Ｃｍｉｎ）も既知であるものとする。また、コンデンサ回路３は、一対の接続端子２ａ，２ｂ間に接続されている。 The capacitor circuit 3 is composed of one or two or more capacitors (not shown), the design value (reference value) Cr of the overall capacitance (capacitance value) C is constant (known), and the capacitance C of this capacitance C It is assumed that the lower limit value (minimum value) Cmin (>> floating capacitance of the coil 51) and the upper limit value (maximum value) Cmax (> Cr> Cmin) of the variation range (capacitance allowable range) are also known. Further, the capacitor circuit 3 is connected between the pair of connection terminals 2a and 2b.

スイッチ４は、一端が接続端子２ａに接続され、他端がインパルス電圧発生部５の一方の出力端子５ａに接続されている。また、スイッチ４は、例えば、リレーで構成されて、処理部８によってオン・オフ状態が制御可能となっている。 One end of the switch 4 is connected to the connection terminal 2a, and the other end is connected to one output terminal 5a of the impulse voltage generating unit 5. Further, the switch 4 is composed of, for example, a relay, and the on / off state can be controlled by the processing unit 8.

インパルス電圧発生部５は、予め規定された高電圧値のインパルス電圧信号Ｖｐを一対の出力端子５ａ，５ｂ間から出力可能に構成されている。また、インパルス電圧発生部５は、一例として、処理部８からの出力開始指示を入力したタイミングでインパルス電圧信号Ｖｐを出力する。 The impulse voltage generation unit 5 is configured to be able to output a predetermined high voltage value impulse voltage signal Vp from between the pair of output terminals 5a and 5b. Further, as an example, the impulse voltage generation unit 5 outputs the impulse voltage signal Vp at the timing when the output start instruction from the processing unit 8 is input.

測定部６は、一対の接続端子２ａ，２ｂ間に発生する電圧（後述する減衰振動電圧）ｖについての信号波形を測定すると共に、測定した信号波形を予め規定された増幅率で増幅することにより、振幅が後段のＡ／Ｄ変換部７の入力定格内となる検出信号Ｓａとして出力する。Ａ／Ｄ変換部７は、入力した検出信号Ｓａを予め規定されたサンプリング周期でサンプリングすることにより、検出信号Ｓａの信号波形の瞬時値を示す波形データＤ１（測定部６での増幅率やＡ／Ｄ変換部７の分解能（１ビット当たりの電圧値）が既知であることから、減衰振動電圧ｖの瞬時値を示す波形データＤ１とも言える）に変換して出力する。 The measuring unit 6 measures the signal waveform of the voltage (attenuated vibration voltage described later) v generated between the pair of connection terminals 2a and 2b, and amplifies the measured signal waveform with a predetermined amplification factor. , It is output as a detection signal Sa whose amplitude is within the input rating of the A / D conversion unit 7 in the subsequent stage. The A / D conversion unit 7 samples the input detection signal Sa at a predetermined sampling cycle, so that the waveform data D1 indicating the instantaneous value of the signal waveform of the detection signal Sa (the amplification factor in the measurement unit 6 and A) Since the resolution (voltage value per bit) of the / D conversion unit 7 is known, it is converted into waveform data D1 indicating an instantaneous value of the attenuated vibration voltage v and output.

処理部８は、例えばＣＰＵで構成されて、記憶部９に記憶されている動作プログラムに基づいて動作して、スイッチ４に対する制御処理、インパルス電圧発生部５に対する制御処理、試験対象のコイル５１を試験するための基準となる診断情報特徴量ＬＣｒｅｆ，ＲＣｒｅｆを算出する診断情報算出処理、試験対象のコイル５１から得られたコイルの状態を示す特徴量である状態情報特徴量ＬＣｔｅ，ＲＣｔｅを算出する状態情報算出処理、およびコイル試験処理を実行する。 The processing unit 8 is composed of, for example, a CPU, operates based on an operation program stored in the storage unit 9, controls processing for the switch 4, control processing for the impulse voltage generating unit 5, and the coil 51 to be tested. Diagnostic information calculation processing for calculating diagnostic information feature amounts LCref and RCref as a reference for testing, and state information feature amounts LCte and RCte, which are feature amounts indicating the state of the coil obtained from the coil 51 to be tested, are calculated. The state information calculation process and the coil test process are executed.

記憶部９は、ＲＯＭおよびＲＡＭなどの種々の半導体メモリや、ハードディスクおよびフラッシュメモリなどを用いたドライブ装置で構成されている。この記憶部９には、処理部８を構成するＣＰＵのための動作プログラム、コンデンサ回路３のキャパシタンスＣについての下限値Ｃｍｉｎおよび上限値Ｃｍａｘが予め記憶されている。また、記憶部９には、状態情報特徴量ＬＣｔｅ，ＲＣｔｅおよび診断情報特徴量ＬＣｒｅｆ，ＲＣｒｅｆを記憶するための特徴量空間が設けられている。この特徴量空間とは、後述するインダクタンスＬおよびキャパシタンスＣの乗算値ＬＣを横軸および縦軸のうちの一方の軸（本例では横軸）とし、レジスタンスＲおよびキャパシタンスＣの乗算値ＲＣを横軸および縦軸のうちの他方の軸（本例では縦軸）とする座標空間（直交座標空間）である。 The storage unit 9 is composed of various semiconductor memories such as ROM and RAM, and a drive device using a hard disk, flash memory, and the like. The storage unit 9 stores in advance an operation program for the CPU constituting the processing unit 8, a lower limit value Cmin and an upper limit value Cmax for the capacitance C of the capacitor circuit 3. Further, the storage unit 9 is provided with a feature amount space for storing the state information feature amounts LCte and RCte and the diagnostic information feature amounts LCref and RCref. In this feature space, the multiplication value LC of the inductance L and the capacitance C, which will be described later, is set to one of the horizontal axis and the vertical axis (horizontal axis in this example), and the multiplication value RC of the resistance R and the capacitance C is horizontal. It is a coordinate space (Cartesian coordinate space) as the other axis (vertical axis in this example) of the axis and the vertical axis.

また、このコイル試験装置１では、一対の接続端子２ａ，２ｂ間に試験対象のコイル５１が接続されたときには、このコイル５１とコンデンサ回路３とが並列接続状態となる。そして、このコイル５１およびコンデンサ回路３にオン状態のスイッチ４を介してインパルス電圧発生部５からインパルス電圧信号Ｖｐが供給された直後に、スイッチ４がオフ状態に制御されたときには、コイル５１およびコンデンサ回路３で構成される回路（コイル５１についての等価回路のインダクタおよびレジスタと、コンデンサ回路３のキャパシタとからなるＬＣＲ直列回路）に、インパルス電圧信号Ｖｐの供給に起因して、不図示の減衰振動電流が流れ、この減衰振動電流がコイル５１を流れることで、コイル５１の両端間（つまり、接続端子２ａ，２ｂ間）に減衰振動電圧ｖが発生する。また、この減衰振動電圧ｖについては、背景技術で説明した上記の特許文献１に開示されている等式（同公報中の式（１））と同じ下記の式（１）が成り立つ。
ＬＣ・ｄ^２ｖ／ｄｔ^２＋ＲＣ・ｄｖ／ｄｔ＋ｖ＝０・・・（１）
ここで、Ｌ，Ｒ，Ｃは、コイル５１およびコンデンサ回路３の直列回路についての等価回路定数であるが、上記したようにコイル５１に対して並列接続されるコンデンサ回路３のキャパシタンスＣの設計値（基準値）Ｃｒはコイル５１の浮遊容量に対して十分に大きな値に規定されているため、この浮遊容量は無視できる。このことから、このＬおよびＲは、コイル５１の等価回路定数であるインダクタンスＬおよびレジスタンスＲであり、このＣは、コンデンサ回路３のキャパシタンスＣである。 Further, in the coil test device 1, when the coil 51 to be tested is connected between the pair of connection terminals 2a and 2b, the coil 51 and the capacitor circuit 3 are connected in parallel. Then, when the switch 4 is controlled to the off state immediately after the impulse voltage signal Vp is supplied from the impulse voltage generation unit 5 to the coil 51 and the capacitor circuit 3 via the switch 4 in the on state, the coil 51 and the capacitor Attenuated vibration (not shown) due to the supply of impulse voltage signal Vp to the circuit composed of circuit 3 (LCR series circuit consisting of the inductor and register of the equivalent circuit for coil 51 and the capacitor of capacitor circuit 3). A current flows, and the attenuated vibration current flows through the coil 51, so that the attenuated vibration voltage v is generated between both ends of the coil 51 (that is, between the connection terminals 2a and 2b). Further, for this damped vibration voltage v, the following equation (1), which is the same as the equation (equation (1) in the same publication) disclosed in Patent Document 1 described in the background art, holds.
LC · d ² v / dt ² + RC · dv / dt + v = 0 ・・・ (1)
Here, L, R, and C are equivalent circuit constants for the series circuit of the coil 51 and the capacitor circuit 3, but as described above, the design value of the capacitance C of the capacitor circuit 3 connected in parallel with the coil 51. (Reference value) Since Cr is defined as a value sufficiently larger than the stray capacitance of the coil 51, this stray capacitance can be ignored. From this, these L and R are the inductance L and the resistance R which are the equivalent circuit constants of the coil 51, and this C is the capacitance C of the capacitor circuit 3.

また、上記の特許文献１に開示されている等式と同じ上記式（１）が成り立つことから、本例のコイル試験装置１の処理部８でも、動作プログラムの実行の際に、公知の手法（例えば、特許文献１に開示されている式（同公報中の式（３））と同じ式を使用する手法）を用いて、コイル５１およびコンデンサ回路３で構成される回路（上記のＬＣＲ直列回路）についての等価回路定数であるインダクタンスＬおよびキャパシタンスＣの乗算値ＬＣ、並びにレジスタンスＲおよびキャパシタンスＣの乗算値ＲＣ、つまり特徴量ＬＣ，ＲＣを算出することが可能となっている。 Further, since the same equation (1) as the equation disclosed in Patent Document 1 holds, the processing unit 8 of the coil test apparatus 1 of this example also has a known method when executing the operation program. (For example, a circuit composed of the coil 51 and the capacitor circuit 3 (the above-mentioned LCR series) by using the formula disclosed in Patent Document 1 (a method using the same formula as the formula (3) in the same publication). It is possible to calculate the multiplication value LC of the inductance L and the capacitance C, which is the equivalent circuit constant for the circuit), and the multiplication value RC of the resistance R and the capacitance C, that is, the feature quantities LC and RC.

出力部１０は、一例として、ＬＣＤなどのディスプレイ装置を有する表示部として構成されて、処理部８から出力されたコイル５１についての試験結果を画面に表示する。なお、出力部１０は、ディスプレイ装置に代えて、種々のインターフェース回路で構成してもよく、例えば、メディアインターフェース回路としてリムーバブルメディアに試験結果を記憶させたり、ネットワークインターフェース回路としてネットワーク経由で外部装置に試験結果を伝送させたりする構成を採用することもできる。 As an example, the output unit 10 is configured as a display unit having a display device such as an LCD, and displays the test result of the coil 51 output from the processing unit 8 on the screen. The output unit 10 may be configured by various interface circuits instead of the display device. For example, the output unit 10 may be stored in removable media as a media interface circuit, or may be stored in an external device via a network as a network interface circuit. It is also possible to adopt a configuration in which test results are transmitted.

操作部１１は、入力部の一例であって、例えば、押下されたときに試験開始指示を示す信号を処理部８に出力可能なスタートキーと、試験対象としてコイル試験装置１に接続されるコイル５１についての良品時のインダクタンスＬのばらつきの範囲およびレジスタンスＲのばらつきの範囲を特定するための範囲情報（設計値Ｌｒ，Ｒｒおよび許容差ΔＬ１，ΔＬ２，ΔＲ１，ΔＲ２、または下限値Ｌｍｉｎ，Ｒｍｉｎおよび上限値Ｌｍａｘ，Ｒｍａｘ）を入力するためのテンキー等を備えている。なお、入力部は、操作部１１に限定されず、例えば、外部装置とデータ通信可能な通信部として、この外部装置から通信部を介して処理部８に、上記の試験開始指示や、上記の範囲情報を入力する構成を採用することもできる。 The operation unit 11 is an example of an input unit, for example, a start key capable of outputting a signal indicating a test start instruction to the processing unit 8 when pressed, and a coil connected to the coil test device 1 as a test target. Range information (design values Lr, Rr and tolerances ΔL1, ΔL2, ΔR1, ΔR2, or lower limit values Lmin, Rmin and It is equipped with a numeric keypad or the like for inputting upper limit values (Lmax, Rmax). The input unit is not limited to the operation unit 11, and for example, as a communication unit capable of data communication with an external device, the above-mentioned test start instruction and the above-mentioned test start instruction and the above-mentioned test start instruction to the processing unit 8 from this external device via the communication unit. It is also possible to adopt a configuration in which range information is input.

次に、コイル試験装置１を用いたコイル５１の試験方法について、コイル試験装置１の動作と共に説明する。なお、試験対象のコイル５１についてのインダクタンスＬおよびレジスタンスＲの各下限値Ｌｍｉｎ，Ｒｍｉｎおよび各上限値Ｌｍａｘ，Ｒｍａｘを操作部１１から入力する例を挙げて説明する。 Next, the test method of the coil 51 using the coil test device 1 will be described together with the operation of the coil test device 1. An example in which the lower limit values Lmin and Rmin and the upper limit values Lmax and Rmax of the inductance L and the resistance R of the coil 51 to be tested are input from the operation unit 11 will be described.

最初に、試験対象としてコイル５１ａを試験する場合について説明する。まず、試験する者（以下、試験者ともいう）は、コイル５１ａをコイル試験装置１の一対の接続端子２ａ，２ｂ間に接続する。 First, a case where the coil 51a is tested as a test target will be described. First, the person to be tested (hereinafter, also referred to as the tester) connects the coil 51a between the pair of connection terminals 2a and 2b of the coil test device 1.

次いで、試験者は、操作部１１を操作することにより、試験対象であるコイル５１についてのインダクタンスＬおよびレジスタンスＲの各下限値Ｌｍｉｎ，Ｒｍｉｎおよび各上限値Ｌｍａｘ，Ｒｍａｘ（この例では、コイル５１ａについてのインダクタンスＬａおよびレジスタンスＲａの各下限値Ｌａｍｉｎ，Ｒａｍｉｎおよび各上限値Ｌａｍａｘ，Ｒａｍａｘ）を処理部８に入力する。処理部８は、入力した各下限値Ｌｍｉｎ，Ｒｍｉｎおよび各上限値Ｌｍａｘ，Ｒｍａｘ（この例では、各下限値Ｌａｍｉｎ，Ｒａｍｉｎおよび各上限値Ｌａｍａｘ，Ｒａｍａｘ）を記憶部９に記憶させる。 Next, by operating the operation unit 11, the tester operates the lower limit values Lmin and Rmin of the inductance L and the resistance R of the coil 51 to be tested and the upper limit values Lmax and Rmax (in this example, the coil 51a). The lower limit values Lamin and Ramin and the upper limit values Lamax and Ramax of the inductance La and the resistance Ra of the above are input to the processing unit 8. The processing unit 8 stores the input lower limit values Lmin and Rmin and the upper limit values Lmax and Rmax (in this example, the lower limit values Lamin and Ramin and the upper limit values Lamax and Ramax) in the storage unit 9.

続いて、処理部８は、診断情報算出処理を実行する。この診断情報算出処理では、処理部８は、記憶部９に記憶されているインダクタンスＬおよびレジスタンスＲについての各下限値Ｌｍｉｎ，Ｒｍｉｎおよび各上限値Ｌｍａｘ，Ｒｍａｘと、キャパシタンスＣについての下限値Ｃｍｉｎおよび上限値Ｃｍａｘとに基づいて、診断情報特徴量ＬＣｒｅｆ，ＲＣｒｅｆを算出して記憶部９の特徴量空間に記憶させる。 Subsequently, the processing unit 8 executes the diagnostic information calculation process. In this diagnostic information calculation process, the processing unit 8 has the lower limit values Lmin and Rmin and the upper limit values Lmax and Rmax for the inductance L and the resistance R stored in the storage unit 9, and the lower limit values Cmin and the lower limit value Cmin for the capacitance C. Based on the upper limit value Cmax, the diagnostic information feature amounts LCref and RCref are calculated and stored in the feature amount space of the storage unit 9.

具体的には、処理部８は、インダクタンスＬの下限値ＬｍｉｎとキャパシタンスＣの下限値Ｃｍｉｎとの乗算値ＬＣｒｅｆ１（＝Ｌｍｉｎ×Ｃｍｉｎ）、およびレジスタンスＲの下限値ＲｍｉｎとキャパシタンスＣの下限値Ｃｍｉｎとの乗算値ＲＣｒｅｆ１（＝Ｒｍｉｎ×Ｃｍｉｎ）を算出して、これらを診断情報特徴量ＬＣｒｅｆ，ＲＣｒｅｆの１つである第１診断情報特徴量ＬＣｒｅｆ１，ＲＣｒｅｆ１として記憶部９に記憶させる。また、処理部８は、インダクタンスＬの上限値ＬｍａｘとキャパシタンスＣの上限値Ｃｍａｘとの乗算値ＬＣｒｅｆ２（＝Ｌｍａｘ×Ｃｍａｘ）、およびレジスタンスＲの上限値ＲｍａｘとキャパシタンスＣの上限値Ｃｍａｘとの乗算値ＲＣｒｅｆ２（＝Ｒｍａｘ×Ｃｍａｘ）を算出して、これらを診断情報特徴量ＬＣｒｅｆ，ＲＣｒｅｆの他の１つである第２診断情報特徴量ＬＣｒｅｆ２，ＲＣｒｅｆ２として記憶部９に記憶させる。これにより、診断情報算出処理が完了する。 Specifically, the processing unit 8 sets the multiplication value LCref1 (= Lmin × Cmin) of the lower limit value Lmin of the inductance L and the lower limit value Cmin of the capacitance C, and the lower limit value Rmin of the resistance R and the lower limit value Cmin of the capacitance C. The multiplication value RCref1 (= Rmin × Cmin) of is calculated, and these are stored in the storage unit 9 as the first diagnostic information feature amounts LCref1 and RCref1, which are one of the diagnostic information feature amounts LCref and RCref. Further, the processing unit 8 has a multiplication value LCref2 (= Lmax × Cmax) of the upper limit value Lmax of the inductance L and the upper limit value Cmax of the capacitance C, and a multiplication value of the upper limit value Rmax of the resistance R and the upper limit value Cmax of the capacitance C. RCref2 (= Rmax × Cmax) is calculated, and these are stored in the storage unit 9 as the second diagnostic information feature amounts LCref2 and RCref2, which are other ones of the diagnostic information feature amounts LCref and RCref. This completes the diagnostic information calculation process.

次いで、操作部１１に対する操作が行われて（スタートボタンが操作されて）、試験開始指示を示す信号が処理部８に出力されると、処理部８は、この信号の入力を検出して、状態情報算出処理を実行し、次いでコイル試験処理を実行する。 Next, when an operation on the operation unit 11 is performed (the start button is operated) and a signal indicating a test start instruction is output to the processing unit 8, the processing unit 8 detects the input of this signal and detects the input of this signal. The state information calculation process is executed, and then the coil test process is executed.

この状態情報算出処理では、処理部８は、まず、スイッチ４に対する制御を実行して、オン状態に移行させる。次いで、処理部８は、インパルス電圧発生部５に対して出力開始指示を出力してインパルス電圧信号Ｖｐを出力させると共に、インパルス電圧信号Ｖｐの出力が完了した直後にスイッチ４に対する制御を実行してオフ状態に移行させる。これにより、コイル５１の両端間（接続端子２ａ，２ｂ間）には、インパルス電圧信号Ｖｐの印加に起因して、コイル５１とコンデンサ回路３とで形成される直列共振回路に基づく減衰振動電圧ｖが発生する。 In this state information calculation process, the processing unit 8 first executes control for the switch 4 to shift to the on state. Next, the processing unit 8 outputs an output start instruction to the impulse voltage generation unit 5 to output the impulse voltage signal Vp, and immediately after the output of the impulse voltage signal Vp is completed, controls the switch 4. Move to the off state. As a result, the damped vibration voltage v based on the series resonance circuit formed by the coil 51 and the capacitor circuit 3 due to the application of the impulse voltage signal Vp between both ends of the coil 51 (between the connection terminals 2a and 2b). Occurs.

測定部６は、この減衰振動電圧ｖについての信号波形を測定すると共に、検出信号Ｓａを生成してＡ／Ｄ変換部７に出力する。Ａ／Ｄ変換部７は、この検出信号Ｓａをサンプリングして波形データＤ１に変換し、処理部８に出力する。処理部８は、この波形データＤ１を取得（例えば、１周期分程度取得）して、記憶部９に記憶させる。 The measuring unit 6 measures the signal waveform of the damped vibration voltage v, generates a detection signal Sa, and outputs the detection signal Sa to the A / D conversion unit 7. The A / D conversion unit 7 samples the detection signal Sa, converts it into waveform data D1, and outputs it to the processing unit 8. The processing unit 8 acquires the waveform data D1 (for example, acquires about one cycle) and stores it in the storage unit 9.

続いて、処理部８は、記憶部９に記憶されている波形データＤ１に基づいて、コイル５１およびコンデンサ回路３の直列回路についての等価回路定数であるインダクタンスＬとキャパシタンスＣとの乗算値ＬＣ、およびレジスタンスＲとキャパシタンスＣとの乗算値ＲＣを算出して、これらを状態情報特徴量ＬＣｔｅ，ＲＣｔｅとして記憶部９の特徴量空間に記憶させる。これにより、状態情報算出処理が完了する。 Subsequently, the processing unit 8 obtains a product LC of the inductance L and the capacitance C, which are equivalent circuit constants for the series circuit of the coil 51 and the capacitor circuit 3, based on the waveform data D1 stored in the storage unit 9. And the multiplication value RC of the resistance R and the capacitance C is calculated, and these are stored in the feature quantity space of the storage unit 9 as the state information feature quantities LCte and RCte. As a result, the state information calculation process is completed.

次に実行するコイル試験処理では、処理部８は、記憶部９の特徴量空間に記憶されている診断情報特徴量ＬＣｒｅｆ，ＲＣｒｅｆ（この例では、第１診断情報特徴量ＬＣｒｅｆ１，ＲＣｒｅｆ１と、第２診断情報特徴量ＬＣｒｅｆ２，ＲＣｒｅｆ２の２つ）と、状態情報特徴量ＬＣｔｅ，ＲＣｔｅとに基づいて、試験対象としてコイル試験装置１に接続されているコイル５１ａの良否を試験（診断）する。 In the coil test process to be executed next, the processing unit 8 has the diagnostic information feature amounts LCref and RCref stored in the feature amount space of the storage unit 9 (in this example, the first diagnostic information feature amounts LCref1 and RCref1 and the first 2) Based on the two diagnostic information features LCref2 and RCref2) and the state information features LCte and RCte, the quality of the coil 51a connected to the coil test device 1 is tested (diagnosed) as a test target.

具体的には、処理部８は、図２に示すように、記憶部９に設けられた特徴量空間に記憶されている第１診断情報特徴量ＬＣｒｅｆ１，ＲＣｒｅｆ１と、第２診断情報特徴量ＬＣｒｅｆ２，ＲＣｒｅｆ２とで規定されるコイル５１ａについての判定エリアＡＲａ（同図に示すように、この乗算値ＬＣを横軸とし、かつ乗算値ＲＣを縦軸とする特徴量空間における座標値（ＬＣｒｅｆ１，０）を通って縦軸と平行な直線Ｓ１、座標値（ＬＣｒｅｆ２，０）を通って縦軸と平行な直線Ｓ２、座標値（０，ＲＣｒｅｆ１）を通って横軸と平行な直線Ｓ３、および座標値（０，ＲＣｒｅｆ２）を通って横軸と平行な直線Ｓ４で囲まれた方形のエリア（実線で囲まれて、内部に斜線が付されたエリア））内に状態情報特徴量ＬＣｔｅ，ＲＣｔｅが含まれているか否かを判別して、符号Ｐ１で示される状態情報特徴量ＬＣｔｅ，ＲＣｔｅのように判定エリアＡＲａ内に含まれているときには、コイル５１ａは良品状態にあると診断し、一方、符号Ｐ２で示される状態情報特徴量ＬＣｔｅ，ＲＣｔｅのように判定エリアＡＲａ内に含まれていないときには、コイル５１ａは不良状態（異常状態）にあると診断する。また、処理部８は、この診断（試験）結果を記憶部９に記憶させると共に、出力部１０に出力して画面に表示させる。これにより、コイル５１ａについてのコイル試験処理が完了する。 Specifically, as shown in FIG. 2, the processing unit 8 has the first diagnostic information feature amount LCref1 and RCref1 and the second diagnostic information feature amount LCref2 stored in the feature amount space provided in the storage unit 9. , RCref2, the determination area ARa for the coil 51a (as shown in the figure, the coordinate values (LCref1,0) in the feature amount space with the multiplication value LC as the horizontal axis and the multiplication value RC as the vertical axis. ), A straight line S1 parallel to the vertical axis, a straight line S2 parallel to the vertical axis through the coordinate values (LCref2, 0), a straight line S3 parallel to the horizontal axis through the coordinate values (0, RCref1), and coordinates. The state information feature quantities LCte and RCte are in the square area (the area surrounded by the solid line and shaded inside) surrounded by the straight line S4 parallel to the horizontal axis through the value (0, RCref2). It is determined whether or not it is included, and when it is included in the determination area ARa as in the state information feature quantities LCte and RCte indicated by reference numeral P1, the coil 51a is diagnosed as being in a non-defective state, while When the state information feature quantities LCte and RCte indicated by reference numeral P2 are not included in the determination area ARa, the coil 51a is diagnosed as being in a defective state (abnormal state). Further, the processing unit 8 stores the diagnosis (test) result in the storage unit 9, outputs it to the output unit 10, and displays it on the screen. This completes the coil test process for the coil 51a.

次に、新たなコイル５１ｂを試験対象として試験する場合には、上記したコイル５１ａのときと同様にして、試験者は、まず、コイル５１ｂをコイル試験装置１の一対の接続端子２ａ，２ｂ間に接続し、次いで、操作部１１を操作することにより、試験対象であるコイル５１ｂについてのインダクタンスＬｂおよびレジスタンスＲｂの各下限値Ｌｂｍｉｎ，Ｒｂｍｉｎおよび各上限値Ｌｂｍａｘ，Ｒｂｍａｘ）を処理部８に入力し、続いて、操作部１１を操作することにより、試験開始指示を示す信号を処理部８に入力する。 Next, when testing a new coil 51b as a test target, the tester first puts the coil 51b between the pair of connection terminals 2a and 2b of the coil test device 1 in the same manner as in the case of the coil 51a described above. Then, by operating the operation unit 11, the lower limit values Lbmin, Rbmin and the upper limit values Lbmax, Rbmax of the inductance Lb and the resistance Rb of the coil 51b to be tested are input to the processing unit 8. Subsequently, by operating the operation unit 11, a signal indicating a test start instruction is input to the processing unit 8.

これにより、処理部８が、診断情報算出処理を実行して、記憶部９に記憶されている各下限値Ｌｂｍｉｎ，Ｒｂｍｉｎおよび各上限値Ｌｂｍａｘ，Ｒｂｍａｘと、下限値Ｃｍｉｎおよび上限値Ｃｍａｘとに基づいて、新たな診断情報特徴量ＬＣｒｅｆ，ＲＣｒｅｆを算出して記憶部９の特徴量空間に記憶させる。 As a result, the processing unit 8 executes the diagnostic information calculation process, and is based on the lower limit values Lbmin, Rbmin and the upper limit values Lbmax, Rbmax stored in the storage unit 9, and the lower limit value Cmin and the upper limit value Cmax. Then, new diagnostic information feature quantities LCref and RCref are calculated and stored in the feature quantity space of the storage unit 9.

この場合、処理部８は、インダクタンスＬｂの下限値ＬｂｍｉｎとキャパシタンスＣの下限値Ｃｍｉｎとの乗算値ＬＣｒｅｆ１（＝Ｌｂｍｉｎ×Ｃｍｉｎ）、およびレジスタンスＲｂの下限値ＲｂｍｉｎとキャパシタンスＣの下限値Ｃｍｉｎとの乗算値ＲＣｒｅｆ１（＝Ｒｂｍｉｎ×Ｃｍｉｎ）を新たに算出して、これらを新たな第１診断情報特徴量ＬＣｒｅｆ１，ＲＣｒｅｆ１として記憶部９に記憶させる。また、処理部８は、インダクタンスＬｂの上限値ＬｂｍａｘとキャパシタンスＣの上限値Ｃｍａｘとの乗算値ＬＣｒｅｆ２（＝Ｌｂｍａｘ×Ｃｍａｘ）、およびレジスタンスＲｂの上限値ＲｂｍａｘとキャパシタンスＣの上限値Ｃｍａｘとの乗算値ＲＣｒｅｆ２（＝Ｒｂｍａｘ×Ｃｍａｘ）を新たに算出して、これらを新たな第２診断情報特徴量ＬＣｒｅｆ２，ＲＣｒｅｆ２として記憶部９に記憶させる。 In this case, the processing unit 8 multiplies the lower limit value Lbmin of the inductance Lb and the lower limit value Cmin of the capacitance C by the multiplication value LCref1 (= Lbmin × Cmin), and the lower limit value Rbmin of the resistance Rb and the lower limit value Cmin of the capacitance C. The values RCref1 (= Rbmin × Cmin) are newly calculated, and these are stored in the storage unit 9 as new first diagnostic information feature quantities LCref1 and RCref1. Further, the processing unit 8 has a multiplication value LCref2 (= Lbmax × Cmax) between the upper limit value Lbmax of the inductance Lb and the upper limit value Cmax of the capacitance C, and a multiplication value of the upper limit value Rbmax of the resistance Rb and the upper limit value Cmax of the capacitance C. RCref2 (= Rbmax × Cmax) is newly calculated, and these are stored in the storage unit 9 as new second diagnostic information feature quantities LCref2 and RCref2.

また、処理部８は、状態情報算出処理を実行して、新たな状態情報特徴量ＬＣｔｅ，ＲＣｔｅを算出して記憶部９に記憶させる。この場合、処理部８は、インパルス電圧信号Ｖｐの印加に起因して、コイル５１ｂとコンデンサ回路３とで形成される直列共振回路に基づく減衰振動電圧ｖについての波形データＤ１から、コイル５１ｂおよびコンデンサ回路３の直列回路についての等価回路定数であるインダクタンスＬとキャパシタンスＣとの乗算値ＬＣ、およびレジスタンスＲとキャパシタンスＣとの乗算値ＲＣを新たに算出して、これらを新たな状態情報特徴量ＬＣｔｅ，ＲＣｔｅとして記憶部９の特徴量空間に記憶させる。 Further, the processing unit 8 executes the state information calculation process, calculates new state information feature quantities LCte and RCte, and stores them in the storage unit 9. In this case, the processing unit 8 receives the coil 51b and the capacitor from the waveform data D1 about the attenuated vibration voltage v based on the series resonance circuit formed by the coil 51b and the capacitor circuit 3 due to the application of the impulse voltage signal Vp. The multiplication value LC of the inductance L and the capacitance C, which is the equivalent circuit constant for the series circuit of the circuit 3, and the multiplication value RC of the resistance R and the capacitance C are newly calculated, and these are newly calculated as the state information feature amount LCte. , RCte is stored in the feature amount space of the storage unit 9.

また、処理部８は、コイル試験処理を実行して、記憶部９の特徴量空間に記憶されている新たな診断情報特徴量ＬＣｒｅｆ，ＲＣｒｅｆ（新たな第１診断情報特徴量ＬＣｒｅｆ１，ＲＣｒｅｆ１と、新たな第２診断情報特徴量ＬＣｒｅｆ２，ＲＣｒｅｆ２の２つ）と、新たな状態情報特徴量ＬＣｔｅ，ＲＣｔｅとに基づいて、試験対象としてコイル試験装置１に接続されているコイル５１ｂの良否を試験（診断）する。 Further, the processing unit 8 executes the coil test process, and the new diagnostic information feature amounts LCref, RCref (new first diagnostic information feature amounts LCref1, RCref1) stored in the feature amount space of the storage unit 9 Based on the new second diagnostic information feature amounts LCref2 and RCref2) and the new state information feature amounts LCte and RCte, the quality of the coil 51b connected to the coil test device 1 is tested (as a test target). Diagnose.

この場合、図２に示すように、記憶部９に設けられた特徴量空間に記憶されている新たな第１診断情報特徴量ＬＣｒｅｆ１，ＲＣｒｅｆ１と、新たな第２診断情報特徴量ＬＣｒｅｆ２，ＲＣｒｅｆ２とにより、判定エリアＡＲａと同様にして、コイル５１ｂについての新たな判定エリアＡＲｂ（破線で囲まれて、内部に斜線が付された方形のエリア）が規定される。処理部８は、コイル５１ｂについての新たな状態情報特徴量ＬＣｔｅ，ＲＣｔｅがこの判定エリアＡＲｂ内に含まれているか否かを判別して、符号Ｐ３で示される状態情報特徴量ＬＣｔｅ，ＲＣｔｅのように判定エリアＡＲｂ内に含まれているときには、コイル５１ｂは良品状態にあると診断し、一方、符号Ｐ４で示される状態情報特徴量ＬＣｔｅ，ＲＣｔｅのように判定エリアＡＲｂ内に含まれていないときには、コイル５１ｂは不良状態（異常状態）にあると診断する。また、処理部８は、この診断（試験）結果を記憶部９に記憶させると共に、出力部１０に出力して画面に表示させる。これにより、コイル５１ｂについてのコイル試験処理が完了する。 In this case, as shown in FIG. 2, the new first diagnostic information feature amounts LCref1 and RCref1 stored in the feature amount space provided in the storage unit 9, and the new second diagnostic information feature amounts LCref2 and RCref2. As a result, a new determination area ARb (a square area surrounded by a broken line and shaded inside) for the coil 51b is defined in the same manner as the determination area ARa. The processing unit 8 determines whether or not new state information feature amounts LCte and RCte for the coil 51b are included in the determination area ARb, and is like the state information feature amounts LCte and RCte indicated by reference numeral P3. When the coil 51b is included in the determination area ARb, it is diagnosed that the coil 51b is in a non-defective state, while when it is not included in the determination area ARb like the state information feature quantities LCte and RCte indicated by reference numeral P4. , The coil 51b is diagnosed as being in a defective state (abnormal state). Further, the processing unit 8 stores the diagnosis (test) result in the storage unit 9, outputs it to the output unit 10, and displays it on the screen. This completes the coil test process for the coil 51b.

なお、上記のコイル試験装置１では、試験対象のコイル５１についてのインダクタンスＬおよびレジスタンスＲの各下限値Ｌｍｉｎ，Ｒｍｉｎおよび各上限値Ｌｍａｘ，Ｒｍａｘを操作部１１から入力する構成を採用して、処理部８が、コイル５１についての判定エリアＡＲａ，ＡＲｂ（以下、特に区別しないときには、判定エリアＡＲともいう）を規定するための診断情報特徴量ＬＣｒｅｆ，ＲＣｒｅｆ（第１診断情報特徴量ＬＣｒｅｆ１，ＲＣｒｅｆ１、および第２診断情報特徴量ＬＣｒｅｆ２，ＲＣｒｅｆ２）を、診断情報算出処理においてこの各下限値Ｌｍｉｎ，Ｒｍｉｎおよび各上限値Ｌｍａｘ，Ｒｍａｘに基づいて算出しているが、この構成に限定されない。 The coil test device 1 adopts a configuration in which the lower limit values Lmin and Rmin and the upper limit values Lmax and Rmax of the inductance L and the resistance R of the coil 51 to be tested are input from the operation unit 11 for processing. The diagnostic information feature amounts LCref, RCref (first diagnostic information feature amounts LCref1, RCref1) for defining the determination areas ARa, ARb (hereinafter, also referred to as the determination area AR when not particularly distinguished) for the coil 51 by the unit 8. And the second diagnostic information feature amount LCref2, RCref2) are calculated based on the lower limit values Lmin and Rmin and the upper limit values Lmax and Rmax in the diagnostic information calculation process, but the present invention is not limited to this configuration.

例えば、試験対象のコイル５１についてのインダクタンスＬおよびレジスタンスＲの各設計値Ｌｒ，Ｒｒおよび許容差ΔＬ１，ΔＬ２，ΔＲ１，ΔＲ２を操作部１１から入力する構成を採用することもできる。この構成のコイル試験装置１では、処理部８は、インダクタンスＬについての設計値Ｌｒおよび許容差ΔＬ１，ΔＬ２に基づいて、インダクタンス許容範囲の下限値Ｌｍｉｎ（＝Ｌｒ−ΔＬ１）および上限値Ｌｍａｘ（＝Ｌｒ＋ΔＬ２）を算出すると共に、レジスタンスＲについての設計値Ｒｒおよび許容差ΔＲ１，ΔＲ２に基づいて、レジスタンス許容範囲の下限値Ｒｍｉｎ（＝Ｒｒ−ΔＲ１）および上限値Ｒｍａｘ（＝Ｒｒ＋ΔＲ２）を算出する。そして、処理部８は、コイル５１についての判定エリアＡＲを規定するための診断情報特徴量ＬＣｒｅｆ，ＲＣｒｅｆ（第１診断情報特徴量ＬＣｒｅｆ１，ＲＣｒｅｆ１、および第２診断情報特徴量ＬＣｒｅｆ２，ＲＣｒｅｆ２）を、このようにして算出した各下限値Ｌｍｉｎ，Ｒｍｉｎおよび各上限値Ｌｍａｘ，Ｒｍａｘに基づいて算出する。よって、この構成においても、試験対象のコイル５１についてのインダクタンスＬおよびレジスタンスＲの各下限値Ｌｍｉｎ，Ｒｍｉｎおよび各上限値Ｌｍａｘ，Ｒｍａｘを操作部１１から入力する構成と同様にして、コイル５１の良否を試験（診断）することが可能である。 For example, it is possible to adopt a configuration in which the design values Lr, Rr and the tolerances ΔL1, ΔL2, ΔR1, ΔR2 of the inductance L and the resistance R of the coil 51 to be tested are input from the operation unit 11. In the coil test device 1 having this configuration, the processing unit 8 has a lower limit value Lmin (= Lr−ΔL1) and an upper limit value Lmax (=) of the inductance allowable range based on the design value Lr and the tolerance ΔL1 and ΔL2 for the inductance L. Lr + ΔL2) is calculated, and the lower limit value Rmin (= Rr−ΔR1) and the upper limit value Rmax (= Rr + ΔR2) of the resistance tolerance range are calculated based on the design value Rr and the tolerance ΔR1 and ΔR2 for the resistance R. Then, the processing unit 8 sets the diagnostic information feature amounts LCref and RCref (first diagnostic information feature amounts LCref1, RCref1 and second diagnostic information feature amounts LCref2, RCref2) for defining the determination area AR for the coil 51. It is calculated based on the lower limit values Lmin and Rmin and the upper limit values Lmax and Rmax calculated in this way. Therefore, also in this configuration, the quality of the coil 51 is the same as the configuration in which the lower limit values Lmin and Rmin and the upper limit values Lmax and Rmax of the inductance L and the resistance R of the coil 51 to be tested are input from the operation unit 11. Can be tested (diagnosed).

このように、このコイル試験装置１では、診断情報特徴量ＬＣｒｅｆ，ＲＣｒｅｆ（本例では、第１診断情報特徴量ＬＣｒｅｆ１，ＲＣｒｅｆ１および第２診断情報特徴量ＬＣｒｅｆ２，ＲＣｒｅｆ２）を算出するためのコイル５１についてのインダクタンスＬおよびレジスタンスＲのそれぞれについての各下限値Ｌｍｉｎ，Ｒｍｉｎおよび各上限値Ｌｍａｘ，Ｒｍａｘと、診断情報特徴量ＬＣｒｅｆ，ＲＣｒｅｆを算出するためのコイル５１についてのインダクタンスＬおよびレジスタンスＲのそれぞれについての設計値（基準値）Ｌｒ，Ｒｒおよび許容差ΔＬ１，ΔＬ２，ΔＲ１，ΔＲ２のいずれか一方または双方を処理部８に入力するための操作部１１などの入力部を備えて、各下限値Ｌｍｉｎ，Ｒｍｉｎおよび各上限値Ｌｍａｘ，Ｒｍａｘと、設計値（基準値）Ｌｒ，Ｒｒおよび許容差ΔＬ１，ΔＬ２，ΔＲ１，ΔＲ２とのいずれか一方または双方を取得する。 Thus, in this coil test apparatus 1, the diagnostic information feature amount LCref, RCref (in this example, the first diagnostic information feature amount LCref1, RCref1 and second diagnostic information feature amount LCref2, RCref2) coil for calculating the The lower limit values Lmin and Rmin and the upper limit values Lmax and Rmax for each of the inductance L and the resistance R for the 51, and the inductance L and the resistance R for the coil 51 for calculating the diagnostic information feature quantities LCref and RCref, respectively. Each lower limit value is provided with an input unit such as an operation unit 11 for inputting one or both of the design values (reference values) Lr, Rr and the tolerance ΔL1, ΔL2, ΔR1, ΔR2 to the processing unit 8. Lmin, Rmin, each upper limit value Lmax, Rmax, and one or both of the design values (reference values) Lr, Rr and the tolerance ΔL1, ΔL2, ΔR1, ΔR2 are acquired.

したがって、このコイル試験装置１によれば、試験対象のコイル５１を試験する際に、正常状態の学習用のコイルを用意する必要が無く、このコイル５１についての上記の各値（下限値Ｌｍｉｎ，Ｒｍｉｎなど）を入力するだけでよいため、手間をかけずに試験対象のコイル５１の良否（良品状態であるか不良状態であるか）を試験することができる。 Therefore, according to the coil test device 1, when testing the coil 51 to be tested, it is not necessary to prepare a coil for learning in a normal state, and each of the above values (lower limit value Lmin, Since it is only necessary to input (Rmin, etc.), the quality of the coil 51 to be tested (whether it is in a good product state or a defective state) can be tested without any trouble.

また、このコイル試験装置１では、処理部８が、操作部１１などの入力部からインダクタンスＬおよびレジスタンスＲのそれぞれについての各下限値Ｌｍｉｎ，Ｒｍｉｎおよび各上限値Ｌｍａｘ，Ｒｍａｘを入力したときには、これらの各値と既知のキャパシタンスＣ（キャパシタンスＣｍａｘ，Ｃｍｉｎ）とに基づいて診断情報特徴量ＬＣｒｅｆ，ＲＣｒｅｆを算出する診断情報算出処理を実行し、また入力部からインダクタンスＬおよびレジスタンスＲのそれぞれについての設計値（基準値）Ｌｒ，Ｒｒおよび許容差ΔＬ１，ΔＬ２，ΔＲ１，ΔＲ２を入力したときには、これらの各値と既知のキャパシタンスＣに基づいて診断情報特徴量ＬＣｒｅｆ，ＲＣｒｅｆを算出する診断情報算出処理を実行する。 Further, in the coil test apparatus 1, when the processing unit 8 inputs the lower limit values Lmin and Rmin and the upper limit values Lmax and Rmax for each of the inductance L and the resistance R from the input unit such as the operation unit 11, these Diagnostic information calculation processing for calculating the diagnostic information feature quantities LCref and RCref based on each value of and the known capacitance C (capacitance Cmax, Cmin) is executed, and the design for each of the inductance L and the resistance R is performed from the input unit. When the values (reference values) Lr, Rr and the tolerance ΔL1, ΔL2, ΔR1, ΔR2 are input, the diagnostic information calculation process for calculating the diagnostic information feature quantities LCref and RCref based on each of these values and the known capacitance C is performed. Execute.

したがって、このコイル試験装置１によれば、処理部８によって診断情報特徴量ＬＣｒｅｆ，ＲＣｒｅｆが自動的に算出されるため、試験者が自ら診断情報特徴量ＬＣｒｅｆ，ＲＣｒｅｆを算出する構成と比較して、一層手間をかけずに試験対象のコイル５１の良否を試験することができる。 Therefore, according to this coil test apparatus 1, the diagnostic information feature amounts LCref and RCref are automatically calculated by the processing unit 8, so that the tester compares with the configuration in which the diagnostic information feature amounts LCref and RCref are calculated by himself / herself. The quality of the coil 51 to be tested can be tested with less effort.

なお、上記のコイル試験装置１では、処理部８が診断情報特徴量ＬＣｒｅｆ，ＲＣｒｅｆを自動的に算出する好ましい構成を採用しているが、試験者が自ら診断情報特徴量ＬＣｒｅｆ，ＲＣｒｅｆを算出すると共に、算出した診断情報特徴量ＬＣｒｅｆ，ＲＣｒｅｆ（つまり、既知の診断情報特徴量ＬＣｒｅｆ，ＲＣｒｅｆ）を操作部１１などの入力部を介して処理部８に入力する構成を採用することもできる。 The coil test apparatus 1 described above employs a preferable configuration in which the processing unit 8 automatically calculates the diagnostic information feature LCref and RCref, but the tester calculates the diagnostic information feature LCref and RCref by himself / herself. At the same time, it is also possible to adopt a configuration in which the calculated diagnostic information feature amounts LCref, RCref (that is, known diagnostic information feature amounts LCref, RCref) are input to the processing unit 8 via an input unit such as the operation unit 11.

また、上記のコイル試験装置１では、処理部８は、図２に示すように、特徴量空間において判定エリアＡＲを方形のエリアとして規定しているが、この構成に限定されず、例えば、図３に示すように、判定エリアＡＲを円形のエリアとして規定する構成を採用することもできる。この場合、処理部８は、一例として、診断情報特徴量ＬＣｒｅｆ，ＲＣｒｅｆとしての２つの第１診断情報特徴量ＬＣｒｅｆ１，ＲＣｒｅｆ１および第２診断情報特徴量ＬＣｒｅｆ２，ＲＣｒｅｆ２を結ぶ特徴量空間での不図示の線分を直径とする円を判定エリアＡＲとして規定することができる。そして、この構成においても、処理部８は、符号Ｐ１で示される状態情報特徴量ＬＣｔｅ，ＲＣｔｅのように判定エリアＡＲａ内に含まれていないコイル５１については不良状態にあると診断することができ、一方、符号Ｐ２で示される状態情報特徴量ＬＣｔｅ，ＲＣｔｅのように判定エリアＡＲａ内に含まれているコイル５１については良品状態にあると診断することができる。 Further, in the coil test apparatus 1 described above, as shown in FIG. 2, the processing unit 8 defines the determination area AR as a rectangular area in the feature amount space, but the present invention is not limited to this configuration, and for example, FIG. As shown in 3, it is also possible to adopt a configuration in which the determination area AR is defined as a circular area. In this case, as an example, the processing unit 8 is not shown in the feature amount space connecting the two first diagnostic information feature amounts LCref1, RCref1 and the second diagnostic information feature amounts LCref2, RCref2 as the diagnostic information feature amounts LCref and RCref. A circle whose diameter is the line segment of can be defined as the determination area AR. Further, even in this configuration, the processing unit 8 can diagnose that the coil 51 not included in the determination area ARa, such as the state information feature quantities LCte and RCte indicated by the reference numeral P1, is in a defective state. On the other hand, it can be diagnosed that the coil 51 included in the determination area ARa, such as the state information feature quantities LCte and RCte indicated by the reference numeral P2, is in a non-defective state.

また、上記のコイル試験装置１では、試験対象であるコイル５１が良品状態であるか不良状態であるかの診断（試験）結果を処理部８が出力部１０を構成する表示部の画面上に表示させる構成を採用しているが、図２，３に図示されている内容を表示部の画面上に画像として表示させる構成、つまり、乗算値ＬＣおよび乗算値ＲＣのうちの一方を縦軸とし、乗算値ＬＣおよび乗算値ＲＣのうちの他方を横軸とする特徴量空間を画面上に表示させ、かつこの特徴量空間上における算出した診断情報特徴量ＬＣｒｅｆ，ＲＣｒｅｆで規定される位置にコイル５１についての判定エリアＡＲを示すエリア画像（例えば、図２，３に示すようにエリアの外縁が実線や破線で表示され、かつこのエリア内に斜線が表示された画像）を表示させると共に、算出した状態情報特徴量ＬＣ，ＲＣ（ＬＣｔｅ，ＲＣｔｅ）で規定される位置に状態情報画像（例えば、図２，３に示すように白丸の画像）を表示させる構成を採用することもできる。この構成を採用することにより、試験者は、画面に表示されているこれらの画像に基づいて試験対象のコイル５１の良否を目視にて診断（試験）することができる。 Further, in the coil test device 1 described above, the processing unit 8 displays the diagnosis (test) result of whether the coil 51 to be tested is in a non-defective state or a defective state on the screen of the display unit constituting the output unit 10. Although the configuration for displaying is adopted, the configuration for displaying the contents shown in FIGS. 2 and 3 as an image on the screen of the display unit, that is, one of the multiplication value LC and the multiplication value RC is set as the vertical axis. , The feature amount space with the other of the multiplication value LC and the multiplication value RC as the horizontal axis is displayed on the screen, and the diagnostic information calculated on this feature amount space is coiled at the position specified by the feature amounts LCref and RCref. An area image showing the determination area AR for 51 (for example, an image in which the outer edge of the area is displayed as a solid line or a broken line as shown in FIGS. 2 and 3 and a diagonal line is displayed in this area) is displayed and calculated. It is also possible to adopt a configuration in which a state information image (for example, a white circle image as shown in FIGS. 2 and 3) is displayed at a position defined by the state information feature amounts LC and RC (LCte, RCte). By adopting this configuration, the tester can visually diagnose (test) the quality of the coil 51 to be tested based on these images displayed on the screen.

１コイル試験装置
３コンデンサ回路
５インパルス電圧発生部
６測定部
７Ａ／Ｄ変換部
８処理部
５１コイル
Ｃキャパシタンス
Ｄ１波形データ
ｆ振動周波数
Ｌインダクタンス
Ｒレジスタンス
ｖ減衰振動電圧
Ｖｐインパルス電圧信号 1 Coil test device 3 Capacitor circuit 5 Impulse voltage generator 6 Measuring unit 7 A / D conversion unit 8 Processing unit 51 Coil C Capacitance D1 Waveform data f Vibration frequency L Inductance R Resistance v Damped vibration voltage Vp Impulse voltage signal

Claims

A capacitor circuit having a known capacitance C connected in parallel to the coil to be tested, an impulse voltage generating unit that generates an impulse voltage signal and supplies the coil and the capacitor circuit, and the coil by supplying the impulse voltage signal. A measuring unit that measures the signal waveform of the attenuated vibration voltage generated between both ends, an A / D conversion unit that samples the signal waveform and converts it into waveform data indicating an instantaneous value of the signal waveform, and the attenuated vibration voltage. The inductance L of the coil as an equivalent circuit constant for the circuit composed of the coil and the capacitor circuit at the time of generation, the resistance R of the coil, and the inductance L and the capacitance C of the capacitance C of the capacitor circuit. The state information calculation process that calculates the multiplication value LC of the above, the resistance R, and the multiplication value RC of the capacitance C as the state information feature amount based on the waveform data, and the state information feature amounts LC and RC are diagnostic information feature amounts. A coil test apparatus including a processing unit that executes a coil test process for determining the quality of the coil as compared with LCref and RCref.
The upper and lower limits of the inductance L and the resistance R for calculating the diagnostic information feature LCref and RCref, and the inductance L and the resistance for calculating the diagnostic information feature LCref and RCref, respectively. A coil test apparatus including an input unit for inputting either a reference value or a tolerance for each of R to the processing unit.

When the processing unit inputs the upper limit value and the lower limit value for each of the inductance L and the resistance R from the input unit, the diagnostic information feature is based on the upper limit value, the lower limit value, and the capacitance C. The coil test apparatus according to claim 1, wherein the diagnostic information calculation process for calculating the quantities LCref and RCref is executed.

When the processing unit inputs the reference value and the tolerance for each of the inductance L and the resistance R from the input unit, the diagnostic information feature is based on the reference value, the tolerance and the capacitance C. The coil test apparatus according to claim 1, wherein the diagnostic information calculation process for calculating the quantities LCref and RCref is executed.

Equipped with a display
The processing unit has a feature space having one of the multiplication value LC and the multiplication value RC as the vertical axis and the other of the multiplication value LC and the multiplication value RC as the horizontal axis on the screen of the display unit. An area image showing the determination area for the coil is displayed at a position defined by the calculated diagnostic information feature amounts LCref and RCref on the feature amount space, and the calculated state information feature amounts LC and RC are displayed. The coil test apparatus according to claim 2 or 3, wherein a state information image is displayed at a position specified by.