JP6901294B2 - Ｘ線検査装置 - Google Patents

Description

本発明は、肉、魚、加工食品、医薬品等の被検査物に対してＸ線発生器で発生したＸ線を照射し、被検査物を透過したＸ線をＸ線検出器により検出することで、被検査物の異物の有無や欠陥等について検査するＸ線検査装置に関するものである。

例えば食品などの被検査物への異物の混入の有無を検出するために、従来からＸ線検査装置が用いられている。Ｘ線検査装置は、搬送される被検査物にＸ線を照射し、被検査物を透過したＸ線の透過量に応じて得られるＸ線画像から被検査物中の異物の有無や欠陥等について検査している。

従来のこの種のＸ線検査装置にあっては、特許文献１に記載されたものが知られている。特許文献１に記載のものは、コンベア上の搬送路を幅方向に跨ぐようにＸ線発生器およびＸ線検出器を対向して配置し、Ｘ線発生器からコンベア上の被検査物に対してＸ線を横向きに照射している。

特開２００１−２７２３５７号公報

ここで、特許文献１に記載されているような横照射型のＸ線検査装置として、コンベアを自機に備えず、生産設備のコンベアに組み込んで用いられる組み込み型のＸ線検査装置があり、この組み込み型のＸ線検査装置が用いられることが多くなっている。

組み込み型のＸ線検査装置は、生産設備への設置時に設置作業者によってコンベアに対してＸ線発生器およびＸ線検出器が最適位置に調整された上で、製品検査時に検査作業者によって用いられる。Ｘ線発生器およびＸ線検出器の最適位置とは、Ｘ線画像にコンベアが映り込まず、かつ、被検査物の全体が映るような位置である。Ｘ線発生器およびＸ線検出器を最適位置に配置することで、Ｘ線画像にコンベアが映り込まなくなり、誤検出等により検査精度が低下してしまうことが防止される。

しかしながら、従来のＸ線検査装置にあっては、Ｘ線発生器およびＸ線検出器を最適位置に配置するためには、Ｘ線検出器の各検出素子から得た画素単位で高精度に位置調整を行う必要があり、最適位置に完全に調整したり常に最適位置を保つようにすることは容易ではないため、誤検出要因を完全に排除できず、検査精度を低下させてしまうおそれがあった。

したがって、Ｘ線発生器およびＸ線検出器が最適位置から外れている場合であっても、Ｘ線画像にコンベアが映り込むことに起因して検査精度が低下しないようにすることが求められていた。

そこで、本発明は、前述のような従来の問題を解決するためになされたもので、Ｘ線画像にコンベアが映り込むことに起因して検査精度が低下することを防止できるＸ線検査装置を提供することを目的とする。

本発明に係るＸ線検査装置は、Ｘ線を発生するＸ線発生器と、Ｘ線を検出するＸ線検出器と、を備え、被検査物が水平方向に通過する搬送路を形成するコンベアを挟んで、前記Ｘ線検出器が前記コンベアの搬送面からの高さ方向を検出するように、前記Ｘ線発生器と前記Ｘ線検出器とが配置され、前記Ｘ線検出器が検出したＸ線に基づくＸ線画像に前記被検査物が映る検査領域を処理して前記被検査物を検査するＸ線検査装置であって、前記Ｘ線画像の内の前記被検査物が含まれていないＸ線画像を基に、画像を構成する画素の輝度と所定の輝度閾値とを比較することにより、前記Ｘ線画像の底辺から所望の高さの画素を前記検査領域と非検査領域との境界として、前記Ｘ線画像の底辺から前記境界までを前記非検査領域に設定する非検査領域設定部を備え、前記非検査領域設定部によって画素単位で設定される前記境界により設定された前記非検査領域を前記Ｘ線画像から除いた前記検査領域を対象に前記被検査物を検査することを特徴とする。

この構成により、Ｘ線画像における非検査領域を輝度閾値に基づいて自動的に設定でき、検査領域のみを対象に検査を行うことができる。このため、Ｘ線画像にコンベア２が映り込むことによる誤検出を防止できる。この結果、Ｘ線画像にコンベアが映り込むことに起因して検査精度が低下することを防止できる。

本発明に係るＸ線検査装置は、前記輝度閾値の設定操作を行う設定操作部を備えることを特徴とする。

この構成により、ユーザが設定操作部で設定操作を行うことで輝度閾値を所望の値に設定できる。

本発明に係るＸ線検査装置において、前記非検査領域設定部は、前記Ｘ線画像の上端部と下端部の輝度値に基づいて、前記輝度閾値を求め、前記非検査領域を設定することを特徴とする。

この構成により、例えば、制御部によりＸ線画像の上端部と下端部の輝度値の中間の輝度値を輝度閾値に設定するようにしておくことで、コンベアの映り込んだ領域だけを精度よく非検査領域に設定することができる。

本発明に係るＸ線検査装置は、画像を表示する表示部を備え、前記非検査領域設定部は、前記Ｘ線画像と前記輝度閾値との比較結果を前記表示部に表示することを特徴とする。

この構成により、比較結果を表示部に表示することで、輝度閾値が適切な値であり非検査領域が正しく設定されていることを、ユーザが確認することができる。

本発明は、Ｘ線画像にコンベアが映り込むことに起因して検査精度が低下することを防止できるＸ線検査装置を提供することができる。

本発明の一実施の形態に係るＸ線検査装置の斜視図である。 本発明の一実施の形態に係るＸ線検査装置の搬送方向に直交する断面における断面図である。 本発明の一実施の形態に係るＸ線検査装置の検査モードにおける動作を説明するフローチャートである。 本発明の一実施の形態に係るＸ線検査装置の、検査モードにおける表示部の表示内容を示す図である。 本発明の一実施の形態に係るＸ線検査装置のメンテナンスモードにおける動作を説明するフローチャートである。 本発明の一実施の形態に係るＸ線検査装置の、メンテナンスモードにおける表示部の表示内容を示す図である。

以下、本発明の一実施の形態について、図面を参照して説明する。まず構成について説明する。

図１において、Ｘ線検査装置１は筐体４を備えている。筐体４は、被検査物Ｗを搬送するコンベア２に組み込まれている。コンベア２の上部空間は、被検査物Ｗが水平方向に通過する搬送路３を形成している。本実施の形態は、被検査物Ｗが飲料ボトルである場合を例示している。

コンベア２は、被検査物Ｗの生産設備の一部であり、Ｘ線検査装置１と別体に構成されている。本実施の形態は、コンベア２がトップチェーンコンベアからなる場合を例示している。トップチェーンコンベアは、無端状のチェーンに複数のプレートを設けたものであり、コンベア２の搬送部材２１となるプレートの上面で被検査物Ｗを搬送するようになっている。

このように、Ｘ線検査装置１は、別体のコンベア２に組み込まれる組み込み型のＸ線検査装置であり、図１で示すようなボトル搬送でよく使用されるトップチェーンコンベアやベルトコンベア等の被検査物Ｗを水平方向に搬送する既設のコンベアに組み込まれる。なお、ベルトコンベアによる被検査物Ｗの搬送の場合にはベルトが搬送部材２１となる。また、コンベア２は、Ｘ線検査装置１と一体に構成されていてもよい。

筐体４には、被検査物Ｗが搬入される開口部７と、被検査物Ｗが搬出される開口部８とが形成されている。コンベア２は、開口部７、８を通って筐体４を貫通している。筐体４は、ステンレス等のＸ線を遮蔽可能な金属からなる遮蔽カバー１６を、開口部７、８の周囲に備えており、遮蔽カバー１６は、開口部７、８から外部へのＸ線の漏洩を防止している。

コンベア２の上方にはガイド部材６１が設けられており、ガイド部材６１は、被検査物Ｗをコンベア２上の幅方向の中央の位置で搬送されるように案内している。ガイド部材６１は、被検査物Ｗを幅方向で挟むように、左右で一対、合計４本設けられている。

ガイド部材６１は、Ｘ線発生器９のＸ線照射野に入り込まないように分断されている。なお、ガイド部材６１は、Ｘ線透過率の高い材質から構成し、コンベア２と同様に開口部７から開口部８まで貫通するように連続して設けられていてもよい。

図２において、Ｘ線検査装置１は、Ｘ線を発生するＸ線発生器９と、Ｘ線を検出するＸ線検出器１０と、総合制御部４０とを備えている。これらのＸ線発生器９、Ｘ線検出器１０および総合制御部４０は筐体４（図１参照）の内部に収納されている。

Ｘ線発生器９およびＸ線検出器１０は、コンベア２上の被検査物Ｗが搬送される搬送路３を挟むように、コンベア２の幅方向に対向して配置されている。すなわち、コンベア２を幅方向に挟んで対向するように、Ｘ線発生器９とＸ線検出器１０とが配置されている。

Ｘ線発生器９は、その内部に設けられた図示しないＸ線管の陰極からの電子ビームを陽極のターゲットに照射させてＸ線を生成し、生成したＸ線を図示しないスリットにより略三角形状のスクリーン状に成形するようになっている。また、Ｘ線発生器９は、スクリーン状のＸ線照射野に成形したＸ線を、コンベア２上の搬送路３を幅方向に横切るようにして、Ｘ線検出器１０に向けて照射するようになっている。

Ｘ線検出器１０は、複数の検出素子１０Ａをライン状に整列したＸ線ラインセンサからなる。Ｘ線検出器１０の検出素子１０Ａは、図示しないフォトダイオードと、このフォトダイオード上に設けられた図示しないシンチレータとからなり、Ｘ線をシンチレータにより光に変換し、この光をフォトダイオードにより検出している。

Ｘ線検出器１０の複数の検出素子１０Ａは、コンベア２の上面に対して垂直にｎ個配置されている。Ｘ線検出器１０の下端部の検出素子１０Ａから出力されるデータは、Ｘ線画像の下端部の１画素目の画像に対応する。

同様に、Ｘ線検出器１０の下端部からｎ個目の検出素子１０Ａから出力されるデータは、Ｘ線画像の下端部からｎ画素目の画像に対応する。なお、図２には、ガイド部材６１の位置が破線で示されているが、ガイド部材６１はＸ線発生器９のＸ線照射野に入り込んでいない。

このように構成されたＸ線検出器１０は、被検査物ＷがＸ線検出器１０を通過することで、被検査物Ｗを透過するＸ線の量（検出レベル）に応じたＸ線画像を出力する。Ｘ線検出器１０は、図示しないＡ／Ｄ変換部を備えており、このＡ／Ｄ変換部によりフォトダイオードからの輝度値データをデジタルデータに変換するようになっている。

なお、Ａ／Ｄ変換部から出力されるデータは、輝度値により明暗で表されるＸ線画像（明暗画像）であってもよいし、輝度値を所望の濃度となるように変換した濃度値により濃淡で表されるＸ線画像（濃淡画像）であってもよい。本実施例では、Ｘ線検出器１０のＡ／Ｄ変換部から出力されるＸ線画像は、検出レベルを明暗で表した明暗画像である。

本実施の形態において、Ｘ線発生器９は、Ｘ線照射野がコンベア２の上方となるように、設置作業により予め調整されている。また、Ｘ線検出器１０の下端部がコンベア２の上面とほぼ同じ高さになるように、Ｘ線検出器１０の位置が設置作業により予め調整されている。

Ｘ線検査装置１は、表示部５、設定操作部４５および総合制御部４０を備えている。

表示部５は、平面ディスプレイ等から構成されており、ユーザに対する表示出力を行うようになっている。表示部５は、総合制御部４０による検査結果等の画像を表示するようになっている。

また、表示部５は、被検査物Ｗの良否判定結果を「ＯＫ」や「ＮＧ」等の文字または記号で表示するようになっている。また、表示部５は、総検査数、良品数、ＮＧ総数等の統計値を表示するようになっている。

表示部５の表示内容および表示態様は、既定設定、または設定操作部４５からの所定のキー操作による要求に基づいて決定される。

設定操作部４５は、総合制御部４０への各種パラメータ等の設定入力を行うものである。設定操作部４５は、ユーザが操作する複数のキーやスイッチ等で構成され、総合制御部４０への各種パラメータ等の設定入力や動作モードの選択を行うものである。本実施の形態では、表示部５と設定操作部４５とがタッチパネル式表示器として一体化され、筐体４の前面上部に配置されている。Ｘ線検査装置１の動作モードには、被検査物Ｗの検査を行う通常の検査モードと、Ｘ線検査装置１の各種の調整や状態確認等のメンテナンスを行うメンテナンスモードとが含まれる。

総合制御部４０は、Ｘ線画像記憶部４２、画像処理部４３、判定部４４および制御部４６を備えている。また、総合制御部４０は、Ｘ線画像における非検査領域を設定する非検査領域設定部４７を備えている。

Ｘ線画像記憶部４２は、Ｘ線検出器１０から受け取ったＸ線画像を一時的に記憶するようになっている。すなわち、Ｘ線画像記憶部４２は、Ｘ線画像のバッファメモリとして機能する。

画像処理部４３は、Ｘ線画像記憶部４２から読み出したＸ線画像に対して各種の画像処理アルゴリズム等を適用して画像処理を施すようになっている。ここで、画像処理アルゴリズムは、複数の画像処理フィルタを組み合わせたものからなる。

判定部４４は、画像処理部４３により画像処理されたＸ線画像に対して、被検査物Ｗと異物との判別を行って異物の混入の有無を判定する異物判定を行い、また、被検査物Ｗの形状の良否を判定する形状判定を行うようになっている。

制御部４６は、ＣＰＵおよび制御プログラムの記憶領域または作業領域としてのメモリなどを有しており、検査モードおよびメンテナンスモードを含む各動作モードにおいて、Ｘ線検査装置１の全体を制御するようになっている。制御部４６の制御内容には、表示部５の表示内容および表示形態の制御が含まれる。

ここで、コンベア２に対してＸ線発生器９とＸ線検出器１０とを最適位置に完全に調整したり、完全な最適位置に保つようにすることは容易ではない。このため、Ｘ線検出器１０から取得したＸ線画像にコンベア２が映り込んでしまう場合がある。例えば、設置時の位置調整後に、振動等によりコンベア２の上面に沿う平面がＸ線検出器１０の下端部より上方に定常的に変位した場合、Ｘ線画像にコンベア２の上側、すなわち、被検査物Ｗが載る搬送部材２１などが映り込んでしまう。特に、本実施の形態のコンベア２は、プレートとしての複数の搬送部材２１を無端状のチェーンに設けてなるトップチェーンコンベアであり、搬送部材２１のＸ線透過率がベルトコンベアのベルトよりも低いため、Ｘ線画像への搬送部材２１の映り込みの影響が大きい。

Ｘ線画像にコンベア２の搬送部材２１が映り込んでしまうと、その搬送部材２１の影響により、判定部４４における誤検出が発生して検査精度が低下するおそれがある。一方、Ｘ線検出器１０を最適位置に再度調整することは、調整作業の時間を確保できない等の理由から容易ではない場合がある。

そこで、本実施の形態のＸ線検査装置１は、Ｘ線画像におけるコンベア２が映り込んでいる領域を、所定の輝度値との比較により、検査対象外の領域である非検査領域に設定し、非検査領域を除外して検査領域に対してのみ検査を行うようになっている。検査領域はＸ線画像における検査対象の領域であり、非検査領域はＸ線画像における検査対象外の領域である。

Ｘ線検査装置１の非検査領域設定部４７は、Ｘ線画像の内の被検査物が含まれていないＸ線画像を基に、画像を構成する画素の輝度と所定の輝度閾値とを比較することにより、Ｘ線画像の底辺から所望の高さまでを非検査領域として設定するようになっている。

次に動作と作用効果を説明する。

まず、図３のフローチャートを参照して検査モードの動作を説明する。検査モードにおいて、Ｘ線検査装置１は、Ｘ線検出器１０からＸ線画像（透過画像）のデータを取得し（ステップＳ１）、このＸ線画像をＸ線画像記憶部４２に一時的に記憶する（ステップＳ２）。

次いで、非検査領域設定部４７は、Ｘ線画像において非検査領域を設定するための設定値を読み込む（ステップＳ３）。非検査領域の設定値は、非検査領域の上端の境界を特定する値である。非検査領域は、搬送部材２１がＸ線画像の下部に映り込んだ領域であるため、非検査領域のＸ線画像の底辺から高さが設定値として用いられる。非検査領域の設定値は、後述するようにメンテナンスモードにおいて予め設定され、非検査領域設定部４７に記憶されている。

次いで、非検査領域設定部４７は、Ｘ線画像を検査領域と非検査領域とに区分する（ステップＳ４）。この検査領域に対して画像処理部４３がエッジ強調処理等の画像処理を実施する。

例えば、設定値としての縦の画素数が４画素である場合は、非検査領域設定部４７は、Ｘ線画像の底辺から上方に４画素目までの領域を非検査領域に設定する。そして、非検査領域設定部４７は、非検査領域以外の領域を検査領域に設定する。その後、画像処理部４３は、判定部４４での判定のために、検査領域に対して画像処理を実施する。

このように、本実施例では、Ｘ線画像の全体に画像処理を実施するのではなく、検査対象の領域である検査領域に対してのみ画像処理を実施しているため、画像処理の演算の負荷を低減できる。

ステップＳ４の結果、図４に示すように、Ｘ線画像におけるコンベア２の透過画像２Ｘを含む縦方向の領域（２本の破線で挟まれた領域）が非検査領域５１に設定される。このように、非検査領域設定部４７は、Ｘ線画像の内の被検査物が含まれていないＸ線画像を基に、画像を構成する画素の輝度と所定の輝度閾値とを比較することにより、Ｘ線画像の底辺から所望の高さまでを非検査領域５１として設定している。また、Ｘ線画像における非検査領域５１以外の領域が検査領域５２に設定される。なお、本実施の形態は、コンベア２がトップチェーンコンベアからなる場合を例示しているため、図４において、コンベア２の透過画像２Ｘの上面は平坦ではなくプレート間の段差が生じている。

次いで、Ｘ線検査装置１は、画像処理後の検査領域５２を対象として、判定部４４により異物の混入の有無や形状不良の有無等について判定を行い（ステップＳ５）、この判定結果をＸ線画像等と共に表示部５により表示する（ステップＳ６）。

本実施の形態によれば、検査領域５２には、コンベア２の透過画像２Ｘは含まれず、被検査物Ｗの透過画像ＷＸが含まれる。また、画素単位でＸ線画像が精度よく検査領域５２と非検査領域５１とに区分される。このため、Ｘ線画像の検査領域５２にコンベア２が映り込むことによる誤検出を防止でき、ステップＳ５の判定動作において誤判定が防止されるので、被検査物Ｗの検査精度を向上することができる。

次に、図５のフローチャートを参照してメンテナンスモードの動作を説明する。

メンテナンスモードにおいて、Ｘ線検査装置１は、Ｘ線検出器１０からＸ線画像（透過画像）のデータを取得し（ステップＳ１１）、このＸ線画像をＸ線画像記憶部４２に一時的に記憶する（ステップＳ１２）。

次いで、非検査領域設定部４７は、所定の輝度閾値を読み出す（ステップＳ１３）。この輝度閾値は、Ｘ線画像においてコンベア２の搬送部材２１が映り込んだことにより輝度が低くなっている領域を非検査領域５１に設定するための閾値であり、非検査領域設定部４７内に予め記憶されている。輝度閾値は、コンベア２の透過画像２Ｘの輝度よりも高い輝度値で、かつ、コンベア２や被検査物Ｗ等の物体が映り込んでない背景の輝度よりも低い輝度値が、初期値として非検査領域設定部４７に予め記憶されている。

次いで、非検査領域設定部４７は、Ｘ線画像の内の被検査物が含まれていないＸ線画像を基に、画像を構成する画素の輝度と所定の輝度閾値とを比較する（ステップＳ１４）。また、非検査領域設定部４７は、このステップにおいて、Ｘ線画像の底辺からの、輝度閾値より輝度が低い画素が存在する画素数を非検査領域５１に決定し、検査モードにおいて非検査領域５１を区分する際の設定値とする。

ここで、非検査領域５１の設定は、ライン画像の時間方向の集まり、またはエリア画像で行われる。したがって、所定時間（例えば１０秒）において、輝度閾値を超えた画素（輝度閾値より輝度が低い画素）の位置がＸ線画像の底辺（ラインセンサの下側）からの最大位置となる位置のＸ線画像の高さが、非検査領域５１の境界となる。

本実施例は、Ｘ線画像の底辺からの高さ（位置）を縦の画素数で特定する場合を例示しているが、鉛直方向の画素間の輝度差（または濃度差）が所定閾値以上となる画素の位置で、Ｘ線画像の底辺から最大位置となる位置を非検査領域の境界としてもよい。

次いで、非検査領域設定部４７は、ステップＳ１４の比較結果を表示部５に表示し（ステップＳ１５）、設定値を記憶する（ステップＳ１６）。なお、非検査領域５１の設定値を設定する動作モードはメンテナンスモードに限定されない。検査モードにおいてステップＳ１１からステップＳ１６を実行し、非検査領域５１の設定値を設定するようにしてもよい。

図６はステップＳ１５における表示部５の内容の一例を示している。図５において、表示部５は、Ｘ線画像を表示する表示領域５Ａと、ステップＳ１４の比較結果等を表示する表示領域５Ｂとに分割されている。

図６の表示領域５Ａに示すＸ線画像において、コンベア２の透過画像２Ｘは、トップチェーンコンベアの１つのプレートを拡大表示したものである。このＸ線画像において、コンベア２の透過画像２Ｘを構成する画素の輝度は、輝度閾値より低くなっている。また、コンベア２の透過画像２Ｘは、Ｘ線画像の底辺から４画素目までの領域に存在している。

このため、Ｘ線画像の底辺から４画素目までの領域が、非検査領域設定部４７により非検査領域５１に決定される。また、非検査領域５１の底辺からの高さである「４画素目」が設定値として非検査領域設定部４７に記憶される。本実施の形態では、ステップＳ１４の比較結果を表示部５に表示することで、適切な輝度閾値により非検査領域５１が正しく設定されていることを、ユーザが確認することができる。

なお、ユーザが設定操作部４５で設定操作を行うことで輝度閾値を所望の値に設定（変更）できるようにしてもよい。

また、輝度閾値は、Ｘ線画像に基づいて自動的に設定（変更）されるようにしてもよい。例えば、Ｘ線画像の上端部と下端部の輝度値に基づいて非検査領域設定部４７が輝度閾値を設定するようにしてもよい。

この場合、被検査物Ｗがコンベア２に搬送されていない状態においては、Ｘ線画像の上端部は、何れの物体の透過画像でもない、いわゆる背景であるため、Ｘ線画像において最も高い輝度値となる。また、Ｘ線画像の下端部は、コンベア２が映り込むため、コンベア２の透過画像２Ｘの輝度値となる。

したがって、例えば、非検査領域設定部４７によりＸ線画像の上端部と下端部の輝度値の中間の輝度値を輝度閾値に自動的に設定するようにしておくことで、コンベア２の映り込んだ領域だけを精度よく非検査領域５１に設定することができる。

以上のように、本発明に係るＸ線検査装置は、Ｘ線画像にコンベアが映り込むことに起因して検査精度が低下することを防止できるという効果を有し、Ｘ線発生器から照射されて被検査物を透過したＸ線をＸ線検出器により検出して異物を検出するＸ線検査装置として有用である。

１ Ｘ線検査装置
２ コンベア
５ 表示部
９ Ｘ線発生器
１０ Ｘ線検出器
４５ 設定操作部
４７ 非検査領域設定部
５１ 非検査領域
５２ 検査領域
Ｗ 被検査物

Claims (4)

1. Ｘ線を発生するＸ線発生器（９）と、
   Ｘ線を検出するＸ線検出器（１０）と、を備え、
   被検査物（Ｗ）が水平方向に通過する搬送路（３）を形成するコンベア（２）を挟んで、前記Ｘ線検出器が前記コンベアの搬送面からの高さ方向を検出するように、前記Ｘ線発生器と前記Ｘ線検出器とが配置され、
   前記Ｘ線検出器が検出したＸ線に基づくＸ線画像に前記被検査物が映る検査領域（５２）を処理して前記被検査物を検査するＸ線検査装置（１）であって、
   前記Ｘ線画像の内の前記被検査物が含まれていないＸ線画像を基に、画像を構成する画素の輝度と所定の輝度閾値とを比較することにより、前記Ｘ線画像の底辺から所望の高さの画素を前記検査領域と非検査領域（５１）との境界として、前記Ｘ線画像の底辺から前記境界までを前記非検査領域に設定する非検査領域設定部（４７）を備え、
   前記非検査領域設定部によって画素単位で設定される前記境界により設定された前記非検査領域を前記Ｘ線画像から除いた前記検査領域を対象に前記被検査物を検査することを特徴とするＸ線検査装置。
2. 前記輝度閾値の設定操作を行う設定操作部（４５）を備えることを特徴とする請求項１に記載のＸ線検査装置。
3. 前記非検査領域設定部は、前記Ｘ線画像の上端部と下端部の輝度値に基づいて、前記輝度閾値を求め、前記非検査領域を設定することを特徴とする請求項１に記載のＸ線検査装置。
4. 画像を表示する表示部（５）を備え、
   前記非検査領域設定部は、前記Ｘ線画像と前記輝度閾値との比較結果を前記表示部に表示することを特徴とする請求項１から請求項３の何れか１項に記載のＸ線検査装置。

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