JP6907412B2 - テラヘルツ波検出装置、テラヘルツ波検出方法、及びテラヘルツ波検出システム - Google Patents
テラヘルツ波検出装置、テラヘルツ波検出方法、及びテラヘルツ波検出システム Download PDFInfo
- Publication number
- JP6907412B2 JP6907412B2 JP2020530872A JP2020530872A JP6907412B2 JP 6907412 B2 JP6907412 B2 JP 6907412B2 JP 2020530872 A JP2020530872 A JP 2020530872A JP 2020530872 A JP2020530872 A JP 2020530872A JP 6907412 B2 JP6907412 B2 JP 6907412B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- terahertz wave
- image
- unit
- density
- analysis
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/35—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
- G01N21/3581—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light using far infrared light; using Terahertz radiation
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/35—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
- G01N21/3504—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light for analysing gases, e.g. multi-gas analysis
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
- G01N2201/02—Mechanical
- G01N2201/022—Casings
- G01N2201/0221—Portable; cableless; compact; hand-held
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
- G01N2201/02—Mechanical
- G01N2201/022—Casings
- G01N2201/0222—Pocket size
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Toxicology (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
第一実施形態は、THz波検出装置100がガスの可視化装置に適用された例について説明する。図1Aは、第一実施形態に係るTHz波検出装置の正面図である。図1Bは、第一実施形態に係るTHz波検出装置の側方断面図である。図2は、第一実施形態に係るTHz波検出装置のハードウェア構成図である。
図8から図10を参照して、第二実施形態について説明する。第二実施形態は、ウェアラブル端末300にTHz波送受信器1を装着して、THz波検出装置100aを構成する例である。ウェアラブル端末300にTHz波送受信器1を一体化して構成しても良い。THz波検出装置100aの利用者は、身体にTHz波検出装置100aを取り付けた状態でTHz波検出装置100aを利用可能でき、両手を自由にさせることできる。
図11A、図11B、及び図12を参照して、第三実施形態について説明する。第三実施形態は、特にガスまでの距離を計測する機能について特徴がある。
図13A〜図15を用いて、第四実施形態について説明する。図13Aは、分析対象ガス6の濃度の分布の時間変化を表す特徴量を説明する図である。図13Aは、分析対象ガス6の2次元領域の分布を表しており、濃度のピーク値を有する点を基準とし、X+とX−軸、Y+とY−軸、V+とV−軸、U+とU−軸の4つの方向で、濃度分布を評価する。
図16、図17を用いて、第五実施形態について説明する。図16Aは、第五実施形態によるTHz波検出装置100cの正面図である。図16Bは、第五実施形態によるTHz波検出装置100cでの側断面図である。
2 :解析部
3 :カメラ
4 :可視化部
5 :背景反射物
6 :分析対象ガス
7 :コントローラ
10 :スマートフォン
11 :発信器
12 :受信器
13 :発信制御部
14 :アンテナ
15a :送信波
15b :反射テラヘルツ波
45a :タッチパネル付ディスプレイ
Claims (11)
- テラヘルツ波を発信する発信器、及び分析対象物の背後に存在する背景反射物で反射された反射テラヘルツ波を受信する受信器を含むテラヘルツ波送受信器と、
ディスプレイと、
前記テラヘルツ波送受信器、及び前記ディスプレイの其々に接続された情報処理装置と、を備え、
前記発信器は、前記分析対象物を含む2次元領域に、特定の周波数を含む送信信号に基づくテラヘルツ波を照射し、
前記情報処理装置は、
前記反射テラヘルツ波に基づいて、前記分析対象物の濃度を解析する解析部と、
前記解析部の解析結果に基づいて、前記背景反射物が撮像された背景画像に前記分析対象物の濃度画像を合成した合成画像を生成し、前記ディスプレイに表示する可視化部と、を含み、
前記発信器は、周波数をスイープさせた送信信号に基づくテラヘルツ波を照射し、
前記解析部は、
前記発信器が発信したテラヘルツ波の周波数と、前記受信器が受信した前記反射テラヘルツ波の周波数との周波数差を検知する周波数差検知部と、
前記周波数差に基づいて、前記テラヘルツ波送受信器から前記背景反射物までの反射距離を算出する反射距離算出部と、
前記発信器から発した前記テラヘルツ波の強度、前記発信器から照射されたテラヘルツ波に対する前記反射テラヘルツ波の減衰量、及び前記反射距離に基づいて、距離で正規化された前記分析対象物の正規化濃度を算出する正規化濃度算出部と、
前記反射テラヘルツ波において減衰した周波数に基づいて、前記分析対象物の種類を特定する対象物識別部と、を含み、
前記可視化部は、
前記正規化濃度に応じて表示態様を異ならせた濃度画像を生成する濃度画像生成部と、
前記分析対象物の種類を示すグラフィック画像を生成するグラフィック画像生成部と、
前記背景画像に前記濃度画像及び前記グラフィック画像を合成して合成画像を生成し、前記ディスプレイに表示させる画像合成部と、を含む、
ことを特徴とするテラヘルツ波検出装置。 - 請求項1に記載のテラヘルツ波検出装置において、
前記可視化部は、
前記反射距離に応じて表示態様を異ならせた奥行画像を生成する奥行画像生成部を更に含み、
前記画像合成部は、前記背景画像として前記奥行画像を用い、前記奥行画像に前記濃度画像を合成して前記合成画像を生成する、
ことを特徴とするテラヘルツ波検出装置。 - 請求項1に記載のテラヘルツ波検出装置において、
前記情報処理装置は、可視光を撮像してカメラ画像を生成するカメラに接続され、
前記画像合成部は、前記背景画像として前記カメラ画像を用い、前記カメラ画像に前記濃度画像を合成して前記合成画像を生成する、
ことを特徴とするテラヘルツ波検出装置。 - 請求項1に記載のテラヘルツ波検出装置において、
前記正規化濃度算出部は、前記分析対象物による吸収がない平坦部の信号強度をR、前記分析対象物が前記テラヘルツ波を吸収することにより減衰した周波数の信号強度をS、及び前記反射距離をdとした際に、下式(1)により前記正規化濃度を算出する、
正規化濃度=R/S/d・・・(1)
ことを特徴とするテラヘルツ波検出装置。 - 請求項1に記載のテラヘルツ波検出装置において、
前記分析対象物は不可視のガスであり、
前記濃度画像は、前記ガスの濃度分布を図示した画像であり、
前記合成画像は、前記背景画像に前記ガスの濃度分布を図示した画像を重畳した画像である、
ことを特徴とするテラヘルツ波検出装置。 - 請求項1に記載のテラヘルツ波検出装置において、
前記テラヘルツ波検出装置は、当該テラヘルツ波検出装置を支持する支持台、及び当該支持台に連結された伸縮棒を含む伸縮装置に取り付けられ、
前記テラヘルツ波検出装置により前記伸縮棒の伸縮量を異ならせて前記分析対象物を複数回測定させ、
前記正規化濃度算出部は、各回の測定において前記テラヘルツ波検出装置から前記分析対象物の幅方向端部を計測した際の最大角度をθ1、θ2を算出し、前記複数回の測定間における前記伸縮量の差からなる分析距離差をlとした際に、下式(2)により前記テラヘルツ波検出装置から前記分析対象物までの距離Lgを算出し、
前記分析対象物による吸収がない平坦部の信号強度をR、前記分析対象物が前記テラヘルツ波を吸収することにより減衰した周波数の信号強度をS、及び前記距離Lgとした際に、下式(3)により前記正規化濃度を算出し、
Lg=ltanθ1/(tanθ2−tanθ1)・・・(2)
正規化濃度=R/S/Lg・・・(3)
前記濃度画像生成部は、前記正規化濃度を更新した新たな濃度画像を生成する、
ことを特徴とするテラヘルツ波検出装置。 - 請求項1に記載のテラヘルツ波検出装置において、
前記可視化部は、
時系列に沿って生成された複数の濃度画像の其々について、複数の軸で濃度分布を取得し、当該濃度分布の中心、及び当該濃度分布の広がりに対応した評価パラメータを求め、前記評価パラメータの時系列変化を示すグラフィック画像データを生成するグラフィック画像生成部と、
前記背景画像に前記グラフィック画像データを合成して合成画像を生成し、前記ディスプレイに表示させる画像合成部と、を含む、
ことを特徴とするテラヘルツ波検出装置。 - 請求項7に記載のテラヘルツ波検出装置であって、
前記グラフィック画像生成部は、前記評価パラメータの時系列変化に基づいて、前記濃度分布の位置の時系列に沿った変化方向とは異なる方向に向かう経路を示すグラフィック画像を更に生成し、前記背景画像に合成して前記合成画像を生成する、
ことを特徴とするテラヘルツ波検出装置。 - 請求項3に記載のテラヘルツ波検出装置であって、
前記分析対象物は、匂い成分であって、
前記対象物識別部は、前記反射テラヘルツ波に基づいて匂い成分を特定し、
前記グラフィック画像生成部は、前記特定された匂い成分の種類を示すグラフィック画像を生成し、
前記画像合成部は、前記カメラ画像において前記匂い成分が検知された実空間が撮像された領域を特定し、当該領域上に前記特定された匂い成分の種類を示すグラフィック画像を重畳した合成画像を生成する、
ことを特徴とするテラヘルツ波検出装置。 - 分析対象物を含む2次元領域に、特定の周波数を含む送信信号に基づくテラヘルツ波を照射するステップと、
前記分析対象物の背後に存在する背景反射物で反射された反射テラヘルツ波を受信するステップと、
前記反射テラヘルツ波に基づいて、前記分析対象物の濃度を解析するステップと、
前記分析対象物の濃度を解析した結果に基づいて、前記背景反射物の画像に前記分析対象物の濃度画像を合成した合成画像を生成するステップと、
ディスプレイに前記合成画像を表示するステップと、を含み、
前記テラヘルツ波は、周波数をスイープさせた送信信号に基づくテラヘルツ波であり、
前記分析対象物の濃度を解析するステップにおいて、
前記テラヘルツ波の周波数と、前記反射テラヘルツ波の周波数との周波数差を検知し、
前記周波数差に基づいて、前記テラヘルツ波の送受信器から前記背景反射物までの反射距離を算出し、
前記テラヘルツ波の強度、前記テラヘルツ波に対する前記反射テラヘルツ波の減衰量、及び前記反射距離に基づいて、距離で正規化された前記分析対象物の正規化濃度を算出し、
前記反射テラヘルツ波において減衰した周波数に基づいて、前記分析対象物の種類を特定し、
前記合成画像を生成するステップにおいて、
前記正規化濃度に応じて表示態様を異ならせた濃度画像と、前記分析対象物の種類を示すグラフィック画像と、前記背景反射物の画像に前記濃度画像及び前記グラフィック画像を合成して前記合成画像を生成する、
ことを特徴とするテラヘルツ波検出方法。 - テラヘルツ波を発信する発信器、及び分析対象物の背後に存在する背景反射物で反射された反射テラヘルツ波を受信する受信器を含むテラヘルツ波送受信器と、
ディスプレイを有するウェアラブル端末と、
前記テラヘルツ波送受信器、及び前記ウェアラブル端末の其々に接続された情報処理装置と、を備え、
前記テラヘルツ波送受信器は、前記分析対象物を含む2次元領域に、特定の周波数を含む送信信号に基づくテラヘルツ波を照射し、
前記情報処理装置は、
前記反射テラヘルツ波に基づいて、前記分析対象物の濃度を解析する解析部と、
前記解析部の解析結果に基づいて、前記背景反射物の画像に前記分析対象物の濃度画像を合成した合成画像を生成し、前記ウェアラブル端末に出力する可視化部と、を含み、
前記発信器は、周波数をスイープさせた送信信号に基づくテラヘルツ波を照射し、
前記解析部は、
前記発信器が発信したテラヘルツ波の周波数と、前記受信器が受信した前記反射テラヘルツ波の周波数との周波数差を検知する周波数差検知部と、
前記周波数差に基づいて、前記テラヘルツ波送受信器から前記背景反射物までの反射距離を算出する反射距離算出部と、
前記発信器から発した前記テラヘルツ波の強度、前記発信器から照射されたテラヘルツ波に対する前記反射テラヘルツ波の減衰量、及び前記反射距離に基づいて、距離で正規化された前記分析対象物の正規化濃度を算出する正規化濃度算出部と、
前記反射テラヘルツ波において減衰した周波数に基づいて、前記分析対象物の種類を特定する対象物識別部と、を含み、
前記可視化部は、
前記正規化濃度に応じて表示態様を異ならせた濃度画像を生成する濃度画像生成部と、
前記分析対象物の種類を示すグラフィック画像を生成するグラフィック画像生成部と、
前記背景反射物の画像に前記濃度画像及び前記グラフィック画像を合成して合成画像を生成し、前記ディスプレイに表示させる画像合成部と、を含む、
ことを特徴とするテラヘルツ波検出システム。
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| PCT/JP2018/027405 WO2020017060A1 (ja) | 2018-07-20 | 2018-07-20 | テラヘルツ波検出装置、テラヘルツ波検出方法、及びテラヘルツ波検出システム |
Related Child Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2021108478A Division JP7041308B2 (ja) | 2018-07-20 | 2021-06-30 | テラヘルツ波検出装置、テラヘルツ波検出方法、及び情報処理装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPWO2020017060A1 JPWO2020017060A1 (ja) | 2021-02-25 |
| JP6907412B2 true JP6907412B2 (ja) | 2021-07-21 |
Family
ID=69164446
Family Applications (2)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2020530872A Active JP6907412B2 (ja) | 2018-07-20 | 2018-07-20 | テラヘルツ波検出装置、テラヘルツ波検出方法、及びテラヘルツ波検出システム |
| JP2021108478A Active JP7041308B2 (ja) | 2018-07-20 | 2021-06-30 | テラヘルツ波検出装置、テラヘルツ波検出方法、及び情報処理装置 |
Family Applications After (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2021108478A Active JP7041308B2 (ja) | 2018-07-20 | 2021-06-30 | テラヘルツ波検出装置、テラヘルツ波検出方法、及び情報処理装置 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (3) | US11346776B2 (ja) |
| JP (2) | JP6907412B2 (ja) |
| CN (1) | CN112041664B (ja) |
| WO (1) | WO2020017060A1 (ja) |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US11346776B2 (en) * | 2018-07-20 | 2022-05-31 | Maxell, Ltd. | Terahertz wave detection device, terahertz wave detection method, and terahertz wave detection system |
| US11513004B2 (en) | 2019-08-08 | 2022-11-29 | Apple Inc. | Terahertz spectroscopy and imaging in dynamic environments |
| US11555792B2 (en) * | 2019-08-08 | 2023-01-17 | Apple Inc. | Terahertz spectroscopy and imaging in dynamic environments with performance enhancements using ambient sensors |
| CN114154535B (zh) * | 2021-11-18 | 2025-10-31 | 中汽创智科技有限公司 | 一种物体识别方法、装置、设备以及存储介质 |
| CN116148209B (zh) * | 2023-02-17 | 2025-11-04 | 北京邮电大学 | 基于太赫兹无线感知的味觉识别方法及设备 |
| JP2025114306A (ja) * | 2024-01-24 | 2025-08-05 | キヤノン株式会社 | カメラシステム、カメラシステムの制御方法、及びプログラム |
Family Cites Families (20)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5789750A (en) * | 1996-09-09 | 1998-08-04 | Lucent Technologies Inc. | Optical system employing terahertz radiation |
| JP4286970B2 (ja) | 1999-06-02 | 2009-07-01 | Nec三栄株式会社 | ガス可視化装置及びガス可視化方法 |
| EP2511611A1 (en) | 2003-03-07 | 2012-10-17 | Shikoku Research Institute Incorporated | Hydrogen flame monitoring method and system |
| JP2008026190A (ja) | 2006-07-21 | 2008-02-07 | Univ Of Fukui | ガス検知装置 |
| JP4241904B2 (ja) | 2006-12-28 | 2009-03-18 | 株式会社豊田中央研究所 | ガス検出方法及びガス検出装置 |
| JP4982300B2 (ja) * | 2007-08-29 | 2012-07-25 | 株式会社フジクラ | 物体の撮影方法及び装置 |
| US7864326B2 (en) * | 2008-10-30 | 2011-01-04 | Honeywell International Inc. | Compact gas sensor using high reflectance terahertz mirror and related system and method |
| JP5497522B2 (ja) * | 2010-02-05 | 2014-05-21 | 旭化成イーマテリアルズ株式会社 | テラヘルツ帯光学素子用ワイヤグリッド偏光板及び電磁波処理装置 |
| DE102011100203A1 (de) * | 2011-05-02 | 2012-11-08 | Synview Gmbh | Verfahren zur Erfassung eines Dichtrings |
| WO2015034844A1 (en) | 2013-09-03 | 2015-03-12 | Flir Systems, Inc. | Infrared-based ice formation detection systems and methods |
| CN107113949B (zh) * | 2014-12-26 | 2019-02-05 | 麦克赛尔株式会社 | 照明装置 |
| WO2016181854A1 (ja) * | 2015-05-08 | 2016-11-17 | コニカミノルタ株式会社 | ガス濃度測定装置 |
| JP6493624B2 (ja) | 2016-06-07 | 2019-04-03 | コニカミノルタ株式会社 | ガス検知用画像処理装置、ガス検知用画像処理方法及びガス検知用画像処理プログラム |
| JP2019168224A (ja) * | 2016-08-15 | 2019-10-03 | コニカミノルタ株式会社 | ガス検知システム |
| WO2018038152A1 (ja) | 2016-08-24 | 2018-03-01 | コニカミノルタ株式会社 | ガス計測システム及びガス計測プログラム |
| JP2019174115A (ja) * | 2016-08-24 | 2019-10-10 | コニカミノルタ株式会社 | ガス検出情報表示システム及びガス検出情報表示プログラム |
| CN206132652U (zh) * | 2016-10-27 | 2017-04-26 | 首都师范大学 | 利用太赫兹成像检测层状绝缘材料内部缺陷的装置 |
| CN206177810U (zh) * | 2016-11-15 | 2017-05-17 | 顺冠(北京)科技发展有限公司 | 一种室内危险气体太赫兹检测器 |
| US11346776B2 (en) * | 2018-07-20 | 2022-05-31 | Maxell, Ltd. | Terahertz wave detection device, terahertz wave detection method, and terahertz wave detection system |
| JP7186634B2 (ja) * | 2019-02-19 | 2022-12-09 | 東京エレクトロン株式会社 | 成膜方法 |
-
2018
- 2018-07-20 US US17/051,321 patent/US11346776B2/en active Active
- 2018-07-20 WO PCT/JP2018/027405 patent/WO2020017060A1/ja not_active Ceased
- 2018-07-20 CN CN201880092859.6A patent/CN112041664B/zh active Active
- 2018-07-20 JP JP2020530872A patent/JP6907412B2/ja active Active
-
2021
- 2021-06-30 JP JP2021108478A patent/JP7041308B2/ja active Active
-
2022
- 2022-05-03 US US17/735,763 patent/US11668650B2/en active Active
-
2023
- 2023-04-24 US US18/305,837 patent/US12072284B2/en active Active
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US11668650B2 (en) | 2023-06-06 |
| WO2020017060A1 (ja) | 2020-01-23 |
| US11346776B2 (en) | 2022-05-31 |
| US12072284B2 (en) | 2024-08-27 |
| US20220260487A1 (en) | 2022-08-18 |
| JP2021165746A (ja) | 2021-10-14 |
| CN112041664A (zh) | 2020-12-04 |
| JP7041308B2 (ja) | 2022-03-23 |
| JPWO2020017060A1 (ja) | 2021-02-25 |
| US20210318234A1 (en) | 2021-10-14 |
| US20230258558A1 (en) | 2023-08-17 |
| CN112041664B (zh) | 2024-12-20 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP7041308B2 (ja) | テラヘルツ波検出装置、テラヘルツ波検出方法、及び情報処理装置 | |
| US9689972B2 (en) | Scanner display | |
| CN103885088B (zh) | 用于操作手持筛选设备的方法及手持筛选设备 | |
| KR101181967B1 (ko) | 고유식별 정보를 이용한 3차원 실시간 거리뷰시스템 | |
| JP2019134269A (ja) | 画像処理装置、画像処理方法およびプログラム | |
| WO2011013346A1 (ja) | 超音波診断装置 | |
| JP7520191B2 (ja) | テラヘルツ波検出装置、テラヘルツ波検出方法、及び情報処理装置 | |
| JP5611875B2 (ja) | 情報表示装置、情報表示方法、及びプログラム | |
| JP2018205062A (ja) | 評価方法及び評価システム | |
| KR102488811B1 (ko) | 통합형 몰래카메라 탐지 시스템 | |
| CN103674274A (zh) | 热像记录控制装置和热像记录控制方法 | |
| US20220395247A1 (en) | Radiation imaging system and storage medium | |
| CN120313739A (zh) | 使用三维超声成像系统的热像仪 | |
| JP7323682B2 (ja) | 非接触ガス計測装置、非接触ガス計測システム、携帯端末、および非接触ガス計測方法 | |
| KR101507536B1 (ko) | 적외선을 이용한 객체 추출 및 영상 합성 시스템 | |
| KR20110049024A (ko) | 영상 제어 장치 | |
| JP7020418B2 (ja) | 情報処理装置、情報処理方法、およびプログラム | |
| US20250028493A1 (en) | Information processing apparatus and information processing method for adjusting display based on presence or absence of an object in a space | |
| KR20160073488A (ko) | 3d 스캐너 | |
| CN113724382B (zh) | 地图生成方法、装置及电子设备 | |
| JP2019010346A (ja) | 被検体情報取得装置および超音波探触子 | |
| CN103674254A (zh) | 热像显示切换装置和热像显示切换方法 | |
| CN103674268A (zh) | 红外显示变换装置和红外显示变换方法 | |
| CN103674278A (zh) | 红外显示控制装置和红外显示控制方法 | |
| CN120457404A (zh) | 信息处理装置以及信息处理方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20200909 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20210323 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20210524 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20210601 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20210630 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6907412 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111 |
|
| R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |