以下、実施の形態について図面を参照しながら説明する。ただし、実施の形態は多くの異なる態様で実施することが可能であり、趣旨およびその範囲から逸脱することなくその形態および詳細を様々に変更し得ることは当業者であれば容易に理解される。従って、本発明は、以下の実施の形態の記載内容に限定して解釈されるものではない。
また、図面において、大きさ、層の厚さ、または領域は、明瞭化のために誇張されている場合がある。よって、必ずしもそのスケールに限定されない。なお図面は、理想的な例を模式的に示したものであり、図面に示す形状または値等に限定されない。
また、本明細書にて用いる「第1」、「第2」、「第3」という序数詞は、構成要素の混同を避けるために付したものであり、数的に限定するものではないことを付記する。
また、本明細書において、「上に」、「下に」等の配置を示す語句は、構成同士の位置関係を、図面を参照して説明するために、便宜上用いている。また、構成同士の位置関係は、各構成を描写する方向に応じて適宜変化するものである。従って、明細書で説明した語句に限定されず、状況に応じて適切に言い換えることができる。
また、本明細書等において、トランジスタとは、ゲートと、ドレインと、ソースとを含む少なくとも三つの端子を有する素子である。そして、ドレイン(ドレイン端子、ドレイン領域またはドレイン電極)とソース(ソース端子、ソース領域またはソース電極)の間にチャネル領域を有しており、チャネル形成領域を介して、ソースとドレインとの間に電流を流すことができるものである。なお、本明細書等において、チャネル領域とは、電流が主として流れる領域をいう。
また、ソースやドレインの機能は、異なる極性のトランジスタを採用する場合や、回路動作において電流の方向が変化する場合等には入れ替わることがある。このため、本明細書等においては、ソースやドレインの用語は、入れ替えて用いることができるものとする。
また、本明細書等において、「電気的に接続」には、「何らかの電気的作用を有するもの」を介して接続されている場合が含まれる。ここで、「何らかの電気的作用を有するもの」は、接続対象間での電気信号の授受を可能とするものであれば、特に制限を受けない。例えば、「何らかの電気的作用を有するもの」には、電極や配線をはじめ、トランジスタ等のスイッチング素子、抵抗素子、インダクタ、キャパシタ、その他の各種機能を有する素子等が含まれる。
また、本明細書等において、「膜」という用語と、「層」という用語とは、互いに入れ替えることが可能である。例えば、「導電層」という用語を、「導電膜」という用語に変更することが可能な場合がある。または、例えば、「絶縁膜」という用語を、「絶縁層」という用語に変更することが可能な場合がある。
本明細書等において、金属酸化物層(metal oxide)とは、広い表現での金属の酸化物である。金属酸化物層は、酸化物絶縁膜、酸化物導電膜(透明酸化物導電膜を含む)、酸化物半導体膜(Oxide Semiconductorまたは単にOSともいう)等に分類される。例えば、トランジスタの活性層に金属酸化物層を用いた場合、当該金属酸化物層を酸化物半導体膜と呼称する場合がある。つまり、金属酸化物層が増幅作用、整流作用、およびスイッチング作用の少なくとも1つを有する場合、当該金属酸化物層を、金属酸化物層半導体(metal oxide semiconductor)、略してOSということができる。また、OS FETと記載する場合においては、金属酸化物層または酸化物半導体膜を有するトランジスタと換言することができる。
また、本明細書等において、窒素を有する金属酸化物層も金属酸化物層(metal oxide)と総称する場合がある。また、窒素を有する金属酸化物層を、金属酸窒化物(metal oxynitride)と呼称してもよい。
また、本明細書等において、CAAC(c−axis aligned crystal)、およびCAC(Cloud−Aligned Composite)と記載する場合がある。なお、CAACは結晶構造の一例を表し、CACは機能、または材料の構成の一例を表す。
また、本明細書等において、CAC−OSまたはCAC−metal oxideとは、材料の一部では導電性の機能と、材料の一部では絶縁性の機能とを有し、材料の全体では半導体としての機能を有する。なお、CAC−OSまたはCAC−metal oxideを、トランジスタの活性層に用いる場合、導電性の機能は、キャリアとなる電子(またはホール)を流す機能であり、絶縁性の機能は、キャリアとなる電子を流さない機能である。導電性の機能と、絶縁性の機能とを、それぞれ相補的に作用させることで、スイッチングさせる機能(On/Offさせる機能)をCAC−OSまたはCAC−metal oxideに付与することができる。CAC−OSまたはCAC−metal oxideにおいて、それぞれの機能を分離させることで、双方の機能を最大限に高めることができる。
また、本明細書等において、CAC−OSまたはCAC−metal oxideは、導電性領域、および絶縁性領域を有する。導電性領域は、上述の導電性の機能を有し、絶縁性領域は、上述の絶縁性の機能を有する。また、材料中において、導電性領域と、絶縁性領域とは、ナノ粒子レベルで分離している場合がある。また、導電性領域と、絶縁性領域とは、それぞれ材料中に偏在する場合がある。また、導電性領域は、周辺がぼけてクラウド状に連結して観察される場合がある。
また、CAC−OSまたはCAC−metal oxideにおいて、導電性領域と、絶縁性領域とは、それぞれ0.5nm以上10nm以下、好ましくは0.5nm以上3nm以下のサイズで材料中に分散している場合がある。
また、CAC−OSまたはCAC−metal oxideは、異なるバンドギャップを有する成分により構成される。例えば、CAC−OSまたはCAC−metal oxideは、絶縁性領域に起因するワイドギャップを有する成分と、導電性領域に起因するナローギャップを有する成分と、により構成される。当該構成の場合、キャリアを流す際に、ナローギャップを有する成分において、主にキャリアが流れる。また、ナローギャップを有する成分が、ワイドギャップを有する成分に相補的に作用し、ナローギャップを有する成分に連動してワイドギャップを有する成分にもキャリアが流れる。このため、上記CAC−OSまたはCAC−metal oxideをトランジスタのチャネル領域に用いる場合、トランジスタのオン状態において高い電流駆動力、つまり大きなオン電流、および高い電界効果移動度を得ることができる。
すなわち、CAC−OSまたはCAC−metal oxideは、マトリックス複合材(matrix composite)、または金属マトリックス複合材(metal matrix composite)と呼称することもできる。
(実施の形態1)
本実施の形態では、本発明の一態様の表示装置および当該表示装置の作製方法について、図1乃至図11を用いて説明を行う。
<1−1.表示装置の構成例>
まず、表示装置の構成例について、図1を用いて説明する。図1に示す表示装置10は、表示部12と、表示部12の外側に配置されるゲートドライバ回路部14aおよびゲートドライバ回路部14bと、表示部12の外側に配置されるソースドライバ回路部16aおよびソースドライバ回路部16bと、を有する。
[表示部]
表示部12は、X行(Xは2以上の自然数)、Y列(Yは2以上の自然数)に配置される画素13を有する。また、画素13は、それぞれ2種類の表示素子を有し、当該2種類の表示素子は、それぞれ異なる機能を有する。2種類の表示素子の一方は、入射する光を反射することにより画像を表示する機能を有し、2種類の表示素子の他方は、光を発することにより画像を表示する機能を有する。なお、当該2種類の表示素子の詳細については、後述する。
なお、詳細は後述するが、画素13は、それぞれ2種類の表示素子の一方を1個有する。一方、画素13は、それぞれ2種類の表示素子の他方を複数有する。例えば、画素13は、2種類の表示素子の他方を3個または4個有する。
[ゲートドライバ回路部]
また、ゲートドライバ回路部14aおよびゲートドライバ回路部14bは、画素13を選択する信号(走査信号)を出力する機能を有する。
また、ゲートドライバ回路部14aは、走査信号が与えられる配線(以下、走査線GL_L[m]、走査線GL_L[m+1]、および走査線GL_L[X])の電位を制御する機能、または初期化信号を供給する機能を有する。また、ゲートドライバ回路部14bは、走査信号が与えられる配線(以下、走査線GL_E1[m]、走査線GL_E1[m+1]、走査線GL_E2[m]、走査線GL_E2[m+1]、走査線GL_E1[X]、および走査線GL_E2[X])の電位を制御する機能、または初期化信号を供給する機能を有する。なお、上記において、mはX以下の自然数を表す。
ただし、ゲートドライバ回路部14aおよびゲートドライバ回路部14bは、上記の機能に限定されず、別の信号を制御または供給する機能を有していてもよい。
なお、図1においては、ゲートドライバ回路部として、ゲートドライバ回路部14aと、ゲートドライバ回路部14bと、2つ設ける構成について例示したが、これに限定されず、1つのゲートドライバ回路部、または3つ以上のゲートドライバ回路部を設ける構成としてもよい。
[ソースドライバ回路部]
ソースドライバ回路部16aは、画像信号を元に、画素13が有する表示素子を駆動するための信号(データ信号)を生成する機能、データ信号が与えられる配線(信号線SL_L[n]、信号線SL_L[n+1]および信号線SL_L[Y])の電位を制御する機能、または初期化信号を供給する機能を有する。ソースドライバ回路部16bは、画像信号を元に画素13に書き込むデータ信号を生成する機能、データ信号が与えられる配線(信号線SL_E1[n]、信号線SL_E1[n+1]、信号線SL_E1[Y]、信号線SL_E2[n]、信号線SL_E2[n+1]、および信号線SL_E2[Y])の電位を制御する機能、または初期化信号を供給する機能を有する。なお、上記において、nはY以下の自然数を表す。
ただし、ソースドライバ回路部16aおよびソースドライバ回路部16bは、上記の機能に限定されず、別の信号を生成、制御または供給する機能を有していてもよい。
また、ソースドライバ回路部16aおよびソースドライバ回路部16bは、複数のアナログスイッチ等を用いて構成される。ソースドライバ回路部16aおよびソースドライバ回路部16bは、複数のアナログスイッチを順次オン状態にすることにより、画像信号を時分割した信号をデータ信号として出力できる。
なお、図1においては、ソースドライバ回路部を2つ設ける構成について例示したが、これに限定されず、1つのソースドライバ回路部、または3つ以上のソースドライバ回路部を設ける構成としてもよい。例えば、ソースドライバ回路部を1つだけ設け、当該ソースドライバ回路部により信号線SL_L[n]、信号線SL_L[n+1]、信号線SL_L[Y]、信号線SL_E1[n]、信号線SL_E1[n+1]、信号線SL_E1[Y]、信号線SL_E2[n]、信号線SL_E2[n+1]、および信号線SL_E2[Y]を制御してもよい。
ゲートドライバ回路部14a、ゲートドライバ回路部14b、ソースドライバ回路部16a、およびソースドライバ回路部16bの一部または全部は、表示部12と同一基板上に形成されていることが望ましい。これにより、部品数や端子数を減らすことができる。ゲートドライバ回路部14a、ゲートドライバ回路部14b、ソースドライバ回路部16a、およびソースドライバ回路部16bの一部または全部が表示部12と同一基板上に形成されない場合には、COG(Chip On Glass)、COF(Chip On Film)、またはTAB(Tape Automated Bonding)によって、別途用意された駆動回路基板(例えば、単結晶半導体膜または多結晶半導体膜で形成された駆動回路基板)を、表示装置10に形成してもよい。
[画素]
また、画素13は、走査線GL_L[m]、走査線GL_L[m+1]、および走査線GL_L[X]の一つを介してパルス信号が入力され、信号線SL_L[n]、信号線SL_L[n+1]、信号線SL_L[Y]、信号線SL_E1[n]、信号線SL_E1[n+1]、信号線SL_E1[Y]、信号線SL_E2[n]、信号線SL_E2[n+1]、および信号線SL_E2[Y])の一つを介してデータ信号が入力される。
例えば、m行n列目の画素13(m,n)は、走査線GL_L[m]を介してゲートドライバ回路部14aからパルス信号が入力され、走査線GL_L[m]の電位に応じて信号線SL_L[n]を介してソースドライバ回路部16aからデータ信号が入力される。
また、m行n列目の画素13(m,n)は、走査線GL_E1[m]および走査線GL_E2[m]を介してゲートドライバ回路部14bからパルス信号が入力され、走査線GL_E1[m]および走査線GL_E2[m]の電位に応じて信号線SL_E1[n]および信号線SL_E2[n]を介してソースドライバ回路部16bからデータ信号が入力される。
また、画素13(m,n)は、先の説明の通り、2種類の表示素子を有する。走査線GL_L[m]、走査線GL_L[m+1]、および走査線GL_L[X]は、2種類の表示素子の一方の電位を制御する配線であり、走査線GL_E1[m]、走査線GL_E1[m+1]、走査線GL_E1[X]、走査線GL_E2[m]、走査線GL_E2[m+1]、および走査線GL_E2[X]は、2種類の表示素子の他方の電位を制御する配線である。
また、信号線SL_L[n]、SL_L[n+1]、およびSL_L[Y]は、2種類の表示素子の一方に与えられるデータ信号の電位を制御する配線であり、信号線SL_E1[n]、SL_E1[n+1]、SL_E1[Y]、信号線SL_E2[n]、SL_E2[n+1]、およびSL_E2[Y]は、2種類の表示素子の他方に与えられるデータ信号の電位を制御する配線である。
[外部回路]
表示装置10には、外部回路18が接続される。なお、表示装置10が外部回路18を有する構成としてもよい。
外部回路18は、図1に示すように、アノード電位が与えられる配線(以下、ANODE、または配線AONDE)と電気的に接続されている。
<1−2.画素の回路構成の一例>
次に、画素13(m,n)、画素13(m,n+1)、画素13(m+1,n)および画素13(m+1,n+1)の回路構成の一例について、図2を用いて説明する。
本明細書等において、同一行かつ隣接する列の2つの画素13を、行方向に隣接する画素13という場合がある。例えば、画素13(m,n)は、画素13(m,n+1)と行方向に隣接しているということができる。また、同一列かつ隣接する行の2つの画素13を、列方向に隣接する画素13という場合がある。例えば、画素13(m,n)は、画素13(m+1,n)と列方向に隣接しているということができる。
図2は、表示装置10が有する画素13(m,n)、画素13(m,n+1)、画素13(m+1,n)および画素13(m+1,n+1)の一例を説明する回路図である。
画素13(m,n)は、走査線GL_L[m]、走査線GL_E1[m]、走査線GL_E2[m]、信号線SL_L[n]、信号線SL_E1[n]、および信号線SL_E2[n]を有する。画素13(m,n+1)は、走査線GL_L[m]、走査線GL_E1[m]、走査線GL_E2[m]、信号線SL_L[n+1]、信号線SL_E1[n+1]、および信号線SL_E2[n+1]を有する。画素13(m+1,n)は、走査線GL_L[m+1]、走査線GL_E1[m+1]、走査線GL_E2[m+1]、信号線SL_L[n]、信号線SL_E1[n]、および信号線SL_E2[n]を有する。画素13(m+1,n+1)は、走査線GL_L[m+1]、走査線GL_E1[m+1]、走査線GL_E2[m+1]、信号線SL_L[n+1]、信号線SL_E1[n+1]、および信号線SL_E2[n+1]を有する。
また、画素13(m,n)、画素13(m,n+1)、画素13(m+1,n)および画素13(m+1,n+1)は、それぞれトランジスタMA1乃至トランジスタMA3と、トランジスタMB1乃至トランジスタMB3と、容量素子Cs_Lと、容量素子Cs_EA1乃至容量素子Cs_EA3と、容量素子Cs_EB1乃至容量素子Cs_EB3と、表示素子22と、表示素子24と、を有する。なお、図2において、画素13(m,n)、画素13(m,n+1)、画素13(m+1,n)および画素13(m+1,n+1)は、それぞれ表示素子22を1個ずつ有し、表示素子24を3個ずつ(表示素子24R、表示素子24G、表示素子24B)有する。また、図2等において、画素13(m,n)が有する表示素子22を表示素子22Rと表記し、画素13(m,n+1)が有する表示素子22を表示素子22Gと表記し、画素13(m+1,n)が有する表示素子22を表示素子22Bと表記し、画素13(m+1,n+1)が有する表示素子22を表示素子22Wと表記している。
表示素子22は、2種類の表示素子の一方に該当し、入射する光を反射することにより画像を表示する機能を有する。表示素子24は、2種類の表示素子の他方に該当し、光を発することにより画像を表示する機能を有する。例えば、表示素子24Rは、赤色(波長620nm以上750nm未満)の光を発する機能を有し、表示素子24Gは、緑色(波長500nm以上570nm未満)の光を発する機能を有し、表示素子24Bは、青色(波長450nm以上500nm未満)の光を発する機能を有する。なお、例えば紫色(380nm以上450nm未満)、黄色(570nm以上590nm未満)、橙色(590nm以上620nm未満)等の光を発する機能を有する表示素子24を、表示素子24R、表示素子24G、または表示素子24Bのいずれかと代えて設けてもよいし、上記表示素子24に加えて設けてもよい。または、表示素子24R、表示素子24G、または表示素子24Bは、白色光を発する機能を有してもよい。
本明細書等において、色は、分光特性と言い換えることができる。
画素13(m,n)、画素13(m,n+1)、画素13(m+1,n)および画素13(m+1,n+1)は、配線TCOM、配線CATHODE、配線ANODE、および配線CSCOMを有する。
走査線GL_L[m]、走査線GL_L[m+1]、信号線SL_L[n]、信号線SL_L[n+1]、配線TCOM、および配線CSCOMは、それぞれ表示素子22を駆動するための配線である。また、走査線GL_E1[m]、走査線GL_E1[m+1]、走査線GL_E2[m]、走査線GL_E2[m+1]、信号線SL_E1[n]、信号線SL_E1[n+1]、信号線SL_E2[n]、信号線SL_E2[n+1]、配線CATHODE、配線ANODE、および配線CSCOMは、それぞれ表示素子24を駆動するための配線である。
画素13(m,n)において、トランジスタMA4のゲート電極は、走査線GL_L[m]に電気的に接続される。また、トランジスタMA4のソース電極またはドレイン電極の一方は信号線SL_L[n]に電気的に接続され、他方は表示素子22の一対の電極の一方に電気的に接続される。トランジスタMA4は、オン状態とオフ状態とを切り替えることにより、データ信号のデータの書き込みを制御する機能を有する。
また、表示素子22の一対の電極の他方は、配線TCOMと電気的に接続される。
また、容量素子Cs_Lの一対の電極の一方は、トランジスタMA4のソース電極またはドレイン電極の他方、および表示素子22の一対の電極の一方に電気的に接続され、容量素子Cs_Lの一対の電極の他方は、配線CSCOMに電気的に接続される。容量素子Cs_Lは、画素13(m,n)に書き込まれたデータを保持する機能を有する。
画素13(m,n)において、トランジスタMA1のゲート電極は、走査線GL_E1[m]に電気的に接続される。また、トランジスタMA1のソース電極およびドレイン電極の一方は、信号線SL_E1[n]に電気的に接続される。また、トランジスタMA1のソース電極およびドレイン電極の他方は、トランジスタMB1のゲート電極、容量素子Cs_EA1の一対の電極の一方、および容量素子Cs_EB1の一対の電極の一方と電気的に接続される。トランジスタMA1は、オン状態とオフ状態とを切り替えることにより、データ信号のデータの書き込みを制御する機能を有する。
また、トランジスタMB1のソース電極およびドレイン電極の一方は、表示素子24Rの一対の電極の一方に電気的に接続される。トランジスタMB1のソース電極およびドレイン電極の他方は、容量素子Cs_EB1の他方の電極、および配線ANODEに電気的に接続される。また、表示素子24Rの一対の電極の他方は、配線CATHODEに電気的に接続される。また、容量素子CS_EA1の一対の電極の他方は、配線CSCOMに電気的に接続される。トランジスタMB1は、表示素子24Rに与えられる電流を制御する、所謂駆動トランジスタとしての機能を有する。
容量素子Cs_EA1および容量素子Cs_EB1は、画素13(m,n)に書き込まれたデータを保持する機能を有する。また、トランジスタMB1は、バックゲート電極を有し、当該バックゲート電極は、トランジスタMB1のゲート電極と電気的に接続される。
画素13(m,n)において、トランジスタMA2のゲート電極は、走査線GL_E1[m]に電気的に接続される。また、トランジスタMA2のソース電極およびドレイン電極の一方は、信号線SL_E2[n]に電気的に接続される。また、トランジスタMA2のソース電極およびドレイン電極の他方は、トランジスタMB2のゲート電極、容量素子Cs_EA2の一対の電極の一方、および容量素子Cs_EB2の一対の電極の一方と電気的に接続される。トランジスタMA2は、オン状態とオフ状態とを切り替えることにより、データ信号のデータの書き込みを制御する機能を有する。
また、トランジスタMB2のソース電極およびドレイン電極の一方は、表示素子24Gの一対の電極の一方に電気的に接続される。トランジスタMB2のソース電極およびドレイン電極の他方は、容量素子Cs_EB2の他方の電極、および配線ANODEに電気的に接続される。また、表示素子24Gの一対の電極の他方は、配線CATHODEに電気的に接続される。また、容量素子CS_EA2の一対の電極の他方は、配線CSCOMに電気的に接続される。トランジスタMB2は、表示素子24Gに与えられる電流を制御する、所謂駆動トランジスタとしての機能を有する。
容量素子Cs_EA2および容量素子Cs_EB2は、画素13(m,n)に書き込まれたデータを保持する機能を有する。また、トランジスタMB2は、バックゲート電極を有し、当該バックゲート電極は、トランジスタMB2のゲート電極と電気的に接続される。
画素13(m,n)において、トランジスタMA3のゲート電極は、走査線GL_E2[m]に電気的に接続される。また、トランジスタMA3のソース電極およびドレイン電極の一方は、信号線SL_E1[n]に電気的に接続される。また、トランジスタMA3のソース電極およびドレイン電極の他方は、トランジスタMB3のゲート電極、容量素子Cs_EA3の一対の電極の一方、および容量素子Cs_EB3の一対の電極の一方と電気的に接続される。トランジスタMA3は、オン状態とオフ状態とを切り替えることにより、データ信号のデータの書き込みを制御する機能を有する。
また、トランジスタMB3のソース電極およびドレイン電極の一方は、表示素子24Bの一対の電極の一方に電気的に接続される。トランジスタMB3のソース電極およびドレイン電極の他方は、容量素子Cs_EB3の他方の電極、および配線ANODEに電気的に接続される。また、表示素子24Bの一対の電極の他方は、配線CATHODEに電気的に接続される。また、容量素子CS_EA3の一対の電極の他方は、配線CSCOMに電気的に接続される。トランジスタMB3は、表示素子24Bに与えられる電流を制御する、所謂駆動トランジスタとしての機能を有する。
容量素子Cs_EA3および容量素子Cs_EB3は、画素13(m,n)に書き込まれたデータを保持する機能を有する。また、トランジスタMB3は、バックゲート電極を有し、当該バックゲート電極は、トランジスタMB3のゲート電極と電気的に接続される。
トランジスタMB1乃至トランジスタMB3がバックゲート電極を有する構成、すなわち、トランジスタが複数のゲート電極を有する構成とすることで、トランジスタの信頼性または駆動能力を向上させることができる。例えば、図2に示すように、バックゲート電極をゲート電極に接続することで、トランジスタの電流駆動能力を向上させることができる。また、図示しないが、バックゲート電極がソース電極またはドレイン電極のいずれか一方に接続されることで、トランジスタのバックチャネル側の電位を固定することができる。
また、本発明の一態様の表示装置に用いるトランジスタ(トランジスタMA1乃至トランジスタMA4、およびトランジスタMB1乃至トランジスタMB3)は、金属酸化物層を有すると好ましい。金属酸化物層を有するトランジスタは、比較的高い電界効果移動度が得られるため、高速駆動が可能となる。また、金属酸化物層を有するトランジスタのオフ電流は、極めて小さい。したがって、表示装置10のリフレッシュレートを下げても、表示装置10の輝度の維持が可能となり、消費電力を抑制することができる。
<1−3.表示素子22の構成例>
表示素子22は、光の反射または光の透過を制御する機能を有する。特に、表示素子22を光の反射を制御する、所謂反射型の表示素子とすると好適である。表示素子22を反射型の表示素子とすることで、外光を用いて表示を行うことが可能となるため、表示装置10の消費電力を抑制することができる。例えば、表示素子22としては、反射層と液晶素子と偏光板とを組み合わせた構成、またはマイクロ・エレクトロ・メカニカル・システム(MEMS)を用いる構成等とすればよい。なお、表示素子22として、反射層を有しない透過型の表示素子としてもよい。
<1−4.表示素子24の構成例>
表示素子24は、発光層を有し、光を発する機能、すなわち発光する機能を有する。よって、表示素子24を、発光素子として読み替えてもよい。例えば、表示素子24としては、OLED(Organic Light Emitting Diode)、LED(Light Emitting Diode)、QLED(Quantum−dot Light Emitting Diode)、半導体レーザ等の自発光性の発光素子を用いる構成等とすればよい。
このように、本発明の一態様の表示装置では、表示素子22および表示素子24に示すように、異なる機能を有する表示素子を用いる。例えば、表示素子の一方を液晶素子とし、他方をEL素子を用いることで、利便性または信頼性に優れた新規な表示装置を提供することができる。また、外光が明るい環境下においては、液晶素子を利用し、外光が暗い環境下においては、EL素子を用いることで、消費電力が低く、表示品位の高い表示装置を提供することができる。
<1−5.表示素子の駆動方法の一例>
次に、表示素子22および表示素子24の駆動方法について、図2を用いて説明する。なお、以下の説明においては、表示素子22に液晶素子を用い、表示素子24(表示素子24R、表示素子24G、表示素子24B)に発光素子を用いる構成とする。
図1に示すゲートドライバ回路部14aにより、各行の画素13を順次選択し、トランジスタMA4がオン状態になることで、データ信号のデータを書き込む。データが書き込まれた画素13(m,n)は、トランジスタMA4がオフ状態になることで保持状態になる。これを行毎に順次行うことにより、表示素子22により画像を表示できる。以上が表示素子22の駆動方法の一例である。
図1に示すゲートドライバ回路部14bにより、各行の画素13を順次選択し、トランジスタMA1乃至トランジスタMA3をオン状態にしてデータ信号のデータを書き込む。データが書き込まれた画素13(m,n)は、トランジスタMA1乃至トランジスタMA3がオフ状態になることで保持状態になる。さらに、書き込まれたデータ信号の電位に応じてトランジスタMB1のソース電極とドレイン電極の間に流れる電流量が制御され、表示素子24は、流れる電流量に応じた輝度で発光する。これを行毎に順次行うことにより、表示素子24により画像を表示できる。以上が表示素子22の駆動方法の一例である。
このように、本発明の一態様の表示装置においては、2つの表示素子を、異なるトランジスタを用いて、それぞれ独立に制御することができる。よって、表示品位の高い表示装置を提供することができる。
なお、表示装置10は、表示素子22および表示素子24の少なくともいずれか一方を用いて階調表示を行うことができる。例えば、表示素子22は、液晶素子であるため、外光の強度が強い環境下において視認性を向上させることができる。一方で表示素子24は、所謂発光素子のため、外光の強度が弱い環境下において視認性を向上させることができる。
なお、表示装置10は、表示素子22および表示素子24の双方を用いて階調表示を行ってもよい。表示素子22および表示素子24の双方を用いて階調表示を行うことで、表示素子22および表示素子24のいずれか一方を用いて階調表示を行う場合に比べ、視認性を向上させることができる。
画素13(m,n+1)、画素13(m+1,n)、および画素13(m+1,n+1)が有する表示素子についても、画素13(m,n)が有する表示素子と同様の方法により駆動することができる。
<1−6.表示素子の表示領域1>
次に、画素13が有する表示領域について、図3を用いて説明する。図3は、4行4列分の画素13(画素13(m,n)乃至画素(m+3,n+3))の表示領域を説明する模式図である。
画素13(m,n)は、表示素子22Rの表示領域としての機能を有する表示領域22Rdを有する。画素13(m,n+1)は、表示素子22Gの表示領域としての機能を有する表示領域22Gdを有する。画素13(m+1,n)は、表示素子22Bの表示領域としての機能を有する表示領域22Bdを有する。画素13(m+1,n+1)は、表示素子22Wの表示領域としての機能を有する表示領域22Wdを有する。
画素13(m,n)、画素13(m,n+1)、画素13(m+1,n)、および画素13(m+1,n+1)は、表示素子24Rの表示領域としての機能を有する表示領域24Rdと、表示素子24Gの表示領域としての機能を有する表示領域24Gdと、表示素子24Bの表示領域としての機能を有する表示領域24Bdと、をそれぞれ有する。
なお、図3に示す画素13において、同一のハッチングが付された領域には、同一の表示領域が設けられている。例えば、図3では、表示領域22Rdは画素13(m,n)の他、画素13(m,n+2)、画素13(m+2,n)、および画素13(m+2,n+2)に設けられていることを示している。なお、図3以外においても、表示領域を表す図では、同一のハッチングが付された領域は、同一の表示領域が設けられていることを示す場合がある。
また、本明細書等において、表示素子22の表示領域としての機能を有する表示領域を表示領域22dと呼び、表示素子24の表示領域としての機能を有する表示領域を表示領域24dという場合がある。つまり、表示領域22Rd、表示領域22Gd、表示領域22Bd、および表示領域22Wdをまとめて表示領域22dという場合がある。また、表示領域24Rd、表示領域24Gd、および表示領域24Bdをまとめて表示領域24dという場合がある。
表示領域22Rd、表示領域22Gd、表示領域22Bd、および表示領域22Wdは入射した光を反射する領域を有する。例えば、表示領域22Rd、表示領域22Gd、表示領域22Bd、および表示領域22Wdには、後述する反射電極としての機能を有する導電膜が設けられる。
表示領域22Rd、表示領域22Gd、および表示領域22Bdには、特定の色の光を透過する着色層を設けることができる。例えば、表示領域22Rdには、赤色の光を透過する着色層を設けることができる。例えば、表示領域22Gdには、緑色の光を透過する着色層を設けることができる。例えば、表示領域22Bdには、青色の光を透過する着色層を設けることができる。これにより、例えば表示領域22Rdは、赤色の光を射出する機能を有し、表示領域22Gdは、緑色の光を射出する機能を有し、表示領域22Bdは、青色の光を射出する機能を有する。なお、表示領域22Wdには着色層が設けられていない。したがって、表示領域22Wdは、表示素子22Wが反射した光である白色光を射出する機能を有する。
表示領域24Rdは表示素子24Rが発した光を透過する領域を有し、表示領域24Gdは表示素子24Gが発した光を透過する領域を有し、表示領域24Bdは表示素子24Bが発した光を透過する領域を有する。
表示領域24Rdは、表示素子24Rが発する光を射出する機能を有する。表示領域24Gdは、表示素子24Gが発する光を射出する機能を有する。表示領域24Bdは、表示素子24Bが発する光を射出する機能を有する。例えば、表示素子24Rが赤色の光を発する機能を有する場合、表示領域24Rdは、赤色の光を射出する機能を有する。例えば、表示素子24Gが緑色の光を発する機能を有する場合、表示領域24Gdは、緑色の光を射出する機能を有する。例えば、表示素子24Bが青色の光を発する機能を有する場合、表示領域24Bdは、青色の光を射出する機能を有する。
なお、表示領域24Rd、表示領域24Gd、および表示領域24Bdに、特定の色の光を透過する着色層を設けてもよい。この場合、表示素子24が発する光の色と対応する色の光を透過する着色層を設けることが好ましい。例えば、赤色の光を発する機能を有する表示素子24Rの表示領域24Rdには、赤色の光を透過する着色層を設けることが好ましい。例えば、緑色の光を発する機能を有する表示素子24Gの表示領域24Gdには、緑色の光を透過する着色層を設けることが好ましい。青色の光を発する機能を有する表示素子24Bの表示領域24Bdには、青色の光を透過する着色層を設けることが好ましい。以上により、表示領域24Rd、表示領域24Gd、および表示領域24Bdから射出される光の色純度を高めることができる。
なお、表示領域24Rd、表示領域24Gd、および表示領域24Bdに、特定の色の光を透過する着色層を設ける場合、表示素子24R、表示素子24G、および表示素子24Bとして白色光を発する機能を有する表示素子を用いることができる。
また、例えば紫色、黄色、橙色等の光を射出する領域を、表示領域22Rd、表示領域22Gd、表示領域22Bd、表示領域22Wd、表示領域24Rd、表示領域24Gd、表示領域24Bdのいずれかと代えて設けてもよいし、上記表示領域に加えて設けてもよい。
以上に示すように、本発明の一態様の表示装置は、入射する光を反射する機能を有する表示素子22では1個の画素13で1色を表現する。例えば、図3に示すように、画素13(m,n)では赤色を表現し、画素13(m,n+1)では緑色を表現し、画素13(m+1,n)では青色を表現し、画素13(m+1,n+1)では白色を表現する。一方、光を発する機能を有する表示素子24では、1個の画素13で複数(ここでは、赤色、緑色、および青色)の色を表現する。これにより、表示素子22が表示素子24と同様に1個の画素13で複数の色を表現する場合より、表示領域22Rd、表示領域22Gd、表示領域22Bd、表示領域22Wdの面積を広くすることができる。これにより、表示素子22が表示素子24と同様に1個の画素13で複数の色を表現する場合より、表示装置10に入射した光の反射率を高めることができ、表示領域22dから射出される光の輝度を高めることができる。したがって、表示素子24の発光輝度を低下させることができ、表示装置10の消費電力を低減することができる。また、表示素子24の劣化が低減され、表示装置10の信頼性を高めることができる。
表示素子22では、画素13(m,n)、画素13(m,n+1)、画素13(m+1,n)および画素13(m+1,n+1)の4個の画素13により、赤色、緑色、青色、および白色を表現している。つまり、表示素子22から見ると、画素13(m,n)、画素13(m,n+1)、画素13(m+1,n)および画素13(m+1,n+1)により1画素が構成されているということができる。本明細書等において、2行2列分の画素13をまとめて画素43という場合がある。例えば、図3に示すように、画素13(m,n)、画素13(m,n+1)、画素13(m+1,n)および画素13(m+1,n+1)をまとめて画素43ということができる。つまり、画素13とは、表示素子24を用いて画像を表示する機能を有する画素であり、画素43とは、表示素子22を用いて画像を表示する機能を有する画素であるということができる。
上述のように、表示素子24では、1個の画素13が赤色、緑色、および青色を表現することができる。一方、表示素子22では、2行2列分の画素13を含んだ1個の画素43が赤色、緑色、青色、および白色を表現することができる。つまり、表示素子22を用いて表示される画像の精細度と、表示素子24を用いて表示される画像の精細度と、が異なるということができる。具体的には、表示素子22において表示される画像の精細度は、表示素子24において表示される画像の精細度の例えば1/4であるということができる。
なお、図2および図3では、1個の画素13が表示素子22および表示領域22dを1個ずつ有する構成を示しているが、本発明の一態様はこれに限らない。例えば、1個の画素13が表示素子22および表示領域22dを2個以上ずつ有する構成としてもよい。この場合、1個の画素13は、入射する光を反射する機能を有する表示素子22により2色以上を表現することができる。
図4は、画素13(m,n)、画素13(m,n+1)、および画素13(m+1,n)が有する表示領域の位置関係を示す模式図である。図4において、線分X1−X2は、画素13(m,n)と画素13(m+1,n)の境界を示す線分である。線分X1−X2の端部は、画素13(m,n)および画素13(m+1,n)の端部と一致している。また、図4において、線分Y1−Y2は、画素13(m,n)と画素13(m,n+1)の境界を示す線分である。線分Y1−Y2の端部は、画素13(m,n)および画素13(m,n+1)の端部と一致している。
画素13(m,n)が有する表示領域24Rdの位置と画素13(m,n+1)が有する表示領域24Rdの位置は、線分Y1−Y2を対称軸として線対称の関係にある。画素13(m,n)が有する表示領域24Gdの位置と画素13(m,n+1)が有する表示領域24Gdの位置は、線分Y1−Y2を対称軸として線対称の関係にある。画素13(m,n)が有する表示領域24Bdの位置と画素13(m,n+1)が有する表示領域24Bdの位置は、線分Y1−Y2の中心を対称点として点対称の関係にある。なお、本明細書等において、線分Y1−Y2の中心を、画素13(m,n)と画素(m,n+1)の境界の中心部という場合がある。
画素13(m,n)が有する表示領域24Rdの位置と画素13(m+1,n)が有する表示領域24Rdの位置は、線分X1−X2を対称軸として線対称の関係にある。画素13(m,n)が有する表示領域24Gdの位置と画素13(m+1,n)が有する表示領域24Gdの位置は、線分Y1−Y2を対称軸として線対称の関係にある。また、画素13(m,n)が有する表示領域24Bdの画素13(m,n)の中での位置と、画素13(m+1,n)が有する表示領域24Bdの画素13(m+1,n)の中での位置と、は同様の関係にある。例えば、画素13(m,n)において、表示領域24Bdが画素13(m,n)の左上頂点付近に設けられる場合は、画素13(m+1,n)において、表示領域24Bdは画素13(m+1,n)の左上頂点付近に設けられる。
画素13の形状を例えば矩形とする場合、図3に示すように、表示領域24Rdおよび表示領域24Gdは、画素13の頂点付近に設けることができる。また、前述のように、隣接する画素13において、表示領域24Rdの位置は線対称の関係とすることができ、表示領域24Gdの位置は線対称の関係とすることができる。以上により、図3の破線部に示すように、4つの表示領域24Rd、および4つの表示領域24Gdを密集させることができる。これにより、表示領域24Rdおよび表示領域24Gdの面積を減少させることができるため、表示領域22dの面積を増加させることができる。したがって、表示装置10に入射した光のうち、表示素子22等により反射される割合である反射率を高めることができ、表示領域22dから射出される光の輝度を高めることができる。したがって、表示素子24の発光輝度を低下させることができ、表示装置10の消費電力を低減することができる。また、表示素子24の劣化が低減され、表示装置10の信頼性を高めることができる。
なお、本明細書等において、矩形という用語は、正方形を含むものとする。
なお、本発明の一態様により、表示装置10に入射した光の反射率は例えば40%以上とすることができ、または50%以上とすることができ、または55%以上とすることができる。なお、本実施の形態等において、反射率とは、例えば極角30°から入射した光を0°で受光する測定系において測定される値で、Ba2SO4等の標準白色拡散反射板の反射率を100%とした値とすることができる。
また、表示領域24Rdの面積は、例えば画素13の面積の15%以下とすることができ、または10%以下とすることができ、または5%以下とすることができ、または4%以下とすることができる。また、表示領域24Gdの面積は、画素13の面積の15%以下とすることができ、または10%以下とすることができ、または5%以下とすることができ、または4%以下とすることができる。また、表示領域24Bdの面積は、画素13の面積の15%以下とすることができ、または10%以下とすることができ、または5%以下とすることができ、または4%以下とすることができる。
また、隣接する4つの画素において、表示領域24Rdおよび表示領域24Gdを密集させることにより、異なる表示領域24d間の距離を長くすることができる。例えば、表示領域24Rdと表示領域24Gdとの距離を長くすることができる。これにより、表示素子24Rが有する発光層、および表示素子24Gが有する発光層を塗り分け方式により形成することができる。これにより表示装置10の消費電力を低減することができる。表示素子24の作製方法の詳細については後述する。
なお、例えば画素13を50μm四方の正方形とした場合、表示領域24Rdおよび表示領域24Gdは、画素13の頂点から15μm四方の範囲に設けることが好ましく、画素13の頂点から10μm四方の範囲に設けることがより好ましい。また、例えば画素13をaμm四方(aは0以上の実数)の正方形とした場合、表示領域24Rdおよび表示領域24Gdは、画素13の頂点からa/4μm四方の範囲に設けることが好ましく、画素13の頂点からa/5μm四方の範囲に設けることがより好ましい。また、例えば画素13を長辺aμm、短辺bμm(bは0以上a以下の実数)の矩形とした場合、表示領域24Rdおよび表示領域24Gdは、画素13の頂点から、画素13の長辺方向にa/4μm以内かつ画素13の短辺方向にb/4μm以内の範囲に設けることが好ましい。さらに、画素13の長辺方向にa/5μm以内かつ画素13の短辺方向にb/5μm以内の範囲に設けることがより好ましい。
図3および図4では、隣接する画素13において、表示領域24Rdの位置および表示領域24Gdの位置が線対称の関係である場合を示したが、表示領域24Rdの位置または表示領域24Gdの位置に代えて、表示領域24Bdの位置を線対称の関係としてもよい。例えば、隣接する画素13において、表示領域24Gdの位置および表示領域24Bdの位置を線対称の関係としてもよいし、表示領域24Rdの位置および表示領域24Bdの位置を線対称の関係としてもよい。なお、隣接する画素13において、表示領域24Gdの位置および表示領域24Bdの位置を線対称の関係とする場合、表示素子24Gが有する発光層、および表示素子24Bが有する発光層を塗り分け方式により形成することができる。また、隣接する画素13において、表示領域24Rdの位置および表示領域24Bdの位置を線対称の関係とする場合、表示素子24Rが有する発光層、および表示素子24Bが有する発光層を塗り分け方式により形成することができる。
なお、隣接する画素13において、線対称の関係にない表示領域24dは、画素13の頂点付近に設けなくてもよい。例えば、図3に示す場合において、表示領域24Bdを画素13の中心または中心付近に設けてもよい。
図5は、画素13(m,n)、画素13(m,n+1)、および画素13(m+1,n)が有する表示領域の位置関係を示す模式図であり、図4の変形例である。図5では、画素13(m,n)が有する表示領域24Bdの画素13(m,n)の中での位置と、画素13(m,n+1)が有する表示領域24Bdの画素13(m,n+1)の中での位置と、は同様の関係にある。例えば、画素13(m,n)において、表示領域24Bdが画素13(m,n)の左上頂点付近に設けられる場合は、画素13(m,n+1)において、表示領域24Bdは画素13(m,n+1)の左上頂点付近に設けられる。一方、画素13(m,n)が有する表示領域24Bdの位置と画素13(m+1,n)が有する表示領域24Bdの位置は、線分X1−X2の中心を対称点として点対称の関係にある。以上の点が図4に示す位置関係と異なる。
なお、本明細書等において、線分X1−X2の中心を、画素13(m,n)と画素(m+1,n)の境界の中心部という場合がある。
図6は、4行4列分の画素13(画素13(m,n)乃至画素13(m+3,n+3))の表示領域を説明する模式図であり、図3の変形例である。図3では、入射した光を反射する領域を有する表示領域22dがすべて表示領域22Wd、つまり白色光を射出する機能を有する表示領域である点が、図3と異なる。図6に示す画素13では、表示領域22dに着色層を設けない構成としている。これにより、表示領域22dに入射する光が着色層に吸収されないため、表示装置10に入射した光の反射率を高めることができ、表示領域22dから射出される光の輝度を高めることができる。したがって、表示素子24の発光輝度を低下させることができ、表示装置10の消費電力を低減することができる。また、表示素子24の劣化が低減され、表示装置10の信頼性を高めることができる。
図7は、表示装置10が有する画素13(m,n)、画素13(m,n+1)、画素13(m+1,n)および画素13(m+1,n+1)の一例を説明する回路図であり、図2の変形例である。図6では、画素13(m,n)、画素13(m,n+1)、画素13(m+1,n)および画素13(m+1,n+1)が表示素子24Wを有する点が、図2に示す構成と異なる。表示素子24Wは、白色の光を発する機能を有する。なお、本明細書等において、表示素子24と表記した場合、表示素子24R、表示素子24G、および表示素子24Bだけでなく、表示素子24Wを表す場合がある。
図7に示す構成の画素13(m,n)において、トランジスタMA5のゲート電極は、走査線GL_E2[m]に電気的に接続される。また、トランジスタMA5のソース電極およびドレイン電極の一方は、信号線SL_E2[n]に電気的に接続される。また、トランジスタMA5のソース電極およびドレイン電極の他方は、トランジスタMB5のゲート電極、容量素子Cs_EA5の一対の電極の一方、および容量素子Cs_EB5の一対の電極の一方と電気的に接続される。トランジスタMA5は、オン状態とオフ状態とを切り替えることにより、データ信号のデータの書き込みを制御する機能を有する。
また、トランジスタMB5のソース電極およびドレイン電極の一方は、表示素子24Wの一対の電極の一方に電気的に接続される。トランジスタMB5のソース電極およびドレイン電極の他方は、容量素子Cs_EB5の他方の電極、および配線ANODEに電気的に接続される。また、表示素子24Wの一対の電極の他方は、配線CATHODEに電気的に接続される。また、容量素子CS_EA5の一対の電極の他方は、配線CSCOMに電気的に接続される。トランジスタMB5は、表示素子24Rに与えられる電流を制御する、所謂駆動トランジスタとしての機能を有する。
容量素子Cs_EA5および容量素子Cs_EB5は、画素13(m,n)に書き込まれたデータを保持する機能を有する。また、トランジスタMB5は、バックゲート電極を有し、当該バックゲート電極は、トランジスタMB1のゲート電極と電気的に接続される。なお、トランジスタMA5およびトランジスタMB5は、金属酸化物層を有することが好ましい。
図8は、図7に示す構成の画素13の、表示領域を説明する模式図であり、図3の変形例である。図8では、画素13が、表示素子24Wの表示領域としての機能を有する表示領域24Wdを有する点が、図3と異なる。図8において、表示領域24Wdは、画素13の頂点付近に設けられているが、本発明の一態様はこれに限らない。例えば、画素13の中心または中心付近に表示領域24Wdを設けてもよい。
画素13に、表示素子24Wを有する表示領域24Wdを設けることにより、表示装置10に表示される画像の輝度を高くすることができる。これにより、表示素子24R、表示素子24G、および表示素子24Bの発光輝度を低下させることができ、表示装置10の消費電力を低減することができる。
なお、図2、図3等では1個の画素13が表示素子24および表示領域24dを3個ずつ有する場合を示し、図7、図8では1個の画素13が表示素子24および表示領域24dを4個ずつ有する場合を示したが、本発明の一態様はこれに限らない。例えば、1個の画素13が表示素子24および表示領域24dを2個ずつ有してもよいし、5個以上ずつ有してもよい。
<1−7.表示素子の構成例>
図9は、表示素子24R、表示素子24G、および表示素子24Bの構成例を示す断面図である。表示素子24R、表示素子24G、および表示素子24Bは、導電層31と、導電層31上の半透過層32と、半透過層32上の正孔輸送層33とを有する。導電層31は、表示素子24R、表示素子24G、および表示素子24Bの一対の電極の一方としての機能を有する。
表示素子24Rは、正孔輸送層33上の正孔輸送層33Rと、正孔輸送層33R上の発光層34Rと、発光層34R上の発光層34Bと、を有する。なお、正孔輸送層33Rは、正孔輸送層33と同様の構成を有する。
表示素子24Gは、正孔輸送層33上の発光層34Gと、発光層34G上の発光層34Bと、を有する。表示素子24Bは、正孔輸送層33上の発光層34Bを有する。発光層34Rは、例えば赤色の光を発する機能を有し、発光層34Gは、例えば緑色の光を発する機能を有し、発光層34Bは、例えば青色の光を発する機能を有する。
表示素子24R、表示素子24G、および表示素子24Bは、発光層34B上に電子輸送層35を有し、電子輸送層35上に導電層36を有する。導電層36は、表示素子24R、表示素子24G、および表示素子24Bの一対の電極の他方としての機能を有する。
なお、図9に示す各層のうち、導電層31および導電層36を除いた層を合わせてEL層30ということができる。
図9に示す構成の表示素子では、導電層31、半透過層32、および正孔輸送層33の形成後、正孔輸送層33Rを形成し、正孔輸送層33R上に発光層34Rを形成する。これにより、発光層34Rと導電層31との間の距離、および発光層34Rと導電層36との間の距離を調整することができる。したがって、マイクロキャビティ方式を適用して、発光層34Rが発する光を増幅することができる。
なお、正孔輸送層33を形成後、表示素子24Gにさらに正孔輸送層を形成し、当該正孔輸送層上に発光層34Gを形成してもよい。これにより、発光層34Gと導電層31との間の距離、および発光層34Gと導電層36との間の距離を調整することができる。したがって、マイクロキャビティ方式を適用して、発光層34Gが発する光を増幅することができる。
また、正孔輸送層33を形成後、表示素子24Bにさらに正孔輸送層を形成し、当該正孔輸送層上に発光層34Bを形成してもよい。これにより、発光層34Bと導電層31との間の距離、および発光層34Bと導電層36との間の距離を調整することができる。したがって、マイクロキャビティ方式を適用して、発光層34Bが発する光を増幅することができる。
なお、発光層34Rと導電層31との間の距離、発光層34Gと導電層31との間の距離、および発光層34Bと導電層31との間の距離は、半透過層32によって調整することもできる。
図9に示す構成の表示素子において、発光層34Rおよび発光層34Gは例えば塗り分け方式を用いて形成することができる。一方、発光層34Bは、塗り分け方式を用いずに、例えば全面成膜により形成することができる。前述のように、本発明の一態様では、表示素子24Rを有する表示領域24Rd、および表示素子24Gを有する表示領域24Gdは、それぞれ画素13の頂点付近に密集して設けられている。これにより、発光層34Rと発光層34Gとの間の距離を確保することができ、発光層34Rおよび発光層34Gを塗り分け方式を用いて形成することができる。一方、発光層34Bは塗り分け方式を用いずに形成することができるので、発光層34Bを形成する際はアライメントずれの発生を抑制することができる。したがって、発光層34Bと発光層34Gとの間の距離、および発光層34Bと発光層34Rとの間の距離を短くすることができる。
なお、発光層34R上および発光層34G上に発光層34Bが設けられているが、キャリアバランスを制御することにより、発光層34R上の発光層34B、および発光層34G上の発光層34Bの発光を抑制することができる。
図9では、発光層34Rおよび発光層34Gを例えば塗り分け方式を用いて形成し、発光層34Bを例えば塗り分け方式を用いずに形成したが、本発明の一態様はこれに限らない。例えば、発光層34Rおよび発光層34Bを塗り分け方式を用いて形成し、発光層34Gを塗り分け方式を用いずに形成してもよい。または、例えば発光層34Gおよび発光層34Bを塗り分け方式を用いて形成し、発光層34Rを塗り分け方式を用いずに形成してもよい。
<1−8.表示素子の表示領域2>
図10は、画素13の表示領域を説明する模式図である。本発明の一態様では、画素13は、副画素13a、副画素13b、および副画素13cを有する構成としてもよい。
副画素13aは、表示素子22を有する表示領域22Mdと、表示素子24Rを有する表示領域24Rdと、を有する。副画素13bは、表示素子22を有する表示領域22Ydと、表示素子24Gを有する表示領域24Gdと、を有する。副画素13cは、表示素子22を有する表示領域22Cdと、表示素子24Bを有する表示領域24Bdと、を有する。前述のように、表示領域24Rdは例えば赤色の光を射出する機能を有し、表示領域24Gdは例えば緑色の光を射出する機能を有し、表示領域24Bdは例えば青色の光を射出する機能を有する。一方、表示領域22Mdは例えばマゼンタの光を射出する機能を有し、表示領域22Ydは例えば黄色の光を射出する機能を有し、表示領域22Cdは例えばシアンの光を射出する機能を有する。つまり、光を発する機能を有する表示素子24では例えば赤色、緑色、および青色を表現し、光を反射する機能を有する表示素子22では例えばマゼンタ、黄色、およびシアンを表現することができる。表示素子22では例えばマゼンタ、黄色、およびシアンを表現することにより、表示装置10に入射した光の反射率を高めることができ、表示領域22d(22Md、22Yd、22Cd)から射出される光の輝度を高めることができる。これにより、表示領域24dの面積を大きくすることができる。したがって、表示素子24の発光輝度を低下させても表示領域24dから高輝度の光を射出させることができ、表示装置10の消費電力を低減することができる。
なお、表示領域22Mdは、マゼンタの光を透過する着色層を設けることで、マゼンタの光を射出する機能を有することができる。なお、表示領域22Ydは、黄色の光を透過する着色層を設けることで、黄色の光を射出する機能を有することができる。なお、表示領域22Cdは、シアンの光を透過する着色層を設けることで、シアンの光を射出する機能を有することができる。
図10および図11において、表示領域22dと表示領域24dの面積比は任意とすることができる。なお、表示領域22dから射出される光の色はマゼンタ、黄色、およびシアンとし、表示領域24dから射出される光の色は赤色、緑色、および青色としたが、本発明の一態様ではこれに限られず、表示領域22dから射出される光の色が表示領域24dから射出される光の色の補色であれば、任意の色とすることができる。また、1個の画素13において、表示領域22dおよび表示領域24dから射出される光の色の数を3色ずつとしたが、1色ずつとしてもよいし、2色ずつとしてもよいし、4色以上ずつとしてもよい。
画素13が図10に示す構成である場合、表示素子22では、1個の画素13がマゼンタ、黄色、およびシアンを表現することができる。また、表示素子24では、1個の画素13が赤色、緑色、および青色を表現することができる。つまり、表示素子22を用いて表示される画像の精細度と、表示素子24を用いて表示される画像の精細度とが等しいということができる。これは、画素43が、1個の画素13を有することに対応する。
図11は、4行4列分の画素13(画素13(m,n)乃至画素13(m+3,n+3))の表示領域を説明する模式図であり、図3の変形例である。図11では、表示領域22Rd、表示領域22Gd、および表示領域22Bdの代わりに、表示領域22Md、表示領域22Yd、および表示領域22Cdを設けた点が図3に示す構成と異なる。つまり、図11は、図3と図10を組み合わせた構成ということができる。これにより、例えばマゼンタ、黄色、およびシアンを表現することができる表示素子22を用いて表示される画像の精細度と、赤色、緑色、および青色を表現することができる表示素子24を用いて表示される画像の精細度と、を異ならせることができる。具体的には、表示素子22において表示される画像の精細度は、表示素子24において表示される画像の精細度の例えば1/4であるということができる。これにより、表示素子22が表示素子24と同様に1個の画素13で複数の色を表現する場合より、表示装置10に入射した光の反射率を高めることができ、表示領域22dから射出される光の輝度を高めることができる。したがって、表示素子24の発光輝度を低下させることができ、表示装置10の消費電力を低減することができる。また、表示素子24の劣化が低減され、表示装置10の信頼性を高めることができる。
本実施の形態は、他の実施の形態または実施例等に記載した構成と適宜組み合わせて実施することが可能である。
(実施の形態2)
本実施の形態は、本発明の一態様である表示装置10の一形態について、図面を用いて説明する。
<2−1.構成例>
図12(A)は、表示装置10の斜視概略図である。表示装置10は、基板351と基板361とが貼り合わされた構成を有する。図12では、基板361を破線で明示している。
表示装置10は、表示部12、周辺回路領域234、配線365等を有する。図12では表示装置10にIC(Integrated Circuit)64およびFPC(Flexible Printed Circuits)372が実装されている例を示している。
周辺回路領域234には、表示部12に信号を供給するための回路が含まれる。周辺回路領域234に含まれる回路としては、例えば、ゲートドライバ等がある。
配線365は、表示部12および周辺回路領域234に信号および電力を供給する機能を有する。当該信号および電力は、FPC372を介して外部から、またはIC164から配線365に入力される。
図12(A)では、COG方式またはCOF方式等により、基板351にIC164が設けられている例を示す。例えばゲートドライバ回路またはソースドライバ回路等を有するICを適用できる。なお、IC164は、COF方式等により、FPCに実装してもよい。
図12(A)には、表示部12の一部の拡大図を示している。表示部12には、複数の画素13がマトリクス状に配置されている。画素13は、表示素子として表示素子24および表示素子22を有する。
図12(B)に、画素13の斜視概略図を示す。画素13は、表示素子を駆動するための画素回路236を有する。画素13が有する表示素子24および表示素子22は、画素回路236を介して互いに重なる。画素回路236は、表示素子24を駆動するための第1回路と、表示素子22を駆動するための第2回路と、を有する。
表示素子24から発せされた光237は、画素回路236および表示素子22を通過して外部に射出される。また、外部から入射した光238は表示素子22および画素回路236を通過して表示素子24の電極で反射され、再び画素回路236および表示素子22を通過して、反射光として外部に射出される。
図13(A)に、画素回路236の平面構成例を示す。図13(A)に示す画素回路236は、トランジスタ271、容量素子272、トランジスタ281、容量素子282、およびトランジスタ283等の素子を有する。また、画素回路236は、走査線273の一部、信号線274の一部、共通電位線275の一部、走査線284の一部、信号線285の一部、および電源線286の一部を含む。
前述したように、光237は画素回路236を1回透過する。光238は画素回路236を2回透過する。このため、画素回路236は、透光性を有する材料を含むことが好ましい。
トランジスタ271、容量素子272、トランジスタ281、容量素子282、およびトランジスタ283の少なくとも一は、透光性を有する導電性材料で形成することが好ましい。また、画素回路236内でこれらに接続する電極を、透光性を有する材料で形成することが好ましい。
透光性を有する導電性材料としては、例えば、酸化インジウム、インジウム錫酸化物、インジウム亜鉛酸化物、酸化亜鉛、ガリウムを添加した酸化亜鉛等の導電性酸化物等を用いればよい。特に、エネルギーバンドギャップが2.5eV以上の導電性材料は、可視光の透過率が高いため好ましい。
一方で、透光性を有する導電性材料は、銅やアルミニウム等の遮光性を有する導電性材料と比較して抵抗率が大きい。よって、走査線273、信号線274、走査線284、信号線285、および電源線286等のバスラインは、信号遅延を防ぐため、抵抗率が小さい遮光性を有する導電性材料(金属材料)を用いて形成することが好ましい。ただし、表示部12の大きさや、バスラインの幅、バスラインの厚さ等によっては、バスラインに透光性を有する導電性材料を用いる場合もある。
また、一般に、共通電位線275は、画素回路236内に一定の電位を与えるために用いられ、共通電位線275に大きな電流は流れない。よって、共通電位線275は、抵抗率が大きい透光性を有する導電性材料で形成することができる。ただし、表示素子の駆動方法として、共通電位線275の電位を変動させる方法を用いる場合は、共通電位線275に抵抗率が小さい遮光性を有する金属材料を用いることが好ましい。
図13(B)は、画素回路236の透過領域291と遮光領域292を示す平面図である。光237および光238は、透過領域291を通過して射出される。よって、平面図において、画素13の占有面積に対する透過領域291の割合(「開口率」ともいう。)が大きいほど、光237および光238の取り出し効率を高めることができる。すなわち、表示装置10の消費電力を低減できる。また、表示装置10の視認性を高めることができる。また、表示装置10の表示品位を高めることができる。
本発明の一態様の表示装置10では、画素回路236を構成する素子を、透光性を有する材料で形成することにより、開口率を60%以上さらには80%以上にすることができる。また、表示素子24と表示素子22を重ねて設けることができるため、表示素子24の発光面積と表示素子22の反射面積の合計を、画素13の面積以上にすることができる。言い換えると、画素13の占有面積を100%とした時に、発光面積と反射面積の合計面積を100%以上にすることができる。すなわち、開口率を100%以上にすることができる、とも言える。
例えば、一定の一画素当たりの発光輝度(発光量)を得る場合、表示素子24の発光面積を広くすることにより、単位面積当たりの発光輝度を下げることができる。よって、表示素子24の劣化が低減され、表示装置10の信頼性を高めることができる。
表示素子24は、有機EL素子、無機EL素子、LED、QLED、半導体レーザー等の自発光性の発光素子を用いることが好ましい。また、表示素子24として、光源(例えばLED)と液晶を組みあわせた透過型液晶を用いてもよい。なお、本実施の形態において、表示素子24は有機EL素子として説明を行う。
〔断面構成例〕
図14に、図12(A)で示した表示装置10の、FPC372を含む領域の一部、周辺回路領域234を含む領域の一部、および表示部12を含む領域の一部をそれぞれ切断したときの断面の一例を示す。
図14に示す表示装置10は、基板351と基板361の間に、トランジスタ201、トランジスタ203、トランジスタ205、トランジスタ206、容量素子202、表示素子22、表示素子24、絶縁層220、着色層131等を有する。基板361と絶縁層220は接着層141を介して接着されている。基板351と絶縁層194は接着層142を介して接着されている。
基板361には、着色層131、遮光層132、絶縁層121、および表示素子22の共通電極として機能する電極113、配向膜133b、絶縁層117等が設けられている。絶縁層121は、平坦化層としての機能を有していてもよい。絶縁層121により、電極113の表面を概略平坦にできるため、液晶112の配向状態を均一にできる。絶縁層117は、表示素子22のセルギャップを保持するためのスペーサとして機能する。絶縁層117が可視光を透過する場合は、絶縁層117を表示素子22の表示領域と重ねて配置してもよい。
なお、基板361の外側の面には光学部材等の機能性部材135を配置することができる。光学部材としては、偏光板、位相差板、光拡散層(拡散フィルム等)、反射防止層(「Anti Reflection層」または「AR層」ともいう。)、防眩層(「Anti Glare層」または「AG層」ともいう。)および集光フィルム等が挙げられる。また、光学部材以外の機能性部材としては、ゴミの付着を抑制する帯電防止膜、汚れを付着しにくくする撥水性の膜、使用に伴う傷の発生を抑制するハードコート膜等が挙げられる。機能性部材135として、上記部材を組み合わせて用いてもよい。例えば、直線偏光板と位相差板を組み合わせた円偏光板を用いてもよい。
AR層は、光の干渉作用を利用して、外光の正反射(鏡面反射)を低減する機能を有する。機能性部材135としてAR層を用いる場合、AR層は、基板361の屈折率と異なる屈折率を有する材料で形成される。AR層は、例えば、酸化ジルコニウム、フッ化マグネシウム、酸化アルミニウム、酸化シリコン等の材料を用いて形成することができる。
また、AR層に代えて防眩層(「Anti Glare層」または「AG層」ともいう。)を設けてもよい。AG層は、入射した外光を拡散させることにより、正反射(鏡面反射)を低減する機能を有する。
AG層の形成方法としては、表面に微細な凹凸を設ける方法、屈折率の異なる材料を混合する方法、または、双方を組み合わせる方法等が知られている。例えば、透光性を有する樹脂に、セルロース繊維等のナノファイバ、酸化シリコン等の無機ビーズ、または樹脂ビーズ等を混合して、AG層を形成することができる。
また、AR層に重ねてAG層を設けてもよい。AR層とAG層を積層して設けることで、外光の反射や映り込みを防ぐ機能をより高めることができる。AR層、および/またはAG層等を用いることにより、表示装置10の表面の外光反射率を1%未満、好ましくは0.3%未満とするとよい。
本実施の形態に示す表示素子22は、表示素子24の導電層36を反射電極として用いる反射型の液晶素子である。また、表示素子22は、電極311、液晶112、電極113が積層された積層構造を有する。電極311および電極113は可視光を透過する。液晶112と電極311の間に配向膜133aが設けられている。液晶112と電極113の間に配向膜133bが設けられている。
表示素子22の反射電極を表示素子24の導電層36と兼用することで、表示素子22専用の反射電極を削減できる。よって、表示装置を低コストで作製することができる。また、表示装置10の生産性を高めることができる。
本実施の形態では、機能性部材135として円偏光板を用いる。基板361側から入射した光は、機能性部材135(円偏光板)により偏光され、電極113、液晶112、電極311を透過し、導電層36で反射する。そして液晶112および電極113を再度透過して、機能性部材135(円偏光板)に達する。このとき、電極311と電極113の間に与える電圧によって液晶の配向を制御し、光の光学変調を制御することができる。すなわち、機能性部材135(円偏光板)を介して射出される光の強度を制御することができる。また光は着色層131によって特定の波長域以外の光が吸収されることにより、取り出される光は、例えば赤色を呈する光となる。
接続部207において、電極311は、導電層221bを介して、トランジスタ206が有する導電層222bと電気的に接続されている。トランジスタ206は、表示素子22の駆動を制御する機能を有する。
接着層141が設けられる一部の領域には、接続部252が設けられている。接続部252において、電極311と同一の導電膜を加工して得られた導電層と、電極113の一部が、接続体243により電気的に接続されている。したがって、基板361側に形成された電極113に、FPC372から入力される信号または電位を、接続部252を介して供給することができる。
接続体243としては、例えば導電性の粒子を用いることができる。導電性の粒子としては、有機樹脂またはシリカ等の粒子の表面を金属材料で被覆したものを用いることができる。金属材料としてニッケルや金を用いると接触抵抗を低減できるため好ましい。またニッケルをさらに金で被覆する等、2種類以上の金属材料を層状に被覆させた粒子を用いることが好ましい。また接続体243として、弾性変形、または塑性変形する材料を用いることが好ましい。このとき導電性の粒子である接続体243は、図14に示すように上下方向に潰れた形状となる場合がある。こうすることで、接続体243と、これと電気的に接続する導電層との接触面積が増大し、接触抵抗を低減できるほか、接続不良等の不具合の発生を抑制することができる。例えば、硬化前の接着層141に接続体243を分散させておけばよい。なお、接続体243は、接着層141に覆われるように配置することが好ましい。
表示素子24は、例えばボトムエミッション型の発光素子とすることができる。表示素子24は、絶縁層220側から導電層31、EL層30、および導電層36の順に積層された積層構造を有する。導電層31は、絶縁層214に設けられた開口を介して、トランジスタ205が有する導電層222bと接続されている。トランジスタ205は、表示素子24の駆動を制御する機能を有する。絶縁層216が導電層31の端部を覆っている。導電層36は可視光を反射する機能を有し、導電層31は可視光を透過する機能を有する。導電層36を覆って絶縁層194が設けられている。表示素子24が発する光は、絶縁層220、電極311、着色層131等を介して、基板361側に射出される。
表示素子24の発光色は、EL層30を構成する材料によって、白、赤、緑、青、シアン、マゼンタ、または黄等に変化させることができる。また、表示素子22によって制御される反射光は着色層131を構成する材料によって白、赤、緑、青、シアン、マゼンタまたは黄等に変化させることができる。表示素子24および表示素子22は、画素によって制御する光の色を変えることによってカラー表示を実現することができる。
また、表示素子24に白色光を発光するEL層30を用いて、着色層131で着色してもよい。
カラー表示を実現するために、表示素子24の発光色、および、表示素子22と組み合わせる着色層の色は、赤、緑、青の組み合わせだけでなく、黄、シアン、マゼンタの組み合わせであってもよい。組み合わせる着色層の色は、目的または用途等に応じて適宜設定すればよい。
トランジスタ201、トランジスタ203、トランジスタ205、トランジスタ206、および容量素子202は、いずれも絶縁層220の基板351側の面上に形成されている。図14では、トランジスタ201、トランジスタ203、トランジスタ205、およびトランジスタ206としてトップゲート型のトランジスタを図示している。
トランジスタ203は、画素の選択、非選択状態を制御するトランジスタ(スイッチングトランジスタ、または選択トランジスタともいう)である。トランジスタ205は、表示素子24に流れる電流を制御するトランジスタ(駆動トランジスタともいう)である。
絶縁層220の基板351側には、絶縁層211、絶縁層212、絶縁層213、絶縁層214等の絶縁層が設けられている。絶縁層212、および絶縁層213は、トランジスタ201、トランジスタ203、トランジスタ205、およびトランジスタ206のゲート電極等を覆って設けられる。絶縁層214は、平坦化層としての機能を有する。なお、トランジスタを覆う絶縁層の数は限定されず、単層であっても2層以上であってもよい。
各トランジスタを覆う絶縁層の少なくとも一層に、水や水素等の不純物が拡散しにくい材料を用いることが好ましい。これにより、絶縁層をバリア膜として機能させることができる。このような構成とすることで、トランジスタに対して外部から不純物が拡散することを効果的に抑制することが可能となり、信頼性の高い表示装置を実現できる。
容量素子202は、絶縁層211を介して互いに重なる領域を有する導電層217と導電層218を有する。導電層217は、導電層225と同様の材料および方法で形成できる。導電層218は、導電層223と同様の材料および方法で形成できる。なお、導電層223、導電層225、および導電層222aは、透光性を有する材料で形成することが好ましい。
トランジスタ203、トランジスタ205、およびトランジスタ206は、透光性を有する材料で形成される。前述したように、透光性を有する導電性材料は、銅やアルミニウム等の遮光性を有する導電性材料と比較して抵抗率が大きい。よって、高速動作が求められる、周辺回路領域234に含まれるトランジスタ201に用いる導電層は、抵抗率が小さい遮光性を有する導電性材料(金属材料)を用いて形成する。
トランジスタ203、トランジスタ205、およびトランジスタ206は、ゲートとして機能する導電層223、ゲート絶縁層として機能する絶縁層224、ソースおよびドレインとして機能する導電層222aおよび導電層222b、並びに、半導体層231を有する。ここでは、同一の導電膜を加工して得られる複数の層に、同じハッチングパターンを付している。また、トランジスタ205はゲートとして機能できる導電層225を有する。
トランジスタ201も同様に、ゲートとして機能する導電層、ゲート絶縁層として機能する絶縁層、ソースとして機能する導電層、ドレインとして機能する導電層、および半導体層を有する。また、トランジスタ201はゲートとして機能する導電層221aを有する。導電層221aと導電層221bは、同一の導電膜を加工して得ることができる。
トランジスタ201およびトランジスタ205には、チャネルが形成される半導体層を2つのゲートで挟持する構成が適用されている。このような構成とすることで、トランジスタの閾値電圧を制御することができる。2つのゲートを接続し、これらに同一の信号を供給することによりトランジスタを駆動してもよい。このようなトランジスタは他のトランジスタと比較して電界効果移動度を高めることが可能であり、オン電流を増大させることができる。その結果、高速駆動が可能な回路を作製することができる。さらには、回路部の占有面積を縮小することが可能となる。オン電流の大きなトランジスタを適用することで、表示装置を大型化、または高精細化したときに配線数が増大したとしても、各配線における信号遅延を低減することが可能であり、表示ムラを抑制することができる。
または、2つのゲートのうち、一方に閾値電圧を制御するための電位を与え、他方に駆動のための電位を与えることで、トランジスタの閾値電圧を制御することができる。
表示装置が有するトランジスタの構造に限定はない。周辺回路領域234が有するトランジスタと、表示部12が有するトランジスタは、同じ構造であってもよく、異なる構造であってもよい。周辺回路領域234が有する複数のトランジスタは、全て同じ構造であってもよく、2種類以上の構造が組み合わせて用いられていてもよい。同様に、表示部12が有する複数のトランジスタは、全て同じ構造であってもよく、2種類以上の構造が組み合わせて用いられていてもよい。
ゲートとして機能する導電層には、酸化物を含む導電性材料を用いてもよい。当該導電層を、酸素を含む雰囲気下で成膜することで、ゲート絶縁層に酸素を供給することができる。成膜ガス中の酸素ガスの割合を90%以上100%以下の範囲とすることが好ましい。ゲート絶縁層に供給された酸素は、後の熱処理により半導体層に供給され、半導体層中の酸素欠損の低減を図ることができる。
基板351と基板361が重ならない領域には、接続部204が設けられている。接続部204では、配線365が接続層242を介してFPC372と電気的に接続されている。接続部204は接続部207と同様の構成を有している。接続部204の上面は、電極311と同一の導電膜を加工して得られた導電層が露出している。これにより、接続部204とFPC372とを接続層242を介して電気的に接続することができる。
表示素子22としては、例えば垂直配向(VA:Vertical Alignment)モードが適用された液晶素子を用いることができる。垂直配向モードとしては、MVA(Multi−Domain Vertical Alignment)モード、PVA(Patterned Vertical Alignment)モード、ASV(Advanced Super View)モード等を用いることができる。
表示素子22には、様々なモードが適用された液晶素子を用いることができる。例えばVAモードのほかに、TN(Twisted Nematic)モード、IPS(In−Plane−Switching)モード、VA−IPSモード、FFS(Fringe Field Switching)モード、ASM(Axially Symmetric aligned Micro−cell)モード、OCB(Optically Compensated Birefringence)モード、FLC(Ferroelectric Liquid Crystal)モード、AFLC(AntiFerroelectric Liquid Crystal)モード、ゲスト−ホストモード等が適用された液晶素子を用いることができる。
液晶素子は、液晶の光学的変調作用によって光の透過または非透過を制御する素子である。液晶の光学的変調作用は、液晶にかかる電界(横方向の電界、縦方向の電界または斜め方向の電界を含む)によって制御される。液晶素子に用いる液晶としては、サーモトロピック液晶、低分子液晶、高分子液晶、高分子分散型液晶(PDLC:Polymer Dispersed Liquid Crystal)、強誘電性液晶、反強誘電性液晶等を用いることができる。これらの液晶材料は、条件により、コレステリック相、スメクチック相、キュービック相、カイラルネマチック相、等方相等を示す。
液晶材料としては、ポジ型の液晶、またはネガ型の液晶のいずれを用いてもよく、適用するモードや設計に応じて最適な液晶材料を用いればよい。
液晶の配向を制御するため、配向膜を設けることができる。なお、横電界方式を採用する場合、配向膜を用いないブルー相を示す液晶を用いてもよい。ブルー相は液晶相の一つであり、コレステリック液晶を昇温していくと、コレステリック相から等方相へ転移する直前に発現する相である。ブルー相は狭い温度範囲でしか発現しないため、温度範囲を改善するために数重量%以上のカイラル剤を混合させた液晶組成物を液晶に用いる。ブルー相を示す液晶とカイラル剤とを含む液晶組成物は、応答速度が短く、光学的等方性である。また、ブルー相を示す液晶とカイラル剤とを含む液晶組成物は、配向処理が不要であり、視野角依存性が小さい。また配向膜を設けなくてもよいのでラビング処理も不要となるため、ラビング処理によって引き起こされる静電破壊を防止することができ、作製工程中の液晶表示装置の不良や破損を軽減することができる。
また、円偏光板を用いる反射型の液晶表示装置のオン状態とオフ状態の切り替え(明状態と暗状態の切り替え)は、液晶分子の長軸を基板と略垂直な方向にそろえるか、基板と略水平な方向にそろえるか、によって行なわれる。一般に、IPSモード等の横電界方式で動作する液晶素子は、オン状態およびオフ状態ともに液晶分子の長軸が基板と略水平な方向にそろうため、反射型の液晶表示装置に用いることが難しい。
VA−IPSモードで動作する液晶素子は、横電界方式で動作し、かつ、オン状態とオフ状態の切り替えを、液晶分子の長軸を基板と略垂直な方向にそろえるか、基板と略水平な方向にそろえるか、によって行なわれる。このため、反射型の液晶表示装置に横電界方式で動作する液晶素子を用いる場合は、VA−IPSモードで動作する液晶素子を用いることが好ましい。
機能性部材135よりも外側に、フロントライトを設けてもよい。フロントライトとしては、エッジライト型のフロントライトを用いることが好ましい。LED(Light Emitting Diode)を備えるフロントライトを用いると、消費電力を低減できるため好ましい。
接着層としては、紫外線硬化型等の光硬化型接着剤、反応硬化型接着剤、熱硬化型接着剤、嫌気型接着剤等の各種硬化型接着剤を用いることができる。これら接着剤としてはエポキシ樹脂、アクリル樹脂、シリコーン樹脂、フェノール樹脂、ポリイミド樹脂、イミド樹脂、PVC(ポリビニルクロライド)樹脂、PVB(ポリビニルブチラル)樹脂、EVA(エチレンビニルアセテート)樹脂等が挙げられる。特に、エポキシ樹脂等の透湿性が低い材料が好ましい。また、二液混合型の樹脂を用いてもよい。また、接着シート等を用いてもよい。
接続層242としては、異方性導電フィルム(ACF:Anisotropic Conductive Film)、異方性導電ペースト(ACP:Anisotropic Conductive Paste)等を用いることができる。
発光素子としては、トップエミッション型、ボトムエミッション型、デュアルエミッション型等がある。光を取り出す側の電極には、可視光を透過する導電膜を用いる。また、光を取り出さない側の電極には、可視光を反射する導電膜を用いることが好ましい。表示素子24は、ボトムエミッション型の発光素子ということができる。
EL層30は少なくとも発光層を有する。EL層30は、発光層以外の層として、正孔注入性の高い物質、正孔輸送性の高い物質、正孔ブロック材料、電子輸送性の高い物質、電子注入性の高い物質、またはバイポーラ性の物質(電子輸送性および正孔輸送性が高い物質)等を含む層をさらに有していてもよい。
表示素子24の発光色は、EL層30を構成する材料によって、白、赤、緑、青、シアン、マゼンタ、または黄等に変化させることができる。
カラー表示を実現する方法としては、発光色が白色の表示素子24と着色層を組み合わせて行う方法と、副画素毎に発光色の異なる表示素子24を設ける方法がある。前者の方法は後者の方法よりも生産性が高い。一方、後者の方法では、前者の方法よりも色純度の高い発光色を得ることができる。さらに、後者の方法では、前者の方法より、着色層131による光の吸収が抑制されるので、表示装置10の消費電力を低減することができる。後者の方法に加えて、表示素子24にマイクロキャビティ構造を付与することにより色純度をさらに高めることができる。
EL層30には低分子系化合物および高分子系化合物のいずれを用いることもでき、無機化合物を含んでいてもよい。EL層30を構成する層は、それぞれ、蒸着法(真空蒸着法を含む)、転写法、印刷法、インクジェット法、塗布法等の方法で形成することができる。
EL層30は、量子ドット等の無機化合物を有していてもよい。例えば、量子ドットを発光層に用いることで、発光材料として機能させることもできる。
また、量子ドットは、数nmサイズの半導体ナノ結晶であり、1×103個から1×106個程度の原子から構成されている。量子ドットはサイズに依存してエネルギーシフトするため、同じ物質から構成される量子ドットであっても、サイズによって発光波長が異なり、用いる量子ドットのサイズを変更することによって容易に発光波長を調整することができる。
また、量子ドットは、発光スペクトルのピーク幅が狭いため、色純度のよい発光を得ることができる。さらに、量子ドットの理論的な外部量子効率はほぼ100%であると言われており、蛍光発光を呈する有機化合物の25%を大きく上回り、燐光発光を呈する有機化合物と同等となっている。このことから、量子ドットを発光材料として用いることによって発光効率の高い発光素子を得ることができる。その上、無機化合物である量子ドットはその本質的な安定性にも優れているため、寿命の観点からも好ましい発光素子を得ることができる。
量子ドットを構成する材料としては、周期表第14族元素、周期表第15族元素、周期表第16族元素、複数の周期表第14族元素からなる化合物、周期表第4族から周期表第14族に属する元素と周期表第16族元素との化合物、周期表第2族元素と周期表第16族元素との化合物、周期表第13族元素と周期表第15族元素との化合物、周期表第13族元素と周期表第17族元素との化合物、周期表第14族元素と周期表第15族元素との化合物、周期表第11族元素と周期表第17族元素との化合物、酸化鉄類、酸化チタン類、カルコゲナイドスピネル類、各種半導体クラスター等を挙げることができる。
具体的には、セレン化カドミウム、硫化カドミウム、テルル化カドミウム、セレン化亜鉛、酸化亜鉛、硫化亜鉛、テルル化亜鉛、硫化水銀、セレン化水銀、テルル化水銀、砒化インジウム、リン化インジウム、砒化ガリウム、リン化ガリウム、窒化インジウム、窒化ガリウム、アンチモン化インジウム、アンチモン化ガリウム、リン化アルミニウム、砒化アルミニウム、アンチモン化アルミニウム、セレン化鉛、テルル化鉛、硫化鉛、セレン化インジウム、テルル化インジウム、硫化インジウム、セレン化ガリウム、硫化砒素、セレン化砒素、テルル化砒素、硫化アンチモン、セレン化アンチモン、テルル化アンチモン、硫化ビスマス、セレン化ビスマス、テルル化ビスマス、ケイ素、炭化ケイ素、ゲルマニウム、錫、セレン、テルル、ホウ素、炭素、リン、窒化ホウ素、リン化ホウ素、砒化ホウ素、窒化アルミニウム、硫化アルミニウム、硫化バリウム、セレン化バリウム、テルル化バリウム、硫化カルシウム、セレン化カルシウム、テルル化カルシウム、硫化ベリリウム、セレン化ベリリウム、テルル化ベリリウム、硫化マグネシウム、セレン化マグネシウム、硫化ゲルマニウム、セレン化ゲルマニウム、テルル化ゲルマニウム、硫化錫、セレン化錫、テルル化錫、酸化鉛、フッ化銅、塩化銅、臭化銅、ヨウ化銅、酸化銅、セレン化銅、酸化ニッケル、酸化コバルト、硫化コバルト、四酸化三鉄、硫化鉄、酸化マンガン、硫化モリブデン、酸化バナジウム、酸化タングステン、酸化タンタル、酸化チタン、酸化ジルコニウム、窒化ケイ素、窒化ゲルマニウム、酸化アルミニウム、チタン酸バリウム、セレンと亜鉛とカドミウムの化合物、インジウムと砒素とリンの化合物、カドミウムとセレンと硫黄の化合物、カドミウムとセレンとテルルの化合物、インジウムとガリウムと砒素の化合物、インジウムとガリウムとセレンの化合物、インジウムとセレンと硫黄の化合物、銅とインジウムと硫黄の化合物およびこれらの組合せ等を挙げることができるが、これらに限定されるものではない。また、組成が任意の比率で表される、いわゆる合金型量子ドットを用いても良い。例えば、カドミウムとセレンと硫黄の合金型量子ドットは、元素の含有比率を変化させることで発光波長を変えることができるため、青色発光を得るには有効な手段の一つである。
量子ドットの構造としては、コア型、コア−シェル型、コア−マルチシェル型等があり、そのいずれを用いても良いが、コアを覆ってより広いバンドギャップを持つ別の無機材料でシェルを形成することによって、ナノ結晶表面に存在する欠陥やダングリングボンドの影響を低減することができる。これにより、発光の量子効率が大きく改善するためコア−シェル型やコア−マルチシェル型の量子ドットを用いることが好ましい。シェルの材料の例としては、硫化亜鉛や酸化亜鉛が挙げられる。
また、量子ドットは、表面原子の割合が高いことから、反応性が高く、凝集が起こりやすい。そのため、量子ドットの表面には保護剤が付着しているまたは保護基が設けられていることが好ましい。当該保護剤が付着しているまたは保護基が設けられていることによって、凝集を防ぎ、溶媒への溶解性を高めることができる。また、反応性を低減させ、電気的安定性を向上させることも可能である。保護剤(または保護基)としては、例えば、ポリオキシエチレンラウリルエーテル、ポリオキシエチレンステアリルエーテル、ポリオキシエチレンオレイルエーテル等のポリオキシエチレンアルキルエーテル類、トリプロピルホスフィン、トリブチルホスフィン、トリヘキシルホスフィン、トリオクチルホスフィン等のトリアルキルホスフィン類、ポリオキシエチレンn−オクチルフェニルエーテル、ポリオキシエチレンn−ノニルフェニルエーテル等のポリオキシエチレンアルキルフェニルエーテル類、トリ(n−ヘキシル)アミン、トリ(n−オクチル)アミン、トリ(n−デシル)アミン等の第3級アミン類、トリプロピルホスフィンオキシド、トリブチルホスフィンオキシド、トリヘキシルホスフィンオキシド、トリオクチルホスフィンオキシド、トリデシルホスフィンオキシド等の有機リン化合物、ポリエチレングリコールジラウレート、ポリエチレングリコールジステアレート等のポリエチレングリコールジエステル類、また、ピリジン、ルチジン、コリジン、キノリン類等の含窒素芳香族化合物等の有機窒素化合物、ヘキシルアミン、オクチルアミン、デシルアミン、ドデシルアミン、テトラデシルアミン、ヘキサデシルアミン、オクタデシルアミン等のアミノアルカン類、ジブチルスルフィド等のジアルキルスルフィド類、ジメチルスルホキシドやジブチルスルホキシド等のジアルキルスルホキシド類、チオフェン等の含硫黄芳香族化合物等の有機硫黄化合物、パルミチン酸、ステアリン酸、オレイン酸等の高級脂肪酸、アルコール類、ソルビタン脂肪酸エステル類、脂肪酸変性ポリエステル類、3級アミン変性ポリウレタン類、ポリエチレンイミン類等が挙げられる。
量子ドットは、サイズが小さくなるに従いバンドギャップが大きくなるため、所望の波長の光が得られるようにそのサイズを適宜調節する。結晶サイズが小さくなるにつれて、量子ドットの発光は青色側へ、つまり、高エネルギー側へとシフトするため、量子ドットのサイズを変化させることにより、紫外領域、可視領域、赤外領域のスペクトルの波長領域にわたって、その発光波長を調節することができる。量子ドットのサイズ(直径)は0.5nm乃至20nm、好ましくは1nm乃至10nmの範囲のものが通常良く用いられる。なお、量子ドットはそのサイズ分布が狭いほど、より発光スペクトルが狭線化し、色純度の良好な発光を得ることができる。また、量子ドットの形状は特に限定されず、球状、棒状、円盤状、その他の形状であってもよい。なお、棒状の量子ドットである量子ロッドはc軸方向に偏光した指向性を有する光を呈するため、量子ロッドを発光材料として用いることにより、より外部量子効率が良好な発光素子を得ることができる。
また、EL素子では多くの場合、発光材料をホスト材料に分散することによって発光効率を高めるが、ホスト材料は発光材料以上の一重項励起エネルギーまたは三重項励起エネルギーを有する物質であることが必要である。特に青色の燐光材料を用いる場合においては、それ以上の三重項励起エネルギーを有する材料であり、かつ、寿命の観点で優れたホスト材料の開発は困難を極めている。一方で、量子ドットはホスト材料を用いずに量子ドットのみで発光層を構成しても発光効率を保つことができるため、この点でも寿命という観点から好ましい発光素子を得ることができる。量子ドットのみで発光層を形成する場合には、量子ドットはコア−シェル構造(コア−マルチシェル構造を含む)であることが好ましい。
また、本発明の一態様の表示装置10は、表示素子24と表示素子22の間に基板を設けない。このため、表示素子24と表示素子22の厚さ方向の距離を30μm未満、好ましくは10μm未満、さらに好ましくは5μm未満とすることができる。これにより、表示素子24および表示素子22を同時にまたは交互に用いる表示において、両者の間に生じる視差を少なくすることができる。または、表示装置10の重量を軽くすることができる。または、表示装置10の厚さを薄くすることができる。または、表示装置10を曲げやすくすることができる。
[基板]
基板351および基板361に用いる材料に大きな制限はない。目的に応じて、透光性の有無や加熱処理に耐えうる程度の耐熱性等を勘案して決定すればよい。例えばバリウムホウケイ酸ガラスやアルミノホウケイ酸ガラス等のガラス基板、セラミック基板、石英基板、サファイア基板等を用いることができる。また、半導体基板、可撓性基板(フレキシブル基板)、貼り合わせフィルム、基材フィルム等を用いてもよい。
半導体基板としては、例えば、シリコン、もしくはゲルマニウム等を材料とした単体半導体基板、または炭化シリコン、シリコンゲルマニウム、ヒ化ガリウム、リン化インジウム、酸化亜鉛、もしくは酸化ガリウムを材料とした化合物半導体基板等がある。また、半導体基板は、単結晶半導体であってもよいし、多結晶半導体であってもよい。
なお、表示装置10の可撓性を高めるため、基板351および基板361には可撓性基板(フレキシブル基板)、貼り合わせフィルム、基材フィルム等を用いてもよい。
可撓性基板、貼り合わせフィルム、基材フィルム等の材料としては、例えば、ポリエチレンテレフタレート(PET)、ポリエチレンナフタレート(PEN)等のポリエステル樹脂、ポリアクリロニトリル樹脂、アクリル樹脂、ポリイミド樹脂、ポリメチルメタクリレート樹脂、ポリカーボネート(PC)樹脂、ポリエーテルスルホン(PES)樹脂、ポリアミド樹脂(ナイロン、アラミド等)、ポリシロキサン樹脂、シクロオレフィン樹脂、ポリスチレン樹脂、ポリアミドイミド樹脂、ポリウレタン樹脂、ポリ塩化ビニル樹脂、ポリ塩化ビニリデン樹脂、ポリプロピレン樹脂、ポリテトラフルオロエチレン(PTFE)樹脂、ABS樹脂、セルロースナノファイバー等を用いることができる。
基板として上記材料を用いることにより、軽量な表示装置を提供することができる。また、基板として上記材料を用いることにより、衝撃に強い表示装置を提供することができる。また、基板として上記材料を用いることにより、破損しにくい表示装置を提供することができる。
基板351および基板361に用いる可撓性基板は、線膨張率が低いほど環境による変形が抑制されて好ましい。基板351および基板361に用いる可撓性基板は、例えば、線膨張率が1×10−3/K以下、5×10−5/K以下、または1×10−5/K以下である材質を用いればよい。特に、アラミドは、線膨張率が低いため、可撓性基板として好適である。
[導電層]
トランジスタのゲート、ソースおよびドレインのほか、表示装置を構成する各種配線および電極等の導電層に用いることのできる材料としては、アルミニウム、チタン、クロム、ニッケル、銅、イットリウム、ジルコニウム、モリブデン、銀、タンタル、またはタングステン等の金属、またはこれを主成分とする合金等が挙げられる。これらの材料を含む膜を単層で、または積層構造として用いることができる。
また、透光性を有する導電性材料としては、酸化インジウム、インジウム錫酸化物、インジウム亜鉛酸化物、酸化亜鉛、ガリウムを添加した酸化亜鉛等の導電性酸化物またはグラフェンを用いることができる。または、透光性を有する導電性材料としては、酸化物導電体を適用することもできる。または、金、銀、白金、マグネシウム、ニッケル、タングステン、クロム、モリブデン、鉄、コバルト、銅、パラジウム、またはチタン等の金属材料や、該金属材料を含む合金材料を用いることができる。または、該金属材料の窒化物(例えば、窒化チタン)等を用いてもよい。なお、金属材料、合金材料(またはそれらの窒化物)を用いる場合には、透光性を有する程度に薄くすればよい。また、上記材料の積層膜を導電層として用いることができる。例えば、銀とマグネシウムの合金とインジウムスズ酸化物の積層膜等を用いると、導電性を高めることができるため好ましい。これらは、表示装置を構成する各種配線および電極等の導電層や、表示素子が有する導電層(画素電極や共通電極として機能する導電層)にも用いることができる。
ここで、酸化物導電体について説明を行う。本明細書等において、酸化物導電体をOC(Oxide Conductor)と呼称してもよい。酸化物導電体としては、例えば、金属酸化物に酸素欠損を形成し、該酸素欠損に水素を添加すると、伝導帯近傍にドナー準位が形成される。この結果、金属酸化物は、導電性が高くなり導電体化する。導電体化された金属酸化物を、酸化物導電体ということができる。一般に、酸化物半導体は、エネルギーギャップが大きいため、可視光に対して透光性を有する。一方、酸化物導電体は、伝導帯近傍にドナー準位を有する金属酸化物である。したがって、酸化物導電体は、ドナー準位による吸収の影響は小さく、可視光に対して酸化物半導体と同程度の透光性を有する。
[絶縁層]
各絶縁層に用いることのできる絶縁材料としては、例えば、アクリル、エポキシ等の樹脂材料、酸化シリコン、酸化窒化シリコン、窒化酸化シリコン、窒化シリコン、酸化アルミニウム等の無機絶縁材料が挙げられる。
[着色層]
着色層に用いることのできる材料としては、金属材料、樹脂材料、顔料または染料が含まれた樹脂材料等が挙げられる。
[遮光層]
遮光層として用いることのできる材料としては、カーボンブラック、チタンブラック、金属、金属酸化物、複数の金属酸化物の固溶体を含む複合酸化物等が挙げられる。遮光層は、樹脂材料を含む膜であってもよいし、金属等の無機材料の薄膜であってもよい。また、遮光層に、着色層の材料を含む膜の積層膜を用いることもできる。例えば、ある色の光を透過する着色層に用いる材料を含む膜と、他の色の光を透過する着色層に用いる材料を含む膜との積層構造を用いることができる。着色層と遮光層の材料を共通化することで、装置を共通化できるほか工程を簡略化できるため好ましい。
着色層および遮光層は、インクジェット法またはスクリーン印刷法等を用いると、フォトマスクが不要となるため好ましい。例えば、基板361上に、3色の着色層131と、遮光層132を設けた場合には、これらをフォトリソグラフィ法で形成した場合に比べて、計4つのフォトマスクを削減することができる。
〔変形例1〕
表示装置10の変形例を図15に示す。図15に示す構成の表示装置10は、機能性部材135を有していない点で、図14に示す構成の表示装置10と異なる。表示素子22にゲスト−ホストモードで動作する液晶材料を用いることにより、図15に示すように、光拡散層や偏光板等の機能性部材を省略することができる。よって、表示装置10の生産性を高めることができる。また、偏光板等の機能性部材を設けないことにより、表示素子22の反射輝度を高めることができる。よって、表示装置10の視認性を高めることができる。
〔変形例2〕
表示装置10の変形例を図16に示す。図16に示す構成の表示装置10は、着色層131を有していない点で、図14に示す構成の表示装置10と異なる。その他の構成については、表示装置10と同様のため、詳細な説明を省略する。
図16に示す構成の表示装置10において、表示素子22は、白色を呈する。着色層131を有していないため、表示装置10は、表示素子22を用いて、白黒またはグレイスケールでの表示を行うことができる。
〔変形例3〕
表示装置10の変形例を図17に示す。図17に示す構成の表示装置10は、基板361と着色層131の間にタッチセンサ370を有する。本実施の形態では、タッチセンサ370は導電層374、絶縁層375、導電層376a、導電層376b、導電層377、および絶縁層378を有する。
導電層376a、導電層376b、および導電層377は、透光性を有する導電性材料で形成することが好ましい。ただし、一般に、透光性を有する導電性材料は、透光性を有さない金属材料よりも抵抗率が高い。よって、タッチセンサの大型化、高精細化を実現するため、導電層376a、導電層376b、および導電層377を抵抗率が低い金属材料で形成する場合がある。
また、導電層376a、導電層376b、および導電層377を金属材料で形成する場合、外光反射を低減することが好ましい。一般的に金属材料は反射率が大きい材料であるが、酸化処理等を施すことにより反射率を小さくして、暗色にすることができる。
また、導電層376a、導電層376b、および導電層377を、金属層と反射率の小さい層(「暗色層」ともいう。)の積層としてもよい。暗色層は抵抗率が高いため、金属層と暗色層の積層とすることが好ましい。暗色層の一例としては、酸化銅を含む層、塩化銅または塩化テルルを含む層等がある。また、暗色層を、Ag粒子、Agファイバー、Cu粒子等の金属微粒子、カーボンナノチューブ(CNT)、またはグラフェン等のナノ炭素粒子、ならびに、PEDOT、ポリアニリン、またはポリピロール等の導電性高分子等を用いて形成してもよい。
また、タッチセンサ370として、抵抗膜方式または静電容量方式のタッチセンサのほか、光電変換素子を用いた光学式のタッチセンサ等を用いてもよい。静電容量方式としては、表面型静電容量方式、投影型静電容量方式等がある。投影型静電容量方式としては、主に駆動方式の違いから、自己容量方式、相互容量方式等がある。相互容量方式を用いると同時多点検出が可能となるため好ましい。
なお、その他の構成については、表示装置10と同様のため、詳細な説明を省略する。
また、基板361と着色層131の間にタッチセンサ370を設けずに、表示装置10の基板361と重ねてタッチセンサを設けてもよい。例えば、シート状のタッチセンサ176を表示部12に重ねて設けてもよい。
〔トランジスタについて〕
本発明の一態様において、表示装置が有するトランジスタの構造は特に限定されない。例えば、プレーナ型のトランジスタとしてもよいし、スタガ型のトランジスタとしてもよいし、逆スタガ型のトランジスタとしてもよい。また、トップゲート構造またはボトムゲート構造のいずれのトランジスタ構造としてもよい。または、チャネルの上下にゲート電極が設けられていてもよい。
[半導体材料]
トランジスタの半導体層に用いる半導体材料の結晶性について大きな制限はない。非晶質半導体、結晶性を有する半導体(微結晶半導体、多結晶半導体、単結晶半導体、または一部に結晶領域を有する半導体)のいずれを用いてもよい。なお、結晶性を有する半導体を用いると、トランジスタ特性の劣化を抑制できるため好ましい。
また、例えば、トランジスタの半導体層に用いる半導体材料として、シリコンや、ゲルマニウム等を用いることができる。また、炭化シリコン、ガリウム砒素、窒化物半導体等の化合物半導体や、有機半導体等を用いることができる。
例えば、トランジスタに用いる半導体材料として、多結晶シリコン(ポリシリコン)や、非晶質シリコン(アモルファスシリコン)等を用いることができる。
また、トランジスタとして、金属酸化物を用いたOSトランジスタを用いることができる。OSトランジスタを用いると、トランジスタのオフ状態におけるソースとドレインの間に流れる電流を低減できるため好ましい。
<2−2.表示モード>
表示装置10は、3つの表示モードで動作させることができる。第1の表示モード(mode1)は、表示素子22のみを用いて画像を表示するモード、つまり例えば反射型の液晶表示装置として画像を表示する表示モードである。第2の表示モード(mode2)は、表示素子24のみを用いて画像を表示するモード、つまり例えば発光表示装置として画像を表示する表示モードである。第3の表示モード(mode3)は、表示素子22と表示素子24の両方を用いて画像を表示するモード、つまり例えば第1の表示モードと第2の表示モードを同時に作用させる表示モードである。
〔第1の表示モード〕
第1の表示モードは光源が不要であるため、極めて低消費電力な表示モードである。例えば、外光の照度が十分大きく、かつ外光が白色光またはその近傍の光である場合に特に有効である。また、第1の表示モードは、照度が300lx程度より大きい環境下、例えば日中下で使用する場合に特に有効である。ただし、目的または用途等によって、照度が300lx程度より小さい環境下であっても、表示装置10を第1の表示モードで動作させる場合がありうる。
また、第1の表示モードは、本や書類等の文字情報を表示することに適した表示モードである。画像の表示に反射光を用いるため、目に優しい表示を行うことができ、目が疲れにくいという効果を奏する。
図18(A1)は、日中の屋外で電子機器910を使用している様子を示している。図18(A1)において、電子機器910の表示装置は第1の表示モードで動作する。電子機器910は、例えば、スマートフォン等の携帯情報端末である。また、電子機器910は、本発明の一態様の表示装置10を有している。
図18(A2)は、電子機器910の表示装置10に入射する入射光901と、表示装置10が反射する反射光902を示している。
〔第2の表示モード〕
第2の表示モードは、外光の照度や色度によらず、極めて鮮やかな(コントラストが高く、かつ色再現性の高い)表示を行うことができる表示モードである。例えば、夜間や室内等、外光の照度が小さい場合等に有効である。第2の表示モードは、照度が5000lx程度より小さい環境下での使用時に特に有効である。ただし、目的または用途等によって、照度が5000lx程度より大きい環境下であっても、表示装置10を第2の表示モードで動作させる場合がありうる。また、外光の照度が小さい場合、明るい表示を行うと使用者が眩しく感じてしまう場合がある。これを防ぐために、第2の表示モードでは輝度を抑えた表示を行うことが好ましい。これにより、眩しさを抑えることに加え、消費電力も低減することができる。第2の表示モードは、鮮やかな画像や滑らかな動画等を表示することに適したモードである。
図18(B1)は、夜間の屋外で電子機器910を使用している様子を示している。また、同図中の電子機器920は、デジタルサイネージに用いる電子機器である。図18(B1)において、電子機器910および電子機器920の表示装置は第2の表示モードで動作する。また、電子機器920は、本発明の一態様の表示装置10を有している。
図18(B2)は、電子機器910の表示装置10から射出される発光903と、電子機器920の表示装置10から射出される発光903を示している。
〔第3の表示モード〕
第3の表示モードは、第1の表示モードによる反射光と、第2の表示モードによる発光の両方を利用して表示を行う表示モードである。例えば、第1の表示モードの最大反射輝度以上の光を表示装置10から射出する必要が生じた場合に、必要な光量を第2の表示モードによる発光で補うことができる。また、例えば、第1の表示モードによる反射光と、第2の表示モードによる発光を混合することにより、1つの色を表現するように駆動することができる。
第3の表示モードは、第1の表示モードよりも鮮やかな表示をしつつ、第2の表示モードよりも消費電力を抑えることができる。例えば、室内照明下や、朝方や夕方の時間帯等、外光の照度が比較的低い場合や、外光の色度が白色ではない場合等に有効である。
第3の表示モードは、照度が5000lx程度より小さい環境下での使用時に特に有効である。ただし、目的または用途等によって、照度が5000lx程度より大きい環境下であっても、表示装置10を第3の表示モードで動作させる場合がありうる。
図18(C1)は、室内で電子機器910を使用している様子を示している。また、同図中の電子機器930は、テレビまたはモニタとして機能できる電子機器である。また、同図中の電子機器940は、ノート型のパーソナルコンピュータである。図18(C1)において、電子機器910、電子機器930、および電子機器940が有する表示装置は第3の表示モードで動作する。また、電子機器930および電子機器940は、本発明の一態様の表示装置10を有している。
図18(C2)は、電子機器910の表示装置10から射出される発光903、電子機器910の表示装置10に入射する入射光901、および電子機器910の表示装置10が反射する反射光902を示している。また、電子機器930の表示装置10から射出される発光903、電子機器930の表示装置10に入射する入射光901、および電子機器930の表示装置10が反射する反射光902を示している。電子機器940の表示装置10も、他の表示装置10と同様に機能することができる。
なお、第3の表示モードを用いた表示は、ハイブリッド表示モードとも言える。ハイブリッド表示とは、1つのパネルにおいて、反射光と、自発光とを併用して、色調または光強度を互いに補完して、文字または画像を表示する方法である。または、ハイブリッド表示とは、同一画素または同一副画素において複数の表示素子から、それぞれの光を用いて、文字および/または画像を表示する方法である。ただし、ハイブリッド表示を行っている表示装置(「ハイブリッド表示装置」または「ハイブリッドディスプレイ」ともいう。)を局所的にみると、複数の表示素子のいずれか一を用いて表示される画素または副画素と、複数の表示素子の二以上を用いて表示される画素または副画素と、を有する場合がある。
なお、本明細書等において、上記構成のいずれか1つまたは複数の表現を満たすものを、ハイブリッド表示という。
また、ハイブリッドディスプレイは、同一画素または同一副画素に複数の表示素子を有する。なお、複数の表示素子としては、例えば、光を反射する反射型素子と、光を射出する自発光素子とが挙げられる。なお、反射型素子と、自発光素子とは、それぞれ独立に制御することができる。ハイブリッドディスプレイは、表示部において、反射光および自発光のいずれか一方または双方を用いて、文字および/または画像を表示する機能を有する。
本実施の形態は、他の実施の形態または実施例等に記載した構成と適宜組み合わせて実施することが可能である。
(実施の形態3)
本実施の形態では、上記実施の形態で示したOSトランジスタの構成例について説明を行う。
<3−1.OSトランジスタの構成例1>
まず、トランジスタの構造の一例として、トランジスタ3200aについて、図19(A)、(B)、(C)を用いて説明する。図19(A)はトランジスタ3200aの上面図である。図19(B)は、図19(A)に示す一点鎖線X1−X2間における切断面の断面図に相当し、図19(C)は、図19(A)に示す一点鎖線Y1−Y2間における切断面の断面図に相当する。なお、図19(A)において、煩雑になることを避けるため、トランジスタ3200aの構成要素の一部(ゲート絶縁層としての機能を有する絶縁層等)を省略して図示している。なお、以下において、一点鎖線X1−X2方向をチャネル長方向、一点鎖線Y1−Y2方向をチャネル幅方向と呼称する場合がある。なお、トランジスタの上面図においては、以降の図面においても図19と同様に、構成要素の一部を省略して図示する場合がある。
トランジスタ3200aは、絶縁層3224上の導電層3221と、絶縁層3224および導電層3221上の絶縁層3211と、絶縁層3211上の金属酸化物層3231と、金属酸化物層3231上の導電層3222aと、金属酸化物層3231上の導電層3222bと、金属酸化物層3231、導電層3222a、および導電層3222b上の絶縁層3212と、絶縁層3212上の導電層3223と、絶縁層3212および導電層3223上の絶縁層3213と、を有する。
また、絶縁層3211および絶縁層3212は、開口部3235を有する。導電層3223は、開口部3235を介して、導電層3221と電気的に接続される。
ここで、絶縁層3211は、トランジスタ3200aの第1のゲート絶縁層としての機能を有し、絶縁層3212は、トランジスタ3200aの第2のゲート絶縁層としての機能を有し、絶縁層3213は、トランジスタ3200aの保護絶縁層としての機能を有する。また、トランジスタ3200aにおいて、導電層3221は、第1のゲートとしての機能を有し、導電層3222aは、ソースまたはドレインの一方としての機能を有し、導電層3222bは、ソースまたはドレインの他方としての機能を有する。また、トランジスタ3200aにおいて、導電層3223は、第2のゲートとしての機能を有する。
なお、トランジスタ3200aは、所謂チャネルエッチ型のトランジスタであり、デュアルゲート構造である。
また、トランジスタ3200aは、導電層3223を設けない構成にすることもできる。この場合、トランジスタ3200aは、所謂チャネルエッチ型のトランジスタであり、ボトムゲート構造である。
図19(B)、(C)に示すように、金属酸化物層3231は、導電層3221、および導電層3223と対向するように位置し、2つのゲートの機能を有する導電層に挟まれている。導電層3223のチャネル長方向の長さは金属酸化物層3231のチャネル長方向の長さよりも長く、導電層3223のチャネル幅方向の長さは金属酸化物層3231のチャネル幅方向の長さよりも長くなっている。金属酸化物層3231の全体は、絶縁層3212を介して導電層3223に覆われている。
別言すると、導電層3221および導電層3223は、絶縁層3211および絶縁層3212に設けられる開口部3235において接続され、かつ金属酸化物層3231の側端部よりも外側に位置する領域を有する。
このような構成を有することで、トランジスタ3200aに含まれる金属酸化物層3231を、導電層3221および導電層3223の電界によって電気的に囲むことができる。トランジスタ3200aのように、第1のゲートおよび第2のゲートの電界によって、チャネル領域が形成される金属酸化物層を、電気的に囲むトランジスタのデバイス構造をsurrounded channel(s−channel)構造ということができる。
トランジスタ3200aは、s−channel構造を有するため、第1のゲートの機能を有する導電層3221によってチャネルを誘起させるための電界を効果的に金属酸化物層3231に印加することができる。このため、トランジスタ3200aの電流駆動能力が向上し、高いオン電流特性を得ることが可能となる。また、オン電流を高くすることが可能であるため、トランジスタ3200aを微細化することが可能となる。また、トランジスタ3200aは、金属酸化物層3231が、第1のゲートの機能を有する導電層3221および第2のゲートの機能を有する導電層3223によって囲まれた構造を有するため、トランジスタ3200aの機械的強度を高めることができる。
例えば、金属酸化物層3231は、Inと、M(Mは、ガリウム、アルミニウム、シリコン、ホウ素、イットリウム、スズ、銅、バナジウム、ベリリウム、チタン、鉄、ニッケル、ゲルマニウム、ジルコニウム、モリブデン、ランタン、セリウム、ネオジム、ハフニウム、タンタル、タングステン、またはマグネシウム)と、Znと、を有すると好ましい。
また、金属酸化物層3231は、Inの原子数比がMの原子数比より多い領域を有すると好ましい。一例としては、金属酸化物層3231のIn、M、およびZnの原子数の比を、In:M:Zn=4:2:3近傍とすると好ましい。ここで、近傍とは、Inが4の場合、Mが1.5以上2.5以下であり、かつZnが2以上4以下を含む。または、金属酸化物層3231のIn、M、およびZnの原子数の比を、In:M:Zn=5:1:6近傍とすると好ましい。
また、金属酸化物層3231は、CAC−OSであると好適である。金属酸化物層3231が、Inの原子数比がMの原子数比より多い領域を有し、かつCAC−OSであることで、トランジスタ3200aの電界効果移動度を高くすることができる。なお、CAC−OSの詳細については、後述する。
また、s−channel構造であるトランジスタ3200aは電界効果移動度が高く、かつ駆動能力が高いので、トランジスタ3200aを駆動回路、代表的にはゲート信号を生成するゲートドライバに用いることで、額縁幅の狭い(狭額縁ともいう)表示装置を提供することができる。また、トランジスタ3200aを、表示装置が有する信号線からの信号の供給を行うソースドライバ(とくに、ソースドライバが有するシフトレジスタの出力端子に接続されるデマルチプレクサ)に用いることで、表示装置に接続される配線数が少ない表示装置を提供することができる。
また、トランジスタ3200aはそれぞれチャネルエッチ構造のトランジスタであるため、低温ポリシリコンを用いたトランジスタと比較して、作製工程数が少ない。また、トランジスタ3200aは、金属酸化物層をチャネルに用いているため、低温ポリシリコンを用いたトランジスタのように、レーザ結晶化工程が不要である。これらのため、大面積基板を用いた表示装置であっても、製造コストを低減することが可能である。さらに、ウルトラハイビジョン(「4K解像度」、「4K2K」、「4K」)、スーパーハイビジョン(「8K解像度」、「8K4K」、「8K」)のよう高解像度であり、かつ大型の表示装置において、トランジスタ3200aのように電界効果移動度が高いトランジスタを駆動回路および表示部に用いることで、短時間での書き込みが可能であり、表示不良を低減することが可能であり好ましい。
また、金属酸化物層3231と接する絶縁層3211および絶縁層3212は、酸化物絶縁膜であることが好ましく、化学量論的組成よりも過剰に酸素を含有する領域(過剰酸素領域)を有することがより好ましい。別言すると、絶縁層3211および絶縁層3212は、酸素を放出することが可能な絶縁膜である。なお、絶縁層3211および絶縁層3212に過剰酸素領域を設けるには、例えば、酸素雰囲気下にて絶縁層3211および絶縁層3212を形成する、もしくは成膜後の絶縁層3211および絶縁層3212を酸素雰囲気下で熱処理すればよい。
金属酸化物層3231としては、金属酸化物の一種である酸化物半導体を用いることができる。
金属酸化物層3231がIn−M−Zn酸化物の場合、In−M−Zn酸化物を成膜するために用いるスパッタリングターゲットの金属元素の原子数比は、In>Mを満たすことが好ましい。このようなスパッタリングターゲットの金属元素の原子数比として、In:M:Zn=2:1:3、In:M:Zn=3:1:2、In:M:Zn=4:2:4.1、In:M:Zn=5:1:6、In:M:Zn=5:1:7、In:M:Zn=5:1:8、In:M:Zn=6:1:6、In:M:Zn=5:2:5等が挙げられる。
また、金属酸化物層3231が、In−M−Zn酸化物で形成される場合、スパッタリングターゲットとしては、多結晶のIn−M−Zn酸化物を含むターゲットを用いると好ましい。多結晶のIn−M−Zn酸化物を含むターゲットを用いることで、結晶性を有する金属酸化物層3231を形成しやすくなる。なお、成膜される金属酸化物層3231の原子数比は、上記のスパッタリングターゲットに含まれる金属元素の原子数比のプラスマイナス40%の変動を含む。例えば、金属酸化物層3231に用いるスパッタリングターゲットの組成がIn:Ga:Zn=4:2:4.1[原子数比]の場合、成膜される金属酸化物層3231の組成は、In:Ga:Zn=4:2:3[原子数比]の近傍となる場合がある。
また、金属酸化物層3231は、エネルギーギャップが2eV以上、好ましくは2.5eV以上である。このように、エネルギーギャップの広い酸化物半導体を用いることで、トランジスタのオフ電流を低減することができる。
また、金属酸化物層3231は、非単結晶構造であると好ましい。非単結晶構造は、例えば、CAAC(C Axis Aligned Crystalline)、多結晶構造、微結晶構造、または非晶質構造を含む。非単結晶構造において、非晶質構造は最も欠陥準位密度が高く、CAACは最も欠陥準位密度が低い。
金属酸化物層3231としては、不純物濃度が低く、欠陥準位密度の低い金属酸化物膜を用いることで、優れた電気特性を有するトランジスタを作製することができ好ましい。ここでは、不純物濃度が低く、欠陥準位密度の低い(酸素欠損の少ない)ことを高純度真性または実質的に高純度真性とよぶ。なお、金属酸化物膜中の不純物としては、代表的には水、水素等が挙げられる。本明細書等において、金属酸化物膜中から水および水素を低減または除去することを、脱水化、脱水素化と表す場合がある。また、金属酸化物膜、または酸化物絶縁膜中に酸素を添加することを、加酸素化と表す場合があり、加酸素化されかつ化学量論的組成よりも過剰の酸素を有する状態を過酸素化状態と表す場合がある。
高純度真性または実質的に高純度真性である金属酸化物膜は、キャリア発生源が少ないため、キャリア密度を低くすることができる。従って、該金属酸化物膜にチャネル領域が形成されるトランジスタは、しきい値電圧がマイナスとなる電気特性(ノーマリーオンともいう。)になることが少ない。また、高純度真性または実質的に高純度真性である金属酸化物膜は、欠陥準位密度が低いため、トラップ準位密度も低くなる場合がある。また、高純度真性または実質的に高純度真性である金属酸化物膜は、オフ電流が著しく小さく、チャネル幅が1×106μmでチャネル長Lが10μmの素子であっても、ソース電極とドレイン電極間の電圧(ドレイン電圧)が1Vから10Vの範囲において、オフ電流が、半導体パラメータアナライザの測定限界以下、すなわち1×10−13A以下という特性を得ることができる。
絶縁層3213は、水素および窒素のいずれか一方または双方を有する。または、絶縁層3213は、窒素およびシリコンを有する。また、絶縁層3213は、酸素、水素、水、アルカリ金属、アルカリ土類金属等のブロッキングできる機能を有する。絶縁層3213を設けることで、金属酸化物層3231からの酸素の外部への拡散と、絶縁層3212に含まれる酸素の外部への拡散と、外部から金属酸化物層3231への水素、水等の入り込みを防ぐことができる。
絶縁層3213としては、例えば、窒化物絶縁膜を用いることができる。該窒化物絶縁膜としては、窒化シリコン、窒化酸化シリコン、窒化アルミニウム、窒化酸化アルミニウム等がある。
<3−2.OSトランジスタの構成例2>
次に、トランジスタの構造の一例として、トランジスタ3200bについて、図20(A)、(B)、(C)を用いて説明する。図20(A)はトランジスタ3200bの上面図である。図20(B)は、図20(A)に示す一点鎖線X1−X2間における切断面の断面図に相当し、図20(C)は、図20(A)に示す一点鎖線Y1−Y2間における切断面の断面図に相当する。
トランジスタ3200bは、金属酸化物層3231、導電層3222a、導電層3222b、および絶縁層3212が積層構造である点において、トランジスタ3200aと異なる。
絶縁層3212は、金属酸化物層3231、導電層3222a、および導電層3222bの上の絶縁層3212aと、絶縁層3212aの上の絶縁層3212bを有する。絶縁層3212は、金属酸化物層3231に酸素を供給する機能を有する。すなわち、絶縁層3212は、酸素を有する。また、絶縁層3212aは、酸素を透過することのできる絶縁層である。なお、絶縁層3212aは、後に形成する絶縁層3212bを形成する際の、金属酸化物層3231へのダメージ緩和膜としても機能する。
絶縁層3212aとしては、厚さが5nm以上150nm以下、好ましくは5nm以上50nm以下の酸化シリコン、酸化窒化シリコン等を用いることができる。
また、絶縁層3212aは、欠陥量が少ないことが好ましく、代表的には、ESR測定により、シリコンのダングリングボンドに由来するg=2.001に現れる信号のスピン密度が3×1017spins/cm3以下であることが好ましい。これは、絶縁層3212aに含まれる欠陥密度が多いと、該欠陥に酸素が結合してしまい、絶縁層3212aにおける酸素の透過性が減少してしまう。
なお、絶縁層3212aにおいては、外部から絶縁層3212aに入った酸素が全て絶縁層3212aの外部に移動せず、絶縁層3212aにとどまる酸素もある。また、絶縁層3212aに酸素が入ると共に、絶縁層3212aに含まれる酸素が絶縁層3212aの外部へ移動することで、絶縁層3212aにおいて酸素の移動が生じる場合もある。絶縁層3212aとして酸素を透過することができる酸化物絶縁層を形成すると、絶縁層3212a上に設けられる、絶縁層3212bから脱離する酸素を、絶縁層3212aを介して金属酸化物層3231に移動させることができる。
また、絶縁層3212aは、窒素酸化物に起因する準位密度が低い酸化物絶縁層を用いて形成することができる。なお、当該窒素酸化物に起因する準位密度は、金属酸化物膜の価電子帯の上端のエネルギー(Ev_os)と金属酸化物膜の伝導帯の下端のエネルギー(Ec_os)の間に形成され得る場合がある。上記酸化物絶縁層として、窒素酸化物の放出量が少ない酸化窒化シリコン膜、または窒素酸化物の放出量が少ない酸化窒化アルミニウム膜等を用いることができる。
なお、窒素酸化物の放出量の少ない酸化窒化シリコン膜は、昇温脱離ガス分析法(TDS:Thermal Desorption Spectroscopy)において、窒素酸化物の放出量よりアンモニアの放出量が多い膜であり、代表的にはアンモニアの放出量が1×1018/cm3以上5×1019/cm3以下である。なお、アンモニアの放出量は、膜の表面温度が50℃以上650℃以下、好ましくは50℃以上550℃以下の加熱処理による放出量とする。
窒素酸化物(NOx、xは0よりも大きく2以下、好ましくは1以上2以下)、代表的にはNO2またはNOは、絶縁層3212a等に準位を形成する。当該準位は、金属酸化物層3231のエネルギーギャップ内に位置する。そのため、窒素酸化物が、絶縁層3212aおよび金属酸化物層3231の界面に拡散すると、当該準位が絶縁層3212a側において電子をトラップする場合がある。この結果、トラップされた電子が、絶縁層3212aおよび金属酸化物層3231界面近傍に留まるため、トランジスタのしきい値電圧をプラス方向にシフトさせてしまう。
また、窒素酸化物は、加熱処理においてアンモニアおよび酸素と反応する。絶縁層3212aに含まれる窒素酸化物は、加熱処理において、絶縁層3212bに含まれるアンモニアと反応するため、絶縁層3212aに含まれる窒素酸化物が低減される。このため、絶縁層3212aおよび金属酸化物層3231の界面において、電子がトラップされにくい。
絶縁層3212aとして、上記酸化物絶縁層を用いることで、トランジスタのしきい値電圧のシフトを低減することが可能であり、トランジスタの電気特性の変動を低減することができる。
また、上記酸化物絶縁層は、SIMSで測定される窒素濃度が6×1020atoms/cm3以下である。
基板温度が220℃以上350℃以下であり、シランおよび一酸化二窒素を用いたPECVD法を用いて、上記酸化物絶縁層を形成することで、緻密であり、かつ硬度の高い膜を形成することができる。
絶縁層3212bは、化学量論的組成を満たす酸素よりも多くの酸素を含む酸化物絶縁層である。上記の酸化物絶縁層は、加熱により酸素の一部が脱離する。なお、TDSにおいて、上記の酸化物絶縁層は、酸素の放出量が1.0×1019atoms/cm3以上、好ましくは3.0×1020atoms/cm3以上の領域を有する。また、上記の酸素の放出量は、TDSにおける加熱処理の温度が50℃以上650℃以下、または50℃以上550℃以下の範囲での総量である。また、上記の酸素の放出量は、TDSにおける酸素原子に換算しての総量である。
絶縁層3212bとしては、厚さが30nm以上500nm以下、好ましくは50nm以上400nm以下の、酸化シリコン、酸化窒化シリコン等を用いることができる。
また、絶縁層3212bは、欠陥量が少ないことが好ましく、代表的には、ESR測定により、シリコンのダングリングボンドに由来するg=2.001に現れる信号のスピン密度が1.5×1018spins/cm3未満、さらには1×1018spins/cm3以下であることが好ましい。なお、絶縁層3212bは、絶縁層3212aと比較して金属酸化物層3231から離れているため、絶縁層3212aより、欠陥密度が多くともよい。
また、絶縁層3212は、同種の材料の絶縁層を用いることができるため、絶縁層3212aと絶縁層3212bの界面が明確に確認できない場合がある。したがって、本実施の形態においては、絶縁層3212aと絶縁層3212bの界面は、破線で図示している。なお、本実施の形態においては、絶縁層3212aと絶縁層3212bの2層構造について説明したが、これに限定されず、例えば、絶縁層3212aの単層構造、あるいは3層以上の積層構造としてもよい。
トランジスタ3200bにおいて、金属酸化物層3231は、絶縁層3211上の金属酸化物層3231_1と、金属酸化物層3231_1上の金属酸化物層3231_2と、を有する。なお、金属酸化物層3231_1および金属酸化物層3231_2は、それぞれ同じ元素を有する。例えば、金属酸化物層3231_1および金属酸化物層3231_2は、上述の金属酸化物層3231が有する元素を、それぞれ独立に有することが好ましい。
また、金属酸化物層3231_1および金属酸化物層3231_2は、それぞれ独立に、Inの原子数比がMの原子数比より多い領域を有すると好ましい。一例としては、金属酸化物層3231_1および金属酸化物層3231_2のIn、M、およびZnの原子数の比を、In:M:Zn=4:2:3近傍とすると好ましい。ここで、近傍とは、Inが4の場合、Mが1.5以上2.5以下であり、かつZnが2以上4以下を含む。または、金属酸化物層3231_1および金属酸化物層3231_2のIn、M、およびZnの原子数の比を、In:M:Zn=5:1:6近傍とすると好ましい。このように、金属酸化物層3231_1および金属酸化物層3231_2を概略同じ組成とすることで、同じスパッタリングターゲットを用いて形成できるため、製造コストを抑制することが可能である。また、同じスパッタリングターゲットを用いる場合、同一チャンバーにて真空中で連続して金属酸化物層3231_1および金属酸化物層3231_2を成膜することができるため、金属酸化物層3231_1と金属酸化物層3231_2との界面に不純物が取り込まれるのを抑制することができる。
ここで、金属酸化物層3231_1は、金属酸化物層3231_2よりも結晶性が低い領域を有していてもよい。なお、金属酸化物層3231_1および金属酸化物層3231_2の結晶性としては、例えば、X線回折(XRD:X−Ray Diffraction)を用いて分析する、あるいは、透過型電子顕微鏡(TEM:Transmission Electron Microscope)を用いて分析することで解析できる。
金属酸化物層3231_1の結晶性が低い領域が過剰酸素の拡散経路となり、金属酸化物層3231_1よりも結晶性の高い金属酸化物層3231_2にも過剰酸素を拡散させることができる。このように、結晶構造が異なる金属酸化物層の積層構造とし、結晶性の低い領域を過剰酸素の拡散経路とすることで、信頼性の高いトランジスタを提供することができる。
また、金属酸化物層3231_2が、金属酸化物層3231_1より結晶性が高い領域を有することにより、金属酸化物層3231に混入しうる不純物を抑制することができる。特に、金属酸化物層3231_2の結晶性を高めることで、導電層3222aおよび導電層3222bを加工する際のダメージを抑制することができる。金属酸化物層3231の表面、すなわち金属酸化物層3231_2の表面は、導電層3222aおよび導電層3222bの加工の際のエッチャントまたはエッチングガスに曝される。しかしながら、金属酸化物層3231_2は、結晶性が高い領域を有する場合、結晶性が低い金属酸化物層3231_1と比較してエッチング耐性に優れる。したがって、金属酸化物層3231_2は、エッチングストッパとして機能する。
また、金属酸化物層3231_1は、金属酸化物層3231_2よりも結晶性が低い領域を有することで、キャリア密度が高くなる場合がある。
また、金属酸化物層3231_1のキャリア密度が高くなると、金属酸化物層3231_1の伝導帯に対してフェルミ準位が相対的に高くなる場合がある。これにより、金属酸化物層3231_1の伝導帯の下端が低くなり、金属酸化物層3231_1の伝導帯下端と、ゲート絶縁膜(ここでは、絶縁層3211)中に形成されうるトラップ準位とのエネルギー差が大きくなる場合がある。該エネルギー差が大きくなることにより、ゲート絶縁膜中にトラップされる電荷が少なくなり、トランジスタのしきい値電圧の変動を小さくできる場合がある。また、金属酸化物層3231_1のキャリア密度が高くなると、金属酸化物層3231の電界効果移動度を高めることができる。
なお、トランジスタ3200bにおいては、金属酸化物層3231を2層の積層構造にする例を示したが、これに限定されず、3層以上積層する構成にしてもよい。
トランジスタ3200bが有する導電層3222aは、導電層3222a_1と、導電層3222a_1上の導電層3222a_2と、導電層3222a_2上の導電層3222a_3と、を有する。また、トランジスタ3200bが有する導電層3222bは、導電層3222b_1と、導電層3222b_1上の導電層3222b_2と、導電層3222b_2上の導電層3222b_3と、を有する。
例えば、導電層3222a_1、導電層3222b_1、導電層3222a_3、および導電層3222b_3としては、チタン、タングステン、タンタル、モリブデン、インジウム、ガリウム、錫、および亜鉛の中から選ばれるいずれか一つまたは複数を有すると好適である。また、導電層3222a_2および導電層3222b_2としては、銅、アルミニウム、および銀の中から選ばれるいずれか一つまたは複数を有すると好適である。
より具体的には、導電層3222a_1、導電層3222b_1、導電層3222a_3、および導電層3222b_3にIn−Sn酸化物またはIn−Zn酸化物を用い、導電層3222a_2および導電層3222b_2に銅を用いることができる。
また、導電層3222a_1の端部は、導電層3222a_2の端部よりも外側に位置する領域を有し、導電層3222a_3は、導電層3222a_2の上面および側面を覆い、かつ導電層3222a_1と接する領域を有する。また、導電層3222b_1の端部は、導電層3222b_2の端部よりも外側に位置する領域を有し、導電層3222b_3は、導電層3222b_2の上面および側面を覆い、かつ導電層3222b_1と接する領域を有する。
上記構成とすることで、導電層3222aおよび導電層3222bの配線抵抗を低くし、かつ金属酸化物層3231への銅の拡散を抑制できるため好適である。
<3−3.OSトランジスタの構成例3>
次に、トランジスタの構造の一例として、トランジスタ3200cについて、図21(A)、(B)、(C)を用いて説明する。図21(A)はトランジスタ3200cの上面図である。図21(B)は、図21(A)に示す一点鎖線X1−X2間における切断面の断面図に相当し、図21(C)は、図21(A)に示す一点鎖線Y1−Y2間における切断面の断面図に相当する。
図21(A)、(B)、(C)に示すトランジスタ3200cは、絶縁層3224上の導電層3221と、導電層3221上の絶縁層3211と、絶縁層3211上の金属酸化物層3231と、金属酸化物層3231上の絶縁層3212と、絶縁層3212上の導電層3223と、絶縁層3211、金属酸化物層3231、および導電層3223上の絶縁層3213と、を有する。なお、金属酸化物層3231は、導電層3223と重なるチャネル領域3231iと、絶縁層3213と接するソース領域3231sと、絶縁層3213と接するドレイン領域3231dと、を有する。
また、絶縁層3213は、窒素または水素を有する。絶縁層3213と、ソース領域3231sおよびドレイン領域3231dと、が接することで、絶縁層3213中の窒素または水素がソース領域3231s中およびドレイン領域3231d中に添加される。ソース領域3231sおよびドレイン領域3231dは、窒素または水素が添加されることで、キャリア密度が高くなる。
また、トランジスタ3200cは、絶縁層3213上の絶縁層3215と、絶縁層3213および絶縁層3215に設けられた開口部3236aを介して、ソース領域3231sに電気的に接続される導電層3222aと、絶縁層3213および絶縁層3215に設けられた開口部3236bを介して、ドレイン領域3231dに電気的に接続される導電層3222bと、を有していてもよい。
絶縁層3215としては、酸化物絶縁膜を用いることができる。また、絶縁層3215としては、酸化物絶縁膜と、窒化物絶縁膜との積層膜を用いることができる。絶縁層3215として、例えば酸化シリコン、酸化窒化シリコン、窒化酸化シリコン、酸化アルミニウム、酸化ハフニウム、酸化ガリウムまたはGa−Zn酸化物等を用いればよい。また、絶縁層3215としては、外部からの水素、水等のバリア膜として機能する膜であることが好ましい。
絶縁層3211は、第1のゲート絶縁膜としての機能を有し、絶縁層3212は、第2のゲート絶縁膜としての機能を有する。また、絶縁層3213および絶縁層3215は保護絶縁膜としての機能を有する。
また、絶縁層3212は、過剰酸素領域を有する。絶縁層3212が過剰酸素領域を有することで、金属酸化物層3231が有するチャネル領域3231i中に過剰酸素を供給することができる。よって、チャネル領域3231iに形成されうる酸素欠損を過剰酸素により補填することができるため、信頼性の高い半導体装置を提供することができる。
なお、金属酸化物層3231中に過剰酸素を供給させるためには、金属酸化物層3231の下方に形成される絶縁層3211に過剰酸素を供給してもよい。この場合、絶縁層3211中に含まれる過剰酸素は、金属酸化物層3231が有するソース領域3231s、およびドレイン領域3231dにも供給されうる。ソース領域3231s、およびドレイン領域3231d中に過剰酸素が供給されると、ソース領域3231s、およびドレイン領域3231dの抵抗が高くなる場合がある。
一方で、金属酸化物層3231の上方に形成される絶縁層3212に過剰酸素を有する構成とすることで、チャネル領域3231iにのみ選択的に過剰酸素を供給させることが可能となる。あるいは、チャネル領域3231i、ソース領域3231s、およびドレイン領域3231dに過剰酸素を供給させたのち、ソース領域3231sおよびドレイン領域3231dのキャリア密度を選択的に高めることで、ソース領域3231s、およびドレイン領域3231dの抵抗が高くなることを抑制することができる。
また、金属酸化物層3231が有するソース領域3231sおよびドレイン領域3231dは、それぞれ、酸素欠損を形成する元素、または酸素欠損と結合する元素を有すると好ましい。当該酸素欠損を形成する元素、または酸素欠損と結合する元素としては、代表的には水素、ホウ素、炭素、窒素、フッ素、リン、硫黄、塩素、チタン、希ガス等が挙げられる。また、希ガス元素の代表例としては、ヘリウム、ネオン、アルゴン、クリプトン、およびキセノン等がある。上記酸素欠損を形成する元素が、絶縁層3213中に1つまたは複数含まれる場合、絶縁層3213からソース領域3231s、およびドレイン領域3231dに拡散する、および/または不純物添加処理によりソース領域3231s、およびドレイン領域3231d中に添加される。
不純物元素が酸化物半導体膜に添加されると、酸化物半導体膜中の金属元素と酸素の結合が切断され、酸素欠損が形成される。または、不純物元素が酸化物半導体膜に添加されると、酸化物半導体膜中の金属元素と結合していた酸素が不純物元素と結合し、金属元素から酸素が脱離され、酸素欠損が形成される。これらの結果、酸化物半導体膜においてキャリア密度が増加し、導電性が高くなる。
また、導電層3221は、第1のゲート電極としての機能を有し、導電層3223は、第2のゲート電極としての機能を有し、導電層3222aは、ソース電極としての機能を有し、導電層3222bは、ドレイン電極としての機能を有する。
また、図21(C)に示すように、絶縁層3211および絶縁層3212には開口部3237が設けられる。また、導電層3221は、開口部3237を介して、導電層3223と、電気的に接続される。よって、導電層3221と導電層3223には、同じ電位が与えられる。なお、開口部3237を設けずに、導電層3221と、導電層3223と、に異なる電位を与えてもよい。または、開口部3237を設けずに、導電層3221を遮光膜として用いてもよい。例えば、導電層3221を遮光性の材料により形成することで、チャネル領域3231iに照射される下方からの光を抑制することができる。
また、図21(B)、(C)に示すように、金属酸化物層3231は、第1のゲート電極として機能する導電層3221と、第2のゲート電極として機能する導電層3223のそれぞれと対向するように位置し、2つのゲート電極として機能する導電膜に挟まれている。
また、トランジスタ3200cもトランジスタ3200aおよびトランジスタ3200bと同様にS−channel構造をとる。このような構成を有することで、トランジスタ3200cに含まれる金属酸化物層3231を、第1のゲート電極として機能する導電層3221および第2のゲート電極として機能する導電層3223の電界によって電気的に取り囲むことができる。
トランジスタ3200cは、S−channel構造を有するため、導電層3221または導電層3223によってチャネルを誘起させるための電界を効果的に金属酸化物層3231に印加することができるため、トランジスタ3200cの電流駆動能力が向上し、高いオン電流特性を得ることが可能となる。また、オン電流を高くすることが可能であるため、トランジスタ3200cを微細化することが可能となる。また、トランジスタ3200cは、金属酸化物層3231が、導電層3221、および導電層3223によって取り囲まれた構造を有するため、トランジスタ3200cの機械的強度を高めることができる。
なお、トランジスタ3200cを、導電層3223の金属酸化物層3231に対する位置、または導電層3223の形成方法から、TGSA(Top Gate Self Align)型のFETと呼称してもよい。
なお、トランジスタ3200cにおいても、トランジスタ3200bと同様に金属酸化物層3231を2層以上積層する構成にしてもよい。
また、トランジスタ3200cにおいて、絶縁層3212が導電層3223と重なる部分にのみ設けられているが、これに限られることなく、絶縁層3212が金属酸化物層3231を覆う構成にすることもできる。また、導電層3221を設けない構成にすることもできる。
<3−4.CAC−OSの構成>
以下では、本発明の一態様で開示されるトランジスタに用いることができるCAC−OSの構成について説明する。
CAC−OSとは、例えば、酸化物半導体を構成する元素が、0.5nm以上10nm以下、好ましくは、1nm以上2nm以下、またはその近傍のサイズで偏在した材料の一構成である。なお、以下では、酸化物半導体において、一つあるいはそれ以上の金属元素が偏在し、該金属元素を有する領域が、0.5nm以上10nm以下、好ましくは、1nm以上2nm以下、またはその近傍のサイズで混合した状態をモザイク状、またはパッチ状ともいう。
なお、酸化物半導体は、少なくともインジウムを含むことが好ましい。特にインジウムおよび亜鉛を含むことが好ましい。また、それらに加えて、アルミニウム、ガリウム、イットリウム、銅、バナジウム、ベリリウム、ホウ素、シリコン、チタン、鉄、ニッケル、ゲルマニウム、ジルコニウム、モリブデン、ランタン、セリウム、ネオジム、ハフニウム、タンタル、タングステン、またはマグネシウム等から選ばれた一種、または複数種が含まれていてもよい。
例えば、In−Ga−Zn酸化物におけるCAC−OS(CAC−OSの中でもIn−Ga−Zn酸化物を、特にCAC−IGZOと呼称してもよい。)とは、インジウム酸化物(以下、InOX1(X1は0よりも大きい実数)とする。)、またはインジウム亜鉛酸化物(以下、InX2ZnY2OZ2(X2、Y2、およびZ2は0よりも大きい実数)とする。)と、ガリウム酸化物(以下、GaOX3(X3は0よりも大きい実数)とする。)、またはガリウム亜鉛酸化物(以下、GaX4ZnY4OZ4(X4、Y4、およびZ4は0よりも大きい実数)とする。)等と、に材料が分離することでモザイク状となり、モザイク状のInOX1、またはInX2ZnY2OZ2が、膜中に均一に分布した構成(以下、クラウド状ともいう。)である。
つまり、CAC−OSは、GaOX3が主成分である領域と、InX2ZnY2OZ2、またはInOX1が主成分である領域とが、混合している構成を有する複合酸化物半導体である。なお、本明細書において、例えば、第1の領域の元素Mに対するInの原子数比が、第2の領域の元素Mに対するInの原子数比よりも大きいことを、第1の領域は、第2の領域と比較して、Inの濃度が高いとする。
なお、IGZOは通称であり、In、Ga、Zn、およびOによる1つの化合物をいう場合がある。代表例として、InGaO3(ZnO)m1(m1は自然数)、またはIn(1+x0)Ga(1−x0)O3(ZnO)m0(−1≦x0≦1、m0は任意数)で表される結晶性の化合物が挙げられる。
上記結晶性の化合物は、単結晶構造、多結晶構造、またはCAAC(C−Axis Aligned Crystalline Oxide Semiconductor、または、C−Axis Aligned and A−B−plane Anchored Crystalline Oxide Semiconductor)構造を有する。なお、CAAC構造とは、複数のIGZOのナノ結晶がc軸配向を有し、かつa−b面においては配向せずに連結した結晶構造である。
一方、CAC−OSは、酸化物半導体の材料構成に関する。CAC−OSとは、In、Ga、Zn、およびOを含む材料構成において、一部にGaを主成分とするナノ粒子状に観察される領域と、一部にInを主成分とするナノ粒子状に観察される領域とが、それぞれモザイク状にランダムに分散している構成をいう。従って、CAC−OSにおいて、結晶構造は副次的な要素である。
なお、CAC−OSは、組成の異なる二種類以上の膜の積層構造は含まないものとする。例えば、Inを主成分とする膜と、Gaを主成分とする膜との2層からなる構造は、含まない。
なお、GaOX3が主成分である領域と、InX2ZnY2OZ2、またはInOX1が主成分である領域とは、明確な境界が観察できない場合がある。
なお、ガリウムの代わりに、アルミニウム、イットリウム、銅、バナジウム、ベリリウム、ホウ素、シリコン、チタン、鉄、ニッケル、ゲルマニウム、ジルコニウム、モリブデン、ランタン、セリウム、ネオジム、ハフニウム、タンタル、タングステン、またはマグネシウム等から選ばれた一種、または複数種が含まれている場合、CAC−OSは、一部に該金属元素を主成分とするナノ粒子状に観察される領域と、一部にInを主成分とするナノ粒子状に観察される領域とが、それぞれモザイク状にランダムに分散している構成をいう。
CAC−OSは、例えば基板を意図的に加熱しない条件で、スパッタリング法により形成することができる。また、CAC−OSをスパッタリング法で形成する場合、成膜ガスとして、不活性ガス(代表的にはアルゴン)、酸素ガス、および窒素ガスの中から選ばれたいずれか一つまたは複数を用いればよい。また、成膜時の成膜ガスの総流量に対する酸素ガスの流量比は低いほど好ましく、例えば酸素ガスの流量比を0%以上30%未満、好ましくは0%以上10%以下とすることが好ましい。
CAC−OSは、X線回折(XRD:X−ray diffraction)測定法のひとつであるOut−of−plane法によるθ/2θスキャンを用いて測定したときに、明確なピークが観察されないという特徴を有する。すなわち、X線回折から、測定領域のa−b面方向、およびc軸方向の配向は見られないことが分かる。
またCAC−OSは、プローブ径が1nmの電子線(ナノビーム電子線ともいう。)を照射することで得られる電子線回折パターンにおいて、リング状に輝度の高い領域と、該リング領域に複数の輝点が観測される。従って、電子線回折パターンから、CAC−OSの結晶構造が、平面方向、および断面方向において、配向性を有さないnc(nano−crystal)構造を有することがわかる。
また例えば、In−Ga−Zn酸化物におけるCAC−OSでは、エネルギー分散型X線分光法(EDX:Energy Dispersive X−ray spectroscopy)を用いて取得したEDXマッピングにより、GaOX3が主成分である領域と、InX2ZnY2OZ2、またはInOX1が主成分である領域とが、偏在し、混合している構造を有することが確認できる。
CAC−OSは、金属元素が均一に分布したIGZO化合物とは異なる構造であり、IGZO化合物と異なる性質を有する。つまり、CAC−OSは、GaOX3等が主成分である領域と、InX2ZnY2OZ2、またはInOX1が主成分である領域と、に互いに相分離し、各元素を主成分とする領域がモザイク状である構造を有する。
ここで、InX2ZnY2OZ2、またはInOX1が主成分である領域は、GaOX3等が主成分である領域と比較して、導電性が高い領域である。つまり、InX2ZnY2OZ2、またはInOX1が主成分である領域を、キャリアが流れることにより、酸化物半導体としての導電性が発現する。従って、InX2ZnY2OZ2、またはInOX1が主成分である領域が、酸化物半導体中にクラウド状に分布することで、高い電界効果移動度(μ)が実現できる。
一方、GaOX3等が主成分である領域は、InX2ZnY2OZ2、またはInOX1が主成分である領域と比較して、絶縁性が高い領域である。つまり、GaOX3等が主成分である領域が、酸化物半導体中に分布することで、リーク電流を抑制し、良好なスイッチング動作を実現できる。
従って、CAC−OSを半導体素子に用いた場合、GaOX3等に起因する絶縁性と、InX2ZnY2OZ2、またはInOX1に起因する導電性とが、相補的に作用することにより、高いオン電流(Ion)、および高い電界効果移動度(μ)を実現することができる。
また、CAC−OSを用いた半導体素子は、信頼性が高い。従って、CAC−OSは、ディスプレイをはじめとするさまざまな半導体装置に最適である。
本実施の形態は、他の実施の形態または実施例等に記載した構成と適宜組み合わせて実施することが可能である。
(実施の形態4)
本実施の形態では、本発明の一態様の表示装置を適用可能な電子機器について説明する。
本発明の一態様の表示装置を適用可能な電子機器としては、例えば、テレビジョン装置、デスクトップ型もしくはノート型のパーソナルコンピュータ、コンピュータ用等のモニタ、デジタルカメラ、デジタルビデオカメラ、デジタルフォトフレーム、携帯電話機、携帯型ゲーム機、携帯情報端末、音響再生装置、パチンコ機等の大型ゲーム機等が挙げられる。
図22(A)、(B)、(C)に、携帯情報端末を示す。本実施の形態の携帯情報端末は、例えば、電話機、手帳、または情報閲覧装置等から選ばれた一つまたは複数の機能を有する。具体的には、スマートフォンまたはスマートウォッチとして用いることができる。本実施の形態の携帯情報端末は、例えば、移動電話、電子メール、文章閲覧および作成、音楽再生、動画再生、インターネット通信、ゲーム等の種々のアプリケーションを実行することができる。
図22(A)、(B)、(C)に示す携帯情報端末は、様々な機能を有することができる。例えば、様々な情報(静止画、動画、テキスト画像等)を表示部に表示する機能、タッチパネル機能、カレンダー、日付または時刻等を表示する機能、様々なソフトウェア(プログラム)によって処理を制御する機能、無線通信機能、無線通信機能を用いて様々なコンピュータネットワークに接続する機能、無線通信機能を用いて様々なデータの送信または受信を行う機能、記録媒体に記録されているプログラムまたはデータを読み出して表示部に表示する機能、等を有することができる。なお、図22(A)、(B)、(C)に示す携帯情報端末が有する機能はこれらに限定されず、その他の機能を有していてもよい。
図22(A)、(B)、(C)に示す携帯情報端末は、移動電話、電子メール、文章閲覧および作成、音楽再生、インターネット通信、コンピュータゲーム等の種々のアプリケーションを実行することができる。また、図22(A)、(B)、(C)に示す携帯情報端末は、通信規格された近距離無線通信を実行することが可能である。例えば、図22(C)に示す腕時計型の携帯情報端末820は、無線通信可能なヘッドセットと相互通信することによって、ハンズフリーで通話することもできる。
図22(A)に示す携帯情報端末800は、筐体811、表示部812、操作ボタン813、外部接続ポート814、スピーカ815、マイク816等を有する。携帯情報端末800の表示部812は平面を有する。
図22(B)に示す携帯情報端末810は、筐体811、表示部812、操作ボタン813、外部接続ポート814、スピーカ815、マイク816、カメラ817等を有する。携帯情報端末810の表示部812は曲面を有する。
図22(C)に、腕時計型の携帯情報端末820を示す。携帯情報端末820は、筐体811、表示部812、スピーカ815、操作キー818(電源スイッチまたは操作スイッチを含む)等を有する。携帯情報端末820の表示部812の外形は円形状とすることができる。携帯情報端末の表示部812は、平面を有する。なお、操作キーを、操作用の入力装置ということもできる。
本発明の一態様の表示装置を、表示部812に用いることができる。これにより、消費電力を低減した携帯情報端末を作製することができる。
本実施の形態の携帯情報端末は、表示部812にタッチセンサを備える。電話を掛ける、あるいは文字を入力する等のあらゆる操作は、指やスタイラス等で表示部812に触れることで行うことができる。
また、操作ボタン813の操作により、電源のON、OFF動作や、表示部812に表示される画像の種類の切り替えを行うことができる。例えば、メール作成画面から、メインメニュー画面に切り替えることができる。
また、携帯情報端末の内部に、ジャイロセンサまたは加速度センサ等の検出装置を設けることで、携帯情報端末の向き(縦か横か)を判断して、表示部812の画面表示の向きを自動的に切り替えることができる。また、画面表示の向きの切り替えは、表示部812に触れること、操作ボタン813の操作、またはマイク816を用いた音声入力等により行うこともできる。
図22(D)に示すコンピュータ830は、本体831、筐体832、表示部833、キーボード834、外部接続ポート835、ポインティングデバイス836等を含む。なお、コンピュータは、本発明の一態様の表示装置をその表示部833に用いることにより作製される。これにより、消費電力を低減したコンピュータを作製することができる。
図22(E)に示すカメラ840は、筐体841、表示部842、操作ボタン843、シャッターボタン844等を有する。またカメラ840には、着脱可能なレンズ846が取り付けられている。
本発明の一態様の表示装置を、表示部842に用いることができる。これにより、消費電力を低減したカメラを作製することができる。
ここではカメラ840を、レンズ846を筐体841から取り外して交換することが可能な構成としたが、レンズ846と筐体841とが一体となっていてもよい。
カメラ840は、シャッターボタン844を押すことにより、静止画または動画を撮像することができる。また、表示部842はタッチパネルとしての機能を有し、表示部842をタッチすることにより撮像することも可能である。
なお、カメラ840は、ストロボ装置や、ビューファインダー等を別途装着することができる。または、これらが筐体841に組み込まれていてもよい。
図22(F)に示すテレビジョン装置850は、筐体851に表示部852が組み込まれている。表示部852では、映像を表示することが可能である。本発明の一態様の表示装置を表示部852に用いることができる。これにより、消費電力を低減したテレビジョン装置を作製することができる。また、ここでは、スタンド853により筐体851を支持した構成を示している。
テレビジョン装置850の操作は、筐体851が備える操作スイッチや、別体のリモコン操作機861により行うことができる。リモコン操作機861が備える操作キーにより、チャンネルや音量の操作を行うことができ、表示部852に表示される映像を操作することができる。また、リモコン操作機861に、当該リモコン操作機861から出力する情報を表示する表示部を設ける構成としてもよい。
なお、テレビジョン装置850は、受信機やモデム等を備えた構成とする。受信機により一般のテレビ放送の受信を行うことができ、さらにモデムを介して有線または無線による通信ネットワークに接続することにより、一方向(送信者から受信者)または双方向(送信者と受信者間、あるいは受信者間同士等)の情報通信を行うことも可能である。
本実施の形態は、他の実施の形態または実施例等に記載した構成と適宜組み合わせて実施することが可能である。
本実施例では、表示装置10の特性に関する測定結果等について説明する。なお、本実施例において、表示素子22は反射型液晶とし、表示素子24はOLEDとする。また、以降の実施例においても、表示素子22は反射型液晶とし、表示素子24はOLEDとする。
また、本実施例において、画素13とは、表示素子24を用いて画像を表示する機能を有する画素を意味し、画素43とは、表示素子22を用いて画像を表示する機能を有する画素を意味する。なお、以降の実施例においても、画素13とは、表示素子24を用いて画像を表示する機能を有する画素を意味し、画素43とは、表示素子22を用いて画像を表示する機能を有する画素を意味する場合がある。
図23(A)、(B)は、本実施例で測定等を行った表示装置10が有する、画素13および画素43の構成を示す写真である。図23(A)に示す構成では、1個の画素13が、表示領域22Rd、表示領域22Gd、表示領域22Bd、表示領域24Rd、表示領域24Gd、および表示領域24Bdをすべて有する。つまり、画素13の画素密度と画素43の画素密度が等しいということができる。
図23(B)に示す構成では、1個の画素13は、表示領域24Rd、表示領域24Gd、表示領域24Bd、および表示領域24Wdをすべて有する。一方、1個の画素13は、表示領域22Rd、表示領域22Gd、表示領域22Bd、および表示領域22Wdのうち1つのみを有する。つまり、図3に示す構成と等しく、画素密度の単位をppiとした場合、画素43の画素密度が画素13の画素密度の1/2であるということができる。
本実施例において、図23(A)に示す構成の画素を有する表示装置10に入射した光の反射率と、図23(B)に示す構成の画素を有する表示装置10に入射した光の反射率を測定した。当該光の反射率の測定系を図24に示す。
図24に示す測定系では、極角30°の位置に投光部61を設け、極角0°の位置に受光部62を設けた。つまり、投光部61と受光部62との間の角63を30°とした。投光部61から表示部12に光を照射し、受光部62が受光した光の輝度を基に反射率を測定した。なお、本実施例において、図24に示す測定系で測定される、標準白色板に入射した光の反射率を100%とした。なお、以降の実施例においても、標準白色板に入射した光の反射率を100%とした。
図25は、表示装置10に入射した光の反射率と、画素43の画素密度との関係を示すグラフである。図25において、「反射型液晶ディスプレイ」は、文献「D.Kubota,et al.,Ekisho 20(2),85−91,2016−04−25」に記載された反射型液晶ディスプレイにおける反射率を画素密度に対しプロットした結果である。図25では、プロット「反射型液晶ディスプレイ」を通る直線を破線で示している。
また、「表示装置10(見積もり)」は、プロット「反射型液晶ディスプレイ」を通る直線から見積もった、図23(A)に示す構成の画素を有する表示装置10に入射した光の反射率を、画素43の画素密度に対しプロットした結果である。図25では、画素13の画素密度と画素43の画素密度がいずれも513ppiの場合における反射率、および画素13の画素密度と画素43の画素密度がいずれも292ppiの場合における反射率をプロットしている。画素13および画素43の画素密度が513ppiの場合、反射率は27%と見積もられ、画素13および画素43の画素密度が292ppiの場合、反射率は33%と見積もられた。なお、図23(A)には示していないが、画素13および画素43の画素密度がいずれも292ppiの場合における反射率の、図24に示す測定系で測定した実測値は、34.3%であった。また、画素13および画素43の画素密度がいずれも292ppiである場合、画素13の画素ピッチは87μmとなった。
また、「表示装置10(実測)」は、図23(B)に示す構成の画素を有する表示装置10に入射した光の反射率の、図24に示す測定系で測定した実測値をプロットした結果である。なお、画素13の画素密度は257ppiとし、画素43の画素密度は513ppiとした。また、画素13の画素ピッチは49.5μmとした。
図23(B)に示す構成の表示装置10に入射した光の反射率の実測値は54.1%であり、見積もり値より高い値であった。
図26は、表示素子から射出される光の輝度と、周辺環境の照度との関係を示すグラフである。図26において、「市販OLEDディスプレイ」は、市販されているOLEDディスプレイにおけるOLEDが発する光の輝度を、周辺環境の照度に対しプロットした実測値である。周辺環境の照度が高くなると、視認性を高めるためにOLEDの輝度が高くなる。また、OLEDが発することのできる光の輝度には限界があるため、周辺環境の照度が一定値を越えると、OLEDが発する光の輝度が飽和し、コントラストが周辺環境の照度の増加に伴って低下する。
また、「表示装置10(表示素子22)」は、表示装置10が有する表示素子22により反射された光の輝度と、周辺環境の照度との関係を示す。また、「表示装置10(表示素子24)」は、表示装置10が有する表示素子24から発せられた光の輝度と、周辺環境の照度との関係を示す。図26では、図23(A)に示す構成の画素を有する表示装置10に設けられた表示素子22により反射された光の輝度と、周辺環境の照度との関係、および当該表示装置10に設けられた表示素子24から発せられた光の輝度と、周辺環境の照度との関係を示す。また、図26では、図23(B)に示す構成の画素を有する表示装置10に設けられた表示素子22により反射された光の輝度と、周辺環境の照度との関係、および当該表示装置10に設けられた表示素子24から発せられた光の輝度と、周辺環境の照度との関係を示す。なお、図26において、図23(A)に示す構成の画素を有する表示装置10を“(A)”とし、図23(B)に示す構成の画素を有する表示装置10を“(B)”とする。
なお、表示装置10に入射した光の反射率を実測した場合と同様に、図23(A)に示す構成の画素を有する表示装置10では、画素13の画素密度および画素43の画素密度はいずれも292ppiとし、画素13の画素ピッチは87μm×87μmとした。また、前述のように、表示装置10に入射した光の反射率は34.3%であった。図23(B)に示す構成の画素を有する表示装置10では、画素13の画素密度は513ppi、画素43の画素密度は257ppiとし、画素13の画素ピッチは49.5μm×49.5μmとした。また、前述のように、表示装置10に入射した光の反射率は54.1%であった。
表示装置10では、周辺環境の照度が高くなるほど表示素子22により反射される光の輝度が高くなる。これにより、表示素子24の輝度を低下させることができる。特に、表示装置10が図23(B)に示す構成の画素を有する場合、表示装置10に入射した光の反射率が高くなり、これにより表示素子22により反射された光の輝度が、表示装置10が図23(A)に示す構成の画素を有する場合より高くなる。したがって、表示装置10が図23(B)に示す構成の画素を有する場合における、表示素子24から発せられる光の輝度を、表示装置10が図23(A)に示す構成の画素を有する場合における、表示素子24から発せられる光の輝度より低くすることができる。表示装置10が図23(B)に示す構成の画素を有する場合、周辺環境の照度が9000lx以上では表示素子24を使用しなくても、十分な視認性を確保するために必要な輝度の画像を表示することができることが確認された。
なお、本実施例に示す構成は、他の実施の形態または実施例に示す構成と適宜組み合わせて用いることができる。
本実施例では、図3に示す構成の表示装置10により画像を表示した際の表示結果、および当該表示装置10の光学特性について説明する。
表1は、画像表示および光学特性の測定を行った表示装置10の仕様である。表1において、表示素子22をR−LCと表記し、表示素子24をOLEDと表記している。なお、以降の実施の形態においても、表示素子22をR−LCと表記し、表示素子24をOLEDと表記する場合がある。また、表1において、R−LCの画素は、画素43を示し、OLEDの画素は、画素13を示す。
また、表示素子22のみを用いて表示された画像を図27(A)に示し、表示素子24のみを用いて表示された画像を図27(B)に示す。また、光学特性の測定結果を図28に示す。なお、図28において、「R−LC mode」は表示素子22のみを用いて画像を表示した場合を示し、「OLED mode」は表示素子24のみを用いて画像を表示した場合を示す。
図27(A)、(B)に示すように、表示装置10により表示される画像は、表示素子22を用いた場合、および表示素子24を用いた場合のいずれにおいても良好な表示品位であることが確認された。
また、表示素子24が有する発光層をRGB塗り分け方式により形成し、BT2020規格の色域に対応する材料を使用することで、表示素子22のNTSC比が121%となることが図28から確認された。なお、表示素子22のNTSC比は21%であった。
なお、本実施例に示す構成は、他の実施の形態または実施例に示す構成と適宜組み合わせて用いることができる。
本実施例では、図10に示す構成の画素13を有する表示装置10等の特性に関する測定結果等について説明する。
図29(A)は、図10に示す表示領域22Mdを表示領域22Rdに、表示領域24Gdを表示領域22Gdに、表示領域24Bdを表示領域22Bdにそれぞれ変えた構成の画素13を有する表示装置において、当該表示装置に入射した光のうち、表示素子22等により反射される割合である反射率と、入射した光の波長との関係である。なお、本実施例において、このような構成の画素13を、従来構成の画素13という。また、以降の実施例においても、このような構成の画素13を、従来構成の画素13という場合がある。
従来構成の画素13では、表示素子22により表示される画像の精細度が、表示素子24により表示される画像の精細度と変わらない。また、従来構成の画素13では、表示領域22dおよび表示領域24dの両方から赤色、緑色、および青色の光が射出される。
図29(B)は、図10に示す構成の画素13を有する表示装置10において、表示装置に入射した光のうち、表示素子22等により反射される割合である反射率と、入射した光の波長との関係である。つまり、表示素子22により表示される画像の精細度が、表示素子24により表示される画像の精細度と変わらない。一方、表示領域22dからは、マゼンタ、黄色、およびシアンの光が射出され、表示領域24dからは赤色、緑色、および青色の光が射出される。
図10に示す構成の画素13を有する表示装置10において、表示領域22Cdは、青色の光および緑色の光を透過することができ、表示領域22Mdは、青色の光および赤色の光を透過することができ、表示領域22Ydは、緑色の光および赤色の光を透過することができる。これにより、図29(A)、(B)に示すように、図10に示す構成の画素13に入射した、波長380nm乃至780nmの光の反射率の合計は、従来構成の画素13に入射した、波長380nm乃至780nmの光の反射率の合計の約2倍となることが確認された。
図30(A)は、従来構成の画素13を有する表示装置において、表示素子22のみを用いて表示した画像である。また、図30(B)は、図10に示す構成の画素13を有する表示装置10において、表示素子22のみを用いて表示した画像である。なお、図30(B)に示す画像を表示した表示装置10の仕様を、表2に示す。
図30(A)、(B)に示すように、図10に示す構成の画素13を有する表示装置10により表示される画像の表示品位は、従来構成の画素13を有する表示装置により表示される画像の表示品位と比べて遜色なく良好であることが確認された。
また、表2に示す仕様の表示装置10における、反射率の並行光投光角依存性を測定した。図31は、反射率の並行光投光角依存性を測定する際に用いた測定系を示す模式図である。投光部51から表示部12に光を照射し、受光部52が受光した光の輝度を基に反射率を測定した。図31において破線で示す、表示部12と平行な位置を0°とした場合の、表示部12と投光部51との角度を並行投光角53とした。表示部12に対して垂直方向に受光部52を設け、投光部を動かして並行投光角53を変化させることにより、反射率の並行光投光角依存性を測定した。
図32は、垂直反射光の並行光投光角依存性の測定結果である。図32において、RGBは、従来構成の画素13を有する表示装置における測定結果であり、CMYは、表2に示した仕様の表示装置10における測定結果である。図32に示すように、図10に示す構成の画素13を有する表示装置10に入射した光の反射率は、従来構成の画素13に入射した光の反射率の約2倍となることが確認された。
図33(A)は、表示素子22のみを用いて画像を表示した場合における、光学特性の測定結果を示す。図33(B)は、表示素子24のみを用いて画像を表示した場合における、光学特性の測定結果を示す。図33(A)に示す光学特性は、並行投光角30°、受光部位置の角0°として測定した。
図33(A)、(B)において、CMYは、表2に示した仕様の表示装置10における光学特性であり、CMY−Wは当該表示装置10により画像を表示する場合の白座標を示す。また、図33(A)、(B)において、RGBは、従来構成の画素13を有する表示装置における光学特性であり、RGB−Wは当該表示装置により画像を表示する場合の白座標を示す。
図33(A)より、表2に示した仕様の表示装置10において、表示素子22のみを用いて表示される画像のNTSC比は19.1%、白座標は(0.350,0.369)であることが確認された。一方、従来構成の画素13を有する表示装置において、表示素子22のみを用いて表示される画像のNTSC比は36.2%、白座標は(0.344,0.362)であることが確認された。
図33(B)より、表2に示した仕様の表示装置10において、表示素子24のみを用いて表示される画像のNTSC比は94%、白座標は(0.312,0.331)であることが確認された。一方、従来構成の画素13を有する表示装置において、表示素子24のみを用いて表示される画像のNTSC比は103%、白座標は(0.306,0.334)であることが確認された。
なお、本実施例に示す構成は、他の実施の形態または実施例に示す構成と適宜組み合わせて用いることができる。
本実施例では、図11に示す構成の画素13を有する表示装置10等の特性に関する測定結果等について説明する。
図34(A)、(B)は、図11に示す構成の画素13を有する表示装置10において、画像を表示した結果である。図34(A)は表示素子22のみを用いて表示した画像であり、図34(B)は表示素子24のみを用いて表示した画像である。なお、図34(A)、(B)に示す画像を表示した表示装置10の仕様を、表3に示す。表3において、R−LCの画素は、画素43を示し、OLEDの画素は、画素13を示す。
図34(A)、(B)に示すように、図11に示す構成の画素13を有する表示装置10により表示される画像は、表示素子22を用いた場合、および表示素子24を用いた場合のいずれにおいても良好な表示品位であることが確認された。
図35(A)は、反射光の並行光投光角依存性の測定結果である。図35(B)は、反射率と、表示素子22における開口率(画素43の占有面積に対する表示領域22dの割合)との関係を示すグラフである。反射率は、図31に示す測定系により測定した。
図35(A)、(B)において、レイアウトAは、画素43の画素密度と、画素13の画素密度とが等しい場合を示し、レイアウトBは、画素43の画素密度が、画素13の画素密度の1/2である場合を示す。また、RGBは、画素43が、表示領域22Rd、表示領域22Gd、および表示領域22Bdを有する場合を示し、RGBWは、画素43が、表示領域22Rd、表示領域22Gd、表示領域22Bd、および表示領域22Wdを有する場合を示す。また、CMYは、画素43が、表示領域22Cd、表示領域22Md、および表示領域22Ydを有する場合を示し、CMYWは、画素43が、表示領域22Cd、表示領域22Md、表示領域22Yd、および表示領域22Wdを有する場合を示す。つまり、レイアウトA−RGBは、画素13および画素43が従来構成である場合を示し、レイアウトA−CMYは、画素13および画素43が図10に示す構成である場合を示す。また、レイアウトB−RGBWは、画素13および画素43が図3に示す構成である場合を示し、レイアウトB−CMYWは、画素13および画素43が図11に示す構成である場合を示す。なお、レイアウトA−CMYにおいて、表示装置10の仕様は表2と同様であり、レイアウトB−CMYWにおいて、表示装置10の使用は表3と同様である。
図35(A)、(B)より、レイアウトBは、レイアウトAと比べて開口率が低いが、表示領域22Wdを設けることで反射率が高くなることが確認された。
図36(A)は、図3に示す構成の画素13および画素43を有する表示装置10により表示された画像の光学特性の測定結果を示す。図36(B)は、表3に示した仕様の表示装置10により表示された画像の光学特性の測定結果を示す。図36(A)、(B)に示す光学特性は、並行投光角30°、受光部位置の角0°として測定した。
図36(A)、(B)において、R−LCは、表示素子22のみを用いて表示した画像の光学特性を示し、R−LC−Wは、表示素子22のみを用いて表示した画像の白座標を示す。また、図36(A)、(B)において、OLEDは、表示素子24のみを用いて表示した画像の光学特性を示し、OLED−Wは、表示素子24のみを用いて表示した画像の白座標を示す。
図36(A)より、図3に示す構成の画素13および画素43を有する表示装置10において、表示素子22のみを用いて表示される画像のNTSC比は18%、白座標は(0.344,0.372)であることが確認された。一方、表示素子24のみを用いて表示される画像のNTSC比は113%、白座標は(0.310,0.330)であることが確認された。
図36(B)より、表3に示す仕様の表示装置10において、表示素子22のみを用いて表示される画像のNTSC比は11%、白座標は(0.354,0.373)であることが確認された。一方、表示素子24のみを用いて表示される画像のNTSC比は94%、白座標は(0.308,0.329)であることが確認された。
なお、本実施例に示す構成は、他の実施の形態または実施例に示す構成と適宜組み合わせて用いることができる。