JP6945983B2 - 有機elデバイス、表示素子及び有機elデバイスの製造方法 - Google Patents
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Description
a)陽極/正孔注入層/発光層/電子注入性を持つ化合物層/金属層/陰極
b)陽極/正孔注入層/正孔輸送層/発光層/電子注入性を持つ化合物層/金属層/陰極
c)陽極/発光層/電子注入性を持つ化合物層/金属層/陰極
d)陽極/(構造単位A)/電荷発生層/(構造単位A)/陰極
e)陽極/(構造単位B)x/(構造単位A)/陰極
記号「x」は、2以上の整数を表し、「(構造単位B)x」は、(構造単位B)がx段積層された積層体を表す。また、複数ある(構造単位B)の層構成は同じでも、異なっていてもよい。
実施例1として図1に示したように、基板上に、陽極、正孔注入層、正孔輸送層、発光層、電子注入性を持つ化合物層、還元性金属を含む合金又は還元性金属を含む金属混合物(金属混合物は合金を含まない)の層である金属層及び陰極が順に積層された有機EL素子を製造した。実施例1の有機EL素子を有機EL素子A1と称す。以下、有機EL素子A1の製造方法を具体的に説明する。
有機EL素子A1の基板としてガラス基板を準備した。ガラス基板上に、陽極としてITO薄膜を所定のパターンで形成した。ITO薄膜はスパッタリング法によって形成し、その膜厚は、45nmであった。
正孔注入材料を、インクジェット印刷法によって、ITO薄膜上のバンクで区画された画素内に塗布することにより、65nmの厚みの塗膜を形成した。以下では、実施例1で使用した正孔注入材料を正孔注入材料α1と称す。ドライポンプを接続した真空乾燥室内において、10℃に調整された温調ステージに基板を載置し、約10Paになるまで減圧することにより塗布液を乾燥した。さらに、ステージの温度を230℃に調整するとともに、大気圧下にて、15分間焼成を行い、正孔注入層を形成した。
正孔輸送材料α2を溶解させた塗布液を、インクジェット法により正孔注入層上に塗布し、ドライポンプを接続した真空乾燥室内において、10℃に調整された温調ステージに基板を載置し、約5Paになるまで減圧することにより塗布液を乾燥し、膜厚20nmの塗膜を得た。この塗膜を設けたガラス基板を窒素雰囲気(不活性雰囲気)下において、ホットプレートを利用して、190℃で60分間加熱することで溶媒を蒸発させた後、室温まで自然冷却し、正孔輸送層を得た。
高分子系材料(主として蛍光及び/又はりん光を発光する有機物の材料)α3を溶解させた塗布液を、インクジェット印刷法により正孔輸送層上に塗布し、ドライポンプを接続した真空乾燥室内において、10℃に調整された温調ステージに基板を載置し、約20Paになるまで減圧することにより塗布液を乾燥し膜厚65nmの塗膜を得た。この塗膜を設けたガラス基板を窒素雰囲気(不活性雰囲気)下において、ホットプレートを利用して、180℃で10分間加熱することで溶媒を蒸発させた後、室温まで自然冷却し、発光層を得た。
発光層が形成されたガラス基板を蒸着チャンバーに移し、発光層上に電子注入性を持つ化合物層を形成した。具体的には、蒸着チャンバー内の真空度が1.0×10−5Pa以下になるまで排気し、真空蒸着法によって発光層上に膜厚3nmのフッ化ナトリウム(NaF)層を形成した。
電子注入性を持つ化合物層を形成した後、同じ蒸着チャンバー内で電子注入性を持つ化合物層上に、金属層を形成した。具体的には、電子注入性を持つ化合物層上に、BaとAlを真空蒸着法によって共蒸着し、膜厚が1.7nmであり、BaとAlが混合された金属層を形成した。BaとAlの蒸着速度は、Baが0.3Å/s、Alが0.7Å/sとした。
金属層を形成した後、同じ蒸着チャンバー内で陰極を形成した。具体的には、還元性金属層上に、真空蒸着法によりAlを蒸着し、膜厚が100nmの陰極を形成した。
陰極を形成した後、窒素雰囲気(不活性雰囲気)下において、得られた有機EL素子A1をガラスで封止した。
実施例2の有機EL素子を有機EL素子A2と称す。金属層を以下の方法で形成した以外は、実施例1と同様にして有機EL素子A2を製造した。
電子注入性を持つ化合物層を形成した後、同じ蒸着チャンバー内で電子注入性を持つ化合物層上に、金属層を形成した。具体的には、電子注入性を持つ化合物層上に、BaとAlを真空蒸着法によって共蒸着し、膜厚が1.7nmであり、BaとAlが混合された金属層を形成した。BaとAlの蒸着速度は、Baが0.1Å/s、Alが0.9Å/sとした。
実施例3の有機EL素子を有機EL素子A3と称す。金属層を以下の方法で形成した以外は、実施例1と同様にして有機EL素子A2を製造した。
電子注入性を持つ化合物層を形成した後、同じ蒸着チャンバー内で電子注入性を持つ化合物層上に、金属層を形成した。具体的には、電子注入性を持つ化合物層上に、BaとAlを真空蒸着法によって共蒸着し、膜厚が1.7nmであり、BaとAlが混合された金属層を形成した。BaとAlの蒸着速度は、Baが0.04Å/s、Alが0.96Å/sとした。
実施例4の有機EL素子を有機EL素子A4と称す。以下の方法で電子注入性を持つ化合物層を形成した以外は、実施例1と同様にして有機EL素子A4を製造した。
発光層が形成されたガラス基板を蒸着チャンバーに移し、発光層上に電子注入性を持つ化合物層を形成した。具体的には、蒸着チャンバー内の真空度が1.0×10−5Pa以下になるまで排気し、真空蒸着法によって発光層上に膜厚4nmのフッ化ナトリウム(NaF)層を形成した。
実施例5の有機EL素子を有機EL素子A5と称す。金属層を以下の方法で形成した以外は、実施例1と同様にして有機EL素子A5を製造した。
電子注入性を持つ化合物層を形成した後、同じ蒸着チャンバー内で電子注入性を持つ化合物層上に、金属層を形成した。具体的には、電子注入性を持つ化合物層上に、BaとAgを真空蒸着法によって共蒸着し、膜厚が1.7nmであり、BaとAgが混合された金属層を形成した。BaとAgの蒸着速度は、Baが0.29Å/s、Agが0.71Å/sとした。
実施例6の有機EL素子を有機EL素子A6と称す。金属層を以下の方法で形成した以外は、実施例1と同様にして有機EL素子A6を製造した。
電子注入性を持つ化合物層を形成した後、同じ蒸着チャンバー内で電子注入性を持つ化合物層上に、金属層を形成した。具体的には、電子注入性を持つ化合物層上に、MgとAlを真空蒸着法によって共蒸着し、膜厚が3.9nmであり、MgとAlが混合された金属層を形成した。MgとAlの蒸着速度は、Mgが0.13Å/s、Alが0.87Å/sとした。
実施例7の有機EL素子を有機EL素子A7と称す。陰極を以下の方法で形成した以外は、実施例1と同様にして有機EL素子A7を製造した。
金属層を形成した後、同じ蒸着チャンバー内で陰極を形成した。具体的には、金属層上に、真空蒸着法によりAgを蒸着し、膜厚が100nmの陰極を形成した。
実施例8の有機EL素子を有機EL素子A8と称す。金属層を以下の方法で形成した以外は、実施例1と同様にして有機EL素子A8を製造した。
電子注入性を持つ化合物層を形成した後、同じ蒸着チャンバー内で電子注入性を持つ化合物層上に、金属層を形成した。具体的には、電子注入性を持つ化合物層上に、MgとAlとAgを真空蒸着法によって共蒸着し、膜厚が3.9nmであり、MgとAlとAgが混合された金属層を形成した。MgとAlとAgの蒸着速度は、Mgが0.13Å/s、Alが0.44Å/s、Agが0.43Å/sとした。
実施例9の有機EL素子を有機EL素子A9と称す。金属層を以下の方法で形成した以外は、実施例1と同様にして有機EL素子A9を製造した。
電子注入性を持つ化合物層を形成した後、同じ蒸着チャンバー内で電子注入性を持つ化合物層上に、金属層を形成した。具体的には、電子注入性を持つ化合物層上に、MgとAgを真空蒸着法によって共蒸着し、膜厚が3.9nmであり、MgとAgが混合された金属層を形成した。MgとAgの蒸着速度は、Mgが0.13Å/s、Agが0.87Å/sとした。
比較例1の有機EL素子を有機EL素子B1と称す。金属層を形成しなかったこと以外は、実施例1と同様にして有機EL素子B1を製造した。
比較例2の有機EL素子を有機EL素子B2と称す。金属層を以下の方法で形成した以外は、実施例1と同様にして有機EL素子B2を製造した。
電子注入性を持つ化合物層を形成した後、同じ蒸着チャンバー内で電子注入性を持つ化合物層上に、金属層を形成した。具体的には、電子注入性を持つ化合物層上に、Baを真空蒸着法によって蒸着し、膜厚が1nmである金属層を形成した。Baの蒸着速度は、0.3Å/sとした。
比較例3の有機EL素子を有機EL素子B3と称す。金属層を以下の方法で形成した以外は、実施例1と同様にして有機EL素子B3を製造した。
電子注入性を持つ化合物層を形成した後、同じ蒸着チャンバー内で電子注入性を持つ化合物層上に、金属層を形成した。具体的には、電子注入性を持つ化合物層上に、Baを真空蒸着法によって蒸着し、膜厚が2nmである金属層を形成した。Baの蒸着速度は、0.3Å/sとした。
比較例4の有機EL素子を有機EL素子B4と称す。金属層を以下の方法で形成した以外は、実施例1と同様にして有機EL素子B4を製造した。
電子注入性を持つ化合物層を形成した後、同じ蒸着チャンバー内で電子注入性を持つ化合物層上に、金属層を形成した。具体的には、電子注入性を持つ化合物層上に、Mgを真空蒸着法によって蒸着し、膜厚が1nmである金属層を形成した。Mgの蒸着速度は、0.3Å/sとした。
比較例5の有機EL素子を有機EL素子B5と称す。金属層を以下の方法で形成した以外は、実施例1と同様にして有機EL素子B5を製造した。
電子注入性を持つ化合物層を形成した後、同じ蒸着チャンバー内で電子注入性を持つ化合物層上に、金属層を形成した。具体的には、電子注入性を持つ化合物層上に、Mgを真空蒸着法によって蒸着し、膜厚が3nmである金属層を形成した。Mgの蒸着速度は、0.3Å/sとした。
実施例1〜8及び比較例1〜5のようにして製造した、それぞれの有機EL素子を駆動して、素子寿命を測定した。得られた結果を表1に示す。
なお、素子寿命は、駆動開始時の輝度を100としたときに、駆動開始から輝度が95に低下するまでの時間で表されるLT95という指標で評価した。素子寿命の測定は、有機EL素子A1を初期輝度8000cd/cm2で駆動しておこなった。
Claims (6)
- 基板と、
前記基板上に設けられたバンクと、
前記基板上の前記バンクにより画定された区画に設けられた陽極と、
前記陽極上に設けられた機能層と、
前記機能層上に設けられた電子注入性を持つ化合物層と、
前記電子注入性を持つ化合物層上に設けられた厚さ1〜6nmの金属層と、
前記金属層上に設けられた陰極と、を備え、
前記機能層が発光層を有し、
前記金属層が、還元性金属を含む合金又は還元性金属を含む金属混合物の層であり、
前記還元性金属が少なくともBaを含む、有機ELデバイス。 - 前記電子注入性を持つ化合物層がLiを除く周期表第1族金属元素のフッ化物を含む、請求項1に記載の有機ELデバイス。
- 前記電子注入性を持つ化合物層がNaFを含む、請求項1又は2に記載の有機ELデバイス。
- 前記電子注入性を持つ化合物層は、10nm以下の厚さを有する、請求項1〜3のいずれか1項に記載の有機ELデバイス。
- 請求項1〜4のいずれか1項に記載の有機ELデバイスを備える、表示素子。
- 請求項1〜4のいずれか一項に記載の有機ELデバイスの製造方法であって、インクジェット印刷法で前記機能層を形成する、有機ELデバイスの製造方法。
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