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JP6949145B2 - Devices and methods for separating substances - Google Patents
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Description

本発明は、粒子および/または滴の形態にある物質を気体流から分離するためのデバイスに関する。さらに本発明は、粒子および/または滴の形態にある物質を気体流から分離するための方法に関する。 The present invention relates to devices for separating substances in the form of particles and / or droplets from a gas stream. Furthermore, the present invention relates to a method for separating a substance in the form of particles and / or droplets from a gas stream.

現在、フィルタ、サイクロン、または電気フィルタもしくはイオン・ブロー方式などの電気的方式が、気体清浄システム、および気体流から粒子を分離するために使用されている。気体流から粒子または滴を分離するための方式およびデバイスは、例えば独国特許第1471620(A1)号、および独国特許第19751984(A1)号で知られている。 Currently, electrical methods such as filters, cyclones, or electric filters or ion blow methods are used to separate particles from gas purification systems and gas streams. Methods and devices for separating particles or droplets from a gas stream are known, for example, in German Patent No. 1471620 (A1) and German Patent No. 19751984 (A1).

現在使用されている空気清浄器は、空気から不要な粒子を機械的に抽出するために、フィルタを使用する、従来の方式から脱却している。このような従来の濾過システムは、空気流を遅いフロー・ストリームに制限させる必要があり、フィルタを洗浄のために定期的に取り外す必要があるという不利益を受ける。加えて、粒子が1ナノメートルと数10ナノメートルの間の範囲の径である場合、公知の技術では良好な洗浄結果を実現できない。 Air purifiers in use today break away from traditional methods that use filters to mechanically extract unwanted particles from the air. Such conventional filtration systems have the disadvantage of having to limit the airflow to a slow flow stream and having to remove the filter on a regular basis for cleaning. In addition, if the particles have a diameter in the range between one nanometer and several tens of nanometers, known techniques cannot achieve good cleaning results.

サイクロンの動作は、気体流中の重い粒子が集積器具の中に落下するような、気体流の速度の減少に基づいている。したがってサイクロンは、重い粒子を分離するために適用できる。 The operation of the cyclone is based on a decrease in the velocity of the gas stream, such as heavy particles in the gas stream falling into the accumulator. Cyclones can therefore be applied to separate heavy particles.

電気フィルタにおいて、気体からの粒子の分離は、集積プレート上またはパイプの内面で実施される。電気フィルタにおいて流れる気体の速度は、通常1.0m/s未満とするべきであり、製造者の推奨では約0.3〜0.5m/sである。気体流の速度を遅くする理由は、より速い流れの速度では、プレート上に堆積した粒子を解放し、それによって浄化率が大幅に低下するからである。電気フィルタの動作は、粒子の静電荷に基づく。しかし、ナノメートルの範疇にある粒子を帯電させることは困難である。加えて、全ての物質が帯電されるわけではない。集積プレートの洗浄段階のためにも、遅い速度の気体流を使用するべきである。プレートを洗浄するとき、ブローはプレートに向けられ、集積した粒子物質を解放する。それは、清浄段階の間に、プレートから解放された、考えられる最小量の粒子物質のみが気体流に戻るであろうということを意図している。遅い速度の気体流により、許容できる粒子の通過を実現することができる。 In an electric filter, the separation of particles from the gas is carried out on the stacking plate or on the inner surface of the pipe. The velocity of the gas flowing in the electric filter should normally be less than 1.0 m / s and is about 0.3-0.5 m / s as recommended by the manufacturer. The reason for slowing the gas flow velocity is that at higher flow velocities, the particles deposited on the plate are released, which significantly reduces the purification rate. The operation of the electric filter is based on the electrostatic charge of the particles. However, it is difficult to charge particles in the nanometer category. In addition, not all substances are charged. A slow rate of gas flow should also be used for the cleaning phase of the accumulator plate. When cleaning the plate, the blow is directed at the plate, releasing the accumulated particulate matter. It is intended that during the cleaning phase, only the smallest possible amount of particulate matter released from the plate will return to the gas stream. The slow rate of gas flow allows acceptable particle passage.

さらに、電気空気清浄器は、イオン化気体の電荷の特性を利用し、かつ静電方法を用いて導かれた空気流から、帯電した粒子を抽出する。この抽出方法は、抽出される粒子の総量だけでなく、粒子のタイプの観点においても、効率を向上させる。空気清浄器は通常、正または負に帯電した粒子の特性を利用し、電界がそれらの帯電した粒子と相互作用する。帯電した粒子は電界に応答して、集積面上へのイオン・ブローに向かって引っ張られる。 Further, the electric air purifier utilizes the charge characteristics of the ionized gas and extracts charged particles from the air flow guided by the electrostatic method. This extraction method improves efficiency not only in terms of the total amount of particles extracted, but also in terms of particle type. Air purifiers typically take advantage of the properties of positively or negatively charged particles and the electric field interacts with those charged particles. The charged particles are pulled towards the ion blow onto the stacking surface in response to the electric field.

例えば、欧州特許第1165241(B1)号は、粒子および/または滴の形態である物質を、気体流から分離するための方法およびデバイスを開示しており、その方法では、気体流は集積チャンバを通って導かれ、その外壁は接地され、そこでは高電圧が、集積チャンバに配置されたイオン収量チップに導かれ、それによってイオン収量チップからのイオン・フローを集積面にもたらし、所望の物質を気体流から分離する。電気を通す集積面が、外側ケーシングから電気絶縁されること、およびイオン収量チップへ導かれる高電圧とは反対符号の直流電圧の高電圧が集積面に導かれることが、この発明の特徴である。この発明の一実施形態によると、電気絶縁体がABSで作られ、電気を通す面は、絶縁層に配置された薄いクローム層を備える。イオン収量チップはリング状に配置され、その助けによって、イオン収量チップと集積面との間の距離は短くなる。したがって、遅い気体流中に含有される粒子は、イオン・ビームを通過しないが、その代わりに定着ロッドとイオン収量チップとの間を通過する。 For example, European Patent No. 1165241 (B1) discloses a method and device for separating a substance in the form of particles and / or droplets from a gas stream, in which the gas stream provides an integration chamber. Guided through, its outer wall is grounded, where a high voltage is directed to an ion yield chip located in the integration chamber, thereby bringing ion flow from the ion yield chip to the integration surface, delivering the desired material. Separate from the gas stream. It is a feature of the present invention that the integrated surface that conducts electricity is electrically insulated from the outer casing, and that a high voltage of DC voltage having a sign opposite to the high voltage guided to the ion yield chip is guided to the integrated surface. .. According to one embodiment of the invention, the electrical insulator is made of ABS and the surface conducting electricity comprises a thin chrome layer disposed on the insulating layer. The ion yield chips are arranged in a ring, and with the help of this, the distance between the ion yield chips and the accumulation surface is shortened. Therefore, the particles contained in the slow gas stream do not pass through the ion beam, but instead pass between the anchoring rod and the ion yield tip.

前述の観点において、浄化率をさらに改善する方法およびシステムを提供することは利益となる。システムは、工業的規模で製造可能であるべきである。 In view of the above, it is beneficial to provide methods and systems that further improve the purification rate. The system should be manufacturable on an industrial scale.

本発明は、独立請求項の特徴によって定義される。いくつかの特定の実施形態が、従属請求項に定義される。 The present invention is defined by the characteristics of the independent claims. Some specific embodiments are defined in the dependent claims.

本発明の第1の態様によると、粒子および/または滴の形態である物質を気体流から分離するためのデバイスが提供される。このデバイスは、清浄するために取り入れる空気の入口、集積チャンバ、清浄された空気の出口、アクチュエータを伴う電圧源、イオン収量チップが結合された定着柱を備える。このデバイスは、高電圧をイオン収量チップに導き、イオン・ビームをイオン収量チップから集積面にもたらすよう構成され、電気を通す集積面は、電気絶縁体によって集積チャンバの外壁から電気絶縁される。このデバイスは、集積面へ導かれる電圧とは反対符号の電圧をイオン収量チップに導くよう構成される。イオン収量チップは、ある長さを有する定着柱の表面に直接配置される。イオン収量チップは、定着柱の表面から集積チャンバの空洞の中に突出する。 According to a first aspect of the invention, a device for separating a substance in the form of particles and / or droplets from a gas stream is provided. The device includes an inlet for air to be taken in for cleaning, an integration chamber, an outlet for clean air, a voltage source with actuators, and a anchorage column to which ion yield tips are coupled. The device is configured to direct a high voltage to the ion yield chip and bring an ion beam from the ion yield chip to the integration surface, which is electrically insulated from the outer wall of the integration chamber by an electrical insulator. The device is configured to direct a voltage opposite to the voltage directed to the integration surface to the ion yield chip. The ion yield tip is placed directly on the surface of the anchorage column having a certain length. The ion yield tip projects from the surface of the anchorage column into the cavity of the integration chamber.

第1の態様の様々な実施形態は、以下の箇条書きリストから少なくとも1つの特徴を備えてよい。
− 集積チャンバは、円筒状、楕円状、または環状に形成される。
− 定着柱は、円筒状、楕円状、または環状に形成される。
− 円筒状の定着柱の径は、40〜150mmの範囲、好ましくは80〜120mmの範囲、例えば100mmである。
− 楕円状の定着柱の長軸は、40〜150mmの範囲、好ましくは80〜120mmの範囲、例えば100mmであり、および/または、楕円状の定着柱の短軸は、20〜120mmの範囲、好ましくは50〜100mmの範囲、例えば80mmである。
− 集積チャンバの最大径または最大長軸は、200〜1600mmの範囲である。
− 電圧は、10〜100kVの範囲、好ましくは10〜60kVの範囲である。
− 電流は、50〜5000μAの範囲、好ましくは400〜2300μAの範囲、例えば1500μAである。
− イオン収量チップの長さは、1〜40mmの範囲、好ましくは5〜20mmの範囲である。
− イオン収量チップは、定着柱の表面の周りをらせん状に巻かれるように配置される。
− 空気の体積流量は、20〜800m3/hの範囲、例えば200m3/hである。
− 空洞を通る空気流の速度は、0.5〜2.5m/sの範囲、例えば1.0m/sよりも速い。
− イオン収量チップのセットのうちの、複数のイオン収量チップは、互いに対して等距離で配置される。
− イオン収量チップの少なくとも一部は、定着柱の表面に対して下流方向に、40〜50°の範囲、好ましくは45°の角度に向けられるか、定着柱の表面に対して上流方向に、40〜50°の範囲、好ましくは45°の角度に向けられるか、または定着柱の表面に対して80〜100°の範囲の角度、好ましくは直角に向けられる。
− 定着柱は、閉鎖体を形成する外面を備える。
− デバイスは、空気流を、定着柱と集積面との間の空洞を通して案内するよう構成される。
− 集積チャンバの外壁の少なくとも一部分、または導電性物質で作られた、集積チャンバの外壁を囲むバンドの少なくとも一部分は、接地される。
The various embodiments of the first aspect may comprise at least one feature from the bulleted list below.
-The integration chamber is formed in a cylindrical, oval, or annular shape.
-Fixed columns are formed in a cylindrical, elliptical, or annular shape.
-The diameter of the cylindrical fixing column is in the range of 40 to 150 mm, preferably in the range of 80 to 120 mm, for example 100 mm.
-The long axis of the elliptical anchoring column is in the range of 40-150 mm, preferably in the range of 80-120 mm, for example 100 mm, and / or the minor axis of the elliptical anchoring column is in the range of 20-120 mm. It is preferably in the range of 50 to 100 mm, for example 80 mm.
-The maximum diameter or maximum major axis of the integration chamber is in the range of 200 to 1600 mm.
-The voltage is in the range of 10 to 100 kV, preferably in the range of 10 to 60 kV.
The − current is in the range of 50 to 5000 μA, preferably in the range of 400 to 2300 μA, for example 1500 μA.
-The length of the ion yield tip is in the range of 1-40 mm, preferably 5-20 mm.
− The ion yield chips are arranged in a spiral around the surface of the anchoring column.
- volumetric flow rate of air is in the range of 20~800m 3 / h, such as 200m 3 / h.
-Velocity of airflow through the cavity is in the range 0.5-2.5 m / s, for example faster than 1.0 m / s.
-A plurality of ion yield chips in a set of ion yield chips are equidistant from each other.
-At least a portion of the ion yield tip is oriented downstream with respect to the surface of the anchorage column, in the range of 40-50 °, preferably at an angle of 45 °, or upstream with respect to the surface of the anchorage column. It is oriented in the range of 40-50 °, preferably 45 °, or at an angle in the range of 80-100 °, preferably at right angles to the surface of the anchorage column.
− The anchorage column comprises an outer surface that forms a closed body.
-The device is configured to guide the air flow through the cavity between the anchorage column and the stacking surface.
-At least a portion of the outer wall of the accumulation chamber, or at least a portion of the band surrounding the outer wall of the accumulation chamber, made of a conductive material, is grounded.

本発明の第2の態様によると、粒子および/または滴の形態にある物質を気体流から分離する方法が提供される。この方法は、気体流を集積チャンバを通して導くこと、定着柱と、集積チャンバの外壁から電気絶縁された、電気を通す集積面との間で気体流のための空洞を設けること、定着柱の表面にイオン収量チップを設けること、イオン収量チップと集積面との間に高電圧を作り出し、定着柱の表面から集積チャンバの空洞の中に突出するイオン収量チップを、ある長さおよび径を有する定着柱の表面に設けること、イオン収量チップへ導かれる高電圧とは反対符号の直流電圧の高電圧を集積面に導くこと、集積チャンバの内側で、気体流からの物質の少なくとも一部分を分離すること、を含む。 According to a second aspect of the invention, there is provided a method of separating a substance in the form of particles and / or droplets from a gas stream. This method guides the gas flow through the integration chamber, provides a cavity for the gas flow between the anchorage column and the electrically insulating integration surface, which is electrically insulated from the outer wall of the integration chamber, and the surface of the anchorage column. By providing an ion yield chip in the space, a high voltage is created between the ion yield chip and the accumulation surface, and the ion yield chip protruding from the surface of the fixing column into the cavity of the integration chamber is fixed with a certain length and diameter. To be provided on the surface of the column, to guide a high voltage of DC voltage opposite to the high voltage led to the ion yield chip to the integration surface, to separate at least a part of the material from the gas stream inside the integration chamber. ,including.

第2の態様の様々な実施形態は、以下の箇条書きリストから少なくとも1つの特徴を備えてよい。
− 気体流は、定着柱の表面と集積面との間で空洞を通して案内される。
− 気体流は定着柱の表面に沿って案内される。
− 気体流は、イオン収量チップと集積面との間で、空洞内の電界に露出され、気体に含有される全ての物質は空洞を通過する。
− 本方法では、10〜100kVの電圧、好ましくは10〜60kVの範囲の電圧が使用される。
− 本方法では、40〜150mmの範囲の径の定着柱が使用される。
− 本方法では、50〜5000μAの範囲、好ましくは400〜2300μAの範囲、例えば1500μAの電流が使用される。
− 気体流は、20〜800m3/hの範囲、例えば200m3/hの空気の体積流量で、空洞を通して案内される。
− 気体流は、0.5〜2.5m/sの範囲、例えば1.0m/sよりも速い速度で、空洞を通して案内される。
The various embodiments of the second aspect may comprise at least one feature from the bulleted list below.
− The gas flow is guided through the cavity between the surface of the anchorage column and the accumulation surface.
− The gas flow is guided along the surface of the anchorage column.
-The gas flow is exposed to the electric field in the cavity between the ion yield chip and the accumulation surface, and all substances contained in the gas pass through the cavity.
-In this method, a voltage of 10 to 100 kV, preferably a voltage in the range of 10 to 60 kV is used.
-In this method, a fixing column having a diameter in the range of 40 to 150 mm is used.
-In this method, a current in the range of 50 to 5000 μA, preferably in the range of 400 to 2300 μA, for example 1500 μA is used.
- the gas flow is in the range of 20~800m 3 / h, for example with a volume flow of air 200 meters 3 / h, is guided through the cavity.
-Gas flow is guided through the cavity in the range of 0.5-2.5 m / s, for example faster than 1.0 m / s.

本発明の特定の実施形態によって、大きい利点が得られる。粒子および/または滴の形態にある物質を気体流から分離するためのシステムおよび方法が、提供される。本発明の特定の実施形態によって、気体流からの物質の分離を、さらに向上させることができる。具体的には、高い浄化率を実現できる。 Certain embodiments of the present invention provide great advantages. Systems and methods for separating substances in the form of particles and / or droplets from a gas stream are provided. Certain embodiments of the invention can further improve the separation of substances from the gas stream. Specifically, a high purification rate can be realized.

意外にも、定着柱の径を増加させること、したがって空洞内の局所流速を増加させることは、公知のシステムと比較して浄化率を低下させない。意外にも、定着柱と集積面との間の空洞において増加された電界および電流の影響は、より速い気体流の速度の影響よりも重要なようである。例えば、100mmの径の定着柱、60kVの電圧、および1400μAの電流を用いた、本発明の特定の実施形態によるデバイスは、例えば50〜200nmのサイズを有する粒子に対して良好な浄化率をもたらした。浄化率は、本発明の特定の実施形態によって、約70%から約80%向上させることができる。好適な量のイオン収量チップを、定着柱の表面に直接配置させることができる。気体流は、イオン収量チップと集積面との間で、空洞内の電界に露出され、気体に含有される全ての物質は空洞を通過する。電界の外側のリングを通る気体流はない。特定の実施形態によると、浄化率は、1ナノメートルから10ナノメートルまで、もしくは20ナノメートルまで、または数10ナノメートルまでの異なる径の粒子、および/または滴のために向上させることもできる。特に、本発明の特定の実施形態によるシステムは、10ナノメートル未満の径の粒子、および/または滴の浄化率も向上させる。 Surprisingly, increasing the diameter of the anchorage column, and thus increasing the local flow velocity in the cavity, does not reduce the purification rate compared to known systems. Surprisingly, the effects of increased electric and current in the cavity between the anchorage column and the integration surface appear to be more important than the effects of faster gas flow velocities. For example, a device according to a particular embodiment of the invention, using a anchoring column with a diameter of 100 mm, a voltage of 60 kV, and a current of 1400 μA, provides good purification rates for particles having a size of, for example, 50-200 nm. rice field. The purification rate can be improved by about 70% to about 80% depending on the specific embodiment of the present invention. A suitable amount of ion yield chips can be placed directly on the surface of the anchoring column. The gas flow is exposed to the electric field in the cavity between the ion yield chip and the accumulation surface, and all substances contained in the gas pass through the cavity. There is no gas flow through the ring outside the electric field. According to certain embodiments, the purification rate can also be improved for particles and / or drops of different diameters from 1 nanometer to 10 nanometers, or 20 nanometers, or even tens of nanometers. .. In particular, the system according to a particular embodiment of the invention also improves the purification rate of particles and / or droplets with a diameter of less than 10 nanometers.

本発明の少なくともいくつかの実施形態による、物質を分離するためのデバイスの概略図である。FIG. 6 is a schematic representation of a device for separating substances according to at least some embodiments of the present invention. 本発明の少なくともいくつかの実施形態による、定着柱の概略側面図である。FIG. 3 is a schematic side view of a fixing column according to at least some embodiments of the present invention.

本発明は、粒子および/または滴の形態である物質を気体流から分離するためのデバイスに関し、このデバイスは、空気流の入口および出口を設けたハウジング内に配置される、チャンバを備える。ハウジングは、集積面として働く表面を提供する。ハウジングの内側のほぼ中央において、円筒状または楕円状本体を伴う柱が設けられる。円筒状または楕円状の本体の表面には、一連のイオン収量チップが、イオン・ビームを集積面に導くために配置される。柱は電源に接続され、それによってイオン収量チップから生じるイオン・ビームの形態の電界を、イオン収量チップが生成するのを可能にする。ハウジングおよび柱は互いに離され、それらは電界を導く目的で異なる電荷を備えるよう、別個の電源に接続され得る。一般に柱は、その断面における径および本体の長さによって画定される表面を有する、少なくとも部分的に円筒状の本体である。柱の寸法は、柱と集積面との間の空洞の断面積を画定する。空洞内における空気流の局所速度を、柱の径を大きくことによって増加させることができる。さらに、表面積が大きくなるほど、より多くのイオン収量チップを柱本体に配置させることができ、それによって電界、および本体を包んで生成される電流を増加させる。これによって、空気流に含有される粒子が帯電され、次に、除去するために粒子が集積面に導かれるよう、電界のより大きい露出が可能となる。チャンバの内側で作り出された高い密度の電界は、より多い粒子を速い空気流から抽出することによって、粒子の抽出効率を向上させる。さらに、空気流に含まれる全ての粒子は、柱と集積面との間の空洞を通過する必要がある。 The present invention relates to a device for separating a substance in the form of particles and / or droplets from a gas stream, the device comprising a chamber arranged in a housing provided with inlets and outlets for the air stream. The housing provides a surface that acts as an integration surface. A pillar with a cylindrical or elliptical body is provided approximately in the center of the inside of the housing. On the surface of the cylindrical or elliptical body, a series of ion yield tips are placed to guide the ion beam to the integration surface. The column is connected to a power source, which allows the ion yield chip to generate an electric field in the form of an ion beam generated from the ion yield chip. The housings and columns are separated from each other and they can be connected to separate power sources to have different charges for the purpose of directing an electric field. Generally, a pillar is a body that is at least partially cylindrical and has a surface defined by its diameter in its cross section and the length of the body. The dimensions of the column define the cross-sectional area of the cavity between the column and the stacking surface. The local velocity of airflow in the cavity can be increased by increasing the diameter of the column. In addition, the larger the surface area, the more ion yield chips can be placed on the column body, thereby increasing the electric field and the current generated by wrapping the body. This allows greater exposure of the electric field so that the particles contained in the air stream are charged and then guided to the stacking surface for removal. The high density electric field created inside the chamber improves the efficiency of particle extraction by extracting more particles from a fast air stream. In addition, all particles contained in the air stream must pass through the cavity between the column and the stacking surface.

図1において、本発明の少なくともいくつかの実施形態による、物質を分離するためのデバイスの概略図が示される。デバイス1は、粒子および/または滴の形態にある物質を気体流から分離するために設計される。特に、このデバイスは、1ナノメートルから数10ナノメートルの異なる径の粒子および/または滴を分離するために設計される。このデバイスは、清浄するために取り入れる空気3の入口2、集積チャンバ4、清浄された空気7の出口6、アクチュエータを伴う電圧源、およびイオン収量チップ10が結合された定着柱9を備える。集積チャンバの外壁を囲む金属製のバンド(図示せず)は、接地される。定着柱9は、閉鎖体を形成する外面を備える。デバイス1は、空気流を、定着柱9と集積面12との間の空洞14を通して案内するよう構成される。デバイス1は、高電圧をイオン収量チップ10に導き、イオン・ビーム11をイオン収量チップ10から集積面12へもたらすよう、さらに構成される。 FIG. 1 shows a schematic diagram of a device for separating substances according to at least some embodiments of the present invention. Device 1 is designed to separate substances in the form of particles and / or droplets from a gas stream. In particular, the device is designed to separate particles and / or droplets of different diameters from one nanometer to several tens of nanometers. The device includes an inlet 2 for air 3 taken in for cleaning, an integration chamber 4, an outlet 6 for clean air 7, a voltage source with actuators, and a anchoring column 9 to which the ion yield tip 10 is coupled. A metal band (not shown) surrounding the outer wall of the integration chamber is grounded. The anchoring column 9 includes an outer surface that forms a closed body. The device 1 is configured to guide the air flow through the cavity 14 between the anchoring column 9 and the integration surface 12. The device 1 is further configured to direct a high voltage to the ion yield chip 10 and bring the ion beam 11 from the ion yield chip 10 to the integration surface 12.

電気を通す集積面12は、電気絶縁体によって集積チャンバ4の外壁5から電気絶縁される。電気絶縁体は、例えば定着具(図示せず)を用いて集積チャンバ4の外壁5に装着させてよい。電気絶縁体は、ガラス、プラスチック、アクリロ−ニトリル−ブタジエン−スチレン(ABS)、または例えば高電圧を絶縁する他の類似の物質であってよい。 The accumulator surface 12 that conducts electricity is electrically insulated from the outer wall 5 of the accumulator chamber 4 by an electric insulator. The electrical insulator may be attached to the outer wall 5 of the integration chamber 4 using, for example, a fixing tool (not shown). The electrical insulator may be glass, plastic, acrylo-nitrile-butadiene-styrene (ABS), or other similar material that insulates high voltage, for example.

さらに、デバイス1は、集積面12に導かれる電圧とは反対符号の電圧をイオン収量チップ10に導くよう構成される。換言すると、イオン収量チップ10に導かれる高電圧(図では負)として、直流電圧(図では正)の反対符号の電圧が、電気を通す表面12に導かれる。したがって、電圧は反対、すなわちイオン収量チップ10は正、および電気を通す表面12は負、または、イオン収量チップ10は負、および電気を通す表面12は正、である。一般に、イオン収量チップ10の電圧は、集積面12の電圧と実質的に等しいが、異なる大きさの電圧を使用することも可能である。同じ電圧の利点は、高電圧源の構造が簡単となることである。より良好な清浄結果も、同じ電圧で実現されている。 Further, the device 1 is configured to guide a voltage having a sign opposite to the voltage guided to the integration surface 12 to the ion yield chip 10. In other words, as a high voltage (negative in the figure) led to the ion yield chip 10, a voltage having the opposite sign of the DC voltage (positive in the figure) is guided to the surface 12 that conducts electricity. Thus, the voltages are opposite, i.e. the ion yield chip 10 is positive and the surface 12 conducting electricity is negative, or the ion yield chip 10 is negative and the surface 12 conducting electricity is positive. In general, the voltage of the ion yield chip 10 is substantially equal to the voltage of the integration surface 12, but it is possible to use voltages of different magnitudes. The advantage of the same voltage is the simplification of the structure of the high voltage source. Better cleaning results are also achieved at the same voltage.

イオン収量チップ10は、長さLcolおよび径Dcolを有する定着柱9の表面13に直接配置され、イオン収量チップ10は定着柱の表面13から集積チャンバ4の空洞14の中に突出する。定着柱9の寸法は、柱と集積面との間の空洞14の断面積を画定する。したがって、連続の方程式の空気適用における所与の体積流量は、大きくした定着柱の径を伴い、空洞14を通る空気流の局所速度を増加させる。 The ion yield chips 10 are placed directly on the surface 13 of the anchoring column 9 having a length L col and a diameter D col , and the ion yield chips 10 project from the surface 13 of the anchoring column into the cavity 14 of the integration chamber 4. The dimensions of the anchoring column 9 define the cross-sectional area of the cavity 14 between the column and the stacking surface. Therefore, a given volumetric flow rate in the air application of the Continuity equation increases the local velocity of the air flow through the cavity 14 with the increased diameter of the anchorage column.

図2において、本発明の少なくともいくつかの実施形態による、定着柱9の概略側面図が示される。定着柱9の径Dcolは、例えば40〜150mmの範囲であってよい。詳細には、定着柱の径Dcolは、例えば40mm、100mm、または150mmであってよい。径Dcolと集積チャンバの最大径との間の比率は、例えば1:3であってよい。定着柱9は、例えば48個のイオン収量チップ10を含み得る。イオン収量チップ10の長さは、例えば2〜15mmの範囲であってよい。詳細には、イオン収量チップ10の長さは、例えば5mmまたは10mmであってよい。図2において、イオン収量チップは、互いに対して等距離で配置される。特定の実施形態によると、イオン収量チップ10は、定着柱9の表面13の周りをらせん状に巻かれるように配置される。 FIG. 2 shows a schematic side view of the anchoring column 9 according to at least some embodiments of the present invention. The diameter D col of the fixing column 9 may be in the range of, for example, 40 to 150 mm. Specifically, the diameter D col of the anchoring column may be, for example, 40 mm, 100 mm, or 150 mm. The ratio between the diameter D col to the maximum diameter of the integration chamber may be, for example, 1: 3. The anchoring column 9 may include, for example, 48 ion yield chips 10. The length of the ion yield tip 10 may be, for example, in the range of 2 to 15 mm. Specifically, the length of the ion yield tip 10 may be, for example, 5 mm or 10 mm. In FIG. 2, the ion yield chips are equidistant from each other. According to a particular embodiment, the ion yield chips 10 are arranged so as to be spirally wound around the surface 13 of the anchoring column 9.

図1によるデバイス1において示される定着柱9の使用中に、空気は、集積チャンバ4のリング状の空洞を流れ抜ける。空気の体積流量は、例えば約200m3/hであってよい。空洞14を通る空気流の速度は、0.5〜2.5m/sの範囲、例えば1.5m/sであってよい。 During the use of the anchoring column 9 shown in device 1 according to FIG. 1, air flows through the ring-shaped cavity of the integration chamber 4. The volumetric flow rate of air may be, for example, about 200 m 3 / h. The velocity of the air flow through the cavity 14 may be in the range of 0.5 to 2.5 m / s, for example 1.5 m / s.

空気流に含有される全ての粒子および/または滴は、集積面12と定着柱9の表面13との間の空洞14を通過する。その結果、全ての粒子および/または滴はイオン・ビーム11を通過して、空気の清浄化処理を向上させる。 All particles and / or droplets contained in the air stream pass through the cavity 14 between the accumulating surface 12 and the surface 13 of the anchoring column 9. As a result, all particles and / or droplets pass through the ion beam 11 to improve the air purification process.

開示する本発明の実施形態は、本明細書で開示する特定の構造、処理ステップ、または物質に限定されず、当業者には理解されるように、それらの同等物まで範囲を広げられることを理解されたい。本明細書で用いられる用語は、特定の実施形態を表わす目的のみに使用され、限定を意図するものではないことも理解されたい。 The disclosed embodiments of the invention are not limited to the particular structures, processing steps, or substances disclosed herein, but can be extended to their equivalents, as will be appreciated by those skilled in the art. I want to be understood. It should also be understood that the terms used herein are used solely for the purpose of representing a particular embodiment and are not intended to be limiting.

本明細書を通した、1つの実施形態または一実施形態への参照は、その実施形態と関係して説明した特定の特徴、構造、または特性が、本発明の少なくとも1つの実施形態に含まれることを意味する。したがって、本明細書を通して様々な箇所に現われる「1つの実施形態における」または「一実施形態における」という句は、必ずしも同じ実施形態を全て指すわけではない。例えば、「約」または「実質的に」等の用語を使用して数値を参照する場合、正確な数値も明示される。 References to an embodiment or embodiment throughout the specification include specific features, structures, or properties described in connection with that embodiment in at least one embodiment of the invention. Means that. Therefore, the phrases "in one embodiment" or "in one embodiment" appearing in various places throughout the specification do not necessarily refer to all of the same embodiments. For example, when referring to a number using terms such as "about" or "substantially", the exact number is also specified.

本明細書で使用されるように、複数のアイテム、構造要素、構成要素、および/または物質は、便宜上共通のリストに提示され得る。しかし、これらのリストは、リストの各部材が別個で唯一の部材として個々に識別されるよう、解釈されるべきである。したがって、このようなリストの個々の部材は、その反対に示すことなく、共通のグループ内のそれらの存在にのみ基づき、同じリストの任意の他の部材と事実上同等であるように解釈すべきではない。加えて、本発明の様々な実施形態および例は、その様々な構成要素の代替と共に本明細書に参照され得る。このような実施形態、例、および代替は、互いに事実上同等であると解釈されるべきではなく、本発明の別個かつ独立した表現であると考慮すべきであることを理解されたい。 As used herein, multiple items, structural elements, components, and / or substances may be presented in a common list for convenience. However, these lists should be interpreted so that each member of the list is individually identified as a separate and unique member. Therefore, the individual members of such a list should be interpreted as being virtually equivalent to any other member of the same list, based solely on their presence within a common group, without showing the opposite. is not it. In addition, various embodiments and examples of the present invention may be referred to herein along with alternatives to their various components. It should be understood that such embodiments, examples, and alternatives should not be construed as being virtually equivalent to each other, but should be considered as separate and independent representations of the invention.

さらに、説明する特徴、構造、または特性は、1つまたは複数の実施形態において、任意の好適な方法で組み合わされ得る。以下の説明において、本発明の実施形態の完全な理解をもたらすために、長さ、幅、形状の例など、多くの特定の詳細が提供される。しかし当業者は、本発明が、1つまたは複数の特定の詳細なしで、または他の方法、構成要素、物質などを用いて実施され得ることを理解するであろう。他の例において、公知の構造、物質、または動作は、本発明の曖昧な側面を避けるために示されず、または詳細に説明されない。 In addition, the features, structures, or properties described may be combined in any suitable manner in one or more embodiments. In the following description, many specific details such as length, width, shape examples, etc. are provided to provide a complete understanding of the embodiments of the present invention. However, one of ordinary skill in the art will appreciate that the present invention can be practiced without one or more specific details, or with other methods, components, materials, and the like. In other examples, known structures, substances, or behaviors are not shown or described in detail to avoid ambiguous aspects of the invention.

前述の例は、1つまたは複数の特定の適用における本発明の原理を例示しているが、当業者には、発明能力の運用なく、かつ本発明の原理および概念から逸脱することなく、実装形態の形態、使用、および詳細の多くの変更を成すことができることは明白であろう。したがって、本発明は、以下に記載される特許請求の範囲による以外で、限定されるようには意図されない。 Although the above examples exemplify the principles of the invention in one or more specific applications, those skilled in the art will implement them without the use of their ability to invent and without departing from the principles and concepts of the invention. It will be clear that many changes in morphology, use, and details can be made. Therefore, the present invention is not intended to be limited except by the claims described below.

用語「備える」および「含む」は、本明細書では列挙されない特徴の存在を排除も必要ともしない、排他的ではない限定として使用される。従属請求項で列挙される特徴は、別途明確に記載されない限り、相互に自由に組み合わせることができる。さらに、単数形の「a」または「an」の使用は、本明細書を通して複数を排除しないことを理解されたい。 The terms "provide" and "include" are used as non-exclusive limitations that do not require or exclude the presence of features not listed herein. The features listed in the dependent claims can be freely combined with each other unless explicitly stated otherwise. Further, it should be understood that the use of the singular "a" or "an" does not exclude the plural throughout the specification.

本発明の少なくともいくつかの実施形態は、空気清浄器および/または空気を清浄することにおいて、産業上の利用可能性を見出す。特に病院、手術室、マイクロチップを製造する工場の隔離部屋、および生物兵器を撃退するべき部屋における空気の取り入れに、非常に好適な使用をされる。当然ながら、本発明は、家屋および事務所の部屋の清浄における適用も見出し得る。 At least some embodiments of the present invention find industrial applicability in purifying air purifiers and / or air. It is very well used for air intake, especially in hospitals, operating rooms, isolated rooms in factories that manufacture microchips, and rooms where biological weapons should be repelled. Of course, the present invention may also find applications in the cleaning of home and office rooms.

1 物質を分離するためのデバイス
2 入口
3 取り入れる空気
4 集積チャンバ
5 外壁
6 出口
7 清浄された空気
9 定着柱
10 イオン収量チップ
11 イオン・ビーム
12 集積面
13 表面
14 空洞
col 長さ
col
1 Device for separating substances 2 Inlet 3 Intake air 4 Accumulation chamber 5 Outer wall 6 Outlet 7 Clean air 9 Fixing pillar 10 Ion yield tip 11 Ion beam 12 Accumulation surface 13 Surface 14 Cavity L col Length D col diameter

Claims (7)

物質を気体流から分離するためのデバイス(1)であって、
− 清浄するために取り入れる空気(3)の入口(2)と、
− 集積チャンバ(4)と、
− 清浄された空気(7)の出口(6)と、
− 電圧源と、
− イオン収量チップ(10)が結合された定着柱(9)であって、前記イオン収量チップは前記定着柱の表面に直接配置され、前記イオン収量チップは前記定着柱の前記表面から前記集積チャンバの空洞の中に突出する、定着柱(9)とを備え、
− 前記デバイス(1)は、高電圧を前記イオン収量チップ(10)に導き、イオン・ビーム(11)を前記イオン収量チップ(10)から集積面(12)へもたらすよう構成され、
− 電気を通す前記集積面(12)は、電気絶縁体によって前記集積チャンバ(4)の外壁(5)から電気絶縁され、
− 前記デバイス(1)は、前記集積面(12)に導かれる電圧とは反対符号の電圧を前記イオン収量チップ(10)に導くよう構成され、
− 前記定着柱の径は80〜120mmの範囲であり前記定着柱(9)の径と前記集積チャンバ(4)の径との間の比率は、1:3であり、電圧は10〜60kVの範囲、および電流は400〜2300μAの範囲である、デバイス(1)。
A device (1) for separating a substance from a gas stream.
-Inlet (2) of air (3) taken in for cleaning,
-Integration chamber (4) and
-Clean air (7) outlet (6) and
− Voltage source and
− An anchorage column (9) to which an ion yield tip (10) is bonded, wherein the ion yield tip is placed directly on the surface of the anchoring column, and the ion yield tip is from the surface of the anchoring column to the integration chamber. With a fixing column (9) protruding into the cavity of
-The device (1) is configured to direct a high voltage to the ion yield chip (10) and bring an ion beam (11) from the ion yield chip (10) to the integration surface (12).
-The integrated surface (12) that conducts electricity is electrically insulated from the outer wall (5) of the integrated chamber (4) by an electric insulator.
-The device (1) is configured to guide a voltage having a sign opposite to the voltage guided to the integration surface (12) to the ion yield chip (10).
-The diameter of the anchoring column is in the range of 80 to 120 mm, the ratio between the diameter of the anchoring column (9) and the diameter of the integration chamber (4) is 1: 3, and the voltage is 10 to 10. Device (1), with a range of 60 kV and a current in the range of 400-2300 μA.
前記イオン収量チップの長さは、1〜40mmの範囲である、請求項に記載のデバイス。 The device according to claim 1 , wherein the length of the ion yield chip is in the range of 1 to 40 mm. 空気の体積流量は、20〜800m 3 /hの範囲である、請求項1またはに記載のデバイス(1)。 The device (1) according to claim 1 or 2 , wherein the volumetric flow rate of air is in the range of 20 to 800 m 3 / h. 前記空洞(14)を通る空気流の速度は、0.5〜2.5m/sの範囲である、請求項1〜のいずれか一項に記載のデバイス(1)。 The device (1) according to any one of claims 1 to 3 , wherein the velocity of the air flow through the cavity (14) is in the range of 0.5 to 2.5 m / s. 粒子および/または滴の形態にある物質を気体流から分離するための方法であって、
− 前記気体流を集積チャンバ(4)を通して導くことと、
− 定着柱(9)と、前記集積チャンバ(4)の外壁(5)から電気絶縁された、電気を通す集積面(12)との間に、前記気体流のための空洞(14)を設けることと、
− イオン収量チップ(10)を、前記定着柱(9)の表面(13)に設けることであって、前記イオン収量チップ(10)は前記定着柱(9)の前記表面(13)から前記集積チャンバ(4)の前記空洞(14)の中に突出し、前記定着柱の径は80〜120mmの範囲、および前記定着柱(9)の径と前記集積チャンバの最大径との間の比率は、1:3である、設けることと、
− 前記イオン収量チップ(10)と前記集積面(12)との間に、高電圧を作り出すことと、
− 前記イオン収量チップ(10)に導かれる高電圧とは反対符号の直流電圧を伴う高電圧を、前記集積面(12)に導くことであって、前記電圧は10〜60kVの範囲、および電流は400〜2300μAの範囲である、導くことと、
− 前記物質の少なくとも一部分を、前記集積チャンバ(4)の内側で前記気体流から分離することと
を含む、方法。
A method for separating substances in the form of particles and / or droplets from a gas stream.
-To guide the gas flow through the integration chamber (4) and
-A cavity (14) for the gas flow is provided between the fixing column (9) and the electricity-carrying accumulation surface (12) electrically insulated from the outer wall (5) of the accumulation chamber (4). That and
− The ion yield chip (10) is provided on the surface (13) of the fixing column (9), and the ion yield chip (10) is integrated from the surface (13) of the fixing column (9). Projecting into the cavity (14) of the chamber (4), the diameter of the anchoring column is in the range of 80-120 mm, and the ratio between the diameter of the anchoring column (9) and the maximum diameter of the integration chamber is , 1: 3 Ru der, and be provided,
-Creating a high voltage between the ion yield tip (10) and the integration surface (12)
-A high voltage with a DC voltage having a sign opposite to the high voltage led to the ion yield chip (10) is led to the integrated surface (12), and the voltage is in the range of 10 to 60 kV, and The current is in the range of 400-2300 μA, leading and
-A method comprising separating at least a portion of the material from the gas stream inside the integration chamber (4).
前記気体流は、20〜800m3/hの範囲の空気の体積流量で、空洞を通して案内される、請求項に記載の方法。 The method of claim 5 , wherein the gas flow is guided through a cavity with a volumetric flow rate of air in the range of 20-800 m 3 / h. 前記気体流は、0.5〜2.5m/sの範囲速度で、前記空洞を通して案内される、請求項5または6に記載の方法。 The method of claim 5 or 6 , wherein the gas stream is guided through the cavity at a velocity in the range of 0.5 to 2.5 m / s.
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