JP6950811B2 - Metal plate surface defect detection method and equipment, and galvanized steel sheet manufacturing method - Google Patents
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Description
本発明は、金属板表面の凹凸欠陥を光学的に検出するための検出方法に関するものであり、特に、冷延鋼板や亜鉛めっき鋼板の表面に存在するスパッタ疵を検出するのに好適な表面欠陥検出方法及び装置並びにめっき鋼板の製造方法に関する。 The present invention relates to a detection method for optically detecting unevenness defects on the surface of a metal plate, and is particularly suitable for detecting sputter defects existing on the surface of a cold-rolled steel sheet or a galvanized steel sheet. The present invention relates to a detection method and an apparatus, and a method for manufacturing a plated steel sheet.
溶融亜鉛めっき鋼板などの薄鋼板の表面品質に対する要求レベルは近年厳格化が進んでおり、寸法が0.2mm程度の欠陥であっても問題にされるようになってきている。したがって、そのような欠陥を有する製品を出荷しないよう品質保証を行うことが重要である。また、これらの欠陥は鋼板表面にランダムに発生する形態のものもあるため、鋼板全長に渡って検査を行う必要があり、そのための自動検査装置(特に、光学的な手法を用いた検査装置)の開発が進められている。 The required level for the surface quality of thin steel sheets such as hot-dip galvanized steel sheets has become stricter in recent years, and even defects having a size of about 0.2 mm have become a problem. Therefore, it is important to ensure quality so as not to ship products with such defects. In addition, since some of these defects occur randomly on the surface of the steel sheet, it is necessary to inspect the entire length of the steel sheet, and an automatic inspection device for that purpose (particularly, an inspection device using an optical method). Is under development.
特許文献1には、照明手段と撮像手段を鋼板の進行方向に対して後方側に配置するとともに、照明手段による照明光の鋼板表面に対する入射角と、撮像手段の受光角を所定の角度範囲とした欠陥検査装置が示されている。この装置によれば、欠陥ではないバックグラウンドの影響を抑制し、微小な欠陥を撮像することができるとしている。
また、特許文献2では、照明手段と撮像手段に加えて、検査対象の画像を反射する反射面を有する画像反射手段を備えた表面検査装置が示されており、複数の角度からの欠陥画像を解析する。これにより、有害疵と汚れなどの無害疵の識別や、欠陥種類の判別が可能であるとしている。In Patent Document 1, the illumination means and the image pickup means are arranged on the rear side with respect to the traveling direction of the steel sheet, and the incident angle of the illumination light by the illumination means on the steel sheet surface and the light receiving angle of the image pickup means are set in a predetermined angle range. Defect inspection equipment is shown. According to this device, it is possible to suppress the influence of a background that is not a defect and to image a minute defect.
Further,
また、特許文献3には、金属板表面を照明して、金属板上の照明部分を撮像し、得られた画像情報をしきい値処理して金属板の表面欠陥を抽出する金属板の表面欠陥検査方法が示されている。特許文献3において、得られた画像情報のなかで、画像輝度が暗部しきい値a1未満となる画像情報s1と画像輝度が明部しきい値a2を超える画像情報s2であって、両画像情報s1,s2の部位p1,p2間の距離が距離しきい値(x)以下となる関係の画像情報s1,s2がある場合、これら画像情報s1,s2の部位p1,p2を合わせた1つの欠陥箇所が抽出される金属板の表面欠陥検出方法が示されている。さらに、特許文献3では、欠陥部分の明度・暗度に加えアスペクト比によって分類することで、過検出を抑えて微小な有害欠陥を抽出することが可能であるとしている。
Further, in
特許文献1の装置では、欠陥部分とバックグラウンド部分の輝度差によって欠陥識別は可能である。しかしながら、その欠陥種類の判別や重篤度の判別という処理については言及されておらず、このためそれらの判別は困難であると考えられる。 In the apparatus of Patent Document 1, defect identification is possible by the difference in brightness between the defective portion and the background portion. However, the processing of determining the type of defect and determining the severity of the defect is not mentioned, and therefore it is considered difficult to determine them.
また、特許文献2の装置では、画像反射手段があるため設備が複雑になること、反射板の手入れが適切に行われないと欠陥検出能力に影響を与えること、画像処理が複雑になるため検査対象が高速で移動する際には通信速度・計算速度を十分確保する必要があること、などの点が問題として挙げられる。
Further, in the apparatus of
また、特許文献3の方法では、鋼板の幅方向と平行に鋼板の変形が起こる欠陥については分類・検出が可能である。しかしながら、鋼板の走行方向と平行に鋼板の変形が起こる欠陥、例えば、冷延鋼板や亜鉛めっき鋼板の表面に存在するスパッタ疵などについては分類・検出が難しく、そのような欠陥の検出方法には適用することができない。スパッタ疵とドロス欠陥やスリ疵は同じ微小欠陥であるが、鋼板の加工時にプレス機金型等に与える影響度が異なる(一般にスパッタ疵の方が硬いため悪影響を与えやすい)ため、スパッタ疵をドロス欠陥やスリ疵と区別して検出する必要がある。また、スパッタ疵とドロス欠陥やスリ疵は、発生原因が全く異なるため、区別して検出できないと適切な原因特定や欠陥抑止対策につなげることができない。
Further, in the method of
したがって本発明の目的は、以上のような従来技術の課題を解決し、金属板の表面欠陥を検出する方法において、簡便な設備構成で冷延鋼板や亜鉛めっき鋼板の表面に存在するスパッタ疵などのような金属板の走行方向と平行に金属板の変形が起こる有害欠陥を的確に検出することができる表面欠陥検出方法及び装置並びにめっき鋼板の製造方法を提供することにある。 Therefore, an object of the present invention is to solve the above-mentioned problems of the prior art and to detect surface defects of a metal plate, such as spatter defects existing on the surface of a cold-rolled steel sheet or a galvanized steel sheet with a simple equipment configuration. It is an object of the present invention to provide a surface defect detecting method and an apparatus capable of accurately detecting harmful defects in which deformation of a metal plate occurs in parallel with the traveling direction of the metal plate as described above, and a method for manufacturing a plated steel sheet.
上記課題を解決するための本発明の要旨は以下のとおりである。
[1]照明された金属板表面を撮像し、得られた画像情報をしきい値処理してめっき金属板の表面欠陥を抽出する表面欠陥検査方法において、
得られた画像情報のなかで、画像輝度が暗部しきい値(a1)未満となる暗部(p1)と画像輝度が明部しきい値(a2)を超える明部(p2)との距離が距離しきい値(x)以下となる暗部(p1)と明部(p2)を検出し、
検出した暗部(p1)に相当する部位と明部(p2)に相当する部位を合わせて1つの欠陥箇所として抽出し、
抽出した欠陥箇所のなかで、少なくとも[金属板長手方向での長さ]/[金属板幅方向での長さ]≧比率しきい値(y)を満足する欠陥箇所を有害欠陥と判定する
金属板の表面欠陥検査方法。
[2]距離しきい値(x)を0.1〜5.0mmの範囲で設定する[1]に記載の金属板の表面欠陥検出方法。The gist of the present invention for solving the above problems is as follows.
[1] In a surface defect inspection method in which an illuminated metal plate surface is imaged and the obtained image information is threshold-processed to extract surface defects of the plated metal plate.
In the obtained image information, the distance between the dark part (p1) where the image brightness is less than the dark part threshold value (a1) and the bright part (p2) where the image brightness exceeds the bright part threshold value (a2) is the distance. Detects dark areas (p1) and bright areas (p2) that are below the threshold value (x).
The detected dark part (p1) and bright part (p2) are combined and extracted as one defective part.
Among the extracted defective parts, a metal that satisfies at least [length in the longitudinal direction of the metal plate] / [length in the width direction of the metal plate] ≥ ratio threshold value (y) as a harmful defect. A method for inspecting surface defects on a plate.
[2] The method for detecting a surface defect of a metal plate according to [1], wherein the distance threshold value (x) is set in the range of 0.1 to 5.0 mm.
[3]比率しきい値(y)を1.0〜5.0の範囲で設定する[1]または[2]に記載の金属板の表面欠陥検出方法。
[4] 抽出した欠陥箇所のなかで、[金属板長手方向での長さ]/[金属板幅方向での長さ]≧比率しきい値(y)を満足し、且つ下記(1)〜(3)のうちの1つ以上を満足する欠陥箇所を有害欠陥又は重篤な有害欠陥と判定する[1]〜[3]のいずれかに記載の金属板の表面欠陥検出方法。
(1)欠陥箇所内の明部(p2)の合計面積が面積しきい値(w)以上である。
(2)欠陥箇所内の明部(p2)の金属板長手方向での合計長さが長さしきい値(z)以上である。
(3)欠陥箇所内の明部(p2)の最大輝度値が、明部しきい値(a2)よりも高輝度に設定された明部しきい値(a20)を超える。[3] The method for detecting a surface defect of a metal plate according to [1] or [2], wherein the ratio threshold value (y) is set in the range of 1.0 to 5.0.
[4] Among the extracted defective parts, [length in the longitudinal direction of the metal plate] / [length in the width direction of the metal plate] ≥ the ratio threshold value (y) is satisfied, and the following (1) to The method for detecting a surface defect of a metal plate according to any one of [1] to [3], wherein a defective portion satisfying one or more of (3) is determined to be a harmful defect or a serious harmful defect.
(1) The total area of the bright part (p2) in the defective part is equal to or larger than the area threshold value (w).
(2) The total length of the bright portion (p2) in the defective portion in the longitudinal direction of the metal plate is equal to or greater than the length threshold value (z).
(3) The maximum brightness value of the bright part (p2) in the defective part exceeds the bright part threshold value (a20) set to be higher brightness than the bright part threshold value (a2).
[5]抽出した欠陥箇所のなかで、[金属板長手方向での長さ]/[金属板幅方向での長さ]≧比率しきい値(y)を満足し、且つ上記(1)〜(3)のうちの2つ以上を満足する欠陥箇所を有害欠陥又は重篤な有害欠陥と判定する[4]に記載の金属板の表面欠陥検出方法。 [5] Among the extracted defective parts, [length in the longitudinal direction of the metal plate] / [length in the width direction of the metal plate] ≧ ratio threshold value (y) is satisfied, and the above (1) to (1) to The method for detecting a surface defect of a metal plate according to [4], wherein a defect portion satisfying two or more of (3) is determined to be a harmful defect or a serious harmful defect.
[6]抽出した欠陥箇所のなかで、[金属板長手方向での長さ]/[金属板幅方向での長さ]≧比率しきい値(y)を満足し、且つ上記(1)〜(3)のすべてを満足する欠陥箇所を有害欠陥又は重篤な有害欠陥と判定する[4]に記載の金属板の表面欠陥検出方法。 [6] Among the extracted defective parts, [length in the longitudinal direction of the metal plate] / [length in the width direction of the metal plate] ≧ ratio threshold value (y) is satisfied, and the above (1) to (1) to The method for detecting a surface defect of a metal plate according to [4], wherein a defective portion satisfying all of (3) is determined to be a harmful defect or a serious harmful defect.
[7]面積しきい値(w)を0.06〜34.00mm2の範囲で設定することを特徴とする[4]〜[6]のいずれかに記載の金属板の表面欠陥検出方法。
[8]長さしきい値(z)を0.6〜10.0mmの範囲で設定することを特徴とする[4]〜[7]のいずれかに記載の金属板の表面欠陥検出方法。
[9]金属板表面を照明する照明手段と、該照明手段による金属板上の照明部分を撮像する撮像手段が、金属板進行方向において金属板法線よりも前方側または後方側のいずれか一方に配置される[1]〜[8]のいずれかに記載の金属板の表面欠陥検出方法。[7] The method for detecting a surface defect of a metal plate according to any one of [4] to [6], wherein the area threshold value (w) is set in the range of 0.06 to 34.00 mm 2.
[8] The method for detecting a surface defect of a metal plate according to any one of [4] to [7], wherein the length threshold value (z) is set in the range of 0.6 to 10.0 mm.
[9] The illuminating means for illuminating the surface of the metal plate and the imaging means for imaging the illuminated portion on the metal plate by the illuminating means are either on the front side or the rear side of the metal plate normal line in the direction of travel of the metal plate. The method for detecting surface defects of a metal plate according to any one of [1] to [8] arranged in.
[11][10]に記載の金属板の表面欠陥検出方法によってスパッタ疵と判定された場合に、スリ疵及び/又はドロス欠陥と判定された場合とは異なる対処を、有害欠陥があると判定されためっき鋼板に対して実施することを特徴とするめっき鋼板の製造方法。
[12][1]〜[11]のいずれかに記載の表面欠陥検出方法による表面欠陥検出を行う画像処理装置と欠陥判定装置を備えることを特徴とする金属板の表面欠陥検査装置。[11] When a spatter defect is determined by the method for detecting a surface defect of a metal plate according to [10], it is determined that there is a harmful defect, which is different from the case where it is determined to be a scratch defect and / or a dross defect. A method for manufacturing a plated steel sheet, which is carried out on a plated steel sheet.
[12] A surface defect inspection apparatus for a metal plate, comprising an image processing apparatus and a defect determination apparatus for detecting surface defects by the surface defect detecting method according to any one of [1] to [11].
本発明によれば、簡便な設備構成で冷延鋼板や亜鉛めっき鋼板の表面に存在するスパッタ疵などのような金属板の走行方向と平行に金属板の変形が起こる有害欠陥を的確に検出することができる。 According to the present invention, harmful defects such as spatter defects existing on the surface of a cold-rolled steel sheet or a galvanized steel sheet, which are deformed in parallel with the traveling direction of the metal plate, can be accurately detected with a simple equipment configuration. be able to.
本発明は、鋼板をはじめとする各種の金属板の表面欠陥を検出する方法であるが、鋼板の表面に存在するスパッタ疵を検出するのに特に好適な方法であるため、以下においては、主に冷延鋼板や亜鉛めっき鋼板などのような鋼板の表面欠陥を検出する場合を例に説明する。
微小な欠陥には、実際の使用状況では害とならない汚れや微小異物、軽微なスリ疵などの無害欠陥と、加工・塗装時に問題となる有害欠陥がある。例えば、無害欠陥には極微量の油滴の飛散による汚れがあり、有害欠陥には冷延鋼板や亜鉛めっき鋼板におけるスパッタ疵によるものがある。このスパッタ疵とは、連続ラインにおいて鋼板の端部どうしを溶接接合する際に発生するスパッタ(溶接において溶融した金属液滴が飛散し、冷却後に小球状の固体となったもの)が金属板に押し込まれることで発生する欠陥である。スパッタ疵は、鋼板面に付着したスパッタ(スパッタが酸化したもの)とこのスパッタを起点として生じた鋼板変形部からなる表面欠陥である。従来の手法では、上記の有害欠陥と無害欠陥を判別することが困難である。その理由は、有害欠陥と無害欠陥の表面粗さや光学的特性に差が無い場合、光学的手法では差異を見出すことができないからである。The present invention is a method for detecting surface defects of various metal plates including a steel plate, but since it is a particularly suitable method for detecting spatter defects existing on the surface of a steel plate, the following mainly describes the method. The case of detecting surface defects of steel sheets such as cold-rolled steel sheets and galvanized steel sheets will be described as an example.
The minute defects include harmless defects such as stains, minute foreign substances, and minor scratches that are not harmful in actual use, and harmful defects that cause problems during processing and painting. For example, harmless defects include stains due to scattering of a very small amount of oil droplets, and harmful defects include sputter defects in cold-rolled steel sheets and galvanized steel sheets. This spatter defect is a spatter generated when welding the ends of steel sheets in a continuous line (metal droplets melted in welding scatter and become a small spherical solid after cooling) on the metal plate. It is a defect that occurs when it is pushed in. Sputter defects are surface defects consisting of spatter adhering to the surface of a steel sheet (oxidized sputter) and a deformed portion of the steel sheet generated from this spatter. With conventional methods, it is difficult to distinguish between the above-mentioned harmful defects and harmless defects. The reason is that if there is no difference in surface roughness or optical characteristics between the harmful defect and the harmless defect, the difference cannot be found by the optical method.
そこで本発明では、欠陥部分だけでなく、その周辺の鋼板部分が受ける影響を加味して欠陥の判定を行うものである。例えば、酸洗工程前の溶接で鋼板に付着したスパッタは、その後の冷間圧延工程やプロセスロール通過の際に、鋼板に割れ目を形成しながら鋼板に押し込まれる。また、この割れ目は走間で押し込まれることから走行方向(鋼板長手方向)に伸びた形状となる。この変形の度合いは、鋼板をプレス成型する場合に有害欠陥となるか否かに強い関係があるとともに、有害欠陥となる場合の重篤度の高さと相関があることが分かっている。重篤度が高い場合には、プレス成型工程においてプレス金型に疵をつけることがあり、このような疵が生じたプレス金型は手入れ・交換の必要が生じる。このため、プレス成型工程の品質・生産能率に多大な悪影響を及ぼす。したがって、鋼板のスパッタ疵を精度よく検出し、その重篤度を適切に判定することは極めて重要な技術である。 Therefore, in the present invention, the defect is determined in consideration of not only the defect portion but also the influence of the steel plate portion around the defect portion. For example, the spatter adhering to the steel sheet by welding before the pickling process is pushed into the steel sheet while forming cracks in the steel sheet during the subsequent cold rolling process or passing through the process roll. Further, since this crack is pushed in between runs, it has a shape extending in the running direction (longitudinal direction of the steel plate). It is known that the degree of this deformation has a strong relationship with whether or not a steel sheet becomes a harmful defect when press-molded, and also correlates with the high severity of the harmful defect. If the severity is high, the press die may be damaged in the press molding process, and the press die with such a defect needs to be maintained or replaced. Therefore, the quality and production efficiency of the press molding process are greatly adversely affected. Therefore, it is an extremely important technique to accurately detect spatter defects in steel sheets and appropriately determine their severity.
例えば、鋼板の進行方向に対して後方側に照明手段と撮像手段を有する検査装置により欠陥検出が行われる。冷延鋼板におけるスパッタ疵の特性を考えると、スパッタそのものは表面が酸化してされており、黒色を呈するため、バックグラウンドに対し暗い画像となる。また、スパッタ上層にめっきが施された亜鉛めっき鋼板の場合にもスパッタ表面は金属光沢を有し、バックグラウンドに対し暗い画像となる。一方で、スパッタの前後に長手方向に入る割れ目部分(鋼板変形部)に関しては、照明の入射角度がバックグラウンドと異なるため、バックグラウンドに対して明るい部分が存在する。 For example, defect detection is performed by an inspection device having a lighting means and an imaging means on the rear side with respect to the traveling direction of the steel sheet. Considering the characteristics of spatter defects in cold-rolled steel sheets, the surface of spatter itself is oxidized and the surface is black, resulting in a dark image with respect to the background. Further, even in the case of a galvanized steel sheet in which the upper layer of sputtering is plated, the surface of the sputter has a metallic luster, and the image becomes dark with respect to the background. On the other hand, with respect to the crack portion (steel plate deformed portion) that enters in the longitudinal direction before and after the sputtering, since the incident angle of the illumination is different from the background, there is a bright portion with respect to the background.
したがって、この暗い画像と明るい画像が近接しているときに合わせて一つの欠陥箇所として画像処理を行うことで、スパッタ押込みに起因した鋼板の変形を伴わないスリ疵等の無害欠陥と区別して、鋼板の変形を伴う重篤欠陥と認識することができる。そこで、本発明では、この暗い画像と明るい画像が近接しているときに合わせて一つの欠陥箇所として抽出を行うとともに、スリ疵等の無害欠陥とを区別するため、この欠陥箇所の鋼板長手方向と幅方向の寸法比(アスペクト比)を指標として用いる。これにより、検査目的の有害欠陥の判別を的確に行うことができるようにしたものである。
ここで、図6に、撮像器で撮像されたドロス欠陥、スリ疵、スパッタ疵の各画像を示す。Therefore, by performing image processing as one defect location when the dark image and the bright image are in close proximity, it is possible to distinguish it from harmless defects such as scratches that do not involve deformation of the steel sheet due to spatter pressing. It can be recognized as a serious defect accompanied by deformation of the steel sheet. Therefore, in the present invention, in order to extract as one defect portion when the dark image and the bright image are close to each other and to distinguish from harmless defects such as scratches, the longitudinal direction of the steel plate of this defect portion. And the dimensional ratio (aspect ratio) in the width direction is used as an index. This makes it possible to accurately discriminate harmful defects for inspection purposes.
Here, FIG. 6 shows images of dross defects, scratches, and spatter defects captured by the imager.
本発明は、鋼板表面を照明して、鋼板上の照明部分を撮像し、得られた画像情報をしきい値処理して鋼板の表面欠陥を抽出する表面欠陥検査方法である。図1は、本発明の実施に供される表面欠陥検査装置の一例を示している。表面欠陥検査装置は、投光器1、撮像器2、画像処理装置3、欠陥判定装置4などで構成される。
前記投光器1は、鋼板5(例えば、溶融亜鉛めっき鋼板など)の表面に光を投射するものである。照明の種類は特に限定されず、例えば、従来の表面欠陥検査で使われているハロゲン照明、メタルハライド照明、蛍光灯、LED照明、キセノンストロボ照明などを用いることができる。
前記撮像器2は、鋼板5の表面から反射された光を撮像するものであり、例えばCCDエリアセンサカメラやCCDラインセンサカメラなどを用いることができる。撮像器2の空間分解能は、微小な欠陥を検出するため0.2mm以下にするのが適当である。The present invention is a surface defect inspection method in which the surface of a steel sheet is illuminated, an illuminated portion on the steel sheet is imaged, and the obtained image information is subjected to threshold processing to extract surface defects of the steel sheet. FIG. 1 shows an example of a surface defect inspection apparatus used for carrying out the present invention. The surface defect inspection device includes a floodlight 1, an
The floodlight 1 projects light onto the surface of a steel plate 5 (for example, a hot-dip galvanized steel plate). The type of illumination is not particularly limited, and for example, halogen illumination, metal halide illumination, fluorescent lamp, LED illumination, xenon strobe illumination and the like used in conventional surface defect inspection can be used.
The
図1の例では、投光器1と撮像器2が鋼板進行方向において鋼板法線よりも後方側(下流側)に配置されている。一般に、投光器1からの光の入射角αは鋼板法線に対して例えば50°〜80°程度に設定され、撮像器3の受光角βは鋼板法線に対して例えば0°〜40°程度に設定される。なお、投光器1と撮像器2は、鋼板進行方向において鋼板法線よりも前方側(上流側)に配置されてもよい。
画像処理装置3は、撮像器2により得られた画像をしきい値処理して欠陥判定に必要な画像情報とする。欠陥判定装置4は、画像処理装置3で得られた画像情報に基づき、欠陥箇所の抽出と有害欠陥の判定などを行う。なお、入射角αは55〜70°、受光角は20〜40°の範囲で設定することが好ましい。
撮像器2による撮像は、連続搬送される鋼板の全幅全長に対して所定の設備分解能(好ましくは0.2mm以下)のスポットで行われる。In the example of FIG. 1, the floodlight 1 and the
The
The image pickup by the
本発明では、例えば、以上のような表面欠陥検査装置において、撮像器2で撮像された画像が画像処理装置3で画像処理され、その画像情報(画像信号)のなかから欠陥判定装置4で欠陥箇所が検出される。欠陥判定装置4において、画像輝度が暗部しきい値a1未満となる画像情報の暗部p1と、画像輝度が明部しきい値a2を超える画像情報の明部p2が検出される。暗部p1と明部p2との距離が距離しきい値(x)以下となる場合に、暗部p1に相当する部位と明部p2に相当する部位(但し、暗部p1に相当する部位と明部p2に相当する部位との間に他の部位がある場合にはこれを含む。)を合わせた1つの欠陥箇所が抽出される。ここで、カッコ書きの意味は、暗部p1,明部p2間の距離が距離しきい値(x)以下であれば、暗部p1に相当する部位と明部p2に相当する部位間に他の部位、すなわち画像輝度が暗部しきい値a1以上、明部しきい値a2以下の画像情報の部位があっても、これも合わせて一つの欠陥箇所として抽出する。
In the present invention, for example, in the surface defect inspection device as described above, the image captured by the
ここで、画像輝度が暗部しきい値a1未満となる暗部p1は、通常、鋼板上の付着物の画像情報である。スパッタ疵を例にとると、鋼板面に付着したスパッタそのものは、表面が酸化され、黒色を呈するため、バックグラウンドに対し暗い画像となる。よって、スパッタそのものの画像情報は上述した暗部p1となる。一方、画像輝度が明部しきい値a2を超える明部p2は、通常、付着物の周辺での鋼板の変形部の画像情報である。スパッタ疵を例にとると、鋼板に押し込まれたスパッタの前後に鋼板長手方向と平行に入る割れ目(鋼板変形部)は、照明の入射角度がバックグラウンドと異なるため、バックグラウンドに対して明るい画像となる。よって、鋼板変形部の画像情報は上述した明部p2となる。 Here, the dark portion p1 whose image brightness is less than the dark portion threshold value a1 is usually image information of deposits on the steel plate. Taking a spatter defect as an example, the spatter itself adhering to the steel sheet surface is oxidized on the surface and exhibits a black color, resulting in a dark image with respect to the background. Therefore, the image information of the spatter itself is the dark portion p1 described above. On the other hand, the bright portion p2 whose image brightness exceeds the bright portion threshold value a2 is usually image information of a deformed portion of the steel sheet around the deposit. Taking a spatter defect as an example, a crack (steel deformed part) that enters parallel to the longitudinal direction of the steel sheet before and after the spatter pushed into the steel sheet is a bright image with respect to the background because the incident angle of illumination is different from the background. It becomes. Therefore, the image information of the deformed portion of the steel plate is the bright portion p2 described above.
図2は、撮像器で撮像されたスパッタ疵の画像(左図)と、このスパッタ疵の画像処理後の画像(右図)を示しており、右図中に表した数値は画像輝度である。また、図3は、図2の画像情報に対してなされるしきい値処理の一例を示す概念図である。図3では、画像輝度が暗部しきい値a1未満となる画像情報の暗部p1と、この暗部p1の両側(鋼板長手方向両側)に画像輝度が明部しきい値a2を超える画像情報の明部p2(明部p2A、明部p2B)が存在している。この場合、例えば、暗部p1と明部p2A間の距離x0Aと、暗部p1と明部p2B間の距離x0Bがいずれも距離しきい値(x)以下であれば、暗部p1に相当する部位と明部p2A,p2Bに相当する両部位を合わせて1つの欠陥箇所として抽出する。一方、暗部p1と明部p2B間の距離x0Bが距離しきい値(x)以下であるが、暗部p1と明部p2A間の距離x0Aが距離しきい値(x)を超える場合には、明部p2Aに相当する部位は欠陥箇所から除外され、暗部p1に相当する部位と明部p2Bに相当する部位のみを合わせた1つの欠陥箇所が抽出される。FIG. 2 shows an image of a spatter defect captured by an imager (left figure) and an image of the spatter defect after image processing (right figure), and the numerical value shown in the right figure is the image brightness. .. Further, FIG. 3 is a conceptual diagram showing an example of threshold processing performed on the image information of FIG. In FIG. 3, the dark portion p1 of the image information whose image brightness is less than the dark portion threshold value a1 and the bright portion of the image information whose image brightness exceeds the bright portion threshold value a2 on both sides of the dark portion p1 (both sides in the longitudinal direction of the steel plate). There is p2 (bright part p2 A , bright part p2 B ). In this case, for example, if the distance x 0A between the dark part p1 and the bright part p2 A and the distance x 0B between the dark part p1 and the bright part p2 B are both equal to or less than the distance threshold value (x), it corresponds to the dark part p1. The part to be removed and the parts corresponding to the bright areas p2 A and p2 B are combined and extracted as one defective part. On the other hand, when the distance x 0B between the dark part p1 and the bright part p2 B is equal to or less than the distance threshold value (x), but the distance x 0A between the dark part p1 and the bright part p2 A exceeds the distance threshold value (x). The part corresponding to the bright part p2 A is excluded from the defective part, and one defective part including only the part corresponding to the dark part p1 and the part corresponding to the bright part p2 B is extracted.
本発明において、暗部p1と明部p2間の距離に関する距離しきい値(x)は、小さすぎると暗い画像と明るい画像が離れている場合に一つの欠陥箇所として抽出ができない。一方、距離しきい値(x)が大きすぎると実際には別の欠陥である2つの画像を結合してしまい、欠陥の種類・重篤度を正しく判定することができない。このため距離しきい値(x)は0.1〜5.0mmの範囲で設定する(例えば、距離しきい値(x)=0.30mm)ことが好ましい。さらに、距離しきい値(x)は、0.1〜1.0mmの範囲で設定することがより好ましい。 In the present invention, if the distance threshold value (x) regarding the distance between the dark part p1 and the bright part p2 is too small, it cannot be extracted as one defect portion when the dark image and the bright image are separated. On the other hand, if the distance threshold value (x) is too large, two images that are different defects are actually combined, and the type and severity of the defects cannot be correctly determined. Therefore, the distance threshold value (x) is preferably set in the range of 0.1 to 5.0 mm (for example, the distance threshold value (x) = 0.30 mm). Further, the distance threshold value (x) is more preferably set in the range of 0.1 to 1.0 mm.
また、画像輝度の暗部しきい値a1は、低すぎると有害欠陥を検知できない場合がある。一方、暗部しきい値a1が高すぎると無害な色調ムラなどを検知して過検出の原因となるおそれがある。このため暗部しきい値a1は70〜110の範囲で設定する(例えば、暗部しきい値a1=90)ことが好ましい。さらに、暗部しきい値a1は、75〜105の範囲で設定することがより好ましい。 Further, if the dark area threshold value a1 of the image brightness is too low, harmful defects may not be detected. On the other hand, if the dark area threshold value a1 is too high, harmless color tone unevenness or the like may be detected and cause over-detection. Therefore, it is preferable to set the dark area threshold value a1 in the range of 70 to 110 (for example, the dark area threshold value a1 = 90). Further, it is more preferable to set the dark area threshold value a1 in the range of 75 to 105.
また、画像輝度の明部しきい値a2は、低すぎると無害な色調ムラなどを検知して過検出の原因となるおそれがある。一方、明部しきい値a2が高すぎると有害欠陥を検知できない場合がある。このため明部しきい値a2は140〜190の範囲で設定する(例えば、明部しきい値a2=150)ことが好ましい。さらに、明部しきい値a2は、145〜170の範囲で設定することがより好ましい。 Further, if the bright part threshold value a2 of the image brightness is too low, harmless color tone unevenness or the like may be detected and cause over-detection. On the other hand, if the bright part threshold value a2 is too high, harmful defects may not be detected. Therefore, it is preferable to set the bright part threshold value a2 in the range of 140 to 190 (for example, the bright part threshold value a2 = 150). Further, it is more preferable to set the bright part threshold value a2 in the range of 145 to 170.
本発明は、スパッタ疵のような鋼板の走行方向と平行に鋼板の変形が起こる有害欠陥の検出を目的としている。本発明では、上記のようにして欠陥箇所の抽出を行うことにより、実際の使用状況では害とならない汚れや微小異物(無害欠陥)、スリ疵など鋼板の変形を伴わない欠陥の多くが除かれる。しかしながら、抽出された欠陥箇所のなかには、目的とする特定の有害欠陥以外の欠陥(例えばドロス欠陥など)が含まれる可能性がある。そこで、本発明では、上記のように抽出した欠陥箇所のなかで、少なくとも[鋼板長手方向での長さ]/[鋼板幅方向での長さ]≧比率しきい値(y)を満足する欠陥箇所を有害欠陥と判定する。これにより、スパッタ疵などのような鋼板の走行方向(鋼板長手方向)と平行に鋼板の変形が起こる欠陥を、他の欠陥(例えばスリ疵、ドロス欠陥)と区別して有害欠陥として検出(判定)することができる。このため欠陥毎に適切な原因特定や欠陥抑止対策をとることが可能となる。 An object of the present invention is to detect harmful defects such as spatter defects in which deformation of a steel sheet occurs in parallel with the traveling direction of the steel sheet. In the present invention, by extracting the defective portion as described above, most of the defects that are not harmful in the actual usage situation, such as dirt, minute foreign matter (harmless defect), and scratches, which are not accompanied by deformation of the steel sheet, are removed. .. However, the extracted defect locations may include defects other than the specific harmful defect of interest (for example, dross defect). Therefore, in the present invention, among the defect locations extracted as described above, defects satisfying at least [length in the longitudinal direction of the steel sheet] / [length in the width direction of the steel sheet] ≥ ratio threshold value (y). Judge the location as a harmful defect. As a result, defects such as spatter defects that cause deformation of the steel sheet in parallel with the running direction of the steel sheet (longitudinal direction of the steel sheet) are detected (determined) as harmful defects by distinguishing them from other defects (for example, scratches and dross defects). can do. Therefore, it is possible to identify the cause of each defect and take appropriate measures to prevent the defect.
本発明において、[鋼板長手方向での長さ]/[鋼板幅方向での長さ]に関する比率しきい値(y)が、小さすぎるとスパッタ疵のような鋼板の走行方向と平行に形成される有害欠陥をうまく検出できない。一方、比率しきい値(y)が大きすぎると暗部と明部を合わせて1つの欠陥として抽出するなかで撮像画像ノイズ等による誤検出があった場合に、長く線状に発生したスリ疵等の欠陥と区別することができないおそれがある。また、スパッタ疵の場合に、一般的には[鋼板長手方向での長さ]/[鋼板幅方向での長さ]が5.0を超えるようなものが生じることはない。このため比率しきい値(y)は1.0〜5.0の範囲で設定する(例えば、比率しきい値(y)=3.0)ことが好ましい。さらに、比率しきい値(y)は、2.0よりも大きいことがより好ましい。これは、比率しきい値(y)が2.0以下であると、鋼板長手方向に短いドロス欠陥と区別して判別できないおそれがあるからである。 In the present invention, if the ratio threshold value (y) relating to [length in the longitudinal direction of the steel sheet] / [length in the width direction of the steel sheet] is too small, it is formed parallel to the traveling direction of the steel sheet such as spatter flaws. Harmful defects cannot be detected well. On the other hand, if the ratio threshold value (y) is too large, a long linear scratch or the like occurs when an erroneous detection is made due to captured image noise or the like while the dark part and the bright part are combined and extracted as one defect. May be indistinguishable from defects in. Further, in the case of spatter defects, in general, [length in the longitudinal direction of the steel sheet] / [length in the width direction of the steel sheet] does not exceed 5.0. Therefore, the ratio threshold value (y) is preferably set in the range of 1.0 to 5.0 (for example, the ratio threshold value (y) = 3.0). Further, the ratio threshold value (y) is more preferably larger than 2.0. This is because if the ratio threshold value (y) is 2.0 or less, it may not be possible to distinguish it from a dross defect that is short in the longitudinal direction of the steel sheet.
図4は、本発明において欠陥部抽出を行う画像情報を模式的に示したものである。
図4(A)〜(C)において、左図は画像処理後の鋼板表面の画像情報であり、1マスが1画素(鋼板幅方向0.11mm×鋼板長手方向0.16mm)を示している。また、右図が画像から抽出された欠陥箇所である。ここでは、距離しきい値(x)を0.30mmに、比率しきい値(y)を2.0にそれぞれ設定したとする。FIG. 4 schematically shows image information for extracting a defective portion in the present invention.
In FIGS. 4A to 4C, the left figure is image information of the surface of the steel plate after image processing, and one square shows one pixel (0.11 mm in the width direction of the steel plate x 0.16 mm in the longitudinal direction of the steel plate). .. The figure on the right shows the defective part extracted from the image. Here, it is assumed that the distance threshold value (x) is set to 0.30 mm and the ratio threshold value (y) is set to 2.0.
図4(A)では、画像輝度が暗部しきい値a1未満となる暗部p1(4画素からなる暗部)と、その板長手方向両側に1画素分あけて、画像輝度が明部しきい値a2を超える明部p2A,p2B(各4画素からなる明部)がある。この暗部p1と明部p2A、暗部p1と明部p2Bの各距離x0が0.16mmであり、いずれも距離しきい値(x)以下であるため、これらを合わせて1つの欠陥箇所d(欠陥部)として抽出される。さらに、欠陥箇所dは[鋼板長手方向での長さ]/[鋼板幅方向での長さ]=3.0≧比率しきい値(y)であるため、検査目的の「有害欠陥」であると判定される。すなわち、検査の目的がスパッタ疵の検出である場合には、スパッタ疵であると判定される。In FIG. 4A, a dark portion p1 (a dark portion consisting of 4 pixels) whose image brightness is less than the dark portion threshold value a1 and one pixel on both sides in the longitudinal direction of the plate are separated so that the image brightness is the bright portion threshold value a2. There are bright areas p2 A and p2 B (bright areas consisting of 4 pixels each) that exceed. The distance x 0 between the dark part p1 and the bright part p2 A and the dark part p1 and the bright part p2 B is 0.16 mm, and both are equal to or less than the distance threshold value (x). It is extracted as d (defect portion). Further, since the defect portion d is [length in the longitudinal direction of the steel plate] / [length in the width direction of the steel plate] = 3.0 ≧ ratio threshold value (y), it is a “harmful defect” for inspection purposes. Is determined. That is, when the purpose of the inspection is to detect spatter defects, it is determined that the spatter defects are present.
図4(B)では、画像輝度が暗部しきい値a1未満となる暗部p1(8画素からなる暗部)と、その板長手方向両側に1画素分あけて画像輝度が明部しきい値a2を超える明部p2A,p2B(各3画素からなる明部)がある。この場合も、暗部p1と明部p2A、暗部p1と明部p2Bの各距離x0がいずれも0.16mmであり、いずれも距離しきい値(x)以下であるため、これらを合わせて1つの欠陥箇所d(欠陥部)として抽出される。しかし、この欠陥箇所dは[鋼板長手方向での長さ]/[鋼板幅方向での長さ]=1.5<比率しきい値(y)であるため検査目的の「有害欠陥」とは判定されない。すなわち、検査の目的がスパッタ疵の検出である場合には、スパッタ疵とは判定されない。In FIG. 4B, the dark portion p1 (dark portion consisting of 8 pixels) whose image brightness is less than the dark portion threshold value a1 and the bright portion threshold value a2 whose image brightness is separated by one pixel on both sides in the longitudinal direction of the plate. There are bright areas p2 A and p2 B (bright areas consisting of 3 pixels each) that exceed. In this case as well, the distance x 0 between the dark part p1 and the bright part p2 A and the dark part p1 and the bright part p2 B are both 0.16 mm, which are both equal to or less than the distance threshold value (x). It is extracted as one defect portion d (defect portion). However, since this defect location d is [length in the longitudinal direction of the steel plate] / [length in the width direction of the steel plate] = 1.5 <ratio threshold value (y), what is a "harmful defect" for inspection purposes? Not judged. That is, when the purpose of the inspection is to detect spatter defects, it is not determined to be spatter defects.
図4(C)では、画像輝度が暗部しきい値a1未満となる暗部p1(4画素からなる暗部)と、その板長手方向の一方の側に2画素分あけて画像輝度が明部しきい値a2を超える明部p2A(2画素からなる明部)があり、他方の側に1画素分あけて画像輝度が明部しきい値a2を超える明部p2B(4画素からなる明部)がある。この場合は、暗部p1と明部p2B間の距離x0Bは0.16mmであり、距離しきい値(x)以下である。一方、暗部p1と明部p2A間の距離x0Aは0.32mmであり、距離しきい値(x)を超える。このため、明部p2Aは欠陥箇所dとして抽出されず、暗部p1と明部p2Bを合わせて1つの欠陥箇所d(欠陥部)として抽出される。さらに、欠陥箇所dは[鋼板長手方向での長さ]/[鋼板幅方向での長さ]=2.5≧比率しきい値(y)であるため検査の目的の「有害欠陥」であると判定される。すなわち、検査の目的がスパッタ疵の検出である場合には、スパッタ疵であると判定される。In FIG. 4C, a dark portion p1 (a dark portion consisting of 4 pixels) in which the image brightness is less than the dark portion threshold value a1 and a bright portion in which the image brightness is separated by 2 pixels on one side in the longitudinal direction of the plate. There is a bright part p2 A (a bright part consisting of 2 pixels) that exceeds the value a2, and a bright part p2 B (a bright part consisting of 4 pixels) whose image brightness exceeds the bright part threshold value a2 with one pixel on the other side. ). In this case, the distance x 0B between the dark part p1 and the bright part p2 B is 0.16 mm, which is equal to or less than the distance threshold value (x). On the other hand, the distance x 0A between the dark part p1 and the bright part p2 A is 0.32 mm, which exceeds the distance threshold value (x). Therefore, the bright part p2 A is not extracted as the defective part d, but the dark part p1 and the bright part p2 B are combined and extracted as one defective part d (defect part). Further, since the defect portion d is [length in the longitudinal direction of the steel plate] / [length in the width direction of the steel plate] = 2.5 ≧ ratio threshold value (y), it is a “harmful defect” for the purpose of inspection. Is determined. That is, when the purpose of the inspection is to detect spatter defects, it is determined that the spatter defects are present.
また、本発明では、上述のようにして抽出された欠陥箇所について、有害欠陥をより高精度に検出するために、上述した[鋼板長手方向での長さ]/[鋼板幅方向での長さ]≧比率しきい値(y)という基準に加えて、下記(1)〜(3)のような基準を用いて判定することができる。換言すれば、検出精度を高めるために、距離しきい値(x)及び比率しきい値(y)に基づく有害欠陥の検出結果が正しいか否かを判定することができる。或いは、距離しきい値(x)及び比率しきい値(y)に基づいて検出された有害欠陥のなかでも、重篤な有害欠陥であるか否かを下記(1)〜(3)の基準を用いて判定してもよい。 Further, in the present invention, in order to detect harmful defects with higher accuracy in the defect portion extracted as described above, the above-mentioned [length in the longitudinal direction of the steel sheet] / [length in the width direction of the steel sheet] described above ] ≥ In addition to the criterion of ratio threshold value (y), the determination can be made using the following criteria (1) to (3). In other words, in order to improve the detection accuracy, it is possible to determine whether or not the detection result of the harmful defect based on the distance threshold value (x) and the ratio threshold value (y) is correct. Alternatively, among the harmful defects detected based on the distance threshold value (x) and the ratio threshold value (y), whether or not the harmful defect is a serious harmful defect is determined by the criteria (1) to (3) below. May be used for determination.
ここで、抽出された欠陥箇所が下記(1)〜(3)の基準の1つ以上を満足する場合に、その欠陥箇所が有害欠陥又は重篤な有害欠陥であると判定としてもよい。あるいは、下記(1)〜(3)の基準の2つ以上若しくは全部を満足する場合に有害欠陥又は重篤な有害欠陥であると判定してもよい。また、重篤か否かという判定だけでなく、下記(1)〜(3)の基準のうち満足する数が多い程、悪影響の大きいより重篤な有害欠陥である、というように重篤度を段階的に判断してもよい。
(1)明部p2の面積(但し、明部p2が2つ以上ある場合は、それらの合計面積)が面積しきい値(w)以上である。
(2)明部p2の鋼板長手方向での長さ(但し、明部p2が2つ以上ある場合は、それらの合計長さ)が長さしきい値(z)以上である。
(3)明部p2の最大輝度点(但し、明部p2が2つ以上ある場合は、少なくも1つの明部p2の最大輝度点)が、明部しきい値a2よりも高輝度に設定された明部しきい値a20を超える。Here, when the extracted defective portion satisfies one or more of the criteria (1) to (3) below, it may be determined that the defective portion is a harmful defect or a serious harmful defect. Alternatively, it may be determined that the defect is a harmful defect or a serious harmful defect when two or more or all of the following criteria (1) to (3) are satisfied. In addition to determining whether or not it is serious, the more satisfied the criteria (1) to (3) below, the more serious the adverse defect is. May be judged step by step.
(1) The area of the bright part p2 (however, when there are two or more bright parts p2, the total area of them) is equal to or larger than the area threshold value (w).
(2) The length of the bright portion p2 in the longitudinal direction of the steel sheet (however, if there are two or more bright portions p2, the total length thereof) is equal to or greater than the length threshold value (z).
(3) The maximum luminance point of the bright part p2 (however, when there are two or more bright parts p2, the maximum luminance point of at least one bright part p2) is set to be higher than the bright part threshold value a2. The brightness threshold value a20 is exceeded.
上記(1)の基準のように明部p2の面積が大きいほど有害欠陥である可能性がより高く、或いは有害欠陥が重篤である可能性が高いと言える。特に、スパッタ疵の場合には、地鉄の割れ部である明部p2の面積が大きいという特徴がある。スパッタ疵などの明部p2の面積からして、面積しきい値(w)は0.06〜34.00mm2程度の範囲で設定する(例えば、面積しきい値(w)=0.08mm2)ことが好ましい。また、スパッタ疵の場合、通常、暗部p1の面積に較べて明部p2の面積の方が大きいため(2倍程度であることが多い)、明部p2の面積と暗部p1の面積の比p2/p1が面積しきい値(w)’以上であることを判定条件としてもよい。さらに、面積しきい値(w)は0.6〜8.0mm2の範囲で設定することがより好ましい。It can be said that the larger the area of the bright part p2 as in the standard of (1) above, the higher the possibility of a harmful defect, or the higher the possibility of a serious harmful defect. In particular, in the case of spatter defects, the area of the bright part p2, which is the cracked part of the base iron, is large. And from the area of the bright portion p2 of the sputtering defects, the area threshold (w) is set in the range of about 0.06~34.00mm 2 (e.g., an area threshold (w) = 0.08mm 2 ) Is preferable. Further, in the case of spatter defects, the area of the bright part p2 is usually larger than the area of the dark part p1 (often about twice as large), so the ratio of the area of the bright part p2 to the area of the dark part p1 p2. The determination condition may be that / p1 is equal to or greater than the area threshold value (w)'. Further, it is more preferable to set the area threshold value (w) in the range of 0.6 to 8.0 mm 2.
上記(2)の基準のように明部p2の鋼板長手方向での長さが大きいほど有害欠陥である可能性がより高く、或いは有害欠陥が重篤である可能性が高いと言える。特に、スパッタ疵の場合には、地鉄の割れ部である明部p2の長さが大きいという特徴がある。スパッタ疵などの明部p2の長さからして、長さしきい値(z)は0.6〜10.0mm程度の範囲で設定する(例えば、長さしきい値(z)=0.8mm)ことが好ましい。また、スパッタ疵の場合、通常、暗部p1の鋼板長手方向での長さに較べて明部p2の鋼板長手方向での長さの方が大きいため、明部p2の鋼板長手方向での長さと暗部p1の鋼板長手方向での長さの比p2/p1が長さしきい値(z)’以上であることを判定条件としてもよい。さらに、長さしきい値(z)は0.6〜5.0mmの範囲で設定することがより好ましい。 It can be said that the larger the length of the bright part p2 in the longitudinal direction of the steel sheet as in the standard (2) above, the higher the possibility of a harmful defect, or the higher the possibility of a serious harmful defect. In particular, in the case of spatter flaws, there is a feature that the length of the bright part p2, which is the cracked part of the base iron, is large. The length threshold value (z) is set in the range of about 0.6 to 10.0 mm from the length of the bright part p2 such as spatter defects (for example, the length threshold value (z) = 0. 8 mm) is preferable. Further, in the case of spatter defects, the length of the bright portion p2 in the longitudinal direction of the steel plate is usually larger than the length of the dark portion p1 in the longitudinal direction of the steel plate. The determination condition may be that the ratio p2 / p1 of the length of the dark portion p1 in the longitudinal direction of the steel sheet is equal to or greater than the length threshold (z)'. Further, it is more preferable to set the length threshold value (z) in the range of 0.6 to 5.0 mm.
上記(3)の基準のように、明部p2の最大輝度点が、明部しきい値a2よりも高輝度に設定された明部しきい値a20を超える場合には、有害欠陥である可能性がより高く、或いは有害欠陥が重篤である可能性が高いと言える。特に、スパッタ疵の場合には地鉄の割れ部である明部p2の輝度が高いという特徴がある。スパッタ疵などの明部p2の輝度からして、明部しきい値a20(輝度)は145〜205の範囲で設定する(例えば、明部しきい値a20=180)ことが好ましい。さらに、明部しきい値a20は145〜190mmの範囲で設定することがより好ましい。 If the maximum brightness point of the bright part p2 exceeds the bright part threshold value a20 set to be higher than the bright part threshold value a2 as in the reference of (3) above, it may be a harmful defect. It can be said that there is a high possibility that the sex is higher or that the harmful defect is serious. In particular, in the case of spatter defects, the brightness of the bright part p2, which is the cracked part of the base iron, is high. From the viewpoint of the brightness of the bright part p2 such as spatter defects, the bright part threshold value a20 (luminance) is preferably set in the range of 145 to 205 (for example, the bright part threshold value a20 = 180). Further, it is more preferable to set the bright part threshold value a20 in the range of 145 to 190 mm.
図5は、本発明において、欠陥部抽出を行い且つ上記(1)〜(3)の判定基準を加えて判定を行う場合について、判定の対象となる画像情報を模式的に示したものである。ここでは、上述した距離しきい値(x)及び比率しきい値(y)の基準に加えて、上記(1)〜(3)の基準のいずれか1つを満足する場合に検査目的の「有害欠陥」と判定し、或いは有害欠陥のなかでも「重篤な有害欠陥」であると判定する場合について説明する。なお、上記(1)〜(3)の基準の2つ以上或いは全部を満足する場合に検査目的の「有害欠陥」と判定し、或いは有害欠陥のなかでも「重篤な有害欠陥」であると判定してもよい。 FIG. 5 schematically shows the image information to be determined in the case where the defect portion is extracted and the determination criteria (1) to (3) are added to perform the determination in the present invention. .. Here, in addition to the criteria of the distance threshold value (x) and the ratio threshold value (y) described above, when any one of the criteria (1) to (3) above is satisfied, the inspection purpose “ A case where it is determined to be a "harmful defect" or a "serious harmful defect" among the harmful defects will be described. If two or more or all of the criteria (1) to (3) above are satisfied, it is judged to be a "harmful defect" for inspection purposes, or it is considered to be a "serious harmful defect" among the harmful defects. You may judge.
図5(A)〜(C)において、左図は画像処理後の鋼板表面の画像であり、1マスが1画素(鋼板幅方向0.11mm×鋼板長手方向0.16mm)を示している。また、右図が画像から抽出された欠陥箇所である。ここでは、距離しきい値(x)を0.30mm、比率しきい値(y)を2.0、面積しきい値(w)を0.10mm2、長さしきい値(z)を0.40mm、明部しきい値a20を180にそれぞれ設定したとする。In FIGS. 5A to 5C, the left figure is an image of the surface of the steel plate after image processing, and one square shows one pixel (0.11 mm in the width direction of the steel plate x 0.16 mm in the longitudinal direction of the steel plate). The figure on the right shows the defective part extracted from the image. Here, the distance threshold value (x) is 0.30 mm, the ratio threshold value (y) is 2.0, the area threshold value (w) is 0.10 mm 2 , and the length threshold value (z) is 0. It is assumed that .40 mm and the bright part threshold value a20 are set to 180, respectively.
図5(A)では、画像輝度が暗部しきい値a1未満となる暗部p1(4画素からなる暗部)と、その板長手方向両側に1画素分あけて、画像輝度が明部しきい値a2を超える明部p2A,p2B(各4画素からなる明部)があり、暗部p1と明部p2A、暗部p1と明部p2Bの各距離x0が0.16mmであり、いずれも距離しきい値(x)以下であるため、これらを合わせた1つの欠陥箇所d(欠陥部)が抽出される。さらに、欠陥箇所dは[鋼板長手方向での長さ]/[鋼板幅方向での長さ]=3.0≧比率しきい値(y)であり、且つ明部s2の最高輝度点(部位)が明部しきい値a20を超えている。このため、欠陥箇所は検査目的の「有害欠陥」であると判定され、或いは有害欠陥のなかでも「重篤な有害欠陥」であると判定される。なお、検査の目的がスパッタ疵の検出である場合には、スパッタ疵(有害欠陥)と判定され、或いは重篤なスパッタ疵(有害欠陥)と判定される。一方、仮に図5(A)とは異なり、明部s2の最高輝度点(部位)が明部しきい値a20以下であって、明部p2の鋼板長手方向での合計長さが長さしきい値(x)未満の場合には、欠陥箇所dは検査目的の「有害欠陥」ではないと判定され、或いは「有害欠陥」ではあるが、重篤なものではないと判定される。In FIG. 5A, a dark portion p1 (a dark portion consisting of 4 pixels) whose image brightness is less than the dark portion threshold value a1 and one pixel on both sides in the longitudinal direction of the plate are separated so that the image brightness is the bright portion threshold value a2. There are bright areas p2 A and p2 B (bright areas consisting of 4 pixels each) that exceed the above, and the distance x 0 between the dark areas p1 and bright areas p2 A and the dark areas p1 and bright areas p2 B is 0.16 mm. Since it is equal to or less than the distance threshold value (x), one defect portion d (defect portion) in which these are combined is extracted. Further, the defective portion d is [length in the longitudinal direction of the steel plate] / [length in the width direction of the steel plate] = 3.0 ≧ ratio threshold value (y), and the highest luminance point (portion) of the bright portion s2. ) Exceeds the bright part threshold value a20. Therefore, the defective portion is determined to be a "harmful defect" for inspection purposes, or is determined to be a "serious harmful defect" among the harmful defects. When the purpose of the inspection is to detect spatter defects, it is determined to be spatter defects (harmful defects) or serious spatter defects (harmful defects). On the other hand, unlike FIG. 5A, the maximum luminance point (part) of the bright portion s2 is equal to or less than the bright portion threshold value a20, and the total length of the bright portion p2 in the longitudinal direction of the steel plate is the length. If it is less than the threshold value (x), it is determined that the defect portion d is not a "harmful defect" for inspection purposes, or it is a "harmful defect" but is not serious.
図5(B)では、画像輝度が暗部しきい値a1未満となる暗部p1(4画素からなる暗部)と、その板長手方向両側に接して画像輝度が明部しきい値a2を超える明部p2A,p2B(各2画素からなる明部)があり、暗部p1と明部p2A、暗部p1と明部p2Bの各距離はいずれも距離しきい値(x)以下であるため、これらを合わせた1つの欠陥箇所d(欠陥部)が抽出される。この欠陥箇所dは[鋼板長手方向での長さ]/[鋼板幅方向での長さ]=2.0≧比率しきい値(y)である。しかしながら、鋼板長手方向での明部p2A,p2Bの合計長さが0.32mmであり、長さしきい値(z)(0.40mm)未満である。このため、検査目的の「有害欠陥」ではないと判定され、或いは「有害欠陥」ではあるが、重篤なものではないと判定される。なお、検査の目的がスパッタ疵の検出である場合には、スパッタ疵ではないと判定され、或いはスパッタ疵ではあるが、重篤なものではないと判定される。一方、仮に図5(B)とは異なり、鋼板長手方向での明部p2A,p2Bの合計長さが長さしきい値(z)(0.40mm)以上の場合には、欠陥箇所dは「有害欠陥」であると判定され、或いは有害欠陥のなかでも「重篤な有害欠陥」であると判定される。In FIG. 5B, a dark portion p1 (a dark portion consisting of 4 pixels) whose image brightness is less than the dark portion threshold value a1 and a bright portion whose image brightness exceeds the bright portion threshold value a2 in contact with both sides in the longitudinal direction of the plate. Since there are p2 A and p2 B (bright areas consisting of two pixels each), the distances between the dark areas p1 and the bright areas p2 A and the dark areas p1 and the bright areas p2 B are all equal to or less than the distance threshold value (x). One defect portion d (defect portion) in which these are combined is extracted. The defect portion d is [length in the longitudinal direction of the steel plate] / [length in the width direction of the steel plate] = 2.0 ≧ ratio threshold value (y). However, the total length of the bright portions p2 A and p2 B in the longitudinal direction of the steel sheet is 0.32 mm, which is less than the length threshold value (z) (0.40 mm). Therefore, it is determined that it is not a "harmful defect" for inspection purposes, or it is determined that it is a "harmful defect" but is not serious. When the purpose of the inspection is to detect spatter defects, it is determined that the inspection is not a spatter defect, or that the spatter defect is not serious. On the other hand, unlike FIG. 5B, if the total length of the bright portions p2 A and p2 B in the longitudinal direction of the steel sheet is the length threshold value (z) (0.40 mm) or more, the defective portion. d is determined to be a "harmful defect", or is determined to be a "serious harmful defect" among the harmful defects.
図5(C)では、画像輝度が暗部しきい値a1未満となる暗部p1(2画素からなる暗部)と、その板長手方向の一方の側に接して画像輝度が明部しきい値a2を超える明部p2A(2画素からなる明部)があり、他方の側に接して画像輝度が明部しきい値a2を超える明部p2B(1画素からなる明部)があり、暗部p1と明部p2A、暗部p1と明部p2Bの各距離はいずれも距離しきい値(x)以下であるため、これらを合わせて1つの欠陥箇所d(欠陥部)として抽出される。この欠陥箇所dは[鋼板長手方向での長さ]/[鋼板幅方向での長さ]=5.0≧比率しきい値(y)であるが、明部p2A,p2Bの合計面積が0.09mm2であり、面積しきい値(w)(0.10mm2)未満である。さらに、明部p2の鋼板長手方向での合計長さが長さしきい値(x)未満であれば、検査目的の「有害欠陥」ではないと判定され、或いは「有害欠陥」ではあるが、重篤なものではないと判定される。すなわち、検査の目的がスパッタ疵の検出である場合には、スパッタ疵ではないと判定され、或いはスパッタ疵ではあるが、重篤なものではないと判定される。一方、仮に図5(C)とは異なり、明部p2A,p2Bの合計面積が面積しきい値(w)(0.10mm2)以上の場合には、欠陥箇所dは「有害欠陥」であると判定され、或いは有害欠陥のなかでも「重篤な有害欠陥」であると判定される。In FIG. 5C, the dark portion p1 (dark portion consisting of two pixels) whose image brightness is less than the dark portion threshold value a1 and the bright portion threshold value a2 whose image brightness is in contact with one side in the longitudinal direction of the plate. There is a bright part p2 A (bright part consisting of 2 pixels) that exceeds, and there is a bright part p2 B (bright part consisting of 1 pixel) whose image brightness exceeds the bright part threshold value a2 in contact with the other side, and there is a dark part p1. Since the distances between the bright part p2 A and the dark part p1 and the bright part p2 B are all equal to or less than the distance threshold value (x), they are collectively extracted as one defective part d (defect part). This defect location d is [length in the longitudinal direction of the steel plate] / [length in the width direction of the steel plate] = 5.0 ≧ ratio threshold value (y), but the total area of bright areas p2 A and p2 B. Is 0.09 mm 2, which is less than the area threshold value (w) (0.10 mm 2). Further, if the total length of the bright part p2 in the longitudinal direction of the steel sheet is less than the length threshold value (x), it is determined that it is not a "harmful defect" for inspection purposes, or it is a "harmful defect". It is judged that it is not serious. That is, when the purpose of the inspection is to detect spatter defects, it is determined that the inspection is not a spatter defect, or that the spatter defect is not serious. On the other hand, unlike FIG. 5C, if the total area of bright areas p2 A and p2 B is equal to or greater than the area threshold value (w) (0.10 mm 2 ), the defect location d is a “harmful defect”. Or, among the harmful defects, it is judged to be a "serious harmful defect".
なお、本発明を実施するに当たっては、従来の検査装置でも用いられている欠陥寸法・積算濃度等のパラメータにも適切なしきい値を設定し、判別精度を高めることが望ましい。
本発明で検出対象となる表面欠陥に制限はないが、本発明はめっき鋼板(例えば、溶融亜鉛系めっき鋼板、合金化溶融亜鉛系めっき鋼板など)のスパッタ疵の検出に好適であり、この場合には、スパッタ疵がスリ疵又は/及びドロス欠陥と区別されて検出され、有害欠陥と判定される。 In carrying out the present invention, it is desirable to set appropriate threshold values for parameters such as defect size and integrated concentration, which are also used in conventional inspection devices, to improve the discrimination accuracy.
Although there is no limitation on the surface defects to be detected in the present invention, the present invention is suitable for detecting spatter defects of plated steel sheets (for example, hot-dip galvanized steel sheets, alloyed hot-dip galvanized steel sheets, etc.). A spatter defect is detected separately from a scratch defect and / or a dross defect, and is determined to be a harmful defect.
ここで、上述には検査目的の有害欠陥(スパッタ疵)の検出について説明したが、ドロス欠陥も有害欠陥の1つとして挙げられる。すなわち、めっき鋼板の製造プロセスにおいて、めっき鋼板の表面に付着したドロスがロールへの巻き付けや圧延において押し込められる場合がある。すると、めっき鋼板の表面に微小な変形が生じてドロス欠陥になる。このドロス欠陥も塗装等に悪影響を及ぼす有害欠陥である。ここで、ドロス欠陥も、ドロス付着部分とその周辺の変形部を伴うものであるため、暗部lang=EN-US>p1と明部p2の距離しきい値(x)を用いて判定することができる。そこで、上述した検査目的の有害欠陥(スパッタ疵)の検出方法に基づき、有害欠陥のうち、ドロス欠陥とスパッタ疵とを区別して判定することができる。 Here, although the detection of harmful defects (spatter defects) for inspection purposes has been described above, dross defects are also mentioned as one of the harmful defects. That is, in the manufacturing process of the plated steel sheet, the dross adhering to the surface of the plated steel sheet may be pushed in by winding or rolling on a roll. Then, the surface of the plated steel sheet is slightly deformed and becomes a dross defect. This dross defect is also a harmful defect that adversely affects painting and the like. Here, since the dross defect is also accompanied by the dross-attached portion and the deformed portion around it, it can be determined by using the distance threshold value (x) of the dark portion lang = EN-US> p1 and the bright portion p2. can. Therefore, based on the above-mentioned method for detecting a harmful defect (spatter defect) for inspection purposes, it is possible to distinguish between a dross defect and a spatter defect among the harmful defects.
例えば、ドロス欠陥とスパッタ疵との双方を欠陥箇所として抽出可能な距離しきい値(x)を設定しておき、抽出した欠陥箇所のうち、比率しきい値(y)、さらには(1)〜(3)の基準を用いてスパッタ疵ではないと判定された欠陥箇所をドロス欠陥であると判定してもよい。あるいは、ドロス欠陥検出のためのドロス用距離しきい値を例えば0.1〜2.0mmの範囲から別途設定し、暗部lang=EN-US>p1と明部p2がドロス用距離しきい値以下である場合、欠陥箇所はドロス欠陥であると判定してもよい。さらに、ドロス欠陥は板幅方向に延びる性質を利用し、欠陥箇所のうち、板幅方向の長さが設定長さ以上であるという条件を加えてドロス欠陥の判定を行うようにしてもよい。このように、有害欠陥の中でも欠陥種類の異なるスパッタ疵とドロス欠陥を区別して判定することができる。 For example, a distance threshold value (x) that can be extracted with both dross defects and spatter defects as defect locations is set, and among the extracted defect locations, the ratio threshold value (y) and further (1). A defect portion determined not to be a spatter defect may be determined to be a dross defect using the criteria of (3). Alternatively, the dross distance threshold value for dross defect detection is set separately from the range of, for example, 0.1 to 2.0 mm, and the dark part lang = EN-US> p1 and the bright part p2 are equal to or less than the dross distance threshold value. If, it may be determined that the defective portion is a dross defect. Further, the dross defect may be determined by utilizing the property of extending in the plate width direction and adding the condition that the length in the plate width direction is equal to or more than the set length among the defective portions. In this way, it is possible to distinguish between spatter defects and dross defects having different types of harmful defects.
連続溶融亜鉛めっきラインに図1に示すような表面欠陥検査装置を設置し、めっき鋼板の表面欠陥の検出を行った。連続溶融亜鉛めっきラインは、鋼帯の通板速度:80〜140mpm、鋼帯の寸法:鋼帯幅820〜1840mmである。
検査設備分解能は、幅方向0.11mm×通板方向0.16mmであり、画像処理では、各画素の輝度を256段階(0〜255)に分類し処理を行った。
本発明では、欠陥箇所dを抽出するに当たり、暗部しきい値a1を輝度85、明部しきい値a2を輝度150で設定し、暗部p1と明部p2間の距離に関する距離しきい値(x)を0.48mmに設定した。また、抽出された欠陥箇所dが有害欠陥かどうかの判定基準として、[鋼板長手方向での長さ]/[鋼板幅方向での長さ]に関する比率しきい値(y)を2.0、鋼板長手方向での明部p2の長さ(但し、明部p2が2つ以上ある場合は、それらの合計長さ)に関する長さしきい値(z)を0.8mmにそれぞれ設定し、[鋼板長手方向での長さ]/[鋼板幅方向での長さ]が比率しきい値(y)(=2.0)以上で且つ鋼板長手方向での明部p2の合計長さが長さしきい値(z)(=0.8mm)以上の欠陥箇所dを検査目的の有害欠陥と判定した。A surface defect inspection device as shown in FIG. 1 was installed in the continuous hot-dip galvanizing line to detect surface defects in the plated steel sheet. In the continuous hot-dip galvanizing line, the plate passing speed of the steel strip is 80 to 140 mpm, and the dimensions of the steel strip are: steel strip width 820 to 1840 mm.
The inspection equipment resolution was 0.11 mm in the width direction × 0.16 mm in the plate-passing direction, and in the image processing, the brightness of each pixel was classified into 256 stages (0 to 255) and processed.
In the present invention, when extracting the defective portion d, the dark part threshold value a1 is set to the brightness 85 and the bright part threshold value a2 is set to the brightness 150, and the distance threshold value (x) regarding the distance between the dark part p1 and the bright part p2 is set. ) Was set to 0.48 mm. Further, as a criterion for determining whether the extracted defect portion d is a harmful defect, the ratio threshold value (y) regarding [length in the steel plate longitudinal direction] / [length in the steel plate width direction] is set to 2.0. Set the length threshold (z) for the length of the bright part p2 in the longitudinal direction of the steel sheet (however, if there are two or more bright parts p2, the total length of them) to 0.8 mm, respectively, and set [ The length in the longitudinal direction of the steel plate] / [length in the width direction of the steel plate] is equal to or greater than the ratio threshold value (y) (= 2.0), and the total length of the bright portion p2 in the longitudinal direction of the steel plate is the length. A defect portion d having a threshold value (z) (= 0.8 mm) or more was determined to be a harmful defect for inspection purposes.
スパッタ疵サンプル(鋼板長手方向長さ3mm−鋼板幅方向長さ1mm程度)を設けた溶融亜鉛めっき鋼板を用い、本発明と従来法により表面欠陥の検出試験を行った。従来法としては、欠陥として判定された領域の輝度のうち最も低い値が暗部しきい値a1を下回った場合、その輝度に応じて欠陥の重篤度を判定する手法を用いた。
従来法を適用した場合、検査設備では無害な汚れ・微小異物と有害なスパッタ疵との判別は不能であり、鋼板走行を止めた状態での検査員の目視検査でのみ発見が可能であった。このため製品全長を確認することは不可能であった。A surface defect detection test was carried out by the present invention and the conventional method using a hot-dip galvanized steel sheet provided with a spatter defect sample (
When the conventional method was applied, it was impossible for the inspection equipment to distinguish between harmless dirt / minute foreign matter and harmful spatter defects, and it was possible to detect only by visual inspection of the inspector with the steel plate running stopped. .. Therefore, it was impossible to confirm the total length of the product.
これに対して、本発明を適用した場合、検査設備でスパッタ疵サンプルを無害な汚れ・微小異物と区別して判定することが可能であった。具体的には、実際にスパッタ疵13個を調査し、これらの検出状況を評価した。その結果、完全一致(判定:有害、実欠陥:有害)=10個、未検出(判定:無害、実欠陥:有害)=3個であり、信頼率(有害な実欠陥を有害と判定する割合)は77%であり、有害な表面欠陥を的確に検出できることが確認できた。
以上により、検査設備において製品全長を確認することが可能となり、例えば、スパッタ疵の検出箇所については、再検査を実施して検査員が目視検査を行い、最終判定を実施すればよい。On the other hand, when the present invention is applied, it has been possible to distinguish a sputter-defect sample from harmless stains and minute foreign substances by an inspection facility. Specifically, 13 spatter defects were actually investigated and their detection status was evaluated. As a result, the exact match (judgment: harmful, actual defect: harmful) = 10 and undetected (judgment: harmless, actual defect: harmful) = 3, and the reliability rate (ratio of determining harmful actual defect as harmful). ) Was 77%, and it was confirmed that harmful surface defects could be detected accurately.
As described above, the total length of the product can be confirmed in the inspection equipment. For example, the detection location of spatter defects may be re-inspected and visually inspected by an inspector to make a final judgment.
さらに、上述した表面欠陥検査をめっき鋼板の製造方法に適用してもよい。めっき鋼板の製造工程として、例えば、鋼板を焼鈍する工程、焼鈍した鋼板の表面にめっき層を付着させる工程、めっき層が付着した鋼板を化成処理する工程、化成処理しためっき鋼板に対し表面検査する工程があり、この表面検査する工程において上述した表面欠陥検査が実施される。そして、この表面検査によってめっき鋼板に有害欠陥(スパッタ疵)があると判定された場合、めっき製造ラインに設置された表示装置にその旨が表示されるようにしてもよい。表示される情報として、例えば、有害欠陥の存在の有無、有害欠陥の位置情報の他、重篤度、有害欠陥の長さもしくは面積等が挙げられる。 Further, the above-mentioned surface defect inspection may be applied to a method for manufacturing a plated steel sheet. As the manufacturing process of the plated steel sheet, for example, a step of annealing the steel sheet, a step of adhering a plating layer to the surface of the annealed steel sheet, a step of chemical treatment of the steel sheet to which the plating layer is attached, and a surface inspection of the chemicalized plated steel sheet. There is a step, and the above-mentioned surface defect inspection is carried out in this surface inspection step. Then, when it is determined by this surface inspection that the plated steel sheet has a harmful defect (sputter defect), that fact may be displayed on a display device installed on the plating production line. The displayed information includes, for example, the presence / absence of a harmful defect, the location information of the harmful defect, the severity, the length or area of the harmful defect, and the like.
また、上述しためっき鋼板にスパッタ疵があると判定された場合、スリ疵及び/又はドロス欠陥と判定された場合とは異なる対処が、めっき鋼板に対して実施されるようにしてもよい。 Further, when it is determined that the plated steel sheet has a spatter defect, a countermeasure different from the case where it is determined to be a scratch and / or a dross defect may be taken for the plated steel sheet.
異なる対処としては以下のようなことが挙げられる。例えば欠陥箇所がスリ疵及び/又はドロス欠陥であると判定された場合、金属板を巻き取った鋼板コイル内へのドロス欠陥等の混入率が算出される。なお、混入率とは、(ドロス欠陥等が抽出された長さ(m)/全長(m))を意味する。そして、混入率が設定しきい値以上である場合、当該めっき鋼板コイルは不合格であると判定する。 Different measures include the following. For example, when it is determined that the defective portion is a scratch and / or a dross defect, the mixing rate of the dross defect or the like in the steel plate coil in which the metal plate is wound is calculated. The mixing rate means (length (m) / total length (m) from which dross defects and the like are extracted). Then, when the mixing ratio is equal to or higher than the set threshold value, it is determined that the plated steel sheet coil has failed.
一方、欠陥箇所はスパッタ疵であると判定した場合、スパッタ疵はドロス欠陥等と異なり、プレス金型の破損等の重大な不具合を引き起こす可能性がある。このため、鋼板コイル内の個数にかかわらず不合格判定を行う。そして、スパッタ疵の除去が行われる。 On the other hand, when it is determined that the defective portion is a spatter defect, the spatter defect may cause a serious defect such as damage to the press die, unlike a dross defect or the like. Therefore, the rejection is determined regardless of the number of the steel plate coils. Then, spatter defects are removed.
1 投光器
2 撮像器
3 画像処理装置
4 欠陥判定装置
5 鋼板1
Claims (13)
得られた画像情報のなかで、画像輝度が暗部しきい値(a1)未満となる暗部(p1)と画像輝度が明部しきい値(a2)を超える明部(p2)との距離が距離しきい値(x)以下となる暗部(p1)及び明部(p2)を検出し、
検出した暗部(p1)に相当する部位と明部(p2)に相当する部位を合わせて1つの欠陥箇所として抽出し、
抽出した欠陥箇所のなかで、少なくとも[金属板長手方向での長さ]/[金属板幅方向での長さ]≧比率しきい値(y)を満足する欠陥箇所を有害欠陥と判定するものであり、
金属板がめっき鋼板であり、該めっき鋼板の母材鋼板面に付着したスパッタとこのスパッタを起点として生じた鋼板変形部からなるスパッタ疵が、ドロス欠陥と区別されて有害欠陥と判定される金属板の表面欠陥検出方法。 In a surface defect detection method in which an illuminated metal plate surface is imaged and the obtained image information is threshold-processed to extract surface defects of the plated metal plate.
In the obtained image information, the distance between the dark part (p1) where the image brightness is less than the dark part threshold value (a1) and the bright part (p2) where the image brightness exceeds the bright part threshold value (a2) is the distance. Detects dark areas (p1) and bright areas (p2) that are below the threshold value (x).
The detected dark part (p1) and bright part (p2) are combined and extracted as one defective part.
Among the extracted defect locations, those that satisfy at least [length in the longitudinal direction of the metal plate] / [length in the width direction of the metal plate] ≥ ratio threshold value (y) are judged to be harmful defects. And
The metal plate is a plated steel plate, and spatters adhering to the surface of the base steel plate of the plated steel plate and spatter defects consisting of the deformed portion of the steel plate generated from this spatter are distinguished from dross defects and are judged to be harmful defects. Method for detecting surface defects on a plate.
(1)欠陥箇所内の明部(p2)の合計面積が面積しきい値(w)以上である。
(2)欠陥箇所内の明部(p2)の金属板長手方向での合計長さが長さしきい値(z)以上である。
(3)欠陥箇所内の明部(p2)の最大輝度値が、明部しきい値(a2)よりも高輝度に設定された明部しきい値(a20)を超える。 Among the extracted defective parts, [length in the longitudinal direction of the metal plate] / [length in the width direction of the metal plate] ≥ ratio threshold value (y) is satisfied, and the following (1) to (3) are satisfied. The method for detecting a surface defect of a metal plate according to any one of claims 1 to 4, wherein a defective portion satisfying one or more of the above is regarded as a harmful defect or a serious harmful defect.
(1) The total area of the bright part (p2) in the defective part is equal to or larger than the area threshold value (w).
(2) The total length of the bright portion (p2) in the defective portion in the longitudinal direction of the metal plate is equal to or greater than the length threshold value (z).
(3) The maximum brightness value of the bright part (p2) in the defective part exceeds the bright part threshold value (a20) set to be higher brightness than the bright part threshold value (a2).
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