JP6952176B2 - 時間的圧縮感知システム - Google Patents
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Description
本願は、米国仮出願第62/258,194号(2015年11月20日出願)の利益を主張し、上記出願は、参照により本明細書に組み込まれる。
本発明は、アメリカ合衆国エネルギー省による許可番号DE−SC0013104下、合衆国政府の支援によって為された。
例えば、本願は以下の項目を提供する。
(項目1)
時間的圧縮感知のための方法であって、前記方法は、
a)ある強度を有する放射線を源からサンプルまたは場面に差し向けることと、
b)1つ以上のデータ収集期間に対してセンサアレイデータを捕捉することであって、前記1つ以上のデータ収集期間の各々内で、前記サンプルまたは場面によって透過され、反射され、弾性的に散乱され、または非弾性的に散乱される前記放射線のパターンの異なる線形の組み合わせに対応する1つ以上の測定データセットが、一連のタイムスライスに対して捕捉される、ことと、
c)前記1つ以上のデータ収集期間の各々内の前記一連の前記タイムスライスの各々に対してタイムスライスデータセットを再構築することであって、前記再構築することは、
i)各データ収集期間に対して捕捉される前記1つ以上の測定データセットと、
ii)一連の係数であって、前記一連の係数は、前記データ収集期間内に前記サンプルまたは場面に差し向けられる前記源からの前記放射線の前記強度の既知の時間依存性、または、前記データ収集期間内に前記サンプルまたは場面によって透過され、反射され、弾性的に散乱され、または非弾性的に散乱される前記放射線を前記センサアレイの異なる領域に切り替えるための既知の時間依存性を表し、前記係数は、タイムスライスおよび前記センサアレイの領域の関数として変動するが、前記センサアレイ内または前記センサアレイの所与の領域内の所与のピクセルのための空間位置から独立している、一連の係数と、
iii)各データ収集期間に対して捕捉される前記1つ以上の測定データセットおよび前記一連の係数から前記タイムスライスデータセットを計算するアルゴリズムと
を使用する、ことと、
それによって、前記1つ以上のデータ収集期間の各々に対する一連のタイムスライスデータセットを提供することと
を含み、
前記一連のタイムスライスデータセットは、前記データ収集期間の長さによって決定される時間分解能を超える時間分解能を有する、方法。
(項目2)
前記放射線は、レーザ、フォトカソード、電子銃、またはそれらの任意の組み合わせである源からのものである、項目1に記載の方法。
(項目3)
前記センサアレイは、1次元センサアレイ、2次元センサアレイ、センサアレイチップ上に複数の測定データセットを記憶するセンサアレイ、またはそれらの任意の組み合わせである、項目1−2のいずれか1項に記載の方法。
(項目4)
前記センサアレイは、電荷結合素子(CCD)センサ、相補型金属酸化膜半導体(CMOS)センサ、CMOSフレーミングカメラ、フォトダイオードアレイ、またはそれらの任意の組み合わせを備えている2次元センサアレイである、項目1−3のいずれか1項に記載の方法。
(項目5)
前記センサアレイは、前記放射線を前記センサアレイによって直接検出可能な放射線に変換する非線形光学材料、蛍光材料、リン光性材料、またはマイクロチャネルプレートをさらに備えている、項目1−4のいずれか1項に記載の方法。
(項目6)
前記タイムスライスデータセットを再構築するために使用される前記アルゴリズムは、l1ノルム、非ゼロ係数の総数、全変動、もしくは事前のベータプロセスを介して劣決定連立一次方程式の非スパース解にペナルティを科す最適化アルゴリズム、反復貪欲回復アルゴリズム、辞書学習アルゴリズム、確率ベイジアンアルゴリズム、変分ベイジアンアルゴリズム、またはそれらの任意の組み合わせである、項目1−5のいずれか1項に記載の方法。
(項目7)
少なくともまたは少なくとも約10個のタイムスライスデータセットが、各データ収集期間に対して捕捉される前記1つ以上の測定データセットから再構築される、項目1−6のいずれか1項に記載の方法。
(項目8)
前記2次元センサアレイは、毎秒少なくともまたは少なくとも約100フレームの有効データ収集および読み出し速度で動作する、項目1−7のいずれか1項に記載の方法。
(項目9)
前記放射線は、電子を備え、前記センサアレイは、電荷結合素子(CCD)センサ、画像強化電荷結合素子(ICCD)センサ、電子エネルギー損失分光計における検出器(EELS)、またはそれらの任意の組み合わせである、項目1−8のいずれか1項に記載の方法。
(項目10)
前記放射線は、電子を備え、前記センサアレイは、エネルギー分散型X線分光計(EDX)における検出器によって置換される、項目1−9のいずれか1項に記載の方法。
(項目11)
前記タイムスライスデータセットは、透過型電子顕微鏡画像データの再構築されたフレームを備えている、項目1−10のいずれか1項に記載の方法。
(項目12)
前記タイムスライスデータセットは、透過型電子顕微鏡回折パターンデータの再構築されたフレームを備えている、項目1−11のいずれか1項に記載の方法。
(項目13)
前記タイムスライスデータセットは、透過型電子顕微鏡電子エネルギー損失スペクトルデータの再構築されたフレームを備えている、項目1−12のいずれか1項に記載の方法。
(項目14)
前記タイムスライスデータセットは、走査型電子顕微鏡画像データまたは透過型電子顕微鏡エネルギー分散型X線スペクトルデータの再構築されたフレームを備えている、項目1−13のいずれか1項に記載の方法。
(項目15)
再構築されるべきタイムスライスデータセットの数は、前記タイムスライスデータセットの計算中に調節される、項目1−14のいずれか1項に記載の方法。
(項目16)
再構築されるべきタイムスライスデータセットの数は、前記測定データセットを捕捉することに先立って、各々が異なる数のタイムスライスを伴うさまざまな測定行列係数を計算することによって最適化される、項目1−15のいずれか1項に記載の方法。
(項目17)
一連のタイムスライスに対して前記サンプルまたは場面によって透過され、反射され、弾性的に散乱され、または非弾性的に散乱される前記放射線のパターンの前記異なる線形の組み合わせは、時間的様式で前記放射線強度以外の実験パラメータを変調することによって生成される、項目1−16のいずれか1項に記載の方法。
(項目18)
時間的に変調されるべき前記実験パラメータは、前記サンプルまたは場面の回転の向き、1次元での前記サンプルまたは場面の線形平行移動、2次元での前記サンプルまたは場面の線形平行移動、および3次元での前記サンプルまたは場面の線形平行移動、またはそれらの任意の組み合わせから成る群から選択される、項目17に記載の方法。
(項目19)
前記放射線は、狭いビームに集束され、時間的に変調されるべき前記実験パラメータは、前記サンプルまたは場面に対する前記ビームの位置である、項目17に記載の方法。
(項目20)
前記一連の係数は、前記データ収集期間内に前記サンプルまたは場面に差し向けられる前記源からの前記放射線の前記強度の既知の空間依存性および時間依存性、または、前記源からの前記放射線の前記強度の既知の空間依存性および前記データ収集期間内に前記サンプルまたは場面によって透過され、反射され、弾性的に散乱され、または非弾性的に散乱される前記放射線を前記センサアレイの異なる領域に切り替えるための既知の時間依存性を表す、項目1−19のいずれか1項に記載の方法。
(項目21)
時間的圧縮感知のためのシステムであって、前記システムは、
a)サンプルまたは場面に差し向けられるある強度を有する放射線を提供する放射線源と、
b)前記サンプルまたは場面による透過、反射、弾性散乱、または非弾性散乱後の前記放射線を検出するセンサアレイと、
c)前記サンプルまたは場面とのその相互作用に先立って、前記放射線源によって生成される前記放射線の前記強度を急速に変調する機構、または、前記サンプルまたは場面によって透過され、反射さる、弾性的に散乱され、または非弾性的に散乱される前記放射線を前記センサアレイの異なる領域に急速に切り替える機構と、
d)1つ以上のコンピュータプロセッサと
を備え、
前記1つ以上のコンピュータプロセッサは、
(i)1つ以上のデータ収集期間に対してセンサアレイデータを捕捉することであって、各データ収集期間内で、一連のタイムスライスに対する透過され、反射され、弾性的に散乱され、または非弾性的に散乱される放射線のパターンの異なる線形の組み合わせに対応する1つ以上の測定データセットが捕捉される、ことと、
(ii)前記1つ以上のデータ収集期間の各々内の前記一連の前記タイムスライスの各々に対してタイムスライスデータセットを再構築することであって、前記再構築することは、
1)各データ収集期間に対して捕捉される前記1つ以上の測定データセットと、
2)一連の係数であって、前記一連の係数は、前記データ収集期間内に前記サンプルまたは場面に差し向けられる前記源からの前記放射線の前記強度の既知の時間依存性、または、前記データ収集期間内に前記サンプルまたは場面によって透過され、反射され、弾性的に散乱され、または非弾性的に散乱される前記放射線を前記センサアレイの異なる領域に切り替えるための既知の時間依存性を表し、前記係数は、タイムスライスおよび前記センサアレイの領域の関数として変動するが、前記センサアレイ内または前記センサアレイの所与の領域内の所与のピクセルのための空間位置から独立している、一連の係数と、
3)各データ収集期間に対して捕捉される前記1つ以上の測定データセットおよび前記一連の係数から前記タイムスライスデータセットを計算するアルゴリズムと
を使用する、ことと、
それによって、前記1つ以上のデータ収集期間の各々に対する一連のタイムスライスデータセットを提供することと
を行い、
前記一連のタイムスライスデータセットは、前記データ収集期間の長さによって決定される時間分解能を超える時間分解能を有する、システム。
(項目22)
時間的圧縮感知のためのシステムであって、前記システムは、
a)サンプルまたは場面に差し向けられる放射線を提供する放射線源と、
b)前記サンプルまたは場面による透過、反射、弾性散乱、または非弾性散乱後の前記放射線を検出するセンサアレイと、
c)前記放射の方向に対して、前記サンプルまたは場面の1次元、2次元、もしくは3次元平行移動位置または回転の向き、または、それらの任意の組み合わせを急速に変調する機構と、
d)1つ以上のコンピュータプロセッサと
を備え、
前記1つ以上のコンピュータプロセッサは、
(i)1つ以上のデータ収集期間に対してセンサアレイデータを捕捉することであって、各データ収集期間内で、一連のタイムスライスに対する透過され、反射され、弾性的に散乱され、または非弾性的に散乱される放射線のパターンの異なる線形の組み合わせに対応する1つ以上の測定データセットが捕捉される、ことと、
(ii)前記1つ以上のデータ収集期間の各々内の前記一連の前記タイムスライスの各々に対してタイムスライスデータセットを再構築することであって、前記再構築することは、
1)各データ収集期間に対して捕捉される前記1つ以上の測定データセットと、
2)一連の係数であって、前記一連の係数は、前記データ収集期間内の前記サンプルまたは場面の平行移動位置または回転の向きの既知の時間依存性を表す、一連の係数と、
3)各データ収集期間に対して捕捉される前記1つ以上の測定データセットおよび前記一連の係数から前記タイムスライスデータセットを計算するアルゴリズムと
を使用する、ことと、
それによって、前記1つ以上のデータ収集期間の各々に対する一連のタイムスライスデータセットを提供することと
を行い、
前記一連のタイムスライスデータセットは、前記データ収集期間の長さによって決定される時間分解能を超える時間分解能を有する、システム。
(項目23)
前記放射線源は、レーザ、フォトカソード、電子銃、またはそれらの任意の組み合わせである、項目21−22のいずれか1項に記載のシステム。
(項目24)
前記センサアレイは、1次元センサアレイ、2次元センサアレイ、チップ上に複数の測定データセットを記憶するセンサアレイ、またはそれらの任意の組み合わせである、項目21−23のいずれか1項に記載のシステム。
(項目25)
前記センサアレイは、電荷結合素子(CCD)センサ、相補型金属酸化膜半導体(CMOS)センサ、CMOSフレーミングカメラ、フォトダイオードアレイ、またはそれらの任意の組み合わせを備えている2次元センサアレイである、項目21−24のいずれか1項に記載のシステム。
(項目26)
前記センサアレイは、前記放射線源からの前記信号を前記センサアレイによって直接検出可能な放射線に変換する非線形光学材料、蛍光材料、リン光性材料、またはマイクロチャネルプレートをさらに備えている、項目21−25のいずれか1項に記載のシステム。
(項目27)
前記タイムスライスデータセットを再構築する前記アルゴリズムは、l1ノルム、非ゼロ係数の総数、全変動、もしくは事前のベータプロセスを介して劣決定連立一次方程式の非スパース解にペナルティを科す最適化アルゴリズム、反復貪欲回復アルゴリズム、辞書学習アルゴリズム、確率ベイジアンアルゴリズム、変分ベイジアンアルゴリズム、またはそれらの任意の組み合わせである、項目21−26のいずれか1項に記載のシステム。
(項目28)
少なくともまたは少なくとも約10個のタイムスライスデータセットが、各データ収集期間に対して捕捉される前記1つ以上の測定データセットから再構築される、項目21−27のいずれか1項に記載のシステム。
(項目29)
前記2次元センサアレイは、毎秒少なくともまたは少なくとも約100フレームの有効データ収集および読み出し速度で動作する、項目21−28のいずれか1項に記載のシステム。
(項目30)
前記タイムスライスデータセットは、ビデオ画像データの再構築されたフレームを備えている、項目21−29のいずれか1項に記載のシステム。
(項目31)
前記放射線は、電子を備え、前記センサアレイは、電荷結合素子(CCD)センサ、画像強化電荷結合素子(ICCD)センサ、電子エネルギー損失分光計における検出器(EELS)、またはそれらの任意の組み合わせである、項目21−30のいずれか1項に記載のシステム。
(項目32)
前記放射線は、電子を備え、前記センサアレイは、エネルギー分散型X線分光計(EDX)における検出器によって置換される、項目21−31のいずれか1項に記載のシステム。
(項目33)
前記タイムスライスデータセットは、透過型電子顕微鏡画像データの再構築されたフレームを備えている、項目21−32のいずれか1項に記載のシステム。
(項目34)
前記タイムスライスデータセットは、透過型電子顕微鏡回折パターンデータの再構築されたフレームを備えている、項目21−33のいずれか1項に記載のシステム。
(項目35)
前記タイムスライスデータセットは、透過型電子顕微鏡電子エネルギー損失スペクトルデータの再構築されたフレームを備えている、項目21−34のいずれか1項に記載のシステム。
(項目36)
前記タイムスライスデータセットは、走査型電子顕微鏡画像データまたは透過型電子顕微鏡エネルギー分散型X線スペクトルデータの再構築されたフレームを備えている、項目21−35のいずれか1項に記載のシステム。
(項目37)
再構築されるべきタイムスライスデータセットの数は、前記タイムスライスデータセットの計算中に調節される、項目21−36のいずれか1項に記載のシステム。
(項目38)
再構築されるべきタイムスライスデータセットの数は、前記測定データセットを捕捉することに先立って、各々が異なる数のタイムスライスを伴うさまざまな測定行列係数を計算することによって最適化される、項目21−37のいずれか1項に記載のシステム。
(項目39)
前記放射線は、狭いビームに集束され、前記機構は、前記サンプルまたは場面に対して前記ビームの位置を急速に変調する、項目22に記載のシステム。
(項目40)
前記一連の係数は、前記データ収集期間内に前記サンプルまたは場面に差し向けられる前記源からの前記放射線の前記強度の既知の空間依存性および時間依存性、または、前記源からの前記放射線の前記強度の既知の空間依存性および前記データ収集期間内に前記サンプルまたは場面によって透過され、反射され、弾性的に散乱され、または非弾性的に散乱される前記放射線を前記センサアレイの異なる領域に切り替えるための既知の時間依存性を表す、項目21−39のいずれか1項に記載のシステム。
本明細書で記述される全ての刊行物、特許、および特許出願は、各個々の刊行物、特許、または特許出願が、参照することによってそれらの全体として組み込まれるように具体的かつ個別に示された場合と同一の程度に、参照することによってそれらの全体として本明細書に組み込まれる。本明細書の用語と組み込まれた参考文献内の用語との間の対立の場合には、本明細書の用語が優先する。
and Chemical Imaging 1:10を参照)。TEMにおいて符号化開口ビデオ圧縮感知を実装することの実際的制限は、多大となっており、多大であり続けるであろう。符号化開口ビデオ圧縮を実装するために要求されるシステム修正は、高価かつ高度に侵襲性の両方であり得、頻繁(かつ潜在的に困難)な保守ならびに再較正ステップを要求し得る。本アプローチの実用性は、したがって、公開された計算研究では考慮されていない、物理的考慮事項(充電、汚染、限定された分解能等)によって限定される可能性が高いであろう。
本開示は、本開示の方法を実装するようにプログラムされる、コンピュータ制御システムを提供する。図9は、単一コアもしくはマルチコアプロセッサ、または並列処理のための複数のプロセッサであることができる、中央処理装置(CPU、また、本明細書では「プロセッサ」および「コンピュータプロセッサ」)905を含み、1つ以上のグラフィックス処理装置(GPU)もしくはGPU様並列計算コンポーネント、または量子計算コンポーネントもしくは光学計算コンポーネント、または電気光学計算コンポーネントを含み得る、コンピュータシステム901を示す。コンピュータシステム901はまた、メモリまたはメモリ場所910(例えば、ランダムアクセスメモリ、読取専用メモリ、フラッシュメモリ)、電子記憶ユニット915(例えば、ハードディスク)、1つ以上の他のシステムと通信するための通信インターフェース920(例えば、ネットワークアダプタ)、ならびにキャッシュ、他のメモリ、データ記憶装置、および/または電子ディスプレイアダプタ等の周辺デバイス925を含む。メモリ910、記憶ユニット915、インターフェース920、および周辺デバイス925は、マザーボード等の通信バス(実線)を通してCPU905と通信している。記憶ユニット915は、データを記憶するためのデータ記憶ユニット(またはデータリポジトリ)であることができる。コンピュータシステム901は、通信インターフェース920の助けを借りて、コンピュータネットワーク(「ネットワーク」)930に動作可能に結合されることができる。ネットワーク930は、インターネット、インターネットおよび/またはエクストラネット、もしくはインターネットと通信しているイントラネットおよび/またはエクストラネットであることができる。ネットワーク930は、ある場合には、電気通信および/またはデータネットワークである。ネットワーク930は、クラウドコンピューティング等の分散コンピューティングを可能にし得る、1つ以上のコンピュータサーバを含むことができる。ネットワーク930は、ある場合には、コンピュータシステム901の助けを借りて、コンピュータシステム901に結合されたデバイスがクライアントまたはサーバとして挙動することを可能にし得る、ピアツーピアネットワークを実装することができる。
(実施例1−コンピュータシミュレーション)
コンピュータシミュレーションは、方程式(3)によって表されるモデルに基づく時間ドメイン符号化時間的圧縮感知システムが、測定画像の数を有意に超えるタイムスライス画像の数を伴うビデオデータの再構築を提供し得ることを実証する。図1は、原位置引張亀裂伝搬実験(K.Hattar他、Sandia National Laboratoryの厚意による)からのTEM画像データの10個のフレームを図示する。(図2で概略的に図示される)10個のタイムスライス画像の異なる組み合わせが、例えば、TEMの中に配設される高速ビーム偏向システムを使用することによって、大面積カメラ上の4つの異なる領域に送信され、分析のために4つの測定画像フレームにデジタルでセグメント化される(図3)。本非限定的実施例では、高速ビーム偏向システムは、1つのカメラデータ収集期間内に(すなわち、単一の暴露中に)4つの測定画像フレームを収集する能力を提供する。16フレーム高速偏向器システムが、すでに利用可能であり、本実施例で図示される10/4=2.5値よりもはるかに大きい圧縮係数が達成可能であることが予期される。4つの測定された画像フレームへのスパースな数学的再構築技法の適用は、10個全てのタイムスライスフレームの信頼性のある推定値を提供する(図4)。同一のアルゴリズムが、微妙な詳細(例えば、故障前の応力集中領域中の回折コントラストの変化)ならびに全体的な不連続性(例えば、タイムスライス7からタイムスライス8への急激な変化)を捕捉する。シミュレーション結果は、単一の暴露周期からのビデオデータの10個のフレームの再構築を実証する。16フレーム高速偏向器システム(すなわち、カメラデータ収集期間につき16個のセグメント化された画像フレームを捕捉するもの)および約6倍圧縮率の使用が、単一の暴露につき再構築されたビデオデータの約100個のフレームを提供するであろう。
例証的(先見的)実施例として、急速サンプル後偏向器システム、比較的大型のカメラ(例えば、TEMデータ収集のために一般的に使用されるようなシンチレータおよび光ファイバ束を伴うCCDカメラ)、および随意のサンプル前ビームブランキングシステムを伴うTEMを考慮されたい。図5は、TEMの基本構成要素および機能の一般的な簡略図を描写する。電子源は、殆どの現在の器具について、典型的には、電子につき約80keV〜約300keVの運動エネルギーまで加速される、電子のビームを生成する。集光レンズシステムは、電子ビームの選択された一部を、対物レンズの中心の近傍に設置されるサンプル上に集束する。ビームは、サンプルを通過し、中間/投影レンズシステムは、データ収集システムによって捕捉されることができる画像または回折パターンのいずれかを生成する。データ収集システムは、典型的には、カメラ、またはそれ自体がカメラを含むポストカラムエネルギーフィルタシステムのいずれかである。エネルギーフィルタシステムは、エネルギーフィルタ付き収集および電子エネルギー損失分光法(EELS)能力をシステムに追加する。類似結果を生じる、他のシステム(例えば、インカラムエネルギーフィルタ)が存在する。収集システムは、典型的には、検出器を含むが、必ずしもシンチレータを伴うCCDカメラまたは直接検出CMOSカメラもしくは類似技術のいずれかを含むわけではない。本システムのデータ収集速度は、したがって、カメラの収集および読み出し時間(以降では「データ収集期間」または「カメラフレーム時間」)によって設定される。
別の例証的(先見的)実施例として、図8に図示されるように、電気光学変調器制御型切り替えネットワークを伴う光学カメラのセットを考慮されたい。電気光学変調器(EOM)および他の高速変調器(例えば、音響光学変調器(AOM))は、2つの異なる出力経路の間で光学信号を急速に切り替えるために使用されることができる。本切り替えは、(信号が2つの出力経路のうちの1つのみに進むように)2進様式で、または(各出力経路に送信される信号の割合を制御する能力を伴って)連続的様式で実装され得る。そのようなスイッチのネットワークは、それぞれ、それ自体がフル解像度カメラ(または分光システム)である、検出器のアレイにつながり得る。実空間撮像のためにそのようなシステムを設計することの工学複雑性は、高くあり得るが、時間分解分光法の分野での実装は、光ファイバシステムのための十分に開発されたEOM/AOMソリューションを利用することによって、より容易であり得る。光ファイバおよび変調器のネットワークは、分光計の平行アレイ(または事実上、平行アレイとして作用することができる大型2次元センサを伴う単一の分光計)をフィードし、電子制御システムは、各個々の分光計に送信されるタイムスライスの重畳を決定するであろう。本光学システムは、測定されているサンプルシステムの再現性に応じて、単一ショットまたはストロボモード(すなわち、着目プロセスの多くの公称上同じサイクルにわたって信号を蓄積する)のいずれかで動作し得る。
さらに別の例証的(先見的)実施例として、図7に図示されるようなピコ秒分解能任意波形レーザシステムを組み込む、ストロボ超高速TEMを考慮されたい。現在、ストロボ超高速TEMは、サンプルプローブとしてピコ秒スケール(またはサブピコ秒スケールまたはフェムト秒スケール)電子パルスを使用し、1つのそのようなプローブパルスは、ある高度に反復可能なサンプルプロセスのサイクル毎に起こる。時間分解測定が、何百万ものそのようなサンプルプロセスサイクルからデータを蓄積し、周期的サンプルプロセスの位相に対してプローブパルスの時間を偏移させ、測定されるタイムスライス毎に繰り返すことによって、行われる。何百ものそのようなタイムスライスを測定することは、したがって、研究されるサンプルプロセスの何十億ものサイクルにわたって測定を行うことを要求し得、これは、何時間もかかり得る。これは、サンプルプロセスの再現性およびサンプルならびに測定システムの両方の安定性に両方とも極度に高い要求を課す。代わりに、各測定がタイムスライスの恣意的重畳からデータを捕捉する場合、およびタイムスライスのそのような重畳を使用して複数の測定を行う場合には、事実上、方程式(3)に基づいて時間的圧縮感知システムを実装している。そのようなシステムは、波形の仕様において1ピコ秒またはそれよりも良好な分解能で、例えば、200ピコ秒のタイムスパンにわたって、光強度の任意の規定時間的パターンを生じることができるよう設計される、(米国特許第9,165,743号で説明されるものに類似するが、異なる時系列上で動作する)任意波形発生器(AWG)レーザシステムと、TEMのカソードを駆動する短パルスレーザを置換することによって、実現され得る。これは、2つの明確に異なる効果を通して実験的データ収集時間を短縮するであろう。第1に、サイクルにつき測定される信号の量が、大いに増加されるであろう。これは、そのようなシステムで使用されることができる電流(または単位時間あたりの電子)の量が、空間電荷効果(すなわち、電子が相互に反発し、したがって、パルスが電子銃からサンプルまで移動するにつれて、それを空間および時間の両方で広げさせるという事実)によって限定されるためである。提案される任意波形レーザシステムは、本電流限界が、サイクルにつき単一の約1ピコ秒タイムスライスについてだけでなく、複数のそのようなタイムスライスについても達成されることを可能にするであろう。CS理論によると、最適なデータサンプリングスループットが、典型的には、約50%のデューティサイクルにおいて起こるため、(200ピコ秒タイムスパンにつき)200個のタイムスライスの我々の実施例では、タイムスライスのうちの約100個が電子パルスで充填されるであろう一方で、残りは空であろう。したがって、サイクルあたりの電子の数は、本実施例では、ビーム品質または時間分解能の低下を伴わずに、単一パルスシステムについてよりも任意波形システムについてはほぼ100倍多いであろう。これは、所与の測定のための許容信号対雑音比に達するために、約100倍少ない測定サイクルが要求されるであろうことを意味する。第2に、N個のタイムスライスを再構築するために必要とされる測定の数Mが、Nよりもはるかに少ないはずであるような圧縮感知の固有の性質により、そのような測定の数も減少するはずである。典型的には、比M/Nは、約0.1であるが、これは用途によって大いに変動する。本比が超高速TEMに当てはまる場合には、M回の収集がそれぞれ、単一パルス/サイクルシステムよりも100倍少ない総収集時間を要するはずであるだけでなく、そのような収集の要求される数は、約1,000倍のデータ収集時間の全体的短縮のために、約10倍削減されるはずである。現在、何時間もの収集時間を要求しているデータセットは、レーザシステムの状態を変化させるために必要とされるオーバーヘッドさえも含んで、数分で収集され得る。これは、これらのシステムの性能の劇的改良を表す。
さらに別の例証的(先見的)実施例として、高速直接検出カメラ、例えば、直接電子検出能力を伴うCMOSフレーミングカメラ(例えば、各ピクセルにおける複数の容量ビンの使用を通してチップ上に複数の画像を記憶することができるカメラ、および任意の所与の時間に信号を蓄積しているビンのセットを決定する電子切り替えシステム)を組み込み、それによって、それが高速TEM用途に使用されることを可能にする、TEMシステムを考慮されたい。適切なチップレベル電子設計を用いて、そのような検出器は、方程式(3)によって表されるアプローチを実装し、さらなる複雑性を伴うと、方程式(4)または(5)によって直接表されるものさえも実装する。本フレーミングカメラアプローチはまた、X線検出および光学カメラにも使用され得る。
Claims (26)
- 時間的圧縮感知のための方法であって、前記方法は、
a)ある強度を有する放射線を源からサンプルまたは場面に差し向けることと、
b)1つ以上のデータ収集期間に対してセンサアレイデータを捕捉することであって、前記1つ以上のデータ収集期間のそれぞれにおいて、前記サンプルまたは場面によって透過され、反射され、弾性的に散乱され、または、非弾性的に散乱される前記放射線のパターンの異なる線形の組み合わせに対応する1つ以上の測定データセットが、一連のタイムスライスに対して捕捉される、ことと、
c)前記1つ以上のデータ収集期間のそれぞれにおける前記一連の前記タイムスライスのそれぞれに対してタイムスライスデータセットを再構築することであって、前記再構築することは、
i)各データ収集期間に対して捕捉される前記1つ以上の測定データセットと、
ii)一連の係数であって、前記一連の係数は、前記データ収集期間内に前記サンプルまたは場面に差し向けられる前記源からの前記放射線の前記強度の既知の時間依存性を表し、前記係数は、タイムスライスおよび前記センサアレイの領域の関数として変動する線形の組み合わせを画定するが、前記センサアレイの所与の領域内の所与のピクセルのための空間位置から独立している、一連の係数と、
iii)各データ収集期間に対して捕捉される前記1つ以上の測定データセットおよび前記一連の係数から前記タイムスライスデータセットを計算するアルゴリズムと
を使用する、ことと
を含み、
これにより、前記1つ以上のデータ収集期間のそれぞれに対する一連のタイムスライスデータセットを提供し、前記一連のタイムスライスデータセットは、前記データ収集期間の長さによって決定される時間分解能を超える時間分解能を有する、方法。 - 前記センサアレイは、電荷結合素子(CCD)センサ、相補型金属酸化膜半導体(CMOS)センサ、CMOSフレーミングカメラ、フォトダイオードアレイ、または、これらの任意の組み合わせを備えている2次元センサアレイである、請求項1に記載の方法。
- 前記センサアレイは、前記放射線を前記センサアレイによって直接検出可能な放射線に変換する非線形光学材料、蛍光材料、リン光性材料、または、マイクロチャネルプレートをさらに備えている、請求項1〜2のいずれか一項に記載の方法。
- 前記タイムスライスデータセットを再構築するために使用される前記アルゴリズムは、l 1 ノルム、非ゼロ係数の総数、全変動、もしくは事前のベータプロセスを介して劣決定連立一次方程式の非スパース解にペナルティを科す最適化アルゴリズム、反復貪欲回復アルゴリズム、辞書学習アルゴリズム、確率ベイジアンアルゴリズム、変分ベイジアンアルゴリズム、または、これらの任意の組み合わせである、請求項1〜3のいずれか一項に記載の方法。
- 少なくとも10個または少なくとも約10個のタイムスライスデータセットが、各データ収集期間に対して捕捉される前記1つ以上の測定データセットから再構築される、請求項1〜4のいずれか一項に記載の方法。
- 前記2次元センサアレイは、毎秒少なくとも100フレームまたは少なくとも約100フレームの有効データ収集および読み出し速度で動作する、請求項1〜5のいずれか一項に記載の方法。
- 前記放射線は、電子を備え、前記センサアレイは、相補型金属酸化膜半導体(CMOS)カメラ、電荷結合素子(CCD)センサ、画像強化電荷結合素子(ICCD)センサ、電子エネルギー損失分光計における検出器(EELS)、または、これらの任意の組み合わせである、請求項1〜6のいずれか一項に記載の方法。
- 前記タイムスライスデータセットは、透過型電子顕微鏡画像データ、透過型電子顕微鏡回折パターンデータ、透過型電子顕微鏡電子エネルギー損失スペクトルデータ、または、走査型電子顕微鏡画像データの再構築されたフレームを備えている、請求項1〜7のいずれか一項に記載の方法。
- 再構築されるべきタイムスライスデータセットの数は、前記タイムスライスデータセットの計算中に調節される、請求項1〜8のいずれか一項に記載の方法。
- 再構築されるべきタイムスライスデータセットの数は、前記測定データセットを捕捉することに先立って、それぞれが異なる数のタイムスライスを伴う測定行列係数の範囲を計算することによって最適化される、請求項1〜9のいずれか一項に記載の方法。
- 前記放射線の強度以外の実験パラメータを時間的に変調することをさらに含む、請求項1〜10のいずれか一項に記載の方法。
- 時間的に変調される前記実験パラメータは、前記サンプルまたは場面の回転の向き、1次元での前記サンプルまたは場面の線形平行移動、2次元での前記サンプルまたは場面の線形平行移動、3次元での前記サンプルまたは場面の線形平行移動、または、これらの任意の組み合わせからなる群から選択される、請求項11に記載の方法。
- 前記放射線は、狭いビームに集束され、時間的に変調される前記実験パラメータは、前記サンプルまたは場面に対する前記ビームの位置である、請求項11または請求項12に記載の方法。
- 前記一連の係数は、データ収集期間内で前記サンプルまたは場面に差し向けられる、前記源からの放射線の強度の既知の空間依存性および時間依存性を表す、請求項1〜13のいずれか一項に記載の方法。
- 時間的圧縮感知のためのシステムであって、前記システムは、
a)サンプルまたは場面に差し向けられるある強度を有する放射線を提供する放射線源と、
b)前記サンプルまたは場面による透過、反射、弾性散乱、または、非弾性散乱後の前記放射線を検出するセンサアレイと、
c)前記サンプルまたは場面とのその相互作用に先立って、前記放射線源によって生成される前記放射線の前記強度を急速に変調する機構、または、前記サンプルまたは場面によって透過され、反射され、弾性的に散乱され、または、非弾性的に散乱される前記放射線を前記センサアレイの異なる領域に急速に切り替える機構と、
d)1つ以上のコンピュータプロセッサと
を備え、
前記1つ以上のコンピュータプロセッサは、
(i)1つ以上のデータ収集期間に対してセンサアレイデータを捕捉することであって、各データ収集期間内で、一連のタイムスライスに対する透過され、反射され、弾性的に散乱され、または、非弾性的に散乱される放射線のパターンの異なる線形の組み合わせに対応する1つ以上の測定データセットが捕捉される、ことと、
(ii)前記1つ以上のデータ収集期間のそれぞれにおける各タイムスライスに対してタイムスライスデータセットを再構築することであって、前記再構築することは、
1)各データ収集期間に対して捕捉される前記1つ以上の測定データセットと、
2)一連の係数であって、前記一連の係数は、前記放射線源によって生成され前記データ収集期間内に前記サンプルまたは場面に差し向けられる前記放射線の前記強度の既知の時間依存性を表し、前記係数は、タイムスライスおよび前記センサアレイの領域の関数として変動する線形の組み合わせを画定するが、前記センサアレイの所与の領域内の所与のピクセルのための空間位置から独立している、一連の係数と、
3)各データ収集期間に対して捕捉される前記1つ以上の測定データセットおよび前記一連の係数から前記タイムスライスデータセットを計算するアルゴリズムであって、これにより、データ収集期間の長さによって決定される時間分解能を超える時間分解能を有する1つ以上のデータ収集期間のそれぞれに対する一連のタイムスライスデータセットを生成する、アルゴリズムと
を使用して行われる、ことと
を含む、システム。 - 前記放射線源は、レーザ、フォトカソード、電子銃、または、これらの任意の組み合わせである、請求項15に記載のシステム。
- 前記センサアレイは、電荷結合素子(CCD)センサ、相補型金属酸化膜半導体(CMOS)センサ、CMOSフレーミングカメラ、フォトダイオードアレイ、または、これらの任意の組み合わせを備えている2次元センサアレイである、請求項15または請求項16に記載のシステム。
- 前記センサアレイは、請求項1の前記放射線源からの前記信号を前記センサアレイによって直接検出可能な放射線に変換する非線形光学材料、蛍光材料、リン光性材料、または、マイクロチャネルプレートをさらに備えている、請求項17に記載のシステム。
- 前記タイムスライスデータセットを再構築する前記アルゴリズムは、l 1 ノルム、非ゼロ係数の総数、全変動、もしくは事前のベータプロセスを介して劣決定連立一次方程式の非スパース解にペナルティを科す最適化アルゴリズム、反復貪欲回復アルゴリズム、辞書学習アルゴリズム、確率ベイジアンアルゴリズム、変分ベイジアンアルゴリズム、またはこれらの任意の組み合わせである、請求項15〜18のいずれか一項に記載のシステム。
- 少なくとも10個または少なくとも約10個のタイムスライスデータセットが、各データ収集期間に対して捕捉される前記1つ以上の測定データセットから再構築される、請求項15〜19のいずれか一項に記載のシステム。
- 前記2次元センサアレイは、毎秒少なくとも100フレームまたは少なくとも約100フレームの有効データ収集および読み出し速度で動作する、請求項15〜20のいずれか一項に記載のシステム。
- 前記放射線は、電子を備え、前記センサアレイは、電荷結合素子(CCD)センサ、画像強化電荷結合素子(ICCD)センサ、電子エネルギー損失分光計における検出器(EELS)、または、これらの任意の組み合わせである、請求項15〜21のいずれか一項に記載のシステム。
- 前記タイムスライスデータセットは、透過型電子顕微鏡画像データ、透過型電子顕微鏡回折パターンデータ、透過型電子顕微鏡電子エネルギー損失スペクトルデータ、または、走査型電子顕微鏡画像データの再構築されたフレームを備えている、請求項15〜22のいずれか一項に記載のシステム。
- 再構築されるべきタイムスライスデータセットの数は、前記タイムスライスデータセットの計算中に調節される、請求項15〜23のいずれか一項に記載のシステム。
- 再構築されるべきタイムスライスデータセットの数は、前記測定データセットを捕捉することに先立って、それぞれが異なる数のタイムスライスを伴う測定行列係数の範囲を計算することによって最適化される、請求項15〜24のいずれか一項に記載のシステム。
- 前記一連の係数は、データ収集期間内で前記サンプルまたは場面に差し向けられる、前記源からの放射線の強度の既知の空間依存性および時間依存性を表す、請求項15〜25のいずれか一項に記載のシステム。
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