JP6956317B2 - Infrared sensor module - Google Patents
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Description
本発明は、人などの温度を非接触で検出する赤外線センサモジュールに関する。 The present invention relates to an infrared sensor module that detects the temperature of a person or the like in a non-contact manner.
従来の赤外線センサモジュールの診断機能として、温度センサに設けられた温度検知機能診断装置が知られている。従来の温度検知機能診断装置は、温度センサの温度検知機能を診断し、多数決判定などにより赤外線センサの異常を判定し、赤外線センサの異常が判定されたときには温度検知回路もしくは赤外線センサに過温度検知機能を切り替えていた。(特許文献1) As a diagnostic function of the conventional infrared sensor module, a temperature detection function diagnostic device provided in the temperature sensor is known. The conventional temperature detection function diagnostic device diagnoses the temperature detection function of the temperature sensor, determines the abnormality of the infrared sensor by a majority decision, etc., and when the abnormality of the infrared sensor is determined, the temperature detection circuit or the infrared sensor detects overtemperature. I was switching functions. (Patent Document 1)
しかしながら、上記従来の赤外線センサモジュールでは、赤外線センサの一部だけに異常が発生したときに赤外線センサのシステム全体の動作を停止するしかないという課題があった。 However, the conventional infrared sensor module has a problem that the operation of the entire infrared sensor system must be stopped when an abnormality occurs in only a part of the infrared sensor.
本発明は、上記課題を解決し、赤外線センサの調整値を記録するメモリの状態に応じて赤外線センサモジュールの動作を変更することでメモリの異常に対してメモリの状態に応じた対応ができる赤外線センサモジュールを提供することを目的とする。 The present invention solves the above-mentioned problems, and by changing the operation of the infrared sensor module according to the state of the memory that records the adjustment value of the infrared sensor, the infrared ray that can respond to the abnormality of the memory according to the state of the memory. It is an object of the present invention to provide a sensor module.
上記課題を解決するために本発明は、被測定対象の赤外線を検出する赤外線センサと、前記赤外線センサの出力信号を信号処理する第1の処理回路と、前記第1の処理回路の出力信号を信号処理する第2の処理回路と、前記第2の処理回路の出力値を記録する少なくとも3個以上のメモリと、前記メモリに記録された値を互いに比較して前記メモリの状態を判定する判定部と、前記メモリに記録された値を変更する変更部を有し、前記メモリは前記第1の処理回路と前記第2の処理回路の夫々に少なくとも1つ設けられ、前記判定部が、記録された値が他のどの前記メモリの値とも一致しない異常な値が記録された前記メモリが少なくとも1つ存在すると判定した場合に、前記変更部が異常な値が記録された前記メモリの値を正常な値が記録された前記メモリの値に変更する構成とした。 In order to solve the above problems, the present invention uses an infrared sensor that detects infrared rays to be measured, a first processing circuit that processes the output signal of the infrared sensor, and an output signal of the first processing circuit. A determination to determine the state of the memory by comparing the second processing circuit for signal processing, at least three or more memories for recording the output value of the second processing circuit, and the value recorded in the memory with each other. It has a unit and a change unit that changes a value recorded in the memory, and at least one of the memory is provided in each of the first processing circuit and the second processing circuit, and the determination unit records. When it is determined that there is at least one memory in which an abnormal value is recorded whose value does not match any other value in the memory, the change unit determines the value of the memory in which the abnormal value is recorded. The configuration was such that the normal value was changed to the value of the recorded memory.
また、別の態様では、被測定対象の赤外線を検出する赤外線センサと、前記赤外線センサの出力信号を信号処理する第1の処理回路と、前記第1の処理回路の出力信号を信号処理する第2の処理回路と、前記第2の処理回路の出力値を記録する少なくとも3個以上のメモリと、前記メモリに記録された値を互いに比較して前記メモリの状態を判定する判定部を有し、前記メモリは前記第1の処理回路と前記第2の処理回路の夫々に少なくとも1つ設けられ、前記判定部が、記録された値が他のどの前記メモリの値とも一致しない異常な値が記録された前記メモリが少なくとも1つ存在すると判定した場合に、前記第1の処理回路と前記第2の処理回路は異常な値が記録された前記メモリの値を参照しなくなる構成とした。 In another aspect, an infrared sensor that detects infrared rays to be measured, a first processing circuit that processes the output signal of the infrared sensor, and a first processing circuit that processes the output signal of the first processing circuit. It has two processing circuits, at least three or more memories for recording the output values of the second processing circuit, and a determination unit for determining the state of the memories by comparing the values recorded in the memories with each other. , The memory is provided at least one in each of the first processing circuit and the second processing circuit, and the determination unit has an abnormal value in which the recorded value does not match the value of any other memory. When it is determined that at least one of the recorded memories exists, the first processing circuit and the second processing circuit are configured so as not to refer to the value of the memory in which an abnormal value is recorded.
また、別の態様では、被測定対象の赤外線を検出する赤外線センサと、前記赤外線センサの出力信号を信号処理する第1の処理回路と、前記第1の処理回路の出力信号を信号処
理する第2の処理回路と、前記第2の処理回路の出力値を記録する少なくとも3個以上のメモリと、前記メモリに記録された値を互いに比較して前記メモリの状態を判定する判定部と、前記判定部の判定結果を出力する出力端子を有し、前記メモリは前記第1の処理回路と前記第2の処理回路の夫々に少なくとも1つ設けられ、前記判定部が、記録された値が他のどの前記メモリの値とも一致しない異常な値が記録された前記メモリが少なくとも1つ存在すると判定した場合に、前記判定部は前記出力端子から信号を出力する構成とした。
In another aspect, an infrared sensor that detects infrared rays to be measured, a first processing circuit that processes the output signal of the infrared sensor, and a first processing circuit that processes the output signal of the first processing circuit. The processing circuit of 2, at least three or more memories for recording the output value of the second processing circuit, a determination unit for determining the state of the memory by comparing the values recorded in the memory with each other, and the above. It has an output terminal for outputting the determination result of the determination unit, and at least one of the memories is provided in each of the first processing circuit and the second processing circuit. When it is determined that there is at least one memory in which an abnormal value that does not match the value of the memory of the throat is recorded, the determination unit is configured to output a signal from the output terminal.
本発明の赤外線センサモジュールは、赤外線センサと検出回路に設けられたメモリに異常が発生したときに、赤外線センサに設けられたメモリの全てが異常を発生していなければ、メモリの値を変更することでメモリの値を正常な値に復元することができる。 The infrared sensor module of the present invention changes the value of the memory when an abnormality occurs in the memory provided in the infrared sensor and the detection circuit, if all the memories provided in the infrared sensor do not have an abnormality. This makes it possible to restore the memory value to a normal value.
別の態様の赤外線センサモジュールは、赤外線センサと検出回路に設けられたメモリに異常が発生したときに、異常を発生したメモリを参照しないことで、異常なメモリ値を参照することによる赤外線センサモジュールの出力異常を防ぐことができる。 Another aspect of the infrared sensor module is an infrared sensor module that refers to an abnormal memory value by not referring to the memory in which the abnormality has occurred when an abnormality occurs in the memory provided in the infrared sensor and the detection circuit. Output abnormality can be prevented.
別の態様の赤外線センサモジュールは、赤外線センサと検出回路に設けられたメモリに異常が発生したときに、異常が発生したことを外部出力することができる。 In another aspect of the infrared sensor module, when an abnormality occurs in the infrared sensor and the memory provided in the detection circuit, the occurrence of the abnormality can be output to the outside.
以下に、実施の形態に係る赤外線センサモジュールについて図面を用いて説明をする。なお、各図面において、同様の構成については、同一の符号を付し、説明を省略する。また、各実施の形態における各構成要素は矛盾のない範囲で任意に組み合わせても良い。 Hereinafter, the infrared sensor module according to the embodiment will be described with reference to the drawings. In each drawing, the same reference numerals are given to the same configurations, and the description thereof will be omitted. Moreover, each component in each embodiment may be arbitrarily combined as long as there is no contradiction.
(実施の形態1)
以下に、実施の形態1における赤外線センサモジュールについて図面を用いながら説明する。
(Embodiment 1)
Hereinafter, the infrared sensor module according to the first embodiment will be described with reference to the drawings.
図1は、実施の形態1の赤外線センサモジュールの構成を示す図、図2は赤外線センサの側断面図である。 FIG. 1 is a diagram showing the configuration of the infrared sensor module of the first embodiment, and FIG. 2 is a side sectional view of the infrared sensor.
赤外線センサモジュール1は、被測定対象の赤外線を検出する赤外線センサ2と、赤外線センサ2の出力信号を信号処理する第1の処理回路3と、第1の処理回路3の出力信号を信号処理する第2の処理回路4と、第2の処理回路4の出力値を記録する複数のメモリ5と、メモリ5に記録された値を他のメモリ5と比較してメモリ5の状態を判定する判定部6と、メモリ5に記録された値を変更する変更部7を有している。赤外線センサモジュール1は、赤外線センサ2で被測定対象の赤外線を検出し、第1の処理回路3と第2の処理回路4で処理することで、被測定対象の温度を検出したり温冷感を推測したりすることができる。人や食品等の被測定対象の温度を検出して赤外線センサモジュール1の出力信号を空調機器、電子レンジ、複合機などの外部機器に入力することにより、外部機器を制御することができる。
The
赤外線センサ2は、感温部が埋設された熱型赤外線検出器を有しており、感温部には被
検出体から放射された赤外線による熱エネルギーを電気エネルギーに変換するサーモパイルにより構成される熱電変換部が用いられている。また、赤外線センサ2は、感温部および感温部の出力電圧を取り出すためのMOSトランジスタを有したa×b個の画素部(非接触赤外線検知素子)が、半導体基板の一表面側においてa行b列の2次元アレイ状に配置されており、赤外線センサ2では画素部は8×8に構成されている。なお、画素部は8×8に限られず、例えば、16×4のように構成しても良い。また、画素部をアレイ状に配置した方が赤外線センサ2で取得できる熱画像の解像度を向上させることができるが、画素部を1つだけ配置するような構成としても良い。
The
第1の処理回路3にはASIC(Application Specific Integrated Circuit)が用いられているが、これに限らなくても良い。第1の処理回路3は、赤外線センサ2の出力を電圧情報に変換している。第2の処理回路4にはマイコンが用いられているが、これに限らなくても良い。第2の処理回路4は第1の処理回路3の出力信号を温度情報に変換している。第2の処理回路4の出力信号はセンサ信号出力端子8から外部へ出力される。第1の処理回路3と第2の処理回路4の夫々には少なくとも1個のメモリ5が設けられている。メモリ5には、ROM(Read Only
Memory)が用いられているが、これに限らなくても良い。第1の処理回路3に設けられたメモリ5には赤外線センサ2を制御する情報が記録されている。第2の処理回路4に設けられたメモリ5には、第2の処理回路4を制御するための情報や赤外線センサモジュール1が外部部材と接続されるときには外部部材を制御するための情報が記録されている。第2の処理回路4の出力信号は第1の処理回路3と第2の処理回路4に設けられたメモリ5に第2の処理回路4の出力値として記録される。なお、第1の処理回路3で赤外線センサ2の出力信号を電圧情報に変換し、第2の処理回路4で温度情報に変換しているが、この動作に限らなくても良い。例えば、赤外線センサモジュール1から被測定対象の温冷感の推定情報を出力する場合には、第1の処理回路3で温度情報に変換し、第2の処理回路4で被測定対象の温冷感を推定しても良い。また、例えば、赤外線センサ2をモータ等の外部部材を用いて走査する場合には、第1の処理回路3で温度情報に変換し、第2の処理回路4で外部部材を制御しても良い。この様に、第1の処理回路3と第2の処理回路4の動作は赤外線センサモジュール1の用途等に応じて適宜変更できる。
An ASIC (Application Specific Integrated Circuit) is used in the
Memory) is used, but it is not limited to this. Information for controlling the
判定部6は、第1の処理回路3、第2の処理回路4とは別に設けられている。但し、判定部6を、第1の処理回路3または第2の処理回路4と一体にして設けても良い。判定部6は、第1の処理回路3と第2の処理回路4に設けられたメモリ5の値を比較し、メモリ5の状態を判定している。正常に動作しているメモリ5には同一の値が記録されている。このため、正常に動作しているメモリ5が複数ある場合には、他に値が一致したメモリ5が複数存在することになる。ここで言う一致とは、完全に値が一致している場合に限定されるものではなく、赤外線センサモジュール1を使用するにあたり問題にならない程度の誤差は許容される。同じ記号のメモリ5は、記録された値が一致していることになる。第1〜第3のメモリの全てに同じ値を記録するため、正常なメモリ5が複数ある場合には、その複数のメモリ5の値は一致し、異常が発生しているメモリ5の値は正常なメモリ5とは一致しない。このため、判定部6は、値が一致したメモリ5が複数ある場合は、その複数のメモリ5は正常であり、異なる値が記録されたメモリ5は異常が発生していると判定する。
The
第1の処理回路3に設けられたメモリ5には赤外線センサ2を制御するための情報が記録されているため、第1の処理回路3に設けられたメモリ5の全てに異常が発生した場合には、被測定対象の温度を正確に検出することができなくなる。この状態で空調機器等の外部機器を制御した場合には、外部機器がユーザの想定外の動作を行う可能性があるため、第1の処理回路3に設けられたメモリ5の全てに異常が発生した場合には、判定部6は外部機器の安全性を向上させるために赤外線センサモジュール1の動作を停止させる。
Since information for controlling the
変更部7は、赤外線センサ2と処理回路とは別に設けられた回路である。変更部7は、第1の処理回路3、第2の処理回路4、判定部6と一体にして設けられても良い。変更部7は、メモリ5の値を変更することができる。
The
メモリ5の異常検出について説明をする。ここでは、メモリ5は第1の処理回路3と第2の処理回路4に合わせて3個設けられているものを例として説明する。
The abnormality detection of the
まず、第1の処理回路3にメモリ5が1つ設けられ、第2の処理回路4にメモリ5が2つ設けられている場合について説明する。第1の処理回路3に設けられているメモリ5を第1のメモリ、第2の処理回路4に設けられているメモリ5を第2のメモリ、第3のメモリとして説明する。表1に第1〜第3のメモリの値が変化した各パターンでの赤外線センサモジュール1の動作を説明する。表1では、第1〜第3のメモリの値を「○」、「×」、「△」の記号で示している。
First, a case where one
パターン1−1では、第1〜第3のメモリの値が全て「○」であるため、第1〜第3のメモリは全て一致している。このため、判定部6は、第1〜第3のメモリは全て正常であると判定する。この場合は、赤外線センサモジュール1はそのままの動作を維持する。
In the pattern 1-1, since the values of the first to third memories are all “◯”, all the first to third memories match. Therefore, the
パターン1−2では、第1のメモリの値が「×」で第2のメモリ、第3のメモリの値が「○」となっている。この場合、第1のメモリに異常が発生しており、第2のメモリ、第3のメモリは正常であると判定する。このとき、第1の処理回路3に1個だけ設けられた第1のメモリに異常が発生しているため、第1の処理回路3によって赤外線センサ2の動作を停止する。
In pattern 1-2, the value of the first memory is “x”, the value of the second memory and the value of the third memory are “◯”. In this case, it is determined that an abnormality has occurred in the first memory and the second memory and the third memory are normal. At this time, since an abnormality has occurred in the first memory provided only once in the
パターン1−3では、第2のメモリの値が「×」で第1のメモリ、第3のメモリの値が「○」となっている。この場合、第2のメモリに異常が発生しており、第1のメモリ、第3のメモリは正常であると判定する。このとき、第1のメモリは正常であるため、変更部7によって第2のメモリの値を第1のメモリ、第3のメモリと同じ「○」に変更する。
In patterns 1-3, the value of the second memory is “x”, the value of the first memory and the value of the third memory are “◯”. In this case, it is determined that an abnormality has occurred in the second memory and the first memory and the third memory are normal. At this time, since the first memory is normal, the
パターン1−4では、第3のメモリの値が「×」で第1のメモリ、第2のメモリの値が「○」となっている。この場合、第3のメモリに異常が発生しており、第1のメモリ、第2のメモリは正常であると判定する。このとき、第1のメモリは正常であるため、変更部7によって第3のメモリの値を第1のメモリ、第2のメモリと同じ「○」に変更する。
In patterns 1-4, the value of the third memory is “x”, the value of the first memory and the value of the second memory are “◯”. In this case, it is determined that an abnormality has occurred in the third memory and the first memory and the second memory are normal. At this time, since the first memory is normal, the changing
パターン1−5では、第1のメモリの値は「○」、第2のメモリの値は「×」、第3のメモリの値は「△」となっている。第1〜第3のメモリの値の全てが異なっているため、第1〜第3のメモリのうち、少なくとも2個に異常が発生していることがわかる。しかし
ながら、正常なメモリ5を判定することはできないため、判定部6は正常なメモリ5は判定不能と判定する。このとき、異常が発生したメモリ5の値を変更することができないため、第1の処理回路3によって赤外線センサ2の動作を停止する。
In patterns 1-5, the value of the first memory is “◯”, the value of the second memory is “x”, and the value of the third memory is “Δ”. Since all the values of the first to third memories are different, it can be seen that at least two of the first to third memories have an abnormality. However, since the
次に、第1の処理回路3にメモリ5が2つ設けられ、第2の処理回路4にメモリ5が1つ設けられている場合について説明する。第1の処理回路3に設けられているメモリ5を第1のメモリ、第2のメモリとし、第2の処理回路4に設けられているメモリ5を第3のメモリとして説明する。表2に第1〜第3のメモリの値が変化した各パターンでの赤外線センサモジュール1の動作を説明する。
Next, a case where two
パターン2−1では、第1〜第3のメモリの値が全て「○」であるため、第1〜第3のメモリは全て一致している。このため、判定部6は、第1〜第3のメモリは全て正常であると判定する。この場合は、赤外線センサモジュール1はそのままの動作を維持する。
In the pattern 2-1 because the values of the first to third memories are all “◯”, all the first to third memories match. Therefore, the
パターン2−2では、第1のメモリの値が「×」で第2のメモリ、第3のメモリの値が「○」となっている。この場合、第1のメモリに異常が発生しており、第2のメモリ、第3のメモリは正常であると判定する。このとき、第1の処理回路3に設けられたメモリ5は第2のメモリが正常であるため、変更部7によって、第1のメモリの値を第2のメモリ、第3のメモリの値に変更する。
In pattern 2-2, the value of the first memory is “x”, the value of the second memory and the value of the third memory are “◯”. In this case, it is determined that an abnormality has occurred in the first memory and the second memory and the third memory are normal. At this time, since the second memory of the
パターン2−3では、第2のメモリの値が「×」で第1のメモリ、第3のメモリの値が「○」となっている。この場合、第2のメモリに異常が発生しており、第1のメモリ、第3のメモリは正常であると判定する。このとき、第1の処理回路3に設けられたメモリ5は第1のメモリが正常であるため、変更部7によって、第2のメモリの値を第1のメモリ、第3のメモリの値に変更する。
In patterns 2-3, the value of the second memory is “x”, the value of the first memory and the value of the third memory are “◯”. In this case, it is determined that an abnormality has occurred in the second memory and the first memory and the third memory are normal. At this time, since the first memory of the
パターン2−4では、第3のメモリの値が「×」で第1のメモリ、第2のメモリの値が「○」となっている。この場合、第3のメモリに異常が発生しており、第1のメモリ、第2のメモリは正常であると判定する。このとき、第1の処理回路3に設けられたメモリ5は第1、第2のメモリが正常であるため、変更部7によって、第1のメモリの値を第2のメモリ、第3のメモリの値に変更する。
In patterns 2-4, the value of the third memory is “x”, the value of the first memory and the value of the second memory are “◯”. In this case, it is determined that an abnormality has occurred in the third memory and the first memory and the second memory are normal. At this time, since the first and second memories of the
パターン2−5では、第1のメモリの値は「○」、第2のメモリの値は「×」、第3のメモリの値は「△」となっている。第1〜第3のメモリの値の全てが異なっているため、第1〜第3のメモリのうち、少なくとも2個に異常が発生している。このとき、第1の処理回路3によって赤外線センサ2の動作を停止する。
In pattern 2-5, the value of the first memory is “◯”, the value of the second memory is “x”, and the value of the third memory is “Δ”. Since all the values of the first to third memories are different, at least two of the first to third memories have an abnormality. At this time, the operation of the
この様に、第1の処理回路3に設けられたメモリ5が全て異常な値の場合と3個のメモ
リ5が全て異なる値の場合は赤外線センサモジュール1の動作を停止し、第1の処理回路3に設けられたメモリ5の少なくとも1つが正常で他に異常なメモリ5がある場合には異常な値が記録されたメモリ5の値を変更する。これにより、状況に応じて異常が発生したメモリ5の値の変更だけで対応できるため、赤外線センサモジュール1を正常に使用できる状況を増やすことができる。
In this way, when all the
実施の形態1では、メモリ5が合計で3個設けられた場合について説明したが、メモリ5が4個以上の場合でも同様の対応をすることで、赤外線センサモジュール1を正常に使用する状況を増やすことができる。この場合でも、第1の処理回路3に設けられたメモリ5が全て異常な値の場合と3個のメモリ5が全て異なる値の場合は赤外線センサモジュール1の動作を停止し、第1の処理回路3に設けられたメモリ5の少なくとも1つが正常で他に異常なメモリ5がある場合には異常な値が記録されたメモリ5の値を変更すれば良い。これにより、上記で説明したメモリ5が3個の場合と同じ効果を得ることができる。
In the first embodiment, the case where a total of three
(実施の形態2)
以下に、実施の形態2の赤外線センサモジュールについて説明する。
(Embodiment 2)
The infrared sensor module of the second embodiment will be described below.
図2は実施の形態2の赤外線センサモジュールの構成を示す図である。 FIG. 2 is a diagram showing the configuration of the infrared sensor module of the second embodiment.
赤外線センサモジュール11は、被測定対象の赤外線を検出する赤外線センサ2と、赤外線センサ2の出力信号を信号処理する第1の処理回路3と、第1の処理回路3の出力信号を信号処理する第2の処理回路4と、第2の処理回路4の出力値を記録する複数のメモリ5と、メモリ5に記録された値を他のメモリ5と比較してメモリ5の状態を判定する判定部6を有している。
The
実施の形態2の赤外線センサモジュール11では、異常が発生したメモリ5の値は参照しない。第1の処理回路3に設けられたメモリ5が全て異常な値の場合と3個のメモリ5が全て異なる値の場合は赤外線センサモジュール11の動作を停止し、第1の処理回路3に設けられたメモリ5の少なくとも1つが正常で他に異常なメモリ5がある場合には異常な値が記録されたメモリ5の値を異常検出後は参照しない様にする。
In the
この様に、実施の形態2の赤外線センサモジュール11では、異常が発生したメモリ5の値を異常発生後に参照せず、正常なメモリ5のみを参照して赤外線センサモジュール11を制御している。これにより、赤外線センサ2の動作を停止せずに赤外線センサモジュール11を正常に使用できる状況を増やすことができる。
As described above, in the
(実施の形態3)
以下に、実施の形態3の赤外線センサモジュールについて説明する。
(Embodiment 3)
The infrared sensor module of the third embodiment will be described below.
図3は実施の形態3の赤外線センサモジュールの構成を示す図である。 FIG. 3 is a diagram showing the configuration of the infrared sensor module of the third embodiment.
赤外線センサモジュール21は、被測定対象の赤外線を検出する赤外線センサ2と、赤外線センサ2の出力信号を信号処理する第1の処理回路3と、第1の処理回路3の出力信号を信号処理する第2の処理回路4と、第2の処理回路4の出力値を記録する複数のメモリ5と、メモリ5に記録された値を他のメモリ5と比較してメモリ5の状態を判定する判定部6、判定部6の判定結果を出力する出力端子22を有している。また、出力端子22は、赤外線センサモジュール21に電力を供給する電源を制御する電源制御部23に接続されている。
The
実施の形態3の赤外線センサモジュール21では、メモリ5の異常が検出されたときに
赤外線センサモジュール21の電源を落として再度電源を入れなおす。第1の処理回路3に設けられたメモリ5が全て異常な値の場合と3個のメモリ5が全て異なる値の場合は赤外線センサモジュール21の動作を停止し、第1の処理回路3に設けられたメモリ5の少なくとも1つが正常で他に異常なメモリ5がある場合には電源をリセットする。
In the
この様に、実施の形態3の赤外線センサモジュール21では、電源をリセットすることで異常が発生したメモリ5の値をリセットし、メモリ5に生じた異常が軽度な場合にはそのまま使用することができるようにする。これにより、赤外線センサ2の動作を停止せずに赤外線センサモジュール21を正常に使用できる状況を増やすことができる。
As described above, in the
(実施の形態4)
以下に、実施の形態4の赤外線センサモジュールについて説明する。
(Embodiment 4)
The infrared sensor module of the fourth embodiment will be described below.
図4は実施の形態3の赤外線センサモジュールの構成を示す図である。 FIG. 4 is a diagram showing the configuration of the infrared sensor module of the third embodiment.
赤外線センサモジュール31は、被測定対象の赤外線を検出する赤外線センサ2と、赤外線センサ2の出力信号を信号処理する第1の処理回路3と、第1の処理回路3の出力信号を信号処理する第2の処理回路4と、第2の処理回路4の出力値を記録する複数のメモリ5と、メモリ5に記録された値を他のメモリ5と比較してメモリ5の状態を判定する判定部6、判定部6の判定結果を出力する出力端子22を有している。出力端子22は通知部32と接続されている。
The
通知部32には、スピーカ等の音声により通知できる部材用いられている。メモリ5に異常が発生したときに、異常の発生をユーザに通知することができる。赤外線センサモジュール31を出力端子を介してディスプレイを有した外部機器に接続し、外部機器を通知部として利用し、外部機器のディスプレイにメモリ5の異常を通知するようにしても良い。
The notification unit 32 uses a member that can notify by voice such as a speaker. When an abnormality occurs in the
実施の形態2の赤外線センサモジュール31では、メモリ5の異常を検出したときに、メモリ5に異常が発生したことを通知する。ここで、通知方法を重要度で分けても良い。この場合、第1の処理回路3に設けられたメモリ5が全て異常な値の場合と3個のメモリ5が全て異なる値の場合はメモリ5に重大な異常が発生したことを通知し、第1の処理回路3に設けられたメモリ5の少なくとも1つが正常で他に異常なメモリ5がある場合には通常の通知の仕方でメモリ5の異常を通知する。この様に、異常の重要度で通知方法を変えることでユーザが詳細に状況を知ることができるため、柔軟にメモリ5の異常に対応することができるようになる。
In the
この様に、実施の形態4の赤外線センサモジュール31では、異常が発生したときに通知することでユーザに異常を知らせることができる。また、実施の形態1〜3の様に、異常が発生したメモリ5の値を変更したり、異常が発生したメモリ5を参照しなくしたり、電源をリセットしたりしても良い。この様に、実施の形態1〜3の対応と通知を組み合わせることにより、ユーザは赤外線センサモジュール31を使用しながらメモリ5に異常が発生したことを知ることができる。
As described above, in the
本開示は、第1の処理回路と第2の処理回路に設けられたメモリに異常が発生したときにメモリの状態に応じた対応ができるため、空調機器での温度検知などに有用である。 The present disclosure is useful for temperature detection in air-conditioning equipment and the like because it is possible to respond according to the state of the memory when an abnormality occurs in the memories provided in the first processing circuit and the second processing circuit.
1、11、21、31 赤外線センサモジュール
2 赤外線センサ
3 第1の処理回路
4 第2の処理回路
5 メモリ
6 判定部
7 変更部
8 センサ信号出力端子
22 出力端子
23 電源制御部
32 通知部
1, 11, 21, 31
Claims (7)
前記赤外線センサの出力信号を信号処理する第1の処理回路と、
前記第1の処理回路の出力信号を信号処理する第2の処理回路と、
前記第2の処理回路の出力値を記録する少なくとも3個以上のメモリと、
前記メモリに記録された値を互いに比較して前記メモリの状態を判定する判定部と、
前記メモリに記録された値を変更する変更部を有し、
前記メモリは前記第1の処理回路と前記第2の処理回路の夫々に少なくとも1つ設けられ、
前記判定部が、記録された値が他のどの前記メモリの値とも一致しない異常な値が記録された前記メモリが少なくとも1つ存在すると判定した場合に、前記変更部が異常な値が記録された前記メモリの値を正常な値が記録された前記メモリの値に変更する赤外線センサモジュール。 An infrared sensor that detects infrared rays to be measured and
A first processing circuit that processes the output signal of the infrared sensor, and
A second processing circuit that processes the output signal of the first processing circuit, and
At least three or more memories for recording the output value of the second processing circuit, and
A determination unit that determines the state of the memory by comparing the values recorded in the memory with each other.
It has a change part that changes the value recorded in the memory.
At least one memory is provided in each of the first processing circuit and the second processing circuit.
When the determination unit determines that there is at least one memory in which an abnormal value in which the recorded value does not match the value of any other memory is recorded, the change unit records the abnormal value. An infrared sensor module that changes the value of the memory to the value of the memory in which a normal value is recorded.
前記赤外線センサの出力信号を信号処理する第1の処理回路と、
前記第1の処理回路の出力信号を信号処理する第2の処理回路と、
前記第2の処理回路の出力値を記録する少なくとも3個以上のメモリと、
前記メモリに記録された値を互いに比較して前記メモリの状態を判定する判定部を有し、
前記メモリは前記第1の処理回路と前記第2の処理回路の夫々に少なくとも1つ設けられ、
前記判定部が、記録された値が他のどの前記メモリの値とも一致しない異常な値が記録された前記メモリが少なくとも1つ存在すると判定した場合に、前記第1の処理回路と前記第2の処理回路は異常な値が記録された前記メモリの値を参照しなくなる赤外線センサモジュール。 An infrared sensor that detects infrared rays to be measured and
A first processing circuit that processes the output signal of the infrared sensor, and
A second processing circuit that processes the output signal of the first processing circuit, and
At least three or more memories for recording the output value of the second processing circuit, and
It has a determination unit that determines the state of the memory by comparing the values recorded in the memory with each other.
At least one memory is provided in each of the first processing circuit and the second processing circuit.
When the determination unit determines that there is at least one memory in which an abnormal value in which the recorded value does not match the value of any other memory is recorded, the first processing circuit and the second processing circuit are used. The processing circuit of is an infrared sensor module that does not refer to the value of the memory in which an abnormal value is recorded.
前記赤外線センサの出力信号を信号処理する第1の処理回路と、
前記第1の処理回路の出力信号を信号処理する第2の処理回路と、
前記第2の処理回路の出力値を記録する少なくとも3個以上のメモリと、
前記メモリに記録された値を互いに比較して前記メモリの状態を判定する判定部と、
前記判定部の判定結果を出力する出力端子を有し、
前記メモリは前記第1の処理回路と前記第2の処理回路の夫々に少なくとも1つ設けられ、
前記判定部が、記録された値が他のどの前記メモリの値とも一致しない異常な値が記録された前記メモリが少なくとも1つ存在すると判定した場合に、前記判定部は前記出力端子から信号を出力する赤外線センサモジュール。 An infrared sensor that detects infrared rays to be measured and
A first processing circuit that processes the output signal of the infrared sensor, and
A second processing circuit that processes the output signal of the first processing circuit, and
At least three or more memories for recording the output value of the second processing circuit, and
A determination unit that determines the state of the memory by comparing the values recorded in the memory with each other.
It has an output terminal that outputs the judgment result of the judgment unit.
At least one memory is provided in each of the first processing circuit and the second processing circuit.
When the determination unit determines that there is at least one memory in which an abnormal value in which the recorded value does not match the value of any other memory is recorded, the determination unit outputs a signal from the output terminal. Infrared sensor module to output.
前記通知部は、前記メモリに異常な値が記録されているときに前記メモリの異常を通知する請求項3に記載の赤外線センサモジュール。 Further having a notification unit connected to the output terminal and notifying the state of the memory,
The infrared sensor module according to claim 3, wherein the notification unit notifies an abnormality of the memory when an abnormal value is recorded in the memory.
前記電源制御部は、前記メモリに異常な値が記録されているときに前記電源をリセットする請求項3または4に記載の赤外線センサモジュール。 It further has a power supply control unit connected to the output terminal that controls the power supply that supplies power to the infrared sensor module.
The infrared sensor module according to claim 3 or 4, wherein the power supply control unit resets the power supply when an abnormal value is recorded in the memory.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2017189352A JP6956317B2 (en) | 2017-09-29 | 2017-09-29 | Infrared sensor module |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2017189352A JP6956317B2 (en) | 2017-09-29 | 2017-09-29 | Infrared sensor module |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2019066215A JP2019066215A (en) | 2019-04-25 |
| JP6956317B2 true JP6956317B2 (en) | 2021-11-02 |
Family
ID=66339399
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2017189352A Active JP6956317B2 (en) | 2017-09-29 | 2017-09-29 | Infrared sensor module |
Country Status (1)
| Country | Link |
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| JP (1) | JP6956317B2 (en) |
-
2017
- 2017-09-29 JP JP2017189352A patent/JP6956317B2/en active Active
Also Published As
| Publication number | Publication date |
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|
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|
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