JP6967230B2 - 異形シリカナノ粒子を含有する気体分離膜 - Google Patents
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Description
〔実施例1〕(3,5−ジアミノ安息香酸(DABA)修飾数珠状シリカナノ粒子(P−NP)の作製、10質量%添加ポリイミド複合膜)
3Lナス型フラスコに数珠状シリカナノ粒子(P−NP)の水分散液(スノーテックス(登録商標)PS−SO、日産化学工業(株)製、シリカ濃度:15.5質量%、動的光散乱法による測定粒子径D1:92nm、窒素吸着法による測定粒子径D2:15nm、D1/D2=6.1)483.9gをエバポレーターを用いて、8.7kPaでイソプロパノール(IPA)9.5Lを添加しながら水を留去することにより、水をIPAに置換した。この操作を2バッチ行い、P−NPのIPA分散液3040gを得た。得られたIPA分散液のシリカ濃度は4.8質量%、水分量は0.7質量%であった。2つの3Lセパラブルフラスコに、得られたP−NPのIPA分散液1556g、1419gをそれぞれ量り取り、ここにそれぞれ超純水2.7g、2.5gと3−アミノプロピルトリエトキシシラン(APTES)(東京化成工業(株)製)22.3g、20.3gを添加し、ガラス撹拌羽根を用いて、室温下で48時間撹拌した。この反応液を遠心分離(1500G、5分)にかけて粒子を沈殿させ、上澄みを捨てた後、超純水を加え、超音波洗浄器を用いて沈殿物を再分散させた。この操作を11回繰り返すことにより、合計でAPTES修飾P−NPの水分散液5223gを得た。3Lナス型フラスコに上記のAPTES修飾P−NPの水分散液5210gを、エバポレーターを用いて、4.0kPaで水を除去しながらチャージすることにより濃縮し、その後4.0kPaでN−メチルピロリドン(NMP)2.5Lを添加しながら水を留去して、APTES修飾P−NPのNMP分散液2400gを得た。得られたNMP分散液の固形分濃度は5.9質量%、水分量は0.7質量%であった。作製したAPTES修飾P−NPのAPTES修飾率を確認するために、得られたAPTES修飾P−NPの水分散液を110℃で15時間乾燥後、TGA装置(DTG−60H、(株)島津製作所製)を用いて、熱重量分析を行った。この結果、APTES修飾P−NPは、3.3質量%がAPTES、96.7質量%がシリカナノ粒子であることが確認された。次いで3LセパラブルフラスコにNMP45.8gと1,3−ジアミノ安息香酸(DABA)(Aldrich製)4.3g、トリエチルアミン(TEA)(関東化学(株)製)2.8g、Benzotriazol−1−yloxytris(dimethylamino)phosphonium hexafluorophosphate(BOP)(東京化成工業(株)製)12.3gを量り取り、APTES修飾P−NPのNMP分散液340gを添加した。これを室温下で5分間撹拌した後、オイルバスを用いて、80℃、1時間の条件で反応した。この反応液を遠心分離(1500G、5時間)にかけることにより粒子を沈殿させ、上澄みを捨てた後、NMPを加え、超音波洗浄器を用いて沈殿物を再分散させた。この操作を3回繰り返すことにより、DABA修飾P−NPのNMP分散液110gを得た。得られたNMP分散液の固形分濃度は10.3質量%、水分量は0.6質量%であった。得られたDABA修飾P−NPのNMP分散液43.4gを110℃で15時間乾燥し、DABA修飾P−NPの乾燥粉5gを得た。作製したDABA修飾P−NPのDABA修飾率を確認するために、TGA装置(DTG−60H、(株)島津製作所製)を用いて、熱重量分析を行った。この結果、DABA修飾P−NPは、DABA5.5質量%、APTES3.4質量%、シリカナノ粒子91.1質量%であった。10mLバイアルビンに、作製したDABA修飾P−NP乾燥粉0.0167gとテトラヒドロフラン(THF、関東化学製)3.2mLを量り取り、超音波洗浄器にて10分間処理することにより、分散処理を行った。これに構造式1に示すポリイミド(6FDA−3MPA、数平均分子量2.5×105、重量平均分子量/数平均分子量=1.7)0.15gを添加し、マグネチックスターラーを用いて、室温下で12時間撹拌した。得られたDABA修飾P−NP含有ポリイミド溶液をガラスシャーレ(直径6.1cm)上に流し入れ、40℃に設定したオーブン内にこのガラスシャーレを入れて、4時間かけて真空にして複合膜を作成した。作成した複合膜は、超純水を用いてシャーレから剥がした後、150℃、15時間の熱処理を行った。
3Lセパラブルフラスコに細長い形状のシリカナノ粒子のIPA分散液(IPA−ST−UP、日産化学工業(株)製、シリカ濃度:15.6質量%、動的光散乱法による測定粒子径D1:49nm、窒素吸着法による測定粒子径D2:11nm、D1/D2=4.5、透過型電子顕微鏡観察による太さが10〜15nmで一様である。)641gを量り取り、ここにIPA982.8gと超純水3.6g、APTES(東京化成工業(株)製)29.7gを添加し、ガラス撹拌羽根を用いて、室温下で48時間撹拌した。この反応液を遠心分離(1500G、5分)にかけることにより粒子を沈殿させ、上澄みを捨てた後、超純水を加え、超音波洗浄器を用いて沈殿物を再分散させた。この操作を12回繰り返すことにより、APTES修飾C−NPの水分散液1900gを得た。3Lナス型フラスコに得られたAPTES修飾C−NPの水分散液1894gをエバポレーターを用いて、4.0kPaで水を除去しながらチャージすることにより濃縮し、その後4.0kPaでNMP1.5Lを添加しながら水を留去することにより、APTES修飾C−NPのNMP分散液1435gを得た。得られたNMP分散液の固形分濃度は5.2質量%、水分量は0.7質量%であった。作製したAPTES修飾C−NPのAPTES修飾率を確認するために、得られたAPTES修飾C−NPの水分散液を110℃で15時間乾燥後、TGA装置(DTG−60H、(株)島津製作所製)を用いて、熱重量分析を行った。この結果、APTES修飾C−NPの重量内訳は、3.6質量%がAPTES、96.4質量%がシリカナノ粒子であることが確認された。次いで、3LセパラブルフラスコにNMP38.2gとDABA3.5g、TEA2.4g、BOP10.3gを量り取り、DABA修飾C−NPのNMP分散液766.3gを添加した。これを室温下で5分間撹拌した後、オイルバスを用いて、80℃、1時間の条件で反応した。この反応液を遠心分離(1500G、5時間)にかけることにより粒子を沈殿させ、上澄みを捨てた後、NMPを加え、超音波洗浄器を用いて沈殿物を再分散させた。この操作を3回繰り返すことにより、DABA修飾C−NPのNMP分散液299.0gを得た。得られたDABA修飾C−NPのNMP分散液の固形分濃度は7.5質量%、水分量は0.6質量%であった。得られたDABA修飾C−NPのNMP分散液53gを110℃で15時間乾燥し、DABA修飾C−NPの乾燥粉4gを得た。作製したDABA修飾C−NPのDABA修飾率を確認するために、得られたDABA修飾C−NPのNMP乾燥粉をTGA装置を用いて、熱重量分析を行った。この結果、DABA修飾C−NPは、DABA7.3質量%、APTES3.3質量%、シリカナノ粒子89.4質量%であった。10mLバイアルビンに作製したDABA修飾C−NPの乾燥粉0.0167gとTHF3.2mLを量り取り、超音波洗浄器にて10分間処理することにより、分散処理を行った。これに6FDA−3MPA0.15gを添加し、マグネチックスターラーを用いて、室温下で12時間撹拌した。得られたDABA修飾C−NP含有ポリイミド溶液を実施例1と同様の手順で複合膜を作成し、気体透過測定を行った。結果を表1に示す。
3LセパラブルフラスコにNMP377.6gとDABA35.0g、TEA23.3g、BOP101.7gを量り取り、これに実施例1で作製したAPTES修飾P−NPのNMP分散液1700.7gを添加した。これを室温下で5分間撹拌した後、オイルバスを用いて、80℃、1時間の条件で反応した。この反応液を遠心分離(1500G、5時間)にかけることにより粒子を沈殿させ、上澄みを捨てた後、NMPを加え、超音波洗浄器を用いて沈殿物を再分散させた。この操作を3回繰り返すことにより、DABA修飾P−NPのNMP分散液1917gを得た。次いで、3LセパラブルフラスコにNMP755.2gとDABA70.0g、TEA46.5g、BOP203.4gを量り取り、DABA修飾P−NPのNMP分散液1917gを添加した。これを室温下で5分間撹拌した後、オイルバスを用いて、80℃、1時間の条件で反応した。この反応液を遠心分離(1500G、5時間)にかけることにより粒子を沈殿させ、上澄みを捨てた後、NMPを加え、超音波洗浄器を用いて沈殿物を再分散させた。この操作を3回繰り返すことにより、DABA2段階修飾P−NP−G2のNMP分散液956gを得た。得られたDABA2段階修飾P−NP−G2のNMP分散液の固形分濃度は7.0質量%、水分量は0.6質量%であった。得られたDABA修飾P−NP−G2のNMP分散液53gを110℃で15時間乾燥し、DABA修飾P−NP−G2の乾燥粉4gを得た。作製したDABA修飾P−NP−G2のDABA修飾率を確認するために、得られたDABA2段階修飾P−NP−G2の乾燥粉をTGA装置を用いて、熱重量分析を行った。この結果、DABA修飾P−NP−G2は、DABA16.0質量%、APTES2.8質量%、シリカナノ粒子81.2質量%であった。10mLバイアルビンに作製したDABA修飾P−NP−G2の乾燥粉0.0167gとTHF3.2mLを量り取り、超音波洗浄器にて10分間処理することにより、分散処理を行った。これに6FDA−3MPA0.15gを添加し、マグネチックスターラーを用いて、室温下で12時間撹拌した。得られたDABA修飾P−NP−G2含有ポリイミド溶液を実施例1と同様の手順で複合膜を作成し、気体透過測定を行った。結果を表1に示す。
DABA修飾P−NPを添加しないこと以外は、実施例1と同様の手順でポリイミド単独膜を作成し、その気体透過測定を行った。
200mLナス型フラスコにシリカのイソプロパノール(IPA)分散液(IPA−ST、日産化学工業(株)製、シリカ濃度:30質量%、窒素吸着法による測定粒子径D2:12nm)33mLを量り取り、IPA166mLで希釈した。ここに超純水0.36gとAPTES(東京化成工業(株)製)3.14mLを添加し、マグネチックスターラーを用いて、室温下で48時間撹拌した。この反応液を遠心分離(1500G、5分)にかけることにより粒子を沈殿させ、上澄みを捨てた後、超純水を加え、超音波洗浄器を用いて沈殿物を再分散させた。この操作を12回繰り返すことにより、APTES修飾シリカナノ粒子の水分散液400mLを得た。作製したAPTES修飾シリカナノ粒子のAPTES修飾状況を確認するために、得られたAPTES修飾シリカナノ粒子の水分散液を110℃で15時間真空乾燥後、TGA装置(DTG−60H、(株)島津製作所製)を用いて、熱重量分析を行った。この結果、APTES修飾シリカナノ粒子は、APTES4.3質量%、シリカナノ粒子95.7質量%であった。200mL反応容器に得られたAPTES修飾ナノシリカ粒子の水分散液200mLを量り取り、1−メチル−2−ピロリドン(NMP)50mLを添加し、エバポレーターを用いて水を留去することにより、NMPに分散したAPTES修飾シリカナノ粒子40mLを得た。次いで80mL反応容器にNMP6mLとDABA1.71g、TEA15.7mL、BOP4.97gを量り取り、これにNMPに分散したAPTES修飾シリカナノ粒子40mLを添加した。これを室温下で5分間撹拌した後、マイクロウェーブ反応器(Discover SP、Chem,Japan(株)製)を用いて、80℃、1時間の条件で反応した。この反応液を遠心分離(1500G、5時間)にかけることにより粒子を沈殿させ、上澄みを捨てた後、NMPを加え、超音波洗浄器を用いて沈殿物を再分散させた。この操作を3回繰り返すことにより、DABA修飾S−NP分散液100mLを得た。110℃で15時間真空乾燥後、DABA修飾S−NPを0.65g得た。作製したDABA修飾S−NPのDABA修飾状況を確認するために、TGA装置(DTG−60H、(株)島津製作所製)を用いて、熱重量分析を行った。この結果、DABA修飾S−NPは、DABA12.8質量%、APTES3.75質量%、シリカナノ粒子83.4質量%であった。10mLバイアルビンに作製したDABA修飾S−NPの乾燥粉0.0167gとTHF3.2mLを量り取り、超音波洗浄器にて10分間処理することにより、分散処理を行った。これに6FDA−3MPA0.15gを添加し、マグネチックスターラーを用いて、室温下で12時間撹拌した。得られたDABA修飾S−NP含有ポリイミド溶液を実施例1と同様の手順で複合膜を作成し、気体透過測定を行った。結果を表1に示す。
200mLナス型フラスコに実施例1と同様の工程により作製したP−NPのIPA分散液(シリカ濃度:5.0質量%)100gを量り取り、超純水0.19gとAPTES1.6mLを添加し、マグネチックスターラーを用いて、室温下で48時間撹拌した。この反応液を遠心分離(1500G、10分)にかけることにより粒子を沈殿させ、上澄みを捨てた後、超純水を加え、超音波洗浄器を用いて沈殿物を再分散させた。この操作を12回繰り返すことにより、APTES修飾P−NPの水分散液200mLを得た。作製したAPTES修飾P−NPのAPTES修飾状況を確認するために、得られたAPTES修飾P−NPの水分散液を110℃で15時間真空乾燥後、TGA装置(DTG−60H、(株)島津製作所製)を用いて、熱重量分析を行った。この結果、表面APTES修飾P−NPは、2.57質量%がAPTES、97.4質量%がシリカナノ粒子であることが確認された。200mLナスフラスコに得られたAPTES修飾P−NPの水分散液200mLに、NMP35mLを添加し、エバポレーターを用いて水を留去することにより、APTES修飾P−NPのNMP分散液30mLを得た。次いで80mL反応容器にNMP5mLと1,3−ジメチル安息香酸(DMBA)(Aldrich製)1.10g、TEA1.02mL、BOP3.23gを量り取り、これにAPTES修飾P−NPのNMP分散液30mLを添加した。これを室温下で5分間撹拌した後、マイクロウェーブ反応器を用いて、80℃、1時間の条件で反応した。この反応液を遠心分離(1500G、5時間)にかけることにより粒子を沈殿させ、上澄みを捨てた後、NMPを加え、超音波洗浄器を用いて沈殿物を再分散させた。この操作を3回繰り返すことにより、DMBA修飾P−NPのNMP分散液100mLを得た。110℃で15時間真空乾燥後、DMBA修飾P−NPを1.82g得た。作製したDMBA修飾P−NPのDMBA修飾状況を確認するために、TGA装置(DTG−60H、(株)島津製作所製)を用いて、熱重量分析を行った。この結果、DMBA修飾P−NPは、DMBA2.76質量%、APTES2.54質量%、シリカナノ粒子94.7質量%であった。10mLバイアルビンに作製したDMBA修飾P−NP0.0167gとTHF3.2mLを量り取り、超音波洗浄器にて10分間処理することにより、分散処理を行った。これに6FDA−3MPA0.15gを添加し、マグネチックスターラーを用いて、室温下で12時間撹拌した。得られたDMBA修飾P−NP含有ポリイミド溶液を実施例1と同様の手順で複合膜を作成し、気体透過測定を行った。結果を表1に示す。
200mLナス型フラスコに球状シリカのIPA分散液(IPA−ST、日産化学工業(株)製、シリカ濃度:30質量%、窒素吸着法による測定粒子径D2:12nm)33mLを量り取り、IPA166mLで希釈した。ここに超純水0.36gとAPTES3.14mLを添加し、マグネチックスターラーを用いて、室温下で48時間撹拌した。この反応液を遠心分離(1500G、5分)にかけることにより粒子を沈殿させ、上澄みを捨てた後、超純水を加え、超音波洗浄器を用いて沈殿物を再分散させた。この操作を12回繰り返すことにより、APTES修飾S−NPの水分散液400mLを得た。作製したAPTES修飾S−NPのAPTES修飾状況を確認するために、得られたAPTES修飾S−NPの水分散液を110℃で15時間真空乾燥後、TGA装置(DTG−60H、(株)島津製作所製)を用いて、熱重量分析を行った。この結果、APTES修飾S−NPの重量内訳を概算したところ、4.4質量%がAPTES、95.6質量%がシリカナノ粒子であることが確認された。200mL反応容器に得られたAPTES修飾S−NPの水分散液200mLを量り取り、NMP50mLを添加し、エバポレーターを用いて水を留去することにより、APTES修飾S−NPのNMP分散液40mLを得た。次いで80mL反応容器にNMP6mLとDMBA1.76g、TEA16.2mL、BOP5.13gを量り取り、これにAPTES修飾S−NPのNMP分散液40mLを添加した。これを室温下で5分間撹拌した後、マイクロウェーブ反応器を用いて、80℃、1時間の条件で反応した。この反応液を遠心分離(1500G、5時間)にかけることにより粒子を沈殿させ、上澄みを捨てた後、NMPを加え、超音波洗浄器を用いて沈殿物を再分散させた。この操作を3回繰り返すことにより、DMBA修飾S−NPのNMP分散液100mlを得た。110℃で15時間真空乾燥後、DMBA修飾S-NPを0.83g得た。作製したDMBA修飾S-NPのDMBA修飾状況を確認するために、TGA装置(DTG−60H、(株)島津製作所製)を用いて、熱重量分析を行った。この結果、DMBA修飾S-NPの重量内訳は、DMBA5.8質量%、APTES4.1質量%、シリカナノ粒子90.1質量%であった。0.15gの6FDA−3MPAを3.21mLのTHFに溶解した後、このポリマー溶液にDMBA修飾S-NPを0.0167g添加し、実施例1と同様に行って複合膜を作成し、気体透過測定を行った。結果を表1に示す。
実施例1で作製したDABA修飾P−NP乾燥粉の配合を膜組成の全固形分に対して30質量%とした以外は、実施例1と同様に行って複合膜を作成し、その気体透過測定を行った。結果を表1に示す。
実施例2で作製したDABA修飾C−NP乾燥粉の配合を膜組成の全固形分に対して30質量%とした以外は、実施例2と同様に行って複合膜を作成し、その気体透過測定を行った。
DABA修飾P−NP−G2乾燥粉の配合を膜組成の全固形分に対して30質量%とした以外は、実施例3と同様に行って複合膜を作成し、その気体透過測定を行った。結果を表1に示す。
0.15gの6FDA−3MPA乾燥粉を3.21mLのTHFに溶解した後、このポリマー溶液に実施例1で作製したDABA修飾P-NP乾燥粉を0.0322g、比較例2で作製したDABA修飾S-NP乾燥粉を0.0322g添加し、実施例1と同様の手順で複合膜を作成し、気体透過測定を行った。結果を表1に示す。
0.15gの6FDA−3MPAを3.21mLのTHFに溶解した後、このポリマー溶液に実施例6で作製したDABA修飾P-NP−G2乾燥粉を0.0514g、比較例2で作製したDABA修飾S-NP乾燥粉を0.0129g添加し、実施例1と同様の手順で複合膜を作成し、気体透過測定を行った。結果を表1に示す。
比較例2で作製したDABA修飾S−NP乾燥粉の配合を膜組成の全固形分に対して30質量%とした以外は、比較例2と同様に行って複合膜を作成し、その気体透過測定を行った。結果を表1に示す。
10mLバイアルビンに実施例1で作製したDABA修飾P−NP乾燥粉0.0167gとTHF6.7mLを量り取り、超音波洗浄器にて10分間処理することにより、分散処理を行った。これに構造式2に示すPIM−1(重量平均分子量3.1×105、重量平均分子量/数平均分子量=5.4)0.15gを添加し、マグネチックスターラーを用いて、室温下で12時間撹拌した。得られたDABA修飾シリカナノ粒子含有PIM−1溶液をガラスシャーレ(直径6.1cm)上に流し入れ、30℃に設定したオーブン内にこのガラスシャーレを入れ、6時間かけて真空にして複合膜を作成した。作成した複合膜は超純水を用いてシャーレから剥がした後、70℃、18時間の熱処理を行った。
シリカナノ粒子を添加せず、PIM−1単独膜とした以外は、実施例10と同様に行って複合膜を作成し、その気体透過測定を行った。結果を表1に示す。
比較例2で作製したDABA修飾S−NP乾燥粉を使用し、実施例10と同様に複合膜を作成し、その気体透過測定を行った。結果を表1に示す。
比較例3で作製したDMBA修飾S−NP乾燥粉を使用し、実施例10と同様に複合膜を作成し、その気体透過測定を行った。結果を表1に示す。
Claims (7)
- 異形シリカナノ粒子の表面にハイパーブランチ高分子又はデンドリマー高分子が付加されてなるハイパーブランチ高分子又はデンドリマー高分子付加異形シリカナノ粒子とマトリクス樹脂とを含有し、
前記異形シリカナノ粒子は、
動的光散乱法による測定粒子径D1と窒素ガス吸着法による測定粒子径D2の比D1/D2が4以上であって、D1は40〜500nmであり、そして透過型電子顕微鏡観察による5〜40nmの範囲内の一様な太さを有する細長い形状のシリカナノ粒子、
窒素ガス吸着法による測定粒子径D2が10〜80nmの球状コロイダルシリカ粒子とこの球状コロイダルシリカ粒子を接合するシリカからなり、動的光散乱法による測定粒子径D1と球状コロイダルシリカ粒子の窒素ガス吸着法による測定粒子径D2の比D1/D2が3以上であって、D1は40〜500nmであり、前記球状コロイダルシリカ粒子が連結した数珠状のシリカナノ粒子、及び
窒素ガス吸着法により測定される比表面積をS2、画像解析法により測定される平均粒子径D3から換算した比表面積をS3として、表面粗度S2/S3の値が1.2〜10の範囲にあり、D3が10〜60nmの範囲である、コロイダルシリカ粒子の表面に複数の疣状突起を有する金平糖状のシリカナノ粒子からなる群より選ばれる少なくとも1種であることを特徴とする気体分離膜。 - 前記ハイパーブランチ高分子又はデンドリマー高分子付加異形シリカナノ粒子は、ハイパーブランチ高分子又はデンドリマー高分子と異形シリカナノ粒子とが反応性官能基含有化合物を介して結合していることを特徴とする請求項1に記載の気体分離膜。
- 前記反応性官能基含有化合物は、官能基含有シランカップリング剤であることを特徴とする請求項2に記載の気体分離膜。
- 前記マトリクス樹脂は、ポリイミド、ポリスルホン、ポリエーテル、ポリジメチルシロキサン、ポリ置換アセチレン、ポリ−4−メチルペンテン及び天然ゴムからなる群より選ばれる少なくとも1種であることを特徴とする請求項1〜5のいずれか一項に記載の気体分離膜。
- 前記ハイパーブランチ高分子又はデンドリマー高分子付加異形シリカナノ粒子の含有量が1〜70質量%であることを特徴とする請求項1〜6のいずれか一項に記載の気体分離膜。
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