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JP6979672B2 - X-ray inspection equipment - Google Patents
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Description

本発明は、X線検査装置に関する。 The present invention relates to an X-ray inspection apparatus.

物品にX線を照射するX線照射部と、物品を透過した低エネルギー帯のX線、及び物品を透過した高エネルギー帯のX線を検出するX線検出部と、低エネルギー帯のX線の検出結果、及び高エネルギー帯のX線の検出結果に基づいて、物品に異物が含まれているか否かを判定する処理部と、を備えるX線検査装置が知られている(例えば、特許文献1参照)。このようなX線検査装置によれば、例えば、低エネルギー帯のX線の検出結果として取得されたX線透過画像と、高エネルギー帯のX線の検出結果として取得されたX線透過画像との差分を取ることにより、X線の減衰特性において物品と差が少ない異物であっても精度良く検出することができる。 An X-ray irradiation unit that irradiates an article with X-rays, a low-energy band X-ray that has passed through the article, an X-ray detection unit that detects high-energy band X-rays that have passed through the article, and a low-energy band X-ray. There is known an X-ray inspection apparatus including a processing unit for determining whether or not an article contains a foreign substance based on the detection result of X-rays in the high energy band and the detection result of X-rays in a high energy band (for example, a patent). See Document 1). According to such an X-ray inspection device, for example, an X-ray transmission image acquired as a detection result of X-rays in a low energy band and an X-ray transmission image acquired as a detection result of X-rays in a high energy band. By taking the difference between the above, even a foreign substance having a small difference in X-ray attenuation characteristics from the article can be detected with high accuracy.

特開2015−155830号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 2015-155830

上述したようなX線検査装置においては、第1物性を有する第1部分、及び第2物性を有する第2部分を含む物品を検査対象として、X線の減衰特性において当該物品と差が少ない異物を検出すべき場合がある。例えば、赤身と脂身とを含む牛肉を検査対象として、異物として骨片を検出するような場合である。 In the X-ray inspection apparatus as described above, an article containing a first portion having a first physical property and a second portion having a second physical property is targeted for inspection, and a foreign substance having a small difference in X-ray attenuation characteristics from the article. May be detected. For example, it is a case where beef containing lean meat and fat meat is targeted for inspection and bone fragments are detected as foreign substances.

本発明は、第1物性を有する第1部分、及び第2物性を有する第2部分を含む物品において、異物を精度良く検出することができるX線検査装置を提供することを目的とする。 An object of the present invention is to provide an X-ray inspection apparatus capable of accurately detecting a foreign substance in an article containing a first portion having a first physical characteristic and a second portion having a second physical characteristic.

本発明のX線検査装置は、第1物性を有する第1部分、及び第2物性を有する第2部分を含む物品にX線を照射するX線照射部と、物品を透過した第1エネルギー帯のX線、及び物品を透過した第2エネルギー帯のX線を検出するX線検出部と、第1エネルギー帯のX線の第1検出結果、及び第2エネルギー帯のX線の第2検出結果に基づいて、物品に異物が含まれているか否かを判定する処理部と、を備え、処理部は、物品について取得された第1検出結果及び第2検出結果を用いて第1処理を実施することにより、第1部分に異物が含まれているか否かを判定し、物品について取得された第1検出結果及び第2検出結果を用いて第2処理を実施することにより、第2部分に異物が含まれているか否かを判定し、第1処理は、予め第1部分について取得された第1検出結果及び第2検出結果を合わせ込む処理であり、第2処理は、予め第2部分について取得された第1検出結果及び第2検出結果を合わせ込む処理である。 The X-ray inspection apparatus of the present invention has an X-ray irradiation unit that irradiates an article including a first portion having a first physical property and a second portion having a second physical property, and a first energy band transmitted through the article. X-rays and the X-ray detector that detects the X-rays in the second energy band that have passed through the article, the first detection result of the X-rays in the first energy band, and the second detection of the X-rays in the second energy band. A processing unit for determining whether or not the article contains foreign matter based on the result is provided, and the processing unit performs the first processing using the first detection result and the second detection result acquired for the article. By carrying out, it is determined whether or not foreign matter is contained in the first part, and by carrying out the second treatment using the first detection result and the second detection result acquired for the article, the second part The first process is a process of combining the first detection result and the second detection result acquired in advance for the first portion, and the second process is a second process in advance. This is a process of combining the first detection result and the second detection result acquired for the portion.

このX線検査装置では、第1部分に異物が含まれているか否かを判定するために、予め第1部分について取得された第1検出結果及び第2検出結果を合わせ込む第1処理が実施される。また、第2部分に異物が含まれているか否かを判定するために、予め第2部分について取得された第1検出結果及び第2検出結果を合わせ込む第2処理が実施される。これらにより、例えば、第1部分に異物が含まれているか否か、及び第2部分に異物が含まれているか否かを判定するために、第1検出結果及び第2検出結果を合わせ込む同一の処理が実施される場合に比べ、異物を精度良く検出することができる。よって、このX線検査装置によれば、第1物性を有する第1部分、及び第2物性を有する第2部分を含む物品において、異物を精度良く検出することができる。 In this X-ray inspection apparatus, in order to determine whether or not a foreign substance is contained in the first portion, a first process of combining the first detection result and the second detection result acquired in advance for the first portion is performed. Will be done. Further, in order to determine whether or not the second portion contains a foreign substance, a second process is performed in which the first detection result and the second detection result acquired in advance for the second portion are combined. By these, for example, in order to determine whether or not the first portion contains a foreign substance and whether or not the second portion contains a foreign substance, the first detection result and the second detection result are combined in the same manner. Foreign matter can be detected more accurately than in the case where the above-mentioned processing is carried out. Therefore, according to this X-ray inspection apparatus, foreign matter can be accurately detected in an article including a first portion having a first physical characteristic and a second portion having a second physical characteristic.

本発明のX線検査装置では、第1処理は、予め第1部分について取得された第1検出結果及び第2検出結果において対応する画素間の輝度値を輝度値ごとに合わせ込む処理であり、第2処理は、予め第2部分について取得された第1検出結果及び第2検出結果において対応する画素間の輝度値を輝度値ごとに合わせ込む処理であってもよい。これによれば、第1部分に異物が含まれているか否か、及び第2部分に異物が含まれているか否かを好適に判定することができる。 In the X-ray inspection apparatus of the present invention, the first process is a process of adjusting the luminance values between the corresponding pixels in the first detection result and the second detection result acquired in advance for the first portion for each luminance value. The second process may be a process of adjusting the luminance values between the corresponding pixels in the first detection result and the second detection result acquired in advance for the second portion for each luminance value. According to this, it is possible to suitably determine whether or not the first portion contains a foreign substance and whether or not the second portion contains a foreign substance.

本発明のX線検査装置では、処理部は、物品について取得された第1検出結果及び第2検出結果を用いて、物品の全体に対応する領域について第1処理を実施することにより、第1部分に異物が含まれているか否かを判定し、物品について取得された第1検出結果及び第2検出結果を用いて、物品の全体に対応する領域について第2処理を実施することにより、第2部分に異物が含まれているか否かを判定してもよい。これによれば、第1部分に異物が含まれているか否か、及び第2部分に異物が含まれているか否かを簡易に且つ精度良く判定することができる。 In the X-ray inspection apparatus of the present invention, the processing unit performs the first processing on the region corresponding to the entire article by using the first detection result and the second detection result acquired for the article. By determining whether or not the portion contains a foreign substance, and using the first detection result and the second detection result acquired for the article, the second treatment is performed on the region corresponding to the entire article. It may be determined whether or not foreign matter is contained in the two portions. According to this, it is possible to easily and accurately determine whether or not the first portion contains a foreign substance and whether or not the second portion contains a foreign substance.

本発明のX線検査装置では、処理部は、物品について取得された第1検出結果及び第2検出結果の少なくとも1つに基づいて、当該物品において第1部分に対応する第1領域及び第2部分に対応する第2領域を抽出し、物品について取得された第1検出結果及び第2検出結果を用いて、第1領域について第1処理を実施することにより、第1部分に異物が含まれているか否かを判定し、物品について取得された第1検出結果及び第2検出結果を用いて、第2領域について第2処理を実施することにより、第2部分に異物が含まれているか否かを判定してもよい。これによれば、第1部分に異物が含まれているか否か、及び第2部分に異物が含まれているか否かをより精度良く判定することができる。 In the X-ray inspection apparatus of the present invention, the processing unit has a first region and a second region corresponding to the first part in the article based on at least one of the first detection result and the second detection result acquired for the article. By extracting the second region corresponding to the portion and performing the first treatment on the first region using the first detection result and the second detection result obtained for the article, the first portion contains a foreign substance. By performing the second treatment on the second region using the first detection result and the second detection result acquired for the article, it is determined whether or not the second portion contains a foreign substance. May be determined. According to this, it is possible to more accurately determine whether or not the first portion contains a foreign substance and whether or not the second portion contains a foreign substance.

本発明によれば、第1物性を有する第1部分、及び第2物性を有する第2部分を含む物品において、異物を精度良く検出することができるX線検査装置を提供することが可能となる。 According to the present invention, it is possible to provide an X-ray inspection apparatus capable of accurately detecting a foreign substance in an article containing a first portion having a first physical characteristic and a second portion having a second physical characteristic. ..

一実施形態のX線検査装置の構成図である。It is a block diagram of the X-ray inspection apparatus of one Embodiment. 図1に示されるシールドボックスの内部の構成図である。It is a block diagram of the inside of the shield box shown in FIG. (a)は、物品の第1部分についての輝度値のヒストグラムであり、(b)は、第1処理に用いられる輝度値と乗数との関係を示すグラフある。(A) is a histogram of the luminance value for the first part of the article, and (b) is a graph showing the relationship between the luminance value used for the first processing and the multiplier. (a)は、物品の第2部分についての輝度値のヒストグラムであり、(b)は、第2処理に用いられる輝度値と乗数との関係を示すグラフある。(A) is a histogram of the luminance value for the second part of the article, and (b) is a graph showing the relationship between the luminance value used in the second processing and the multiplier. 物品と、第1処理の実施により取得された輝度値の差分と、第2処理の実施により取得された輝度値の差分との関係を示す図である。It is a figure which shows the relationship between the article, the difference of the luminance value acquired by the execution of the 1st process, and the difference of the luminance value acquired by the execution of the 2nd process.

以下、本発明の実施形態について、図面を参照して詳細に説明する。なお、各図において同一又は相当部分には同一符号を付し、重複する説明を省略する。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. In each figure, the same or corresponding parts are designated by the same reference numerals, and duplicate description will be omitted.

図1に示されるように、X線検査装置1は、装置本体2と、支持脚3と、シールドボックス4と、搬送部5と、X線照射部6と、X線検出部7と、表示操作部8と、制御部10と、を備えている。X線検査装置1は、物品Gを搬送しつつ物品GのX線透過画像を生成し、当該X線透過画像に基づいて物品Gの検査(例えば、収納数検査、異物混入検査、欠品検査、割れ欠け検査等)を行う。検査前の物品Gは、搬入コンベア51によってX線検査装置1に搬入される。検査後の物品Gは、搬出コンベア52によってX線検査装置1から搬出される。X線検査装置1によって不良品と判定された物品Gは、搬出コンベア52の下流に配置された振分装置(図示省略)よって生産ライン外に振り分けられる。X線検査装置1によって良品と判定された物品Gは、当該振分装置をそのまま通過する。 As shown in FIG. 1, the X-ray inspection apparatus 1 displays an apparatus main body 2, a support leg 3, a shield box 4, a transport unit 5, an X-ray irradiation unit 6, and an X-ray detection unit 7. It includes an operation unit 8 and a control unit 10. The X-ray inspection device 1 generates an X-ray transmission image of the article G while transporting the article G, and inspects the article G based on the X-ray transmission image (for example, storage quantity inspection, foreign matter contamination inspection, missing item inspection). , Crack chip inspection, etc.). The article G before inspection is carried into the X-ray inspection device 1 by the carry-in conveyor 51. The article G after inspection is carried out from the X-ray inspection device 1 by the carry-out conveyor 52. The article G determined to be defective by the X-ray inspection device 1 is sorted out of the production line by a sorting device (not shown) arranged downstream of the carry-out conveyor 52. The article G determined to be a good product by the X-ray inspection device 1 passes through the sorting device as it is.

装置本体2は、制御部10等を収容している。支持脚3は、装置本体2を支持している。シールドボックス4は、装置本体2に設けられている。シールドボックス4は、外部へのX線の漏洩を防止する。シールドボックス4の内部には、X線による物品Gの検査が実施される検査領域Rが設けられている。シールドボックス4には、搬入口4a及び搬出口4bが形成されている。検査前の物品Gは、搬入コンベア51から搬入口4aを介して検査領域Rに搬入される。検査後の物品Gは、検査領域Rから搬出口4bを介して搬出コンベア52に搬出される。搬入口4a及び搬出口4bのそれぞれには、X線の漏洩を防止するX線遮蔽カーテン(図示省略)が設けられている。 The device main body 2 houses the control unit 10 and the like. The support legs 3 support the device main body 2. The shield box 4 is provided in the apparatus main body 2. The shield box 4 prevents X-rays from leaking to the outside. Inside the shield box 4, an inspection area R for inspecting the article G by X-ray is provided. The shield box 4 is formed with a carry-in inlet 4a and a carry-out port 4b. The article G before inspection is carried from the carry-in conveyor 51 into the inspection area R via the carry-in inlet 4a. The article G after the inspection is carried out from the inspection area R to the carry-out conveyor 52 via the carry-out port 4b. Each of the carry-in inlet 4a and the carry-out outlet 4b is provided with an X-ray shielding curtain (not shown) for preventing X-ray leakage.

搬送部5は、シールドボックス4内に配置されている。搬送部5は、搬入口4aから検査領域Rを介して搬出口4bまで、搬送方向Aに沿って物品Gを搬送する。搬送部5は、例えば、搬入口4aと搬出口4bとの間に掛け渡されたベルトコンベアである。 The transport unit 5 is arranged in the shield box 4. The transport unit 5 transports the article G from the carry-in inlet 4a to the carry-out port 4b via the inspection area R along the transport direction A. The transport unit 5 is, for example, a belt conveyor spanned between the carry-in inlet 4a and the carry-out port 4b.

図1及び図2に示されるように、X線照射部6は、シールドボックス4内に配置されている。X線照射部6は、搬送部5によって搬送される物品GにX線を照射する。X線照射部6は、例えば、X線を出射するX線管と、X線管から出射されたX線を搬送方向Aに垂直な面内において扇状に広げるコリメータと、を有している。 As shown in FIGS. 1 and 2, the X-ray irradiation unit 6 is arranged in the shield box 4. The X-ray irradiation unit 6 irradiates the article G transported by the transport unit 5 with X-rays. The X-ray irradiation unit 6 has, for example, an X-ray tube that emits X-rays and a collimator that spreads the X-rays emitted from the X-ray tube in a fan shape in a plane perpendicular to the transport direction A.

X線検出部7は、シールドボックス4内に配置されている。X線検出部7は、第1ラインセンサ11と、第2ラインセンサ12と、を有している。第1ラインセンサ11及び第2ラインセンサ12は、それぞれ、搬送方向Aに垂直な水平方向に沿って一次元に配列されたX線検出素子によって構成されている。第1ラインセンサ11は、物品G及び搬送部5の搬送ベルトを透過した低エネルギー帯(第1エネルギー帯)のX線を検出する。第2ラインセンサ12は、物品G、搬送部5の搬送ベルト及び第1ラインセンサ11を透過した高エネルギー帯(第2エネルギー帯)のX線を検出する。 The X-ray detection unit 7 is arranged in the shield box 4. The X-ray detection unit 7 has a first line sensor 11 and a second line sensor 12. The first line sensor 11 and the second line sensor 12 are each composed of X-ray detection elements arranged one-dimensionally along a horizontal direction perpendicular to the transport direction A. The first line sensor 11 detects X-rays in the low energy band (first energy band) that have passed through the article G and the transport belt of the transport unit 5. The second line sensor 12 detects X-rays in the high energy band (second energy band) transmitted through the article G, the transport belt of the transport unit 5, and the first line sensor 11.

図1に示されるように、表示操作部8は、装置本体2に設けられている。表示操作部8は、各種情報を表示すると共に、各種条件の入力を受け付ける。表示操作部8は、例えば、液晶ディスプレイであり、タッチパネルとしての操作画面を表示する。この場合、オペレータは、表示操作部8を介して各種条件を入力することができる。 As shown in FIG. 1, the display operation unit 8 is provided in the apparatus main body 2. The display operation unit 8 displays various information and accepts input of various conditions. The display operation unit 8 is, for example, a liquid crystal display and displays an operation screen as a touch panel. In this case, the operator can input various conditions via the display operation unit 8.

制御部10は、装置本体2内に配置されている。制御部10は、X線検査装置1の各部の動作を制御する。制御部10は、CPU(Central Processing Unit)、ROM(Read Only Memory)、RAM(Random Access Memory)等で構成されている。制御部10には、X線検出部7の第1ラインセンサ11(図2参照)から低エネルギー帯のX線の検出結果(第1検出結果)が入力されると共に、X線検出部7の第2ラインセンサ12(図2参照)から高エネルギー帯のX線の検出結果(第2検出結果)が入力される。制御部10は、低エネルギー帯のX線の検出結果、及び高エネルギー帯のX線の検出結果に基づいて、物品Gに異物が含まれているか否かを判定する処理部として機能する。 The control unit 10 is arranged in the device main body 2. The control unit 10 controls the operation of each unit of the X-ray inspection device 1. The control unit 10 is composed of a CPU (Central Processing Unit), a ROM (Read Only Memory), a RAM (Random Access Memory), and the like. The low energy band X-ray detection result (first detection result) is input to the control unit 10 from the first line sensor 11 (see FIG. 2) of the X-ray detection unit 7, and the X-ray detection unit 7 The detection result (second detection result) of the X-ray in the high energy band is input from the second line sensor 12 (see FIG. 2). The control unit 10 functions as a processing unit for determining whether or not the article G contains a foreign substance based on the detection result of the X-ray in the low energy band and the detection result of the X-ray in the high energy band.

以上のように構成されたX線検査装置1において実施される異物検出処理の一例について説明する。以下の例は、図5の(a)に示されるように、第1物性を有する第1部分P1(例えば赤身)及び第2物性を有する第2部分P2(例えば脂身)を含む物品G(例えば牛肉)を検査対象として、異物F(例えば骨片)を検出する例である。なお、第1物性及び第2物性とは、X線の減衰特性(エネルギー特性)が互いに異なる物性を意味する。 An example of the foreign matter detection process performed in the X-ray inspection apparatus 1 configured as described above will be described. In the following example, as shown in FIG. 5A, an article G (eg, fat) comprising a first portion P1 having the first physical characteristics (eg, lean meat) and a second portion P2 having the second physical characteristics (eg, fat). This is an example of detecting a foreign substance F (for example, a bone fragment) using beef as an inspection target. The first and second physical properties mean physical properties in which the attenuation characteristics (energy characteristics) of X-rays are different from each other.

まず、第1部分P1のみを含む物品Gを用意し、当該物品GをX線検査装置1に掛ける。これにより、図3の(a)に示されるように、第1部分P1のみを含む物品Gについて、低エネルギー帯のX線の検出結果(破線)及び高エネルギー帯のX線の検出結果(実線)が取得される。図3の(a)は、第1部分P1のみを含む物品GのX線透過画像における輝度値のヒストグラムであり、縦軸の度数は、当該物品GのX線透過画像における画素数に相当する。 First, an article G containing only the first portion P1 is prepared, and the article G is hung on the X-ray inspection device 1. As a result, as shown in FIG. 3A, the detection result of X-rays in the low energy band (broken line) and the detection result of X-rays in the high energy band (solid line) for the article G containing only the first portion P1. ) Is acquired. FIG. 3A is a histogram of the luminance value in the X-ray transmission image of the article G containing only the first portion P1, and the frequency on the vertical axis corresponds to the number of pixels in the X-ray transmission image of the article G. ..

続いて、制御部10は、等しい度数Fにおいて、高エネルギー帯のX線の輝度値LHを低エネルギー帯のX線の輝度値LLに合わせるための乗数を算出する。制御部10は、当該乗数の算出を全ての度数について実施することにより、図3の(b)に示されるように、高エネルギー帯のX線の輝度値と乗数との関係を取得し、当該関係を記憶する。 Subsequently, the control unit 10 calculates a multiplier for matching the luminance value LH of the X-rays in the high energy band with the luminance value LL of the X-rays in the low energy band at the same frequency F. By performing the calculation of the multiplier for all frequencies, the control unit 10 acquires the relationship between the luminance value of the X-ray in the high energy band and the multiplier, as shown in FIG. 3B, and obtains the multiplier. Remember the relationship.

これにより、制御部10は、第1部分P1について取得された高エネルギー帯のX線の検出結果に対し輝度値ごとに乗数を掛けて輝度値を補正し、補正した高エネルギー帯のX線の検出結果と、第1部分P1について取得された低エネルギー帯のX線の検出結果との差分を画素ごとに取る第1処理を実施することが可能となる。つまり、第1処理は、予め第1部分P1について取得された高エネルギー帯のX線の検出結果及び低エネルギー帯のX線の検出結果において対応する画素間の輝度値を輝度値ごとに合わせ込む処理といえる。更に、第1処理は、予め第1部分P1について取得された高エネルギー帯のX線の検出結果及び低エネルギー帯のX線の検出結果を合わせ込む処理といえる。 As a result, the control unit 10 corrects the brightness value by multiplying the detection result of the high energy band X-rays acquired for the first portion P1 by a multiplier for each brightness value, and corrects the corrected high energy band X-rays. It is possible to carry out the first process of taking the difference between the detection result and the detection result of the X-ray in the low energy band acquired for the first portion P1 for each pixel. That is, in the first process, the luminance values between the corresponding pixels in the high-energy band X-ray detection result and the low-energy band X-ray detection result acquired in advance for the first portion P1 are adjusted for each luminance value. It can be said to be processing. Further, it can be said that the first process is a process of combining the detection result of the high energy band X-ray and the detection result of the low energy band X-ray acquired in advance for the first portion P1.

以上の第1処理の実施の準備を行う一方で、第2部分P2のみを含む物品Gを用意し、当該物品GをX線検査装置1に掛ける。これにより、図4の(a)に示されるように、第2部分P2のみを含む物品Gについて、低エネルギー帯のX線の検出結果(破線)及び高エネルギー帯のX線の検出結果(実線)が取得される。図4の(a)は、第2部分P2のみを含む物品GのX線透過画像における輝度値のヒストグラムであり、縦軸の度数は、当該物品GのX線透過画像における画素数に相当する。 While preparing for the implementation of the above first treatment, an article G containing only the second portion P2 is prepared, and the article G is hung on the X-ray inspection apparatus 1. As a result, as shown in FIG. 4A, the detection result of X-rays in the low energy band (broken line) and the detection result of X-rays in the high energy band (solid line) for the article G containing only the second portion P2. ) Is acquired. FIG. 4A is a histogram of the luminance value in the X-ray transmission image of the article G containing only the second portion P2, and the frequency on the vertical axis corresponds to the number of pixels in the X-ray transmission image of the article G. ..

続いて、制御部10は、等しい度数Fにおいて、高エネルギー帯のX線の輝度値LHを低エネルギー帯のX線の輝度値LLに合わせるための乗数を算出する。制御部10は、当該乗数の算出を全ての度数について実施することにより、図4の(b)に示されるように、高エネルギー帯のX線の輝度値と乗数との関係を取得し、当該関係を記憶する。 Subsequently, the control unit 10 calculates a multiplier for matching the luminance value LH of the X-rays in the high energy band with the luminance value LL of the X-rays in the low energy band at the same frequency F. By performing the calculation of the multiplier for all frequencies, the control unit 10 acquires the relationship between the luminance value of the X-ray in the high energy band and the multiplier, as shown in FIG. 4B, and obtains the multiplier. Remember the relationship.

これにより、制御部10は、第2部分P2について取得された高エネルギー帯のX線の検出結果に対し輝度値ごとに乗数を掛けて輝度値を補正し、補正した高エネルギー帯のX線の検出結果と、第2部分P2について取得された低エネルギー帯のX線の検出結果との差分を画素ごとに取る第2処理を実施することが可能となる。つまり、第2処理は、予め第2部分P2について取得された高エネルギー帯のX線の検出結果及び低エネルギー帯のX線の検出結果において対応する画素間の輝度値を輝度値ごとに合わせ込む処理といえる。更に、第2処理は、予め第2部分P2について取得された高エネルギー帯のX線の検出結果及び低エネルギー帯のX線の検出結果を合わせ込む処理といえる。 As a result, the control unit 10 corrects the brightness value by multiplying the detection result of the high energy band X-rays acquired for the second portion P2 by a multiplier for each brightness value, and corrects the corrected high energy band X-rays. It is possible to carry out the second process of taking the difference between the detection result and the detection result of the X-ray in the low energy band acquired for the second portion P2 for each pixel. That is, in the second process, the luminance values between the corresponding pixels in the high-energy band X-ray detection result and the low-energy band X-ray detection result acquired in advance for the second portion P2 are adjusted for each luminance value. It can be said to be processing. Further, it can be said that the second process is a process of combining the detection result of the high energy band X-ray and the detection result of the low energy band X-ray acquired in advance for the second portion P2.

以上の第1処理の実施の準備及び第2処理の実施の準備を行った後に、図5に示されるように、第1物性を有する第1部分P1及び第2物性を有する第2部分P2を含む物品Gの検査を開始する。 After preparing for the implementation of the first treatment and the preparation for the implementation of the second treatment, as shown in FIG. 5, the first portion P1 having the first physical characteristics and the second portion P2 having the second physical characteristics are provided. The inspection of the containing article G is started.

まず、制御部10は、第1部分P1及び第2部分P2を含む物品Gについて取得された高エネルギー帯のX線の検出結果及び低エネルギー帯のX線の検出結果を用いて、物品Gの全体に対応する領域について第1処理を実施することにより、図5の(b)に示されるように、輝度値の差分を取得する。続いて、制御部10は、当該輝度値の差分と予め設定された第1閾値T1とを比較し、第1閾値T1を超えた領域を、異物Fに対応する領域と判定する。このように、制御部10は、第1部分P1及び第2部分P2を含む物品Gについて取得された高エネルギー帯のX線の検出結果及び低エネルギー帯のX線の検出結果を用いて、物品Gの全体に対応する領域について第1処理を実施することにより、第1部分P1に異物Fが含まれているか否かを判定する。 First, the control unit 10 uses the high-energy band X-ray detection result and the low-energy band X-ray detection result acquired for the article G including the first portion P1 and the second portion P2 to obtain the article G. By performing the first processing on the region corresponding to the whole, the difference in the brightness value is acquired as shown in FIG. 5 (b). Subsequently, the control unit 10 compares the difference in the luminance value with the preset first threshold value T1, and determines that the region exceeding the first threshold value T1 is the region corresponding to the foreign matter F. As described above, the control unit 10 uses the high-energy band X-ray detection result and the low-energy band X-ray detection result acquired for the article G including the first portion P1 and the second portion P2 to form the article. By performing the first treatment on the region corresponding to the entire region of G, it is determined whether or not the first portion P1 contains the foreign matter F.

その一方で、制御部10は、第1部分P1及び第2部分P2を含む物品Gについて取得された高エネルギー帯のX線の検出結果及び低エネルギー帯のX線の検出結果(上述したものと同一の検出結果)を用いて、物品Gの全体に対応する領域について第2処理を実施することにより、図5の(c)に示されるように、輝度値の差分を取得する。続いて、制御部10は、当該輝度値の差分と予め設定された第2閾値T2とを比較し、第2閾値T2を超えた領域を、異物Fに対応する領域と判定する。このように、制御部10は、第1部分P1及び第2部分P2を含む物品Gについて取得された高エネルギー帯のX線の検出結果及び低エネルギー帯のX線の検出結果を用いて、物品Gの全体に対応する領域について第2処理を実施することにより、第2部分P2に異物Fが含まれているか否かを判定する。 On the other hand, the control unit 10 has a high-energy band X-ray detection result and a low-energy band X-ray detection result (as described above) acquired for the article G including the first portion P1 and the second portion P2. By performing the second processing on the region corresponding to the entire article G using the same detection result), the difference in the brightness value is acquired as shown in FIG. 5 (c). Subsequently, the control unit 10 compares the difference in the luminance value with the preset second threshold value T2, and determines that the region exceeding the second threshold value T2 is the region corresponding to the foreign matter F. As described above, the control unit 10 uses the high-energy band X-ray detection result and the low-energy band X-ray detection result acquired for the article G including the first portion P1 and the second portion P2 to form the article. By performing the second treatment on the region corresponding to the entire region of G, it is determined whether or not the second portion P2 contains the foreign matter F.

図5の(b)及び(c)には、図5の(a)に示される一点鎖線上に位置する画素の輝度値の差分が示されている。図5の(b)では、第1部分P1に相当する領域において、第2部分P2に相当する領域よりもノイズが小さくなっており、第1部分P1に含まれる異物Fに相当する領域において、輝度値の差分が第1閾値T1を超えている(すなわち、第1部分P1に含まれる異物Fが検出されている)。これは、図5の(b)に示される輝度値の差分が、予め第1部分P1について取得された高エネルギー帯のX線の検出結果及び低エネルギー帯のX線の検出結果を合わせ込む第1処理を実施した結果だからである。 (B) and (c) of FIG. 5 show the difference in the luminance values of the pixels located on the one-point chain line shown in (a) of FIG. In FIG. 5B, the noise is smaller in the region corresponding to the first portion P1 than in the region corresponding to the second portion P2, and in the region corresponding to the foreign matter F contained in the first portion P1, the region corresponds to the foreign matter F. The difference between the luminance values exceeds the first threshold value T1 (that is, the foreign matter F contained in the first portion P1 is detected). This is because the difference in the luminance values shown in FIG. 5B is combined with the high-energy band X-ray detection result and the low-energy band X-ray detection result previously acquired for the first portion P1. This is because it is the result of performing one process.

その一方で、図5の(c)では、第2部分P2に相当する領域において、第1部分P1に相当する領域よりもノイズが小さくなっており、第2部分P2に含まれる異物Fに相当する領域において、輝度値の差分が第2閾値T2を超えている(すなわち、第2部分P2に含まれる異物Fが検出されている)。これは、図5の(c)に示される輝度値の差分が、予め第2部分P2について取得された高エネルギー帯のX線の検出結果及び低エネルギー帯のX線の検出結果を合わせ込む第2処理を実施した結果だからである。 On the other hand, in FIG. 5C, the noise is smaller in the region corresponding to the second portion P2 than in the region corresponding to the first portion P1, which corresponds to the foreign matter F contained in the second portion P2. In the region where the noise is generated, the difference between the luminance values exceeds the second threshold value T2 (that is, the foreign matter F contained in the second portion P2 is detected). This is because the difference in the luminance values shown in FIG. 5 (c) combines the high-energy band X-ray detection results and the low-energy band X-ray detection results previously acquired for the second portion P2. This is because it is the result of performing two treatments.

以上説明したように、X線検査装置1では、第1部分P1に異物Fが含まれているか否かを判定するために、予め第1部分P1について取得された高エネルギー帯のX線の検出結果及び低エネルギー帯のX線の検出結果を合わせ込む第1処理が実施される。また、第2部分P2に異物Fが含まれているか否かを判定するために、予め第2部分P2について取得された高エネルギー帯のX線の検出結果及び低エネルギー帯のX線の検出結果を合わせ込む第2処理が実施される。これらにより、例えば、第1部分P1に異物Fが含まれているか否か、及び第2部分P2に異物Fが含まれているか否かを判定するために、高エネルギー帯のX線の検出結果及び低エネルギー帯のX線の検出結果を合わせ込む同一の処理が実施される場合に比べ、異物Fが第1部分P1に含まれているか第2部分P2に含まれているかにかかわらず、異物Fを精度良く検出することができる。よって、X線検査装置1によれば、第1物性を有する第1部分P1、及び第2物性を有する第2部分P2を含む物品Gにおいて、異物Fを精度良く検出することができる。 As described above, the X-ray inspection apparatus 1 detects high-energy band X-rays previously acquired for the first portion P1 in order to determine whether or not the first portion P1 contains a foreign substance F. The first process of combining the result and the detection result of the X-ray in the low energy band is carried out. Further, in order to determine whether or not the second portion P2 contains a foreign substance F, the detection result of the high energy band X-ray and the detection result of the low energy band X-ray acquired in advance for the second portion P2. The second process is carried out. Based on these, for example, in order to determine whether or not the first portion P1 contains the foreign matter F and whether or not the second portion P2 contains the foreign matter F, the detection result of X-rays in the high energy band And, compared to the case where the same process of combining the detection results of X-rays in the low energy band is performed, the foreign matter F is contained in the first portion P1 or the second portion P2, regardless of whether the foreign matter F is contained in the foreign matter P2. F can be detected with high accuracy. Therefore, according to the X-ray inspection apparatus 1, the foreign matter F can be accurately detected in the article G including the first portion P1 having the first physical characteristics and the second portion P2 having the second physical characteristics.

一例として、第1処理は、予め第1部分P1について取得された高エネルギー帯のX線の検出結果及び低エネルギー帯のX線の検出結果において対応する画素間の輝度値を輝度値ごとに合わせ込む処理である。また、第2処理は、予め第2部分P2について取得された高エネルギー帯のX線の検出結果及び低エネルギー帯のX線の検出結果において対応する画素間の輝度値を輝度値ごとに合わせ込む処理である。これにより、第1部分P1に異物Fが含まれているか否か、及び第2部分P2に異物Fが含まれているか否かを好適に判定することができる。 As an example, in the first process, the luminance values between the corresponding pixels in the high-energy band X-ray detection result and the low-energy band X-ray detection result acquired in advance for the first portion P1 are adjusted for each luminance value. It is a process to incorporate. Further, in the second process, the luminance values between the corresponding pixels in the high-energy band X-ray detection result and the low-energy band X-ray detection result acquired in advance for the second portion P2 are adjusted for each luminance value. It is a process. Thereby, it is possible to suitably determine whether or not the first portion P1 contains the foreign matter F and whether or not the second portion P2 contains the foreign matter F.

制御部10は、物品Gについて取得された高エネルギー帯のX線の検出結果及び低エネルギー帯のX線の検出結果を用いて、物品Gの全体に対応する領域について第1処理を実施することにより、第1部分P1に異物Fが含まれているか否かを判定する。また、制御部10は、物品Gについて取得された高エネルギー帯のX線の検出結果及び低エネルギー帯のX線の検出結果を用いて、物品Gの全体に対応する領域について第2処理を実施することにより、第2部分P2に異物Fが含まれているか否かを判定する。これにより、第1部分P1に異物Fが含まれているか否か、及び第2部分P2に異物Fが含まれているか否かを簡易に且つ精度良く判定することができる。 The control unit 10 uses the high-energy band X-ray detection result and the low-energy band X-ray detection result acquired for the article G to perform the first process for the region corresponding to the entire article G. Therefore, it is determined whether or not the first portion P1 contains the foreign matter F. Further, the control unit 10 performs the second processing on the region corresponding to the entire article G by using the detection result of the high energy band X-ray and the detection result of the low energy band X-ray acquired for the article G. By doing so, it is determined whether or not the second portion P2 contains the foreign matter F. Thereby, it is possible to easily and accurately determine whether or not the first portion P1 contains the foreign matter F and whether or not the second portion P2 contains the foreign matter F.

以上、本発明の一実施形態について説明したが、本発明は、上述した実施形態に限定されない。例えば、制御部10は、物品Gについて取得された高エネルギー帯のX線の検出結果及び低エネルギー帯のX線の検出結果を用いて、第1部分P1に対応する第1領域について第1処理を実施することにより、第1部分P1に異物Fが含まれているか否かを判定し、物品Gについて取得された高エネルギー帯のX線の検出結果及び低エネルギー帯のX線の検出結果を用いて、第2部分P2に対応する第2領域について第2処理を実施することにより、第2部分P2に異物Fが含まれているか否かを判定してもよい。この場合、制御部10は、物品Gについて取得された高エネルギー帯のX線の検出結果及び低エネルギー帯のX線の検出結果の少なくとも1つに基づいて、物品Gにおいて第1部分P1に対応する第1領域及び第2部分P2に対応する第2領域を予め抽出する。これによれば、第1部分P1に異物Fが含まれているか否か、及び第2部分P2に異物Fが含まれているか否かをより精度良く判定することができる。 Although one embodiment of the present invention has been described above, the present invention is not limited to the above-described embodiment. For example, the control unit 10 uses the high-energy band X-ray detection result and the low-energy band X-ray detection result acquired for the article G to perform the first processing for the first region corresponding to the first portion P1. By carrying out, it is determined whether or not the first portion P1 contains a foreign substance F, and the detection result of the high energy band X-ray and the low energy band X-ray detection result acquired for the article G are obtained. It may be used to determine whether or not the second portion P2 contains a foreign substance F by performing the second treatment on the second region corresponding to the second portion P2. In this case, the control unit 10 corresponds to the first portion P1 in the article G based on at least one of the high energy band X-ray detection result and the low energy band X-ray detection result acquired for the article G. The second region corresponding to the first region and the second portion P2 to be used is extracted in advance. According to this, it is possible to more accurately determine whether or not the first portion P1 contains the foreign matter F and whether or not the second portion P2 contains the foreign matter F.

また、物品Gについては、例えば、2種類の食品が互いに隔てられた状態で1つのパッケージに収容されているような場合に、一方の種類の食品を第1部分P1と捉え、他方の種類の食品を第2部分P2と捉えることができる。つまり、第1物性を有する第1部分P1及び第2物性を有する第2部分P2は、物品Gにおいて一体として存在する場合に限定されず、例えば1つのパッケージ内において、別々に存在する場合もある。 Regarding the article G, for example, when two kinds of foods are contained in one package while being separated from each other, one kind of food is regarded as the first portion P1 and the other kind of foods. Food can be regarded as the second part P2. That is, the first portion P1 having the first physical characteristic and the second portion P2 having the second physical characteristic are not limited to the case where they exist as one in the article G, and may exist separately in, for example, one package. ..

なお、第1部分P1及び第2部分P2が別々に存在する場合には、第2部分P2に対応する第2領域にマスク処理を施した状態で、第1部分P1に対応する第1領域について第1処理を実施することにより、第1部分P1に異物Fが含まれているか否かを判定し、第1部分P1に対応する第1領域にマスク処理を施した状態で、第2部分P2に対応する第2領域について第2処理を実施することにより、第2部分P2に異物Fが含まれているか否かを判定することが、有効である。また、例えば、X線の減衰特性が内容物とは異なる容器内に当該内容物が検査対象として収容されているような場合には、当該容器の縁、仕切り等に相当する領域にマスク処理を施した上で、当該内容物に異物Fが含まれているか否かを判定することができる。 When the first portion P1 and the second portion P2 exist separately, the first region corresponding to the first portion P1 is covered with the mask processing applied to the second region corresponding to the second portion P2. By carrying out the first treatment, it is determined whether or not the first portion P1 contains the foreign matter F, and the second portion P2 is in a state where the first region corresponding to the first portion P1 is masked. It is effective to determine whether or not the second portion P2 contains the foreign matter F by performing the second treatment on the second region corresponding to the above. Further, for example, when the content is contained as an inspection target in a container whose X-ray attenuation characteristic is different from that of the content, a mask treatment is applied to the area corresponding to the edge, partition, etc. of the container. After the application, it can be determined whether or not the content contains a foreign substance F.

また、制御部10は、等しい度数Fにおいて、低エネルギー帯のX線の輝度値LLを高エネルギー帯のX線の輝度値LHに合わせるための乗数を算出し、当該乗数の算出を全ての度数について実施することにより、低エネルギー帯のX線の輝度値と乗数との関係を取得し、当該関係を記憶してもよい。その場合、制御部10は、第1部分P1について取得された低エネルギー帯のX線の検出結果に対し輝度値ごとに乗数を掛けて輝度値を補正し、補正した低エネルギー帯のX線の検出結果と、第1部分P1について取得された高エネルギー帯のX線の検出結果との差分を画素ごとに取る第1処理を実施する。また、制御部10は、第2部分P2について取得された低エネルギー帯のX線の検出結果に対し輝度値ごとに乗数を掛けて輝度値を補正し、補正した低エネルギー帯のX線の検出結果と、第2部分P2について取得された高エネルギー帯のX線の検出結果との差分を画素ごとに取る第2処理を実施する。 Further, the control unit 10 calculates a multiplier for matching the luminance value LL of the X-rays in the low energy band with the luminance value LH of the X-rays in the high energy band at the same frequency F, and calculates the multiplier for all the frequencies. By carrying out the above, the relationship between the luminance value of the X-ray in the low energy band and the multiplier may be acquired and the relationship may be stored. In that case, the control unit 10 corrects the brightness value by multiplying the detection result of the low energy band X-rays acquired for the first portion P1 by a multiplier for each brightness value, and corrects the corrected low energy band X-rays. The first process of taking the difference between the detection result and the detection result of the X-ray in the high energy band acquired for the first portion P1 is performed for each pixel. Further, the control unit 10 corrects the brightness value by multiplying the detection result of the low energy band X-rays acquired for the second portion P2 by a multiplier for each brightness value, and detects the corrected low energy band X-rays. The second process of taking the difference between the result and the detection result of the X-ray in the high energy band acquired for the second portion P2 is performed for each pixel.

また、互いに異なる3つ以上の物性を有する3つ以上の部分を含む物品Gを検査対象とすることも可能である。その場合にも、それぞれの部分について、高エネルギー帯のX線の検出結果及び低エネルギー帯のX線の検出結果を合わせ込む処理を予め準備すればよい。 It is also possible to inspect an article G containing three or more parts having three or more different physical properties from each other. Even in that case, it is sufficient to prepare in advance a process for combining the detection result of the high energy band X-ray and the detection result of the low energy band X-ray for each portion.

1…X線検査装置、6…X線照射部、7…X線検出部、10…制御部(処理部)、G…物品、P1…第1部分、P2…第2部分、F…異物。 1 ... X-ray inspection device, 6 ... X-ray irradiation unit, 7 ... X-ray detection unit, 10 ... Control unit (processing unit), G ... Article, P1 ... 1st part, P2 ... 2nd part, F ... Foreign matter.

Claims (3)

第1物性を有する第1部分、及び第2物性を有する第2部分を含む物品にX線を照射するX線照射部と、
前記物品を透過した第1エネルギー帯のX線、及び前記物品を透過した第2エネルギー帯のX線を検出するX線検出部と、
前記第1エネルギー帯のX線の第1検出結果、及び前記第2エネルギー帯のX線の第2検出結果に基づいて、前記物品に異物が含まれているか否かを判定する処理部と、を備え、
前記処理部は、
前記物品について取得された前記第1検出結果及び前記第2検出結果の一方に対し輝度値ごとに第1乗数を掛けて輝度値を補正して得られた結果と、前記第1検出結果及び前記第2検出結果の他方との差分を画素ごとに取る第1処理を実施することにより、前記第1部分に前記異物が含まれているか否かを判定し、
前記物品について取得された前記第1検出結果及び前記第2検出結果の一方に対し輝度値ごとに第2乗数を掛けて輝度値を補正して得られた結果と、前記第1検出結果及び前記第2検出結果の他方との差分を画素ごとに取る第2処理を実施することにより、前記第2部分に前記異物が含まれているか否かを判定し、
前記第1乗数は、予め前記第1部分について取得された前記第1エネルギー帯のX線透過像における輝度値のヒストグラム、及び予め前記第1部分について取得された前記第2エネルギー帯のX線透過像における輝度値のヒストグラムにおいて、各度数について、前記第2エネルギー帯のX線の輝度値と前記第1エネルギー帯のX線の輝度値とを合わせるための乗数に相当し
前記第2乗数は、予め前記第2部分について取得された前記第1エネルギー帯のX線透過像における輝度値のヒストグラム、及び予め前記第2部分について取得された前記第2エネルギー帯のX線透過像における輝度値のヒストグラムにおいて、各度数について、前記第2エネルギー帯のX線の輝度値と前記第1エネルギー帯のX線の輝度値とを合わせるための乗数に相当する、X線検査装置。
An X-ray irradiation unit that irradiates an article containing a first portion having a first physical property and a second portion having a second physical property with X-rays.
An X-ray detector that detects X-rays in the first energy band that has passed through the article and X-rays in the second energy band that has passed through the article.
Based on the first detection result of X-rays in the first energy band and the second detection result of X-rays in the second energy band, a processing unit for determining whether or not the article contains foreign matter, and a processing unit. Equipped with
The processing unit
The result obtained by multiplying one of the first detection result and the second detection result acquired for the article by the first multiplier for each brightness value and correcting the brightness value, the first detection result and the above. By performing the first process of taking the difference between the second detection result and the other for each pixel, it is determined whether or not the foreign matter is contained in the first portion.
The result obtained by multiplying one of the first detection result and the second detection result acquired for the article by a second multiplier for each brightness value to correct the brightness value, the first detection result and the above. By performing the second process of taking the difference between the second detection result and the other for each pixel, it is determined whether or not the foreign matter is contained in the second portion.
The first multiplier is a histogram of the luminance value in the X-ray transmission image of the first energy band previously acquired for the first portion, and the X-ray transmission of the second energy band previously acquired for the first portion. In the luminance value histogram in the image, each frequency corresponds to a multiplier for matching the luminance value of the X-ray in the second energy band and the luminance value of the X-ray in the first energy band .
The second multiplier is a histogram of the luminance value in the X-ray transmission image of the first energy band previously acquired for the second portion, and the X-ray transmission of the second energy band previously acquired for the second portion. in the histogram of luminance values in the image, for each frequency, it corresponds to multiplier for combining the luminance values of the X-ray intensity value from the first energy band of the X-ray of the second energy band, X-ray examination apparatus ..
前記処理部は、
前記物品について取得された前記第1検出結果及び前記第2検出結果を用いて、前記物品の全体に対応する領域について前記第1処理を実施することにより、前記第1部分に前記異物が含まれているか否かを判定し、
前記物品について取得された前記第1検出結果及び前記第2検出結果を用いて、前記物品の全体に対応する前記領域について前記第2処理を実施することにより、前記第2部分に前記異物が含まれているか否かを判定する、請求項1に記載のX線検査装置。
The processing unit
By performing the first treatment on the region corresponding to the entire article using the first detection result and the second detection result acquired for the article, the foreign matter is contained in the first portion. Judge whether or not it is
By performing the second treatment on the region corresponding to the entire article using the first detection result and the second detection result acquired for the article, the foreign matter is contained in the second portion. The X-ray inspection apparatus according to claim 1, wherein it is determined whether or not the X-ray is used.
前記処理部は、
前記物品について取得された前記第1検出結果及び前記第2検出結果の少なくとも1つに基づいて、当該物品において前記第1部分に対応する第1領域及び前記第2部分に対応する第2領域を抽出し、
前記物品について取得された前記第1検出結果及び前記第2検出結果を用いて、前記第1領域について前記第1処理を実施することにより、前記第1部分に前記異物が含まれているか否かを判定し、
前記物品について取得された前記第1検出結果及び前記第2検出結果を用いて、前記第2領域について前記第2処理を実施することにより、前記第2部分に前記異物が含まれているか否かを判定する、請求項1に記載のX線検査装置。
The processing unit
Based on at least one of the first detection result and the second detection result acquired for the article, the first region corresponding to the first portion and the second region corresponding to the second portion in the article are defined. Extract and
Whether or not the foreign matter is contained in the first portion by performing the first treatment on the first region using the first detection result and the second detection result acquired for the article. Judging,
Whether or not the foreign matter is contained in the second portion by performing the second treatment on the second region using the first detection result and the second detection result acquired for the article. The X-ray inspection apparatus according to claim 1.
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