JP6980082B2 - 環境形成システム及びコントローラー - Google Patents

Description

本発明は、試料の周囲環境を調整する環境形成システムに関する。

従来から、環境試験装置や熱処理装置等の環境形成装置を備え、温度や湿度等の試料の周囲の環境（以降、周囲環境）を調整する環境形成システムが知られている。また、このような環境形成システムでは、例えば特許文献１（段落〔００２９〕、図３）等に記載のように、試料の周囲環境（室温ＲＴ）の目標値を所定の時間間隔で自動的に変更するプログラム運転を行うことが知られている。

具体的には、プログラム運転を行う事前に、ユーザによって、図９に示すような、試料の周囲環境（例：温度、湿度）の目標値と時間とを対応付けたテーブルが設定される。プログラム運転が開始されると、先ず、試料の周囲環境を当該テーブルの第１行目に設定された目標値（例：「２０．０℃」、「３０％ｒｈ」）となるように調整する環境調整処理が実行される。そして、当該環境調整処理の開始時点からの経過時間（以降、実行時間）が、当該目標値に対応付けられた時間（例：「２：００」）に到達すると、前記周囲環境を第２行目に設定された目標値（例：「１０．０℃」、「５０％ｒｈ」）となるように調整する環境調整処理が実行される。このようにして、試料の周囲環境を調整する環境調整処理の実行時間が所定時間に到達したタイミングで、次の環境調整処理を実行することが繰り返される。

特開２０００−２１４９３３号公報

しかし、上記の従来技術では、試料の状態を何ら考慮せず、環境調整処理の実行時間が所定時間に到達したタイミングで次の環境調整処理が実行される。このため、試料の状態が次の環境調整処理を実行するために必要な条件（以降、移行条件）を満たしていないにもかかわらず、次の環境調整処理が実行される虞があった。これにより、試料に十分な負荷が与えられないまま、複数の環境調整処理が終了する虞があった。その結果、複数の環境調整処理を最初からやり直すこととなり、複数の環境調整処理を終了するまでに要する時間が長くなる虞があった。

このような問題を回避するため、前記所定時間を長くすることが考えられる。しかし、この場合、各環境調整処理の実行時間が無駄に長くなる虞があった。また、各環境調整処理を実行している間、試料の状態を検出し、当該検出した結果に基づいて前記所定時間を適切な時間に設定することが考えられる。しかし、この場合、複数の環境調整処理を開始する事前の準備に要する時間が長くなる虞があった。

また、上記の従来技術では、試料の状態が移行条件を満たしているにも関わらず、当該環境調整処理の実行時間が所定時間に到達していないため、実行中の環境調整処理が無駄に継続される虞があった。その結果、試料に余計な負荷が与えられ、試料を劣化させる虞があった。

本発明は、上記事情に鑑みてなされた発明であり、試料に対する複数の環境調整処理に要する時間が長くなる虞を軽減し、且つ、試料を劣化させる虞を低減することができる環境形成装置を提供することを目的とする。

本発明による環境形成システムは、試料の状態を検出する状態センサーと、前記試料の周囲環境を調整する複数の環境調整処理を所定の順序で一つずつ順次実行する実行部と、一の前記環境調整処理を実行中に、前記状態センサーの検出値が当該一の環境調整処理の第一の移行条件を満たした場合、前記実行部に当該一の環境調整処理の次の前記環境調整処理を実行させる順序制御部と、を備える。

本構成によれば、一の環境調整処理を実行中に状態センサーの検出値である試料の状態が、当該一の環境調整処理の第一の移行条件を満たした場合に、次の環境調整処理が実行される。このため、試料の状態が実行中の環境調整処理の移行条件を満たしたタイミングで、次の環境調整処理を実行することができる。

これにより、試料の状態が実行中の環境調整処理の移行条件を満たしていないタイミングで次の環境調整処理を実行する虞を低減することができる。その結果、試料に十分な負荷が与えられないまま複数の環境調整処理が終了したために、複数の環境調整処理を最初からやり直すことで、複数の環境調整処理を終了するまでに要する時間が長くなる虞を軽減することができる。

また、試料の状態が実行中の環境調整処理の移行条件を満たしているにも関わらず、実行中の環境調整処理を無駄に継続する虞を低減することができる。その結果、環境調整処理を無駄に継続することによる時間の浪費を解消することができる。また、試料に余計な負荷を与えることで、試料を劣化させる虞を低減することができる。

また、前記第一の移行条件の設定画面を表示する表示部と、前記第一の移行条件の設定画面をユーザに操作させるための操作部と、を更に備えてもよい。

本構成によれば、ユーザは、第一の移行条件の設定画面を操作して、第一の移行条件を意図した通りに設定することができる。

また、前記試料の周囲環境を検出する環境センサーを更に備え、前記順序制御部は、更に、前記一の環境調整処理を実行中に、前記環境センサーの検出値が当該一の環境調整処理の第二の移行条件を満たした場合に、前記実行部に当該一の環境調整処理の次の前記環境調整処理を実行させてもよい。

本構成によれば、一の環境調整処理を実行中に、状態センサーの検出値である試料の状態が当該一の環境調整処理の第一の移行条件を満たし、更に、環境センサーの検出値である試料の周囲環境が当該一の環境調整処理の第二の移行条件を満たした場合に、次の環境調整処理が実行される。

このため、試料の状態が実行中の環境調整処理の移行条件を満たしていても、試料の周囲環境が実行中の環境調整処理の移行条件を満たしていない場合には、次の環境調整処理を実行することを回避することができる。これにより、試料の状態についてのみ移行条件を定める場合と比べて、より多くの移行条件を満たす、より適切なタイミングで次の環境調整処理を実行することができる。

また、前記順序制御部は、更に、前記一の環境調整処理を実行中に、当該一の環境調整処理の開始時点からの経過時間が当該一の環境調整処理の第三の移行条件を満たした場合に、前記実行部に当該一の環境調整処理の次の前記環境調整処理を実行させてもよい。

本構成によれば、一の環境調整処理を実行中に、状態センサーの検出値である試料の状態が当該一の環境調整処理の第一の移行条件を満たし、更に、当該一の環境調整処理の開始時点からの経過時間が当該一の環境調整処理の第三の移行条件を満たした場合に、次の環境調整処理が実行される。

このため、試料の状態が実行中の環境調整処理の移行条件を満たしていても、実行中の環境調整処理の開始時点からの経過時間が実行中の環境調整処理の移行条件を満たしていない場合には、次の環境調整処理を実行することを回避することができる。これにより、試料の状態についてのみ移行条件を定める場合と比べて、より多くの移行条件を満たす、より適切なタイミングで次の環境調整処理を実行することができる。

また、第一の前記環境調整処理と、当該第一の環境調整処理の第一の移行条件と、当該第一の環境調整処理の次に実行され得る第二の環境調整処理と、を対応付けた第一の調整フローを記憶する記憶部を更に備え、前記順序制御部は、前記第一の環境調整処理の実行中に前記第一の移行条件を満たした場合、前記第二の環境調整処理を前記実行部に実行させてもよい。

第一の環境調整処理の実行中に例えば状態センサーの検出値が第一の環境調整処理の第一の移行条件を満たした場合に第二の環境調整処理を実行することにより、試料の周囲環境を調整するものとする。本構成によれば、当該調整を行う度に、第一及び第二の環境調整処理の実行順や第一の環境調整処理の移行条件を定める手間をかけることなく、記憶部に記憶されている第一の調整フローを用いて迅速に当該調整を行うことができる。

また、第三の前記環境調整処理と、当該第三の環境調整処理の第二及び第三の移行条件と、当該第三の環境調整処理の次に実行され得る第四の環境調整処理と、を対応付けた第二の調整フローを記憶する記憶部を更に備え、前記順序制御部は、前記第三の環境調整処理の実行中に前記第二及び第三の移行条件を共に満たした場合、前記第四の環境調整処理を前記実行部に実行させてもよい。

第三の環境調整処理の実行中に例えば状態センサーの検出値が第三の環境調整処理の第二及び第三の移行条件を共に満たした場合に、第四の環境調整処理を実行することにより、試料の周囲環境を調整するものとする。上記の従来技術では、環境調整処理の移行条件を一つしか設定できないため、当該調整のように、複数の移行条件を全て満たした場合に次の環境調整処理を実行させることができなかった。

しかし、本構成によれば、第三及び第四の環境調整処理の実行順や第三の環境調整処理の第二及び第三の移行条件を定める手間をかけずに、記憶部に記憶されている第二の調整フローを用いて、迅速に当該調整を行うことができる。

また、第五の前記環境調整処理と、当該第五の環境調整処理の第四及び第五の移行条件と、を対応付け、更に、前記第四の移行条件と当該第五の環境調整処理の次に実行され得る第六の環境調整処理とを対応付け、更に、前記第五の移行条件と当該第五の環境調整処理の次に実行され得る第七の環境調整処理とを対応付けた第三の調整フローを記憶する記憶部を更に備え、前記順序制御部は、前記第五の環境調整処理の実行中において、前記第四の移行条件を満たした場合、前記第六の環境調整処理を前記実行部に実行させ、前記第五の移行条件を満たした場合、前記第七の環境調整処理を前記実行部に実行させてもよい。

第五の環境調整処理の実行中に、例えば状態センサーの検出値が第五の環境調整処理の第四の移行条件を満たした場合は、第六の環境調整処理を実行し、例えば状態センサーの検出値が第五の環境調整処理の第五の移行条件を満たした場合は、第七の環境調整処理を実行することで、試料の周囲環境を調整するものとする。上記の従来技術では、環境調整処理の移行条件を一つしか設定できないため、当該調整のように、複数の移行条件のうちの何れの移行条件を満たすかに応じて、次に実行させる環境調整処理を個別に設定することができなかった。

しかし、本構成によれば、第五、第六及び第七の環境調整処理の実行順や、第五の環境調整処理の第四及び第五の移行条件を定める手間をかけずに、記憶部に記憶されている第三の調整フローを用いて、迅速に当該調整を行うことができる。

また、記憶部と、一の前記環境調整処理と、当該一の環境調整処理の一以上の移行条件と、当該一の環境調整処理の次に実行され得る一以上の前記環境調整処理と、を対応付けた調整フローの編集画面を表示する表示部と、前記調整フローの編集画面をユーザに操作させるための操作部と、ユーザによる前記調整フローの編集画面の操作によって編集された前記調整フローを前記記憶部に記憶する編集部と、を更に備えてもよい。

本構成によれば、ユーザは、調整フローの編集画面を操作して、ユーザの意図した通りに調整フローを編集し、当該編集した調整フローを記憶部に記憶することができる。

また、前記調整フローを前記表示部に表示し、前記調整フローに含まれている実行中の前記環境調整処理を強調表示する表示制御部を更に備えてもよい。

本構成によれば、表示部に表示されている調整フローに含まれている実行中の環境調整処理が強調表示される。このため、ユーザは、複数の環境調整処理の進捗状況を容易に把握することができる。

本発明によれば、試料に対する複数の環境調整処理に要する時間が長くなる虞を軽減し、且つ、試料を劣化させる虞を低減することができる環境形成システムを提供することができる。

環境試験システムの全体像の一例を示す図である。 環境試験システムの機能構成の一例を示すブロック図である。 試験フローの編集画面の一例を示す図である。 試験処理の設定画面の一例を示す図である。 移行条件の設定画面の一例を示す図である。 試験フローに従って複数の試験処理を行う動作を示すフローチャートである。 試験フローに従って複数の試験処理を行う動作を示すフローチャートである。 環境試験システムの全体像の他の一例を示す図である。 従来のプログラム運転で用いられるテーブルの一例を示す図である。

（実施形態）
（システムの全体像）
以下、本発明に係る環境形成システムの一実施形態である環境試験システム１００について説明する。図１は、環境試験システム１００の全体像の一例を示す図である。図１に示すように、環境試験システム１００は、空気循環ファン８、状態センサー６、環境センサー７、計測器４、制御機器９及び環境試験器コントローラー１を備える。

空気循環ファン８は、環境試験器コントローラー１による制御の下、試験槽３内の空気を循環させる。図１における矢印は、空気循環ファン８によって循環された試験槽３内の空気の流れを示している。

状態センサー６は、試験槽３内に収容された試料２の状態を検出するセンサーである。試料２には、例えばスマートフォン等の電気機器や、制御基板や、電子部品等が含まれる。試料２の状態には、試料２に流れる電圧、試料２に印加される電圧、試料２の表面温度等が含まれる。本実施形態では、状態センサー６は、電圧電流センサー６１及び表面温度センサー６２を備えているものとする。

電圧電流センサー６１は、試料２に取り付けられている。電圧電流センサー６１は、試料２における電圧電流センサー６１の取り付け箇所に流れる電流（状態）又は試料２における当該取り付け箇所に印加される電圧（状態）を検出し、当該検出した電流又は電圧を示す検出信号を計測器４へ出力する。

表面温度センサー６２は、試料２に取り付けられている。表面温度センサー６２は、試料２における表面温度センサー６２の取り付け箇所の表面温度（状態）を検出し、当該検出した温度を示す検出信号を計測器４へ出力する。ただし、表面温度センサー６２は、これに限らず、試料２の表面から放射される赤外線に基づき試料２の表面温度を検出する温度センサー等、試料２に接触することなく、試料２の表面温度を検出する所謂非接触型の温度センサーであってもよい。

尚、状態センサー６は、電圧電流センサー６１及び表面温度センサー６２に限らず、例えば、試料２の状態として、試料２の外観の状態を検出するために試料２の外観を撮影するカメラ等を更に備えてもよい。

環境センサー７は、試料２の周囲環境を検出するセンサーである。試料２の周囲環境には、試料２の周囲の空気の温度及び湿度等が含まれる。本実施形態では、環境センサー７は、温度湿度センサー７１を備えているものとする。当該温度湿度センサー７１は、試料２の周囲へ流れる空気の温度及び湿度を検出し、当該検出した温度及び湿度を示す検出信号を環境試験器コントローラー１へ出力する。

尚、環境センサー７は、温度湿度センサー７１に限らず、例えば、試料２の周囲環境として、試料２の周囲の空気の圧力や、試料２に与えられる試料２の周囲の振動や、試料２の周囲に降らせている人工的な雨や雪の量を検出するために、これらを検出するセンサーであってもよい。

計測器４は、環境試験器コントローラー１による制御の下、試験槽３内に収容された試料２へ所定の電圧を供給する通電制御や、試験槽３内に収容された試料２へ所定の電気信号を出力する信号制御を行う。また、計測器４は、所謂アナログデジタル変換器（ＡＤコンバーター）を備え、状態センサー６が出力した検出信号をデジタル信号に変換し、環境試験器コントローラー１へ出力する。尚、環境試験システム１００に、計測器４を備えないようにし、環境試験器コントローラー１に、前記通電制御及び前記信号制御を行わせるようにしてもよい。また、環境試験器コントローラー１に、計測器４と同様のアナログデジタル変換器を設けるようにしてもよい。そして、状態センサー６が検出信号を環境試験器コントローラー１が備える当該アナログデジタル変換器に出力するようにしてもよい。

制御機器９は、環境試験器コントローラー１によって、試料２に対する試験に関連して制御される。具体的には、制御機器９は、不図示の冷却器、加熱器及び加湿器等の試料２の周囲環境を制御する機器であって、試験槽３内に収容された試料２の周囲の温度や湿度等を調整する。

環境試験器コントローラー１は、試料２に対する試験を実行する。具体的には、環境試験器コントローラー１は、試料２に対する試験において、複数の試験処理（環境調整処理）を所定の順序で一つずつ順次実行する。ここで、試験処理とは、制御機器９によって試料２の周囲の温度及び湿度を所定の目標値に調整させる等、制御機器９によって試料２に対する試験に関連する各種制御を行わせる処理である。

（機能構成）
次に、環境試験システム１００の機能構成について説明する。図２は、環境試験システム１００の機能構成の一例を示すブロック図である。状態センサー６、環境センサー７、空気循環ファン８及び制御機器９については、図１において説明したのでここでの説明は省略する。

図２に示すように、環境試験器コントローラー１は、制御部１０、インターフェイス部２０、表示部３０、操作部４０及び記憶部５０として機能する。

制御部１０は、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）、ＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ Ａｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ）等の揮発性メモリー、ＥＥＰＲＯＭ（Ｅｌｅｃｔｒｉｃａｌｌｙ Ｅｒａｓａｂｌｅ Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｒｅａｄ−Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ）等の不揮発性メモリー、現在時刻を計時するタイマー回路等を備えたマイクロコンピューターによって構成される。制御部１０は、不揮発性メモリーに記憶された制御プログラムをＣＰＵに実行させることにより、編集部１１、実行部１２、順序制御部１３及び表示制御部１４として動作する。編集部１１、実行部１２、順序制御部１３、及び表示制御部１４の詳細については後述する。

インターフェイス部２０は、環境試験器コントローラー１がＬＡＮ（Ｌｏｃａｌ Ａｒｅａ Ｎｅｔｗｏｒｋ）やインターネット等の不図示のネットワークを介してパソコン等の外部装置と通信するための通信インターフェイス回路によって構成される。また、インターフェイス部２０は、ＵＳＢ（Ｕｎｉｖｅｒｓａｌ Ｓｅｒｉａｌ Ｂｕｓ）メモリー等の外部記憶装置が着脱可能なコネクター及び制御部１０が当該コネクターに装着された外部記憶装置と通信するための外部インターフェイス回路によって構成される。インターフェイス部２０は、外部装置や外部記憶装置と通信を行う。

表示部３０は、例えば、液晶ディスプレイによって構成され、制御部１０による制御の下、環境試験器コントローラー１の操作画面や後述する試験フローの編集画面等の各種画面及び操作を案内するメッセージ等の各種情報を表示する。

操作部４０は、例えば、表示部３０が有する各種情報の表示面上に設けられたタッチパネル装置によって構成される。操作部４０は、前記表示面に表示された各種画面内のソフトキーが操作されると、当該ソフトキー及び操作に対応付けられた指示の入力を受け付ける。尚、ソフトキーには、リストボックスやボタン等が含まれる。また、当該操作には、タッチ操作、ドラッグ操作、ロングタップ（長押し）操作、ダブルタップ操作等が含まれる。また、操作部４０は、タッチパネル装置に限らず、各種情報を入力するためのキーボードや各種画面内のソフトキーを操作するためのマウス等を備えて構成してもよい。

記憶部５０は、ＨＤＤ（Ｈａｒｄ Ｄｉｓｋ Ｄｒｉｖｅ）やＳＳＤ（Ｓｏｌｉｄ Ｓｔａｔｅ Ｄｒｉｖｅ）等の記憶装置によって構成される。記憶部５０には、表示部３０に表示される各種情報や、制御部１０による制御に用いられる後述する試験フロー（調整フロー）等が記憶されている。また、記憶部５０には、制御部１０による制御の下、各種データや電子ファイルが記憶される。

以下、編集部１１の詳細について説明する。

編集部１１は、ユーザが操作部４０を用いて試験フロー（調整フロー）の編集画面Ｗ０を操作することによって編集した試験フローを、記憶部５０に記憶する。試験フローとは、試料２に対する試験において実行する一以上の試験処理と、各試験処理の一以上の移行条件と、各試験処理の次に実行され得る一以上の試験処理と、を対応付ける情報である。

図３は、試験フローの編集画面Ｗ０の一例を示す図である。具体的には、編集部１１は、ユーザによる操作部４０の操作により、試験フローの編集画面Ｗ０の表示指示が入力されると、図３に示す試験フローの編集画面Ｗ０を表示部３０に表示する。

試験フローの編集画面Ｗ０は、パーツ画面Ｗ１、試験フロー表示編集画面Ｗ２及びメニュー画面Ｗ３によって構成される。

（パーツ画面Ｗ１）
パーツ画面Ｗ１には、試験フローを設定するための７個のパーツＰ１〜Ｐ７が表示されている。各パーツＰ１〜Ｐ７は、ユーザによるドラッグ操作によって試験フロー表示編集画面Ｗ２内に配置可能に構成されている。

パーツＰ１は、試料２に対する試験の開始及び終了を設定するためのパーツである。以降、パーツＰ１を開始終了パーツＰ１と記載する。

パーツＰ２は、試料２に対する試験において行われる試験処理を設定するためのパーツである。以降、パーツＰ２をステップパーツＰ２と記載する。

パーツＰ３は、試験フロー表示編集画面Ｗ２において、ステップパーツＰ２の次（矢印−Ｙ側）に配置可能に構成されている。パーツＰ３は、自身の前（矢印＋Ｙ側）に配置されたステップパーツＰ２が示す試験処理の移行条件を設定するためのパーツである。以降、パーツＰ３を移行条件パーツＰ３と記載する。

パーツＰ４は、試験フロー表示編集画面Ｗ２において、後述のＯＲ分岐パーツＰ６が示す何れかの移行条件の次に配置可能に構成されている。パーツＰ４は、自身の前に配置された移行条件を満たした場合の移行先（ジャンプ先）を設定するためのパーツである。以降、パーツＰ４をジャンプパーツＰ４と記載する。

具体的には、ＯＲ分岐パーツＰ６が示す何れかの移行条件（例：「移行条件５」）の次にジャンプパーツＰ４がドラッグ操作されると、編集部１１は、ジャンプ元を表す画像を当該移行条件の次に配置し、当該ジャンプ元を表す画像の付近にジャンプ先を表す画像を表示する。当該表示されたジャンプ先を表す画像は、試験フロー表示編集画面Ｗ２において、ドラッグ操作によって何れかのステップパーツＰ２（例：「ステップ２」）の前に配置可能に構成されている。

パーツＰ５は、試験フロー表示編集画面Ｗ２において、ステップパーツＰ２の次に配置可能に構成されている。パーツＰ５は、自身の前に配置されたステップパーツＰ２が示す試験処理の次の試験処理を実行するために満たすべき複数の移行条件を設定するためのパーツである。以降、パーツＰ５をＡＮＤ分岐パーツＰ５と記載する。

パーツＰ６は、試験フロー表示編集画面Ｗ２において、ステップパーツＰ２の次に配置可能に構成されている。パーツＰ６は、自身の前に配置されたステップパーツＰ２が示す試験処理の次に実行され得る複数の試験処理をそれぞれ実行するために満たすべき複数の移行条件を設定するためのパーツである。以降、パーツＰ６をＯＲ分岐パーツＰ６と記載する。

パーツＰ７は、試験フロー表示編集画面Ｗ２において、移行条件パーツＰ３と当該移行条件パーツＰ３の次に配置されたステップパーツＰ２と、の間に配置可能に構成されている。パーツＰ７は、自身の次に配置されているステップパーツＰ２が示す試験処理を実行するために、自身の前に配置された移行条件パーツＰ３が示す移行条件を満たすべき回数（以降、繰り返し回数）を設定するためのパーツである。以降、パーツＰ７を繰り返しパーツＰ７と記載する。

（試験フロー表示編集画面Ｗ２）
試験フロー表示編集画面Ｗ２には、ユーザによるドラッグ操作で配置された各パーツＰ１〜Ｐ７により設定された試験フローが表示される。試験フロー表示編集画面Ｗ２に配置された各パーツＰ１〜Ｐ７は、ユーザによるドラッグ操作によって、試験フロー表示編集画面Ｗ２内で配置位置を変更可能に構成されている。

また、試験フロー表示編集画面Ｗ２に配置された各パーツＰ１〜Ｐ７は、削除可能に構成されている。具体的には、試験フロー表示編集画面Ｗ２に配置された各パーツＰ１〜Ｐ７がユーザによりロングタップ（長押し）操作されると、編集部１１は、当該パーツＰ１〜Ｐ７を削除するか否かを選択するタッチ操作が可能な画面を当該パーツＰ１〜Ｐ７付近に表示する。当該画面において削除することを選択するタッチ操作が行われた場合、編集部１１は、当該パーツＰ１〜Ｐ７を削除する。

また、試験フロー表示編集画面Ｗ２に配置されたステップパーツＰ２がダブルタップ操作されると、編集部１１は、当該ステップパーツＰ２が示す試験処理の設定画面Ｗ４（図４）を、当該ステップパーツＰ２付近に表示する。

（試験処理の設定画面Ｗ４）
図４は、試験処理の設定画面Ｗ４の一例を示す図である。例えば、図４に示すように、試験処理の設定画面Ｗ４には、試験処理中の環境条件の設定を行うための領域Ｅ４１と、試験処理中のデータ収録の設定を行うための領域Ｅ４２と、閉じるキーＢ４１と、が含まれる。

領域Ｅ４１では、設定画面Ｗ４に対応する試験処理において、制御機器９に試料２の周囲の温度及び湿度を調整させるときの温度及び湿度の目標値が設定可能となっている。例えば、図４では、温度の目標値が「２５℃」、湿度の目標値が「６０％」に設定されている。また、勾配が「ＯＦＦ」に設定されている。ここで、勾配とは、制御機器９が試料２の周囲の温度及び湿度を目標値となるように調整するときの温度及び湿度の時間当たりの増減量を示す。つまり、勾配が「ＯＦＦ」に設定されている場合、制御機器９は、試料２の周囲の温度及び湿度を目標値となるように調整するときの、温度及び湿度の時間当たりの増減量が一定となるように制御しない。勾配は、例えば「１℃、１％／分」等の所定の増減量に設定することが可能となっている。

また、領域Ｅ４１では、設定画面Ｗ４に対応する試験処理において、計測器４に、通電制御を行わせる設定、信号制御を行わせる設定、又は、通電制御及び信号制御の何れも行わせない設定が可能となっている。例えば、図４では、計測器４に、試料２に対して所定の直流電圧（「ＤＣＶ」）を供給する通電制御を行わせることが設定されている。この場合、試験処理において、計測器４は、試料２に所定の直流電圧を供給する通電制御を行う。

領域Ｅ４２では、設定画面Ｗ４に対応する試験処理において、データ収録を有効にするか否かが設定可能となっている。データ収録とは、環境試験器コントローラー１に入力される信号が示すデータを電子ファイル化して記憶部５０に記憶することを示す。データ収録が有効に設定されている場合、当該電子ファイルのファイルパスの設定が可能となっている。また、設定画面Ｗ４に対応する試験処理において環境試験器コントローラー１に入力される信号が示すデータを、当該試験処理の前の試験処理における当該データが記憶されている電子ファイルに追加するか否か（「前ステップログへ追加保存」）を設定することが可能となっている。

閉じるキーＢ４１は、設定画面Ｗ４を閉じるためのソフトキーである。閉じるキーＢ４１がタッチ操作されると、編集部１１は、設定画面Ｗ４を非表示にする。

図３に参照を戻す。試験フロー表示編集画面Ｗ２に配置された移行条件パーツＰ３（例：「移行条件１」、「移行条件３」）、ＡＮＤ分岐パーツＰ５が示す各移行条件（例：「移行条件２−１」、「移行条件２−２」）、及びＯＲ分岐パーツＰ６が示す各移行条件（例：「移行条件４」、「移行条件５」）がダブルタップ操作されると、編集部１１は、当該ダブルタップ操作された移行条件の設定画面Ｗ５（図５）を、当該移行条件付近に表示する。

（移行条件の設定画面Ｗ５）
図５は、移行条件の設定画面Ｗ５の一例を示す図である。例えば、図５に示すように、移行条件の設定画面Ｗ５には、試験の実行環境を移行条件として設定するための領域Ｅ５１と、試料２の状態を移行条件として設定するための領域Ｅ５２と、領域Ｅ５１を有効にするためのラジオボタンＲ５１と、領域Ｅ５２を有効にするためのラジオボタンＲ５２と、閉じるキーＢ５１と、が含まれる。

領域Ｅ５１では、試験処理の実行時間を移行条件として設定可能となっている。尚、当該試験処理は、試験フロー表示編集画面Ｗ２において、設定画面Ｗ５に対応する移行条件を示すパーツＰ３、Ｐ５、Ｐ６の前に配置されているステップパーツＰ２が示す試験処理を示す。また、領域Ｅ５１では、温度湿度センサー７１が環境試験器コントローラー１へ出力した検出信号が示す試料２の周囲の空気の温度又は湿度を移行条件として設定可能となっている。

例えば、図５では、試験処理の実行時間が「２０分以上」であることを移行条件として設定可能であることを示している。尚、図５では、ラジオボタンＲ５１が選択されていないので、領域Ｅ５１は有効となっていない。このため、試験処理の実行時間が「２０分以上」であることは、移行条件として設定されない。

領域Ｅ５２では、環境試験器コントローラー１に入力される信号が示す試料２の状態を移行条件として設定可能となっている。このため、ユーザは、移行条件の設定画面Ｗ５を操作して、試料２の状態に関する移行条件を意図した通りに設定することができる。尚、当該試験処理は、試験フロー表示編集画面Ｗ２において、設定画面Ｗ５に対応する移行条件を示すパーツＰ３、Ｐ５、Ｐ６の前に配置されているステップパーツＰ２が示す試験処理を示す。

例えば、領域Ｅ５２では、１）電圧電流センサー６１の検出信号が示す電圧若しくは電流、又は、２）表面温度センサー６２の検出信号が示す試料２の表面温度を移行条件として設定することが可能となっている。例えば、図５では、ラジオボタンＲ５２が選択され、領域Ｅ５２が有効となっている。そして、電圧電流センサー６１の検出信号が示す試料２に流れる電流が「２０ｍＡ」であることが、上記１）の移行条件として設定されている。

閉じるキーＢ５１は、設定画面Ｗ５を閉じるためのソフトキーである。閉じるキーＢ５１がタッチ操作されると、編集部１１は、設定画面Ｗ５を非表示にする。

図３に参照を戻す。試験フロー表示編集画面Ｗ２に配置された繰り返しパーツＰ７（例：「繰り返し□□／△△回」）がダブルタップ操作されると、編集部１１は、当該繰り返しパーツＰ７の付近に、当該繰り返しパーツＰ７が示す繰り返し回数（例：「△△回」）の設定を行わせるためのソフトキー（例：「＋」キー、「−」キー等）を表示する。そして、編集部１１は、ユーザによる当該表示したソフトキーの操作に応じて繰り返し回数を設定し、当該設定した繰り返し回数（例：「△△回」）を当該繰り返しパーツＰ７の付近に表示する。

（試験フローの具体例）
例えば、図３に示す試験フロー表示編集画面Ｗ２では、試験の開始「スタート」を示す開始終了パーツＰ１の次に、試験処理「ステップ１」を示すステップパーツＰ２が配置され、その次に、移行条件「移行条件１」を示す移行条件パーツＰ３が配置され、その次に、試験処理「ステップ２」を示すステップパーツＰ２が配置されている。

つまり、図３に示す試験フロー表示編集画面Ｗ２では、試験処理「ステップ１」（第一の環境調整処理）と、試験処理「ステップ１」の移行条件「移行条件１」（第一の移行条件）と、試験処理「ステップ１」の次に実行され得る試験処理「ステップ２」（第二の環境調整処理）と、を対応付けた試験フローＦ１（第一の調整フロー）が設定されている。

また、図３に示す試験フロー表示編集画面Ｗ２では、試験処理「ステップ２」を示すステップパーツＰ２の次に、移行条件「移行条件２−１」と移行条件「移行条件２−２」とを示すＡＮＤ分岐パーツＰ５が配置され、その次に、試験処理「ステップ３」を示すステップパーツＰ２が配置されている。

つまり、図３に示す試験フロー表示編集画面Ｗ２では、試験処理「ステップ２」（第三の環境調整処理）と、試験処理「ステップ２」の次の試験処理「ステップ３」を実行するために満たすべき、試験処理「ステップ２」の二つの移行条件「移行条件２−１」（第二の移行条件）、「移行条件２−２」（第三の移行条件）と、試験処理「ステップ２」の次に実行され得る試験処理「ステップ３」（第四の環境調整処理）と、を対応付けた試験フローＦ２（第二の調整フロー）が設定されている。

また、図３に示す試験フロー表示編集画面Ｗ２では、試験処理「ステップ３」を示すステップパーツＰ２の次に配置された移行条件「移行条件３」を示す移行条件パーツＰ３と、試験処理「ステップ４」を示すステップパーツＰ４との間に、移行条件「移行条件３」を「△△」回満たすべきであることを示す繰り返しパーツＰ７が配置されている。

つまり、図３に示す試験フロー表示編集画面Ｗ２では、試験処理「ステップ３」と、試験処理「ステップ３」の移行条件「移行条件３」と、試験処理「ステップ３」の次に実行され得る試験処理「ステップ４」と、試験処理「ステップ４」を実行するために試験処理「ステップ３」の移行条件「移行条件３」を満たすべき回数（繰り返し回数）「△△回」とを対応付けた試験フローＦ３が設定されている。

また、図３に示す試験フロー表示編集画面Ｗ２では、試験処理「ステップ４」を示すステップパーツＰ２の次に、移行条件「移行条件４」と移行条件「移行条件５」とを示すＯＲ分岐パーツＰ６が配置されている。移行条件「移行条件４」の次には、試験処理「ステップ５」を示すステップパーツＰ２が配置されている。移行条件「移行条件５」の次には、移行条件「移行条件５」を満たした場合の移行先を試験処理「ステップ２」にすることを示すジャンプパーツＰ４が配置されている。

つまり、図３に示す試験フロー表示編集画面Ｗ２では、試験処理「ステップ４」（第五の環境調整処理）と、試験処理「ステップ４」の二つの移行条件「移行条件４」（第四の移行条件）、「移行条件５」（第五の移行条件）とを対応付け、更に、移行条件「移行条件４」と試験処理「ステップ４」の次に実行され得る試験処理「ステップ５」（第六の環境調整処理）とを対応付け、更に、移行条件「移行条件５」と試験処理「ステップ４」の次に実行され得る試験処理「ステップ２」（第七の環境調整処理）とを対応付けた試験フローＦ４（第三の調整フロー）が設定されている。尚、移行条件「移行条件５」の次には、ジャンプパーツＰ４に代えて、ステップパーツＰ２が配置されてもよい。

また、図３に示す試験フロー表示編集画面Ｗ２では、試験処理「ステップ５」を示すステップパーツＰ２の次に、移行条件「移行条件６」を示す移行条件パーツＰ３が配置され、その次に、試験の終了「終了」を示す開始終了パーツＰ１が配置されている。

つまり、図３に示す試験フロー表示編集画面Ｗ２では、試験処理「ステップ５」と、試験処理「ステップ５」の移行条件「移行条件６」と、試験処理「ステップ５」の次に実行され得る試験の終了処理と、を対応付けた試験フローＦ５が設定されている。

メニュー画面Ｗ３には、試験フローの編集操作に関連する６個のソフトキーＢ１〜Ｂ５が表示されている。

ソフトキーＢ１は、新たな試験フローを設定するためのソフトキーである。ソフトキーＢ１がタッチ操作されると、編集部１１は、試験フロー表示編集画面Ｗ２に表示されている試験フローを非表示にする。これにより、ユーザは、試験フロー表示編集画面Ｗ２において新たな試験フローを設定できるようになる。以降、ソフトキーＢ１を新規キーＢ１と記載する。

ソフトキーＢ２は、記憶部５０に記憶されている試験フローを読み出すためのソフトキーである。ソフトキーＢ２がタッチ操作されると、編集部１１は、記憶部５０に記憶されている試験フローの一覧が選択可能に表示された選択画面を表示する。当該選択画面において試験フローが選択されると、編集部１１は、記憶部５０から当該選択された試験フローを読み出して、試験フロー表示編集画面Ｗ２に表示する。以降、ソフトキーＢ２を開くキーＢ２と記載する。

ソフトキーＢ３は、試験フロー表示編集画面Ｗ２に表示されている試験フローを記憶部５０に記憶するためのソフトキーである。ソフトキーＢ３がタッチ操作されると、編集部１１は、試験フロー表示編集画面Ｗ２に表示されている試験フローを記憶部５０に記憶する。以降、ソフトキーＢ３を保存キーＢ３と記載する。これにより、ユーザは、試験フローの編集画面Ｗ０を操作して、ユーザの意図した通りに試験フローを編集し、当該編集した試験フローを記憶部５０に記憶することができる。

ソフトキーＢ４は、試験フロー表示編集画面Ｗ２に表示されている試験フローに従って試験を実行するためのソフトキーである。ソフトキーＢ４がタッチ操作されると、順序制御部１３は、試験フロー表示編集画面Ｗ２に表示されている試験フローに従って、実行部１２に複数の試験処理を一つずつ順次実行させる。順序制御部１３が、試験フローに従って、実行部１２に複数の試験処理を一つずつ順次実行させる動作については後述する。以降、ソフトキーＢ４を実行キーＢ４と記載する。

ソフトキーＢ５は、試験フローの編集画面Ｗ０を閉じるためのソフトキーである。ソフトキーＢ５がタッチ操作されると、編集部１１は、試験フローの編集画面Ｗ０を非表示にする。以降、ソフトキーＢ５を終了キーＢ５と記載する。

（試験フローに従った試験の動作）
以下では、順序制御部１３が、試験フローに従って実行部１２に複数の試験処理を一つずつ順次実行させる動作について説明する。また、当該説明の中で、実行部１２、順序制御部１３、及び表示制御部１４の詳細について説明する。図６及び図７は、試験フローに従って複数の試験処理を行う動作を示すフローチャートである。

試験フロー表示編集画面Ｗ２（図３）に試験フローが表示されている場合において実行キーＢ４がタッチ操作されると、順序制御部１３は、試験フローに従って実行部１２に複数の試験処理を順次実行させることを開始する。当該開始後、順序制御部１３は、試験フローに表示されている試験の開始を示す開始終了パーツＰ１の次に配置されているパーツから順に、各パーツがパーツＰ１〜Ｐ７のうちの何れのパーツであるかを判定し、当該判定結果に応じた処理を実行する。以降、当該判定の対象となるパーツを対象パーツと記載する。

図６に示すように、順序制御部１３は、先ず、試験の開始を示す開始終了パーツＰ１の次に配置されているパーツを対象パーツとする。そして、順序制御部１３は、対象パーツがステップパーツＰ２であるか否かを判定する（Ｓ１１）。

Ｓ１１において、対象パーツがステップパーツＰ２であると判定された場合（Ｓ１１；ＹＥＳ）、表示制御部１４は、ステップパーツＰ２をハイライト表示する（Ｓ１２）。ハイライト表示とは、明るい色や網掛け模様を付して表示する等して、他のパーツと異なる表示形態で強調表示することを示す（例：図３に示すステップパーツＰ２「ステップ４」）。これにより、ユーザは、複数の試験処理の進捗状況を容易に把握することができる。

次に、順序制御部１３は、実行部１２に、当該ステップパーツＰ２の設定画面Ｗ４で設定された内容に従って試験処理を実行させる（Ｓ１３）。

具体的には、Ｓ１３において、実行部１２は、実行対象の試験処理の設定画面Ｗ４で設定された環境条件の設定に従い、制御機器９に試料２の周囲の温度や湿度を設定された目標値となるように調整させる。また、実行部１２は、実行対象の試験処理の設定画面Ｗ４で設定された環境条件の設定に従い、計測器４に通電制御若しくは信号制御を行わせる、又は、計測器４に通電制御及び信号制御の何れも行わせない。また、実行部１２は、当該設定画面Ｗ４で設定されたデータ収録の設定に従い、環境試験器コントローラー１に入力される信号が示すデータを電子ファイル化して記憶部５０に記憶する。尚、順序制御部１３は、Ｓ１３において、タイマー回路によって計時された現在時刻を実行対象の試験処理の開始時刻として揮発性メモリー等に記憶する。

次に、順序制御部１３は、対象パーツを当該対象パーツの次に配置されているパーツに移行し（Ｓ１４）、Ｓ２１の判定を行う。また、順序制御部１３は、Ｓ１１において、対象パーツがステップパーツＰ２ではないと判定した場合も（Ｓ１１；ＮＯ）、Ｓ２１の判定を行う。

Ｓ２１では、順序制御部１３は、対象パーツが移行条件パーツＰ３であるか否かを判定する（Ｓ２１）。Ｓ２１において、順序制御部１３は、対象パーツが移行条件パーツＰ３であると判定した場合（Ｓ２１；ＹＥＳ）、当該移行条件パーツＰ３が示す移行条件の設定画面Ｗ５で設定された移行条件を満たしたか否かを判定する（Ｓ２２）。

Ｓ２２において、順序制御部１３は、移行条件を満たしていないと判定している間（Ｓ２２；ＮＯ）、待機する。Ｓ２２において移行条件を満たしたと判定された場合（Ｓ２２；ＹＥＳ）、表示制御部１４は、ハイライト表示されているステップパーツＰ２のハイライト表示を消去し、当該ステップパーツＰ２を通常通りに表示する（Ｓ２３）。

Ｓ２３の後、順序制御部１３は、対象パーツを当該対象パーツの次に配置されているパーツに移行し（Ｓ２４）、処理をＳ１１に戻す。以降、Ｓ１１以降の処理が行われる。

例えば、Ｓ２２における判定に用いる移行条件が、図５に示す設定画面Ｗ５で設定されたとする。つまり、電圧電流センサー６１の検出信号が示す試料２に流れる電流が「２０ｍＡ」であることが、移行条件として設定されているとする。

この場合、Ｓ２２において、順序制御部１３は、電圧電流センサー６１の検出信号が示す試料２に流れる電流が「２０ｍＡ」であるか否かを判定する。そして、順序制御部１３は、当該試料２に流れる電流が「２０ｍＡ」であった場合、移行条件を満たしたと判定する（Ｓ２２；ＹＥＳ）。この場合、Ｓ２４が行われ、移行条件パーツＰ３の次に配置されたステップパーツＰ２が示す試験処理が実行される。

このため、試料２に流れる電流が移行条件を満たしたタイミングで、次の試験処理を実行することができる。これにより、試料２に流れる電流が移行条件を満たしていないタイミングで次の試験処理を実行する虞を低減することができる。その結果、試料２に十分な負荷が与えられないまま複数の試験処理が終了したために、複数の試験処理を最初からやり直すことで、複数の試験処理を終了するまでに要する時間が長くなる虞を軽減することができる。

また、試料２に流れる電流が移行条件を満たしているにも関わらず、実行中の試験処理を無駄に継続する虞を低減することができる。その結果、試験処理を無駄に継続することによる時間の浪費を解消することができる。また、試料２に余計な負荷を与えることで、試料を劣化させる虞を低減することができる。

又は、図５に示す移行条件パーツＰ３の設定画面Ｗ５において、ラジオボタンＲ５１が選択され、試験処理の実行時間が「２０分以上」であることが、Ｓ２２における判定に用いる移行条件として設定されているとする。

この場合、Ｓ２２において、順序制御部１３は、Ｓ１３で揮発性メモリー等に記憶した、対象パーツの前に配置されたステップパーツＰ２が示す試験処理の開始時刻（開始時点）から、タイマー回路により計時された現在時刻までの経過時間を算出する。そして、順序制御部１３は、当該算出した経過時間が「２０分以上」であるか否かを判定する。そして、順序制御部１３は、当該経過時間が「２０分以上」であると判定した場合、移行条件を満たしたと判定する（Ｓ２２；ＹＥＳ）。

一方、Ｓ２１において、順序制御部１３は、対象パーツが移行条件パーツＰ３ではないと判定した場合（Ｓ２１；ＮＯ）、Ｓ３１の判定を行う。

Ｓ３１では、順序制御部１３は、対象パーツがジャンプパーツＰ４であるか否かを判定する（Ｓ３１）。Ｓ３１において、対象パーツがジャンプパーツＰ４であると判定された場合（Ｓ３１；ＹＥＳ）、表示制御部１４は、ハイライト表示されているステップパーツＰ２のハイライト表示を消去し、当該ステップパーツＰ２を通常通りに表示する（Ｓ３２）。そして、順序制御部１３は、対象パーツを当該ジャンプパーツＰ４が示すジャンプ先のパーツに移行し（Ｓ３３）、処理をＳ１１に戻す。以降、Ｓ１１以降の処理が行われる。

一方、Ｓ３１において、順序制御部１３は、対象パーツがジャンプパーツＰ４ではないと判定した場合（Ｓ３１；ＮＯ）、図７に示すように、Ｓ４１の判定を行う。

Ｓ４１では、順序制御部１３は、対象パーツがＡＮＤ分岐パーツＰ５であるか否かを判定する（Ｓ４１）。Ｓ４１において、順序制御部１３は、対象パーツがＡＮＤ分岐パーツＰ５であると判定した場合（Ｓ４１；ＹＥＳ）、Ｓ２２と同様にして、当該ＡＮＤ分岐パーツＰ５が示す複数の移行条件の設定画面Ｗ５でそれぞれ設定された複数の移行条件を全て満たしているか否かを判定する（Ｓ４２）。

Ｓ４２において、順序制御部１３は、複数の移行条件のうち一以上の移行条件を満たしていないと判定している間（Ｓ４２；ＮＯ）、待機する。Ｓ４２において複数の移行条件を全て満たしたと判定された場合（Ｓ４２；ＹＥＳ）、表示制御部１４は、ハイライト表示されているステップパーツＰ２のハイライト表示を消去し、当該ステップパーツＰ２を通常通りに表示する（Ｓ４３）。そして、順序制御部１３は、対象パーツを当該対象パーツの次のパーツに移行し（Ｓ４４）、処理をＳ１１（図６）に戻す。以降、Ｓ１１以降の処理が行われる。

例えば、Ｓ２２において説明した具体例と同様に、ＡＮＤ分岐パーツＰ５が示す二個の移行条件の設定画面Ｗ５で、（１）電圧電流センサー６１の検出信号が示す試料２に流れる電流が「２０ｍＡ」であることと、（２）試験処理の実行時間が「２０分以上」であることと、の二つの移行条件が設定されていたとする。

この場合、順序制御部１３は、Ｓ４２において、電圧電流センサー６１の検出信号が示す試料２に流れる電流が上記（１）の移行条件を満たし、更に、対象パーツの前に配置されたステップパーツＰ２が示す試験処理の実行時間が上記（２）の移行条件を満たした場合、複数の移行条件を全て満たしていると判定する（Ｓ４２；ＹＥＳ）。この場合、Ｓ４４が行われ、ＡＮＤ分岐パーツＰ５の次に配置されたステップパーツＰ２が示す試験処理が実行される。

このため、試料２に流れる電流が上記（１）の移行条件を満たしていても、実行中の試験処理の実行時間が上記（２）の移行条件を満たしていない場合には、次の試験処理を実行することを回避することができる。これにより、一の移行条件のみを定める場合と比べて、より多くの移行条件を満たす、より適切なタイミングで次の試験処理を実行することができる。

又は、ＡＮＤ分岐パーツＰ５が示す二個の移行条件の設定画面Ｗ５で、（３）電圧電流センサー６１の検出信号が示す試料２に流れる電流が「２０ｍＡ」であることと、（４）温度湿度センサー７１の検出信号が示す試料２の周囲へ流れる空気の温度が「８０℃以上」であることと、の二つの移行条件が設定されていたとする。

この場合、順序制御部１３は、Ｓ４２において、電圧電流センサー６１の検出信号が示す試料２に流れる電流が上記（３）の移行条件を満たし、更に、温度湿度センサー７１の検出信号が示す試料２の周囲へ流れる空気の温度が上記（４）の移行条件を満たした場合、複数の移行条件を全て満たしていると判定する（Ｓ４２；ＹＥＳ）。この場合、Ｓ４４が行われ、ＡＮＤ分岐パーツＰ５の次に配置されたステップパーツＰ２が示す試験処理が実行される。

このため、試料２に流れる電流が上記（３）の移行条件を満たしていても、試料２の周囲の温度が上記（４）の移行条件を満たしていない場合には、次の試験処理を実行することを回避することができる。これにより、一の移行条件のみを定める場合と比べて、より多くの移行条件を満たす、より適切なタイミングで次の試験処理を実行することができる。

一方、Ｓ４１において、順序制御部１３は、対象パーツがＡＮＤ分岐パーツＰ５ではないと判定した場合（Ｓ４１；ＮＯ）、Ｓ５１の判定を行う。

Ｓ５１では、順序制御部１３は、対象パーツがＯＲ分岐パーツＰ６であるか否かを判定する（Ｓ５１）。Ｓ５１において、順序制御部１３は、対象パーツがＯＲ分岐パーツＰ６であると判定した場合（Ｓ５１；ＹＥＳ）、Ｓ２２と同様にして、当該ＯＲ分岐パーツＰ６が示す複数の移行条件の設定画面Ｗ５でそれぞれ設定された複数の移行条件のうち、何れか一の移行条件を満たしているか否かを判定する（Ｓ５２）。

Ｓ５２において、順序制御部１３は、複数の移行条件のうち何れの移行条件も満たしていないと判定している間（Ｓ５２；ＮＯ）、待機する。Ｓ５２において複数の移行条件のうちの一の移行条件を満たしたと判定された場合（Ｓ５２；ＹＥＳ）、表示制御部１４は、ハイライト表示されているステップパーツＰ２のハイライト表示を消去し、当該ステップパーツＰ２を通常通りに表示する（Ｓ５３）。そして、順序制御部１３は、対象パーツを、Ｓ５２で満たしていると判定した一の移行条件を示す移行条件パーツＰ３の次のパーツに移行し（Ｓ５４）、処理をＳ１１（図６）に戻す。以降、Ｓ１１以降の処理が行われる。

一方、Ｓ５１において、順序制御部１３は、対象パーツがＯＲ分岐パーツＰ６ではないと判定した場合（Ｓ５１；ＮＯ）、Ｓ６１の判定を行う。

Ｓ６１では、順序制御部１３は、対象パーツが繰り返しパーツＰ７であるか否かを判定する（Ｓ６１）。Ｓ６１において、順序制御部１３は、対象パーツが繰り返しパーツＰ７であると判定した場合（Ｓ６１；ＹＥＳ）、当該繰り返しパーツＰ７の前に配置された移行条件パーツＰ３が示す移行条件を満たした回数を１回分カウントアップする。また、表示制御部１４は、順序制御部１３がカウントアップした後の回数を、当該繰り返しパーツＰ７が示す繰り返し回数の付近（例：図３の試験フロー表示編集画面Ｗ２における繰り返し回数△△回の左の□□部）に表示する（Ｓ６２）。

次に、順序制御部１３は、Ｓ６２でカウントアップした後の回数と、試験フロー表示編集画面Ｗ２において設定された当該繰り返しパーツＰ７の繰り返し回数と、を比較する（Ｓ６３）。

Ｓ６３において、順序制御部１３は、Ｓ６２でカウントアップした後の回数が、繰り返しパーツＰ７の繰り返し回数に一致すると判定した場合（Ｓ６３；ＹＥＳ）、対象パーツを当該対象パーツの次のパーツに移行し（Ｓ６４）、処理をＳ１１（図６）に戻す。以降、Ｓ１１以降の処理が行われる。

Ｓ６３において、順序制御部１３は、Ｓ６２でカウントアップした後の回数が、繰り返しパーツＰ７の繰り返し回数に一致しないと判定した場合（Ｓ６３；ＮＯ）、対象パーツを当該対象パーツの前の前に配置されているステップパーツＰ２に戻し（Ｓ６５）、処理をＳ１１（図６）に戻す。以降、Ｓ１１以降の処理が行われる。

一方、Ｓ６１において、順序制御部１３は、対象パーツが繰り返しパーツＰ７ではないと判定した場合（Ｓ６１；ＮＯ）、試験フローに従って実行部１２に複数の試験処理を一つずつ順次実行させる動作を終了する。

（具体例）
例えば、試験フロー表示編集画面Ｗ２（図３）において、開くキーＢ２がタッチ操作され、記憶部５０に記憶されている試験フローが読み出された結果、図３に示す試験フローＦ１〜Ｆ５を含む試験フローが表示されているとする。この場合に、実行キーＢ４がタッチ操作されたとする。

この場合、試験フローＦ１に従って、Ｓ１１〜Ｓ１４、Ｓ２１〜Ｓ２４、Ｓ１１〜Ｓ１４が順次実行される。つまり、順序制御部１３は、試験処理「ステップ１」の実行中に（Ｓ１１〜Ｓ１４）、移行条件「移行条件１」を満たした場合（Ｓ２１〜Ｓ２４）、試験フローＦ１において、試験処理「ステップ１」と移行条件「移行条件１」とに対応付けられている試験処理「ステップ２」を実行部１２に実行させる（Ｓ１１〜Ｓ１４）。

このため、試験処理「ステップ１」の実行中に移行条件「移行条件１」を満たした場合に試験処理「ステップ２」を実行する試験を行う度に、試験処理「ステップ１」及び試験処理「ステップ２」の実行順や移行条件「移行条件１」を定める手間をかけることなく、記憶部５０に記憶されている試験フローＦ１を用いて迅速に当該試験を行うことができる。

また、試験フローＦ２に従って、Ｓ１１〜Ｓ１４、Ｓ４１〜Ｓ４４、Ｓ１１〜Ｓ１４が順次実行される。つまり、順序制御部１３は、試験処理「ステップ２」の実行中に（Ｓ１１〜Ｓ１４）、移行条件「移行条件２−１」及び移行条件「移行条件２−２」を共に満たした場合（Ｓ４１〜Ｓ４４）、試験フローＦ２において、試験処理「ステップ２」と移行条件「移行条件２−１」及び移行条件「移行条件２−２」とに対応付けられている試験処理「ステップ３」を実行部１２に実行させる（Ｓ１１〜Ｓ１４）。

上記の従来技術では、試験処理の移行条件を一つしか設定できないため、試験フローＦ２に従った試験のように、複数の移行条件を全て満たした場合に次の試験処理を実行させることができなかった。しかし、本構成によれば、記憶部５０に記憶されている試験フローＦ２を用いて、迅速に当該試験を行うことができる。

また、試験フローＦ４に従って、Ｓ１１〜Ｓ１４、Ｓ５１〜Ｓ５４、Ｓ１１〜Ｓ１４が順次実行される。つまり、順序制御部１３は、試験処理「ステップ４」の実行中に（Ｓ１１〜Ｓ１４）、移行条件「移行条件４」を満たした場合（Ｓ５１〜Ｓ５４）、試験フローＦ４において、試験処理「ステップ４」と移行条件「移行条件４」とに対応付けられている試験処理「ステップ５」を実行部１２に実行させる（Ｓ１１〜Ｓ１４）。

又は、試験フローＦ４に従って、Ｓ１１〜Ｓ１４、Ｓ５１〜Ｓ５４、Ｓ３１〜Ｓ３３、Ｓ１１〜Ｓ１４が順次実行される。つまり、順序制御部１３は、試験処理「ステップ４」の実行中に（Ｓ１１〜Ｓ１４）、移行条件「移行条件５」を満たした場合（Ｓ５１〜Ｓ５４）、試験フローＦ４において、試験処理「ステップ４」と移行条件「移行条件５」とに対応付けられている試験処理「ステップ２」を実行部１２に実行させる（Ｓ３１〜Ｓ３３、Ｓ１１〜Ｓ１４）。

上記の従来技術では、試験処理の移行条件を一つしか設定できないため、試験フローＦ４に従った試験のように、複数の移行条件のうちの何れの移行条件を満たすかに応じて、次に実行させる試験処理を個別に設定することができなかった。しかし、本構成によれば、記憶部５０に記憶されている試験フローＦ４を用いて、迅速に当該試験を行うことができる。

（変形実施形態）
尚、上記実施形態は、本発明に係る実施形態の例示に過ぎず、本発明を上記実施形態に限定する趣旨ではない。例えば、以下に示す変形実施形態であってもよい。

（１）図８は、環境試験システム１００の全体像の他の一例を示す図である。図８に示すように、環境試験システム１００が、環境試験器コントローラー１と同様の構成の外部コントローラー５を更に備え、環境試験器コントローラー１に代えて、外部コントローラー５と通信可能な既存の環境試験器コントローラー１ａを備えるようにしてもよい。

そして、計測器４が電圧電流センサー６１及び表面温度センサー６２から出力された検出信号を外部コントローラー５に出力するようにしてもよい。又は、電圧電流センサー６１及び表面温度センサー６２から出力された検出信号を、計測器４を介さずに外部コントローラー５に出力するようにしてもよい。

環境試験器コントローラー１ａは、制御部１０（図２）と同様のマイクロコンピューターからなる制御部を備え、上述の実行部１２として動作するが、編集部１１、順序制御部１３、及び表示制御部１４として動作しなくてもよい。また、環境試験器コントローラー１ａが備える当該制御部は、温度湿度センサー７１から入力された検出信号を外部コントローラー５に出力するようにしてもよい。そして、外部コントローラー５が備える制御部１０（図２）と同構成の制御部が、編集部１１、順序制御部１３及び表示制御部１４として動作し、当該順序制御部１３が、環境試験器コントローラー１ａの実行部１２を制御するようにしてもよい。

（２）制御部１０が表示制御部１４として動作しないようにし、図６に示すＳ１２、Ｓ２３及びＳ３２と、図７に示すＳ４３及びＳ５３と、を省略してもよい。

（３）パーツ画面Ｗ１（図３）にパーツＰ６を表示しないようにしてもよい。これに合わせて、パーツ画面Ｗ１（図３）に、パーツＰ４を表示しないようにしてもよい。そして、図６に示すＳ３１〜Ｓ３３と、図７に示すＳ５１〜Ｓ５４と、を省略してもよい。

（４）パーツ画面Ｗ１（図３）にパーツＰ５を表示しないようにしてもよい。これに合わせて、図７に示すＳ４１〜Ｓ４４を省略してもよい。

（５）制御部１０（図２）が編集部１１として動作しないようにし、編集部１１で編集可能な試験フローと同様の試験フローをパソコン等の外部装置において編集してもよい。そして、当該外部装置で編集した試験フローを、インターフェイス部２０（図２）を介して記憶部５０に記憶するようにしてもよい。

上記実施形態及び変形実施形態では、本発明に係る環境形成システムの一実施形態として環境試験システム１００について説明した。しかし、本発明に係る環境形成システムは、上記実施形態及び変形実施形態における環境試験器コントローラー１に代えて当該環境試験器コントローラー１と同構成の熱処理器コントローラーを備え、試料２に対して複数の試験処理を行うことに代えて複数の熱処理を行う熱処理システムにも適用可能である。

１ 環境試験器コントローラー
１ａ 環境試験器コントローラー
２ 試料
３ 試験槽
４ 計測器
５ 外部コントローラー
６ 状態センサー
７ 環境センサー
８ 空気循環ファン
９ 制御機器
１０ 制御部
１１ 編集部
１２ 実行部
１３ 順序制御部
１４ 表示制御部
２０ インターフェイス部
３０ 表示部
４０ 操作部
５０ 記憶部
６１ 電圧電流センサー
６２ 表面温度センサー
７１ 温度湿度センサー
１００ 環境試験システム
Ｆ１〜Ｆ５ 試験フロー
Ｗ０ 試験フローの編集画面
Ｗ１ パーツ画面
Ｗ２ 試験フロー表示編集画面
Ｗ３ メニュー画面
Ｗ４ 試験処理の設定画面
Ｗ５ 移行条件の設定画面

Claims (7)

1. 試料の周囲環境を調整する複数の環境調整処理を所定の順序で一つずつ順次実行する実行部と、
   一の前記環境調整処理を実行中に、前記試料の状態を検出する状態センサーの検出値が当該一の環境調整処理の第一の移行条件を満たした場合、前記実行部に当該一の環境調整処理の次の前記環境調整処理を実行させる順序制御部と、
   を備える環境形成システム。
2. 試料の周囲環境を調整する複数の環境調整処理を所定の順序で一つずつ順次実行する環境形成システムに用いられるコントローラーであって、
   一の前記環境調整処理を実行中に、前記試料の状態を検出する状態センサーの検出値が当該一の環境調整処理の第一の移行条件を満たした場合、前記環境形成システムに当該一の環境調整処理の次の前記環境調整処理を実行させる
   コントローラー。
3. 前記順序制御部は、更に、前記一の環境調整処理を実行中に、前記試料の周囲環境を検出する環境センサーの検出値が当該一の環境調整処理の第二の移行条件を満たした場合に、前記環境形成システムに当該一の環境調整処理の次の前記環境調整処理を実行させる
   請求項２に記載のコントローラー。
4. 前記順序制御部は、更に、前記一の環境調整処理を実行中に、当該一の環境調整処理の開始時点からの経過時間が当該一の環境調整処理の第三の移行条件を満たした場合に、前記環境形成システムに当該一の環境調整処理の次の前記環境調整処理を実行させる
   請求項２又は３に記載のコントローラー。
5. 第一の前記環境調整処理と、当該第一の環境調整処理の第一の移行条件と、当該第一の環境調整処理の次に実行され得る第二の環境調整処理と、を対応付けた第一の調整フローを記憶する記憶部を更に備え、
   前記順序制御部は、前記第一の環境調整処理の実行中に前記第一の移行条件を満たした場合、前記第二の環境調整処理を前記環境形成システムに実行させる
   請求項２から４の何れか一項に記載のコントローラー。
6. 第三の前記環境調整処理と、当該第三の環境調整処理の第二及び第三の移行条件と、当該第三の環境調整処理の次に実行され得る第四の環境調整処理と、を対応付けた第二の調整フローを記憶する記憶部を更に備え、
   前記順序制御部は、前記第三の環境調整処理の実行中に前記第二及び第三の移行条件を共に満たした場合、前記第四の環境調整処理を前記環境形成システムに実行させる
   請求項２から５の何れか一項に記載のコントローラー。
7. 第五の前記環境調整処理と、当該第五の環境調整処理の第四及び第五の移行条件と、を対応付け、更に、前記第四の移行条件と当該第五の環境調整処理の次に実行され得る第六の環境調整処理とを対応付け、更に、前記第五の移行条件と当該第五の環境調整処理の次に実行され得る第七の環境調整処理とを対応付けた第三の調整フローを記憶する記憶部を更に備え、
   前記順序制御部は、前記第五の環境調整処理の実行中において、
   前記第四の移行条件を満たした場合、前記第六の環境調整処理を前記環境形成システムに実行させ、
   前記第五の移行条件を満たした場合、前記第七の環境調整処理を前記環境形成システムに実行させる
   請求項２から６の何れか一項に記載のコントローラー。

Images