JP6980538B2 - Tablet inspection method and tablet inspection equipment - Google Patents
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Description
この発明は、錠剤検査方法および錠剤検査装置に関し、特に錠剤を撮像するカメラを用いた検査技術に関する。 The present invention relates to a tablet inspection method and a tablet inspection apparatus, and more particularly to an inspection technique using a camera for imaging a tablet.
従来から、錠剤の外観を検査する錠剤検査装置が提案されている(例えば特許文献1〜3)。特許文献1においては、検査部は、錠剤を搬送する搬送手段と、搬送中の錠剤を撮像するための4つの撮像装置(カメラ)とを備えている。2つのカメラはそれぞれ錠剤の上面および下面を撮像し、残り2つのカメラは錠剤の側面を互いに反対側から撮像する。検査部はカメラによって撮像された撮像画像の各々に対して画像処理を行うことで外観検査を行う。
Conventionally, a tablet inspection device for inspecting the appearance of a tablet has been proposed (for example,
この特許文献1では、複数のカメラを用いるので、コストが高い。これに対して特許文献2では、検査装置は、錠剤を搬送するコンベアと、搬送中の錠剤を撮像するための一つの撮像装置を備えている。撮像装置は、上側から見た錠剤の上面、および、四方から見た錠剤の側面を一つの撮像画像内に収めるように撮像する。
In this
具体的には、この撮像装置は一つのカメラと4つのプリズムとを備えている。カメラは錠剤の上側に配置されており、錠剤の上面からの光がカメラの撮像面に結像される。またプリズムは錠剤の四方に配置されており、錠剤の側面からの光をカメラへと反射させる。当該光もカメラの撮像面に結像される。これにより、カメラは5方向から見た錠剤の外観を撮像できる。検査装置は、カメラによって撮像された撮像画像に対して画像処理を行うことにより、錠剤の外観検査を行う。 Specifically, this image pickup device includes one camera and four prisms. The camera is located on the upper side of the tablet, and light from the upper surface of the tablet is imaged on the imaging surface of the camera. The prisms are arranged on all sides of the tablet and reflect the light from the sides of the tablet to the camera. The light is also imaged on the image pickup surface of the camera. This allows the camera to image the appearance of the tablet as seen from five directions. The inspection device inspects the appearance of the tablet by performing image processing on the captured image captured by the camera.
また特許文献3でも、検査装置は、錠剤を搬送する搬送部と、搬送途中の錠剤を撮像する撮像装置とを備えている。より具体的には、撮像装置はカメラと2つのプリズムとを有している。カメラは錠剤の上側に配置されており、錠剤の上面からの光がカメラの撮像面に結像される。2つのプリズムは錠剤を挟む位置にそれぞれ配置されており、錠剤の側面からの光をカメラへと反射させる。当該光も撮像面に結像される。プリズムはカメラが錠剤の側面を真横から撮像できるように配置されている。検査装置はカメラによって撮像された撮像画像に対して画像処理を行うことにより、錠剤の外観検査を行っている。
Further, also in
例えば特許文献1〜3のように錠剤の上面を垂直に撮像すれば、錠剤の上面の周縁に生じた欠けは錠剤の外周に位置する。なおここでいう錠剤の外周とは、撮像画像において錠剤が占める錠剤領域の輪郭をいう。このように錠剤の外周に位置する欠けは撮像画像から検出しやすい。当該欠けが撮像画像において錠剤領域と背景領域との境界に生じるからである。
For example, when the upper surface of the tablet is imaged vertically as in
これに対して、例えば錠剤を上方斜めから撮像すれば、この一方向の撮像により、錠剤の上面および側面の両方が撮像される。この場合、撮像画像においては錠剤の上面および側面は互いに接することになる。つまりこの撮像画像において、錠剤の上面の周縁のうち側面と接する部分は錠剤の外周(錠剤領域の輪郭)ではなく、錠剤領域の内部に位置することになる。錠剤の欠けが当該部分に生じた場合、その欠けを撮像画像から検出することは困難であった。 On the other hand, for example, if the tablet is imaged diagonally upward, this one-way imaging captures both the top surface and the side surface of the tablet. In this case, in the captured image, the upper surface and the side surface of the tablet are in contact with each other. That is, in this captured image, the portion of the peripheral surface of the upper surface of the tablet that is in contact with the side surface is located inside the tablet region, not the outer circumference of the tablet (outline of the tablet region). When a chip of a tablet occurred in the portion, it was difficult to detect the chip from the captured image.
そこで、本発明は、錠剤の主面および側面が互いに接する撮像画像において、主面および側面の境界上に生じた錠剤の欠けを検出できる錠剤検査方法および錠剤検査装置を提供することを目的とする。 Therefore, an object of the present invention is to provide a tablet inspection method and a tablet inspection apparatus capable of detecting a chipping of a tablet generated on the boundary between the main surface and the side surface in a captured image in which the main surface and the side surface of the tablet are in contact with each other. ..
錠剤検査方法の第1の態様は、一対の第1主面および第2主面と側面とを有する錠剤の外観を検査する錠剤検査方法であって、錠剤を撮像して、前記第1主面および前記側面の両方が写る撮像画像を生成する工程(a)と、前記撮像画像において前記錠剤の前記第1主面および前記側面がそれぞれ占める主面領域と側面領域との間の境界に対応する境界エッジを特定し、前記境界エッジに近似する第1近似線を、前記撮像画像での前記境界の形状を示す関数に基づいて算出する工程(b)と、前記境界エッジ上の各画素と前記第1近似線との間の距離が所定の閾値よりも長いときに、前記錠剤の前記第1主面の周縁に欠けが生じていると判断する工程(c)とを備える。 The first aspect of the tablet inspection method is a tablet inspection method for inspecting the appearance of a tablet having a pair of a first main surface and a second main surface and a side surface, wherein the tablet is imaged and the first main surface is described. Corresponds to the step (a) of generating an captured image in which both of the side surfaces are captured, and the boundary between the main surface region and the side surface region occupied by the first main surface and the side surface of the tablet in the captured image. A step (b) of specifying a boundary edge and calculating a first approximation line that approximates the boundary edge based on a function indicating the shape of the boundary in the captured image, each pixel on the boundary edge, and the above. A step (c) of determining that the peripheral edge of the first main surface of the tablet is chipped when the distance from the first approximation line is longer than a predetermined threshold value is provided.
錠剤検査方法の第2の態様は、第1の態様にかかる錠剤検査方法であって、前記主面領域および前記側面領域は、前記撮像画像において前記錠剤が占める錠剤領域を構成しており、前記工程(b)は、前記撮像画像に対してエッジ検出処理を行ってエッジ画像を生成する工程(b1)と、前記錠剤領域の輪郭に対応する錠剤エッジを前記エッジ画像から特定する工程(b2)と、前記撮像画像における前記第1主面の周縁のうち前記錠剤領域の輪郭の一部となる部分、および、前記撮像画像における前記第2主面の周縁にそれぞれ対応する主面外側エッジおよび側面外側エッジを、前記錠剤エッジから抽出する工程(b3)と、前記エッジ画像において前記側面外側エッジから所定方向に沿って所定距離はなれた探索領域内の画素を探索して、前記境界エッジを特定する工程(b4)と、前記撮像画像での前記主面領域の輪郭の形状を示す関数に基づいて、前記主面外側エッジおよび前記境界エッジの一組たる主面エッジの第2近似線を算出する工程(b5)と、前記第2近似線から前記境界エッジの前記第1近似線を抽出する工程(b6)とを備える。 The second aspect of the tablet inspection method is the tablet inspection method according to the first aspect, wherein the main surface region and the side surface region constitute a tablet region occupied by the tablet in the captured image. In the step (b), an edge detection process is performed on the captured image to generate an edge image (b1), and a tablet edge corresponding to the contour of the tablet region is specified from the edge image (b2). And the outer edge and side surface of the main surface corresponding to the portion of the peripheral edge of the first main surface in the captured image that becomes a part of the contour of the tablet region and the peripheral edge of the second main surface in the captured image, respectively. The boundary edge is specified by the step (b3) of extracting the outer edge from the tablet edge and the search for pixels in the search region separated from the side surface outer edge by a predetermined distance along a predetermined direction in the edge image. Based on the step (b4) and the function indicating the shape of the contour of the main surface region in the captured image, the second approximation line of the pair of main surface edges of the main surface outer edge and the boundary edge is calculated. A step (b5) and a step (b6) of extracting the first approximation line of the boundary edge from the second approximation line are provided.
錠剤検査方法の第3の態様は、第2の態様にかかる錠剤検査方法であって、前記錠剤は略円盤形状を有しており、前記関数は楕円を示す関数であり、前記第2近似線は楕円である。 The third aspect of the tablet inspection method is the tablet inspection method according to the second aspect, wherein the tablet has a substantially disk shape, the function is a function indicating an ellipse, and the second approximation line. Is an ellipse.
錠剤検査方法の第4の態様は、第2または第3の態様にかかる錠剤検査方法であって、前記工程(b4)では、前記エッジ画像の前記探索領域内の画素であって、当該画素に対応する前記撮像画像の画素の画素値が所定閾値よりも大きな画素を探索して、前記境界エッジを特定する。 The fourth aspect of the tablet inspection method is the tablet inspection method according to the second or third aspect, and in the step (b4), the pixels in the search area of the edge image are included in the pixels. The boundary edge is specified by searching for a pixel in which the pixel value of the corresponding pixel of the captured image is larger than a predetermined threshold value.
錠剤検査方法の第5の態様は、第3または第4の態様にかかる錠剤検査方法であって、前記工程(b4)では、前記探索領域において、前記側面外側エッジから前記主面外側エッジへ向かって画素を探索して、前記境界エッジを特定する。 A fifth aspect of the tablet inspection method is the tablet inspection method according to the third or fourth aspect, and in the step (b4), in the search region, the side surface outer edge is directed toward the main surface outer edge. The pixel is searched for to identify the boundary edge.
錠剤検査方法の第6の態様は、第2から第5のいずれか一つの態様にかかる錠剤検査方法であって、前記工程(b5)において算出した前記主面エッジの前記第2近似線から、前記主面外側エッジの第3近似線を抽出する工程と、前記主面外側エッジ上の各画素と前記第3近似線との間の距離が所定の閾値よりも長いときに、前記錠剤の前記第1主面の周縁に欠けが生じていると判断する工程とを備える。 The sixth aspect of the tablet inspection method is the tablet inspection method according to any one of the second to fifth aspects, from the second approximation line of the main surface edge calculated in the step (b5). When the distance between the step of extracting the third approximation line of the outer edge of the main surface and the distance between each pixel on the outer edge of the main surface and the third approximation line is longer than a predetermined threshold value, the tablet is said to be said. A step of determining that the peripheral edge of the first main surface is chipped is provided.
錠剤検査方法の第7の態様は、第2から第6のいずれか一つの態様にかかる錠剤検査方法であって、前記工程(b5)において算出した前記主面エッジの前記第2近似線から、前記側面外側エッジの第4近似線を抽出する工程と、前記側面外側エッジ上の各画素と前記第4近似線との間の距離が所定の閾値よりも長いときに、前記錠剤の前記第2主面の周縁に欠けが生じていると判断する工程とを備える。 The seventh aspect of the tablet inspection method is the tablet inspection method according to any one of the second to sixth aspects, from the second approximation line of the main surface edge calculated in the step (b5). When the step of extracting the fourth approximation line of the side surface outer edge and the distance between each pixel on the side surface outer edge and the fourth approximation line is longer than a predetermined threshold value, the second of the tablets. It is provided with a step of determining that the peripheral edge of the main surface is chipped.
錠剤検査装置の第8の態様は、一対の第1主面および第2主面と側面とを有する錠剤の外観を検査する錠剤検査装置であって、錠剤を撮像して、前記第1主面および前記側面の両方が写る撮像画像を生成する撮像部と、画像処理部とを備え、前記画像処理部は、前記撮像画像において前記錠剤の前記第1主面および前記側面がそれぞれ占める主面領域と側面領域との間の境界に対応する境界エッジを特定し、前記境界エッジに近似する第1近似線を、前記撮像画像での前記境界の形状を示す関数に基づいて算出し、前記境界エッジ上の各画素と前記第1近似線との間の距離が所定の閾値よりも長いときに、前記錠剤の前記第1主面の周縁に欠けが生じていると判断する。 An eighth aspect of the tablet inspection device is a tablet inspection device for inspecting the appearance of a tablet having a pair of a first main surface and a second main surface and a side surface, wherein the tablet is imaged and the first main surface is described. The image processing unit includes an image pickup unit that generates an image capture image in which both of the side surfaces are captured, and the image processing unit includes a main surface region occupied by the first main surface and the side surface of the tablet in the captured image. The boundary edge corresponding to the boundary between the image and the side region is specified, and a first approximation line that approximates the boundary edge is calculated based on a function indicating the shape of the boundary in the captured image, and the boundary edge is calculated. When the distance between each of the above pixels and the first approximation line is longer than a predetermined threshold value, it is determined that the peripheral edge of the first main surface of the tablet is chipped.
錠剤検査方法の第1の態様および錠剤検査装置の第8の態様によれば、錠剤の第1主面および側面が互いに接する撮像画像において、第1主面および側面の境界上に生じた錠剤の欠けを検出できる。 According to the first aspect of the tablet inspection method and the eighth aspect of the tablet inspection apparatus, in the captured image in which the first main surface and the side surface of the tablet are in contact with each other, the tablet generated on the boundary between the first main surface and the side surface. Chips can be detected.
錠剤検査方法の第2の態様によれば、境界エッジの第1近似線を適切に得ることができる。 According to the second aspect of the tablet inspection method, the first approximation line of the boundary edge can be appropriately obtained.
錠剤検査方法の第3の態様によれば、錠剤の形状に応じて適切な関数を採用しているので、より錠剤の主面に近い第2近似線を算出できる。 According to the third aspect of the tablet inspection method, since an appropriate function is adopted according to the shape of the tablet, a second approximation line closer to the main surface of the tablet can be calculated.
錠剤検査方法の第4の態様によれば、撮像画像における主面と側面との間の境界の形状により近い第1近似線を算出することができる。 According to the fourth aspect of the tablet inspection method, it is possible to calculate a first approximation line that is closer to the shape of the boundary between the main surface and the side surface in the captured image.
錠剤検査方法の第5の態様によれば、錠剤の主面に割線が形成されていたとしても、当該割線に対応するエッジを境界エッジとして誤検出することを回避できる。 According to the fifth aspect of the tablet inspection method, even if a score line is formed on the main surface of the tablet, it is possible to avoid erroneous detection of the edge corresponding to the score line as the boundary edge.
錠剤検査方法の第6の態様によれば、第1主面の周縁に生じる錠剤の欠けを検出できる。 According to the sixth aspect of the tablet inspection method, the chipping of the tablet generated on the peripheral edge of the first main surface can be detected.
錠剤検査方法の第7の態様によれば、第2主面の周縁に生じる錠剤の欠けを検出できる。 According to the seventh aspect of the tablet inspection method, the chipping of the tablet generated on the peripheral edge of the second main surface can be detected.
以下、図面を参照しつつ実施の形態について詳細に説明する。図面においては、理解容易の目的で、必要に応じて各部の寸法や数を誇張または簡略化して描いている。なお、図面においては同様な構成及び機能を有する部分については同じ符号が付されており、下記説明では重複説明が省略される。また各図において、構成要素の方向関係を明確にするため、Z軸方向を鉛直方向とし、XY平面を水平面とするXYZ直交座標系を適宜付している。 Hereinafter, embodiments will be described in detail with reference to the drawings. In the drawings, the dimensions and numbers of each part are exaggerated or simplified as necessary for the purpose of easy understanding. In the drawings, the same reference numerals are given to the parts having the same configuration and function, and the duplicate description is omitted in the following description. Further, in each figure, in order to clarify the directional relationship of the components, an XYZ Cartesian coordinate system with the Z-axis direction as the vertical direction and the XY plane as the horizontal plane is appropriately attached.
図1は、錠剤印刷装置10の構成の一例を概略的に示す図である。錠剤印刷装置10は錠剤検査装置1と印刷ヘッド6とを備えている。
FIG. 1 is a diagram schematically showing an example of the configuration of the
錠剤検査装置1は錠剤9の外観を検査する装置である。図2は、錠剤9の一例を概略的に示す斜視図である。図2の例では、錠剤9は略円盤形状を有している。具体的には、錠剤9は一対の主面9a,9bと側面9cとを備えている。主面9a,9bは平面視において、略同一の円形状を有する。この主面9a,9bの一方および他方はそれぞれ表面および裏面と呼ばれることがあり、また上面および下面と呼ばれることもある。
The
錠剤9の主面9aおよび側面9cは角部を形成しながら互いに連結されており、主面9bおよび側面9cも角部を形成しながら互いに連結されている。錠剤9の直径は例えば5[mm]程度〜10数[mm]程度に設定され、その厚みは例えば5[mm]程度以下に設定され得る。
The
図2に例示するように、錠剤9の主面9aには割線91が形成されていてもよい。割線91は主面9aの中心を通って主面9aの端から端まで直線状に延びる溝である。また主面9bにも同様の割線が形成されていてもよい。
As illustrated in FIG. 2, a
図1を参照して、錠剤検査装置1はホッパー2と搬送ドラム3と搬送部4と撮像ヘッド5と選別部7と制御部8とを備えている。
With reference to FIG. 1, the
ホッパー2は、錠剤9を錠剤印刷装置10内に投入するための投入部である。このホッパー2は、錠剤印刷装置10の筐体(図示省略)の天井部上側に設けられている。ホッパー2から投入された錠剤9は搬送ドラム3に導かれる。なお、ホッパー2を除く他の要素は錠剤印刷装置10の筐体の内部に設けられている。
The
搬送ドラム3は略円柱状の形状を有しており、その中心軸がY軸方向に沿う姿勢で配置されている。搬送ドラム3は図示省略の回転駆動モータによって当該中心軸を回転中心として図1の紙面上で反時計回りに回転される。この回転駆動モータは例えば制御部8によって制御される。
The
搬送ドラム3の外周面には複数の吸着孔(不図示)が周方向に沿って並んで形成されている。複数の吸着孔のそれぞれは搬送ドラム3の内部に設けられた吸引機構(図示省略)と連通している。この吸引機構は例えば制御部8によって制御される。この吸引機構を作動させることによって複数の吸着孔のそれぞれに大気圧よりも低い負圧を作用させることができる。これにより、搬送ドラム3の各吸着孔は1個の錠剤9を吸着保持することができる。
A plurality of suction holes (not shown) are formed side by side along the circumferential direction on the outer peripheral surface of the
搬送部4は搬送ドラム3の下方に配置されている。搬送ドラム3の外周面に吸着保持された錠剤9は搬送ドラム3の回転に伴って周方向に移動する。錠剤9が搬送ドラム3の下方側まで移動したときに吸引機構が錠剤9に対する吸着を解除することにより、錠剤9が落下して搬送部4へと受け渡される。
The
搬送部4は錠剤9を搬送する。図1の例では、搬送部4はベルトコンベアであって、搬送ベルト41と一対のプーリ42とを備えている。一対のプーリ42は例えばX軸方向において間隔を空けて配置されており、自身の中心軸がY軸方向に沿う姿勢で配置されている。一対のプーリ42はそれぞれ自身の中心軸を回転中心として回転する。
The
搬送ベルト41は一対のプーリ42に掛け渡されている。一対のプーリ42の少なくともいずれか一方が図示省略の駆動モータによって回転駆動されることにより、搬送ベルト41が図1の矢印にて示す向きに回走する。この駆動モータは例えば制御部8によって制御される。
The
搬送ベルト41の外周面にも、図示省略の複数の吸着孔がその周方向に沿って並んで形成されている。複数の吸着孔のそれぞれは搬送ベルト41の内部に設けられた吸引機構(図示省略)と連通している。この吸引機構は例えば制御部8によって制御される。この吸引機構を作動させることによって複数の吸着孔のそれぞれに大気圧よりも低い負圧を作用させることができる。これにより、搬送ベルト41の各吸着孔は1個の錠剤9を吸着保持することができる。
On the outer peripheral surface of the
搬送ベルト41が錠剤9を吸着保持しながら回走することにより、錠剤9はX軸方向に沿って搬送ドラム3から遠ざかる方向に搬送される。
As the
撮像ヘッド5は搬送部4による錠剤9の搬送経路の途中において搬送ドラム3の下流側で、搬送部4と対向する位置に配置されている。この撮像ヘッド5の撮像エリアは搬送ベルト41の一部を含んでいる。撮像ヘッド5は錠剤9がこの撮像エリア内を移動するときに錠剤9を撮像して、撮像画像を生成する。撮像ヘッド5はこの撮像画像を制御部8へ出力する。撮像ヘッド5の具体的な内部構成の一例については後に詳述する。
The
制御部8は、入力された撮像画像に対して画像処理を施すことにより、錠剤9の外観を検査する。制御部8は錠剤9の外観に欠陥が生じている場合にはその錠剤9を不良品と判断し、錠剤9の外観に欠陥が生じていない場合にはその錠剤9を良品と判断する。当該欠陥としては、錠剤9に付着した不純物または錠剤9の形状上の不備(例えば欠け)などの欠陥を例示できる。制御部8による具体的な画像処理の一例については後に詳述する。
The
印刷ヘッド6は錠剤9の搬送途中において撮像ヘッド5の下流側で、搬送ベルト41の上方に配置されている。印刷ヘッド6は例えば制御部8によって制御され、錠剤9に対して印刷処理を行う。印刷ヘッド6は複数の吐出ノズル(図示省略)を備えており、各吐出ノズルからインクジェット方式によってインクの液滴を吐出する。インクジェットの方式は、ピエゾ素子(圧電素子)に電圧を加えて変形させてインクの液滴を吐出するピエゾ方式であっても良いし、ヒータに通電してインクを加熱することによってインクの液滴を吐出するサーマル方式であっても良い。本実施形態においては、錠剤9に印刷処理を行うため、インクとしては食品衛生法で認められている原料によって製造された可食性インクを使用する。
The
図1の例では、印刷ヘッド6は撮像ヘッド5よりも搬送経路の下流側に位置しているので、制御部8は錠剤9の検査結果に応じて印刷処理の要否を決定してもよい。より具体的には、外観検査において錠剤9が良品と判断した場合には、制御部8はその錠剤9に対して印刷処理を行うように印刷ヘッド6を制御し、錠剤9が不良品と判断した場合には、その錠剤9に対して印刷処理を行わないように印刷ヘッド6を制御してもよい。これによれば、不要な印刷処理を回避することができる。
In the example of FIG. 1, since the
選別部7は外観検査の結果に応じて錠剤9を選別する。例えば選別部7は良品ボックスおよび不良品ボックスを有している。これらのボックスは上方に開口した箱状の形状を有している。良品ボックスは良品と判断された錠剤9を収容し、不良品ボックスは不良品と判断された錠剤9を収容する。例えばこれらのボックスは搬送ベルト41の下方側においてX軸方向に沿って並んで配置されている。制御部8は良品と判断した錠剤9が良品ボックスの開口部の直上に位置するときに、搬送ベルト41内の吸引機構を制御してその錠剤9に対する吸着を解除する。これにより、錠剤9は良品ボックスの内部へと落下して、これに収容される。不良品と判断された錠剤9についても同様にして、不良品ボックスの内部に収容される。
The
制御部8は上述したように各種の構成要素を制御し、また、撮像ヘッド5から入力される撮像画像に対して画像処理を行うことで錠剤9の外観検査を行う。
The
この制御部8は電子回路機器であって、例えばデータ処理装置および記憶媒体を有していてもよい。データ処理装置は例えばCPU(Central Processor Unit)などの演算処理装置であってもよい。記憶部は非一時的な記憶媒体(例えばROM(Read Only Memory)またはハードディスク)および一時的な記憶媒体(例えばRAM(Random Access Memory))を有していてもよい。非一時的な記憶媒体には、例えば制御部8が実行する処理を規定するプログラムが記憶されていてもよい。処理装置がこのプログラムを実行することにより、制御部8が、プログラムに規定された処理を実行することができる。もちろん、制御部8が実行する処理の一部または全部がハードウェアによって実行されてもよい。
The
<撮像ヘッド>
撮像ヘッド5は錠剤9の少なくとも2つの面が写る方向から、搬送途中の錠剤9を撮像する。なお錠剤9は、その主面9bが搬送ベルト41側を向く姿勢で搬送ベルト41に吸着保持されることもあれば、その主面9aが搬送ベルト41側を向く姿勢で搬送ベルト41に吸着保持されることもある。以下では、説明の便宜上、錠剤9はその主面9bが搬送ベルト41側を向く姿勢で搬送ベルト41に保持されるものとする。また錠剤9が搬送ベルト41に吸着保持された状態では、側面9cのうち少なくとも主面9a側の一部は、搬送ベルト41から露出している。
<Image pickup head>
The
撮像ヘッド5は錠剤9の主面9aおよび側面9cの両方が写る方向から錠剤9を撮像する。これにより、錠剤9の主面9aおよび側面9cの両方が写る撮像画像を生成する。図3および図4は、撮像ヘッド5の内部構成の一例を概略的に示す図である。例えば撮像ヘッド5は検査カメラ51とレンズ群52とミラー53と角錐型ミラー54とを備えている。検査カメラ51は例えばCCD(Charge Coupled Device)イメージセンサまたはCMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)イメージセンサなどのイメージセンサである。この検査カメラ51は錠剤9の搬送経路の一部とZ軸方向で対向する位置において、その撮像面が搬送ベルト41側を向く姿勢で配置されている。
The
ミラー53は、錠剤9の主面9aおよび側面9cからの光を後述する角錐型ミラー54に導くために設けられている。このミラー53の位置を説明するに当たって、便宜的に、錠剤9が検査カメラ51とZ軸方向で向かい合う位置に停止していると仮定する。図3を参照して、ミラー53はZ軸方向において検査カメラ51と錠剤9との間に位置しており、平面視において(つまりZ軸方向に沿って見て)錠剤9よりも外側に配置されている。また、ミラー53は角錐型ミラー54の各面に対向するように配置されている。
The
角錐型ミラー54は、ミラー53で反射した錠剤9の主面9aおよび側面9cからの光を、レンズ群52を介して検査カメラ51の撮像面に導く。角錐型ミラー54は、4つのミラーによって構成されており、各ミラー53と対向するように角錐型ミラー54が配置されている。
The
錠剤9の主面9aおよび側面9cで反射または散乱された光の一部はミラー53の一つに向かって斜め上方へと進み、当該ミラー53で反射し、ミラー53で反射した光は角錐型ミラー54で反射した上で、レンズ群52を介して検査カメラ51の撮像面に結像する。換言すれば、錠剤9の主面9aおよび側面9cから斜め上方に進む光を検査カメラ51の撮像面に向けて反射できるように、ミラー53および角錐型ミラー54の反射面の地面に対する角度が調整されている。
A part of the light reflected or scattered on the
これにより、検査カメラ51は当該ミラー53から見た錠剤9の外観を撮像することができる。つまり、検査カメラ51は実質的に錠剤9を斜め方向から撮像することができ、その撮像画像には、錠剤9の主面9aおよび側面9cの両方が含まれることになる。なお図3では、光の経路の一例が破線で示されている。
As a result, the
図4の例では、複数(図では4つ)のミラー53が配置されている。例えば2つのミラー53がX軸方向において間隔を空けて配置されており、残り2つのミラー53がY軸方向において間隔を空けて配置されている。これによれば、錠剤9は平面視において四方をミラー53によって囲まれることになる。さらに、各ミラー53の中央に間隔をあけて角錐型ミラー54が配置されている。各ミラー53で反射された光は角錐型ミラー54でさらに反射され、レンズ群52を介して検査カメラ51の撮像面に結像される。具体的には、4つのミラー53で反射された光は検査カメラ51の撮像面のうち互いに異なる領域に結像される。これにより、撮像ヘッド5は4方向から錠剤9を撮像し、4方向から見た錠剤9の外観を含む撮像画像を生成する。
In the example of FIG. 4, a plurality of mirrors 53 (four in the figure) are arranged. For example, the two
図5は、撮像画像IM1の一例を概略的に示す図である。撮像画像IM1には、4方向から見た錠剤9の外観が含まれており、これらのいずれにおいても、錠剤9の主面9aおよび側面9cが写っている。ここでは4方向から錠剤9を撮像するので、錠剤9の側面9cを全周に亘って撮像することができる。以下では、撮像画像IM1に写る錠剤9の主面9aおよび側面9cを、実際の錠剤9の主面9aおよび側面9cと区別すべく、それぞれ主面9aaおよび側面9caと呼ぶ。
FIG. 5 is a diagram schematically showing an example of the captured image IM1. The captured image IM1 includes the appearance of the
撮像ヘッド5は図示省略の照明用光源を有していてもよい。この照明用光源は錠剤9へと光を照射する。これにより、撮像画像IM1における錠剤9の明るさを向上できる。
The
また図3および図4の例では、ミラー53、角錐型ミラー54によって光の経路を曲げているものの、必ずしもこれに限らない。光の経路を曲げる素子として、プリズムなどの他の光学素子を採用してもよい。
Further, in the examples of FIGS. 3 and 4, although the light path is bent by the
<検査>
制御部8は、撮像ヘッド5から入力される撮像画像IM1に対して画像処理を行い、撮像された錠剤9の外観検査を行う。よって、制御部8は画像処理部として機能することとなる。
<Inspection>
The
以下では、説明の簡単のために、一方向から見た錠剤9の外観について説明を行う。図6は、欠陥が生じている錠剤9を一方向から撮像した撮像画像IM11の一例を概略的に示す図である。図6の例では、錠剤9の主面9aaと側面9caとの間の境界に欠けB1が存在している。
In the following, for the sake of simplicity, the appearance of the
制御部8は撮像画像IM11に対して画像処理を行って、錠剤9の欠けB1を検出する。以下、より具体的に説明する。
The
図7は、錠剤検査装置1における動作の一例を示すフローチャートである。まずステップS1にて、撮像ヘッド5は錠剤9の主面9aおよび側面9cの両方が写る方向から搬送途中の錠剤9を撮像して、錠剤9の主面9aおよび側面9cの両方が写る撮像画像IM11を生成する。撮像ヘッド5はこの撮像画像IM11を制御部8へと出力する。
FIG. 7 is a flowchart showing an example of the operation in the
次に制御部8は撮像画像IM11において錠剤9の主面9aaが占める主面領域Raの輪郭に対応する主面エッジを検出する。なお図6に示すように、欠けB1が主面領域Raと側面領域Rcとの間の境界に生じている場合、主面エッジは、欠けB1を含んだ主面9aaの輪郭に対応するエッジであると把握する。主面エッジの検出は例えば図7のステップS2〜S5の一連の処理によって実行される。
Next, the
まずステップS2にて、制御部8は撮像画像IM11に対してエッジ検出処理を行ってエッジ画像を生成する。ただしここでは、制御部8は、背景領域BRを削除した撮像画像IM11に対してエッジ検出処理を行う。背景領域BRとは、撮像画像IM11において錠剤9が占める錠剤領域TR以外の領域である。この錠剤領域TRは主面領域Raおよび側面領域Rcによって構成される。
First, in step S2, the
背景領域BRの削除のために、まず制御部8は撮像画像IM11の錠剤領域TRと背景領域BRとを区別する。例えば制御部8は撮像画像IM11に対する二値化処理を用いて、錠剤領域TRと背景領域BRとを区別する。背景領域BRには、搬送ベルト41が含まれているので、錠剤領域TRと背景領域BRとを精度よく区別するために、実際の搬送ベルト41の色と錠剤9の色とのコントラストを大きくするとよい。例えば錠剤9が白色系である場合には、搬送ベルト41を黒色とする。制御部8は背景領域BRを特定すると、撮像画像IM11において背景領域BRを削除する。例えば制御部8は背景領域BR内の全ての画素の画素値を零にすることで、背景領域BRを削除する。
In order to delete the background region BR, the
次に制御部8は、背景領域BRを削除した撮像画像IM11に対してエッジ検出処理を行って、エッジ画像を生成する。エッジ検出処理の具体的な処理方法は特に制限される必要は無いものの、その一例について簡単に説明する。例えば制御部8は除去後の撮像画像IM11に対してエッジ強度処理を行って、エッジ強度画像を生成する。エッジ強度処理は例えば各画素間の画素値の差の算出処理を含み、これにより、撮像画像IM11において画素間の画素値の差の大きい領域がエッジ強度画像となる。制御部8はこのエッジ強度画像において、画素値が所定のエッジ閾値よりも大きいか否かを画素ごとに判断する。エッジ閾値は例えば予め設定されて制御部8の記憶媒体に記憶されてもよい。制御部8はエッジ閾値よりも大きい画素値を有する画素を検出して、エッジ画像を生成する。
Next, the
このエッジ画像は背景領域BRが除去された撮像画像IM11に基づいて生成されるので、背景領域BR内のエッジ(例えば搬送ベルト41の凹凸)はエッジ画像において検出されない。つまり、錠剤領域TRの輪郭に対応するエッジ(以下、錠剤エッジと呼ぶ)はエッジ画像内のエッジ群のうち最外周に位置することになる。 Since this edge image is generated based on the captured image IM11 from which the background region BR is removed, the edge in the background region BR (for example, the unevenness of the transport belt 41) is not detected in the edge image. That is, the edge corresponding to the contour of the tablet region TR (hereinafter referred to as the tablet edge) is located at the outermost circumference of the edge group in the edge image.
そこでステップS3にて、制御部8は錠剤エッジを次のように特定する。即ち、制御部8はエッジ画像におけるエッジ群のうち、最外周に位置するエッジを錠剤エッジP0(図8参照)として特定する。
Therefore, in step S3, the
図8は、錠剤エッジP0の一例を模式的に示す図である。図8の例では、模式的に、錠剤エッジP0が複数のエッジに分割して示されている。この錠剤エッジP0は側面外側エッジP1と主面外側エッジP2と一対の側面稜線エッジP4によって構成されている。側面外側エッジP1は、錠剤9の主面9bの周縁のうち撮像画像IM11に写っている部分に対応するエッジである。主面9bは円形状を有しているので、側面外側エッジP1は理想的には半楕円形状を有している。ここでいう半楕円形状とは、楕円をその長軸で2つに分割して得られる形状をいう。
FIG. 8 is a diagram schematically showing an example of the tablet edge P0. In the example of FIG. 8, the tablet edge P0 is schematically shown by being divided into a plurality of edges. The tablet edge P0 is composed of a side surface outer edge P1, a main surface outer edge P2, and a pair of side ridge edge P4. The side surface outer edge P1 is an edge corresponding to the portion of the peripheral edge of the
主面外側エッジP2は撮像画像IM11における錠剤9の主面9aaの周縁のうち側面9caとは接していない部分に対応するエッジである。この主面外側エッジP2は錠剤9の主面9aaの周縁のうち錠剤領域TRの輪郭の一部に対応するエッジである、ともいえる。主面9aは円形状を有しているので、主面外側エッジP2は理想的には半楕円形状を有している。より具体的には、側面外側エッジP1および主面外側エッジP2は互いに反対側に膨らむ半楕円形状を有している。
The main surface outer edge P2 is an edge corresponding to a portion of the peripheral edge of the main surface 9aa of the
一対の側面稜線エッジP4は理想的には直線状に延在しており、主面外側エッジP2の両端をそれぞれ側面外側エッジP1の両端に連結している。一対の側面稜線エッジP4は撮像画像IM11における錠剤9の側面9caの輪郭の一部に対応するエッジである。一対の側面稜線エッジP4はほぼ平行に延在しており、その延在方向は撮像ヘッド5の内部構成の配置によって予め決まっている。ここでは、側面稜線エッジP4は撮像画像IM11内の横方向に対して略45度で交差する方向に延在しているものとする。
The pair of side surface ridge edges P4 ideally extend linearly, and both ends of the main surface outer edge P2 are connected to both ends of the side surface outer edge P1. The pair of side ridge edges P4 are edges corresponding to a part of the contour of the side surface 9ca of the
なお一対の側面稜線エッジP4は実際には完全な平行ではない。一対の側面稜線エッジP4は側面外側エッジP1側に向かうにしたがって互いに近づくように僅かに傾斜している。以下では簡単のために、一対の側面稜線エッジP4は平行であると仮定する。より厳密に考えるのであれば、以下で述べる側面稜線エッジP4の延在方向を、一対の側面稜線エッジP4の延在方向の二等分線で表される方向と把握すればよい。 It should be noted that the pair of side ridge edges P4 are not actually perfectly parallel. The pair of side ridge edges P4 are slightly inclined so as to approach each other toward the side outer edge P1 side. In the following, for the sake of simplicity, it is assumed that the pair of side ridge edges P4 are parallel. If considered more strictly, the extending direction of the side ridge edge P4 described below may be understood as the direction represented by the bisector of the extending direction of the pair of side ridge edges P4.
再び図7を参照して、ステップS4にて、制御部8はステップS3で特定した錠剤エッジP0から、側面外側エッジP1および主面外側エッジP2を抽出する。例えば制御部8は錠剤エッジP0のうち、所定方向D1(=側面稜線エッジP4の延在方向)に沿って延在するエッジを側面稜線エッジP4と特定する。そして制御部8は、錠剤エッジP0から側面稜線エッジP4を除いた2つのエッジのうち、所定側(図では右上側)にある一方を側面外側エッジP1と特定し、他方を主面外側エッジP2と特定する。
With reference to FIG. 7 again, in step S4, the
次にステップS5にて、制御部8は境界エッジP3をエッジ画像から特定する。境界エッジP3とは、撮像画像IM11において錠剤9の主面9aaと側面9caとの間の境界に対応するエッジである。言い換えれば、境界エッジP3は主面領域Raと側面領域Rcとの間の境界に対応するエッジである。なお図6に示されるように、欠けB1が存在する場合には、境界エッジP3は欠けB1の輪郭に対応するエッジの一部を含む。境界エッジP3の具体例は後述する。
Next, in step S5, the
錠剤9に欠けB1が生じていない場合、境界エッジP3は理想的には、主面外側エッジP2とは反対側に膨らむ半楕円形状を有する。つまり、境界エッジP3は側面外側エッジP1と同様の形状を有する。またここでは錠剤9はさほど厚くないので、錠剤9に欠けB1が生じていなければ、境界エッジP3および側面外側エッジP1はほぼ同一形状を有している、と考えることができる。つまり、境界エッジP3は側面外側エッジP1を所定方向D1に沿って主面外側エッジP2側へと、側面稜線エッジP4の長さの分だけ平行移動させた領域に存在している。側面稜線エッジP4の長さは錠剤9の厚みおよび撮像ヘッド5の内部構成の配置に応じて予め決まっているので、側面外側エッジP1が特定されれば、境界エッジP3が存在する領域を推定することができる。
In the absence of chipping B1 in
そこで制御部8は、側面外側エッジP1から所定方向D1に沿って主面外側エッジP2側へと所定距離だけ離れた探索領域R1(図9も参照)内の画素を探索して境界エッジP3を特定する。図9は、探索領域R1の一例を模式的に示す図である。この探索領域R1の一例を説明するにあたって、その探索領域R1の中心線L0と、探索領域R1の輪郭を形成する線L1〜L4とを導入する。
Therefore, the
中心線L0は側面外側エッジP1を側面稜線エッジP4の長さの分だけ、所定方向D1に沿って主面外側エッジP2側へと移動させた線である。また図9の例では、境界エッジP3の一部と中心線L0の一部とを互いに一致させて示しているものの、実際にはこれらは互いに相違し得る。 The center line L0 is a line obtained by moving the side surface outer edge P1 toward the main surface outer edge P2 along the predetermined direction D1 by the length of the side surface ridge line edge P4. Further, in the example of FIG. 9, although a part of the boundary edge P3 and a part of the center line L0 are shown to coincide with each other, they may actually be different from each other.
線L1,L2は、中心線L0を所定方向D1に沿って互いに反対側へと所定幅だけ移動させた線である。この所定幅は、想定される欠けB1の大きさに応じて予め設定される。図9では、線L1は線L2よりも側面外側エッジP1に近い。線L3,L4は所定方向D1に沿って延在しており、それぞれ線L1,L2の両端を連結する。探索領域R1はこれらの線L1〜L4の一組によって囲まれた領域である。 The lines L1 and L2 are lines in which the center line L0 is moved along the predetermined direction D1 to the opposite sides by a predetermined width. This predetermined width is preset according to the assumed size of the chipped B1. In FIG. 9, line L1 is closer to the side outer edge P1 than line L2. The lines L3 and L4 extend along the predetermined direction D1 and connect both ends of the lines L1 and L2, respectively. The search region R1 is a region surrounded by a set of these lines L1 to L4.
なお図9では、欠けB1の輪郭に対応する欠けエッジP’、および、割線91に対応する割線エッジP5の一部も示されている。また以下では説明の便宜上、探索領域R1において所定方向D1に沿って並ぶ画素群を、「行」と呼ぶ。
Note that FIG. 9 also shows a chipped edge P'corresponding to the contour of the chipped B1 and a part of the secant edge P5 corresponding to the
図10は、制御部8の探索処理の一例を示すフローチャートである。まずステップS51にて、制御部8は値N,Mをそれぞれ1に初期化する。値Nは探索領域R1内の行の番号を示しており、値Mはその行に属する画素の番号を示している。第1番目の画素は線L1上の画素であり、第M番目の画素は各行において第(M−1)番目の画素の隣の画素である。
FIG. 10 is a flowchart showing an example of the search process of the
次にステップS52にて、制御部8はエッジ画像の探索領域R1内の第N行第M番目の画素がエッジを示すか否かを判断する。否定的な判断がなされたときには、ステップS53にて、制御部8は値Mに1を加算して値Mを更新し、更新後の値Mを用いて再びステップS52を実行する。つまり、エッジを示す画素(以下、エッジ画素とも呼ぶ)を検出できなければ、次の画素について同様の判断を行うのである。
Next, in step S52, the
ステップS52において肯定的な判断がなされたときには、ステップS54にて、制御部8はその画素を境界エッジP3の構成要素として把握する。次にステップS55にて、制御部8は値Nに1を加算して値Nを更新し、値Mを1に初期化する。次にステップS56にて、制御部8は値Nが基準値Nrefよりも大きいか否かを判断する。基準値Nrefは探索領域R1に含まれる行の総数である。つまり、制御部8は全ての行を探索したか否かを判断する。全ての行を探索してないと判断したときには、制御部8はステップS52を再び実行する。全ての行を探索したと判断したときには、制御部8は探索処理を終了する。
When a positive determination is made in step S52, in step S54, the
以上のように、制御部8は探索領域R1内の各行において、線L1から画素を順次に選択し、最初に検出したエッジ画素を境界エッジP3の構成要素として特定する。なお図9の例示では、画素の探索方向を探索領域R1内の実線矢印で模式的に示しており、矢印の終点は、境界エッジP3の構成要素を示している。この探索処理によれば、欠けエッジP’上の画素は次のように境界エッジP3の構成要素として特定される。即ち、欠けエッジP’のうち線L1側(つまり側面外側エッジP1側)のエッジPc’上の画素が境界エッジP3の構成要素として特定される。図9では、境界エッジP3の構成要素として特定される画素のいくつかを模式的に黒丸で示している。
As described above, the
また上述の探索処理によれば、割線エッジP5上の画素は境界エッジP3の構成要素として特定されない。なぜなら、割線エッジP5は境界エッジP3に対して主面外側エッジP2側に位置しているところ、制御部8は探索領域R1を線L1側から線L2側へ(つまり側面外側エッジP1から主面外側エッジP2側へ)探索しているからである。つまり、この探索処理によれば、制御部8は割線エッジP5の画素を探索するよりも前に境界エッジP3の構成要素を特定することができる。
Further, according to the above-mentioned search process, the pixel on the secant edge P5 is not specified as a component of the boundary edge P3. This is because the secant edge P5 is located on the outer edge P2 side of the main surface with respect to the boundary edge P3, and the
制御部8は、ステップS4で特定した主面外側エッジP2およびステップS5で特定した境界エッジP3の一組を、主面エッジP23として特定する。欠けB1が生じている場合には、主面エッジP23は理想的な楕円形状を有さずに、その欠けB1に対応する部分において理想的な楕円形状から乖離する(後に説明する図11も参照)。よって、この理想的な楕円に近い近似線を算出すれば、その近似線と主面エッジP23とが乖離する部分に基づいて、欠けB1を検出することができる。
The
そこで次にステップS6にて、制御部8は楕円の関数に基づいて、主面エッジP23に近似する近似線(楕円)を算出する。より一般的に説明すれば、制御部8は撮像画像IM11における主面領域Raの輪郭の形状として予め決められた基準関数に基づいて、主面エッジP23の近似線を算出する。ここでいう基準関数とは、錠剤9に欠陥が生じていないときの主面領域Raの輪郭の形状を表す関数であって、その位置および大きさが変数となる関数をいう。楕円の関数であれば、例えばその長軸の長さ、短軸の長さ、長軸の延在方向、および、中心などを変数として採用できる。制御部8は例えば最小二乗法により主面エッジP23に近似する楕円E1(より具体的にはその長軸の長さ、短軸の長さ、長軸の延在方向および中心)を算出する。
Therefore, in step S6, the
以上のように、主面領域Raの輪郭を示す基準関数に基づいて主面エッジP23の近似線を算出しているので、この近似線は主面領域Raの輪郭に近い線となる。また上述の具体例では、錠剤9が略円盤形状を有している。つまり、錠剤9の主面9aが略円形状を有している。よって、撮像画像IM11において主面9aaの周縁は理想的には楕円形状を有する。本実施の形態では、これに対応して、楕円の関数が基準関数として用いられている。したがって、適切に主面領域Raの輪郭に近い近似線を算出することができる。
As described above, since the approximate line of the main surface edge P23 is calculated based on the reference function indicating the contour of the main surface region Ra, this approximate line is close to the contour of the main surface region Ra. Further, in the above-mentioned specific example, the
以下では、楕円E1をその長軸で分割して得られる2つの半楕円のうち、主面9aa側の半楕円および側面9ca側の半楕円をそれぞれ半楕円E11,E12とも呼ぶ。この半楕円E11,E12はそれぞれ主面外側エッジP2および境界エッジP3の近似線に相当することになる。 In the following, of the two semi-ellipses obtained by dividing the ellipse E1 along its long axis, the semi-ellipse on the main surface 9aa side and the semi-ellipse on the side surface 9ca side are also referred to as semi-ellipses E11 and E12, respectively. The semi-ellipses E11 and E12 correspond to the approximate lines of the outer edge P2 of the main surface and the boundary edge P3, respectively.
次にステップS7にて、制御部8は側面外側エッジP1に近似する近似線(半楕円)を楕円E1に基づいて算出する。例えば制御部8は楕円E1を所定方向D1に沿って移動させながらレーベンバーグ・マルカート(LM)法を用いて、側面外側エッジP1に沿う楕円E2を算出する。この楕円E2は錠剤9の主面9bの周縁に相当する。よって、制御部8はこの楕円E2をその長軸で分割し、得られた2つの半楕円のうち、境界エッジP3よりも遠い方にある半楕円E21を側面外側エッジP1の近似線として求める。
Next, in step S7, the
制御部8はこの楕円E2の算出に際して、楕円E1を所定の割合で縮小させてもよい。撮像画像IM11のような斜視図において、錠剤9の主面9bの周縁は錠剤9の主面9aの周縁よりも所定割合で小さくなるからである。この所定割合は錠剤9の厚みに応じて予め設定される。
The
なお制御部8は必ずしも楕円E1に基づいて楕円E2を算出し、楕円E2から半楕円E21を算出する必要はない。例えば制御部8は楕円E1から半楕円E12を求め、この半楕円E12を所定方向D1に沿って移動させながらLM法を用いて半楕円E21を算出してもよい。また半楕円E21の算出に当たって半楕円E12を所定割合で縮小しても構わない。
The
図11は、欠けB1が生じた錠剤9についての各種エッジおよびその近似線の一例を概略的に示す図である。主面エッジP23は欠けB1の輪郭のうち側面9ca側の部分と主面9aaの周縁と沿って延在する。図11の例では、側面外側エッジP1と、その近似線たる半楕円E21とが互いに一致して示されているものの、実際にはこれらは互いに相違し得る。
FIG. 11 is a diagram schematically showing an example of various edges and their approximate lines for the
次にステップS8にて、制御部8は検査処理を実行する。この検査処理は、錠剤9の主面9a,9bの周縁に生じた欠けを検出するための処理である。図12は、この検査処理の具体的な一例を示すフローチャートである。まずステップS81にて、制御部8は主面エッジP23の近似線たる楕円E1から、それぞれ主面外側エッジP2および境界エッジP3の近似線たる半楕円E11,E12を抽出する。具体的には、制御部8は楕円E1をその長軸で分割して得られる半楕円をそれぞれ半楕円E11,E12として算出する。
Next, in step S8, the
次にステップS82にて、制御部8は、境界エッジP3上の各画素と半楕円E12との間の距離d(図11も参照)が所定の閾値(以下、距離閾値と呼ぶ)dthよりも長いか否かを判断する。距離閾値dthは例えば予め設定されて制御部8の記憶媒体に記憶されてもよい。図11の例では、境界エッジP3上のある画素と半楕円E12との間の距離dが示されている。ステップS82において肯定的な判断がなされたときには、ステップS83にて、制御部8は錠剤9の主面9aの周縁(より具体的には撮像画像IM11における主面9aaと側面9caとの間の境界)に欠けが生じていると判断する。否定的な判断がなされたときには、制御部8はステップS83を実行しない。
Next, in step S82, the
図13は、ステップS82,S83の処理のより具体的な一例を示すフローチャートである。まずステップS801にて、制御部8は値nを1に初期化する。値nは境界エッジP3上の画素を示す番号である。境界エッジP3上の各画素には、その一端から他端に向けて順に連続した番号が付与される。
FIG. 13 is a flowchart showing a more specific example of the processing of steps S82 and S83. First, in step S801, the
次にステップS802にて、制御部8は境界エッジP3上の第n番目の画素(以下、注目画素と呼ぶ)と、半楕円E12との間の距離dを算出する。例えば制御部8は注目画素と半楕円E12上の画素の各々との距離を算出し、そのうち最も小さい値を距離dとして選択する。
Next, in step S802, the
次にステップS803にて、制御部8は距離dが距離閾値dthよりも長いか否かを判断する。肯定的な判断がなされたときには、ステップS804にて、制御部8はその注目画素が欠けの輪郭を示す画素であると判断し、錠剤9の主面9aの周縁に欠陥が生じていると判断する。次に制御部8は後述のステップS805を実行する。一方で否定的な判断がなされたときには、制御部8はステップS804を実行することなくステップS805を実行する。
Next, in step S803, the
ステップS805では、制御部8は値nに1を加算して値nを更新する。次にステップS806にて、制御部8は値nが基準値nrefよりも大きいか否かを判断する。基準値nrefは境界エッジP3を構成する画素の総数である。つまり、境界エッジP3上の全ての画素について判断が終了したか否かを判断する。ステップS806にて否定的な判断がなされたときには、未だ全ての画素について判断が終了していないので、制御部8は再びステップS802を実行する。一方で、ステップS806にて肯定的な判断がなされたときには、制御部8は処理を終了する。
In step S805, the
上述の例では、境界エッジP3上の全ての画素について上記判断を行っている。しかしながら、欠けの個数およびその位置等を検出する必要がない場合には、欠けの輪郭を示す一つの画素を検出したときに、残りの画素についての上記判断を省略してもよい。この点は以下で述べる全ての検査処理についても同様である。 In the above example, the above determination is made for all the pixels on the boundary edge P3. However, when it is not necessary to detect the number of chips and their positions, the above determination for the remaining pixels may be omitted when one pixel showing the outline of the chip is detected. This point is the same for all the inspection processes described below.
再び図12を参照して、ステップS84にて、制御部8は主面外側エッジP2上の各画素とその近似線たる半楕円E11との間の距離が距離閾値dthよりも長いか否かを判断する。肯定的な判断がなされたときには、ステップS85にて、制御部8は錠剤9の主面9aの周縁(より具体的には撮像画像IM11において側面9caと接していない部分)に欠けが生じていると判断する。否定的な判断がなされたときには、制御部8はステップS85を実行しない。
With reference to FIG. 12 again, in step S84, the
次にステップS86にて、制御部8は側面外側エッジP1上の各画素とその近似線たる半楕円E21との間の距離が距離閾値dthよりも長いか否かを判断する。肯定的な判断がなされたときには、ステップS87にて、制御部8は錠剤9の主面9bの周縁(より具体的には撮像画像IM11に写っている部分)に欠けが生じていると判断する。否定的な判断がなされたときには、制御部8はステップS87を実行しない。
Next, in step S86, the
ステップS84,S85の具体的な方法の一例およびステップS86,S87の具体的な方法の一例はステップS82,S83の具体的な方法と同様である。 An example of the specific method of steps S84 and S85 and an example of the specific method of steps S86 and S87 are the same as the specific method of steps S82 and S83.
以上のように、この錠剤検査装置1によれば、錠剤9の主面9a,9bの周縁に生じた欠けを検出することができる。
As described above, according to the
なおステップS82,S83の一組、ステップS84,S85の一組およびステップS86,S87の一組の実行順序は適宜に変更してもよい。また欠けの個数および位置等を検出する必要がない場合には、制御部8は必ずしもステップS82,S84,S86の判断の全てを実行する必要は無い。制御部8はいずれか一つにおいて肯定的な判断がなされたときに、残りの判断を省略してもよい。
The execution order of the set of steps S82 and S83, the set of steps S84 and S85, and the set of steps S86 and S87 may be changed as appropriate. Further, when it is not necessary to detect the number and position of chips, the
また上述の例では、制御部8は主面エッジP23に近似する近似線(楕円E1)を算出し、この楕円E1から半楕円E11,E12を抽出した。しかしながら、制御部8は撮像画像IM11における錠剤9の主面9aaと側面9caとの間の境界の形状として予め決められた基準関数に基づいて、境界エッジP3の近似線(半楕円E12)を算出してもよい。同様に制御部8は、撮像画像IM11における錠剤9の主面9aaの周縁のうち側面9caと接していない部分の形状として予め決められた基準関数に基づいて、主面外側エッジP2の近似線(半楕円E11)を算出してもよい。
Further, in the above example, the
<検査処理>
上記の例では、例えば境界エッジP3上の一つの画素と半楕円E12との間の距離dが距離閾値dthよりも長いときに、制御部8はその画素が欠けの輪郭を示すと判断した(ステップS802〜S804)。つまり、当該一つの画素が距離閾値dthよりも長い距離で半楕円E12と離れているときに、その画素は欠けの輪郭を示すと判断される。しかしながら、欠けB1が生じたときには、図11も参照して、境界エッジP3上で連続する複数の画素が距離閾値dthよりも長い距離で半楕円E12と離れることになる。つまり、もし一つの画素のみが距離閾値dthよりも長い距離で半楕円E12と離れている場合には、その画素は欠けB1を示すのではなく、ノイズである可能性がある。そこでここでは、このようなノイズを欠けとして誤検出することを抑制する。
<Inspection processing>
In the above example, for example, when the distance d between one pixel on the boundary edge P3 and the semi-ellipse E12 is longer than the distance threshold value dth, the
具体的には、制御部8は距離閾値dthよりも長い距離dで半楕円E12と離れる複数の画素が境界エッジP3上において連続しているか否かを判断し、肯定的な判断がなされたときに、その連続する画素の一群が欠けB1の輪郭を示すと判断し、錠剤9の主面9aの周縁(より具体的には撮像画像IM11の主面9aaと側面9caとの間の境界)に欠けB1が生じていると判断する。
Specifically, the
図14は、このような検査処理の具体的な方法の一例を示すフローチャートである。まずステップS811にて、制御部8は値n,mをそれぞれ1,0に初期化する。値mは、後の説明から明らかとなるように、距離閾値dthよりも長い距離で半楕円E12から離れた画素であって境界エッジP3上で連続する画素の数を示している。
FIG. 14 is a flowchart showing an example of a specific method of such an inspection process. First, in step S811, the
次に制御部8はステップS812,S813をこの順で実行する。ステップS812,S813はそれぞれステップS802,S803と同一である。ステップS813において肯定的な判断がなされると、ステップS814にて、制御部8は値mに1を加算して値mを更新する。
Next, the
次にステップS815にて、制御部8は値nに1を加算して値nを更新する。次にステップS816にて、制御部8は値nが基準値nrefよりも大きいか否かを判断する。つまり制御部8は境界エッジP3上の全ての画素について処理を行ったか否かを判断する。否定的な判断がなされると、次の画素についての判断を行うべく、制御部8は再びステップS812を実行する。一方で肯定的な判断がなされると、制御部8は処理を終了する。
Next, in step S815, the
ステップS813において否定的な判断がなされると、ステップS817にて、制御部8は値mが閾値(以下、連続閾値と呼ぶ)mthよりも大きいか否かを判断する。連続閾値mthは例えば予め設定されて制御部8の記憶媒体に記憶されていてもよい。
If a negative determination is made in step S813, in step S817, the
ステップS817にて肯定的な判断がなされると、ステップS818にて、制御部8は第(n−m+1)番目の画素から第(n−1)番目の画素の一群が欠けの輪郭を示していると判断し、主面9aの周縁(より具体的には撮像画像IM11における主面9aaと側面9caとの間の境界)に欠けB1が生じていると判断する。次にステップS819にて、制御部8は値mを0に初期化し、ステップS815を実行する。ステップS817にて否定的な判断がなされると、制御部8はステップS818を実行せずにステップS819を実行する。
When a positive judgment is made in step S817, in step S818, the
この検査処理によれば、値mは、距離dが距離閾値dthよりも短い画素が検出されたときに零に初期化され(ステップS819)、距離dが距離閾値dthよりも長い画素が連続して検出される度にインクリメントされる(ステップS815)。よって、値mは、距離dが距離閾値dthよりも長い画素が連続する数を示すことになる。そして、この値mが連続閾値mthよりも大きいときに、制御部8は欠けが生じていると判断している(ステップS817,S818)。これにより、欠けの誤検出を抑制して、より高い精度で欠けを検出することができる。
According to this inspection process, the value m is initialized to zero when a pixel whose distance d is shorter than the distance threshold dth is detected (step S819), and pixels having a distance d longer than the distance threshold dth are consecutive. It is incremented each time it is detected (step S815). Therefore, the value m indicates the number of consecutive pixels whose distance d is longer than the distance threshold value dth. Then, when this value m is larger than the continuous threshold value mth, the
この検査処理は側面外側エッジP1および主面外側エッジP2についても適用可能である。 This inspection process is also applicable to the side surface outer edge P1 and the main surface outer edge P2.
<境界エッジ>
上述の例では、探索領域R1の各行の線L1から線L2へ向かう探索において、最初に検出されたエッジ画素を境界エッジP3の構成要素として把握した(図9参照)。したがって、欠けエッジP’のうち、線L1側のエッジPc’上の画素が境界エッジP3の構成要素として採用された。よって、境界エッジP3の構成要素は欠けエッジP’のうちエッジPc’に偏ることになる。これにより、主面エッジP23に近似する楕円E1(半楕円E11,E12の一組)は主面領域Raの輪郭からずれやすくなる。
<Boundary edge>
In the above example, in the search from the line L1 to the line L2 of each line of the search area R1, the first detected edge pixel is grasped as a component of the boundary edge P3 (see FIG. 9). Therefore, among the chipped edges P', the pixels on the edge Pc' on the line L1 side are adopted as the components of the boundary edge P3. Therefore, the components of the boundary edge P3 are biased toward the edge Pc'of the chipped edges P'. As a result, the ellipse E1 (a set of semi-ellipses E11 and E12) that approximates the main surface edge P23 tends to deviate from the contour of the main surface region Ra.
ここでは、境界エッジP3の探索方法を工夫することにより、主面領域Raの輪郭により近い楕円E1を算出することを企図する。具体的には、撮像画像IM11における欠陥領域の画素値の分布に着目して、境界エッジP3の構成要素がエッジP’のうち線L1側のエッジPc’と線L2側のエッジPa’とに分散されるように、境界エッジP3を特定することを企図する。 Here, it is intended to calculate an ellipse E1 that is closer to the contour of the main surface region Ra by devising a search method for the boundary edge P3. Specifically, paying attention to the distribution of the pixel values of the defect region in the captured image IM11, the components of the boundary edge P3 are the edge Pc'on the line L1 side and the edge Pa'on the line L2 side of the edge P'. It is intended to identify the boundary edge P3 so that it is dispersed.
さて、錠剤9の欠けの表面は主面9aおよび側面9cの表面粗さに比べて粗く、撮像画像IM11における欠陥領域内の輝度成分はばらついている。よって、欠陥領域の輪郭(エッジP’)においても輝度成分はばらついている。したがって、撮像画像IM11におけるエッジPa’上の画素値もある範囲でばらついており、エッジPc’上の画素値も同様の範囲内でばらついている。
By the way, the surface of the chipped
そこで、制御部8は、エッジ画像の探索領域R1内の画素であって、対応する撮像画像IM11における画素値が所定の閾値(以下、明るさ閾値と呼ぶ)よりも大きい画素を探索する。この明るさ閾値は錠剤9の主面9aaの明るさに応じて予め設定される。例えば明るさ閾値は上記範囲内の値に予め設定される。このような明るさ閾値は例えばシミュレーションまたは実験等によって設定することができる。明るさ閾値は例えば制御部8の記憶媒体に記憶されていてもよい。以下、具体的な動作の一例について説明する。
Therefore, the
図15は、制御部8による探索処理の一例を示すフローチャートである。図10と比較して、制御部8はステップS57を更に実行する。このステップS57はステップS52において肯定的な判断がなされたときに実行される。ステップS57では、制御部8は撮像画像IM11の探索領域R1における第N行第M番目の画素の画素値が明るさ閾値よりも大きいか否かを判断する。
FIG. 15 is a flowchart showing an example of the search process by the
ステップS57にて否定的な判断がなされたときには、制御部8はステップS53を実行し、肯定的な判断がなされたときには、制御部8はステップS54を実行する。
When a negative determination is made in step S57, the
これによれば、たとえ探索領域R1内のエッジ画素であっても、そのエッジ画素に対応する撮像画像IM11の画素の画素値が明るさ閾値よりも小さい場合には、そのエッジ画素は境界エッジP3の構成要素とは把握されず、撮像画像IM11の当該画素の画素値が明るさ閾値よりも大きい場合に、そのエッジ画像が境界エッジP3の構成要素と把握される。 According to this, even if it is an edge pixel in the search area R1, if the pixel value of the pixel of the captured image IM11 corresponding to the edge pixel is smaller than the brightness threshold, the edge pixel is the boundary edge P3. When the pixel value of the pixel of the captured image IM11 is larger than the brightness threshold value, the edge image is grasped as the component of the boundary edge P3.
この結果、境界エッジP3の構成要素として把握される画素がエッジP’上で分散される。図16は、錠剤9の主面9aaと側面9caとの間の境界に欠けが生じたときの、エッジ画像におけるエッジの一例を概略的に示す図である。図16の例でも、境界エッジP3として把握される画素のいくつかが模式的に黒丸で示されている。図16に例示するように、当該画素はエッジP’のエッジPa’,Pc’に分散される。言い換えれば、境界エッジP3として把握される画素がエッジP’において一方側のみに偏らないように明るさ閾値が設定される。より具体的な一例として、錠剤9の主面9aaの明るさ(例えば画素値(あるいは輝度値)の平均値、中央値、最大値または最小値など、以下、同様)が錠剤9の側面9caの明るさよりも高い場合には、当該明るさ閾値として主面9aaの明るさを採用し、錠剤9の主面9aaの明るさが錠剤9の側面9caの明るさよりも低い場合には、当該明るさ閾値として側面9caの明るさを採用する。
As a result, the pixels grasped as the constituent elements of the boundary edge P3 are dispersed on the edge P'. FIG. 16 is a diagram schematically showing an example of an edge in an edge image when the boundary between the main surface 9aa and the side surface 9ca of the
このような境界エッジP3に近似する半楕円E11は錠剤9の主面9aaの周縁により近い半楕円となり、また、主面エッジP23に近似する楕円E1は錠剤9の主面9aaの周縁により近い楕円となる。
The semi-ellipse E11 that approximates the boundary edge P3 becomes a semi-ellipse that is closer to the peripheral edge of the main surface 9aa of the
図17は、欠けB1が生じた錠剤9についての各種エッジおよびその近似線の一例を概略的に示す図である。境界エッジP3の構成要素は欠けエッジP’においてエッジPa’,Pc’に分散されるので、図17の例では、欠けエッジP’が部分的に境界エッジP3の構成要素として特定されることを示すべく、欠けエッジP’を破線で示している。また図17の例では、主面外側エッジP2と半楕円E11が互いに一致して示され、側面外側エッジP1と半楕円E21が互いに一致して示されている。境界エッジP3は欠けエッジP’以外の部分において半楕円E12と一致して示されている。実際には、これらは互いに相違し得る。
FIG. 17 is a diagram schematically showing an example of various edges and their approximate lines for the
図11および図17の比較から理解できるように、境界エッジP3上の各画素と半楕円E12との間の距離dが欠けエッジP’において、より大きく算出される。したがって、欠けB1をより検出しやすい。言い換えれば、より高い精度で欠けB1を検出できる。 As can be understood from the comparison of FIGS. 11 and 17, the distance d between each pixel on the boundary edge P3 and the semi-ellipse E12 is calculated to be larger at the missing edge P'. Therefore, it is easier to detect the chipped B1. In other words, the missing B1 can be detected with higher accuracy.
しかも境界エッジP3の構成要素は欠けエッジP’で分散されるので、エッジPa’上の画素およびエッジPc’上の画素の両方を用いて欠けB1を検出できる。これにより、欠けB1が主面9aa側に偏って形成されている場合であっても、つまり、エッジPc’が側面9ca側にはあまり張り出しておらず、主面9aa側に張り出している場合であっても、欠けB1を検出できる。以下に、具体的に説明する。 Moreover, since the components of the boundary edge P3 are dispersed by the chipped edge P', the chipped B1 can be detected by using both the pixel on the edge Pa'and the pixel on the edge Pc'. As a result, even when the chipped B1 is formed unevenly toward the main surface 9aa, that is, when the edge Pc'does not project much toward the side surface 9ca and projects toward the main surface 9aa. Even if there is, the missing B1 can be detected. The details will be described below.
図18は、欠けB1が側面9ca側に張り出していないときの各種エッジおよびその近似線の一例を概略的に示す図である。欠けB1が側面9ca側にあまり張り出していない場合には、エッジPc’上の各画素と半楕円E12との間の距離dは短くなる。そして欠けB1の形状によっては、エッジPc’上の全ての画素についての距離dが距離閾値dthよりも短くなることがある。このとき図9の探索処理を採用して境界エッジP3の構成要素がエッジPc’に偏っていれば、その後の検査処理において、この欠けB1を検出できない。 FIG. 18 is a diagram schematically showing an example of various edges and their approximate lines when the chip B1 does not project to the side surface 9ca side. When the chip B1 does not project so much toward the side surface 9ca, the distance d between each pixel on the edge Pc'and the semi-ellipse E12 becomes short. Then, depending on the shape of the chip B1, the distance d for all the pixels on the edge Pc'may be shorter than the distance threshold dth. At this time, if the search process of FIG. 9 is adopted and the components of the boundary edge P3 are biased toward the edge Pc', the chipped B1 cannot be detected in the subsequent inspection process.
これに対して、欠けB1が主面9aa側に張り出していれば、図18に示すように、エッジPa’上の画素と半楕円E12との間の距離dは距離閾値dthよりも長くなる。よって、境界エッジP3の構成要素がエッジPa’,Pc’の両方に分散される図16の探索処理を用いれば、その後の検査処理において、この欠けB1を検出できる。なぜなら、この検査処理において、境界エッジP3のうちエッジPa’上の画素と半楕円E12との距離dと距離閾値dthとの大小判断を行うからである(ステップS82,S83)。 On the other hand, if the chip B1 projects toward the main surface 9aa, the distance d between the pixel on the edge Pa'and the semi-ellipse E12 becomes longer than the distance threshold dth, as shown in FIG. Therefore, if the search process of FIG. 16 in which the components of the boundary edge P3 are dispersed in both the edges Pa'and Pc' is used, this chipping B1 can be detected in the subsequent inspection process. This is because, in this inspection process, the magnitude of the distance d and the distance threshold value dth between the pixel on the edge Pa'and the semi-ellipse E12 in the boundary edge P3 is determined (steps S82 and S83).
<探索領域の中心線>
上述の例では、探索領域R1の中心線L0は側面外側エッジP1を移動させて得られた線であると説明したが、この移動に際して側面外側エッジP1を所定倍率で拡大しても構わない。厳密には、境界エッジP3は側面外側エッジP1よりも所定倍率で大きいからである。
<Center line of search area>
In the above example, it has been described that the center line L0 of the search region R1 is a line obtained by moving the side surface outer edge P1, but the side surface outer edge P1 may be enlarged by a predetermined magnification during this movement. Strictly speaking, the boundary edge P3 is larger than the side surface outer edge P1 at a predetermined magnification.
変形例.
<錠剤の主面>
上述の例では、主面9bが搬送ベルト41側を向く姿勢で搬送された錠剤9を検査対象として説明した。錠剤9の主面9aが搬送ベルト41を向く姿勢で錠剤9が搬送される場合には、錠剤検査装置1は錠剤9の主面9bおよび側面9cに対する外観検査を行うことになる。
Modification example.
<Main surface of tablets>
In the above-mentioned example, the
また例えば錠剤9に対する外観検査の後に、錠剤9の搬送姿勢を反転させ、その状態で錠剤9に対する外観検査を行ってもよい。これによれば、錠剤9の全面(主面9a,9bおよび側面9c)に対する外観検査を行うことができる。
Further, for example, after the visual inspection of the
<錠剤の形状>
上述の例では、錠剤9は略円盤形状を有していた。例えばこの円盤形状として、いわゆる平錠またはR付き錠を採用できる。ただし、錠剤9は必ずしも円盤形状に限らない。つまり、主面9a,9bは必ずしも円形状を有する必要は無い。主面9a,9bの形状は既知であるので、撮像画像IM11において現れるであろう主面9a(あるいは主面9b)の周縁の形状を予め基準関数で決めておくことができる。この基準関数は当該形状を示すものの、その大きさおよび位置が変数となる関数である。基準関数は例えば制御部8の記憶媒体に予め記憶されてもよい。制御部8は撮像画像IM11からエッジ画像を生成し、エッジ画像に含まれる主面エッジの近似線をその基準関数に基づいて求めればよい。
<Tablet shape>
In the above example, the
以上のように、錠剤検査方法および錠剤検査装置は詳細に説明されたが、上記した説明は、全ての局面において例示であって、この開示がそれに限定されるものではない。また上述した各種変形例は、相互に矛盾しない限り組み合わせて適用可能である。そして、例示されていない多数の変形例が、この開示の範囲から外れることなく想定され得るものと解される。 As described above, the tablet inspection method and the tablet inspection apparatus have been described in detail, but the above description is exemplary in all aspects, and the disclosure is not limited thereto. Further, the various modifications described above can be applied in combination as long as they do not contradict each other. And it is understood that a large number of modifications not exemplified can be assumed without departing from the scope of this disclosure.
1 錠剤検査装置
5 撮像部(撮像ヘッド)
8 画像処理部(制御部)
9 錠剤
9a 第1主面(主面)
9b 第2主面(主面)
9c 側面
E1 第2近似線(楕円)
E11 第3近似線(半楕円)
E12 第1近似線(半楕円)
E21 第4近似線(半楕円)
IM1 撮像画像
P0 錠剤エッジ
P1 側面外側エッジ
P2 主面外側エッジ
P3 境界エッジ
P23 主面エッジ
R1 探索領域
Ra 主面領域
Rc 側面領域
TR 錠剤領域
1
8 Image processing unit (control unit)
9
9b 2nd main surface (main surface)
9c Side surface E1 2nd approximation line (ellipse)
E11 3rd approximation line (semi-elliptical)
E12 1st approximation line (semi-elliptical)
E21 4th approximation line (semi-elliptical)
IM1 Captured image P0 Tablet edge P1 Side surface outer edge P2 Main surface outer edge P3 Boundary edge P23 Main surface edge R1 Search area Ra Main surface area Rc Side area TR Tablet area
Claims (8)
錠剤を撮像して、前記第1主面および前記側面の両方が写る撮像画像を生成する工程(a)と、
前記撮像画像において前記錠剤の前記第1主面および前記側面がそれぞれ占める主面領域と側面領域との間の境界に対応する境界エッジを特定し、前記境界エッジに近似する第1近似線を、前記撮像画像での前記境界の形状を示す関数に基づいて算出する工程(b)と、
前記境界エッジ上の各画素と前記第1近似線との間の距離が所定の閾値よりも長いときに、前記錠剤の前記第1主面の周縁に欠けが生じていると判断する工程(c)と
を備える、錠剤検査方法。 A tablet inspection method for inspecting the appearance of a tablet having a pair of first main surface and second main surface and side surface.
A step (a) of imaging a tablet to generate an captured image in which both the first main surface and the side surface are captured.
In the captured image, the boundary edge corresponding to the boundary between the main surface region and the side surface region occupied by the first main surface and the side surface of the tablet is specified, and the first approximation line approximate to the boundary edge is defined. The step (b) of calculating based on the function indicating the shape of the boundary in the captured image, and
A step (c) of determining that the peripheral edge of the first main surface of the tablet is chipped when the distance between each pixel on the boundary edge and the first approximation line is longer than a predetermined threshold value. ) And a tablet inspection method.
前記主面領域および前記側面領域は、前記撮像画像において前記錠剤が占める錠剤領域を構成しており、
前記工程(b)は、
前記撮像画像に対してエッジ検出処理を行ってエッジ画像を生成する工程(b1)と、
前記錠剤領域の輪郭に対応する錠剤エッジを前記エッジ画像から特定する工程(b2)と、
前記撮像画像における前記第1主面の周縁のうち前記錠剤領域の輪郭の一部となる部分、および、前記撮像画像における前記第2主面の周縁にそれぞれ対応する主面外側エッジおよび側面外側エッジを、前記錠剤エッジから抽出する工程(b3)と、
前記エッジ画像において前記側面外側エッジから所定方向に沿って所定距離はなれた探索領域内の画素を探索して、前記境界エッジを特定する工程(b4)と、
前記撮像画像での前記主面領域の輪郭の形状を示す関数に基づいて、前記主面外側エッジおよび前記境界エッジの一組たる主面エッジの第2近似線を算出する工程(b5)と、
前記第2近似線から前記境界エッジの前記第1近似線を抽出する工程(b6)と
を備える、錠剤検査方法。 The tablet inspection method according to claim 1.
The main surface region and the side surface region constitute a tablet region occupied by the tablet in the captured image.
The step (b) is
The step (b1) of generating an edge image by performing edge detection processing on the captured image, and
The step (b2) of specifying the tablet edge corresponding to the contour of the tablet region from the edge image,
The outer edge of the main surface and the outer edge of the side surface corresponding to the portion of the peripheral edge of the first main surface in the captured image that becomes a part of the contour of the tablet region and the peripheral edge of the second main surface in the captured image, respectively. In the step (b3) of extracting from the tablet edge and
In the edge image, a step (b4) of searching for pixels in a search region separated by a predetermined distance from the outer side edge in a predetermined direction to specify the boundary edge.
A step (b5) of calculating a second approximation line of a set of main surface edges of the outer edge of the main surface and the boundary edge based on a function indicating the shape of the contour of the main surface region in the captured image.
A tablet inspection method comprising a step (b6) of extracting the first approximation line of the boundary edge from the second approximation line.
前記錠剤は略円盤形状を有しており、
前記関数は楕円を示す関数であり、前記第2近似線は楕円である、錠剤検査方法。 The tablet inspection method according to claim 2.
The tablet has a substantially disk shape and has a substantially disk shape.
The tablet inspection method, wherein the function is a function indicating an ellipse, and the second approximation line is an ellipse.
前記工程(b4)では、
前記エッジ画像の前記探索領域内の画素であって、当該画素に対応する前記撮像画像の画素の画素値が所定閾値よりも大きな画素を探索して、前記境界エッジを特定する、錠剤検査方法。 The tablet inspection method according to claim 2 or 3.
In the step (b4),
A tablet inspection method for identifying a boundary edge by searching for a pixel in the search region of the edge image and having a pixel value of a pixel of the captured image corresponding to the pixel larger than a predetermined threshold value.
前記工程(b4)では、
前記探索領域において、前記側面外側エッジから前記主面外側エッジへ向かって画素を探索して、前記境界エッジを特定する、錠剤検査方法。 The tablet inspection method according to claim 3 or 4.
In the step (b4),
A tablet inspection method for identifying the boundary edge by searching for pixels from the side surface outer edge toward the main surface outer edge in the search region.
前記工程(b5)において算出した前記主面エッジの前記第2近似線から、前記主面外側エッジの第3近似線を抽出する工程と、
前記主面外側エッジ上の各画素と前記第3近似線との間の距離が所定の閾値よりも長いときに、前記錠剤の前記第1主面の周縁に欠けが生じていると判断する工程と
を備える、錠剤検査方法。 The tablet inspection method according to any one of claims 2 to 5.
A step of extracting a third approximation line of the outer edge of the main surface from the second approximation line of the main surface edge calculated in the step (b5), and a step of extracting the third approximation line of the outer edge of the main surface.
A step of determining that the peripheral edge of the first main surface of the tablet is chipped when the distance between each pixel on the outer edge of the main surface and the third approximation line is longer than a predetermined threshold value. A tablet inspection method that comprises.
前記工程(b5)において算出した前記主面エッジの前記第2近似線から、前記側面外側エッジの第4近似線を抽出する工程と、
前記側面外側エッジ上の各画素と前記第4近似線との間の距離が所定の閾値よりも長いときに、前記錠剤の前記第2主面の周縁に欠けが生じていると判断する工程と
を備える、錠剤検査方法。 The tablet inspection method according to any one of claims 2 to 6.
A step of extracting a fourth approximation line of the side surface outer edge from the second approximation line of the main surface edge calculated in the step (b5), and a step of extracting the fourth approximation line of the side surface outer edge.
A step of determining that the peripheral edge of the second main surface of the tablet is chipped when the distance between each pixel on the outer edge of the side surface and the fourth approximation line is longer than a predetermined threshold value. A tablet inspection method.
錠剤を撮像して、前記第1主面および前記側面の両方が写る撮像画像を生成する撮像部と、
画像処理部と
を備え、
前記画像処理部は、
前記撮像画像において前記錠剤の前記第1主面および前記側面がそれぞれ占める主面領域と側面領域との間の境界に対応する境界エッジを特定し、
前記境界エッジに近似する第1近似線を、前記撮像画像での前記境界の形状を示す関数に基づいて算出し、
前記境界エッジ上の各画素と前記第1近似線との間の距離が所定の閾値よりも長いときに、前記錠剤の前記第1主面の周縁に欠けが生じていると判断する、錠剤検査装置。 A tablet inspection device for inspecting the appearance of a tablet having a pair of a first main surface and a second main surface and a side surface.
An imaging unit that captures an image of a tablet and generates an image that captures both the first main surface and the side surface.
Equipped with an image processing unit
The image processing unit
In the captured image, the boundary edge corresponding to the boundary between the main surface region and the side surface region occupied by the first main surface and the side surface of the tablet is specified.
A first approximation line that approximates the boundary edge is calculated based on a function indicating the shape of the boundary in the captured image.
A tablet inspection for determining that the peripheral edge of the first main surface of the tablet is chipped when the distance between each pixel on the boundary edge and the first approximation line is longer than a predetermined threshold value. Device.
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