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JP6986582B2 - 局所エッチングによる光デバイス製造方法、及び製造装置 - Google Patents
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局所エッチングによる光デバイス製造方法、及び製造装置 Download PDF

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Description

本発明は、局所エッチングにより導波路型光デバイスを製造する方法(製造プロセス)、及びその製造装置に関するものであり、平面基板上に小型で高性能な光デバイスを製造することができるように工夫したものである。
さらに詳しく述べると、例えば平面光波回路(PLC)の基板上の光導波路端部において、局所エッチングにより簡便に斜め端面あるいは集光性のある非平面形状の端面を形成でき、さらには光導波路のコア厚みを光導波方向に変化させた膜厚制御コアを形成でき、高性能なSSC(スポットサイズ変換器)などを構成できる製造方法、及び製造装置に関するものである。
従来の導波路型光デバイスの製造プロセスとして、ガラス微粒子火炎堆積法(FHD)によるPLC(平面光波回路)の製造プロセスが知られている。
FHD法は、例えばSiCl4原料ガスを酸水素炎中で加熱分解する事により、SiO2微粒子をスート(煤)として基板上に堆積させる方法で、比較的簡便に厚膜が作製でき、量産性に優れた方法である。
図1は、従来のFHD法によるPLCの製造プロセスを説明する工程図(基板断面図)である。
図1(a)の工程ではまず、ガラス微粒子火炎堆積法(FHD)でSi基板1−2(ウエハ)の上にFHDバーナ1−1を用いて、下部クラッド層用ガラス微粒子層1−3とコア層用ガラス微粒子層1−4を形成する。
ついで図1(b)の工程で、ガラス化炉で高温熱処理してガラス微粒子層の透明化を実施する。これにより高品質な下部クラッド層1−5とコア層1−6を形成することができる。
ついで図1(c)のフォトレジスト工程で、導波路型回路のエッチングのためのマスクパターンを転写する。転写したコアパターンを反応性イオンエッチング(RIE)で加工して導波路型回路のコア1−7を形成する。
その後、図1(d)の工程で、再度FHDで上部クラッド層用ガラス微粒子層1−8を堆積し、図1(e)の工程で透明化を行い、上部クラッド層1−9を作製する。これによりPLC型光デバイスを作製する。
PLC型光デバイスにおいては、例えば光の入出力などのために光導波路の入出力端部などに、光導波路端面と基板面のなす角が90°ではない、斜め端面を形成することがある。光導波路に斜め端面を形成するには、従来技術1として、図2に示すようにウエハを傾斜させる製造方法がある。
図2(a)のPLC基板ウエハの全体斜視図で、Si基板2−1の上には複数のPLC型光回路2−2が形成されており、エッチング部分2−3は光導波路に斜め端面を形成する部分であり、プラズマを印加したRIEで処理される部分である。
図2(b)に示すように、反応性イオンエッチング(RIE)による斜めエッチング加工時には、ウェハ全面に垂直方向の上から下に到来するプラズマ流に対して、PLC基板(ウエハ)は水平面から斜めに傾けて保持されており、光導波路の端部のエッチング部分2−3では、プラズマ到来方向と基板面のなす角θが90°ではない角度で反応性イオンエッチング(斜めエッチング)が進行し、光導波路に斜め端面が形成される。
図2(c)〜(e)のPLC基板の断面図に基づいて工程を説明すると、最初の図2(c)の段階ではSi基板2−1の上に下部クラッド層2−4、コア2−5、上部クラッド層2−6からなるPLC型光回路が作製されている。
図2(d)に示すように、当該PLC型光回路にフォト工程を処理してフォトレジスト2−7を転写した状態で、ウエハを斜めに傾けてエッチングすることにより、図2(e)に示すように基板面と端面のなす角度がθの、斜め端面2−8を形成することができる。
また、別の従来技術2として図3に示すように、コア厚を徐々に薄くした膜厚制御コアによりSSC(スポットサイズ変換器)を形成する場合には、フォトレジスト工程において濃度階調型マスクを用いる方法がある。
図3(a)は、Si基板3−1、下部クラッド層3−2、コア層3−3が形成された最初の段階のPLC型光回路の基板断面図である。図3(b)に示すように、当該基板に濃度階調型マスクを用いてフォト処理工程を行うと、膜厚が徐々に変化するフォトレジスト3−4を作製することができる。フォトレジスト3−4をマスクとしてRIEによるエッチング処理を実施すると、図3(c)に示すように、光導波方向に膜厚が徐々に薄くなる膜厚制御コア3−5を作製することができる。これにより、PLC型光回路にSSC(スポットサイズ変換器)を作製することができる。
光デバイスの集積度を向上させるには、基板面内方向の二次元的な集積だけでなく、例えば複数の基板を積層して上下方向(基板厚み方向)にも集積した三次元の集積構造が望まれている。この場合、ある基板の光回路中で形成された光信号を上下の他の基板に伝送するため、例えば基板面に対して45度の傾斜を持つ斜め端面による反射ミラーが、隣接基板との間で光の出射位置と入射位置を合わせることができ、有利である。
図2で従来技術1としてウエハを傾ける斜め端面の形成方法を説明したが、この方法ではエッチング装置におけるプラズマ電極の配置や形状の制限によりウエハを大きな角度で傾けることはできないため、90度に近い傾斜角以外の斜め端面の形成は困難であった。つまり、斜め端面の傾斜角度θを90度よりあまり小さくすることができず、45度ミラーの形成は困難であり、傾斜面の傾斜方向も細かくは制御できなかった。
傾斜角度θが45度よりも大きく離れた斜め端面では、光の出射位置と入射位置が基板面に平行な水平方向にずれるため、位置をあわせて上下方向で光接続をすることは困難であり、光デバイス同士の上下方向の結合を効率的に実現することは難しかった。
受光面積が比較的広く光接続が比較的容易なPD(フォトダイオード、フォトディテクタ)と光結合する場合であっても、PDを斜めにセットにするなどの複雑な構造が必要であった。また、θが45度より大きい、あるいは小さい斜め端面でPDと接続する場合には、光接続に必要な距離が長くなり接続損失が増加する欠点もあった。
さらには、ウエハを傾けて斜め端面を形成する方法では、形成される端面は平面となり、集光性のある構造を作製することはできず、光接続の距離が長くなると光が拡散するため接続損失が増加していた。
またさらに、光デバイスの性能を最大限に活用して集積度を向上させるには、屈折率の異なる光学材料で形成された異種導波路を組み合わせ、異種導波路間で光接続することが効果的であるが、屈折率の異なる光学材料で形成された異種導波路間では光の広がり径が異なるため、光の広がりサイズ(スポットサイズ)を変換する必要があり、高効率なスポットサイズ変換器(SSC)が望まれていた。
高効率なSSCを実現するには、SSC導波路部のコア厚を連続的に徐々に薄くしていく、いわゆるテーパ状の厚み変化を有する膜厚制御コアの構成が効果的である。しかし、図3に示す従来技術2による膜厚制御コアの形成方法では、コアの形成に用いる濃度階調型マスクが非常に高価であることに加え、不安定な露光領域でのフォトレジスト工程となるため、プロセスの安定がよくないという欠点があった。このため、この方法では今まで安定して高効率なSSCを作製することが実現されていなかった。
本発明は、導波路型光デバイスを製造するウエハプロセスにおいて、局所エッチングを用いて光導波路端部に端面を形成し、例えば45度の反射ミラー、あるいは集光性のある非平面の反射ミラーを実現し、基板の上下方向で高効率な光接続を実現することを目的とする。また、コア厚をテーパ状に薄くした膜厚制御コアを形成し、高効率なSSCを作製して異種導波路間の光接続を可能とすることを目的とする。
このために、本発明は例えば以下のような実施形態の構成をとることができる。
(構成1)
光を伝搬するコアとクラッドから構成される導波路型光デバイスを製造するウエハプロセスにおいて、
局所的にエッチング加工するノズルを用いて、ウエハの任意の位置に任意の角度の斜め端面を形成する
ことを特徴とする局所エッチングによる光デバイス製造方法。
(構成2)
光を伝搬するコアとクラッドから構成される導波路型光デバイスを製造するウエハプロセスであって、製造するウエハにフォトレジストを形成するプロセスがあって、フォトレジスト形成後において、
局所的にエッチング加工するノズルと当該ウエハの相対的な位置と移動速度の関係を制御することにより、任意の角度の斜め端面を形成する
ことを特徴とする局所エッチングによる構成1に記載の光デバイス製造方法。
(構成3)
光を伝搬するコアとクラッドから構成される導波路型光デバイスを製造するウエハプロセスであって、製造するウエハにフォトレジストを形成するプロセスがあって、フォトレジスト形成後において、
局所的にエッチング加工するノズルと当該ウエハの相対的な位置と移動速度の関係を制御することにより、ウエハ上に集光性のある形状の端面を形成する
ことを特徴とする局所エッチングによる構成1に記載の光デバイス製造方法。
(構成4)
光を伝搬するコアとクラッドから構成される導波路型光デバイスを製造するプロセスにおいて、
局所的にエッチング加工するノズルを用いて、任意の位置でコアの厚さをテーパ状に薄くしてスポットサイズ変換器(SSC)回路を形成することを特徴とする局所エッチングによる構成1に記載の光デバイス製造方法。
(構成5)
構成1ないし4のいずれか1項に記載の光デバイス製造方法において、導波路型光デバイスがSiO2をベースとする平面光波回路(PLC)型光デバイス、または光半導体(InP系、GaAs系、Si系)をベースとする光デバイス、またはLiNbO3をベースとする光デバイスである
ことを特徴とする局所エッチングによる光デバイス製造方法。
(構成6)
光を伝搬するコアとクラッドから構成される導波路型光デバイス用ウエハを製造する製造装置であって、
局所的にエッチング加工するノズルを有しており、
当該ノズルを上下方向に可動とする機構を有しており、
ウエハを水平方向に移動できる機構を有しており、
当該ノズルに対して上下方向及び水平方向の相対的な位置関係を調整してエッチング領域と形状を制御できる
ことを特徴とする局所エッチングによる光デバイス製造装置。
(構成7)
構成6において、ノズル開口の形状が多連の光導波路を一括で加工できるように矩形部分を有する
ことを特徴とする局所エッチングによる光デバイス製造装置。
(構成8)
構成6において、ノズル開口の形状が多連の光導波路を個別に加工できるように多連のノズル開口を有し、当該多連のノズル開口の間隔が可変である
ことを特徴とする局所エッチングによる光デバイス製造装置。
以上の構成で任意の角度の斜め端面を形成することができ、高効率な基板上下方向の光結合が可能となり、高密度の光集積化を実現することができる。
また、簡便に集光性のあるミラーを形成でき、結合効率を向上させることができる。
同じく局所エッチングプロセスを用いることにより、コアの厚さを制御することが可能となり、高効率なSSCを作製して、異種導波路との接続損失を低減可能となる。
従来のガラス微粒子火炎堆積法(FHD)によるPLC(平面光波回路)の製造プロセスを説明する工程図である。 光導波路に斜め端面を形成する従来技術1を説明する図である。 濃度階調型マスクを用いて膜厚制御コアを作製する従来技術2を説明する図である。 本発明の実施例1の斜め端面を形成する製造プロセスを説明する図である。 本発明の実施例1の製造プロセスの詳細を説明する断面図である。 本発明の実施例1の製造プロセスで作成されたPLCの基板上面図(a)と、ノズル開口の形状例を示す図(b)、(c)である。 本発明の実施例1のPLCとPDを結合した実装構造の断面図である。 本発明の実施例2の集光性のある端面を形成する製造プロセスを説明する断面図である。 本発明の実施例2における移動距離と時間の関係を示すグラフである。 本発明の実施例2の別の製造プロセスを説明する断面図である。 本発明の実施例2のまた別の製造プロセスを説明する断面図である。 本発明の実施例2のPLCとSiフォトニクス回路を結合した実装構造の断面図である。 本発明の実施例3のSSC製造プロセスを説明する工程図である。 本発明の実施例4の製造装置の構成図である。
以下、図面を参照しながら本発明の実施例について詳細に説明する。
本発明の実施例1では、前述した課題を解決するために、PLC型光デバイスにおいて局所エッチングにより斜め端面を形成して、PDとの低損失な光結合を実現した。以下に、図4〜7を参照して実施例1のウエハプロセス(製造方法)と実装形態を説明する。
図4左の(1a),(1b)のウエハ斜視図に、実施例1のPLC型光バイスに斜め端面を形成するウエハプロセスの概要を示す。
図4(1a)で、6インチのSi基板4−1(1mm厚ウエハ)の上には、複数の光回路4−2が形成されており、Si基板上で光回路の光導波路の端部に斜め端面を形成するエッチング部分4−3をフォト工程で形成し、細径の局所エッチング用ノズル4−4を用いて加工する。
図4(1b)に示すように、局所エッチングを行うには、真空中で細径のノズル4−4の先端部分にプラズマを誘起して反応性イオンエッチング(RIE)を行った。ガラスをエッチングするために、局所エッチング用ノズル4−4に供給する反応性エッチングガスにはC26を用い、圧力は5Paとした。
図4右の(2a)、(2c)に、エッチング部分4−3を拡大した加工前後の基板断面構造を示し、図4(2b)には、ノズル開口の中心軸(一点鎖線)に沿った局所エッチング用ノズル4−4のノズル先端部の断面図を示す。
図4(2b)の局所エッチング用ノズル4−4の開口面の形状は、例えば内径10〜50μm程度の円形の例を示すが、局所エッチングする領域に合わせて任意の形状、大きさとすることができ、これに限定されるものではない。
図4(2b)のように、ノズル4−4を基板4−1の基板面から垂直方向に3mm程度離して保持し、図4(2c)に示すように、基板4−1を水平方向(光導波路の光伝搬方向をX軸とする)に移動させつつ、ノズルより図示のような強度分布の局所エッチングビーム4−10を照射し、反応性イオンエッチングを行った。
なお、局所エッチングビーム4−10はビームと表現しているが、エッチング強度分布に対応するものである。ノズル4−4からエッチングガスを吸引、または放出することにより、ノズルの先端部においてビーム4−10に例示するようなほぼガウス型の強度でノズル開口の中心軸の周りに反応性イオンを含むプラズマが分布し、そのガウス分布に沿ってエッチングが行われる。
図4(2a)に示すように、Si基板4−1の上には、下部クラッド層4−5(厚さ15μm)、コア4−6(厚さ5μmを必要な部分まで)、上部クラッド層4−7(厚さ20μm)が形成されており、加工前のエッチング部分4−3にはコアは形成されていない。
これにフォト工程を実施して、図4(2c)のように、最上層に所要のパターンでフォトレジスト4−8を形成する。その後、局所エッチング用ノズル4−4を固定した状態で、基板4−1を水平方向(X軸方向)に移動して、反応性イオンエッチングにより局所エッチング加工を実施することにより、斜め端面4−9を形成した。
斜め端面の形状は後述のようにSi基板の移動方向や速度で任意に成型でき、平面であっても集光性のある曲面であってもよく、端面全面に形成されてなくてもよい。すなわち、斜め端面と対向する光導波路のコア端面のから出射する光が反射する領域に、平面や集光性曲面の反射面が形成されていればよい。
Si基板は基板面内のX軸方向だけでなくY軸方向、さらに基板面から垂直方向(Z軸方向)にを移動させて加工してもよく、Si基板ではなくノズルを移動させてもよい。
図5(a)〜(c)に、図4(2b)〜(2c)の斜め端面の形成プロセスの詳細を示す。
図5(a)のように、エッチング開始前にはSi基板5−1、クラッド層5−2、コア5−3からなるPLC型光回路にフォト工程を実施して、最上層にフォトレジスト5−4が形成されている。次に局所エッチング用ノズル5−5よりエッチングビーム5−10を基板面に照射し、局所エッチングによるガラス加工を実施する。
図5(b)のように局所エッチングの途中段階では、局所エッチングのノズル開口部におけるプラズマ強度の分布(局所エッチングビーム強度分布5−10)は、ノズル開口部が円形形状なので、ノズル開口の中心線(一点鎖線で示す)を軸として回転対称な、例えばガウス型の分布となっている。そのため、Si基板移動方向の断面(図5のX−Z面)においても、ビーム強度はガウス分布となり、RIEによるエッチング加工量もほぼそのビーム強度分布に依存した形状となる。エッチングガスの供給量とノズル移動の速度にもよるが、いわば基板面の各点における累積ビーム暴露量により最終的なエッチング加工量が決まる。
この特徴を利用して、Si基板5−1を水平方向に微調移動することにより、最終的に図5(c)のようにθが45°の斜め端面を形成することができる。形成する斜め端面の角度に応じて、反応性エッチングガスの圧力とSi基板の移動速度を調整することにより、所望の角度の斜め端面を形成することができる。今回は、Si基板を導波路と平行な方向に速度0.5mm/hで移動させて、θが45°の斜め端面を形成した。具体的には、フォトレジスト5−4の形成されていない開口部の両端、すなわち、コア5−3が形成されていない側の開口端からコア5−3が形成されている開口端まで、ノズル開口中心が移動するように基板を移動させてエッチングを行った。なお、フォトレジスト5−4にカバーされている部分はエッチングされることはない。
図6(a)は、このように斜め端面を加工した後の、複数の光導波路を有するPLC型光デバイスの、光導波路端部におけるフォトレジスト除去後の基板上面図(X−Y平面)である。斜め端面加工後の基板には、基板上面からみてSi基板6−1、クラッド層6−2、斜め端面6−6が見え、上部クラッド下には複数本のコア6−3の位置が点線で示される。
斜め端面6−6は、複数の光導波路の光コアから出射する複数本の光を反射する、Y軸方向に延びた単一の反射ミラーとして構成されているが、各光コアから出射する光をそれぞれ個別に反射する複数の斜め端面として形成することもできる。
例えば光導波路コア6−3から図の左方向(X軸負方向)に出射した光は、Si基板6−1の上を通過して斜め端面6−6において反射され、斜め端面6−6の基板面に対する角度θが45°であれば、基板面に対して垂直な方向(Z軸正方向)に反射されることとなる。基板面に対して垂直な逆方向(Z軸負方向)から入射した光が、斜め端面6−6において反射され、光導波路コア6−3に入射する光結合構造も可能である。
実施例1では、多連の光導波路のコアを一括でエッチングするために、局所エッチング用ノズル6−4のノズル開口の形状は、図6(b)のノズル開口形状に示すように、すべてのコアをカバーする縦長矩形状の開口を有するものとしている。図6(c)に示すように、円形の開口のノズルを複数、縦に一列にアレイ状に配列して多連のノズルとしてもよい。多連の光導波路の間隔に合わせて、多連のノズルの間隔も一定である必要はなく、可変としてもよい。
(実施例1のPLCとPDを結合した実装構造)
図7には、実施例1で形成した斜め端面を有するPLC型光デバイスと、PD(フォトディテクタ、受光素子)7−6とを結合した実装構造における、光結合部の基板断面構造を示す。図7右側のPLCの光導波路側は、Si基板7−1、下部クラッド層7−2、コア7−3、上部クラッド層7−4の積層構造で構成され、半田層7−5により上のPD7−6と機械的に接合されている。
図7左側のクラッド層7−9のコア7−3延長上にあたる端面には、PLCの斜め端面7−7が形成されており、端面7−7の上には、メタル(Au)反射面7−8が形成されて反射ミラーを構成しており、PLCの光導波路コア7−3の端面から出射した光を高い反射率でPD7−6に向けて反射している。斜め端面7−7の反射角度は反射光がPD7−6の受光面に入射するように形成されている。PD7−6を面発光レーザなどに変えて、光導波路コア7−3に入射する逆方向の光結合も可能である。
本実施例1の製造方法では、斜め端面を形成後にメタルプロセスを行い、反射ミラーを形成するメタル(Au)膜7−8を形成し、その後PD7−6を搭載する半田層7−5を形成した。半田層7−5によりPD7−6をPLC型光デバイスの上部に固定接続して、光結合効率を測定した。その結果、結合効率95%が得られ、本発明の有効性が確認された。
本実施例2の図8〜12では、PLC型光デバイスにおいて、光導波路の端部に局所エッチングにより集光性のある非平面の端面を形成する製造方法を示す。また実施例2の実装構造として、Siフォトニクスをベースとする光デバイスとPLC型光デバイスの間に、上下方向の低損失な光結合を実現した例を示す。
集光性のある非平面の端面形状としてはミラーの場合、反射により入射光が一点に集光できれば良く、例えば、凹面鏡などの球面ミラー形状や放物面、双曲面、楕円面などから成る非球面ミラーの形状が挙げられる。実施例1の図6の例のように多連の複数本の光コアを有する光デバイスの場合は、光コアごとに非平面ミラーを個別に設けてもよいが、光コアの並ぶ方向(Y軸方向)に同じX−Z面の断面形状が続く、例えば円筒面を軸に沿って四ないし八分の一程度に分割したようなシリンドリカルな非平面ミラーであってもよい。
以下に、図面8〜12を参照して本実施例2の製造方法について説明する。
図8(b)は、本実施例2で作製した、1本の光コアに対して集光性のある非平面の端面構造を形成する方法を説明する、光コアを含む断面(X−Z平面)における基板断面図である。
図8(b)の基板断面図で、Si基板8−1、下部クラッド層8−2、コア8−3、上部クラッド層8−4は、実施例1と同様な積層構造であり、PLC型光回路を構成する。同様にPLCにフォトプロセスを実施して、最上層にフォトレジスト8−6を形成している。
その後、図8(a)の局所エッチング用ノズル8−5で反応性イオンエッチングのためのビーム8−10を照射し、局所エッチング加工することにより、コア8−3を延長した先にあたるクラッド層8−7の端面に、集光性のある非平面形状の端面8−8を形成した。その際、集光性のある非平面の端面形状を形成するために、Si基板8−1のX方向の移動速度を制御プログラムに沿って図9の実線のように変化させ制御した。
図9に、このような移動速度制御の例としてSi基板の移動距離(X軸方向)と時間の関係のグラフを示す(グラフの傾きが移動速度となる)。図9の移動距離は、局所エッチング用ノズル8−5の中心が、エッチング加工部の端から端に移動する距離を示している。図9の実線に示すように、Si基板8−1の移動速度を時間と共に大きくなるよう制御すると、図8のクラッド層8−7側において、エッチング量が徐々に減少し、エッチングされずに残るクラッド層8−7の厚みが徐々に増大して非平面形状となり、集光性のある曲面形状を形成することができる。(図9において、点線は参照のために示した速度一定の直線である)
さらに、Y軸方向やノズルの上下方向(Z軸方向)にSi基板またはノズルを移動させ制御すると、例えば、三次元の凹面鏡形状の端面を形成することもできる。
図10は、集光性のある非平面の端面の別の例として、放物線形状の集光性曲面を作成する場合を示している。図10(a)のように、局所エッチング用ノズルの中心が、エッチング加工部の中心と一致する位置において、Si基板を移動せず、Si基板に一定時間エッチングビームを照射すると、概ね照射ビームのプラズマ強度分布(例えばガウス分布)の形状にSi基板はエッチングされる。光導波路領域にエッチング最深部が達したら、エッチングビームの中心が光導波路出射端の上部に位置するようにSi基板を移動し、光導波路に対向する端面の傾斜が所定の角度(例えば45度)になった時点でエッチングを終了する。
この工程で、図10(b)のような放物線形状の端面が形成できる。光導波路からの出射光は屈折率の違いから光フィールドが拡大するため、集光性のある曲面の方が平面形状の端面よりも光損失は小さくでき有利である。また、受光面積の小さい高速動作可能なPDにはより効果的となる。
また、図10(c)のように、プラズマ強度の分布の形状の一部に、目的とする曲面形状に一致する曲線があれば、Si基板を移動することなく一度のエッチング工程で目的とする曲面形状を作製することも可能である。
以上のように、Si基板を連続的に移動すれば所定の任意の断面形状の曲面を作製することができるが、Si基板を移動しなくとも、あるいは不連続に複数回(上記の放物線形状の例では1回)移動しても、概略平面の、あるいは集光性のある曲面を形成することができる。この場合において、図9の移動速度制御のグラフは、階段状(ステップ状)の折れ線となる。このようにノズルとウエハの相対的な位置と移動速度の関係を制御することにより、ウエハ上に任意の角度の斜め端面だけでなく、集光性のある任意の形状の端面を形成することができる。
また、プラズマ電極を含む局所エッチング用ノズルの形状にもよるが、図11に示すように、さらに別の集光性曲面の製造方法として、Si基板を傾けてエッチングビームを照射して凹面鏡形状を作製することもできる。例えば、図11(a)に示したように、Si基板を移動せず一定時間エッチングを行い、概ねエッチング最深部が光導波路上端に達した時点で、一旦エッチングを停止し、Si基板を所定の角度(例えば45度)傾ける。
傾けた後に図11(b)のように、反射面を形成する端面の、光導波路コアの中心線の延長線が通る位置にノズル開口の中心線が一致するようにSi基板を微動調整し、エッチングビームの照射を再開する。ノズル開口の中心のエッチング最深部が、光導波路コア中心線の延長線上に達したところでエッチングを終了する。この工程により、斜め端面が抉られて凹面鏡形状に形成され、その凹面鏡の中心は光導波路からの出射光の中心と一致するように形成できる。なお、Si基板を傾ける代わりに局所エッチング用ノズルを傾けてもよい。
図6(b)に示したような、複数の光導波路を有するPLC型光デバイスの場合は、光導波路形成面で光導波路と垂直な方向(Y軸方向)に延びた平面の斜め端面を、縦長矩形のノズルで形成後、凹面鏡形状を形成する光導波路に対応する位置のノズルを円形開口のノズルに取り換えて、前述のSi基板を傾けて行う後工程のエッチングを行い、それぞれの凹面鏡形状を形成することもできる。この場合、Si基板を斜め端面の伸びる方向(Y軸方向)に、光導波路の間隔だけ移動しながら複数回エッチングを行えば、それぞれの光導波路に対応した複数の凹面鏡形状を形成することもできる。
(実施例2のPLCとSiフォトニクス回路を結合した実装構造)
図12に示す本実施例2では、集光性のある非平面端面を形成したPLC型光回路とSiフォトニクス回路9−8を上下方向で接続した実装構造を作成した。
図12のPLCの光導波路側には、Si基板9−1、下部クラッド層9−2、コア9−3、上部クラッド層9−4よりなる積層構造と、集光性端面9−6を形成する側のクラッド層9−5があり、PLC型光回路を構成している。
PLCに作成された集光性のある端面9−6は、コア9−3の延長線にあたるクラッド層9−5の端面の側に形成されている。PLC上部の2つの固定用バンプ9−7により、Siフォトニクス回路9−8がPLCの上に固定されている。
光接続は、Siフォトニクス回路9−8のPLC側の面に設けられたグレーティングカップラ9−9を通して行われており、例えばPLC右側の光導波路のコア9−3から出射した光は、集光性のある端面9−6に入射して反射して集束し、グレーティングカップラ9−9に斜め左下方向から入射する。実施例1と同様に逆方向の光結合も可能である。この実装構造による光結合の接続損失は2dB弱となり、集光性のある端面により高効率の光接続を実現することができた。これにより、本発明の有効性を確認できた。
図13の本実施例3では、光半導体の例としてInPをベースとする光デバイスにおいて、局所エッチングによりコア膜厚をテーパ状に徐々に薄くした膜厚制御コアを形成することにより、高効率なSSC(スポットサイズ変換器)を作製し、異種導波路としてシングルモード光ファイバとの間で低損失な光結合を実現した。
図13は、本実施例3におけるSSCの製造方法を示す工程図(a)〜(d)である。
図13(a)の基板断面図(X−Z平面)で、InP基板10−1の上には、InPをベースとする下部クラッド層10−2、InPをベースとするコア層10−3が積層されている。
図13(b)のように、基板に真空中で10−4によりエッチングビーム10−10を照射して局所エッチング加工を行う。その際、InP基板10−1を水平方向(光導波路の延在するX軸の負方向)に移動することによりエッチング量を変え、コア層を徐々に薄く形成して、コア層の先端(右端)においてコア層の厚みがほぼゼロとなる、厚み方向のテーパ構造(膜厚制御コア10−5)を作製した。テーパ部の長さは50μm程度とした。
具体的には、反応性エッチングガスにはSiCl4を用い、圧力は5Paとし、50μmの基板の移動距離でコア厚0.5μmがゼロとなるように、基板のX軸方向の移動速度を制御した。
図13(b)の矢印の方向にInP基板10−1を移動する場合、移動速度を徐々に低下させ、エッチング加工量を増大させる。逆方向にInP基板10−1を移動してテーパ形状を作製する場合は徐々に移動速度を上げればよい。なお、局所エッチング用ノズルの位置を離す、あるいはエッチングガスの圧力を低下させた上で、InP基板10−1をX軸方向に移動(往復も含む)させてエッチング量を微調整することも可能である。
次に図13(c)の基板上面図(X−Y平面)に示すように、コア層のエッチング加工を行い、基板平面上でのコア層の形状も先端(右端)が先細のテーパ形状となるSSC部10−6を、コア10−7の右側に形成した。
その後、図13(d)の基板断面図(X−Z平面)に示すように上部クラッド10−8を形成し、コアの埋め込みを行い、SSC(スポットサイズ変換器)を完成した。
上記の方法で上下(基板の厚み方向、Z軸方向)、及び水平方向(Y軸方向)において、右側(X軸正の方向)に向けてモードフィールド径が拡大するSSCを構成することが可能となった。
1.55μmの光波長において、本実施例3で作製したSSCを有する光デバイスと通常のシングルモードファイバとの接続損失を評価した結果、接続損失は、約1dBであった。SSCのない場合には接続損失が5dB程度であることから、大幅な接続損失低減を達成することができた。
以上説明したように、本実施例3ではテーパ状の膜厚制御コアを用いて高効率なSSCを簡便に作製することができる。このように本発明では、従来の製造工程では作製に困難があった上下方向(コア厚み方向)のテーパ形状を有する膜厚制御コアの作製を可能としている。
光半導体の例としてInPをベースとする光デバイスについて説明したが、GaAs系やSi系の半導体をベースとする光デバイスであってもよい。
またされに、上記実施例1〜3では、ガラス(SiO2)または光半導体をベースとするPLC型光デバイスの例を示したが、LiNbO3をベースとして用いる光デバイスであっても同様な製造方法が可能である。
本実施例4では、実施例1〜3の製造方法を実施してPLC型光デバイスに斜め端面や膜厚制御コアを形成可能とする、光デバイス製造装置について説明する。
図14は、PLC型光デバイス用ウエハを製造するプロセス用の本実施例4の光デバイス製造装置の構成図である。本実施例4の光デバイス製造装置では、局所エッチング用ノズル11−2に対して、移動台11−12上に載置されたPLCウエハ11−6の上下(Z軸方向)及び水平方向(X,Y軸方向)の相対的な位置関係を調整して、エッチング領域と端面の形状を制御できるようになっている。
図14、中央の真空チェンバー11−1の中には、局所エッチング用ノズル11−2がノズル保持部11−3により保持されており、エッチングガス用配管11−4を通してエッチングガス(C26)が供給されている。
ノズル保持部11−3も上下方向(Z軸方向)の可動機構を有しており、ノズルの高さを移動台11−12に対して調節できる。その際、レーザ変位計11−5を用いて、ノズル先端の開口部とPLCウエハ11−6との間隔を一定に保つように調節される。
ノズル11−2の近くには、プラズマ電極11−7が配置され、外部のプラズマ電源11−8からRFパワーを供給されてノズル先端の近傍にプラズマを誘起して、局所エッチングを行う。
真空チェンバー11−1には、雰囲気ガス用配管11−9と、排気用配管11−11を通して真空ポンプ11−10が配備されており、雰囲気ガス用配管11−9からの雰囲気ガス(Ar)の流量を制御することによりエッチング時の圧力を調節する。
局所エッチングで斜め端面を形成する際には、PLCウエハ11−6を移動台11−12の上に置き、制御用PC11−13で移動台の移動量を調整する。
図14に示す本実施例4の製造装置においては、局所エッチング用ノズルを用いてPLCウエハとの上下及び水平方向の相対的な位置関係を調整して、実施例1〜3と同様な製造方法により斜め端面加工や集光性端面加工、膜厚制御コア作成をおこなった。その結果、PLC型光デバイスに平坦性の高い斜め端面や集光性端面、膜厚制御コアを形成することができ、本発明の有効性を確認した。
最近5Gのネットワーク、データセンタ(DC)等が拡張していく中で、大容量、低遅延という特徴を有する光通信ネットワークは社会基盤として重要性が増している。そのような状況で拡大を続ける光通信ネットワークを支える光デバイスには、低コストな高密度集積技術が要求され、上下方向の接続、異種材料間接続がキー技術となっている。
本発明は、実施例記載の局所エッチングによる光デバイス製造方法、及び製造装置を応用して任意の斜め端面、集光性端面あるいは膜厚制御コアを有する光デバイスを作製して、上記要求に応えることができる。
1−1 FHDバーナ
1−2,2−1,3−1,4−1,5−1,6−1,7−1,8−1,9−1 Si基板
1−3 下部クラッド層用ガラス微粒子層
1−4 コア層用ガラス微粒子層
1−5、2−4,3−2,4−5,7−2,8−2,9−2 下部クラッド層
1−6,3−3 コア層
1−7,2−5,4−6,5−3,6−3,7−3,8−3,9−3,10−7 コア
1−8 上部クラッド層用ガラス微粒子層
1−9,2−6,4−7,7−4,8−4,9−4,10−8 上部クラッド層
2−2,4−2 PLC型光回路
2−3,4−3 エッチング部分
2−7,3−4,4−8,5−4,8−6 フォトレジスト
3−5,10−5 膜厚制御コア
4−4,5−5,6−4,8−5,10−4,11−2 局所エッチング用ノズル
4−9,5−6,6−6,7−7 斜め端面
4−10、5−10 局所エッチングビーム強度分布
5−2,6−2,7−9,8−7,9−5 クラッド層
7−5 半田層
7−6 PD
7−8 メタル(Au)反射面
8−8,9−6 集光性(非平面)端面
9−7 固定用バンプ
9−8 Siフォトニクス回路
9−9 グレーティングカップラ
10−1 InP基板
10−2 InPベース下部クラッド層
10−3 InPベースコア層
10−6 テーパ状SSC部
11−1 真空チェンバー
11−3 ノズル保持部
11−4 エッチングガス用配管
11−5 レーザ変位計
11−6 PLCウエハ
11−7 プラズマ電極
11−8 プラズマ電源
11−9 雰囲気ガス用配管
11−10 真空ポンプ
11−11 排気用配管
11−12 移動台
11−13 制御用PC

Claims (7)

  1. 光を伝搬するコアとクラッドから構成される導波路型光デバイス製造方法において、
    ウエハにフォトレジストを形成するステップと、
    フォトレジスト形成後において、局所的にエッチング加工するノズルを用いて、ウエハの任意の位置に任意の角度の斜め端面を形成するステップであって、前記ノズルと前記ウエハの相対的な傾き、位置関係および移動速度を制御することにより、任意の角度の斜め端面を形成する、ステップ
    を備えることを特徴とする光デバイス製造方法。
  2. 前記斜め端面として、ウエハ上に集光性のある形状の端面を形成することを特徴とする請求項1に記載の光デバイス製造方法。
  3. 前記端面を形成するステップは、前記局所的にエッチング加工するノズルを用いて、任意の位置でコアの厚さをテーパ状に薄くしてスポットサイズ変換器(SSC)回路を形成することを含むこと特徴とす請求項1に記載の光デバイス製造方法。
  4. 導波路型光デバイスがSiO2をベースとする平面光波回路(PLC)型光デバイス、または光半導体(InP系、GaAs系、Si系)をベースとする光デバイス、またはLiNbO3をベースとする光デバイスであることを特徴とする請求項1乃至3のいずれかに記載の光デバイス製造方法。
  5. 光を伝搬するコアとクラッドから構成される導波路型光デバイス製造装置であって、
    局所的にエッチング加工するノズル
    前記ノズルを上下方向に可動とする機構
    ウエハを水平方向に移動できる機構
    前記ウエハの前記水平方向に対し、前記ノズルの前記上下方向を傾ける機構、または、
    前記ノズルの前記上下方向に対し、前記ウエハの前記水平方向を傾ける機構と
    を備え、
    前記ノズルと前記ウエハとの相対的な傾き、位置関係および移動速度を制御することにより、エッチング領域と形状を制御できることを特徴とする光デバイス製造装置。
  6. ノズル開口の形状が多連の光導波路を一括で加工できるように矩形部分を有することを特徴とする請求項5に記載の光デバイス製造装置。
  7. ノズル開口の形状が多連の光導波路を個別に加工できるように多連のノズル開口を有し、当該多連のノズル開口の間隔が可変であることを特徴とする請求項5に記載の光デバイス製造装置。
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