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JP7008169B2 - package - Google Patents
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Description

本発明は、パッケージに関し、特に、電子部品用のパッケージに関するものである。 The present invention relates to a package, and more particularly to a package for electronic components.

特開2006-66791号公報(特許文献1)は、デジタルカメラ、ビデオカメラ、その他の撮像装置に用いられる、電荷結合素子(CCD)または相補型・金属・酸化物・半導体(CMOS)などの固体撮像素子の気密封止構造を開示している。この構造は、固体撮像素子を収容する気密封止部が形成された容器と、該容器の気密封止部を囲む周囲縁部の上面に接着剤によって接着される透光性の蓋と、を有している。容器は、例えば、セラミックス板を積層あるいは接合することで形成される。 Japanese Unexamined Patent Publication No. 2006-66791 (Patent Document 1) describes a charge-coupled device (CCD) or a solid such as a complementary metal / oxide / semiconductor (CMOS) used in a digital camera, a video camera, or another image pickup device. The airtight sealing structure of the image pickup device is disclosed. This structure includes a container in which an airtight sealing portion for accommodating a solid-state image sensor is formed, and a translucent lid bonded to the upper surface of a peripheral edge portion surrounding the airtight sealing portion of the container by an adhesive. Have. The container is formed, for example, by laminating or joining ceramic plates.

容器の周囲縁部と蓋との間には、第1の接着領域と、該第1の接着領域よりも気密封止構造の外周側に位置する第2の接着領域とが構成されている。第2の接着領域における接着剤の厚みは、第1の接着領域における接着剤の厚みよりも厚い。上記公報の記載によれば、接着剤の厚みが比較的薄い第1の接着領域で湿気が気密封止構造の内部に侵入することを防いで、構造内部の気密封止を良好に保つことができると共に、接着剤の厚みが比較的厚い第2の接着領域で容器と蓋との接着強度を高めて、両者の接着部が熱衝撃によるせん断応力で容易に剥がれてしまうことを防ぐことができる。 A first adhesive region and a second adhesive region located on the outer peripheral side of the airtight sealing structure with respect to the first adhesive region are formed between the peripheral edge portion of the container and the lid. The thickness of the adhesive in the second adhesive region is thicker than the thickness of the adhesive in the first adhesive region. According to the description in the above publication, it is possible to prevent moisture from entering the inside of the airtight sealing structure in the first adhesive region where the thickness of the adhesive is relatively thin, and to maintain good airtight sealing inside the structure. At the same time, it is possible to increase the adhesive strength between the container and the lid in the second adhesive region where the adhesive is relatively thick, and prevent the adhesive portion between the two from being easily peeled off due to shear stress due to thermal impact. ..

特開2006-66791号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 2006-66791

上述したように、容器の周囲縁部と、接着剤を介してそれに取り付けられた蓋体との間の部分は、パッケージ性能を確保する上で重要な部分である。よって容器の周囲縁部、言い換えれば、蓋体が取り付けられることになる取付面、の質が低いと、パッケージ性能が確保できないことがある。本発明者らの検討によれば、取付面の質として具体的には、高い緻密性が重要である。それに鑑みれば、パッケージ材料としてのセラミックスの組成として、高い緻密性を有するものを選択することが考えられる。しかしながら本発明者らの検討によれば、この目的でセラミックススの組成を単純に調整すると、パッケージの色むらが大きくなることがある。商業的用途においては、大きな色むらを有するパッケージは許容されないことが多い。本発明はこのような課題を解決するためになされたものであり、その目的は、蓋体が取り付けられることになる取付面の緻密性を高めることができ、かつ、大きな色むらを避けることができるパッケージを提供することである。 As mentioned above, the portion between the peripheral edge of the container and the lid attached to it via the adhesive is an important part in ensuring packaging performance. Therefore, if the quality of the peripheral edge of the container, in other words, the mounting surface to which the lid is mounted, is low, the package performance may not be ensured. According to the studies by the present inventors, high precision is specifically important as the quality of the mounting surface. In view of this, it is conceivable to select a ceramic having high density as the composition of the ceramic as the packaging material. However, according to the studies by the present inventors, if the composition of the ceramics is simply adjusted for this purpose, the color unevenness of the package may increase. For commercial use, packages with large color irregularities are often unacceptable. The present invention has been made to solve such a problem, and an object thereof is to improve the fineness of the mounting surface to which the lid is mounted and to avoid large color unevenness. It is to provide a package that can be done.

本発明の一の態様におけるパッケージは、電子部品が実装されることになる実装面と、実装面上に位置するキャビティと、キャビティを封止するための蓋体が取り付けられることになる取付面と、を有している。パッケージは、基部と、配線部とを有している。基部はキャビティが設けられている。基部は、底部と、枠部とを含む。底部は、実装面を有している。枠部は、底部上において実装面の外側にキャビティを囲むように設けられており、取付面を有している。枠部は、主成分としてのAlと添加物としてのMnOおよびSiOとを含むセラミックスからなる。配線部は、基部のキャビティから延びて基部を貫通している。セラミックスの、MnOの含有量に対するSiOの含有量の重量比を、枠部の内部においてR1、枠部の取付面上においてR2と定義して、R1>R2が満たされており、かつ、0.7≦R2<1.3が満たされている。
本発明の他の態様におけるパッケージは、電子部品が実装されることになる実装面と、実装面上に位置するキャビティと、キャビティを封止するための蓋体が取り付けられることになる取付面と、を有している。パッケージは、基部と、配線部とを有している。基部はキャビティが設けられている。基部は、底部と、枠部とを含む。底部は、実装面を有している。枠部は、底部上において実装面の外側にキャビティを囲むように設けられており、取付面を有している。枠部は、主成分としてのAl と添加物としてのMnOおよびSiO とを含むセラミックスからなる。配線部は、基部のキャビティから延びて基部を貫通している。セラミックスの、MnOの含有量に対するSiO の含有量の重量比を、枠部の内部においてR1、枠部の取付面上においてR2と定義して、R1>R2が満たされており、かつ、1.3≦R1≦2.2が満たされている。

The package according to one aspect of the present invention includes a mounting surface on which electronic components will be mounted, a cavity located on the mounting surface, and a mounting surface on which a lid for sealing the cavity will be mounted. ,have. The package has a base and a wiring part. The base is provided with a cavity. The base includes a bottom and a frame. The bottom has a mounting surface. The frame portion is provided on the bottom portion on the outside of the mounting surface so as to surround the cavity, and has a mounting surface. The frame portion is made of ceramics containing Al 2 O 3 as a main component and Mn O and SiO 2 as additives. The wiring portion extends from the cavity of the base portion and penetrates the base portion. The weight ratio of the content of SiO 2 to the content of MnO in the ceramics is defined as R1 inside the frame and R2 on the mounting surface of the frame, and R1> R2 is satisfied and 0. .7≤R2 <1.3 is satisfied .
The package in another aspect of the invention includes a mounting surface on which electronic components will be mounted, a cavity located on the mounting surface, and a mounting surface on which a lid for sealing the cavity will be mounted. ,have. The package has a base and a wiring part. The base is provided with a cavity. The base includes a bottom and a frame. The bottom has a mounting surface. The frame portion is provided on the bottom portion on the outside of the mounting surface so as to surround the cavity, and has a mounting surface. The frame portion is made of ceramics containing Al 2 O 3 as a main component and Mn O and SiO 2 as additives. The wiring portion extends from the cavity of the base portion and penetrates the base portion. The weight ratio of the content of SiO 2 to the content of MnO in the ceramics is defined as R1 inside the frame portion and R2 on the mounting surface of the frame portion, and R1> R2 is satisfied and 1 .3 ≦ R1 ≦ 2.2 is satisfied.

本発明の一実施の形態におけるパッケージによれば、セラミックスのMnOの含有量に対するSiOの含有量の重量比を枠部の内部においてR1と定義し枠部の取付面上においてR2と定義して、R1>R2が満たされている。これにより、枠部の取付面上における組成が緻密性の向上に適したものとなり、かつ、枠部の内部における組成が色むらの抑制に適したものとなる。色むらの程度は、セラミックスの表面の組成ではなく、体積的に大部分を占めるセラミックスの内部の組成への依存性が大きいので、セラミックスの内部の組成を最適化することによって色むらを低減することができる。以上から、蓋体が取り付けられることになる取付面の緻密性を高めることができ、かつ、大きな色むらを避けることができる。According to the package according to the embodiment of the present invention, the weight ratio of the content of SiO 2 to the content of MnO in the ceramics is defined as R1 inside the frame portion and R2 on the mounting surface of the frame portion. , R1> R2 is satisfied. As a result, the composition on the mounting surface of the frame portion is suitable for improving the denseness, and the composition inside the frame portion is suitable for suppressing color unevenness. Since the degree of color unevenness largely depends on the internal composition of the ceramic, which occupies most of the volume, rather than the composition of the surface of the ceramic, the color unevenness is reduced by optimizing the internal composition of the ceramic. be able to. From the above, it is possible to improve the fineness of the mounting surface on which the lid is mounted, and it is possible to avoid large color unevenness.

この発明の目的、特徴、局面、および利点は、以下の詳細な説明と添付図面とによって、より明白となる。 The objects, features, aspects, and advantages of the present invention will be made clearer by the following detailed description and accompanying drawings.

本発明の一実施の形態における電子装置の構成を概略的に示す断面図である。It is sectional drawing which shows schematically the structure of the electronic apparatus in one Embodiment of this invention. 図1のパッケージの構成を概略的に示す断面図である。It is sectional drawing which shows the structure of the package of FIG. 1 schematically. 原料粉末調合時のMnOの含有量に対するSiOの含有量の重量比が1.00の場合のセラミックス板の実体顕微鏡写真である。It is a stereomicrograph of a ceramic plate when the weight ratio of the content of SiO 2 to the content of MnO at the time of preparing a raw material powder is 1.00. 原料粉末調合時のMnOの含有量に対するSiOの含有量の重量比が1.20の場合のセラミックス板の実体顕微鏡写真である。It is a stereomicrograph of a ceramic plate when the weight ratio of the content of SiO 2 to the content of MnO at the time of preparing a raw material powder is 1.20. 原料粉末調合時のMnOの含有量に対するSiOの含有量の重量比が1.40の場合のセラミックス板の実体顕微鏡写真である。It is a stereomicrograph of a ceramic plate when the weight ratio of the content of SiO 2 to the content of MnO at the time of preparing a raw material powder is 1.40.

以下、図面に基づいて本発明の実施の形態について説明する。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.

図1および図2のそれぞれは、本実施の形態における電子装置900の構成と、電子装置900の製造のために用いられるパッケージ800の構成とを概略的に示す断面図である。 Each of FIGS. 1 and 2 is a cross-sectional view schematically showing the configuration of the electronic device 900 in the present embodiment and the configuration of the package 800 used for manufacturing the electronic device 900.

パッケージ800(図2)は、電子部品902(図1)が実装されることになる実装面SMと、実装面SM上に位置するキャビティCVと、キャビティCVを封止するための蓋体907が取り付けられることになる取付面SFとを有している。パッケージ800は、基部810と、配線部820とを有している。 Package 800 (FIG. 2) includes a mounting surface SM on which the electronic component 902 (FIG. 1) is to be mounted, a cavity CV located on the mounting surface SM, and a lid 907 for sealing the cavity CV. It has a mounting surface SF to be mounted. The package 800 has a base portion 810 and a wiring portion 820.

基部810はセラミックスからなる。このセラミックスは、基部810が絶縁部材として機能することができるように、実質的に絶縁体からなる。この機能が確保できる限りにおいてセラミックスは、必ずしも全体が完全に絶縁体からなる必要はなく、例えば、体積的に大多数の割合を占める絶縁体粒の中に、微量の非絶縁体粒が分散されていてもよい。 The base 810 is made of ceramics. The ceramic is substantially made of an insulator so that the base 810 can function as an insulating member. As long as this function can be ensured, the ceramics do not necessarily have to be completely made of an insulator. For example, a small amount of non-insulator grains are dispersed in the insulator grains that occupy the majority in volume. May be.

基部810はキャビティCVが設けられている。基部810は、底部811と、枠部812とを含む。 The base 810 is provided with a cavity CV. The base 810 includes a bottom 811 and a frame 812.

底部811は実装面SMを有している。実装面SMは、10mm以上の長辺を有する長方形を包含する大きさを有する実装面SMを有していることが好ましい。例えば、実装面SMは、10mm以上の長辺を有する長方形である。実装面SMは、10mm以上の辺を有する正方形を包含する大きさを有する実装面SMを有していてもよい。なお長方形は、幾何学における定義上、正方形の一種である。 The bottom 811 has a mounting surface SM. It is preferable that the mounting surface SM has a mounting surface SM having a size including a rectangle having a long side of 10 mm or more. For example, the mounting surface SM is a rectangle having a long side of 10 mm or more. The mounting surface SM may have a mounting surface SM having a size including a square having a side of 10 mm or more. A rectangle is a kind of square by definition in geometry.

枠部812は、底部811上において、実装面SMの外側に、キャビティCVを囲むように設けられている。枠部812は、取付面SFとしてセラミックスの焼成面を有していることが好ましい。ここで「焼成」(アズファイアード:as-fired)の文言は、焼結したままの、表面加工を行わない状態のことを意味する。よって「焼成面」は、「焼成」(アズファイアード:as-fired)の状態を有する面のことである。言い換えれば、「焼成面」は、焼結後のセラミックス製品の外面(external surface of a ceramic product after sintering)のことを意味する。よって、研磨された表面は焼成面ではない。なお、枠部812の取付面SFは、焼成面に限定されるわけではなく、例えば研磨面であってよい。 The frame portion 812 is provided on the bottom portion 811 on the outside of the mounting surface SM so as to surround the cavity CV. The frame portion 812 preferably has a fired surface of ceramics as a mounting surface SF. Here, the word "firing" (as-fired) means a state in which the surface is not processed as it is sintered. Therefore, the "firing surface" is a surface having a "firing" (as-fired) state. In other words, the "fired surface" means the external surface of a ceramic product after sintering. Therefore, the polished surface is not a fired surface. The mounting surface SF of the frame portion 812 is not limited to the fired surface, and may be, for example, a polished surface.

上記セラミックスは、主成分としてのAlと、添加物としてのMnOおよびSiOとを含む。Alの含有量は、82.0質量%以上95.0質量%以下であることが好ましい。SiOの含有量は、3.0質量%以上8.0質量%以下であることが好ましい。MnOの含有量は、2.0質量%以上6.0質量%以下であることが好ましい。また上記セラミックスは、モリブデン(Mo)原子およびCrの少なくとも一方を任意成分として含んでよい。MoO換算でのMo原子の含有量とCrの含有量との合計は、4.0質量%以下である。Mo原子の少なくとも一部は酸化Moとして含まれていてよい。またMo原子の少なくとも一部は、金属Moとして含まれていてよい。セラミックスの組成のうち上述した成分以外の残部の含有量は、0.1質量%未満であることが好ましく、0.05質量%未満であることがより好ましい。The ceramics contain Al 2 O 3 as a main component and Mn O and SiO 2 as additives. The content of Al 2 O 3 is preferably 82.0% by mass or more and 95.0% by mass or less. The content of SiO 2 is preferably 3.0% by mass or more and 8.0% by mass or less. The content of MnO is preferably 2.0% by mass or more and 6.0% by mass or less. Further, the ceramics may contain at least one of molybdenum (Mo) atom and Cr 2 O 3 as an optional component. The total of the Mo atom content and the Cr 2 O 3 content in terms of MoO 3 is 4.0% by mass or less. At least a part of Mo atoms may be contained as Mo oxide. Further, at least a part of Mo atoms may be contained as metal Mo. The content of the balance of the ceramic composition other than the above-mentioned components is preferably less than 0.1% by mass, more preferably less than 0.05% by mass.

ここで、セラミックスの、MnOの含有量に対するSiOの含有量の重量比を、枠部812の内部においてR1と定義し、枠部812の取付面SF上においてR2と定義する。本実施の形態においては、R1>R2が満たされている。好ましくは、1.3≦R1≦2.2が満たされている。また好ましくは、0.7≦R2<1.3が満たされている。Here, the weight ratio of the content of SiO 2 to the content of MnO in the ceramics is defined as R1 inside the frame portion 812 and R2 on the mounting surface SF of the frame portion 812. In this embodiment, R1> R2 is satisfied. Preferably, 1.3 ≦ R1 ≦ 2.2 is satisfied. Further, preferably, 0.7 ≦ R2 <1.3 is satisfied.

なお、R1は、原料粉末の調合時の組成におおよそ対応すると考えられるが、セラミックスの表面部分を十分に除去した後に蛍光X線(XRF:X-ray Fluorescence)元素分析法または化学分析法によって測定されてもよい。表面部分が除去される深さは70~80μm程度で十分と考えられる。R2は、取付面SF上でのXRF元素分析法によって測定されてよい。 Although R1 is considered to roughly correspond to the composition of the raw material powder at the time of preparation, it is measured by a fluorescent X-ray (XRF: X-ray Fluorescence) elemental analysis method or a chemical analysis method after sufficiently removing the surface portion of the ceramics. May be done. It is considered sufficient that the depth at which the surface portion is removed is about 70 to 80 μm. R2 may be measured by XRF elemental analysis on the mounting surface SF.

配線部820は、キャビティCVから延びて基部810を貫通している。具体的には、配線部820は、キャビティCVの外側に設けられた外部電極端子821と、基部810を貫通する内部配線822と、キャビティCVに面する内部電極端子823とを有している。内部配線822は、内部電極層およびビア配線の少なくともいずれかによって構成され得る。配線部820の材料は、配線部820が配線部材として機能することができるように、実質的に導体からなる。この機能が確保できる限りにおいては、この材料は、必ずしも全体が完全に導体からなる必要はなく、例えば、体積的に主な割合を占める導体領域の中に非絶縁体領域が分散されていてもよい。 The wiring portion 820 extends from the cavity CV and penetrates the base portion 810. Specifically, the wiring portion 820 has an external electrode terminal 821 provided on the outside of the cavity CV, an internal wiring 822 penetrating the base portion 810, and an internal electrode terminal 823 facing the cavity CV. The internal wiring 822 may be composed of at least one of the internal electrode layer and the via wiring. The material of the wiring portion 820 is substantially composed of a conductor so that the wiring portion 820 can function as a wiring member. As long as this function can be ensured, the material does not necessarily have to consist entirely of conductors, for example, even if the non-insulator region is dispersed within the conductor region, which occupies a major volume. good.

電子部品902(図1)は、内部電極端子823上に接合層901によって接合されている。これにより電子部品902は、接合層901および内部電極端子823を介して実装面SM上に実装されている。電子部品902は、10mm以上の長辺を有する長方形を包含する大きさを有していてよく、例えば、10mm以上の辺を有する正方形を包含する大きさを有している。電子部品902は固体撮像素子であってよい。固体撮像素子は、例えば、CMOSイメージセンサである。一眼レフ、一部の監視用カメラ、および産業用カメラ等に求められるような大きな撮像部を有する固体撮像素子としては、一般に、CMOSイメージセンサが特に優れている。固体撮像素子の平面形状は、10mm以上の長辺を有する長方形であってよく、10mm以上の辺を有する略正方形であってもよい。ただし、電子部品902のサイズおよび種類は、特に限定されるものではない。 The electronic component 902 (FIG. 1) is bonded on the internal electrode terminal 823 by a bonding layer 901. As a result, the electronic component 902 is mounted on the mounting surface SM via the bonding layer 901 and the internal electrode terminal 823. The electronic component 902 may have a size including a rectangle having a long side of 10 mm or more, and has a size including, for example, a square having a side of 10 mm or more. The electronic component 902 may be a solid-state image sensor. The solid-state image sensor is, for example, a CMOS image sensor. In general, a CMOS image sensor is particularly excellent as a solid-state image sensor having a large image pickup unit as required for a single-lens reflex camera, a part of a surveillance camera, an industrial camera, and the like. The planar shape of the solid-state image sensor may be a rectangle having a long side of 10 mm or more, and may be a substantially square shape having a side of 10 mm or more. However, the size and type of the electronic component 902 are not particularly limited.

蓋体907は枠部812の取付面SF上に接着層906を介して取り付けられている。これによりパッケージ800のキャビティCVが封止されている。接着層906は、例えば樹脂接着剤からなる。接着層906は、取付面SFおよび蓋体907の各々に直接接していてよい。電子部品902が固体撮像素子である場合、蓋体907の少なくとも一部は、撮像される光に関して実質的に透明であり、典型的には蓋体907の全体が、撮像される光に関して実質的に透明である。 The lid 907 is mounted on the mounting surface SF of the frame portion 812 via the adhesive layer 906. As a result, the cavity CV of the package 800 is sealed. The adhesive layer 906 is made of, for example, a resin adhesive. The adhesive layer 906 may be in direct contact with each of the mounting surface SF and the lid 907. When the electronic component 902 is a solid-state image sensor, at least a portion of the lid 907 is substantially transparent with respect to the light being imaged, and typically the entire lid 907 is substantially with respect to the light being imaged. Is transparent.

なお本実施の形態においては配線部820が底部811を貫通しているが、変形例として、底部811と枠部812との間を貫通する配線部、または、枠部812を貫通する配線部が設けられてもよい。また、変形例として、電子部品902とボンディングワイヤによって接続されることになる配線部が設けられてもよい。また変形例として、配線部はリードフレームであってもよい。 In the present embodiment, the wiring portion 820 penetrates the bottom portion 811, but as a modification, the wiring portion penetrating between the bottom portion 811 and the frame portion 812 or the wiring portion penetrating the frame portion 812 It may be provided. Further, as a modification, a wiring portion to be connected to the electronic component 902 by a bonding wire may be provided. Further, as a modification, the wiring portion may be a lead frame.

本実施の形態によれば、上記のようにR1>R2が満たされていることにより、枠部812の取付面SF上における組成が緻密性の向上に適したものとなり、かつ、枠部812の内部における組成が色むらの抑制に適したものとなる。高い緻密性によって、例えば、取付面SFの耐酸性の確保(例えば、めっき工程の酸洗浄等)が容易となる。また、色むらの程度は、セラミックスの表面の組成ではなく、体積的に大部分を占めるセラミックスの内部の組成への依存性が大きいので、セラミックスの内部の組成を最適化することによって色むらを低減することができる。以上から、蓋体が取り付けられることになる取付面SFの緻密性を高めることができ、かつ、大きな色むらを避けることができる。 According to the present embodiment, since R1> R2 is satisfied as described above, the composition of the frame portion 812 on the mounting surface SF is suitable for improving the denseness, and the frame portion 812 The internal composition is suitable for suppressing color unevenness. The high density makes it easy to ensure acid resistance of the mounting surface SF (for example, pickling in the plating process). In addition, the degree of color unevenness largely depends on the internal composition of the ceramic, which occupies most of the volume, rather than the composition of the surface of the ceramic. Therefore, the color unevenness can be prevented by optimizing the internal composition of the ceramic. Can be reduced. From the above, it is possible to improve the fineness of the mounting surface SF to which the lid is mounted, and it is possible to avoid large color unevenness.

枠部812の取付面SFはセラミックスの焼成面であることが好ましい。この場合、パッケージ800の製造において、枠部812の取付面SFが研磨されない。取付面SFが研磨されると、枠部812の取付面SF上におけるセラミックス組成が、枠部812の内部における組成に近づきやすい。その結果、上述したR1>R2の関係が得にくかったり、あるいは、R1をR2に比して十分に大きくしにくかったりすることがある。これに対して取付面SFが焼成面である場合は、R1>R2の関係が得やすく、さらに、R1をR2に比して十分に大きくしやすい。また、取付面SFが焼成面である場合は、取付面SFの研磨が行われないので、枠部812の内部における気孔を欠陥(穴)として表面化させるおそれがない。したがって、加工時にこの欠陥に異物が入ることもない。よって、異物が脱離することに起因しての発塵を防ぐことができる。 The mounting surface SF of the frame portion 812 is preferably a fired surface of ceramics. In this case, in the manufacture of the package 800, the mounting surface SF of the frame portion 812 is not polished. When the mounting surface SF is polished, the ceramic composition on the mounting surface SF of the frame portion 812 tends to approach the composition inside the frame portion 812. As a result, the above-mentioned relationship of R1> R2 may be difficult to obtain, or it may be difficult to make R1 sufficiently larger than R2. On the other hand, when the mounting surface SF is a fired surface, it is easy to obtain the relationship of R1> R2, and further, it is easy to make R1 sufficiently larger than R2. Further, when the mounting surface SF is a fired surface, the mounting surface SF is not polished, so that there is no possibility that the pores inside the frame portion 812 are surfaced as defects (holes). Therefore, no foreign matter enters this defect during processing. Therefore, it is possible to prevent dust generation due to the detachment of foreign matter.

セラミックスの組成について、1.3≦R1≦2.2が満たされていることが好ましい。R1が1.3以上であることによって、パッケージ800の色むらを十分に小さくすることができる。R1が2.2以下であることによって、パッケージ800を製造する際の焼成工程に必要な温度が過度に高くなることが避けられる。R1が2.2を超える場合、焼成温度が上がり、粒成長により強度が低下してしまう。 Regarding the composition of the ceramics, it is preferable that 1.3 ≦ R1 ≦ 2.2 is satisfied. When R1 is 1.3 or more, the color unevenness of the package 800 can be sufficiently reduced. When R1 is 2.2 or less, it is possible to prevent the temperature required for the firing step in manufacturing the package 800 from becoming excessively high. When R1 exceeds 2.2, the firing temperature rises and the strength decreases due to grain growth.

セラミックスの組成について、0.7≦R2<1.3が満たされていることが好ましい。R1とR2との差異を極端に大きくすることは難しいので、R2が0.7以上であることによって、R1が過小となりにくくなる。なおR1が過小であると、色むらの抑制が難しくなる。一方、R2が1.3未満であることによって、セラミックスの取付面SF上での緻密性を十分に高めることができる。このように、R2を上記の範囲に制御することで、色むらに影響するR1を制御しやすくなり、その結果、取付面の緻密性を高めつつ、かつ、大きな色むらを避けることができる。 Regarding the composition of the ceramics, it is preferable that 0.7 ≦ R2 <1.3 is satisfied. Since it is difficult to make the difference between R1 and R2 extremely large, it is difficult for R1 to be too small when R2 is 0.7 or more. If R1 is too small, it becomes difficult to suppress color unevenness. On the other hand, when R2 is less than 1.3, the fineness of the ceramics on the mounting surface SF can be sufficiently improved. By controlling R2 within the above range in this way, it becomes easier to control R1 that affects color unevenness, and as a result, it is possible to improve the fineness of the mounting surface and avoid large color unevenness.

セラミックスは、好ましくは、次のような組成を有している。Al、SiOおよびMnOを必須成分として含み、モリブデン原子およびCrの少なくとも一方を任意成分として含む。Alの含有量は、82.0質量%以上95.0質量%以下である。SiOの含有量は、3.0質量%以上8.0質量%以下である。MnOの含有量は、2.0質量%以上6.0質量%以下である。MoO換算でのモリブデン原子の含有量とCrの含有量との合計は、4.0質量%以下である。残部の含有量は、0.1質量%未満であり、より好ましくは0.05質量%未満である。セラミックスがこのような組成を有することによって、セラミックスからなる基部810の寸法精度を得やすくなる。よって特に、研磨を省略して焼成面を用いる場合でも、取付面SFの平坦度を確保しやすく、また取付面SFの平行度を確保しやすい。The ceramics preferably have the following composition. It contains Al 2 O 3 , SiO 2 and Mn O as essential components, and at least one of molybdenum atom and Cr 2 O 3 as an optional component. The content of Al 2 O 3 is 82.0% by mass or more and 95.0% by mass or less. The content of SiO 2 is 3.0% by mass or more and 8.0% by mass or less. The content of MnO is 2.0% by mass or more and 6.0% by mass or less. The total of the molybdenum atom content and the Cr 2O 3 content in terms of MoO 3 is 4.0% by mass or less. The content of the balance is less than 0.1% by mass, more preferably less than 0.05% by mass. When the ceramics have such a composition, it becomes easy to obtain the dimensional accuracy of the base 810 made of the ceramics. Therefore, in particular, even when the fired surface is used without polishing, it is easy to secure the flatness of the mounting surface SF, and it is easy to secure the parallelism of the mounting surface SF.

具体的には、上記残部の含有量が0.1質量%未満に抑えられていることから、各成分が、偏析することなく分散された状態で均一に焼結されている。これにより、基部810の寸法ばらつきが抑制される。よって、研磨なしに取付面SFの平坦度を確保しやすくなる。また取付面SFの平行度を確保しやすくなる。 Specifically, since the content of the balance is suppressed to less than 0.1% by mass, each component is uniformly sintered in a dispersed state without segregation. As a result, dimensional variation of the base 810 is suppressed. Therefore, it becomes easy to secure the flatness of the mounting surface SF without polishing. In addition, it becomes easy to secure the parallelism of the mounting surface SF.

また上記のように、各成分が、偏析することなく分散された状態で均一に焼結されることによって、基部810のガラス成分が溶融するタイミングが、焼成セッターに面する側と、その反対側とで、ほぼ同時となる。よって、このタイミングのずれに起因して基部810が厚み方向において反ることが抑制される。よって、研磨なしに取付面SFの平坦度および平行度を確保しやすくなる。 Further, as described above, each component is uniformly sintered in a dispersed state without segregation, so that the timing at which the glass component of the base 810 melts is on the side facing the firing setter and on the opposite side. And it will be almost at the same time. Therefore, it is possible to prevent the base portion 810 from warping in the thickness direction due to this timing shift. Therefore, it becomes easy to secure the flatness and parallelism of the mounting surface SF without polishing.

残部の含有量は、0.05質量%未満がより好ましい。これによって寸法ばらつきをさらに抑制できる。残部の含有量は、0質量%であることが特に好ましい。これによって、寸法ばらつきをさらに抑制できる。 The content of the balance is more preferably less than 0.05% by mass. As a result, dimensional variation can be further suppressed. The content of the balance is particularly preferably 0% by mass. As a result, dimensional variation can be further suppressed.

基部810のセラミックスは結晶相とガラス相とを含む。セラミックスが着色剤としてMo原子を含有している場合は、結晶相は、主結晶相としてのAl結晶相に加えて、副結晶相としてのMo結晶相も含む。結晶相は、Al結晶相およびMo結晶相以外の結晶相(以下、「残部の結晶相」という。)を含んでいてもよい。ここで、基部810を粉砕することによって得た試料のX線回折パターンが測定される場合、残部の結晶相のメインピーク強度は、Al結晶相のメインピーク強度に対して、0.5%以下であることが好ましい。これにより、残部の結晶相の存在によりガラス相に歪みが生じることを抑制できる。これにより、セラミックスの曲げ強度(いわゆる、抗折強度)を向上させることができる。The ceramics of the base 810 include a crystalline phase and a glass phase. When the ceramics contain Mo atoms as a colorant, the crystal phase includes not only the Al 2 O 3 crystal phase as the main crystal phase but also the Mo crystal phase as the sub crystal phase. The crystal phase may contain a crystal phase other than the Al 2 O 3 crystal phase and the Mo crystal phase (hereinafter, referred to as “residual crystal phase”). Here, when the X-ray diffraction pattern of the sample obtained by crushing the base 810 is measured , the main peak intensity of the remaining crystal phase is 0 . It is preferably 5% or less. As a result, it is possible to prevent the glass phase from being distorted due to the presence of the remaining crystal phase. This makes it possible to improve the bending strength (so-called bending strength) of the ceramics.

下記の表1は、異なる組成を有するセラミックス板のサンプルA~Cについて、焼結体密度と、色むらとを調べた結果を示す。 Table 1 below shows the results of examining the sintered body density and the color unevenness of the ceramic plate samples A to C having different compositions.

Figure 0007008169000001
Figure 0007008169000001

上記表1における組成は、セラミックスを製造するための原料粉末の調合時のものであり、その焼結によって得られたセラミックス板の内部の組成にほぼ対応していると考えられる。よってここでの重量比SiO/MnOは、前述したR1に、ほぼ対応していると考えられる。サンプルA~Cのそれぞれは、SiOおよびMnOの合計重量は共通して9質量%としつつ、上記重量比を1.00、1.20および1.40として作製された。その結果、重量比が小さいほど焼結体密度が大きいことがわかった。また、重量比が大きいほど色むらが抑制されることがわかった。図3~図5のそれぞれは、上記表1のサンプルA~Cの実体顕微鏡写真を示す。重量比1.00(図3)は色むらが顕著であり、重量比1.20(図4)では色むらが多少見られ、重量比1.40(図5)では色むらがほとんど見られなかった。The composition in Table 1 is the one at the time of blending the raw material powder for producing ceramics, and it is considered that the composition substantially corresponds to the internal composition of the ceramic plate obtained by the sintering. Therefore, it is considered that the weight ratio SiO 2 / MnO here substantially corresponds to the above-mentioned R1. Each of the samples A to C was prepared with the above weight ratios of 1.00, 1.20 and 1.40, while the total weight of SiO 2 and MnO was 9% by mass in common. As a result, it was found that the smaller the weight ratio, the higher the sintered body density. It was also found that the larger the weight ratio, the more the color unevenness was suppressed. Each of FIGS. 3 to 5 shows stereomicrographs of samples A to C in Table 1 above. Color unevenness is remarkable at a weight ratio of 1.00 (Fig. 3), some color unevenness is observed at a weight ratio of 1.20 (Fig. 4), and almost color unevenness is observed at a weight ratio of 1.40 (Fig. 5). There wasn't.

上記サンプルA~Cの実験結果等を踏まえて本発明者らは、MnOの含有量に対するSiOの含有量の重量比を、取付面SFをなすセラミックス表面においては相対的に小さくし、セラミックス内部においては相対的に大きくする、という発想に至った。この発想の下、以下の表2および表3に示す重量比にてパッケージを試作したところ、いずれの実施例においても、取付面SFの緻密性を高めることができ、かつ、大きな色むらを避けることができた。Based on the experimental results of the above samples A to C, the present inventors reduced the weight ratio of the content of SiO 2 to the content of MnO relatively small on the surface of the ceramic forming the mounting surface SF, and inside the ceramic. I came up with the idea of making it relatively large. Based on this idea, when the packages were prototyped with the weight ratios shown in Tables 2 and 3 below, the precision of the mounting surface SF can be improved and large color unevenness can be avoided in any of the embodiments. I was able to.

Figure 0007008169000002
Figure 0007008169000002

Figure 0007008169000003
Figure 0007008169000003

上記表2および表3の各々において、左列の数値は、取付面SFから深さ75μmまで研磨した後にXRF元素分析法で測定した組成(セラミックスの内部組成)であり、最下段の値が上記R1に対応する。この値から、表2および表3のそれぞれの実施例において、R1は1.28および2.24であった。また右列の数値は、XRF元素分析法による、セラミックスの表面組成である。この結果から、前述したR2は0.70および1.26であった。 In each of Tables 2 and 3 above, the numerical values in the left column are the compositions (internal composition of ceramics) measured by the XRF elemental analysis method after polishing to a depth of 75 μm from the mounting surface SF, and the values in the lowermost row are the above. Corresponds to R1. From this value, R1 was 1.28 and 2.24 in the examples of Tables 2 and 3, respectively. The numerical values in the right column are the surface composition of the ceramics by the XRF elemental analysis method. From this result, the above-mentioned R2 was 0.70 and 1.26.

色むらの程度は、セラミックスの表面組成ではなく、体積的に大部分を占めるセラミックスの内部組成への依存性が大きいので、セラミックスの内部の組成を最適化することによって、色むらを低減することができる。内部組成の比であるR1が1.28および2.24であった上記実施例において色むらが十分に抑制されたことから、有効数字2桁で1.3≦R1≦2.2が満たされていれば、色むらが十分に抑制されると考えられる。 Since the degree of color unevenness largely depends on the internal composition of the ceramic, which occupies most of the volume, rather than the surface composition of the ceramic, the color unevenness should be reduced by optimizing the internal composition of the ceramic. Can be done. Since the color unevenness was sufficiently suppressed in the above-mentioned examples in which R1 which was the ratio of the internal composition was 1.28 and 2.24, 1.3 ≦ R1 ≦ 2.2 was satisfied with two significant figures. If so, it is considered that color unevenness is sufficiently suppressed.

一方、表面組成の比であるR2が0.70および1.26であった上記実施例において緻密性が十分に高かったことから、有効数字2桁で0.7≦R2<1.3が満たされていれば、取付面SFの緻密性が十分に高められると考えられる。 On the other hand, since the denseness was sufficiently high in the above-mentioned examples in which R2, which is the ratio of the surface composition, was 0.70 and 1.26, 0.7 ≦ R2 <1.3 was satisfied with two significant figures. If so, it is considered that the precision of the mounting surface SF is sufficiently enhanced.

この発明は詳細に説明されたが、上記した説明は、すべての局面において、例示であって、この発明がそれに限定されるものではない。例示されていない無数の変形例が、この発明の範囲から外れることなく想定され得るものと解される。 Although the invention has been described in detail, the above description is exemplary in all aspects and the invention is not limited thereto. It is understood that innumerable variations not illustrated can be assumed without departing from the scope of the present invention.

800 パッケージ
810 基部
811 底部
812 枠部
820 配線部
821 外部電極端子
822 内部配線
823 内部電極端子
900 電子装置
901 接合層
902 電子部品
906 接着層
907 蓋体
CV キャビティ
SF 取付面
SM 実装面
800 Package 810 Base 811 Bottom 812 Frame 820 Wiring 821 External electrode terminal 822 Internal wiring 823 Internal electrode terminal 900 Electronic device 901 Bonding layer 902 Electronic component 906 Adhesive layer 907 Closure CV cavity SF Mounting surface SM mounting surface

Claims (6)

電子部品が実装されることになる実装面と、前記実装面上に位置するキャビティと、前記キャビティを封止するための蓋体が取り付けられることになる取付面と、を有するパッケージであって、
前記キャビティが設けられ、前記実装面を有する底部と、前記底部上において前記実装面の外側に前記キャビティを囲むように設けられ、前記取付面を有し、主成分としてのAlと添加物としてのMnOおよびSiOとを含むセラミックスからなる枠部と、を含む基部と、
前記基部の前記キャビティから延びて前記基部を貫通する配線部と、
を備え、
前記セラミックスの、MnOの含有量に対するSiOの含有量の重量比を、前記枠部の内部においてR1、前記枠部の前記取付面上においてR2と定義して、
R1>R2が満たされており、かつ、0.7≦R2<1.3が満たされているパッケージ。
A package having a mounting surface on which electronic components will be mounted, a cavity located on the mounting surface, and a mounting surface on which a lid for sealing the cavity will be mounted.
The cavity is provided, and the bottom portion having the mounting surface and the bottom portion provided so as to surround the cavity on the outside of the mounting surface, the mounting surface is provided, and Al 2 O 3 as a main component is added. A frame portion made of ceramics containing MnO and SiO 2 as an object, a base portion including, and a base portion including.
A wiring portion extending from the cavity of the base portion and penetrating the base portion,
Equipped with
The weight ratio of the content of SiO 2 to the content of MnO in the ceramic is defined as R1 inside the frame portion and R2 on the mounting surface of the frame portion.
A package in which R1> R2 is satisfied and 0.7 ≦ R2 <1.3 is satisfied .
1.3≦R1≦2.2が満たされている、請求項1に記載のパッケージ。 The package according to claim 1 , wherein 1.3 ≦ R1 ≦ 2.2 is satisfied. 電子部品が実装されることになる実装面と、前記実装面上に位置するキャビティと、前記キャビティを封止するための蓋体が取り付けられることになる取付面と、を有するパッケージであって、
前記キャビティが設けられ、前記実装面を有する底部と、前記底部上において前記実装面の外側に前記キャビティを囲むように設けられ、前記取付面を有し、主成分としてのAlと添加物としてのMnOおよびSiOとを含むセラミックスからなる枠部と、を含む基部と、
前記基部の前記キャビティから延びて前記基部を貫通する配線部と、
を備え、
前記セラミックスの、MnOの含有量に対するSiOの含有量の重量比を、前記枠部の内部においてR1、前記枠部の前記取付面上においてR2と定義して、
R1>R2が満たされており、かつ、1.3≦R1≦2.2が満たされているパッケージ。
A package having a mounting surface on which electronic components will be mounted, a cavity located on the mounting surface, and a mounting surface on which a lid for sealing the cavity will be mounted.
The cavity is provided, and the bottom portion having the mounting surface and the bottom portion provided so as to surround the cavity on the outside of the mounting surface, the mounting surface is provided, and Al 2 O 3 as a main component is added. A frame portion made of ceramics containing MnO and SiO 2 as an object, a base portion including, and a base portion including.
A wiring portion extending from the cavity of the base portion and penetrating the base portion,
Equipped with
The weight ratio of the content of SiO 2 to the content of MnO in the ceramic is defined as R1 inside the frame portion and R2 on the mounting surface of the frame portion.
A package in which R1> R2 is satisfied and 1.3 ≦ R1 ≦ 2.2 is satisfied .
前記枠部の前記取付面は、前記セラミックスの焼成面である、請求項1から3のいずれか1項に記載のパッケージ。 The package according to any one of claims 1 to 3 , wherein the mounting surface of the frame portion is a fired surface of the ceramics. 前記セラミックスは、モリブデン原子およびCrの少なくとも一方を任意成分として含み、
Alの含有量が、82.0質量%以上95.0質量%以下であり、
SiOの含有量が、3.0質量%以上8.0質量%以下であり、
MnOの含有量が、2.0質量%以上6.0質量%以下であり、
MoO換算でのモリブデン原子の含有量と、Crの含有量との合計が、4.0質量%以下であり、
残部の含有量が、0.1質量%未満である、
請求項1から4のいずれか1項に記載のパッケージ。
The ceramics contain at least one of a molybdenum atom and Cr 2 O 3 as an optional component.
The content of Al 2 O 3 is 82.0% by mass or more and 95.0% by mass or less.
The content of SiO 2 is 3.0% by mass or more and 8.0% by mass or less.
The MnO content is 2.0% by mass or more and 6.0% by mass or less.
The total of the molybdenum atom content in terms of MoO 3 and the content of Cr 2 O 3 is 4.0% by mass or less.
The content of the balance is less than 0.1% by mass,
The package according to any one of claims 1 to 4.
前記セラミックスは、モリブデン原子およびCrの少なくとも一方を任意成分として含み、
Alの含有量が、82.0質量%以上95.0質量%以下であり、
SiOの含有量が、3.0質量%以上8.0質量%以下であり、
MnOの含有量が、2.0質量%以上6.0質量%以下であり、
MoO換算でのモリブデン原子の含有量と、Crの含有量との合計が、4.0質量%以下であり、
残部の含有量が、0.05質量%未満である、
請求項1から4のいずれか1項に記載のパッケージ。
The ceramics contain at least one of a molybdenum atom and Cr 2 O 3 as an optional component.
The content of Al 2 O 3 is 82.0% by mass or more and 95.0% by mass or less.
The content of SiO 2 is 3.0% by mass or more and 8.0% by mass or less.
The MnO content is 2.0% by mass or more and 6.0% by mass or less.
The total of the molybdenum atom content in terms of MoO 3 and the content of Cr 2 O 3 is 4.0% by mass or less.
The content of the balance is less than 0.05% by mass,
The package according to any one of claims 1 to 4.
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