JP7053302B2 - タッチプローブ・aeセンサの接触方向分解機能を有する工作機械 - Google Patents
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Description
即ち、図2に示すように、未知の形状のワークWにタッチプローブPの先端部Paを接触させることで方向の検知を行う場合には、図2に示すように、タッチプローブPをX-Y-Zの3方向にそれぞれ異なる周波数fx,fy,fzと振幅で微小振動させておき、タッチプローブPの先端部PaがワークWに接触した時に生じるタッチ信号を同期検波ないし周波数分析を行い、fx,fy,fzのどの周波数成分が変化したか、をもとに接触の方向を分解する。図2に示すタッチプローブPをX-Y-Zの3方向に、図3(A)に示すように、それぞれ異なる周波数と振幅の成分fx,fy,fzで微小変動させていたのが、接触中に生じるタッチ信号を同期検波ないし周波数分析を行い図3(A)に示した周波数と振幅の成分fx,fy,fzと比較したところ、図3(B)に示すように、fx,fyは変化せず、fzの周波数が、図3(B)に点線で示す周波数からやや高周波側にずれ、振幅もより小さくなった。これにより、Z方向に接触したことが分かる。
このように、本実施形態では、fx,fy,fzで微小振動させておく場合に、それぞれ異なる位相変調をかけておくことで、周波数領域では一つの周波数でノイズに埋もれることを避けるために、複数の周波数を挿入するのと同じ効果が得られる。図10に2本の矢印100a、100bで示すように、10Hz間隔で飛び飛びの周波数をとるが、この間隔は変調している周波数(この信号例では、10Hzの正弦波)に相当する。従って、fx,fy,fzで微小振動させておく場合に、それぞれ異なる周波数の正弦波で位相をずらす(変調をかけておく)ことで、fx,fy,fzにおいて、それぞれ間隔の異なる飛び飛びの周波数(の山の形状)が得られるので、この微小振動に対する入力の影響を見ることで、ノイズに強い判定が可能になる。
302 コンピュータ数値制御部(CNC)、 304 プログラマブルコントローラ、
306 I/O(入出力)モジュール、 310 入出力装置、 320 各軸モータ、
330 モータドライバ、W ワーク、 P タッチプローブ、 Pa 先端部、
fx,fy,fz 周波数成分、 T トランスミッタ、 C コントローラ、
R レシーバ、 DJ 方向判定部(ボックス)、 MJ 機械側のI/Oモジュール、
K 校正用球、 H 校正用平面
Claims (3)
- タッチプローブやAEセンサ等による機上測定・加工原点設定のプロービングの際に、各軸方向に微小振動の指令を重畳させ、その振動周期もしくはその整数分の一倍数周期にあわせた同期検波もしくは周波数分析を行い、検波ないし分析の対象とする周期成分の振幅または位相情報、もしくはその両方を確認することにより接触方向の判別を行うプロービング装置において、各軸方向に複数の周波数成分を足し合わせた信号もしくは位相変調により周波数方向に幅を持たせた信号を重畳させ、ある周波数がノイズなどにより失われることを防ぐ対策を施したことを特徴とするプロービング装置。
- 請求項1に記載のプロービング装置乃至はその機能を備えたことを特徴とする工作機械。
- 請求項1に記載のプロービング装置又は請求項2に記載の工作機械において、既知の形状を有する物体を用いて、想定される方向に事前に接触動作をさせておき、その接触による各周波数成分もしくは各々の整数倍周波数成分の振幅または位相、もしくはその両方の変化割合を記録し、接触方向推定の性能の向上を図ることを特徴とする調整方法。
Applications Claiming Priority (2)
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|---|---|---|---|
| JP2017169035 | 2017-09-01 | ||
| JP2017169035 | 2017-09-01 |
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| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2019042914A JP2019042914A (ja) | 2019-03-22 |
| JP7053302B2 true JP7053302B2 (ja) | 2022-04-12 |
Family
ID=65813453
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2018026540A Active JP7053302B2 (ja) | 2017-09-01 | 2018-02-17 | タッチプローブ・aeセンサの接触方向分解機能を有する工作機械 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP7053302B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
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| JP7369603B2 (ja) * | 2019-11-27 | 2023-10-26 | 三井精機工業株式会社 | 3次元位置決め装置 |
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|---|---|---|---|---|
| JP2001174211A (ja) | 1999-12-16 | 2001-06-29 | Matsushita Research Institute Tokyo Inc | 表面形状測定装置および測定方法 |
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- 2018-02-17 JP JP2018026540A patent/JP7053302B2/ja active Active
Patent Citations (2)
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
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| JP2019042914A (ja) | 2019-03-22 |
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