JP7082937B2 - Teaching nozzle - Google Patents
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Description
本開示は、プラズマガスを噴出するプラズマヘッドに取り付けられるティーチングノズルに関するものである。 The present disclosure relates to a teaching nozzle attached to a plasma head that ejects plasma gas.
従来、ティーチングプレイバック方式によりガス溶断作業を行うロボットがある(例えば、特許文献1など)。特許文献1に記載されたロボットには、ガス溶断作業を実行する前に行う教示作業において、教示用ノズルが取り付けられる。教示用ノズルには、円筒形状の教示針が取り付けられている。教示針は、基端部にばねが取り付けられ軸方向へ進退可能に構成され、且つ軸方向を中心に回転可能となっている。教示針には、教示針の角度を検証するための角度検証ゲージが取り付け可能となっている。 Conventionally, there is a robot that performs gas fusing work by a teaching playback method (for example, Patent Document 1). A teaching nozzle is attached to the robot described in Patent Document 1 in the teaching work performed before the gas fusing work is executed. A cylindrical teaching needle is attached to the teaching nozzle. The teaching needle is configured to be able to move forward and backward in the axial direction by attaching a spring to the base end portion, and is rotatable about the axial direction. An angle verification gauge for verifying the angle of the teaching needle can be attached to the teaching needle.
ところで、ワークに対してプラズマガスを照射してプラズマ処理を実行するプラズマ装置では、プラズマガスを噴出するノズルと、ワークとの距離、即ち、プラズマガスの照射距離の調整が重要となる。このため、例えば、多関節ロボットにプラズマヘッドを取り付けてプラズマ処理を実行する場合、プラズマ処理を行う経路のティーチングが必要となる。ティーチングにおいて、ユーザが、実際のワークの上でプラズマヘッドを動かして、照射距離を確認する場合、ノズルがワークに接触すると、ワークを損傷させてしまう虞がある。 By the way, in a plasma device that irradiates a work with plasma gas to execute plasma processing, it is important to adjust the distance between the nozzle for ejecting the plasma gas and the work, that is, the irradiation distance of the plasma gas. Therefore, for example, when a plasma head is attached to an articulated robot to perform plasma processing, teaching of a path for performing plasma processing is required. In teaching, when the user moves the plasma head on the actual work to check the irradiation distance, if the nozzle comes into contact with the work, the work may be damaged.
本開示は、上記の課題に鑑みてなされたものであり、プラズマ装置のティーチングにおいて、ワークの損傷を抑制できるティーチングノズルを提供することを課題とする。 The present disclosure has been made in view of the above problems, and an object of the present invention is to provide a teaching nozzle capable of suppressing damage to a work in teaching a plasma device.
上記課題を解決するために、本開示は、ワークへプラズマガスを噴出するノズルを取り付け可能なヘッド本体部に対し、前記ノズルに代えて取り付け可能な取付部と、前記取付部に保持され、前記ワークから外力が加えられた場合に加えられた前記外力を軽減する軽減部を有するダミーノズル部と、前記ダミーノズル部に保持され、前記ダミーノズル部から突出し、前記ノズルから前記ワークへ向かって噴出する前記プラズマガスの照射距離に応じた突出長さで形成され、前記ワークから加えられた外力に応じて弾性変形する複数の距離ゲージと、を備えるティーチングノズルを開示する。
また、本開示は、ワークへプラズマガスを噴出するノズルを取り付け可能なヘッド本体部に対し、前記ノズルに代えて取り付け可能な取付部と、前記取付部に保持され、前記ワークから外力が加えられた場合に加えられた前記外力を軽減する軽減部を有するダミーノズル部と、前記ダミーノズル部に保持され、前記ダミーノズル部から突出し、前記ノズルから前記ワークへ向かって噴出する前記プラズマガスの照射距離に応じた突出長さで形成され、前記ワークから加えられた外力に応じて弾性変形する距離ゲージと、を備え、前記距離ゲージは、第1距離ゲージと、前記第1距離ゲージに比べて前記突出長さを長くして形成された第2距離ゲージと、を有する、ティーチングノズルを開示する。
In order to solve the above problems, in the present disclosure, a nozzle that ejects plasma gas to a work is attached to a head main body portion that can be attached in place of the nozzle, and the attachment portion is held by the attachment portion. A dummy nozzle portion having a reducing portion for reducing the external force applied when an external force is applied from the work, and a dummy nozzle portion held by the dummy nozzle portion, projecting from the dummy nozzle portion and ejecting from the nozzle toward the work. Disclosed is a teaching nozzle comprising a plurality of distance gauges formed with a protrusion length corresponding to an irradiation distance of the plasma gas to be elastically deformed according to an external force applied from the work.
Further, in the present disclosure, a mounting portion that can be mounted in place of the nozzle and a mounting portion that can be mounted to the head main body portion to which a nozzle that ejects plasma gas to the work can be mounted are held by the mounting portion, and an external force is applied from the work. Irradiation of the plasma gas that is held by the dummy nozzle portion and protrudes from the dummy nozzle portion and is ejected from the nozzle toward the work. A distance gauge formed with a protrusion length corresponding to a distance and elastically deformed according to an external force applied from the work is provided, and the distance gauge is compared with a first distance gauge and the first distance gauge. Disclosed is a teaching nozzle having a second distance gauge formed with an elongated protrusion length.
本開示のティーチングノズルによれば、プラズマ装置のティーチングにおいて、ワークの損傷を抑制できる。 According to the teaching nozzle of the present disclosure, damage to the work can be suppressed in the teaching of the plasma device.
以下、本開示に係るティーチングノズルについて、図面を参照しつつ詳しく説明する。なお、本開示は、下記実施形態の他、当業者の知識に基づいて種々の変更、改良を施した種々の態様で実施することができる。まず、本開示のティーチングノズルが取り付け可能なプラズマ装置について説明する。 Hereinafter, the teaching nozzle according to the present disclosure will be described in detail with reference to the drawings. In addition to the following embodiments, the present disclosure can be carried out in various embodiments with various changes and improvements based on the knowledge of those skilled in the art. First, a plasma device to which the teaching nozzle of the present disclosure can be attached will be described.
図1に示すように、プラズマ装置10は、プラズマヘッド(以下、ヘッドという)11、ロボット13、制御ボックス15を備えている。ヘッド11は、ロボット13に取り付けられている。ロボット13は、例えば、シリアルリンク型ロボット(多間接型ロボットと呼ぶこともできる)である。ヘッド11は、ロボット13の先端に保持された状態でプラズマガスを照射可能となっている。ヘッド11は、ロボット13の駆動に応じて3次元的に移動可能となっている。
As shown in FIG. 1, the
制御ボックス15は、コンピュータを主体として構成され、プラズマ装置10を統括的に制御する。制御ボックス15は、ヘッド11に電力を供給する電源部15A及びヘッド11へガスを供給するガス供給部15Bを有している。電源部15Aは、電源ケーブル(図示略)を介してヘッド11と接続されている。電源部15Aは、制御ボックス15の制御に基づいて、ヘッド11の電極33(図4参照)に印加する電圧を変更する。
The
また、ガス供給部15Bは、複数(本実施形態では4本)のガスチューブ19を介してヘッド11と接続されている。ガス供給部15Bは、制御ボックス15の制御に基づいて、後述する反応ガス、キャリアガス、ヒートガスをヘッド11へ供給する。制御ボックス15は、ガス供給部15Bを制御し、ガス供給部15Bからヘッド11へ供給するガスの量などを制御する。これにより、ロボット13は、制御ボックス15の制御に基づいて動作し、テーブル17の上に載置された被処理物W(ワークの一例)に対してヘッド11からプラズマガスを照射する。
Further, the
また、制御ボックス15は、タッチパネルや各種スイッチを有する操作部15Cを備えている。制御ボックス15は、各種の設定画面や動作状態(例えば、ガス供給状態など)等を操作部15Cのタッチパネルに表示する。また、制御ボックス15は、操作部15Cに対する操作入力により各種の情報を受け付ける。
Further, the
図2に示すように、ヘッド11は、プラズマ生成部21、ヒートガス供給部23等を備えている。プラズマ生成部21は、制御ボックス15のガス供給部15B(図1参照)から供給された処理ガスをプラズマ化して、プラズマガスを生成する。ヒートガス供給部23は、ガス供給部15Bから供給されたガスを加熱してヒートガスを生成する。本実施形態のヘッド11は、プラズマ生成部21において生成したプラズマガスを、ヒートガス供給部23によって生成したヒートガスとともに、図1に示す被処理物Wへ噴出する。ヘッド11には、図2に示す矢印の方向に上流側から下流側へと処理ガスが供給される。なお、ヘッド11は、ヒートガス供給部23を備えない構成でも良い。即ち、本開示のプラズマ装置は、ヒートガスを用いない構成でも良い。
As shown in FIG. 2, the
図3及び図4に示すように、プラズマ生成部21は、ヘッド本体部31、一対の電極33、ノズル35等を含む。なお、図3は、電極33及び後述するヒートガス通路51の位置に合わせて切断した断面を示している。ヘッド本体部31、ノズル35等は、例えば、耐熱性の高いセラミックにより形成されている。ヘッド本体部31には、プラズマガスを発生させる反応室37が形成されている。一対の電極33の各々は、例えば、円柱形状をなしており、その先端部を反応室37に突出させた状態で固定されている。以下の説明では、一対の電極33を、単に電極33と称する場合がある。また、一対の電極33が並ぶ方向をX方向、プラズマ生成部21とヒートガス供給部23とが並ぶ方向をY方向、円柱形状の電極33の軸方向をZ方向と称して説明する。また、本実施形態では、X方向、Y方向、Z方向は互いに直交する方向である。
As shown in FIGS. 3 and 4, the
ヒートガス供給部23は、ガス管41、ヒータ43、連結部45等を備えている。ガス管41及びヒータ43は、ヘッド本体部31の外周面に取り付けられ、図3に示すカバー47によって覆われている。ガス管41は、ガスチューブ19(図1参照)を介して、制御ボックス15のガス供給部15Bに接続されている。ガス管41には、ガス供給部15Bからガス(例えば、空気)が供給される。ヒータ43は、ガス管41の途中に取り付けられている。ヒータ43は、ガス管41を流れるガスを温めてヒートガスを生成する。
The heat
図3に示すように、連結部45は、ガス管41をノズル35に連結するものである。ノズル35がヘッド本体部31に取り付けられた状態では、連結部45は、一端部をガス管41に接続され、他端部をノズル35に形成されたヒートガス通路51に接続される。ヒートガス通路51には、ガス管41を介してヒートガスが供給される。
As shown in FIG. 3, the connecting
図3に示すように電極33の一部の外周部は、セラミックス等の絶縁体で製造された電極カバー53によって覆われている。電極カバー53は、略中空筒状をなし、長手方向の両端部に開口を形成されている。電極カバー53の内周面と電極33の外周面との間の隙間は、ガス通路55として機能する。電極カバー53の下流側の開口は、反応室37に接続されている。電極33の下端は、電極カバー53の下流側の開口から突出している。
As shown in FIG. 3, a part of the outer peripheral portion of the
また、ヘッド本体部31の内部には、反応ガス流路61と、一対のキャリアガス流路63とが形成されている。反応ガス流路61は、ヘッド本体部31の略中央部に設けられ、ガスチューブ19(図1参照)を介してガス供給部15Bと接続され、ガス供給部15Bから供給される反応ガスを反応室37へ流入させる。また、一対のキャリアガス流路63は、X方向において反応ガス流路61を間に挟んだ位置に配置されている。一対のキャリアガス流路63の各々は、ガスチューブ19(図1参照)を介してガス供給部15Bと接続され、ガス供給部15Bからキャリアガスが供給される。キャリアガス流路63は、ガス通路55を介してキャリアガスを反応室37へ流入させる。
Further, a reaction
反応ガス(種ガス)としては、酸素(O2)を採用できる。ガス供給部15Bは、例えば、反応ガス流路61を介して、酸素と窒素(N2)との混合気体(例えば、乾燥空気(Air))を、反応室37の電極33の間に流入させる。以下、この混合気体を、便宜的に反応ガスと呼び、酸素を種ガスと呼ぶ場合がある。キャリアガスとしては、窒素を採用できる。ガス供給部15Bは、ガス通路55の各々から、一対の電極33の各々を取り巻くようにキャリアガスを流入させる。
Oxygen (O2) can be adopted as the reaction gas (seed gas). The
一対の電極33には、制御ボックス15の電源部15Aから交流の電圧が印加される。電圧を印加することによって、例えば、図4に示すように、反応室37内において、一対の電極33の下端の間に、擬似アークAが発生する。この擬似アークAを反応ガスが通過する際に、反応ガスは、プラズマ化される。従って、一対の電極33は、擬似アークAの放電を発生させ、反応ガスをプラズマ化し、プラズマガスを発生させる。
AC voltage is applied to the pair of
また、ヘッド本体部31における反応室37の下流側の部分には、X方向に間隔を隔てて並び、Z方向に伸びて形成された複数(本実施例においては、6本)の本体側プラズマ通路71が形成されている。複数の本体側プラズマ通路71の上流側の端部は、反応室37に接続されている。
Further, in the downstream portion of the
図3~図5に示すように、ノズル35は、ノズル本体73、通路構造体75等を備えている。通路構造体75は、複数(本実施例においては、6本)の貫通孔であるノズル側プラズマ通路77がZ方向に沿って形成された通路形成部79、フランジ部81を備えている。通路構造体75は、フランジ部81において、ヘッド本体部31に位置決めされた状態でボルト84(図3参照)等によって着脱可能に取り付けられる。
As shown in FIGS. 3 to 5, the
ノズル本体73は、X方向からの側面視において概してT字形をなし、取付部85、ノズル部87を備えている。ノズル本体73は、取付部85に形成されたボルト孔111にボルト83を挿通し、挿通したボルト83をヘッド本体部31に締結することで、ヘッド本体部31に対して取り付けられる。これにより、ユーザは、種類の異なるノズル35に変更することができる。取付部85は、上面に形成された位置決めピン113を、ヘッド本体部31の貫通孔(図視略)に装入した状態で取り付けられる。これにより、ユーザは、位置決めピン113の位置を合わせることで、ヘッド本体部31に対するノズル本体73(ノズル35)の位置ズレを抑制できる。
The
取付部85には、Z方向に凹設された凹部89が形成されている。この凹部89には、上記したヒートガス通路51の下流側端部が接続されている。また、ノズル部87には、ノズル部87をZ方向に貫通する1つの貫通孔91が形成されている。貫通孔91の上流側端部は、凹部89に接続されている。
The mounting
ノズル35がヘッド本体部31に装着された状態で、凹部89の内部にフランジ部81が位置し、貫通孔91の内部に通路形成部79が位置するが、これら凹部89、貫通孔91と、フランジ部81、通路形成部79との間の隙間が、ヒートガス出力通路93として機能する。ヒートガス出力通路93には、ヒートガス通路51、凹部89を経てヒートガスが供給される。また、ノズル側プラズマ通路77は、Z方向に伸び、それぞれ、本体側プラズマ通路71に対応して位置している。ノズル側プラズマ通路77と本体側プラズマ通路71とは、それぞれ互いに連通した状態にある。
With the
反応室37で発生したプラズマガスは、キャリアガスとともに、本体側プラズマ通路71及びノズル側プラズマ通路77を流れ、ノズル側プラズマ通路77の下端の開口77Aから噴出される。ガス管41からヒートガス通路51へ供給されたヒートガスは、ヒートガス出力通路93を流れる。このヒートガスは、プラズマガスを保護するシールドガスとして機能するものである。ヒートガスは、ヒートガス出力通路93を流れ、ヒートガス出力通路93の下端の開口93Aからプラズマガスの噴出方向に沿って噴出される。ヒートガスは、開口77Aから噴出されるプラズマガスの周囲を取り巻くように噴出される。加熱したヒートガスをプラズマガスの周囲に噴出することで、プラズマガスの効能(濡れ性など)を高めることができる。
The plasma gas generated in the
ヘッド本体部31には、ノズル35の代わりに、図6~9に示すティーチングノズル101を装着することができる。ティーチングノズル101は、ロボット13(図1参照)のティーチングに用いられるものである。ティーチングノズル101は、取付部103と、ダミーノズル部105とを備えている。取付部103は、例えば、鉄鋼により形成されている。ダミーノズル部105は、例えば、樹脂により形成されている。なお、以下の説明では、上記したノズル35と同様の構成については、同一符号を付し、その説明を適宜省略する。
Instead of the
取付部103は、Z方向に厚い略板状に形成されている。取付部103には、図5に示す凹部89が形成されておらず、大半の本体側プラズマ通路71の下端を閉塞する構造となっている。取付部103には、例えば、Z方向に貫通する貫通口109が1つ形成されている。例えば、複数の本体側プラズマ通路71のうち、最も外側の本体側プラズマ通路71の下端は、貫通口109に接続されている。このため、最も外側の本体側プラズマ通路71は、貫通口109を通じて取付部103の外、即ち、外部に繋がっている。換言すれば、貫通口109は、ヘッド11の内外を連通している。また、最も外側の本体側プラズマ通路71以外の本体側プラズマ通路71は、取付部103によって閉塞される。また、ティーチングノズル101は、凹部89を有していない。このため、ティーチングノズル101をヘッド本体部31に取り付ける場合、ノズル35は、通路構造体75(図3参照)も含めてヘッド本体部31から取り外される。
The mounting
上記したように、ティーチングノズル101をヘッド本体部31に取り付けた状態では、複数の本体側プラズマ通路71のうち、1つだけが外部と連通した状態となる。このため、ティーチングノズル101を取り付けた場合の反応室37の圧力損失は、正規のノズル35(図5参照)を取り付けた場合の圧力損失に比べて小さくなる。制御ボックス15(図1参照)は、例えば、反応室37の圧力損失を検出することで、ティーチングノズル101を取り付けられているか、ノズル35を取り付けられているかを判断することができる。このため、制御ボックス15は、反応室37の圧力損失に基づいて、取り付けられたノズルの種類の判断や、判断結果に基づく警告等を実行しても良い。これにより、例えば、ティーチングノズル101を取り付けたままプラズマ処理を開始するような操作が操作部15Cに対して行われた場合に、ユーザに対して警告等を行うことができる。
As described above, in the state where the
また、取付部103には、2つのヒートガス通路51が形成されている。2つのヒートガス通路51の各々は、Y方向に沿って形成されている。Y方向におけるヒートガス通路51の一端は、取付部103のY方向における端面103Aに形成された開口に接続されている(図6参照)。また、Y方向におけるヒートガス通路51の他端は、取付部103の中央側で閉塞されている(図8参照)。また、取付部103には、ノズル35と同様に、複数(本実施形態では3つ)のボルト孔111が形成されている。ティーチングノズル101は、ボルト孔111に対しZ方向の下方から挿通したボルト83をヘッド本体部31に締結することで、ヘッド本体部31に対して固定される。
Further, two
ここで、本実施形態のプラズマ装置10では、被処理物Wへのプラズマ処理を行うのに先立って、ロボット13に対してティーチングを行うことができる。このティーチングでは、例えば、ロボット13にヘッド11を保持させた状態で、制御ボックス15を操作してロボット13を動作させる。ユーザは、例えば、被処理物Wとヘッド11(ノズル35やティーチングノズル101)との距離を確認しながらロボット13を動作させる。これにより、被処理物Wに対して適切な照射距離で移動できる経路や移動速度等をロボット13に対してティーチングすることができる。ロボット13は、プラズマ処理において、ティーチングによって教示された経路等に基づいた動作を行うことができる。
Here, in the
ティーチングにおいて、正規のノズル35が、被処理物Wや周辺の物体(ワークの一例)に接触して損傷を受ける可能性がある。ノズル35は、例えば、セラミックス等で製造されており、高価な部材である。そこで、本実施形態のプラズマ装置10では、ティーチングを行う場合に、ノズル35の代わりにティーチングノズル101をヘッド本体部31に装着することができる。
In teaching, the
図6及び図7に示すように、ダミーノズル部105には、上記したノズル部87とは異なり、ノズル側プラズマ通路77や貫通孔91が形成されていない。ダミーノズル部105は、X方向に延びた後に折り返すクランク形状となっている。詳述すると、ダミーノズル部105は、基端部121、ダンパ部123を備えている。基端部121は、Z方向に延びる四角柱形状をなしている。基端部121の上端面には、磁石125が取り付けられている。磁石125は、例えば、円盤形状をなし、一方の平面(磁極の面)を基端部121の上面から露出させている。ダミーノズル部105は、基端部121の磁石125を、金属製の取付部103の下面に吸着させることで、取付部103に対して取り付けられる。
As shown in FIGS. 6 and 7, unlike the
ダンパ部123は、Z方向における基端部121の下端に接続され、基端部121と一体形成されている。ダンパ部123は、基端部121の下端からX方向の一方側(図6における右側)へと延び、折り返して再度X方向の他方側(図6における左側)へと延びている。以下の説明では、図6に示すように、ダンパ部123の上部側の部分を第1ダンパ部123A、下部側の部分を第2ダンパ部123Bと称して説明する。
The
第1ダンパ部123Aは、基端部121の下端からX方向に延びる略四角柱形状をなしている。ダミーノズル部105を取付部103に吸着させた状態では、第1ダンパ部123Aの上面は、第1切り欠き部127の溝を間に挟んで取付部103の下面と対向する位置となる。第1切り欠き部127は、図6における右側から左側に向かってダンパ部123を切り欠かいた溝として形成されている。
The
また、第1ダンパ部123Aは、X方向の先端部(図6における右側端部)において下方へと直角に折れ曲がり、第2ダンパ部123Bと接続されている。第2ダンパ部123Bは、X方向に延びる略板状をなしている。Z方向における第1ダンパ部123Aの幅W1は、第2ダンパ部123Bの幅W2に比べて小さくなっている。また、基端部121及びダンパ部123のY方向における厚さW3は、同一となっている。厚さW3は、例えば、正規のノズル35のノズル部87のY方向における厚さと同一となっている。第1ダンパ部123Aと、第2ダンパ部123Bとは、第2切り欠き部129の溝を間に挟んで対向した位置に配置されている。第2切り欠き部129は、図6における左側から右側に向かってダンパ部123を切り欠かいた溝として形成されている。
Further, the
上記したように、Y方向の一方側から見たダミーノズル部105の形状は、X方向に折れ曲がったクランク形状となっている。X方向における基端部121の幅は、第1切り欠き部127を形成することで、ダミーノズル部105の他の部分に比べて細くなっている。また、第1ダンパ部123Aと第2ダンパ部123Bの接続部分のX方向における幅も、第2切り欠き部129を形成することで、ダミーノズル部105の他の部分に比べて細くなっている。
As described above, the shape of the
例えば、図6に示すように、ティーチング中に被処理物Wや他の物体からX方向の外力Fxがダミーノズル部105に加えられた場合を考える。図6の右側に向かう外力Fxを第2ダンパ部123Bに加えられた場合、ダミーノズル部105は、第2切り欠き部129の溝を広げるようにして外力Fxを軽減する。また、図6の左側に向かう外力Fxを第1ダンパ部123Aや第2ダンパ部123Bに加えられた場合、ダミーノズル部105は、第1切り欠き部127の溝を広げるようにして外力Fxを軽減する。
For example, as shown in FIG. 6, consider a case where an external force Fx in the X direction is applied to the
従って、本実施形態の第1及び第2切り欠き部127,129(軽減部の一例)は、ダミーノズル部105の一部を、他の部分に比べて細くするように切り欠いた切り欠き部である。第1及び第2切り欠き部127,129は、外力Fxを加えられた場合に、外力Fxを加えられた方向へダミーノズル部105が変形するのにともない、切り欠いた溝の幅を広げるように変形する(溝の形状を変更する)。これによれば、被処理物Wや他の部材(ワークの一例)からティーチングノズル101へ外力Fxが加えられた場合に、第1及び第2切り欠き部127,129を変形させながら加えられた外力Fxを軽減することができる。
Therefore, in the first and
同様に、図6に示すY方向に沿った外力Fyがダミーノズル部105に加えられた場合、第1及び第2切り欠き部127,129は、切り欠いた溝の一部を広げるように変形して外力Fyを軽減することができる。同様に、図6に示すZ方向に沿った外力Fzがダミーノズル部105に加えられた場合、第1及び第2切り欠き部127,129は、切り欠いた溝を狭くするように変形してFzを軽減することができる。これにより、被処理物Wや他の部材に加わる反力を低減して、被処理物W等が損傷するのを抑制することができる。
Similarly, when an external force Fy along the Y direction shown in FIG. 6 is applied to the
また、上記したように、ダミーノズル部105は、取付部103に対して磁石125によって着脱可能に構成されている。ダミーノズル部105は、所定の大きさ以上の外力が被処理物W等から加えられた場合に、取付部103から外れて分離する構成となっている。これによれば、ティーチングノズル101と被処理物W等が接触した場合に、被処理物W等からティーチングノズル101へ所定の大きさ以上の外力Fx等が加えられると、ダミーノズル部105が、取付部103から外れて分離する。これにより、被処理物W等とティーチングノズル101とに一定以上の力が加わらないようにすることで、ティーチングノズル101と被処理物W等との接触による被処理物W等の損傷を抑制できる。
Further, as described above, the
また、ティーチングノズル101は、磁力によりダミーノズル部105を取付部103に吸着させる磁石125を有する。これによれば、磁石125の磁力や取付部103の金属材料を変更し取付部103と磁石125との磁気吸着力を調整することで、ティーチングノズル101へ所定の大きさ以上の外力Fx等が加えられた場合に、ダミーノズル部105を適切に取付部103から分離させることができる。
Further, the
また、本実施形態のダミーノズル部105は、樹脂などの柔らかい弾性部材で形成されている。このため、ダミーノズル部105と被処理物W等の接触が発生した場合に、被処理物W等をダミーノズル部105によって損傷させる可能性を低減できる。
Further, the
なお、ダミーノズル部105を金属で形成し、磁石125を取付部103の下面に固定しても良い。そして、取付部103の下面に取り付けた磁石125によって、金属のダミーノズル部105を取付部103側に吸着させても良い。この場合、取付部103は、金属でなくとも良い。また、取付部103と、ダミーノズル部105のぞれぞれに磁石125を配置して、互いの磁石125により取付部103とダミーノズル部105とを吸着させても良い。この場合、取付部103、ダミーノズル部105ともに金属でなくとも良い。
The
磁気吸引力に抗してダミーノズル部105を取付部103から取り外すのに必要な力の大きさは、特に限定されない。例えば、ダミーノズル部105は、ロボット13の加速や減速にともなってダミーノズル部105に加わる慣性力に抗して脱落せずに取付部103に吸着される必要がある。このため、磁石125の磁力の大きさは、ティーチング中のロボット13の移動に耐えれるだけの大きさが必要となる。一方で、ダミーノズル部105が被処理物W等に接触し外力Fx等が加わった場合に、被処理物Wを損傷させる前に、ダミーノズル部105を取付部103から脱落させることが好ましい。このため、磁石125の磁力は、外力Fx等の大きさ、被処理物W等の硬度、第1及び第2切り欠き部127,129による外力Fx等の軽減率などに基づいて設定することができる。従って、ティーチングにおける様々な条件を加味して磁気吸引力を設定することが好ましい。
The magnitude of the force required to remove the
ここで、プラズマガスを噴出するノズル35と、被処理物Wとの距離、即ち、プラズマガスの照射距離の調整は、プラズマ処理の効果を高める上で重要な要素となる。このため、ティーチングにおいて適切な照射距離となる経路を教示する必要がある。ティーチングを行った照射距離が短かった場合、プラズマガスやヒートガスによって被処理物Wを変形等させる虞がある。一方、ティーチングを行った照射距離が長かった場合、プラズマガスが被処理物Wまで十分に到達せず、プラズマガスによる効果(濡れ性の向上効果など)が低下する虞がある。
Here, the adjustment of the distance between the
そこで、本実施形態のティーチングノズル101は、照射距離を確認するための距離ゲージを取り付け可能となっている。図6に示すように、第2ダンパ部123Bには、Y方向に貫通する複数(本実施形態では2つ)の取付孔131が形成されている。2つの取付孔131は、X方向において所定の間隔を間に設けて形成されている。
Therefore, the
図10は、距離ゲージを取り付けたティーチングノズル101を示している。図10に示すように、ティーチングノズル101の第2ダンパ部123Bには、第1距離ゲージ133と、第2距離ゲージ134とが取り付けられている。第1及び第2距離ゲージ133,134は、例えば、第2ダンパ部123Bに形成された取付孔131(図6参照)に挿通したボルト135に対して裏側でナット(図視略)を締め付けることで、第2ダンパ部123Bに対して固定されている。
FIG. 10 shows a
第1及び第2距離ゲージ133,134は、例えば、プラスチック製のフィルムであり、弾性変形可能に形成されている。なお、第1及び第2距離ゲージ133,134の材料は、プラスチックに限らず、ゴムやウレタンなどの他の弾性部材でも良い。また、第1及び第2距離ゲージ133,134の材料としては、発砲スチロール等の弾性変形せずとも、被処理物Wに損傷を与え難い部材であれば採用することができる。 The first and second distance gauges 133 and 134 are, for example, plastic films and are formed so as to be elastically deformable. The materials of the first and second distance gauges 133 and 134 are not limited to plastic, but may be other elastic members such as rubber and urethane. Further, as the material of the first and second distance gauges 133 and 134, any member that is unlikely to damage the object W to be processed can be adopted without elastic deformation such as styrofoam.
第1及び第2距離ゲージ133,134は、長方形の薄いフィルム状に形成されている。第1及び第2距離ゲージ133,134は、第2ダンパ部123Bに固定された基端部から被処理物W等側、即ち、プラズマガスの噴射方向(図10におけるZ方向に沿った下方向)に向かって突出している。第1及び第2距離ゲージ133,134は、互いに平行をなす状態で第2ダンパ部123Bに固定されている。第1距離ゲージ133のZ方向に沿った突出長さL1及び第2距離ゲージ134のZ方向に沿った突出長さL2は、正規のノズル35から被処理物Wへ向かって噴出するプラズマガスの照射距離に応じた長さとなっている。ここでいう突出長さとは、第2ダンパ部123Bの下端からZ方向に沿って下方に向かって突出する距離である。例えば、突出長さは、ノズル側プラズマ通路77の開口77A(図4参照)を原点とする距離であり、プラズマガスの照射距離を測定する方向に沿った長さである。
The first and second distance gauges 133 and 134 are formed in the form of a rectangular thin film . The first and second distance gauges 133 and 134 are located on the side of the object to be processed W and the like from the base end portion fixed to the
第2距離ゲージ134の突出長さL2は、第1距離ゲージ133の突出長さL1に比べて長さL3だけ長くなっている。例えば、所望の合格基準の照射距離を、第1距離ゲージ133の先端から第2距離ゲージ134の先端までの範囲(長さL3の範囲)に設定する。これにより、第2距離ゲージ134の先端を被処理物Wに接触させつつ、第1距離ゲージ133の先端を被処理物Wに接触させない状態でティーチングを行うことで、合格基準の照射距離でティーチングを行うことが可能となる。例えば、長さL3の範囲に被処理物Wの照射対象部位を配置しつつ、ティーチングを行う。この際、第2距離ゲージ134は、被処理物Wに接触することで弾性変形する。
The protrusion length L2 of the
上記したように、第1及び第2距離ゲージ133,134は、弾性変形可能に構成され、取付部103に吸着されたダンパ部123から突出した状態で保持される。ティーチングにおいて、ティーチングノズル101は、まず先に第2距離ゲージ134から被処理物Wと接触することとなる。このため、ティーチングにおいて、接触する可能性の高い第2距離ゲージ134を弾性変形可能に構成することで、被処理物W等の損傷を抑制できる。
As described above, the first and second distance gauges 133 and 134 are configured to be elastically deformable and are held in a state of protruding from the
また、ティーチングにおいて、ティーチングノズル101と被処理物Wとの距離、即ち、照射距離を、目視で確認する場合、ユーザの目線の違いなどから照射距離にばらつきが発生する可能性がある。これに対し、第1及び第2距離ゲージ133,134を、所望の照射距離に応じた突出長さL1,L2で形成することで、各ユーザは、突出長さL1,L2を共通の基準としてティーチングを行うことができる。これにより、ティーチングにおける照射距離のばらつきの発生を抑制できる。
Further, in teaching, when the distance between the
また、第1距離ゲージ133と第2距離ゲージ134とは、異なる突出長さL1,L2で、互いに平行な状態で配置される。そして、所望の合格基準の照射距離を、第1距離ゲージ133の先端から第2距離ゲージ134の先端までの範囲に設定される。これにより、ユーザは、第2距離ゲージ134を被処理物Wに接触させつつ、第1距離ゲージ133を被処理物Wに接触させない状態でティーチングを行うことで、合格基準の照射距離でティーチングを容易行うことが可能となる。
Further, the
因みに、被処理物Wやその周辺の部材は、ワークの一例である。第1及び第2切り欠き部127,129は、軽減部の一例である。第1及び第2距離ゲージ133,134は、距離ゲージの一例である。
Incidentally, the object W to be processed and the members around it are examples of the work. The first and
以上、上記した本実施形態では、以下の効果を奏する。
ティーチングノズル101のダミーノズル部105は、取付部103に保持され、被処理物Wから外力Fx,Fy,Fzが加えられた場合に加えられた外力を軽減する軽減部(第1切り欠き部127など)を有する。これによれば、ティーチングノズル101と被処理物Wとが接触した場合に、被処理物Wからティーチングノズル101へ加えられた外力Fx等を、軽減部によって軽減することができる。これにより、ティーチングノズル101から被処理物Wへ加えられる反力を軽減できる。従って、ティーチングにおいて、ティーチングノズル101と被処理物Wとの接触による被処理物Wの損傷を抑制できる。
As described above, the above-described embodiment has the following effects.
The
尚、本開示は、上記実施形態に限定されるものではなく、当業者の知識に基づいて種々の変更、改良を施した種々の態様で実施することが可能である。
例えば、ティーチングノズル101は、図11に示すように、第2距離ゲージ134を取り付けずに、第1距離ゲージ133のみを取り付けた構成でも良い。この際、第1距離ゲージ133の突出長さL1を、図10に示す突出長さL1に長さL3だけ加えた長さにしても良い。また、図10に示すように、第1距離ゲージ133に目盛り141を設けても良い。これにより、ユーザは、被処理物W等に接触して折れ曲がった部分の第1距離ゲージ133の目盛り141を確認することで、合格基準の照射距離を確認できる。
It should be noted that the present disclosure is not limited to the above embodiment, and can be carried out in various embodiments with various changes and improvements based on the knowledge of those skilled in the art.
For example, as shown in FIG. 11, the
また、図12に示すように、ダミーノズル部105は、第1及び第2切り欠き部127,129を備えない構成でも良い。ダミーノズル部105は、例えば、Y方向に所定の厚みを有し、Z方向に延びる板状でも良い。この場合、板状のダミーノズル部105の上面に磁石125(図6参照)を設けても良い。これにより、所定の大きさ以上の外力が加わった場合に、ダミーノズル部105を、取付部103から外すことができる。
Further, as shown in FIG. 12, the
また、図13に示すように、ダミーノズル部105は、螺旋状をなす形状(コイルバネのような形状)でも良い。このような形状であっても外力Fx,Fy,Fzのいずれかがダミーノズル部105に加わった場合に、ダミーノズル部105は、外力の加えられた方向へ変形し、加えられた外力を軽減することができる。この場合、螺旋形状をなす部分は、本開示の軽減部として機能する。
Further, as shown in FIG. 13, the
また、図14に示すように、ダミーノズル部105は、円柱形状の棒でも良い。また、円柱形状のダミーノズル部105の上面に磁石125を設け、取付部103から取り外せるようにしても良い。このような構成であっても、所定の大きさ以上の外力Fx等がダミーノズル部105に加わることで、ダミーノズル部105を、取付部103から取り外すことができる。
また、ダミーノズル部105と、取付部103とを着脱可能に取り付ける方法は、磁石125を用いた方法に限らず、マジックテープや粘着テープ等を用いた方法でも良い。
Further, as shown in FIG. 14, the
Further, the method of detachably attaching the
35 ノズル、31 ヘッド本体部、103 取付部、105 ダミーノズル部、101 ティーチングノズル、125 磁石、127 第1切り欠き部(軽減部)、129 第2切り欠き部(軽減部)、133 第1距離ゲージ(距離ゲージ)、134 第2距離ゲージ(距離ゲージ)、L1 突出長さ、L2 突出長さ、Fx,Fy,Fz 外力、W 被処理物(ワーク)。 35 nozzle, 31 head body, 103 mounting, 105 dummy nozzle, 101 teaching nozzle, 125 magnet, 127 first notch (mitigation), 129 second notch (mitigation), 133 first distance Gauge (distance gauge), 134 Second distance gauge (distance gauge), L1 protrusion length, L2 protrusion length, Fx, Fy, Fz external force, W object to be processed (work).
Claims (5)
前記取付部に保持され、前記ワークから外力が加えられた場合に加えられた前記外力を軽減する軽減部を有するダミーノズル部と、
前記ダミーノズル部に保持され、前記ダミーノズル部から突出し、前記ノズルから前記ワークへ向かって噴出する前記プラズマガスの照射距離に応じた突出長さで形成され、前記ワークから加えられた外力に応じて弾性変形する複数の距離ゲージと、
を備えるティーチングノズル。 A mounting part that can be attached in place of the nozzle to the head body part that can attach a nozzle that ejects plasma gas to the work.
A dummy nozzle portion held by the mounting portion and having a reducing portion for reducing the external force applied when an external force is applied from the work, and a dummy nozzle portion.
It is held by the dummy nozzle portion, protrudes from the dummy nozzle portion, and is formed with a protrusion length corresponding to the irradiation distance of the plasma gas ejected from the nozzle toward the work, and responds to an external force applied from the work. With multiple distance gauges that elastically deform
Teaching nozzle equipped with.
前記取付部に保持され、前記ワークから外力が加えられた場合に加えられた前記外力を軽減する軽減部を有するダミーノズル部と、
前記ダミーノズル部に保持され、前記ダミーノズル部から突出し、前記ノズルから前記ワークへ向かって噴出する前記プラズマガスの照射距離に応じた突出長さで形成され、前記ワークから加えられた外力に応じて弾性変形する距離ゲージと、
を備え、
前記距離ゲージは、
第1距離ゲージと、
前記第1距離ゲージに比べて前記突出長さを長くして形成された第2距離ゲージと、
を有する、ティーチングノズル。 A mounting part that can be attached in place of the nozzle to the head body part that can attach a nozzle that ejects plasma gas to the work.
A dummy nozzle portion held by the mounting portion and having a reducing portion for reducing the external force applied when an external force is applied from the work, and a dummy nozzle portion.
It is held by the dummy nozzle portion, protrudes from the dummy nozzle portion, and is formed with a protrusion length corresponding to the irradiation distance of the plasma gas ejected from the nozzle toward the work, and responds to an external force applied from the work. With a distance gauge that elastically deforms
Equipped with
The distance gauge is
With the first distance gauge,
A second distance gauge formed by making the protrusion length longer than that of the first distance gauge,
Has a teaching nozzle.
長方形の薄いフィルム状に形成され、前記プラズマガスの噴射方向に向かって突出し、互いに平行をなす状態で前記ダミーノズル部に固定される、請求項2又は請求項3に記載のティーチングノズル。 Each of the first distance gauge and the second distance gauge
The teaching nozzle according to claim 2 or 3, which is formed in the form of a rectangular thin film, projects in the direction of injection of the plasma gas, and is fixed to the dummy nozzle portion in a state of being parallel to each other.
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