JP7100465B2 - Evaluation device and evaluation method - Google Patents
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Description
本発明は、バルブメタル層を有する電極体、及びその電極体を用いて導電性材料の特性を測定する評価装置並びに評価方法に関する。 The present invention relates to an electrode body having a valve metal layer, an evaluation device for measuring the characteristics of a conductive material using the electrode body, and an evaluation method.
キャパシタの性能を評価する目的で、キャパシタの静電容量と等価直列抵抗(ESR)を測定することが行われている。キャパシタの構成材料を研究することによりキャパシタの高性能化が図られており、例えば特許文献1には、等価直列抵抗を低下させる目的で、ポリ(3,4-エチレンジオキシチオフェン)とポリスチレンスルホン酸を含む導電性高分子分散液から形成された固体電解質層を、誘電体層と陰極との間に配置したキャパシタが開示されている。
For the purpose of evaluating the performance of a capacitor, the capacitance of the capacitor and the equivalent series resistance (ESR) are measured. The performance of capacitors has been improved by studying the constituent materials of capacitors. For example, in
従来、キャパシタの導電性材料の性能を評価する場合、導電性材料を直接的に測定して評価する方法が無かった。このため、評価する導電性材料を組み込んだキャパシタを製品に近い状態にまで組み立てて、キャパシタ性能を測定し、間接的にその導電性材料の特性を評価していた。この方法は手間と時間を要する問題があった。 Conventionally, when evaluating the performance of a conductive material of a capacitor, there has been no method of directly measuring and evaluating the conductive material. For this reason, a capacitor incorporating a conductive material to be evaluated was assembled to a state close to that of a product, the capacitor performance was measured, and the characteristics of the conductive material were indirectly evaluated. This method has a problem that it takes time and effort.
本発明は、簡便で迅速に導電性材料の性能を評価することが可能な、電極体、評価装置及び評価方法を提供する。 The present invention provides an electrode body, an evaluation device, and an evaluation method capable of easily and quickly evaluating the performance of a conductive material.
[1] 第1のバルブメタルからなる第1の金属層を有する第1の電極と、第2のバルブメタルからなる第2の金属層を有する第2の電極を備えた電極体であって、前記第1の金属層と前記第2の金属層が互いに離間して対向するように配置されており、前記第1の金属層の前記第2の金属層側の表面には第1の誘電体膜を有し、前記第2の金属層の前記第1の金属層側の表面には第2の誘電体膜を有する、電極体。
[2] 前記第1のバルブメタル及び前記第2のバルブメタルのうち少なくとも一方が、酸素以外のアニオンを排他的に酸化皮膜を生成するバルブメタルである、[1]に記載の電極体。
[3] 下記(a)及び(b)の少なくとも一方である、[1]又は[2]に記載の電極体。
(a)前記第1のバルブメタルが、タンタル、又はタンタルを50質量%以上含む合金である。
(b)前記第2のバルブメタルが、タンタル、又はタンタルを50質量%以上含む合金である。
[4] 下記(c)及び(d)の少なくとも一方である、[1]~[3]の何れか一項に記載の電極体。
(c)前記第1の誘電体膜が前記第1のバルブメタルの酸化皮膜である。
(d)前記第2の誘電体膜が前記第2のバルブメタルの酸化皮膜である。
[5] 前記酸化皮膜の厚さが、1nm以上700nm以下である、[4]に記載の電極体。
[6] [1]~[5]の何れか一項に記載の電極体を備えた評価装置であって、前記第1の誘電体膜と、前記第2の誘電体膜との間に試料を挿入し、前記試料に印加した直流または交流に応答する、電流または電圧を測定する、評価装置。
[7] 前記試料が導電性高分子を含む導電性材料である、[6]に記載の評価装置。
[8] 直流または交流の測定周波数を少なくとも2点選び、バルブメタルによる応答電流または応答電圧の違いがもっとも顕著となる周波数を測定する、[6]又は[7]に記載の評価装置。
[9] 直流または交流の測定周波数を少なくとも4点選び、バルブメタルによる応答電流または応答電圧を測定し、インピーダンス及び位相角を求める[6]~[8]の何れか一項に記載の評価装置。
[10] 少なくとも2つの周波数を含む波形を印加し、フーリエ変換によって周波数領域のスペクトルに変換された応答電流または応答電圧を測定し、インピーダンス及び位相角を求める[6]~[9]の何れか一項に記載の評価装置。
[11] 少なくとも2つの周波数を含む波形を印加し、フーリエ変換によって周波数領域のスペクトルに変換された応答電流または応答電圧を測定し、得られたデータをビッグデータとしてデータベース化し、機械学習アルゴリズムを使う、[6]~[10]の何れか一項に記載の評価装置。
[12] [6]~[11]の何れか一項に記載の評価装置を用いた評価方法であって、 前記評価装置の電極体において、前記第1の誘電体膜と、前記第2の誘電体膜との間に試料を挿入し、前記試料に印加した直流または交流に応答する、電流または電圧を測定するステップを有する、評価方法。
[1] An electrode body including a first electrode having a first metal layer made of a first valve metal and a second electrode having a second metal layer made of a second valve metal. The first metal layer and the second metal layer are arranged so as to be separated from each other and face each other, and a first dielectric is provided on the surface of the first metal layer on the side of the second metal layer. An electrode body having a film and having a second dielectric film on the surface of the second metal layer on the side of the first metal layer.
[2] The electrode body according to [1], wherein at least one of the first valve metal and the second valve metal is a valve metal that exclusively forms an oxide film on anions other than oxygen.
[3] The electrode body according to [1] or [2], which is at least one of the following (a) and (b).
(A) The first valve metal is tantalum or an alloy containing 50% by mass or more of tantalum.
(B) The second valve metal is tantalum or an alloy containing 50% by mass or more of tantalum.
[4] The electrode body according to any one of [1] to [3], which is at least one of the following (c) and (d).
(C) The first dielectric film is an oxide film of the first valve metal.
(D) The second dielectric film is an oxide film of the second valve metal.
[5] The electrode body according to [4], wherein the oxide film has a thickness of 1 nm or more and 700 nm or less.
[6] An evaluation device provided with the electrode body according to any one of [1] to [5], wherein a sample is provided between the first dielectric film and the second dielectric film. An evaluation device that measures current or voltage in response to direct current or alternating current applied to the sample.
[7] The evaluation device according to [6], wherein the sample is a conductive material containing a conductive polymer.
[8] The evaluation device according to [6] or [7], wherein at least two measurement frequencies of direct current or alternating current are selected, and the frequency at which the difference in response current or response voltage due to the valve metal is most noticeable is measured.
[9] The evaluation device according to any one of [6] to [8], wherein at least four DC or AC measurement frequencies are selected, the response current or response voltage by the valve metal is measured, and the impedance and the phase angle are obtained. ..
[10] Any one of [6] to [9], in which a waveform including at least two frequencies is applied, the response current or response voltage converted into a spectrum in the frequency domain by Fourier transform is measured, and the impedance and phase angle are obtained. The evaluation device according to
[11] A waveform containing at least two frequencies is applied, the response current or response voltage converted into a spectrum in the frequency domain by Fourier transform is measured, the obtained data is stored in a database as big data, and a machine learning algorithm is used. , The evaluation device according to any one of [6] to [10].
[12] An evaluation method using the evaluation device according to any one of [6] to [11], wherein in the electrode body of the evaluation device, the first dielectric film and the second An evaluation method comprising inserting a sample between a dielectric film and measuring a current or voltage in response to a direct current or alternating current applied to the sample.
本発明の電極体、評価装置及び評価方法によれば、導電性材料の性能を直接的に測定し、簡便に迅速に評価することができる。 According to the electrode body, the evaluation device, and the evaluation method of the present invention, the performance of the conductive material can be directly measured and easily and quickly evaluated.
《電極体》
本発明の第一態様である電極体の模式的な断面を図1に示す。本態様の一実施形態である電極体10は、第1のバルブメタルからなる第1の金属層1aを有する第1の電極1と、第2のバルブメタルからなる第2の金属層2aを有する第2の電極2を備えた電極体10である。第1の金属層1aと第2の金属層2aが互いに離間して対向するように配置されており、第1の金属層1aの第2の金属層2a側の表面には第1の誘電体膜1bを有し、第2の金属層2aの第1の金属層1a側の表面には第2の誘電体膜2bを有する。符号Tは、測定試料を指す。
《Electrode body》
FIG. 1 shows a schematic cross section of the electrode body according to the first aspect of the present invention. The
第1のバルブメタル及び第2のバルブメタルの少なくとも一方は、酸素以外のアニオンを排他的に酸化皮膜を生成するバルブメタルであることが好ましい。このようなバルブメタルを用いると、酸化皮膜中に酸素以外の元素や化合物を取り込み難くなり、良質な電極体が得られる。
酸素以外のアニオンを排他的に形成された酸化皮膜、すなわち酸素を優先的に取り込んで形成された酸化皮膜、は高い酸素含有率を示す。バルブメタルの表面に形成された酸化皮膜を構成する全元素に対する酸素含有率(モル基準)は、例えば、エネルギー分散型X線分光器(EDS)を用いて測定することができる。
このようなバルブメタルを用いると、後述する試料(例えば、導電性高分子フィルム)測定の際、試料中の酸素以外の元素や化合物が酸化皮膜に与える影響を少なくできるため、より顕著に導電性材料の性能を評価できる。
It is preferable that at least one of the first valve metal and the second valve metal is a valve metal that exclusively forms an oxide film on anions other than oxygen. When such a valve metal is used, it becomes difficult to incorporate elements and compounds other than oxygen into the oxide film, and a high-quality electrode body can be obtained.
An oxide film in which anions other than oxygen are exclusively formed, that is, an oxide film formed by preferentially taking in oxygen, exhibits a high oxygen content. The oxygen content (molar basis) with respect to all the elements constituting the oxide film formed on the surface of the valve metal can be measured by using, for example, an energy dispersive X-ray spectroscope (EDS).
When such a valve metal is used, it is possible to reduce the influence of elements and compounds other than oxygen in the sample on the oxide film when measuring a sample (for example, a conductive polymer film) described later, so that the conductivity is more remarkable. The performance of the material can be evaluated.
第1のバルブメタル及び第2のバルブメタルは、それぞれ独立に、例えば以下の弁金属の群から選ばれる1以上であることが好ましい。
弁金属の群;アルミニウム、タンタル、ニオブ、チタン、ハフニウム、ジルコニウム、亜鉛、タングステン、ビスマス及びアンチモン、並びにこれらの金属の1種以上を50質量%以上含有する合金。
第1のバルブメタル及び第2のバルブメタルとしては、それぞれ独立に、タンタル、ニオブ、チタン、鉄及びアルミニウム、並びにこれらの金属の1種以上を50質量%以上含有する合金が好ましく、タンタル又はタンタルを50質量%以上含有する合金(タンタル合金)であることがより好ましい。
第1のバルブメタル及び第2のバルブメタルは、互いに同じであってもよいし、異なっていてもよい。
It is preferable that the first valve metal and the second valve metal are each independently, for example, one or more selected from the following valve metal group.
Group of valve metals; aluminum, tantalum, niobium, titanium, hafnium, zirconium, zinc, tungsten, bismuth and antimony, and alloys containing 50% by mass or more of one or more of these metals.
As the first valve metal and the second valve metal, tantalum, niobium, titanium, iron and aluminum, and alloys containing 50% by mass or more of one or more of these metals are preferable, and tantalum or tantalum is preferable. It is more preferable that the alloy contains 50% by mass or more of (tantalum alloy).
The first valve metal and the second valve metal may be the same as each other or may be different from each other.
第1のバルブメタルからなる第1の金属層1aの厚さ、及び第2のバルブメタルからなる第2の金属層2aの厚さは、同じでも異なっていてもよく、それぞれ独立に例えば、5.0μm以上15.00mm以下が挙げられる。10μm以上0.2mm以下が好ましい。
The thickness of the
第1の金属層1a及び第2の金属層2aの形態は、平滑であってもよいし、凹凸が形成された多孔質であってもよい。平滑な金属層としては、各バルブメタルからなる平滑な金属箔が挙げられる。多孔質な金属層としては、各バルブメタルの箔をエッチングしたエッチング箔や、各バルブメタルからなる粒子を焼結させてなる焼結体が挙げられる。金属層1a,2aが多孔質である場合、多孔質の孔内の表面にも後述の酸化皮膜が形成されていてもよい。
The morphology of the
電極体10の第1の誘電体膜1bは、第1の金属層1aの酸化皮膜であることが好ましい。前記酸化皮膜は、第1の金属層の表面に空気中で自然に形成される酸化皮膜であってもよいし、第1の金属層の表面を酸化処理して形成した酸化皮膜であってもよい。
前記酸化処理の方法としては、キャパシタの製造時に行われるような公知の陽極酸化が挙げられる。具体的には、例えば、アジピン酸アンモニウム水溶液などの電解液中にて、第1のバルブメタルを有する陽極の表面を陽極酸化することによって、第1のバルブメタルからなる第1の金属層1aの表面に、第1のバルブメタルを酸化してなる第1の誘電体膜1bを形成することができる。
The
Examples of the oxidation treatment method include known anodizing as performed during the manufacture of capacitors. Specifically, for example, by anodizing the surface of the anode having the first valve metal in an electrolytic solution such as an aqueous solution of ammonium adipate, the
電極体10の第2の誘電体膜2bの説明は、第1の誘電体膜1bの説明と同じであるので省略する。
The description of the
第1の誘電体膜1bの厚さ及び第2の誘電体膜2bの厚さは、同じでも異なっていてもよく、それぞれ独立に例えば、1nm以上700nm以下が挙げられる。各誘電体膜1b,2bが自然酸化皮膜である場合、その厚さとしては、例えば1nm以上3nm未満が挙げられる。一方、陽極酸化処理によって形成される酸化皮膜の厚みは、陽極酸化形成時条件によって誘電体膜の厚みを自由に変えることができる。各誘電体膜1b,2bが陽極酸化によって形成された誘電体膜である場合、その厚さとしては、例えば、3nm以上700nm以下が挙げられる。陽極酸化によって形成される誘電体膜の厚さは、3nm以上100nm以下が好ましく、3nm以上50nm以下がさらに好ましく、5nm以上15nm以下が特に好ましい。
The thickness of the
第1の電極1は、第1のバルブメタルからなる第1の金属層1a以外の、他の金属からなる金属層を備えていても構わない。
第2の電極2は、第2のバルブメタルからなる第2の金属層2a以外の、他の金属からなる金属層を備えていても構わない。
上記の他の金属層として、例えば、第1の金属層又は第2の金属層に接続された、引出電極(電極端子)を構成する金属層が挙げられる。
The
The
Examples of the above-mentioned other metal layer include a metal layer constituting a drawer electrode (electrode terminal) connected to a first metal layer or a second metal layer.
《評価装置、評価方法》
本発明の第二態様の評価装置は、第一態様の電極体を備えた評価装置である。
本発明の第三態様の評価方法は、第二態様の評価装置を用い、試料に直流又は交流を印加したときに得られる電流又は電圧の応答を測定する工程を有する。
<< Evaluation device, evaluation method >>
The evaluation device of the second aspect of the present invention is an evaluation device provided with the electrode body of the first aspect.
The evaluation method of the third aspect of the present invention includes a step of measuring the response of a current or a voltage obtained when a direct current or an alternating current is applied to a sample by using the evaluation device of the second aspect.
評価装置の構成として、例えば、第一態様の電極体と、公知のLCRメータとを備えた構成が挙げられる。具体的には、図2に例示するように、挟持部12に電極体10が備えられ、各電極1,2の端子1c、2cを介して測定機器(例えばLCRメータ)15に接続された形態の評価装置20が挙げられる。評価装置20によれば、電極体10の第1の誘電体膜1bと、第2の誘電体膜2bとの間に試料Tを挿入し、試料Tに印加された直流または交流に応答する、電流または電圧を測定することができる。
測定機器としてLCRメータの代わりに、スペクトルアナライザを用いる構成も挙げられる。スペクトルアナライザでは試料Tに印加された信号に応答する、電流または電圧を周波数領域のスペクトルとして測定することができる。この際、応答する電流または電圧を高速フーリエ変換することで、周波数領域のスペクトルが得られる。
Examples of the configuration of the evaluation device include a configuration including the electrode body of the first aspect and a known LCR meter. Specifically, as illustrated in FIG. 2, the sandwiching
As a measuring device, a configuration using a spectrum analyzer instead of an LCR meter can also be mentioned. The spectrum analyzer can measure the current or voltage in response to the signal applied to the sample T as a spectrum in the frequency domain. At this time, a spectrum in the frequency domain can be obtained by performing a fast Fourier transform on the responding current or voltage.
第1の誘電体膜が試料に接触する面積は、例えば0.03cm2以上3.00cm2以下が挙げられる。
第2の誘電体膜が試料に接触する面積は、例えば0.03cm2以上3.00cm2以下が挙げられる。
第1の誘電体膜が試料に接触する面積S1と、第2の誘電体膜が試料に接触する面積S2との比(S1/S2)は、1/2以上2/1以下が好ましく、1/1.5以上1.5/1以下がより好ましく、1/1.2以上1.2/1以下がさらに好ましい。
The area where the first dielectric film comes into contact with the sample is, for example, 0.03 cm 2 or more and 3.00 cm 2 or less.
The area of the second dielectric film in contact with the sample is, for example, 0.03 cm 2 or more and 3.00 cm 2 or less.
The ratio (S1 / S2) of the area S1 in which the first dielectric film contacts the sample and the area S2 in which the second dielectric film contacts the sample is preferably 1/2 or more and 2/1 or less. It is more preferably /1.5 or more and 1.5 / 1 or less, and further preferably 1 / 1.2 or more and 1.2 / 1 or less.
前記試料は導電性試料であることが好ましく、導電性高分子を含む試料であることがより好ましく、導電性高分子を含むフィルムであることがさらに好ましい。 The sample is preferably a conductive sample, more preferably a sample containing a conductive polymer, and further preferably a film containing a conductive polymer.
前記フィルムの厚さとしては、例えば0.1mm以上2.0mm以下が挙げられる。 前記フィルムの面積としては、第1の誘電体膜及び第2の誘電体膜が接触する面積よりも広いことが好ましく、例えば0.05cm2以上3.50cm2以下が挙げられる。 Examples of the thickness of the film include 0.1 mm and more and 2.0 mm or less. The area of the film is preferably larger than the area in which the first dielectric film and the second dielectric film come into contact with each other, and examples thereof include 0.05 cm 2 and more and 3.50 cm 2 or less.
前記試料に含まれる導電性高分子は、π共役系導電性高分子及びポリアニオンを含む導電性複合体を含むことが好ましい。
π共役系導電性高分子としては、主鎖がπ共役系で構成されている有機高分子であれば特に制限されず、例えば、ポリピロール系導電性高分子、ポリチオフェン系導電性高分子、ポリアセチレン系導電性高分子、ポリフェニレン系導電性高分子、ポリフェニレンビニレン系導電性高分子、ポリアニリン系導電性高分子、ポリアセン系導電性高分子、ポリチオフェンビニレン系導電性高分子、及びこれらの共重合体等が挙げられる。空気中での安定性の点からは、ポリピロール系導電性高分子、ポリチオフェン系導電性高分子及びポリアニリン系導電性高分子が好ましく、ポリチオフェン系導電性高分子がより好ましい。
The conductive polymer contained in the sample preferably contains a π-conjugated conductive polymer and a conductive complex containing a polyanion.
The π-conjugated conductive polymer is not particularly limited as long as it is an organic polymer whose main chain is composed of a π-conjugated system. Conductive polymer, polyphenylene-based conductive polymer, polyphenylene vinylene-based conductive polymer, polyaniline-based conductive polymer, polyacene-based conductive polymer, polythiophenine-based conductive polymer, and copolymers thereof, etc. Can be mentioned. From the viewpoint of stability in air, a polypyrrole-based conductive polymer, a polythiophene-based conductive polymer, and a polyaniline-based conductive polymer are preferable, and a polythiophene-based conductive polymer is more preferable.
ポリチオフェン系導電性高分子としては、例えば、ポリチオフェン、ポリ(3-メチルチオフェン)、ポリ(3-エチルチオフェン)、ポリ(3-プロピルチオフェン)、ポリ(3-ブチルチオフェン)、ポリ(3-ヘキシルチオフェン)、ポリ(3-ヘプチルチオフェン)、ポリ(3-オクチルチオフェン)、ポリ(3-デシルチオフェン)、ポリ(3-ドデシルチオフェン)、ポリ(3-オクタデシルチオフェン)、ポリ(3-ブロモチオフェン)、ポリ(3-クロロチオフェン)、ポリ(3-ヨードチオフェン)、ポリ(3-シアノチオフェン)、ポリ(3-フェニルチオフェン)、ポリ(3,4-ジメチルチオフェン)、ポリ(3,4-ジブチルチオフェン)、ポリ(3-ヒドロキシチオフェン)、ポリ(3-メトキシチオフェン)、ポリ(3-エトキシチオフェン)、ポリ(3-ブトキシチオフェン)、ポリ(3-ヘキシルオキシチオフェン)、ポリ(3-ヘプチルオキシチオフェン)、ポリ(3-オクチルオキシチオフェン)、ポリ(3-デシルオキシチオフェン)、ポリ(3-ドデシルオキシチオフェン)、ポリ(3-オクタデシルオキシチオフェン)、ポリ(3,4-ジヒドロキシチオフェン)、ポリ(3,4-ジメトキシチオフェン)、ポリ(3,4-ジエトキシチオフェン)、ポリ(3,4-ジプロポキシチオフェン)、ポリ(3,4-ジブトキシチオフェン)、ポリ(3,4-ジヘキシルオキシチオフェン)、ポリ(3,4-ジヘプチルオキシチオフェン)、ポリ(3,4-ジオクチルオキシチオフェン)、ポリ(3,4-ジデシルオキシチオフェン)、ポリ(3,4-ジドデシルオキシチオフェン)、ポリ(3,4-エチレンジオキシチオフェン)、ポリ(3,4-プロピレンジオキシチオフェン)、ポリ(3,4-ブチレンジオキシチオフェン)、ポリ(3-メチル-4-メトキシチオフェン)、ポリ(3-メチル-4-エトキシチオフェン)、ポリ(3-カルボキシチオフェン)、ポリ(3-メチル-4-カルボキシチオフェン)、ポリ(3-メチル-4-カルボキシエチルチオフェン)、ポリ(3-メチル-4-カルボキシブチルチオフェン)が挙げられる。 Examples of the polythiophene-based conductive polymer include polythiophene, poly (3-methylthiophene), poly (3-ethylthiophene), poly (3-propylthiophene), poly (3-butylthiophene), and poly (3-hexyl). Thiophene), poly (3-heptylthiophene), poly (3-octylthiophene), poly (3-decylthiophene), poly (3-dodecylthiophene), poly (3-octadecylthiophene), poly (3-bromothiophene) , Poly (3-chlorothiophene), poly (3-iodothiophene), poly (3-cyanothiophene), poly (3-phenylthiophene), poly (3,4-dimethylthiophene), poly (3,4-dibutyl) Thiophene), poly (3-hydroxythiophene), poly (3-methoxythiophene), poly (3-ethoxythiophene), poly (3-butoxythiophene), poly (3-hexyloxythiophene), poly (3-heptyloxy) Thiophene), poly (3-octyloxythiophene), poly (3-decyloxythiophene), poly (3-dodecyloxythiophene), poly (3-octadecyloxythiophene), poly (3,4-dihydroxythiophene), poly (3,4-dimethoxythiophene), poly (3,4-diethoxythiophene), poly (3,4-dipropoxythiophene), poly (3,4-dibutoxythiophene), poly (3,4-dihexyloxy) Thiophene), poly (3,4-diheptyloxythiophene), poly (3,4-dioctyloxythiophene), poly (3,4-didecyloxythiophene), poly (3,4-didodecyloxythiophene), Poly (3,4-ethylenedioxythiophene), poly (3,4-propylenedioxythiophene), poly (3,4-butylenedioxythiophene), poly (3-methyl-4-methoxythiophene), poly (3-methyl-4-methoxythiophene) 3-Methyl-4-ethoxythiophene), poly (3-carboxythiophene), poly (3-methyl-4-carboxythiophene), poly (3-methyl-4-carboxyethylthiophene), poly (3-methyl-4) -Carboxybutylthiophene).
ポリピロール系導電性高分子としては、例えば、ポリピロール、ポリ(N-メチルピロール)、ポリ(3-メチルピロール)、ポリ(3-エチルピロール)、ポリ(3-n-プロピルピロール)、ポリ(3-ブチルピロール)、ポリ(3-オクチルピロール)、ポリ(3-デシルピロール)、ポリ(3-ドデシルピロール)、ポリ(3,4-ジメチルピロール)、ポリ(3,4-ジブチルピロール)、ポリ(3-カルボキシピロール)、ポリ(3-メチル-4-カルボキシピロール)、ポリ(3-メチル-4-カルボキシエチルピロール)、ポリ(3-メチル-4-カルボキシブチルピロール)、ポリ(3-ヒドロキシピロール)、ポリ(3-メトキシピロール)、ポリ(3-エトキシピロール)、ポリ(3-ブトキシピロール)、ポリ(3-ヘキシルオキシピロール)、ポリ(3-メチル-4-ヘキシルオキシピロール)が挙げられる。 Examples of the polypyrrole-based conductive polymer include polypyrrole, poly (N-methylpyrrole), poly (3-methylpyrrole), poly (3-ethylpyrrole), poly (3-n-propylpyrrole), and poly (3). -Butylpyrrole), poly (3-octylpyrrole), poly (3-decylpyrrole), poly (3-dodecylpyrrole), poly (3,4-dimethylpyrrole), poly (3,4-dibutylpyrrole), poly (3-carboxypyrrole), poly (3-methyl-4-carboxypyrrole), poly (3-methyl-4-carboxyethylpyrrole), poly (3-methyl-4-carboxybutylpyrrole), poly (3-hydroxy) Pyrrole), poly (3-methoxypyrrole), poly (3-ethoxypyrrole), poly (3-butoxypyrrole), poly (3-hexyloxypyrrole), poly (3-methyl-4-hexyloxypyrrole). Be done.
ポリアニリン系導電性高分子としては、例えば、ポリアニリン、ポリ(2-メチルアニリン)、ポリ(3-イソブチルアニリン)、ポリ(2-アニリンスルホン酸)、ポリ(3-アニリンスルホン酸)が挙げられる。
以上で例示したπ共役系導電性高分子の中でも、導電性、耐熱性の点から、ポリ(3,4-エチレンジオキシチオフェン)が特に好ましい。
π共役系導電性高分子は1種を単独で使用してもよいし、2種以上を併用してもよい。
Examples of the polyaniline-based conductive polymer include polyaniline, poly (2-methylaniline), poly (3-isobutylaniline), poly (2-aniline sulfonic acid), and poly (3-aniline sulfonic acid).
Among the π-conjugated conductive polymers exemplified above, poly (3,4-ethylenedioxythiophene) is particularly preferable from the viewpoint of conductivity and heat resistance.
One type of π-conjugated conductive polymer may be used alone, or two or more types may be used in combination.
ポリアニオンとは、アニオン基を有するモノマー単位を、分子内に2つ以上有する重合体である。このポリアニオンのアニオン基は、π共役系導電性高分子に対するドーパントとして機能して、π共役系導電性高分子の導電性を向上させることができる。
ポリアニオンのアニオン基は、スルホ基またはカルボキシ基であることが好ましい。 ポリアニオンの具体例としては、ポリスチレンスルホン酸、ポリビニルスルホン酸、ポリアリルスルホン酸、ポリアクリルスルホン酸、ポリメタクリルスルホン酸、ポリ(2-アクリルアミド-2-メチルプロパンスルホン酸)、ポリイソプレンスルホン酸、ポリスルホエチルメタクリレート、ポリ(4-スルホブチルメタクリレート)、ポリメタクリルオキシベンゼンスルホン酸等のスルホン酸基を有する高分子や、ポリビニルカルボン酸、ポリスチレンカルボン酸、ポリアリルカルボン酸、ポリアクリルカルボン酸、ポリメタクリルカルボン酸、ポリ(2-アクリルアミド-2-メチルプロパンカルボン酸)、ポリイソプレンカルボン酸、ポリアクリル酸等のカルボン酸基を有する高分子が挙げられる。これらの単独重合体であってもよいし、2種以上の共重合体であってもよい。
これらのポリアニオンのなかでも、導電性をより高くできることから、スルホン酸基を有する高分子が好ましく、ポリスチレンスルホン酸がより好ましい。
ポリアニオンは1種を単独で使用してもよいし、2種以上を併用してもよい。
ポリアニオンの質量平均分子量は2万以上100万以下であることが好ましく、10万以上50万以下であることがより好ましい。
本明細書における質量平均分子量は、ゲルパーミエーションクロマトグラフィで測定し、標準物質をポリスチレンとして求めた値である。
The polyanion is a polymer having two or more monomer units having an anion group in the molecule. The anionic group of this polyanion functions as a dopant for the π-conjugated conductive polymer, and can improve the conductivity of the π-conjugated conductive polymer.
The anion group of the polyanion is preferably a sulfo group or a carboxy group. Specific examples of the polyanion include polystyrene sulfonic acid, polyvinyl sulfonic acid, polyallyl sulfonic acid, polyacrylic sulfonic acid, polymethacrylic sulfonic acid, poly (2-acrylamide-2-methylpropanesulfonic acid), polyisoprene sulfonic acid, and poly. Polymers with sulfonic acid groups such as sulfoethyl methacrylate, poly (4-sulfobutyl methacrylate), polymethacryloxybenzene sulfonic acid, polyvinylcarboxylic acid, polystyrene carboxylic acid, polyallylcarboxylic acid, polyacrylic carboxylic acid, polymethacryl. Examples thereof include polymers having a carboxylic acid group such as carboxylic acid, poly (2-acrylamide-2-methylpropanecarboxylic acid), polyisoprene carboxylic acid, and polyacrylic acid. These homopolymers may be used, or two or more kinds of copolymers may be used.
Among these polyanions, a polymer having a sulfonic acid group is preferable, and polystyrene sulfonic acid is more preferable, because the conductivity can be made higher.
One type of polyanion may be used alone, or two or more types may be used in combination.
The mass average molecular weight of the polyanion is preferably 20,000 or more and 1 million or less, and more preferably 100,000 or more and 500,000 or less.
The mass average molecular weight in the present specification is a value measured by gel permeation chromatography and determined as polystyrene as a standard substance.
導電性複合体中の、ポリアニオンの含有割合は、π共役系導電性高分子100質量部に対して、1質量部以上1000質量部以下の範囲であることが好ましく、10質量部以上700質量部以下の範囲であることがより好ましく、100質量部以上500質量部以下の範囲であることがさらに好ましい。ポリアニオンの含有割合が前記下限値以上であると、π共役系導電性高分子へのドーピング効果が強くなる傾向にあり、充分な導電性が得られ易く、さらに導電性高分子分散液における導電性複合体の分散性が高くなる。また、ポリアニオンの含有量が前記上限値以下であると、π共役系導電性高分子の相対的な含有量が多くなり、充分な導電性が得られ易い。 The content ratio of the polyanion in the conductive composite is preferably in the range of 1 part by mass or more and 1000 parts by mass or less with respect to 100 parts by mass of the π-conjugated conductive polymer, and is preferably 10 parts by mass or more and 700 parts by mass. The range is more preferably 100 parts by mass or more and 500 parts by mass or less. When the content ratio of the polyanion is at least the above lower limit value, the doping effect on the π-conjugated conductive polymer tends to be strong, sufficient conductivity can be easily obtained, and the conductivity in the conductive polymer dispersion is further increased. The dispersibility of the complex is increased. Further, when the content of the polyanion is not more than the upper limit value, the relative content of the π-conjugated conductive polymer increases, and sufficient conductivity can be easily obtained.
ポリアニオンがπ共役系導電性高分子に配位してドープすることによって導電性複合体が形成される。導電性複合体の導電性及び分散性の向上の観点から、全てのアニオン基がπ共役系導電性高分子にドープするよりも、ドープに寄与しない余剰のアニオン基を有することが好ましい。 A conductive composite is formed by coordinating and doping a π-conjugated conductive polymer with a polyanion. From the viewpoint of improving the conductivity and dispersibility of the conductive composite, it is preferable that all the anion groups have a surplus anion group that does not contribute to the doping, rather than doping the π-conjugated conductive polymer.
前記試料の総質量に対する導電性複合体の含有量としては、例えば、1質量%以上100質量%以下が挙げられる。 Examples of the content of the conductive complex with respect to the total mass of the sample include 1% by mass or more and 100% by mass or less.
前記試料には、含窒素化合物の1種以上が含有されていてもよい。含窒素化合物が試料に含まれることによって、試料の導電性能を向上できる場合がある。 The sample may contain one or more nitrogen-containing compounds. By including the nitrogen-containing compound in the sample, the conductivity performance of the sample may be improved.
前記含窒素化合物として、以下のアミン化合物及び窒素含有芳香族性環式化合物を例示できる。これらのアミン化合物及び窒素含有芳香族性環式化合物の少なくともどちらか一方が前記試料に含まれると、前記試料の等価直列抵抗を低減できることがある。
アミン化合物は、アミノ基を有する化合物であり、アミノ基が、ポリアニオンのアニオン基と反応する。
アミン化合物としては、1級アミン、2級アミン、3級アミン、4級アンモニウム塩のいずれであってもよい。また、アミン化合物は1種を単独で使用してもよいし、2種以上を併用してもよい。
アミン化合物は、炭素数2以上12以下の直鎖、もしくは分岐鎖のアルキル基、炭素数6以上12以下のアリール基、炭素数7以上12以下のアラルキル基、炭素数2以上12以下のアルキレン基、炭素数6以上12以下のアリーレン基、炭素数7以上12以下のアラルキレン基、及び炭素数2以上12以下のオキシアルキレン基から選択される置換基を有していてもよい。
具体的な1級アミンとしては、例えば、アニリン、トルイジン、ベンジルアミン、エタノールアミン等が挙げられる。
具体的な2級アミンとしては、例えば、ジエタノールアミン、ジメチルアミン、ジエチルアミン、ジプロピルアミン、ジフェニルアミン、ジベンジルアミン、ジナフチルアミン等が挙げられる。
具体的な3級アミンとしては、例えば、トリエタノールアミン、トリメチルアミン、トリエチルアミン、トリプロピルアミン、トリブチルアミン、トリオクチルアミン、トリフェニルアミン、トリベンジルアミン、トリナフチルアミン等が挙げられる。
具体的な4級アンモニウム塩としては、例えば、テトラメチルアンモニウム塩、テトラエチルアンモニウム塩、テトラプロピルアンモニウム塩、テトラフェニルアンモニウム塩、テトラベンジルアンモニウム塩、テトラナフチルアンモニウム塩等が挙げられる。アンモニウムの対となる陰イオンとしてはヒドロキシドイオンが挙げられる。
これらアミン化合物のうち、3級アミンが好ましく、トリエチルアミン、トリプロピルアミンがより好ましい。
窒素含有芳香族性環式化合物(少なくとも1つの窒素原子が環構造を形成する芳香族性化合物)としては、例えば、ピロール、イミダゾール、2-メチルイミダゾール、2-プロピルイミダゾール、N-メチルイミダゾール、N-プロピルイミダゾール、N-ブチルイミダゾール、1-(2-ヒドロキシエチル)イミダゾール、2-エチル-4-メチルイミダゾール、1,2-ジメチルイミダゾール、1-ベンジル-2-メチルイミダゾール、1-シアノエチル-2-メチルイミダゾール、1-シアノエチル-2-エチル-4-メチルイミダゾール、2-フェニル-4,5-ジヒドロキシメチルイミダゾール、1-アセチルイミダゾール、2-アミノベンズイミダゾール、2-アミノ-1-メチルベンズイミダゾール、2-ヒドロキシベンズイミダゾール、2-(2-ピリジル)ベンズイミダゾール、ピリジン等が挙げられる。
これら窒素含有芳香族性環式化合物のうち、イミダゾールがより好ましい。
Examples of the nitrogen-containing compound include the following amine compounds and nitrogen-containing aromatic cyclic compounds. When at least one of these amine compounds and nitrogen-containing aromatic cyclic compounds is contained in the sample, the equivalent series resistance of the sample may be reduced.
The amine compound is a compound having an amino group, and the amino group reacts with the anion group of the polyanion.
The amine compound may be any of a primary amine, a secondary amine, a tertiary amine and a quaternary ammonium salt. In addition, one type of amine compound may be used alone, or two or more types may be used in combination.
The amine compound is a linear or branched alkyl group having 2 to 12 carbon atoms, an aryl group having 6 to 12 carbon atoms, an aralkyl group having 7 to 12 carbon atoms, and an alkylene group having 2 to 12 carbon atoms. , It may have a substituent selected from an arylene group having 6 or more and 12 or less carbon atoms, an aralkylene group having 7 or more and 12 or less carbon atoms, and an oxyalkylene group having 2 or more and 12 or less carbon atoms.
Specific examples of the primary amine include aniline, toluidine, benzylamine, ethanolamine and the like.
Specific examples of the secondary amine include diethanolamine, dimethylamine, diethylamine, dipropylamine, diphenylamine, dibenzylamine, dinaphthylamine and the like.
Specific examples of the tertiary amine include triethanolamine, trimethylamine, triethylamine, tripropylamine, tributylamine, trioctylamine, triphenylamine, tribenzylamine, and trinaphthylamine.
Specific examples of the quaternary ammonium salt include tetramethylammonium salt, tetraethylammonium salt, tetrapropylammonium salt, tetraphenylammonium salt, tetrabenzylammonium salt, tetranaphthylammonium salt and the like. Examples of the anion paired with ammonium include hydroxydion.
Of these amine compounds, tertiary amines are preferable, and triethylamine and tripropylamine are more preferable.
Examples of the nitrogen-containing aromatic cyclic compound (aromatic compound in which at least one nitrogen atom forms a ring structure) include pyrrole, imidazole, 2-methylimidazole, 2-propylimidazole, N-methylimidazole, and N. -Propylimidazole, N-butylimidazole, 1- (2-hydroxyethyl) imidazole, 2-ethyl-4-methylimidazole, 1,2-dimethylimidazole, 1-benzyl-2-methylimidazole, 1-cyanoethyl-2- Methylimidazole, 1-cyanoethyl-2-ethyl-4-methylimidazole, 2-phenyl-4,5-dihydroxymethylimidazole, 1-acetylimidazole, 2-aminobenzimidazole, 2-amino-1-methylbenzimidazole, 2 -Hydroxybenzimidazole, 2- (2-pyridyl) benzimidazole, pyridine and the like can be mentioned.
Of these nitrogen-containing aromatic cyclic compounds, imidazole is more preferable.
前記試料には、電解液用溶媒中に電解質を溶解させた電解液が含まれてもよい。電解液の電気伝導度は高いほど好ましい。
電解液用溶媒としては、例えば、エチレングリコール、ジエチレングリコール、プロピレングリコール、1,4-ブタンジオール、グリセリン等のアルコール系溶媒、γ-ブチロラクトン、γ-バレロラクトン、δ-バレロラクトン等のラクトン系溶媒、N-メチルホルムアミド、N,N-ジメチルホルムアミド、N-メチルアセトアミド、N-メチルピロリジノン等のアミド系溶媒、アセトニトリル、3-メトキシプロピオニトリル等のニトリル系溶媒、水等が挙げられる。
電解質としては、例えば、アジピン酸、グルタル酸、コハク酸、安息香酸、イソフタル酸、フタル酸、テレフタル酸、マレイン酸、トルイル酸、エナント酸、マロン酸、蟻酸、1,6-デカンジカルボン酸、5,6-デカンジカルボン酸等のデカンジカルボン酸、1,7-オクタンジカルボン酸等のオクタンジカルボン酸、アゼライン酸、セバシン酸等の有機酸;あるいは、硼酸、硼酸と多価アルコールより得られる硼酸の多価アルコール錯化合物;リン酸、炭酸、ケイ酸等の無機酸などをアニオン成分とし、1級アミン(メチルアミン、エチルアミン、プロピルアミン、ブチルアミン、エチレンジアミン等)、2級アミン(ジメチルアミン、ジエチルアミン、ジプロピルアミン、メチルエチルアミン、ジフェニルアミン等)、3級アミン(トリメチルアミン、トリエチルアミン、トリプロピルアミン、トリフェニルアミン、1,8-ジアザビシクロ(5,4,0)-ウンデセン-7等)、テトラアルキルアンモニウム(テトラメチルアンモニウム、テトラエチルアンモニウム、テトラプロピルアンモニウム、テトラブチルアンモニウム、メチルトリエチルアンモニウム、ジメチルジエチルアンモニウム等)などをカチオン成分とした電解質;等が挙げられる。
The sample may contain an electrolytic solution in which an electrolyte is dissolved in a solvent for an electrolytic solution. The higher the electrical conductivity of the electrolytic solution, the more preferable.
Examples of the solvent for the electrolytic solution include alcohol solvents such as ethylene glycol, diethylene glycol, propylene glycol, 1,4-butanediol and glycerin, and lactone solvents such as γ-butyrolactone, γ-valerolactone and δ-valerolactone. Examples thereof include amide-based solvents such as N-methylformamide, N, N-dimethylformamide, N-methylacetamide and N-methylpyrrolidinone, nitrile-based solvents such as acetonitrile and 3-methoxypropionitrile, and water.
Examples of the electrolyte include adipic acid, glutaric acid, succinic acid, benzoic acid, isophthalic acid, phthalic acid, terephthalic acid, maleic acid, toluic acid, enanthic acid, malonic acid, formic acid, 1,6-decandycarboxylic acid, 5 , Decandycarboxylic acid such as 6-decandicarboxylic acid, octanedicarboxylic acid such as 1,7-octanedicarboxylic acid, organic acid such as azelaic acid and sebacic acid; or a large amount of boric acid obtained from boric acid, boric acid and polyhydric alcohol. Hyvalent alcohol complex compound; primary amines (methylamine, ethylamine, propylamine, butylamine, ethylenediamine, etc.) and secondary amines (dimethylamine, diethylamine, didiamine, etc.) with inorganic acids such as phosphoric acid, carbonic acid, and silicic acid as anionic components. Propylamine, methylethylamine, diphenylamine, etc.), tertiary amines (trimethylamine, triethylamine, tripropylamine, triphenylamine, 1,8-diazabicyclo (5,4,0) -undecene-7, etc.), tetraalkylammonium (tetra) An electrolyte containing methylammonium, tetraethylammonium, tetrapropylammonium, tetrabutylammonium, methyltriethylammonium, dimethyldiethylammonium, etc.) as a cation component; and the like.
前記試料として導電性高分子フィルムを用いる場合は、例えば、前記導電性高分子を含む導電性高分子分散液を乾燥させることによって、導電性高分子フィルムを形成することができる。 When a conductive polymer film is used as the sample, the conductive polymer film can be formed, for example, by drying the conductive polymer dispersion liquid containing the conductive polymer.
導電性高分子分散液を構成する分散媒は、前記導電性複合体を分散させ得る液体であることが好ましく、例えば、水、有機溶剤、又は、水と有機溶剤との混合液が挙げられる。 有機溶剤としては、例えば、アルコール系溶媒、エーテル系溶媒、ケトン系溶媒、エステル系溶媒、芳香族炭化水素系溶媒等が挙げられる。これら有機溶剤は1種を単独で使用してもよいし、2種以上を併用してもよい。
アルコール系溶媒としては、例えば、メタノール、エタノール、イソプロパノール、n-ブタノール、t-ブタノール、アリルアルコール等が挙げられる。
エーテル系溶媒としては、例えば、ジエチルエーテル、ジメチルエーテル、エチレングリコール、プロピレングリコール、プロピレングリコールモノメチルエーテル等のプロピレングリコールモノアルキルエーテル、プロピレングリコールジアルキルエーテル等が挙げられる。
ケトン系溶媒としては、例えば、ジエチルケトン、メチルプロピルケトン、メチルブチルケトン、メチルイソプロピルケトン、メチルイソブチルケトン、メチルアミルケトン、ジイソプロピルケトン、メチルエチルケトン、アセトン、ジアセトンアルコール等が挙げられる。
エステル系溶媒としては、例えば、酢酸エチル、酢酸プロピル、酢酸ブチル等が挙げられる。
芳香族炭化水素系溶媒としては、例えば、ベンゼン、トルエン、キシレン、エチルベンゼン、プロピルベンゼン、イソプロピルベンゼン等が挙げられる。
The dispersion medium constituting the conductive polymer dispersion is preferably a liquid capable of dispersing the conductive composite, and examples thereof include water, an organic solvent, or a mixed solution of water and an organic solvent. Examples of the organic solvent include alcohol solvents, ether solvents, ketone solvents, ester solvents, aromatic hydrocarbon solvents and the like. One of these organic solvents may be used alone, or two or more of them may be used in combination.
Examples of the alcohol solvent include methanol, ethanol, isopropanol, n-butanol, t-butanol, allyl alcohol and the like.
Examples of the ether solvent include propylene glycol monoalkyl ethers such as diethyl ether, dimethyl ether, ethylene glycol, propylene glycol, and propylene glycol monomethyl ether, and propylene glycol dialkyl ethers.
Examples of the ketone solvent include diethyl ketone, methyl propyl ketone, methyl butyl ketone, methyl isopropyl ketone, methyl isobutyl ketone, methyl amyl ketone, diisopropyl ketone, methyl ethyl ketone, acetone, diacetone alcohol and the like.
Examples of the ester solvent include ethyl acetate, propyl acetate, butyl acetate and the like.
Examples of the aromatic hydrocarbon solvent include benzene, toluene, xylene, ethylbenzene, propylbenzene, isopropylbenzene and the like.
導電性高分子分散液には添加剤が含まれていてもよい。添加剤としては、例えば、界面活性剤、無機導電剤、消泡剤、カップリング剤、酸化防止剤、紫外線吸収剤などが挙げられる。
界面活性剤としては、ノニオン系、アニオン系、カチオン系の界面活性剤が挙げられるが、保存安定性の面からノニオン系が好ましい。また、ポリビニルアルコール、ポリビニルピロリドンなどのポリマー系界面活性剤を添加してもよい。
無機導電剤としては、金属イオン類、導電性カーボン等が挙げられる。金属イオンは、金属塩を水に溶解させることにより生成させることができる。
消泡剤としては、シリコーン樹脂、ポリジメチルシロキサン、シリコーンオイル等が挙げられる。
カップリング剤としては、ビニル基、アミノ基、エポキシ基等を有するシランカップリング剤等が挙げられる。
酸化防止剤としては、フェノール系酸化防止剤、アミン系酸化防止剤、リン系酸化防止剤、硫黄系酸化防止剤、糖類等が挙げられる。
紫外線吸収剤としては、ベンゾトリアゾール系紫外線吸収剤、ベンゾフェノン系紫外線吸収剤、サリシレート系紫外線吸収剤、シアノアクリレート系紫外線吸収剤、オキサニリド系紫外線吸収剤、ヒンダードアミン系紫外線吸収剤、ベンゾエート系紫外線吸収剤等が挙げられる。
The conductive polymer dispersion may contain an additive. Examples of the additive include a surfactant, an inorganic conductive agent, a defoaming agent, a coupling agent, an antioxidant, an ultraviolet absorber and the like.
Examples of the surfactant include nonionic, anionic and cationic surfactants, and nonionic surfactants are preferable from the viewpoint of storage stability. Further, a polymer-based surfactant such as polyvinyl alcohol or polyvinylpyrrolidone may be added.
Examples of the inorganic conductive agent include metal ions and conductive carbon. Metal ions can be generated by dissolving a metal salt in water.
Examples of the defoaming agent include silicone resin, polydimethylsiloxane, silicone oil and the like.
Examples of the coupling agent include a silane coupling agent having a vinyl group, an amino group, an epoxy group and the like.
Examples of the antioxidant include phenol-based antioxidants, amine-based antioxidants, phosphorus-based antioxidants, sulfur-based antioxidants, saccharides and the like.
Examples of the ultraviolet absorber include benzotriazole-based ultraviolet absorbers, benzophenone-based ultraviolet absorbers, salicylate-based ultraviolet absorbers, cyanoacrylate-based ultraviolet absorbers, oxanilide-based ultraviolet absorbers, hindered amine-based ultraviolet absorbers, benzoate-based ultraviolet absorbers, etc. Can be mentioned.
導電性高分子分散液の総質量に対する前記導電性高分子及び前記導電性複合体の含有量は特に限定されない。具体的には、例えば、0.1質量%以上10質量%以下が好ましく、0.5質量%以上5質量%以下がより好ましく、1質量%以上2質量%以下がさらに好ましい。 The contents of the conductive polymer and the conductive complex with respect to the total mass of the conductive polymer dispersion are not particularly limited. Specifically, for example, 0.1% by mass or more and 10% by mass or less is preferable, 0.5% by mass or more and 5% by mass or less is more preferable, and 1% by mass or more and 2% by mass or less is further preferable.
導電性高分子分散液が前記含窒素化合物を含有する場合、その含有割合は、含窒素化合物の種類に応じて適宜決められるが、例えば、前記導電性複合体の固形分100質量部に対して、例えば、1質量部以上100質量部以下が好ましく、10質量部以上50質量部以下がより好ましい。 When the conductive polymer dispersion contains the nitrogen-containing compound, the content ratio thereof is appropriately determined depending on the type of the nitrogen-containing compound, and is, for example, with respect to 100 parts by mass of the solid content of the conductive composite. For example, 1 part by mass or more and 100 parts by mass or less are preferable, and 10 parts by mass or more and 50 parts by mass or less are more preferable.
導電性高分子分散液が前記添加剤を含有する場合、その含有割合は、添加剤の種類に応じて適宜決められるが、例えば、前記導電性複合体の固形分100質量部に対して、例えば、1質量部以上1000質量部以下の範囲内とすることができる。 When the conductive polymer dispersion liquid contains the additive, the content ratio thereof is appropriately determined depending on the type of the additive, and for example, with respect to 100 parts by mass of the solid content of the conductive composite, for example. It can be within the range of 1 part by mass or more and 1000 parts by mass or less.
前記導電性複合体を含む導電性高分子分散液の調製方法としては、ポリアニオン及び分散媒の存在下、π共役系導電性高分子を形成する前駆体モノマーを酸化重合する方法が挙げられる。
得られた導電性高分子分散液に、必要に応じて前記含窒素化合物及び添加剤等を添加することができる。
導電性高分子分散液に含まれる各材料の分散性を向上させる目的で、フィルムを形成する乾燥処理の前に導電性高分子分散液にせん断力を加えながら分散させる公知の高分散処理を施すことが好ましい。
Examples of the method for preparing the conductive polymer dispersion liquid containing the conductive composite include a method of oxidatively polymerizing a precursor monomer forming a π-conjugated conductive polymer in the presence of a polyanion and a dispersion medium.
The nitrogen-containing compound, additives and the like can be added to the obtained conductive polymer dispersion, if necessary.
For the purpose of improving the dispersibility of each material contained in the conductive polymer dispersion, a known high dispersion treatment is performed in which the conductive polymer dispersion is dispersed while applying a shearing force before the drying treatment for forming the film. Is preferable.
<評価方法1>
評価方法1は、前述の評価装置を用いた評価方法であって、前記評価装置の電極体において、前記第1の誘電体膜と、前記第2の誘電体膜との間に試料を挿入し、前記試料に印加した直流または交流に応答する、電流または電圧を測定するステップを有する。
一例として、導電性高分子を含むフィルムを試料として用い、第1の電極及び第2の電極を任意の端子を介してデジタルLCRメータに接続し、100Hzの周波数におけるインピーダンスZ(Ω)と位相角θ(°)を測定するステップが挙げられる。後述の実施例で示すように、複数の試料について100Hzの位相角θを測定し、各試料の測定値を比較して、100Hzの位相角θが-90°に近い測定値を示す試料は、キャパシタの導電性材料として適した材料である、と評価することができる。必要に応じて、静電容量CはC=|1/(2πfZsinθ)|から評価することもできる(fは周波数)。
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The
As an example, using a film containing a conductive polymer as a sample, the first electrode and the second electrode are connected to a digital LCR meter via an arbitrary terminal, and the impedance Z (Ω) and the phase angle at a frequency of 100 Hz are connected. Examples include the step of measuring θ (°). As shown in Examples described later, a sample having a phase angle θ of 100 Hz is measured for a plurality of samples, the measured values of each sample are compared, and the sample having a phase angle θ of 100 Hz close to −90 ° is a sample. It can be evaluated as a material suitable as a conductive material for a capacitor. If necessary, the capacitance C can be evaluated from C = | 1 / (2πfZsinθ) | (f is a frequency).
<評価方法2>
評価方法2は、試料に印加する直流または交流の測定周波数を少なくとも2点以上選ぶステップA1と、前記電極体を介して接続した測定機器によって、選択した少なくとも2点以上の周波数を印加し、応答電流または応答電圧を測定するステップB1と、各周波数の測定値を比較して、それらの測定値の差異(違い)がもっとも顕著となる周波数を判定するステップC1と、を有する。
ステップA1において、測定周波数は、一般にキャパシタの周波数特性測定に用いられる周波数範囲の中から任意の周波数を選択することができる。少なくともひとつの周波数は低周波側として10Hz~1kHzの範囲、好ましくは100Hz~500Hzの範囲から選択し、少なくとももうひとつの周波数は高周波側として1kHz~1MHzの範囲、好ましくは1kHz~100kHzの範囲から選択して測定することが好ましい。 ステップB1において、応答電流または応答電圧は、例えば、LCRメータを用いた公知の方法で測定することができる。
ステップC1において、各周波数の測定値の差異が最も顕著であると判定する基準は、低周波での位相角と高周波での位相角の比率で判断することができる。
ステップA1~C1のうち少なくとも1つのステップは自動化することができる。自動化の方法としては、例えばステップC1において定めた判断基準を自動で計算するプログラム乃至はソフトウェアを用いる方法が挙げられる。
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In the
In step A1, as the measurement frequency, any frequency can be selected from the frequency range generally used for measuring the frequency characteristics of the capacitor. At least one frequency is selected from the range of 10 Hz to 1 kHz, preferably 100 Hz to 500 Hz for the low frequency side, and at least the other frequency is selected from the range of 1 kHz to 1 MHz, preferably 1 kHz to 100 kHz as the high frequency side. It is preferable to measure the frequency. In step B1, the response current or response voltage can be measured by a known method using, for example, an LCR meter.
In step C1, the criterion for determining that the difference between the measured values of each frequency is the most remarkable can be determined by the ratio of the phase angle at the low frequency and the phase angle at the high frequency.
At least one of steps A1 to C1 can be automated. Examples of the automation method include a method using a program or software that automatically calculates the determination criteria determined in step C1.
評価方法2の一例として、導電性高分子を含むフィルムを試料として用い、第1の電極及び第2の電極を任意の端子を介してデジタルLCRメータに接続し、少なくともひとつの周波数は低周波側として10Hz~1kHzの範囲、少なくとももうひとつの周波数は高周波側として1kHz~1MHzの範囲から選択した少なくとも2点以上の周波数におけるインピーダンスZ(Ω)と位相角θ(°)を測定するステップが挙げられる。後述の実施例で示すように、複数の試料について低周波側、高周波側でのインピーダンスZと位相角θを測定し、各試料の測定値を比較して、高周波での位相角に対して低周波での位相角が小さい値(前記比率が小さい値)を示す試料について、キャパシタの導電性材料として不適な材料である、と評価することができる。ここで、(低周波での位相角)/(高周波での位相角)の比率が0.9未満であるとき、前記差異が顕著であると判断しても良い。
評価方法2の一例において、低周波側における位相角か小さい(0°に近い)ということは、直流に対する絶縁性が乏しいことを示す。即ち測定試料をキャパシタの導電性材料として用いたとき、そのキャパシタの特性が発揮できていないことを意味する。
As an example of the
In one example of the
<評価方法3>
評価方法3は、試料に印加する直流または交流の測定周波数を少なくとも4点以上選ぶステップA2と、前記電極体を介して接続した測定機器によって、選択した少なくとも4点以上の周波数を印加し、応答電流または応答電圧測定するステップB2と、を有する。 ステップA2において、測定周波数は、一般にキャパシタの周波数特性測定に用いられる周波数範囲の中から任意の周波数を選択することができる。少なくともひとつの周波数は低周波側として10Hz~1kHzの範囲、好ましくは100Hz~500Hzの範囲から選択し、少なくとももうひとつの周波数は高周波側として1kHz~1MHzの範囲、好ましくは1kHz~100kHzの範囲から選択して測定することが好ましい。
ステップB2において、応答電流または応答電圧は、例えば、LCRメータを用いた公知の方法で測定できる。
評価方法3は評価方法2のステップC1を有していてもよい。評価方法3は評価方法2と同様に各ステップを自動化してもよい。
<
The
In step B2, the response current or response voltage can be measured by a known method using, for example, an LCR meter.
The
<評価方法4>
評価方法4は、試料に印加する信号を少なくとも2つ以上の周波数を選ぶステップA3と、前記電極体を介して接続した測定機器によって、選択した少なくとも2周波以上の信号を同時に重ね合わせて試料に印加し、応答電流または応答電圧を高速フーリエ変換によって変換された周波数領域のスペクトルとして測定するステップB3と、を有する。
ステップA3において、印加する信号に含まれる周波数は、一般にキャパシタの周波数特性測定に用いられる周波数範囲の中から任意の周波数を選択することができる。少なくともひとつの周波数は低周波側として10Hz~1kHzの範囲、好ましくは100Hz~500Hzの範囲から選択し、少なくとももうひとつの周波数は高周波側として1kHz~1MHzの範囲、好ましくは1kHz~100kHzの範囲から選択して測定することが好ましい。また、印加信号は周期信号である必要はなく、インパルス波、ステップ波、ランプ波、ホワイトノイズなどの任意の波形を選択することができる。時間領域での時間分解能が、100マイクロ秒以下、好ましくは1マイクロ秒以下、AD変換のダイナミックレンジが12ビット以上、好ましくは16ビット以上であることが望ましく、フーリエ変換後のS/N比が24dB以上、好ましくは96dB以上であることが望ましい。 ステップB3において、高速フーリエ変換によって周波数領域のスペクトルに変換された応答電流または応答電圧は、例えば、スペクトルアナライザを用いた公知の方法で測定できる。
評価方法4は評価方法2のステップC1を有していてもよい。評価方法4は評価方法2と同様に各ステップを自動化してもよい。
<Evaluation method 4>
The evaluation method 4 simultaneously superimposes the selected signals of at least two frequencies or more on the sample by the step A3 of selecting at least two or more frequencies for the signals applied to the sample and the measuring device connected via the electrode body. With step B3, which is applied and the response current or response voltage is measured as a spectrum in the frequency domain converted by the Fast Fourier Transform.
In step A3, as the frequency included in the applied signal, any frequency can be selected from the frequency range generally used for measuring the frequency characteristics of the capacitor. At least one frequency is selected from the range of 10 Hz to 1 kHz, preferably 100 Hz to 500 Hz for the low frequency side, and at least the other frequency is selected from the range of 1 kHz to 1 MHz, preferably 1 kHz to 100 kHz as the high frequency side. It is preferable to measure the frequency. Further, the applied signal does not have to be a periodic signal, and any waveform such as an impulse wave, a step wave, a lamp wave, and white noise can be selected. It is desirable that the time resolution in the time region is 100 microseconds or less, preferably 1 microsecond or less, the dynamic range of AD conversion is 12 bits or more, preferably 16 bits or more, and the S / N ratio after Fourier conversion is It is preferably 24 dB or more, preferably 96 dB or more. In step B3, the response current or response voltage converted into the spectrum in the frequency domain by the fast Fourier transform can be measured by a known method using, for example, a spectrum analyzer.
The evaluation method 4 may have step C1 of the
<評価方法5>
評価方法5は、試料に印加する信号を少なくとも2つ以上の周波数を選ぶステップA4と、前記電極体を介して接続した測定機器によって、選択した少なくとも2周波以上の信号を同時に重ね合わせて試料に印加し、応答電流または応答電圧を高速フーリエ変換によって変換された周波数領域のスペクトルとして測定するステップB4と、得られた測定データをビッグデータとしてデータベース化するステップZ1と、得られたデータベースに関して機械学習アルゴリズムを使うステップZ2と、を有する。
<Evaluation method 5>
In the evaluation method 5, the signal applied to the sample is simultaneously superposed on the sample by the step A4 in which at least two or more frequencies are selected and the selected signal having at least two frequencies by the measuring device connected via the electrode body. Machine learning about the obtained database, step B4 for applying and measuring the response current or response voltage as a spectrum in the frequency region converted by high-speed Fourier transform, step Z1 for creating a database of the obtained measurement data as big data, and step Z1 for creating a database of the obtained measurement data as big data. It has step Z2, which uses an algorithm.
ステップA4において、印加する信号に含まれる周波数は、一般にキャパシタの周波数特性測定に用いられる周波数範囲の中から任意の周波数を選択することができる。少なくともひとつの周波数は低周波側として10Hz~1kHzの範囲、好ましくは100Hz~500Hzの範囲から選択し、少なくとももうひとつの周波数は高周波側として1kHz~1MHzの範囲、好ましくは1kHz~100kHzの範囲から選択して測定することが好ましい。また、印加信号は周期信号である必要はなく、インパルス波、ステップ波、ランプ波、ホワイトノイズなどの任意の波形を選択することができる。時間領域での時間分解能が、100マイクロ秒以下、好ましくは1マイクロ秒以下、AD変換のダイナミックレンジが12ビット以上、好ましくは16ビット以上であることが望ましく、フーリエ変換後のS/N比が24dB以上、好ましくは96dB以上であることが望ましい。 In step A4, as the frequency included in the applied signal, any frequency can be selected from the frequency range generally used for measuring the frequency characteristics of the capacitor. At least one frequency is selected from the range of 10 Hz to 1 kHz, preferably 100 Hz to 500 Hz for the low frequency side, and at least the other frequency is selected from the range of 1 kHz to 1 MHz, preferably 1 kHz to 100 kHz as the high frequency side. It is preferable to measure the frequency. Further, the applied signal does not have to be a periodic signal, and any waveform such as an impulse wave, a step wave, a lamp wave, and white noise can be selected. It is desirable that the time resolution in the time region is 100 microseconds or less, preferably 1 microsecond or less, the dynamic range of AD conversion is 12 bits or more, preferably 16 bits or more, and the S / N ratio after Fourier conversion is It is preferably 24 dB or more, preferably 96 dB or more.
ステップB4において、高速フーリエ変換によって周波数領域のスペクトルに変換された応答電流または応答電圧は、スペクトルアナライザを用いた公知の方法で測定できる。 In step B4, the response current or response voltage converted into the spectrum in the frequency domain by the fast Fourier transform can be measured by a known method using a spectrum analyzer.
ステップZ1において、測定データをビッグデータとしてデータベース化する方法としては、例えば、時系列でサンプリングした応答波形データを1レコードとして、リレーショナルデータベースのテーブルに実装する方法が挙げられる。リレーショナルデータベースはサーバー上に配置し、応答波形データを複数の公知の装置を用いてアップロードし、ビックデータ化することが望ましい。 In step Z1, as a method of creating a database of measurement data as big data, for example, a method of implementing response waveform data sampled in time series as one record in a table of a relational database can be mentioned. It is desirable to place the relational database on the server, upload the response waveform data using a plurality of known devices, and convert it into big data.
ステップZ2において、機械学習アルゴリズムを使う方法としては、例えば、バックプロバケーション法を使ったアルゴリズムが挙げられる。具体的にはリレーショナルデータベースに蓄積されたビッグデータをニューラルネットワークの入力層とし、出力層として評価対象となる測定試料の評価項目を設定することができる。ここで具体例として、測定試料が導電性高分子を含む材料である場合を説明する。例えば、まず、導電性高分子を含む材料(例えば導電性高分子分散液)の優劣の指標として、固体電解キャパシタの漏れ電流、耐電圧、等価直列抵抗などの評価項目を設定し、評価対象となる導電性高分子を含む材料を固体電解質層に含むキャパシタ素子(固体電解キャパシタ)を実際に組み上げて評価した結果と、本発明の第一~第三態様を用いて前記材料のみ(例えば導電性高分子分散液を乾燥してなる導電性高分子フィルム)を測定した評価結果とを使って、その相関関係等を機械学習させる。次に、得られた機械学習に基づいて、別の評価対象の導電性高分子を含む測定試料(材料)について本発明の第一~第三態様を用いて測定した測定データから、その材料を固体電解質層に含むキャパシタ素子(固体電解キャパシタ)を実際に組み上げた場合の、漏れ電流、耐電圧、等価直列抵抗などの学習済みの評価項目の結果を予測する。このアルゴリズムは、例えば機械学習オープンソースであるテンソルフローを用いた公知の方法で実装できる。 As a method of using the machine learning algorithm in step Z2, for example, an algorithm using the back pro vacation method can be mentioned. Specifically, the big data stored in the relational database can be used as the input layer of the neural network, and the evaluation items of the measurement sample to be evaluated can be set as the output layer. Here, as a specific example, a case where the measurement sample is a material containing a conductive polymer will be described. For example, first, as an index of superiority or inferiority of a material containing a conductive polymer (for example, a conductive polymer dispersion liquid), evaluation items such as leakage current, withstand voltage, and equivalent series resistance of a solid electrolytic capacitor are set and evaluated. As a result of actually assembling and evaluating a capacitor element (solid electrolytic capacitor) containing a material containing a conductive polymer in a solid electrolyte layer, and using the first to third aspects of the present invention, only the material (for example, conductivity) is used. Using the evaluation results obtained by measuring (a conductive polymer film obtained by drying a polymer dispersion), the correlation and the like are machine-learned. Next, based on the obtained machine learning, the material is obtained from the measurement data measured using the first to third aspects of the present invention for the measurement sample (material) containing another conductive polymer to be evaluated. Predict the results of learned evaluation items such as leakage current, withstand voltage, and equivalent series resistance when the capacitor element (solid electrolytic capacitor) included in the solid electrolyte layer is actually assembled. This algorithm can be implemented by a known method using, for example, a machine learning open source tensor flow.
評価方法5は評価方法2のステップC1を有していてもよい。評価方法5は評価方法2と同様に各ステップを自動化してもよい。
The evaluation method 5 may have step C1 of the
<作用効果>
本発明の電極体を構成する1対の誘電体膜の間に測定試料を設置し、電圧又は電流を印加することによって、測定試料の応答電流または応答電圧を直接的に測定することができる。電極体はバブルメタルからなる1対の金属層を有しているので、測定値を評価することにより、測定試料が例えばキャパシタの導電性材料として適しているか否かの判定を行うことができる。
<Action effect>
By placing the measurement sample between the pair of dielectric films constituting the electrode body of the present invention and applying a voltage or current, the response current or response voltage of the measurement sample can be directly measured. Since the electrode body has a pair of metal layers made of bubble metal, it is possible to determine whether or not the measurement sample is suitable as, for example, a conductive material for a capacitor by evaluating the measured value.
(製造例1)
1000mlのイオン交換水に206gのスチレンスルホン酸ナトリウムを溶解し、80℃で攪拌しながら、予め10mlの水に溶解した1.14gの過硫酸アンモニウム酸化剤溶液を20分間滴下し、この溶液を12時間攪拌した。
得られたスチレンスルホン酸ナトリウム含有溶液に10質量%に希釈した硫酸を1000ml添加し、限外ろ過法によりポリスチレンスルホン酸含有溶液の約1000mlの溶媒を除去した。残液に2000mlのイオン交換水を加え、限外ろ過法により約2000mlの溶媒を除去し、ポリスチレンスルホン酸を水洗した。この水洗操作を3回繰り返した。
得られた溶液中の水を減圧除去して、無色の固形状のポリスチレンスルホン酸を得た。
(Manufacturing Example 1)
206 g of sodium styrene sulfonate was dissolved in 1000 ml of ion-exchanged water, and 1.14 g of ammonium persulfate oxidizing agent solution previously dissolved in 10 ml of water was added dropwise at 80 ° C. for 20 minutes, and this solution was added dropwise for 12 hours. Stirred.
1000 ml of sulfuric acid diluted to 10% by mass was added to the obtained sodium styrene sulfonate-containing solution, and about 1000 ml of the solvent of the polystyrene sulfonic acid-containing solution was removed by an ultrafiltration method. 2000 ml of ion-exchanged water was added to the residual liquid, about 2000 ml of the solvent was removed by an ultrafiltration method, and polystyrene sulfonic acid was washed with water. This washing operation was repeated 3 times.
Water in the obtained solution was removed under reduced pressure to obtain colorless solid polystyrene sulfonic acid.
(製造例2)
3,4-エチレンジオキシチオフェン14.2gと、製造例1で得たポリスチレンスルホン酸36.7gとを2000mlのイオン交換水に溶かした溶液とを20℃で混合させた。得られた混合溶液を20℃に保ち、掻き混ぜながら、200mlのイオン交換水に溶かした29.64gの過硫酸アンモニウムと8.0gの硫酸第二鉄の酸化触媒溶液とをゆっくり添加し、3時間攪拌して反応させた。
得られた反応液に2000mlのイオン交換水を加え、限外ろ過法により約2000ml溶液を除去した。この操作を3回繰り返した。
得られた溶液に200mlの10質量%に希釈した硫酸と2000mlのイオン交換水とを加え、限外ろ過法により約2000mlの溶媒を除去した。残液に2000mlのイオン交換水を加え、限外ろ過法により約2000mlの溶媒を除去し、ポリスチレンスルホン酸ドープポリ(3,4-エチレンジオキシチオフェン)(PEDOT-PSS)を水洗した。この水洗操作を8回繰り返したのち、高圧分散機を用い、140MPaの圧力で分散処理を施して、1.6質量%のポリスチレンスルホン酸ドープポリ(3,4-エチレンジオキシチオフェン)水分散液(PEDOT-PSS水分散液)を得た。
(Manufacturing Example 2)
A solution of 14.2 g of 3,4-ethylenedioxythiophene and 36.7 g of polystyrene sulfonic acid obtained in Production Example 1 in 2000 ml of ion-exchanged water was mixed at 20 ° C. Keep the obtained mixed solution at 20 ° C., and slowly add 29.64 g of ammonium persulfate dissolved in 200 ml of ion-exchanged water and 8.0 g of ferric sulfate oxidation catalyst solution while stirring for 3 hours. The mixture was stirred and reacted.
2000 ml of ion-exchanged water was added to the obtained reaction solution, and about 2000 ml of the solution was removed by an ultrafiltration method. This operation was repeated 3 times.
200 ml of sulfuric acid diluted to 10% by mass and 2000 ml of ion-exchanged water were added to the obtained solution, and about 2000 ml of the solvent was removed by an ultrafiltration method. 2000 ml of ion-exchanged water was added to the residual liquid, about 2000 ml of the solvent was removed by an ultrafiltration method, and polystyrene sulfonic acid-doped poly (3,4-ethylenedioxythiophene) (PEDOT-PSS) was washed with water. After repeating this washing operation 8 times, a dispersion treatment was performed at a pressure of 140 MPa using a high-pressure disperser to obtain a 1.6 mass% polystyrene sulfonate-doped poly (3,4-ethylenedioxythiophene) aqueous dispersion (3,4-ethylenedioxythiophene). PEDOT-PSS aqueous dispersion) was obtained.
[参考例1]
(キャパシタの作製)
エッチドアルミニウム箔(陽極箔)に陽極リード端子を接続した後、アジピン酸アンモニウム10質量%水溶液中で70Vの電圧を印加し、化成(酸化処理)して、アルミニウム箔の両面に誘電体層を形成して陽極箔を得た。続いて、陽極箔の両面に、陰極リード端子を溶接させた対向アルミニウム陰極箔を、セルロース製のセパレータを介して積層し、これを円筒状に巻き取ってキャパシタ用素子を得た。
製造例2で得たPEDOT-PSS水分散液100質量部に、5質量部のジエチレングリコール、5質量部のポリエチレングリコール600、2質量部のエリスリトール、0.3質量部のイミタゾールを加えて、室温で撹拌した後、高圧分散機を用い、150MPaの圧力で分散処理を施し、導電性高分子分散液を得た。続いて、この分散液中にキャパシタ用素子を減圧下で浸漬した後、125℃の熱風乾燥機により20分間乾燥して、誘電体層表面上に導電性複合体を含む固体電解質層を形成した。
次いで、アルミニウム製のケースに、固体電解質層を形成したキャパシタ用素子を装填し、封口ゴムで封止してキャパシタを作製した。
(キャパシタの評価)
参考例1で作製したキャパシタについて、LCRメータ(エヌエフ回路設計ブロック社製、型番ZM2355)を用いて、120Hzでの静電容量(C)、及び100kHzでの等価直列抵抗(ESR)を測定した。その結果、C=143.8[μF]、ESR=8.5[mΩ]であった。
[Reference Example 1]
(Manufacturing of capacitors)
After connecting the anode lead terminal to the etched aluminum foil (anode foil), a voltage of 70 V is applied in a 10% by mass aqueous solution of ammonium adipate and chemical conversion (oxidation treatment) is performed to form dielectric layers on both sides of the aluminum foil. It was formed to obtain an anode foil. Subsequently, an opposed aluminum cathode foil having a cathode lead terminal welded to both sides of the anode foil was laminated via a cellulose separator, and this was wound into a cylindrical shape to obtain a capacitor element.
To 100 parts by mass of the PEDOT-PSS aqueous dispersion obtained in Production Example 2, 5 parts by mass of diethylene glycol, 5 parts by mass of
Next, a capacitor element having a solid electrolyte layer formed therein was loaded into an aluminum case and sealed with a sealing rubber to prepare a capacitor.
(Evaluation of capacitor)
For the capacitor manufactured in Reference Example 1, the capacitance (C) at 120 Hz and the equivalent series resistance (ESR) at 100 kHz were measured using an LCR meter (manufactured by NF Circuit Design Block Co., Ltd., model number ZM2355). As a result, C = 143.8 [μF] and ESR = 8.5 [mΩ].
[参考例2]
参考例1において、固体電解質層を形成する際に、製造例2で調製したPEDOT-PSS水分散液(ジエチレングリコール、ポリエチレングリコール600、エリスリトール、イミタゾールを加えていない分散液)にキャパシタ素子を浸漬したこと以外は、参考例1と同様にキャパシタを作製して評価したところ、C=105.3[μF]、ESR=36.2[mΩ]であった。
以上から、参考例1のキャパシタの固体電解質層を形成する、導電性高分子を含む導電性材料(導電性高分子分散液)の方が、参考例2の導電性材料(PEDOT-PSS水分散液のみ)よりも、優れたキャパシタが得られるより良い材料であることが分かった。
[Reference Example 2]
In Reference Example 1, when the solid electrolyte layer was formed, the capacitor element was immersed in the PEDOT-PSS aqueous dispersion (dispersion liquid to which diethylene glycol, polyethylene glycol 600, erythritol, and imidazole were not added) prepared in Production Example 2. Except for the above, when a capacitor was prepared and evaluated in the same manner as in Reference Example 1, it was found that C = 105.3 [μF] and ESR = 36.2 [mΩ].
From the above, the conductive material (conductive polymer dispersion liquid) containing the conductive polymer that forms the solid electrolyte layer of the capacitor of Reference Example 1 is the conductive material (PEDOT-PSS water dispersion) of Reference Example 2. It turned out to be a better material to obtain better capacitors than liquid only).
[実施例1-1]
(測定試料の作製)
参考例1で調製した、固体電解質層を形成するための導電性高分子分散液を、ディスポカップに4ml滴下し、室温で150時間、自然乾燥させることによって、導電性高分子フィルムを得た。導電性高分子フィルムの膜厚は1.24mmであり、フィルム形状は直径約2cmの略円形であった。
(評価装置の組み立て)
得られた導電性高分子フィルムを、1対のタンタル板の間に挟み、さらに洗濯バサミ画鋲セルで上記1対のタンタル板(厚さ0.10mm、直径1.1cmの円形)を挟持して固定し、図2に示す評価装置20を組み立てた。上記のタンタル板の表面には空気中で自然に酸化皮膜が形成されている。
上記の洗濯バサミ画鋲セルは、洗濯バサミの1対の挟持部12の各々に金属製の画鋲を突き刺した器具である。各画鋲は電極1,2の端子1c、2cとして機能する。1対の画鋲の円盤部の間に、試料Tを挿んだ電極体10を挟持して、各画鋲の突き刺し部に、電源及び測定機能を備えたLCRメータを接続すれば、試料Tに対して任意の電圧又は電流を印加し、その応答を測定することができる。
上記の組み立てによって、電極端子(画鋲)/誘電体膜(酸化皮膜)/第1の金属層(タンタル板)/誘電体膜(酸化皮膜)/試料(導電性高分子フィルム)/誘電体膜(酸化皮膜)/第2の金属層(タンタル板)/誘電体膜(酸化皮膜)/電極端子(画鋲)、の順で積層配置した評価装置を得た。
(試料の評価)
上記の評価装置の端子1c、2cにLCRメータ((株)エヌエフ回路設計ブロック社製、型番ZM2355)を接続して、100Hz及び1kHzでのインピーダンスZとその位相角θを測定した。その結果を表1に示す。
[Example 1-1]
(Preparation of measurement sample)
A conductive polymer film was obtained by dropping 4 ml of the conductive polymer dispersion for forming the solid electrolyte layer prepared in Reference Example 1 into a disposable cup and allowing it to air dry at room temperature for 150 hours. The film thickness of the conductive polymer film was 1.24 mm, and the film shape was substantially circular with a diameter of about 2 cm.
(Assembly of evaluation device)
The obtained conductive polymer film is sandwiched between a pair of tantalum plates, and the pair of tantalum plates (thickness 0.10 mm, diameter 1.1 cm circle) are sandwiched and fixed with a clothespin thumbtack cell. , The evaluation device 20 shown in FIG. 2 was assembled. An oxide film is naturally formed on the surface of the above tantalum plate in the air.
The clothespin thumbtack cell is a device in which a metal thumbtack is pierced into each of a pair of holding
By the above assembly, the electrode terminal (painting tack) / dielectric film (oxide film) / first metal layer (tantalum plate) / dielectric film (oxide film) / sample (conductive polymer film) / dielectric film ( An evaluation device was obtained in which an oxide film) / a second metal layer (tantalum plate) / a dielectric film (oxide film) / an electrode terminal (painting tack) were laminated in this order.
(Sample evaluation)
An LCR meter (manufactured by NF Circuit Design Block Co., Ltd., model number ZM2355) was connected to the
[実施例1-2]
実施例1-1において、測定試料を作製する際に、製造例2で調製したPEDOT-PSS水分散液のみをディスポカップに滴下したこと以外は、実施例1-1と同様に、測定試料を作製し、評価装置を組み立て、インピーダンスZとその位相角θを測定した。その結果を表1に示す。
[Example 1-2]
In Example 1-1, the measurement sample was prepared in the same manner as in Example 1-1, except that only the PEDOT-PSS aqueous dispersion prepared in Production Example 2 was dropped into the disposable cup when the measurement sample was prepared. It was manufactured, an evaluation device was assembled, and the impedance Z and its phase angle θ were measured. The results are shown in Table 1.
[実施例2-1]
実施例1-1において、第1の金属層及び第2の金属層としてアルミニウム板(厚さ12μm、直径1.1cmの円形)を使用したしたこと以外は、実施例1-1と同様に、測定試料を作製し、評価装置を組み立て、インピーダンスZとその位相角θを測定した。その結果を表1に示す。
[Example 2-1]
Similar to Example 1-1, except that an aluminum plate (a circle having a thickness of 12 μm and a diameter of 1.1 cm) was used as the first metal layer and the second metal layer in Example 1-1. A measurement sample was prepared, an evaluation device was assembled, and impedance Z and its phase angle θ were measured. The results are shown in Table 1.
[実施例2-2]
実施例2-1において、測定試料を作製する際に、製造例2で調製したPEDOT-PSS水分散液のみをディスポカップに滴下したこと以外は、実施例2-1と同様に、測定試料を作製し、評価装置を組み立て、インピーダンスZとその位相角θを測定した。その結果を表1に示す。
[Example 2-2]
In Example 2-1 the measurement sample was prepared in the same manner as in Example 2-1 except that only the PEDOT-PSS aqueous dispersion prepared in Production Example 2 was dropped into the disposable cup when the measurement sample was prepared. It was manufactured, an evaluation device was assembled, and the impedance Z and its phase angle θ were measured. The results are shown in Table 1.
[実施例3-1]
実施例1-1において、第1の金属層及び第2の金属層としてチタン板(厚さ0.1mm、直径1.1cmの円形)を使用したしたこと以外は、実施例1-1と同様に、測定試料を作製し、評価装置を組み立て、インピーダンスZとその位相角θを測定した。その結果を表1に示す。
[Example 3-1]
Same as Example 1-1 except that a titanium plate (a circle having a thickness of 0.1 mm and a diameter of 1.1 cm) was used as the first metal layer and the second metal layer in Example 1-1. A measurement sample was prepared, an evaluation device was assembled, and the impedance Z and its phase angle θ were measured. The results are shown in Table 1.
[実施例3-2]
実施例3-1において、測定試料を作製する際に、製造例2で調製したPEDOT-PSS水分散液のみをディスポカップに滴下したこと以外は、実施例3-1と同様に、測定試料を作製し、評価装置を組み立て、インピーダンスZとその位相角θを測定した。その結果を表1に示す。
[Example 3-2]
In Example 3-1 the measurement sample was prepared in the same manner as in Example 3-1 except that only the PEDOT-PSS aqueous dispersion prepared in Production Example 2 was dropped into the disposable cup when the measurement sample was prepared. It was manufactured, an evaluation device was assembled, and the impedance Z and its phase angle θ were measured. The results are shown in Table 1.
[実施例4-1]
実施例1-1において、第1の金属層及び第2の金属層としてニオブ板(厚さ0.1mm、直径1.1cmの円形)を使用したしたこと以外は、実施例1-1と同様に、測定試料を作製し、評価装置を組み立て、インピーダンスZとその位相角θを測定した。その結果を表1に示す。
[Example 4-1]
Same as Example 1-1 except that a niobium plate (circle with a thickness of 0.1 mm and a diameter of 1.1 cm) was used as the first metal layer and the second metal layer in Example 1-1. A measurement sample was prepared, an evaluation device was assembled, and the impedance Z and its phase angle θ were measured. The results are shown in Table 1.
[実施例4-2]
実施例4-1において、測定試料を作製する際に、製造例2で調製したPEDOT-PSS水分散液のみをディスポカップに滴下したこと以外は、実施例4-1と同様に、測定試料を作製し、評価装置を組み立て、インピーダンスZとその位相角θを測定した。その結果を表1に示す。
[Example 4-2]
In Example 4-1 the measurement sample was prepared in the same manner as in Example 4-1 except that only the PEDOT-PSS aqueous dispersion prepared in Production Example 2 was dropped into the disposable cup when the measurement sample was prepared. It was manufactured, an evaluation device was assembled, and the impedance Z and its phase angle θ were measured. The results are shown in Table 1.
<各測定試料の評価>
表1に示した低周波数の100Hzの位相角θは-90°に近いほど、キャパシタの性能評価における静電容量Cが大きくなるので好ましい。さらに、高周波での位相角θに対して低周波での位相角θが小さい値(0°に近い値)を示す試料については、キャパシタの導電性材料として不適な材料である。この評価基準に基づき、以下の様に評価した。
<Evaluation of each measurement sample>
The closer the
実施例1-1と実施例1-2の結果を見比べて、100Hzでの位相角θは、実際にキャパシタを作製した場合の性能と相関している。また、100Hzと1kHzでの位相角を見比べると、実施例1-1では1kHzでの位相角がより小さくなっている(0°に近くなっている)のに対し、実施例1-2では1kHzでの位相角がより大きくなっている。
実施例1の評価装置でインピーダンスZとその位相角θを測定することによって、100Hzの位相角θが-90°により近い導電性材料を選定すれば、キャパシタ素子を浸漬する分散液としてより適した材料を選定したことになる。また、1kHzでの位相角が100Hzでの位相角によりも大きくなる試料についてはキャパシタの導電性材料として不適である。したがって、特性を知りたい試料を組み込んだキャパシタを作製する必要がなく、キャパシタの導電性材料の好適、不適を実施例1の評価装置で迅速かつ簡便に判定することができる。
Comparing the results of Example 1-1 and Example 1-2, the phase angle θ at 100 Hz correlates with the performance when the capacitor is actually manufactured. Comparing the phase angles at 100 Hz and 1 kHz, the phase angle at 1 kHz is smaller (closer to 0 °) in Example 1-1, whereas it is 1 kHz in Example 1-2. The phase angle at is larger.
If a conductive material having a phase angle θ of 100 Hz closer to −90 ° is selected by measuring the impedance Z and its phase angle θ with the evaluation device of Example 1, it is more suitable as a dispersion liquid for immersing the capacitor element. The material has been selected. Further, a sample whose phase angle at 1 kHz is larger than the phase angle at 100 Hz is not suitable as a conductive material for a capacitor. Therefore, it is not necessary to manufacture a capacitor incorporating a sample whose characteristics are desired to be known, and the suitability or unsuitability of the conductive material of the capacitor can be quickly and easily determined by the evaluation device of Example 1.
実施例2-1と実施例2-2の結果を見比べても、実施例1と同様の結論が得られる。 実施例3-1と実施例3-2の結果を見比べても、実施例1と同様の結論が得られる。 実施例4-1と実施例4-2の結果を見比べると、100Hzでの位相角θに差異はほとんど見られない。しかし、1kHzで位相角を見ると、実施例4-1では100Hzでの位相角よりも小さくなっているのに対して、実施例4-2では100Hzでの位相角よりも大きくなっていることから、実施例1と同様の結論が得られる。
以上から、本発明の電極体、評価装置及び評価方法によれば、導電性材料の性能を直接的に測定し、簡便に迅速に評価できることが明らかである。
By comparing the results of Example 2-1 and Example 2-2, the same conclusions as in Example 1 can be obtained. By comparing the results of Example 3-1 and Example 3-2, the same conclusions as in Example 1 can be obtained. Comparing the results of Example 4-1 and Example 4-2, there is almost no difference in the phase angle θ at 100 Hz. However, when the phase angle is viewed at 1 kHz, it is smaller than the phase angle at 100 Hz in Example 4-1 and larger than the phase angle at 100 Hz in Example 4-2. Therefore, the same conclusion as in Example 1 can be obtained.
From the above, it is clear that according to the electrode body, the evaluation device, and the evaluation method of the present invention, the performance of the conductive material can be directly measured and easily and quickly evaluated.
<機械学習アルゴリズムを使う方法について>
本発明における機械学習アルゴリズムを使う方法について、より詳細に説明する。
本発明における機械学習アルゴリズムは、コンピュータによって実行されることで、特徴量テンソルと応答電流の良データ又は非良データとの関係性を、本発明における機械学習アルゴリズムを実行したコンピュータに学習させる。本発明における機械学習アルゴリズムは、学習結果に基づいて新たに入力された応答電流を示す測定データが良データであるか否かをコンピュータに判定させる。特徴量テンソルは、応答電流の周波数特性を特徴づける特徴を示す2階のテンソルで表現された特徴量である。特徴量テンソルは、機械学習アルゴリズムにおける教師データである。応答電流は、本発明の第一態様の評価装置を用いて測定された試料の電流の応答である。良データは、応答電流の振幅が試料に印加された交流電圧(以下「印加電圧」という、)の周波数によらず略同一であり、応答電流の位相が印加電圧の周波数によらず略一定である測定データである。非良データは、良データ以外の測定データである。以下、本発明における機械学習アルゴリズムを、本発明機械学習アルゴリズムという。以下、本発明機械学習アルゴリズムによって、特徴量テンソルと応答電流の良データ又は非良データとの関係性を学習するコンピュータを機械学習装置3という。なお、測定データは、必ずしも応答電流でなくてもよく、応答電圧であってもよい。
<How to use machine learning algorithms>
The method of using the machine learning algorithm in the present invention will be described in more detail.
The machine learning algorithm in the present invention is executed by a computer so that the computer that executes the machine learning algorithm in the present invention learns the relationship between the feature quantity tensor and the good data or the non-good data of the response current. The machine learning algorithm in the present invention causes a computer to determine whether or not the newly input measurement data indicating the response current is good data based on the learning result. The feature quantity tensor is a feature quantity expressed by a second-order tensor showing the characteristics that characterize the frequency characteristics of the response current. Feature tensors are teacher data in machine learning algorithms. The response current is the response of the current of the sample measured using the evaluation device of the first aspect of the present invention. In good data, the amplitude of the response current is substantially the same regardless of the frequency of the AC voltage applied to the sample (hereinafter referred to as "applied voltage"), and the phase of the response current is substantially constant regardless of the frequency of the applied voltage. It is a certain measurement data. Non-good data is measurement data other than good data. Hereinafter, the machine learning algorithm in the present invention will be referred to as the machine learning algorithm of the present invention. Hereinafter, a computer that learns the relationship between the feature quantity tensor and the good data or the non-good data of the response current by the machine learning algorithm of the present invention is referred to as a
図3は、本発明の第二態様の評価装置を用いて試料に交流電圧が印加されたときに得られた良データの具体例を示す図である。
図3(A)は、応答電流の振幅を示す図である。図3(A)において、縦軸は、応答電流の振幅である電流値を示し、横軸は、印加電圧の周波数を示す。図3は、印加電圧の周波数と測定された電流値とが略比例の関係であることを表す。
図3(B)は、応答電流の位相を示す図である。図3(B)において、縦軸は、応答電流の位相を示し、横軸は、印加電圧の周波数を示す。図3(B)は、測定された位相が印加電圧の周波数に依らず略一定であることを示す。
FIG. 3 is a diagram showing a specific example of good data obtained when an AC voltage is applied to a sample using the evaluation device of the second aspect of the present invention.
FIG. 3A is a diagram showing the amplitude of the response current. In FIG. 3A, the vertical axis represents the current value which is the amplitude of the response current, and the horizontal axis represents the frequency of the applied voltage. FIG. 3 shows that the frequency of the applied voltage and the measured current value are in a substantially proportional relationship.
FIG. 3B is a diagram showing the phase of the response current. In FIG. 3B, the vertical axis indicates the phase of the response current, and the horizontal axis indicates the frequency of the applied voltage. FIG. 3B shows that the measured phase is substantially constant regardless of the frequency of the applied voltage.
図4は、本発明の第二態様の評価装置を用いて試料に交流電圧が印加されたときに得られた非良データの具体例を示す図である。
図4(A)は、応答電流の振幅を示す図である。図4(A)において、縦軸は、応答電流の振幅である電流値を示し、横軸は、印加電圧の周波数を示す。図4は、測定された電流値が印加電圧の周波数の増大とともに増大する傾向があることを示す。
図4(B)は、応答電流の位相を示す図である。図4(B)において、縦軸は、応答電流の位相を示し、横軸は、印加電圧の周波数を示す。図4(B)は、測定された位相が80Hz近傍で最も0に近づく周波数応答を示すことを示す。
FIG. 4 is a diagram showing a specific example of non-good data obtained when an AC voltage is applied to a sample using the evaluation device of the second aspect of the present invention.
FIG. 4A is a diagram showing the amplitude of the response current. In FIG. 4A, the vertical axis shows the current value which is the amplitude of the response current, and the horizontal axis shows the frequency of the applied voltage. FIG. 4 shows that the measured current value tends to increase with increasing frequency of the applied voltage.
FIG. 4B is a diagram showing the phase of the response current. In FIG. 4B, the vertical axis indicates the phase of the response current, and the horizontal axis indicates the frequency of the applied voltage. FIG. 4B shows that the measured phase shows the frequency response closest to 0 near 80 Hz.
図5は、本発明の機械学習装置3の機能構成の具体例を示す図である。機械学習装置3は、バスで接続されたCPU(Central Processing Unit)やGPU(Graphics Processing Unit)メモリや補助記憶装置などを備え、制御プログラムを実行する。機械学習装置3は、制御プログラムの実行によって入力部31及び制御部32を備える装置として機能する。制御プログラムは、機械学習装置3を制御するためのコンピュータプログラムである。
FIG. 5 is a diagram showing a specific example of the functional configuration of the
入力部31は、マウスやキーボード、タッチパネル等の入力装置を含んで構成される。入力部31は、これらの入力装置を自装置に接続するインタフェースとして構成されてもよい。入力部31は、測定データと、測定データが良データであるか非良データであるかを示す情報(以下「データ情報」という。)との入力を受け付ける。入力部31は、入力された測定データを制御部32に出力する。
The
制御部32は、機械学習装置3を制御し、本発明機械学習アルゴリズムを実行することで特徴量テンソルと応答電流の良データ又は非良データとの関係性を学習する。制御部32は、学習結果に基づいて、入力部31から入力された測定データが良データであるか否かを判定する。
The
図6は、本発明における制御部32の機能構成の具体例を示す図である。制御部32は、画像データ生成部321、特徴量テンソル生成部322、学習部323及び判定部324を備える。
画像データ生成部321は、入力部31に入力された測定データに基づいて、測定画像の画像データ(以下「測定画像データ」という。)を生成する。測定画像は、振幅曲線と、位相曲線とを表す画像であって、振幅曲線と、位相曲線と、背景とを所定の異なる色で表す画像である。振幅曲線は、測定データが示す振幅と周波数との関係を示すグラフである。位相曲線は、測定データが示す位相と周波数との関係を示すグラフである。横軸および縦軸は、対数でプロットしてもよい。所定の異なる色は、例えば、振幅曲線を表す色が青色であって、位相曲線を表す色が赤色であって、背景を表す色が黒色であってもよい。測定画像の色の表現方法は、どのような表現方法であってもよく、RGBであってもよいし、CMYKであってもよい。また、測定画像が、1変数のグラフを表すグラフである場合、グレースケールであってもよい。以下、簡単のため、測定画像の色の表現方法がRGBであると仮定して説明を行う。
FIG. 6 is a diagram showing a specific example of the functional configuration of the
The image
以下、画像データ生成部321が、生成した測定画像データのうち、良データを用いて生成された測定画像の画像データを良測定画像データという。以下、良測定画像データが示す画像を良測定画像という。以下、画像データ生成部321が、生成した測定画像データのうち、非良データを用いて生成された測定画像の画像データを非良測定画像データという。以下、非良測定画像データが示す画像を非良測定画像という。
画像データ生成部321は、生成した測定画像データにデータ情報を対応付けて記憶部(不図示)に記録する。
Hereinafter, among the measured image data generated by the image
The image
図7は、本発明における良測定画像の具体例を示す図である。図7は、図3の測定データを用いて生成された測定画像データが示す測定画像である。図7において、振幅曲線と、位相曲線と、背景とは異なる色で表されている。 FIG. 7 is a diagram showing a specific example of a good measurement image in the present invention. FIG. 7 is a measurement image shown by the measurement image data generated using the measurement data of FIG. In FIG. 7, the amplitude curve, the phase curve, and the background are represented by different colors.
図8は、本発明における非良測定画像の具体例を示す図である。図8は、図4の測定データを用いて生成された測定画像データが示す測定画像である。図8において、振幅曲線と、位相曲線と、背景とはそれぞれ図7と同様の色で表されている。 FIG. 8 is a diagram showing a specific example of a non-good measurement image in the present invention. FIG. 8 is a measurement image shown by the measurement image data generated using the measurement data of FIG. In FIG. 8, the amplitude curve, the phase curve, and the background are each represented by the same colors as in FIG. 7.
図6の説明に戻る。特徴量テンソル生成部322は、画像データ生成部321が生成した測定画像データに基づいて、特徴量テンソルを生成する。特徴量テンソルは、測定画像の縦方向のピクセル数と、横方向のピクセル数と、測定画像の色の表現方法とに基づいた数の成分を有する。以下、簡単のため、測定画像の縦方向のピクセル数がnpであって横方向のピクセル数がmpであると仮定して説明を行う。
Returning to the description of FIG. The feature amount
学習部323は、本発明機械学習アルゴリズムによって、特徴量テンソルと応答電流の良データ又は非良データとの関係性を学習し、学習結果を記憶部(不図示)に記憶する。判定部324は、学習部323の学習結果に基づいて、入力部31に入力された測定データが、良データであるか非良データであるかを判定する。
The
図9は、本発明における画像データ生成部321が教師データの特徴量テンソルを生成する具体的な処理の流れを示すフローチャートである。
FIG. 9 is a flowchart showing a specific processing flow in which the image
特徴量テンソル生成部322は、画像データ生成部321が生成した良測定画像と、非良測定画像とを取得する(ステップS101)。具体的には、画像データ生成部321によって生成された測定画像データのうち、良データであることを示すデータ情報に対応付けられた測定画像データと、非良データであることを示すデータ情報に対応付けられた測定画像データとを取得する。
The feature quantity
特徴量テンソル生成部322は、取得した良測定画像データが示す良測定画像の各ピクセルのRGBの赤の値を、1番目のピクセルから(np×mp)番目のピクセルまで、所定のピクセルの順番で、ピクセルごとに取得する(ステップS102)。特徴量テンソル生成部322は、取得した良測定画像データが示す良測定画像の各ピクセルのRGBの緑の値を、1番目のピクセルから(np×mp)番目のピクセルまで、ステップS102と同じ順番で、ピクセルごとに取得する(ステップS103)。特徴量テンソル生成部322は、取得した良測定画像データが示す良測定画像の各ピクセルのRGBの青の値を、1番目のピクセルから(np×mp)番目のピクセルまで、ステップS102と同じ順番で、ピクセルごとに取得する(ステップS104)。特徴量テンソル生成部322は、取得した非良測定画像データが示す非良測定画像の各ピクセルのRGBの赤の値を、1番目のピクセルから(np×mp)番目のピクセルまで、ステップS102と同じ順番で、ピクセルごとに取得する(ステップS105)。特徴量テンソル生成部322は、取得した非良測定画像データが示す非良測定画像の各ピクセルのRGBの緑の値を、1番目のピクセルから(np×mp)番目のピクセルまで、ステップS102と同じ順番で、ピクセルごとに取得する(ステップS106)。特徴量テンソル生成部322は、取得した非良測定画像データが示す非良測定画像の各ピクセルのRGBの青の値を、1番目のピクセルから(np×mp)番目のピクセルまで、ステップS102と同じ順番で、ピクセルごとに取得する(ステップS107)。
The feature quantity
特徴量テンソル生成部322は、ステップS102、ステップS103、ステップS104、ステップS105、ステップS106及びステップS107において取得された赤の値、緑の値及び青の値を成分の値とする2行(np×mp×3)列のテンソルを生成する(ステップS108)。ステップS108において生成されたテンソルの1行目のn1列目(n1は1以上(np×mp)以下の整数)の成分の値は、ステップS102においてn1番目に赤の値が取得されたピクセルの赤の値である。ステップS108において生成された特徴量テンソルの1行目のn2列目(n2は(np×mp+1)以上(2×np×mp)以下の整数)の成分の値は、ステップS103においてn2番目に緑の値が取得されたピクセルの緑の値である。ステップS108において生成された特徴量テンソルの1行目のn3列目(n3は(2×np×mp+1)以上(3×np×mp)以下の整数)の成分の値は、ステップS104においてn3番目に青の値が取得されたピクセルの青の値である。ステップS108において生成された特徴量テンソルの2行目のn1列目(n1は1以上(np×mp)以下の整数)の成分の値は、ステップS105においてn1番目に赤の値が取得されたピクセルの赤の値である。ステップS108において生成された特徴量テンソルの2行目のn2列目(n2は(np×mp+1)以上(2×np×mp)以下の整数)の成分の値は、ステップS106においてn2番目に緑の値が取得されたピクセルの緑の値である。ステップS108において生成された特徴量テンソルの2行目のn3列目(n3は(2×np×mp+1)以上(3×np×mp)以下の整数)の成分の値は、ステップS107においてn3番目に青の値が取得されたピクセルの青の値である。
このようにして、ステップS108において生成されたテンソルが教師データの特徴量テンソルである。
The feature quantity
In this way, the tensor generated in step S108 is the feature quantity tensor of the teacher data.
なお、特徴量テンソルの列数は、測定画像の色の表現方法の原色の数に応じた列数である。具体的には、原色の数がmq色であった場合、特徴量テンソルの列数は、(np×mp×mq)列となる。また、この場合、特徴量テンソルは、良測定画像に対してステップS102と同様の処理を、各原色に対して行う。また、この場合、特徴量テンソルは、非良測定画像に対してステップS105と同様の処理を、各原色に対して行う。 The number of columns of the feature quantity tensor is the number of columns according to the number of primary colors in the color expression method of the measured image. Specifically, when the number of primary colors is mq color, the number of columns of the feature quantity tensor is (np × mp × mq) columns. Further, in this case, the feature amount tensor performs the same processing as in step S102 on the good measurement image for each primary color. Further, in this case, the feature amount tensor performs the same processing as in step S105 on the non-good measurement image for each primary color.
図10は、本発明における学習部323が特徴量テンソルと良データ又は非良データとの関係性を学習する具体的な処理の流れを示すフローチャートである。
学習部323は、複数の特徴量テンソルを取得する(ステップS201)。学習部323は、ステップS201において取得された複数の特徴量テンソルを用いて、所定の最適化のアルゴリズムによって、以下の式(1)で表されるテンソルW及びテンソルbを決定する(ステップS202)。具体的には、以下の式(1)で表されるテンソルZが小さくなるように、ステップS201において取得された複数の特徴量テンソルを用いた所定の最適化のアルゴリズムに基づいて、式(1)のテンソルW及びテンソルbを決定する。ステップS302において決定されたテンソルWとテンソルbとが、学習部323が学習した学習結果である。所定の最適化のアルゴリズムは、例えば、最急降下法である。
FIG. 10 is a flowchart showing a specific processing flow in which the
The
テンソルYは、対角成分が0であって、非対角成分が1である2行2列の2階のテンソルである。以下、テンソルYを識別テンソルという。式(1)においてXは、特徴量テンソルである。テンソルWは、(np×mp×mq)行2列の2階のテンソルである。テンソルWは、測定画像の色の表現方法がRGBである場合には、(np×mp×3)行2列の2階のテンソルである。以下、テンソルWを第一変数テンソルという。テンソルbは、2行2列の2階のテンソルである。以下、テンソルbを第二変数テンソルという。 The tensor Y is a two-row, two-column, second-order tensor having a diagonal component of 0 and an off-diagonal component of 1. Hereinafter, the tensor Y is referred to as an identification tensor. In formula (1), X is a feature tensor. The tensor W is a second-order tensor with (np × mp × mq) rows and 2 columns. The tensor W is a second-order tensor with (np × mp × 3) rows and 2 columns when the color expression method of the measured image is RGB. Hereinafter, the tensor W is referred to as a first variable tensor. The tensor b is a tensor on the second floor with 2 rows and 2 columns. Hereinafter, the tensor b is referred to as a second variable tensor.
図11は、本発明における機械学習装置3が、測定データが良データであるか非良データであるかを判定する具体的な処理の流れを示すフローチャートである。
入力部31に測定データが入力される(ステップS301)。画像データ生成部321が、ステップS301において取得された測定データに基づいて、測定画像データを生成する(ステップS302)。特徴量テンソル生成部322が、ステップS302において生成された測定画像データに基づいて、特徴量テンソルを生成する。具体的には、図9の処理における良測定画像データと非良測定画像データとの両方をステップS302において生成された測定画像データとして、図9の処理と同様の処理を実行することで、特徴量テンソル生成部322が特徴量テンソルを生成する。
FIG. 11 is a flowchart showing a specific processing flow in which the
The measurement data is input to the input unit 31 (step S301). The image
判定部324は、学習部323が予め学習した第一変数テンソルWと、第二変数テンソルbと、ステップS302において生成された特徴量テンソルとを以下の式(2)に代入し、テンソルPを算出する(ステップS303)。テンソルPは、2行2列の2階のテンソルである。
The
判定部324は、ステップS303で算出されたテンソルPの各成分を参照し、最大値を与える成分が、1行2列の成分か否かを判定する(ステップS304)。1行2列の成分である場合(ステップS304:YES)、判定部324は、最大値が0.5以上か否かを判定する(ステップS305)。最大値が0.5以上である場合(ステップS305:YES)、判定部324は、ステップ301において取得した測定画像データが良データを用いて生成された測定画像データであると判定する(ステップS306)。
一方、ステップS305において、0.5以上でない場合(ステップS304:NO)、コンピュータは、ステップ301において取得した測定画像データが非良データを用いて生成された測定画像データであると判定する(ステップS307)。
The
On the other hand, if it is not 0.5 or more in step S305 (step S304: NO), the computer determines that the measured image data acquired in step 301 is the measured image data generated by using the non-good data (step S305). S307).
一方、1行2列の成分でない場合(ステップS304:NO)、判定部324は、最大値が0.5以上か否かを判定する(ステップS308)。最大値が0.5以上である場合(ステップS308:YES)、判定部324は、ステップ301において取得した測定画像データが非良データを用いて生成された測定画像データであると判定する(ステップS309)。
一方、ステップS305において、0.5以上でない場合(ステップS304:NO)、コンピュータは、ステップ301において取得した測定画像データが良データを用いて生成された測定画像データであると判定する(ステップS310)。
このようにして、機械学習装置3は、測定データが良データであるか非良データであるかを判定する。
On the other hand, when it is not a component of 1 row and 2 columns (step S304: NO), the
On the other hand, if it is not 0.5 or more in step S305 (step S304: NO), the computer determines that the measured image data acquired in step 301 is the measured image data generated using the good data (step S310). ).
In this way, the
図12及び図13によって、本発明における機械学習装置3が、学習結果に基づいて、測定データが良データであるか否かを判定した判定結果の具体例を示す。
12 and 13 show a specific example of the determination result in which the
図12は、学習回数が72000回の場合に、本発明における機械学習装置3が、学習結果に基づいて、測定データが良データであるか否かを判定した判定結果の具体例を示す図である。図12は、測定画像と、それに対する判定部324の判定結果を示す図である。学習回数は、最急降下法における繰り返し計算の回数である。図12において、“画像名”が未知画像1及び未知画像2である測定画像は、学習の際に使用されなかった測定画像である。“画像名”が教師画像1及び教師画像2の画像は、学習の際に使用された測定画像である。図12において、“確率”は、“測定画像”が表す測定画像を示す測定画像データを用いて機械学習装置3が算出したテンソルPの成分の最大値である。“確率”は、1に近いほど、式(1)のZの値を小さくする値である。そのため、“確率”が高いほど、機械学習装置3による判定が正しい判定である確率が高いことを示す。正しい判定とは、人の目で見て良測定画像データであると判定するものを機械学習装置3も良測定画像データであると判定し、人の目で見て非良測定画像データであると判定するものを機械学習装置3も非良測定画像データであると判定するという意味である。
“判定結果”は、“画像名”が表す測定画像を示す測定画像データが、良測定画像データであるか、非良測定画像データであるかを示す。“判定結果”は、機械学習装置3によって図11の処理が実行されることによって判定された結果である。“Good”は、良測定画像データであることを示し、“Bad”は、非良測定画像データであることを示す。
例えば、結果D111は、画像名が未知画像1である測定画像を用いて機械学習装置3が算出したテンソルPの成分の最大値が0.5312057733535767であることを示し、判定部324が、未知画像1を示す測定画像データが良測定画像データであると判定したことを示す。
図12の結果は、機械学習装置3が、良測定画像データ及び非良測定画像データについて正しい判定をできることを示す。
FIG. 12 is a diagram showing a specific example of a determination result in which the
The "determination result" indicates whether the measurement image data indicating the measurement image represented by the "image name" is good measurement image data or non-good measurement image data. The "determination result" is a result determined by executing the process of FIG. 11 by the
For example, the result D111 shows that the maximum value of the component of the tensor P calculated by the
The results of FIG. 12 show that the
図13は、学習回数が864000回の場合に、本発明における機械学習装置3が、学習結果に基づいて、測定データが良データであるか否かを判定した判定結果の具体例を示す図である。図13における“確率”の値は、図12よりも大きくなっている。これは、図12よりも学習回数が増えたことで、機械学習装置3による測定データが良データであるか否かの判定の精度があがったことを意味する。
FIG. 13 is a diagram showing a specific example of a determination result in which the
このように構成された本発明における機械学習装置3は、本発明機械学習アルゴリズムを実行するため、機械学習によって測定データが良データであるか否かの判定をすることができる。
Since the
なお、応答電流の振幅が試料に印加された印加電圧の周波数によらず略同一であり、応答電流の位相が印加電圧の周波数によらず略一定であることは、所定の条件の一例である。なお、画像データ生成部321が実行する処理は、画像生成処理の一例である。なお、特徴量テンソル生成部322が実行する処理は、特徴量テンソル生成処理の一例である。なお、学習部323が実行する処理は、学習処理の一例である。なお、判定部324が実行する処理は、判定処理の一例である。なお、赤は、第一の原色の一例である。なお、緑は第二の原色の一例である。なお、青は、第三の原色の一例である。第一変数テンソルは、第一のテンソルの一例である。第二変数テンソルは、第二のテンソルの一例である。
It should be noted that the amplitude of the response current is substantially the same regardless of the frequency of the applied voltage applied to the sample, and the phase of the response current is substantially constant regardless of the frequency of the applied voltage, which is an example of a predetermined condition. .. The process executed by the image
1 第1の電極
1a 第1の金属層
1b 第1の誘電体膜
1c 端子
2a 第2の金属層
2b 第2の誘電体膜
2c 端子
10 電極体
T 試料
12 挟持部
15 測定機器
20 評価装置
3 機械学習装置3
31 入力部
32 制御部
321 画像データ生成部
322 特徴量テンソル生成部
323 学習部
324 判定部
1
31
Claims (18)
前記第1の金属層と前記第2の金属層が互いに離間して対向するように配置されており、前記第1の金属層の前記第2の金属層側の表面には第1の誘電体膜を有し、前記第2の金属層の前記第1の金属層側の表面には第2の誘電体膜を有し、
前記第1の誘電体膜と前記第2の誘電体膜との間に、導電性高分子を含む導電性材料である試料を挿入し、前記試料に印加した直流または交流に応答する、電流または電圧を測定する、評価装置。 An evaluation device having an electrode body including a first electrode having a first metal layer made of a first valve metal and a second electrode having a second metal layer made of a second valve metal. ,
The first metal layer and the second metal layer are arranged so as to be separated from each other and face each other, and a first dielectric is provided on the surface of the first metal layer on the side of the second metal layer. It has a film, and has a second dielectric film on the surface of the second metal layer on the side of the first metal layer .
A sample, which is a conductive material containing a conductive polymer, is inserted between the first dielectric film and the second dielectric film, and a current or an alternating current or alternating current is applied in response to the direct current or alternating current applied to the sample. An evaluation device that measures voltage.
請求項1に記載の評価装置。 At least one of the first valve metal and the second valve metal is a valve metal that exclusively forms an oxide film on anions other than oxygen.
The evaluation device according to claim 1.
(a)前記第1のバルブメタルが、タンタル、又はタンタルを50質量%以上含む合金である。
(b)前記第2のバルブメタルが、タンタル、又はタンタルを50質量%以上含む合金である。 The evaluation device according to claim 1 or 2, which is at least one of the following (a) and (b).
(A) The first valve metal is tantalum or an alloy containing 50% by mass or more of tantalum.
(B) The second valve metal is tantalum or an alloy containing 50% by mass or more of tantalum.
(c)前記第1の誘電体膜が前記第1のバルブメタルの酸化皮膜である。
(d)前記第2の誘電体膜が前記第2のバルブメタルの酸化皮膜である。 The evaluation device according to any one of claims 1 to 3, which is at least one of the following (c) and (d).
(C) The first dielectric film is an oxide film of the first valve metal.
(D) The second dielectric film is an oxide film of the second valve metal.
請求項4に記載の評価装置。 The thickness of the oxide film is 1 nm or more and 700 nm or less.
The evaluation device according to claim 4.
請求項1~5の何れか一項に記載の評価装置。 Select at least two DC or AC measurement frequencies, and measure the frequency at which the difference in response current or response voltage due to the valve metal is most noticeable.
The evaluation device according to any one of claims 1 to 5 .
請求項1~6の何れか一項に記載の評価装置。 Select at least 4 DC or AC measurement frequencies, measure the response current or response voltage by the valve metal, and obtain the impedance and phase angle.
The evaluation device according to any one of claims 1 to 6 .
請求項1~7の何れか一項に記載の評価装置。 The invention according to any one of claims 1 to 7, wherein a waveform including at least two frequencies is applied, a response current or a response voltage converted into a spectrum in the frequency domain by Fourier transform is measured, and impedance and a phase angle are obtained. Evaluation device.
請求項1~8の何れか一項に記載の評価装置。 A waveform containing at least two frequencies is applied, the response current or response voltage converted into a spectrum in the frequency domain by Fourier transform is measured, the obtained data is stored in a database as big data, and a machine learning algorithm is used.
The evaluation device according to any one of claims 1 to 8 .
前記評価装置の電極体において、前記第1の誘電体膜と、前記第2の誘電体膜との間に試料を挿入し、前記試料に印加した直流または交流に応答する、電流または電圧を測定するステップを有する、評価方法。 An evaluation method using the evaluation device according to any one of claims 1 to 9 .
In the electrode body of the evaluation device, a sample is inserted between the first dielectric film and the second dielectric film, and the current or voltage in response to the direct current or alternating current applied to the sample is measured. An evaluation method that has steps to be performed.
前記画像生成処理によって生成された画像に基づいて前記応答電流の周波数特性の特徴を示すテンソルである特徴量テンソルを生成する特徴量テンソル生成処理と、
前記特徴量テンソルに基づいて、前記応答電流の周波数特性と、前記応答電流の周波数特性が所定の条件を満たすか否かを示す情報との関係性を機械学習のアルゴリズムによって学習する学習処理と、
前記学習処理によって学習した学習結果に基づいて、前記応答電流の周波数特性が所定の条件を満たすか否かを判定する判定処理と、
を有する請求項10に記載の評価方法。 A graph showing the frequency characteristics of the amplitude of either the response current, which is a current that responds to direct current or alternating current applied to the sample, or the response voltage, which is a voltage that responds to direct current or alternating current applied to the sample. Image generation processing that generates a measurement image, which is an image that represents the graph showing the frequency characteristics of the phase in different colors, and
A feature quantity tensor generation process for generating a feature quantity tensor, which is a tensor showing the characteristics of the frequency characteristics of the response current based on the image generated by the image generation process,
Based on the feature quantity tensor, a learning process for learning the relationship between the frequency characteristic of the response current and the information indicating whether or not the frequency characteristic of the response current satisfies a predetermined condition by a machine learning algorithm.
Based on the learning result learned by the learning process, a determination process for determining whether or not the frequency characteristic of the response current satisfies a predetermined condition, and a determination process.
The evaluation method according to claim 10 .
請求項11に記載の評価方法。 The feature amount tensor is 2 when the number of pixels in the vertical direction of the measured image is np, the number of pixels in the horizontal direction is mp, and the primary color in the color expression method of the measured image is mq color. The second-order tensor of rows (np x mp x mq) columns,
The evaluation method according to claim 11 .
請求項12に記載の評価方法。 When the color expression method of the measured image is RGB, the feature quantity tensor is a second-order tensor having two rows (np × mp × 3) columns.
The evaluation method according to claim 12 .
請求項13に記載の評価方法。 The feature amount tensor is n1 when the number of pixels in the vertical direction of the measured image is np, the number of pixels in the horizontal direction is mp, and the primary colors in the color expression method of the measured image are three colors. The value of the component in the column (n1 is an integer of 1 or more (np × mp)) is the color value of the first primary color of each pixel of the image, and the n2 column (n2 is (np × mp). The value of the component (an integer of mp + 1) or more (2 × np × mp) or less is the color value of the second primary color of each pixel of the image, and n3 is the n3rd column (n3 is (2 × np ×). The value of the component (an integer of mp + 1) or more (3 × np × mp) or less is the color value of the third primary color of each pixel of the image.
The evaluation method according to claim 13 .
Xを前記特徴量テンソルとした時に、以下の式(1)で表されるテンソルZの、所定の最適化のアルゴリズムで決定される第一のテンソルW及び第二のテンソルbとである、請求項14に記載の評価方法。
When X is the feature quantity tensor, the tensor Z represented by the following equation (1) is a first tensor W and a second tensor b determined by a predetermined optimization algorithm. Item 14. The evaluation method according to Item 14.
請求項15に記載の評価方法。 The predetermined optimization algorithm is the steepest descent method.
The evaluation method according to claim 15 .
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| 白谷貴明,洗濯ばさみ画鋲セルの作り方,[online],2018年04月05日,[2022年06月07日検索],インターネット<https://web.archive.org/web/20220607011100/https://edu.yz.yamagata-u.ac.jp/Public/54299/2017/tes00728/Clothes_pin_cell/index.html> |
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