JP7203944B2 - ガスレーザ装置、ガスレーザ装置のレーザ光の出射方法、及び電子デバイスの製造方法 - Google Patents
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Description
2.比較例のガスレーザ装置の説明
2.1 構成
2.2 動作
2.3 課題
3.実施形態1のガスレーザ装置の説明
3.1 構成
3.2 動作
3.3 作用・効果
4.実施形態2のガスレーザ装置の説明
4.1 構成
4.2 動作
4.3 作用・効果
5.実施形態3のガスレーザ装置の説明
5.1 構成
5.2 動作
5.3 作用・効果
6.実施形態4のガスレーザ装置の説明
6.1 構成
6.2 動作
6.3 作用・効果
以下に説明される実施形態は、本開示のいくつかの例を示すものであって、本開示の内容を限定するものではない。また、各実施形態で説明される構成及び動作の全てが本開示の構成及び動作として必須であるとは限らない。なお、同一の構成要素には同一の参照符号を付して、重複する説明を省略する。
図1は、電子デバイスの製造の露光工程で使用される製造装置の全体の概略構成例を示す模式図である。図1に示すように、露光工程で使用される製造装置は、ガスレーザ装置100及び露光装置200を含む。露光装置200は、複数のミラー211,212,213を含む照明光学系210と、投影光学系220とを含む。照明光学系210は、ガスレーザ装置100から入射したレーザ光によって、レチクルステージRTのレチクルパターンを照明する。投影光学系220は、レチクルを透過したレーザ光を、縮小投影してワークピーステーブルWT上に配置された図示しないワークピースに結像させる。ワークピースはフォトレジストが塗布された半導体ウエハ等の感光基板である。露光装置200は、レチクルステージRTとワークピーステーブルWTとを同期して平行移動させることにより、レチクルパターンを反映したレーザ光をワークピースに露光する。以上のような露光工程によって半導体ウエハにデバイスパターンを転写することで電子デバイスである半導体デバイスを製造することができる。
2.1 構成
比較例のガスレーザ装置について説明する。図2は、本例のガスレーザ装置の全体の概略構成例を示す模式図である。図2に示すように、本例のガスレーザ装置100は、筐体10と、レーザ発振器LOと、エネルギーモニタモジュール20と、制御部COとを主な構成として含む。本例のガスレーザ装置100は、例えば、アルゴン(Ar)、フッ素(F2)、及びネオン(Ne)を含む混合ガスを使用するArFエキシマレーザ装置である。この場合、ガスレーザ装置100は、中心波長が約193nmのパルスレーザ光を出射する。なお、ガスレーザ装置100は、ArFエキシマレーザ装置以外のガスレーザ装置であってもよく、例えば、クリプトン(Kr)、フッ素(F2)、及びネオン(Ne)を含む混合ガスを使用するKrFエキシマレーザ装置であってもよい。この場合、ガスレーザ装置100は、中心波長が約248nmのパルスレーザ光を出射する。レーザ媒質であるAr、F2、及びNeを含む混合ガスやKr、F2、及びNeを含む混合ガスはレーザガスと呼ばれる場合がある。
次に、比較例のガスレーザ装置100の動作について説明する。図3は、比較例におけるガスレーザ装置100がレーザ光を出射するまでの制御部COの動作を示すフローチャートである。図3に示すように、本例では、レーザ光が出射されるまでの制御部COの動作はステップS01からステップS05を含む。
ガスレーザ装置100では、例えば、新規導入時やメンテナンス時等において、第1光路管51内及び第2光路管52内に大気が入り込む。図3では、この状態がスタートの状態である。
本ステップでは、制御部COは、第1排気バルブEV1及び第2排気バルブEV2を開く。この時点では、パージガスが供給されていないため、第1光路管51、筐体21、及び光路管53内のガス及び、第2光路管52及び筐体41内のガスは排気されない。
本ステップでは、制御部COは、メインガス供給バルブSV0、第1ガス供給バルブSV1及び第2ガス供給バルブSV2を開く。このため、第1ガス供給口SP1から筐体21内にパージガスが供給され、第2ガス供給口SP2から筐体41内にパージガスが供給される。ステップS02において、第1排気バルブEV1及び第2排気バルブEV2が開いているため、第1光路管51、筐体21、及び光路管53内のガスは、パージガスにより押し出されて、第1排気口EP1を介して筐体10内に排気される。このため、筐体21や第1光路管51及び光路管53内の酸素濃度はパージガスにより低減され、酸素濃度が低減された状態が維持される。また、ビームスプリッタ22、出力結合ミラーOC1、及び第1ウィンドウ33の表面上をガスが流れ、これらの表面への酸素の付着等が抑制され得る。また、第2光路管52及び筐体41内のガスは、パージガスにより押し出されて、第2排気口EP2を介して筐体10内に排気される。このため、筐体41や第2光路管52内の酸素濃度はパージガスにより低減され、酸素濃度が低減された状態が維持される。また、グレーティング42、プリズム43,44、及び第2ウィンドウ34の表面上をガスが流れ、これらの表面への酸素の付着等が抑制され得る。筐体10内に排気されたガスは、排気ダクト11から筐体10の外に排気される。
本ステップでは、制御部COは、ステップS03の状態を所定の第1期間T1維持する。この第1期間T1は、例えば5分から10分である。本ステップで、第1光路管51、筐体21、及び光路管53内の酸素濃度は所定の濃度以下となり、第2光路管52及び筐体41内の酸素濃度は所定の濃度以下となる。
本ステップでは、制御部COは、レーザ光を出射させる。具体的には、制御部COは、本ステップで、モータ39を制御し、チャンバ30内のレーザガスが循環している状態を維持する。また、制御部COは、充電器35及びパルスパワーモジュール36内のスイッチを制御して、電極31,32間に高電圧を印加する。電極31,32間に高電圧が印加されると、電極31,32間の絶縁が破壊され放電が起こる。この放電のエネルギーにより、電極31,32間のレーザガスに含まれるレーザ媒質は励起状態とされて、基底状態に戻る時に自然放出光を放出する。この光の一部が第2ウィンドウ34から出射して、プリズム43,44を介してグレーティング42で反射される。グレーティング42で反射され再び第2ウィンドウ34を介してチャンバ30内に伝搬する光は狭帯域化されている。この狭帯域化された光により、励起状態のレーザ媒質は誘導放出を起こし光が増幅される。こうして、所定の波長の光がグレーティング42と出力結合ミラーOC1との間を共振し、レーザ発振が起こる。そして、一部のレーザ光が、出力結合ミラーOC1を透過して、レーザ光出射ウィンドウOWから出射する。
上記のように、レーザ光の発振時やレーザ光の停止時において、パージガスの供給により、第1光路管51内、第2光路管52内のガスが、第1ウィンドウ33の表面、第2ウィンドウ34の表面を流れる。このガスの温度は、パージガスの温度と概ね同じである。ところで、チャンバ30内は、レーザガスの循環による摩擦熱等に起因しパージガスの温度よりも高くなる。従って、第1ウィンドウ33及び第2ウィンドウ34のチャンバ30側と反対側の表面は、表面を流れるガスにより冷却されて、第1ウィンドウ33及び第2ウィンドウ34のチャンバ30側の表面よりも、温度が低くなる。そして、レーザ光が出射すると第1ウィンドウ33及び第2ウィンドウ34は、レーザ光のエネルギーに起因して加熱される。このため、レーザ発振の開始時とレーザ発振の停止時とで、第1ウィンドウ33及び第2ウィンドウ34のチャンバ30側と反対側の表面に急激な温度変化が生じ、第1ウィンドウ33及び第2ウィンドウ34に熱衝撃による損傷が生じ、ガスレーザ装置100の耐久性が落ちるという懸念がある。
次に、実施形態1のガスレーザ装置の構成を説明する。なお、上記において説明した構成と同様の構成については同一の符号を付し、特に説明する場合を除き、重複する説明は省略する。
図4は、本実施形態におけるガスレーザ装置の全体の概略構成例を示す模式図である。図4に示すように、本実施形態のガスレーザ装置100は、酸素濃度計12と、第1副排気バルブEV3及び第2副排気バルブEV4と、第1副排気口EP3及び第2副排気口EP4とを含む点において、比較例1のガスレーザ装置100と主に異なる。なお、以降の実施形態では、比較例で説明した、第1排気バルブEV1を第1主排気バルブEV1とし、第2排気バルブEV2を第2主排気バルブEV2とし、第1排気口EP1を第1主排気口EP1とし、第2排気口EP2を第2主排気口EP2とする。
<第1の例>
まず、本実施形態のガスレーザ装置100の動作の第1の例について説明する。図5は、本実施形態におけるガスレーザ装置100がレーザ光を出射するまでの制御部COの動作の第1の例を示すフローチャートである。図5に示すように、本例では、レーザ光が出射されるまでの制御部COの動作はステップS11からステップS18を含む。
本実施形態のスタートの状態は、図3を用いて説明した比較例のスタートの状態と同様である。
制御部COは、本実施形態のステップS12,S13,S14において、比較例のステップS02,S03,S04と同様の動作をする。従って、ステップS13において、制御部COは、チャンバ30からレーザ光が出射される前において主排気口としての第1主排気口EP1,第2主排気口EP2からガスを排気させる。このため、ステップS14が終わる時点で、第1光路管51、筐体21、及び光路管53内の酸素濃度は所定の濃度以下となり、第2光路管52及び筐体41内の酸素濃度は所定の濃度以下となる。
本ステップでは、制御部COは、第1副排気バルブEV3及び第2副排気バルブEV4を開く。ステップS12で第1主排気バルブEV1及び第2主排気バルブEV2が開かれている。従って、第1光路管51内のガスは、第1主排気口EP1及び第1副排気口EP3を介して筐体10内に排気され、第2光路管52内のガスは、第2主排気口EP2及び第2副排気口EP4を介して筐体10内に排気される。つまり、本ステップでは、副排気口としての第1副排気口EP3及び第2副排気口EP4からガスが排気される。このため、本ステップより前の状態と比べて、第1主排気口EP1及び第2主排気口EP2から排気されるガスの量は低下する。従って、第1光路管51内及び第2光路管52内のガスの流れが変化し、第1ウィンドウ33及び第2ウィンドウ34の表面を流れるガスの量は低下する。
本ステップでは、制御部COは、第1主排気バルブEV1及び第2主排気バルブEV2を閉じる。従って、第1主排気口EP1及び第2主排気口EP2からはガスが排気されなくなり、第1副排気口EP3及び第2副排気口EP4から排気されるガスの量は増加する。このため、第1光路管51及び第2光路管52内のガスの流れがさらに変化し、第1ウィンドウ33及び第2ウィンドウ34の表面を流れるガスの量はさらに低下する。
本ステップでは、制御部COは、ステップS15において第1副排気バルブEV3及び第2副排気バルブEV4が開かれてから所定の第2期間T2が経過するまでステップS16の状態を維持する。この第2期間T2は、例えば5分から10分である。従って、ステップS15が行われてから第2期間T2が経過するまでにステップS16が行われる。例えば、ステップS15とステップS16とが同時に行われてもよい。本ステップでは、上記のように第1ウィンドウ33及び第2ウィンドウ34の表面を流れるガスの量は低下している。このため、本ステップの終了時点で、第1ウィンドウ33の第1光路管51側は第1光路管51内のガスにより冷却されることが抑制され、第2ウィンドウ34の第2光路管52側は第2光路管52内のガスにより冷却されることが抑制される。このため、本ステップの完了時に、第1ウィンドウ33におけるチャンバ30側の温度と第1光路管51側の温度との差、及び、第2ウィンドウ34におけるチャンバ30側の温度と第2光路管52側の温度との差は、比較例と比べて小さくなる。
本ステップでは、制御部COは、比較例のステップS05と同様にして、レーザ光を出射させる。
次に、本実施形態のガスレーザ装置100の動作の第2の例について説明する。図6は、本実施形態におけるガスレーザ装置100がレーザ光を出射するまでの制御部COの動作の第2の例を示すフローチャートである。図5に示すように、本例では、レーザ光が出射されるまでの制御部COの動作は、ステップS14が第1の例と異なり、他のステップは第1の例の各ステップと同様である。
本例の本ステップでは、制御部COは、第1光路管51内及び第2光路管52内の酸素濃度が所定の第1濃度になるまでステップS13の状態を維持する。このため、本例のステップS14は、制御部COが酸素濃度計12から酸素濃度を示す信号を受信するステップS14aと、制御部COが受信した酸素濃度が所定の酸素濃度以下になっているか否かを判断するステップS14bとを含む。
酸素濃度計12は、第1主排気バルブEV1が設けられた配管内及び第2主排気バルブEV2が設けられた配管内を通過するガスの酸素濃度を計測する。本ステップでは、酸素濃度計12は計測した酸素濃度を示す信号を出力し、制御部COはこの信号を受信する。
本ステップでは、制御部COは、酸素濃度計12から受信した信号に基づき、酸素濃度計12が計測した酸素濃度が所定の第1濃度以下になっているか否かを判断する。この所定の第1濃度は、例えば10ppmである。第1排気バルブEV1を設けた配管内及び第2排気バルブEV2を設けた配管内を通過するガスの酸素濃度が所定の第1濃度以下になっていない場合は、ステップS14aに戻り、酸素濃度計12から新たに受信した信号に基づき、酸素濃度計12が計測した酸素濃度が所定の第1濃度以下になっているか否かを判断する。
本実施形態では、レーザ光の出射時より前に第1主排気口EP1及び第2主排気口EP2からガスが排気される。このため、ガスが第1ウィンドウ33及び第2ウィンドウ34の表面を流れ、筐体21、第1光路管51や光路管53内の酸素濃度、及び、筐体41や第2光路管52内の酸素濃度を低減することができる。次に、第1副排気口EP3及び第2副排気口EP4からガスが排気される。このため、第1主排気口EP1及び第2主排気口EP2からのガスの排気量は低下し、第1ウィンドウ33及び第2ウィンドウ34の表面を流れるガスの量は低下する。従って、レーザ出射時において、第1ウィンドウ33のチャンバ30側の温度と第1光路管51側の温度との差が小さくなり、第2ウィンドウ34のチャンバ30側の温度と第2光路管52側の温度との差が小さくなる。従って、本実施形態における第1ウィンドウ33及び第2ウィンドウ34のチャンバ30側と反対側の表面の温度は、比較例における第1ウィンドウ33及び第2ウィンドウ34のチャンバ30側と反対側の表面の温度と比べて高くなる。このため、本実施形態のガスレーザ装置100によれば、レーザ光が出射する際に第1ウィンドウ33及び第2ウィンドウ34が加熱される場合であっても、比較例のガスレーザ装置100と比べて、第1ウィンドウ33及び第2ウィンドウ34が受ける熱衝撃が小さくなり得る。また、レーザ光の出射の停止時に、第1ウィンドウ33及び第2ウィンドウ34の温度が低下する場合であっても、比較例のガスレーザ装置100と比べて、第1ウィンドウ33及び第2ウィンドウ34が受ける熱衝撃が小さくなり得る。従って、本実施形態のガスレーザ装置は、耐久性に優れ得る。
次に、実施形態2のガスレーザ装置について説明する。なお、上記において説明した構成と同様の構成については同一の符号を付し、特に説明する場合を除き、重複する説明は省略する。
図7は、本実施形態におけるガスレーザ装置の全体の概略構成例を示す模式図である。図7に示すように、本実施形態のガスレーザ装置100は、第1壁部51W及び第2壁部52Wを含む点において実施形態1のガスレーザ装置と異なる。
本実施形態におけるガスレーザ装置100の動作は、実施形態1におけるガスレーザ装置100の動作と同様である。ただし、第1主排気口EP1からガスが排気される際、第1光路管51でのガスは、第1スリット51Sを通過して第1ウィンドウ33の表面を流れ、第1主排気口EP1から排気される。また、第2主排気口EP2からガスが排気される際、第2光路管52でのガスは、第2スリット52Sを通過して第2ウィンドウ34の表面を流れ、第2主排気口EP2から排気される。
本実施形態のガスレーザ装置100では、第1壁部51Wが障壁となり、第1副排気口EP3からガスが排気される際、第1ウィンドウ33側にガスが流れることが抑制され得る。また、第2壁部52Wが障壁となり、第2副排気口EP4からガスが排気される際、第2ウィンドウ34側にガスが流れることが抑制され得る。このため、第1ウィンドウ33及び第2ウィンドウ34にかかる熱衝撃がより軽減され得る。
次に、実施形態3のガスレーザ装置について説明する。なお、上記において説明した構成と同様の構成については同一の符号を付し、特に説明する場合を除き、重複する説明は省略する。
図8は、本実施形態におけるガスレーザ装置の全体の概略構成例を示す模式図である。図8に示すように本実施形態のガスレーザ装置100は、実施形態1のレーザ発振器LOと同様の構成のマスターオシレータMOを含み、増幅器PAと、光伝送ユニット80,90とをさらに含む点において、実施形態1のガスレーザ装置100と主に異なる。
<第1の例>
まず、本実施形態のガスレーザ装置100の動作の第1の例について説明する。図9は、本実施形態におけるガスレーザ装置100がレーザ光を出射するまでの制御部COの動作の第1の例を示すフローチャートである。図9に示すように、本例では、レーザ光が出射されるまでの制御部COの動作はステップS31からステップS38を含む。
ガスレーザ装置100では、例えば、新規導入時やメンテナンス時等において、マスターオシレータMOにおける第1光路管51内及び第2光路管52内、及び、増幅器PAにおける第1光路管55内及び第2光路管56内に大気が入り込む。図9では、この状態がスタートの状態である。
本ステップでは、制御部COは、実施形態1のステップS12と同様に、マスターオシレータMO用の第1主排気バルブEV1、第2主排気バルブEV2を開く。更に本実施形態では、制御部COは、増幅器PA用の第1主排気バルブEV5及び第2主排気バルブEV6を開き、排気バルブEV9及び排気バルブEV10を開く。この時点では、各ガス供給バルブが閉まっているため、パージガスが供給されず、第1光路管51、第2光路管52、第1光路管55、及び第2光路管56内のガスは排気されない。
本ステップでは、制御部COは、実施形態1のステップS13と同様に、メインガス供給バルブSV0と、マスターオシレータMO用の第1ガス供給バルブSV1及び第2ガス供給バルブSV2とを開く。従って、第1ガス供給口SP1から第1光路管51内にパージガスが供給され、第2ガス供給口SP2から筐体41内にパージガスが供給される。また、制御部COは、増幅器PA用の第1ガス供給バルブSV3及び第2ガス供給バルブSV4を開く。従って、第1ガス供給口SP3から筐体91内にパージガスが供給され、第2ガス供給口SP4から第2光路管56内にパージガスが供給される。
本ステップでは、実施形態1のステップS14と同様に、制御部COは、ステップS33の状態を所定の第1期間T1維持する。本ステップで、マスターオシレータMOの第1光路管51、第2光路管52及び筐体41内の酸素濃度は所定の濃度以下となる。また、増幅器PAの第1光路管55、第2光路管56内の酸素濃度は所定の濃度以下となる。また、光伝送ユニット80の筐体81、光伝送ユニット90の筐体91、光路管57、エネルギーモニタモジュール20の筐体21、及び光路管53内の酸素濃度は所定の濃度以下となる。
本ステップでは、制御部COは、マスターオシレータMO用の第1副排気バルブEV3及び第2副排気バルブEV4を開く。従って、実施形態1のステップS15と同様にして、本ステップより前の状態と比べて、第1主排気口EP1及び第2主排気口EP2から排気されるガスの量は低下する。従って、第1光路管51内及び第2光路管52内のガスの流れが変化し、第1ウィンドウ33及び第2ウィンドウ34の表面を流れるガスの量は低下する。
本ステップでは、制御部COは、マスターオシレータMO用の第1主排気バルブEV1及び第2主排気バルブEV2を閉じる。従って、実施形態1のステップS16と同様にして、第1副排気口EP3及び第2副排気口EP4から排気されるガスの量は増加する。このため、第1光路管51及び第2光路管52内のガスの流れがさらに変化し、第1ウィンドウ33及び第2ウィンドウ34の表面を流れるガスの量はさらに低下する。
本ステップでは、制御部COは、ステップS35において、マスターオシレータMO用の第1副排気バルブEV3、第2副排気バルブEV4が開かれ、更に増幅器PA用の第1副排気バルブEV7、第2副排気バルブEV8が開かれてから所定の第2期間T2が経過するまでステップS36の状態を維持する。この第2期間T2は、例えば5分から10分である。従って、ステップS35が行われてから第2期間T2が経過するまでにステップS36が行われる。例えば、ステップS35とステップS36とが同時に行われてもよい。
本ステップでは、制御部COは、実施形態1のステップS18と同様にして、マスターオシレータMOの出力結合ミラーOC1からレーザ光を出射させる。また、制御部COは、充電器75及びパルスパワーモジュール76内のスイッチを制御して、電極71,72間に高電圧を印加する。電極71,72間に高電圧が印加されると、電極71,72間の絶縁が破壊され放電が起こる。この放電のエネルギーにより、電極71,72間のレーザガスに含まれるレーザ媒質は励起状態とされる。なお、制御部COは、マスターオシレータMOからレーザ光を出射されるまでに、電極71,72間のレーザ媒質が励起状態とされるよう、増幅器PAを制御する。出力結合ミラーOC1から出射するレーザ光は、光伝送ユニット80のミラー82,83で反射して、増幅器PAのリアミラーRM及び第2ウィンドウ74を介してチャンバ70内に伝搬する。このレーザ光により、電極71,72間の励起状態のレーザ媒質は誘導放出を起こし、光が増幅される。こうして、所定の波長のレーザ光が出力結合ミラーOC2とリアミラーRMとの間を共振し、レーザ光がさらに増幅される。そして、一部のレーザ光が、出力結合ミラーOC2を透過して、増幅器PAから出射する。増幅器PAから出射したレーザ光は、光伝送ユニット90のミラー92,93で反射して、光路管57、エネルギーモニタモジュール20、及び光路管53を介して、レーザ光出射ウィンドウOWから出射する。
次に、本実施形態のガスレーザ装置100の動作の第2の例について説明する。図10は、本実施形態におけるガスレーザ装置100がレーザ光を出射するまでの制御部COの動作の第2の例を示すフローチャートである。図10に示すように、本例では、レーザ光が出射されるまでの制御部COの動作は、ステップS34が本実施形態の第1の例と異なり、他のステップは本実施形態の第1の例の各ステップと同様である。
本例の本ステップでは、制御部COは、マスターオシレータMOの第1光路管51及び第2光路管52内の酸素濃度、及び、増幅器PAの第1光路管55及び第2光路管56内の酸素濃度が所定の第1濃度になるまでステップS33の状態を維持する。このため、本例のステップS34は、制御部COが酸素濃度計12から酸素濃度を示す信号を受信するステップS34aと、制御部COが受信した酸素濃度が所定の酸素濃度以下になっているか否かを判断するステップS34bを含む。
本実施形態では、制御部COは、ステップS34a及びステップS34bにおいて実施形態1のステップS14a及びステップS14bと同様の動作をする。ただし、本実施形態では、ステップS34bにおいて、酸素濃度が所定の第1濃度以下になっていない場合はステップS34aに戻り、酸素濃度が所定の第1濃度以下になっている場合はステップS35に進む。そして、ステップS35において、第1副排気バルブEV3及び第2副排気バルブEV4が開かれる。ただし、この場合に、第1光路管51及び第2光路管52内、及び、第1光路管55及び第2光路管56内の酸素濃度が所定の第1濃度以下になっていることを制御部COが判断する必要はない。
本実施形態のガスレーザ装置100によれば、マスターオシレータMOから出射する光を増幅器PAで増幅するため、パワーのより高いレーザ光を出射し得る。また、実施形態1と同様に、レーザ光が出射する際にマスターオシレータMOの第1ウィンドウ33が加熱される場合であっても、第1ウィンドウ33の表面を流れるガスの量が低下しない場合と比べて、第1ウィンドウ33が受ける熱衝撃が小さくなり得る。また、レーザ光が出射する際に第2ウィンドウ34が加熱される場合であっても、第2ウィンドウ34の表面を流れるガスの量が低下しない場合と比べて、第2ウィンドウ34が受ける熱衝撃が小さくなり得る。また、レーザ光が出射する際に増幅器PAの第1ウィンドウ73が加熱される場合であっても、第1ウィンドウ73の表面を流れるガスの量が低下しない場合と比べて、第1ウィンドウ73が受ける熱衝撃が小さくなり得る。また、レーザ光が出射する際に第2ウィンドウ74が加熱される場合であっても、第2ウィンドウ74の表面を流れるガスの量が低下しない場合と比べて、第2ウィンドウ74が受ける熱衝撃が小さくなり得る。従って、本実施形態のガスレーザ装置は、耐久性に優れ得る。
次に、実施形態4のガスレーザ装置について説明する。なお、上記において説明した構成と同様の構成については同一の符号を付し、特に説明する場合を除き、重複する説明は省略する。
図11は、本実施形態におけるガスレーザ装置の全体の概略構成例を示す模式図である。図11に示すように、本実施形態のガスレーザ装置100は、マスターオシレータMOが第1壁部51W及び第2壁部52Wを含み、増幅器PAが第1壁部55W及び第2壁部56Wを含む点において実施形態3のガスレーザ装置と異なる。
本実施形態におけるガスレーザ装置100の動作は、実施形態3におけるガスレーザ装置100の動作と同様である。ただし、マスターオシレータ用の第1主排気口EP1からガスが排気される際、第1光路管51でのガスは、第1スリット51Sを通過して第1ウィンドウ33の表面を流れ、第1主排気口EP1から排気される。また、第2主排気口EP2からガスが排気される際、第2光路管52でのガスは、第2スリット52Sを通過して第2ウィンドウ34の表面を流れ、第2主排気口EP2から排気される。また、増幅器PA用の第1主排気口EP5からガスが排気される際、第1光路管55でのガスは、第1スリット55Sを通過して第1ウィンドウ73の表面を流れ、第1主排気口EP5から排気される。また、第2主排気口EP6からガスが排気される際、第2光路管56でのガスは、第2スリット56Sを通過して第2ウィンドウ74の表面を流れ、第2主排気口EP6から排気される。
本実施形態のガスレーザ装置100では、実施形態2と同様に、マスターオシレータMO用の第1副排気口EP3及び第2副排気口EP4からガスが排気される際、第1ウィンドウ33側及び第2ウィンドウ34側にガスが流れることが抑制され得る。また、増幅器PAの第1壁部55Wが障壁となり、第1副排気口EP7からガスが排気される際、第1ウィンドウ73側にガスが流れることが抑制され得る。また、第2壁部56Wが障壁となり、第2副排気口EP8からガスが排気される際、第2ウィンドウ74側にガスが流れることが抑制され得る。このため、第1ウィンドウ33、第2ウィンドウ34、第1ウィンドウ73、及び第2ウィンドウ74にかかる熱衝撃をより軽減し得る。
本明細書及び特許請求の範囲全体で使用される用語は、明記が無い限り「限定的でない」用語と解釈されるべきである。たとえば、「含む」又は「含まれる」という用語は、「含まれるものとして記載されたものに限定されない」と解釈されるべきである。「有する」という用語は、「有するものとして記載されたものに限定されない」と解釈されるべきである。また、不定冠詞「1つの」は、「少なくとも1つ」又は「1又はそれ以上」を意味すると解釈されるべきである。また、「A、B及びCの少なくとも1つ」という用語は、「A」「B」「C」「A+B」「A+C」「B+C」又は「A+B+C」と解釈されるべきである。さらに、それらと「A」「B」「C」以外のものとの組み合わせも含むと解釈されるべきである。
Claims (16)
- レーザガスが封入されるチャンバと、
前記チャンバに設けられレーザ光が透過するウィンドウと、
前記チャンバにおける前記ウィンドウが設けられる位置を囲んで前記チャンバに接続される光路管と、
前記光路管内にパージガスを供給するガス供給口と、
前記光路管内のガスを排気する排気口と、
制御部と、
を備え、
前記排気口は、前記ガスが前記ウィンドウの表面を流れるように前記光路管に設けられる主排気口と、前記ウィンドウが設けられる位置及び前記主排気口が設けられる位置よりも前記光路管内における前記ガスの流れの上流側において前記光路管に設けられる副排気口と、を含み、
前記制御部は、前記チャンバから前記レーザ光が出射される前において前記主排気口から前記ガスを排気させ、前記チャンバから前記レーザ光が出射される少なくとも一部の期間において前記副排気口から前記ガスを排気させる
ガスレーザ装置。 - 請求項1に記載のガスレーザ装置であって、
前記主排気口は、前記ウィンドウの近傍に設けられる。 - 請求項1に記載のガスレーザ装置であって、
前記制御部は、前記副排気口から前記ガスが排気されるとき前記主排気口からの前記ガスの排気を停止させる。 - 請求項1に記載のガスレーザ装置であって、
前記制御部は、前記主排気口からの前記ガスの排気が開始されてから所定の第1期間経過後に前記副排気口から前記ガスを排気させる。 - 請求項1に記載のガスレーザ装置であって、
前記制御部は、前記主排気口からの前記ガスの排気が開始され前記光路管内における酸素濃度が所定の第1濃度以下となった場合に前記副排気口から前記ガスを排気させる。 - 請求項5に記載のガスレーザ装置であって、
前記チャンバ及び前記光路管が収容され、前記排気口からの前記ガスが放出される筐体を更に備え、
前記制御部は、前記筐体内の酸素濃度が所定の第2濃度以下となった場合に前記副排気口から前記ガスを排気させ、
前記第2濃度は、前記光路管内における酸素濃度が前記所定の第1濃度以下である場合における前記筐体内の酸素濃度である。 - 請求項1に記載のガスレーザ装置であって、
前記制御部は、前記副排気口からの前記ガスの排気を開始した後に前記チャンバから前記レーザ光を出射させる。 - 請求項7に記載のガスレーザ装置であって、
前記制御部は、前記副排気口からの前記ガスの排気を開始してから所定の第2期間が経過した後に前記チャンバから前記レーザ光を出射させる。 - 請求項1に記載のガスレーザ装置であって、
前記チャンバの前記ウィンドウの設けられる位置は、前記光路管の内壁と隙間をあけて前記光路管内に入り込むよう突出しており、
前記主排気口は、前記光路管における前記ウィンドウを通り前記レーザ光の進行方向に垂直な面を含む位置、または、前記光路管における前記面よりも前記チャンバ側の位置に設けられる。 - 請求項1に記載のガスレーザ装置であって、
前記副排気口よりも前記ガスの流れの上流側に前記レーザ光が入射する光学素子が配置される。 - 請求項1に記載のガスレーザ装置であって、
前記光路管内における前記主排気口と前記副排気口との間に設けられ、前記レーザ光が透過するスリットが形成された壁部を更に備える。 - 請求項1に記載のガスレーザ装置であって、
前記ウィンドウは、前記チャンバの対向する位置に設けられる第1ウィンドウ及び第2ウィンドウを含み、
前記光路管は、前記チャンバにおける前記第1ウィンドウが設けられる位置を囲んで前記チャンバに接続される第1光路管、及び、前記チャンバにおける前記第2ウィンドウが設けられる位置を囲んで前記チャンバに接続される第2光路管を含み、
前記ガス供給口は、前記第1光路管内に前記パージガスを供給する第1ガス供給口、及び、前記第2光路管内に前記パージガスを供給する第2ガス供給口を含み、
前記排気口は、前記第1光路管内のガスを排気する第1排気口、及び、前記第2光路管内のガスを排気する第2排気口を含み、
前記第1排気口は、前記ガスが前記第1ウィンドウの表面を流れるように前記第1光路管に設けられる、前記主排気口としての第1主排気口と、前記第1ウィンドウが設けられる位置及び前記第1主排気口が設けられる位置よりも前記第1光路管内における前記ガスの流れの上流側において前記第1光路管に設けられる、前記副排気口としての第1副排気口と、を含み、
前記第2排気口は、前記ガスが前記第2ウィンドウの表面を流れるように前記第2光路管に設けられる、前記主排気口としての第2主排気口と、前記第2ウィンドウが設けられる位置及び前記第2主排気口が設けられる位置よりも前記第2光路管内における前記ガスの流れの上流側において前記第2光路管に設けられる、前記副排気口としての第2副排気口と、を含む。 - 請求項1に記載のガスレーザ装置であって、
前記チャンバは、発振する光を出射するマスターオシレータ用チャンバ、または、入射する光を増幅して出射する増幅器用チャンバである。 - レーザガスが封入され発振する光を出射するマスターオシレータ用チャンバ、及び、レーザガスが封入され前記マスターオシレータ用チャンバから出射する光を増幅して出射する増幅器用チャンバと、
前記マスターオシレータ用チャンバに設けられレーザ光が透過するマスターオシレータ用ウィンドウ、及び、前記増幅器用チャンバに設けられ前記レーザ光が透過する増幅器用ウィンドウと、
前記マスターオシレータ用チャンバにおける前記マスターオシレータ用ウィンドウが設けられる位置を囲んで前記マスターオシレータ用チャンバに接続されるマスターオシレータ用光路管、及び、前記増幅器用チャンバにおける前記増幅器用ウィンドウが設けられる位置を囲んで前記増幅器用チャンバに接続される増幅器用光路管と、
前記マスターオシレータ用光路管内にパージガスを供給するマスターオシレータ用ガス供給口、及び、前記増幅器用光路管内に前記パージガスを供給する増幅器用ガス供給口と、
前記マスターオシレータ用光路管内のガスを排気するマスターオシレータ用排気口、及び、前記増幅器用光路管内のガスを排気する増幅器用排気口と、
制御部と、
を備え、
前記マスターオシレータ用排気口は、前記マスターオシレータ用光路管内における前記ガスが前記マスターオシレータ用ウィンドウの表面を流れるように前記マスターオシレータ用光路管に設けられるマスターオシレータ用主排気口と、前記マスターオシレータ用ウィンドウが設けられる位置及び前記マスターオシレータ用主排気口が設けられる位置よりも前記マスターオシレータ用光路管内における前記ガスの流れの上流側において前記マスターオシレータ用光路管に設けられるマスターオシレータ用副排気口と、を含み、
前記増幅器用排気口は、増幅器用光路管内における前記ガスが前記増幅器用ウィンドウの表面を流れるように前記増幅器用光路管に設けられる増幅器用主排気口と、前記増幅器用ウィンドウが設けられる位置及び前記増幅器用主排気口が設けられる位置よりも前記増幅器用光路管内における前記ガスの流れの上流側において前記増幅器用光路管に設けられる増幅器用副排気口と、を含み、
前記制御部は、前記マスターオシレータ用チャンバから前記レーザ光が出射される前において前記マスターオシレータ用主排気口及び前記増幅器用主排気口から前記ガスを排気させ、前記マスターオシレータ用チャンバから前記レーザ光が出射される少なくとも一部の期間において前記マスターオシレータ用副排気口及び前記増幅器用副排気口から前記ガスを排気させる
ガスレーザ装置。 - レーザガスが封入されるチャンバと、
前記チャンバに設けられレーザ光が透過するウィンドウと、
前記チャンバにおける前記ウィンドウが設けられる位置を囲んで前記チャンバに接続される光路管と、
前記光路管内にパージガスを供給するガス供給口と、
前記光路管内のガスを排気する排気口と、
制御部と、
を備え、
前記排気口は、前記ガスが前記ウィンドウの表面を流れるように前記光路管に設けられる主排気口と、前記ウィンドウが設けられる位置及び前記主排気口が設けられる位置よりも前記光路管内における前記ガスの流れの上流側において前記光路管に設けられる副排気口と、を含む、ガスレーザ装置によるレーザ光の出射方法であって、
前記制御部は、前記チャンバから前記レーザ光が出射される前において前記主排気口から前記ガスを排気させ、前記チャンバから前記レーザ光が出射される少なくとも一部の期間において前記副排気口から前記ガスを排気させる、
ガスレーザ装置のレーザ光の出射方法。 - レーザガスが封入されるチャンバと、
前記チャンバに設けられレーザ光が透過するウィンドウと、
前記チャンバにおける前記ウィンドウが設けられる位置を囲んで前記チャンバに接続される光路管と、
前記光路管内にパージガスを供給するガス供給口と、
前記光路管内のガスを排気する排気口と、
制御部と、
を備え、
前記排気口は、前記ガスが前記ウィンドウの表面を流れるように前記光路管に設けられる主排気口と、前記ウィンドウが設けられる位置及び前記主排気口が設けられる位置よりも前記光路管内における前記ガスの流れの上流側において前記光路管に設けられる副排気口と、を含み、
前記制御部は、前記チャンバから前記レーザ光が出射される前において前記主排気口から前記ガスを排気させ、前記チャンバから前記レーザ光が出射される少なくとも一部の期間において前記副排気口から前記ガスを排気させる、ガスレーザ装置から出射されるレーザ光を露光装置に入射させ、
電子デバイスを製造するために、前記露光装置内で感光基板上に前記レーザ光を露光すること、を含む
電子デバイスの製造方法。
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| PCT/JP2019/006241 WO2020170350A1 (ja) | 2019-02-20 | 2019-02-20 | ガスレーザ装置、ガスレーザ装置のレーザ光の出射方法、及び電子デバイスの製造方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPWO2020170350A1 JPWO2020170350A1 (ja) | 2021-12-16 |
| JP7203944B2 true JP7203944B2 (ja) | 2023-01-13 |
Family
ID=72143591
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2021501193A Active JP7203944B2 (ja) | 2019-02-20 | 2019-02-20 | ガスレーザ装置、ガスレーザ装置のレーザ光の出射方法、及び電子デバイスの製造方法 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US12341313B2 (ja) |
| JP (1) | JP7203944B2 (ja) |
| CN (1) | CN113287234B (ja) |
| WO (1) | WO2020170350A1 (ja) |
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- 2019-02-20 CN CN201980088640.3A patent/CN113287234B/zh active Active
- 2019-02-20 WO PCT/JP2019/006241 patent/WO2020170350A1/ja not_active Ceased
- 2019-02-20 JP JP2021501193A patent/JP7203944B2/ja active Active
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN113287234A (zh) | 2021-08-20 |
| WO2020170350A1 (ja) | 2020-08-27 |
| US12341313B2 (en) | 2025-06-24 |
| JPWO2020170350A1 (ja) | 2021-12-16 |
| CN113287234B (zh) | 2023-08-01 |
| US20210336403A1 (en) | 2021-10-28 |
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Legal Events
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|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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