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JP7204922B2 - コバルト前駆体、その製造方法およびこれを用いた薄膜の製造方法 - Google Patents
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コバルト前駆体、その製造方法およびこれを用いた薄膜の製造方法 Download PDF

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Description

本発明は、気相蒸着により薄膜蒸着が可能な気相蒸着化合物に関し、具体的には、原子層蒸着法(Atomic Layer Deposition、ALD)または化学気相蒸着法(Chemical Vapor Deposition、CVD)に適用可能であり、反応性、揮発性および熱的安定性に優れた新規コバルト前駆体、その製造方法およびこれを用いた薄膜の製造方法に関する。
ウエハ上に前駆体を用いた表面反応により絶縁膜や導電性薄膜などを形成させる原子層蒸着法(Atomic Layer Deposition、ALD)または化学気相蒸着法(Chemical Vapor Deposition、CVD)において適切な前駆体の選択は工程装置とともに非常に重要な要素である。
コバルトの場合、コバルトボライド(CoB)の形成によるコンタクト抵抗増加の問題がないだけでなく、コバルトシリサイド膜の形成時、相対的に比抵抗が低く、熱的安定性に優れるという利点により次世代半導体工程におけるオーミックコンタクト層としてコバルトシリサイドを使用しようとする研究が進められている。
特に、半導体素子の集積度が高くなりその構造が複雑化を増すにつれ、高いアスペクト比(high aspect ratio)を有する構造に優れた段差被覆性(step coverage)を有するコバルト薄膜が求められている。
また、コバルト酸化物薄膜は、磁気検出器(magnetic detector)、湿気センサ、酸素センサおよび超伝導体などの多様な分野で応用が期待されている。その他にも、金属コバルト薄膜を接着層として用いて銅薄膜と拡散防止膜の接着性を向上させる研究も活発に進められている。
一般的に、従来広く用いられているコバルト蒸着用前駆体化合物としては、Co(CO)(NO)[cobalt tricarbonyl nitrosyl]、Co(CO)Cp[cabalt dicarbonyl cyclopentadienyl]、Co(CO)[dicobalt octacarbonyl]、CoCp[biscyclopentadienyl cobalt]などが知られている。
このうち、Co(CO)(NO)、Co(CO)Cp化合物は、常温で液体であり、蒸気圧が極めて高いという利点があるが、常温で熱分解が発生するなど熱的に不安定であるため、工程上多くの困難をもたらしうるという欠点がある。また、Co(CO)およびCoCp化合物は、常温で固体であり、蒸気圧も比較的低いため、Co(CO)(NO)、Co(CO)Cp化合物より工程の適用がさらに難しい問題がある。
これとともに、シクロペンタジエニル(cyclopentadienyl)系の化合物は、蒸着温度が300℃以上と相対的に高いだけでなく、リガンドの分解特性上、炭素汚染が深刻に発生する問題点がある。
これらの問題点を解決するために、C=N二重結合を含んでいるジアザジエン(Diazadiene、DAD)リガンドを含むコバルト前駆体や中性リガンドを含む前駆体に関する研究が進められていたが、依然として多様な蒸着工程で活用できる反応性、揮発性および熱的安定性に優れたコバルト前駆体に関する研究が切実に求められているのが現状である。
本発明は、上述した従来のコバルト前駆体の問題点を解決するためのものであって、反応性、熱的安定性および揮発性に優れた薄膜蒸着用コバルト前駆体化合物を提供することを目的とする。
また、本発明は、前記コバルト前駆体化合物を用いた薄膜の製造方法を提供しようとする。
しかし、本願が解決しようとする課題は以上に述べた課題に制限されず、述べていないさらに他の課題は以下の記載から当業者に明確に理解されるであろう。
コバルト薄膜(特に、コバルト金属薄膜)の蒸着時、コバルト1価または2価(Co1+、Co2+)前駆体を用いる場合、水素ガスを使用しければならなかったり、薄膜の汚染が誘発されるなどの欠点があった。
これに対し、コバルト0価化合物が前駆体として用いられる場合、コバルト1価または2価(Co1+、Co2+)前駆体の使用時に発生しうる問題点が解消できるが、まだコバルト0価化合物前駆体は多く知られていない状態である。
C=N二重結合を含んでいるジアザジエン(Diazadiene、DAD)リガンドは、金属と結合方式が0価、1価、2価と多様であり、リガンドが0価の形態で作用する場合、コバルト薄膜の形成に適したリガンドと判断されている。
特に、Co(DAD)骨格に電子を提供できる中性リガンド(neutral ligand)を導入してコバルト金属の周りに空いているサイトを取り囲んで化合物を安定化させ、従来のコバルト前駆体化合物を越える、反応性、揮発性および熱的安定性に優れた、常温で液体状態である新規コバルト前駆体を得ることができる。
本願の一側面は、下記化学式1で表される化合物を提供する。
Figure 0007204922000001
前記化学式1において、R、R、RおよびRは、それぞれ独立して、水素;置換もしくは非置換の炭素数1~6の線状または分枝状、飽和または不飽和のアルキル基、またはこれらの異性体であり、Lは、電子対または多重結合を含む中性リガンドである。
本願の他の側面は、前記化合物を含む気相蒸着前駆体を提供する。
本願のさらに他の側面は、前記気相蒸着前駆体をチャンバに導入するステップを含む薄膜の製造方法を提供する。
本発明に係る新規気相蒸着コバルト化合物および前記気相蒸着化合物を含む前駆体は、反応性、揮発性および熱的安定性に優れていて高温で薄膜蒸着が可能であり、熱損失による残留物が少なくて工程上副反応を防止することができる。
また、本発明の気相蒸着前駆体は、粘度および気化率が低くて均一な薄膜蒸着が可能であり、これによる優れた薄膜物性、厚さおよび段差被覆性の確保が可能である。
前記のような物性は、原子層蒸着法および化学気相蒸着法に適した前駆体を提供し、優れた薄膜特性に寄与する。
本発明の新規コバルト前駆体は、下記化学反応式1で表した合成反応により製造できる。
まず、ハロゲン元素(X)が置換されたコバルト化合物(CoX)とC=N二重結合を含んでいるジアザジエン(Diazadiene、DAD)リガンド化合物とを反応させてCo(DAD)骨格を有する化合物を合成する。以後、Co(DAD)骨格に電子を提供できる電子対または多重結合を含む中性リガンドを導入して新規コバルト前駆体を合成した。
Figure 0007204922000002
前記化学反応式1において、Xは、ハロゲン元素であり、R、R、RおよびRは、それぞれ独立して、水素;置換もしくは非置換の炭素数1~6の線状または分枝状、飽和または不飽和のアルキル基、またはこれらの異性体であり、Lは、電子対または多重結合を含む中性リガンドである。
以下、本発明の属する技術分野における通常の知識を有する者が容易に実施できるように本願の実施形態および実施例を詳しく説明する。しかし、本願は種々の異なる形態で実現可能であり、ここで説明する実施形態および実施例に限定されない。
本願の一側面は、下記化学式1で表される化合物を提供する。
Figure 0007204922000003
前記化学式1において、R、R、RおよびRは、それぞれ独立して、水素;置換もしくは非置換の炭素数1~6の線状または分枝状、飽和または不飽和のアルキル基、またはこれらの異性体であり、Lは、電子対または多重結合を含む中性リガンド(neutral ligand)であることが好ましい。
本願の一実施形態において、より好ましくは、R、R、RおよびRは、それぞれ水素、メチル基、エチル基、n-プロピル基、iso-プロピル基、n-ブチル基、iso-ブチル基、sec-ブチル基、tert-ブチル基、およびこれらの異性体からなる群より選択されるいずれか1つであってもよいが、これに限定されるものではない。
本願の一実施形態において、より好ましくは、Lは、カルボニル(carbonyl、CO)、ニトロシル(nitrosyl、NO)、シアン(cyan、CN)、イソシアニド(isocyanide)、ニトリル(nitrile)、アルキン(alkyne)、アルケン(alkene)、ジエン(diene)、またはトリエン(triene)を含むリガンドからなる群より選択されるいずれか1つであってもよいが、これに限定されるものではない。
本願の一実施形態において、さらに好ましくは、Lは、下記のような構造式を有することができるが、これに限定されるものではない。
1)アルキン(alkyne):R’-C≡C-R
2)アルケン(alkene):R’R’C=CR’R
3)ジエン(diene):R’R’C=CR’-CR10’=CR11’R12
4)トリエン(triene):R13’R14’C=CR15’-CR16’=CR17’-CR18’=CR19’R20
5)サイクリックジエン(cyclic diene):1,3(1,4)-cyclohexadiene、1,3(1,4)-cycloheptadiene、cyclopentadiene、1,5-cyclooctadiene、1,5-dimethyl-1,5-cyclooctadiene
6)サイクリックトリエン(cyclic triene):1,3,5-cycloheptadiene
7)イソシアニド(isocyanide):R21’-NC
8)アルキルニトリル(alkyl nitrile):R22’-CN
前記1)~8)において、R’~R22’は、それぞれ独立して、水素;置換もしくは非置換の炭素数1~6の線状または分枝状、飽和または不飽和のアルキル基、またはこれらの異性体であることが好ましい。
本願の一実施形態において、先に説明した本発明の化合物は、常温で液状であってもよいが、これに限定されるものではない。
本願の一実施形態において、前記化学式1で表される化合物は、下記化学式1-1で表されることを特徴とする化合物であることが好ましい。
Figure 0007204922000004
前記化学式1-1において、R、R、RおよびRは、前記化学式1と同一であり、RおよびRは、それぞれ独立して、水素;置換もしくは非置換の炭素数1~3の線状または分枝状、飽和または不飽和のアルキル基、またはこれらの異性体であることが好ましい。
本願の他の側面は、先に説明した本発明の化合物を含む気相蒸着前駆体を提供する。
本願のさらに他の側面は、本発明の気相蒸着前駆体をチャンバに導入するステップを含む薄膜の製造方法を提供する。前記気相蒸着前駆体をチャンバに導入するステップは、物理吸着、化学吸着、または物理および化学吸着するステップを含むことができる。
本願の一実施形態において、前記薄膜の製造方法は、本発明の気相蒸着前駆体と反応ガスを順次に導入する原子層蒸着法(Atomic Layer Deposition、ALD)と本発明の気相蒸着前駆体と反応ガスを継続して注入して成膜する化学気相蒸着法(Chemical Vapor Deposition、CVD)をすべて含むことができる。
より具体的には、前記蒸着法は、有機金属化学気相蒸着(Metal Organic Chemical Vapor Deposition、MOCVD)、低圧化学気相蒸着(Low Pressure Chemical Vapor Deposition、LPCVD)、パルス化化学気相蒸着法(P-CVD)、プラズマ強化原子層蒸着法(PE-ALD)、またはこれらの組み合わせを含むことができるが、これに限定されるものではない。
本願の一実施形態において、前記薄膜の製造方法は、反応ガスとして、水素(H)、酸素(O)原子含有化合物(または混合物)、窒素(N)原子含有化合物(または混合物)、またはケイ素(Si)原子含有化合物(または混合物)の中から選択されたいずれか1つ以上の反応ガスを注入するステップをさらに含むことができる。
より具体的には、水(HO)、酸素(O)、水素(H)、オゾン(O)、アンモニア(NH)、ヒドラジン(N)、またはシラン(Silane)の中から選択されたいずれか1つ以上を反応ガスとして使用することができるが、これに限定されるものではない。
具体的には、コバルト酸化物薄膜を蒸着するために、反応ガスとして、水蒸気(HO)、酸素(O)、およびオゾン(O)を使用することができ、コバルト窒化物薄膜を蒸着するために、反応ガスとして、アンモニア(NH)またはヒドラジン(N)を使用することができる。
また、金属コバルト薄膜を蒸着するために、反応ガスとして、水素(H)またはシラン(Silane)類の化合物を使用することができ、コバルトシリサイド(CoSiまたはCoSi)薄膜を蒸着するために、反応ガスとして、水素(H)またはシラン類の化合物を使用することができる。
本発明の薄膜の製造方法により製造された薄膜は、コバルト金属薄膜、コバルト酸化薄膜、コバルト窒化薄膜、またはコバルトシリサイド薄膜であってもよいが、これに限定されるものではない。
以下、実施例を用いて本願をより具体的に説明するが、本願がこれに限定されるものではない。
本発明の新規コバルト前駆体は、下記化学反応式1で表した合成反応により製造できる。
まず、ハロゲン元素(X)が置換されたコバルト化合物(CoX)とC=N二重結合を含んでいるジアザジエン(Diazadiene、DAD)リガンド化合物とを反応させてCo(DAD)骨格を有する化合物を合成する。以後、Co(DAD)骨格に電子を提供できる電子対または多重結合を含む中性リガンドを導入して新規コバルト前駆体を合成した。
Figure 0007204922000005
前記化学反応式1において、Xは、ハロゲン元素であり、R、R、RおよびRは、それぞれ独立して、水素;置換もしくは非置換の炭素数1~6の線状または分枝状、飽和または不飽和のアルキル基、またはこれらの異性体であり、Lは、電子対または多重結合を含む中性リガンドである。
[実施例1]
Co(DAD)Br化合物の合成
下記化学反応式2に表したCo(DAD)Br化合物を合成するために、フラスコにCoBr(1当量)をTHF溶媒に入れて、低温で撹拌させた後、溶媒に溶かしたDADリガンド化合物(1当量)をゆっくり入れた。混合物を常温で一晩撹拌し、反応が終了した後、溶媒を除去して固体化合物を得た。
実施例1で使用されたDADリガンド化合物は、下記化学反応式2のR、Rが、それぞれ独立して、イソプロピル(isopropyl、iPr)またはtert-ブチル(tert-butyl、tBu)であり、R、Rは、それぞれ独立して、水素(H)、メチル(Me)、またはエチル(Et)であった。
[実施例2]
Co(DAD)(dienyl ligand)化合物の合成
下記化学反応式2に表しているように、フラスコにNa/K合金(alloy)(1当量)をTHFに入れて、低温に下げた後、溶媒に溶かした実施例1により合成されたCo(DAD)Br(1当量)をゆっくり入れた。混合物に中性リガンドに相当するジエニルリガンド(dienyl ligand)化合物を入れて、常温で一晩撹拌した後、反応が終了すると、混合物を減圧濾過し、溶媒を除去する。
得られた化合物を再びペンタン(pentane)に溶かした後、減圧濾過し、溶媒を除去して蒸留または昇華法で精製して純粋な最終化合物を得た。
実施例2で使用されたジエニルリガンド(dienyl ligand)化合物は、下記化学反応式2におけるR、Rが、それぞれ独立して、水素またはメチル(Me)であった。
Figure 0007204922000006
[製造例1]
化学気相蒸着法(CVD)を利用してコバルト薄膜を製造した。
実施例1または2の新規コバルト前駆体が0.02Mの濃度でオクタン(octane)に含まれている前駆体を出発前駆体溶液(starting precursor solution)として使用した。この前駆体溶液を気化させるために、0.1cc/minの流速で50~150℃の温度が維持される気化器に伝達した。このように気化した前駆体を50~300sccmのヘリウム(キャリアガス)を用いて蒸着チャンバに伝達した。反応ガスとしては水素(H)を使用し、1L/min(1pm)の流速で蒸着チャンバに供給した。蒸着チャンバの圧力は1~20torrに調節し、蒸着温度は80~300℃に調節した。このような条件で約15分間蒸着工程を行った。
[製造例2]
原子層蒸着法(ALD)を利用してコバルト薄膜を製造した。
基板上に実施例1または2の新規コバルト前駆体と酸素(O)を含む反応ガスを交互に供給してコバルト薄膜を製造した。前駆体と反応ガスを供給した後には、それぞれパージガスであるアルゴンを供給して、蒸着チャンバ内に残存する前駆体と反応ガスをパージした。前駆体の供給時間は8~15秒に調節し、反応ガスの供給時間も8~15秒に調節した。蒸着チャンバの圧力は1~20torrに調節し、蒸着温度は80~300℃に調節した。
[製造例3]
原子層蒸着法(ALD)を利用してコバルト薄膜を製造した。
抵抗が0.02Ωmのp-型Si(100)ウエハを用いた。蒸着に先立ち、p-型Siウエハはアセトン-エタノール-脱イオン水(DI water)にそれぞれ10分ずつ超音波処理(Ultra sonic)して洗浄した。Siウエハ上に形成された自然酸化物薄膜はHF10%(HF:HO=1:9)の溶液に10秒間浸漬した後に除去した。
[Co(DAD)(dienyl ligand)前駆体](10秒/15秒)-[Ar](10~30秒)-[O](5秒/8秒/10秒)-[Ar](10~30秒)の順に供給し、パージのためのアルゴン(Ar)の流量は1000sccmとした。反応ガスとしては224g/cmの濃度のオゾン(O)を使用し、各反応気体は空圧バルブのon/offを調節して注入し、80~300℃の工程温度で成膜した。
従来のコバルト化合物は、常温で不安定であるという欠点により前駆体としての使用が難しかった。これに対し、本発明であるジアザジエン(diazadiene、DAD)リガンドと中性リガンドを共に含む新規コバルト前駆体は、熱安定性が相対的に高いとともに、酸化性反応気体との反応性も高いという利点がある。
また、本発明であるジアザジエン(DAD)リガンドと中性リガンドを共に含む新規コバルト前駆体により均一な薄膜蒸着が可能であり、これによって優れた薄膜物性、厚さおよび段差被覆性を確保することができる。
本発明の範囲は、上記の詳細な説明よりは後述する特許請求の範囲により示され、特許請求の範囲の意味および範囲、そしてその均等概念から導出されるあらゆる変更または変形された形態が本発明の範囲に含まれると解釈されなければならない。
本発明は、気相蒸着により薄膜蒸着が可能な気相蒸着化合物に関し、具体的には、原子層蒸着法(Atomic Layer Deposition、ALD)または化学気相蒸着法(Chemical Vapor Deposition、CVD)に適用可能であり、反応性、揮発性および熱的安定性に優れていて高温で薄膜蒸着が可能であり、熱損失による残留物が少なくて工程上副反応を防止することができる。
また、本発明の気相蒸着前駆体は、粘度および気化率が低くて均一な薄膜蒸着が可能であり、これによる優れた薄膜物性、厚さおよび段差被覆性の確保が可能である。
上記のような物性は、原子層蒸着法および化学気相蒸着法に適した前駆体を提供し、優れた薄膜特性に寄与する。

Claims (6)

  1. 下記化学式1-1で表される化合物:
    Figure 0007204922000007
    前記化学式1-1において、
    1、R2、R3およびR4は、それぞれ独立して、水素;置換もしくは非置換の炭素数1~6の線状または分枝状のアルキル基であり、
    5およびR6は、それぞれ独立して、水素;置換もしくは非置換の炭素数1~3の線状または分枝状のアルキル基である。
  2. 請求項1に記載の化合物を含む、気相蒸着前駆体。
  3. 請求項2に記載の気相蒸着前駆体をチャンバに導入するステップを含む、薄膜の製造方法。
  4. 前記薄膜の製造方法は、原子層蒸着法(Atomic Layer Deposition、ALD)または化学気相蒸着法(Chemical Vapor Deposition、CVD)を含む、請求項3に記載の薄膜の製造方法。
  5. 反応ガスとして、水素(H2)、酸素(O)原子含有化合物、窒素(N)原子含有化合物、またはケイ素(Si)原子含有化合物の中から選択されたいずれか1つ以上を注入するステップをさらに含む、請求項3に記載の薄膜の製造方法。
  6. 前記反応ガスは、水(H2O)、酸素(O2)、水素(H2)、オゾン(O3)、アンモニア(NH3)、ヒドラジン(N24)、またはシラン(Silane)の中から選択されたいずれか1つ以上である、請求項5に記載の薄膜の製造方法。
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KR102432833B1 (ko) * 2020-07-29 2022-08-18 주식회사 한솔케미칼 유기금속 화합물, 이를 포함하는 전구체 조성물, 및 이를 이용한 박막의 제조방법
KR102557282B1 (ko) 2020-12-21 2023-07-20 주식회사 한솔케미칼 신규 화합물, 이를 포함하는 전구체 조성물, 및 이를 이용한 박막의 제조방법
KR20240106986A (ko) 2022-12-28 2024-07-08 에스케이트리켐 주식회사 금속 함유 박막 형성용 전구체 및 이를 이용한 박막의 형성 방법 및 상기 박막을 포함하는 소자.

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017007952A (ja) 2015-06-17 2017-01-12 株式会社Adeka 新規な化合物、薄膜形成用原料及び薄膜の製造方法
WO2017104619A1 (ja) 2015-12-16 2017-06-22 東ソー株式会社 置換シクロペンタジエニルコバルト錯体及びその製造方法、コバルト含有薄膜及びその作製方法

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100459609B1 (ko) 2002-10-14 2004-12-03 주식회사 메카로닉스 코발트 및 코발트실리사이드 박막 증착을 위한유기코발트화합물과 그 제조방법 및 박막 제조방법
KR20100061183A (ko) 2008-11-28 2010-06-07 주식회사 유피케미칼 코발트 금속 박막 또는 코발트 함유 세라믹 박막 증착용 유기 금속 전구체 화합물 및 이를 이용한 박막 제조 방법
KR101719526B1 (ko) 2010-11-17 2017-04-04 주식회사 유피케미칼 다이아자다이엔계 금속 화합물, 이의 제조 방법 및 이를 이용한 박막 형성 방법
WO2013117955A1 (en) * 2012-02-07 2013-08-15 L'air Liquide, Societe Anonyme Pour L'etude Et L'exploitation Des Procedes Georges Claude Method for the deposition of a ruthenium containing film using arene diazadiene ruthenium(0) precursors
KR101936162B1 (ko) * 2014-06-13 2019-01-08 주식회사 유피케미칼 액체 전구체 조성물, 이의 제조 방법, 및 상기 조성물을 이용한 막의 형성 방법

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017007952A (ja) 2015-06-17 2017-01-12 株式会社Adeka 新規な化合物、薄膜形成用原料及び薄膜の製造方法
WO2017104619A1 (ja) 2015-12-16 2017-06-22 東ソー株式会社 置換シクロペンタジエニルコバルト錯体及びその製造方法、コバルト含有薄膜及びその作製方法

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