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JP7220128B2 - Glass bottle inspection method and glass bottle manufacturing method - Google Patents
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Description

本発明は、胴部の表面に彫刻を有するガラスびんの検査方法及び当該ガラスびんの製造方法に関する。 TECHNICAL FIELD The present invention relates to a method for inspecting a glass bottle having engraving on the surface of the body and a method for manufacturing the glass bottle.

表面に凹凸のある彫刻を施したガラスびんが知られている。彫刻を有するガラスびんは、独創性や高級感があり、消費者に好ましい印象を与える。 BACKGROUND ART A glass bottle having an uneven surface and a sculpture is known. Glass bottles with engravings have originality and a sense of luxury, and give a favorable impression to consumers.

このような表面に凹凸のあるガラスびんの検査方法として、例えば特許文献1が提案されている。特許文献1の発明では、凹凸による彫刻面と凹凸の無い平滑面とを光学的に判定している。 For example, Patent Document 1 has been proposed as a method for inspecting a glass bottle having an uneven surface. In the invention of Patent Document 1, a carved surface with unevenness and a smooth surface without unevenness are optically determined.

特開昭58-216906号公報JP-A-58-216906

しかしながら、特許文献1の発明では、単に凹凸のある面と無い面とを判定するだけであり、ガラスびんの欠点を検査できていない。凹凸の彫刻があるガラスびんを光学的に検査しようとすると、凹凸による影であるのか、傷や泡等の欠点による影であるのかを判定しにくい。現在も、凹凸のあるガラスびんの傷や泡等の欠点の有無は、もっぱら目視検査に頼っている。 However, in the invention of Patent Document 1, it is only possible to determine whether the surface has unevenness or not, and the defect of the glass bottle cannot be inspected. When trying to optically inspect a glass bottle with an uneven engraving, it is difficult to determine whether the shadow is due to unevenness or a shadow due to defects such as scratches or bubbles. Even now, the presence or absence of flaws such as scratches and bubbles in glass bottles with unevenness depends solely on visual inspection.

そこで、本発明は、表面に彫刻を有するガラスびんにおける欠点の有無を画像から自動的に判定する検査方法及びガラスびんの製造方法を提供する。 Accordingly, the present invention provides an inspection method and a glass bottle manufacturing method for automatically determining the presence/absence of defects in a glass bottle having an engraving on its surface from an image.

本発明は上述の課題の少なくとも一部を解決するためになされたものであり、以下の態様または適用例として実現することができる。 The present invention has been made to solve at least part of the above problems, and can be implemented as the following aspects or application examples.

なお、以下の説明において、「彫刻」は、ガラスびんの表面の凹凸による意匠であり、「模様」は、ガラスびんを撮像して得られた画像に現れる「彫刻」に起因する明暗濃度の変化である。 In the following explanation, "sculpture" refers to the design of unevenness on the surface of the glass bottle, and "pattern" refers to changes in light and dark density caused by the "sculpture" that appears in the image obtained by imaging the glass bottle. is.

[1]本発明に係るガラスびんの検査方法の一態様は、
胴部の表面に彫刻を有するガラスびんの検査方法であって、
回転する前記ガラスびんを撮像して前記胴部の全周が撮像された画像を取得する画像取得工程と、
前記画像の中から前記彫刻に由来する模様を含む彫刻領域をマスクするマスク工程と、
前記画像についてマスクされた前記彫刻領域を除いて欠点の有無を判定する判定工程と、
を含み、
前記画像取得工程で取得した前記画像に対し、あらかじめ前記彫刻の外形に基づいて作成されたパターン登録画像を用いてパターンサーチして前記模様を検出する模様位置検出工程をさらに含み、
前記マスク工程は、前記模様位置検出工程によって検出された前記模様を含む前記彫刻領域をマスクすると共に、パターンサーチによって検出した前記模様の位置に基づいて、あらかじめ設定した形状の複数の検査領域を前記画像に配置し、
前記複数の検査領域は、前記彫刻領域の周囲を囲む第1検査領域と、前記第1検査領域の周囲を囲む第2検査領域と、第2検査領域を挟むように配置された2つの第3検査領域と、を含み、
前記第3検査領域は、前記画像において合わせ目線が現れる部分にそれぞれ配置され、
前記判定工程は、前記第1検査領域、前記第2検査領域及び前記第3検査領域に対してそれぞれ所定の検査アルゴリズムを実行して欠点の有無を判定し、
前記第3検査領域に対する検査アルゴリズムは、検出体と合わせ目線とを区別して欠点であるか否かを判定することを特徴とする。
[1] One aspect of the glass bottle inspection method according to the present invention is
A method for inspecting a glass bottle having an engraving on the surface of the body, comprising:
an image acquisition step of capturing an image of the rotating glass bottle and capturing an image of the entire circumference of the body;
a masking step of masking an engraving area including a pattern derived from the engraving from the image;
a determination step of determining whether or not there is a defect in the image except for the masked engraving area;
including
a pattern position detection step of searching the image obtained in the image obtaining step using a pattern registration image created in advance based on the outline of the engraving to detect the pattern;
The masking step masks the engraving region including the pattern detected by the pattern position detecting step, and masks a plurality of inspection regions having a preset shape based on the position of the pattern detected by the pattern search. place it in the image,
The plurality of inspection areas includes a first inspection area surrounding the engraving area, a second inspection area surrounding the first inspection area, and two third inspection areas arranged to sandwich the second inspection area. an inspection region;
The third inspection area is arranged in each part where a joint line of sight appears in the image,
In the determination step, a predetermined inspection algorithm is executed for each of the first inspection area, the second inspection area, and the third inspection area to determine whether or not there is a defect;
The inspection algorithm for the third inspection area is characterized by distinguishing between the detection object and the joint line and determining whether or not they are defects .

上記ガラスびんの検査方法の一態様によれば、彫刻領域を除いて欠点の有無を判定するため、表面に彫刻を有するガラスびんにおける欠点の有無を画像から自動的に判定することができる。上記ガラスびんの検査方法の一態様によれば、彫刻の外形に基づいて作成されたパターン登録画像を用いて模様を検出するので、模様の濃淡が薄くても安定して模様の位置を検出することができる。 According to one aspect of the glass bottle inspection method described above, since the presence or absence of defects is determined by excluding the engraving area, the presence or absence of defects in the glass bottle having the engraving on the surface can be automatically determined from the image. According to one aspect of the glass bottle inspection method, the pattern is detected using the pattern registration image created based on the outer shape of the engraving, so the position of the pattern can be stably detected even if the pattern is thin. be able to.

[2]上記ガラスびんの検査方法の一態様において、
前記欠点は、少なくとも表面欠点を含み、
前記画像取得工程は、前記胴部を透過した透過光をラインセンサで撮像することができる。
[2] In one aspect of the glass bottle inspection method,
The defects include at least surface defects,
In the image acquisition step, transmitted light transmitted through the trunk can be imaged by a line sensor.

上記ガラスびんの検査方法の一態様によれば、透過光をラインセンサで撮像することにより、表面泡のような陰影の出にくい欠点であっても画像から自動的に判定することができる。 According to one aspect of the above-described glass bottle inspection method, by capturing images of transmitted light with a line sensor, it is possible to automatically determine from images even defects such as surface bubbles that are not easily shaded.

]上記ガラスびんの検査方法の一態様において、
前記模様位置検出工程は、前記画像における所定高さ範囲に対してパターンサーチすることができる。
[ 3 ] In one aspect of the glass bottle inspection method,
In the pattern position detection step, a pattern search can be performed with respect to a predetermined height range in the image.

上記ガラスびんの検査方法の一態様によれば、画像における模様の出現する高さはほぼ一定であるため、所定高さ範囲に対してパターンサーチすることで、検査装置の負荷を低減できる。 According to one aspect of the glass bottle inspection method, since the height at which the pattern appears in the image is substantially constant, the load on the inspection apparatus can be reduced by performing a pattern search for a predetermined height range.

]本発明に係るガラスびんの製造方法の一態様は、
粗型でゴブからパリソンを成形し、前記パリソンを仕上型で前記ガラスびんに成形し、前記ガラスびんに対して上記ガラスびんの検査方法の一態様を行って前記欠点がないと判定されたガラスびんを得ることを特徴とする。
[ 4 ] One aspect of the method for manufacturing a glass bottle according to the present invention is
A parison is formed from a gob with a rough mold, the parison is formed into the glass bottle with a finishing mold, and one aspect of the glass bottle inspection method is performed on the glass bottle, and the glass is determined to have no defects. Characterized by getting a bottle.

上記ガラスびんの製造方法の一態様によれば、彫刻を有するガラスびんであっても、欠点を自動で判定することができるので、欠点のないガラスびんを製造することができる。 According to one aspect of the glass bottle manufacturing method described above, defects can be automatically determined even for a glass bottle having an engraving, so that a defect-free glass bottle can be manufactured.

本発明に係るガラスびんの検査方法の一態様によれば、表面に彫刻を有するガラスびんにおける欠点の有無を画像から自動的に判定することができる。本発明に係るガラスびんの製造方法の一態様によれば、彫刻を有するガラスびんであっても、欠点のないガラスびんを製造することができる。 According to one aspect of the glass bottle inspection method of the present invention, it is possible to automatically determine the presence/absence of a defect in a glass bottle having an engraving on its surface from an image. According to one aspect of the method for manufacturing a glass bottle according to the present invention, even a glass bottle having an engraving can be manufactured without defects.

検査装置を模式的に示す側面図である。It is a side view which shows an inspection apparatus typically. 検査装置を模式的に示す平面図である。It is a top view which shows an inspection apparatus typically. 本実施形態に係る検査方法のフローチャートである。It is a flow chart of the inspection method concerning this embodiment. 画像の一例である。It is an example of an image. 画像処理、検出工程及びマスク工程を説明する図である。It is a figure explaining image processing, a detection process, and a mask process. 画像処理及びマスク工程を説明する図である。It is a figure explaining an image processing and a mask process. 判定工程を説明する図である。It is a figure explaining a determination process.

以下、本発明の好適な実施形態について、図面を用いて詳細に説明する。なお、以下に説明する実施形態は、特許請求の範囲に記載された本発明の内容を不当に限定するものではない。また、以下で説明される構成の全てが本発明の必須構成要件であるとは限らない。 Preferred embodiments of the present invention will be described in detail below with reference to the drawings. It should be noted that the embodiments described below do not unduly limit the scope of the invention described in the claims. Moreover, not all the configurations described below are essential constituent elements of the present invention.

本実施形態に係るガラスびんの検査方法は、胴部の表面に彫刻を有するガラスびんの検査方法であって、回転する前記ガラスびんを撮像して前記胴部の全周が撮像された画像を取得する取得工程と、前記画像の中から前記彫刻に由来する模様を含む彫刻領域をマスクするマスク工程と、前記画像についてマスクされた前記彫刻領域を除いて欠点の有無を判定する判定工程と、を含むことを特徴とする。 A method for inspecting a glass bottle according to the present embodiment is a method for inspecting a glass bottle having an engraving on the surface of the body, wherein the rotating glass bottle is imaged to obtain an image of the entire periphery of the body. an acquiring step of acquiring, a masking step of masking an engraving region including a pattern derived from the engraving from the image, a determining step of determining whether or not there is a defect in the image except for the masked engraving region; characterized by comprising

本実施形態に係るガラスびんの製造方法は、粗型でゴブからパリソンを成形し、前記パリソンを仕上型でガラスびんに成形し、前記ガラスびんに対して上記ガラスびんの検査方法の一態様を行って前記欠点がないと判定されたガラスびんを得ることを特徴とする。 The method for manufacturing a glass bottle according to the present embodiment includes forming a parison from a gob with a rough mold, forming the parison into a glass bottle with a finishing mold, and performing one aspect of the glass bottle inspection method on the glass bottle. It is characterized by obtaining a glass bottle that has been determined to be free of the above defects.

1.検査装置
図1及び図2を用いて、ガラスびん10の検査装置1について詳細に説明する。図1は本実施形態に係る検査方法に用いる検査装置1を模式的に示す側面図であり、図2は該検査装置1を模式的に示す平面図である。
1. Inspection Apparatus The inspection apparatus 1 for glass bottles 10 will be described in detail with reference to FIGS. 1 and 2. FIG. FIG. 1 is a side view schematically showing an inspection apparatus 1 used in an inspection method according to this embodiment, and FIG. 2 is a plan view schematically showing the inspection apparatus 1. As shown in FIG.

図1及び図2に示す検査装置1は、表面に彫刻15を有するガラスびん10の検査装置1である。検査装置1は、図示しないガラスびん10の製造ラインの一部として組み込まれ、成形後、徐冷されたガラスびん10を検査装置1に搬送し、検査後のガラスびん10を次工程へ搬送する。 The inspection device 1 shown in FIGS. 1 and 2 is for a glass bottle 10 having an engraving 15 on its surface. The inspection apparatus 1 is incorporated as part of a production line for the glass bottles 10 (not shown), conveys the glass bottles 10 that have been molded and then annealed to the inspection apparatus 1, and conveys the inspected glass bottles 10 to the next process. .

検査装置1は、ガラスびん10に対し光を照射する発光面22を有する発光部20と、ガラスびん10を挟んで発光部20と対向して配置された撮像部40と、撮像部40で撮像したガラスびん10の画像80(図4)に基づいて欠点の有無を判定する判定部52を含む制御部50と、を含む。 The inspection apparatus 1 includes a light-emitting section 20 having a light-emitting surface 22 for irradiating the glass bottle 10 with light, an imaging section 40 arranged to face the light-emitting section 20 with the glass bottle 10 interposed therebetween, and an imaging section 40 for imaging. and a control unit 50 including a determination unit 52 that determines the presence or absence of defects based on an image 80 ( FIG. 4 ) of the glass bottle 10 that has been processed.

ここで、図1に示すように、ガラスびん10は正立状態、すなわち中心軸12が鉛直方向に沿った状態で検査を受ける。鉛直方向は、重力の方向であり、水平方向は、鉛直方向に直交する方向である。 Here, as shown in FIG. 1, the glass bottle 10 is inspected in an upright state, that is, in a state in which the central axis 12 extends vertically. The vertical direction is the direction of gravity, and the horizontal direction is the direction orthogonal to the vertical direction.

検査装置1は、ガラスびん10を中心軸12の周りに回転させながら支持する載置台30と、ガラスびん10の側面に接触しながらガラスびん10を回転させるサイドローラ32と、を含む。図1ではサイドローラ32がガラスびん10と撮像部40との間にあるように示したが、サイドローラ32を説明するための便宜的なものであり、サイドローラ32は撮像部40におけるガラスびん10の撮像の障害とならない位置に配置される。 The inspection apparatus 1 includes a mounting table 30 that supports the glass bottle 10 while rotating it around the central axis 12 and a side roller 32 that rotates the glass bottle 10 while contacting the side surface of the glass bottle 10 . In FIG. 1, the side roller 32 is shown to be between the glass bottle 10 and the imaging unit 40, but this is for convenience of explanation of the side roller 32, and the side roller 32 is the glass bottle in the imaging unit 40. 10 is placed at a position that does not interfere with imaging.

ガラスびん10は、透明または半透明である。半透明とは、ガラスびん10を透過した発光部20からの光によってガラスびん10の胴部13の欠点例えば表面泡18を判定可能な程度の透明度である。ガラスびん10は、例えば横断面円形の首部11及び胴部13と、底部14とを有する広口びんである。ガラスびん10の横断面形状は、多角形であってもよい。ガラスびん10は、表面に彫刻15を有する。彫刻15は、ガラスびん10の表面に形成された凹凸であり、例えば、成形時の金型の表面に刻まれた凹凸により成形される。 The vial 10 is transparent or translucent. Translucency is a degree of transparency that allows the light from the light-emitting part 20 transmitted through the glass bottle 10 to detect defects, such as surface bubbles 18, of the body 13 of the glass bottle 10. FIG. The glass bottle 10 is, for example, a wide-mouthed bottle having a neck portion 11 and a body portion 13 with a circular cross section and a bottom portion 14 . The cross-sectional shape of the glass bottle 10 may be polygonal. A vial 10 has an engraving 15 on its surface. The engravings 15 are unevennesses formed on the surface of the glass bottle 10, and are formed by, for example, unevennesses carved on the surface of the mold during molding.

サイドローラ32は、胴部13に接触し、ガラスびん10を中心軸12の周りに回転させる。中心軸12は、ガラスびん10が回転する回転中心軸となる仮想線である。サイドローラ32は、回転制御部62の指令によりモータ60の駆動力をベルト35などを介してガラスびん10に伝達し、ガラスびん10を回転する。サイドローラ32は、ガラスびん10を所定速度で所定量回転させる。所定量の回転は、ガラスびん10の全周が撮像されるのに十分な量である。所定量の回転は、1つの画像データで検出体の全体を把握できるように、例えば1.5回転以上に設定される。回転検出部54は、モータ60に直接または間接に取り付けられたロータリエンコーダであることができる。回転検出部54のパルス出力に従って撮像部40がガラスびん10の所定回数分の画像を撮像する。 The side rollers 32 contact the barrel 13 and rotate the glass bottle 10 around the central axis 12 . The central axis 12 is an imaginary line that serves as the rotational central axis around which the glass bottle 10 rotates. The side roller 32 rotates the glass bottle 10 by transmitting the driving force of the motor 60 to the glass bottle 10 via the belt 35 or the like according to a command from the rotation control unit 62 . The side rollers 32 rotate the glass bottle 10 by a predetermined amount at a predetermined speed. The predetermined amount of rotation is sufficient for the entire circumference of vial 10 to be imaged. The predetermined amount of rotation is set to, for example, 1.5 rotations or more so that the entire detected object can be grasped with one piece of image data. Rotation detector 54 can be a rotary encoder attached directly or indirectly to motor 60 . According to the pulse output of the rotation detection section 54, the imaging section 40 takes images of the glass bottle 10 for a predetermined number of times.

発光部20は、ガラスびん10を照らす光源である。発光部20は、ガラスびん10側に発光面22を有し、ガラスびん10を撮像部40の反対側から照らすことができる面光源である。発光部20は、検査装置1で検査することを予定している最大のガラスびん10の全体を照らすことができる高さに設定されている。図2に示すように、発光面22の全幅W2は、ガラスびん10の全幅W1よりも狭い。全幅W2を全幅W1よりも狭くすることで、表面泡18の影をくっきりと撮像することが可能となる。全幅W1,W2は、検査装置1を平面視した場合のガラスびん10及び発光面22の全幅である。 The light emitting part 20 is a light source that illuminates the glass bottle 10 . The light emitting unit 20 is a surface light source that has a light emitting surface 22 on the side of the glass bottle 10 and can illuminate the glass bottle 10 from the opposite side of the imaging unit 40 . The light emitting unit 20 is set to a height that can illuminate the entire glass bottle 10, which is the largest size to be inspected by the inspection apparatus 1. As shown in FIG. As shown in FIG. 2 , the overall width W2 of the light emitting surface 22 is narrower than the overall width W1 of the glass bottle 10 . By making the full width W2 narrower than the full width W1, it is possible to clearly image the shadow of the surface foam 18 . The full widths W1 and W2 are the full widths of the glass bottle 10 and the light emitting surface 22 when the inspection apparatus 1 is viewed from above.

図2に示すように、発光面22は、例えば長方形の形状であり、そのほぼ全面が発光する。発光面22は、ガラスびん10及び撮像部40に対し正対し、ガラスびん10を透過した光が撮像部40に届くように配置される。 As shown in FIG. 2, the light emitting surface 22 has, for example, a rectangular shape, and substantially the entire surface thereof emits light. The light emitting surface 22 faces the glass bottle 10 and the imaging section 40 and is arranged so that the light transmitted through the glass bottle 10 reaches the imaging section 40 .

発光部20の光源としては、例えばLEDや有機EL等の公知の光源を用いることができる。発光部20は拡散照明であり、LEDを用いる場合には発光面22に拡散板を利用して均一な光をガラスびん10に対して照射することができる。拡散板は、LED等の光源からの光を拡散させて外部に出射させる公知のものを用いることができる。拡散板によって光が拡散されることで、多数の光源を用いた場合に光源が存在しない部分とのムラを減少することができる。 A known light source such as an LED or an organic EL can be used as the light source of the light emitting unit 20 . The light-emitting part 20 is a diffused illumination, and when LEDs are used, a diffusion plate can be used for the light-emitting surface 22 to irradiate the glass bottle 10 with uniform light. A known diffusion plate that diffuses light from a light source such as an LED and emits it to the outside can be used as the diffusion plate. By diffusing the light with the diffuser plate, it is possible to reduce the unevenness between the portions where the light sources are not present when a large number of light sources are used.

撮像部40は、ガラスびん10を挟んで発光部20と対向して配置される。撮像部40は、中心軸12の延長線上のガラスびん10の表面を撮像するように配置される。撮像部40は、ガラスびん10の少なくとも検査対象部分を撮像でき、ここではガラスびん10の胴部13の鉛直方向の全体が撮像部40の視野内に入るように配置される。 The imaging unit 40 is arranged to face the light emitting unit 20 with the glass bottle 10 interposed therebetween. The imaging unit 40 is arranged so as to image the surface of the glass bottle 10 on the extension line of the central axis 12 . The imaging unit 40 can image at least the portion of the glass bottle 10 to be inspected, and is arranged so that the entire vertical direction of the body 13 of the glass bottle 10 is within the field of view of the imaging unit 40 .

撮像部40は、ガラスびん10を透過した発光部20の光によって検出体(例えば表面泡18を含む)を含む画像を撮像することができる。撮像部40は、例えば、公知のラインセンサカメラを用いることができる。撮像部40は、回転検出部54の出力によりサイドローラ32の回転に合わせて撮像することで、回転速度が何らかの原因で変化しても画像80に影響がない。 The imaging unit 40 can capture an image including the detection object (including the surface bubbles 18 , for example) by the light of the light emitting unit 20 that has passed through the glass bottle 10 . The imaging unit 40 can use, for example, a known line sensor camera. The image pickup unit 40 picks up an image according to the rotation of the side roller 32 based on the output of the rotation detection unit 54, so that even if the rotation speed changes for some reason, the image 80 is not affected.

撮像部40は、胴部13の全周を撮像し、そのデータを制御部50の画像処理部53に送信する。 The imaging unit 40 images the entire circumference of the torso 13 and transmits the data to the image processing unit 53 of the control unit 50 .

制御部50は、判定部52と、画像処理部53と、を含む。制御部50は、例えば、CPU(Central Processing Unit)やGPU(Graphics
Processing Unit)等のプロセッサ、HDD(Hard Disk Drive)、SSD(Solid State Drive)、ROM(Read-Only Memory)、RAM(Random Access Memory)等の記憶装置、キーボード、マウス、タッチパッド等の入力装置、液晶ディスプレイ、有機EL(
Electro Luminescence)ディスプレイ等の表示装置、I/Oボード等のデジタル入出力ボード等で構成される。制御部50は、ガラスびん10を検査する処理を実行する。検査装置1がガラスびん10を所定速度で間欠搬送する処理は、制御部50とは別の制御部で実行されるが、制御部50で実行するように構成してもよい。
The control section 50 includes a determination section 52 and an image processing section 53 . The control unit 50 is, for example, a CPU (Central Processing Unit) or a GPU (Graphics
Processing Unit) and other processors, HDD (Hard Disk Drive), SSD (Solid State Drive), ROM (Read-Only Memory), RAM (Random Access Memory) and other storage devices, keyboards, mice, touch pads and other input devices , liquid crystal display, organic EL (
It is composed of a display device such as an Electro Luminescence display, a digital input/output board such as an I/O board, and the like. The control unit 50 executes processing for inspecting the glass bottle 10 . The processing in which the inspection apparatus 1 intermittently conveys the glass bottles 10 at a predetermined speed is executed by a control unit separate from the control unit 50 , but may be configured to be executed by the control unit 50 .

判定部52は、撮像部40から取得した画像に基づいて欠点の有無を判定する。判定部52で判定される欠点としては、例えば、表面欠点である。表面欠点とは、ガラスびん10の内表面または外表面に存在する、表面泡18、汚れ、異物である。判定部52は、表面欠点に加えて例えばガラスびん10の内部にある欠点を判定してもよい。判定部52は、例えば縦の長さが3.0mm以上、横の長さが1.0mm以上、深さが0.05mm以上の表面泡18を欠点として判定することが好ましい。また、判定部52は、彫刻15に由来する画像中の模様を欠点として誤判定しないことが望ましい。 The determination unit 52 determines whether or not there is a defect based on the image acquired from the imaging unit 40 . Defects determined by the determining unit 52 are, for example, surface defects. Surface defects are surface bubbles 18, dirt, and foreign matter present on the inner or outer surface of glass bottle 10. FIG. The determination unit 52 may determine, for example, defects inside the glass bottle 10 in addition to surface defects. The determination unit 52 preferably determines, for example, surface bubbles 18 having a vertical length of 3.0 mm or more, a horizontal length of 1.0 mm or more, and a depth of 0.05 mm or more as defects. Moreover, it is desirable that the determination unit 52 does not erroneously determine the pattern in the image derived from the engraving 15 as a defect.

制御部50は、判定部52の判定結果をガラスびん10ごとに外部へ出力し、例えば、検査装置1の排出部以降のラインで欠点有りと判定したガラスびん10を排除する。制御部50における具体的な処理については、下記「3.検査方法」で説明する。 The control unit 50 outputs the determination result of the determination unit 52 to the outside for each glass bottle 10, and, for example, excludes the glass bottles 10 determined to have defects on the line after the discharge unit of the inspection device 1. Specific processing in the control unit 50 will be described in "3. Inspection method" below.

2.製造方法
本実施形態に係るガラスびん10の製造方法について説明する。ガラスびん10は、まず粗型でゴブからパリソンを成形する。パリソンは、粗型内に配置した高温のゴブ内に圧縮空気を吹き込んで有底筒状に成形される。圧縮空気と合わせてプランジャを用いてもよい。次に、パリソンを仕上型に移し、仕上型内でパリソンに圧縮空気を吹き込んで製品であるガラスびん10を成形する。成形直後のガラスびん10は高温であるので、徐冷炉に移してゆっくりと冷やされる。徐冷炉から出たガラスびん10に対して下記検査方法を実行する。そして、下記検査方法を実行して欠点がないと判定されたガラスびん10を良品の製品として得る。
2. Manufacturing Method A method for manufacturing the glass bottle 10 according to the present embodiment will be described. The glass bottle 10 is first molded into a parison from a gob in a rough mold. The parison is molded into a cylindrical shape with a bottom by blowing compressed air into a hot gob placed in a rough mold. A plunger may be used in conjunction with compressed air. Next, the parison is transferred to a finishing mold, and compressed air is blown into the parison in the finishing mold to mold the glass bottle 10 as a product. Since the temperature of the glass bottle 10 immediately after molding is high, it is transferred to a slow cooling furnace and cooled slowly. The following inspection method is performed on the glass bottle 10 coming out of the slow cooling furnace. Then, the following inspection method is performed to obtain the glass bottle 10 judged to have no defect as a non-defective product.

このように、本実施形態に係るガラスびん10の製造方法によれば、彫刻15を有するガラスびん10であっても、欠点を自動で判定することができるので、欠点のないガラスびん10を製造することができる。 As described above, according to the method for manufacturing the glass bottle 10 according to the present embodiment, defects can be automatically determined even for the glass bottle 10 having the engraving 15, so that the glass bottle 10 without defects can be manufactured. can do.

3.検査方法
図1及び図2における検査装置1を用いた本実施形態に係るガラスびん10の検査方法について、図3~図7を用いて説明する。図3は本実施形態に係る検査方法のフローチャートであり、図4は画像80の一例であり、図5は画像前処理S14、模様位置検出工程S16及びマスク工程S18を説明する図であり、図6は画像前処理S14及びマスク工程S18を説明する図であり、図7は判定工程S20を説明する図である。
3. Inspection Method A method for inspecting the glass bottle 10 according to the present embodiment using the inspection apparatus 1 shown in FIGS. 1 and 2 will be described with reference to FIGS. 3 to 7. FIG. FIG. 3 is a flow chart of the inspection method according to the present embodiment, FIG. 4 is an example of the image 80, and FIG. 6 is a diagram for explaining the image preprocessing S14 and the masking step S18, and FIG. 7 is a diagram for explaining the determination step S20.

図3に示すように、本実施形態に係る検査方法は、胴部13の表面に彫刻15を有するガラスびん10の検査方法であって、少なくとも画像取得工程S12と、マスク工程S18と、判定工程S20と、を含む。本実施形態に係る検査方法は、S12の前に撮像を開始する工程S10をさらに含んでもよく、S12の後に画像に対して所定の処理を施す画像前処理S14を含んでもよく、S14の後に模様位置検出工程S16をさらに含んでもよい。各工程について図1及び図2を参照しながら以下順番に説明する。 As shown in FIG. 3, the inspection method according to the present embodiment is a method for inspecting the glass bottle 10 having the engraving 15 on the surface of the body 13, and includes at least an image acquisition step S12, a mask step S18, and a judgment step S18. and S20. The inspection method according to the present embodiment may further include step S10 of starting imaging before S12, may include image preprocessing S14 of performing predetermined processing on the image after S12, and may include image preprocessing S14 of performing predetermined processing on the image after S12. A position detection step S16 may be further included. Each step will be described in order below with reference to FIGS. 1 and 2. FIG.

S10:制御部50は、撮像部40に撮像開始を指令する。撮像部40は、制御部50の指令に従って、中心軸12の周りに回転するガラスびん10の胴部13を透過した透過光をラインセンサで撮像する。その際、制御部50は、回転検出部54からの出力に基づいてガラスびん10の回転角度を演算し、1.5周(例えば360°×1.5=540°)を連続で撮像する。図1に示す欠点は、例えば表面泡18である。透過光をラインセン
サで撮像することにより、表面泡18のような陰影の出にくい欠点であっても画像から自動的に判定することができる。撮像された画像データは、撮像部40から制御部50に送信される。
S10: The control unit 50 commands the imaging unit 40 to start imaging. The image capturing unit 40 captures an image of transmitted light transmitted through the body portion 13 of the glass bottle 10 rotating around the central axis 12 with a line sensor according to a command from the control unit 50 . At that time, the control unit 50 calculates the rotation angle of the glass bottle 10 based on the output from the rotation detection unit 54, and continuously images 1.5 rounds (for example, 360°×1.5=540°). The defects shown in FIG. 1 are, for example, surface bubbles 18 . By capturing an image of transmitted light with a line sensor, it is possible to automatically determine from the image even a defect such as the surface bubble 18 that is difficult to be shaded. The captured image data is transmitted from the imaging section 40 to the control section 50 .

S12:制御部50は、撮像部40から送信される胴部13の全周が撮像された画像80(図4)を取得する画像取得工程S12を実行する。画像80は、制御部50の図示しない記憶装置に記憶される。画像80には、少なくとも胴部13の1.5周分の画像が撮像されており、さらに首部11の1.5周分の画像が撮像されていてもよい。画像80が胴部13の1.5周分以上あることで、制御部50は、胴部13の1周分に相当する複数の検査領域(82~84,88,89)を途切れることなく画像80に配置することができる。 S<b>12 : The control unit 50 executes an image acquisition step S<b>12 for acquiring an image 80 ( FIG. 4 ) in which the entire circumference of the torso 13 is captured and transmitted from the imaging unit 40 . The image 80 is stored in a storage device (not shown) of the controller 50 . The image 80 includes an image of at least 1.5 circumferences of the torso 13 and may further include an image of 1.5 circumferences of the neck 11 . Since the image 80 covers 1.5 or more circumferences of the torso 13, the control unit 50 can continuously display a plurality of inspection regions (82 to 84, 88, 89) corresponding to one circumference of the torso 13. 80 can be placed.

図4に示す画像80は、彫刻15に由来する模様15aと、縦方向に延びる合わせ目線16と、表面泡影18aとが暗い影として撮像された状態を示す。合わせ目線16は、ガラスびん10を成形する際に用いる金型によって形成される段差によって生じる影である。画像80において欠点として判定される影は、表面泡18に由来する表面泡影18a以外にも内部にある泡、白石・異物などに由来する影を含むことができる。これらの影を模様15aや合わせ目線16と明確に区別して欠点と判定するために、画像80における胴部13が撮像された部分には、複数の矩形の検査領域(82~84,88,89)が設けられ、検査領域ごとにあらかじめ設定された検査アルゴリズムが実行される。図4では各検査領域(82~84,88,89)が破線で示される。 An image 80 shown in FIG. 4 shows a state in which the pattern 15a derived from the engraving 15, the joining lines 16 extending in the vertical direction, and the surface bubble shadow 18a are imaged as dark shadows. The alignment line 16 is a shadow caused by a step formed by the mold used when molding the glass bottle 10 . Shadows determined as defects in the image 80 can include shadows derived from internal bubbles, white stones, foreign matter, etc., in addition to the surface bubble shadows 18a derived from the surface bubbles 18 . In order to clearly distinguish these shadows from the patterns 15a and the matching lines 16 and determine defects, a plurality of rectangular inspection areas (82 to 84, 88, 89 ) is provided, and an inspection algorithm preset for each inspection area is executed. In FIG. 4, each inspection area (82-84, 88, 89) is indicated by a dashed line.

S14:画像処理部53は、模様位置検出工程S16をより確実に実行するために、模様15aに対し画像前処理S14を実行する。画像前処理S14は、模様15aを抽象的な形状でパターンサーチを行うために例えば「ぼかし処理」を行うことができる。「ぼかし処理」は、例えば平均化フィルタにより行うことができ、平均化フィルタは注目画素の画素値を、フィルタサイズ範囲内の全画素値の平均値で置き換えて出力する二次元フィルタである。 S14: The image processing unit 53 performs image preprocessing S14 on the pattern 15a in order to more reliably perform the pattern position detection step S16. The image preprocessing S14 can perform, for example, a "blurring process" in order to perform a pattern search for the pattern 15a in an abstract shape. The “blurring process” can be performed, for example, by an averaging filter, which is a two-dimensional filter that replaces the pixel value of the pixel of interest with the average value of all pixel values within the filter size range and outputs the result.

また、画像前処理S14としては、「ぼかし処理」以外に、例えば影の黒を膨張するような「膨張処理」を採用してもよい。 Further, as the image preprocessing S14, in addition to the "blurring process", for example, a "dilation process" that dilates the black of the shadow may be employed.

S16:図5に示すように、判定部52は、模様位置検出工程S16を実行する。模様位置検出工程S16を実行する前に、図5の(a)に示すように、オペレータはあらかじめ彫刻15の外形に基づいて作成されたパターン登録画像86を準備する。パターン登録画像86は彫刻15に由来する模様15aの外形に基づいて作成されてもよい。パターン登録画像86は、彫刻15よりも少し大きな枠であり、矩形の第1検査領域82と同じ大きさに設定してもよい。パターン登録画像86は、制御部50の図示しない記憶装置に記憶される。 S16: As shown in FIG. 5, the determination section 52 executes a pattern position detection step S16. Before executing the pattern position detection step S16, the operator prepares a pattern registration image 86 that is created in advance based on the outline of the engraving 15, as shown in FIG. 5(a). The pattern registration image 86 may be created based on the outer shape of the pattern 15 a derived from the engraving 15 . The pattern registration image 86 is a frame slightly larger than the engraving 15 and may be set to the same size as the rectangular first inspection area 82 . The pattern registration image 86 is stored in a storage device (not shown) of the controller 50 .

次に、判定部52は、模様位置検出工程S16を実行する。図5の(b)及び(c)に示すように、模様位置検出工程S16は、画像取得工程S12で取得した画像80に対し、あらかじめ彫刻15の外形に基づいて作成されたパターン登録画像86を用いてパターンサーチして模様15aを検出する。パターンサーチは、パターン登録画像86に適合する検出体を画像80内でサーチして、パターン登録画像86が一定程度模様15aの外形に一致することで検出体を模様15aとして検出する。彫刻15の外形に基づいて作成されたパターン登録画像86を用いて模様15aを検出するので、模様15aの濃淡が薄くても安定して模様15aの位置を検出することができる。 Next, the determination section 52 executes a pattern position detection step S16. As shown in FIGS. 5B and 5C, in the pattern position detection step S16, a pattern registration image 86 created in advance based on the outer shape of the engraving 15 is added to the image 80 acquired in the image acquisition step S12. The pattern 15a is detected by performing a pattern search. The pattern search searches the image 80 for a detected object that matches the pattern registration image 86, and detects the detected object as the pattern 15a when the pattern registered image 86 matches the contour of the pattern 15a to a certain degree. Since the pattern 15a is detected using the pattern registration image 86 created based on the outer shape of the engraving 15, the position of the pattern 15a can be stably detected even if the pattern 15a is light and dark.

模様位置検出工程S16は、画像80における所定高さ範囲に対してパターンサーチす
ることができる。図1に示すようにガラスびん10は載置台30上にあり、撮像された画像80における模様15aの出現する高さはほぼ一定である。そこで、図4に示すように、画像80の下端からの第1高さH1を下限として、第2高さH2の水平方向の範囲をパターンサーチ領域85(一点鎖線で囲む矩形領域)に設定し、パターンサーチ領域85内でパターンサーチする。このように所定高さ範囲に対してパターンサーチすることで、検査装置1の処理の負荷を低減できる。
The pattern position detection step S16 can perform pattern search for a predetermined height range in the image 80 . As shown in FIG. 1, the glass bottle 10 is placed on the mounting table 30, and the height at which the pattern 15a appears in the captured image 80 is substantially constant. Therefore, as shown in FIG. 4, a pattern search area 85 (rectangular area surrounded by a dashed line) is set to a horizontal range of a second height H2 with a first height H1 from the lower end of the image 80 as a lower limit. , a pattern search is performed in the pattern search area 85 . By performing a pattern search for a predetermined height range in this manner, the processing load of the inspection apparatus 1 can be reduced.

S18:画像処理部53は、マスク工程S18を実行する。図5の(d)及び(e)に示すように、マスク工程S18は、画像80の中から彫刻15に由来する模様15aを含む彫刻領域81をマスク87によってマスクする。彫刻領域81は、模様15aの全体を含む広さである。彫刻領域81は、パターン登録画像86によって囲まれた領域としてもよいし、パターン登録画像86よりも若干狭く模様15aにより近い範囲を彫刻領域81としてもよい。マスク87は、彫刻領域81と等しい。マスク87は、パターン登録画像86とセットであらかじめ作成される。マスク87とパターン登録画像86との配置もあらかじめ設定することができる。これにより、パターンサーチによってパターン登録画像86が画像80に対して適切な位置に配置されると、彫刻領域81が画像80に設定されると同時にマスク87によってマスクされる。また、画像処理部53は、パターンサーチによって検出した模様15aの位置に基づいて、あらかじめ設定した形状の複数の検査領域(82~84,88,89)を画像80に配置する。模様15aの位置と各検査領域(82~84,88,89)の位置との相対位置をあらかじめ設定しておくことで、模様15aの位置が定まれば、複数の検査領域(82~84,88,89)の位置を画像80上に自動的にレイアウトすることができる。 S18: The image processing unit 53 executes masking step S18. As shown in (d) and (e) of FIG. 5, in the masking step S18, the engraving area 81 including the pattern 15a derived from the engraving 15 is masked with a mask 87 from the image 80. FIG. The engraving area 81 is wide enough to include the entire pattern 15a. The engraving area 81 may be an area surrounded by the pattern registration image 86, or may be an area slightly narrower than the pattern registration image 86 and closer to the pattern 15a. Mask 87 is equal to engraving area 81 . The mask 87 is created in advance together with the pattern registration image 86 as a set. The arrangement of the mask 87 and the pattern registration image 86 can also be set in advance. As a result, when the pattern registration image 86 is arranged at an appropriate position with respect to the image 80 by pattern search, the engraving area 81 is set in the image 80 and masked by the mask 87 at the same time. Further, the image processing unit 53 arranges a plurality of inspection regions (82 to 84, 88, 89) having preset shapes on the image 80 based on the position of the pattern 15a detected by the pattern search. By setting the relative positions between the position of the pattern 15a and the positions of the respective inspection areas (82 to 84, 88, 89) in advance, once the position of the pattern 15a is determined, a plurality of inspection areas (82 to 84, 88 , 89 ) can be automatically laid out on the image 80 .

上述のS14~S18の他、例えば、S14として他の画像処理を採用することもできる。例えば、画像処理部53は、図6の(a)の画像取得工程S12で取得した画像80を(b)のように膨張処理を複数回行うことで模様15aを太くし、その画像80を(c)のように二値化処理し、判定部52が模様位置検出工程S16を実行して検出した模様15aに彫刻領域81を設定し、画像処理部53が(d)のようにマスク工程S18を実行してもよい。この場合、模様位置検出工程S16は、二値化処理で得られた模様15aの重心と面積により模様15aを検出することができる。 In addition to the above-described S14 to S18, for example, other image processing can be adopted as S14. For example, the image processing unit 53 thickens the pattern 15a by performing expansion processing multiple times as shown in (b) on the image 80 acquired in the image acquisition step S12 in (a) of FIG. c), the determination unit 52 executes the pattern position detection step S16 to set the engraving area 81 on the detected pattern 15a, and the image processing unit 53 performs the masking step S18 as shown in (d). may be executed. In this case, the pattern position detection step S16 can detect the pattern 15a from the center of gravity and the area of the pattern 15a obtained by the binarization process.

S20:判定部52は、判定工程S20を実行する。判定工程S20は、画像80についてマスクされた彫刻領域81を除いて欠点の有無を判定する。彫刻領域81を除いて欠点の有無を判定するため、表面に彫刻15を有するガラスびん10における欠点の有無を画像80から自動的に判定することができる。判定工程S20は、画像80に設定された第1検査領域82、第2検査領域83、第3検査領域84、第4検査領域88及び第5検査領域89に対してそれぞれ所定の検査アルゴリズムを実行し、欠点の有無を判定する。各検査領域は、例えば所定の大きさの矩形状としてあらかじめ設定される。 S20: The determination unit 52 executes determination step S20. A determination step S20 determines whether or not there is a defect in the image 80 except for the masked engraving area 81 . Since the presence or absence of defects is determined by excluding the engraving area 81 , the presence or absence of defects in the glass bottle 10 having the engraving 15 on the surface can be automatically determined from the image 80 . The determination step S20 executes a predetermined inspection algorithm for each of the first inspection area 82, the second inspection area 83, the third inspection area 84, the fourth inspection area 88, and the fifth inspection area 89 set in the image 80. and determine whether or not there is a defect. Each inspection area is set in advance as a rectangular shape with a predetermined size, for example.

第1検査領域82は、彫刻領域81の周囲を囲む領域であり、第2検査領域83よりも狭い。第1検査領域82では、マスク87で覆われた領域を除いて、図7の(a)のように影の線が細い(または薄い)表面泡18に対して、画像処理部53が例えば縦横方向強調処理を行った後、二値化処理を行うと(b)に示すように影の線が途切れない連続体となる。判定部52は、二値化処理後、検出体の面積と最大長さとにより検出体が欠点であるか否かを判定し、検出体が欠点でない場合には「欠点なし」と判定して制御部50が当該ガラスびん10を良品として処理(S22)する。また、検出体が欠点である場合には「欠点あり」と判定して制御部50が当該ガラスびん10を不良品として処理する(S24)。 The first inspection area 82 is an area surrounding the engraving area 81 and is narrower than the second inspection area 83 . In the first inspection area 82, the image processing unit 53 performs, for example, the vertical and horizontal When binarization processing is performed after performing direction enhancement processing, the shadow line becomes a continuum as shown in (b). After the binarization process, the determination unit 52 determines whether or not the detection object is a defect based on the area and maximum length of the detection object. The unit 50 treats the glass bottle 10 as a non-defective product (S22). If the detected object is defective, it is determined that there is a defect, and the control unit 50 treats the glass bottle 10 as a defective product (S24).

第2検査領域83は、第1検査領域82の周囲を囲み、画像80の下端から首部11の
下端まで延びる。第2検査領域83は、第1検査領域82を除いた部分である。画像処理部53は、第2検査領域83に対して第1検査領域82と同様の画像処理を行い、判定部52が検出体に対して欠点であるか否かを判定する(S20)。第2検査領域83は模様15aを欠点と誤判定する可能性が低いので、判定部52は、第1検査領域82よりも高い精度で第2検査領域83の検出体を判定することができる。
A second inspection area 83 surrounds the first inspection area 82 and extends from the lower end of the image 80 to the lower end of the neck portion 11 . A second inspection area 83 is a portion other than the first inspection area 82 . The image processing unit 53 performs the same image processing as that for the first inspection area 82 on the second inspection area 83, and the determination unit 52 determines whether or not the detected object is defective (S20). Since the second inspection area 83 is less likely to erroneously determine the pattern 15a as a defect, the determination unit 52 can determine the detected object in the second inspection area 83 with higher accuracy than in the first inspection area 82 .

2つの第3検査領域84は、第2検査領域83の左右の外側に配置され、画像80の下端から首部11の下端まで延びる。第3検査領域84は、画像80における合わせ目線16が現れる部分に配置される。第3検査領域84における検査アルゴリズムは、検出体を合わせ目線16と区別する必要がある。例えば、図7の(c)と(d)のように、検出体を縦方向に複数分割して分割した枠内の横方向の二線間距離D1、D2を計測する。判定部52は、二線間距離D1が所定の幅よりも広くかつ上下の枠内の検出体が例えば3つ以上連続している場合に表面泡18と判定し、二線間距離D2が所定の幅より狭ければ合わせ目線16であると判定する。また、画像処理部53は、図7の(e)の画像から縦方向の影(合わせ目線16)を消去しさらに二値化処理して(f)のようにした後、判定部52は、検出体の面積により欠点であるか否かを判定する。この際の画像処理で縦方向の輝度変化を強調することにより縦方向の影を消去できるので、縦方向の輝度変化がある横長の部分を有する表面泡が残る。このように異なる二つの検査アルゴリズムを併せて適用することにより、合わせ目線16を欠点と間違えることなく、より正確な検査が可能となる。 The two third inspection areas 84 are arranged on the left and right outer sides of the second inspection area 83 and extend from the lower end of the image 80 to the lower end of the neck portion 11 . The third inspection area 84 is arranged in a portion of the image 80 where the alignment line 16 appears. The inspection algorithm in the third inspection area 84 should distinguish the detection object from the matching line 16 . For example, as shown in (c) and (d) of FIG. 7, the distances D1 and D2 between two lines in the horizontal direction within the divided frames are measured by dividing the detection object into a plurality of pieces in the vertical direction. When the distance D1 between two lines is wider than a predetermined width and three or more detected objects in the upper and lower frames are continuous, the determining unit 52 determines that the surface foam 18 exists, and the distance D2 between the two lines is determined to be a predetermined value. If it is narrower than the width of , it is determined that it is the joint line 16 . In addition, the image processing unit 53 removes the vertical shadow (matching line 16) from the image of (e) in FIG. It is determined whether or not there is a defect based on the area of the detected object. Since vertical shadows can be eliminated by emphasizing vertical luminance changes in image processing at this time, surface bubbles having a horizontally elongated portion with vertical luminance changes remain. By applying two different inspection algorithms together in this manner, more accurate inspection can be performed without mistaking the joining line 16 for a defect.

第4検査領域88は、第2検査領域83と第3検査領域84との間にあって、画像80の下端から首部11の下端まで延びる。第4検査領域88は、胴部13における第2検査領域83と対向する部分である。画像処理部53及び判定部52は、第4検査領域88に対して、第2検査領域83と同様の処理を行うことができる。 A fourth inspection area 88 is between the second inspection area 83 and the third inspection area 84 and extends from the bottom edge of the image 80 to the bottom edge of the neck 11 . The fourth inspection area 88 is a portion of the trunk 13 facing the second inspection area 83 . The image processing unit 53 and the determination unit 52 can perform the same processing as the second inspection region 83 on the fourth inspection region 88 .

第5検査領域89は、第2検査領域83~第4検査領域88の上に延びる首部11に対応する部分である。第5検査領域89は、合わせ目線16が撮像される位置を除いて2つに分けて画像80上に配置される。2つの第5検査領域89に挟まれた位置には合わせ目線16と直交する外乱影が発生することがあるからである。画像処理部53及び判定部52は、第5検査領域89に対して、例えば、第3検査領域84と同様の処理を行うことができる。 The fifth inspection area 89 is a portion corresponding to the neck portion 11 extending above the second inspection area 83 to the fourth inspection area 88 . The fifth inspection area 89 is divided into two and arranged on the image 80 except for the position where the alignment line 16 is imaged. This is because a disturbance shadow orthogonal to the alignment line 16 may occur at a position sandwiched between the two fifth inspection areas 89 . The image processing unit 53 and the determination unit 52 can perform the same processing as that for the third inspection region 84 on the fifth inspection region 89, for example.

本発明は、上述した実施形態に限定されるものではなく、さらに種々の変形が可能であり、実施形態で説明した構成と実質的に同一の構成を含む。ここで、「同一の構成」とは、機能、方法、及び結果が同一の構成、あるいは目的及び効果が同一の構成である。また、本発明は、実施形態で説明した構成の本質的でない部分を置き換えた構成を含む。また、本発明は、実施形態で説明した構成と同一の作用効果を奏する構成又は同一の目的を達成することができる構成を含む。また、本発明は、実施形態で説明した構成に公知技術を付加した構成を含む。 The present invention is not limited to the above-described embodiments, and various modifications are possible, including substantially the same configurations as those described in the embodiments. Here, the "same configuration" means a configuration with the same function, method, and result, or a configuration with the same purpose and effect. Moreover, the present invention includes configurations in which non-essential portions of the configurations described in the embodiments are replaced. In addition, the present invention includes a configuration that achieves the same effects or achieves the same purpose as the configurations described in the embodiments. In addition, the present invention includes configurations obtained by adding known techniques to the configurations described in the embodiments.

1…検査装置、10…ガラスびん、11…首部、12…中心軸、13…胴部、14…底部、15…彫刻、15a…模様、16…合わせ目線、18…表面泡、18a…表面泡影、19…口部、20…発光部、22…発光面、30…載置台、32…サイドローラ、35…ベルト、40…撮像部、50…制御部、52…判定部、53…画像処理部、54…回転検出部、60…モータ、62…回転制御部、80…画像、81…彫刻領域、82…第1検査領域、83…第2検査領域、84…第3検査領域、85…パターンサーチ領域、86…パターン登録画像、87…マスク、88…第4検査領域、D1,D2…二線間距離、H1…第1高さ、H2…第2高さ、W1,W2…全幅 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1... Inspection apparatus, 10... Glass bottle, 11... Neck part, 12... Center axis, 13... Body part, 14... Bottom part, 15... Engraving, 15a... Pattern, 16... Joining line, 18... Surface foam, 18a... Surface foam shadow , 19... Mouth, 20... Light-emitting unit, 22... Light-emitting surface, 30... Mounting table, 32... Side roller, 35... Belt, 40... Imaging unit, 50... Control unit, 52... Judging unit, 53... Image processing unit , 54... Rotation detector, 60... Motor, 62... Rotation controller, 80... Image, 81... Engraving area, 82... First inspection area, 83... Second inspection area, 84... Third inspection area, 85... Pattern Search area 86 Pattern registration image 87 Mask 88 Fourth inspection area D1, D2 Distance between two lines H1 First height H2 Second height W1, W2 Overall width

Claims (4)

胴部の表面に彫刻を有するガラスびんの検査方法であって、
回転する前記ガラスびんを撮像して前記胴部の全周が撮像された画像を取得する画像取得工程と、
前記画像の中から前記彫刻に由来する模様を含む彫刻領域をマスクするマスク工程と、
前記画像についてマスクされた前記彫刻領域を除いて欠点の有無を判定する判定工程と、
を含み、
前記画像取得工程で取得した前記画像に対し、あらかじめ前記彫刻の外形に基づいて作成されたパターン登録画像を用いてパターンサーチして前記模様を検出する模様位置検出工程をさらに含み、
前記マスク工程は、前記模様位置検出工程によって検出された前記模様を含む前記彫刻領域をマスクすると共に、パターンサーチによって検出した前記模様の位置に基づいて、あらかじめ設定した形状の複数の検査領域を前記画像に配置し、
前記複数の検査領域は、前記彫刻領域の周囲を囲む第1検査領域と、前記第1検査領域の周囲を囲む第2検査領域と、第2検査領域を挟むように配置された2つの第3検査領域と、を含み、
前記第3検査領域は、前記画像において合わせ目線が現れる部分にそれぞれ配置され、
前記判定工程は、前記第1検査領域、前記第2検査領域及び前記第3検査領域に対してそれぞれ所定の検査アルゴリズムを実行して欠点の有無を判定し、
前記第3検査領域に対する検査アルゴリズムは、検出体と合わせ目線とを区別して欠点であるか否かを判定することを特徴とする、ガラスびんの検査方法。
A method for inspecting a glass bottle having an engraving on the surface of the body, comprising:
an image acquisition step of capturing an image of the rotating glass bottle and capturing an image of the entire circumference of the body;
a masking step of masking an engraving area including a pattern derived from the engraving from the image;
a determination step of determining whether or not there is a defect in the image except for the masked engraving area;
including
a pattern position detection step of searching the image obtained in the image obtaining step using a pattern registration image created in advance based on the outline of the engraving to detect the pattern;
The masking step masks the engraving region including the pattern detected by the pattern position detecting step, and masks a plurality of inspection regions having a preset shape based on the position of the pattern detected by the pattern search. place it in the image,
The plurality of inspection areas includes a first inspection area surrounding the engraving area, a second inspection area surrounding the first inspection area, and two third inspection areas arranged to sandwich the second inspection area. an inspection region;
The third inspection area is arranged in each part where a joint line of sight appears in the image,
In the determination step, a predetermined inspection algorithm is executed for each of the first inspection area, the second inspection area, and the third inspection area to determine whether or not there is a defect;
A method of inspecting a glass bottle, wherein the inspection algorithm for the third inspection area distinguishes between a detection object and a joint line to determine whether or not there is a defect.
請求項1において、
前記欠点は、少なくとも表面欠点を含み、
前記画像取得工程は、前記胴部を透過した透過光をラインセンサで撮像することを特徴とする、ガラスびんの検査方法。
In claim 1,
The defects include at least surface defects,
The method for inspecting a glass bottle, wherein the image acquisition step uses a line sensor to capture an image of the transmitted light that has passed through the body.
請求項において、
前記模様位置検出工程は、前記画像における所定高さ範囲に対してパターンサーチすることを特徴とする、ガラスびんの検査方法。
In claim 1 ,
A method of inspecting a glass bottle, wherein the pattern position detecting step performs a pattern search for a predetermined height range in the image.
粗型でゴブからパリソンを成形し、前記パリソンを仕上型で前記ガラスびんに成形し、前記ガラスびんに対して請求項1~請求項のいずれか一項に記載のガラスびんの検査方法を行って前記欠点がないと判定されたガラスびんを得ることを特徴とする、ガラスびんの製造方法。 A parison is molded from a gob with a rough mold, the parison is molded into the glass bottle with a finishing mold, and the glass bottle inspection method according to any one of claims 1 to 3 is applied to the glass bottle. A method for producing a glass bottle, characterized in that a glass bottle is obtained which has been determined to be free of the above-mentioned defects.
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