JP7225981B2 - Information processing device, information processing method, and program - Google Patents
Information processing device, information processing method, and program Download PDFInfo
- Publication number
- JP7225981B2 JP7225981B2 JP2019052220A JP2019052220A JP7225981B2 JP 7225981 B2 JP7225981 B2 JP 7225981B2 JP 2019052220 A JP2019052220 A JP 2019052220A JP 2019052220 A JP2019052220 A JP 2019052220A JP 7225981 B2 JP7225981 B2 JP 7225981B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- rewrite
- data
- life
- unit
- flash memory
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Landscapes
- Debugging And Monitoring (AREA)
- Memory System (AREA)
- Read Only Memory (AREA)
Description
本発明は、情報処理装置、情報処理方法、及びプログラムに関する。 The present invention relates to an information processing device, an information processing method, and a program.
近年、不揮発性半導体メモリの一種であるフラッシュメモリが電子機器等に広く使用されている。特に、NAND型フラッシュメモリは、大容量化が進み、データ保存(ストレージ)用のデバイスとして主流になりつつある。NAND型フラッシュメモリは、データの書き込み及び読み出しは、ページと呼ばれる複数のビット単位で行われ、データの消去は、ブロックと呼ばれる複数のページ単位で一括して行われる。フラッシュメモリでは、データの上書きを行うことはできないため、データを書き込む場合には、ブロック単位でデータを一括消去してから新たなデータを書き込む必要がある。 In recent years, flash memory, which is a type of nonvolatile semiconductor memory, is widely used in electronic devices and the like. In particular, NAND-type flash memory has been increasing in capacity and is becoming mainstream as a device for data storage (storage). In a NAND flash memory, data is written and read in units of multiple bits called pages, and data is erased collectively in units of multiple pages called blocks. Since data cannot be overwritten in a flash memory, when writing data, it is necessary to collectively erase data in units of blocks and then write new data.
フラッシュメモリは、メモリセル(以下、単にセルという。)に設けられた浮遊ゲート内に注入される電荷によってデータを記憶する構成を有しており、データの保持には電源供給が不要である。しかしながら、放電等により浮遊ゲートの電荷量が時間変化するため、フラッシュメモリのデータ保持(データリテンション)時間は有限である。また、フラッシュメモリは、セルのデータ書き換え時にゲート絶縁膜に電荷トラップ等による劣化が生じるため、書き換え回数が大きくなるほどデータ保持時間が短くなることが知られている。 A flash memory has a structure in which data is stored by charges injected into floating gates provided in memory cells (hereinafter simply referred to as cells), and no power supply is required to hold data. However, since the charge amount of the floating gate changes with time due to discharge or the like, the data retention time of the flash memory is finite. In addition, it is known that the data retention time of a flash memory becomes shorter as the number of times of rewriting increases because the gate insulating film of the flash memory deteriorates due to charge trapping or the like when data is rewritten in the cell.
このような特性を有するフラッシュメモリは、一般的にハードディスク等の磁気記憶装置に比べて、データ保持時間が短く、かつ書き換え可能回数も少ない。NAND型フラッシュメモリは、大容量化、高速化が容易である一方で、データ保持特性及び書き換え特性の面では、磁気記憶装置よりも不利と言われている。さらに、NAND型フラッシュメモリは、近年大容量化を進めるために、1つのセルの浮遊ゲートが蓄積する電荷量を制御することにより、1セル当たり2ビット以上のデータを記憶させるMLC(Multi-Level Cell)技術が採用されている。このMLC技術は、大容量化には有利である一方で、データ保持特性及び書き換え特性を低下させ、使用寿命を低下させる。 A flash memory having such characteristics generally has a shorter data retention time and a smaller number of rewritable times than a magnetic storage device such as a hard disk. A NAND flash memory can be easily increased in capacity and speed, but is said to be disadvantageous compared to a magnetic memory device in terms of data retention characteristics and rewrite characteristics. Furthermore, in recent years, in order to increase the capacity of NAND-type flash memory, the amount of charge accumulated in the floating gate of one cell is controlled to store two or more bits of data per cell. Cell) technology is adopted. While this MLC technology is advantageous for increasing capacity, it degrades data retention and rewriting characteristics and shortens service life.
このようなNAND型フラッシュメモリの使用寿命を延ばすことを目的とした、ウェアレベリング(wear levelling)と呼ばれる技術が一般に知られている。ウェアレベリングとは、例えば、ブロックごとにデータの書き換え回数を記録しておき、データの書き込みの際に、書き換え回数の少ないブロックに優先して書き込みを行うことで、ブロックごとの書き換え回数のばらつきを平準化する技術である。 A technique called wear leveling is generally known for the purpose of extending the service life of such a NAND flash memory. Wear leveling is, for example, recording the number of times data is rewritten for each block, and prioritizing blocks with the least number of rewrites when writing data. It is a technique for leveling.
また、フラッシュメモリの使用寿命を延ばすために、リフレッシュ処理を行う技術が知られている(例えば、特許文献1,2参照)。例えば、特許文献1では、フラッシュメモリが書き換えられた回数に応じてデータ保持時間を予測し、データ保持時間の経過前に保持されているデータを読み出して再び書き込むことが提案されている。
Also, there is known a technique of performing refresh processing in order to extend the useful life of a flash memory (for example, see
さらに、フラッシュメモリが組み込まれた製品の使用寿命(製品寿命)を延ばすことを目的とした技術が知られている(例えば、特許文献3参照)。特許文献3では、画像形成装置に使用されるカートリッジ等の消耗品にフラッシュメモリが搭載されている場合において、消耗品の使用量とフラッシュメモリへのアクセス頻度(書き換え頻度)とに基づいて、消耗品の製品寿命が尽きるまでフラッシュメモリの書き換え寿命を維持させるように、アクセス頻度を制御することが提案されている。 Furthermore, there is known a technique for extending the service life (product life) of a product incorporating a flash memory (see, for example, Patent Document 3). In Japanese Patent Application Laid-Open No. 2002-200011, when a flash memory is installed in a consumable item such as a cartridge used in an image forming apparatus, the amount of consumption of the consumable item and the frequency of access (rewrite frequency) to the flash memory are used to determine the amount of consumption. It has been proposed to control the access frequency so as to maintain the rewrite life of the flash memory until the end of the product life.
上記のようなフラッシュメモリは、情報処理システムを構成するサーバ装置等に組み込まれ、他の装置との送受信で得られる各種データが書き込まれることがある。例えば、ネットワークに接続された複数の画像形成装置の状態等を監視するサーバ装置にフラッシュメモリが組み込まれている場合には、当該フラッシュメモリには、データを書き込む機能に応じて異なる種類のデータが書き込まれる。 The flash memory as described above may be incorporated in a server device or the like that constitutes an information processing system, and various data obtained by transmission/reception with other devices may be written therein. For example, when flash memory is incorporated in a server device that monitors the status of a plurality of image forming apparatuses connected to a network, different types of data are stored in the flash memory according to the data writing function. written.
このような情報処理システムにおいて、フラッシュメモリに書き込まれるデータのデータ量や書き換え頻度は、データの種類によって大きく異なる。例えば、画像形成装置の使用量に応じた課金に使用されるカウンタ情報は、データ量は小さいが、常に最新の情報が求められるので重要度が高く、書き換え頻度が高い。一方、画像形成装置のメンテナンス、レポートなどに関するデータは、情報が多岐に渡るため比較的データ量が大きいが、常に最新の情報が求められる訳ではないので書き換え頻度は低い。 In such an information processing system, the amount of data to be written into the flash memory and the frequency of rewriting largely differ depending on the type of data. For example, the counter information used for billing according to the amount of use of the image forming apparatus has a small amount of data, but since the latest information is always required, the importance is high and the frequency of rewriting is high. On the other hand, data related to image forming apparatus maintenance, reports, and the like have a relatively large amount of data because of the wide variety of information, but the frequency of rewriting is low because the latest information is not always required.
しかしながら、特許文献1~3に記載の技術では、フラッシュメモリへの1回当たりの書き込み時のデータ量や書き換え頻度が、書き込み機能によって大きく異なる状況に対応することはできない。想定以上のデータ量の書き込みが発生した場合には、製品寿命に達する前にフラッシュメモリの書き換え寿命に達して、フラッシュメモリが使用不能になる可能性がある。
However, the techniques described in
開示の技術は、上記事情に鑑みてこれを解決すべくなされたものであり、製品寿命に達する前に書き換え寿命に達することのないようフラッシュメモリを適切に制御することを目的としている。 The technology disclosed has been devised to solve this problem in view of the above circumstances, and aims to appropriately control the flash memory so that the rewrite life does not expire before the product life expires.
開示の技術は、ブロック単位でデータの書き換えが行われるフラッシュメモリが組み込まれた情報処理装置であって、前記フラッシュメモリにデータを書き込む書き込み機能部と、前記フラッシュメモリの周辺の温度を計測する周辺温度計測部と、前記周辺温度計測部により計測された温度に基づいて前記フラッシュメモリの書き換え寿命を予測する書き換え寿命予測部と、前記フラッシュメモリの書き換え回数のブロックごとの合計値を取得する書き換え回数取得部と、前記書き込み機能部による1回当たりのデータの書き換えブロック数を、データの種類ごとに取得する書き換えブロック数取得部と、前記書き込み機能部によるデータの書き換え頻度を、データの種類ごとに取得する書き換え頻度取得部と、前記書き換え回数と、前記書き換えブロック数と、前記書き換え頻度とに基づき、書き換え寿命に到達する時間である書き換え寿命到達時間を予測する書き換え寿命到達時間予測部と、前記書き換え寿命到達時間が所定の製品寿命より短い場合に、前記書き換え頻度を、データの種類ごとに調整する書き換え頻度調整部と、を有する情報処理装置である。 The disclosed technology is an information processing device incorporating a flash memory in which data is rewritten in block units, and includes a write function unit that writes data into the flash memory and a peripheral that measures the temperature around the flash memory. a temperature measurement unit; a rewrite life prediction unit that predicts the rewrite life of the flash memory based on the temperature measured by the ambient temperature measurement unit; an acquisition unit, a rewrite block number acquisition unit that acquires the number of blocks rewritten by the write function unit once for each data type, and a rewrite block number acquisition unit that acquires the number of data rewrites performed by the write function unit for each data type. a rewrite frequency acquisition unit to acquire; a rewrite life end time prediction unit that predicts a rewrite life end time, which is the time until the rewrite life is reached, based on the number of rewrites, the number of rewrite blocks, and the rewrite frequency; and a rewrite frequency adjustment unit that adjusts the rewrite frequency for each data type when the rewrite life reaching time is shorter than a predetermined product life.
本発明によれば、製品寿命に達する前に書き換え寿命に達することのないようフラッシュメモリを適切に制御することができる。 According to the present invention, it is possible to appropriately control a flash memory so as not to reach the end of its rewrite life before reaching the end of its product life.
以下、添付図面を参照しながら、本発明の一実施形態を詳細に説明する。なお、以下の実施形態により本発明が限定されるものではない。 An embodiment of the present invention will be described in detail below with reference to the accompanying drawings. In addition, the present invention is not limited by the following embodiments.
[全体構成]
図1は、本発明の一実施形態に係る情報処理システム1の全体構成を例示する図である。図1に示すように、情報処理システム1は、情報処理装置としての機器管理装置10と、複数の機器20と、リモート管理サーバ装置30とを含む。
[overall structure]
FIG. 1 is a diagram illustrating the overall configuration of an
機器管理装置10は、ネットワーク50を介して複数の機器20と接続されている。また、機器管理装置10は、ネットワーク60を介してリモート管理サーバ装置30と接続されている。ネットワーク50は、例えば、企業のオフィスなどで用いられる社内LAN(Local Area Network)等のネットワークである。ネットワーク60は、例えば、インターネット等の社外ネットワークである。
The
機器管理装置10は、例えば、機器20を利用するユーザのオフィス等に設置される。機器管理装置10には、機器20を制御管理するための管理ソフトウェア(アプリケーションプログラム)が実装されている。
The
機器管理装置10は、各機器20と通信し、各機器20から稼働情報やカウンタ情報の収集などを行う。機器管理装置10は、各機器20から収集した稼働情報やカウンタ情報をリモート管理サーバ装置30に送信する。
The
機器20は、画像形成装置であり、例えば、複合機(MFP:Multi-Function Peripheral)である。複合機とは、印刷機能、複写機能、スキャナ機能、及びファクシミリ機能のうち少なくとも2つの機能を有する装置である。なお、機器20は、画像形成装置に限られず、ネットワーク機器、電子機器、PCなどであってもよい。また、複数の機器20として、種類の異なる機器が混在していてもよい。
The
機器20が画像形成装置である場合には、上述の稼働情報には、用紙やトナー等の消耗品の残量値、印刷枚数のカウント値、エラー情報などが含まれる。
When the
複数の機器20は、機器20ごとにネットワーク50を介して機器管理装置10と通信する。
A plurality of
リモート管理サーバ装置30は、ネットワーク60を介して機器管理装置10と通信する。リモート管理サーバ装置30は、機器管理装置10を介して取得する稼働情報に基づいて、各機器20を遠隔管理する装置である。リモート管理サーバ装置30は、各機器20の稼働情報やカウンタ情報の集計、消耗品発注、レポート情報の作成、各機器20への更新用ファームウェアの提供などを実施する。
The remote
[機器管理装置10のハードウェア構成]
次に、機器管理装置10のハードウェア構成について説明する。図2は、機器管理装置10のハードウェア構成を例示する図である。
[Hardware Configuration of Device Management Apparatus 10]
Next, the hardware configuration of the
図2に示すように、機器管理装置10は、CPU(Central Processing Unit)101、RAM(Random Access Memory)102、ROM(Read Only Memory)103、フラッシュメモリ104、温度センサ105、機器I/F106、通信I/F107を有し、これらはバス110を介して互いに接続されている。また、機器I/F106には、表示部108及び操作部109が接続されている。
As shown in FIG. 2, the
CPU101は、機器管理装置10全体の動作を統括的に制御する。RAM102は、CPU101が情報を処理する際の作業領域として用いられる。ROM103には、起動用プログラムや各種の制御プログラム、アプリケーションプログラム等が格納される。
The
フラッシュメモリ104には、機器20の管理に用いる各種管理情報、機器20のステータス情報、稼働情報、カウンタ情報、設定変更情報、動作ログ、更新用ファームウェア、レポート情報等の各種データが書き込まれる。なお、ROM103に代えて、フラッシュメモリ104に起動用プログラム等のプログラムを格納してもよい。
The
温度センサ105は、フラッシュメモリ104の使用環境温度を測定するためのセンサである。
A
フラッシュメモリ104は、NAND型フラッシュメモリである。フラッシュメモリ104には、複数のビット単位からなるページと、複数のページ単位からなるブロックが構成されている。フラッシュメモリ104は、複数のブロックを有する。フラッシュメモリ104に対するデータの書き込み及び読み出しはページ単位で行われ、データの消去はブロック単位で行われる。フラッシュメモリ104では、データの上書きを行うことはできないため、データを書き込む場合には、ブロック単位でデータを一括消去したうえで、消去されたブロック内のページにデータを書き込む必要がある。すなわち、フラッシュメモリ104は、ブロック単位でデータの書き換えが行われる。
The
また、フラッシュメモリ104は、ウェアレベリング機能部104aを有しており、内蔵するコントローラが、外部からの指示によりデータを書き換える際に、書き換え回数の少ないブロックに優先して書き込みを行うことで、ブロックごとの書き換え回数のばらつきを平準化する。
In addition, the
本実施形態では、CPU101の機能により、フラッシュメモリ104に対してデータの書き込み、読み出し、及び消去の制御が行われる。
In this embodiment, the functions of the
機器I/F106は、表示部108及び操作部109をバス110に接続するためのインタフェースである。表示部108は、各種の情報を表示するための視覚的ユーザインタフェースであり、例えばLCD(Liquid Crystal Display)などで構成される。操作部109は、キーボードやマウス等、ユーザが機器管理装置10に対して各種の情報を入力するためのユーザインタフェースである。通信I/F107は、機器管理装置10をネットワーク50,60に接続するためのインタフェースである。
A device I/
ROM103に格納されたプログラムや、RAM102にロードされたプログラムに従ってCPU101が演算を行うことにより、ソフトウェア制御部が構成される。このソフトウェア制御部と、ハードウェアとの組み合わせによって、機能ブロックが構成される。
A software control unit is configured by the
なお、機器管理装置10により用いられるプログラムは、インストール可能な形式又は実行可能な形式のファイルで、記録メディア等のコンピュータで読み取り可能な記録媒体に記録して、流通させるようにしてもよい。
The program used by the
[機器のハードウェア構成]
次に、機器20のハードウェア構成について説明する。図3は、機器20のハードウェア構成を例示する図である。
[Device hardware configuration]
Next, the hardware configuration of the
図3に示すように、機器20は、CPU201と、ROM202と、RAM203と、外部記憶装置204と、エンジン部205と、操作表示部206と、通信I/F207とを有する。これらの各部は、システムバス208により通信可能に接続されている。
As shown in FIG. 3 , the
CPU201は、ROM202等に記憶されているプログラムをRAM203に読み出して実行し、機器20の動作を統括的に制御する。ROM202は、機器20により用いられるプログラムを記憶している。RAM203は、CPU201の演算用のワークエリアとして使用される。
The
外部記憶装置204は、画像データ及び印刷データ等の各種データを記憶するHDD、SSD(Solid State Drive)等の記憶装置である。
The
エンジン部205は、スキャナ機能、プリンタ機能等を実現するハードウェア装置である。また、エンジン部205は、用紙やトナー等の消耗品の残量を検出するセンサや、印刷枚数をカウントするカウンタや、各種エラーを検出するセンサなどを有している。これらのセンサやカウンタは、上述の稼働情報の取得に用いられる。
An
操作表示部206は、例えば、タッチパネル等であり、機器20に対する指示の入力を受け付けるとともに、機器20の状態等の情報を表示する装置である。なお、操作表示部206を、操作部と表示部とに分離してもよい。
The
通信I/F207は、ネットワーク50に接続してデータを通信するためのインタフェースである。
A communication I/
[機能構成]
次に、機器管理装置10のCPU101に構成される機能構成について説明する。図4は、CPU101の機能構成を例示するブロック図であり、本実施形態に関わる特徴的な部分のみを示している。
[Function configuration]
Next, a functional configuration configured in the
図4において、CPU101には、通信部300と、書き込み機能部301と、周辺温度計測部302と、書き換え寿命予測部303と、書き換え回数取得部304と、書き換えブロック数取得部305と、書き換え頻度取得部306と、書き換え寿命到達時間予測部307と、書き換え頻度調整部308とが構成されている。
4, the
通信部300は、機器20及びリモート管理サーバ装置30と通信し、各種データの送受信を行う。書き込み機能部301は、データの書き込み機能に応じて各種データをフラッシュメモリ104に書き込む機能部である。書き込み機能部301は、書き込むデータのデータ量に応じて1以上のブロックを消去したうえで、消去した1以上のブロックに含まれる1以上のページにデータを書き込む(書き換える)。
The
周辺温度計測部302は、温度センサ105の検出値に基づいて、フラッシュメモリ104の周辺の温度を計測する。
Ambient
書き換え寿命予測部303は、周辺温度計測部302により計測された温度に基づき、フラッシュメモリ104の書き換え寿命を予測する。フラッシュメモリ104のデータ保持時間は温度が高くなるほど小さくなるという特性を有するので、書き換え寿命予測部303により予測される書き換え寿命は、温度が高いほど低くなる。また、書き換え寿命予測部303は、1ブロックの書き換え寿命に、フラッシュメモリ104が有するブロック数を乗じた値を、書き換え寿命として取得する。
The rewrite
図5は、フラッシュメモリ104のデータ保持時間、温度、及び書き換え回数の関係の一例を示す図である。図5は、フラッシュメモリ104として、SLC(Single-Level Cell)のNAND型フラッシュメモリを用いた例を示している。図5中の実線は、ブロックを10回書き換えた後におけるデータ保持時間の温度依存性を示している。一点鎖線は、ブロックを10K回書き換えた後におけるデータ保持時間の温度依存性を示している。二点鎖線は、ブロックを100K回書き換えた後におけるデータ保持時間の温度依存性を示している。
FIG. 5 is a diagram showing an example of the relationship between the data retention time of the
図5に示すように、フラッシュメモリ104は、周辺の温度が高くなるほどデータ保持時間が短くなる。また、書き換え回数が多くなるほどデータ保持時間が短くなる。例えば、周辺温度Taを55℃とした場合には、100K回の書き換えを行った後では、データ保持時間が約1年となってしまう。例えば、製品寿命を5年と設定した場合には、データ保持時間の最低保証時間Rminを5年とする必要がある。図5の例では、周辺温度Taが55℃で、最低保証時間Rminを5年とするためには、書き換え寿命を約10K以下に抑える必要がある。
As shown in FIG. 5, the
書き換え寿命予測部303は、図5に示すようなデータ保持時間、温度、及び書き換え回数の関係を表す基準データを保持しており、周辺温度計測部302により計測された温度に基づき、最低保証時間Rmin(例えば5年)を満たす書き換え寿命を求める。
The rewrite
図4に戻り、書き換え回数取得部304は、フラッシュメモリ104が有する各ブロックの書き換え回数を取得する。ここで、書き換え回数とは、フラッシュメモリ104の使用開始時から、書き込み機能部301によりデータが書き換えられた回数である。また、書き換え回数取得部304は、各ブロックの書き換え回数をカウントし、そのカウント値の合計値を、書き換え回数として取得する。
Returning to FIG. 4 , the number-of-
書き換えブロック数取得部305は、書き込み機能部301がデータを書き換える場合における1回当たりのブロック数(書き換えブロック数)を、書き込み機能ごと(すなわち、データの種類ごと)に取得する。
The rewrite block
書き換え頻度取得部306は、書き込み機能部301がデータを書き換える頻度(書き換え頻度)を、書き込み機能ごと(すなわち、データの種類ごと)に取得する。
The rewrite
書き換え寿命到達時間予測部307は、書き換え回数取得部304により取得された書き換え回数(合計値)と、書き換えブロック数取得部305により取得された書き込み機能ごとの書き換えブロック数と、書き換え頻度取得部306により取得された書き込み機能ごとの書き換え頻度とに基づき、書き換え寿命予測部303により予測された書き換え寿命に到達する時間(書き換え寿命到達時間)を予測する。
The rewrite life end
例えば、書き換え寿命到達時間予測部307は、まず、書き換え回数と書き換え寿命との差(残りの書き換え可能回数)を求める。また、書き換え寿命到達時間予測部307は、書き込み機能ごとの書き換えブロック数と、書き込み機能ごとの書き換え頻度とに基づき、単位時間当たりに書き換えられる書き換え回数を書き込み機能ごとに求める。そして、書き換え寿命到達時間予測部307は、残りの書き換え可能回数と、単位時間当たりに書き換えられる書き換え回数とに基づいて、書き換え寿命到達時間を求める。
For example, the rewrite life reaching
書き換え頻度調整部308は、機器管理装置10の使用寿命として設定された製品寿命と、書き換え寿命到達時間予測部307により予測された書き換え寿命到達時間とを比較し、書き換え寿命到達時間が製品寿命より短い場合に、書き込み機能部301による書き換え頻度を書き込み機能ごと(すなわち、データの種類ごと)に調整することにより、書き換え寿命到達時間を製品寿命より延ばす。例えば、書き換え頻度調整部308は、重要度の低い書き込み機能の書き換え頻度を低下させることにより、フラッシュメモリ104全体としての書き換え寿命到達時間を製品寿命より延ばす。
The rewriting
図6は、書き換え寿命到達時間の予測方法、及び書き換え頻度の調整方法を説明する図である。図6において、C0は、ある時点t0において書き換え回数取得部304により取得される書き換え回数の合計値を示している。また、Cmaxは、時点t0において書き換え寿命予測部303により予測される書き換え寿命を示している。
FIG. 6 is a diagram for explaining a method of predicting the rewrite life end time and a method of adjusting the rewrite frequency. In FIG. 6, C0 indicates the total value of the number of rewrites acquired by the number-of-
t1は、書き換え寿命到達時間予測部307により予測される書き換え寿命到達時間の一例を示している。このように書き換え寿命到達時間が製品寿命より短い場合には、書き換え頻度調整部308は、一部の書き込み機能の書き換え頻度を下げることにより、書き換え寿命到達時間を製品寿命より延ばす。t2は、書き換え頻度の調整後の書き換え寿命到達時間を示している。
t1 indicates an example of the rewriting life reaching time predicted by the rewriting life reaching
図7は、書き込み機能(データの種類)の一例を示す図である。図7に示されるように、フラッシュメモリ104に書き込まれるデータの種類として、機器ステータス情報、異常発生情報、カウンタ情報、レポート情報、設定変更情報、機器稼働情報、動作ログ、更新用ファームウェアなどが挙げられる。例えば、機器ステータス情報は、トナーエンド、トナーニアエンド、その他サプライ状況などを表す情報である。異常発生情報は、異常の種類、発生時刻などを表す情報である。
FIG. 7 is a diagram showing an example of a write function (data type). As shown in FIG. 7, the types of data written to the
各書き込み機能(データの種類)には、重要度、データ量、書き換え頻度、優先度などの情報が対応付けられている。重要度、データ量、及び書き換え頻度は、データの種類によって異なる。なお、書き込み機能部301がフラッシュメモリ104に書き込むデータ量は、機器管理装置10が管理する機器20の台数に応じて異なる。
Each write function (type of data) is associated with information such as importance, data amount, rewrite frequency, and priority. The importance, data amount, and rewrite frequency differ depending on the data type. Note that the amount of data written by the
例えば、機器20の使用量に応じた課金に使用されるカウンタ情報は、データ量は小さいが、常に最新の情報が求められるので重要度が高く、書き換え頻度が高い。また、異常発生情報も機器20のダウンタイム削減のために重要であるが、データ形式は数値やフラグであるのでデータ量は小さい。一方、機器20のメンテナンス、レポート、動作ログ、更新用ファームウェアなどに関するデータは、情報が多岐に渡るため比較的データ量が大きいが、常に最新の情報が求められる訳ではないので重要度は低い。
For example, the counter information used for charging according to the amount of usage of the
したがって、重要性の高いデータの書き換え頻度を調整すると、機器20が動作を正常に実行できなくなる恐れがあるため、書き換え頻度調整部308は、主に重要度のデータの書き換え頻度を調整する。
Therefore, if the rewriting frequency of data of high importance is adjusted, the
優先度は、重要度とデータ量とに基づいて決定された値である。基本的に、優先度は、重要度が高いほど大きい。図7では、重要度が同じである場合には、データ量が小さいほうの優先度を高く設定している。これは、データ量が小さければ、書き換え頻度が比較的高くても、書き換え対称のブロック数が急激に増えず、影響が小さいためである。 Priority is a value determined based on importance and data amount. Basically, the higher the priority, the higher the priority. In FIG. 7, when the degrees of importance are the same, the priority of the smaller data amount is set higher. This is because if the amount of data is small, the number of blocks to be rewritten does not suddenly increase even if the rewrite frequency is relatively high, and the effect is small.
書き換え頻度調整部308は、優先度に基づき、優先度の低いき込み機能の書き換え頻度を下げることにより、書き換え寿命到達時間を延ばす制御を行ってもよい。
Based on the priority, the rewrite
[動作]
次に、フラッシュメモリ104のデータ書き換えに関する一連の動作について説明する。図8は、データ書き換えに関する一連の動作を説明するフローチャートである。
[motion]
Next, a series of operations for rewriting data in the
図8に示すように、まず、ステップS10おいて、周辺温度計測部302がフラッシュメモリ104の周辺の温度を計測する。ステップS11において、書き換え寿命予測部303が、周辺温度計測部302による温度の計測値に基づいて、フラッシュメモリ104の書き換え寿命を予測する。この書き換え寿命は、各ブロックの書き換え可能回数の合計値である。書き換え寿命は、温度の計測値が高いほど低くなる。
As shown in FIG. 8, first, in step S10, the ambient
ステップS12において、書き換え回数取得部304が、フラッシュメモリ104の現在までの書き換え回数を取得する。この書き換え回数は、各ブロックの書き換え回数の合計値である。ステップS13において、書き換えブロック数取得部305が、データを書き換える際の1回当たりの書き換えブロック数を、書き込み機能(データの種類)ごとに取得する。ステップS14において、書き換え頻度取得部306が、データの書き換え頻度を書き込み機能(データの種類)ごとに取得する。
In step S<b>12 , the number-of-
ステップS15において、書き換え寿命到達時間予測部307が、書き換え回数、書き換えブロック数、及び書き換え頻度に基づき、書き換え寿命に到達する時間(書き換え寿命到達時間)を予測する。ステップS16において、書き換え頻度調整部308が、書き換え寿命到達時間と製品寿命とを比較し、書き換え寿命到達時間が製品寿命未満であるか否かを判定する。製品寿命未満である場合には、ステップS17において、書き換え頻度調整部308により書き換え頻度の調整が行われる。書き換え頻度調整部308は、重要度又は優先度の低いデータの書き換え頻度が低下させることにより、書き換え寿命到達時間を製品寿命より長くする。
In step S15, the rewrite life end
以上のように、本実施形態によれば、フラッシュメモリが組み込まれた製品の製品寿命に達する前に、フラッシュメモリの書き換え寿命に達することのないようフラッシュメモリの書き換えを適切に制御することができる。これにより、製品寿命がフラッシュメモリの書き換え寿命に影響されることを防止することができる。 As described above, according to the present embodiment, it is possible to appropriately control the rewriting of the flash memory so that the rewriting life of the flash memory does not reach the end of the product life of the product incorporating the flash memory. . This can prevent the product life from being affected by the rewrite life of the flash memory.
以下に、上記実施形態の各種変形例について説明する。 Various modifications of the above embodiment will be described below.
[第1変形例]
上記実施形態では、図7に示すように、データの重要度及び優先度を一定値としているが、重要度及び優先度を機器20の状態等に応じて変化する値としてもよい。
[First modification]
In the above embodiment, as shown in FIG. 7, the importance and priority of data are set to constant values, but the importance and priority may be values that change according to the state of the
図9は、第1変形例に係るCPU101の機能構成を例示するブロック図である。本変形例は、CPU101の機能構成に、異常検出部320が追加されている点が上記実施形態の機能構成と異なる。異常検出部320は、機器20から取得される機器ステータス情報や異常発生情報に基づいて、機器20の異常を検出する。
FIG. 9 is a block diagram illustrating the functional configuration of the
書き換え頻度調整部308は、異常検出部320により検出される異常の内容(例えば、異常度)に応じて、上述の重要度及び優先度を高める。例えば、書き換え頻度調整部308は、異常検出部320により異常が検出された場合に、該当する書き込み機能(データ)の重要度及び優先度を高め、異常が解消した場合に重要度及び優先度を元に戻す。
The rewriting
これにより、書き換え頻度の調整を実行している場合であっても、特定の非常に重要な異常が発生した際に、確実にデータを記録することができる。 As a result, data can be reliably recorded when a specific, very important abnormality occurs, even when rewrite frequency adjustment is being performed.
[第2変形例]
図10は、第2変形例に係るCPU101の機能構成を例示するブロック図である。本変形例は、CPU101の機能構成に、残寿命判定部330及び警告部331が追加されている点が上記実施形態の機能構成と異なる。
[Second modification]
FIG. 10 is a block diagram illustrating the functional configuration of
残寿命判定部330は、書き換え寿命予測部303により予測される書き換え寿命と、書き換え回数取得部304により取得される書き換え回数とに基づき、書き換え回数が書き換え寿命の一定割合(例えば、90%)以上であるか否か(すなわち、残寿命が一定値未満であるか否か)を判定する。
Based on the rewrite life predicted by the rewrite
警告部331は、残寿命判定部330により書き換え回数が書き換え寿命の一定割合以上であると判定された場合に、通信部300を介してリモート管理サーバ装置30に警告を送信する。なお、警告部331は、機器管理装置10の表示部108等に警告を報知してもよい。
The
このように、フラッシュメモリの書き換え回数が書き換え寿命に近い場合に予め警告を報知することにより、ユーザは事前にデータのバックアップ等の措置を取ることができ、フラッシュメモリが突然書き換え不能となることによるデータの消失を防止することができる。 In this way, by issuing a warning in advance when the number of rewrites of the flash memory is close to the end of the rewrite life, the user can take measures such as backing up the data in advance. Data loss can be prevented.
[第3変形例]
図11は、第3変形例に係るCPU101の機能構成を例示するブロック図である。本変形例は、CPU101の機能構成に、残寿命判定部330及び転送部332が追加されている点が上記実施形態の機能構成と異なる。残寿命判定部330は、第2変形例における、残寿命判定部330と同一の構成である。
[Third Modification]
FIG. 11 is a block diagram illustrating the functional configuration of
転送部332は、残寿命判定部330により書き換え回数が書き換え寿命の一定割合以上(残寿命が一定値未満)であると判定された場合に、書き込み機能部301によるフラッシュメモリ104へのデータの書き込みを停止させ、データを、通信部300を介して外部の逐次サーバ等へ転送させる。なお、逐次サーバとは、機器管理装置10から定期的(1日ごと、1週間ごと、1カ月ごと等)にデータを取得するサーバ装置である。
The
このように、フラッシュメモリの書き換え回数が書き換え寿命に近い場合にデータをフラッシュメモリに蓄積せずに外部に転送することにより、フラッシュメモリが突然書き換え不能となることによるデータの消失を防止することができる。 In this way, when the number of rewrites in the flash memory is close to the end of the rewrite life, the data is transferred to the outside without being stored in the flash memory, thereby preventing the data from being lost when the flash memory suddenly becomes unrewritable. can.
[第4変形例]
図12は、第4変形例に係るCPU101の機能構成を例示するブロック図である。本変形例は、CPU101の機能構成に、メモリ追加検知部340及び残寿命比較部341が追加されている点が上記実施形態の機能構成と異なる。本変形例では、機器管理装置10には、フラッシュメモリ104に加えて、新たなフラッシュメモリ(オプションフラッシュメモリ)104bを追加することができる。
[Fourth Modification]
FIG. 12 is a block diagram illustrating the functional configuration of
メモリ追加検知部340は、機器管理装置10に新たなフラッシュメモリ104bが追加(装着)されたことを検知する。残寿命比較部341は、メモリ追加検知部340により新たなフラッシュメモリ104bの追加が検知された場合に、フラッシュメモリ104の残寿命(書き換え寿命到達時間)と、新たなフラッシュメモリ104bの残寿命とを比較し、書き込み機能部301に、残寿命が長い方のフラッシュメモリに対して書き込みを実行させる。
The memory
このように、オプションフラッシュメモリが装着されている場合に、残寿命の長い方への書き込みを選択的に行うことで、フラッシュメモリ104の書き換え寿命をさらに延命することができる。
In this way, when the optional flash memory is mounted, the rewrite life of the
[第5変形例]
第5変形例は、書き換え頻度調整部308の機能が上記実施形態と異なる。本変形例では、書き換え頻度調整部308は、フラッシュメモリ104の書き換え頻度を低下させるために、一定時間(例えば、1日)の間、書き込み機能部301に、フラッシュメモリ104に代えて、一時記憶装置としてのRAM102に対してデータの書き込みを行わせる。そして、書き換え頻度調整部308は、一定時間が経過すると、書き込み機能部301に、RAM102からデータを読み出してフラッシュメモリ104に対して書き込みを行わせる。
[Fifth Modification]
The fifth modification differs from the above embodiment in the function of the rewrite
このように、一定時間ごとにフラッシュメモリ104へデータを書き込むことで、機器20等から最新のデータを取得しつつ、フラッシュメモリ104の書き換え頻度を低下させることができる。
In this way, by writing data to the
[第6変形例]
第6変形例は、書き込み機能部301の機能が上記実施形態と異なる。本変形例では、書き込み機能部301は、フラッシュメモリ104にデータを書き込む際に、フラッシュメモリ104に書き込み済みのデータを参照し、変更がある場合にのみデータを書き込む。
[Sixth Modification]
The sixth modification differs from the above embodiment in the function of the
このように、データに変更がある場合にのみ書き込みを行うことで、フラッシュメモリ104の書き換え頻度を低下させることができる。
In this way, by writing data only when there is a change in data, the rewriting frequency of the
[第7変形例]
第7変形例は、書き換え頻度調整部308の機能が上記実施形態と異なる。本変形例では、書き換え頻度調整部308は、フラッシュメモリ104の書き換え頻度を低下させるために、一定時間(例えば、1日)の間、書き込み機能部301に、書き換え頻度の高いデータを、フラッシュメモリ104に代えて、一時記憶装置としてのRAM102に対して書き込みを行わせる。そして、書き換え頻度調整部308は、一定時間が経過すると、書き込み機能部301に、RAM102からデータを読み出してフラッシュメモリ104に対して書き込みを行わせる。
[Seventh Modification]
The seventh modification differs from the above embodiment in the function of the rewrite
なお、書き換え頻度調整部308は、書き換え頻度の低いデータについては、RAM102への書き込みは行わせず、フラッシュメモリ104に対して書き込ませる。
Note that the rewrite
このように、書き換え頻度の高いデータを一時的にRAM102に書き込むことにより、フラッシュメモリ104の書き換え頻度を低下させることができる。
In this way, by temporarily writing data with a high rewriting frequency into the
[第8変形例]
図13は、第8変形例に係るCPU101の機能構成を例示するブロック図である。本変形例は、CPU101の機能構成に、温度判定部350及び警告部351が追加されている点が上記実施形態の機能構成と異なる。
[Eighth modification]
FIG. 13 is a block diagram illustrating the functional configuration of
温度判定部350は、周辺温度計測部302により計測された温度が所定温度以上であるか否かを判定する。この所定温度は、例えば、書き換え寿命予測部303により予測される書き換え寿命が、製品寿命に対して不足する温度である。
The
警告部351は、温度判定部350により周辺温度が所定温度以上であると判定された場合に、通信部300を介してリモート管理サーバ装置30に警告を送信する。なお、警告部351は、機器管理装置10の表示部108等に警告を報知してもよい。
The
このように、フラッシュメモリの周辺温度が所定温度以上となった場合に警告を行うことで、ユーザが使用環境の改善を図り、書き換え寿命を延ばすことができる。 In this way, by issuing a warning when the ambient temperature of the flash memory reaches or exceeds a predetermined temperature, the user can improve the usage environment and extend the rewrite life.
[第9変形例]
図14は、第9変形例に係る機器管理装置10のハードウェア構成を例示する図である。本変形例は、フラッシュメモリ104の周辺温度を低下させるための冷却装置112が追加されている点が上記実施形態のハードウェア構成と異なる。
[Ninth Modification]
FIG. 14 is a diagram illustrating the hardware configuration of the
図15は、第9変形例に係るCPU101の機能構成を例示するブロック図である。本変形例は、CPU101の機能構成に、温度判定部350及び冷却装置制御部352が追加されている点が上記実施形態の機能構成と異なる。温度判定部350は、第8変形例における温度判定部350と同一の構成である。
FIG. 15 is a block diagram illustrating the functional configuration of the
冷却装置制御部352は、温度判定部350により周辺温度が所定温度以上であると判定された場合に、冷却装置112を制御してフラッシュメモリ104の温度を低下させる。
The cooling
このように、フラッシュメモリの周辺温度が所定温度以上となった場合にフラッシュメモリの温度を低下させることで、書き換え寿命を延ばすことができる。 In this manner, by lowering the temperature of the flash memory when the ambient temperature of the flash memory exceeds a predetermined temperature, the rewrite life can be extended.
なお、上記複数の変形例は、矛盾が生じない限り組み合わせることが可能である。 It should be noted that the plurality of modifications described above can be combined as long as there is no contradiction.
上記で説明した実施形態の各機能は、一又は複数の処理回路によって実現することが可能である。ここで、本明細書における「処理回路」とは、電子回路により実装されるプロセッサのようにソフトウェアによって各機能を実行するようプログラミングされたプロセッサや、上記で説明した各機能を実行するよう設計されたASIC(Application Specific Integrated Circuit)、DSP(digital signal processor)、FPGA(field programmable gate array)や従来の回路モジュール等のデバイスを含むものとする。 Each function of the embodiments described above may be implemented by one or more processing circuits. Here, the "processing circuit" in this specification means a processor programmed by software to perform each function, such as a processor implemented by an electronic circuit, or a processor designed to perform each function described above. ASICs (Application Specific Integrated Circuits), DSPs (digital signal processors), FPGAs (field programmable gate arrays) and devices such as conventional circuit modules.
また、上記各実施形態に示した要件に本発明が限定されるものではない。これらの点に関しては、本発明の主旨をそこなわない範囲で変更することができ、その応用形態に応じて適切に定めることができる。 Moreover, the present invention is not limited to the requirements shown in the above embodiments. These points can be changed within the scope of the present invention, and can be determined appropriately according to the application form.
1 情報処理システム
10 機器管理装置
20 機器
30 リモート管理サーバ装置
101 CPU
102 RAM(一時記憶装置)
104 フラッシュメモリ
104a ウェアレベリング機能部
104b フラッシュメモリ
105 温度センサ
112 冷却装置
300 通信部
301 機能部
302 周辺温度計測部
303 寿命予測部
304 回数取得部
305 ブロック数取得部
306 頻度取得部
307 寿命到達時間予測部
308 頻度調整部
320 異常検出部
330 残寿命判定部
331 警告部
332 転送部
340 メモリ追加検知部
341 残寿命比較部
350 温度判定部
351 警告部
352 冷却装置制御部
1
102 RAM (temporary storage)
104
Claims (13)
前記フラッシュメモリにデータを書き込む書き込み機能部と、
前記フラッシュメモリの周辺の温度を計測する周辺温度計測部と、
前記周辺温度計測部により計測された温度に基づいて前記フラッシュメモリの書き換え寿命を予測する書き換え寿命予測部と、
前記フラッシュメモリの書き換え回数のブロックごとの合計値を取得する書き換え回数取得部と、
前記書き込み機能部による1回当たりのデータの書き換えブロック数を、データの種類ごとに取得する書き換えブロック数取得部と、
前記書き込み機能部によるデータの書き換え頻度を、データの種類ごとに取得する書き換え頻度取得部と、
前記書き換え回数と、前記書き換えブロック数と、前記書き換え頻度とに基づき、書き換え寿命に到達する時間である書き換え寿命到達時間を予測する書き換え寿命到達時間予測部と、
前記書き換え寿命到達時間が所定の製品寿命より短い場合に、前記書き換え頻度を、データの種類ごとに調整する書き換え頻度調整部と、
を有する情報処理装置。 An information processing device incorporating a flash memory in which data is rewritten in units of blocks,
a write function unit that writes data to the flash memory;
an ambient temperature measurement unit that measures the temperature around the flash memory;
a rewrite life prediction unit that predicts a rewrite life of the flash memory based on the temperature measured by the ambient temperature measurement unit;
a rewrite count acquisition unit that acquires a total value of the number of rewrites for each block of the flash memory;
a rewrite block number acquisition unit that acquires the number of data rewrite blocks per write function unit for each type of data;
a rewrite frequency acquisition unit that acquires the data rewrite frequency by the write function unit for each data type;
a rewrite life reaching time predicting unit for predicting a rewriting life reaching time, which is the time to reach the rewriting life, based on the number of rewrites, the number of rewrite blocks, and the rewrite frequency;
a rewrite frequency adjustment unit that adjusts the rewrite frequency for each data type when the rewrite life reaching time is shorter than a predetermined product life;
Information processing device having
請求項1に記載の情報処理装置。 The information processing apparatus according to claim 1, wherein the rewrite frequency adjustment unit sets a priority for each type of data, and reduces the rewrite frequency of data with a low priority.
前記機器から送信されるデータに基づいて異常を検出する異常検出部を有し、
前記書き換え頻度調整部は、前記異常検出部により異常が検出された場合に、該当するデータの優先度を高め、異常が解消した場合に優先度を元に戻す
請求項2に記載の情報処理装置。 The data written by the write function unit to the flash memory includes data transmitted from a device to be managed,
An abnormality detection unit that detects an abnormality based on data transmitted from the device;
3. The information processing apparatus according to claim 2, wherein the rewrite frequency adjustment unit increases the priority of the data when an abnormality is detected by the abnormality detection unit, and restores the priority when the abnormality is resolved. .
前記残寿命判定部により前記書き換え回数が前記書き換え寿命の一定割合以上であると判定された場合に警告を行う第1警告部と、
を有する請求項1ないし3いずれか1項に記載の情報処理装置。 a remaining life determination unit that determines whether the number of rewrites is equal to or greater than a certain percentage of the rewrite life;
a first warning unit that issues a warning when the remaining life determination unit determines that the number of rewrites is equal to or greater than a certain percentage of the rewrite life;
4. The information processing apparatus according to any one of claims 1 to 3, comprising:
前記残寿命判定部により前記書き換え回数が前記書き換え寿命の一定割合以上であると判定された場合に、前記書き込み機能部によるデータの書き込みを停止させ、外部へデータを転送させる転送部と、
を有する請求項1ないし3いずれか1項に記載の情報処理装置。 a remaining life determination unit that determines whether the number of rewrites is equal to or greater than a certain percentage of the rewrite life;
a transfer unit that stops data writing by the write function unit and transfers data to the outside when the remaining life determination unit determines that the number of rewrites is equal to or greater than a certain percentage of the rewrite life;
4. The information processing apparatus according to any one of claims 1 to 3, comprising:
前記メモリ追加検知部により新たなフラッシュメモリの追加が検知された場合に、前記フラッシュメモリの前記書き換え寿命到達時間と、前記新たなフラッシュメモリの前記書き換え寿命到達時間とを比較し、前記書き込み機能部に、前記書き換え寿命到達時間が長い方に対して書き込みを実行させる
請求項1ないし5いずれか1項に記載の情報処理装置。 a memory addition detection unit that detects that a new flash memory different from the flash memory has been added;
When the addition of a new flash memory is detected by the memory addition detection unit, the write function unit compares the rewrite life end time of the flash memory with the rewrite life end time of the new flash memory. 6. The information processing apparatus according to any one of claims 1 to 5, wherein writing is executed to the one having the longer rewrite life reaching time .
前記書き換え頻度調整部は、前記書き換え頻度を低下させる際に、前記書き込み機能部に、前記フラッシュメモリに代えて、前記一時記憶装置に対してデータの書き込みを行わせる
請求項1ないし6いずれか1項に記載の情報処理装置。 having temporary storage,
7. Any one of claims 1 to 6, wherein the rewrite frequency adjustment unit causes the write function unit to write data to the temporary storage device instead of the flash memory when lowering the rewrite frequency. The information processing device according to the item.
請求項1ないし7いずれか1項に記載の情報処理装置。 8. The information according to any one of claims 1 to 7, wherein when writing data to the flash memory, the write function unit refers to data already written to the flash memory, and writes the data only when there is a change. processing equipment.
前記書き換え頻度調整部は、前記書き換え頻度を低下させる際に、前記書き込み機能部に、前記書き換え頻度取得部により取得された前記書き換え頻度の高いデータを、前記フラッシュメモリに代えて、前記一時記憶装置に対して書き込みを行わせる
請求項1ないし6いずれか1項に記載の情報処理装置。 having temporary storage,
When the rewrite frequency is reduced, the rewrite frequency adjustment unit causes the write function unit to transfer the frequently rewritten data acquired by the rewrite frequency acquisition unit to the temporary storage device instead of the flash memory. 7. The information processing apparatus according to any one of claims 1 to 6, wherein writing is performed to the .
前記温度判定部により温度が所定温度以上であると判定された場合に警告を行う第2警告部と、
を有する請求項1ないし9いずれか1項に記載の情報処理装置。 a temperature determination unit that determines whether the temperature measured by the ambient temperature measurement unit is equal to or higher than a predetermined temperature;
a second warning unit that issues a warning when the temperature determination unit determines that the temperature is equal to or higher than a predetermined temperature;
The information processing apparatus according to any one of claims 1 to 9, comprising:
前記周辺温度計測部により計測される温度が所定温度以上であるか否かを判定する温度判定部と、
前記温度判定部により温度が所定温度以上であると判定された場合に、前記冷却装置を制御して前記フラッシュメモリの温度を低下させる冷却装置制御部と、
を有する請求項1ないし9いずれか1項に記載の情報処理装置。 a cooling device for reducing the ambient temperature of the flash memory;
a temperature determination unit that determines whether the temperature measured by the ambient temperature measurement unit is equal to or higher than a predetermined temperature;
a cooling device control unit that controls the cooling device to reduce the temperature of the flash memory when the temperature determination unit determines that the temperature is equal to or higher than a predetermined temperature;
The information processing apparatus according to any one of claims 1 to 9, comprising:
ブロック単位でデータの書き換えが行われるフラッシュメモリの周辺の温度を計測する周辺温度計測ステップと、
前記周辺温度計測ステップにより計測された温度に基づいて前記フラッシュメモリの書き換え寿命を予測する書き換え寿命予測ステップと、
前記フラッシュメモリの書き換え回数のブロックごとの合計値を取得する書き換え回数取得ステップと、
書き込み機能による1回当たりのデータの書き換えブロック数を、データの種類ごとに取得する書き換えブロック数取得ステップと、
書き込み機能によるデータの書き換え頻度を、データの種類ごとに取得する書き換え頻度取得ステップと、
前記書き換え回数と、前記書き換えブロック数と、前記書き換え頻度とに基づき、書き換え寿命に到達する時間である書き換え寿命到達時間を予測する書き換え寿命到達時間予測ステップと、
前記書き換え寿命到達時間が所定の製品寿命より短い場合に、前記書き換え頻度を、データの種類ごとに調整する書き換え頻度調整ステップと、
を有する情報処理方法。 A computer-executed information processing method comprising:
an ambient temperature measuring step of measuring the ambient temperature of the flash memory in which data is rewritten in units of blocks;
a rewrite life prediction step of predicting a rewrite life of the flash memory based on the temperature measured by the ambient temperature measurement step;
a rewrite count acquisition step of acquiring a total value of the number of rewrites for each block of the flash memory;
a rewrite block number acquiring step of acquiring the number of rewritten blocks of data per write function for each type of data;
a rewrite frequency obtaining step for obtaining data rewrite frequency by the write function for each data type;
a rewriting life reaching time prediction step of predicting a rewriting life reaching time, which is the time to reach the rewriting life, based on the number of rewrites, the number of rewritten blocks, and the rewriting frequency;
a rewrite frequency adjusting step of adjusting the rewrite frequency for each data type when the rewrite life reaching time is shorter than a predetermined product life;
An information processing method comprising:
前記周辺温度計測ステップにより計測された温度に基づいて前記フラッシュメモリの書き換え寿命を予測する書き換え寿命予測ステップと、
前記フラッシュメモリの書き換え回数のブロックごとの合計値を取得する書き換え回数取得ステップと、
書き込み機能による1回当たりのデータの書き換えブロック数を、データの種類ごとに取得する書き換えブロック数取得ステップと、
書き込み機能によるデータの書き換え頻度を、データの種類ごとに取得する書き換え頻度取得ステップと、
前記書き換え回数と、前記書き換えブロック数と、前記書き換え頻度とに基づき、書き換え寿命に到達する時間である書き換え寿命到達時間を予測する書き換え寿命到達時間予測ステップと、
前記書き換え寿命到達時間が所定の製品寿命より短い場合に、前記書き換え頻度を、データの種類ごとに調整する書き換え頻度調整ステップと、
をコンピュータに実行させるプログラム。 an ambient temperature measuring step of measuring the ambient temperature of the flash memory in which data is rewritten in units of blocks;
a rewrite life prediction step of predicting a rewrite life of the flash memory based on the temperature measured by the ambient temperature measurement step;
a rewrite count acquisition step of acquiring a total value of the number of rewrites for each block of the flash memory;
a rewrite block number acquiring step of acquiring the number of rewritten blocks of data per write function for each type of data;
a rewrite frequency obtaining step for obtaining data rewrite frequency by the write function for each data type;
a rewriting life reaching time prediction step of predicting a rewriting life reaching time, which is the time to reach the rewriting life, based on the number of rewrites, the number of rewritten blocks, and the rewrite frequency;
a rewrite frequency adjustment step of adjusting the rewrite frequency for each data type when the rewrite life reaching time is shorter than a predetermined product life;
A program that makes a computer run
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2019052220A JP7225981B2 (en) | 2019-03-20 | 2019-03-20 | Information processing device, information processing method, and program |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2019052220A JP7225981B2 (en) | 2019-03-20 | 2019-03-20 | Information processing device, information processing method, and program |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2020154674A JP2020154674A (en) | 2020-09-24 |
| JP7225981B2 true JP7225981B2 (en) | 2023-02-21 |
Family
ID=72559155
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2019052220A Active JP7225981B2 (en) | 2019-03-20 | 2019-03-20 | Information processing device, information processing method, and program |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP7225981B2 (en) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR102332589B1 (en) * | 2021-08-18 | 2021-12-01 | 에스비유코리아 주식회사 | Method, device and system for managing and controlling for status information of disk set |
| US12436688B2 (en) * | 2021-12-14 | 2025-10-07 | Hitachi Astemo, Ltd. | In-vehicle electronic device and life prediction method for nonvolatile memory |
| WO2023162544A1 (en) * | 2022-02-24 | 2023-08-31 | 株式会社デンソートリム | Engine control device |
| JP7655975B2 (en) | 2023-07-13 | 2025-04-02 | レノボ・シンガポール・プライベート・リミテッド | Information processing device and control method |
| JP7690012B1 (en) | 2023-12-12 | 2025-06-09 | レノボ・シンガポール・プライベート・リミテッド | Information processing device and control method |
Citations (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001337849A (en) | 2000-05-25 | 2001-12-07 | Nec Corp | Method for collecting failure information in computer system |
| JP2011081694A (en) | 2009-10-09 | 2011-04-21 | J&K Car Electronics Corp | Electronic apparatus and method of controlling memory |
| JP2012053255A (en) | 2010-09-01 | 2012-03-15 | Konica Minolta Business Technologies Inc | Image forming apparatus |
| JP2012226575A (en) | 2011-04-20 | 2012-11-15 | Mitsubishi Electric Corp | Method for storing data in non-volatile memory and control device |
| JP2014216041A (en) | 2013-04-30 | 2014-11-17 | ソニー株式会社 | Memory apparatus and memory management method |
| JP2016149032A (en) | 2015-02-13 | 2016-08-18 | 日立オムロンターミナルソリューションズ株式会社 | Status monitoring device and control method for status monitoring device |
| JP2017134603A (en) | 2016-01-27 | 2017-08-03 | 京セラドキュメントソリューションズ株式会社 | Image forming apparatus and data processing program |
| US20170228161A1 (en) | 2016-02-10 | 2017-08-10 | Ricoh Company, Ltd. | Lifetime management device and lifetime management method |
| JP2017142776A (en) | 2016-02-10 | 2017-08-17 | 株式会社リコー | Life management device and life management method |
| WO2018193556A1 (en) | 2017-04-19 | 2018-10-25 | 株式会社日立製作所 | Method for controlling environmental temperature of storage drive |
-
2019
- 2019-03-20 JP JP2019052220A patent/JP7225981B2/en active Active
Patent Citations (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001337849A (en) | 2000-05-25 | 2001-12-07 | Nec Corp | Method for collecting failure information in computer system |
| JP2011081694A (en) | 2009-10-09 | 2011-04-21 | J&K Car Electronics Corp | Electronic apparatus and method of controlling memory |
| JP2012053255A (en) | 2010-09-01 | 2012-03-15 | Konica Minolta Business Technologies Inc | Image forming apparatus |
| JP2012226575A (en) | 2011-04-20 | 2012-11-15 | Mitsubishi Electric Corp | Method for storing data in non-volatile memory and control device |
| JP2014216041A (en) | 2013-04-30 | 2014-11-17 | ソニー株式会社 | Memory apparatus and memory management method |
| JP2016149032A (en) | 2015-02-13 | 2016-08-18 | 日立オムロンターミナルソリューションズ株式会社 | Status monitoring device and control method for status monitoring device |
| JP2017134603A (en) | 2016-01-27 | 2017-08-03 | 京セラドキュメントソリューションズ株式会社 | Image forming apparatus and data processing program |
| US20170228161A1 (en) | 2016-02-10 | 2017-08-10 | Ricoh Company, Ltd. | Lifetime management device and lifetime management method |
| JP2017142776A (en) | 2016-02-10 | 2017-08-17 | 株式会社リコー | Life management device and life management method |
| WO2018193556A1 (en) | 2017-04-19 | 2018-10-25 | 株式会社日立製作所 | Method for controlling environmental temperature of storage drive |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2020154674A (en) | 2020-09-24 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP7225981B2 (en) | Information processing device, information processing method, and program | |
| JP5629391B2 (en) | Semiconductor memory device and method for controlling semiconductor memory device | |
| JP5697796B2 (en) | Semiconductor memory device having electrically rewritable nonvolatile semiconductor memory | |
| CN101479708B (en) | Semiconductor storage device management system, semiconductor storage device, host unit, program and semiconductor storage device management method | |
| KR101506675B1 (en) | User device with auxiliary power supply | |
| JP5814335B2 (en) | Reduction of writing and estimation and display of remaining life of nonvolatile memory | |
| US20070260811A1 (en) | Systems and methods for measuring the useful life of solid-state storage devices | |
| US10178265B2 (en) | Image formation apparatus, method of controlling flash memory, and non-transitory computer-readable storage medium | |
| JP5867464B2 (en) | Information processing apparatus, refresh control program, and refresh control method | |
| KR20090082365A (en) | Discarding and Resizing Memory Cards | |
| US20120198134A1 (en) | Memory control apparatus that controls data writing into storage, control method and storage medium therefor, and image forming apparatus | |
| KR20100013653A (en) | Crum unit, replaceble unit and image forming device comprising the crum unit, and, method for driving unit thereof | |
| JP4743905B2 (en) | Flash memory storage life monitoring device | |
| US9442843B2 (en) | Information processing apparatus, method of controlling the same, and storage medium | |
| JP2015148859A (en) | Information processing device and start control program, and start control method | |
| JP6405736B2 (en) | Image processing apparatus, writing control program, and writing control method | |
| JP6493355B2 (en) | Memory system and image forming apparatus | |
| JP2017142776A (en) | Life management device and life management method | |
| JP4908462B2 (en) | Image processing system and image processing apparatus | |
| US20190227919A1 (en) | Electronic apparatus and recording medium suitable for management of nonvolatile memory | |
| JP6418400B2 (en) | Electronic equipment and information processing program | |
| JP2013097575A (en) | Semiconductor disk lifetime monitoring device | |
| JP2019160249A (en) | Information processing device, information processing method, and information processing program | |
| JP2014138265A (en) | Image forming apparatus | |
| JP5347266B2 (en) | Image forming apparatus |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20220113 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20221027 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20221115 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20221222 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20230110 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20230123 |
|
| R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 7225981 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |