JP7230436B2 - Manufacturing method of soldering device and substrate device - Google Patents
Manufacturing method of soldering device and substrate device Download PDFInfo
- Publication number
- JP7230436B2 JP7230436B2 JP2018207157A JP2018207157A JP7230436B2 JP 7230436 B2 JP7230436 B2 JP 7230436B2 JP 2018207157 A JP2018207157 A JP 2018207157A JP 2018207157 A JP2018207157 A JP 2018207157A JP 7230436 B2 JP7230436 B2 JP 7230436B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- height
- impeller
- substrate
- soldering
- solder
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000005476 soldering Methods 0.000 title claims description 136
- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims description 86
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 12
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 claims description 124
- 230000014509 gene expression Effects 0.000 claims description 40
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 18
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 12
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 23
- 101100493706 Caenorhabditis elegans bath-38 gene Proteins 0.000 description 13
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 12
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 11
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 5
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 4
- 238000003756 stirring Methods 0.000 description 4
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 3
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 2
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 2
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 1
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 230000001151 other effect Effects 0.000 description 1
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 description 1
- 239000003566 sealing material Substances 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Molten Solder (AREA)
- Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
Description
本発明は、はんだ付け装置、及び基板装置の製造方法に関する。 The present invention relates to a soldering apparatus and a manufacturing method of a substrate device.
特許文献1に記載されたはんだを噴出するノズル本体の先端部に装着されたアタッチメントは、吐出口の外縁面を構成し基端部側に向かうに従って径方向外側に傾斜する上部傾斜面と、この上部傾斜面の外縁部から基端部側に繋がる周面を構成し基端部側に向かうに従って径方向内側に傾斜する下部傾斜面と、を有する形状となっている。 The attachment attached to the tip portion of the nozzle body that ejects solder described in Patent Document 1 includes an upper inclined surface that forms the outer edge surface of the ejection port and is inclined radially outward toward the base end side. and a lower inclined surface forming a peripheral surface connecting from the outer edge of the upper inclined surface to the base end side and inclined radially inward toward the base end side.
従来、はんだを上方へ向かって噴流させて、噴流したはんだによって、基板に実装された部品を基板にはんだ付けするはんだ付け装置がある。このはんだ付け装置においては、はんだの噴流高さを狙い値に保つように、はんだを上方へ噴流させるために回転する回転体の回転数は、はんだ付け装置を稼動させる前から予め決められた値に設定されている。 2. Description of the Related Art Conventionally, there is a soldering apparatus that jets solder upward and solders components mounted on a board to the board with the jetted solder. In this soldering apparatus, the number of revolutions of the rotating body that rotates to cause the solder to jet upward so as to maintain the solder jet height at a target value is a predetermined value before the soldering apparatus is operated. is set to
しかし、はんだの噴流高さについては、はんだの貯留槽に貯留されているはんだの量、及び貯留槽に貯留されているはんだに含まれる酸化はんだの量等によって変化してしまう。このため、はんだを噴流させるために回転する回転体の回転数が常に一定の値に設定されていると、基板に実装された部品を基板にはんだ付けするときに、はんだ噴流高さの変化により、はんだ付け不良が発生する。具体的には、はんだ付けの量が少なくなると接合強度が不足し、はんだ付けの量が多くなると隣り合うリードがはんだを介して電気的に接続されるブリッジが発生する。 However, the height of the solder jet changes depending on the amount of solder stored in the solder reservoir, the amount of oxidized solder contained in the solder stored in the reservoir, and the like. Therefore, if the number of revolutions of the rotor that rotates to jet the solder is always set to a constant value, the solder jet height will change when soldering the components mounted on the board to the board. , soldering failure occurs. Specifically, when the amount of soldering is reduced, the bonding strength becomes insufficient, and when the amount of soldering is increased, bridges occur in which adjacent leads are electrically connected via solder.
本発明の課題は、はんだを噴流させるために回転する回転体の回転数が常に一定の場合と比して、はんだ付け不良の発生を抑制することである。 An object of the present invention is to suppress the occurrence of soldering defects as compared with the case where the number of revolutions of a rotating body that rotates to jet solder is always constant.
本発明の第1態様に係るはんだ付け装置は、はんだをノズルから噴流させる回転体と、該ノズルから噴流するはんだの高さを検出する検出部と、基板に実装された部品をはんだ付けする前に、該回転体の回転数を複数の値に設定したときの夫々の該高さを該検出部で検出させ、該回転数と該高さとの関係を導出し、該関係に基づいて該回転体を制御する制御部と、を備えたことを特徴とする。 A soldering apparatus according to a first aspect of the present invention includes a rotating body that jets solder from a nozzle, a detection unit that detects the height of the solder that jets from the nozzle, and a component mounted on a board before soldering. Then, the height is detected by the detection unit when the rotation speed of the rotating body is set to a plurality of values, the relationship between the rotation speed and the height is derived, and the rotation is based on the relationship and a control unit for controlling the body.
本発明の第2態様に係るはんだ付け装置は、第1態様に記載のはんだ付け装置において、前記制御部は、前記回転体の回転数を一の値と他の値とに設定したときの夫々の前記高さを前記検出部で検出させ、前記回転数と前記高さとの関係式を導出することを特徴とする。 A soldering apparatus according to a second aspect of the present invention is the soldering apparatus according to the first aspect, wherein the control unit sets the number of revolutions of the rotating body to one value and another value. is detected by the detection unit, and a relational expression between the number of revolutions and the height is derived.
本発明の第3態様に係るはんだ付け装置は、第2態様に記載のはんだ付け装置において、回転体を回転させる駆動部を備え、前記一の値は、前記制御部が前記駆動部を制御して前記駆動部によって出力される最小の駆動力で前記回転体が回転する回転数であり、前記他の値は、前記制御部が前記駆動部を制御して前記駆動部によって出力される最大の駆動力で前記回転体が回転する回転数であることを特徴とする。 A soldering apparatus according to a third aspect of the present invention is the soldering apparatus according to the second aspect, further comprising a driving section for rotating a rotating body, wherein the one value is set by the control section controlling the driving section. is the number of rotations at which the rotating body rotates with the minimum driving force output by the driving unit, and the other value is the maximum output by the driving unit after the control unit controls the driving unit. It is characterized by being the rotational speed at which the rotating body rotates by the driving force.
本発明の第4態様に係るはんだ付け装置は、第1~第3態様の何れか1態様に記載のはんだ付け装置において、前記基板には、複数の種類の前記部品が実装されており、前記制御部は、前記部品毎に前記回転体を制御して前記高さを変えることを特徴とする。 A soldering apparatus according to a fourth aspect of the present invention is the soldering apparatus according to any one of the first to third aspects, wherein a plurality of types of the components are mounted on the board, and the The control unit is characterized in that the height is changed by controlling the rotating body for each part.
本発明の第5態様に係るはんだ付け装置は、第1~第4態様の何れか1態様に記載のはんだ付け装置において、前記制御部は、予め決められた稼動時間毎に、前記回転体の回転数を複数の値に設定したときの夫々の前記高さを前記検出部で検出させ、前記回転数と前記高さとの関係を導出することを特徴とする。 A soldering apparatus according to a fifth aspect of the present invention is the soldering apparatus according to any one of the first to fourth aspects, wherein the controller controls the rotation of the rotating body at each predetermined operation time. It is characterized in that the height is detected by the detection unit when the number of revolutions is set to a plurality of values, and the relationship between the number of revolutions and the height is derived.
本発明の第6態様に係るはんだ付け装置は、第1~第4態様の何れか1態様に記載のはんだ付け装置において、前記制御部は、部品が基板にはんだ付けされることで製造される基板装置の種類が変わる毎に、前記回転体の回転数を複数の値に設定したときの夫々の前記高さを前記検出部で検出させ、前記回転数と前記高さとの関係を導出することを特徴とする。 A soldering apparatus according to a sixth aspect of the present invention is the soldering apparatus according to any one of the first to fourth aspects, wherein the controller is manufactured by soldering a component to a substrate. Each time the type of substrate device is changed, the height is detected by the detection unit when the number of revolutions of the rotating body is set to a plurality of values, and the relationship between the number of revolutions and the height is derived. characterized by
本発明の第7態様に係るはんだ付け装置は、第5又は第6態様に記載のはんだ付け装置において、はんだが貯留されている貯留槽を備え、前記制御部が前記回転数と前記高さとの関係を再度導出する前に、前記制御部は、貯留槽に貯留されているはんだを前記回転体により撹拌させることを特徴とする。 A soldering apparatus according to a seventh aspect of the present invention is the soldering apparatus according to the fifth or sixth aspect, further comprising a storage tank in which solder is stored, wherein the controller controls the rotation speed and the height. Before the relationship is derived again, the control section stirs the solder stored in the storage tank by the rotating body.
本発明の第8態様に係る基板装置の製造方法は、請求項1~7の何れか1項に記載のはんだ付け装置によって、部品が基板にはんだ付けされた基板装置を製造することを特徴とする。 A method for manufacturing a substrate device according to an eighth aspect of the present invention is characterized by manufacturing a substrate device in which components are soldered to a substrate by the soldering apparatus according to any one of claims 1 to 7. do.
本発明の第1態様のはんだ付け装置によれば、はんだを噴流させるために回転する回転体の回転数が常に一定の場合と比して、はんだ付け不良の発生を抑制することができる。 According to the soldering apparatus of the first aspect of the present invention, it is possible to suppress the occurrence of defective soldering compared to the case where the number of revolutions of the rotating body that rotates to jet the solder is always constant.
本発明の第2態様のはんだ付け装置によれば、回転体の回転数を3個以上に設定したときの夫々のはんだの高さから、関係式を導出する場合と比して、回転体の回転数と噴流するはんだの高さとの関係を容易に導出することができる。 According to the soldering apparatus of the second aspect of the present invention, compared to the case of deriving the relational expression from the height of each solder when the number of revolutions of the rotating body is set to 3 or more, The relationship between the number of revolutions and the height of the jetted solder can be easily derived.
本発明の第3態様のはんだ付け装置によれば、駆動部において中位程度の異なる2値の駆動力で回転体が回転する夫々の回転数によって関係式を導出する場合と比して、はんだ付け不良の発生を抑制することができる。 According to the soldering apparatus of the third aspect of the present invention, the solder It is possible to suppress the occurrence of poor adhesion.
本発明の第4態様のはんだ付け装置によれば、複数の種類の部品を基板に実装する際に、噴流するはんだの高さが一定の場合と比して、はんだ付け不良の発生を抑制することができる。 According to the soldering apparatus of the fourth aspect of the present invention, when a plurality of types of components are mounted on a board, the occurrence of soldering defects is suppressed as compared with the case where the jetting solder has a constant height. be able to.
本発明の第5態様のはんだ付け装置によれば、はんだ付け装置が稼動している間、最初に導出した関係に基づいて回転体が制御される場合と比して、はんだ付け不良の発生を抑制することができる。 According to the soldering apparatus of the fifth aspect of the present invention, while the soldering apparatus is operating, soldering defects are less likely to occur than when the rotating body is controlled based on the initially derived relationship. can be suppressed.
本発明の第6態様のはんだ付け装置によれば、基板装置の種類が変わっても、最初に導出した関係に基づいて回転体が制御される場合と比して、はんだ付け不良の発生を抑制することができる。 According to the soldering apparatus of the sixth aspect of the present invention, even if the type of substrate device is changed, the occurrence of soldering defects is suppressed as compared with the case where the rotating body is controlled based on the first derived relationship. can do.
本発明の第7態様のはんだ付け装置によれば、はんだを撹拌することなく、回転体の回転数とはんだの高さとの関係を再度導出する場合と比して、はんだ付け不良の発生を抑制することができる。 According to the soldering apparatus of the seventh aspect of the present invention, the occurrence of defective soldering is suppressed as compared with the case where the relationship between the rotational speed of the rotating body and the solder height is derived again without stirring the solder. can do.
本発明の第8態様の基板装置の製造方法によれば、はんだを噴流させるための回転体の回転数が常に一定の場合と比して、はんだ付け不良の発生を抑制することができる。 According to the substrate device manufacturing method of the eighth aspect of the present invention, it is possible to suppress the occurrence of soldering defects as compared with the case where the rotation speed of the rotating body for jetting solder is always constant.
<第1実施形態>
本発明の第1実施形態に係るはんだ付け装置、及び基板装置の製造方法の一例を図1~図14に従って説明する。なお、図中に示す矢印Hは装置上下方向(鉛直方向)を示し、矢印Wは装置幅方向(水平方向)を示し、矢印Dは装置奥行方向(水平方向)を示す。
<First Embodiment>
An example of a soldering apparatus and a manufacturing method of a substrate device according to a first embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 1 to 14. FIG. An arrow H shown in the drawing indicates the vertical direction of the device, an arrow W indicates the width direction of the device (horizontal direction), and an arrow D indicates the depth direction of the device (horizontal direction).
(全体構成)
はんだ付け装置10は、ポイントフローはんだ付け方式のはんだ付け装置であって、図1、図2に示されるように、基板210に電子部品220、230をはんだ付けするために基板210に向けて溶融はんだJを噴流させる装置本体12を備えている。さらに、はんだ付け装置10は、噴流するはんだの高さを検知(検出)する高さセンサ14(図4参照)と、基板210を搬送する搬送部16と、各部を制御する制御部18とを備えている。
(overall structure)
The
〔装置本体12〕
装置本体12は、図1、図2に示されるように、溶融はんだJが貯留されている貯留槽22と、貯留槽22を装置幅方向及び装置奥行方向に移動させる移動部24と、貯留槽22から上方に突出している突出部26とを備えている。さらに、装置本体12は、突出部26の先端に設けられたノズル30と、回転してノズル30から溶融はんだJを噴流させるインペラ32と、インペラ32を回転させる駆動力を発生するモータ34と、インペラ32の回転数を検知する回転数センサ40とを備えている。また、装置本体12は、モータ34の駆動力をインペラ32に伝達する伝達部36と、突出部26の基端に接続され、内部にインペラ32が配置されている噴流はんだ槽38とを備えている。なお、インペラ32は回転体の一例であり、モータ34は、駆動部の一例である。
[Device body 12]
As shown in FIGS. 1 and 2, the device
-貯留槽22、移動部24-
貯留槽22は、図1に示されるように、内部が空洞とされた直方体状で、貯留槽22の内部には、溶融はんだJが貯留されている。また、貯留槽22を構成する天板50の幅方向の一方側(図中右側)の部分には、突出部26が通っている貫通孔52が形成されており、貫通孔52の縁部52aと突出部26の外周面との間には、隙54が設けられている。
-
As shown in FIG. 1, the
また、天板50の幅方向の他方側(図中左側)の部分には、インペラ32の後述するインペラ軸32aが通っている貫通孔58が形成されており、貫通孔58の縁部58aとインペラ軸32aの外周面との間には、隙が形成されている。
A through
移動部24は、貯留槽22の下方に配置されている。この移動部24は、既知のボールねじやベルトなどの機械要素を備えており、貯留槽22を装置上下方向、装置幅方向及び装置奥行方向に移動させるようになっている。
The moving
-突出部26、ノズル30-
突出部26は、図1に示されるように、貯留槽22の天板50に形成された貫通孔52を通っている。この突出部26は、上下方向に延びている筒状とされている。そして、突出部26の内径は、上下方向に亘って同様である。また、突出部26において上方側の部分の外径は、下方側の部分の外径と比して小さくなっている。
-
The projecting
ノズル30は、図1、図6に示されるように、上部傾斜部62と上部傾斜部62の下端に接続された下部傾斜部64とから形成されており、突出部26の上端に対して突出部26の径方向の外側に張り出している。
1 and 6, the
そして、上部傾斜部62は、断面が円環状とされており、下方に向かうに従って径方向の外側へ傾斜している。また、上部傾斜部62の上端には、上方から見て円状の吐出口62aが形成されている。
The upper
下部傾斜部64は、断面が円環状とされており、下方に向かうに従って径方向の内側へ傾斜している。また、下部傾斜部64の下端は、突出部26の上端に接続されている。
なお、ノズル30の内径は、突出部26の内径と上下方向に亘って同様であっても良い。
The lower
Note that the inner diameter of the
-噴流はんだ槽38、インペラ32、回転数センサ40-
噴流はんだ槽38は、図1に示されるように、貯留槽22の内部に配置(図示せぬ固定具を用いて固定)されており、貯留槽22の内部において幅方向の一方側の部分から他方側の部分まで延びている。さらに、噴流はんだ槽38は、内部が空洞とされ、噴流はんだ槽38の幅方向の他方側の部分には、下方に膨らんだ膨張部66が形成されている。また、この膨張部66を構成する底板68には、表裏を貫通する貫通孔68aが形成されている。
-
As shown in FIG. 1, the
さらに、噴流はんだ槽38を構成する天板70において幅方向の一方側の部分には、突出部26の下端が接続されており、噴流はんだ槽38の内部と突出部26の内部とを繋げる貫通孔70aが形成されている。また、天板70において幅方向の他方側の部分には、インペラ32のインペラ軸32aが通っている貫通孔70bが形成されており、貫通孔70bの周縁とインペラ軸32aの外周面とは、図示せぬシーリング材でシーリングされている。
Furthermore, the lower end of the protruding
インペラ32は、図1に示されるように、インペラ軸32aと、インペラ軸32aの下端に接続され、貯留槽22の内部に配置されているインペラ翼32bとを有している。
The
インペラ翼32bは、噴流はんだ槽38の膨張部66に配置されており、貫通孔68aと上下方向で対向している。さらに、インペラ軸32aは、噴流はんだ槽38の貫通孔70bと、貯留槽22の貫通孔58とを通っており、インペラ軸32aの上端は、貯留槽22の天板50から上方へ突出している。
The
回転数センサ40は、図1に示されるように、インペラ軸32aの外周面と、インペラ軸32aの径方向で対向するように配置されており、非接触で、インペラ32の単位時間当たりの回転数を検知するようになっている。
As shown in FIG. 1, the
この構成において、貯留槽22の内部には、前述したように、溶融はんだJが貯留されている。また、貯留槽22の内部に配置された噴流はんだ槽38の内部は、噴流はんだ槽38に形成された貫通孔68aを介して貯留槽22の内部と繋がっている。このため、噴流はんだ槽38の内部にも、溶融はんだJが貯留されている。
In this configuration, the molten solder J is stored inside the
そして、インペラ32を回転させることで、回転するインペラ32は、貫通孔68aを通して噴流はんだ槽38の内部に溶融はんだJを吸い込む。噴流はんだ槽38の内部に吸い込まれた溶融はんだJは、突出部26の内部を流れて、ノズル30の吐出口62aから噴流する(図2参照)。さらに、ノズル30から噴流した溶融はんだJは、ノズル30及び突出部26の外周面に沿って流れ、隙54を通って貯留槽22に戻される(図2の矢印参照)。このように、溶融はんだJは、貯留槽22、噴流はんだ槽38、突出部26の内部、ノズル30、突出部26の外部、及び隙54を流れて循環するようになっている。
By rotating the
さらに、移動部24が貯留槽22を移動させることで、突出部26及びノズル30等も貯留槽22と同様に(共に)移動するようになっている。
Furthermore, by moving the
-モータ34、伝達部36-
モータ34は、ステッピングモータであって、図1に示されるように、回転軸34aを有し、貯留槽22の外部で、インペラ軸32aの上端側の部分と幅方向で並ぶように配置されている。
-
The
伝達部36は、モータ34の回転軸34aに取り付けられたプーリー74と、インペラ軸32aの上端に取り付けられたプーリー76と、プーリー74及びプーリー76に掛け回(掛け渡)された無端状の無端ベルト78とを備えている。
The
この構成において、モータ34は、伝達部36を介してインペラ32を回転させるようになっている。
In this configuration, the
〔高さセンサ14〕
高さセンサ14は、光学センサであって、図4(A)(B)に示されるように、ノズル30の吐出口62aを奥行方向で挟んでおり、奥行方向の手前側に配置されている発光部14aと、奥行方向の奥側に配置されている受光部14bとを有している。そして、発光部14aは、上下方向に厚い光を奥行方向に発光し、受光部14bがこの光を受光するようになっている。高さセンサ14は、検出部の一例である。
[Height sensor 14]
The
この構成において、高さセンサ14は、ノズル30の吐出口62aから上方へ噴流した溶融はんだJの吐出口62aからの高さ(以下「噴流高さ」)を検知する。具体的には、噴流高さが低い場合(図4(A)参照)は、発光部14aによって発光された光が遮られる量が少なくなり、受光部14bによって光を受光する量が多くなる。また、噴流高さが高い場合(図4(B)参照)は、発光部14aによって発光された光が遮られる量が多くなり、受光部14bによって光を受光する量が少なくなる。このように、高さセンサ14は、光が遮られる量によって、噴流高さを検知するようになっている。
In this configuration, the
〔搬送部16〕
搬送部16は、図1、図3に示されるように、装置本体12の上方に配置されている。搬送部16は、軸方向が奥行方向に向いた従動ロール82と、軸方向が奥行方向に向いた駆動ロール84と、従動ロール82及び駆動ロール84に巻き掛けられた一対の無端状の搬送ベルト86とを備えている。従動ロール82及び駆動ロール84は、軸周りに回転可能なように、幅方向に延びた図示せぬ2本のフレーム部材に夫々配置されている。
[Conveyor 16]
The
一対の搬送ベルト86は、前述したように、従動ロール82及び駆動ロール84に巻き掛けられている。また、一対の搬送ベルト86は、奥行方向に離間しており、上方から見て、ノズル30を奥行方向で挟むように配置されている。そして、搬送ベルト86において、幅方向に延び、かつ、装置本体12側の部分(以下「移送部86a」)は、奥行方向から見て、ノズル30の上方に位置している。
A pair of
この構成において、駆動ロール84が回転することで一対の搬送ベルト86は、周回する。そして、一対の搬送ベルト86の移送部86aは、幅方向の一方側から他方側へ移動するようになっている。
In this configuration, the pair of
〔制御部18〕
制御部18は、図7に示されるように、高さセンサ14、及び回転数センサ40からの検知信号を受け取るようになっている。さらに、制御部18は、モータ34、駆動ロール84、及び移動部24の稼動を制御するようになっている。また、制御部18は、図示せぬ中央演算装置(CPU:Central Processing Unit)、ROM(Read Only Memory)、及びRAM(Random Access Memory)を備えている。さらに、制御部18は、はんだ付け装置10によって製造された基板装置の数をカウントする図示せぬカウンタと、はんだ付け装置10の電源を入れてからの稼動時間を計測する図示せぬタイマーとを備えている。
[Control unit 18]
The
なお、制御部18による各部の制御については、後述する作用と共に説明する。
The control of each unit by the
〔その他〕
次に、はんだ付け装置10によりはんだ付けされる電子部品220(以下「部品220」)、電子部品230(以下「部品230」)、及び基板210について、図12(A)(B)に従って説明する。
〔others〕
Next, electronic component 220 (hereinafter “
基板210は、図12(A)(B)に示されるように、板面が上下方向を向いており、上方から見て、奥行方向に延びている長方形状とされている。そして、基板210の長手方向の両端側の部分が一対の搬送ベルト86(図3参照)に夫々載るようになっている。
As shown in FIGS. 12(A) and 12(B), the
また、基板210において奥行方向の手前側の部分には、4個のスルーホール210aが形成されている。4個のスルーホール210aは、上方から見て、正方形状の頂点となる位置に夫々配置されている。このスルーホール210aの孔径は、d1とされ、スルーホール210aの幅方向のピッチ、及び奥行方向のピッチは、P1とされている。
In addition, four through
さらに、基板210において奥行方向の奥側の部分には、6個のスルーホール210bが形成されている。上方から見て、3個のスルーホール210bが、奥行方向に列状に並んでおり、このスルーホール210bの列が、幅方向に離間して2列設けられている。このスルーホール210bの孔径は、d2とされ、スルーホール210aの孔径d1と比して小さくされている。また、夫々のスルーホール210bの幅方向のピッチ、及び奥行方向のピッチは、P2とされ、スルーホール210aのピッチP1と比して短くされている。
Furthermore, six through-
部品220は、スルーホール210aに挿入される4個のリード220aを有している。そして、リード220aの外径は、d3とされ、夫々のリード220aのピッチは、P1とされている。部品220が基板210に実装された状態で、リード220aの先端は、基板210の裏面から2〔mm〕程度突出するようになっている。なお、本実施形態で「実装」とは、部品が基板上に位置しているが、部品が基板にはんだ付けされていない状態をいう。
部品230は、スルーホール210bに挿入される6個のリード230aを有している。そして、リード230aの外径は、d4とされ、リード220aの外径d3と比して小さくされている。さらに、夫々のリード230aのピッチは、P2とされている。また、部品230が基板210に実装された状態で、リード230aの先端は、基板210の裏面から2〔mm〕程度突出するようになっている。
この構成において、図3に示す一対の搬送ベルト86の移送部86aに、一対の搬送ベルト86を跨ぐように載せられた基板210は、搬送ベルト86が周回することで、幅方向の一方側から他方側へ移動するようになっている。
In this configuration, the
(作用)
次に、はんだ付け装置10を用いて、部品220、230が基板210にはんだ付けされた基板装置240を製造する基板装置の製造方法について、図10、図11に示すフロー図を用いて説明する。なお、はんだ付け装置10では、詳細は後述するが、はんだ付けの前、及び予め決められた稼動時間毎に、インペラ32の回転数と噴流高さとの関係式が導出されるようになっている。
(Action)
Next, a method for manufacturing a
はんだ付け装置10が非稼働の状態では、図1に示されるように、貯留槽22の内部には、規定量の溶融はんだJが貯留されている。さらに、貯留槽22の内部に貯留されている溶融はんだJからは、酸化したはんだ(以下「酸化はんだ」)が除去されている。
When the
また、はんだ付け装置10の装置本体12については、ノズル30の上方に基板210が配置された状態では、ノズル30が、基板210において奥行方向の手前側の部分と対向して配置されている(装置本体12の初期位置)。
Further, regarding the device
また、はんだ付け装置10の制御部18のROMには、部品220を基板210にはんだ付けする場合の噴流高さの狙い値、及び部品230を基板210にはんだ付けする場合の噴流高さの狙い値が、予め記憶されている。さらに、制御部18のROMには、規定量の溶融するはんだJが貯留され酸化はんだ除去された状態でのインペラ32の回転数と、モータ34の駆動力との関係式が、予め記憶されている。
In addition, the ROM of the
なお、前述したように、部品220のリード220aの外径d3は、部品230のリード230aの外径d4と比して大きい。さらに、リード220aのピッチP1は、リード230aのピッチP2と比して広い。このため、はんだ付けの接合強度を確保する観点、及び隣り合うリードがはんだJを介して接続されてしまうブリッジの発生を抑制する観点から、部品220を基板210にはんだ付けする場合の噴流高さの狙い値は、部品230を基板210にはんだ付けする場合の噴流高さの狙い値と比して高くなっている。
It should be noted that the outer diameter d3 of the lead 220a of the
具体的には、溶融はんだJの噴流高さが部品220の狙い値の場合は、図13(A)に示されるように、夫々のリード220aとスルーホール210aにはんだJが充分付着する。これに対して、溶融はんだJの噴流高さが狙い値に対して低い場合は、図13(B)に示されるように、リード220aとスルーホール210aの一部にしかはんだJが付着しない。このように、リード220aとスルーホール210aの一部にしかはんだJが付着しない場合は、はんだ付けの接合強度が不足し、基板210から部品220が取れ易くなるだけではなく(機械的な強度不足)、接触不具合(電気的な導通不良)が発生することになる。
Specifically, when the jet height of the molten solder J is the target value for the
また、溶融はんだJの噴流高さが部品230の狙い値の場合は、図14(A)に示されるように、夫々のリード230aとスルーホール210bにはんだJが充分付着する。これに対して、溶融はんだJの噴流高さが狙い値に対して高い場合は、図14(B)に示されるように、隣り合うリード230aとスルーホール210bがはんだJを介して電気的に接続される(ブリッジの発生)。なお、図14(B)においてはブリッジが装置幅方向に発生した場合が図示されているが、ブリッジは、ノズル30が装置奥行き方向に移動する場合、装置奥行き方向に発生する場合が多い。換言すると、ノズル30が装置奥行き方向に移動する場合において、溶融はんだJの噴流高さが狙い値に対して高い場合は、装置奥行き方向に並ぶリード230a間がはんだJを介して電気的に接続されてブリッジが発生し得る。
Further, when the jet height of the molten solder J is the target value for the
さらに、一対の搬送ベルト86の移送部86aにおいて、ノズル30に対して幅方向の一方側の部分には、部品220、230が実装された複数の基板210が、予め決められた位置に載せられている。具体的には、基板210は、奥行方向に延びるように、一対の搬送ベルト86に載せられており、部品220が、部品230に対して奥行方向の手前側に配置されている。
Furthermore, in the
先ず、はんだ付け装置10を稼動させると、図10に示すステップS100で、制御部18は、モータ34を制御して、モータ34によって出力される最小の駆動力(回転数)によって、インペラ32を回転させて、ノズル30から溶融はんだJを噴流させる(図4(A)参照)。
First, when the
そして、回転数センサ40は、モータ34の最小の駆動力によって回転しているインペラ32の回転数(以下「最小回転数」)を検知する。さらに、高さセンサ14は、モータ34の最小の駆動力によって回転しているインペラ32によってノズル30から噴流する溶融はんだJの噴流高さを検知する。高さセンサ14が噴流高さを検知すると、ステップS200へ移行する。ここで、モータ34の最小の駆動力(モータ34によって出力される最小の駆動力)とは、高さセンサ14によって検知できる最低の高さではんだJがノズル30から噴流する場合の駆動力である。
The
ステップS200で、制御部18は、モータ34を制御して、モータ34によって出力される最大の駆動力によって、インペラ32を回転させて、ノズル30から溶融はんだJを噴流させる(図4(B)参照)。ここで、モータ34の最大の駆動力(モータ34によって出力される最大の駆動力)とは、高さセンサ14によって検知できる最高の高さではんだJがノズル30から噴流する場合の駆動力である。
In step S200, the
そして、回転数センサ40は、モータ34の最大の駆動力によって回転しているインペラ32の回転数(以下「最大回転数」)を検知する。さらに、高さセンサ14は、モータ34の最大の駆動力によって回転しているインペラ32によってノズル30から噴流する溶融はんだJの噴流高さを検知する。高さセンサ14が噴流高さを検知すると、ステップS300へ移行する。
The
ステップS300で、制御部18は、インペラ32の最小回転数、及びこのときの噴流高さと、インペラ32の最大回転数、及びこのときの噴流高さとから、インペラ32の回転数と噴流高さとの関係式を導出する。換言すれば、制御部18は、モータ34の駆動力と噴流高さとの関係式を導出する。
In step S300, the
具体的には、制御部18は、図9のグラフに示されるように、インペラ32の回転数と噴流高さとの関係を比例として、関係式を導出する。制御部18が関係式を導出するとステップS400へ移行する。
Specifically, as shown in the graph of FIG. 9, the
図11のステップS400で、制御部18は、ステップS300で導出した関係式と、制御部18のROMからRAMに読み込まれた噴流高さの狙い値とから、部品220を基板210にはんだ付けする場合のインペラ32の回転数と、部品230を基板210にはんだ付けする場合のインペラ32の回転数とを導出する。
In step S400 of FIG. 11, the
また、制御部18は、部品220を基板210にはんだ付けする場合のインペラ32の回転数から、この回転数でインペラ32を回転させるためのモータ34の駆動力を導出する。さらに、制御部18は、部品230を基板210にはんだ付けする場合のインペラ32の回転数から、この回転数でインペラ32を回転させるためのモータ34の駆動力を導出する。制御部18がモータ34の駆動力を導出するとステップS500へ移行する。
Further, the
ステップS500で、制御部18は、搬送部16の駆動ロール84を稼動させて、一対の搬送ベルト86を周回させる。そして、搬送ベルト86の移送部86aに載せられた一の基板210を、上下方向でノズル30と対向させる(図8(A)参照)。なお、この状態で、初期位置に配置されている装置本体12のノズル30は、基板210において奥行方向の手前側の部分と対向している(図5(A)参照)。最初の基板210がノズル30と対向すると、ステップS600へ移行する。
In step S<b>500 , the
ステップS600で、制御部18は、モータ34を稼動(駆動)させて、ノズル30から溶融はんだJを噴流させる。さらに、制御部18は、移動部24を稼動(駆動)させて、ノズル30を奥行方向の手前側から奥側へ移動させる。
In step S<b>600 , the
具体的には、制御部18は、部品220を基板210にはんだ付けする場合の回転数でインペラ32を回転させ、図5(A)に示されるように、ノズル30から溶融はんだJを噴流させる。さらに、制御部18は、ノズル30を奥行方向の手前側(初期位置)から奥側へ移動させる(図中矢印参照)。そして、制御部18は、ノズル30が部品220の下方を通過するように、ノズル30を移動させる。換言すると、制御部18は、部品220を基板210にはんだ付けする場合の回転数でインペラ32を回転させながら、ノズル30を、部品220のリード220aの一端側(図5(A)の紙面左側の二点鎖線の位置)から、リード220aの他端側(図5(A)の紙面右側の二点鎖線の位置)に移動させる。
Specifically, the
また、ノズル30が部品220の下方を通過すると、制御部18は、部品230を基板210にはんだ付けする場合の回転数でインペラ32を回転させ、図5(B)に示されるように、ノズル30から溶融はんだJを噴流させる。さらに、制御部18は、ノズル30を奥行方向の手前側から奥側へ移動させる(図中矢印参照)。そして、制御部18は、ノズル30が部品230の下方を通過するように、ノズル30を移動させる。換言すると、制御部18は、部品230を基板210にはんだ付けする場合の回転数でインペラ32を回転させながら、ノズル30を、部品230のリード230aの一端側(図5(B)の紙面左側の二点鎖線の位置)から、リード230aの他端側(図5(B)の紙面右側の二点鎖線の位置)に移動させる。
なお、図5においては、部品220および部品230が近い位置で図示されているが、両部品は、制御部18が一方の部品をはんだ付けするために変更したインペラ32の回転数による溶融はんだJの噴流が、他方の部品に当たらないように十分離れている方が望ましい。
Further, when the
In FIG. 5 ,
ノズル30が部品230の下方を通過すると、制御部18は、モータ34を制御してインペラ32の回転を遅くする。さらに、制御部18は、移動部24を稼動させて、装置本体12を上下方向の上側から下側に移動させ(ノズル30と基板210を離間させ)、奥行方向の奥側から手前側へ移動させ、さらに、上下方向の下側から上側に移動させて、装置本体12を初期位置に復帰させる。そして、制御部18の図示せぬカウンタが、部品220、230が基板210にはんだ付けされて製造された基板装置240を「+1」とカウントする。製造された基板装置240の数がカウントされると、ステップS700へ移行する。
When
ステップS700で、制御部18が、製造された基板装置240の数(カウンタによってカウントされた数)が、予め決められた数に達しているか否かを判断する。基板装置240の数が、予め決められた数に達している場合は、一連の動作が終了する。一方、基板装置240の数が、予め決められた数に達してない場合は、ステップS800へ移行する。
In step S700, the
ステップS800で、制御部18が、ステップS300で、はんだ付け装置10が稼動した時間が、予め決められた稼動時間に達しているか否かを判断する。
At step S800, the
はんだ付け装置10の稼動時間が、予め決められた稼動時間に達していない場合は、ステップS500へ移行して前述した工程が再度実行される。一方、はんだ付け装置10の稼動時間が、予め決められた稼動時間に達している場合は、ステップS900へ移行する。
If the operating time of the
ステップS900で、制御部18は、搬送部16の駆動ロール84を稼動させて、一対の搬送ベルト86を周回させる。そして、搬送ベルト86の移送部86aに載せられた基板210を、上下方向でノズル30と対向しない位置に移動させる(図8(B)参照)。基板210が移動すると、ステップS950へする。
In step S<b>900 , the
ステップS950で、制御部18は、モータ34を稼動させて、インペラ32を予め決められた時間だけ回転させ、溶融はんだJを撹拌する。具体的には、ノズル30から溶融はんだJを噴流させない程度の回転数でインペラ32を回転させて、溶融はんだJを攪拌する。溶融はんだJが撹拌されると、ステップS100へ移行して前述した工程が再度実施される。
In step S950, the
(まとめ)
以上説明したように、はんだ付け装置10では、インペラ32の回転数と溶融はんだJの噴流高さとの関係を導出し、噴流高さを予め決められた狙い値とするために、この関係に基づいてインペラ32を制御する。このため、溶融はんだJを噴流させるためのインペラ32の回転数が常に一定の場合と比して、はんだ付け不良の発生が抑制される。
(summary)
As described above, in the
また、はんだ付け装置10では、制御部18は、モータ34の一の駆動力によって回転しているインペラ32の回転数及びこのときの噴流高さと、モータ34の他の駆動力によって回転しているインペラ32の回転数及びこのときの噴流高さとから、インペラ32の回転数と噴流高さとの比例の関係式を導出する。つまり、インペラ32の回転数を一の値と他の値とに設定したときの夫々の噴流高さから、インペラ32の回転数と噴流高さとの比例の関係式を導出する。このため、インペラ32の回転数を3個以上に設定したときの夫々の噴流高さから、関係式を導出する場合と比して、前述した関係式が容易に導出される。
Further, in the
また、はんだ付け装置10では、制御部18は、モータ34の最小の駆動力によって回転しているインペラ32の回転数及びこのときの噴流高さと、モータ34の最大の駆動力によって回転しているインペラ32の回転数及びこのときの噴流高さとから、インペラ32の回転数と噴流高さとの比例の関係式を導出する。このため、モータ34において中位程度の異なる2値の駆動力によってインペラを回転させることで関係式を導出する場合と比して、前述した関係式の精度が向上する。これにより、はんだ付け不良の発生が抑制される。
In the
また、はんだ付け装置10では、制御部18は、部品220を基板210にはんだ付けする場合と、部品230を基板210にはんだ付けする場合とで、インペラ32を制御して、溶融はんだJの噴流高さを変える。このため、1個の基板において部品が変わっても噴流高さを変えない場合と比して、はんだ付け不良の発生が抑制される。
In addition, in the
また、はんだ付け装置10では、制御部18は、予め決められた稼動時間毎に、インペラ32の回転数と溶融はんだJの噴流高さとの関係式を導出する。ここで、はんだ付け装置10では、貯留槽22の内部の溶融はんだJの量が減少すると、ノズル30から噴流する溶融はんだJの噴流高さが低くなる。また、時間の経過と共に、酸化はんだ(ドロス)の量が増加すると、ノズル30から噴流する溶融はんだJの噴流高さが低くなる。このため、はんだ付け装置10では、最初に導出した関係式のみに基づいてインペラが制御される場合と比して、はんだ付け不良の発生が抑制される。
Further, in the
また、はんだ付け装置10では、制御部18は、インペラ32の回転数と、溶融はんだJの噴流高さとの関係式を再度導出する前に、貯留槽22の内部の溶融はんだJをインペラ32によって撹拌させる。溶融はんだJが撹拌されることで、溶融はんだJに含まれる物質(ドロス等)の濃度分布が均一化する。このため、貯留槽22の内部の溶融はんだJを撹拌することなく、インペラ32の回転数と、噴流高さとの関係式を再度導出する場合と比して、前述した関係式の精度が向上する。これにより、はんだ付け不良の発生が抑制される。
Further, in the
また、基板装置の製造方法では、溶融はんだJを噴流させるためのインペラ32の回転数が常に一定の場合と比して、はんだ付け不良の発生が抑制される。
Further, in the substrate device manufacturing method, the occurrence of soldering defects is suppressed as compared with the case where the
<第2実施形態>
本発明の第2実施形態に係るはんだ付け装置、及び基板装置の製造方法の一例を図15~図21に従って説明する。なお、第2実施形態では、第1実施形態と異なる部分を主に説明する。
<Second embodiment>
An example of a soldering apparatus and a manufacturing method of a substrate device according to a second embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 15 to 21. FIG. In addition, in the second embodiment, mainly different parts from the first embodiment will be described.
第2実施形態に係るはんだ付け装置110を用いた基板装置の製造方法では、2種類の基板装置280、290が製造される。
In the substrate device manufacturing method using the
基板装置280は、図19(A)(B)に示されるように、部品220を基板260にはんだ付けすることで製造される。具体的には、基板260には、部品220のリード220aが挿入される孔径d1のスルーホール260aが4個形成されている。このスルーホール260aにリード220aを挿入することで、部品220が基板260に実装される。なお、基板260の外形は、基板210(図12参照)の外形と同様である。
The
基板装置290は、図20(A)(B)に示されるように、部品230を基板270にはんだ付けすることで製造される。具体的には、基板270には、部品230のリード230aが挿入される孔径d2のスルーホール270aが6個形成されている。このスルーホール270aにリード230aを挿入することで、部品230が基板270に実装される。なお、基板270の外形は、基板210の外形と同様である。
The
また、制御部218は、図15に示されるように、高さセンサ14及び回転数センサ40からの検知信号を受け取るようになっている。さらに、制御部218は、モータ34、駆動ロール84、及び移動部24の稼動を制御するようになっている。
15, the
なお、制御部218による各部の制御については、後述する作用と共に説明する。
The control of each unit by the
(作用)
次に、はんだ付け装置110を用いて、基板装置280、290を順に製造する基板装置の製造方法について、図16、図17、図18に示すフロー図を用いて説明する。なお、本実施形態のはんだ付け装置110では、詳細は後述するが、はんだ付けの前、及び製造される基板装置の種類が変わる毎に、インペラ32の回転数と溶融はんだJの噴流高さとの関係式が再度導出されるようになっている。
(Action)
Next, a method of manufacturing substrate devices in which
また、はんだ付け装置110の制御部218のROMには、部品220を基板260にはんだ付けする場合の噴流高さの狙い値、及び部品230を基板270にはんだ付けする場合の噴流高さの狙い値が、予め記憶されている。さらに、制御部218のROMには、最初に製造される基板装置280の数と、次に製造される基板装置290の数とが、予め記憶されている。
The ROM of the
先ず、はんだ付け装置110を稼動させると、ステップS1100で、制御部218は、第1実施形態のステップS100と同様に、モータ34によって出力される最小の駆動力によって、インペラ32を回転させ、高さセンサ14は、このときの溶融はんだJの噴流高さを検知する。
First, when the
ステップS1200で、制御部218は、第1実施形態のステップS200と同様に、制御部218は、モータ34によって出力される最大の駆動力によって、インペラ32を回転させ、高さセンサ14は、このときの溶融はんだJの噴流高さを検知する。
In step S1200, the
ステップS1300で、制御部218は、第1実施形態のステップS300と同様に、インペラ32の回転数と噴流高さとの関係式を導出する。
At step S1300, the
ステップS1400で、制御部218は、第1実施形態のステップS400と同様に、ステップS1300で導出した関係式と、制御部218のROMからRAMに読み込まれた噴流高さの狙い値とから、部品220を基板260にはんだ付けする場合のインペラ32の回転数を導出する。また、制御部218は、部品220を基板260にはんだ付けする場合のインペラ32の回転数から、この回転数でインペラ32を回転させるためのモータ34の駆動力を導出する。
In step S1400, as in step S400 of the first embodiment, the
ステップS1500で、制御部218は、第1実施形態のステップS500と同様に、搬送部16の駆動ロール84を稼動させて、基板260を、上下方向でノズル30と対向させる。
In step S1500, the
ステップS1600で、制御部218は、第1実施形態のステップS600と同様に、溶融はんだJを噴流しているノズル30を移動させて、部品220を基板260にはんだ付けする。そして、カウンタが、製造された基板装置280の数をカウントする。
In step S1600, the
ステップS1700で、制御部218は、第1実施形態のステップS700と同様に、製造された基板装置280の数が、予め決められた数に達しているか否かを判断する。基板装置280の数が、予め決められた数に達していない場合は、ステップS1500へ移行して前述した工程が再度実行される。一方、基板装置280の数が、予め決められた数に達している場合は、ステップ1800へ移行する。
In step S1700, the
ステップ1800で、制御部218は、第1実施形態のステップS900と同様に、搬送ベルト86の移送部86aに載せられた基板260を、上下方向でノズル30と対向しないように移動させる。
At step 1800, the
ステップ1900で、制御部218は、第1実施形態のステップS950と同様に、ノズル30から溶融はんだJを噴流させない程度の回転数でインペラ32を回転させて、溶融はんだJを攪拌する。
At step 1900, the
ステップ2000で、制御部218は、第1実施形態のステップS100と同様に、モータ34によって出力される最小の駆動力によって、インペラ32を回転させ、高さセンサ14は、このときの溶融はんだJの噴流高さを検知する。
At step 2000, the
ステップ2100で、制御部218は、第1実施形態のステップS200と同様に、制御部218は、モータ34によって出力される最大の駆動力によって、インペラ32を回転させ、高さセンサ14は、このときの溶融はんだJの噴流高さを検知する。
At step 2100, the
ステップS2200で、制御部218は、第1実施形態のステップS300と同様に、インペラ32の回転数と噴流高さとの関係式を導出する。
In step S2200,
ステップS2300で、制御部218は、第1実施形態のステップS400と同様に、ステップS2200で導出した関係式と、制御部218のROMからRAMに読み込まれた噴流高さの狙い値とから、部品230を基板270にはんだ付けする場合のインペラ32の回転数を導出する。また、制御部218は、部品230を基板270にはんだ付けする場合のインペラ32の回転数から、この回転数でインペラ32を回転させるためのモータ34の駆動力を導出する。
In step S2300, similarly to step S400 of the first embodiment, the
ステップS2400で、制御部218は、第1実施形態のステップS500と同様に、搬送部16の駆動ロール84を稼動させて、基板270を、上下方向でノズル30と対向させる。
In step S2400, the
ステップS2500で、制御部218は、第1実施形態のステップS600と同様に、溶融はんだJを噴流しているノズル30を移動させて、部品230を基板270にはんだ付けする。そして、カウンタが、製造された基板装置290の数をカウントする。
In step S2500,
ステップS2600で、制御部218は、第1実施形態のステップS700と同様に、製造された基板装置290の数が、予め決められた数に達しているか否かを判断する。基板装置290の数が、予め決められた数に達していない場合は、ステップS2400へ移行して前述した工程が再度実行される。一方、基板装置290の数が、予め決められた数に達している場合は、一連の動作が終了する。
In step S2600, the
(まとめ)
以上説明したように、はんだ付け装置110では、制御部218は、製造される基板装置の種類が変わる毎に、インペラ32の回転数と溶融はんだJの噴流高さとの関係式を導出する。このため、製造される基板装置の種類が変わっても同じ関係式を用いてインペラ32を制御する場合と比して、基板装置の種類毎に新たな関係式を用いることで、はんだ付け不良の発生が抑制される。なお、第2実施形態の他の作用は、予め決められた稼動時間毎に関係式を導出することで生じる以外の第1実施形態の作用と同様である。
(summary)
As described above, in the
なお、本発明を特定の実施形態について詳細に説明したが、本発明は係る実施形態に限定されるものではなく、本発明の範囲内にて他の種々の実施形態をとることが可能であることは当業者にとって明らかである。例えば、上記実施形態では、ポイントフローはんだ付け装置を用いて、各実施形態を説明したが、フローはんだ付け装置であればよく、本発明は、ポイントフローはんだ付け装置に限定されるものではない。 Although the present invention has been described in detail with respect to specific embodiments, the present invention is not limited to such embodiments, and various other embodiments are possible within the scope of the present invention. It is clear to those skilled in the art. For example, in the above embodiments, each embodiment was described using a point flow soldering apparatus, but any flow soldering apparatus may be used, and the present invention is not limited to the point flow soldering apparatus.
また、上記実施形態では、インペラ32の回転数と溶融はんだJの噴流高さとの関係を導出したが、モータ34の回転数と溶融はんだJの噴流高さとの関係を導出することで、間接的に、インペラ32の回転数と溶融はんだJの噴流高さとの関係を導出してもよい。
Further, in the above-described embodiment, the relationship between the rotation speed of the
また、上記実施形態では、特に説明しなかったが、関係式に基づいて導出された回転数でインペラ32を回転させたときに、溶融はんだJの噴流高さが、実際に狙い値となっているのか否かを確認し、フィードバックする工程を行ってもよい。
Although not specifically described in the above embodiment, when the
また、上記実施形態では、インペラ32の回転数を一の値と他の値とに設定したときの夫々の噴流高さから、インペラ32の回転数と溶融はんだJの噴流高さとの関係式を導出したが、インペラ32の回転数を3以上に設定したときの夫々の噴流高さから、関係式を導出してもよい。この場合には、図21のグラフに示されるように、インペラの回転数と溶融はんだJの噴流高さの関係が、例えば、2次曲線等となってもよい。
Further, in the above-described embodiment, the relational expression between the rotation speed of the
また、上記実施形態では、制御部18は、モータ34の最小の駆動力によって回転しているインペラ32の回転数及びこのときの噴流高さと、モータ34の最大の駆動力によって回転しているインペラ32の回転数及びこのときの噴流高さとから、インペラ32の回転数と噴流高さとの比例の関係式を導出したが、インペラの回転数を2値として、このときの噴流高さによって関係式を導出してもよい。しかし、この場合には、モータ34の最小の駆動力、及び最大の駆動力によってインペラ32を回転させることで奏する作用は奏しない。
In the above-described embodiment, the
また、上記実施形態では、特に説明しなかったが、酸化はんだが除去される毎に、インペラの回転数と溶融はんだJの噴流高さとの関係を導出してもよい。貯留槽22の内部の溶融はんだJに含まれる酸化はんだの量は、ノズル30から噴流した溶融はんだJの高さに影響するからである。
Moreover, although not specifically described in the above embodiment, the relationship between the impeller rotation speed and the jet height of the molten solder J may be derived each time the oxidized solder is removed. This is because the amount of oxidized solder contained in the molten solder J inside the
また、上記第1実施形態では、予め決められた稼動時間毎に、インペラの回転数と溶融はんだJの噴流高さとの関係を導出したが、貯留槽22に貯留されている溶融はんだJの量が予め決められた量減った毎に、インペラの回転数と溶融はんだJの噴流高さとの関係を導出してもよい。 Further, in the first embodiment, the relationship between the impeller rotation speed and the jet height of the molten solder J is derived for each predetermined operating time. is decreased by a predetermined amount, the relationship between the impeller rotation speed and the jet height of the molten solder J may be derived.
また、上記第2実施形態では、特に説明しなかったが、製造される基板装置の種類が稼動途中で変わった場合であっても、予め決められた稼動時間毎に、インペラの回転数と溶融はんだJの噴流高さとの関係を導出してもよい。 Although not particularly described in the second embodiment, even if the type of substrate device to be manufactured is changed during operation, the number of rotations of the impeller and the melting point are changed every predetermined operation time. A relationship with the jet height of the solder J may be derived.
また、上記第2実施形態では、特に説明しなかったが、製造される基板装置の種類が3種類以上の場合であっても、基板装置の種類が変わる毎に、インペラの回転数と溶融はんだJの噴流高さとの関係を導出してもよい。 Although not particularly described in the second embodiment, even if the number of types of substrate devices to be manufactured is three or more, the number of revolutions of the impeller and the molten solder change each time the type of substrate device changes. A relationship of J to jet height may be derived.
10 はんだ付け装置
14 高さセンサ(検出部の一例)
18 制御部
30 ノズル
32 インペラ(回転体の一例)
34 モータ(駆動部の一例)
110 はんだ付け装置
210 基板
218 制御部
220 部品
230 部品
240 基板装置
260 基板
270 基板
280 基板装置
290 基板装置
10
18
34 motor (an example of a drive unit)
110
Claims (4)
該ノズルから噴流するはんだの高さを検出する検出部と、
基板に実装された複数の種類の部品をはんだ付けする前に、該回転体の回転数を複数の値に設定したときの夫々の該高さを該検出部で検出させ、該回転数と該高さとの関係式を導出し、該関係式に基づいて該部品毎に該回転体を制御して該高さを変える制御部と、
を備え、
該制御部は、予め決められた稼動時間毎に、該回転体の該回転数を複数の値に設定したときの夫々の該高さを該検出部で検出させ、該回転数と該高さとの他の関係式を導出し、該他の関係式に基づいて該部品毎に該回転体を制御して前記高さを変えるはんだ付け装置。 a rotating body for jetting solder from a nozzle;
a detection unit that detects the height of the solder that jets from the nozzle;
Before soldering a plurality of types of components mounted on a substrate, the detection unit is caused to detect the respective heights when the rotation speed of the rotating body is set to a plurality of values, and the rotation speed and the height are detected. a control unit that derives a relational expression with height, controls the rotating body for each part based on the relational expression , and changes the height ;
with
The control unit causes the detection unit to detect the respective heights when the number of rotations of the rotating body is set to a plurality of values for each predetermined operating time, and detects the number of rotations and the height. A soldering apparatus for deriving another relational expression, and controlling the rotating body for each component based on the other relational expression to change the height.
前記一の値は、前記制御部が前記駆動部を制御して前記駆動部によって出力される最小の駆動力で前記回転体が回転する回転数であり、
前記他の値は、前記制御部が前記駆動部を制御して前記駆動部によって出力される最大の駆動力で前記回転体が回転する回転数である請求項2に記載のはんだ付け装置。 Equipped with a drive unit that rotates the rotating body,
the one value is the number of rotations at which the rotating body rotates with the minimum driving force output by the driving unit as the control unit controls the driving unit;
3. The soldering apparatus according to claim 2, wherein the other value is the number of revolutions at which the rotating body rotates with the maximum driving force output by the driving section as the control section controls the driving section.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2018207157A JP7230436B2 (en) | 2018-11-02 | 2018-11-02 | Manufacturing method of soldering device and substrate device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2018207157A JP7230436B2 (en) | 2018-11-02 | 2018-11-02 | Manufacturing method of soldering device and substrate device |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2020072226A JP2020072226A (en) | 2020-05-07 |
| JP7230436B2 true JP7230436B2 (en) | 2023-03-01 |
Family
ID=70548129
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2018207157A Active JP7230436B2 (en) | 2018-11-02 | 2018-11-02 | Manufacturing method of soldering device and substrate device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP7230436B2 (en) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR102266415B1 (en) * | 2020-08-06 | 2021-06-17 | (주)서진엔지니어링 | Solder pumping unit and solder supplying apparatus comprising the same |
| JP7786140B2 (en) * | 2021-11-15 | 2025-12-16 | 富士フイルムビジネスイノベーション株式会社 | Nozzle, soldering device, and method for manufacturing substrate device |
| JPWO2025017794A1 (en) * | 2023-07-14 | 2025-01-23 |
Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002344127A (en) | 2001-03-13 | 2002-11-29 | Denon Ltd | Soldering equipment |
| WO2010140375A1 (en) | 2009-06-04 | 2010-12-09 | パナソニック株式会社 | Jet soldering device and soldering method |
| WO2015059748A1 (en) | 2013-10-21 | 2015-04-30 | 富士機械製造株式会社 | Electronic component mounting apparatus |
| JP2018008297A (en) | 2016-07-14 | 2018-01-18 | 富士電機株式会社 | Soldering device |
| JP2018103256A (en) | 2016-12-28 | 2018-07-05 | 千住金属工業株式会社 | Jet solder height confirmation jig and its handling method |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57206570A (en) * | 1981-06-10 | 1982-12-17 | Tamura Seisakusho Co Ltd | Dip type soldering device |
| JPS63137568A (en) * | 1986-11-27 | 1988-06-09 | Toshiba Corp | Method and device for jet soldering |
-
2018
- 2018-11-02 JP JP2018207157A patent/JP7230436B2/en active Active
Patent Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002344127A (en) | 2001-03-13 | 2002-11-29 | Denon Ltd | Soldering equipment |
| WO2010140375A1 (en) | 2009-06-04 | 2010-12-09 | パナソニック株式会社 | Jet soldering device and soldering method |
| WO2015059748A1 (en) | 2013-10-21 | 2015-04-30 | 富士機械製造株式会社 | Electronic component mounting apparatus |
| JP2018008297A (en) | 2016-07-14 | 2018-01-18 | 富士電機株式会社 | Soldering device |
| JP2018103256A (en) | 2016-12-28 | 2018-07-05 | 千住金属工業株式会社 | Jet solder height confirmation jig and its handling method |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2020072226A (en) | 2020-05-07 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP7230436B2 (en) | Manufacturing method of soldering device and substrate device | |
| US9728433B2 (en) | Attitude changing apparatus, aligning apparatus, attitude changing method and aligning method | |
| JPWO2011105034A1 (en) | Soldering device | |
| US20100001047A1 (en) | Wave soldering tank | |
| JP4868078B2 (en) | Point flow soldering equipment | |
| EP2611564A1 (en) | Soldering nozzle for delivering molten solder to the underside of a pcb; method of reducing the rate of occurence of dewetting of a solder nozzle | |
| JP6860356B2 (en) | Coating device and coating method | |
| JP5332654B2 (en) | Jet solder bath | |
| KR102242585B1 (en) | Nozzle body device for reducing the sellective solderball | |
| JP2024122559A (en) | Soldering device and manufacturing method for substrate device | |
| JP6491324B2 (en) | Feeder device and feeder tape carrier feeding method | |
| JPH0263679A (en) | Automatic soldering method and device | |
| US20160376112A1 (en) | Attitude changing apparatus, aligning apparatus, attitude changing method and aligning method | |
| JPH11135932A (en) | Automatic soldering mechanism, soldering equipment provided therewith, and soldering method | |
| JP7786140B2 (en) | Nozzle, soldering device, and method for manufacturing substrate device | |
| US11059119B2 (en) | Soldering apparatus and soldering method | |
| JP2000200966A (en) | Local flow soldering equipment | |
| JP4871541B2 (en) | Coating method, coating apparatus, and display member manufacturing method | |
| JP6351642B2 (en) | Molten solder pressure confirmation plate, soldering apparatus, molten solder pressure adjusting method and soldering method | |
| KR101352573B1 (en) | Flux dipping apparatus | |
| JP4962197B2 (en) | Jet solder bath | |
| JP5300006B2 (en) | Parts supply device | |
| KR20100021813A (en) | Flux dipping apparatus having a sensing members | |
| JP4513055B2 (en) | Electronic component alignment method and electronic component assembly manufacturing method | |
| JP2007149825A (en) | Flux transfer device |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20211020 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20220808 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20220823 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20220915 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20230117 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20230130 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 7230436 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |