Deprecated: The each() function is deprecated. This message will be suppressed on further calls in /home/zhenxiangba/zhenxiangba.com/public_html/phproxy-improved-master/index.php on line 456
JP7237516B2 - Deterioration estimation device, deterioration estimation system, deterioration estimation method, and computer program - Google Patents
[go: Go Back, main page]

JP7237516B2 - Deterioration estimation device, deterioration estimation system, deterioration estimation method, and computer program - Google Patents

Deterioration estimation device, deterioration estimation system, deterioration estimation method, and computer program Download PDF

Info

Publication number
JP7237516B2
JP7237516B2 JP2018200337A JP2018200337A JP7237516B2 JP 7237516 B2 JP7237516 B2 JP 7237516B2 JP 2018200337 A JP2018200337 A JP 2018200337A JP 2018200337 A JP2018200337 A JP 2018200337A JP 7237516 B2 JP7237516 B2 JP 7237516B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
reflection intensity
deterioration
insulating material
deterioration index
information
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2018200337A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2020067380A (en
Inventor
雄一 角本
広明 長
智 原口
隆 水出
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Toshiba Infrastructure Systems and Solutions Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Toshiba Infrastructure Systems and Solutions Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp, Toshiba Infrastructure Systems and Solutions Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP2018200337A priority Critical patent/JP7237516B2/en
Publication of JP2020067380A publication Critical patent/JP2020067380A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP7237516B2 publication Critical patent/JP7237516B2/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)
  • Testing Resistance To Weather, Investigating Materials By Mechanical Methods (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Description

本発明の実施形態は、劣化推定装置、劣化推定システム、劣化推定方法及びコンピュータプログラムに関する。 TECHNICAL FIELD Embodiments of the present invention relate to deterioration estimation devices, deterioration estimation systems, deterioration estimation methods, and computer programs.

スイッチギヤ等の受変電機器は、絶縁材料として不飽和ポリエステル等の樹脂が用いられる。樹脂は、絶縁材料自体の経年劣化、塵埃又は汚損等の環境が原因で表面の絶縁抵抗が低下する。絶縁抵抗の低下は、地絡事故等の原因となる。受変電機器の点検員は、現地で絶縁抵抗の測定を行う。しかし、現地での測定は、設備停止と、現地の湿度環境と、に依存するため難しい。そこで、絶縁材料の表面の絶縁抵抗を推定する方法が用いられている。当該方法では、光沢度又は色差等の材料から得られる特性値と、汚損因子、温度又は湿度等の環境から得られる情報と、をそれぞれ指標化する。当該方法では、指標化された情報をパラメータとして多変量解析を行うことで、絶縁抵抗が推定される。しかし、絶縁材料から得られる特性値は、劣化の進行に応じた評価が困難である。したがって、当該方法は、絶縁抵抗の推定精度が低下する場合があった。 2. Description of the Related Art Resins such as unsaturated polyesters are used as insulating materials for power receiving and transforming devices such as switchgears. The insulation resistance of the surface of the resin decreases due to deterioration of the insulating material itself over time and environmental factors such as dust or contamination. A decrease in insulation resistance causes a ground fault or the like. Inspectors of substation equipment will measure the insulation resistance on site. However, on-site measurements are difficult because they depend on equipment outages and the local humidity environment. Therefore, a method of estimating the insulation resistance of the surface of an insulating material is used. In this method, characteristic values obtained from materials, such as glossiness or color difference, and information obtained from environments, such as fouling factors, temperature, or humidity, are indexed. In this method, the insulation resistance is estimated by performing multivariate analysis using indexed information as parameters. However, it is difficult to evaluate characteristic values obtained from insulating materials according to progress of deterioration. Therefore, this method may reduce the accuracy of insulation resistance estimation.

特開2004-77469号公報JP 2004-77469 A 特開2003-22587号公報JP-A-2003-22587 特公平6-19323号公報Japanese Patent Publication No. 6-19323

本発明が解決しようとする課題は、より高い精度で絶縁材料の劣化状態を推定することができる劣化推定装置、劣化推定システム、劣化推定方法及びコンピュータプログラムを提供することである。 The problem to be solved by the present invention is to provide a deterioration estimation device, a deterioration estimation system, a deterioration estimation method, and a computer program that can estimate the deterioration state of an insulating material with higher accuracy.

実施形態の劣化推定装置は、スペクトル取得部と、劣化指標決定部と、推定部とを持つ。スペクトル取得部は、絶縁材料に対して照射された光の波長帯と、前記光の反射光の反射強度とを対応付けたスペクトル情報を取得する。劣化指標決定部は、判定対象の絶縁材料のスペクトル情報と劣化していない絶縁材料から取得される未劣化スペクトル情報との反射強度の差に基づいて、前記絶縁材料の劣化状態のパラメータを表す劣化指標を決定する。劣化指標決定部は、前記スペクトル情報の反射強度と前記未劣化スペクトル情報の反射強度との差分が、所定の条件を満たす2波長帯を決定し、前記2波長帯における反射強度に基づいて、前記劣化指標を決定する。推定部は、前記劣化指標に基づいて前記絶縁材料の劣化状態を推定する。 A degradation estimation device according to an embodiment has a spectrum acquisition unit, a degradation index determination unit, and an estimation unit. The spectrum acquisition unit acquires spectrum information in which the wavelength band of the light irradiated to the insulating material and the reflection intensity of the reflected light are associated with each other. The deterioration index determining unit determines a deterioration index representing a parameter of the deterioration state of the insulating material based on the difference in reflection intensity between the spectral information of the insulating material to be determined and the non-degraded spectral information obtained from the non-degraded insulating material. Determine your metrics. The deterioration index determination unit determines two wavelength bands in which a difference between the reflection intensity of the spectrum information and the reflection intensity of the undegraded spectrum information satisfies a predetermined condition, and based on the reflection intensities in the two wavelength bands, determines the Determine the degradation index. The estimator estimates the deterioration state of the insulating material based on the deterioration index.

実施形態の劣化推定装置100の機能構成を表す機能ブロック図。FIG. 2 is a functional block diagram showing the functional configuration of the degradation estimation device 100 of the embodiment; 実施形態のマルチスペクトルセンサ40の一具体例を示す図。The figure which shows one specific example of the multispectral sensor 40 of embodiment. 実施形態の電気機器10の一具体例を示す図。The figure which shows one specific example of the electric equipment 10 of embodiment. 実施形態の推定対象の絶縁材料の一具体例を示す図。FIG. 4 is a diagram showing a specific example of an insulating material to be estimated according to the embodiment; 実施形態の対象試料におけるスペクトル情報の一具体例を示す図。FIG. 4 is a diagram showing a specific example of spectral information in a target sample of the embodiment; 実施形態の劣化状態の推定の処理の流れを示すフローチャート。4 is a flowchart showing the flow of deterioration state estimation processing according to the embodiment;

以下、実施形態の劣化推定装置、劣化推定システム、劣化推定方法及びコンピュータプログラムを、図面を参照して説明する。 DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS A deterioration estimation device, a deterioration estimation system, a deterioration estimation method, and a computer program according to embodiments will be described below with reference to the drawings.

図1は、実施形態の劣化推定装置100の機能構成を表す機能ブロック図である。劣化推定装置100は、材料特性値測定センサ20、環境情報測定センサ30及びマルチスペクトルセンサ40と通信可能に接続される。劣化推定装置100は、接続されたマルチスペクトルセンサ40を制御することで、電気機器10が備える絶縁材料から任意の波長帯のスペクトル情報を取得する。劣化推定装置100は、取得されたスペクトル情報を用いて、電気機器10の絶縁材料の劣化状態を推定する。絶縁材料の劣化状態は、例えば、絶縁抵抗値によって表されてもよい。 FIG. 1 is a functional block diagram showing the functional configuration of the deterioration estimation device 100 of the embodiment. The deterioration estimating device 100 is communicably connected to the material property value measuring sensor 20, the environmental information measuring sensor 30, and the multispectral sensor 40. FIG. The deterioration estimating apparatus 100 acquires spectral information in an arbitrary wavelength band from the insulating material included in the electrical equipment 10 by controlling the connected multispectral sensor 40 . The deterioration estimation device 100 estimates the deterioration state of the insulating material of the electrical equipment 10 using the acquired spectrum information. The deterioration state of the insulating material may be represented by, for example, an insulation resistance value.

電気機器10は、スイッチギヤ等の受変電機器によって構成される。電気機器10は、絶縁材料によって囲まれる。電気機器10は、外部から電源ケーブルを介して、高電圧及び大電流を通電する。電気機器10は、異常時には通電を遮断する機能を有する。電気機器10は、真空遮断器、電力用変圧器、ガス絶縁開閉器、発電機、電動機又はリアクトル等のように、部分放電を発生する可能性がある機器であればどのような機器であってもよい。絶縁材料は、例えば不飽和ポリエステル又はエポキシ樹脂等の樹脂であってもよい。 The electrical device 10 is configured by a power receiving and transforming device such as a switchgear. Electrical equipment 10 is surrounded by an insulating material. The electrical equipment 10 is supplied with high voltage and large current from the outside through a power cable. The electrical equipment 10 has a function of shutting off the current in the event of an abnormality. The electrical device 10 may be any device such as a vacuum circuit breaker, a power transformer, a gas insulated switchgear, a generator, an electric motor, a reactor, etc., as long as there is a possibility of generating a partial discharge. good too. The insulating material may be, for example, an unsaturated polyester or a resin such as an epoxy resin.

材料特性値測定センサ20は、測色計、色差計又は色彩計等の色に関する材料特性値を取得するセンサである。材料特性値測定センサ20は、電気機器10等の検査対象機器が備える絶縁材料に光を照射することで、絶縁材料の光沢又は色差等の材料特性値を取得する。なお、材料特性値測定センサ20で測定される材料特性値は、光沢又は色差に限定されない。材料特性値測定センサ20は、絶縁材料の表面の色に関する情報ならばどのような情報を取得してもよい。材料特性値測定センサ20は、取得される材料特性値に応じて、複数のセンサが用いられてもよい。 The material characteristic value measurement sensor 20 is a sensor that acquires material characteristic values related to color, such as a colorimeter, a color difference meter, or a colorimeter. The material characteristic value measurement sensor 20 acquires material characteristic values such as gloss or color difference of the insulating material by irradiating light on the insulating material included in the equipment to be inspected such as the electrical equipment 10 . Note that the material property value measured by the material property value measuring sensor 20 is not limited to glossiness or color difference. The material property value measurement sensor 20 may acquire any information as long as it is information relating to the color of the surface of the insulating material. A plurality of sensors may be used as the material property value measurement sensor 20 according to the material property value to be acquired.

環境情報測定センサ30は、温度計又は湿度計等の自装置(環境情報測定センサ30)の近傍の環境に関する環境情報を取得するセンサである。環境情報測定センサ30は、例えば、電気機器10の近傍に設けられることで、電気機器10近傍の温度又は湿度等の環境情報を取得する。なお、環境情報測定センサ30で測定される環境情報は、温度又は湿度に限定されない。環境情報測定センサ30は、環境に関する情報ならばどのような情報(例えば、汚損度、音量、風量又は明度等)を取得してもよい。環境情報測定センサ30は、取得される環境情報に応じて、複数のセンサが用いられてもよい。 The environmental information measuring sensor 30 is a sensor such as a thermometer or a hygrometer that acquires environmental information about the environment in the vicinity of its own device (environmental information measuring sensor 30). The environmental information measurement sensor 30 is provided near the electric device 10 , for example, to acquire environmental information such as temperature or humidity near the electric device 10 . Environmental information measured by the environmental information measuring sensor 30 is not limited to temperature or humidity. The environmental information measurement sensor 30 may acquire any information (for example, degree of pollution, sound volume, air volume, brightness, etc.) as long as it is information related to the environment. A plurality of sensors may be used as the environmental information measurement sensor 30 according to the environmental information to be acquired.

マルチスペクトルセンサ40は、マルチスペクトルカメラ又はハイパースペクトルカメラ等の任意波長帯の反射強度を取得するセンサである。マルチスペクトルセンサ40は、例えば、劣化推定装置100によって指定された波長帯の光を電気機器10が備える絶縁材料に照射する。マルチスペクトルセンサ40は、検査対象機器によって反射された光の反射強度を取得する。マルチスペクトルセンサ40は、取得された反射強度を劣化推定装置に出力する。マルチスペクトルセンサ40は、外からの光の影響を受けない構成で用いられる。マルチスペクトルセンサ40は、例えば遮光カバー50に格納された構成で用いられる。マルチスペクトルセンサ40は、マルチスペクトルセンサ40が備える受光素子と、電気機器10が備える絶縁材料と、の距離が所定の距離に保たれてもよい。所定の距離は、例えば、5cmである。 The multispectral sensor 40 is a sensor such as a multispectral camera or a hyperspectral camera that acquires reflection intensity in an arbitrary wavelength band. For example, the multispectral sensor 40 irradiates the insulating material included in the electrical equipment 10 with light in the wavelength band designated by the deterioration estimation device 100 . The multispectral sensor 40 acquires the reflection intensity of the light reflected by the device under test. The multispectral sensor 40 outputs the acquired reflection intensity to the deterioration estimation device. The multispectral sensor 40 is used in a configuration that is immune to external light. The multispectral sensor 40 is used in a configuration housed in a light shielding cover 50, for example. In the multispectral sensor 40, the distance between the light receiving element included in the multispectral sensor 40 and the insulating material included in the electrical device 10 may be maintained at a predetermined distance. The predetermined distance is, for example, 5 cm.

劣化推定装置100は、パーソナルコンピュータ、スマートフォン又はタブレットコンピュータ等の情報処理装置である。劣化推定装置100は、マルチスペクトルセンサ40から受け付けたスペクトル情報に基づいて、電気機器10が備える絶縁材料の劣化状態を推定する。劣化推定装置100は、劣化推定プログラムを実行することによって通信部101、入力部102、表示部103、特性情報記憶部104及び制御部105を備える装置として機能する。 The deterioration estimation device 100 is an information processing device such as a personal computer, a smart phone, or a tablet computer. The deterioration estimating device 100 estimates the deterioration state of the insulating material included in the electrical equipment 10 based on the spectral information received from the multispectral sensor 40 . The deterioration estimation device 100 functions as a device including a communication unit 101, an input unit 102, a display unit 103, a characteristic information storage unit 104, and a control unit 105 by executing a deterioration estimation program.

通信部101は、ネットワークインタフェースである。通信部101はネットワークを介して、外部の通信装置と通信する。通信部101は、例えば無線LAN(Local Area Network)、有線LAN、Bluetooth(登録商標)又はLTE(Long Term Evolution)(登録商標)等の通信方式で通信してもよい。外部の通信装置は、例えばパーソナルコンピュータ、サーバ等の情報処理装置であってもよいし、クラウドコンピューティングシステムであってもよい。 A communication unit 101 is a network interface. A communication unit 101 communicates with an external communication device via a network. The communication unit 101 may communicate using a communication method such as a wireless LAN (Local Area Network), a wired LAN, Bluetooth (registered trademark), or LTE (Long Term Evolution) (registered trademark). The external communication device may be, for example, an information processing device such as a personal computer or a server, or may be a cloud computing system.

入力部102は、タッチパネル、マウス及びキーボード等の入力装置を用いて構成される。入力部102は、入力装置を劣化推定装置100に接続するためのインタフェースであってもよい。この場合、入力部102は、入力装置において入力された入力信号から入力データ(例えば、劣化推定装置100に対する指示を示す指示情報)を生成し、劣化推定装置100に入力する。 The input unit 102 is configured using an input device such as a touch panel, mouse, and keyboard. Input unit 102 may be an interface for connecting an input device to degradation estimation device 100 . In this case, input section 102 generates input data (for example, instruction information indicating an instruction to deterioration estimation apparatus 100 ) from an input signal input from an input device, and inputs the input data to deterioration estimation apparatus 100 .

表示部103は、CRT(Cathode Ray Tube)ディスプレイ、液晶ディスプレイ、有機EL(Electro Luminescence)ディスプレイ等の出力装置である。表示部103は、出力装置を劣化推定装置100に接続するためのインタフェースであってもよい。この場合、表示部103は、映像データから映像信号を生成し自身に接続されている映像出力装置に映像信号を出力する。 A display unit 103 is an output device such as a CRT (Cathode Ray Tube) display, a liquid crystal display, an organic EL (Electro Luminescence) display, or the like. The display unit 103 may be an interface for connecting an output device to the deterioration estimation device 100 . In this case, the display unit 103 generates a video signal from video data and outputs the video signal to a video output device connected thereto.

特性情報記憶部104は、磁気ハードディスク装置や半導体記憶装置等の記憶装置を用いて構成される。特性情報記憶部104は、特性情報を記憶する。特性情報は、絶縁材料の劣化状態を推定する推定手段を表す情報である。特性情報は、絶縁材料毎に記録される。推定手段は、例えば、多変量の数式であってもよい。絶縁材料の劣化状態は、材料特性値、環境情報又はスペクトル情報の各値を数式に代入することで推定される。推定手段の数式は、これまでユーザが電気機器10の絶縁材料を診断することによって、得られた診断結果に基づいて生成される。推定手段は、推定された劣化状態に応じて、電気機器10の余寿命年数を推定する手段を有してもよい。余寿命年数は、絶縁抵抗値と余寿命年数とを対応付けたテーブルで推定されてもよいし、絶縁抵抗値を変数とした数式によって推定されてもよい。ユーザとは、例えば、電気機器10の絶縁材料の点検を行う点検員であってもよい。 The characteristic information storage unit 104 is configured using a storage device such as a magnetic hard disk device or a semiconductor storage device. The characteristic information storage unit 104 stores characteristic information. The characteristic information is information representing estimation means for estimating the state of deterioration of the insulating material. Characteristic information is recorded for each insulating material. The estimator may be, for example, a multivariate formula. The deterioration state of the insulating material is estimated by substituting each value of the material characteristic value, the environmental information, or the spectral information into the formula. The formula of the estimating means is generated based on the diagnosis result obtained by the user diagnosing the insulating material of the electric device 10 so far. The estimating means may have means for estimating the remaining years of life of the electrical equipment 10 according to the estimated state of deterioration. The remaining years of life may be estimated from a table in which insulation resistance values and years of remaining life are associated with each other, or may be estimated from a mathematical formula using the insulation resistance value as a variable. The user may be, for example, an inspector who inspects the insulating material of the electrical equipment 10 .

制御部105は、劣化推定装置100の各部の動作を制御する。制御部105は、例えばCPU(Central Processing Unit)等のプロセッサ及びRAM(Random Access Memory)を備えた装置により実行される。制御部105は、劣化推定プログラムを実行することによって、スペクトルセンサ制御部106、材料特性値取得部107、環境情報取得部108、劣化指標決定部109及び推定部110として機能する。 Control section 105 controls the operation of each section of deterioration estimation apparatus 100 . The control unit 105 is executed by a device including a processor such as a CPU (Central Processing Unit) and a RAM (Random Access Memory). Control unit 105 functions as spectrum sensor control unit 106, material characteristic value acquisition unit 107, environment information acquisition unit 108, degradation index determination unit 109, and estimation unit 110 by executing a degradation estimation program.

スペクトルセンサ制御部106は、マルチスペクトルセンサ40から反射強度を取得する。まず、スペクトルセンサ制御部106は、マルチスペクトルセンサ40に対して、波長帯制御指示を送信する。波長帯制御指示は、マルチスペクトルセンサ40の光源から発光される波長帯を指定する。スペクトルセンサ制御部106は、マルチスペクトルセンサ40によって照射され、絶縁材料によって反射された光の反射強度を取得する。 Spectral sensor control section 106 acquires the reflection intensity from multispectral sensor 40 . First, spectrum sensor control section 106 transmits a wavelength band control instruction to multispectral sensor 40 . The wavelength band control instruction designates the wavelength band emitted from the light source of the multispectral sensor 40 . The spectrum sensor control unit 106 obtains the reflection intensity of the light emitted by the multispectral sensor 40 and reflected by the insulating material.

スペクトルセンサ制御部106は、波長帯制御指示によって指定した波長帯とマルチスペクトルセンサ40から取得された反射強度とを対応付けたスペクトル情報を生成する。スペクトルセンサ制御部106は、スペクトル情報を表示部103に表示させる。なお、スペクトルセンサ制御部106は、波長帯制御指示によって指定される波長帯を、入力部102から受け付けてもよい。なお、スペクトルセンサ制御部106は、スペクトル取得部の一態様である。スペクトル取得部は、絶縁材料に対して光を照射することで得られるスペクトル情報を取得する。 The spectral sensor control unit 106 generates spectral information that associates the wavelength band specified by the wavelength band control instruction with the reflection intensity acquired from the multispectral sensor 40 . Spectrum sensor control section 106 causes display section 103 to display the spectrum information. Note that the spectrum sensor control unit 106 may receive from the input unit 102 the wavelength band designated by the wavelength band control instruction. Note that the spectrum sensor control section 106 is one aspect of a spectrum acquisition section. The spectrum acquisition unit acquires spectrum information obtained by irradiating the insulating material with light.

材料特性値取得部107は、材料特性値測定センサ20から光沢度又は色差等の材料特性値を取得する。材料特性値取得部107は、取得された材料特性値を表示部103に表示させてもよい。材料特性値取得部107は、劣化指標決定部109に材料特性値を出力する。 The material characteristic value acquiring unit 107 acquires material characteristic values such as glossiness or color difference from the material characteristic value measuring sensor 20 . The material property value acquiring unit 107 may cause the display unit 103 to display the acquired material property values. The material characteristic value acquisition unit 107 outputs the material characteristic value to the deterioration index determination unit 109 .

環境情報取得部108は、環境情報測定センサ30から温度又は湿度等の環境情報を取得する。環境情報取得部108は、取得された環境情報を表示部103に表示させてもよい。環境情報取得部108は、劣化指標決定部109に環境情報を出力する。 The environment information acquisition unit 108 acquires environment information such as temperature or humidity from the environment information measurement sensor 30 . The environment information acquisition unit 108 may cause the display unit 103 to display the acquired environment information. Environmental information acquisition section 108 outputs the environmental information to degradation index determination section 109 .

劣化指標決定部109は、スペクトル情報に含まれる複数の波長帯に対して所定の処理を行うことで、電気機器10の絶縁材料の劣化指標を決定する。劣化指標は、絶縁材料の劣化状態を視覚的に表したパラメータである。劣化指標は、絶縁材料の劣化状態の推定に用いられる。所定の処理は、例えば、反射強度に対する強調化処理であってもよい。劣化指標決定部109は、劣化していない絶縁材料から得られる未劣化スペクトル情報のピーク強度と、診断対象となる電気機器10の絶縁材料のスペクトル情報のピーク強度と、の差分が所定の条件を満たした時を劣化の発生時として決定する。未劣化スペクトル情報は、特性情報記憶部104に記録されていてもよいし、外部の記憶装置から取得されてもよいし、どのような手段で取得されてもよい。所定の条件は、例えば、差分が予め定められた値を上回ったか否かであってもよい。 The deterioration index determination unit 109 determines the deterioration index of the insulating material of the electrical device 10 by performing predetermined processing on multiple wavelength bands included in the spectrum information. The deterioration index is a parameter that visually represents the deterioration state of the insulating material. The deterioration index is used for estimating the deterioration state of the insulating material. The predetermined processing may be, for example, enhancement processing for reflection intensity. The deterioration index determining unit 109 determines that the difference between the peak intensity of the non-degraded spectral information obtained from the non-degraded insulating material and the peak intensity of the spectral information of the insulating material of the electrical device 10 to be diagnosed satisfies a predetermined condition. The time when it is satisfied is determined as the time when degradation occurs. The undegraded spectrum information may be recorded in the characteristic information storage unit 104, may be obtained from an external storage device, or may be obtained by any means. The predetermined condition may be, for example, whether or not the difference exceeds a predetermined value.

劣化指標決定部109は、電気機器10のスペクトル情報の反射強度と未劣化スペクトル情報の反射強度との差分が、所定の条件を満たす2波長帯を決定する。劣化指標決定部109は、決定された2波長帯の反射強度のピーク強度に基づいて劣化指標を決定する。以下、所定の条件の一具体例について説明する。劣化指標決定部109は、電気機器10のスペクトル情報の反射強度のピーク強度と未劣化スペクトル情報の反射強度のピーク強度との差分値が予め定められた第一閾値以下となる波長帯を特定する。特定された波長帯における電気機器10のスペクトル情報の反射強度のピーク強度を第一反射強度という。劣化指標決定部109は、電気機器10のスペクトル情報の反射強度のピーク強度と未劣化スペクトル情報の反射強度のピーク強度との差分値が予め定められた第二閾値以上となる波長帯を特定する。特定された波長帯における電気機器10のスペクトル情報の反射強度のピーク強度を第二反射強度という。 The deterioration index determination unit 109 determines two wavelength bands in which the difference between the reflection intensity of the spectrum information of the electrical device 10 and the reflection intensity of the undegraded spectrum information satisfies a predetermined condition. The deterioration index determination unit 109 determines a deterioration index based on the determined peak intensities of the reflection intensities of the two wavelength bands. A specific example of the predetermined condition will be described below. The deterioration index determination unit 109 identifies a wavelength band in which the difference value between the peak intensity of the reflection intensity of the spectrum information of the electrical device 10 and the peak intensity of the reflection intensity of the undegraded spectrum information is equal to or less than a predetermined first threshold. . The peak intensity of the reflection intensity of the spectral information of the electrical device 10 in the specified wavelength band is called the first reflection intensity. The deterioration index determination unit 109 identifies a wavelength band in which the difference value between the peak intensity of the reflection intensity of the spectrum information of the electrical device 10 and the peak intensity of the reflection intensity of the undegraded spectrum information is equal to or greater than a predetermined second threshold. . The peak intensity of the reflection intensity of the spectral information of the electrical device 10 in the specified wavelength band is called the second reflection intensity.

劣化指標決定部109は、第一反射強度と第二反射強度とに基づいて劣化指標を決定する。具体的には、劣化指標決定部109は、第一反射強度から第二反射強度とを減算した値に対して、第一反射強度と第二反射強度との和で除算し、除算の結果に対して任意の計数を乗ずることで劣化指標を決定する。任意の計数は予め定められていてもよいし、入力部102を介して受け付けてもよい。 A deterioration index determination unit 109 determines a deterioration index based on the first reflection intensity and the second reflection intensity. Specifically, the deterioration index determination unit 109 divides the value obtained by subtracting the second reflection intensity from the first reflection intensity by the sum of the first reflection intensity and the second reflection intensity, and the result of the division is A deterioration index is determined by multiplying an arbitrary coefficient. Any count may be predetermined or may be received via the input unit 102 .

推定部110は、電気機器10の絶縁材料の劣化状態を推定する。具体的には、推定部110は、特性情報記憶部104から電気機器10の絶縁材料に関する特性情報を取得する。推定部110は、特性情報から電気機器10の絶縁材料の劣化状態を推定する推定手段を取得する。推定部110は、材料特性値取得部107によって取得された材料特性値を推定手段に入力する。推定部110は、推定手段に環境情報取得部108によって取得された環境情報を推定手段に入力する。推定部110は、劣化指標決定部109によって決定された劣化指標を推定手段に入力する。推定部110は、推定手段を実行することで電気機器10の絶縁材料の劣化状態を推定する。例えば、推定部110は、推定手段が数式である場合、数式を解くことで劣化状態を算出する。算出される劣化状態は、例えば絶縁抵抗値である。 The estimation unit 110 estimates the state of deterioration of the insulating material of the electrical device 10 . Specifically, the estimating unit 110 acquires characteristic information about the insulating material of the electric device 10 from the characteristic information storage unit 104 . The estimating unit 110 acquires estimating means for estimating the state of deterioration of the insulating material of the electrical device 10 from the characteristic information. The estimation unit 110 inputs the material property values acquired by the material property value acquisition unit 107 to the estimation means. The estimation unit 110 inputs the environment information acquired by the environment information acquisition unit 108 to the estimation means. The estimation unit 110 inputs the deterioration index determined by the deterioration index determination unit 109 to the estimation means. The estimating unit 110 estimates the deterioration state of the insulating material of the electric device 10 by executing the estimating means. For example, when the estimating means is a formula, the estimating section 110 calculates the deterioration state by solving the formula. The calculated deterioration state is, for example, an insulation resistance value.

推定部110は、劣化状態に基づいて電気機器10の余寿命年数を推定する。例えば、推定部110は、余寿命年数が劣化状態と対応付けされたテーブルで表される場合、劣化状態に応じて余寿命年数をテーブルから取得することで余寿命年数を推定する。例えば、推定部110は、余寿命年数が劣化状態を変数とした数式によって表される場合、数式を解くことで余寿命年数を推定する。推定部110は、算出された劣化状態又は余寿命年数を表示部103に表示させる。 The estimation unit 110 estimates the remaining years of life of the electrical equipment 10 based on the deterioration state. For example, when the remaining years of life are represented by a table in which the years of remaining life are associated with the deterioration state, the estimating unit 110 estimates the years of remaining life by acquiring the years of remaining life from the table according to the deterioration state. For example, when the remaining years of life are represented by a mathematical formula with the state of deterioration as a variable, the estimating unit 110 estimates the years of remaining life by solving the mathematical formula. The estimation unit 110 causes the display unit 103 to display the calculated state of deterioration or remaining years of life.

図2は、実施形態のマルチスペクトルセンサ40の一具体例を示す図である。マルチスペクトルセンサ40は、例えばマルチスペクトルカメラである。マルチスペクトルセンサ40は、複数の光源41と受光素子42とを備える。 FIG. 2 is a diagram showing a specific example of the multispectral sensor 40 of the embodiment. Multispectral sensor 40 is, for example, a multispectral camera. Multispectral sensor 40 includes a plurality of light sources 41 and light receiving elements 42 .

光源41は、所定の波長帯で発光する。光源41は、例えばLED(Light Emitting Diode)ライトである。複数の光源41は、それぞれが異なる波長帯で発光する。マルチスペクトルセンサ40は、スペクトルセンサ制御部106から波長帯制御指示を受け付けると、指定された波長帯で発光可能な光源41を発光させる。 The light source 41 emits light in a predetermined wavelength band. The light source 41 is, for example, an LED (Light Emitting Diode) light. The multiple light sources 41 emit light in different wavelength bands. When the multispectral sensor 40 receives the wavelength band control instruction from the spectrum sensor control unit 106, the light source 41 capable of emitting light in the designated wavelength band emits light.

受光素子42は、光の強弱を電気信号に変換する。受光素子42は、光源41によって照射された光の反射光を受光する。受光素子42は、受光した光の強弱を反射強度として劣化推定装置100に送信する。 The light receiving element 42 converts the intensity of light into an electrical signal. The light receiving element 42 receives reflected light of the light emitted by the light source 41 . The light receiving element 42 transmits the intensity of the received light to the degradation estimation device 100 as the reflection intensity.

図3は、実施形態の電気機器10の一具体例を示す図である。図3に示される電気機器10は、真空遮断器(VCB:Vacuum Circuit Braker)である。電気機器10は、絶縁材料11と真空遮断器本体12とを備える。真空遮断器本体12は、絶縁材料11によって仕切られる。真空遮断器本体12は、絶縁材料11によって絶縁される。劣化推定装置100は、絶縁材料11に対して光を照射することで、スペクトル情報を取得する。 FIG. 3 is a diagram showing a specific example of the electrical equipment 10 of the embodiment. The electric device 10 shown in FIG. 3 is a vacuum circuit breaker (VCB). The electrical equipment 10 comprises an insulating material 11 and a vacuum circuit breaker body 12 . A vacuum circuit breaker body 12 is partitioned by an insulating material 11 . Vacuum circuit breaker body 12 is insulated by insulating material 11 . The deterioration estimating apparatus 100 acquires spectral information by irradiating the insulating material 11 with light.

図4は、実施形態の推定対象の絶縁材料の一具体例を示す図である。図4は、不飽和ポリエステルである。図4(a)は、劣化していない状態の不飽和ポリエステルである。図4(b)は、劣化した状態の不飽和ポリエステルである。図4(b)の不飽和ポリエステルは、試験槽等で加速度的に劣化されたものである。図4によると、不飽和ポリエステルは、劣化状態に応じて色が変わることがわかる。したがって、取得されるスペクトル情報によって、絶縁材料の劣化状態を推定することが可能になる。 FIG. 4 is a diagram showing a specific example of an insulating material to be estimated according to the embodiment. Figure 4 is an unsaturated polyester. FIG. 4(a) shows unsaturated polyester in an undegraded state. FIG. 4(b) is the unsaturated polyester in a degraded state. The unsaturated polyester shown in FIG. 4(b) was acceleratedly degraded in a test tank or the like. According to FIG. 4, it can be seen that the color of the unsaturated polyester changes depending on the state of deterioration. The obtained spectral information thus makes it possible to estimate the state of deterioration of the insulating material.

図5は、実施形態の対象試料におけるスペクトル情報の一具体例を示す図である。図5で用いられる対象試料(絶縁材料)は、不飽和ポリエステルである。図5では対象試料として劣化していない未劣化品と、熱劣化させた熱劣化品と、それぞれの不飽和ポリエステルが用いられる。熱劣化品の不飽和ポリエステルは、未劣化品と比べて850nm近傍及び950nm近傍の波長帯の反射強度の増加することがわかる。熱劣化は、対象試料の表面近傍の不飽和ポリエステルを減少させる。このため、対象試料の充填剤として添加されている炭酸カルシウム及び水酸化アルミニウム等の無機物が相対的に増加する。したがって、850nm近傍及び950nm近傍の近赤外域の反射強度が増加したと考えられる。 FIG. 5 is a diagram showing a specific example of spectral information in the target sample of the embodiment. The target sample (insulating material) used in FIG. 5 is unsaturated polyester. In FIG. 5, an undegraded product that has not been degraded, a thermally degraded product that has been thermally degraded, and each unsaturated polyester are used as target samples. It can be seen that the heat-degraded unsaturated polyester has an increased reflection intensity in the wavelength bands near 850 nm and 950 nm compared to the non-degraded product. Thermal aging reduces the unsaturated polyester near the surface of the target sample. For this reason, inorganic substances such as calcium carbonate and aluminum hydroxide added as fillers to the target sample relatively increase. Therefore, it is considered that the reflection intensity in the near-infrared region near 850 nm and near 950 nm increased.

一方で、例えば、800nm近傍では、未劣化品及び熱劣化品で反射強度の大きな差異は見られないことがわかる。そこで、劣化指標決定部109は、熱劣化によって反射強度の増加した波長帯(例えば、850nm)と、熱劣化による反射強度の差異が少ない波長帯(例えば、800nm)との2波長帯の反射強度を取得する。劣化指標決定部109は、定式化されたスペクトル計算式を用いて強調化処理することによって、絶縁材料の劣化を指標化する。スペクトル計算式は、例えば、以下の数式(1)で表される。ここで、800nmの反射強度は上述の第一反射強度である。850nmの反射強度は上述の第二反射強度である。 On the other hand, for example, in the vicinity of 800 nm, there is no significant difference in reflection intensity between the undegraded product and the heat-degraded product. Therefore, the deterioration index determining unit 109 determines the reflection intensity of two wavelength bands: a wavelength band (for example, 850 nm) in which the reflection intensity increases due to thermal deterioration and a wavelength band (for example, 800 nm) in which the difference in reflection intensity due to thermal deterioration is small. to get The deterioration index determination unit 109 indexes the deterioration of the insulating material by performing enhancement processing using the formulated spectrum calculation formula. A spectrum calculation formula is represented by following Numerical formula (1), for example. Here, the reflection intensity at 800 nm is the first reflection intensity described above. The reflection intensity at 850 nm is the second reflection intensity mentioned above.

劣化指標=(800nmの反射強度-850nmの反射強度)/(800nmの反射強度+850nmの反射強度) ・・・(1) Degradation index=(Reflection intensity at 800 nm−Reflection intensity at 850 nm)/(Reflection intensity at 800 nm+Reflection intensity at 850 nm) (1)

図6は、実施形態の劣化状態の推定の処理の流れを示すフローチャートである。スペクトルセンサ制御部106は、波長帯制御指示によって指定した波長帯とマルチスペクトルセンサ40から取得された反射強度とに基づいて、スペクトル情報を生成する。(ステップS101)。劣化指標決定部109は、スペクトル情報に含まれる複数の波長に対して所定の処理を行うことで、電気機器10の絶縁材料の劣化指標を決定する(ステップS102)。材料特性値取得部107は、材料特性値測定センサ20から光沢度又は色差等の材料特性値を取得する(ステップS103)。環境情報取得部108は、環境情報測定センサ30から温度又は湿度等の環境情報を取得する(ステップS104)。 FIG. 6 is a flowchart showing the flow of processing for estimating the state of deterioration according to the embodiment. Spectrum sensor control section 106 generates spectrum information based on the wavelength band specified by the wavelength band control instruction and the reflection intensity obtained from multispectral sensor 40 . (Step S101). The deterioration index determination unit 109 determines the deterioration index of the insulating material of the electrical device 10 by performing a predetermined process on multiple wavelengths included in the spectrum information (step S102). The material characteristic value acquiring unit 107 acquires material characteristic values such as glossiness or color difference from the material characteristic value measuring sensor 20 (step S103). The environment information acquisition unit 108 acquires environment information such as temperature or humidity from the environment information measurement sensor 30 (step S104).

推定部110は、特性情報記憶部104から電気機器10の絶縁材料に関する特性情報を取得する。推定部110は、特性情報から推定手段を取得する(ステップS105)。推定部110は、劣化指標、材料特性値及び環境情報を特性情報を推定手段に入力する。推定部110は、推定手段を実行することで電気機器10の絶縁材料の劣化状態を推定する(ステップS106)。推定部110は、劣化状態に基づいて電気機器10の余寿命年数を推定する(ステップS107)。推定部110は、算出された劣化状態又は余寿命年数を表示部103に表示させる(ステップS108)。 The estimating unit 110 acquires characteristic information regarding the insulating material of the electric device 10 from the characteristic information storage unit 104 . The estimating unit 110 acquires the estimating means from the characteristic information (step S105). The estimating unit 110 inputs the deterioration index, the material characteristic value, and the environmental information into the estimating means. The estimating unit 110 estimates the deterioration state of the insulating material of the electric device 10 by executing the estimating means (step S106). The estimation unit 110 estimates the remaining years of life of the electrical equipment 10 based on the deterioration state (step S107). The estimation unit 110 causes the display unit 103 to display the calculated state of deterioration or remaining years of life (step S108).

このように構成された劣化推定装置100では、スペクトルセンサ制御部106が絶縁材料から取得された光の反射強度に基づいてスペクトル情報を生成する。絶縁材料は、劣化の進行に応じて色が変わる。従って、スペクトルセンサ制御部106は、絶縁材料の劣化の状態に応じて異なるスペクトル情報を生成する。劣化指標決定部109が、生成されたスペクトル情報に基づいて絶縁材料の劣化状態を推定する劣化指標を決定する。推定部110が、材料特性値及び環境情報等の従来から用いられているパラメータと、決定された劣化指標と、を用いて絶縁材料の劣化状態を推定する。したがって、絶縁材料の劣化状態をより高い精度で推定することが可能になる。 In the deterioration estimating apparatus 100 configured as described above, the spectral sensor control unit 106 generates spectral information based on the reflection intensity of light acquired from the insulating material. The insulating material changes color as it ages. Therefore, the spectral sensor control unit 106 generates different spectral information depending on the state of deterioration of the insulating material. A deterioration index determination unit 109 determines a deterioration index for estimating the deterioration state of the insulating material based on the generated spectrum information. The estimating unit 110 estimates the deterioration state of the insulating material using conventionally used parameters such as material property values and environmental information, and the determined deterioration index. Therefore, it becomes possible to estimate the deterioration state of the insulating material with higher accuracy.

上述の実施形態では、劣化推定装置100は、カメラ等の撮像部を備えた装置(例えば、スマートフォン)であってもよい。この場合、劣化推定装置100は、取得された情報(例えば、スペクトル情報、材料特性値又は環境方法)を、外部のクラウドサーバ等へ送信してもよい。この場合、電気機器10の絶縁材料の劣化状態は、クラウドサーバ上のアプリケーションによって推定される。 In the above-described embodiments, the deterioration estimation device 100 may be a device (for example, a smart phone) that includes an imaging unit such as a camera. In this case, the deterioration estimation device 100 may transmit the acquired information (for example, spectrum information, material property values, or environmental method) to an external cloud server or the like. In this case, the deterioration state of the insulating material of the electrical device 10 is estimated by an application on the cloud server.

劣化推定装置100は、電気機器10の絶縁材料の推定結果を、ユーザが所持するスマートフォンに表示させてもよいし、外部のクラウドサーバに送信してもよい。外部のクラウドサーバに送信された場合、クラウドサーバは、推定結果をユーザが所持するの端末装置に表示させる。 The deterioration estimating apparatus 100 may display the estimation result of the insulating material of the electric device 10 on the smartphone owned by the user, or may transmit it to an external cloud server. When transmitted to an external cloud server, the cloud server causes the terminal device owned by the user to display the estimation result.

推定部110は、劣化状態と、日時と、サンプルIDと、サンプル種類とを対応付けて記憶装置に記録してもよい。日時とは、劣化状態が推定された日時を表す。サンプルIDとは、樹脂材料の識別子である。サンプル種類とは、不飽和ポリエステル等の樹脂材料を表す。このように構成されることで、劣化推定装置100は、過去の推定結果を用いて、絶縁材料の劣化の進行具合を判断したり、今後の劣化の進み方について予測したりすることができる。 The estimation unit 110 may associate the deterioration state, the date and time, the sample ID, and the sample type and record them in the storage device. The date and time represents the date and time when the deterioration state was estimated. A sample ID is an identifier of a resin material. The sample type represents a resin material such as unsaturated polyester. By being configured in this manner, the deterioration estimation apparatus 100 can use the past estimation results to determine the progress of deterioration of the insulating material, and to predict the progress of deterioration in the future.

スペクトルセンサ制御部106は、電気機器10の絶縁材料の複数の箇所のスペクトル情報を収集するように構成されてもよい。このように構成されることで、絶縁材料の局所的な変色を捉えることができる。したがって、ユーザは、絶縁材料に不均一な劣化が生じていた場合、不均一な劣化を把握することができる。 Spectral sensor control 106 may be configured to collect spectral information for multiple locations in the insulating material of electrical device 10 . With such a configuration, local discoloration of the insulating material can be detected. Therefore, when non-uniform deterioration occurs in the insulating material, the user can grasp the non-uniform deterioration.

劣化推定装置100は、ネットワークを介して通信可能に接続された複数台の情報処理装置を用いて実装されてもよい。この場合、劣化推定装置100が備える各機能部は、複数の情報処理装置に分散して実装されてもよい。例えば、劣化指標決定部109と推定部110とはそれぞれ異なる情報処理装置に実装されてもよい。 The deterioration estimation device 100 may be implemented using a plurality of information processing devices communicably connected via a network. In this case, each functional unit included in the deterioration estimation apparatus 100 may be distributed and implemented in a plurality of information processing apparatuses. For example, the deterioration index determining unit 109 and the estimating unit 110 may be implemented in different information processing devices.

上記各実施形態では、スペクトルセンサ制御部106、劣化指標決定部109及び推定部110はソフトウェア機能部であるものとしたが、LSI等のハードウェア機能部であってもよい。 In each of the embodiments described above, the spectrum sensor control unit 106, the deterioration index determination unit 109, and the estimation unit 110 are assumed to be software function units, but they may be hardware function units such as LSI.

以上説明した少なくともひとつの実施形態によれば、スペクトルセンサ制御部106、劣化指標決定部109及び推定部110を持つことにより、より高い精度で絶縁材料の劣化状態を推定することができる。 According to at least one of the embodiments described above, having the spectrum sensor control unit 106, the deterioration index determination unit 109, and the estimation unit 110 makes it possible to estimate the deterioration state of the insulating material with higher accuracy.

本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれると同様に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれるものである。 While several embodiments of the invention have been described, these embodiments have been presented by way of example and are not intended to limit the scope of the invention. These embodiments can be implemented in various other forms, and various omissions, replacements, and modifications can be made without departing from the scope of the invention. These embodiments and their modifications are included in the scope and spirit of the invention, as well as the scope of the invention described in the claims and equivalents thereof.

1…劣化推定システム、10…電気機器、20…材料特性値測定センサ、30…環境情報測定センサ、40…マルチスペクトルセンサ、50…遮光カバー、100…劣化推定装置、101…通信部、102…入力部、103…表示部、104…特性情報記憶部、105…制御部、106…スペクトルセンサ制御部、107…材料特性値取得部、108…環境情報取得部、109…劣化指標決定部、110…推定部 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1... Degradation estimation system 10... Electric equipment 20... Material characteristic value measurement sensor 30... Environmental information measurement sensor 40... Multispectral sensor 50... Light shielding cover 100... Degradation estimation apparatus 101... Communication part 102... Input unit 103 Display unit 104 Property information storage unit 105 Control unit 106 Spectrum sensor control unit 107 Material property value acquisition unit 108 Environment information acquisition unit 109 Deterioration index determination unit 110 … Estimation part

Claims (5)

絶縁材料に対して照射された光の波長帯と、前記光の反射光の反射強度とを対応付けたスペクトル情報を取得するスペクトル取得部と、
判定対象の絶縁材料のスペクトル情報と劣化していない絶縁材料から取得される未劣化スペクトル情報との反射強度の差に基づいて、前記絶縁材料の劣化状態のパラメータを表す劣化指標を決定する劣化指標決定部と、
前記劣化指標に基づいて前記絶縁材料の劣化状態を推定する推定部と、
を備え、
前記劣化指標決定部は、前記スペクトル情報の反射強度と前記未劣化スペクトル情報の反射強度との差分が所定の条件を満たす2波長帯を決定し、前記2波長帯における反射強度に基づいて、前記劣化指標を決定し、
前記劣化指標決定部は、前記差分が予め定められた第一閾値以下となるように前記スペクトル情報の波長帯の第一反射強度と、前記差分が予め定められた第二閾値以上となる前記スペクトル情報の波長帯の第二反射強度と、に基づいて前記劣化指標を決定し、
前記劣化指標決定部は、前記第一反射強度から第二反射強度とを減算した値に対して、前記第一反射強度と前記第二反射強度との和で除算し、前記除算の結果に対して所定の計数を乗ずることで前記劣化指標を決定する、劣化推定装置。
a spectrum acquisition unit that acquires spectrum information that associates the wavelength band of the light with which the insulating material is irradiated and the reflection intensity of the reflected light of the light;
A deterioration index for determining a deterioration index representing a deterioration state parameter of the insulating material based on a difference in reflection intensity between the spectral information of the insulating material to be determined and the non-degraded spectral information obtained from the non-degraded insulating material. a decision unit;
an estimation unit that estimates the deterioration state of the insulating material based on the deterioration index;
with
The deterioration index determination unit determines two wavelength bands in which a difference between the reflection intensity of the spectrum information and the reflection intensity of the undegraded spectrum information satisfies a predetermined condition, and based on the reflection intensities in the two wavelength bands, determine the deterioration index ,
The deterioration index determining unit determines a first reflection intensity of the wavelength band of the spectrum information so that the difference is equal to or less than a predetermined first threshold, and determining the deterioration index based on the second reflection intensity of the information wavelength band;
The deterioration index determination unit divides the value obtained by subtracting the second reflection intensity from the first reflection intensity by the sum of the first reflection intensity and the second reflection intensity, and A deterioration estimation device that determines the deterioration index by multiplying a predetermined coefficient by a predetermined coefficient .
前記スペクトル取得部は、前記絶縁材料の複数の箇所のスペクトル情報を収集する、
請求項1に記載の劣化推定装置。
The spectrum acquisition unit collects spectrum information of a plurality of locations of the insulating material,
The degradation estimating device according to claim 1 .
絶縁材料に対して光を照射し、前記光の反射光の反射強度を取得するセンサと、
前記絶縁材料に対して照射された光の波長帯と、前記反射強度とを対応付けたスペクトル情報を取得するスペクトル取得部と、
判定対象の絶縁材料のスペクトル情報と劣化していない絶縁材料から取得される未劣化スペクトル情報との反射強度の差に基づいて、前記絶縁材料の劣化状態のパラメータを表す劣化指標を決定する劣化指標決定部と、
前記劣化指標に基づいて前記絶縁材料の劣化状態を推定する推定部と、
を備え、
前記劣化指標決定部は、前記スペクトル情報の反射強度と前記未劣化スペクトル情報の反射強度との差分が所定の条件を満たす2波長帯を決定し、前記2波長帯における反射強度に基づいて、前記劣化指標を決定し、
前記劣化指標決定部は、前記差分が予め定められた第一閾値以下となるように前記スペクトル情報の波長帯の第一反射強度と、前記差分が予め定められた第二閾値以上となる前記スペクトル情報の波長帯の第二反射強度と、に基づいて前記劣化指標を決定し、
前記劣化指標決定部は、前記第一反射強度から第二反射強度とを減算した値に対して、前記第一反射強度と前記第二反射強度との和で除算し、前記除算の結果に対して所定の計数を乗ずることで前記劣化指標を決定する、劣化推定システム。
a sensor that irradiates an insulating material with light and acquires the reflection intensity of the reflected light of the light;
a spectrum acquisition unit that acquires spectrum information that associates the wavelength band of light with which the insulating material is irradiated with the reflection intensity;
A deterioration index for determining a deterioration index representing a deterioration state parameter of the insulating material based on a difference in reflection intensity between the spectral information of the insulating material to be determined and the non-degraded spectral information obtained from the non-degraded insulating material. a decision unit;
an estimation unit that estimates the deterioration state of the insulating material based on the deterioration index;
with
The deterioration index determination unit determines two wavelength bands in which a difference between the reflection intensity of the spectrum information and the reflection intensity of the undegraded spectrum information satisfies a predetermined condition, and based on the reflection intensities in the two wavelength bands, determine the deterioration index ,
The deterioration index determining unit determines a first reflection intensity of the wavelength band of the spectrum information so that the difference is equal to or less than a predetermined first threshold, and determining the deterioration index based on the second reflection intensity of the information wavelength band;
The deterioration index determination unit divides the value obtained by subtracting the second reflection intensity from the first reflection intensity by the sum of the first reflection intensity and the second reflection intensity, and A deterioration estimation system that determines the deterioration index by multiplying a predetermined coefficient by a predetermined coefficient .
劣化推定装置が、絶縁材料に対して照射された光の波長帯と、前記光の反射光の反射強度とを対応付けたスペクトル情報を取得するスペクトル取得ステップと、
劣化推定装置が、判定対象の絶縁材料のスペクトル情報と劣化していない絶縁材料から取得される未劣化スペクトル情報との反射強度の差に基づいて、前記絶縁材料の劣化状態のパラメータを表す劣化指標を決定する劣化指標決定ステップと、
劣化推定装置が、前記劣化指標に基づいて前記絶縁材料の劣化状態を推定する推定ステップと、
を有し、
前記劣化指標決定ステップでは、前記スペクトル情報の反射強度と前記未劣化スペクトル情報の反射強度との差分が所定の条件を満たす2波長帯を決定し、前記2波長帯における反射強度に基づいて、前記劣化指標を決定し、
前記劣化指標決定ステップでは、前記差分が予め定められた第一閾値以下となるように前記スペクトル情報の波長帯の第一反射強度と、前記差分が予め定められた第二閾値以上となる前記スペクトル情報の波長帯の第二反射強度と、に基づいて前記劣化指標を決定し、
前記劣化指標決定ステップでは、前記第一反射強度から第二反射強度とを減算した値に対して、前記第一反射強度と前記第二反射強度との和で除算し、前記除算の結果に対して所定の計数を乗ずることで前記劣化指標を決定する、劣化推定方法。
a spectrum acquisition step in which the deterioration estimation device acquires spectrum information in which the wavelength band of the light irradiated to the insulating material and the reflection intensity of the reflected light of the light are associated;
A deterioration index representing a parameter of the deterioration state of the insulating material, based on the difference in reflection intensity between the spectral information of the insulating material to be determined and the non-degraded spectral information obtained from the non-degraded insulating material. a deterioration index determination step for determining
an estimating step in which the deterioration estimating device estimates the deterioration state of the insulating material based on the deterioration index;
has
In the deterioration index determination step, two wavelength bands are determined in which a difference between the reflection intensity of the spectral information and the reflection intensity of the undegraded spectral information satisfies a predetermined condition, and based on the reflection intensities in the two wavelength bands, determine the deterioration index ,
In the deterioration index determination step, the first reflection intensity of the wavelength band of the spectrum information is set so that the difference is a predetermined first threshold or less, and the spectrum is set so that the difference is a predetermined second threshold or more. determining the deterioration index based on the second reflection intensity of the information wavelength band;
In the deterioration index determination step, the value obtained by subtracting the second reflection intensity from the first reflection intensity is divided by the sum of the first reflection intensity and the second reflection intensity, and the result of the division is and determining the deterioration index by multiplying by a predetermined coefficient .
請求項1又は2に記載の劣化推定装置としてコンピュータを機能させるためのコンピュータプログラム。 A computer program for causing a computer to function as the deterioration estimation device according to claim 1 or 2 .
JP2018200337A 2018-10-24 2018-10-24 Deterioration estimation device, deterioration estimation system, deterioration estimation method, and computer program Active JP7237516B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2018200337A JP7237516B2 (en) 2018-10-24 2018-10-24 Deterioration estimation device, deterioration estimation system, deterioration estimation method, and computer program

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2018200337A JP7237516B2 (en) 2018-10-24 2018-10-24 Deterioration estimation device, deterioration estimation system, deterioration estimation method, and computer program

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2020067380A JP2020067380A (en) 2020-04-30
JP7237516B2 true JP7237516B2 (en) 2023-03-13

Family

ID=70390136

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2018200337A Active JP7237516B2 (en) 2018-10-24 2018-10-24 Deterioration estimation device, deterioration estimation system, deterioration estimation method, and computer program

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP7237516B2 (en)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7526440B2 (en) * 2020-04-03 2024-08-01 株式会社大一商会 Gaming Machines
JP7526442B2 (en) * 2020-04-03 2024-08-01 株式会社大一商会 Gaming Machines
JPWO2021230115A1 (en) * 2020-05-12 2021-11-18
CN116368371A (en) 2021-02-18 2023-06-30 泰尔茂株式会社 Component measuring device, component measuring device component, and information processing method

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000214084A (en) 1999-01-25 2000-08-04 Asahi Chem Ind Co Ltd Method and apparatus for decision of test substance
JP2003139697A (en) 2001-11-05 2003-05-14 Hamamatsu Photonics Kk Resin degree-of-curing measuring apparatus
JP2004347326A (en) 2003-05-20 2004-12-09 Hitachi Ltd Non-destructive diagnostic equipment
JP2007139451A (en) 2005-11-15 2007-06-07 Omron Corp Solder material inspection device, solder material inspection method, control program for solder material inspection device, and recording medium recording control program for solder material inspection device
JP2007285930A (en) 2006-04-18 2007-11-01 Fuji Electric Systems Co Ltd Deterioration diagnosis method and apparatus for polymer material
JP2010038545A (en) 2008-07-31 2010-02-18 Omron Corp Inspection device of solder material and inspection method of solder material
JP2011007662A (en) 2009-06-26 2011-01-13 Hitachi Ltd Method and apparatus for diagnosing remaining life and program
JP2015028475A (en) 2013-07-05 2015-02-12 株式会社東芝 Lubricant deterioration diagnosis method

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3860846B2 (en) * 1994-02-25 2006-12-20 株式会社日立製作所 Material degradation degree measuring system and measuring device

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000214084A (en) 1999-01-25 2000-08-04 Asahi Chem Ind Co Ltd Method and apparatus for decision of test substance
JP2003139697A (en) 2001-11-05 2003-05-14 Hamamatsu Photonics Kk Resin degree-of-curing measuring apparatus
JP2004347326A (en) 2003-05-20 2004-12-09 Hitachi Ltd Non-destructive diagnostic equipment
JP2007139451A (en) 2005-11-15 2007-06-07 Omron Corp Solder material inspection device, solder material inspection method, control program for solder material inspection device, and recording medium recording control program for solder material inspection device
JP2007285930A (en) 2006-04-18 2007-11-01 Fuji Electric Systems Co Ltd Deterioration diagnosis method and apparatus for polymer material
JP2010038545A (en) 2008-07-31 2010-02-18 Omron Corp Inspection device of solder material and inspection method of solder material
JP2011007662A (en) 2009-06-26 2011-01-13 Hitachi Ltd Method and apparatus for diagnosing remaining life and program
JP2015028475A (en) 2013-07-05 2015-02-12 株式会社東芝 Lubricant deterioration diagnosis method

Also Published As

Publication number Publication date
JP2020067380A (en) 2020-04-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP7237516B2 (en) Deterioration estimation device, deterioration estimation system, deterioration estimation method, and computer program
US11519852B2 (en) Gas detection-use image processing device, and gas detection-use image processing method
EP3069424B1 (en) System and method of tracking the thermal age of a heating cable
Muniz et al. Influence of field of view of thermal imagers and angle of view on temperature measurements by infrared thermovision
US20170184675A1 (en) Prognostic and health monitoring systems for circuit breakers
US20170078544A1 (en) Electrical isolation for a camera in a test and measurement tool
CN119375643A (en) A method and system for detecting insulation detection function
JP2013011462A (en) Method for predicting life of led
Khan et al. Condition monitoring tool for electrical equipment—Thermography
CN118243240A (en) A thermal defect detection system and method for live cables
Kozioł et al. Identification of electrical discharge forms, generated in insulating oil, using the optical spectrophotometry method
JP5374445B2 (en) Remaining life diagnosis method, remaining life diagnosis device and program
US10359411B2 (en) Diagnosis method for internal fault of oil-immersed electric apparatus
JP7263129B2 (en) Deterioration estimation device, deterioration estimation system, deterioration estimation method, and computer program
KR101438158B1 (en) Method and apparatus for predicting life time of transformer
Pang et al. Research on thermal imaging fault detection system based on weibull distributed electrical system
CN119716431A (en) Insulator discharge detection method, system and device based on ternary color space
JP5872643B2 (en) Insulation degradation diagnosis method for insulation materials
CN119199643A (en) Metal button and leakage test method thereof
US11579133B2 (en) Fast water activity measurement system
JP2019215230A (en) Electric wire coating deterioration detector and electric wire coating deterioration detection method
JP2012202695A (en) Deteriorated insulation diagnosing method and deteriorated insulation diagnosing device
CN112180177A (en) Power frequency electromagnetic field evaluation method and system fusing measured data
US20160131526A1 (en) Spectroscopic Analysis System and Method
JP2019219281A (en) Information processing apparatus, management system, control program, and prediction method

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20210917

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20220523

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20220614

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20220812

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20220913

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20221104

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20230131

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20230301

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 7237516

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313115

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350