JP7258293B2 - Gallium oxide crystal growth crucible - Google Patents
Gallium oxide crystal growth crucible Download PDFInfo
- Publication number
- JP7258293B2 JP7258293B2 JP2019156941A JP2019156941A JP7258293B2 JP 7258293 B2 JP7258293 B2 JP 7258293B2 JP 2019156941 A JP2019156941 A JP 2019156941A JP 2019156941 A JP2019156941 A JP 2019156941A JP 7258293 B2 JP7258293 B2 JP 7258293B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- crucible
- gallium oxide
- crystal
- diameter portion
- rhodium
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Landscapes
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
Description
本発明は、酸化ガリウム結晶育成用のるつぼに関する。 The present invention relates to a crucible for growing gallium oxide crystals.
特許文献1(特開2017-193466号公報)には、酸化ガリウムの単結晶(特にβ-Ga2O3単結晶。以下ではβ-Ga2O3単結晶で説明する)の製造方法が記載されている。この特許文献1に記載されている方法は、大気雰囲気下での結晶育成装置により、白金-ロジウム(PtRh)合金製の細種子るつぼを用いて、垂直ブリッジマン法(VB法)もしくは垂直温度勾配凝固法によりβ-Ga2O3単結晶を育成するものである。PtRh合金(特に、Rh含有量が10~30wt%のもの)は融点が1800℃以上の高融点を有し、高温でのβ-Ga2O3単結晶育成に好適である。 Patent Document 1 (Japanese Patent Application Laid-Open No. 2017-193466) describes a method for producing a single crystal of gallium oxide (especially a β-Ga 2 O 3 single crystal, which will be described below as a β-Ga 2 O 3 single crystal). It is The method described in Patent Document 1 uses a platinum-rhodium (PtRh) alloy fine seed crucible in a crystal growth apparatus under an air atmosphere, using the vertical Bridgman method (VB method) or a vertical temperature gradient. A β-Ga 2 O 3 single crystal is grown by a solidification method. PtRh alloys (particularly those with an Rh content of 10 to 30 wt %) have a high melting point of 1800° C. or higher and are suitable for growing β-Ga 2 O 3 single crystals at high temperatures.
細種子るつぼは、溶接によって接合される下部と上部を有し、特許文献2(特開2001-58896号公報)等に示されるように、下部が、種子結晶が姿勢を安定して収まる有底筒状の小径部と該小径部の上端から上方に向けて拡径して延びる拡径部よりなり、上部が、前記拡径部の上部から上方に筒状に延びる大径部(希望する結晶径となる直径を有する)からなる。
細種子るつぼは異形をなすことから、拡径部が小径部の上端に溶接によって接合され、また大径部が拡径部の上部に溶接によって接合されることにより形成される。
The thin seed crucible has a lower part and an upper part that are joined by welding, and as shown in Patent Document 2 (Japanese Patent Application Laid-Open No. 2001-58896), etc., the lower part has a bottom in which the seed crystal can be stored stably. It consists of a cylindrical small-diameter portion and an enlarged-diameter portion extending upward from the upper end of the small-diameter portion, and the upper portion is a large-diameter portion (desired crystal) extending cylindrically upward from the upper portion of the enlarged-diameter portion. diameter).
Since the fine seed crucible has an irregular shape, it is formed by joining the enlarged diameter portion to the upper end of the small diameter portion by welding, and by joining the large diameter portion to the upper portion of the enlarged diameter portion by welding.
PtRh合金製細種子るつぼは、大気中高温下で使用できるように、PtにRhを混ぜ合金化して使用している。
しかし、Rhは結晶中に溶け込み易いことから、Rhの比率はできる限り下げて使用したい。しかし、下げすぎると融点が低下し、るつぼが融解してしまう可能性がある。Rhの比率を上げるとるつぼの融点は上がるが、材料自身の硬度が増すことで、溶接が容易でなくなり、溶接不十分により融液漏れが発生するおそれがある。
PtRh alloy fine seed crucibles are used by mixing Pt and Rh into an alloy so that they can be used at high temperatures in the atmosphere.
However, since Rh easily dissolves into the crystal, it is desired to use the Rh ratio as low as possible. However, if it is lowered too much, the melting point will be lowered and the crucible may melt. Increasing the Rh ratio raises the melting point of the crucible, but the hardness of the material itself increases, making it difficult to weld.
本発明は、上述した課題を解決すべくなされたものであり、溶接が容易かつ良好に行え、融液漏れを防止できる酸化ガリウム結晶育成用るつぼを提供することを目的とする。 SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide a gallium oxide crystal-growing crucible that allows easy and good welding and prevents melt leakage.
本発明に係る酸化ガリウム結晶育成用るつぼは、白金を主組成とする白金とロジウムとの合金製であり、酸化ガリウム結晶育成用のるつぼであって、前記るつぼの上部と下部が溶接によって接合され、前記るつぼ上部における前記ロジウムの組成割合が前記るつぼ下部における前記ロジウムの組成割合よりも多いことを特徴とする。 A crucible for growing gallium oxide crystals according to the present invention is made of an alloy of platinum and rhodium containing platinum as a main composition, and is a crucible for growing gallium oxide crystals, wherein the upper portion and the lower portion of the crucible are joined by welding. A composition ratio of rhodium in the upper portion of the crucible is higher than a composition ratio of rhodium in the lower portion of the crucible.
前記るつぼ下部が、種子結晶が収まる有底筒状の小径部と該小径部の上端に溶接によって接合され上方に向けて拡径して延びる拡径部よりなり、前記るつぼ上部が、前記拡径部の上部に溶接によって接合されて上方に筒状に延びる大径部からなるるつぼに適用できる。 The lower portion of the crucible is composed of a bottomed tubular small diameter portion in which the seed crystal is accommodated, and an enlarged diameter portion that is welded to the upper end of the small diameter portion and extends upward in diameter, and the upper portion of the crucible comprises the enlarged diameter portion. It can be applied to a crucible consisting of a large-diameter portion that is welded to the upper portion of the portion and extends upward in a cylindrical shape.
前記拡径部の上部が、一定径の筒部に形成され、筒状の前記大径部が前記筒部に溶接されるようにすると、溶接が容易、確実にできる。
前記るつぼ上部における前記ロジウムの組成割合が15~30wt%であり、前記るつぼ下部における前記ロジウムの組成割合が10~25wt%とすることができる。
If the upper portion of the enlarged diameter portion is formed into a cylindrical portion with a constant diameter, and the cylindrical large diameter portion is welded to the cylindrical portion, welding can be performed easily and reliably.
The composition ratio of rhodium in the upper portion of the crucible may be 15 to 30 wt%, and the composition ratio of rhodium in the lower portion of the crucible may be 10 to 25 wt%.
前記るつぼ上部の肉厚が前記るつぼ下部の肉厚より薄くなるように形成することができる。
この場合、前記るつぼ上部の肉厚が0.1~0.2mm、前記るつぼ下部の肉厚が0.15~0.3mmとなるようにすることができる。
The thickness of the upper portion of the crucible may be thinner than the thickness of the lower portion of the crucible.
In this case, the upper portion of the crucible may have a thickness of 0.1 to 0.2 mm, and the lower portion of the crucible may have a thickness of 0.15 to 0.3 mm.
本発明に係る酸化ガリウム結晶育成用るつぼによれば、るつぼ下部の材料として、るつぼ上部の材料よりRhの含有量の少ない材料を用いることにより硬度および融点が低くなり、例えば下部材料と同じ材料の硬度および融点の低い溶接棒を用いるなどすることにより、るつぼ上部とるつぼ下部との間の溶接が容易、かつ良好に行え、クラック発生や孔あき防止が図れ、融液漏れを防ぐことができる。
また、るつぼ上部の肉厚をるつぼ下部の肉厚より薄くすれば、育成した結晶を取り出し易くなると共に、るつぼ下部は肉厚なので溶接時の作業性が良くなり、るつぼ上部とるつぼ下部との溶接が容易かつ確実に行え、クラックや孔あきを防止し、融液漏れを低減できる。
According to the crucible for growing gallium oxide crystals according to the present invention, by using a material having a lower Rh content than the material of the upper portion of the crucible as the material of the lower portion of the crucible, the hardness and melting point are lowered. By using a welding rod having a low hardness and a low melting point, the crucible upper part and the crucible lower part can be welded easily and satisfactorily, cracks and holes can be prevented, and melt leakage can be prevented.
In addition, if the thickness of the crucible upper part is thinner than that of the crucible lower part, the grown crystal can be easily taken out, and since the crucible lower part is thick, workability during welding is improved. can be easily and reliably performed, cracks and holes can be prevented, and melt leakage can be reduced.
以下、本発明の好適な実施の形態について、添付図面に基づいて詳細に説明する。
図1は第1の実施の形態におけるるつぼ(細種子るつぼ)10の端面図である。
るつぼ10は、垂直ブリッジマン法(VB法)もしくは垂直温度勾配凝固法により、大気雰囲気中において酸化ガリウム(β-Ga2O3)の単結晶を育成するためのるつぼであり、白金を主組成とする、白金-ロジウム合金製である。
結晶育成装置そのものは、例えば特開2017-193466号公報に示される大気雰囲気下での結晶育成装置を用いることができる。
Preferred embodiments of the present invention will now be described in detail with reference to the accompanying drawings.
FIG. 1 is an end view of a crucible (thin seed crucible) 10 in the first embodiment.
The
As the crystal growth apparatus itself, for example, a crystal growth apparatus under an air atmosphere disclosed in JP-A-2017-193466 can be used.
るつぼ10は、前記のように、下部12が、種子結晶が姿勢を安定して収まる有底筒状の小径部14と該小径部14の上端から上方に向けて拡径して延びる拡径部16よりなり、上部18が、拡径部16の上部から上方に筒状に延びる大径部(希望する結晶径となる直径を有する)20からなる。小径部14、大径部20は円筒状をなしている。
As described above, the
細種子るつぼ10は異形をなすことから、拡径部16が小径部14の上端(部位A)に溶接によって接合され、また大径部20が拡径部16の上部(部位B)に溶接によって接合されることにより形成される。小径部14における底部と筒部の間も溶接によって接合される。なお、ロート状をなす拡径部16の上端面には大径部20を溶接しずらいことから、拡径部16の上部を高さの低い、一定径の筒部に形成し、この筒部の上端(部位B)に筒状の大径部20を溶接するようにするとよい。
第1の実施の形態におけるるつぼ10は、全体を均一厚さに形成している。厚さは、0.11~0.5mm程度とすることができる。
Since the
The
図2は、るつぼ10の第2の実施の形態を示す端面図である。
本実施の形態では、るつぼ上部18の肉厚がるつぼ下部12の肉厚より薄くなるようにした他は第1の実施の形態と同じである。
るつぼ上部18の肉厚を例えば0.1~0.2mm、るつぼ下部12の肉厚を例えば0.15~0.3mmとすることができる。
FIG. 2 is an end view of a second embodiment of
This embodiment is the same as the first embodiment except that the thickness of the crucible
The thickness of the crucible
そして、本実施の形態(第1および第2の実施の形態)では、るつぼ上部18におけるロジウムの組成割合をるつぼ下部12におけるロジウムの組成割合よりも多くしたことを特徴としている。
るつぼ上部18におけるロジウムの組成割合を15~30wt%、るつぼ下部12におけるロジウムの組成割合を10~25wt%程度とすると好適である。
The present embodiment (first and second embodiments) is characterized in that the composition ratio of rhodium in the crucible
It is preferable to set the composition ratio of rhodium in the crucible
図3に、既存の文献データと実験データを基に作成したPtRh合金の組成(wt%)と融点との関係を示す。PtRh合金は、Ptに含有されるRhの含有量によって融点が異なる。
β-Ga2O3の融解実験から、β-Ga2O3は約1795℃で完全融解する。したがって、融点が1768℃のPtは、β-Ga2O3を融解・保持するるつぼの材料には適用できないことは明らかである。しかしながら、図3に示すように2wt%以上のRhを含むPtRh合金の融点は、β-Ga2O3の融点を超えるから、理論的にはβ-Ga2O3の融液を保持するるつぼとして使用し得る。
FIG. 3 shows the relationship between the composition (wt%) and the melting point of the PtRh alloy created based on existing literature data and experimental data. PtRh alloys have different melting points depending on the content of Rh contained in Pt.
From melting experiments of β-Ga 2 O 3 , β-Ga 2 O 3 completely melts at about 1795°C. Therefore, it is clear that Pt, which has a melting point of 1768° C., cannot be applied as a crucible material for melting and holding β-Ga 2 O 3 . However, as shown in Fig . 3, the melting point of the PtRh alloy containing 2 wt% or more of Rh exceeds the melting point of β- Ga2O3 . can be used as
実際のβ-Ga2O3の結晶育成において、融点が約1795℃のβ-Ga2O3融液を安定的に保持して結晶育成を行うために求められるPtRh合金るつぼの融点については、結晶成長原理や育成する結晶の大きさ、さらには結晶育成条件等によって異なる。 In the actual crystal growth of β-Ga 2 O 3 , the melting point of the PtRh alloy crucible required to stably hold the β-Ga 2 O 3 melt with a melting point of about 1795°C for crystal growth is as follows. It varies depending on the crystal growth principle, the size of the crystal to be grown, and the crystal growth conditions.
VB法(垂直ブリッジマン法)によるβ-Ga2O3結晶育成の場合、適用できるPtRh合金るつぼ中のRh含有量の下限は10wt%以上が必要である。Rh含有量が10wt%の場合、図3に明らかなように、当該るつぼの融点は1850℃程度となる。
また、Rhの含有量は20wt%程度で、当該るつぼの融点は1900℃程度となり、高い融点となることから、直径100mm程度の結晶育成も行える。
なお、PtRh合金るつぼにおいて、Rhの含有量が多すぎるとRhが溶け出すという問題が起こるので、Rhの含有量は30 wt%以下とするのがよい。
In the case of β-Ga 2 O 3 crystal growth by the VB method (vertical Bridgman method), the lower limit of the Rh content in the applicable PtRh alloy crucible must be 10 wt% or more. When the Rh content is 10 wt %, the melting point of the crucible is about 1850° C., as clearly shown in FIG.
Moreover, the Rh content is about 20 wt %, and the melting point of the crucible is about 1900° C., which is a high melting point, so that crystals with a diameter of about 100 mm can be grown.
In the PtRh alloy crucible, if the Rh content is too high, the problem of Rh leaching occurs, so the Rh content is preferably 30 wt % or less.
VB法(垂直ブリッジマン法)によるβ-Ga2O3結晶育成の場合、育成炉内において、酸化ガリウム材料の融解のため、るつぼ10の上部は高温にまで加熱され、るつぼ10の下部は結晶成長のため上部よりは低温となるように設定される。
るつぼ材料として、高融点となるRhの含有量が30 wt%となるPtRh合金を用いた場合、上記のように、β-Ga2O3結晶育成は良好に行える。
In the case of β-Ga 2 O 3 crystal growth by the VB method (vertical Bridgman method), the upper part of the
When a PtRh alloy with a Rh content of 30 wt %, which has a high melting point, is used as the crucible material, β-Ga 2 O 3 crystal growth can be performed satisfactorily as described above.
しかしながら、るつぼ材料として、るつぼ上部18およびるつぼ下部12の両者に、高融点となるRhの含有量が30 wt%となるPtRh合金を用いた場合、るつぼの硬度が大きくなり、るつぼ上部18とるつぼ下部12の溶接が良好に行えず、そのため溶接部位近傍にクラックが生じたり孔があき、融液漏れの原因となることが判明した。融液漏れが生じると、結晶育成ができなくなるばかりか、るつぼ10を収容する、ジルコニア製等からなるるつぼ受け(サセプタ)にひび割れを生じさせるなど、結晶育成装置側にダメージを与えてしまう。
However, when a PtRh alloy with a Rh content of 30 wt%, which has a high melting point, is used as the crucible material for both the crucible
そこで、本実施の形態では、るつぼ下部12の材料として、るつぼ上部18の材料よりはRhの含有量の少ない材料を用いることにした。Rh含有量が少ないとそれだけ硬度が低くなり、例えば下部材料と同じ、硬度の低い溶接棒を用いるなどすることによりるつぼ上部18とるつぼ下部12との間の溶接が容易、かつ良好に行え、クラック発生や孔あき防止が図れ、融液漏れを防ぐことができた。硬度の低くなった拡径部16と小径部14との間の溶接、小径部14における筒部と底部との間の溶接も容易、かつ良好に行える。
Therefore, in the present embodiment, a material having a lower Rh content than the material of the crucible
るつぼ材料の組成は、結晶成長原理や育成する結晶の大きさ、さらには結晶育成条件によって異なるが、るつぼ下部12の材料として、るつぼ上部18の材料よりはRhの含有量の少ない材料を用いることを前提として、るつぼ上部18におけるロジウムの組成割合を15~30wt%とし、るつぼ下部12におけるロジウムの組成割合を10~25wt%とするのが好適である。
The composition of the crucible material varies depending on the principle of crystal growth, the size of the crystal to be grown, and the crystal growth conditions. , the composition ratio of rhodium in the crucible
るつぼ下部12のロジウムの組成割合を10wt%としても、前記のように約1850℃の融点であり、β-Ga2O3結晶育成に十分耐えうる。
一方、融液中へのRhの溶け出しを抑えるためには、るつぼ上部18におけるRh含有量を少なくしたいが、すると融点が下がるので、上記のように、結晶成長原理や育成する結晶の大きさ、さらには結晶育成条件によってるつぼ上部18の組成を決定するようにする。
Even if the composition ratio of rhodium in the
On the other hand, in order to suppress the elution of Rh into the melt, it is desirable to reduce the Rh content in the crucible
ところで、VB法(垂直ブリッジマン法)によるβ-Ga2O3結晶育成の場合、生成した結晶をるつぼ上部を破壊(剥いて)取り出す場合がある。
この場合、硬度の高いるつぼ上部を破壊するには、るつぼの肉厚が大きいと破壊しにくい。
そこで、第2の実施の形態では、るつぼ上部18の肉厚をるつぼ下部12の肉厚より薄くし、これにより結晶を取り出し易くしている。
By the way, in the case of β-Ga 2 O 3 crystal growth by the VB method (vertical Bridgman method), the upper part of the crucible may be broken (peeled off) to take out the produced crystal.
In this case, if the thickness of the crucible is large, it is difficult to break the upper part of the crucible, which has a high hardness.
Therefore, in the second embodiment, the crucible
また、第2の実施の形態では、るつぼ下部12の肉厚をるつぼ上部18の肉厚よりも厚くしている。
るつぼ下部12の肉厚を厚くすることによって溶接時の作業性、取り扱いが容易となる。
上記のように、るつぼ下部12におけるRhの含有量を少なくすることによる溶接のし易さと相俟って、るつぼ下部12の肉厚を厚くすることにより、るつぼ上部18とるつぼ下部12との溶接をさらに容易にし、溶接の信頼性を高めて、クラックや孔あきを防止し、融液漏れを低減できる。
Further, in the second embodiment, the crucible
By increasing the thickness of the crucible
As described above, the reduction in the Rh content in the crucible
なお、上記実施の形態では細種子るつぼで説明したが、必ずしも細種子るつぼ形状のるつぼでなくとも、るつぼ上部とるつぼ下部が溶接により接合されるるつぼの全てに本発明を適用できる。 Although the fine seed crucible has been described in the above embodiment, the present invention can be applied to all crucibles in which the crucible upper portion and the crucible lower portion are joined by welding, even if the crucible does not necessarily have a fine seed crucible shape.
(β-Ga2O3の結晶育成の実施例)
VB炉内において一方向凝固β-Ga2O3結晶の育成を試みた。
るつぼは、図1、図2に示するつぼであって、るつぼ上部18の内径53mm、高さ50mmのるつぼをそれぞれ2個用意した。組成比(wt)は、いずれもるつぼ上部18のPt/Rhが70/30、るつぼ下部12のPt/Rhが80/20とした。図1の2つのるつぼを実施例1.図2の2つのるつぼを実施例2とする。
(Example of β-Ga 2 O 3 crystal growth)
Directionally solidified β-Ga 2 O 3 crystals were grown in a VB furnace.
The crucibles are the crucibles shown in FIGS. 1 and 2, and two crucibles each having an inner diameter of 53 mm and a height of 50 mm were prepared. The composition ratio (wt) was 70/30 for Pt/Rh in the
なお、実施例1のるつぼの厚さは、るつぼ上部18およびるつぼ下部12のいずれも0.2mmである。実施例2のるつぼの厚さは、るつぼ上部18が0.15mm、るつぼ下部12が0.2mmとして、るつぼ下部12の肉厚をるつぼ上部18の肉厚よりも厚くした。
比較例のるつぼとして、るつぼ上部18とるつぼ下部12の組成比がいずれもPt/Rhが70/30であり、厚さがるつぼ上部18およびるつぼ下部12共に0.2mmのるつぼを2個用意した。
The thickness of the crucible of Example 1 is 0.2 mm for both the crucible
As comparative crucibles, two crucibles were prepared in which the composition ratio of both the crucible
Pt-Rh系合金製のるつぼに種子結晶およびβ-Ga2O3焼結体原料を充填し、β-Ga2O3の融点(約1795℃)近傍の温度勾配を5~10℃/cmになるように温度分布を設定した1800℃以上の空気中高温炉内で全融解させた。その後るつぼ移動および炉内温度降下を併用し一方向凝固を行った。冷却後、るつぼを剥がし成長結晶を取り出した。 Seed crystals and β-Ga 2 O 3 sintered raw materials were filled in a Pt-Rh alloy crucible, and the temperature gradient near the melting point of β-Ga 2 O 3 (approximately 1795°C) was 5-10°C/cm. It was completely melted in a high-temperature furnace in air at 1800°C or higher with a temperature distribution set so that After that, unidirectional solidification was performed by moving the crucible and lowering the temperature in the furnace. After cooling, the crucible was peeled off and the grown crystal was taken out.
実施例1および実施例2のるつぼを用いた場合、それぞれ2個とも、クラックのないβ-Ga2O3の単結晶体が得られた。
一方、比較例のものは、1個はクラックのないβ-Ga2O3の単結晶体が得られたが、もう一つのるつぼは、るつぼ上部18とるつぼ下部12の溶接部(Bの部位)において融液漏れが生じ、良好な結晶を得ることができなかった。
When the crucibles of Examples 1 and 2 were used, crack-free single crystals of β-Ga 2 O 3 were obtained in each of the two crucibles.
On the other hand, one of the comparative examples produced a crack-free β-Ga 2 O 3 single crystal, while the other crucible had a welded portion between the crucible
図4は、実施例1の2つのるつぼの内の1つのるつぼであって、左側が使用前、右側が結晶育成後で結晶取出し前のるつぼの状態を示す写真である。結晶育成後のものにおいて融液漏れが生じていないことがわかる。
図5は、実施例2の2つのるつぼの内の1つのるつぼであって、結晶育成後で結晶取出し前のるつぼの状態を示す写真である。融液漏れが生じていないことがわかる。
実施例2のるつぼの方が、実施例1のものよりるつぼ上部18の厚さが薄いので、るつぼの剥がしが容易で、結晶が取出し易かった。
FIG. 4 is a photograph of one of the two crucibles of Example 1, showing the state of the crucible before use on the left side and after growing the crystal and before taking out the crystal on the right side. It can be seen that no melt leakage occurred in the crystal after crystal growth.
FIG. 5 is a photograph showing the state of one of the two crucibles in Example 2, which is after crystal growth and before crystal removal. It can be seen that no melt leakage occurs.
In the crucible of Example 2, the thickness of the crucible
図6A、図6Bは、比較例の2つのるつぼの内の1つで融液漏れが生じたるつぼの状態を示す写真である。図6Aに示すように、るつぼ上部18とるつぼ下部16の溶接部位でクラックが生じ、融液漏れが生じているのがわかる。図6Bは、るつぼ受け上部に漏れ出た融液が固化して付着した状態を示す。
6A and 6B are photographs showing the state of the crucible in which melt leakage occurred in one of the two crucibles of the comparative example. As shown in FIG. 6A, cracks were generated at the welded portion between the crucible
10 るつぼ
12 るつぼ下部
14 小径部
16 拡径部
18 るつぼ上部
20 大径部
10
Claims (6)
前記るつぼの上部と下部が溶接によって接合され、
前記るつぼ上部における前記ロジウムの組成割合が前記るつぼ下部における前記ロジウムの組成割合よりも多いことを特徴とする酸化ガリウム結晶育成用るつぼ。 A crucible for growing gallium oxide crystals, which is made of an alloy of platinum and rhodium with platinum as the main composition,
The top and bottom of the crucible are joined by welding,
A crucible for growing a gallium oxide crystal, wherein the composition ratio of rhodium in the upper part of the crucible is higher than the composition ratio of rhodium in the lower part of the crucible.
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2019156941A JP7258293B2 (en) | 2019-08-29 | 2019-08-29 | Gallium oxide crystal growth crucible |
| JP2020095229A JP7403101B2 (en) | 2019-08-29 | 2020-06-01 | Crucible for growing gallium oxide crystals |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2019156941A JP7258293B2 (en) | 2019-08-29 | 2019-08-29 | Gallium oxide crystal growth crucible |
Related Child Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2020095229A Division JP7403101B2 (en) | 2019-08-29 | 2020-06-01 | Crucible for growing gallium oxide crystals |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2021031367A JP2021031367A (en) | 2021-03-01 |
| JP7258293B2 true JP7258293B2 (en) | 2023-04-17 |
Family
ID=74678533
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2019156941A Active JP7258293B2 (en) | 2019-08-29 | 2019-08-29 | Gallium oxide crystal growth crucible |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP7258293B2 (en) |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003112998A (en) | 2001-09-28 | 2003-04-18 | Furuya Kinzoku:Kk | Single crystal production crucible |
| JP2017193466A (en) | 2016-04-21 | 2017-10-26 | 国立大学法人信州大学 | Apparatus for producing gallium oxide crystal and method for producing gallium oxide crystal |
| JP2018145029A (en) | 2017-03-02 | 2018-09-20 | 不二越機械工業株式会社 | Single crystal manufacturing equipment |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS589800B2 (en) * | 1978-11-20 | 1983-02-22 | 三洋電機株式会社 | Manufacturing method of oxide single crystal |
| JPH06247719A (en) * | 1993-02-19 | 1994-09-06 | Tanaka Kikinzoku Kogyo Kk | Method for manufacturing crucible for melting glass |
| JP3120662B2 (en) * | 1994-08-08 | 2000-12-25 | 住友電気工業株式会社 | Crucible for growing crystals |
| JP6403057B2 (en) * | 2014-10-21 | 2018-10-10 | 国立大学法人信州大学 | Method and apparatus for producing β-Ga2O3 crystal |
-
2019
- 2019-08-29 JP JP2019156941A patent/JP7258293B2/en active Active
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003112998A (en) | 2001-09-28 | 2003-04-18 | Furuya Kinzoku:Kk | Single crystal production crucible |
| JP2017193466A (en) | 2016-04-21 | 2017-10-26 | 国立大学法人信州大学 | Apparatus for producing gallium oxide crystal and method for producing gallium oxide crystal |
| JP2018145029A (en) | 2017-03-02 | 2018-09-20 | 不二越機械工業株式会社 | Single crystal manufacturing equipment |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2021031367A (en) | 2021-03-01 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR102374317B1 (en) | Production apparatus for gallium oxide crystal and process for producing gallium oxide crystal | |
| JP6403057B2 (en) | Method and apparatus for producing β-Ga2O3 crystal | |
| JP6800468B2 (en) | A gallium oxide crystal manufacturing device, a gallium oxide crystal manufacturing method, and a crucible for growing gallium oxide crystals used for these. | |
| JP5821958B2 (en) | SiC single crystal and method for producing the same | |
| US20100139550A1 (en) | Crucible for processing a high-melting material and method of processing said material in said crucible | |
| JP4603498B2 (en) | Group III nitride crystal manufacturing method and manufacturing apparatus | |
| JP2020105069A (en) | Production device of gallium oxide crystal and production method of gallium oxide crystal | |
| JP7403101B2 (en) | Crucible for growing gallium oxide crystals | |
| JP7258293B2 (en) | Gallium oxide crystal growth crucible | |
| JP7078933B2 (en) | Seed crystal for growing single crystal of iron gallium alloy | |
| TWI870535B (en) | Crucible for growing gallium oxide single crystals | |
| KR101801867B1 (en) | PRODUCTION METHOD FOR SiC SINGLE CRYSTALS | |
| JP2007238343A (en) | Group III nitride single crystal growth method | |
| WO2024070239A1 (en) | Method for growing single crystal, method for producing semiconductor substrate, and semiconductor substrate | |
| TW201923168A (en) | Gallium arsenide compound semiconductor crystal and wafer group | |
| JP2007191353A (en) | Radiation shield and single crystal pulling apparatus including the same | |
| JP2734820B2 (en) | Method for manufacturing compound semiconductor single crystal | |
| JP2002068886A (en) | Semiconductor single crystal production device and method of evaluating graphite member | |
| JPH06157185A (en) | Method for growing compound semiconductor single crystal | |
| JP4086006B2 (en) | Method for producing compound semiconductor single crystal | |
| JPH11189499A (en) | Method for manufacturing compound semiconductor single crystal | |
| JP2017036180A (en) | Group 13 nitride crystal manufacturing method and group 13 nitride crystal manufacturing apparatus | |
| JP2769300B2 (en) | Crystal pulling device | |
| JP2000302588A (en) | Method for manufacturing compound semiconductor crystal | |
| JPH0354185A (en) | Production of iii-v compound semiconductor single crystal |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20211015 |
|
| A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711 Effective date: 20211015 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20211015 |
|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20220602 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20230228 |
|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20230307 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20230324 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 7258293 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |