JP7260811B2 - 表面処理剤 - Google Patents
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Description
[1] 下記式(I):
RF1-R4-(OR3)m-R5-SiR1 nR2 3-n (I)
[式中:
RF1は、Rf1-RF-Op-であり;
Rf1は、1個またはそれ以上のフッ素原子により置換されていてもよいC1-16アルキル基であり;
RFは、2価のフルオロポリエーテル基であり;
pは、0または1であり;
R1は、各出現においてそれぞれ独立して、-Z-SiR11 qR12 3-qであり;
Zは、2価の有機基であり;
R11は、各出現においてそれぞれ独立して、水酸基または加水分解性基であり;
R12は、各出現においてそれぞれ独立して、水素原子または1価の有機基であり;
qは、1~3の整数であり;
R2は、水素原子または1価の有機基であり;
nは、2または3であり;
R3は、C1-6アルキレン基であり;
mは、2~10の整数であり;
R4は、単結合またはC1-6アルキレン基であり;
R5は、単結合またはC1-6アルキレン基である。]
で表されるフルオロポリエーテル基含有シラン化合物。
[2] Rf1は、C1-16パーフルオロアルキル基である、上記[1]に記載のフルオロポリエーテル基含有シラン化合物。
[3] RFは、式:
-(OC6F12)a-(OC5F10)b-(OC4F8)c-(OC3RFa 6)d-(OC2F4)e-(OCF2)f-
[式中、RFaは、各出現においてそれぞれ独立して、水素原子、フッ素原子または塩素原子であり、
a、b、c、d、eおよびfは、それぞれ独立して、0~200の整数であって、a、b、c、d、eおよびfの和は1以上であり、a、b、c、d、eまたはfを付して括弧でくくられた各繰り返し単位の存在順序は式中において任意であり、ただし、すべてのRFaが水素原子または塩素原子である場合、a、b、c、eおよびfの少なくとも1つは、1以上である。]
で表される基である、上記[1]または[2]に記載のフルオロポリエーテル基含有シラン化合物。
[4] RFaは、フッ素原子である、上記[3]に記載のフルオロポリエーテル基含有シラン化合物。
[5] RFは、各出現においてそれぞれ独立して、下記式(f1)、(f2)、(f3)、(f4)または(f5):
-(OC3F6)d-(OC2F4)e- (f1)
[式中、dは1~200の整数であり、eは0または1である。]、
-(OC4F8)c-(OC3F6)d-(OC2F4)e-(OCF2)f- (f2)
[式中、cおよびdは、それぞれ独立して、0~30の整数であり;
eおよびfは、それぞれ独立して、1~200の整数であり;
c、d、eおよびfの和は、10~200の整数であり;
添字c、d、eまたはfを付して括弧でくくられた各繰り返し単位の存在順序は、式中において任意である。]、
-(R6-R7)g- (f3)
[式中、R6は、OCF2またはOC2F4であり;
R7は、OC2F4、OC3F6、OC4F8、OC5F10およびOC6F12から選択される基であるか、あるいは、これらの基から選択される2または3つの基の組み合わせであり;
gは、2~100の整数である。]、
-(OC6F12)a-(OC5F10)b-(OC4F8)c-(OC3F6)d-(OC2F4)e-(OCF2)f- (f4)
[式中、eは、1以上200以下の整数であり、a、b、c、dおよびfは、それぞれ独立して0以上200以下の整数であり、また、a、b、c、d、eまたはfを付して括弧でくくられた各繰り返し単位の存在順序は式中において任意である。]
-(OC6F12)a-(OC5F10)b-(OC4F8)c-(OC3F6)d-(OC2F4)e-(OCF2)f- (f5)
[式中、fは、1以上200以下の整数であり、a、b、c、dおよびeは、それぞれ独立して0以上200以下の整数であり、また、a、b、c、d、eまたはfを付して括弧でくくられた各繰り返し単位の存在順序は式中において任意である。]
で表される基である、上記[1]~[4]のいずれか1項に記載のフルオロポリエーテル基含有シラン化合物。
[6] R3は、C1-3アルキレン基である、上記[1]~[5]のいずれか1項に記載のフルオロポリエーテル基含有シラン化合物。
[7] mは、2~6の整数である、上記[1]~[6]のいずれか1項に記載のフルオロポリエーテル基含有シラン化合物。
[8] Zは、C1-6アルキレン基である、上記[1]~[7]のいずれか1項に記載のフルオロポリエーテル基含有シラン化合物。
[9] qは3である、上記[1]~[8]のいずれか1項に記載のフルオロポリエーテル基含有シラン化合物。
[10] 上記[1]~[9]のいずれか1項に記載のフルオロ(ポリ)エーテル基含有シラン化合物を含有する、表面処理剤。
[11] 含フッ素オイル、シリコーンオイル、および触媒から選択される1種またはそれ以上の他の成分をさらに含有する、上記[10]に記載の表面処理剤。
[12] さらに溶媒を含む、上記[10]または[11]に記載の表面処理剤。
[13] 防汚性コーティング剤または防水性コーティング剤として使用される、上記[10]~[12]のいずれか1項に記載の表面処理剤。
[14] 真空蒸着用である、上記[10]~[13]のいずれか1項に記載の表面処理剤。
[15] 上記[10]~[14]のいずれか1項に記載の表面処理剤を含有するペレット。
[16] 基材と、該基材の表面に、上記[1]~[9]のいずれか1項に記載のフルオロポリエーテル基含有シラン化合物または上記[10]~[14]のいずれかに記載の表面処理剤より形成された層とを含む物品。
[17] 光学部材である、上記[16]に記載の物品。
RF1-R4-(OR3)m-R5-SiR1 nR2 3-n (I)
[式中:
RF1は、Rf1-RF-Op-であり;
Rf1は、1個またはそれ以上のフッ素原子により置換されていてもよいC1-16アルキル基であり;
RFは、2価のフルオロポリエーテル基であり;
pは、0または1であり;
R1は、-Z-SiR11 qR12 3-qであり;
Zは、2価の有機基であり;
R11は、水酸基または加水分解性基であり;
R12は、水素原子または1価の有機基であり;
qは、1~3の整数であり;
R2は、水素原子または1価の有機基であり;
nは、2または3であり;
R3は、C1-6アルキレン基であり;
mは、2~10の整数であり;
R4は、単結合またはC1-6アルキレン基であり;
R5は、単結合またはC1-6アルキレン基である。]
で表されるフルオロポリエーテル基含有シラン化合物である。
-(OC6F12)a-(OC5F10)b-(OC4F8)c-(OC3RFa 6)d-(OC2F4)e-(OCF2)f-
[式中:
RFaは、各出現においてそれぞれ独立して、水素原子、フッ素原子または塩素原子であり、
a、b、c、d、eおよびfは、それぞれ独立して、0~200の整数であって、a、b、c、d、eおよびfの和は1以上である。a、b、c、d、eまたはfを付して括弧でくくられた各繰り返し単位の存在順序は式中において任意である。ただし、すべてのRFaが水素原子または塩素原子である場合、a、b、c、eおよびfの少なくとも1つは、1以上である。]
で表される基である。
-(OC3F6)d-(OC2F4)e- (f1)
[式中、dは、1~200の整数であり、eは、0または1である。];
-(OC4F8)c-(OC3F6)d-(OC2F4)e-(OCF2)f- (f2)
[式中、cおよびdは、それぞれ独立して0以上30以下の整数であり、eおよびfは、それぞれ独立して1以上200以下の整数であり、
c、d、eおよびfの和は2以上であり、
添字c、d、eまたはfを付して括弧でくくられた各繰り返し単位の存在順序は、式中において任意である。];
-(R6-R7)g- (f3)
[式中、R6は、OCF2またはOC2F4であり、
R7は、OC2F4、OC3F6、OC4F8、OC5F10およびOC6F12から選択される基であるか、あるいは、これらの基から独立して選択される2または3つの基の組み合わせであり、
gは、2~100の整数である。];
-(OC6F12)a-(OC5F10)b-(OC4F8)c-(OC3F6)d-(OC2F4)e-(OCF2)f- (f4)
[式中、eは、1以上200以下の整数であり、a、b、c、dおよびfは、それぞれ独立して0以上200以下の整数であって、また、a、b、c、d、eまたはfを付して括弧でくくられた各繰り返し単位の存在順序は式中において任意である。]
-(OC6F12)a-(OC5F10)b-(OC4F8)c-(OC3F6)d-(OC2F4)e-(OCF2)f- (f5)
[式中、fは、1以上200以下の整数であり、a、b、c、dおよびeは、それぞれ独立して0以上200以下の整数であって、また、a、b、c、d、eまたはfを付して括弧でくくられた各繰り返し単位の存在順序は式中において任意である。]
Rf5-(OC4F8)a’-(OC3F6)b’-(OC2F4)c’-(OCF2)d’-Rf6 ・・・(3)
式中、Rf5は、1個またはそれ以上のフッ素原子により置換されていてもよい炭素数1~16アルキル基(好ましくは、C1―16のパーフルオロアルキル基)を表し、Rf6は、1個またはそれ以上のフッ素原子により置換されていてもよい炭素数1~16アルキル基(好ましくは、C1-16パーフルオロアルキル基)、フッ素原子または水素原子を表し、Rf5およびRf6は、より好ましくは、それぞれ独立して、C1-3パーフルオロアルキル基である。
a’、b’、c’およびd’は、ポリマーの主骨格を構成するパーフルオロ(ポリ)エーテルの4種の繰り返し単位数をそれぞれ表し、互いに独立して0以上300以下の整数であって、a’、b’、c’およびd’の和は少なくとも1、好ましくは1~300、より好ましくは20~300である。添字a’、b’、c’またはd’を付して括弧でくくられた各繰り返し単位の存在順序は、式中において任意である。これら繰り返し単位のうち、-(OC4F8)-は、-(OCF2CF2CF2CF2)-、-(OCF(CF3)CF2CF2)-、-(OCF2CF(CF3)CF2)-、-(OCF2CF2CF(CF3))-、-(OC(CF3)2CF2)-、-(OCF2C(CF3)2)-、-(OCF(CF3)CF(CF3))-、-(OCF(C2F5)CF2)-および(OCF2CF(C2F5))-のいずれであってもよいが、好ましくは-(OCF2CF2CF2CF2)-である。-(OC3F6)-は、-(OCF2CF2CF2)-、-(OCF(CF3)CF2)-および(OCF2CF(CF3))-のいずれであってもよく、好ましくは-(OCF2CF2CF2)-である。-(OC2F4)-は、-(OCF2CF2)-および(OCF(CF3))-のいずれであってもよいが、好ましくは-(OCF2CF2)-である。
Rf5-(OCF2CF2CF2)b”-Rf6 ・・・(3a)
Rf5-(OCF2CF2CF2CF2)a”-(OCF2CF2CF2)b”-(OCF2CF2)c”-(OCF2)d”-Rf6 ・・・(3b)
これら式中、Rf5およびRf6は上記の通りであり;式(3a)において、b”は1以上100以下の整数であり;式(3b)において、a”およびb”は、それぞれ独立して0以上30以下の整数であり、c”およびd”はそれぞれ独立して1以上300以下の整数である。添字a”、b”、c”、d”を付して括弧でくくられた各繰り返し単位の存在順序は、式中において任意である。
CF3-(OCF2CF2)m-(OCF2)n-CH2OH(m≒21、n≒35)3.0gを、1,3-ビス(トリフルオロメチル)ベンゼン1.5gとジエチレングリコールジメチルエーテル3.0gに溶解させた。これに水酸化ナトリウム0.4gを加え、80℃で2時間撹拌し、ブロモ酢酸0.3gを激しく撹拌しながら加えた後、さらに110℃で8時間撹拌した。反応の終点は19F-NMRによってCF3(OCF2CF2)m-(OCF2)nCH2OHの水酸基β位-CF2-のケミカルシフトが低磁場にシフトしたこと、および1H-NMRによってブロモ酢酸のカルボニル基α位のメチレンプロトンが高磁場にシフトしたことを観察することにより確認した。反応液を室温に冷却し、液相と固相とを分離させた。液相を除去し、固相に10gのAK-225を加え、撹拌しながら10gの1N-塩酸水溶液を加えて30分撹拌した。次いで、10wt%硫酸水溶液1mlを加え、20分間撹拌後、静置し、下層を分離した。下層を2回水洗後、硫酸マグネシウムにて乾燥し、濾過し、濃縮した。得られた濃縮物をパーフルオロヘキサンに溶解した。該溶液をアセトンで3回洗浄することにより、ポリエーテル基含有化合物(A)を得た。
CF3(OCF2CF2)m(OCF2)nCH2O-CH2CO2H
(m≒21、n≒35)
水素化ホウ素ナトリウム0.2gと、トリフルオロホウ素ジエチルエーテレート0.2gを、1,3-ビス(トリフルオロメチル)ベンゼン3.0gとジエチレングリコールジメチルエーテル3.0gの混合溶媒に分散し、130℃に加熱した。この混合物に1,3-ビス(トリフルオロメチル)ベンゼン5.0gに溶解した合成例1で得られたポリエーテル基含有化合物(A)3.0gを滴下した。反応混合液を130℃で3時間撹拌した。反応の終点は19F-NMRによってCF3O-(CF2CF2O)m-(CF2O)n-CF2CH2O-のエーテル基β位―CF2―のケミカルシフトが高磁場にシフトしたことを観察することにより確認した。反応液を室温に戻し、アセトン3.0gを加え1時間撹拌し、1N-塩酸3mlを加えた。分液した下層を水洗し、硫酸マグネシウムにて乾燥し、濾過し、濃縮した。得られた濃縮物はパーフルオロヘキサンに溶解し、アセトンで3回洗浄することによりポリエーテル基含有化合物(B)を得た。
CF3(OCF2CF2)m(OCF2)nCF2CH2OCH2CH2OH
(m≒21、n≒35)
合成例2で得られたポリエーテル基含有化合物(B)3.0gを、1,3-ビス(トリフルオロメチル)ベンゼン6gに溶解し、水酸化ナトリウム0.4gを加え、80℃で1時間撹拌した。この溶液にCH2=CH2CH2OCH2CH2OTf(Tfはトリフルオロメタンスルホニル基)0.5gを加え、80℃で1時間反応した。反応の終点は1H-NMRによって化合物(B)の末端水酸基α位―CH2―のケミカルシフトが低磁場にシフトしたことを観察することにより確認した。反応液を室温に戻し、1N-塩酸3mlを加えた。分液した下層を水洗し硫酸マグネシウムにて乾燥し、濾過し、濃縮することによりポリエーテル基含有化合物(C)を得た。
CF3(OCF2CF2)m(OCF2)nCF2CH2OCH2CH2OCH2CH2OCH2CH=CH2
(m≒21、n≒35)
合成例3で得られたポリエーテル基含有化合物(C)2.5gを、1,3-ビス(トリフルオロメチル)ベンゼン5gに溶解し、トリアセトキシメチルシラン0.01g、1,3-ジビニル-1,1,3,3-テトラメチルジシロキサンのPt錯体2%を含むキシレン溶液0.04mlを加えた後、トリクロロシラン0.4gを仕込み、10℃で30分間撹拌した。続いて、60℃に加熱し、4時間撹拌した。1H-NMRでアリル位のプロトンが観測されなくなったことを確認した後、減圧下で揮発分を留去した。この反応液を氷冷しアリルマグネシウムブロマイド(0.7mol/Lジエチルエーテル溶液)3.0mlを滴下し、室温で終夜反応させた。反応液に、メタノール1.0mlとパーフルオロヘキサン5mlを加え濾過し、分液して、下層を濃縮した。得られた濃縮物をパーフルオロヘキサンに溶解し、アセトンで3回洗浄することによりポリエーテル基含有化合物(D)得た。
合成例4で得られたポリエーテル基含有化合物(D)2.5gを、1,3-ビス(トリフルオロメチル)ベンゼン5mlに溶解し、トリアセトキシメチルシラン0.01g、1,3-ジビニル-1,1,3,3-テトラメチルジシロキサンのPt錯体2%を含むキシレン溶液0.03mlを加えた後、トリクロロシラン0.5gを仕込み、10℃で30分間撹拌した。続いて、60℃に加熱し、4時間撹拌した。その後、減圧下で揮発分を留去した後、メタノール0.1gおよびオルトギ酸トリメチル1.0gの混合溶液を加えた後、60℃に加熱し3時間撹拌した。その後、精製を行うことにより、末端にトリメトキシシリル基を有する下記のポリエーテル基含有化合物(E)を得た。
CF3-(OCF2CF2)m-(OCF2)n-CH2OH(m≒21、n≒35)3.0gを用いた以外は合成例3と同様に処理することにより、ポリエーテル基含有化合物(F)を得た。
CF3(OCF2CF2)m(OCF2)nCF2CH2OCH2CH2OCH2CH=CH2
(m≒21、n≒35)
ポリエーテル基含有化合物(F)2.5gを用いた以外は合成例4と同様に処理することにより、ポリエーテル基含有化合物(G)を得た。
ポリエーテル基含有化合物(G)2.5gを用いた以外は合成例5と同様に処理することにより、ポリエーテル基含有化合物(H)を得た。
メチルジクロロシランを用いた以外は合成例7および合成例8と同様に処理することにより、ポリエーテル基含有化合物(I)を得た。
CF3-(OCF2CF2)m-(OCF2)n-CH2OH(m≒22、n≒21)4.0gを、1,3-ビス(トリフルオロメチル)ベンゼン8gに溶解し、水酸化ナトリウム0.4gを加え80℃で1時間撹拌した。この溶液にCH2=CH2CH2OCH2CH2OCH2CH2OTf1.0gを加え80℃で1時間反応した。反応の終点は1H-NMRによって化合物(B)の末端水酸基α位―CH2―のケミカルシフトが低磁場にシフトしたことにより確認した。反応液を室温に戻し1N-塩酸3mlを加えた。分液した下層を水洗し硫酸マグネシウムにて乾燥、濾過、濃縮することによりポリエーテル基含有化合物(J)を得た。
CF3(OCF2CF2)m(OCF2)nCF2CH2OCH2CH2OCH2CH2OCH2CH=CH2
(m≒22、n≒21)
ポリエーテル基含有化合物(J)2.5gを用いた以外は合成例4および合成例5と同様に処理することにより、ポリエーテル基含有化合物(K)を得た。
CF3-(OCF2CF2)m-(OCF2)n-CH2OH(m≒22、n≒21)3.0gを用いた以外は合成例6、合成例7および合成例8と同様に処理することにより、ポリエーテル基含有化合物(L)を得た。
メチルジクロロシランを用いた以外は合成例12と同様に処理することにより、ポリエーテル基含有化合物(M)を得た。
上記合成例5で得たポリエーテル基含有化合物(E)を、濃度0.1mass%になるように、ハイドロフルオロエーテル(スリーエム社製、ノベックHFE-7200)に溶解させて、表面処理剤(1)を調製した。
上記合成例7で得たポリエーテル基含有化合物(H)を、濃度0.1mass%になるように、ハイドロフルオロエーテル(スリーエム社製、ノベックHFE-7200)に溶解させて、表面処理剤(2)を調製した。
上記合成例8で得たポリエーテル基含有化合物(I)を、濃度0.1mass%になるように、ハイドロフルオロエーテル(スリーエム社製、ノベックHFE-7200)に溶解させて、表面処理剤(3)を調製した。
上記合成例11で得たポリエーテル基含有化合物(K)を、濃度0.1mass%になるように、ハイドロフルオロエーテル(スリーエム社製、ノベックHFE-7200)に溶解させて、表面処理剤(4)を調製した。
上記合成例12で得たポリエーテル基含有化合物(L)を、濃度0.1mass%になるように、ハイドロフルオロエーテル(スリーエム社製、ノベックHFE-7200)に溶解させて、表面処理剤(5)を調製した。
上記合成例13で得たポリエーテル基含有化合物(M)を、濃度0.1mass%になるように、ハイドロフルオロエーテル(スリーエム社製、ノベックHFE-7200)に溶解させて、表面処理剤(6)を調製した。
ポリエーテル基含有化合物(D)の代わりに、下記対照化合物(1)および(2)を用いた以外は、実施例2と同様に行い、比較表面処理剤(1)および(2)をそれぞれ調製した。
表面処理剤(1)~(6)、および比較表面処理剤(1)~(2)をそれぞれ用いて、以下のように硬化膜を形成した。
表面処理剤または比較表面処理剤を、スピンコーターを用いて、化学強化ガラス(コーニング社製、「ゴリラ」ガラス、厚さ0.7mm)上に塗布した。スピンコートの条件は、300回転/分で3秒間、2000回転/分で30秒であった。塗布後のガラスを、大気下、恒温槽内で150℃30分間加熱し、硬化膜を形成した。
得られた硬化膜の特性を以下のように評価した。
静的接触角は全自動接触角計DropMaster700(協和界面科学社製)を用いて次の方法で測定した。
静的接触角は、水平に置いた基板にマイクロシリンジから水を2μL滴下し、滴下1秒後の静止画をビデオマイクロスコープで撮影することにより求めた。
まず、初期評価として、硬化膜形成後、その表面に未だ何も触れていない状態で、水の静的接触角を測定した。
次に、上記硬化膜を、エタノールを十分に染み込ませたキムワイプ(商品名。十條キンバリー(株)製)を用いて5往復拭いた後、乾燥させた。乾燥後の硬化膜の水の静的接触角を測定した。
(指紋付着性)
表面処理剤または比較表面処理剤を用いて形成された硬化膜に指を押し付け、指紋の付きやすさを目視で判定した。評価は、次の基準に基づいて判断した。
A:指紋が付きにくいか、付いても指紋が目立たなかった。
B:指紋の付着が少ないが、その指紋を充分に確認できた。
C:未処理のガラス基板と同程度に明確に指紋が付着した。
上記の指紋付着性試験後、付着した指紋をキムワイプ(商品名。十條キンバリー(株)製)で5往復拭き取り、付着した指紋の拭き取りやすさを目視で判定した。評価は次の基準に基づいて判断した。
A:指紋を完全に拭き取ることができた。
B:指紋の拭取り跡が残った。
C:指紋の拭取り跡が拡がり、除去することが困難であった。
得られた硬化膜の耐摩耗性を以下のように評価した。
ラビングテスター(新東科学社製)を用いて、下記条件で2500回擦る毎に耐水接触角を測定し、10000回もしくは100°未満となるまで試験を続けた。試験環境条件は25℃、湿度40%RHである。
消しゴム:Raber Eraser(Minoan社製)
接地面積:6mmφ
移動距離(片道):30mm
移動速度:3,600mm/分
荷重:1kg/6mmφ
Claims (14)
- 下記式(I):
RF1-R4-(OR3)m-R5-SiR1 nR2 3-n (I)
[式中:
RF1は、Rf1-RF-Op-であり;
Rf1は、1個またはそれ以上のフッ素原子により置換されていてもよいC1-16アルキル基であり;
RFは、2価のフルオロポリエーテル基であり;
pは、0または1であり;
R1は、各出現においてそれぞれ独立して、-Z-SiR11 qR12 3-qであり;
Zは、C 1-6 アルキレン基であり;
R11は、各出現においてそれぞれ独立して、水酸基または-OR h 、-OCOR h 、-O-N=CR h 2 、-NR h 2 、-NHR h 、-NCO、ハロゲン(これら式中、R h は、置換または非置換のC 1-4 アルキル基を示す)であり;
R12は、各出現においてそれぞれ独立して、水素原子または1価の炭化水素基またはその誘導体であり;
qは、1~3の整数であり;
R2は、水素原子または1価の炭化水素基またはその誘導体であり;
nは、2または3であり;
R3は、C1-3アルキレン基であり;
mは、2~6の整数であり;
R4は、単結合またはC1-6アルキレン基であり;
R5は、単結合またはC1-6アルキレン基である。]
で表されるフルオロポリエーテル基含有シラン化合物。 - Rf1は、C1-16パーフルオロアルキル基である、請求項1に記載のフルオロポリエーテル基含有シラン化合物。
- RFは、式:
-(OC6F12)a-(OC5F10)b-(OC4F8)c-(OC3RFa 6)d-(OC2F4)e-(OCF2)f-
[式中、RFaは、各出現においてそれぞれ独立して、水素原子、フッ素原子または塩素原子であり、
a、b、c、d、eおよびfは、それぞれ独立して、0~200の整数であって、a、b、c、d、eおよびfの和は1以上であり、a、b、c、d、eまたはfを付して括弧でくくられた各繰り返し単位の存在順序は式中において任意であり、ただし、すべてのRFaが水素原子または塩素原子である場合、a、b、c、eおよびfの少なくとも1つは、1以上である。]
で表される基である、請求項1または2に記載のフルオロポリエーテル基含有シラン化合物。 - RFaは、フッ素原子である、請求項3に記載のフルオロポリエーテル基含有シラン化合物。
- RFは、各出現においてそれぞれ独立して、下記式(f1)、(f2)、(f3)、(f4)または(f5):
-(OC3F6)d-(OC2F4)e- (f1)
[式中、dは1~200の整数であり、eは0または1である。]、
-(OC4F8)c-(OC3F6)d-(OC2F4)e-(OCF2)f- (f2)
[式中、cおよびdは、それぞれ独立して、0~30の整数であり;
eおよびfは、それぞれ独立して、1~200の整数であり;
c、d、eおよびfの和は、10~200の整数であり;
添字c、d、eまたはfを付して括弧でくくられた各繰り返し単位の存在順序は、式中において任意である。]、
-(R6-R7)g- (f3)
[式中、R6は、OCF2またはOC2F4であり;
R7は、OC2F4、OC3F6、OC4F8、OC5F10およびOC6F12から選択される基であるか、あるいは、これらの基から選択される2または3つの基の組み合わせであり;
gは、2~100の整数である。]、
-(OC6F12)a-(OC5F10)b-(OC4F8)c-(OC3F6)d-(OC2F4)e-(OCF2)f- (f4)
[式中、eは、1以上200以下の整数であり、a、b、c、dおよびfは、それぞれ独立して0以上200以下の整数であり、また、a、b、c、d、eまたはfを付して括弧でくくられた各繰り返し単位の存在順序は式中において任意である。]
-(OC6F12)a-(OC5F10)b-(OC4F8)c-(OC3F6)d-(OC2F4)e-(OCF2)f- (f5)
[式中、fは、1以上200以下の整数であり、a、b、c、dおよびeは、それぞれ独立して0以上200以下の整数であり、また、a、b、c、d、eまたはfを付して括弧でくくられた各繰り返し単位の存在順序は式中において任意である。]
で表される基である、請求項1~4のいずれか1項に記載のフルオロポリエーテル基含有シラン化合物。 - qは3である、請求項1~5のいずれか1項に記載のフルオロポリエーテル基含有シラン化合物。
- 請求項1~6のいずれか1項に記載のフルオロ(ポリ)エーテル基含有シラン化合物を含有する、表面処理剤。
- 含フッ素オイル、シリコーンオイル、および触媒から選択される1種またはそれ以上の他の成分をさらに含有する、請求項7に記載の表面処理剤。
- さらに溶媒を含む、請求項7または8に記載の表面処理剤。
- 防汚性コーティング剤または防水性コーティング剤として使用される、請求項7~9のいずれか1項に記載の表面処理剤。
- 真空蒸着用である、請求項7~10のいずれか1項に記載の表面処理剤。
- 請求項7~11のいずれか1項に記載の表面処理剤を含有するペレット。
- 基材と、該基材の表面に、請求項1~6のいずれか1項に記載のフルオロポリエーテル基含有シラン化合物または請求項7~11のいずれかに記載の表面処理剤より形成された層とを含む物品。
- 光学部材である、請求項13に記載の物品。
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