JP7269055B2 - 表示装置 - Google Patents

Description

本発明は、表示装置に関する。

表示装置の信頼性を確保するために、表示装置を検査する技術が種々検討されている。例えば特許文献１には、表示装置に、画素に接続された信号線に、検査回路を介して接続される検査用端子を設ける旨が記載されている。特許文献１によると、検査用端子から検査回路に検査用データ信号を入力することで、画素に検査用データ信号に応じた発色を行わせて、発色状態の検査を行う。

特開２０１０－２４３５２４号公報

例えば大型の表示装置には複数のドライバＩＣが搭載される場合があり、この場合、ドライバＩＣに合わせて検査回路も複数搭載される。この場合、検査用データ信号として検査回路に流れる電流が、検査回路毎に不均衡となる懸念が高くなる。検査用データ信号の電位が検査回路毎に不均衡になると、検査時の画素の輝度にムラが生じて、検査精度が低下する。従って、表示装置の検査精度の低下を抑制することで、信頼性の低下を抑制することが求められている。

本発明は、上記の課題に鑑みてなされたもので、信頼性の低下を抑制することが可能な表示装置を提供することを目的とする。

本発明の一態様による表示装置は、複数の画素が設けられる表示領域、及び前記表示領域よりも外側の周辺領域を有する第１基板と、前記表示領域に設けられて、前記画素に接続されて前記画素に信号を供給する配線と、前記表示領域の第１方向側の前記周辺領域である第１周辺領域に設けられ、前記配線に接続されて第１ドライバＩＣが接続可能な第１ドライバ端子と、前記第１周辺領域において前記第１方向に交差する方向に前記第１ドライバ端子と並ぶ位置に設けられ、前記配線に接続されて第２ドライバＩＣが接続可能な第２ドライバ端子と、前記第１周辺領域に設けられる複数の検査端子と、前記第１ドライバ端子に接続され、前記検査端子と前記配線との接続及び遮断を切り替え可能に構成される第１検査スイッチと、前記第２ドライバ端子に接続され、前記検査端子と前記配線との接続及び遮断を切り替え可能に構成される第２検査スイッチと、を備え、前記検査端子は、前記第１ドライバ端子の前記第２ドライバ端子側とは反対側の第１領域と、前記第２ドライバ端子の前記第１ドライバ端子側とは反対側の第２領域と、前記第１ドライバ端子と前記第２ドライバ端子との間の第３領域と、に設けられる。

図１は、本実施形態に係る表示装置を模式的に示す平面図である。 図２は、本実施形態に係る表示装置の画素配列を示す模式図である。 図３は、本実施形態に係る表示装置の模式的な断面図である。 図４は、本実施形態に係る表示装置の構成の模式図である。 図５は、エージング処理の一例を示す模式図である。 図６は、点灯検査の一例を示す模式図である。 図７は、変形例に係る表示装置を模式的に示す平面図である。 図８は、変形例に係る表示装置の構成の模式的な回路図である。 図９は、別の変形例に係る表示装置を模式的に示す平面図である。

以下に、本発明の各実施形態について、図面を参照しつつ説明する。なお、開示はあくまで一例にすぎず、当業者において、発明の主旨を保っての適宜変更について容易に想到し得るものについては、当然に本発明の範囲に含有されるものである。また、図面は説明をより明確にするため、実際の態様に比べ、各部の幅、厚さ、形状等について模式的に表される場合があるが、あくまで一例であって、本発明の解釈を限定するものではない。また、本明細書と各図において、既出の図に関して前述したものと同様の要素には、同一の符号を付して、詳細な説明を適宜省略することがある。

（表示装置の構成）
図１は、本実施形態に係る表示装置を模式的に示す平面図である。図１に示すように、本実施形態に係る表示装置１は、アレイ基板である第１基板ＳＵＢ１と、対向基板である第２基板ＳＵＢ２とを備えている。以下、第１基板ＳＵＢ１及び第２基板ＳＵＢ２の表面に平行な方向を、方向Ｘとする。また、第１基板ＳＵＢ１及び第２基板ＳＵＢ２の表面に平行な方向であって、方向Ｘと交差する方向、ここでは方向Ｘと直交する方向を、方向Ｙとする。また、方向Ｙのうちの一方側に向かう方向を、第１方向Ｙ１とし、方向Ｙのうちの他方側に向かう方向、すなわち第１方向Ｙ１と反対方向を、第２方向Ｙ２とする。同様に、方向Ｘのうちの一方側に向かう方向を、第３方向Ｘ１とし、方向Ｘのうちの他方側に向かう方向、すなわち第３方向Ｘ１と反対方向を、第４方向Ｘ２とする。また、方向Ｘ及び方向Ｙに直交する方向、すなわち第１基板ＳＵＢ１及び第２基板ＳＵＢ２の表面に直交する方向を、方向Ｚとする。

第１基板ＳＵＢ１と第２基板ＳＵＢ２とは、方向Ｚに積層されている。第１基板ＳＵＢ１は、第２基板ＳＵＢ２よりも面積が広い。第１基板ＳＵＢ１は、方向Ｚから見て、第１方向Ｙ１側の部分が、第２基板ＳＵＢ２よりも第１方向Ｙ１側に突出するように積層されている。すなわち、表示装置１は、第１基板ＳＵＢ１と第２基板ＳＵＢ２とが重畳する重畳領域ＡＲ１と、第２基板ＳＵＢ２が設けられず第１基板ＳＵＢ１のみが設けられる張出領域ＡＲ２とを有している。張出領域ＡＲ２は、重畳領域ＡＲ１の第１方向Ｙ１側に隣接する。

表示装置１は、表示領域Ａと周辺領域Ｂとを有する。表示領域Ａは、複数の画素が配置されて画像が表示される領域である。周辺領域Ｂは、画素が配置されずに画像が表示されない領域である。周辺領域Ｂは、Ｚ方向から見た表示領域Ａの外側の領域である。本実施形態では、周辺領域Ｂは、表示領域Ａを囲う枠状であり、額縁領域ともいえる。表示領域Ａは、第１基板ＳＵＢ１と第２基板ＳＵＢ２とが重畳する重畳領域ＡＲ１内に設けられている。周辺領域Ｂは、第１基板ＳＵＢ１内の領域である。さらに言えば、周辺領域Ｂは、一部が重畳領域ＡＲ１内に設けられ、他の一部が張出領域ＡＲ２に設けられている。すなわち、周辺領域Ｂは、重畳領域ＡＲ１から張出領域ＡＲ２にわたって設けられている。従って、第１基板ＳＵＢ１は、表示領域Ａと周辺領域Ｂとを有するといえ、さらに言えば、表示領域Ａと周辺領域Ｂとに区分けされているといえる。

周辺領域Ｂは、第１周辺領域Ｂ１と、第２周辺領域Ｂ２と、第３周辺領域Ｂ３と、第４周辺領域Ｂ４とを含む。第１周辺領域Ｂ１は、表示領域Ａの第１方向Ｙ１側の周辺領域Ｂである。第２周辺領域Ｂ２は、表示領域Ａの第２方向Ｙ２側の周辺領域Ｂであり、言い換えれば、表示領域Ａを隔てて第１周辺領域Ｂ１の反対側にある周辺領域Ｂである。第３周辺領域Ｂ３は、表示領域Ａの第３方向Ｘ１側の周辺領域Ｂである。第４周辺領域Ｂ４は、表示領域Ａの第４方向Ｘ２側の周辺領域Ｂであり、言い換えれば、表示領域Ａを隔てて第３周辺領域Ｂ３の反対側にある周辺領域Ｂである。

第１周辺領域Ｂ１は、重畳領域ＡＲ１から、重畳領域ＡＲ１より第１方向Ｙ１側の張出領域ＡＲ２にわたって設けられている。すなわち、第１周辺領域Ｂ１は、重畳領域ＡＲ１内に位置する内側周辺領域Ｂ１ａと、張出領域ＡＲ２内に位置する外側周辺領域Ｂ１ｂとを含んでいる。第２周辺領域Ｂ２、第３周辺領域Ｂ３、及び第４周辺領域Ｂ４は、重畳領域ＡＲ１内に位置している。すなわち、重畳領域ＡＲ１は、表示領域Ａ、内側周辺領域Ｂ１ａ、第２周辺領域Ｂ２、第３周辺領域Ｂ３、及び第４周辺領域Ｂ４によって占められており、張出領域ＡＲ２は、外側周辺領域Ｂ１ｂによって占められている。

第１周辺領域Ｂ１の外側周辺領域Ｂ１ｂには、配線基板１０１ａ、１０１ｂが設けられている。配線基板１０１ａ、１０１ｂは、例えばフレキシブル配線基板（ＦＰＣ：Ｆｌｅｘｉｂｌｅ Ｐｒｉｎｔｅｄ Ｃｉｒｃｕｉｔｓ）によって構成される。配線基板１０１ａには、ドライバＩＣ（Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ Ｃｉｒｃｕｉｔ）１１０ａが設けられ、配線基板１０１ｂには、ドライバＩＣ１１０ｂが設けられている。ドライバＩＣ１１０ａ、１１０ｂは、表示装置１の表示を制御する制御回路、検出回路、アナログフロントエンド等を含む。すなわち、本実施形態においては、ドライバＩＣ１１０ａ、１１０ｂは、ＣＯＦ（Ｃｈｉｐ Ｏｎ Ｆｉｌｍ）によって配線基板１０１ａ、１０１ｂに実装される（以下、「ＣＯＦ実装」と称する）。配線基板１０１ａ及びドライバＩＣ１１０ａと、配線基板１０１ｂ及びドライバＩＣ１１０ｂとは、方向Ｘに並んで配置されている。すなわち、本実施形態においては、配線基板１０１ｂは、配線基板１０１ａ及びドライバＩＣ１１０ａの第３方向Ｘ１側に位置しており、ドライバＩＣ１１０ｂは、配線基板１０１ａ及びドライバＩＣ１１０ａの第３方向Ｘ１側に位置している。以下、配線基板１０１ａ、１０１ｂを区別しない場合は、配線基板１０１と記載し、ドライバＩＣ１１０ａ、１１０ｂを区別しない場合は、ドライバＩＣ１１０と記載する。なお、表示装置１は、配線基板１０１及びドライバＩＣ１１０に接続可能な構成であればよく、配線基板１０１及びドライバＩＣ１１０を含まない構成を表示装置１としてよい。また、配線基板１０１及びドライバＩＣ１１０を含めて、表示装置１としてもよい。

表示装置１は、さらに、周辺領域Ｂに設けられた、複数の第１ドライバ端子Ｄａ、複数の第２ドライバ端子Ｄｂ、及び、複数の検査端子Ｔを有する。本実施形態では、第１ドライバ端子Ｄａ、第２ドライバ端子Ｄｂ及び検査端子Ｔは、第１周辺領域Ｂ１に設けられ、さらに言えば、外側周辺領域Ｂ１ｂに設けられている。

第１ドライバ端子Ｄａは、ドライバＩＣ１１０ａに接続可能な端子である。第１ドライバ端子Ｄａは、接続されたドライバＩＣ１１０ａから出力された各種信号を、表示装置１の配線（後述の信号線Ｓ）に供給するための端子である。第２ドライバ端子Ｄｂは、ドライバＩＣ１１０ｂに接続可能な端子である。第２ドライバ端子Ｄｂは、接続されたドライバＩＣ１１０ｂから出力された各種信号を、表示装置１の配線（後述の信号線Ｓ）に供給するための端子である。複数の第１ドライバ端子Ｄａは、ドライバＩＣ１１０ａに対応して設けられ、複数の第２ドライバ端子Ｄｂは、ドライバＩＣ１１０ｂに対応して設けられる。従って、複数の第１ドライバ端子Ｄａと、複数の第２ドライバ端子Ｄｂとは、方向Ｘに並んでいる。本実施形態では、複数の第２ドライバ端子Ｄｂは、複数の第１ドライバ端子Ｄａの第３方向Ｘ１側に位置している。言い換えれば、複数の第２ドライバ端子Ｄｂが設けられる領域が、複数の第１ドライバ端子Ｄａが設けられる領域の第３方向Ｘ１側に位置している。

検査端子Ｔは、配線の検査、ここでは後述のエージング処理及び点灯検査を行うための端子である。エージング処理及び点灯検査については後述する。検査端子Ｔは、第１周辺領域Ｂ１（ここでは外側周辺領域Ｂ１ｂ）内において、第１領域Ｒ１と、第２領域Ｒ２と、第３領域Ｒ３とに設けられる。第１領域Ｒ１は、第１ドライバ端子Ｄａの、第２ドライバ端子Ｄｂ側とは反対側の領域を指す。すなわち、第１領域Ｒ１は、複数の第１ドライバ端子Ｄａが設けられる領域よりも第４方向Ｘ２側に位置する領域である。また、第２領域Ｒ２は、第２ドライバ端子Ｄｂの、第１ドライバ端子Ｄａ側とは反対側の領域である。すなわち、第２領域Ｒ２は、複数の第２ドライバ端子Ｄｂが設けられる領域よりも第３方向Ｘ１側に位置する領域である。第３領域Ｒ３は、第１ドライバ端子Ｄａと第２ドライバ端子Ｄｂとの間の領域である。すなわち、第３領域Ｒ３は、Ｘ方向において複数の第１ドライバ端子Ｄａが設けられた領域と複数の第２ドライバ端子Ｄｂが設けられた領域との間の領域であり、言い換えれば、複数の第１ドライバ端子Ｄａが設けられた領域よりも第３方向Ｘ１側であって、複数の第２ドライバ端子Ｄｂが設けられた領域よりも第４方向Ｘ２側の領域である。なお、第１領域Ｒ１は、ドライバＩＣ１１０ａの、ドライバＩＣ１１０ｂ側とは反対側の領域（ドライバＩＣ１１０ａよりも第４方向Ｘ２側の領域）ともいえ、第２領域Ｒ２は、ドライバＩＣ１１０ｂの、ドライバＩＣ１１０ａ側とは反対側の領域（ドライバＩＣ１１０ｂよりも第３方向Ｘ１側の領域）といえ、第３領域Ｒ３は、ドライバＩＣ１１０ａとドライバＩＣ１１０ｂとの間の領域（ドライバＩＣ１１０ａよりも第３方向Ｘ１側であって、ドライバＩＣ１１０ａよりも第４方向Ｘ２側の領域）といってもよい。

また、表示装置１は、配線の検査を行うための回路である、第１検査回路Ｃ１ａ、第２検査回路Ｃ１ｂ、第１接続回路Ｃ２ａ、及び第２接続回路Ｃ２ｂを有する。第１検査回路Ｃ１ａは、後述の第１検査スイッチＳＷ_Ａを含む回路であり、第１ドライバ端子Ｄａに接続される。第１検査回路Ｃ１ａは、第１ドライバ端子Ｄａを介してドライバＩＣ１１０ａに接続される。第２検査回路Ｃ１ｂは、後述の第２検査スイッチＳＷ_Ｂを含む回路であり、第２ドライバ端子Ｄｂに接続される。第２検査回路Ｃ１ｂは、第２ドライバ端子Ｄｂを介してドライバＩＣ１１０ｂに接続される。第１検査回路Ｃ１ａと第２検査回路Ｃ１ｂとは、第１周辺領域Ｂ１内に設けられ、本実施形態では内側周辺領域Ｂ１ａ内に設けられる。第１検査回路Ｃ１ａは、第１ドライバ端子Ｄａに対応して設けられ、第２検査回路Ｃ１ｂは、第２ドライバ端子Ｄｂに対応して設けられる。従って、第１検査回路Ｃ１ａと第２検査回路Ｃ１ｂとは、方向Ｘに並んでいる。本実施形態では、第２検査回路Ｃ１ｂは、第１検査回路Ｃ１ａの第３方向Ｘ１側に位置している。

第１接続回路Ｃ２ａは、後述の第１接続スイッチＳＷ_Ｃを含む回路であり、後述の信号線Ｓを介して、第１検査回路Ｃ１ａに接続されている。第２接続回路Ｃ２ｂは、後述の第２接続スイッチＳＷ_Ｄを含む回路であり、後述の信号線Ｓを介して、第２検査回路Ｃ１ｂに接続されている。第１接続回路Ｃ２ａと第２接続回路Ｃ２ｂとは、第２周辺領域Ｂ２内に設けられる。第１接続回路Ｃ２ａと第２接続回路Ｃ２ｂとは、方向Ｘに並んでいる。本実施形態では、第２接続回路Ｃ２ｂは、第１接続回路Ｃ２ａの第３方向Ｘ１側に位置している。第１検査回路Ｃ１ａ、第２検査回路Ｃ１ｂ、第１接続回路Ｃ２ａ、及び第２接続回路Ｃ２ｂの回路構成については後述する。

図２は、本実施形態に係る表示装置の画素配列を示す模式図である。図２に示すように、表示装置１は、表示領域Ａにおいて、複数の画素ＰＸを備えている。複数の画素ＰＸは、方向Ｘ及び方向Ｙにおいて、マトリクス状に並んで配置されている。また、表示装置１は、表示領域Ａにおいて、複数の配線を有している。表示装置１は、表示領域Ａに設けられる配線として、ｇ本の走査線Ｇ（Ｇ１～Ｇ_ｇ）と、ｎ本の信号線Ｓ（Ｓ１～Ｓ_ｎ）と、コモン線ＣＬと、を備えている。なお、ｇ及びｎは、いずれも２以上の整数である。走査線Ｇは、ゲートドライバＧＤに接続されている。ゲートドライバＧＤの動作に必要な信号は、ドライバＩＣ１１０から供給される。信号線Ｓ及びコモン線ＣＬは、ドライバＩＣ１１０に接続されている。走査線Ｇ、ゲートドライバＧＤ、信号線Ｓ、及び、コモン線ＣＬは、図１に示した第１基板ＳＵＢ１に形成されている。

画素ＰＸは、スイッチング素子Ｗ、画素電極ＰＥ、共通電極ＣＥ、及び液晶層ＬＣを備えている。スイッチング素子Ｗは、例えば薄膜トランジスタ（ＴＦＴ；Ｔｉｎ Ｆｉｌｍ Ｔｒａｎｓｉｓｔｏｒ）によって構成され、走査線Ｇ及び信号線Ｓと電気的に接続されている。画素電極ＰＥは、スイッチング素子Ｗと電気的に接続されている。共通電極ＣＥは、コモン線ＣＬと電気的に接続されている。

ゲートドライバＧＤは、走査線Ｇに接続されたスイッチング素子Ｗを導通状態とする制御信号を、走査線Ｇに出力する。ドライバＩＣ１１０は、スイッチング素子Ｗが導通状態の期間に、信号線Ｓに映像信号を出力する。これにより、画素電極ＰＥには、所望の画素電位が書き込まれる。また、ドライバＩＣ１１０は、コモン線ＣＬにコモン電位を供給する。これにより、共通電極ＣＥは、コモン電位となる。各画素ＰＸにおいて、画素電極ＰＥの各々は、共通電極ＣＥと対向しており、液晶層ＬＣは、画素電極ＰＥの画素電位と共通電極ＣＥのコモン電位との電位差によって生じる電界によって駆動される。保持容量ＣＳは、例えば、共通電極ＣＥと同電位の電極、及び、画素電極ＰＥと同電位の電極の間に形成される。

図３は、本実施形態に係る表示装置の模式的な断面図である。図３に示すように、表示装置１は、方向Ｚにおいて第１基板ＳＵＢ１と第２基板ＳＵＢ２とが積層されている。第１基板ＳＵＢ１は、絶縁基板１０、絶縁層１１、１２、１３、１４、１５、下側遮光層ＵＳ、半導体層ＳＣ、走査線Ｇ、信号線Ｓ、接続電極ＲＥ、共通電極ＣＥ、画素電極ＰＥ、及び、配向膜ＡＬ１を備えている。絶縁基板１０は、ガラス基板や樹脂基板などの透明基板である。下側遮光層ＵＳは、絶縁基板１０と絶縁層１１との間に位置している。下側遮光層ＵＳは、図３の例では、両ゲート電極に跨って重畳するように形成されているが、ゲート電極毎に離間して形成されていてもよい。半導体層ＳＣは、絶縁層１１と絶縁層１２との間に位置している。半導体層ＳＣは、例えば、多結晶シリコンによって形成されているが、アモルファスシリコンや酸化物半導体によって形成されていてもよい。走査線Ｇの一部である２つのゲート電極ＧＥは、絶縁層１２と絶縁層１３との間に位置している。信号線Ｓ及び接続電極ＲＥは、絶縁層１３と絶縁層１４との間に位置している。信号線Ｓ及び接続電極ＲＥは、それぞれ半導体層ＳＣにコンタクトしている。共通電極ＣＥは、絶縁層１４と絶縁層１５との間に位置している。画素電極ＰＥは、絶縁層１５と配向膜ＡＬ１との間に位置している。画素電極ＰＥの一部は、絶縁層１５を介して共通電極ＣＥと対向している。共通電極ＣＥ及び画素電極ＰＥは、ＩＴＯ（Ｉｎｄｉｕｍ Ｔｉｎ Ｏｘｉｄｅ）やＩＺＯ（Ｉｎｄｉｕｍ Ｚｉｎｃ Ｏｘｉｄｅ）などの透光性を有する導電材料によって形成されている。画素電極ＰＥは、共通電極ＣＥの開口部ＡＰと重畳する位置において、絶縁層１４及び１５を貫通するコンタクトホールＣＨを介して接続電極ＲＥに接触している。なお、絶縁層１１乃至１３、及び、絶縁層１５は、シリコン酸化物、シリコン窒化物、シリコン酸窒化物などの透明な無機絶縁層であり、単層構造であってもよいし、多層構造であってもよい。絶縁層１４は、アクリル樹脂などの透明な有機絶縁層である。

第２基板ＳＵＢ２は、絶縁基板２０、遮光層ＢＭ、カラーフィルタ層ＣＦ、オーバーコート層ＯＣ、及び、配向膜ＡＬ２を備えている。絶縁基板２０は、ガラス基板や樹脂基板などの透明基板である。遮光層ＢＭ及びカラーフィルタ層ＣＦは、絶縁基板２０とオーバーコート層ＯＣとの間に位置している。配向膜ＡＬ２は、オーバーコート層ＯＣを覆っている。

液晶層ＬＣは、第１基板ＳＵＢ１及び第２基板ＳＵＢ２の間に位置し、配向膜ＡＬ１と配向膜ＡＬ２との間に保持されている。液晶層ＬＣは、ポジ型（誘電率異方性が正）の液晶材料、あるいは、ネガ型（誘電率異方性が負）の液晶材料によって構成されている。偏光板ＰＬ１は、第１基板ＳＵＢ１の下方（第２基板ＳＵＢ２と反対側）に配置されている。偏光板ＰＬ２は、第２基板ＳＵＢ２の上方（第１基板ＳＵＢ１と反対側）に配置されている。なお、偏光板ＰＬ１、ＰＬ２の他に、必要に応じて位相差板、散乱層、反射防止層などを含んでいてもよい。照明装置ＩＬは、偏光板ＰＬ１の下方（第１基板ＳＵＢ１と反対側）に位置している。

このように、図３の例では、表示装置１は、横電界モード、さらに言えばＦＦＳ（Ｆｒｉｎｇｅ Ｆｉｅｌｄ Ｓｗｉｔｃｈｉｎｇ）モードの液晶表示装置である。ただし、表示装置１は、ＦＦＳモードに限られず、縦電界モードなど、任意の表示装置であってよい。

表示装置１は、配線の検査を行うための構成を有している。以下、配線の検査を行うための構成について説明する。

図４は、本実施形態に係る表示装置の構成の模式的な回路図である。図４に示すように、第１ドライバ端子Ｄａは、配線であるビデオ線Ｖａと、接続回路ＭＵとを介して、配線である信号線Ｓに接続されている。同様に、第２ドライバ端子Ｄｂは、配線であるビデオ線Ｖｂと、接続回路ＭＵとを介して、配線である信号線Ｓに接続されている。図４は、説明の便宜上、第１ドライバ端子Ｄａ及び第２ドライバ端子Ｄｂとして、それぞれ６つの第１ドライバ端子Ｄａ、第２ドライバ端子Ｄｂを示しているが、実際の第１ドライバ端子Ｄａ及び第２ドライバ端子Ｄｂの数は６つより多くてよい。第１ドライバ端子Ｄａ１、Ｄａ２、Ｄａ３、Ｄａ４、Ｄａ５、Ｄａ６は、それぞれ、ビデオ線Ｖａ１、Ｖａ２、Ｖａ３、Ｖａ４、Ｖａ５、Ｖａ６を介して、接続回路ＭＵに接続されている。同様に、第２ドライバ端子Ｄｂも、同様にそれぞれのビデオ線Ｖｂを介して、接続回路ＭＵに接続されている。接続回路ＭＵは、第１ドライバ端子Ｄａ及び第２ドライバ端子Ｄｂの第２方向Ｙ２側に設けられており、第１周辺領域Ｂ１の内側周辺領域Ｂ１ａに位置している。従って、ビデオ線Ｖａ、Ｖｂは、第１ドライバ端子Ｄａ及び第２ドライバ端子Ｄｂ側の外側周辺領域Ｂ１ｂから、接続回路ＭＵ側の内側周辺領域Ｂ１ａまでにわたって設けられている。なお、図４の例では、第１ドライバ端子Ｄａ及び第２ドライバ端子Ｄｂが、互いに異なる接続回路ＭＵに接続されているが、それに限られず、第１ドライバ端子Ｄａ及び第２ドライバ端子Ｄｂが同じ接続回路ＭＵに接続されていてもよい。

接続回路ＭＵは、ビデオ線Ｖａ、Ｖｂと信号線Ｓとに接続されており、ビデオ線Ｖａ、Ｖｂと信号線Ｓとの接続を切り替える。さらに言えば、接続配線ＭＵは、複数の信号線Ｓのうち選択された少なくとも１つの信号線Ｓと、ビデオ線Ｖａとを接続し、複数の信号線Ｓのうち選択された少なくとも１つの信号線Ｓと、ビデオ線Ｖｂとを接続する。本実施形態では、接続回路ＭＵは、ビデオ線Ｖａ１、すなわち第１ドライバ端子Ｄａ１に対し、信号線Ｓ１を接続する。また、接続回路ＭＵは、ビデオ線Ｖａ２、すなわち第１ドライバ端子Ｄａ２に対し、信号線Ｓ２を接続する。同様に、接続回路ＭＵは、ビデオ線Ｖａ３（ドライバ端子Ｄａ３）と信号線Ｓ３とを接続し、ビデオ線Ｖａ４（ドライバ端子Ｄａ４）と信号線Ｓ４とを接続し、ビデオ線Ｖａ５（ドライバ端子Ｄａ５）と信号線Ｓ５とを接続し、ビデオ線Ｖａ６（ドライバ端子Ｄａ６）と信号線Ｓ６とを接続する。接続回路ＭＵは、ビデオ線Ｖｂ、すなわち第２ドライバ端子Ｄｂのそれぞれについても、同様に信号線Ｓを接続する。なお、図４の例では、説明の便宜上、ビデオ線Ｖとして１２本が示されているが、ビデオ線Ｖの数は１２本に限られない。

このように、表示装置１は、第１ドライバ端子Ｄａ及び第２ドライバ端子Ｄｂが、ビデオ線Ｖａ、Ｖｂ及び接続回路ＭＵを介して、信号線Ｓに接続されている。本実施形態では、第１ドライバ端子Ｄａが、信号線Ｓ１から信号線Ｓ_ｍまでのいずれかに接続され、第２ドライバ端子Ｄｂが、信号線Ｓ_ｍ＋１から信号線Ｓ_ｎまでのいずれかに接続される。従って、第１ドライバ端子ＤａがドライバＩＣ１１０ａに接続された状態でドライバＩＣ１１０ａから信号が出力されると、ドライバＩＣ１１０ａからの信号は、第１ドライバ端子Ｄａ、ビデオ線Ｖａ、及び接続回路ＭＵを介して、映像信号として、信号線Ｓ（信号線Ｓ１から信号線Ｓ_ｍのいずれか）に出力される。同様に、第２ドライバ端子ＤｂがドライバＩＣ１１０ｂに接続された状態でドライバＩＣ１１０ｂから信号が出力されると、ドライバＩＣ１１０ｂからの信号は、第２ドライバ端子Ｄｂ、ビデオ線Ｖｂ、及び接続回路ＭＵを介して、映像信号として、信号線Ｓ（信号線Ｓ_ｍ＋１から信号線Ｓ_ｎのいずれか）に出力される。

また、表示装置１は、第１基板ＳＵＢ１内に、第１検査回路Ｃ１ａ、第２検査回路Ｃ１ｂ、第１接続回路Ｃ２ａ、及び第２接続回路Ｃ２ｂを有する。第１検査回路Ｃ１ａは、複数の第１検査スイッチＳＷ_Ａを有し、第２検査回路Ｃ１ｂは、複数の第２検査スイッチＳＷ_Ｂを有する。第１接続回路Ｃ２ａは、複数の第１接続スイッチＳＷ_Ｃを有し、第２接続回路Ｃ２ｂは、複数の第２接続スイッチＳＷ_Ｄを有する。第１検査スイッチＳＷ_Ａ、第２検査スイッチＳＷ_Ｂ、第１接続スイッチＳＷ_Ｃ、及び第２接続スイッチＳＷ_Ｄは、スイッチング素子、ここではトランジスタである。また、表示装置１は、検査端子Ｔとして、第１スイッチ端子ＴａＡ、ＴａＢと、第２スイッチ端子ＴｂＡ、ＴｂＢと、第１検査端子Ｔａ０と、第２検査端子Ｔｂ０と、を有する。第１スイッチ端子ＴａＡ、ＴａＢは、第１検査スイッチＳＷ_Ａ及び第１接続スイッチＳＷ_Ｃにゲート信号を出力するための端子であり、第２スイッチ端子ＴｂＡ、ＴｂＢとは、第２検査スイッチＳＷ_Ｂ及び第２接続スイッチＳＷ_Ｄにゲート信号を出力するための端子である。第１検査端子Ｔａ０と第２検査端子Ｔｂ０とは、信号線Ｓに検査用の電流を出力するための端子である。第１検査端子Ｔａ０は、本実施形態では、第１検査端子Ｔａ１から第１検査端子Ｔａ１２の、計１２個設けられているが、複数個であれば１２個に限られず任意の個数でよい。同様に、第２検査端子Ｔｂ０は、本実施形態では、第２検査端子Ｔｂ１から第２検査端子Ｔｂ１２の、計１２個設けられているが、複数個であれば１２個に限られず任意の個数でよい。ただし、第１検査端子Ｔａ０と第２検査端子Ｔｂ０は、同数であることが好ましい。

第１検査端子Ｔａ０、第１スイッチ端子ＴａＡ、ＴａＢ、第１検査スイッチＳＷ_Ａ、及び第１接続スイッチＳＷ_Ｃは、第１ドライバ端子Ｄａに接続される信号線Ｓ（信号線Ｓ１から信号線Ｓ_ｍ）に対応して設けられており、第１ドライバ端子Ｄａに接続される信号線Ｓを検査する第１検査ユニットであるということもできる。以下、第１検査ユニットのそれぞれの構成について説明する。

複数の検査端子としての第１検査端子Ｔａ０は、一部の第１検査端子Ｔａ０が第１領域Ｒ１に設けられ、他の第１検査端子Ｔａ０が第３領域Ｒ３に設けられる。図４の例では、第１検査端子Ｔａ１、Ｔａ２、Ｔａ３、Ｔａ４、Ｔａ５、Ｔａ６が、第１領域Ｒ１に設けられ、第１検査端子Ｔａ７、Ｔａ８、Ｔａ９、Ｔａ１０、Ｔａ１１、Ｔａ１２が、第３領域Ｒ３に設けられる。第１検査端子Ｔａ０は、それぞれ、配線である接続線Ｌａ０に接続されている。接続線Ｌａ０は、第１検査端子Ｔａ０に接続されている外側周辺領域Ｂ１ｂ内の箇所から、内側周辺領域Ｂ１ａまで延在し、内側周辺領域Ｂ１ａ内を、第３方向Ｘ１に延在している。さらに言えば、それぞれの接続線Ｌａ０は、第１領域Ｒ１に設けられる第１検査端子Ｔａ０と、第３領域Ｒ３に設けられる第１検査端子Ｔａ０との、両方に接続されている。すなわち、図４の例では、第１検査端子Ｔａ１と第１検査端子Ｔａ７とが、接続線Ｌａ１に接続され、第１検査端子Ｔａ２と第１検査端子Ｔａ８とが、接続線Ｌａ２に接続され、第１検査端子Ｔａ３と第１検査端子Ｔａ９とが、接続線Ｌａ３に接続され、第１検査端子Ｔａ４と第１検査端子Ｔａ１０とが、接続線Ｌａ４に接続され、第１検査端子Ｔａ５と第１検査端子Ｔａ１１とが、接続線Ｌａ５に接続され、第１検査端子Ｔａ６と第１検査端子Ｔａ１２とが、接続線Ｌａ６に接続される。

第１検査スイッチＳＷ_Ａは、複数設けられる。第１検査スイッチＳＷ_Ａは、第１周辺領域Ｂ１内に設けられ、第１周辺領域Ｂ１内において、第１ドライバ端子Ｄａよりも表示領域Ａ側（第１ドライバ端子Ｄａの第２方向Ｙ２側）に設けられる。本実施形態では、第１検査スイッチＳＷ_Ａは、内側周辺領域Ｂ１ａに設けられる。さらに言えば、第１検査スイッチＳＷ_Ａは、第１基板ＳＵＢ１と第２基板ＳＵＢ２とが重畳する内側周辺領域Ｂ１ａにおいて、方向Ｚから見てカラーフィルタ層ＣＦに重畳する位置に設けられていてもよい。さらに言えば、複数の第１検査スイッチＳＷ_Ａは、方向Ｘにおいて、第１領域Ｒ１と第３領域Ｒ３との間に設けられていてもよい。

第１検査スイッチＳＷ_Ａは、接続線Ｌａ０及びビデオ線Ｖａに接続されている。すなわち、第１検査スイッチＳＷ_Ａは、接続線Ｌａ０を介して第１検査端子Ｔａ０に接続されている。また、第１検査スイッチＳＷ_Ａは、ビデオ線Ｖａを介して、第１ドライバ端子Ｄａに接続される信号線Ｓ（信号線Ｓ１から信号線Ｓ_ｍのいずれか）に接続されており、ビデオ線Ｖａを介して第１ドライバ端子Ｄａに接続されているともいえる。具体的には、第１検査スイッチＳＷ_Ａは、ドレイン電極Ｄｒが、接続線Ｌａ０を介して第１検査端子Ｔａ０に接続されている。また、第１検査スイッチＳＷ_Ａは、ソース電極Ｓｏが、ビデオ線Ｖａを介して、第１ドライバ端子Ｄａに接続される信号線Ｓ（信号線Ｓ１から信号線Ｓ_ｍのいずれか）及び第１ドライバ端子Ｄａに接続されている。

第１検査スイッチＳＷ_Ａは、複数設けられており、図４の例では、第１検査スイッチＳＷ_Ａ１、ＳＷ_Ａ２、ＳＷ_Ａ３、ＳＷ_Ａ４、ＳＷ_Ａ５、ＳＷ_Ａ６が設けられている。第１検査スイッチＳＷ_Ａ１は、ドレイン電極Ｄｒが接続線Ｌａ５に接続され、ソース電極Ｓｏがビデオ線Ｖａ１に接続されている。第１検査スイッチＳＷ_Ａ２は、ドレイン電極Ｄｒが接続線Ｌａ３に接続され、ソース電極Ｓｏがビデオ線Ｖａ１に接続されている。第１検査スイッチＳＷ_Ａ３は、ドレイン電極Ｄｒが接続線Ｌａ１に接続され、ソース電極Ｓｏがビデオ線Ｖａ１に接続されている。第１検査スイッチＳＷ_Ａ４は、ドレイン電極Ｄｒが接続線Ｌａ６に接続され、ソース電極Ｓｏがビデオ線Ｖａ２に接続されている。第１検査スイッチＳＷ_Ａ５は、ドレイン電極Ｄｒが接続線Ｌａ４に接続され、ソース電極Ｓｏがビデオ線Ｖａ１に接続されている。第１検査スイッチＳＷ_Ａ６は、ドレイン電極Ｄｒが接続線Ｌａ２に接続され、ソース電極Ｓｏがビデオ線Ｖａ２に接続されている。すなわち、第１検査スイッチＳＷ_Ａは、ドレイン電極Ｄｒが接続線Ｌａ１、Ｌａ２、Ｌａ３、Ｌａ４、Ｌａ５、Ｌａ６のうちいずれかに接続され、ソース電極Ｓｏがビデオ線Ｖａ１、Ｖａ２のいずれかに接続されている。なお、第１検査スイッチＳＷ_Ａの数は任意であるが、第１ドライバ端子Ｄａに接続される信号線Ｓと同じ数（ここでは信号線Ｓ１から信号線Ｓ_ｍまでの総数）だけあることが好ましい。

なお、接続線Ｌａ０には、第１領域Ｒ１の第１検査端子Ｔａ０と第３領域Ｒ３の第１検査端子Ｔａ０とが接続されている。従って、第１検査スイッチＳＷ_Ａは、接続線Ｌａ０を介して、第１領域Ｒ１の第１検査端子Ｔａ０と、第３領域Ｒ３の第１検査端子Ｔａ０とに接続されているといえる。さらに、第１検査スイッチＳＷ_Ａの接続線Ｌａ０との接続箇所は、第１領域Ｒ１に設けられる第１検査端子Ｔａ０の接続線Ｌａ０との接続箇所と、第３領域Ｒ３に設けられる第１検査端子Ｔａ０の接続線Ｌａ０との接続箇所との、間にある。すなわち、第１検査スイッチＳＷ_Ａの接続線Ｌａ０との接続箇所は、第１領域Ｒ１に設けられる第１検査端子Ｔａ０の接続線Ｌａ０との接続箇所よりも第３方向Ｘ１側であって、第３領域Ｒ３に設けられる第１検査端子Ｔａ０の接続線Ｌａ０との接続箇所よりも、第４方向Ｘ２側に位置している。

第１スイッチ端子ＴａＡは、接続線ＬａＡに接続されている。接続線ＬａＡは、第１スイッチ端子ＴａＡに接続されている外側周辺領域Ｂ１ｂ内の箇所から、内側周辺領域Ｂ１ａまで延在し、内側周辺領域Ｂ１ａ内を、第３方向Ｘ１に延在している。接続線ＬａＡは、内側周辺領域Ｂ１ａ内において、第１検査スイッチＳＷ_Ａに接続されている。より詳しくは、接続線ＬａＡは、第１検査スイッチＳＷ_Ａのゲート電極Ｇａに接続されている。すなわち、第１検査スイッチＳＷ_Ａは、ゲート電極Ｇａが、接続線ＬａＡを介して第１スイッチ端子ＴａＡに接続されている。接続線ＬａＡは、複数の第１検査スイッチＳＷ_Ａのゲート電極Ｇａのそれぞれに、図４では第１検査スイッチＳＷ_Ａ１、ＳＷ_Ａ２、ＳＷ_Ａ３、ＳＷ_Ａ４、ＳＷ_Ａ５、ＳＷ_Ａ６のゲート電極Ｇａのそれぞれに、接続されている。すなわち、一本の接続線ＬａＡが、複数の第１検査スイッチＳＷ_Ａのそれぞれに接続されている。

このように、第１検査スイッチＳＷ_Ａは、ドレイン電極Ｄｒが接続線Ｌａ０を介して第１検査端子Ｔａ０に接続され、ソース電極Ｓｏがビデオ線Ｖａを介して第１ドライバ端子Ｄａに接続される信号線Ｓ（信号線Ｓ１から信号線Ｓ_ｍのいずれか）に接続され、ゲート電極Ｇａが接続線ＬａＡを介して第１スイッチ端子ＴａＡに接続されている。従って、第１検査スイッチＳＷ_Ａは、第１スイッチ端子ＴａＡを介してゲート電極Ｇａに電流（ゲート信号）が入力されると、接続線Ｌａ０とビデオ線Ｖａとを、すなわち第１検査端子Ｔａ０と第１ドライバ端子Ｄａに接続される信号線Ｓ（信号線Ｓ１から信号線Ｓ_ｍのいずれか）とを、電気的に接続する。一方、第１検査スイッチＳＷ_Ａは、ゲート電極Ｇａに電流（ゲート信号）が入力されていない状態では、接続線Ｌａ０とビデオ線Ｖａとを、すなわち第１検査端子Ｔａ０と第１ドライバ端子Ｄａに接続される信号線Ｓとを、電気的に遮断（非接続に）する。このように、第１検査スイッチＳＷ_Ａは、第１検査端子Ｔａ０と信号線Ｓとの接続及び遮断を切り替え可能に構成される。さらに言えば、第１検査スイッチＳＷ_Ａは、第１スイッチ端子ＴａＡからのゲート信号により、第１検査端子Ｔａ０と信号線Ｓとの接続及び遮断を切り替える。

接続スイッチとしての第１接続スイッチＳＷ_Ｃは、第２周辺領域Ｂ２に設けられている。すなわち、第１接続スイッチＳＷ_Ｃは、第１周辺領域Ｂ１に設けられる第１検査スイッチＳＷ_Ａ、及び、表示領域Ａ内に設けられる信号線Ｓよりも、第２方向Ｙ２側に設けられている。第１接続スイッチＳＷ_Ｃは、第１ドライバ端子Ｄａに接続される複数の信号線Ｓに接続されており、本実施形態では、第１ドライバ端子Ｄａに接続される２つの信号線Ｓ（信号線Ｓ１から信号線Ｓ_ｍのうちの２つ）に接続されている。具体的には、第１接続スイッチＳＷ_Ｃは、ドレイン電極Ｄｒが、第１ドライバ端子Ｄａに接続される２つの信号線Ｓのうちの一方の信号線Ｓに接続され、ソース電極Ｓｏが、第１ドライバ端子Ｄａに接続される２つの信号線Ｓのうちの他方の信号線Ｓに接続されている。なお、第１接続スイッチＳＷ_Ｃは、それぞれの信号線Ｓの、第２方向Ｙ２側の端部に接続されることが好ましい。

第１接続スイッチＳＷ_Ｃは、複数設けられており、図４の例では、第１接続スイッチＳＷ_Ｃ１、ＳＷ_Ｃ２、ＳＷ_Ｃ３が設けられている。第１接続スイッチＳＷ_Ｃ１は、ドレイン電極Ｄｒが信号線Ｓ１に接続され、ソース電極Ｓｏが信号線Ｓ２に接続されている。第１接続スイッチＳＷ_Ｃ２は、ドレイン電極Ｄｒが信号線Ｓ３に接続され、ソース電極Ｓｏが信号線Ｓ４に接続されている。第１接続スイッチＳＷ_Ｃ３は、ドレイン電極Ｄｒが信号線Ｓ５に接続され、ソース電極Ｓｏが信号線Ｓ６に接続されている。なお、第１接続スイッチＳＷ_Ｃ１、ＳＷ_Ｃ２、ＳＷ_Ｃ３は、ソース電極Ｓｏとドレイン電極Ｄｒとが逆に設けられていてもよい。なお、第１接続スイッチＳＷ_Ｃの数は任意であるが、第１ドライバ端子Ｄａに接続される信号線Ｓの数の半分の数だけあることが好ましい。

第１スイッチ端子ＴａＢは、接続線ＬａＢに接続されている。接続線ＬａＢは、第１スイッチ端子ＴａＢに接続されている外側周辺領域Ｂ１ｂ内の箇所から、内側周辺領域Ｂ１ａ、第４周辺領域Ｂ４（又は第３周辺領域Ｂ３）を経て、第２周辺領域Ｂ２まで延在し、第２周辺領域Ｂ２内を、第３方向Ｘ１に延在している。接続線ＬａＢは、第２周辺領域Ｂ２内において、第１接続スイッチＳＷ_Ｃに接続されている。より詳しくは、接続線ＬａＢは、第１接続スイッチＳＷ_Ｃのゲート電極Ｇａに接続されている。すなわち、第１接続スイッチＳＷ_Ｃは、ゲート電極Ｇａが、接続線ＬａＢを介して第１スイッチ端子ＴａＢに接続されている。接続線ＬａＢは、複数の第１接続スイッチＳＷ_Ｃのゲート電極Ｇａのそれぞれに、図４では第１接続スイッチＳＷ_Ｃ１、ＳＷ_Ｃ２、ＳＷ_Ｃ３のゲート電極Ｇａのそれぞれに、接続されている。すなわち、一本の接続線ＬａＢが、複数の第１接続スイッチＳＷ_Ｃのそれぞれに接続されている。

このように、第１接続スイッチＳＷ_Ｃは、ドレイン電極Ｄｒが第１ドライバ端子Ｄａに接続される２つの信号線Ｓのうちの一方に接続され、ソース電極Ｓｏが第１ドライバ端子Ｄａに接続される２つの信号線Ｓのうちの他方に接続され、ゲート電極Ｇａが接続線ＬａＢを介して第１スイッチ端子ＴａＢに接続されている。従って、第１接続スイッチＳＷ_Ｃは、第１スイッチ端子ＴａＢを介してゲート電極Ｇａに電流（ゲート信号）が入力されると、第１ドライバ端子Ｄａに接続される２つの信号線Ｓ同士を、電気的に接続する。一方、第１接続スイッチＳＷ_Ｃは、ゲート電極Ｇａに電流（ゲート信号）が入力されていない状態では、第１ドライバ端子Ｄａに接続される２つの信号線Ｓ同士を、電気的に遮断（非接続に）する。このように、第１接続スイッチＳＷ_Ｃは、第１スイッチ端子ＴａＢ及び信号線Ｓに接続され、第１スイッチ端子ＴａＢからのゲート信号により、複数の信号線Ｓ同士の接続と遮断とを切り替え可能に構成される。

第１検査端子Ｔａ０、第１スイッチ端子ＴａＡ、ＴａＢ、第１検査スイッチＳＷ_Ａ、及び第１接続スイッチＳＷ_Ｃは、第１検査ユニットとして、以上のように構成される。一方、第２検査端子Ｔｂ０、第２スイッチ端子ＴｂＡ、ＴｂＢ、第２検査スイッチＳＷ_Ｂ、及び第２接続スイッチＳＷ_Ｄは、第２ドライバ端子Ｄｂに接続される信号線Ｓ（信号線Ｓ_ｍ＋１から信号線Ｓ_ｎ）に対応して設けられており、第２ドライバ端子Ｄｂに接続される信号線Ｓを検査する第２検査ユニットであるといえる。第２検査ユニットの構成は、第１検査ユニットと同様であるが、詳細を以下で説明する。

複数の検査端子としての第２検査端子Ｔｂ０は、一部の第２検査端子Ｔｂ０が第２領域Ｒ２に設けられ、他の第２検査端子Ｔｂ０が第３領域Ｒ３に設けられる。図４の例では、第２検査端子Ｔｂ１、Ｔｂ２、Ｔｂ３、Ｔｂ４、Ｔｂ５、Ｔｂ６が、第２領域Ｒ２に設けられ、第２検査端子Ｔｂ７、Ｔｂ８、Ｔｂ９、Ｔｂ１０、Ｔｂ１１、Ｔｂ１２が、第３領域Ｒ３に設けられる。第２検査端子Ｔｂ０は、それぞれ、配線である接続線Ｌｂ０に接続されている。接続線Ｌｂ０は、第２検査端子Ｔｂ０に接続されている外側周辺領域Ｂ１ｂ内の箇所から、内側周辺領域Ｂ１ａまで延在し、内側周辺領域Ｂ１ａ内を、第４方向Ｘ２に延在している。さらに言えば、それぞれの接続線Ｌｂ０は、第２領域Ｒ２に設けられる第２検査端子Ｔｂ０と、第３領域Ｒ３に設けられる第２検査端子Ｔｂ０との、両方に接続されている。すなわち、図４の例では、第２検査端子Ｔｂ１と第２検査端子Ｔｂ７とが、接続線Ｌｂ１に接続され、第２検査端子Ｔｂ２と第２検査端子Ｔｂ８とが、接続線Ｌｂ２に接続され、第２検査端子Ｔｂ３と第２検査端子Ｔｂ９とが、接続線Ｌｂ３に接続され、第２検査端子Ｔｂ４と第２検査端子Ｔｂ１０とが、接続線Ｌｂ４に接続され、第２検査端子Ｔｂ５と第２検査端子Ｔｂ１１とが、接続線Ｌｂ５に接続され、第２検査端子Ｔｂ６と第２検査端子Ｔｂ１２とが、接続線Ｌｂ６に接続される。

このように、第１領域Ｒ１においては、第２検査端子Ｔｂ０が設けられず第１検査端子Ｔａ０が設けられ、第２領域Ｒ２においては、第１検査端子Ｔａ０が設けられず第２検査端子Ｔｂ０が設けられ、第３領域Ｒ３においては、第１検査端子Ｔａ０と第２検査端子Ｔｂ０との両方が設けられる。言い換えれば、第１領域Ｒ１に設けられる検査端子（第１検査端子Ｔａ０）は、第１検査スイッチＳＷ_Ａに接続され、第２領域Ｒ２に設けられる検査端子（第２検査端子Ｔｂ０）は、第２検査スイッチＳＷ_Ｂに接続される。また、第３領域Ｒ３においては、第１検査スイッチＳＷ_Ａに接続される第１検査端子Ｔａ０と、第２検査スイッチＳＷ_Ｂに接続される第２検査端子Ｔｂ０とが含まれる。なお、第３領域Ｒ３においては、第１検査端子Ｔａ０が、第２検査端子Ｔｂ０より第１領域Ｒ１側（第４方向Ｘ２側）に設けられることが好ましい。

また、本実施形態においては、第３領域Ｒ３に設けられる第１検査端子Ｔａ０のうちの１つと、第３領域Ｒ３に設けられる第２検査端子Ｔｂ０のうちの１つとが接続されている。すなわち、第３領域Ｒ３の第１検査端子Ｔａ０のうちの１つに接続されている接続線Ｌａ０と、第３領域Ｒ３の第２検査端子Ｔｂ０のうちの１つに接続されている接続線Ｌｂ０とが、接続されている。図４では、第１検査端子Ｔａ７に接続されている接続線Ｌａ１と、第２検査端子Ｔｂ７に接続されている接続線Ｌｂ１とが、接続されている。同様に、接続線Ｌａ２と接続線Ｌｂ２とが接続され、接続線Ｌａ３と接続線Ｌｂ３とが接続され、接続線Ｌａ４と接続線Ｌｂ４とが接続され、接続線Ｌａ５と接続線Ｌｂ５とが接続され、接続線Ｌａ６と接続線Ｌｂ６とが接続される。すなわち、図４では、全ての接続線Ｌａ０と接続線Ｌｂ０とが、言い換えれば第３領域Ｒ３に設けられる全ての第１検査端子Ｔａ０と第２検査端子Ｔｂ０とが、一対ずつ接続されている。ただし、第３領域Ｒ３に設けられる第１検査端子Ｔａ０と、第３領域Ｒ３に設けられる第２検査端子Ｔｂ０とは、すなわち接続線Ｌａ０と接続線Ｌｂ０とは、接続されていなくてもよい。

第２検査スイッチＳＷ_Ｂは、複数設けられる。第２検査スイッチＳＷ_Ｂは、第１周辺領域Ｂ１内に設けられ、第１周辺領域Ｂ１内において、第２ドライバ端子Ｄｂよりも表示領域Ａ側（第２ドライバ端子Ｄｂの第２方向Ｙ２側）に設けられる。本実施形態では、第２検査スイッチＳＷ_Ｂは、内側周辺領域Ｂ１ａに設けられる。さらに言えば、第２検査スイッチＳＷ_Ｂは、第１基板ＳＵＢ１と第２基板ＳＵＢ２とが重畳する内側周辺領域Ｂ１ａにおいて、方向Ｚから見てカラーフィルタ層ＣＦに重畳する位置に設けられていてもよい。さらに言えば、複数の第２検査スイッチＳＷ_Ｂは、方向Ｘにおいて、第２領域Ｒ２と第３領域Ｒ３との間に設けられていてもよい。

第２検査スイッチＳＷ_Ｂは、接続線Ｌｂ０及びビデオ線Ｖｂに接続されている。すなわち、第２検査スイッチＳＷ_Ｂは、接続線Ｌｂ０を介して第２検査端子Ｔｂ０に接続されている。また、第２検査スイッチＳＷ_Ｂは、ビデオ線Ｖｂを介して、第２検査スイッチＳＷ_Ｂに接続される信号線Ｓ（信号線Ｓ_ｍ＋１から信号線Ｓ_ｎのいずれか）に接続されており、ビデオ線Ｖｂを介して第２ドライバ端子Ｄｂに接続されているともいえる。具体的には、第２検査スイッチＳＷ_Ｂは、ドレイン電極Ｄｒが、接続線Ｌｂ０を介して第２検査端子Ｔｂ０に接続されている。また、第２検査スイッチＳＷ_Ｂは、ソース電極Ｓｏが、ビデオ線Ｖｂを介して、第２ドライバ端子Ｄｂに接続される信号線Ｓ（信号線Ｓ_ｍ＋１から信号線Ｓ_ｎのいずれか）及び第２ドライバ端子Ｄｂに接続されている。なお、第２検査スイッチＳＷ_Ｂの数は任意であるが、第２ドライバ端子Ｄｂに接続される信号線Ｓと同じ数だけあることが好ましい。

なお、接続線Ｌｂ０には、第２領域Ｒ２の第２検査端子Ｔｂ０と第３領域Ｒ３の第２検査端子Ｔｂ０とが接続されている。従って、第２検査スイッチＳＷ_Ｂは、接続線Ｌｂ０を介して、第２領域Ｒ２の第２検査端子Ｔｂ０と、第３領域Ｒ３の第２検査端子Ｔｂ０とに接続されているといえる。さらに、それぞれの第２検査スイッチＳＷ_Ｂの接続線Ｌｂ０との接続箇所は、第２領域Ｒ２に設けられる第２検査端子Ｔｂ０の接続線Ｌｂ０との接続箇所と、第３領域Ｒ３に設けられる第２検査端子Ｔｂ０の接続線Ｌｂ０との接続箇所との、間にある。すなわち、第２検査スイッチＳＷ_Ｂの接続線Ｌｂ０との接続箇所は、第２領域Ｒ２に設けられる第２検査端子Ｔｂ０の接続線Ｌｂ０との接続箇所よりも第４方向Ｘ２側であって、第３領域Ｒ３に設けられる第２検査端子Ｔｂ０の接続線Ｌｂ０との接続箇所よりも、第３方向Ｘ１側に位置している。

第２スイッチ端子ＴｂＡは、接続線ＬｂＡに接続されている。接続線ＬｂＡは、第２スイッチ端子ＴｂＡに接続されている外側周辺領域Ｂ１ｂ内の箇所から、内側周辺領域Ｂ１ａまで延在し、内側周辺領域Ｂ１ａ内を、第４方向Ｘ２に延在している。接続線ＬｂＡは、内側周辺領域Ｂ１ａ内において、第２検査スイッチＳＷ_Ｂに接続されている。より詳しくは、接続線ＬｂＡは、第２検査スイッチＳＷ_Ｂのゲート電極Ｇａに接続されている。すなわち、第２検査スイッチＳＷ_Ｂは、ゲート電極Ｇａが、接続線ＬｂＡを介して第２スイッチ端子ＴｂＡに接続されている。接続線ＬａＡは、複数の第２検査スイッチＳＷ_Ｂのゲート電極Ｇａのそれぞれに接続されている。すなわち、一本の接続線ＬｂＡが、複数の第２検査スイッチＳＷ_Ｂのそれぞれに接続されている。なお、本実施形態では接続線ＬｂＡと接続線ＬａＡとが接続されていないが、接続されていてもよい。この場合、第１スイッチ端子ＴａＡと第２スイッチ端子ＴｂＡとのうち一方のみが設けられていてもよい。

第２検査スイッチＳＷ_Ｂは、第２スイッチ端子ＴｂＡを介してゲート電極Ｇａに電流（ゲート信号）が入力されると、接続線Ｌｂ０とビデオ線Ｖｂとを、すなわち第２検査端子Ｔｂ０と第２ドライバ端子Ｄｂに接続される信号線Ｓ（信号線Ｓｍ_＋１から信号線Ｓ_ｎのいずれか）とを、電気的に接続する。一方、第２検査スイッチＳＷ_Ｂは、ゲート電極Ｇａに電流（ゲート信号）が入力されていない状態では、接続線Ｌｂ０とビデオ線Ｖｂとを、すなわち第２検査端子Ｔｂ０と第２ドライバ端子Ｄｂに接続される信号線Ｓとを、電気的に遮断（非接続に）する。このように、第２検査スイッチＳＷ_Ｂは、第２検査端子Ｔｂ０と信号線Ｓとの接続及び遮断を切り替え可能に構成される。さらに言えば、第２検査スイッチＳＷ_Ｂは、第２スイッチ端子ＴｂＡからのゲート信号により、第２検査端子Ｔｂ０と信号線Ｓとの接続及び遮断を切り替える。

接続スイッチとしての第２接続スイッチＳＷ_Ｄは、第２周辺領域Ｂ２に複数設けられている。すなわち、第２接続スイッチＳＷ_Ｄは、第１周辺領域Ｂ１に設けられる第２検査スイッチＳＷ_Ｂ、及び、表示領域Ａ内に設けられる信号線Ｓよりも、第２方向Ｙ２側に設けられている。第２接続スイッチＳＷ_Ｄは、第２ドライバ端子Ｄｂに接続される複数の信号線Ｓに接続されており、本実施形態では、第２ドライバ端子Ｄｂに接続される２つの信号線Ｓ（信号線Ｓｍ_＋１から信号線Ｓ_ｎのうちの２つ）に接続されている。具体的には、第２接続スイッチＳＷ_Ｄは、ドレイン電極Ｄｒが、第２ドライバ端子Ｄｂに接続される２つの信号線Ｓのうちの一方の信号線Ｓに接続され、ソース電極Ｓｏが、第２ドライバ端子Ｄｂに接続される２つの信号線Ｓのうちの他方の信号線Ｓに接続されている。なお、第２接続スイッチＳＷ_Ｄは、それぞれの信号線Ｓの、第２方向Ｙ２側の端部に接続されることが好ましい。また、第２接続スイッチＳＷ_Ｄの数は任意であるが、第２ドライバ端子Ｄｂに接続される信号線Ｓの数の半分の数だけあることが好ましい。

第２スイッチ端子ＴｂＢは、接続線ＬｂＢに接続されている。接続線ＬｂＢは、第２スイッチ端子ＴｂＢに接続されている外側周辺領域Ｂ１ｂ内の箇所から、内側周辺領域Ｂ１ａ、第３周辺領域Ｂ３（又は第４周辺領域Ｂ４）を経て、第２周辺領域Ｂ２まで延在し、第２周辺領域Ｂ２内を、第４方向Ｘ２に延在している。接続線ＬｂＢは、第２周辺領域Ｂ２内において、第２接続スイッチＳＷ_Ｄに接続されている。より詳しくは、接続線ＬｂＢは、第２接続スイッチＳＷ_Ｄのゲート電極Ｇａに接続されている。すなわち、第２接続スイッチＳＷ_Ｄは、ゲート電極Ｇａが、接続線ＬｂＢを介して第２スイッチ端子ＴｂＢに接続されている。接続線ＬｂＢは、複数の第２接続スイッチＳＷ_Ｄのゲート電極Ｇａのそれぞれに接続されている。すなわち、一本の接続線ＬｂＢが、複数の第２接続スイッチＳＷ_Ｄのそれぞれに接続されている。なお、本実施形態では接続線ＬｂＢと接続線ＬａＢとが接続されていないが、接続されていてもよい。この場合、第１スイッチ端子ＴａＢと第２スイッチ端子ＴｂＢとのうち一方のみが設けられていてもよい。

第２接続スイッチＳＷ_Ｄは、第２スイッチ端子ＴｂＢを介してゲート電極Ｇａに電流（ゲート信号）が入力されると、第２ドライバ端子Ｄｂに接続される２つの信号線Ｓ同士を、電気的に接続する。一方、第２接続スイッチＳＷ_Ｄは、ゲート電極Ｇａに電流（ゲート信号）が入力されていない状態では、第２ドライバ端子Ｄｂに接続される２つの信号線Ｓ同士を、電気的に遮断（非接続に）する。このように、第２接続スイッチＳＷ_Ｄは、第２スイッチ端子ＴｂＢ及び信号線Ｓに接続され、第２スイッチ端子ＴｂＢからのゲート信号により、複数の信号線Ｓ同士の接続と遮断とを切り替え可能に構成される。

（検査方法）
表示装置１は、以上のような構成になっている。次に、表示装置１の配線の検査方法、すなわちエージング処理と点灯検査について説明する。図５は、エージング処理の一例を示す模式図である。エージング処理を行う場合、ドライバＩＣ１１０ａ、１１０ｂが第１ドライバ端子Ｄａ、第２ドライバ端子Ｄｂに接続されておらず、ドライバＩＣ１１０ａ、１１０ｂからの信号が第１ドライバ端子Ｄａ、第２ドライバ端子Ｄｂに入力されない。ただし、ドライバＩＣ１１０ａ、１１０ｂからの信号が第１ドライバ端子Ｄａ、第２ドライバ端子Ｄｂに入力されていなければ、ドライバＩＣ１１０ａ、１１０ｂが第１ドライバ端子Ｄａ、第２ドライバ端子Ｄｂに接続されていてもよい。

図５は、説明の便宜上、信号線Ｓ１、Ｓ２、Ｓ_ｎ－５、Ｓ_ｎ－４をエージング処理した場合の例を示している。図５に示すように、エージング処理を行う場合、検査端子Ｔに検査装置２００が接続される。検査装置２００は、制御部２０１と、検出部２０２と、処理部２０３と、駆動回路２０４とを含む。なお、検査装置２００は、あくまで一例であり、これらの機能の一部を有していなくてもよく、他の機能を有していてもよい。検査装置２００の機能の一部は、ドライバＩＣ１１０ａ、１１０ｂ（図１参照）が有していてもよい。

制御部２０１は、検出部２０２、処理部２０３、駆動回路２０４を制御して、表示装置１の検査を行う回路である。検出部２０２は、信号線Ｓから出力される信号（ここでは電流Ｉ１）を検出する回路である。検出部２０２は、例えば、電圧検出回路、電流検出回路等である。処理部２０３は、検出部２０２の検出信号に基づいて、信号線Ｓの短絡、断線等の判定を行う判定回路である。駆動回路２０４は、スイッチを駆動するゲート信号と、信号線Ｓに電流Ｉ１を流すための検査信号とを生成して、表示装置１に出力する。

以降では、信号線Ｓ１、Ｓ２にエージング処理を行う場合を説明する。検査装置２００は、駆動回路２０４から、第１スイッチ端子ＴａＡ及び第１スイッチ端子ＴａＢに、ゲート信号を出力する。ゲート信号は、所定の電位を有する電流であり、一定の固定電位であることが好ましい。検査装置２００は、所定の期間、すなわちエージング処理を行う期間、第１スイッチ端子ＴａＡ及び第１スイッチ端子ＴａＢにゲート信号を出力し続ける。第１スイッチ端子ＴａＡに出力されたゲート信号は、接続線ＬａＡを介して第１検査スイッチＳＷ_Ａのゲート電極Ｇａに入力される。第１検査スイッチＳＷ_Ａは、ゲート電極Ｇａにゲート信号が入力されることで、接続線Ｌａ０とビデオ線Ｖａとを、すなわち第１検査端子Ｔａ０と第１ドライバ端子Ｄａに接続される信号線Ｓとを、接続する。すなわち、図５の例では、第１検査スイッチＳＷ_Ａ３が、接続線Ｌａ１とビデオ線Ｖａ１とを接続し、第１検査スイッチＳＷ_Ａ６が、接続線Ｌａ２とビデオ線Ｖａ２とを接続する。一方、第１スイッチ端子ＴａＢに出力されたゲート信号は、接続線ＬａＢを介して第１接続スイッチＳＷ_Ｃのゲート電極Ｇａに入力される。第１接続スイッチＳＷ_Ｃは、ゲート電極Ｇａにゲート信号が入力されることで、第１ドライバ端子Ｄａに接続される信号線Ｓ同士を、図５の例では信号線Ｓ１と信号線Ｓ２とを、接続する。これにより、検査装置２００と、第１検査端子Ｔａ１と、接続線Ｌａ１と、第１検査スイッチＳＷ_Ａ３と、ビデオ線Ｖａ１と、信号線Ｓ１と、第１接続スイッチＳＷ_Ｃ１と、信号線Ｓ２と、ビデオ線Ｖａ２と、第１検査スイッチＳＷ_Ａ６と、接続線Ｌａ２と、第１検査端子Ｔａ２との間で、閉回路が形成される。

さらに、検査装置２００は、駆動回路２０４から、第１領域Ｒ１の第１検査端子Ｔａ０及び第３領域Ｒ３の第１検査端子Ｔａ０に、検査信号を出力する。検査信号は、所定の電位の電流である。検査装置２００は、対になる第１検査端子Ｔａ０に、異なる電位の検査信号を出力する。検査装置２００は、対になる第１検査端子Ｔａ０に、互いに逆極性の電位の検査信号を出力することが好ましい。対になる第１検査端子Ｔａ０とは、同じ第１接続スイッチＳＷ_Ｃが接続されている２つの信号線Ｓのそれぞれに接続される２つの第１検査端子Ｔａ０を指す。図５の例では、第１検査端子Ｔａ１及び第１検査端子Ｔａ２と、第１検査端子Ｔａ７及び第１検査端子Ｔａ８とが、対になる第１検査端子Ｔａ０である。図５の例では、検査装置２００は、第１検査端子Ｔａ１及び第１検査端子Ｔａ７にプラス極性の電位の検査信号を出力し、第１検査端子Ｔａ２及び第１検査端子Ｔａ８にマイナス極性の電位の検査信号を出力する。上述のように閉回路が形成されているため、対になる第１検査端子Ｔａ０における検査信号同士の電位差により、第１検査端子Ｔａ１及び第１検査端子Ｔａ７から、接続線Ｌａ１、第１検査スイッチＳＷ_Ａ３、ビデオ線Ｖａ１、信号線Ｓ１、第１接続スイッチＳＷ_Ｃ１、信号線Ｓ２、ビデオ線Ｖａ２、第１検査スイッチＳＷ_Ａ６、接続線Ｌａ２、第１検査端子Ｔａ２及び第１検査端子Ｔａ８、の流れで、電流Ｉ１が流れる。すなわち、検査装置２００は、第１領域Ｒ１の第１検査端子Ｔａ０及び第３領域Ｒ３の第１検査端子Ｔａ０の両方から、信号線Ｓに電流を供給する。検査装置２００は、第１検査端子Ｔａ同士との間の電位差を、例えば数十ボルトなど高く設定することで、高電圧の電流Ｉ１を流す。電流Ｉ１の電圧値は、少なくとも、ドライバＩＣ１１０からの映像信号の電圧よりも高く設定される。なお、検査装置２００は、所定時間経過毎に、第１検査端子Ｔａに出力する検査信号の極性を入れ替えてもよい。これにより、所定時間毎に流す電流Ｉ１の方向を逆にすることができる。

図５に示すエージング処理においては、このようにして信号線Ｓ１及び信号線Ｓ２に電流Ｉ１を流すことにより、例えば信号線Ｓの亜断線箇所、すなわち局所的に線幅が細くなっている箇所があった場合に、その箇所を断線させることができる。出荷前に破断させておいて破断を検出することで、出荷後の断線を抑制して、信頼性を向上させることができる。なお、エージング処理において信号線Ｓが断線した場合、電流が流れなくなるため、検出部２０２及び処理部２０３によって電流や電圧が流れていないことを検出して、信号線Ｓが断線したかを検出することが可能となる。また例えば、エージング処理後の点灯検査などで信号線Ｓに点灯検査信号を出力した場合に、断線した箇所は色表示されないため、後述の点灯検査でそれを検出することで、信号線Ｓが断線したかを検出することもできる。このように、図５に示すエージング処理を行うと、信号線Ｓに亜断線箇所があるかを検出することができる。なお、図５に示すエージング処理においては、ビデオ線Ｖａの、第１検査スイッチＳＷ_Ａから接続回路ＭＵまでの区間にも電流Ｉ１が流れる。従って、信号線Ｓに加え、ビデオ線Ｖａについても、亜断線箇所があるかを検出することができる。

検査装置２００は、同様の処理を全ての信号線Ｓに対して行うことで、全ての信号線Ｓについてエージング処理を行う。例えば、検査装置２００は、図５に示すように、第２検査端子Ｔｂ１及び第２検査端子Ｔｂ７から、接続線Ｌｂ１、第２検査スイッチＳＷ_{Ｃ（ｎ－５）}、ビデオ線Ｖｂ、信号線Ｓ_ｎ－５、第２接続スイッチＳＷ_Ｄｑ、信号線Ｓ_ｎ－４、ビデオ線Ｖｂ、第２検査スイッチＳＷ_{Ｂ（ｎ－４）}、接続線Ｌｂ、第２検査端子Ｔｂ２及び第２検査端子Ｔｂ８、の流れで、電流Ｉ１を流す。

次に、点灯検査について説明する。図６は、点灯検査の一例を示す模式図である。点灯検査は、エージング処理の後に行われることが好ましい。図６に示すように、点灯検査の際には、検査装置２００は、駆動回路２０４から、第１スイッチ端子ＴａＡにゲート信号を出力するが、第１スイッチ端子ＴａＢにはゲート信号を出力しない。従って、検査装置２００と、第１検査端子Ｔａ０と、接続線Ｌａ０と、第１検査スイッチＳＷ_Ａと、ビデオ線Ｖａと、信号線Ｓとが、電気的に接続され、信号線Ｓ同士は電気的に非接続となる。検査装置２００は、この状態で、駆動回路２０４から、第１領域Ｒ１の第１検査端子Ｔａ０及び第３領域Ｒ３の第１検査端子Ｔａ０に、点灯検査信号である電流Ｉ２を出力する。電流Ｉ２は、接続線Ｌａ０と、第１検査スイッチＳＷ_Ａと、ビデオ線Ｖａと、信号線Ｓとを通って、信号線Ｓに接続される画素ＰＸに出力される。画素ＰＸは、この電流Ｉ２により点灯する。なお、電流Ｉ２は、所定の電位を有する電流であり、一定の固定電位であることが好ましい。電流Ｉ２の電圧値（電流値）は、映像信号の電圧値（電流値）と同等であり、エージング処理の検査信号の電圧値（電流値）より低い。なお、図６では、エージング処理で用いたものと同じ検査装置２００を用いて点灯検査を行っているが、異なる検査装置を用いてもよい。

図６に示す点灯検査において、検査装置２００は、同様の処理を全ての信号線Ｓに対して行うことで、全ての信号線Ｓについて点灯検査信号である電流Ｉ２を出力する。例えば、検査装置２００は、図６に示すように、接続線Ｌｂ０と、第２検査スイッチＳＷ_Ｂと、ビデオ線ＶＢと、信号線Ｓとを通って、信号線Ｓに接続される画素ＰＸにも、電流Ｉ２を出力する。点灯検査においては、例えば画素ＰＸの点灯状態に基づいて、信号線Ｓが正常な状態であるか、すなわち断線していないかなどを、検査する。例えば、全ての画素ＰＸに対して同電位の点灯検査信号を出力した場合、画面全体が同じ色になるが、同じ色にならない箇所があった場合、その箇所の信号線Ｓに異常があると判断する。

ここで、検査スイッチが複数ある場合、検査端子から遠い側の検査スイッチほど電流の流れる経路が長くなり、抵抗が積算されて大きくなる。そのため、検査端子から遠い側の検査スイッチほど、すなわち検査端子から遠い信号線Ｓほど、流れる電流が低くなって、信号線Ｓ毎に流れる電流が不均衡になるおそれがある。さらに、第１検査スイッチＳＷ_Ａと第２検査スイッチＳＷ_Ｂとは、電流が流れる経路が異なるため、第１検査スイッチＳＷ_Ａと第２検査スイッチＳＷ_Ｂとを有する場合、すなわち複数のドライバＩＣ１１０を搭載する場合、信号線Ｓ毎の電流の偏りがさらに顕著になるおそれがある。このように信号線Ｓ毎に電流が偏った場合、エージング処理においては、例えば、亜断線している信号線Ｓを適切に断線できないおそれが生じる。また、点灯検査においては、例えば、実際には信号線Ｓが正常である場合でも、画素ＰＸへの電流値が異なることで画素ＰＸの色が変わってしまい、信号線Ｓに異常があると誤検出してしまうおそれもある。このように、信号線Ｓ毎に検査時の電流が不均衡になると、検査精度が低下する。それに対し、本実施形態に係る表示装置１は、第１検査スイッチＳＷ_Ａの両側に、すなわち第１領域Ｒ１と第３領域Ｒ３とに、第１検査端子Ｔａ０を設け、第２検査スイッチＳＷ_Ｂの両側に、すなわち第２領域Ｒ２と第３領域Ｒ３とに、第２検査端子Ｔｂ０を設けている。従って、第１検査スイッチＳＷ_Ａに対しては、第１領域Ｒ１と第３領域Ｒ３との両側から電流供給が可能となり、第２検査スイッチＳＷ_Ｂに対しては、第２領域Ｒ２と第３領域Ｒ３との両側から電流供給が可能となる。そのため、第１検査スイッチＳＷ_Ａと第２検査スイッチＳＷ_Ｂとに接続される信号線Ｓに対し、両側からの給電が可能となるため、電流値の低下が抑制され、さらに信号線Ｓ毎の電流の偏りを抑制することができる。従って、この表示装置１によると、検査精度の低下が抑制され、信頼性の低下を抑制することができる。

なお、本実施形態では、第３領域に、第１検査スイッチＳＷ_Ａに接続される第１検査端子Ｔａ０と、第２検査スイッチＳＷ_Ｂに接続される第２検査端子Ｔｂ０とが含まれていた。ただし、第３領域には、第１検査端子Ｔａ０と第２検査端子Ｔｂ０との両方を含まなくてもよい。すなわち、第３領域において第２検査端子Ｔｂ０を設けなくてもよく、この場合、第３領域の第１検査端子Ｔａ０が、接続線Ｌａ０を介して第１検査スイッチＳＷ_Ａに接続されつつ、接続線Ｌｂ０を介して第２検査スイッチＳＷ_Ｂにも接続される。このように、第３領域に設けられる検査端子は、第１検査スイッチＳＷ_Ａ及び第２検査スイッチＳＷ_Ｂの少なくとも一方に接続されればよい。

以上説明したように、本実施形態に係る表示装置１は、第１基板ＳＵＢ１と、信号線Ｓ（配線）と、第１ドライバ端子Ｄａと、第２ドライバ端子Ｄｂと、第１周辺領域Ｂ１に設けられる複数の検査端子（第１検査端子Ｔａ０及び第２検査端子Ｔｂ０）と、第１検査スイッチＳＷ_Ａと、第２検査スイッチＳＷ_Ｂとを備える。第１基板ＳＵＢ１は、複数の画素ＰＸが設けられる表示領域Ａ、及び表示領域Ａよりも外側の周辺領域Ｂを有する。信号線Ｓは、表示領域Ａに設けられて、画素ＰＣに接続されて画素ＰＸに映像信号を供給する。第１ドライバ端子Ｄａは、表示領域Ａの第３方向Ｘ１側の第１周辺領域Ｂ１に設けられ、信号線Ｓに接続されてドライバＩＣ１１０ａ（第１ドライバＩＣ）が接続可能な端子である。第２ドライバ端子Ｄｂは、第１周辺領域Ｂ１において第１方向Ｙ１に交差する方向（ここでは方向Ｘ）と並ぶ位置に設けられ、信号線Ｓに接続されてドライバＩＣ１１０ｂ（第２ドライバＩＣ）が接続可能な端子である。第１検査スイッチＳＷ_Ａは、第１ドライバ端子Ｄａに接続され、検査端子と信号線Ｓとの接続及び遮断を切り替え可能に構成される。第２検査スイッチＳＷ_Ｂは、第２ドライバ端子Ｄｂに接続され、検査端子と信号線Ｓとの接続及び遮断を切り替え可能に構成される。検査端子は、第１ドライバ端子Ｄａの第２ドライバ端子Ｄｂ側とは反対側の第１領域Ｒ１と、第２ドライバ端子Ｄｂの第１ドライバ端子Ｄａ側とは反対側の第２領域Ｒ２と、第１ドライバ端子Ｄａと第２ドライバ端子Ｄｂとの間の第３領域Ｒ３と、に設けられる。

本実施形態に係る表示装置１は、第１領域Ｒ１と第２領域Ｒ２と第３領域Ｒ３とに、検査端子が設けられている。従って、信号線Ｓの検査時に、これらの検査端子からの両側給電が可能となり、信号線Ｓの電流値の不均衡を抑制することで、検査精度の低下が抑制され、信頼性の低下を抑制することができる。

また、第１領域Ｒ１に設けられる検査端子（第１検査端子Ｔａ０）は、第１検査スイッチＳＷ_Ａに接続され、第２領域Ｒ２に設けられる検査端子（第２検査端子Ｔｂ０）は、第２検査スイッチＳＷ_Ｂに接続され、第３領域に配置される検査端子は、第１検査スイッチＳＷ_Ａ及び第２検査スイッチＳＷ_Ｂの少なくとも一方に接続される。この表示装置１は、第１検査スイッチＳＷ_Ａの両側である第１領域Ｒ１と第３領域Ｒ３とに第１検査端子Ｔａ０を設けて、第１検査スイッチＳＷ_Ａに両側から電流供給することが可能となる。同様に、この表示装置１は、第２検査スイッチＳＷ_Ｂに両側から電流供給することが可能となる。従って、この表示装置１によると、信号線Ｓの電流値の不均衡を抑制することが可能となり、信頼性の低下を抑制することができる。

また、第３領域Ｒ３において、第１検査スイッチＳＷ_Ａに接続される第１検査端子Ｔａ０と、第２検査スイッチＳＷ_Ｂに接続される第２検査端子Ｔｂ０とが含まれる。この表示装置１は、第１検査スイッチＳＷ_Ａ及び第２検査スイッチＳＷ_Ｂに両側から電流供給することが可能となるため、信号線Ｓの電流値の不均衡を抑制して、信頼性の低下を抑制することができる。

また、第３領域Ｒ３において第１検査スイッチＳＷ_Ａに接続される第１検査端子Ｔａ０と、第３領域Ｒ３において第２検査スイッチＳＷ_Ｂに接続される第２検査端子Ｔｂ０とは、接続されている。この表示装置１は、第１検査端子Ｔａ０と第２検査端子Ｔｂ０とを接続することで、第１検査スイッチＳＷ_Ａと第２検査スイッチＳＷ_Ｂとの電圧の不均衡を抑制することが可能となり、信頼性の低下を抑制することができる。

また、表示装置１は、第１周辺領域Ｂ１に設けられて第１検査スイッチＳＷ_Ａに接続される第１スイッチ端子ＴａＡと、第１周辺領域Ｂ１に設けられて第２検査スイッチＳＷ_Ｂに接続される第２スイッチ端子ＴｂＡと、をさらに有する。第１検査スイッチＳＷ_Ａは、第１スイッチ端子ＴａＡからのゲート信号により、第１検査端子Ｔａ０と信号線Ｓとの接続及び遮断を切り替え、第２検査スイッチＳＷ_Ｂは、第２スイッチ端子ＴｂＡからのゲート信号により、第２検査端子Ｔｂ０と信号線Ｓとの接続及び遮断を切り替える。この表示装置１は、第１検査スイッチＳＷ_Ａと第２検査スイッチＳＷ_Ｂとで、信号線Ｓと検査端子とを接続することで、信号線Ｓの検査を好適に行うことができる。

第１検査スイッチＳＷ_Ａ及び第２検査スイッチＳＷ_Ｂは、第１周辺領域Ｂ１に設けられる。第１検査スイッチＳＷ_Ａ及び第２検査スイッチＳＷ_Ｂを第１ドライバ端子Ｄａ、第２ドライバ端子Ｄｂ側に設けることで、信号線Ｓの検査を好適に行うことができる。

表示装置１は、さらに、接続スイッチ（第１接続スイッチＳＷ_Ｃ及び第２接続スイッチＳＷ_Ｄ）を有する。接続スイッチは、第２周辺領域Ｂ２に設けられ、複数の信号線Ｓ同士の接続と遮断とを切り替え可能に構成される。この表示装置１は、信号線Ｓ同士を接続可能な接続スイッチを有することで、エージング処理を好適に実施することができる。

（変形例）
次に、変形例について説明する。上記で説明した実施形態に係る表示装置１は、ドライバＩＣ１１０が配線基板１０１に搭載されたＣＯＦ実装であった。ただし、変形例に係る表示装置１Ａに示すように、ドライバＩＣ１１０は、ＣＯＦ実装であることに限られず、第１基板ＳＵＢ１上に設けられたもの、すなわちＣＯＧ（Ｃｈｉｐ ｏｎ Ｇｒｌａｓｓ）実装されたものであってもよい。以下、変形例に係る表示装置１Ａを説明するが、実施形態に係る表示装置１と構成が共通する箇所は説明を省略する。

図７は、変形例に係る表示装置を模式的に示す平面図である。図７に示すように、変形例に係る表示装置１Ａは、第１周辺領域Ｂ１の外側周辺領域Ｂ１ｂに、ドライバＩＣ１１０Ａａと、ドライバＩＣ１１０Ａｂと、配線基板１０２ａと、配線基板１０２ｂとが設けられている。また、外側周辺領域Ｂ１ｂには、検査端子Ｔと、第１ドライバ端子Ｄａと、第２ドライバ端子Ｄｂと、第１入力端子Ｅａと、第２入力端子Ｅｂと、第１配線端子Ｆａと、第２配線端子Ｆｂとが設けられる。

第１配線端子Ｆａは、複数設けられ、配線基板１０２ａに接続される。第１入力端子Ｅａは、複数設けられ、第１配線端子ＦａとドライバＩＣ１１０Ａａとに接続される。第１ドライバ端子Ｄａは、ドライバＩＣ１１０Ａａに接続される。配線基板１０２ａからの信号は、第１配線端子Ｆａ及び第１入力端子Ｅａを介してドライバＩＣ１１０Ａａに入力される。ドライバＩＣ１１０Ａａは、配線基板１０２ａからの信号に基づき映像信号を生成し、映像信号は、第１ドライバ端子Ｄａを介して信号線Ｓに出力される。

第２配線端子Ｆｂは、複数設けられ、配線基板１０２ｂに接続される。第２入力端子Ｅｂは、複数設けられ、第２配線端子ＦｂとドライバＩＣ１１０Ａｂとに接続される。第２ドライバ端子Ｄｂは、ドライバＩＣ１１０Ａｂに接続される。配線基板１０２ｂからの信号は、第２配線端子Ｆｂ及び第２入力端子Ｅｂを介してドライバＩＣ１１０Ａｂに入力される。ドライバＩＣ１１０Ａｂは、配線基板１０２ｂからの信号に基づき映像信号を生成し、映像信号は、第２ドライバ端子Ｄｂを介して信号線Ｓに出力される。

図８は、変形例に係る表示装置の構成の模式的な回路図である。図８に示すように、変形例に係る表示装置１Ａの、信号線Ｓを検査するための回路構成は、図４に示す実施形態の回路構成と同様である。ただし、図８に示すように、ドライバＩＣ１１０Ａａと、ドライバＩＣ１１０Ａｂとは、外側周辺領域Ｂ１ｂ内に設けられた配線Ｌｘを介して、接続されることが好ましい。配線Ｌｘは、第３領域Ｒ３に設けられた第１検査端子Ｔａ０及び第２検査端子Ｔｂ０に接触しないように、外側周辺領域Ｂ１ｂ内を延在している。例えば、配線Ｌｘは、第３領域Ｒ３に設けられた第１検査端子Ｔａ０及び第２検査端子Ｔｂ０よりも、第１方向Ｙ１側を延在していることが好ましい。このように配線Ｌｘを介してドライバＩＣ１１０Ａａ、１１０Ａｂを接続することで、表示装置１とドライバＩＣとの間のノイズ干渉などを抑制することができる。ただし、ドライバＩＣ１１０Ａａと、ドライバＩＣ１１０Ａｂとは、接続されていなくてもよい。

図９は、別の変形例に係る表示装置を模式的に示す平面図である。図７においては、第１検査回路Ｃ１ａ及び第２検査回路Ｃ１ｂが、すなわち第１検査スイッチＳＷ_Ａ及び第２検査スイッチＳＷ_Ｂが、図１の実施形態と同様に、内側周辺領域Ｂ１ａに設けられていた。ただし、ＣＯＧ実装においては、図９に示すように、第１検査回路Ｃ１ａ及び第２検査回路Ｃ１ｂを、第１検査スイッチＳＷ_Ａ及び第２検査スイッチＳＷ_Ｂを、外側周辺領域Ｂ１ｂに配置してもよい。この場合、第１検査回路Ｃ１ａは、すなわち第１検査スイッチＳＷ_Ａは、ドライバＩＣ１１０ＡａのＺ方向における下方に設けられることが好ましい。同様に、第２検査回路Ｃ１ｂは、すなわち第２検査スイッチＳＷ_Ｂは、ドライバＩＣ１１０ＡｂのＺ方向における下方に設けられることが好ましい。このように配置することで、第１検査スイッチＳＷ_Ａ及び第２検査スイッチＳＷ_Ｂを外側周辺領域Ｂ１ｂに配置した場合でも、ドライバＩＣ１１０Ａａ、１１０Ａｂによって第１検査スイッチＳＷ_Ａ及び第２検査スイッチＳＷ_Ｂが覆われて、第１検査スイッチＳＷ_Ａ及び第２検査スイッチＳＷ_Ｂが露出することを抑制することができる。なお、Ｚ方向における下方とは、Ｚ方向において第１基板ＳＵＢ１と第２基板ＳＵＢ２が重畳している場合における第１基板ＳＵＢ１側である。

また、本実施形態において述べた態様によりもたらされる他の作用効果について本明細書記載から明らかなもの、又は当業者において適宜想到し得るものについては、当然に本発明によりもたらされるものと解される。

１ 表示装置
１１０ａ、１１０ｂ ドライバＩＣ
Ａ 表示領域
Ｂ 周辺領域
Ｂ１ 第１周辺領域
Ｂ１ａ 内側周辺領域
Ｂ１ｂ 外側周辺領域
Ｄａ 第１ドライバ端子
Ｄｂ 第２ドライバ端子
ＰＸ 画素
Ｒ１ 第１領域
Ｒ２ 第２領域
Ｒ３ 第３領域
Ｓ 信号線（配線）
ＳＵＢ１ 第１基板
ＳＵＢ２ 第２基板
ＳＷ_Ａ 第１検査スイッチ
ＳＷ_Ｂ 第２検査スイッチ
ＳＷ_Ｃ 第１接続スイッチ
ＳＷ_Ｄ 第２接続スイッチ
Ｔａ０ 第１検査端子（検査端子）
Ｔｂ０ 第２検査端子（検査端子）
Ｙ１ 第１方向

Claims (7)

1. 複数の画素が設けられる表示領域、及び前記表示領域よりも外側の周辺領域を有する第１基板と、
   前記表示領域に設けられて、前記画素に接続されて前記画素に信号を供給する配線と、
   前記表示領域の第１方向側の前記周辺領域である第１周辺領域に設けられ、前記配線に接続されて第１ドライバＩＣが接続可能な第１ドライバ端子と、
   前記第１周辺領域において前記第１方向に交差する方向に前記第１ドライバ端子と並ぶ位置に設けられ、前記配線に接続されて第２ドライバＩＣが接続可能な第２ドライバ端子と、
   前記第１周辺領域に設けられる複数の検査端子と、
   前記第１ドライバ端子に接続され、前記検査端子と前記配線との接続及び遮断を切り替え可能に構成される第１検査スイッチと、
   前記第２ドライバ端子に接続され、前記検査端子と前記配線との接続及び遮断を切り替え可能に構成される第２検査スイッチと、
   を備え、
   前記検査端子は、前記第１ドライバ端子の前記第２ドライバ端子側とは反対側の第１領域と、前記第２ドライバ端子の前記第１ドライバ端子側とは反対側の第２領域と、前記第１ドライバ端子と前記第２ドライバ端子との間の第３領域と、に設けられる、
   表示装置。
2. 前記第１領域に設けられる前記検査端子は、前記第１検査スイッチに接続され、
   前記第２領域に設けられる前記検査端子は、前記第２検査スイッチに接続され、
   前記第３領域に配置される前記検査端子は、前記第１検査スイッチ及び前記第２検査スイッチの少なくとも一方に接続される、請求項１に記載の表示装置。
3. 前記第３領域において、前記第１検査スイッチに接続される前記検査端子と、前記第２検査スイッチに接続される前記検査端子とが含まれる、請求項２に記載の表示装置。
4. 前記第３領域において前記第１検査スイッチに接続される前記検査端子と、前記第３領域において前記第２検査スイッチに接続される前記検査端子とは、接続されている、請求項３に記載の表示装置。
5. 前記第１周辺領域に設けられて前記第１検査スイッチに接続される第１スイッチ端子と、前記第１周辺領域に設けられて前記第２検査スイッチに接続される第２スイッチ端子と、をさらに有し、
   前記第１検査スイッチは、前記第１スイッチ端子からの信号により、前記検査端子と前記配線との接続及び遮断を切り替え、前記第２検査スイッチは、前記第２スイッチ端子からの信号により、前記検査端子と前記配線との接続及び遮断を切り替える、請求項１から請求項４のいずれか１項に記載の表示装置。
6. 前記第１検査スイッチ及び前記第２検査スイッチは、前記第１周辺領域に設けられる、請求項１から請求項５のいずれか１項に記載の表示装置。
7. 前記表示領域の前記第１方向と反対方向側の前記周辺領域である第２周辺領域に設けられ、複数の前記配線同士の接続と遮断とを切り替え可能に構成される接続スイッチを更に有する、請求項６に記載の表示装置。

Images