JP7272467B2 - 電気熱量効果素子 - Google Patents
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Description
(1)耐電圧が高く、大きな電界を印可可能であること、
(2)PSTのBサイトのカチオンであるScおよびTaが高オーダー度を示すこと
が求められる。即ち、電気熱量効果の性能指標の一つである断熱温度変化ΔTは、印可する電界強度に依存するので、セラミックス自体または素子が高い耐電圧を有していなければ、十分な電界を印可することができず、大きな断熱温度変化を得ることができない。また、電気熱量効果は、PSTのBサイトのオーダー度に影響を受け、Bサイトのオーダー度が高いほど優れた強誘電体特性が得られ、大きな電気熱量効果(断熱温度変化)を得ることができる。
[1] 主成分がPtで構成される電極層とセラミックス層が積層された積層体を有する電気熱量効果素子であって、前記セラミックス層は、ペロブスカイト構造を有し、Pb、ScおよびTaを含むセラミックスを主成分とし、Scの含有比率を「y」とした場合に、Taの含有比率は「1-y」であり、yの範囲は0.450≦y≦0.495である、電気熱量効果素子。
[2] 主成分がPtで構成される電極層とセラミックス層が積層された積層体を有する電気熱量効果素子であって、前記セラミックス層は、ペロブスカイト構造を有し、式:
PbxScyTa1-yO3-σ
[式中、
xは、0.97≦x≦1.03を満たし、
yは、0.450≦y≦0.495を満たし、
σは、-0.1≦σ≦0.1を満たす。]
で表されるセラミックスを主成分とする、電気熱量効果素子。
[3] xは、0.985≦x≦1.015を満たす、上記[2]に記載の電気熱量効果素子。
[4] 前記積層体におけるセラミックス層の厚みは、50μm以下である、上記[1]~[3]のいずれか1項に記載の電気熱量効果素子。
[5] 上記[1]~[4]のいずれか1項に記載の電気熱量効果素子を有してなる電子部品。
PbxScyTa1-yO3-σ
[式中、
xは、0.97≦x≦1.03を満たし、
yは、0.450≦y≦0.495を満たし、
σは、-0.1≦σ≦0.1を満たす。]
で表されるセラミックスを主成分とする。x、yおよびσを、上記の範囲にすることにより、20MV/m以上の耐電圧を再現よく得ることが可能となる。また、75%以上のBサイトのオーダー度を再現良く得ることが可能であり、さらにxを、0.985≦x≦1.01とすることで80%以上のBサイトのオーダー度を再現よく得ることが可能となる。さらに、アニール時間を短くしたとしても、例えば100~500時間にしたとしても、優れた耐電圧と高いオーダー度を得ることが可能になり、生産性がより向上する。さらに、素子の厚みを薄くしたとしても、高いオーダー度が得られるようになり、素子設計の自由度が向上する。
原料として高純度の酸化鉛(Pb3O4)、酸化タンタル(Ta2O5)、酸化スカンジウム(Sc2O3)を、焼成後に所望の組成比率になるように秤量する。上記の原料を、部分安定化ジルコニア(PSZ)ボール、純水、分散剤等とボールミルで粉砕混合を行う。その後、粉砕混合したスラリーを乾燥、整粒した後に、例えば大気中800℃~900℃の条件で仮焼する。得られた仮焼粉を、PSZボール、エタノール、トルエン、分散剤等と混合し、粉砕する。次いで、得られた粉砕粉に溶解させたバインダー溶液を添加し、混合して、シート成型用のスラリーを作成する。作成したスラリーを、支持体上にシート状に成形し、Pt電極ペーストを印刷する。印刷したシートと印刷していないシートを所望の構造になるように積層したのち、100MPa~200MPaの圧力で圧着し、カットすることでグリーンチップを作成する。グリーンチップは、大気中500℃~600℃で24時間熱処理することで脱バインダー処理を行う。次いで、脱バインダーしたチップを、例えばアルミナ製の密閉さやを用い、Pb雰囲気を作成するためのPbZrO3粉と一緒に、1300℃~1500℃で焼成を行う。焼成後、必要に応じて、再度チップとPbZrO3粉を約1000℃で所定時間熱処理し、構造の調整を行うことができる。その後、チップの端面をサンドペーパーで磨き、外部電極ペーストを塗布し、所定温度で焼き付け処理を行い、図1に示すような電気熱量効果素子を得ることができる。
原料として高純度の酸化鉛(Pb3O4)、酸化タンタル(Ta2O5)、酸化スカンジウム(Sc2O3)を準備した。これらの原料を、焼成後に表1および2に示すような所定の組成比率になるように秤量し、直径2mmの部分安定化ジルコニア(PSZ)ボール、純水および分散剤と、ボールミルで16時間、粉砕混合を行った。その後、粉砕混合したスラリーを、ホットプレートで乾燥し、整粒した後に大気中850℃の条件で2時間仮焼を行った。
(組成)
得られた素子のセラミックス組成を、高周波誘導結合プラズマ発光分光分析法、および蛍光X線分析法を用いて確認した。
得られた素子の結晶構造およびオーダー度(S111)を評価するために、粉末X線回折測定を行った。各ロットから無作為に素子を1つ選び、乳鉢で粉砕してからX線回折プロファイルを取得した。得られたX線回折プロファイルから、セラミックスの結晶構造がペロブスカイト構造であるかを確認し、また、不純物相(主にパイロクロア相)の有無と存在比率を強度比から見積もった。
各ロット5個ずつの素子について(即ち、各組成、合計25個の素子について)、耐電圧および電気熱量効果を評価した。詳細には、直径50μmの極細K熱電対をカプトンテープで素子表面の中央部に張り付け温度を常時モニターし、外部電極両端にAgペーストで電圧印加用のワイヤーを接着し、高電圧発生装置を用いて電圧を印加した。電圧印加後に50秒間印加した状態で保持して温度を測定し、次いで、電圧除去後に50秒間印加なしの状態で保持して温度を測定した。このシーケンスを3回繰り返した。電圧印加および電圧除去のシーケンス中は、常時素子の温度を測定し、その温度変化から断熱温度変化ΔTを求めた(ここでは電圧を印加した際の温度変化、即ち、温度の上昇度をΔTとした)。この測定を、300Vから50V刻みで1000Vまで徐々に電圧を大きくしながら行った。この際、絶縁破壊が生じた電圧の一つ前の印可電圧を最大許容印可電圧とし、素子厚みから耐電圧(MV/m)を求めた。最も耐電圧の低かった素子の耐電圧を最小耐電圧とした。耐電圧が20MV/m以上の素子を良品とし、良品率を算出した。結果を表1および表2に示す。良品が100%のものをGo判定とした。また、資料番号7(20MV/m)の電気熱量効果測定結果を図2に示す。
2a,2b…Pt電極層
4…セラミックス層
6…積層体
8a,8b…外部電極
Claims (5)
- 主成分がPtで構成される電極層とセラミックス層が積層された積層体を有する電気熱量効果素子であって、前記セラミックス層は、ペロブスカイト構造を有し、Pb、ScおよびTaを含むセラミックスを主成分とし、Scの含有比率を「y」とした場合に、Taの含有比率は「1-y」であり、yの範囲は0.450≦y≦0.495である、電気熱量効果素子。
- 主成分がPtで構成される電極層とセラミックス層が積層された積層体を有する電気熱量効果素子であって、前記セラミックス層は、ペロブスカイト構造を有し、式:
PbxScyTa1-yO3-σ
[式中、
xは、0.97≦x≦1.03を満たし、
yは、0.450≦y≦0.495を満たし、
σは、-0.1≦σ≦0.1を満たす。]
で表されるセラミックスを主成分とする、電気熱量効果素子。 - xは、0.985≦x≦1.015を満たす、請求項2に記載の電気熱量効果素子。
- 前記積層体におけるセラミックス層の厚みは、50μm以下である、請求項1~3のいずれか1項に記載の電気熱量効果素子。
- 請求項1~4のいずれか1項に記載の電気熱量効果素子を有してなる電子部品。
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