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JP7286384B2 - Image Stabilizer and Electronics - Google Patents
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Description

本発明は、ブレ補正装置および電子機器に関し、特に、撮影の際の手振れを補正するブレ補正装置に関する。 BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a blur correction device and an electronic device, and more particularly to a blur correction device that corrects camera shake during shooting.

一般に、電子機器の1つとして、撮影の際に手振れを補正するブレ補正装置を備える撮像装置が知られている。ブレ補正装置で行われるブレ補正には、光学レンズを光軸に直交する方向に駆動する手法と撮像素子を光軸に直交する方向に駆動する手法とがある。例えば、磁石およびコイルを備えるボイスコイルモータによって撮像素子を駆動してブレ補正を行う撮像装置がある(特許文献1)。 2. Description of the Related Art In general, as one type of electronic equipment, an imaging apparatus is known that includes a blur correction device that corrects camera shake during shooting. Blurring correction performed by the blur correction device includes a method of driving an optical lens in a direction perpendicular to the optical axis and a method of driving an imaging element in a direction perpendicular to the optical axis. For example, there is an image pickup apparatus that performs shake correction by driving an image pickup element with a voice coil motor that includes a magnet and a coil (Patent Document 1).

ところで、ボイスコイルモータにおいては、コイルから電磁波が発生して当該電磁波が撮像装置に影響を与えることが知られている。このため、一般的な対策として、ノイズ源となるコイルを他の部分から磁気的に隔離する構造を用いるか又はシールド部材を用いることが行われている。 By the way, in the voice coil motor, it is known that electromagnetic waves are generated from the coil and affect the imaging device. For this reason, as a general countermeasure, a structure that magnetically isolates the coil, which is a noise source, from other parts or a shield member is used.

例えば、撮影レンズにボイスコイルモータを備えるブレ補正機構を備えるともに、磁性体からなるシールド部材を配置してコイルから発生する電磁波(磁場)を遮蔽するようにしたものがある(特許文献2)。 For example, there is a camera in which a camera lens is provided with a motion compensation mechanism having a voice coil motor, and a shield member made of a magnetic material is arranged to shield electromagnetic waves (magnetic field) generated from the coil (Patent Document 2).

特開2010-15107号公報JP 2010-15107 A 特開2017-173757号公報JP 2017-173757 A

しかしながら、特許文献1に記載の撮像装置のようにコイルが撮像素子の近傍に配置されている場合には、コイルによる磁場が撮像素子に到達して、磁気ノイズとして画像に悪影響を与えてしまう。さらには、撮像素子の高感度化に応じて、ノイズ源であるコイルに加えて、コイル端子の半田接合部およびコイルが接続された配線パターンなどからの微弱な磁界も磁気ノイズとして画像に悪影響を与えてしまう。 However, when the coil is arranged near the imaging element as in the imaging apparatus described in Patent Document 1, the magnetic field generated by the coil reaches the imaging element and adversely affects the image as magnetic noise. Furthermore, as imaging devices become more sensitive, in addition to the coil, which is a noise source, the weak magnetic field from the solder joints of the coil terminals and the wiring pattern to which the coil is connected adversely affects images as magnetic noise. I give.

一方、撮像素子とコイルとの間隔が狭いため、特許文献2に記載のように撮像素子とコイルとの間にシールド部材を配置することは困難である。 On the other hand, since the distance between the imaging element and the coil is narrow, it is difficult to dispose a shield member between the imaging element and the coil as described in Patent Document 2.

そこで、本発明の目的は、小型化を図りつつ、撮像素子に対する磁場の影響を低減することのできるブレ補正装置および電子機器を提供することにある。 SUMMARY OF THE INVENTION Accordingly, it is an object of the present invention to provide a blur correction device and an electronic device that can reduce the influence of a magnetic field on an imaging element while achieving miniaturization.

上記の目的を達成するため、本発明によるブレ補正装置は、撮像光学系を介して結像した光学像に応じた画像信号を出力する撮像素子を備える電子機器に用いられ、前記撮像素子を前記撮像光学系の光軸に直交する方向に移動させて前記画像信号が示す画像において生じたブレを補正するブレ補正装置であって、前記撮像素子を保持し、前記光軸に直交する方向に移動可能な金属性の可動部材と、前記可動部材に配置され電力が供給されるコイルと、前記コイルが実装される実装部材と、前記コイルの外周よりも外側に配置され前記コイルと前記実装部材とを接続する接続部と、前記コイルに対向して配置された永久磁石と、を有し、前記コイルと前記永久磁石とによって前記可動部材を移動させ、前記接続部を配置するために前記可動部材に設けられた隙間部が前記撮像素子に最も近い前記コイルの辺よりも撮像素子から離れた位置に配置されていることを特徴とする。 In order to achieve the above object, a blur correction device according to the present invention is used in an electronic device comprising an image pickup device that outputs an image signal corresponding to an optical image formed through an image pickup optical system. A blur correction device that corrects blurring occurring in an image indicated by the image signal by moving the imaging optical system in a direction orthogonal to the optical axis, wherein the imaging device is held and moved in the direction orthogonal to the optical axis. a metal movable member, a coil arranged on the movable member to which electric power is supplied, a mounting member on which the coil is mounted, and the coil and the mounting member arranged outside the outer circumference of the coil. and a permanent magnet disposed opposite the coil, the movable member being moved by the coil and the permanent magnet to locate the connection. is arranged at a position farther from the imaging device than the side of the coil closest to the imaging device.

本発明によれば、小型化を図りつつ、撮像素子に対する磁場の影響を低減することができる。 According to the present invention, it is possible to reduce the influence of the magnetic field on the imaging element while achieving miniaturization.

本発明の第1の実施形態によるブレ補正装置を備える撮像装置の一例を示す図である。It is a figure showing an example of an imaging device provided with a shake correction device by a 1st embodiment of the present invention. 図1に示すブレ補正部を説明するための図である(その1)。FIG. 2 is a diagram for explaining a blur correction unit shown in FIG. 1 (No. 1); 図1に示すブレ補正部を説明するための図である(その2)。FIG. 2 is a diagram for explaining the blur correction unit shown in FIG. 1 (No. 2); 図2に示す可動部を下面固定部の側からみた図である。3 is a view of the movable part shown in FIG. 2 as seen from the side of the lower fixing part; FIG. 図4に示す可動部の要部を拡大して、コイルに流れる電流と可動枠から打消し磁界を発生させる打消し電流とを模式的に示す図である。5 is an enlarged view of the main part of the movable part shown in FIG. 4 and schematically shows a current flowing through a coil and a canceling current for generating a canceling magnetic field from the movable frame; FIG. 図3に示す断面図において要部を拡大してコイルの磁場を模式的に示す図である。FIG. 4 is a diagram schematically showing a magnetic field of a coil by enlarging a main part in the cross-sectional view shown in FIG. 3 ; 本発明の第2の実施形態で用いられるブレ補正装置においてFPC、配線パターン、および半田付け部を示す図である。FIG. 10 is a diagram showing an FPC, wiring patterns, and soldering portions in a motion compensation device used in a second embodiment of the present invention; 図7に示す半田付け部の位置関係を説明するための図である。FIG. 8 is a diagram for explaining the positional relationship of the soldering portions shown in FIG. 7;

以下に、本発明の実施の形態によるブレ補正装置を備える撮像装置の一例について図面を参照して説明する。 An example of an imaging apparatus provided with a blur correction device according to an embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.

[第1の実施形態]
図1は、本発明の第1の実施形態によるブレ補正装置を備える撮像装置の一例を示す図である。そして、図1(a)は撮像装置を破断して示す図であり、図1(b)は撮像装置の制御系を示す図である。
[First embodiment]
FIG. 1 is a diagram showing an example of an imaging device equipped with a blur correction device according to a first embodiment of the present invention. FIG. 1(a) is a cutaway view of the imaging apparatus, and FIG. 1(b) is a diagram illustrating a control system of the imaging apparatus.

図示の撮像装置、例えば、デジタルカメラ(以下単にカメラと呼ぶ)であり、カメラボディ1および撮影レンズユニット(以下単に撮影レンズいと呼ぶ)2を備えている。そして、カメラボディ1に撮影レンズ2が装着される。 The illustrated imaging apparatus, for example, a digital camera (hereinafter simply referred to as a camera) includes a camera body 1 and a photographing lens unit (hereinafter simply referred to as a photographing lens) 2 . A photographing lens 2 is attached to the camera body 1 .

撮影レンズ2には、被写体像(光学像)を取り込む複数のレンズからなる撮影光学系3と、撮影レンズ2を制御するレンズシステム制御12と、撮像光学系3を駆動するレンズ駆動部13とが備えられている。カメラボディ1には、撮影レンズ2を介して光学像が結像する撮像素子6が備えられている。さらに、カメラボディ1には、背面表示装置9a、EVF9b、ブレ補正部14、ブレ検知部15、シャッタ機構16、およびシャッタ駆動部17が備えられている。加えて、カメラボディ1には、カメラシステム制御部5、画像処理部7、メモリ8、および操作検出部10が備えられ、図1(a)に示す背面表示装置9aおよびEVF9bは図1(b)においては表示部9として一括して示されている。 The photographing lens 2 includes a photographing optical system 3 composed of a plurality of lenses for taking in a subject image (optical image), a lens system control 12 for controlling the photographing lens 2, and a lens driving section 13 for driving the photographing optical system 3. are provided. The camera body 1 is provided with an imaging element 6 that forms an optical image through the photographing lens 2 . Further, the camera body 1 is provided with a rear display device 9 a , an EVF 9 b , a blur correction section 14 , a blur detection section 15 , a shutter mechanism 16 and a shutter drive section 17 . In addition, the camera body 1 is provided with a camera system control section 5, an image processing section 7, a memory 8, and an operation detection section 10, and the rear display device 9a and EVF 9b shown in FIG. ) are collectively shown as the display unit 9 .

なお、カメラシステム制御部5は電気接点11を介してレンズシステム制御部12と通信を行い、さらに、電気接点11を介してカメラボディ1から撮影レンズ2に電力が供給される。 The camera system control section 5 communicates with the lens system control section 12 via the electrical contact 11 , and power is supplied from the camera body 1 to the photographing lens 2 via the electrical contact 11 .

レンズ駆動部13は、レンズシステム制御部12の制御下で、撮像光学系3に備えられた焦点レンズおよび絞りなどを駆動する。ブレ検知部15は光軸4の回りの回転を含むカメラの回転ブレを検知する。ブレ検知部15には、例えば、振動ジャイロが用いられる。ブレ補正部14は撮像素子6を光軸4に直交する方向に並進させるとともに光軸4の回りに回転させて、後述するようにブレを補正する。 Under the control of the lens system control unit 12 , the lens driving unit 13 drives the focus lens, the diaphragm, and the like provided in the imaging optical system 3 . A shake detector 15 detects rotational shake of the camera including rotation around the optical axis 4 . For example, a vibrating gyroscope is used for the shake detection unit 15 . The blur correction unit 14 translates the imaging element 6 in a direction perpendicular to the optical axis 4 and rotates it around the optical axis 4 to correct blur as described later.

シャッタ駆動部17は、カメラシステム制御部5の制御下で、シャッタ機構16を駆動してシャッタ幕を走行させ撮像素子6の露光を行う。撮像素子6には撮像光学系3を介して光学像が結像し、撮像素子6は光電変換によって光学像に応じた画像信号を出力する。 Under the control of the camera system control unit 5 , the shutter drive unit 17 drives the shutter mechanism 16 to run the shutter curtain and expose the imaging element 6 . An optical image is formed on the imaging device 6 via the imaging optical system 3, and the imaging device 6 outputs an image signal corresponding to the optical image by photoelectric conversion.

画像処理部7には、例えば、A/D変換器、ホワイトバランス調整回路、ガンマ補正回路、および補間演算回路が備えられている。画像処理部7は撮像素子6の出力である画像信号に所定の画像処理を施して記録用の画像データを生成する。なお、色補間処理部が画像処理部7に備えられており、色補間処理部はベイヤ配列の画像信号に対して色補間(デモザイキング)処理を施してカラー画像データを生成する。また、画像処理部7は、予め定められた手法を用いて画像(静止画)、動画、および音声などに対して圧縮を行う。 The image processing unit 7 includes, for example, an A/D converter, a white balance adjustment circuit, a gamma correction circuit, and an interpolation calculation circuit. The image processing unit 7 performs predetermined image processing on the image signal output from the image sensor 6 to generate image data for recording. A color interpolation processing unit is provided in the image processing unit 7, and the color interpolation processing unit performs color interpolation (demosaicing) processing on image signals in Bayer array to generate color image data. The image processing unit 7 also compresses images (still images), moving images, audio, and the like using a predetermined method.

画像処理部7の出力である画像データからはピント評価量および露光量が得られる。カメラシステム制御部5は、ピント評価量および露光量に応じてレンズシステム制御部12によって撮影光学系3を駆動制御する。これによって、適切な光量の光学像が撮像素子6に結像する。 A focus evaluation amount and an exposure amount are obtained from the image data output from the image processing unit 7 . The camera system controller 5 drives and controls the photographic optical system 3 by means of the lens system controller 12 in accordance with the focus evaluation amount and the exposure amount. As a result, an optical image with an appropriate amount of light is formed on the imaging device 6 .

カメラシステム制御部5は画像処理部7を制御してメモリ8に画像データを記録する。さらに、カメラシステム制御部5は画像データに応じた画像を表示部9に表示する。 The camera system control section 5 controls the image processing section 7 to record the image data in the memory 8 . Furthermore, the camera system control section 5 displays an image corresponding to the image data on the display section 9 .

カメラシステム制御部5は撮像の際のタイミング信号などを出力する。さらには、カメラシステム制御部5はユーザー操作に応じてカメラを制御する。例えば、シャッターレリーズ釦(図示せず)の押下を操作検出部10が検出すると、カメラシステム制御部5は撮像素子6を駆動するとともに、画像処理部7を制御して圧縮処理などを行う。 A camera system control unit 5 outputs a timing signal and the like for imaging. Furthermore, the camera system control unit 5 controls the camera according to user operations. For example, when the operation detection unit 10 detects that a shutter release button (not shown) has been pressed, the camera system control unit 5 drives the image sensor 6 and controls the image processing unit 7 to perform compression processing and the like.

さらに、カメラシステム制御部5は表示部9に撮影などに係る情報を表示する。なお、背面表示装置9aにはタッチパネルが備えられ、当該タッチパネルは操作検出部10に接続されている。カメラシステム制御部5は、ブレ検知部15で得られた検知結果に基づいてブレ補正部14を制御する。 Further, the camera system control unit 5 displays information related to shooting and the like on the display unit 9 . A touch panel is provided on the rear display device 9 a and the touch panel is connected to the operation detection section 10 . The camera system control section 5 controls the blur correction section 14 based on the detection result obtained by the blur detection section 15 .

図2および図3は、図1に示すブレ補正部を説明するための図である。そして、図2(a)はブレ補正部の構成を示す斜視図であり、図2(b)はブレ補正部を分解して示す斜視図である。また、図3(a)はブレ補正部を上側から見た図であり、図3(b)は図3(a)に示すA-A線に沿った断面図である。なお、図2および図3に示す座標系においてZ軸の正方向に撮影レンズ2が位置する。 2 and 3 are diagrams for explaining the blur correction unit shown in FIG. 1. FIG. FIG. 2(a) is a perspective view showing the configuration of the shake correction section, and FIG. 2(b) is an exploded perspective view showing the shake correction section. Also, FIG. 3(a) is a view of the blur correction unit as viewed from above, and FIG. 3(b) is a cross-sectional view taken along line AA shown in FIG. 3(a). Note that the photographing lens 2 is positioned in the positive direction of the Z-axis in the coordinate system shown in FIGS.

図2において、Z軸方向は光軸4と平行な方向である。ブレ補正部14は金属性の可動部(可動部材)50、上面固定部(固定部材)60、および下面固定部(固定部材)70を有している。そして、可動部(可動部材)50には撮像素子6が搭載される。 In FIG. 2 , the Z-axis direction is parallel to the optical axis 4 . The blur correction section 14 has a metallic movable section (movable member) 50 , an upper surface fixed section (fixed member) 60 and a lower surface fixed section (fixed member) 70 . The imaging element 6 is mounted on the movable portion (movable member) 50 .

可動部50は、後述するように、撮像光学系の光軸に直交する(交差する)方向に移動可能である。可動部50は、可動枠51、コイル53a~53c、および磁気センサ54a~54cを備え、可動部50にはFPC(フレキシブルプリント回路基板)55が接続される。 The movable section 50 is movable in a direction perpendicular to (crossing) the optical axis of the imaging optical system, as will be described later. The movable portion 50 includes a movable frame 51, coils 53a to 53c, and magnetic sensors 54a to 54c.

図示のように、コイル53a~53cは半田付け部(図2には示さず)によってFPC55に接続されており、当該半田付け部は可動枠51に設けられた可動枠凹部57a~57cに配置される。 As shown, the coils 53a-53c are connected to the FPC 55 by soldering portions (not shown in FIG. 2), which are located in movable frame recesses 57a-57c provided in the movable frame 51. be.

上面固定部60には、上面ヨーク61および永久磁石62a~62fが備えられている。下面固定部70はベース板(支持部材)71を有し、ベース板71にはボール転動面72a~72cが規定されている。さらに、下面固定部70にはメインスペーサ73a~73c、サブスペーサ74aおよび74b、および下面ヨーク75が備えられている。そして、下面ヨーク75には永久磁石76a~76fが配置され、ボール転動面72a~72cにはそれぞれ転動ボール77a~77cが位置する。 The upper fixed portion 60 is provided with an upper yoke 61 and permanent magnets 62a to 62f. The lower fixing portion 70 has a base plate (supporting member) 71, and the base plate 71 defines ball rolling surfaces 72a to 72c. Further, the lower fixing portion 70 is provided with main spacers 73a to 73c, sub-spacers 74a and 74b, and a lower yoke 75. As shown in FIG. Permanent magnets 76a to 76f are arranged on the lower yoke 75, and rolling balls 77a to 77c are positioned on the ball rolling surfaces 72a to 72c, respectively.

図示の例では、上面ヨーク61および磁石62a~62fと下面ヨーク75および磁石76a~76fとが磁気回路を形成して、所謂閉磁路となる。磁石62a~62fは上面ヨーク61に吸着した状態で接着固定されている。同様に、磁石76a~76fは下面ヨーク75に吸着した状態で接着固定されている。これら磁石の各々は光軸4の方向に着磁されている。そして、隣接する磁石同士である磁石62aおよび62b、磁石62cおよび62d、および磁石62eおよび62fは互いに異なる向きに着磁されている。同様に、磁石76aおよび76b、磁石76cおよび76d、および磁石76eおよび76fは互いに異なる向きに着磁されている。 In the illustrated example, the upper yoke 61 and the magnets 62a to 62f and the lower yoke 75 and the magnets 76a to 76f form a magnetic circuit, which is a so-called closed magnetic circuit. The magnets 62a to 62f are adhered and fixed to the upper yoke 61 while being attracted to it. Similarly, the magnets 76a to 76f are adhered and fixed to the lower yoke 75 while being attracted to it. Each of these magnets is magnetized in the direction of the optical axis 4 . Adjacent magnets 62a and 62b, 62c and 62d, and 62e and 62f are magnetized in different directions. Similarly, magnets 76a and 76b, magnets 76c and 76d, and magnets 76e and 76f are magnetized in different directions.

図3(b)において、磁石62e、磁石62f、磁石76e、および磁石76fに示されたSおよびNは着磁方向を表している。つまり、隣接する磁石62eおよび磁石62fの着磁方向は互いに異なり、同様に、隣接する磁石76eおよび磁石76fの着磁方向は互いに異なる。 In FIG. 3(b), S and N shown in magnets 62e, 62f, 76e, and 76f represent magnetization directions. That is, the magnetization directions of the adjacent magnets 62e and 62f are different from each other, and similarly, the magnetization directions of the adjacent magnets 76e and 76f are different from each other.

互いに対向する位置に配置される磁石である磁石62aおよび76a、磁石62bおよび76b、磁石62cおよび76c、磁石62dおよび76d、磁石62eおよび76e、および磁石62fおよび76fは互いに同一の向きに着磁される。 Magnets 62a and 76a, magnets 62b and 76b, magnets 62c and 76c, magnets 62d and 76d, magnets 62e and 76e, and magnets 62f and 76f, which are magnets arranged at positions facing each other, are magnetized in the same direction. be.

図3(b)において、対向する位置に配置される磁石62eおよび磁石76eの着磁方向は同一の向きであり、同様に、対向する位置に配置される磁石62fおよび磁石76fの着磁方向が同一の向きである。 In FIG. 3(b), the magnetization directions of the magnets 62e and 76e, which are arranged to face each other, are the same. are in the same direction.

このように磁石の着磁方向を規定することによって、上面ヨーク61と下面ヨーク75との間において光軸4の方向に強い磁束密度が生じる。 By defining the magnetization direction of the magnet in this way, a strong magnetic flux density is generated in the direction of the optical axis 4 between the upper yoke 61 and the lower yoke 75 .

上面ヨーク61と下面ヨーク75との間には、メインスペーサ73a~73cとサブスペーサ74aおよび74bが配置され、上面ヨーク61と下面ヨーク75とを所定の間隔に保っている。上面ヨーク61と下面ヨーク75との間には隙間をおいて可動部50が配置されている。メインスペーサ73a~73cの各々においてその円筒側面部にはゴムが設けられており、これによって、可動部50の機械的端部(所謂ストッパー)が形成される。 Main spacers 73a to 73c and sub-spacers 74a and 74b are arranged between the upper yoke 61 and the lower yoke 75 to keep the upper yoke 61 and the lower yoke 75 at a predetermined distance. A movable portion 50 is arranged with a gap between the upper yoke 61 and the lower yoke 75 . Each of the main spacers 73a to 73c is provided with rubber on its cylindrical side surface, thereby forming a mechanical end of the movable part 50 (so-called stopper).

ベース板71には、磁石76a~76fをよけるようにして穴が形成されており、この穴からは磁石の面が突出する。そして、ビス(図示せず)によって、ベース板71と下面ヨーク75とが固定され、ベース板71よりも厚み方向の寸法が大きい磁石76a~76fがベース板71から突出するようにして固定される。 Holes are formed in the base plate 71 so as to avoid the magnets 76a to 76f, and the faces of the magnets protrude from these holes. The base plate 71 and the lower yoke 75 are fixed with screws (not shown), and the magnets 76a to 76f, which are larger than the base plate 71 in the thickness direction, are fixed so as to protrude from the base plate 71. .

可動枠51に前述の各要素が固定されて可動部50が構成される。可動枠51は非磁性のアルミダイキャストで形成されており、可動枠51には、撮像素子6およびFPC55が搭載されている。さらに、実装部材であるFPC55の下面固定部70側(Z軸負の方向)の面にはコイル53a~53cが実装されており、FPC55からコイル53a~53cの駆動に要する電力が供給される。 The movable part 50 is configured by fixing the above elements to the movable frame 51 . The movable frame 51 is made of non-magnetic aluminum die-cast, and the imaging element 6 and the FPC 55 are mounted on the movable frame 51 . Furthermore, coils 53a to 53c are mounted on the surface of the FPC 55, which is a mounting member, on the side of the bottom fixing portion 70 (in the negative direction of the Z axis), and the FPC 55 supplies electric power required to drive the coils 53a to 53c.

なお、FPC55はコネクタ(図示せず)を介して外部に接続される。可動枠51は、コイル53a~53cの外周で規定される面に対向する面を少なくともその一部に有する厚みを有している。ここでは、可動枠51はコイル53a~53cの外周で規定される面全体に対向する程度の厚みを有している。 The FPC 55 is connected to the outside through a connector (not shown). The movable frame 51 has a thickness such that at least a portion of the movable frame 51 has a surface facing a surface defined by the outer circumferences of the coils 53a to 53c. Here, the movable frame 51 has such a thickness as to face the entire surface defined by the outer peripheries of the coils 53a to 53c.

図4は、図2に示す可動部を下面固定部の側からみた図である。 FIG. 4 is a view of the movable portion shown in FIG. 2 as viewed from the side of the lower fixing portion.

半田付け部(接続部)56aおよび56dはコイル53aとFPC55とを接続する接続部である。同様に、半田付け部56bおよび56eはコイル53bとFPC55とを接続する接続部であり、半田付け部56cおよび56fはコイル53cとFPC55とを接続する接続部である。なお、図示の例では、撮像素子6の位置が破線で示されている。 Soldering portions (connecting portions) 56 a and 56 d are connecting portions for connecting the coil 53 a and the FPC 55 . Similarly, the soldering portions 56b and 56e are connecting portions connecting the coil 53b and the FPC 55, and the soldering portions 56c and 56f are connecting portions connecting the coil 53c and the FPC 55. FIG. In addition, in the illustrated example, the position of the imaging device 6 is indicated by a dashed line.

コイル53a~53cの各々には巻始めおよび巻き終わりの端子があり、作業の都合上、巻き線の配線端はその一端が中空部側、他方がコイル外周の外側に位置する。図示の例では、コイル53a~53cの小型化を図るため、コイル53a~53cの中空部におけるスペースが限られている。このため、FPC55とコイル53a~53cの各々の一端とを接続する半田付け部56a~56cをコイル53a~53cの外周外側に配置する。さらに、半田付け部は56d~56fによって中空部側(内周内側)に位置するFPC55とコイル53a~53cの各々の他端が接続される。 Each of the coils 53a to 53c has a winding start terminal and a winding end terminal, and for convenience of work, one end of the wiring end of the winding is positioned on the hollow portion side and the other is positioned on the outside of the outer periphery of the coil. In the illustrated example, the space in the hollow portions of the coils 53a to 53c is limited in order to reduce the size of the coils 53a to 53c. Therefore, soldering portions 56a to 56c connecting the FPC 55 and one end of each of the coils 53a to 53c are arranged outside the outer periphery of the coils 53a to 53c. Furthermore, the other ends of the coils 53a to 53c are connected to the FPC 55 located on the hollow side (inside the inner periphery) by means of 56d to 56f.

可動枠51とコイル53a~53cとの間と間には隙間が規定されている。これら隙間に加えて、コイル53a~53cに隣接して半田付け部56a~56cを設けるための可動枠凹部(隙間部)57a~57cが可動枠51に形成されている。これら可動枠凹部57a~57cはコイル53a~53cにおいて撮像素子6に最も近い外周の辺よりも遠くに配置される。より好ましくは、可動枠凹部57a~57cを、コイル53a~53cの中空部の中心よりも遠くに配置することが望ましい。 Gaps are defined between the movable frame 51 and the coils 53a to 53c. In addition to these gaps, movable frame recesses (clearances) 57a to 57c are formed in the movable frame 51 for providing soldering portions 56a to 56c adjacent to the coils 53a to 53c. These movable frame concave portions 57a to 57c are arranged farther than the outer peripheral side closest to the imaging device 6 in the coils 53a to 53c. More preferably, the movable frame recesses 57a-57c are arranged farther than the centers of the hollow portions of the coils 53a-53c.

ここで、コイル53a~53cの中空部の中心よりも可動枠凹部57a~57cを、撮像素子6から遠くに配置することについてコイル53aを例に挙げて説明する。 Arranging the movable frame concave portions 57a to 57c farther from the imaging element 6 than the centers of the hollow portions of the coils 53a to 53c will be described by taking the coil 53a as an example.

まず、コイル53aに最も近い撮像素子6の一部とコイル53aの巻軸中心とを結ぶ直線96に直交し、かつコイル53aの巻軸に直交して巻軸を通る直線97を引く。そして、直線97を光軸側から投影して、コイル53aを2つの領域に分ける。この場合、撮像素子6と反対側の領域に可動枠凹部57aが配置されたことになる。 First, a straight line 97 is drawn that is orthogonal to a straight line 96 that connects the part of the imaging device 6 closest to the coil 53a and the center of the winding axis of the coil 53a and that passes through the winding axis of the coil 53a. Then, the straight line 97 is projected from the optical axis side to divide the coil 53a into two regions. In this case, the movable frame concave portion 57a is arranged in the region opposite to the imaging element 6. FIG.

より好ましくは、コイル53aの外周よりも撮像素子6から遠くに配置することが望ましい。図4に示すように、撮像素子6から見てコイル53aの外周よりも遠くに可動枠凹部57aが位置する。可動枠凹部57aに半田付け部56aを設けるために、撮像素子6から見て半田付け部56aもコイル53aより撮像素子6から遠くに位置している。以上、ここまでコイル53aを例に可動枠凹部57a、半田付け部56aについて説明したが、コイル53b、53cについても同様な考えのもと撮像素子6から遠くに可動枠凹部57b、57cと半田付け部56b、56cを配置する。なお、可動枠凹部57aの位置と磁場との影響については後述する。 More preferably, it should be arranged farther from the imaging device 6 than the outer periphery of the coil 53a. As shown in FIG. 4, the movable frame concave portion 57a is positioned farther than the outer periphery of the coil 53a when viewed from the imaging element 6. As shown in FIG. In order to provide the soldering portion 56a in the movable frame concave portion 57a, the soldering portion 56a is also positioned farther from the imaging device 6 than the coil 53a when viewed from the imaging device 6. FIG. So far, the movable frame concave portion 57a and the soldering portion 56a have been described with the coil 53a as an example. Parts 56b and 56c are arranged. The influence of the position of the movable frame concave portion 57a and the magnetic field will be described later.

コイル53a~53cは中空部の軸方向が光軸4と略平行になっており、さらに、撮像素子6と略同一平面に配置されている。さらに、コイル53a~53cの中空部には磁気センサ54a~54cが実装されている。 The axial direction of the hollow portion of the coils 53a to 53c is substantially parallel to the optical axis 4, and the coils 53a to 53c are arranged substantially on the same plane as the imaging device 6. FIG. Furthermore, magnetic sensors 54a-54c are mounted in the hollow portions of the coils 53a-53c.

例えば、図3(b)に示す例では、コイル53cの中空部に磁気センサ54cが配置された例が示されている。磁気センサ54a~54cは前述の磁気回路を用いて可動部50が光軸4に対して略直交する方向に移動した際の位置を検出する。磁気センサ54a~54cとして、例えば、ホール素子が用いられる。磁気センサ54a~54cもFPC55に実装され、コネクタ(図示せず)を介して外部と接続される。 For example, the example shown in FIG. 3B shows an example in which the magnetic sensor 54c is arranged in the hollow portion of the coil 53c. The magnetic sensors 54a to 54c detect the position when the movable part 50 moves in a direction substantially orthogonal to the optical axis 4 using the magnetic circuit described above. Hall elements, for example, are used as the magnetic sensors 54a to 54c. The magnetic sensors 54a to 54c are also mounted on the FPC 55 and connected to the outside through connectors (not shown).

コイル53a~53cに電流を流すと(電流を印加すると)、フレミングの左手の法則に応じた力が発生して可動部50が移動する。そして、磁気センサ54a~54cによる検知結果を用いてフィードバック制御が行われる。つまり、磁気センサ54a~54cによる検知結果を用いてコイル53a~53cに流す電流を制御すれば、光軸4に直交する方向において併進方向および略光軸4と平行な軸に回りの回転方向に可動部50を駆動することができる。 When the coils 53a to 53c are energized (applied), a force according to Fleming's left-hand rule is generated and the movable part 50 is moved. Feedback control is performed using the detection results of the magnetic sensors 54a to 54c. In other words, if the currents flowing through the coils 53a to 53c are controlled using the results of detection by the magnetic sensors 54a to 54c, the currents flowing through the coils 53a to 53c are controlled in the translational direction in the direction perpendicular to the optical axis 4 and in the rotational direction around the axis substantially parallel to the optical axis 4. The movable part 50 can be driven.

例えば、コイル53cの電流を制御することによって、可動部50はX軸に平行な方向に併進移動する。また、コイル53aおよび53bの電流を制御することによって、可動部50をY軸に平行な方向に併進移動又は光軸4と平行な軸の回りに回転移動させることができる。 For example, by controlling the current in the coil 53c, the movable part 50 translates in the direction parallel to the X-axis. Further, by controlling the currents of the coils 53a and 53b, the movable portion 50 can be translated in a direction parallel to the Y-axis or rotated around an axis parallel to the optical axis 4. FIG.

カメラシステム制御部5は、コイル53a~53cに電流を流す際、駆動電圧を制御するために駆動電圧においてパルス幅のデューティ比を制御する所謂PWM制御を行う。PWM制御においては、高周波の交流信号のデューティ比を制御して電圧を制御することになる。この際には、コイル53a~53cにはPWM制御に応じた駆動電圧による低周波の直流電流とともに、PWM制御の駆動周波数に応じた振幅の小さい高周波の交流電流が重畳して流れることとなる。 The camera system control unit 5 performs so-called PWM control for controlling the duty ratio of the pulse width in the drive voltage in order to control the drive voltage when currents flow through the coils 53a to 53c. In PWM control, the voltage is controlled by controlling the duty ratio of the high-frequency AC signal. At this time, the coils 53a to 53c are superimposed with a low-frequency DC current generated by a drive voltage corresponding to PWM control and a high-frequency AC current having a small amplitude corresponding to the drive frequency of PWM control.

このように、コイル53a~53cに電流を流すことによって、コイル53a~53cによって磁場が形成される。そして、当該磁場によって撮像素子6の出力である画像信号に磁気ノイズが生じる。特に、PWM制御の駆動周波数に応じた高周波の電流の変化によって発生する磁場が撮像素子6の出力である画像信号に影響を与える。 Thus, a magnetic field is formed by the coils 53a to 53c by applying current to the coils 53a to 53c. Magnetic noise is generated in the image signal output from the imaging element 6 by the magnetic field. In particular, the magnetic field generated by the change in the high-frequency current corresponding to the driving frequency of PWM control affects the image signal output from the imaging device 6 .

図3(b)に示すように、可動枠51に配置された撮像素子6はベースとなる基材部6a、受光部を含むチップ部6b、ガラス部6c、および基材部6aのもつ配線層が接続される基板6dを有している。チップ部6bはシリコン層を有し、受光部は撮影光学系3を介して光を集光し光電変換を行う。そして、チップ部6bの内部には受光部の出力信号を受ける回路部が配置されている。なお、この回路部はチップ部6b、基材部6a、基板6dにまたがって構成されている。また、この回路部は受光部の出力信号の転送回路、増幅回路、デジタル信号への変換回路、前述の各動作に必要な電源、基準電圧配線などが含まれる。 As shown in FIG. 3B, the imaging element 6 arranged on the movable frame 51 includes a substrate portion 6a serving as a base, a chip portion 6b including a light receiving portion, a glass portion 6c, and wiring layers of the substrate portion 6a. has a substrate 6d to which is connected. The chip portion 6b has a silicon layer, and the light receiving portion collects light through the imaging optical system 3 and performs photoelectric conversion. A circuit portion for receiving an output signal from the light receiving portion is arranged inside the chip portion 6b. The circuit section is constructed across the chip section 6b, the base material section 6a, and the substrate 6d. Also, this circuit section includes a transfer circuit for the output signal of the light receiving section, an amplifier circuit, a conversion circuit to a digital signal, a power source necessary for each operation described above, reference voltage wiring, and the like.

チップ部6bに備えられたランド部はワイヤーボンディング(図示せず)によって基材部6aに備えられた配線層に接続されており、さらに、配線層は基板6dに接続されている。そして、コイル53cが配置される平面と略同一の平面に撮像素子6が配置される。このように、コイル53a~53cと撮像素子6とを配置することによってブレ補正部14を薄型化することができる。なお、図3(b)で説明した撮像素子6は上記の構成に限らず、受光した光を出力信号として回路部に出力できる構成であればよい。したがって、例えば基材部6aを持たず、チップ部6bが直接基板6dにワイヤーボンディング等で接続される構成などであってもよい。 The land portion provided on the chip portion 6b is connected to a wiring layer provided on the substrate portion 6a by wire bonding (not shown), and the wiring layer is further connected to the substrate 6d. The imaging element 6 is arranged on substantially the same plane as the plane on which the coil 53c is arranged. By arranging the coils 53a to 53c and the imaging element 6 in this manner, the vibration correction section 14 can be made thinner. Note that the imaging element 6 described in FIG. 3B is not limited to the configuration described above, and may have any configuration as long as it can output the received light as an output signal to the circuit section. Therefore, for example, the chip portion 6b may be directly connected to the substrate 6d by wire bonding or the like without having the base portion 6a.

一方、撮像素子6およびコイル53a~53cを可動部50に配置して、さらに略同一平面上に位置づけると、次の問題が生じる。 On the other hand, if the imaging device 6 and the coils 53a to 53c are arranged on the movable part 50 and positioned substantially on the same plane, the following problem arises.

可動枠51による磁界打消し効果が著しく低くなる可動枠凹部57a~57cが撮像素子6に近接して配置されると、可動枠凹部57a~57cを通って磁場が撮像素子6のチップ部6bに到達する。この結果、磁気ノイズとして撮像素子6で得られる画像に悪影響を与える。 When the movable frame concave portions 57a to 57c, in which the effect of canceling the magnetic field by the movable frame 51 is remarkably reduced, are arranged close to the imaging element 6, the magnetic field passes through the movable frame concave portions 57a to 57c to the tip portion 6b of the imaging element 6. reach. As a result, the image obtained by the imaging device 6 is adversely affected as magnetic noise.

例えば、撮影レンズ2にコイルを有するブレ補正部を備えて、撮影レンズに備えられた防振レンズを光軸に直交する方向に駆動してブレ補正を行う手法がある。この場合には、コイルから撮像素子までの距離が長いので、撮像素子に与える磁場の影響は少ない。 For example, there is a method in which the photographing lens 2 is provided with a vibration correcting section having a coil, and a vibration reduction lens provided in the photographing lens is driven in a direction perpendicular to the optical axis to correct blur. In this case, since the distance from the coil to the imaging element is long, the influence of the magnetic field on the imaging element is small.

一方、前述のようにブレ補正部14によって撮像素子6を移動させる場合には、可動枠51の形状によってはコイル53a~53cの磁場が撮像素子6に影響を与えることが多く、磁気ノイズによる悪影響が増大する。 On the other hand, when the image pickup device 6 is moved by the blur correction unit 14 as described above, the magnetic fields of the coils 53a to 53c often affect the image pickup device 6 depending on the shape of the movable frame 51, and magnetic noise adversely affects the image pickup device 6. increases.

そこで、第1の実施形態においては、前述のように可動枠凹部57a~57cを形成して、ブレ補正部14の薄型化を図りつつ、撮像素子6に対するコイル53a~53cの磁場の影響を低減する。 Therefore, in the first embodiment, the movable frame concave portions 57a to 57c are formed as described above to reduce the influence of the magnetic field of the coils 53a to 53c on the imaging device 6 while reducing the thickness of the blur correction unit 14. do.

図5は、図4に示す可動部の要部を拡大して、コイルに流れる電流と可動枠から打消し磁界を発生させる打消し電流とを模式的に示す図である。 FIG. 5 is an enlarged view of the main portion of the movable portion shown in FIG. 4 and schematically shows a current flowing through the coil and a canceling current for generating a canceling magnetic field from the movable frame.

図5において、破線矢印101および102は、撮像素子6を駆動する際にコイル53cに流れる電流を示す。また、破線矢印103および104は可動枠51に流れる打消し電流を示す。コイル53cに破線矢印101および102で示す電流が流れると、コイル53cに磁場が発生する。 In FIG. 5, dashed arrows 101 and 102 indicate the current flowing through the coil 53c when the imaging element 6 is driven. Dashed arrows 103 and 104 indicate canceling currents flowing through the movable frame 51 . When currents indicated by dashed arrows 101 and 102 flow through coil 53c, a magnetic field is generated in coil 53c.

可動枠51はコイル53cを囲うようにして近接配置されている。よって、可動枠51にコイル53cの磁場が結合して、破線矢印103および104で示すように、破線矢印101および102で示す電流とは逆方向の電流が可動枠51に流れる。可動枠51にはコイル53cに流れる電流と逆方向に電流が流れるので、可動枠51からコイル53cの磁場を打ち消す方向に磁場が発生する。 The movable frame 51 is arranged close to the coil 53c so as to surround it. Therefore, the magnetic field of the coil 53 c is coupled to the movable frame 51 , and currents flow in the movable frame 51 as indicated by broken line arrows 103 and 104 in directions opposite to those indicated by broken line arrows 101 and 102 . Since a current flows through the movable frame 51 in the opposite direction to the current flowing through the coil 53c, a magnetic field is generated from the movable frame 51 in a direction that cancels the magnetic field of the coil 53c.

この際、破線矢印101および103で示す電流経路の間隔に比べて、破線矢印104で示す電流経路は、可動枠凹部57cの存在によって破線矢印102で示す電流経路から離れている。従って、破線矢印101および103で示す電流に比べて、破線矢印102および104で示す電流の結合が弱くなって、局所的に磁界打消し効果が低い部位が存在する。可動枠51において、局所的に打消し効果が低い部位ではコイル53cの磁場が多くなる。 At this time, compared to the distance between the current paths indicated by dashed arrows 101 and 103, the current path indicated by dashed arrow 104 is separated from the current path indicated by dashed arrow 102 due to the presence of movable frame concave portion 57c. Therefore, the coupling between the currents indicated by dashed arrows 102 and 104 is weaker than that of the currents indicated by dashed arrows 101 and 103, and there are localized portions where the magnetic field cancellation effect is low. In the movable frame 51, the magnetic field of the coil 53c increases at a portion where the canceling effect is locally low.

なお、図5においては、コイル53cの一方向に電流が流れた場合について説明したが、実際の駆動ではPWM制御を用いているため、交流成分が含まれており逆方向の電流変化もある。これによって、図5に示す破線矢印101~104とは逆の経路を辿る電流が存在するが、可動枠凹部57cによる効果は同様に得られる。 In FIG. 5, the case where the current flows in one direction in the coil 53c has been described, but since PWM control is used in actual driving, an AC component is included and the current may change in the opposite direction. As a result, although there is a current that follows a path opposite to that of the dashed arrows 101 to 104 shown in FIG.

図6は、図3に示す断面図において要部を拡大してコイルの磁場を模式的に示す図である。 FIG. 6 is a diagram schematically showing the magnetic field of the coil by enlarging the main part in the cross-sectional view shown in FIG.

図6において、実線矢印81、破線矢印82a~82e、および実線矢印83a~83eはコイル53cで発生した磁場を示す。なお、コイル53cで発生する磁場は、図6に示す磁場よりも密に発生しているが、撮像素子6に対する影響を説明するため、ここでは代表的な磁場を模式的に示す。 In FIG. 6, a solid line arrow 81, broken line arrows 82a to 82e, and solid line arrows 83a to 83e indicate magnetic fields generated by the coil 53c. Note that the magnetic field generated by the coil 53c is more densely generated than the magnetic field shown in FIG.

コイル53cの中空部の上面側で発生した磁場は実線矢印81で示すように発生し、破線矢印82a~82eおよび実線矢印83a~83eで示すように分岐および合流して、コイル53cの中空部の下面側に達する。前述のように、可動枠51は導電性の高いアルミダイキャストで成形されて所定の厚みを有し、コイル53cの外径側面に対向する面を備えている。 The magnetic field generated on the upper surface side of the hollow portion of the coil 53c is generated as indicated by the solid-line arrow 81, branches and merges as indicated by the dashed-line arrows 82a to 82e and the solid-line arrows 83a to 83e, and forms the magnetic field of the hollow portion of the coil 53c. reach the underside. As described above, the movable frame 51 is made of highly conductive aluminum die-cast, has a predetermined thickness, and has a surface facing the outer diameter side surface of the coil 53c.

従って、可動枠51はコイル53cで発生する磁場の空間への放射を抑制する。さらに、表皮効果によって磁場は可動枠51をほとんど通過せずに、破線矢印82a、82b、および82c、実線矢印83a、83b、および83cで示すように可動枠51を避けて進む。 Therefore, the movable frame 51 suppresses radiation of the magnetic field generated by the coil 53c into space. Furthermore, due to the skin effect, the magnetic field hardly passes through the movable frame 51 and avoids the movable frame 51 as indicated by dashed line arrows 82a, 82b and 82c and solid line arrows 83a, 83b and 83c.

破線矢印82dはコイル53cよりも撮像素子6の近くに位置しコイル53cの外径と可動枠51との隙間91を通過する磁場を示す。実線矢印83dは可動枠凹部57cを通過する磁場を示す。破線矢印82aおよび82bで示す磁場は実線矢印81で示す磁場から分岐して、隙間91で合流して破線矢印82dで示す磁場となる。 A dashed arrow 82 d indicates a magnetic field that is positioned closer to the imaging element 6 than the coil 53 c and passes through the gap 91 between the outer diameter of the coil 53 c and the movable frame 51 . A solid arrow 83d indicates the magnetic field passing through the movable frame recess 57c. The magnetic fields indicated by broken-line arrows 82a and 82b branch from the magnetic field indicated by solid-line arrow 81 and merge at gap 91 to form a magnetic field indicated by broken-line arrow 82d.

このうち破線矢印82bで示す磁場のように、撮像素子6のチップ部6bに到達する磁場が強いと撮像素子6に磁気ノイズの影響が生じる。また、破線矢印82cで示す磁場のように、破線矢印82bで示す磁場から分岐して可動枠51を迂回しつつ撮像素子6のチップ部6bに到達する磁場が強いと、同様に撮像素子6に磁気ノイズの影響が生じる。 If the magnetic field reaching the chip portion 6b of the imaging device 6 is strong, such as the magnetic field indicated by the dashed arrow 82b, the imaging device 6 is affected by magnetic noise. Also, if the magnetic field branched from the magnetic field indicated by the dashed arrow 82b and detouring the movable frame 51 and reaching the tip portion 6b of the imaging device 6 is strong, as in the magnetic field indicated by the dashed arrow 82c, the imaging device 6 is similarly affected. The effect of magnetic noise occurs.

図6に示すように、半田付け部56cが設けられているので、可動枠凹部57cは隙間91に比べ広くなる。これによって、可動枠51のおける磁界打消し効果は可動枠凹部57cが位置する部位(箇所)で低くなる。よって、破線矢印82a~82eで示す磁場に比べて実線矢印83a~83eで示す磁場の方が強くなる。 As shown in FIG. 6, since the soldering portion 56c is provided, the movable frame concave portion 57c is wider than the gap 91. As shown in FIG. As a result, the magnetic field canceling effect of the movable frame 51 is reduced at the portion (place) where the movable frame concave portion 57c is located. Therefore, the magnetic fields indicated by solid line arrows 83a to 83e are stronger than the magnetic fields indicated by broken line arrows 82a to 82e.

図示の例では、可動枠凹部57cを、コイル53cの外周よりも撮像素子6から遠ざけて配置する。よって、可動枠凹部57cの存在によって増加する磁場の撮像素子6に対する影響を低減することができる。 In the illustrated example, the movable frame concave portion 57c is arranged farther from the imaging element 6 than the outer circumference of the coil 53c. Therefore, it is possible to reduce the influence on the imaging device 6 of the magnetic field that increases due to the presence of the movable frame concave portion 57c.

なお、図6においては、コイル53cの一方向に電流が流れた場合の磁場の発生について説明したが、実際の駆動ではPWM制御を用いており、交流成分が含まれるので逆方向の電流の変化がある。これによって、磁場は逆方向のベクトルとして発生し、実線矢印81、破線矢印82a~82e、および実線矢印83a~83eで示す磁場とは逆の経路を辿ることになって、可動枠凹部57cの配置による効果を同様に得ることができる。 In FIG. 6, the generation of the magnetic field when the current flows in one direction in the coil 53c has been described, but in actual driving, PWM control is used, and since an AC component is included, the change in the current in the opposite direction There is As a result, the magnetic field is generated as a vector in the opposite direction, and follows paths opposite to the magnetic fields indicated by the solid line arrow 81, the broken line arrows 82a to 82e, and the solid line arrows 83a to 83e. effect can be similarly obtained.

なお、ここでは、コイル53cで発生する磁場と可動枠凹部57cとの関係について説明したが、コイル53aおよび53bと可動枠凹部57aおよび57bとにおいても同様の効果が得られ、撮像素子6に達する磁場を低減することができる。 Although the relationship between the magnetic field generated by the coil 53c and the movable frame recess 57c has been described here, the coils 53a and 53b and the movable frame recesses 57a and 57b also have the same effect, and reach the imaging element 6. Magnetic fields can be reduced.

このようにして、可動枠凹部57a~57cをコイル53a~53cの外周よりも、撮像素子6から遠ざけて配置することによって、ブレ補正部14を小型化して撮像素子6に対する磁場の影響を低減することができる。 In this way, by arranging the movable frame concave portions 57a to 57c farther from the imaging element 6 than the outer circumferences of the coils 53a to 53c, the blur correction section 14 is made smaller and the influence of the magnetic field on the imaging element 6 is reduced. be able to.

上述の例では、可動枠凹部57a~57cをコイル53a~53cの外周よりも撮像素子6から遠ざけて配置するようにした。一方、可動枠凹部57a~57cを、少なくともコイル53a~53cの外周で撮像素子6に対向する最も近い辺よりも撮像素子6から遠ざけて配置すれば磁場を低減する効果を得ることができる。なお、コイル53aの外周で撮像素子6に対向する最も近い辺とは、例えば、図4に示す破線98で示す辺である。 In the above example, the movable frame concave portions 57a to 57c are arranged farther from the imaging element 6 than the outer circumferences of the coils 53a to 53c. On the other hand, if the movable frame concave portions 57a to 57c are arranged farther from the imaging device 6 than the closest side facing the imaging device 6 at least on the outer periphery of the coils 53a to 53c, the effect of reducing the magnetic field can be obtained. The closest side facing the imaging device 6 on the outer circumference of the coil 53a is, for example, the side indicated by the dashed line 98 shown in FIG.

より好ましくは、可動枠凹部57a~57cは、コイル53a~53cの中空部の中心よりも撮像素子6から遠ざけて配置することが望ましい。このような構成によって、可動枠凹部57a~57cを通過する大部分の磁場がコイル53a~53cの中空部中心よりも撮像素子6からより離れた磁路を形成する。よって、撮像素子6に到達する磁場をより低減することができる。 More preferably, the movable frame concave portions 57a to 57c are preferably arranged farther from the imaging element 6 than the centers of the hollow portions of the coils 53a to 53c. With such a configuration, most of the magnetic field passing through the movable frame concave portions 57a to 57c forms a magnetic path farther from the imaging device 6 than the center of the hollow portion of the coils 53a to 53c. Therefore, the magnetic field reaching the imaging device 6 can be further reduced.

さらに、上述の例では、可動枠凹部57a~57cをコイル53a~53cの外径よりも撮像素子6から離れて配置した。これによって、可動枠凹部57a~57cによる磁場が互いに隣接するコイルの中空部に配置した磁気センサなど電子部品に影響することを低減することができる。なお、互いに隣接して配置したコイルとは、例えば、コイル53aおよび53bをいう。 Furthermore, in the above example, the movable frame concave portions 57a to 57c are arranged farther from the imaging device 6 than the outer diameters of the coils 53a to 53c. As a result, it is possible to reduce the influence of the magnetic field generated by the movable frame concave portions 57a to 57c on electronic components such as magnetic sensors arranged in the hollow portions of adjacent coils. The coils arranged adjacent to each other refer to the coils 53a and 53b, for example.

また、上述の例では、可動枠51によってコイル53a~53cの磁場を低減しつつ、可動枠凹部57a~57cの存在で増加した磁場が撮像素子6に影響することを低減できる。可動枠51による磁場低減効果を保って、可動枠凹部57a~57cによる磁場の影響を低減するためには、コイル53a~53cおよび可動枠51が隣接する隙間の間隔を次のように規定することが望ましい。 Further, in the above example, the magnetic field of the coils 53a to 53c can be reduced by the movable frame 51, and the influence of the magnetic field increased due to the presence of the movable frame concave portions 57a to 57c on the imaging element 6 can be reduced. In order to maintain the effect of reducing the magnetic field by the movable frame 51 and reduce the influence of the magnetic field by the concave portions 57a to 57c of the movable frame, the gap between the adjacent coils 53a to 53c and the movable frame 51 should be defined as follows. is desirable.

例えば、コイル53a~53cおよび可動枠51が隣接する隙間の間隔を可動枠凹部57a~57cにおいてコイル53a~53cおよび可動枠51による隙間の長さよりも短くする。具体的には、コイル53a~53cの製造ばらつきを考慮しつつ、可動枠51による磁界打消し効果を高めるため、可動枠51およびコイル53a~53cの隙間を1mm以下とすることが好ましい。 For example, the gaps between the coils 53a to 53c and the movable frame 51 are made shorter than the gaps between the coils 53a to 53c and the movable frame 51 in the movable frame concave portions 57a to 57c. Specifically, in order to increase the effect of canceling the magnetic field by the movable frame 51 while considering manufacturing variations of the coils 53a to 53c, it is preferable to set the gap between the movable frame 51 and the coils 53a to 53c to 1 mm or less.

この際、可動枠凹部57a~57cの大きさは半田付け部56a~56cと可動枠51の接触を防止するため、少なくともコイル53a~53cの外周から2mm以上あることが好ましい。 At this time, the size of the movable frame recesses 57a to 57c is preferably at least 2 mm or more from the outer circumference of the coils 53a to 53c in order to prevent contact between the soldering portions 56a to 56c and the movable frame 51.

これによって、コイル53a~53cから発生する磁場を可動枠51による磁場打消し効果によってさらに低減することができる。 As a result, the magnetic fields generated by the coils 53a to 53c can be further reduced by the magnetic field canceling effect of the movable frame 51. FIG.

なお、上述の例では、可動枠凹部57a~57cの配置について説明したが、可動枠凹部57a~57cの全てに適用する必要はなく、撮像素子6と特に距離が近い可動枠凹部など少なくとも一つに適用するようにしてもよい。 In the above example, the arrangement of the movable frame recesses 57a to 57c has been described, but it is not necessary to apply to all of the movable frame recesses 57a to 57c. may be applied to

このように、本発明の第1の実施形態では、ブレ補正部を小型化して、かつ撮像素子に対する磁場の影響を低減することができる。 As described above, in the first embodiment of the present invention, it is possible to reduce the size of the blur correction unit and reduce the influence of the magnetic field on the imaging device.

[第2の実施形態]
続いて、本発明の第2の実施形態によるブレ補正装置を備えるカメラについて説明する。なお、第2の実施形態によるカメラの構成は図1に示すカメラと同様であり、ブレ補正装置についても図2および図3で説明したブレ補正装置と基本的に同様である。
[Second embodiment]
Next, a camera equipped with a blur correction device according to a second embodiment of the present invention will be described. The configuration of the camera according to the second embodiment is the same as that of the camera shown in FIG. 1, and the blur correction device is also basically the same as the blur correction device described with reference to FIGS.

第2の実施形態では、後述するように、FPC55に設けられた配線パターン55a~55fが半田付け部56a~56fに接続される。なお、半田付け部56a~56cはコイル53a~53cの外周外側に設けられた可動枠凹部57a~57cに配置される。また、半田付け部56d~56fはコイル53a~53cの中空部に配置される。 In the second embodiment, wiring patterns 55a to 55f provided on the FPC 55 are connected to soldering portions 56a to 56f, as will be described later. The soldering portions 56a to 56c are arranged in movable frame concave portions 57a to 57c provided outside the outer peripheries of the coils 53a to 53c. Also, the soldering portions 56d to 56f are arranged in the hollow portions of the coils 53a to 53c.

図7は、本発明の第2の実施形態で用いられるブレ補正装置(ブレ補正部)においてFPC、配線パターン、および半田付け部を示す図である。そして、図7(a)は1つの半田付け部に対して他の半田付け部をコイルの中心点よりも近くに配置した例を示す図である。また、図7(b)は1つの半田付け部に対して他の半田付け部をコイルの中心点a2よりも遠くに配置した例を示す図である。なお、図7においては、コイル53a~53cの位置が破線で示されている。 FIG. 7 is a diagram showing an FPC, wiring patterns, and a soldering portion in a blur correction device (blur correction section) used in the second embodiment of the present invention. FIG. 7A is a diagram showing an example in which another soldering portion is arranged closer to one soldering portion than the center point of the coil. FIG. 7(b) is a diagram showing an example in which another soldering portion is arranged farther than the center point a2 of the coil with respect to one soldering portion. In FIG. 7, the positions of the coils 53a to 53c are indicated by dashed lines.

図7(a)では、半田付け部56aに対して半田付け部56dがコイル53aの中心点a1よりも近くに配置されている。さらに、半田付け部56bに対して半田付け部56eがコイル53bの中心点b1よりも近くに配置され、半田付け部56cに対して半田付け部56fがコイル53cの中心点c1よりも近くに配置されている。 In FIG. 7A, the soldering portion 56d is arranged closer to the soldering portion 56a than the center point a1 of the coil 53a. Further, the soldering portion 56e is arranged closer to the soldering portion 56b than the center point b1 of the coil 53b, and the soldering portion 56f is arranged closer to the soldering portion 56c than the center point c1 of the coil 53c. It is

図7(b)では、半田付け部56aに対して半田付け部56dがコイル53aの中心点a2よりも遠くに配置されている。さらに、半田付け部56bに対して半田付け部56eがコイル53bの中心点b2よりも遠くに配置され、半田付け部56cに対して半田付け部56fがコイル53cの中心点c2よりも遠くに配置されている。 In FIG. 7B, the soldering portion 56d is arranged farther than the center point a2 of the coil 53a with respect to the soldering portion 56a. Further, the soldering portion 56e is arranged farther than the center point b2 of the coil 53b with respect to the soldering portion 56b, and the soldering portion 56f is arranged farther than the center point c2 of the coil 53c with respect to the soldering portion 56c. It is

図7(a)に示すように、コイル53a~53cに電流を流す際、一方の半田付け部から他方の半田付け部に電流が流れる。よって、コイル53aから、半田付け部56aおよび56dに接続された配線パターン55aおよび55dに流れる電流の向きは逆方向となる。これによって配線パターン55aおよび55dから発生した磁場は逆向きとなって、互いに磁場を打ち消すことになる。 As shown in FIG. 7(a), when current flows through the coils 53a to 53c, the current flows from one soldered portion to the other soldered portion. Therefore, the directions of currents flowing from the coil 53a to the wiring patterns 55a and 55d connected to the soldering portions 56a and 56d are opposite to each other. As a result, the magnetic fields generated by the wiring patterns 55a and 55d are directed in opposite directions and cancel each other.

第2の実施形態では、半田付け部56aに対して半田付け部56dがコイル53aの中心点a1よりも近くに配置されている。この結果、配線パターン55aおよび55dを互いに近接して配置することができる。よって、配線パターン55aおよび55dで発生し撮像素子6のチップ部6bに達する磁場を低減することができる。 In the second embodiment, the soldering portion 56d is arranged closer to the soldering portion 56a than the center point a1 of the coil 53a. As a result, wiring patterns 55a and 55d can be arranged close to each other. Therefore, the magnetic field generated by the wiring patterns 55a and 55d and reaching the chip portion 6b of the imaging device 6 can be reduced.

なお、半田付け部56bおよび56e、そして、半田付け部56cおよび56fも同様に電流の向きは逆方向の関係となる。よって、同様にして半田付け部を互いに近接して配置することによって、配線パターンで発生し撮像素子6のチップ部6bに到達する磁場を低減することができる。 The soldered portions 56b and 56e and the soldered portions 56c and 56f also have opposite current directions. Therefore, by similarly arranging the soldered portions close to each other, the magnetic field generated by the wiring pattern and reaching the chip portion 6b of the imaging device 6 can be reduced.

図7(b)に示す例においても、配線パターンで発生する磁場は逆向きとなるので、互いに磁場を打ち消すことになる。一方、半田付け部56aに対して半田付け部56dがコイル53aの中心点a1よりも遠くに配置されているので、配線パターン55aおよび55dを互いに隣接して配線できない区間が生じる。当該区間においては、配線パターン55aおよび55d同士の磁場打消し効果が得られず、配線パターン55aおよび55dで発生する磁場を効果的に低減することが困難となる。 In the example shown in FIG. 7B as well, the magnetic fields generated by the wiring patterns are in opposite directions, so that the magnetic fields cancel each other. On the other hand, since the soldering portion 56d is arranged farther than the center point a1 of the coil 53a with respect to the soldering portion 56a, there is a section where the wiring patterns 55a and 55d cannot be wired adjacent to each other. In this section, the magnetic field canceling effect between the wiring patterns 55a and 55d cannot be obtained, and it becomes difficult to effectively reduce the magnetic field generated by the wiring patterns 55a and 55d.

なお、半田付け部56bおよび56e、そして、半田付け部56cおよび56fに関しても、同様に配線パターンにおける電流の向きは逆方向の関係となる。 It should be noted that the directions of the currents in the wiring patterns are similarly reversed in the soldered portions 56b and 56e and the soldered portions 56c and 56f.

このように、第2の実施形態では、第1の実施形態で説明したように可動枠凹部57a~57cをコイル53a~53cの外周よりも撮像素子6から離れて配置する。これによって、撮像素子6に達する磁場を低減する。 Thus, in the second embodiment, the movable frame concave portions 57a to 57c are arranged farther from the imaging element 6 than the outer circumferences of the coils 53a to 53c, as described in the first embodiment. This reduces the magnetic field reaching the imaging device 6 .

次に、半田付け部56aおよび56d、半田付け部56bおよび56e、そして、半田付け部56cおよび56fをそれぞれコイル53a、53b、および53cの中心点よりも近くに配置する。これによって、半田付け部および配線パターンによる撮像素子6に対する磁場の影響を低減することができる。 Next, solder joints 56a and 56d, solder joints 56b and 56e, and solder joints 56c and 56f are positioned closer than the center points of coils 53a, 53b, and 53c, respectively. As a result, it is possible to reduce the influence of the magnetic field on the imaging device 6 due to the soldered portion and the wiring pattern.

図8は、図7に示す半田付け部の位置関係を説明するための図である。そして、図8(a)は半田付け部が磁石に跨るコイルの配線よりもコイルの中空部中心の近くに位置する例を示す図である。また、図8(b)は半田付け部が磁石に跨るコイルの配線に近接して位置する例を示す図である。 8 is a diagram for explaining the positional relationship of the soldering portions shown in FIG. 7. FIG. FIG. 8A is a diagram showing an example in which the soldered portion is positioned closer to the center of the hollow portion of the coil than the wiring of the coil straddling the magnet. FIG. 8(b) is a diagram showing an example in which the soldered portion is positioned close to the wiring of the coil straddling the magnet.

ここでは、説明の便宜上、コイル121、半田付け部122aおよび122b、永久磁石133および134を用いて半田付け部の望ましい位置関係について説明する。 Here, for convenience of explanation, the desired positional relationship of the soldered portions will be described using the coil 121, the soldered portions 122a and 122b, and the permanent magnets 133 and 134. FIG.

コイル121はその長辺側において永久磁石133に対向する配線部121aと磁石134に対向する配線部121bとを有している。配線部121aは撮像素子(図示せず)に対向し撮像素子に最も近い配線であり、配線部121bは撮像素子に対向し撮像素子に最も遠い配線である。半田付け部122aはコイル121の中空部に位置しおいて、半田付け部122bはコイル121の外周外側に位置する。 The coil 121 has a wiring portion 121a facing the permanent magnet 133 and a wiring portion 121b facing the magnet 134 on its long side. The wiring portion 121a is the wiring closest to the imaging element (not shown) facing the imaging element, and the wiring portion 121b is the wiring furthest from the imaging element facing the imaging element. The soldering portion 122 a is positioned in the hollow portion of the coil 121 , and the soldering portion 122 b is positioned outside the outer circumference of the coil 121 .

図8(a)には、半田付け部122aが紙面表側から見て磁石133および134に跨るコイル121の配線よりも中空部中心95の近くに位置する状態が示されている。また、図8(b)には、半田付け部122aが紙面表側から見て磁石133および134に跨るコイル121の配線に近接して位置する状態が示されている。 FIG. 8A shows a state in which the soldered portion 122a is positioned closer to the center 95 of the hollow portion than the wiring of the coil 121 straddling the magnets 133 and 134 when viewed from the front side of the paper. FIG. 8(b) shows a state in which the soldered portion 122a is positioned close to the wiring of the coil 121 straddling the magnets 133 and 134 when viewed from the front side of the paper.

ここで、図8(a)に示す状態における半田付け部122bの配置について直線99aを用いて説明する。直線99aは、半田付け部122aを通り、かつ配線部121bに直交する線である。半田付け部122bは配線部121bよりも撮像素子から離れて位置し、かつ配線部121bの配線方向に沿う方向で直線99aを起点に配線部121bの内径側配線長Lの25%の長さ以内(25%以内)に配置される。 Here, the arrangement of the soldering portion 122b in the state shown in FIG. 8(a) will be described using the straight line 99a. A straight line 99a is a line passing through the soldering portion 122a and orthogonal to the wiring portion 121b. The soldering portion 122b is located farther from the imaging element than the wiring portion 121b, and is within 25% of the inner diameter side wiring length L of the wiring portion 121b starting from the straight line 99a in the direction along the wiring direction of the wiring portion 121b. (within 25%).

このような配置によって、半田付け部122aおよび122bを近接して配置することができ、半田付け部122aおよび122bに接続された配線パターン(図示せず)同士も近づけることができる。この結果、半田付け部122bを配置することによって可動枠凹部によって増加する撮像素子到達磁場を低減しつつ、半田付け部122aおよび122bに接続される配線パターンから発生する磁場も低減することができる。 With such an arrangement, the soldering portions 122a and 122b can be arranged close to each other, and the wiring patterns (not shown) connected to the soldering portions 122a and 122b can also be brought close to each other. As a result, the magnetic field generated by the wiring pattern connected to the soldering portions 122a and 122b can be reduced while reducing the magnetic field reaching the imaging device, which is increased by the movable frame concave portion, by arranging the soldering portion 122b.

次に、図8(b)を参照して、直線99bは、図8(a)に示す直線99aと同様に、半田付け部122aを通り、かつ配線部121bに直交する線である。半田付け部122bは配線部121aよりも撮像素子から離れて位置し、かつ配線部121bの配線方向に沿う方向で直線99bを起点に配線部121bの内径側配線長Lの25%の長さ以内に配置される。 Next, referring to FIG. 8(b), a straight line 99b is a line passing through the soldering portion 122a and orthogonal to the wiring portion 121b, like the straight line 99a shown in FIG. 8(a). The soldering portion 122b is located farther from the imaging element than the wiring portion 121a, and is within 25% of the inner diameter side wiring length L of the wiring portion 121b starting from the straight line 99b in the direction along the wiring direction of the wiring portion 121b. placed in

なお、図8(b)においては、配線部121bからみて撮像素子(図示せず)とは反対の位置に半田付け部122bが設けられている。ところで、半田付け部122aおよび122bの距離は短いことが望ましいので、例えば、半田付け部122cように磁石133および134に跨るコイル121の配線に沿う位置に半田付け部を設けるようにしてもよい。 In FIG. 8B, a soldering portion 122b is provided at a position opposite to the imaging device (not shown) when viewed from the wiring portion 121b. By the way, it is desirable that the distance between the soldering portions 122a and 122b is short, so the soldering portion may be provided at a position along the wiring of the coil 121 straddling the magnets 133 and 134, such as the soldering portion 122c.

このような配置によって、半田付け部122aおよび122bを近接して配置するでき、半田付け部122aおよび122bに接続された配線パターン(図示せず)同士も近づけることができる。この結果、半田付け部122bを配置することによって、可動枠凹部によって増加する撮像素子到達磁場を低減しつつ、半田付け部122aおよび122bに接続される配線パターンから発生する磁場も低減することができる。 With such an arrangement, the soldering portions 122a and 122b can be arranged close to each other, and the wiring patterns (not shown) connected to the soldering portions 122a and 122b can also be brought close to each other. As a result, by arranging the soldering portion 122b, it is possible to reduce the magnetic field generated by the wiring pattern connected to the soldering portions 122a and 122b while reducing the magnetic field reaching the imaging device, which increases due to the recessed portion of the movable frame. .

このように、本発明の第2の実施形態においても、ブレ補正部を小型化して、かつ撮像素子に対する磁場の影響を低減することができる。 As described above, also in the second embodiment of the present invention, it is possible to reduce the size of the blur correction unit and reduce the influence of the magnetic field on the imaging device.

[第3の実施形態]
次に、本発明の第3の実施形態によるブレ補正装置(ブレ補正部)を備えるカメラについて説明する。なお、第3の実施形態によるカメラの構成は図1に示すカメラと同様であり、ブレ補正装置についても図2および図3で説明したブレ補正装置と基本的に同様である。
[Third embodiment]
Next, a camera provided with a blur correction device (blur correction section) according to a third embodiment of the present invention will be described. The configuration of the camera according to the third embodiment is the same as that of the camera shown in FIG. 1, and the blur correction device is also basically the same as the blur correction device described with reference to FIGS.

第3の実施形態によるカメラで用いられるブレ補正部は、第1の実施形態で説明したブレ補正部と次の点で異なる。 The blur correction section used in the camera according to the third embodiment differs from the blur correction section described in the first embodiment in the following points.

第3の実施形態に係るブレ補正部は、コイル53a~53cがFPC55に実装される面と反対の面に配置され、光軸4の方向から投影した際に可動枠凹部57a~57cを覆う金属製の遮蔽部材(図示せず)を備えている。これによって、可動枠凹部57a~57cに集中する磁場の経路上に遮蔽部材が配置されことになる。そして、磁場が遮蔽部材に達すると、遮蔽部材に渦電流が流れて、遮蔽部材に達した磁場を打消す磁場が発生する。これによって、可動枠凹部57a~57cに起因して増加するチップ部6bに到達する磁場を低減することができる。 The blur correction unit according to the third embodiment is arranged on the surface opposite to the surface on which the coils 53a to 53c are mounted on the FPC 55, and when projected from the direction of the optical axis 4, the metal parts that cover the concave portions 57a to 57c of the movable frame A shielding member (not shown) made of As a result, the shielding member is arranged on the path of the magnetic field concentrating on the movable frame concave portions 57a to 57c. Then, when the magnetic field reaches the shielding member, an eddy current flows through the shielding member, generating a magnetic field that cancels the magnetic field that has reached the shielding member. As a result, the magnetic field reaching the tip portion 6b, which increases due to the movable frame recesses 57a to 57c, can be reduced.

第3の実施形態においては、遮蔽部材は金属製としたが、より好ましくは非磁性の金属であることが望ましい。遮蔽部材を非磁性の金属で成形することによって、より効果的に渦電流による打消し磁界を発生することができる。 Although the shielding member is made of metal in the third embodiment, it is more preferable to use a non-magnetic metal. Forming the shielding member from a non-magnetic metal makes it possible to more effectively generate a canceling magnetic field due to eddy currents.

さらに、遮蔽部材で生じる打消し磁界は渦電流が流れることで発生する。従って、遮蔽部材は、例えば、アルミニウム又は銅などの導電率が高く、かつ厚い部材を用いることが望ましい。 Furthermore, the canceling magnetic field generated by the shielding member is generated by the flow of eddy currents. Therefore, it is desirable to use a thick member with high conductivity, such as aluminum or copper, for the shielding member.

また、FPC55の補強および撓みを防止するために、FPC55に設ける裏打ち部材を金属として、当該裏打ち部材を遮蔽部材として用いて可動枠凹部57a~57cを覆うようにしてもよい。 Further, in order to reinforce the FPC 55 and prevent bending, the backing member provided on the FPC 55 may be made of metal, and the backing member may be used as a shielding member to cover the movable frame concave portions 57a to 57c.

さらには、FPC55に貼り付けられ磁石との吸着力で可動部50の保持を補助する磁性金属体を遮蔽部材として用いて、可動枠凹部57a~57cを覆うようにしてもよい。 Further, a magnetic metal body that is attached to the FPC 55 and assists in holding the movable portion 50 by an attraction force with a magnet may be used as a shielding member to cover the movable frame concave portions 57a to 57c.

このように、本発明の第3の実施形態においても、ブレ補正部を小型化して、かつ撮像素子に対する磁場の影響を低減することができる。 Thus, also in the third embodiment of the present invention, it is possible to reduce the size of the blur correction unit and reduce the influence of the magnetic field on the imaging device.

[第4の実施形態]
次に、本発明の第4の実施形態によるブレ補正装置(ブレ補正部)を備えるカメラについて説明する。なお、第4の実施形態によるカメラの構成は図1に示すカメラと同様であり、ブレ補正装置についても図2および図3で説明したブレ補正装置と基本的に同様である。
[Fourth embodiment]
Next, a camera provided with a blur correction device (blur correction section) according to a fourth embodiment of the present invention will be described. The configuration of the camera according to the fourth embodiment is the same as that of the camera shown in FIG. 1, and the blur correction device is basically the same as the blur correction device described with reference to FIGS.

第4の実施形態によるカメラで用いられるブレ補正部は、第1の実施形態で説明したブレ補正部と次の点で異なる。 The blur correction section used in the camera according to the fourth embodiment differs from the blur correction section described in the first embodiment in the following points.

第4の実施形態に係るブレ補正部は、コイル53a~53cの中空部においてFPC55に実装されたサーミスタ部品(図示せず)を備えている。さらに、第4の実施形態に係るブレ補正部では、可動枠凹部57a~57cに設けられる半田付け部56a~56cがそれぞれコイル53a~53cの中空部に設けられる。 The vibration corrector according to the fourth embodiment includes a thermistor component (not shown) mounted on the FPC 55 in the hollow portions of the coils 53a to 53c. Furthermore, in the blur correction unit according to the fourth embodiment, the soldering portions 56a to 56c provided in the movable frame concave portions 57a to 57c are provided in the hollow portions of the coils 53a to 53c, respectively.

第4の実施形態においては、第1の実施形態に比べてブレ補正部14の駆動能力を高くするためコイル53a~53cのサイズを大きする。ここで、駆動能力とは、例えば、可動枠51の可動範囲およびコイル53a~53cに流す電流に対して得られる駆動力などをいう。 In the fourth embodiment, the sizes of the coils 53a to 53c are increased in comparison with the first embodiment in order to increase the drive capability of the blur correction section 14. FIG. Here, the drive capability refers to, for example, the drive force obtained with respect to the movable range of the movable frame 51 and the current flowing through the coils 53a to 53c.

可動枠51の可動範囲を大きくするためには、可動範囲においてコイル53a~53cが移動しても上面固定部60および下面固定部70に配置された磁石の静磁場がコイル53a~53cに到達することができるようにする必要がある。このため、コイル53a~53cのサイズを大きくする必要がある。 In order to increase the movable range of the movable frame 51, even if the coils 53a to 53c move within the movable range, the static magnetic fields of the magnets arranged in the upper surface fixed portion 60 and the lower surface fixed portion 70 reach the coils 53a to 53c. need to be able to Therefore, it is necessary to increase the size of the coils 53a to 53c.

また、電流に対して得られる駆動力を大きくするためには、磁石に対向するコイル53a~53cにおいてその配線を長くする必要がある。このためには、コイル53a~53cのサイズを大きくする必要がある。 Also, in order to increase the driving force obtained with respect to the current, it is necessary to lengthen the wiring of the coils 53a to 53c facing the magnets. For this purpose, it is necessary to increase the size of the coils 53a to 53c.

上述のように、駆動能力を高めるためコイル53a~53cのサイズを大きくすると、コイル53a~53cにおいてその中空部の面積が大きくなる。そこで、第4の実施形態では、コイル53a~53cの中空部に半田付け部56a~56cを配置する。 As described above, if the size of the coils 53a to 53c is increased in order to increase the drive capability, the areas of the hollow portions of the coils 53a to 53c are increased. Therefore, in the fourth embodiment, the soldering portions 56a-56c are arranged in the hollow portions of the coils 53a-53c.

これによって、可動枠凹部57a~57cが不要となる。この結果、ブレ補正部14を高機能化して、可動枠51による磁場打消し効果を高め、かつ可動枠凹部の存在による磁場を低減することができる。 This eliminates the need for the movable frame recesses 57a to 57c. As a result, it is possible to enhance the function of the blur correction unit 14, enhance the effect of canceling the magnetic field by the movable frame 51, and reduce the magnetic field due to the presence of the concave portion of the movable frame.

なお、半田付け部56a~56cをコイル53a~53cの中空部に配置するようにしたが、この際には、同一のコイルに接続された半田付け部は隣接して配置することが望ましい。例えば、コイル53aに接続された半田付け部53aおよび53dを隣接して配置することが望ましい。 Although the soldered portions 56a to 56c are arranged in the hollow portions of the coils 53a to 53c, in this case, it is desirable that the soldered portions connected to the same coil are arranged adjacent to each other. For example, it is desirable to arrange the soldering portions 53a and 53d connected to the coil 53a adjacently.

コイル53a~53cの中空部には磁気センサ(磁気検出部)およびサーミスタ部品(例えば、温度素子)が配置され、サーミスタ部品によってコイルで発生する熱が測定される。この際には、磁気センサおよびサーミスタ部品を、隣接する半田付け部の外側に配置することが望ましい。これによって、コイルおよび半田付け部に接続された配線パターン部からの磁場を更に低減することができる。 Magnetic sensors (magnetic detectors) and thermistor parts (for example, temperature elements) are arranged in the hollow portions of the coils 53a to 53c, and heat generated in the coils is measured by the thermistor parts. In this case, it is desirable to arrange the magnetic sensor and thermistor components outside the adjacent soldered portions. Thereby, the magnetic field from the wiring pattern portion connected to the coil and the soldering portion can be further reduced.

前述のように、コイル53a~53cの中空部には、FPC55に実装されたサーミスタ部品が配置される。これによって、コイル53a~53cに電流を流した際の周囲の温度変化をセンシングして、例えば、異常な温度上昇があった場合に駆動を停止させることができる。 As described above, thermistor components mounted on the FPC 55 are arranged in the hollow portions of the coils 53a to 53c. This makes it possible to sense changes in ambient temperature when currents flow through the coils 53a to 53c, and to stop driving when, for example, an abnormal temperature rise occurs.

このように、第4の実施形態では、半田付け部56a~56cをコイル53a~53cの中空部に配置する。これによって、可動枠凹部57a~57cが不要となる。さらに、コイル53a~53cの中空部にFPC55に実装されたサーミスタ部品を配置する。これによって、撮像素子6に対する磁場の影響を低減するとともに、ブレ補正部14を高機能化することができる。 Thus, in the fourth embodiment, the soldering portions 56a-56c are arranged in the hollow portions of the coils 53a-53c. This eliminates the need for the movable frame recesses 57a to 57c. Furthermore, thermistor components mounted on the FPC 55 are arranged in the hollow portions of the coils 53a to 53c. As a result, the influence of the magnetic field on the imaging device 6 can be reduced, and the functions of the blur correction section 14 can be enhanced.

なお、上述の例では、コイル53a~53cの中空部にサーミスタ部品を配置するようにしたが、サーミスタ部品は必要な機能向上のための個数であればよい。例えば、コイル53aの中空部にのみサーミスタ部品を設けるようにしてもよい。 In the above example, the thermistor parts are arranged in the hollow portions of the coils 53a to 53c, but the number of thermistor parts may be increased as long as the required number of thermistor parts is improved. For example, a thermistor component may be provided only in the hollow portion of the coil 53a.

さらに、コイル53a~53cの中空部にはサーミスタ部品に代えて、機能向上のための他の部品又はノイズ低減などに必要な部品を配置するようにしてもよい。例えば、可動部50が移動した際の位置検出精度を向上させるための磁気センサを追加するようにしてもよい。 Further, in place of the thermistor parts, other parts for improving functions or parts necessary for noise reduction may be arranged in the hollow portions of the coils 53a to 53c. For example, a magnetic sensor may be added to improve the position detection accuracy when the movable portion 50 moves.

また、半田付け部56a~56cをコイル53a~53cの中空部に設けるようにしたが、半田付け部を全てに適用する必要はなく、撮像素子6と特に距離が近いコイルに半田付け部を適用するようにしてもよい。 Also, although the soldering portions 56a to 56c are provided in the hollow portions of the coils 53a to 53c, it is not necessary to apply the soldering portions to all the coils, and the soldering portions are applied to the coils that are particularly close to the imaging element 6. You may make it

さらには、サーミスタ部品をコイル53a~53cの外周外側に配置するようにしてもよい。例えば、コイル53a~53cの外周外側において可動枠51の一部に凹み部を設けてサーミスタ部品を配置するようにしてもよい。この際、可動枠51の凹み部を、光軸4の方向において所定の一定の厚さを有するようにする。 Furthermore, the thermistor parts may be arranged outside the outer circumferences of the coils 53a to 53c. For example, the movable frame 51 may be partially recessed outside the outer periphery of the coils 53a to 53c so that the thermistor components can be placed therein. At this time, the concave portion of the movable frame 51 is made to have a predetermined constant thickness in the direction of the optical axis 4 .

これによって、コイル53a~53cにおいて中空部のスペースが広がって、半田付け部をコイルの中空部に配置することが容易となる。そして、可動枠51の凹み部は光軸4の方向において所定の厚さを有するので、コイル53a~53cの磁場が可動枠51の凹み部を通って撮像素子6に到達すること防止することができる。 As a result, the hollow spaces of the coils 53a to 53c are widened, making it easier to dispose the soldering portions in the hollow portions of the coils. Since the concave portion of the movable frame 51 has a predetermined thickness in the direction of the optical axis 4, it is possible to prevent the magnetic fields of the coils 53a to 53c from reaching the imaging device 6 through the concave portion of the movable frame 51. can.

なお、可動枠51の凹み部には撮像素子6およびブレ補正部14の機能向上に寄与する部品など他の電子部品を配置するようにしてもよい。 It should be noted that other electronic components such as components that contribute to improving the functions of the imaging device 6 and the blur correction section 14 may be arranged in the concave portion of the movable frame 51 .

このように、本発明の第4の実施形態においても、ブレ補正部を小型化して、かつ撮像素子に対する磁場の影響を低減することができる。 As described above, also in the fourth embodiment of the present invention, it is possible to reduce the size of the blur correction unit and reduce the influence of the magnetic field on the imaging device.

5 カメラシステム制御部
6 撮像素子
14 ブレ補正部(ブレ補正装置)
50 可動部
51 可動枠
53a~53c コイル
56a~56c 半田付け部
57a~57c 可動枠凹部
5 camera system control unit 6 imaging element 14 blur correction unit (blur correction device)
50 Movable part 51 Movable frame 53a-53c Coil 56a-56c Soldering part 57a-57c Movable frame concave part

Claims (13)

撮像光学系を介して結像した光学像に応じた画像信号を出力する撮像素子を備える電子機器に用いられ、前記撮像素子を前記撮像光学系の光軸に直交する方向に移動させて前記画像信号が示す画像において生じたブレを補正するブレ補正装置であって、
前記撮像素子を保持し、前記光軸に直交する方向に移動可能な金属性の可動部材と、
前記可動部材に配置され電力が供給されるコイルと、
前記コイルが実装される実装部材と
前記コイルの外周よりも外側に配置され前記コイルと前記実装部材とを接続する接続部と、
前記コイルに対向して配置された永久磁石と、を有し、
前記コイルと前記永久磁石とによって前記可動部材を移動させ、
前記接続部を配置するために前記可動部材に設けられた隙間部が前記撮像素子に最も近い前記コイルの辺よりも撮像素子から離れた位置に配置されていることを特徴とするブレ補正装置。
It is used in an electronic device having an image pickup device that outputs an image signal corresponding to an optical image formed through an image pickup optical system, and the image pickup device is moved in a direction perpendicular to the optical axis of the image pickup optical system to obtain the image. A blur correction device that corrects blurring occurring in an image indicated by a signal,
a metallic movable member that holds the imaging device and is movable in a direction orthogonal to the optical axis;
a coil arranged on the movable member and supplied with electric power;
a mounting member on which the coil is mounted; a connecting portion arranged outside an outer circumference of the coil and connecting the coil and the mounting member;
a permanent magnet arranged to face the coil,
moving the movable member by the coil and the permanent magnet;
A blur correction device according to claim 1, wherein a gap provided in said movable member for arranging said connection part is arranged at a position farther from said imaging element than a side of said coil closest to said imaging element.
前記電子機器に備えられた固定部材に前記可動部材を移動可能に支持する支持部材を有し、
前記永久磁石は前記固定部材に配置されていることを特徴とする請求項1に記載のブレ補正装置。
a support member that movably supports the movable member on a fixed member provided in the electronic device;
2. A motion compensation device according to claim 1, wherein said permanent magnet is arranged on said fixed member.
前記撮像素子は複数の回路部を備えており、
前記コイルに最も近い回路部と前記コイルの巻軸中心とを結ぶ直線に直交し、かつ前記コイルの巻軸に直交して前記コイルの巻軸を通る第1の直線を、前記撮像光学系の光軸側から投影して前記コイルを2つの領域に分けた際、前記隙間部は前記撮像素子が配置された領域とは異なる領域に配置されていることを特徴とする請求項1又は2に記載のブレ補正装置。
The imaging element includes a plurality of circuit units,
A first straight line that is orthogonal to a straight line that connects the circuit portion closest to the coil and the center of the winding axis of the coil and that is orthogonal to the winding axis of the coil and passes through the winding axis of the coil is defined by the imaging optical system. 3. The method according to claim 1, wherein when the coil is divided into two regions by projecting from the optical axis side, the gap is arranged in a region different from the region where the imaging device is arranged. A deblurring device as described.
前記コイルの巻き線部と前記巻き線部に隣接する前記可動部材との隙間の長さは前記隙間部における前記巻き線部と前記可動部材との長さよりも短いことを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載のブレ補正装置。 2. A gap between the winding portion of the coil and the movable member adjacent to the winding portion is shorter than a length of the winding portion and the movable member in the gap portion. 4. The blur correction device according to any one of items 1 to 3. 前記隙間の長さは1mm以下で、かつ前記隙間部における前記巻き線部と前記可動部材との長さは2mm以上であることを特徴とする請求項4に記載のブレ補正装置。 5. The blur correction device according to claim 4, wherein the length of said gap is 1 mm or less, and the length of said winding portion and said movable member in said gap is 2 mm or more. 前記接続部は、前記コイルの外周よりも外側に配置され前記コイルの一端と接続される第1の接続部と、前記コイルの内周内側に配置され前記コイルの他端と接続される第2の接続部を有し、
前記第1の接続部を前記コイルの長辺に沿う方向において、前記長辺に直交しかつ前記第2の接続部を通る第2の直線を起点に前記長辺の長さの25%以内に配置することを特徴とする請求項1乃至5のいずれか1項に記載のブレ補正装置。
The connection portion includes a first connection portion arranged outside an outer circumference of the coil and connected to one end of the coil, and a second connection portion arranged inside an inner circumference of the coil and connected to the other end of the coil. having a connection of
In the direction along the long side of the coil, the first connecting portion is within 25% of the length of the long side starting from a second straight line that is orthogonal to the long side and passes through the second connecting portion. 6. The blur correction device according to any one of claims 1 to 5, characterized in that it is arranged.
前記実装部材において前記コイルが実装される面と反対の面に配置され前記撮像光学系の光軸側から投影した際に少なくとも前記隙間部を覆うように配置された金属性の遮蔽部材を有することを特徴とする請求項1乃至6のいずれか1項に記載のブレ補正装置。 Having a metallic shielding member arranged on the surface of the mounting member opposite to the surface on which the coil is mounted and arranged so as to cover at least the gap when projected from the optical axis side of the imaging optical system. The blur correction device according to any one of claims 1 to 6, characterized by: 前記コイルの内周内側には所定の電子部品が配置されていることを特徴とする請求項1乃至7のいずれか1項に記載のブレ補正装置。 8. The blur correction device according to claim 1, wherein predetermined electronic components are arranged inside the inner periphery of said coil. 前記所定の電子部品は前記コイルで発生する熱を測定する温度素子であることを特徴とする請求項8に記載のブレ補正装置。 9. A motion compensation device according to claim 8, wherein said predetermined electronic component is a temperature element for measuring heat generated by said coil. 前記所定の電子部品は、前記コイルで生じる磁場を検出する磁気検出部であることを特徴とする請求項8記載のブレ補正装置。 9. The blur correction device according to claim 8, wherein said predetermined electronic component is a magnetic detection section for detecting a magnetic field generated by said coil. 前記コイルの外周の外側において、前記可動部材には凹み部が形成されており、
前記凹み部には、前記所定の電子部品とは異なる電子部品が配置されていることを特徴とする請求項8に記載のブレ補正装置。
a concave portion is formed in the movable member outside the outer circumference of the coil;
9. The blur correction device according to claim 8, wherein an electronic component different from the predetermined electronic component is arranged in the recess.
請求項1乃至11のいずれか1項に記載されたブレ補正装置と、
前記撮像素子の出力である画像信号に応じて前記コイルに印加する電力を制御する制御手段と、
を備えることを特徴とする電子機器。
a blur correction device according to any one of claims 1 to 11;
a control means for controlling power applied to the coil according to an image signal output from the imaging element;
An electronic device comprising:
前記電子機器は、前記撮像素子の出力である画像信号に所定の画像処理を行って画像データを生成する画像処理手段を有する撮像装置であることを特徴とする請求項12に記載の電子機器。 13. The electronic equipment according to claim 12, wherein said electronic equipment is an imaging apparatus having image processing means for performing predetermined image processing on an image signal output from said imaging device to generate image data.
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