JP7299255B2 - 信号発生装置及び信号発生装置の制御方法 - Google Patents
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Description
3a~3f 被試験装置
4a~4f ケーブル
10 信号生成部
11 第1減衰器
12a~12f 出力ポート
13 分配器
14a~14f 第2減衰器
15 減衰量設定部
16 ケーブル損失記憶部
17 報知部
Claims (5)
- 試験用信号を生成する信号生成部(10)と、
前記信号生成部によって生成された試験用信号を減衰させる第1減衰器(11)と、
複数の被試験装置(3a~3f)がそれぞれのケーブル(4a~4f)を介して接続される複数の出力ポート(12a~12f)と、
前記第1減衰器によって減衰された試験用信号を前記複数の出力ポートに分配する分配器(13)と、
前記複数の出力ポートから出力される試験用信号をそれぞれ減衰させる複数の第2減衰器(14a~14f)と、
前記第1減衰器及び前記複数の第2減衰器の減衰量を設定する減衰量設定部(15)と、
前記複数の出力ポートにそれぞれ接続されるケーブルの損失が記憶されたケーブル損失記憶部(16)と、を備え、
前記減衰量設定部は、
前記出力ポートに接続されるケーブルに対して前記ケーブル損失記憶部に記憶された損失の最大量を目標減衰量から減じた基準減衰量を前記第1減衰器に設定し、
前記損失の最大量から前記出力ポートに接続される各ケーブルに対して前記ケーブル損失記憶部に記憶された損失を減じた出力減衰量を前記各第2減衰器に設定する信号発生装置。 - 前記減衰量設定部は、前記出力減衰量のいずれかが規定量を超える場合には、前記規定量を超える出力減衰量から前記規定量を減じた補正減衰量で前記基準減衰量を補正して前記第1減衰器に設定し、前記損失の最大量から前記補正減衰量を減じて前記出力減衰量を再計算することを特徴とする請求項1に記載の信号発生装置。
- 前記減衰量設定部は、前記出力減衰量を再計算した結果、前記出力減衰量のいずれかが負になる場合には、該出力減衰量を0に変更することを特徴とする請求項2に記載の信号発生装置。
- 前記複数の出力ポートの各出力ポートに関する情報を報知可能な報知部(17)を備え、
前記減衰量設定部は、前記出力減衰量のいずれかが負になったことによって該出力減衰量を0に変更した前記第2減衰器に対応する出力ポートに関する情報を報知することを特徴とする請求項3に記載の信号発生装置。 - 試験用信号を生成する信号生成部(10)と、
前記信号生成部によって生成された試験用信号を減衰させる第1減衰器(11)と、
複数の被試験装置(3a~3f)がそれぞれのケーブル(4a~4f)を介して接続される複数の出力ポート(12a~12f)と、
前記第1減衰器によって減衰された試験用信号を前記複数の出力ポートに分配する分配器(13)と、
前記複数の出力ポートから出力される試験用信号をそれぞれ減衰させる複数の第2減衰器(14a~14f)と、
前記第1減衰器及び前記複数の第2減衰器の減衰量を設定する減衰量設定部(15)と、
前記複数の出力ポートにそれぞれ接続されるケーブルの損失が記憶されたケーブル損失記憶部(16)と、を備えた信号発生装置(1)の制御方法であって、
前記出力ポートに接続されるケーブルに対して前記ケーブル損失記憶部に記憶された損失の最大量を目標減衰量から減じた減衰量を前記第1減衰器に設定する第1設定ステップと、
前記損失の最大量から前記出力ポートに接続される各ケーブルに対して前記ケーブル損失記憶部に記憶された損失を減じた出力減衰量を前記各第2減衰器に設定する第2設定ステップと、を前記減衰量設定部に実行させる信号発生装置の制御方法。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2021009307A JP7299255B2 (ja) | 2021-01-25 | 2021-01-25 | 信号発生装置及び信号発生装置の制御方法 |
| US17/457,972 US11762016B2 (en) | 2021-01-25 | 2021-12-07 | Signal generator and a method for controlling the signal generator |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2021009307A JP7299255B2 (ja) | 2021-01-25 | 2021-01-25 | 信号発生装置及び信号発生装置の制御方法 |
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| Publication Number | Publication Date |
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| JP2022113233A JP2022113233A (ja) | 2022-08-04 |
| JP7299255B2 true JP7299255B2 (ja) | 2023-06-27 |
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ID=82495622
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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| JP2021009307A Active JP7299255B2 (ja) | 2021-01-25 | 2021-01-25 | 信号発生装置及び信号発生装置の制御方法 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US11762016B2 (ja) |
| JP (1) | JP7299255B2 (ja) |
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-
2021
- 2021-01-25 JP JP2021009307A patent/JP7299255B2/ja active Active
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| JP2016192709A (ja) | 2015-03-31 | 2016-11-10 | アンリツ株式会社 | 測定装置とその測定方法 |
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| Publication number | Publication date |
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| US20220236327A1 (en) | 2022-07-28 |
| JP2022113233A (ja) | 2022-08-04 |
| US11762016B2 (en) | 2023-09-19 |
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