Deprecated: The each() function is deprecated. This message will be suppressed on further calls in /home/zhenxiangba/zhenxiangba.com/public_html/phproxy-improved-master/index.php on line 456
JP7301535B2 - measuring device - Google Patents
[go: Go Back, main page]

JP7301535B2 - measuring device - Google Patents

measuring device Download PDF

Info

Publication number
JP7301535B2
JP7301535B2 JP2018238631A JP2018238631A JP7301535B2 JP 7301535 B2 JP7301535 B2 JP 7301535B2 JP 2018238631 A JP2018238631 A JP 2018238631A JP 2018238631 A JP2018238631 A JP 2018238631A JP 7301535 B2 JP7301535 B2 JP 7301535B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal
frequency
sine wave
phase
excitation
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2018238631A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2020101407A (en
Inventor
悟朗 竹内
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hioki EE Corp
Original Assignee
Hioki EE Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hioki EE Corp filed Critical Hioki EE Corp
Priority to JP2018238631A priority Critical patent/JP7301535B2/en
Publication of JP2020101407A publication Critical patent/JP2020101407A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP7301535B2 publication Critical patent/JP7301535B2/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)

Description

本発明は、測定対象の挿入位相を測定する測定装置に関するものである。 TECHNICAL FIELD The present invention relates to a measuring apparatus for measuring an insertion phase of an object to be measured.

この種の測定装置の一例として、下記の特許文献1に開示された測定装置(ベクトル・ネットワーク・アナライザ)が知られている。この測定装置は、1つのポートを有する励振/受信ユニットを2つ備えている。各励振/受信ユニットは同一に構成されて、各励振/受信ユニットは、信号ジェネレータと、信号ジェネレータと独立した専用オシレータ(内部オシレータ)とをそれぞれ備えている。 As an example of this type of measuring device, a measuring device (vector network analyzer) disclosed in Patent Document 1 below is known. The measuring device comprises two excitation/reception units with one port. Each excitation/reception unit is configured identically, and each excitation/reception unit comprises a signal generator and a dedicated oscillator (internal oscillator) independent of the signal generator.

この測定装置では、各励振/受信ユニットのポートを測定ラインを介して2ポートオブジェクトである被テストデバイスに接触させた状態において、一方の励振/受信ユニットは、このユニット内に設けられた信号ジェネレータが出力する励振信号を被テストデバイスに供給する。また、一方の励振/受信ユニットは、この励振信号をミキサで、このユニット内に設けられた内部オシレータが生成するオシレータ信号を用いて中間周波数の信号に変換してコントロールユニットに出力する。他方の励振/受信ユニットは、被テストデバイスを経由した励振信号を受信すると共に、この受信した励振信号を、このユニット内に設けられた内部オシレータが生成するオシレータ信号を用いて中間周波数の信号に変換してコントロールユニットに出力する。コントロールユニットは、各励振/受信ユニットとバスを介して接続されて、一方の励振/受信ユニット内の信号ジェネレータから出力される励振信号の周波数および位相と、一方の励振/受信ユニット内の内部オシレータから出力されるオシレータ信号の周波数および位相と、他方の励振/受信ユニット内の信号ジェネレータから出力される励振信号の周波数および位相と、他方の励振/受信ユニット内の内部オシレータから出力されるオシレータ信号の周波数および位相とを個別に調整することが可能となっている。 In this measurement apparatus, in a state in which the port of each excitation/receiving unit is in contact with the device under test which is a two-port object via the measurement line, one excitation/receiving unit is connected to the signal generator provided in this unit. to the device under test. One excitation/reception unit converts this excitation signal into an intermediate frequency signal using an oscillator signal generated by an internal oscillator provided in this unit by a mixer, and outputs the intermediate frequency signal to the control unit. The other excitation/reception unit receives an excitation signal that has passed through the device under test and converts the received excitation signal into an intermediate frequency signal using an oscillator signal generated by an internal oscillator provided in this unit. Convert and output to the control unit. The control unit is connected to each excitation/reception unit via a bus, and controls the frequency and phase of the excitation signal output from the signal generator in one excitation/reception unit and the internal oscillator in one excitation/reception unit. the frequency and phase of the oscillator signal output from the other excitation/receiving unit, the frequency and phase of the excitation signal output from the signal generator in the other excitation/receiving unit, and the oscillator signal output from the internal oscillator in the other excitation/receiving unit It is possible to adjust the frequency and phase of each separately.

この構成により、この測定装置では、コントロールユニットが、一方の励振/受信ユニットから出力される中間周波数の信号と、他方の励振/受信ユニットから出力される中間周波数の信号とに基づいて、励振信号が被テストデバイスを通過したときの位相のずれ(挿入位相)を測定することが可能となっている。また、この測定装置では、各励振/受信ユニットをメイン・ハウジングから分離して、被テストデバイスの測定場所近傍に単独動作ユニットとして配置することも可能となっている。 With this configuration, in this measuring device, the control unit generates the excitation signal based on the intermediate frequency signal output from one excitation/reception unit and the intermediate frequency signal output from the other excitation/reception unit. It is possible to measure the phase shift (insertion phase) when the is passed through the device under test. The measurement apparatus also allows each excitation/reception unit to be separated from the main housing and placed as a single operating unit near the measurement location of the device under test.

特開2004-132985号公報(第4-7頁、第1図)Japanese Patent Application Laid-Open No. 2004-132985 (pages 4-7, FIG. 1)

ところが、上記した測定装置では、励振/受信ユニット内に配設する信号ジェネレータおよび内部オシレータとして、周波数だけでなく位相についても調整可能な高機能で高価なジェネレータやオシレータを使用する構成のため、この測定装置には、装置コストが上昇するという解決すべき課題が存在している。 However, in the above-described measurement apparatus, as the signal generator and internal oscillator arranged in the excitation/reception unit, high-performance and expensive generators and oscillators capable of adjusting not only the frequency but also the phase are used. There is a problem to be solved in the measuring device that the cost of the device increases.

本発明は、かかる解決すべき課題に鑑みてなされたものであり、周波数だけが調整可能な安価なジェネレータやオシレータ(安価な発振装置)で構成し得る測定装置を提供することを主目的とする。 The present invention has been made in view of such problems to be solved, and the main object thereof is to provide a measuring apparatus that can be configured with an inexpensive generator or oscillator (inexpensive oscillator) that can adjust only the frequency. .

上記目的を達成すべく請求項1記載の測定装置は、測定対象の一方の電極に接続される第1ポートから励振信号を出力する励振ユニット、当該励振ユニットと別体にして構成されて、前記測定対象の他方の電極に接続される第2ポートから当該測定対象を通過した前記励振信号を通過信号として受信する受信ユニット、および処理部を備え、前記励振ユニットは、第1周波数の第1正弦波信号、および当該第1周波数のm倍(mは2以上の任意の自然数)の第2周波数であって前記第1正弦波信号と同一振幅の第2正弦波信号を含む第1信号を出力する第1信号出力部と、前記第1正弦波信号に対して位相が90°ずれると共に当該第1正弦波信号と同一振幅で、かつ前記第1周波数の信号である第1余弦波信号、および前記第2正弦波信号に対して位相が90°ずれると共に前記第1正弦波信号と同一振幅で、かつ前記第2周波数の信号である第2余弦波信号を含む第2信号を出力する第2信号出力部と、前記第1正弦波信号と同一振幅の第1正弦波励振信号、および当該第1正弦波励振信号の位相を90°ずらした信号である第1余弦波励振信号を設定された局発周波数で出力する第1局発部と、前記第1信号、前記第1余弦波励振信号、前記第2信号および前記第1正弦波励振信号に基づいて、前記局発周波数に前記第1周波数が加算された第1加算周波数の第1正弦波加算信号、および前記局発周波数に前記第2周波数が加算された第2加算周波数の第2正弦波加算信号を含む信号を前記励振信号として前記第1ポートに出力する第1信号生成部とを備え、前記受信ユニットは、前記第1正弦波信号と同一振幅であって同一周波数の第3正弦波信号、および前記第2正弦波信号と同一振幅であって同一周波数の第4正弦波信号を含む第3信号を出力する第3信号出力部と、前記第1余弦波信号と同一振幅であって同一周波数の第3余弦波信号、および前記第2余弦波信号と同一振幅であって同一周波数の第4余弦波信号を含む第4信号を出力する第4信号出力部と、前記第1正弦波励振信号と同一振幅であって同一周波数の第2正弦波励振信号および前記第1余弦波励振信号と同一振幅であって同一周波数の第2余弦波励振信号を設定された前記局発周波数で出力する第2局発部と、前記第3信号、前記第2余弦波励振信号、前記第4信号および前記第2正弦波励振信号に基づいて、前記励振信号と同一振幅であって同一周波数の内部励振信号を出力する第2信号生成部と、前記第1正弦波信号と同一振幅の正弦波基準信号を設定された前記局発周波数で出力する基準局発部と、前記第1正弦波加算信号に対して前記測定対象を通過する際に生じる第1位相ずれ分だけ位相がずれた第1正弦波通過信号、および前記第2正弦波加算信号に対して前記測定対象を通過する際に生じる第2位相ずれ分だけ位相がずれた第2正弦波通過信号を含む前記第2ポートで受信される前記通過信号と、前記正弦波基準信号とをミキシングして第1出力ミキシング信号として出力すると共に、前記正弦波基準信号および前記内部励振信号をミキシングして第2出力ミキシング信号として出力する受信側ミキサ部とを備え、前記処理部は、前記第1局発部、前記第2局発部および前記基準局発部に対して前記局発周波数を設定する周波数設定処理、前記第1周波数であって前記第1位相ずれ分を含む第1余弦波受信信号と前記第2周波数であって前記第2位相ずれ分を含む第2余弦波受信信号とが加算された信号を前記第1出力ミキシング信号から抽出すると共に、前記第1周波数の第1余弦波参照信号と前記第2周波数の第2余弦波参照信号とが加算された信号を前記第2出力ミキシング信号から抽出するフィルタ処理、並びに前記第1余弦波受信信号および前記第1余弦波参照信号の位相差と前記第2余弦波受信信号および前記第2余弦波参照信号の位相差との差分値を、前記第1位相ずれ分および前記第2位相ずれ分の差分位相として算出すると共に、前記第1加算周波数および前記第2加算周波数に対応させて前記差分位相を記憶する位相算出処理を実行可能に構成されて、記周波数設定処理において設定する前記局発周波数を予め規定された測定周波数帯域に亘って変更しつつ当該周波数設定処理から前記位相算出処理までの各処理を実行することにより、前記測定対象に関する前記差分位相についての前記第1周波数および前記第2周波数の差分周波数間隔毎の変化状態を示す差分位相変化データを測定する差分位相測定処理を実行する。 In order to achieve the above object, the measuring apparatus according to claim 1 comprises an excitation unit that outputs an excitation signal from a first port connected to one electrode of a measurement object, and is configured separately from the excitation unit, A receiving unit for receiving the excitation signal that has passed through the object to be measured as a passing signal from a second port connected to the other electrode of the object to be measured, and a processing unit, wherein the excitation unit receives a first sine of a first frequency. and a second sine wave signal having a second frequency m times the first frequency (m is an arbitrary natural number equal to or greater than 2) and having the same amplitude as the first sine wave signal. a first cosine wave signal that is out of phase with the first sine wave signal by 90°, has the same amplitude as the first sine wave signal, and has the first frequency , and A second signal that includes a second cosine wave signal that is 90 degrees out of phase with the second sine wave signal, has the same amplitude as the first sine wave signal, and has the second frequency. A signal output unit, a first sine wave excitation signal having the same amplitude as the first sine wave signal, and a first cosine wave excitation signal that is a signal obtained by shifting the phase of the first sine wave excitation signal by 90 degrees are set. a first local oscillator that outputs at a local oscillator frequency; and the first local oscillator at the local oscillator frequency based on the first signal, the first cosine wave excitation signal, the second signal, and the first sinusoidal wave excitation signal. A signal including a first sine wave addition signal having a first addition frequency to which a frequency is added and a second sine wave addition signal having a second addition frequency to which the second frequency is added to the local oscillation frequency is used as the excitation signal. a first signal generator for outputting to the first port, wherein the receiving unit generates a third sine wave signal having the same amplitude and frequency as the first sine wave signal and the second sine wave signal ; a third signal output unit for outputting a third signal including a fourth sine wave signal having the same amplitude and frequency; a third cosine wave signal having the same amplitude and frequency as the first cosine wave signal; and a fourth signal output unit for outputting a fourth signal including a fourth cosine wave signal having the same amplitude and frequency as the second cosine wave signal; and a fourth signal output unit having the same amplitude and frequency as the first sine wave excitation signal. a second local oscillator for outputting a second cosine wave excitation signal having the same amplitude and frequency as the second sine wave excitation signal of and the first cosine wave excitation signal at the set local frequency; A second signal generation unit that outputs an internal excitation signal having the same amplitude and frequency as the excitation signal based on the three signals, the second cosine wave excitation signal, the fourth signal, and the second sine wave excitation signal. a reference local oscillator that outputs a sine wave reference signal having the same amplitude as the first sine wave signal at the set local oscillator frequency; A first sinusoidal passing signal whose phase is shifted by a first phase shift generated, and a second sinusoidal wave passing signal whose phase is shifted by a second phase shift generated when passing through the object to be measured with respect to the second sinusoidal added signal. mixing the pass-through signal received at the second port including the sinusoidal pass-through signal and the sinusoidal reference signal to output as a first output mixed signal, and combining the sinusoidal reference signal and the internal excitation signal; a receiving side mixer section for mixing and outputting as a second output mixing signal, wherein the processing section applies the local oscillator frequency to the first local oscillator, the second local oscillator, and the reference local oscillator; frequency setting processing to be set, a first received cosine wave signal having the first frequency and including the first phase shift, and a second received cosine wave signal having the second frequency and including the second phase shift; is added from the first output mixing signal, and a signal obtained by adding the first cosine wave reference signal of the first frequency and the second cosine wave reference signal of the second frequency is added to the second Filtering to extract from an output mixing signal, and a difference between a phase difference between the first cosine wave received signal and the first cosine wave reference signal and a phase difference between the second cosine wave received signal and the second cosine wave reference signal. A value is calculated as a phase difference between the first phase shift and the second phase shift, and phase calculation processing is performed to store the phase difference in association with the first addition frequency and the second addition frequency. By executing each process from the frequency setting process to the phase calculation process while changing the local oscillator frequency set in the frequency setting process over a predetermined measurement frequency band and performing a differential phase measurement process of measuring differential phase change data indicating a change state of the differential phase of the measurement target for each differential frequency interval of the first frequency and the second frequency.

また、請求項2記載の測定装置は、請求項1記載の測定装置において、前記処理部は、前記測定対象に代えてスルー校正用の標準器が前記第1ポートおよび前記第2ポート間に接続された状態において、前記周波数設定処理において設定する前記局発周波数を前記測定周波数帯域に亘って変更しつつ当該周波数設定処理から前記位相算出処理までの各処理を実行することにより、当該測定周波数帯域内における前記標準器に関する前記差分位相についての前記差分周波数間隔毎の変化状態を示す補正用差分位相変化データを測定する補正用差分位相測定処理と、前記差分位相変化データを前記補正用差分位相変化データで補正する補正処理とを実行する。 The measuring apparatus according to claim 2 is the measuring apparatus according to claim 1, wherein the processing unit includes a standard device for thru calibration connected between the first port and the second port in place of the object to be measured. In this state, by executing each process from the frequency setting process to the phase calculation process while changing the local oscillator frequency set in the frequency setting process over the measurement frequency band, the measurement frequency band a correction differential phase measurement process for measuring correction differential phase change data indicating a change state for each differential frequency interval of the differential phase with respect to the standard device in the A correction process for correcting with data is executed.

また、請求項3記載の測定装置は、測定対象の一方の電極に接続される第1ポートから励振信号を出力する励振ユニット、当該励振ユニットと別体にして構成されて、前記測定対象の他方の電極に接続される第2ポートから当該測定対象を通過した前記励振信号を通過信号として受信する受信ユニット、および処理部を備え、前記励振ユニットは、第1周波数の第1正弦波信号、および当該第1周波数のm倍(mは2以上の任意の自然数)の第2周波数であって前記第1正弦波信号と同一振幅の第2正弦波信号を含む第1信号を出力する第1信号出力部と、前記第1正弦波信号に対して位相が90°ずれると共に当該第1正弦波信号と同一振幅で、かつ前記第1周波数の信号である第1余弦波信号、および前記第2正弦波信号に対して位相が90°ずれると共に前記第1正弦波信号と同一振幅で、かつ前記第2周波数の信号である第2余弦波信号を含む第2信号を出力する第2信号出力部と、前記第1正弦波信号と同一振幅の第1正弦波励振信号、および当該第1正弦波励振信号の位相を90°ずらした信号である第1余弦波励振信号を設定された局発周波数で出力する第1局発部と、前記第1信号および前記第1余弦波励振信号をミキシングして第1ミキシング信号として出力する第1ミキサ部と、前記第2信号および前記第1正弦波励振信号をミキシングして第2ミキシング信号として出力する第2ミキサ部と、前記第1ミキシング信号および前記第2ミキシング信号を加算することにより、前記局発周波数に前記第1周波数が加算された第1加算周波数の第1正弦波加算信号、および前記局発周波数に前記第2周波数が加算された第2加算周波数の第2正弦波加算信号を含む信号を前記励振信号として前記第1ポートに出力する第1加算部とを備え、前記受信ユニットは、前記第1正弦波信号と同一振幅であって同一周波数の第3正弦波信号、および前記第2正弦波信号と同一振幅であって同一周波数の第4正弦波信号を含む第3信号を出力する第3信号出力部と、前記第1余弦波信号と同一振幅であって同一周波数の第3余弦波信号、および前記第2余弦波信号と同一振幅であって同一周波数の第4余弦波信号を含む第4信号を出力する第4信号出力部と、前記第1正弦波励振信号と同一振幅であって同一周波数の第2正弦波励振信号および前記第1余弦波励振信号と同一振幅であって同一周波数の第2余弦波励振信号を設定された前記局発周波数で出力する第2局発部と、前記第3信号および前記第2余弦波励振信号をミキシングして第3ミキシング信号として出力する第3ミキサ部と、前記第4信号および前記第2正弦波励振信号をミキシングして第4ミキシング信号として出力する第4ミキサ部と、前記第3ミキシング信号および前記第4ミキシング信号を加算すると共に内部励振信号として出力する第2加算部と、前記第1正弦波信号と同一振幅の正弦波基準信号を設定された前記局発周波数で出力する基準局発部と、前記第2ポートで受信される前記通過信号であって、前記第1正弦波加算信号に対して前記測定対象を通過する際に生じる第1位相ずれ分だけ位相がずれた第1正弦波通過信号、および前記第2正弦波加算信号に対して前記測定対象を通過する際に生じる第2位相ずれ分だけ位相がずれた第2正弦波通過信号を含む信号と、前記正弦波基準信号とをミキシングして第5ミキシング信号として出力する第5ミキサ部と、前記正弦波基準信号および前記内部励振信号をミキシングして第6ミキシング信号として出力する第6ミキサ部とを備え、前記処理部は、前記励振ユニット内の前記第1局発部と、前記受信ユニット内の前記第2局発部および前記基準局発部とに対して前記局発周波数を設定する周波数設定処理、前記第1周波数であって前記第1位相ずれ分を含む第1余弦波受信信号と前記第2周波数であって前記第2位相ずれ分を含む第2余弦波受信信号とが加算された信号を第5信号として前記第5ミキシング信号から抽出する第1フィルタ処理、前記第1周波数の第1余弦波参照信号と前記第2周波数の第2余弦波参照信号とが加算された信号を第6信号として前記第6ミキシング信号から抽出する第2フィルタ処理、前記第1余弦波受信信号および前記第1余弦波参照信号の位相差と前記第2余弦波受信信号および前記第2余弦波参照信号の位相差との差分値を、前記第1位相ずれ分および前記第2位相ずれ分の差分位相として算出する位相算出処理、並びに前記第1加算周波数および前記第2加算周波数の組に対応させて前記差分位相を記憶する記憶処理を実行可能に構成されて、前記周波数設定処理において設定する前記局発周波数を、増加させるときには新たに設定する当該局発周波数に基づく前記第1加算周波数が直前に設定した当該局発周波数に基づく前記第2加算周波数と一致するように、減少させるときには新たに設定する当該局発周波数に基づく前記第2加算周波数が直前に設定した当該局発周波数に基づく前記第1加算周波数と一致するように、予め規定された測定周波数帯域に亘って段階的に変更しつつ当該周波数設定処理から前記記憶処理までの各処理を実行することにより、当該測定周波数帯域内における前記測定対象に関する前記差分位相についての前記第1周波数および前記第2周波数の差分周波数間隔毎の変化状態を示す差分位相変化データを測定する差分位相測定処理を実行する。 Further, the measuring apparatus according to claim 3 includes an excitation unit for outputting an excitation signal from a first port connected to one electrode of the object to be measured; a receiving unit for receiving, as a passing signal, the excitation signal that has passed through the object to be measured from a second port connected to the electrode of the excitation unit, and a processing unit, wherein the excitation unit receives a first sine wave signal of a first frequency, and A first signal that outputs a first signal including a second sine wave signal having a second frequency m times the first frequency (m is an arbitrary natural number equal to or greater than 2) and having the same amplitude as the first sine wave signal an output unit, a first cosine wave signal that is 90° out of phase with respect to the first sine wave signal, has the same amplitude as the first sine wave signal, and has the first frequency, and the second sine wave signal; a second signal output unit for outputting a second signal including a second cosine wave signal that is out of phase with the wave signal by 90°, has the same amplitude as the first sine wave signal, and has the second frequency; , a first sine wave excitation signal having the same amplitude as the first sine wave signal, and a first cosine wave excitation signal, which is a signal obtained by shifting the phase of the first sine wave excitation signal by 90°, at a set local oscillator frequency. a first local oscillator for outputting; a first mixer for mixing the first signal and the first cosine wave excitation signal and outputting the first mixed signal; and the second signal and the first sine wave excitation signal. and output as a second mixing signal, and a first addition in which the first frequency is added to the local oscillator frequency by adding the first mixing signal and the second mixing signal A signal including a first sine wave addition signal of frequencies and a second sine wave addition signal of a second addition frequency obtained by adding the second frequency to the local oscillator frequency is output to the first port as the excitation signal. 1 adder, wherein the receiving unit comprises a third sine wave signal having the same amplitude and frequency as the first sine wave signal, and a third sine wave signal having the same amplitude and frequency as the second sine wave signal; a third signal output unit for outputting a third signal including four sine wave signals; a third cosine wave signal having the same amplitude and frequency as the first cosine wave signal; and a third cosine wave signal having the same amplitude as the second cosine wave signal. a fourth signal output unit for outputting a fourth signal including a fourth cosine wave signal of the same frequency ; a second sine wave excitation signal having the same amplitude and frequency as the first sine wave excitation signal; a second local oscillator for outputting a second cosine wave excitation signal having the same amplitude and frequency as the first cosine wave excitation signal at the set local oscillation frequency; the third signal and the second cosine wave excitation; a third mixer unit that mixes signals and outputs a third mixed signal; a fourth mixer unit that mixes the fourth signal and the second sinusoidal excitation signal and outputs a fourth mixed signal; a second addition unit that adds the mixed signal and the fourth mixed signal and outputs an internal excitation signal; and a reference station that outputs a sine wave reference signal having the same amplitude as the first sine wave signal at the set local oscillation frequency. and the pass-through signal received at the second port, which is phase-shifted from the first sinusoidal summation signal by a first phase shift that occurs when passing through the measurement object. a signal including a sinusoidal pass-through signal and a second sinusoidal pass-through signal phase-shifted relative to the second sinusoidal summation signal by a second phase shift occurring when passing through the measurement object; and the sinusoidal reference. and a fifth mixer section for mixing the sine wave reference signal and the internal excitation signal to output as a fifth mixing signal, and a sixth mixer section for mixing the sine wave reference signal and the internal excitation signal and outputting the result as a sixth mixing signal. a frequency setting process for setting the local oscillator frequency for the first local oscillator in the excitation unit and the second local oscillator and the reference local oscillator in the receiving unit; A fifth signal is a signal obtained by adding a first received cosine wave signal having a frequency including the first phase shift and a second received cosine wave signal having a second frequency and including the second phase shift. and a signal obtained by adding the first cosine wave reference signal of the first frequency and the second cosine wave reference signal of the second frequency as a sixth signal. 6 second filtering process to extract from the mixing signal, the phase difference between the first cosine wave received signal and the first cosine wave reference signal and the phase difference between the second cosine wave received signal and the second cosine wave reference signal; A phase calculation process for calculating a difference value as a differential phase between the first phase shift and the second phase shift, and storing the differential phase in association with a set of the first addition frequency and the second addition frequency. When the local oscillator frequency set in the frequency setting process is increased, the first addition frequency based on the newly set local oscillator frequency is the previously set local oscillator frequency. When decreasing, the second addition frequency based on the newly set local oscillator frequency coincides with the first addition frequency based on the local oscillator frequency set immediately before so as to match the second addition frequency based on the frequency. By executing each process from the frequency setting process to the storage process while changing stepwise over a predetermined measurement frequency band, the difference regarding the measurement object within the measurement frequency band A differential phase measurement process is executed for measuring differential phase change data indicating a state of phase change for each differential frequency interval between the first frequency and the second frequency.

また、請求項4記載の測定装置は、請求項3記載の測定装置において、前記処理部は、前記測定対象に代えてスルー校正用の標準器が前記第1ポートおよび前記第2ポート間に接続された状態において、前記周波数設定処理において設定する前記局発周波数を、増加させるときには新たに設定する当該局発周波数に基づく前記第1加算周波数が直前に設定した当該局発周波数に基づく前記第2加算周波数と一致するように、減少させるときには新たに設定する当該局発周波数に基づく前記第2加算周波数が直前に設定した当該局発周波数に基づく前記第1加算周波数と一致するように、前記測定周波数帯域に亘って段階的に変更しつつ当該周波数設定処理から前記記憶処理までの各処理を実行することにより、当該測定周波数帯域内における前記標準器に関する前記差分位相についての前記差分周波数間隔毎の変化状態を示す補正用差分位相変化データを測定する補正用差分位相測定処理と、前記差分位相変化データを前記補正用差分位相変化データで補正する補正処理とを実行する。 Further, the measuring apparatus according to claim 4 is the measuring apparatus according to claim 3, wherein the processing unit connects a standard device for thru calibration instead of the measurement object between the first port and the second port. In this state , when the local oscillator frequency set in the frequency setting process is increased, the first addition frequency based on the newly set local oscillator frequency is added to the second frequency based on the previously set local oscillator frequency. The second addition frequency based on the newly set local oscillator frequency when decreasing matches the addition frequency, and the measurement is performed so that the first addition frequency based on the previously set local oscillator frequency matches the measurement. By executing each process from the frequency setting process to the storage process while changing stepwise over the frequency band , the difference phase for the standard device in the measurement frequency band is calculated for each difference frequency interval. A correction differential phase measurement process for measuring correction differential phase change data indicating a change state and a correction process for correcting the differential phase change data with the correction differential phase change data are executed.

また、請求項5記載の測定装置は、請求項1または3記載の測定装置において、前記処理部は、前記測定周波数帯域内における前記差分周波数間隔で規定される複数の周波数のうちの任意の1つの特定周波数の正弦波信号を含む前記励振信号を前記励振ユニットから出力したときに前記受信ユニットで受信される前記通過信号に含まれる当該特定周波数の正弦波信号に生じる位相ずれと、前記差分位相変化データとに基づいて、前記測定周波数帯域内における前記複数の周波数での位相ずれを示す位相変化データを算出する位相データ算出処理を実行する。 Further, the measuring apparatus according to claim 5 is the measuring apparatus according to claim 1 or 3, wherein the processing unit detects any one of a plurality of frequencies defined by the differential frequency intervals in the measurement frequency band. a phase shift occurring in the sine wave signal of the specific frequency included in the passing signal received by the receiving unit when the excitation signal including the sine wave signal of the specific frequency is output from the excitation unit; Phase data calculation processing for calculating phase change data indicating phase shifts at the plurality of frequencies in the measurement frequency band based on the change data.

また、請求項6記載の測定装置は、請求項2または4記載の測定装置において、前記処理部は、前記測定周波数帯域内における前記差分周波数間隔で規定される複数の周波数のうちの任意の1つの特定周波数の正弦波信号を含む前記励振信号を前記励振ユニットから出力したときに前記受信ユニットで受信される前記通過信号に含まれる当該特定周波数の正弦波信号に生じる位相ずれと、前記補正処理において補正された前記差分位相変化データとに基づいて、前記測定周波数帯域内における前記複数の周波数での位相ずれを示す位相変化データを算出する位相データ算出処理を実行する。 Further, the measuring apparatus according to claim 6 is the measuring apparatus according to claim 2 or 4, wherein the processing unit detects any one of a plurality of frequencies defined by the differential frequency intervals in the measurement frequency band. phase shift occurring in the sine wave signal of the specific frequency included in the passing signal received by the receiving unit when the excitation signal including the sine wave signal of one specific frequency is output from the excitation unit; and a phase data calculation process for calculating phase change data indicating phase shifts at the plurality of frequencies in the measurement frequency band based on the corrected differential phase change data.

また、請求項7記載の測定装置は、請求項1から6のいずれかに記載の測定装置において、前記第1信号出力部は、前記第1正弦波信号および前記第2正弦波信号が加算された前記第1信号を出力し、前記第2信号出力部は、前記第1余弦波信号および前記第2余弦波信号が加算された前記第2信号を出力し、前記第3信号出力部は、前記第3正弦波信号および前記第4正弦波信号が加算された前記第3信号を出力し、前記第4信号出力部は、前記第3余弦波信号および前記第4余弦波信号が加算された前記第4信号を出力する。 The measuring apparatus according to claim 7 is the measuring apparatus according to any one of claims 1 to 6, wherein the first signal output section outputs the sum of the first sine wave signal and the second sine wave signal. The second signal output section outputs the second signal obtained by adding the first cosine wave signal and the second cosine wave signal, and the third signal output section includes: outputting the third signal obtained by adding the third sine wave signal and the fourth sine wave signal, and the fourth signal output unit outputting the sum of the third cosine wave signal and the fourth cosine wave signal; outputting the fourth signal;

また、請求項8記載の測定装置は、請求項1から6のいずれかに記載の測定装置において、前記第1信号出力部は、前記第1正弦波信号および前記第2正弦波信号が時分割で連続するように組み合わされた前記第1信号を出力し、前記第2信号出力部は、前記第1余弦波信号および前記第2余弦波信号が時分割で連続するように組み合わされた前記第2信号を出力し、前記第3信号出力部は、前記第3正弦波信号および前記第4正弦波信号が時分割で連続するように組み合わされた前記第3信号を出力し、前記第4信号出力部は、前記第3余弦波信号および前記第4余弦波信号が時分割で連続するように組み合わされた前記第4信号を出力する。 The measuring apparatus according to claim 8 is the measuring apparatus according to any one of claims 1 to 6, wherein the first signal output unit outputs the first sine wave signal and the second sine wave signal in a time division manner. and the second signal output unit outputs the first signal combined so as to be continuous with the second The third signal output unit outputs the third signal in which the third sine wave signal and the fourth sine wave signal are successively combined in a time division manner, and outputs the fourth signal. The output unit outputs the fourth signal in which the third cosine wave signal and the fourth cosine wave signal are combined so as to be continuous in a time division manner.

また、請求項9記載の測定装置は、請求項1から8のいずれかに記載の測定装置において、前記励振ユニットおよび前記受信ユニットは、移動機構を介して相対的に移動可能に構成されている。 According to a ninth aspect of the present invention, there is provided a measuring apparatus according to any one of the first to eighth aspects, wherein the excitation unit and the receiving unit are configured to be relatively movable via a moving mechanism. .

また、請求項10記載の測定装置は、請求項9記載の測定装置において、前記移動機構を備えている。 Moreover, the measuring apparatus according to claim 10 is the measuring apparatus according to claim 9, further comprising the moving mechanism.

請求項1,3記載の測定装置によれば、励振ユニットの第1局発部、並びに受信ユニットの第2局発部および基準局発部を、周波数および位相について調整可能な高機能で高価な発振装置ではなく、周波数だけが調整可能な安価な発振装置で構成することができるため、装置全体のコストを大幅に低減しつつ、測定周波数帯域内における測定対象に関する差分位相ついての差分周波数間隔毎の変化状態を示す差分位相変化データを自動的に測定することができる。 According to the measuring apparatus of claims 1 and 3, the first local oscillator of the excitation unit, the second local oscillator and the reference local oscillator of the receiver unit can be adjusted in terms of frequency and phase. Since it can be configured with an inexpensive oscillation device that can adjust only the frequency instead of the device, the cost of the entire device can be significantly reduced, and the differential phase of the measurement target within the measurement frequency band can be measured for each differential frequency interval. Differential phase change data indicative of the state of change can be automatically measured.

また、請求項2,4記載の測定装置によれば、励振ユニットの第1局発部、並びに受信ユニットの第2局発部および基準局発部を、周波数だけが調整可能な安価な発振装置で構成して、装置全体のコストを大幅に低減しつつ、測定周波数帯域内における標準器に関する差分位相ついての差分周波数間隔毎の変化状態を示す補正用差分位相変化データを自動的に測定することができる。 Further, according to the measuring apparatus of claims 2 and 4, the first local oscillator of the excitation unit, the second local oscillator and the reference local oscillator of the receiver unit are inexpensive oscillators capable of adjusting only the frequency. With this configuration, it is possible to automatically measure correction differential phase change data indicating a change state for each differential frequency interval of the differential phase with respect to the standard device within the measurement frequency band while significantly reducing the cost of the entire device. can.

また、請求項5記載の測定装置によれば、特定周波数での位相ずれと、差分位相変化データとに基づいて、測定対象についての測定周波数帯域内における複数の周波数(差分周波数間隔で規定される複数の周波数)での位相ずれを示す位相変化データを自動的に算出することができる。 Further, according to the measuring apparatus of claim 5, a plurality of frequencies (specified by differential frequency intervals) within the measurement frequency band for the measurement object are determined based on the phase shift at the specific frequency and the differential phase change data. Phase change data indicative of phase shifts at multiple frequencies can be automatically calculated.

また、請求項6記載の測定装置によれば、特定周波数での位相ずれと、補正処理において補正用差分位相変化データを用いて補正された差分位相変化データとに基づいて、測定対象についての測定周波数帯域内における複数の周波数(差分周波数間隔で規定される複数の周波数)での位相ずれを示す位相変化データを、正確に、かつ自動的に算出することができる。 Further, according to the measuring apparatus of claim 6, the measurement target is measured based on the phase shift at the specific frequency and the differential phase change data corrected using the differential phase change data for correction in the correction process. It is possible to accurately and automatically calculate phase change data indicating phase shifts at a plurality of frequencies (a plurality of frequencies defined by differential frequency intervals) within a frequency band.

また、請求項7記載の測定装置によれば、線形な測定対象についての差分位相変化データ、ひいては位相変化データを自動的に測定することができる。 Further, according to the measuring apparatus of claim 7, it is possible to automatically measure differential phase change data, and thus phase change data, for a linear measurement object.

また、請求項8記載の測定装置によれば、非線形な測定対象についての差分位相変化データ、ひいては位相変化データを自動的に測定することができる。 Further, according to the measuring apparatus of claim 8, it is possible to automatically measure differential phase change data, and thus phase change data, for a nonlinear measurement object.

また、請求項9,10記載の測定装置によれば、励振ユニットおよび受信ユニットが移動機構を介して相対的に移動可能に構成されているため、異なる位置に配設された複数の測定対象の各電極に第1ポートおよび第2ポートを自動的に接続することができる結果、複数の測定対象についての差分位相変化データ、ひいては位相変化データを連続して測定することができる。 Further, according to the measuring apparatus of claims 9 and 10, since the excitation unit and the receiving unit are configured to be relatively movable via the moving mechanism, a plurality of objects to be measured arranged at different positions can be measured. As a result of the ability to automatically connect the first port and the second port to each electrode, differential phase change data, and thus phase change data, for multiple measurement targets can be measured continuously.

測定装置1の構成を示す構成図である。1 is a configuration diagram showing the configuration of a measuring device 1; FIG. 第1信号出力部22および第2信号出力部23、並びに第3信号出力部32および第4信号出力部33の構成を示す構成図である。3 is a configuration diagram showing configurations of a first signal output section 22, a second signal output section 23, a third signal output section 32, and a fourth signal output section 33; FIG. 第1信号出力部22から出力される第1信号S1および第3信号出力部32から出力される第3信号S3の波形図である。3 is a waveform diagram of a first signal S1 output from a first signal output section 22 and a third signal S3 output from a third signal output section 32; FIG. 第2信号出力部23から出力される第2信号S2および第4信号出力部33から出力される第4信号S4の波形図である。4 is a waveform diagram of a second signal S2 output from a second signal output section 23 and a fourth signal S4 output from a fourth signal output section 33; FIG. 局発周波数fTXLO(第1加算周波数(fTXLO+f)および第2加算周波数(fTXLO+f)の組)毎の差分位相θDICで構成される補正用差分位相変化データDDICを説明するための説明図である。Description of correction differential phase change data D DIC composed of differential phase θ DIC for each local oscillator frequency f TXLO (a set of first addition frequency (f TXLO +f 1 ) and second addition frequency (f TXLO +f 2 )) It is an explanatory view for doing. 局発周波数fTXLO(第1加算周波数(fTXLO+f)および第2加算周波数(fTXLO+f)の組)毎の補正前の差分位相θDIMで構成される差分位相変化データDDIMを説明するための説明図である。Differential phase change data D DIM composed of differential phase θ DIM before correction for each local oscillator frequency f TXLO (a set of first addition frequency (f TXLO +f 1 ) and second addition frequency (f TXLO +f 2 )) It is an explanatory view for explaining. 局発周波数fTXLO(第1加算周波数(fTXLO+f)および第2加算周波数(fTXLO+f)の組)毎の最終的な差分位相(補正後の差分位相)θDIFで構成される差分位相変化データDDIFを説明するための説明図である。Consists of the final differential phase (corrected differential phase) θ DIF for each local oscillator frequency f TXLO (a set of the first addition frequency (f TXLO +f 1 ) and the second addition frequency (f TXLO +f 2 )) FIG. 4 is an explanatory diagram for explaining differential phase change data D- DIF ; 測定周波数帯域内における複数の周波数での位相ずれ(挿入位相θIP)で構成される位相変化データDIPを説明するための説明図である。FIG. 4 is an explanatory diagram for explaining phase change data D IP composed of phase shifts (insertion phase θ IP ) at a plurality of frequencies within a measurement frequency band; 第1信号出力部22から出力される他の第1信号S1および第3信号出力部32から出力される他の第3信号S3の波形図である。4 is a waveform diagram of another first signal S1 output from a first signal output section 22 and another third signal S3 output from a third signal output section 32; FIG.

以下、測定装置の実施の形態について、添付図面を参照して説明する。 Hereinafter, embodiments of the measuring device will be described with reference to the accompanying drawings.

まず、この測定装置としての測定装置1の構成について、図1を参照して説明する。 First, the configuration of a measuring device 1 as this measuring device will be described with reference to FIG.

測定装置1は、図1に示すように、励振ユニット2、受信ユニット3、移動機構4、処理部5、記憶部6および出力部7を備え、測定対象(DUT)100の伝送特性(S21パラメータ)を測定可能に構成されている。本例では一例として、測定装置1は、励振ユニット2に設けられて測定対象100に励振信号Stx1を出力するための第1ポート28と、受信ユニット3に設けられて測定対象100を通過した励振信号Stx1を通過信号Spaとして受信するための第2ポート43とを備えて、伝送特性の一例である挿入位相θIPについての周波数特性を予め規定された測定周波数帯域に亘って測定するベクトルネットワークアナライザとして機能する。 The measuring apparatus 1 includes an excitation unit 2, a receiving unit 3, a moving mechanism 4, a processing unit 5, a storage unit 6, and an output unit 7, as shown in FIG. ) can be measured. In this example, as an example, the measurement apparatus 1 includes a first port 28 provided in the excitation unit 2 for outputting the excitation signal S tx1 to the measurement target 100 and a reception unit 3 provided with a first port 28 for outputting the excitation signal S tx1 to the measurement target 100 . a second port 43 for receiving the excitation signal S tx1 as the passing signal Spa, and a vector for measuring the frequency characteristic of the insertion phase θ IP , which is an example of the transmission characteristic, over a predetermined measurement frequency band; Works as a network analyzer.

励振ユニット2は、図1に示すように、第1筐体21、第1信号出力部22、第2信号出力部23、第1局発部24、第1ミキサ部25、第2ミキサ部26、第1加算部27、第1ポート28および第1プローブ29を備えている。また、励振ユニット2は、デジタル伝送路L1を介して処理部5に接続されている。 The excitation unit 2 includes, as shown in FIG. , a first adder 27 , a first port 28 and a first probe 29 . The excitation unit 2 is also connected to the processing section 5 via a digital transmission line L1.

第1筐体21は、移動機構4により、測定対象100やスルー校正用の標準器101の設置位置の近傍領域において、任意の方向に移動可能に支持されている。第1筐体21には、第1信号出力部22、第2信号出力部23、第1局発部24、第1ミキサ部25、第2ミキサ部26、第1加算部27、第1ポート28および第1プローブ29が一体的に配設されている。 The first housing 21 is supported by the moving mechanism 4 so as to be movable in any direction in the vicinity of the installation positions of the measurement object 100 and the standard device 101 for through calibration. The first housing 21 includes a first signal output section 22, a second signal output section 23, a first local oscillator section 24, a first mixer section 25, a second mixer section 26, a first addition section 27, a first port 28 and the first probe 29 are integrally arranged.

第1信号出力部22は、第1周波数fの第1正弦波信号S1a(=sin(2πft))、および第1周波数fより高い第2周波数fであって第1正弦波信号S1aと同一振幅の第2正弦波信号S1b(=sin(2πft))を含む第1信号S1を出力する。第2信号出力部23は、第1正弦波信号S1aに対して位相が90°ずれると共に第1正弦波信号S1aと同一振幅で、かつ第1周波数fの信号である第1余弦波信号S2a(=cos(2πft))、および第2正弦波信号S1bに対して位相が90°ずれると共に第1正弦波信号S1aと同一振幅で、かつ第2周波数fの信号である第2余弦波信号S2b(=cos(2πft))を含む第2信号S2を出力する。 The first signal output unit 22 outputs a first sine wave signal S1a (=sin( 2πf1t )) having a first frequency f1 and a first sine wave having a second frequency f2 higher than the first frequency f1 . A first signal S1 including a second sinusoidal signal S1b (=sin(2πf 2 t)) having the same amplitude as the signal S1a is output. The second signal output unit 23 outputs a first cosine wave signal S2a that is out of phase with the first sine wave signal S1a by 90°, has the same amplitude as the first sine wave signal S1a, and has a first frequency f1 . (=cos(2πf 1 t)), and a second cosine signal that is 90° out of phase with the second sine wave signal S1b, has the same amplitude as the first sine wave signal S1a, and has a second frequency f2 . A second signal S2 containing a wave signal S2b (=cos(2πf 2 t)) is output.

具体的には、第1信号出力部22は、図2に示すように、クロック発生部22a、アドレス発生部22b、第1波形メモリ22cおよび第1D/A変換部22dを備えている。この場合、クロック発生部22aは、周波数f,fよりも十分に高い予め規定された周波数fsのクロック信号Sckを発生させてアドレス発生部22bに出力する。なお、この周波数fsについては、後述する局発周波数fTXLOと同様にして処理部5によって設定可能として、周波数f,fを変更し得る構成とすることもできる。 Specifically, as shown in FIG. 2, the first signal output section 22 includes a clock generation section 22a, an address generation section 22b, a first waveform memory 22c, and a first D/A conversion section 22d. In this case, the clock generator 22a generates a clock signal Sck with a predetermined frequency fs sufficiently higher than the frequencies f1 and f2 , and outputs the clock signal Sck to the address generator 22b. Note that this frequency fs can be set by the processing unit 5 in the same manner as the local oscillator frequency f TXLO , which will be described later, so that the frequencies f 1 and f 2 can be changed.

アドレス発生部22bは、例えば、カウンタなどで構成されて、第1波形メモリ22cに対するアドレス信号Sad(後述するスタートアドレスADstからエンドアドレスADen(スタートアドレスADstよりも上位のアドレス)までのアドレスを示す信号)を、示されるアドレスをクロック信号Sckに同期してインクリメントしつつ発生させて出力する。また、アドレス発生部22bは、アドレス信号Sadで示されるアドレスがエンドアドレスADenに達したときには、アドレス信号Sadで示されるアドレスをスタートアドレスADstに戻して、インクリメント動作を継続する。 The address generator 22b is composed of, for example, a counter, and is a signal indicating addresses from an address signal Sad (to be described later) from a start address ADst to an end address ADen (an address higher than the start address ADst) for the first waveform memory 22c. ) is generated and output while the indicated address is incremented in synchronization with the clock signal Sck. When the address indicated by the address signal Sad reaches the end address ADen, the address generator 22b returns the address indicated by the address signal Sad to the start address ADst and continues the increment operation.

第1波形メモリ22cは、例えば、ROMなどの半導体メモリで構成されて、スタートアドレスADstからエンドアドレスADenまでのアドレス空間に対応する記憶領域に、第1信号S1についての波形データDw1が予め記憶されている。本例では、第1正弦波信号S1aと第2正弦波信号S1bとを含む信号の一例として、図3に示す波形で表される第1信号S1(第1正弦波信号S1aと第2正弦波信号S1bとが加算された信号(=sin(2πft)+sin(2πft))のための波形データDw1が、n周期分(nは任意の自然数)だけ、スタートアドレスADstとエンドアドレスADenのそれぞれにおいて立ち上がりのゼロクロス点となるように記憶されている。なお、図3では一例として、第2周波数fが第1周波数fの2倍の周波数となる例についての波形を示しているが、2倍に限定されるものではなく、第2周波数fは第1周波数fのm倍(mは2以上の任意の自然数)であればよい。 The first waveform memory 22c is composed of, for example, a semiconductor memory such as a ROM, and stores waveform data Dw1 for the first signal S1 in advance in a storage area corresponding to an address space from a start address ADst to an end address ADen. ing. In this example, as an example of a signal including a first sine wave signal S1a and a second sine wave signal S1b, a first signal S1 (first sine wave signal S1a and second sine wave The waveform data Dw1 for the signal (=sin(2πf 1 t)+sin(2πf 2 t)) obtained by adding the signal S1b to the start address ADst and the end address ADen for n periods (n is an arbitrary natural number). As an example, Fig. 3 shows a waveform in which the second frequency f2 is twice the frequency of the first frequency f1 . However, it is not limited to twice, and the second frequency f2 may be m times the first frequency f1 (m is any natural number equal to or greater than 2).

第1D/A変換部22dは、第1波形メモリ22cから出力される波形データDw1を入力すると共に波形データDw1で示される電圧値の電圧を出力することにより、図3に示される第1信号S1を生成して出力する。 The first D/A converter 22d receives the waveform data Dw1 output from the first waveform memory 22c and outputs the voltage value indicated by the waveform data Dw1, thereby generating the first signal S1 shown in FIG. is generated and output.

第2信号出力部23は、図2に示すように、クロック発生部22a(第1信号出力部22と共有)、アドレス発生部22b(第1信号出力部22と共有)、第2波形メモリ23cおよび第2D/A変換部23dを備えている。この場合、第2信号S2は、その位相が第1信号S1の位相に対して一定に維持(90°ずれた状態が維持)される必要がある。よって、クロック発生部22aは、第1信号出力部22と第2信号出力部23とで共有される構成となっている。一方、アドレス発生部22bについては、本例の測定装置1では、装置構成をより簡易なものとするために、第2信号S2用の波形データDw2を記憶させる第2波形メモリ23cでのアドレス空間を、第1信号S1用の波形データDw1を記憶させる第1波形メモリ22cでのアドレス空間と一致させて、第1信号出力部22と共有させているが、この構成に限定されるものではない。第2信号S2用の波形データDw2の第2波形メモリ23cでのアドレス空間が、第1信号S1用の波形データDw1の第1波形メモリ22cでのアドレス空間と異なる構成のときには、第2信号出力部23は、第1信号出力部22とは個別のアドレス発生部を有する構成を採用することになる。 As shown in FIG. 2, the second signal output section 23 includes a clock generation section 22a (shared with the first signal output section 22), an address generation section 22b (shared with the first signal output section 22), and a second waveform memory 23c. and a second D/A converter 23d. In this case, the phase of the second signal S2 must be kept constant (maintained 90° out of phase) with respect to the phase of the first signal S1. Therefore, the clock generation section 22a is shared by the first signal output section 22 and the second signal output section 23. FIG. On the other hand, for the address generating section 22b, in the measuring apparatus 1 of this example, in order to simplify the apparatus configuration, the address space in the second waveform memory 23c for storing the waveform data Dw2 for the second signal S2 is set. is made to match the address space in the first waveform memory 22c that stores the waveform data Dw1 for the first signal S1, and is shared with the first signal output section 22, but it is not limited to this configuration. . When the address space in the second waveform memory 23c for the waveform data Dw2 for the second signal S2 is different from the address space in the first waveform memory 22c for the waveform data Dw1 for the first signal S1, the second signal output The section 23 adopts a configuration having an address generation section separate from the first signal output section 22 .

第2波形メモリ23cは、例えば、ROMなどの半導体メモリで構成されて、スタートアドレスADstからエンドアドレスADenまでのアドレス空間に対応する記憶領域に、第2信号S2についての波形データDw2が予め記憶されている。本例では、第1余弦波信号S2aと第2余弦波信号S2bとを含む信号の一例として、図4に示す波形で表される第2信号S2(第1余弦波信号S2aと第2余弦波信号S2bとが加算された信号(=cos(2πft)+cos(2πft))のための波形データDw2が、n周期分だけ、スタートアドレスADstとエンドアドレスADenのそれぞれにおいて最大ピーク点となるように記憶されている。 The second waveform memory 23c is composed of, for example, a semiconductor memory such as a ROM, and stores waveform data Dw2 for the second signal S2 in advance in a storage area corresponding to an address space from a start address ADst to an end address ADen. ing. In this example, as an example of a signal including a first cosine wave signal S2a and a second cosine wave signal S2b, the second signal S2 represented by the waveform shown in FIG. The waveform data Dw2 for the signal (=cos(2πf 1 t)+cos(2πf 2 t)) obtained by adding the signal S2b to the maximum peak point at each of the start address ADst and the end address ADen for n cycles. is stored as

第2D/A変換部23dは、第2波形メモリ23cから出力される波形データDw2を入力すると共に波形データDw2で示される電圧値の電圧を出力することにより、図4に示される第2信号S2を生成して出力する。 The second D/A converter 23d receives the waveform data Dw2 output from the second waveform memory 23c and outputs the voltage of the voltage value indicated by the waveform data Dw2, thereby generating the second signal S2 shown in FIG. is generated and output.

第1局発部24は、一例として図1に示すように、局発24aと移相器24bとを備えて、第1正弦波励振信号SLO1a、および第1正弦波励振信号SLO1aの位相を90°ずらした信号である第1余弦波励振信号SLO1bを出力する。 The first local oscillator 24, as shown in FIG. 1 as an example, includes a local oscillator 24a and a phase shifter 24b to shift the first sinusoidal excitation signal S LO1a and the phase of the first sinusoidal excitation signal S LO1a . is shifted by 90°, the first cosine wave excitation signal S_LO1b is output.

具体的には、局発24aは、処理部5によって設定された局発周波数fTXLOで正弦波信号としての第1正弦波励振信号SLO1a(=sin(2πfTXLOt+θtx1))を生成して出力可能に構成されている。この場合、処理部5は、この局発周波数fTXLO示す周波数データDfLO1をデジタル伝送路L1を介して第1局発部24の局発24aに出力し、局発24aは、この周波数データDfLO1を取得して、周波数データDfLO1で示される局発周波数fTXLOの第1正弦波励振信号SLO1aを出力する。移相器24bは、第1正弦波励振信号SLO1aを入力すると共に、位相を90°ずらして第1余弦波励振信号SLO1b(=cos(2πfTXLOt+θtx1))を出力する。なお、この位相差θtx1は、局発24aと非同期で同じ局発周波数fTXLOの信号である正弦波基準信号Sr(=sin(2πfTXLOt))を生成して出力する後述の基準局発部38のこの正弦波基準信号Srの位相を基準としたときの位相差を示すものとする。 Specifically, the local oscillator 24a generates a first sine wave excitation signal S LO1a (=sin(2πf TXLO t+θ tx1 )) as a sine wave signal at the local oscillator frequency f TXLO set by the processing unit 5. configured for output. In this case, the processing unit 5 outputs the frequency data Df LO1 indicating the local oscillator frequency f TXLO to the local oscillator 24a of the first local oscillator 24 via the digital transmission line L1, and the local oscillator 24a receives the frequency data Df LO1 is obtained, and a first sinusoidal excitation signal S LO1a of the local oscillator frequency f TXLO indicated by the frequency data Df LO1 is output. The phase shifter 24b receives the first sine wave excitation signal S LO1a and outputs the first cosine wave excitation signal S LO1b (=cos(2πf TXLO t+θ tx1 )) with a 90° phase shift. This phase difference θ tx1 is generated by a reference local oscillator, which will be described later, which generates and outputs a sinusoidal reference signal Sr (=sin(2πf TXLO t)), which is asynchronous with the local oscillator 24a and has the same local oscillator frequency f TXLO . 38 is the phase difference when the phase of this sinusoidal reference signal Sr is used as a reference.

第1ミキサ部25は、第2ミキサ部26および第1加算部27と共に第1信号生成部を構成し、第1信号S1および第1余弦波励振信号SLO1bをミキシングして第1ミキシング信号Smx1として出力する。第1ミキシング信号Smx1は、下記の式(1)で表される。第2ミキサ部26は、第2信号S2および第1正弦波励振信号LO1aをミキシングして第2ミキシング信号Smx2として出力する。第2ミキシング信号Smx2は、下記の式(2)で表される。 The first mixer section 25 constitutes a first signal generation section together with the second mixer section 26 and the first addition section 27, and mixes the first signal S1 and the first cosine wave excitation signal SLO1b to obtain a first mixing signal S Output as mx1 . The first mixing signal S mx1 is represented by the following equation (1). The second mixer section 26 mixes the second signal S2 and the first sinusoidal excitation signal LO1a and outputs a second mixed signal Smx2 . The second mixing signal S mx2 is represented by Equation (2) below.

Figure 0007301535000001
Figure 0007301535000001
Figure 0007301535000002
Figure 0007301535000002

第1加算部27は、第1ミキシング信号Smx1および第2ミキシング信号Smx2を加算して、励振信号Stx1として第1ポート28に出力する。励振信号Stx1は、下記の式(3)で表されるように、局発周波数fTXLOに第1周波数fが加算された第1加算周波数(fTXLO+f)の第1正弦波加算信号(=sin(2π(fTXLO+f)t+θtx1))、および局発周波数fTXLOに第2周波数fが加算された第2加算周波数(fTXLO+f)の第2正弦波加算信号(=sin(2π(fTXLO+f)t+θtx1))を含む信号である。第1ポート28には、第1プローブ29が装着されていることから、第1加算部27から出力された励振信号Stx1は、第1プローブ29に出力される。 The first adder 27 adds the first mixing signal Smx1 and the second mixing signal Smx2 , and outputs the result to the first port 28 as the excitation signal Stx1 . The excitation signal S tx1 is the first sine wave addition of the first addition frequency (f TXLO +f 1 ) obtained by adding the first frequency f 1 to the local oscillator frequency f TXLO as represented by the following equation (3). signal (=sin(2π(f TXLO +f 1 )t+θ tx1 )) and a second sine wave addition signal of a second addition frequency (f TXLO +f 2 ) obtained by adding a second frequency f 2 to the local oscillator frequency f TXLO It is a signal containing (=sin(2π(f TXLO +f 2 )t+θ tx1 )). Since the first probe 29 is attached to the first port 28 , the excitation signal Stx1 output from the first adder 27 is output to the first probe 29 .

Figure 0007301535000003
Figure 0007301535000003

また、励振信号Stx1は、第1プローブ29を介して測定対象100に出力(供給)されると共に、測定対象100を通過して、通過信号Spaとして受信ユニット3で受信される。通過信号Spaは、下記の式(4)で表されるように、励振信号Stx1を構成する上記の第1正弦波加算信号に対して測定対象100を通過する際に生じる第1位相ずれθDUTf1分だけ位相がずれた第1正弦波通過信号(=sin(2π(fTXLO+f)t+θtx1+θDUTf1))、および励振信号Stx1を構成する上記の第2正弦波加算信号に対して測定対象100を通過する際に生じる第2位相ずれθDUTf2分だけ位相がずれた第2正弦波通過信号(=sin(2π(fTXLO+f)t+θtx1+θDUTf2))を含む信号である。つまり、第1位相ずれθDUTf1は、第1加算周波数(fTXLO+f)の信号成分が測定対象100を通過することによって生じる位相ずれであり、第2位相ずれθDUTf2は、第2加算周波数(fTXLO+f)の信号成分が測定対象100を通過することによって生じる位相ずれである。 The excitation signal Stx1 is output (supplied) to the measurement target 100 via the first probe 29, passes through the measurement target 100, and is received by the receiving unit 3 as a passing signal Spa. As represented by the following equation (4), the passing signal Spa is the first phase shift θ For the first sinusoidal passing signal (=sin(2π(f TXLO +f 1 )t+θ tx1DUTf1 )) shifted in phase by DUTf1 and the above-described second sinusoidal summation signal constituting the excitation signal S tx1 This signal includes a second sinusoidal passing signal (=sin(2π( fTXLO + f2 )t+ θtx1 + θDUTf2 )) whose phase is shifted by the second phase shift θDUTf2 that occurs when passing through the measurement object 100 . That is, the first phase shift θ DUTf1 is the phase shift caused by the signal component of the first addition frequency (f TXLO +f 1 ) passing through the measurement target 100, and the second phase shift θ DUTf2 is the second addition frequency. This is the phase shift caused by the signal component (f TXLO +f 2 ) passing through the measurement object 100 .

Figure 0007301535000004
Figure 0007301535000004

受信ユニット3は、図1に示すように、第2筐体31、第3信号出力部32、第4信号出力部33、第2局発部34、第3ミキサ部35、第4ミキサ部36、第2加算部37、基準局発部38、第5ミキサ部39、第6ミキサ部40、第1A/D変換部41、第2A/D変換部42、第2ポート43および第2プローブ44を備えて、励振ユニット2と別体に構成されている。また、受信ユニット3は、デジタル伝送路L2を介して処理部5に接続されている。 The receiving unit 3, as shown in FIG. , second adder 37, reference local oscillator 38, fifth mixer 39, sixth mixer 40, first A/D converter 41, second A/D converter 42, second port 43 and second probe 44. It is provided and configured separately from the excitation unit 2 . The receiving unit 3 is also connected to the processing section 5 via a digital transmission line L2.

第2筐体31は、第1筐体21に対して独立して構成されると共に、移動機構4により、測定対象100の設置位置の近傍領域において、任意の方向に第1筐体21と独立して移動可能に支持されている。第2筐体31には、第3信号出力部32、第4信号出力部33、第2局発部34、第3ミキサ部35、第4ミキサ部36、第2加算部37、基準局発部38、第5ミキサ部39、第6ミキサ部40、第1A/D変換部41、第2A/D変換部42、第2ポート43および第2プローブ44が一体的に配設されている。 The second housing 31 is configured independently of the first housing 21, and is moved independently of the first housing 21 in an arbitrary direction in the vicinity of the installation position of the measurement target 100 by the moving mechanism 4. supported so as to be movable. The second housing 31 includes a third signal output section 32, a fourth signal output section 33, a second local oscillator section 34, a third mixer section 35, a fourth mixer section 36, a second adder section 37, and a reference local oscillator section. 38, a fifth mixer section 39, a sixth mixer section 40, a first A/D conversion section 41, a second A/D conversion section 42, a second port 43 and a second probe 44 are integrally arranged.

第3信号出力部32は、図2に示すように、第1信号出力部22と同一に構成された構成要素(クロック発生部22a、アドレス発生部22b、第1波形メモリ22cおよび第1D/A変換部22d)を備えて、一例として第1信号出力部22と同一に構成されている。この構成により、第3信号出力部32は、図3に示すように、第1正弦波信号S1aに対応する第3正弦波信号S3a(=sin(2πft+θDLY))と第2正弦波信号S1bに対応する第4正弦波信号S3b(=sin(2πft+(f/f)θDLY))とが加算された第3信号S3(=sin(2πft+θDLY)+sin(2πft+(f/f)θDLY))を出力する。 As shown in FIG. 2, the third signal output section 32 includes the same components as the first signal output section 22 (clock generation section 22a, address generation section 22b, first waveform memory 22c and first D/A). As an example, it has the same configuration as the first signal output section 22, including a conversion section 22d). With this configuration, as shown in FIG. 3, the third signal output unit 32 outputs a third sine wave signal S3a (=sin(2πf 1 t+θ DLY )) corresponding to the first sine wave signal S1a and a second sine wave signal A third signal S3 ( =sin(2πf 1 t+θ DLY )+sin ( 2πf 2 Output t+(f 2 /f 1 ) θ DLY )).

第4信号出力部33は、第2信号出力部23と同一に構成された構成要素(クロック発生部22a、アドレス発生部22b、第2波形メモリ23cおよび第2D/A変換部23d)を備えて、一例として第2信号出力部23と同一に構成されている。この構成により、第4信号出力部33は、図4に示すように、第1余弦波信号S2aに対応する第3余弦波信号S4a(=cos(2πft+θDLY))と第2余弦波信号S2bに対応する第4余弦波信号S4b(=cos(2πft+(f/f)θDLY))とが加算された第4信号S4(=cos(2πft+θDLY)+cos(2πft+(f/f)θDLY))を出力する。 The fourth signal output section 33 includes components (a clock generator 22a, an address generator 22b, a second waveform memory 23c, and a second D/A converter 23d) configured identically to the second signal output section 23. , for example, are configured in the same manner as the second signal output section 23 . With this configuration, the fourth signal output unit 33 outputs a third cosine wave signal S4a (=cos(2πf 1 t+θ DLY )) corresponding to the first cosine wave signal S2a and a second cosine wave signal S4a, as shown in FIG. A fourth signal S4 ( =cos(2πf 1 t+θ DLY )+cos ( 2πf 2 Output t+(f 2 /f 1 ) θ DLY )).

この場合、受信ユニット3側のクロック発生部22aは、励振ユニット2側のクロック発生部22aに対して、同じ周波数fsのクロック信号Sckを非同期で発生させてアドレス発生部22bに出力する。これにより、第3正弦波信号S3aは、上記したように、対応する第1正弦波信号S1a(同じ周波数fの信号)に対して一定の位相差(遅延)θDLYを持った状態で出力され、第3余弦波信号S4aも上記したように、対応する第1余弦波信号S2a(同じ周波数fの信号)に対して同じ位相差(遅延)θDLYを持った状態で出力される。また、周波数fの第4正弦波信号S3bおよび第4余弦波信号S4bでは、周波数fの信号での位相差θDLY分の時間は、位相差(遅延)(=(f/f)θDLY)分の時間に相当する。したがって、第4正弦波信号S3bは、上記したように、対応する第2正弦波信号S1b(同じ周波数fの信号)に対して一定の位相差(f/f)θDLYを持った状態で出力され、第4余弦波信号S4bも上記したように、対応する第2余弦波信号S2b(同じ周波数fの信号)に対して同じ位相差(f/f)θDLYを持った状態で出力される。 In this case, the clock generator 22a on the receiving unit 3 side asynchronously generates the clock signal Sck of the same frequency fs as the clock generator 22a on the excitation unit 2 side and outputs it to the address generator 22b. As a result, the third sine wave signal S3a is output with a certain phase difference (delay) θ DLY from the corresponding first sine wave signal S1a (signal with the same frequency f1 ) as described above. As described above, the third cosine wave signal S4a is also output with the same phase difference (delay) .theta.DLY with respect to the corresponding first cosine wave signal S2a (signal with the same frequency f1 ). In the fourth sine wave signal S3b and the fourth cosine wave signal S4b of frequency f2 , the time corresponding to the phase difference θ DLY in the signal of frequency f1 is the phase difference (delay) (=( f2 / f1 ) θ DLY ) minutes. Therefore, as described above, the fourth sine wave signal S3b has a constant phase difference ( f2 / f1 ) θDLY with respect to the corresponding second sine wave signal S1b (signal with the same frequency f2 ). , and the fourth cosine wave signal S4b also has the same phase difference ( f2 / f1 ) θDLY with respect to the corresponding second cosine wave signal S2b (signal with the same frequency f2 ) as described above. It is output as is.

第2局発部34は、第1局発部24の局発24aと同一に構成された局発34a、および第1局発部24の移相器24bと同一に構成された移相器34bを備えて、一例として第1局発部24と同一に構成されて、第1正弦波励振信号SLO1aに対応する第2正弦波励振信号SLO2a、および第2正弦波励振信号SLO2aの位相を90°ずらした信号であって第1余弦波励振信号SLO1bに対応する第2余弦波励振信号SLO2bを出力する。 The second local oscillator 34 has a local oscillator 34a configured identically to the local oscillator 24a of the first local oscillator 24, and a phase shifter 34b configured identically to the phase shifter 24b of the first local oscillator 24. , as an example, configured identically to the first local oscillator 24, a second sinusoidal excitation signal S LO2a corresponding to the first sinusoidal excitation signal S LO1a , and a phase of the second sinusoidal excitation signal S LO2a is shifted by 90° and corresponds to the first cosine wave excitation signal S_LO1b .

具体的には、局発34aは、処理部5によって設定された局発周波数fTXLO(局発24aと同一の周波数)で正弦波信号としての第2正弦波励振信号SLO2a(=sin(2πfTXLOt+θtx2))を生成して出力可能に構成されている。この場合、処理部5は、この局発周波数fTXLO示す周波数データDfLO2(本例では、周波数データDfLO1で示される局発周波数fTXLOと同じ)をデジタル伝送路L2を介して第2局発部34の局発34aおよび基準局発部38に出力する。局発34aは、この周波数データDfLO2を取得して、周波数データDfLO2で示される局発周波数fTXLOの第2正弦波励振信号SLO2aを出力する。移相器34bは、第2正弦波励振信号SLO2aを入力すると共に、位相を90°ずらして第2余弦波励振信号SLO2b(=cos(2πfTXLOt+θtx2))を出力する。なお、第2正弦波励振信号SLO2aおよび第2余弦波励振信号SLO2bは、基準局発部38から出力される後述の正弦波基準信号Sr(=sin(2πfTXLOt))と同じ局発周波数fTXLOではあるが、非同期であることから、上記の位相差θtx2は、この正弦波基準信号Srの位相を基準としたときの位相差を示すものとする。 Specifically, the local oscillator 34a generates a second sinusoidal excitation signal S LO2a (=sin(2πf TXLO t+θ tx2 )) can be generated and output. In this case, the processing unit 5 transmits the frequency data Df LO2 indicating the local oscillator frequency f TXLO (in this example, the same as the local oscillator frequency f TXLO indicated by the frequency data Df LO1 ) to the second station via the digital transmission path L2. It is output to the local oscillator 34 a of the oscillator 34 and the reference local oscillator 38 . The local oscillator 34a acquires this frequency data Df LO2 and outputs a second sinusoidal excitation signal S LO2a of the local oscillator frequency f TXLO indicated by the frequency data Df LO2 . The phase shifter 34b receives the second sine wave excitation signal S LO2a and outputs a second cosine wave excitation signal S LO2b (=cos(2πf TXLO t+θ tx2 )) with a 90° phase shift. The second sine wave excitation signal S LO2a and the second cosine wave excitation signal S LO2b have the same local oscillation frequency as the sine wave reference signal Sr (=sin(2πf TXLO t)) output from the reference local oscillator 38, which will be described later. Although f TXLO is asynchronous, the above phase difference θ tx2 indicates the phase difference when the phase of the sinusoidal reference signal Sr is used as a reference.

第3ミキサ部35は、第4ミキサ部36および第2加算部37と共に第2信号生成部を構成する。また、第3ミキサ部35は、一例として第1ミキサ部25と同一に構成されて、第3信号S3および第2余弦波励振信号SLO2bをミキシングして第3ミキシング信号Smx3として出力する。第3ミキシング信号Smx3は、下記の式(5)で表される。第4ミキサ部36は、一例として第2ミキサ部26と同一に構成されて、第4信号S4および第2正弦波励振信号SLO2aをミキシングして第4ミキシング信号Smx4として出力する。第4ミキシング信号Smx4は、下記の式(6)で表される。 The third mixer section 35 constitutes a second signal generation section together with the fourth mixer section 36 and the second addition section 37 . Also, the third mixer section 35, for example, has the same configuration as the first mixer section 25, mixes the third signal S3 and the second cosine wave excitation signal S_LO2b , and outputs the result as a third mixed signal Smx3 . The third mixing signal S mx3 is represented by Equation (5) below. The fourth mixer section 36, for example, has the same configuration as the second mixer section 26, mixes the fourth signal S4 and the second sinusoidal excitation signal S_LO2a , and outputs a fourth mixed signal S_mx4 . The fourth mixing signal S mx4 is represented by Equation (6) below.

Figure 0007301535000005
Figure 0007301535000005
Figure 0007301535000006
Figure 0007301535000006

第2加算部37は、一例として第1加算部27と同一に構成されて、第3ミキシング信号Smx3および第4ミキシング信号Smx4を加算して、内部励振信号Stx2として出力する。内部励振信号Stx2は、下記の式(7)で表される。 The second adder 37, for example, has the same structure as the first adder 27, adds the third mixing signal Smx3 and the fourth mixing signal Smx4 , and outputs the result as an internal excitation signal Stx2 . The internal excitation signal Stx2 is represented by the following equation (7).

Figure 0007301535000007
Figure 0007301535000007

基準局発部38は、処理部5によって設定された局発周波数fTXLO(局発24aと同一の周波数)であって第1正弦波信号S1aと同一振幅の正弦波基準信号Sr(=sin(2πfTXLOt))を生成して出力可能に構成されている。この場合、基準局発部38は、処理部5から上記の周波数データDfLO2を取得して、周波数データDfLO2で示される局発周波数fTXLOの正弦波基準信号Srを出力する。 The reference local oscillator 38 generates a sinusoidal reference signal Sr (=sin( 2πf TXLO t)) can be generated and output. In this case, the reference local oscillator 38 acquires the frequency data Df LO2 from the processing unit 5 and outputs a sinusoidal reference signal Sr of the local oscillator frequency f TXLO indicated by the frequency data Df LO2 .

第5ミキサ部39は、第6ミキサ部40と共に受信側ミキサ部を構成し、第2ポート43に装着された第2プローブ44を介して第2ポート43で受信された通過信号Spaおよび正弦波基準信号Srをミキシングして第5ミキシング信号(第1出力ミキシング信号)Smx5として出力する。第6ミキサ部40は、内部励振信号Stx2および正弦波基準信号Srをミキシングして第6ミキシング信号(第2出力ミキシング信号)Smx6として出力する。この場合、第5ミキシング信号Smx5および第6ミキシング信号Smx6は、それぞれ、第1周波数fの余弦波信号と、周波数(2fTXLO+f)の余弦波信号と、第2周波数fの余弦波信号と、周波数(2fTXLO+f)の余弦波信号とを含む信号である。 The fifth mixer section 39 constitutes a receiving side mixer section together with the sixth mixer section 40, and receives the passing signal Spa and the sine wave at the second port 43 via the second probe 44 attached to the second port 43. The reference signal Sr is mixed and output as a fifth mixed signal (first output mixed signal) Smx5 . The sixth mixer section 40 mixes the internal excitation signal Stx2 and the sinusoidal reference signal Sr and outputs a sixth mixed signal (second output mixed signal) Smx6 . In this case, the fifth mixing signal S mx5 and the sixth mixing signal S mx6 are respectively a cosine wave signal of the first frequency f 1 , a cosine wave signal of the frequency (2f TXLO +f 1 ), and a cosine wave signal of the second frequency f 2 . A signal that includes a cosine signal and a cosine signal at frequency (2f TXLO +f 2 ).

第1A/D変換部41は、第5ミキシング信号Smx5に含まれる上記の各信号の周波数に対して十分に高い周波数で第5ミキシング信号Smx5をサンプリングすることにより、第5ミキシング信号Smx5の瞬時値を示す波形データDw3に変換すると共に、デジタル伝送路L2を介して処理部5に出力する。第2A/D変換部42は、第6ミキシング信号Smx6に含まれる上記の各信号の周波数に対して十分に高い周波数で第6ミキシング信号Smx6をサンプリングすることにより、第6ミキシング信号Smx6の瞬時値を示す波形データDw4に変換すると共に、デジタル伝送路L2を介して処理部5に出力する。 The first A/D converter 41 samples the fifth mixing signal Smx5 at a frequency sufficiently higher than the frequency of each of the above signals included in the fifth mixing signal Smx5 to obtain the fifth mixing signal Smx5 . is converted into waveform data Dw3 indicating the instantaneous value of , and output to the processing unit 5 via the digital transmission line L2. The second A/D converter 42 samples the sixth mixing signal S mx6 at a frequency sufficiently higher than the frequency of each of the above signals included in the sixth mixing signal S mx6 to obtain the sixth mixing signal S mx6 . is converted into waveform data Dw4 indicating the instantaneous value of , and output to the processing unit 5 via the digital transmission line L2.

移動機構4は、互いに別体に構成された励振ユニット2および受信ユニット3を支持すると共に、励振ユニット2および受信ユニット3を独立して任意の方向に(例えば、X方向、Y方向およびZ方向(3軸方向)に相対的に)移動可能に構成されている。この構成により、測定装置1は、任意の位置に配設された測定対象100に対して、励振ユニット2および受信ユニット3を独立して移動させて、励振ユニット2の第1プローブ29を測定対象100の各電極100a,100bのうちの一方の電極100aに接触させると共に、受信ユニット3の第2プローブ44を他方の電極100bに接触させることが可能な所謂フライング型の測定装置(ベクトルネットワークアナライザ)1として構成されている。 The moving mechanism 4 supports the excitation unit 2 and the reception unit 3 which are configured separately from each other, and independently moves the excitation unit 2 and the reception unit 3 in arbitrary directions (for example, the X direction, the Y direction and the Z direction). It is configured to be movable (relatively in three axial directions). With this configuration, the measuring apparatus 1 independently moves the excitation unit 2 and the receiving unit 3 with respect to the measurement target 100 arranged at an arbitrary position, and moves the first probe 29 of the excitation unit 2 to the measurement target. A so-called flying type measuring device (vector network analyzer) capable of contacting one electrode 100a of the electrodes 100a and 100b of 100 and contacting the second probe 44 of the receiving unit 3 with the other electrode 100b. configured as 1.

処理部5は、一例として、コンピュータを有して構成されて、周波数設定処理、第1フィルタ処理、第2フィルタ処理、位相算出処理、差分位相測定処理、補正用差分位相測定処理、補正処理、特定周波数での位相ずれを測定する位相ずれ測定処理(キャリブレーション処理)、測定対象100についての測定周波数帯域内の複数の周波数での位相ずれ(挿入位相θIPの周波数特性)を示す位相変化データDIPを算出する位相データ算出処理、および移動機構4に対する制御処理を実行する。また、処理部5は、測定した挿入位相θIPの周波数特性を示す位相変化データDIPを出力部7に出力して、出力部7に出力させる出力処理を実行する。 As an example, the processing unit 5 includes a computer, and performs frequency setting processing, first filter processing, second filter processing, phase calculation processing, differential phase measurement processing, differential phase measurement processing for correction, correction processing, Phase shift measurement processing (calibration processing) for measuring the phase shift at a specific frequency, phase shift data indicating the phase shift (frequency characteristics of the insertion phase θ IP ) at a plurality of frequencies within the measurement frequency band for the measurement target 100 A phase data calculation process for calculating DIP and a control process for the moving mechanism 4 are executed. In addition, the processing unit 5 outputs the phase change data D IP indicating the frequency characteristics of the measured insertion phase θ IP to the output unit 7, and executes output processing for causing the output unit 7 to output the data.

記憶部6は、一例として、ROMやRAMなどの半導体メモリを有して構成されて、測定対象100の各電極100a,100bの座標データ(1または2以上の測定対象100についての座標データ)、および標準器101の各電極101a,101bの座標データが予め記憶されている。また、記憶部6には、位相変化データDIPが記憶される。 The storage unit 6 includes, for example, a semiconductor memory such as a ROM or a RAM, and stores coordinate data of the electrodes 100a and 100b of the measurement object 100 (coordinate data of one or more measurement objects 100), and coordinate data of the electrodes 101a and 101b of the standard device 101 are stored in advance. The storage unit 6 also stores phase change data DIP .

出力部7は、一例として、表示装置で構成されて、処理部5から出力される位相変化データDIPで示される挿入位相θIPの周波数特性を、画面上に、図表として、またはグラフとして表示する(出力する)。なお、出力部7は、表示装置に代えて種々のインターフェース回路で構成することもでき、外部インターフェース回路で構成されたときには、外部インターフェース回路を介して伝送路で接続された外部装置にこの位相変化データDIPを出力し、また媒体用インターフェース回路で構成されたときには、この媒体用インターフェース回路に接続された記憶媒体にこの位相変化データDIPを記憶させる。 The output unit 7 is configured by, for example, a display device, and displays the frequency characteristic of the insertion phase θ IP indicated by the phase change data D IP output from the processing unit 5 on the screen as a chart or graph. to (output). The output unit 7 can be configured by various interface circuits instead of the display device, and when configured by an external interface circuit, the phase change signal can be sent to an external device connected by a transmission line via the external interface circuit. When the data DIP is output and the medium interface circuit is used, the phase change data DIP is stored in the storage medium connected to the medium interface circuit.

次に、測定装置1の動作について、図面を参照して説明する。なお、理解の容易のため、測定周波数帯域は、一例としてその下限周波数は1GHzであり、その上限周波数は2GHzであるものとする。また、図8に示すように、測定周波数帯域の下限周波数1GHzから始まり、100MHz単位で増加する各周波数(上限周波数2GHzまでの11個の周波数)を測定周波数帯域内の複数の周波数の一例として、これらの周波数での位相ずれ(挿入位相θIP)を測定するものとする。また、第1信号出力部22、第2信号出力部23、第3信号出力部32および第4信号出力部33から出力される各信号S1,S2,S3,S4を構成する2つの周波数成分の第1周波数fおよび第2周波数fについては、それぞれ100MHzおよび200MHzに規定されて、各信号出力部22,23,32,33は、100MHz,200MHzの各周波数f,fの信号成分で構成される信号S1,S2,S3,S4を出力しており、かつこの出力状態は維持されるものとする。また、処理部5は、励振ユニット2および受信ユニット3に出力する周波数データDfLO1,DfLO2で示される上記の局発周波数fTXLOを図5~図7に示すように、0.9GHzから1.8GHzまで、100MHz単位で変更するものとする。 Next, operation of the measuring device 1 will be described with reference to the drawings. For ease of understanding, the measurement frequency band has a lower limit frequency of 1 GHz and an upper limit frequency of 2 GHz, for example. Further, as shown in FIG. 8, each frequency starting from the lower limit frequency of 1 GHz of the measurement frequency band and increasing in units of 100 MHz (11 frequencies up to the upper limit frequency of 2 GHz) is an example of a plurality of frequencies in the measurement frequency band. The phase shift (insertion phase θ IP ) at these frequencies shall be measured. Also, two frequency components constituting each of the signals S1, S2, S3, and S4 output from the first signal output section 22, the second signal output section 23, the third signal output section 32, and the fourth signal output section 33 are The first frequency f 1 and the second frequency f 2 are defined to be 100 MHz and 200 MHz, respectively, and each of the signal output units 22, 23, 32, 33 outputs the signal components of the frequencies f 1 and f 2 of 100 MHz and 200 MHz. are output, and this output state is maintained. 5 to 7, the processing unit 5 changes the local oscillator frequency f TXLO indicated by the frequency data Df LO1 and Df LO2 to be output to the excitation unit 2 and the reception unit 3 from 0.9 GHz to 1 It shall be changed in units of 100 MHz up to .8 GHz.

まず、測定装置1では、処理部5は、補正用差分位相測定処理を実行して、キャリブレーション用の測定対象である標準器101についての補正用差分位相変化データDDICを測定する。この補正用差分位相変化データDDICは、図5に示すように、局発周波数fTXLO(または挿入位相θIPを測定する際の第1加算周波数(fTXLO+f)および第2加算周波数(fTXLO+f)の組)毎の差分位相θDI(θDICとも表記する)を示すデータである。 First, in the measuring apparatus 1, the processing unit 5 executes the correction differential phase measurement process to measure the correction differential phase change data D DIC for the standard device 101, which is the measurement target for calibration. This correction differential phase change data D DIC is , as shown in FIG . 2 ) is data indicating a differential phase θ DI (also referred to as θ DIC ) for each set of f TXLO +f 2 ).

この補正用差分位相測定処理では、処理部5は、周波数設定処理、第1フィルタ処理、第2フィルタ処理、位相算出処理および記憶処理を、周波数設定処理において設定する局発周波数fTXLOを、増加させるときには新たに設定する局発周波数fTXLOに基づく第1加算周波数(fTXLO+f)が直前に設定した局発周波数fTXLOに基づく第2加算周波数(fTXLO+f)と一致するように、減少させるときには新たに設定する局発周波数fTXLOに基づく第2加算周波数(fTXLO+f)が直前に設定した局発周波数fTXLOに基づく第1加算周波数(fTXLO+f)と一致するように、測定周波数帯域に亘って段階的に変更しつつ実行することにより、測定周波数帯域内における標準器101に関する差分位相θDICについての差分周波数間隔(f-f)毎の変化状態を示すデータでもある上記の補正用差分位相変化データDDICを測定する。この例では一例として、処理部5は、上記したように、局発周波数fTXLOを、0.9GHzから1.8GHzまで100MHz単位で増加させる。これにより、例えば、局発周波数fTXLOを0.9GHzから1.0GHzに増加させるときには、図5に示すように、新たに設定する局発周波数fTXLO(=1.0GHz)に基づく第1加算周波数(fTXLO+f=1.1GHz)は直前に設定した局発周波数fTXLO(=0.9GHz)に基づく第2加算周波数(fTXLO+f=1.1GHz)と一致するようになる。 In this correction differential phase measurement process, the processing unit 5 performs the frequency setting process, the first filter process, the second filter process, the phase calculation process, and the storage process by increasing the local oscillator frequency f TXLO set in the frequency setting process. The first added frequency (f TXLO +f 1 ) based on the newly set local oscillator frequency f TXLO should match the second added frequency (f TXLO +f 2 ) based on the previously set local oscillator frequency f TXLO. , when decreasing, the second added frequency (f TXLO +f 2 ) based on the newly set local oscillator frequency f TXLO matches the first added frequency ( f TXLO +f 1 ) based on the previously set local oscillator frequency f TXLO. By performing the stepwise change over the measurement frequency band, the state of change for each difference frequency interval (f 2 −f 1 ) for the differential phase θ DIC regarding the standard device 101 within the measurement frequency band is The corrective differential phase change data D-- DIC , which is also the data shown, is measured. In this example, as an example, the processing unit 5 increases the local oscillator frequency f TXLO from 0.9 GHz to 1.8 GHz in units of 100 MHz, as described above. As a result, for example, when increasing the local oscillator frequency f TXLO from 0.9 GHz to 1.0 GHz, as shown in FIG. 5, the first addition based on the newly set local oscillator frequency f TXLO (=1.0 GHz) The frequency (f TXLO +f 1 =1.1 GHz) matches the second addition frequency (f TXLO +f 2 =1.1 GHz) based on the previously set local oscillator frequency f TXLO (=0.9 GHz).

最初に、処理部5は、記憶部6に記憶されている標準器101の各電極101a,101bの座標データに基づいて移動機構4に対する制御処理を実行することにより、励振ユニット2を電極101aの近傍に移動させて、第1プローブ29を電極101aに接触させると共に、受信ユニット3を電極101bの近傍に移動させて、第2プローブ44を電極101bに接触させる。 First, the processing unit 5 executes control processing for the moving mechanism 4 based on the coordinate data of the electrodes 101a and 101b of the standard device 101 stored in the storage unit 6, thereby moving the excitation unit 2 to the position of the electrode 101a. The receiving unit 3 is moved near the electrode 101b to bring the first probe 29 into contact with the electrode 101a, and the second probe 44 is brought into contact with the electrode 101b.

次いで、処理部5は、周波数設定処理を実行する。この周波数設定処理では、処理部5は、励振ユニット2および受信ユニット3に対して周波数データDfLO1,DfLO2を出力することにより、第1局発部24、第2局発部34および基準局発部38での局発周波数fTXLOを設定する。本例の補正用差分位相測定処理では、処理部5は、0.9GHzから1.8GHzまで100MHz単位で局発周波数fTXLOを増加させる。したがって、処理部5は、1回目は、0.9GHzを示す周波数データDfLO1,DfLO2を励振ユニット2および受信ユニット3に対して出力する。これにより、第1局発部24、第2局発部34および基準局発部38は、それぞれ、局発周波数fTXLOを0.9GHzに設定して、第1局発部24は、この局発周波数fTXLOの第1正弦波励振信号SLO1a(=sin(2πfTXLOt+θtx1))および第1余弦波励振信号SLO1b(=cos(2πfTXLOt+θtx1))を出力する。また、第2局発部34は、この局発周波数fTXLOの第2正弦波励振信号SLO2a(=sin(2πfTXLOt+θtx2))および第2余弦波励振信号SLO2b(=cos(2πfTXLOt+θtx2))を出力する。また、基準局発部38は、この局発周波数fTXLOの正弦波基準信号Sr(=sin(2πfTXLOt))を出力する。 Next, the processing unit 5 executes frequency setting processing. In this frequency setting process, the processing section 5 outputs the frequency data Df LO1 and Df LO2 to the excitation unit 2 and the receiving unit 3, so that the first local oscillator 24, the second local oscillator 34, and the reference local oscillator The local oscillator frequency f TXLO in the unit 38 is set. In the correction differential phase measurement process of this example, the processing unit 5 increases the local oscillator frequency f TXLO from 0.9 GHz to 1.8 GHz in units of 100 MHz. Therefore, the processing unit 5 outputs the frequency data Df LO1 and Df LO2 indicating 0.9 GHz to the excitation unit 2 and the reception unit 3 for the first time. As a result, the first local oscillator 24, the second local oscillator 34, and the reference local oscillator 38 each set the local oscillator frequency f TXLO to 0.9 GHz, and the first local oscillator 24 It outputs a first sinusoidal excitation signal S LO1a (=sin(2πf TXLO t+θ tx1 )) and a first cosine excitation signal S LO1b (=cos(2πf TXLO t+θ tx1 )) of frequency f TXLO . Further, the second local oscillator 34 generates a second sine wave excitation signal S LO2a (=sin(2πf TXLO t+θ tx2 )) of this local oscillator frequency f TXLO and a second cosine wave excitation signal S LO2b (=cos(2πf TXLO t+θ tx2 )) is output. Also, the reference local oscillator 38 outputs a sine wave reference signal Sr (=sin(2πf TXLO t)) of this local oscillator frequency f TXLO .

これにより、励振ユニット2では、第1ミキサ部25が、第1信号S1および第1余弦波励振信号SLO1bをミキシングして第1ミキシング信号Smx1を出力し、第2ミキサ部26が、第2信号S2および第1正弦波励振信号LO1aをミキシングして第2ミキシング信号Smx2を出力し、さらに、第1加算部27が、第1ミキシング信号Smx1および第2ミキシング信号Smx2を加算して、励振信号Stx1として第1ポート28に出力する。したがって、励振信号Stx1は、第1ポート28および第1プローブ29を介して、標準器101の電極101aに供給(出力)される。 As a result, in the excitation unit 2, the first mixer section 25 mixes the first signal S1 and the first cosine wave excitation signal SLO1b to output the first mixed signal Smx1 , and the second mixer section 26 mixes the first signal S1 and the first cosine wave excitation signal S_LO1b. 2 signal S2 and the first sinusoidal excitation signal LO1a to output a second mixing signal Smx2 , and a first adding section 27 adds the first mixing signal Smx1 and the second mixing signal Smx2 . and output to the first port 28 as the excitation signal Stx1 . Therefore, the excitation signal S tx1 is supplied (output) to the electrode 101 a of the standard 101 via the first port 28 and the first probe 29 .

受信ユニット3は、標準器101を通過したこの励振信号Stx1を、第2プローブ44および第2ポート43を経由して通過信号Spaとして受信する。 The receiving unit 3 receives this excitation signal S tx1 that has passed through the standard device 101 via the second probe 44 and the second port 43 as a passing signal Spa.

受信ユニット3では、各信号出力部32,33、第2局発部34、各ミキサ部35,36および第2加算部37が、上記した励振ユニット2の各信号出力部22,23、第1局発部24、各ミキサ部25,26および第1加算部27と同様に動作して、励振信号Stx1に対応する内部励振信号Stx2を生成して第6ミキサ部40に出力している。 In the receiving unit 3, the signal output sections 32 and 33, the second local oscillator section 34, the mixer sections 35 and 36 and the second adder section 37 are connected to the signal output sections 22 and 23 and the first It operates in the same manner as the local oscillator 24 , the mixers 25 and 26 and the first adder 27 to generate an internal excitation signal S tx 2 corresponding to the excitation signal S tx 1 and output it to the sixth mixer 40 . .

また、受信ユニット3では、第5ミキサ部39が、受信された通過信号Spaおよび正弦波基準信号Srをミキシングして第5ミキシング信号Smx5として出力し、第6ミキサ部40が、内部励振信号Stx2および正弦波基準信号Srをミキシングして第6ミキシング信号Smx6として出力する。この場合、上記したように、第5ミキシング信号Smx5および第6ミキシング信号Smx6は、それぞれ、第1周波数fの余弦波信号と、周波数(2fTXLO+f)の余弦波信号と、第2周波数fの余弦波信号と、周波数(2fTXLO+f)の余弦波信号とを含んでいる。 In the receiving unit 3, the fifth mixer section 39 mixes the received passing signal Spa and the sinusoidal reference signal Sr to output as a fifth mixed signal Smx5 , and the sixth mixer section 40 mixes the internal excitation signal S tx2 and the sine wave reference signal Sr are mixed and output as a sixth mixed signal S mx6 . In this case, as described above, the fifth mixing signal S mx5 and the sixth mixing signal S mx6 are respectively the cosine wave signal with the first frequency f 1 , the cosine wave signal with the frequency (2f TXLO +f 1 ), and the cosine wave signal with the frequency (2f TXLO +f 1 ). It contains a cosine signal of frequency f 2 and a cosine signal of frequency (2f TXLO +f 2 ).

第1A/D変換部41は、第5ミキシング信号Smx5をサンプリングすることにより、第5ミキシング信号Smx5の瞬時値を示す波形データDw3に変換して出力し、第2A/D変換部42は、第6ミキシング信号Smx6をサンプリングすることにより、第6ミキシング信号Smx6の瞬時値を示す波形データDw4に変換して出力する。受信ユニット3は、各波形データDw3,Dw4をデジタル伝送路L2を介して処理部5に出力する。 The first A/D conversion unit 41 samples the fifth mixing signal Smx5 , converts it into waveform data Dw3 indicating the instantaneous value of the fifth mixing signal Smx5 , and outputs the waveform data Dw3. , the sixth mixing signal Smx6 is sampled to convert it into waveform data Dw4 representing the instantaneous value of the sixth mixing signal Smx6 and output. The receiving unit 3 outputs each waveform data Dw3 and Dw4 to the processing section 5 via the digital transmission line L2.

続いて、処理部5は、波形データDw3,Dw4を取得すると共に、波形データDw3に対して第1フィルタ処理を実行し、かつ波形データDw4に対して第2フィルタ処理を実行する。第1フィルタ処理では、処理部5は、波形データDw3に対してデジタル的にローパスフィルタ処理を実行することにより、周波数(2fTXLO)以上の周波数の信号成分を除去して、下記の式(8)で表される第5信号としての信号成分Ssa1(第1周波数fおよび第2周波数fの各信号成分)を抽出する。また、第2フィルタ処理では、処理部5は、波形データDw4に対してデジタル的にローパスフィルタ処理を実行することにより、周波数(2fTXLO)以上の周波数の信号成分を除去して、下記の式(9)で表される第6信号としての信号成分Ssa2(第1周波数fおよび第2周波数fの各信号成分)を抽出する。なお、処理部5は、この第1フィルタ処理および第2フィルタ処理を併せて、1つのフィルタ処理として実行してもよい。 Subsequently, the processing unit 5 acquires the waveform data Dw3 and Dw4, performs the first filtering process on the waveform data Dw3, and performs the second filtering process on the waveform data Dw4. In the first filtering process, the processing unit 5 digitally performs a low-pass filtering process on the waveform data Dw3 to remove signal components of frequencies higher than the frequency (2f TXLO ) and obtain the following formula (8). ) as the fifth signal (signal components of the first frequency f1 and the second frequency f2 ). Further, in the second filtering process, the processing unit 5 digitally performs low-pass filtering on the waveform data Dw4 to remove signal components with frequencies equal to or higher than the frequency (2f TXLO ). A signal component S sa2 (each signal component of the first frequency f 1 and the second frequency f 2 ) is extracted as the sixth signal represented by (9). Note that the processing unit 5 may perform the first filtering process and the second filtering process together as one filtering process.

Figure 0007301535000008
Figure 0007301535000008
Figure 0007301535000009
Figure 0007301535000009

この場合、信号成分Ssa1の第1項が、第1周波数fであって第1位相ずれθDUTf1分を含む第1余弦波受信信号であり、その第2項が、第2周波数fであって第2位相ずれθDUTf2分を含む第2余弦波受信信号である。また、信号成分Ssa2の第1項が、第1周波数fの第1余弦波参照信号であり、その第2項が、第2周波数fの第2余弦波参照信号である。 In this case, the first term of the signal component Ssa1 is the first cosine received signal at the first frequency f1 and containing the first phase shift θ DUTf1 , the second term of which is the second frequency f2 is a second cosine wave received signal containing a second phase shift θ DUTf2 . The first term of the signal component Ssa2 is the first cosine wave reference signal of the first frequency f1 , and the second term thereof is the second cosine wave reference signal of the second frequency f2 .

次いで、処理部5は、位相算出処理を実行する。この位相算出処理では、処理部5は、抽出した信号成分Ssa1および信号成分Ssa2に対して、デジタル的にフィルタ処理やFFT処理を実行することにより、信号成分Ssa1を構成する第1周波数fの信号成分についての位相θ1(=θtx1+θDUTf1)および第2周波数fの信号成分についての位相θ2(=θtx1+θDUTf2)を算出すると共に、信号成分Ssa2を構成する第1周波数fの信号成分についての位相θ3(=θtx2+θDLY)および第2周波数fの信号成分についての位相θ4(=θtx2+(f/f)θDLY)を算出する。また、処理部5は、同じ第1周波数fの信号成分についての位相θ1,θ3の差分(θ1-θ3)を算出すると共に、同じ第2周波数fの信号成分についての位相θ2,θ4の差分(θ2-θ4)を算出し、さらに、各差分同士の差分((θ1-θ3)-(θ2-θ4))を算出する。 Next, the processing unit 5 executes phase calculation processing. In this phase calculation process, the processing unit 5 digitally performs filter processing and FFT processing on the extracted signal component S sa1 and signal component S sa2 , thereby calculating the first frequency constituting the signal component S sa1 . Phase θ1 (= θ tx1 + θ DUTf1 ) for the signal component of f 1 and phase θ 2 (= θ tx1 + θ DUTf2 ) for the signal component of the second frequency f 2 are calculated. Phase θ3 (=θ tx2DLY ) for the signal component of frequency f 1 and phase θ4 (=θ tx2 +(f 2 /f 1DLY ) for the signal component of second frequency f 2 are calculated. In addition, the processing unit 5 calculates the difference (θ1-θ3) between the phases θ1 and θ3 of the same signal component of the first frequency f1 , and calculates the difference of the phases θ2 and θ4 of the same signal component of the second frequency f2. A difference (θ2-θ4) is calculated, and a difference between the differences ((θ1-θ3)-(θ2-θ4)) is calculated.

続いて、処理部5は、記憶処理を実行して、算出した上記の差分((θ1-θ3)-(θ2-θ4))を差分位相θDICとして、図5に示すように、局発周波数fTXLO(または挿入位相θIPを測定する際の第1加算周波数(fTXLO+f)および第2加算周波数(fTXLO+f)の組)に対応させて記憶部6に記憶させる。この差分位相θDICは、測定周波数帯域の下限周波数1GHzに対応する最も低い周波数でのデータであることから、差分位相θDIC0と表記するものとする。なお、処理部5は、この記憶処理を上記の位相算出処理に含めて、位相算出処理として実行してもよい。 Subsequently, the processing unit 5 executes a storage process, sets the calculated difference ((θ1−θ3)−(θ2−θ4)) as a differential phase θDIC , and stores the local oscillator frequency as shown in FIG. It is stored in the storage unit 6 in association with f TXLO (or a set of the first addition frequency (f TXLO +f 1 ) and the second addition frequency (f TXLO +f 2 ) when measuring the insertion phase θ IP) . Since this differential phase θ DIC is data at the lowest frequency corresponding to the lower limit frequency of 1 GHz of the measurement frequency band, it is denoted as differential phase θ DIC0 . Note that the processing unit 5 may include this storage processing in the above-described phase calculation processing and execute it as the phase calculation processing.

ところで、この差分位相θDICを算出する上記の式((θ1-θ3)-(θ2-θ4))に、各位相θ1,θ2,θ3,θ4についての上記の各式を代入すると、下記のように整理される。
(θtx1+θDUTf1)-(θtx2+θDLY
-((θtx1+θDUTf2)-(θtx2+(f/f)θDLY))
=(θDUTf1-θDUTf2)-(θDLY-(f/f)θDLY
By the way, substituting the above equations for the phases θ1, θ2, θ3, and θ4 into the above equation ((θ1−θ3)−(θ2−θ4)) for calculating the differential phase θ DIC yields the following: are organized into
tx1 + θ DUTf1 )−(θ tx2 + θ DLY )
−((θ tx1DUTf2 )−(θ tx2 +(f 2 /f 1DLY ))
= (θ DUTf1 - θ DUTf2 ) - (θ DLY - (f 2 /f 1 ) θ DLY )

この場合、本例のように、各信号出力部22,23,32,33からの信号S1,S2,S3,S4の出力状態が維持されているとき(つまり、位相差θDLYが一定に維持されているとき)には、(θDLY-(f/f)θDLY)は定数となっていることから、上記の式は、さらに下記のように表される。
(θDUTf1-θDUTf2)+C(C:定数)
In this case, as in this example, when the output states of the signals S1, S2, S3, and S4 from the signal output units 22, 23, 32, and 33 are maintained (that is, the phase difference θ DLY is maintained constant). ), (θ DLY - (f 2 /f 1 ) θ DLY ) is a constant, so the above equation can be further expressed as follows.
DUTf1 - θ DUTf2 ) + C (C: constant)

つまり、この式に基づくと、算出された差分位相θDICは、第1プローブ29と第2プローブ44との間に接続された対象体(測定対象100や標準器101)を、第1加算周波数(fTXLO+f)の第1正弦波加算信号(=sin(2π(fTXLO+f)t+θtx1))が通過する際に生じる第1位相ずれθDUTf1と、第2加算周波数(fTXLO+f)の第2正弦波加算信号(=sin(2π(fTXLO+f)t+θtx1))が通過する際に生じる第2位相ずれθDUTf2との差分値(差分位相)を示している。したがって、局発周波数fTXLOが0.9GHzのときの差分位相θDIC0は、図5に示すように、第1加算周波数(fTXLO+f)が1GHzで、かつ第2加算周波数(fTXLO+f)が1.1GHzのときの差分位相を示すものとなっている。 In other words, based on this equation, the calculated differential phase θ DIC is obtained by moving the object (measuring object 100 or standard 101) connected between the first probe 29 and the second probe 44 to the first addition frequency A first phase shift θ DUTf1 that occurs when a first sinusoidal summation signal of (f TXLO +f 1 ) (=sin(2π(f TXLO +f 1 )t+θ tx1 )) passes through and a second summation frequency (f TXLO +f 2 ) shows the difference value (difference phase) from the second phase shift θDUTf2 that occurs when the second sine wave addition signal (=sin(2π( fTXLO + f2 )t+ θtx1 )) of 2) passes through. Therefore, as shown in FIG. 5, the differential phase θ DIC0 when the local oscillator frequency f TXLO is 0.9 GHz is 1 GHz and the second addition frequency (f TXLO + f 2 ) shows the differential phase at 1.1 GHz.

これにより、測定装置1では、局発周波数fTXLOを0.9GHzに設定する周波数設定処理から始まり、第1フィルタ処理、第2フィルタ処理、位相算出処理および記憶処理で終わる一連の処理が完了して、局発周波数fTXLOが0.9GHzのときの差分位相θDIC0の測定が完了する。 As a result, the measurement apparatus 1 completes a series of processes starting with the frequency setting process of setting the local oscillator frequency f TXLO to 0.9 GHz and ending with the first filter process, the second filter process, the phase calculation process, and the storage process. This completes the measurement of the differential phase θ DIC0 when the local oscillator frequency f TXLO is 0.9 GHz.

処理部5は、引き続き、局発周波数fTXLOを100MHz(0.1GHz)単位で1.8GHzまで増加させつつ、増加させた新たな局発周波数fTXLOにおいて、上記の周波数設定処理、第1フィルタ処理、第2フィルタ処理、位相算出処理および記憶処理を実行する。これにより、図5に示すように、局発周波数fTXLOを、0.9GHz、1.0GHz、1.1GHz、・・・、1.7GHz、1.8GHzに設定したときの差分位相θDIC0,θDIC1,θDIC2,・・・,θDIC8,θDIC9が測定されて、補正用差分位相変化データDDICの測定が完了する。これにより、補正用差分位相測定処理が完了する。 The processing unit 5 continues to increase the local oscillator frequency f TXLO to 1.8 GHz in units of 100 MHz (0.1 GHz), and at the newly increased local oscillator frequency f TXLO , the frequency setting process, the first filter processing, second filter processing, phase calculation processing, and storage processing. As a result, as shown in FIG. 5, the differential phase θ DIC0 , when the local oscillator frequency f TXLO is set to 0.9 GHz, 1.0 GHz, 1.1 GHz, . .theta.DIC1 , .theta.DIC2 , . This completes the correction differential phase measurement process.

次いで、処理部5は、局発周波数fTXLOが1.8GHzに設定されている状態において、特定周波数での位相ずれを測定する位相ずれ測定処理を実行する。この場合、特定周波数は、第1加算周波数(fTXLO+f=1.9GHz)となる。この位相ずれ測定処理では、励振ユニット2において第1加算部27から励振信号Stx1が出力され、かつ受信ユニット3においても第2加算部37から内部励振信号Stx2が出力されると共に基準局発部38から正弦波基準信号Srが出力されている状態において、処理部5は、記憶部6に記憶されている測定対象100の各電極100a,100bの座標データに基づいて移動機構4に対する制御処理を実行することにより、励振ユニット2を電極100aの近傍に移動させて、第1プローブ29を電極100aに接触させると共に、受信ユニット3を電極100bの近傍に移動させて、第2プローブ44を電極100bに接触させる。 Next, the processing unit 5 performs phase shift measurement processing for measuring the phase shift at the specific frequency in a state where the local oscillator frequency f TXLO is set to 1.8 GHz. In this case, the specific frequency is the first added frequency (f TXLO +f 1 =1.9 GHz). In this phase shift measurement process, the excitation signal Stx1 is output from the first adder 27 in the excitation unit 2, and the internal excitation signal Stx2 is output from the second adder 37 in the receiver unit 3 as well as the reference local oscillator. 38 outputs the sine wave reference signal Sr, the processing unit 5 controls the moving mechanism 4 based on the coordinate data of the electrodes 100a and 100b of the measurement object 100 stored in the storage unit 6. By doing so, the excitation unit 2 is moved to the vicinity of the electrode 100a to bring the first probe 29 into contact with the electrode 100a, and the reception unit 3 is moved to the vicinity of the electrode 100b to move the second probe 44 to the electrode 100b. come into contact with

これにより、励振ユニット2から測定対象100に対して、第1加算周波数(fTXLO+f=1.9GHz)の第1正弦波加算信号(=sin(2π(fTXLO+f)t+θtx1))、および第2加算周波数(fTXLO+f=2.0GHz)の第2正弦波加算信号(=sin(2π(fTXLO+f)t+θtx1))を含む励振信号Stx1が供給(出力)される。 As a result, the first sine wave sum signal (=sin(2π(f TXLO +f 1 )t+θ tx1 )) of the first sum frequency (f TXLO +f 1 =1.9 GHz) is transmitted from the excitation unit 2 to the measurement target 100 . , and a second sinusoidal summation signal (=sin(2π( fTXLO + f2 ) t+ θtx1 )) of a second summation frequency ( fTXLO + f2 =2.0 GHz) is provided (output). be.

受信ユニット3は、測定対象100を通過したこの励振信号Stx1を、第2プローブ44および第2ポート43を経由して通過信号Spaとして受信する。また、受信ユニット3では、各構成要素が上記した標準器101を接続したときと同様に動作して、各波形データDw3,Dw4をデジタル伝送路L2を介して処理部5に出力する。 The receiving unit 3 receives this excitation signal S tx1 that has passed through the measurement object 100 via the second probe 44 and the second port 43 as a passing signal Spa. Further, in the receiving unit 3, each component operates in the same manner as when the standard device 101 is connected, and outputs each waveform data Dw3 and Dw4 to the processing section 5 via the digital transmission line L2.

処理部5は、波形データDw3,Dw4を取得すると共に、波形データDw3に対して第1フィルタ処理を実行して、上記の式(8)で表される信号成分Ssa1(第1周波数fおよび第2周波数fの各信号成分)を抽出する。また、処理部5は、抽出した信号成分Ssa1に対してデジタル的にフィルタ処理やFFT処理を実行することにより、信号成分Ssa1を構成する2つの周波数の信号成分のうちの特定周波数としての第1加算周波数(fTXLO+f=1.9GHz)に対応する第1周波数fの信号成分についての位相θ1(=θtx1+θDUTf1)を算出する。 The processing unit 5 obtains the waveform data Dw3 and Dw4, and performs the first filtering process on the waveform data Dw3 to obtain the signal component S sa1 (first frequency f 1 and each signal component of the second frequency f2 ). In addition, the processing unit 5 digitally performs filter processing and FFT processing on the extracted signal component S sa1 to select a specific frequency among the two frequency signal components that make up the signal component S sa1 . A phase θ1 (=θ tx1DUTf1 ) of the signal component of the first frequency f 1 corresponding to the first addition frequency (f TXLO +f 1 =1.9 GHz) is calculated.

また、処理部5は、測定対象100を接続した状態で算出したこの位相θ1(説明のため、位相θ1とも表記する)から、標準器101を接続した状態において局発周波数fTXLOを1.8GHzに設定したときに算出した上記の位相θ1(説明のため、位相θ1とも表記する)を減算することにより、特定周波数(この例では、第1加算周波数(fTXLO+f=1.9GHz))での位相ずれθ1REF(=θ1-θ1:キャリブレーション用の基準値)を算出して、記憶部6に記憶させる。 Further, the processing unit 5 calculates the local oscillator frequency f TXLO by 1.0 with the standard device 101 connected from the phase θ1 (also referred to as phase θ1 M for the sake of explanation) calculated with the measurement target 100 connected. By subtracting the above phase θ1 (also referred to as phase θ1 C for explanation) calculated when set to 8 GHz, a specific frequency (in this example, the first addition frequency (f TXLO + f 1 = 1.9 GHz )), the phase shift θ1 REF (=θ1 M −θ1 C : reference value for calibration) is calculated and stored in the storage unit 6 .

続いて、処理部5は、差分位相測定処理を実行して、測定対象100についての局発周波数fTXLO(または挿入位相θIPを測定する際の第1加算周波数(fTXLO+f)および第2加算周波数(fTXLO+f)の組)毎の差分位相θDI(θDIMとも表記する)を示す差分位相変化データDDI(DDIMとも表記する。図6参照)を測定する。 Subsequently, the processing unit 5 executes differential phase measurement processing to perform the local oscillator frequency f TXLO (or the first addition frequency (f TXLO +f 1 ) and the Differential phase change data D DI (also denoted as D DIM , see FIG. 6) indicating the differential phase θ DI (also denoted as θ DIM ) for each of two addition frequencies (f TXLO +f 2 ) is measured.

この差分位相測定処理では、処理部5は、上記した補正用差分位相測定処理のときと同様にして、周波数設定処理、第1フィルタ処理、第2フィルタ処理、位相算出処理および記憶処理を、周波数設定処理において設定する局発周波数fTXLOを、増加させるときには新たに設定する局発周波数fTXLOに基づく第1加算周波数(fTXLO+f)が直前に設定した局発周波数fTXLOに基づく第2加算周波数(fTXLO+f)と一致するように、減少させるときには新たに設定する局発周波数fTXLOに基づく第2加算周波数(fTXLO+f)が直前に設定した局発周波数fTXLOに基づく第1加算周波数(fTXLO+f)と一致するように、測定周波数帯域に亘って段階的に変更しつつ実行することにより、測定周波数帯域内における測定対象100に関する差分位相θDIMについての差分周波数間隔(f-f)毎の変化状態を示すデータでもある上記の差分位相変化データDDIMを測定する。この例では一例として、処理部5は、補正用差分位相測定処理のときと同様にして、局発周波数fTXLOを、0.9GHzから1.8GHzまで100MHz単位で増加させる。これにより、例えば、局発周波数fTXLOを0.9GHzから1.0GHzに増加させるときには、図6に示すように、新たに設定する局発周波数fTXLO(=1.0GHz)に基づく第1加算周波数(fTXLO+f=1.1GHz)は直前に設定した局発周波数fTXLO(=0.9GHz)に基づく第2加算周波数(fTXLO+f=1.1GHz)と一致するようになる。 In this differential phase measurement process, the processing unit 5 performs the frequency setting process, the first filter process, the second filter process, the phase calculation process, and the storage process in the same manner as in the correction differential phase measurement process described above. When the local oscillator frequency f TXLO set in the setting process is increased, the first addition frequency (f TXLO + f 1 ) based on the newly set local oscillator frequency f TXLO is added to the second frequency f TXLO based on the previously set local oscillator frequency f TXLO . The second addition frequency (f TXLO +f 2 ) is based on the previously set local oscillator frequency f TXLO , which is based on the newly set local oscillator frequency f TXLO when decreased so as to match the added frequency (f TXLO + f 2 ). By stepping over the measurement frequency band to match the first addition frequency (f TXLO +f 1 ), the difference frequency for the difference phase θ DIM for the device under test 100 within the measurement frequency band The above-mentioned differential phase change data D DIM , which is also data indicating the state of change for each interval (f 2 -f 1 ), is measured. In this example, as an example, the processing unit 5 increases the local oscillator frequency f TXLO from 0.9 GHz to 1.8 GHz in units of 100 MHz in the same manner as in the correction differential phase measurement process. As a result, for example, when increasing the local oscillator frequency f TXLO from 0.9 GHz to 1.0 GHz, as shown in FIG. 6, the first addition based on the newly set local oscillator frequency f TXLO (=1.0 GHz) The frequency (f TXLO +f 1 =1.1 GHz) matches the second addition frequency (f TXLO +f 2 =1.1 GHz) based on the previously set local oscillator frequency f TXLO (=0.9 GHz).

この例では、上記したように、処理部5は、記憶部6に記憶されている測定対象100の各電極100a,100bの座標データに基づいて移動機構4に対する制御処理を実行して、第1プローブ29を電極101aに接触させ、かつ第2プローブ44を電極101bに接触させた状態に移行させている。 In this example, as described above, the processing unit 5 executes control processing for the moving mechanism 4 based on the coordinate data of the electrodes 100a and 100b of the measurement object 100 stored in the storage unit 6, The probe 29 is brought into contact with the electrode 101a and the second probe 44 is brought into contact with the electrode 101b.

次いで、処理部5は、周波数設定処理を実行する。この周波数設定処理では、処理部5は、励振ユニット2および受信ユニット3に対して周波数データDfLO1,DfLO2を出力することにより、第1局発部24、第2局発部34および基準局発部38での局発周波数fTXLOを設定する。本例の差分位相測定処理では、処理部5は、0.9GHzから1.8GHzまで100MHz単位で局発周波数fTXLOを増加させる。したがって、処理部5は、1回目は、0.9GHzを示す周波数データDfLO1,DfLO2を励振ユニット2および受信ユニット3に対して出力する。これにより、第1局発部24、第2局発部34および基準局発部38は、それぞれ、局発周波数fTXLOを0.9GHzに新たに設定して、第1局発部24は、この局発周波数fTXLOの第1正弦波励振信号SLO1a(=sin(2πfTXLOt+θtx1))および第1余弦波励振信号SLO1b(=cos(2πfTXLOt+θtx1))を出力する。また、第2局発部34は、この局発周波数fTXLOの第2正弦波励振信号SLO2a(=sin(2πfTXLOt+θtx2))および第2余弦波励振信号SLO2b(=cos(2πfTXLOt+θtx2))を出力する。また、基準局発部38は、この局発周波数fTXLOの正弦波基準信号Sr(=sin(2πfTXLOt))を出力する。 Next, the processing unit 5 executes frequency setting processing. In this frequency setting process, the processing section 5 outputs the frequency data Df LO1 and Df LO2 to the excitation unit 2 and the receiving unit 3, so that the first local oscillator 24, the second local oscillator 34 and the reference local oscillator The local oscillator frequency f TXLO in the unit 38 is set. In the differential phase measurement process of this example, the processing unit 5 increases the local oscillator frequency f TXLO from 0.9 GHz to 1.8 GHz in units of 100 MHz. Therefore, the processing unit 5 outputs the frequency data Df LO1 and Df LO2 indicating 0.9 GHz to the excitation unit 2 and the reception unit 3 for the first time. As a result, the first local oscillator 24, the second local oscillator 34, and the reference local oscillator 38 each newly set the local oscillator frequency f TXLO to 0.9 GHz, and the first local oscillator 24 A first sine wave excitation signal S LO1a (=sin(2πf TXLO t+θ tx1 )) and a first cosine wave excitation signal S LO1b (=cos(2πf TXLO t+θ tx1 )) of the local oscillator frequency f TXLO are output . Further, the second local oscillator 34 generates a second sine wave excitation signal S LO2a (=sin(2πf TXLO t+θ tx2 )) of this local oscillator frequency f TXLO and a second cosine wave excitation signal S LO2b (=cos(2πf TXLO t+θ tx2 )) is output. Also, the reference local oscillator 38 outputs a sine wave reference signal Sr (=sin(2πf TXLO t)) of this local oscillator frequency f TXLO .

これにより、励振ユニット2では、第1ミキサ部25が、第1信号S1および第1余弦波励振信号SLO1bをミキシングして第1ミキシング信号Smx1を出力し、第2ミキサ部26が、第2信号S2および第1正弦波励振信号LO1aをミキシングして第2ミキシング信号Smx2を出力し、さらに、第1加算部27が、第1ミキシング信号Smx1および第2ミキシング信号Smx2を加算して、励振信号Stx1として第1ポート28に出力する。したがって、励振信号Stx1は、第1ポート28および第1プローブ29を介して、測定対象100の電極100aに供給(出力)される。 As a result, in the excitation unit 2, the first mixer section 25 mixes the first signal S1 and the first cosine wave excitation signal SLO1b to output the first mixed signal Smx1 , and the second mixer section 26 mixes the first signal S1 and the first cosine wave excitation signal S_LO1b. 2 signal S2 and the first sinusoidal excitation signal LO1a to output a second mixing signal Smx2 , and a first adding section 27 adds the first mixing signal Smx1 and the second mixing signal Smx2 . and output to the first port 28 as the excitation signal Stx1 . Therefore, the excitation signal Stx1 is supplied (output) to the electrode 100a of the measurement object 100 via the first port 28 and the first probe 29. FIG.

受信ユニット3は、測定対象100を通過したこの励振信号Stx1を、第2プローブ44および第2ポート43を経由して通過信号Spaとして受信する。 The receiving unit 3 receives this excitation signal S tx1 that has passed through the measurement object 100 via the second probe 44 and the second port 43 as a passing signal Spa.

受信ユニット3では、各信号出力部32,33、第2局発部34、各ミキサ部35,36および第2加算部37が、上記した励振ユニット2の各信号出力部22,23、第1局発部24、各ミキサ部25,26および第1加算部27と同様に動作して、励振信号Stx1に対応する内部励振信号Stx2を生成して第6ミキサ部40に出力している。 In the receiving unit 3, the signal output sections 32 and 33, the second local oscillator section 34, the mixer sections 35 and 36 and the second adder section 37 are connected to the signal output sections 22 and 23 and the first It operates in the same manner as the local oscillator 24 , the mixers 25 and 26 and the first adder 27 to generate an internal excitation signal S tx 2 corresponding to the excitation signal S tx 1 and output it to the sixth mixer 40 . .

また、受信ユニット3では、第5ミキサ部39が、受信された通過信号Spaおよび正弦波基準信号Srをミキシングして第5ミキシング信号Smx5として出力し、第6ミキサ部40が、内部励振信号Stx2および正弦波基準信号Srをミキシングして第6ミキシング信号Smx6として出力する。この場合、上記したように、第5ミキシング信号Smx5および第6ミキシング信号Smx6は、それぞれ、第1周波数fの余弦波信号と、周波数(2fTXLO+f)の余弦波信号と、第2周波数fの余弦波信号と、周波数(2fTXLO+f)の余弦波信号とを含んでいる。 In the receiving unit 3, the fifth mixer section 39 mixes the received passing signal Spa and the sinusoidal reference signal Sr to output as a fifth mixed signal Smx5 , and the sixth mixer section 40 mixes the internal excitation signal S tx2 and the sine wave reference signal Sr are mixed and output as a sixth mixed signal S mx6 . In this case, as described above, the fifth mixing signal S mx5 and the sixth mixing signal S mx6 are respectively the cosine wave signal with the first frequency f 1 , the cosine wave signal with the frequency (2f TXLO +f 1 ), and the cosine wave signal with the frequency (2f TXLO +f 1 ). It contains a cosine signal of frequency f 2 and a cosine signal of frequency (2f TXLO +f 2 ).

第1A/D変換部41は、第5ミキシング信号Smx5をサンプリングすることにより、第5ミキシング信号Smx5の瞬時値を示す波形データDw3に変換して出力し、第2A/D変換部42は、第6ミキシング信号Smx6をサンプリングすることにより、第6ミキシング信号Smx6の瞬時値を示す波形データDw4に変換して出力する。受信ユニット3は、各波形データDw3,Dw4をデジタル伝送路L2を介して処理部5に出力する。 The first A/D conversion unit 41 samples the fifth mixing signal Smx5 , converts it into waveform data Dw3 indicating the instantaneous value of the fifth mixing signal Smx5 , and outputs the waveform data Dw3. , the sixth mixing signal Smx6 is sampled to convert it into waveform data Dw4 representing the instantaneous value of the sixth mixing signal Smx6 and output. The receiving unit 3 outputs each waveform data Dw3 and Dw4 to the processing section 5 via the digital transmission line L2.

続いて、処理部5は、波形データDw3,Dw4を取得すると共に、波形データDw3に対して第1フィルタ処理を実行し、かつ波形データDw4に対して第2フィルタ処理を実行する。第1フィルタ処理では、処理部5は、波形データDw3に対してデジタル的にローパスフィルタ処理を実行することにより、周波数(2fTXLO)以上の周波数の信号成分を除去して、上記の式(8)で表される信号成分Ssa1(第1周波数fおよび第2周波数fの各信号成分)を抽出する。また、第2フィルタ処理では、処理部5は、波形データDw4に対してデジタル的にローパスフィルタ処理を実行することにより、周波数(2fTXLO)以上の周波数の信号成分を除去して、上記の式(9)で表される信号成分Ssa2(第1周波数fおよび第2周波数fの各信号成分)を抽出する。 Subsequently, the processing unit 5 acquires the waveform data Dw3 and Dw4, performs the first filtering process on the waveform data Dw3, and performs the second filtering process on the waveform data Dw4. In the first filtering process, the processing unit 5 digitally performs a low-pass filtering process on the waveform data Dw3 to remove signal components with frequencies higher than the frequency (2f TXLO ), and express the above equation (8). ) (the signal components of the first frequency f 1 and the second frequency f 2 ) are extracted. Further, in the second filtering process, the processing unit 5 digitally performs low-pass filtering on the waveform data Dw4 to remove signal components with frequencies equal to or higher than the frequency (2f TXLO ). The signal component S sa2 represented by (9) (the signal components of the first frequency f 1 and the second frequency f 2 ) is extracted.

次いで、処理部5は、位相算出処理を実行する。この位相算出処理では、処理部5は、抽出した信号成分Ssa1および信号成分Ssa2に対して、デジタル的にフィルタ処理やFFT処理を実行することにより、信号成分Ssa1を構成する第1周波数fの信号成分についての位相θ1(=θtx1+θDUTf1)および第2周波数fの信号成分についての位相θ2(=θtx1+θDUTf2)を算出すると共に、信号成分Ssa2を構成する第1周波数fの信号成分についての位相θ3(=θtx2+θDLY)および第2周波数fの信号成分についての位相θ4(=θtx2+(f/f)θDLY)を算出する。また、処理部5は、同じ第1周波数fの信号成分についての位相θ1,θ3の差分(θ1-θ3)を算出すると共に、同じ第2周波数fの信号成分についての位相θ2,θ4の差分(θ2-θ4)を算出し、さらに、各差分同士の差分((θ1-θ3)-(θ2-θ4))を算出する。 Next, the processing unit 5 executes phase calculation processing. In this phase calculation process, the processing unit 5 digitally performs filter processing and FFT processing on the extracted signal component S sa1 and signal component S sa2 , thereby calculating the first frequency constituting the signal component S sa1 . Phase θ1 (= θ tx1 + θ DUTf1 ) for the signal component of f 1 and phase θ 2 (= θ tx1 + θ DUTf2 ) for the signal component of the second frequency f 2 are calculated. Phase θ3 (=θ tx2DLY ) for the signal component of frequency f 1 and phase θ4 (=θ tx2 +(f 2 /f 1DLY ) for the signal component of second frequency f 2 are calculated. In addition, the processing unit 5 calculates the difference (θ1-θ3) between the phases θ1 and θ3 of the same signal component of the first frequency f1 , and calculates the difference of the phases θ2 and θ4 of the same signal component of the second frequency f2. A difference (θ2-θ4) is calculated, and a difference between the differences ((θ1-θ3)-(θ2-θ4)) is calculated.

続いて、処理部5は、記憶処理を実行して、算出した上記の差分((θ1-θ3)-(θ2-θ4))を差分位相θDIMとして、図6に示すように、局発周波数fTXLO(または挿入位相θIPを測定する際の第1加算周波数(fTXLO+f)および第2加算周波数(fTXLO+f)の組)に対応させて記憶部6に記憶させる。この差分位相θDIMは、測定周波数帯域の下限周波数1GHzに対応する最も低い周波数でのデータであることから、差分位相θDIM0と表記するものとする。 Subsequently, the processing unit 5 executes a storage process, and uses the calculated difference ((θ1−θ3)−(θ2−θ4)) as a differential phase θDIM to store the local oscillator frequency as shown in FIG. It is stored in the storage unit 6 in association with f TXLO (or a set of the first addition frequency (f TXLO +f 1 ) and the second addition frequency (f TXLO +f 2 ) when measuring the insertion phase θ IP) . Since this differential phase θ DIM is data at the lowest frequency corresponding to the lower limit frequency of 1 GHz of the measurement frequency band, it is denoted as differential phase θ DIM0 .

ところで、この差分位相θDIMを算出する上記の式((θ1-θ3)-(θ2-θ4))は、補正用差分位相変化データDDICを構成する差分位相θDICを算出する式((θ1-θ3)-(θ2-θ4))と同じであることから、この差分位相θDICと同様にして、さらに下記のように表される。
(θDUTf1-θDUTf2)+C(C:定数)
By the way, the above equation ((θ1−θ3)−(θ2−θ4)) for calculating the differential phase θ DIM is the same as the equation for calculating the differential phase θ DIC constituting the differential phase change data D DIC for correction ((θ1 -.theta.3)-(.theta.2-.theta.4)), the differential phase .theta. DIC is also expressed as follows.
DUTf1 - θ DUTf2 ) + C (C: constant)

つまり、この式に基づくと、算出された測定対象100での差分位相θDIMについても、上記した標準器101での差分位相θDICと同じように、第1プローブ29と第2プローブ44との間に接続された対象体(測定対象100や標準器101)を、第1加算周波数(fTXLO+f)の第1正弦波加算信号(=sin(2π(fTXLO+f)t+θtx1))が通過する際に生じる第1位相ずれθDUTf1と、第2加算周波数(fTXLO+f)の第2正弦波加算信号(=sin(2π(fTXLO+f)t+θtx1))が通過する際に生じる第2位相ずれθDUTf2との差分値(差分位相)を示している。したがって、局発周波数fTXLOが0.9GHzのときの差分位相θDIM0は、図6に示すように、第1加算周波数(fTXLO+f)が1GHzで、かつ第2加算周波数(fTXLO+f)が1.1GHzのときの差分位相を示すものとなっている。 That is, based on this formula, the calculated differential phase θ DIM at the measurement object 100 is also the difference between the first probe 29 and the second probe 44 in the same manner as the differential phase θ DIC at the standard device 101 described above. A first sine wave addition signal (=sin(2π( fTXLO + f1 )t+ θtx1 )) of a first addition frequency ( fTXLO + f1 ) is applied to the object (measurement object 100 and standard device 101) connected between and the second sine wave addition signal (=sin(2π( fTXLO + f2 )t+ θtx1 )) of the second addition frequency ( fTXLO + f2 ) passes through shows the difference value (difference phase) with respect to DUTf2 . Therefore, the differential phase θ DIM0 when the local oscillator frequency f TXLO is 0.9 GHz , as shown in FIG. 2 ) shows the differential phase at 1.1 GHz.

これにより、測定装置1では、局発周波数fTXLOを0.9GHzに設定する周波数設定処理から始まり、第1フィルタ処理、第2フィルタ処理、位相算出処理および記憶処理で終わる一連の処理が完了して、局発周波数fTXLOが0.9GHzのときの差分位相θDIM0の測定が完了する。 As a result, the measurement apparatus 1 completes a series of processes starting with the frequency setting process of setting the local oscillator frequency f TXLO to 0.9 GHz and ending with the first filter process, the second filter process, the phase calculation process, and the storage process. This completes the measurement of the differential phase θ DIM0 when the local oscillator frequency f TXLO is 0.9 GHz.

処理部5は、引き続き、局発周波数fTXLOを100MHz(0.1GHz)単位で1.8GHzまで増加させつつ、増加させた新たな局発周波数fTXLOにおいて、上記の周波数設定処理、第1フィルタ処理、第2フィルタ処理、位相算出処理および記憶処理を実行する。これにより、図6に示すように、局発周波数fTXLOを、0.9GHz、1.0GHz、1.1GHz、・・・、1.7GHz、1.8GHzに設定したときの差分位相θDIM0,θDIM1,θDIM2,・・・,θDIM8,θDIM9が測定されて、差分位相変化データDDIMの測定が完了する。これにより、差分位相測定処理が完了する。 The processing unit 5 continues to increase the local oscillator frequency f TXLO to 1.8 GHz in units of 100 MHz (0.1 GHz), and at the increased new local oscillator frequency f TXLO , the frequency setting process, the first filter processing, second filter processing, phase calculation processing, and storage processing. As a result, as shown in FIG. 6, the differential phase θ DIM0 , when the local oscillator frequency f TXLO is set to 0.9 GHz, 1.0 GHz, 1.1 GHz, . θ DIM1 , θ DIM2 , . . . , θ DIM8 , θ DIM9 are measured to complete the measurement of the differential phase change data D DIM . This completes the differential phase measurement process.

次いで、処理部5は、補正処理を実行する。この補正処理では、処理部5は、図6に示される差分位相変化データDDIMを図5に示される補正用差分位相変化データDDICで補正することにより、図7に示される最終的な差分位相変化データDDIFを算出する。具体的には、図7に示すように、差分位相変化データDDIMを構成する各局発周波数fTXLO(第1加算周波数(fTXLO+f)および第2加算周波数(fTXLO+f)の組)での差分位相θDIMから、補正用差分位相変化データDDICを構成する同じ局発周波数fTXLO(第1加算周波数(fTXLO+f)および第2加算周波数(fTXLO+f)の組)での差分位相θDICを減算することで、各局発周波数fTXLO(第1加算周波数(fTXLO+f)および第2加算周波数(fTXLO+f)の組)での最終的な差分位相θDIF(=θDIM-θDIC)を算出すると共に、局発周波数fTXLO(第1加算周波数(fTXLO+f)および第2加算周波数(fTXLO+f)の組)に対応させて記憶部6に記憶させる。これにより、最終的な差分位相変化データDDIFが算出されて、補正処理が完了する。 Next, the processing unit 5 executes correction processing. In this correction process, the processing unit 5 corrects the differential phase change data D DIM shown in FIG. 6 with the correction differential phase change data D DIC shown in FIG. Calculate the phase change data D-- DIF . Specifically, as shown in FIG. 7, each local oscillator frequency f TXLO (a set of a first addition frequency (f TXLO +f 1 ) and a second addition frequency (f TXLO +f 2 ) constituting the differential phase change data D DIM ), the same local oscillator frequency f TXLO (combination of the first addition frequency (f TXLO +f 1 ) and the second addition frequency (f TXLO +f 2 ) constituting the correction differential phase change data D DIC is obtained from the differential phase θ DIM ) yields the final differential phase at each local oscillator frequency f TXLO (the pair of first summing frequency (f TXLO +f 1 ) and second summing frequency (f TXLO +f 2 )) by subtracting the differential phase θ DIC at θ DIF (=θ DIM −θ DIC ) is calculated and stored in association with local oscillator frequency f TXLO (a set of first addition frequency (f TXLO +f 1 ) and second addition frequency (f TXLO +f 2 )) Store in part 6. Thereby, the final differential phase change data D_DIF is calculated, and the correction process is completed.

続いて、処理部5は、測定周波数帯域内における複数の周波数での位相ずれ(挿入位相θIP)を算出する位相データ算出処理を実行する。この位相データ算出処理では、処理部5は、測定周波数帯域(本例では、1GHzから2GHzまでの周波数帯域)内における差分周波数間隔(f-f:本例では0.1GHz)で規定される複数の周波数(本例では、1GHz,1.1GHz,・・・,1.9GHz,2GHzの11個の周波数)のうちの任意の1つの特定周波数の正弦波信号を含む励振信号(本例では、上記したように、特定周波数としての第1加算周波数(fTXLO+f=1.9GHz)の正弦波信号である第1正弦波加算信号(=sin(2π(fTXLO+f)t+θtx1))を励振ユニット2から出力したときに受信ユニット3で受信される通過信号Spaに含まれるこの特定周波数の正弦波信号に生じる位相ずれ(つまり、上記の位相ずれ測定処理で算出した位相ずれθ1REF(=θ1-θ1))と、補正処理において補正された差分位相変化データDDIFとに基づいて、複数の周波数(本例では、1GHz,1.1GHz,・・・,1.9GHz,2GHzの11個の周波数)での位相ずれ(挿入位相θIP)を示す位相変化データDIP(図8参照)を算出する。 Subsequently, the processing unit 5 executes phase data calculation processing for calculating phase shifts (insertion phases θ IP ) at a plurality of frequencies within the measurement frequency band. In this phase data calculation process, the processing unit 5 uses the difference frequency interval (f 2 −f 1 : 0.1 GHz in this example) in the measurement frequency band (in this example, the frequency band from 1 GHz to 2 GHz). An excitation signal (this example Then, as described above, the first sine wave sum signal (=sin(2π(f TXLO +f 1 ) ttx1 )) is output from the excitation unit 2, the phase shift (that is, the phase shift θ1 REF (=θ1 M −θ1 C )) and the differential phase change data D DIF corrected in the correction process, a plurality of frequencies (in this example, 1 GHz, 1.1 GHz, . . . , 1.9 GHz , 11 frequencies of 2 GHz), phase change data D IP (see FIG. 8) indicating the phase shift (insertion phase θ IP ) is calculated.

具体的には、図8に示すように、この例での特定周波数である1.9GHzにおける挿入位相θIPは、上記の位相ずれθ1REFであるため、処理部5は、この位相ずれθ1REFを1.9GHzでの挿入位相θIP9として規定する。また、処理部5は、この挿入位相θIP9を基準として、1.9GHzに対して一段階高い周波数2GHzでの挿入位相θIP10を(θIP9+θDIF9)として算出する。また、処理部5は、この挿入位相θIP9を基準として、1.9GHzに対して一段階低い周波数1.8GHzでの挿入位相θIP8を(θIP9-θDIF8)として算出する。処理部5は、1.8GHzよりも低い周波数での挿入位相θIPについては、一段階高い周波数での挿入位相θIPを基準として、この基準の挿入位相θIPから対応する差分位相θDIFを減算することで、順次算出する。これにより、1GHz,1.1GHz,・・・,1.9GHz,2GHzでの挿入位相θIP0,挿入位相θIP1,・・・,挿入位相θIP9,挿入位相θIP10が算出される。処理部5は、算出した各挿入位相θIPを対応する周波数fに関連付けて、図8に示すように位相変化データDIPとして記憶部6に記憶させる。これにより、位相データ算出処理が完了する。 Specifically, as shown in FIG. 8, the insertion phase θ IP at the specific frequency of 1.9 GHz in this example is the phase shift θ1 REF . is defined as the insertion phase θ IP9 at 1.9 GHz. The processing unit 5 also calculates the insertion phase θ IP10 at a frequency of 2 GHz, which is one step higher than 1.9 GHz, as (θ IP9DIF9 ) using this insertion phase θ IP9 as a reference. The processing unit 5 also calculates an insertion phase θ IP8 at a frequency of 1.8 GHz, which is one step lower than 1.9 GHz, as (θ IP9 −θ DIF8 ) using this insertion phase θ IP9 as a reference. For the insertion phase θ IP at a frequency lower than 1.8 GHz, the processing unit 5 uses the insertion phase θ IP at a frequency one step higher as a reference, and calculates the corresponding differential phase θ DIF from the reference insertion phase θ IP . It is calculated sequentially by subtracting. Thereby, the insertion phase θ IP0 , the insertion phase θ IP1 , . The processing unit 5 associates each calculated insertion phase θ IP with the corresponding frequency f, and stores them in the storage unit 6 as phase change data D IP as shown in FIG. This completes the phase data calculation process.

なお、図示はしないが、処理部5は、上記した算出方法(一段階低い周波数での挿入位相θIPや、一段階低い周波数での挿入位相θIPを基準として、隣接する周波数での挿入位相θIPを算出する方法)に代えて、特定周波数での挿入位相θIP(位相ずれθ1REF)を常に基準として、特定周波数よりも高い周波数での挿入位相θIPを算出する際には、この基準の挿入位相θIPから対応する周波数までの差分位相θDIFの合算値を加算し、特定周波数よりも低い周波数での挿入位相θIPを算出する際には、この基準の挿入位相θIPから対応する周波数までの差分位相θDIFの合算値を減算する方法を採用することもできる。 Although not shown, the processing unit 5 calculates the insertion phase at the adjacent frequency based on the above calculation method (the insertion phase θ IP at the frequency one step lower or the insertion phase θ IP at the frequency one step lower). method of calculating θ IP ), the insertion phase θ IP (phase shift θ1 REF ) at a specific frequency is always used as a reference, and when calculating the insertion phase θ IP at a frequency higher than the specific frequency, this When calculating the insertion phase θ IP at a frequency lower than a specific frequency by adding the total value of the differential phase θ DIF from the reference insertion phase θ IP to the corresponding frequency, the reference insertion phase θ IP A method of subtracting the sum of the differential phases θ DIF up to the corresponding frequency can also be employed.

このように、この測定装置1によれば、処理部5とデジタル伝送路L1を介して接続される励振ユニット2の第1局発部24、並びに処理部5とデジタル伝送路L2を介して接続される受信ユニット3の第2局発部34および基準局発部38を、周波数および位相について調整可能な高機能で高価な発振装置ではなく、周波数だけが調整可能な安価な発振装置で構成することができるため、装置全体のコストを大幅に低減しつつ、測定周波数帯域内における測定対象100に関する差分位相θDIMについての差分周波数間隔毎の変化状態を示す差分位相変化データDDIMを自動的に測定することができる。 Thus, according to this measuring apparatus 1, the first local oscillator 24 of the excitation unit 2 connected to the processing section 5 via the digital transmission line L1, and the processing section 5 connected via the digital transmission line L2 The second local oscillator 34 and the reference local oscillator 38 of the receiving unit 3 to be received are composed of an inexpensive oscillator adjustable only in frequency, instead of a highly functional and expensive oscillator adjustable in terms of frequency and phase. automatically measures the differential phase change data D DIM indicating the state of change for each differential frequency interval of the differential phase θ DIM for the measurement target 100 within the measurement frequency band while significantly reducing the cost of the entire apparatus. can do.

また、この測定装置1によれば、補正用差分位相測定処理を実行するため、測定周波数帯域内における標準器101に関する差分位相θDICについての差分周波数間隔毎の変化状態を示す補正用差分位相変化データDDICを自動的に測定することができる。 In addition, according to this measuring apparatus 1, in order to execute the correction differential phase measurement process, the correction differential phase change indicating the change state for each differential frequency interval for the differential phase θ DIC with respect to the standard device 101 within the measurement frequency band Data D DIC can be measured automatically.

また、この測定装置1では、この補正用差分位相変化データDDICを算出する上記の補正用差分位相測定処理と、この補正用差分位相変化データDDICを用いた補正処理とを実行して、補正された差分位相変化データDDIFを算出する。したがって、この測定装置1によれば、例えば、励振ユニット2における第1加算部27から第1プローブ29までの経路や、受信ユニット3における第2プローブ44から第5ミキサ部39までの経路が、通過する信号の周波数に応じて位相のずれに差が生じる構成であっても、この周波数毎の位相のずれの差に起因した誤差が除去された差分位相変化データDDIFを算出することができる。このため、この測定装置1によれば、特定周波数での位相ずれθ1REFと、この補正された最終的な差分位相変化データDDIMとに基づいて、測定対象100についての測定周波数帯域内における複数の周波数(差分周波数間隔(f-f)毎の周波数)での位相ずれ(挿入位相θIP)を示す位相変化データDIP(つまり、挿入位相θIPの周波数特性)を、正確に、かつ自動的に算出することができる。 Further, in this measuring apparatus 1, the correction differential phase measurement process for calculating the correction differential phase change data D DIC and the correction process using the correction differential phase change data D DIC are executed, Calculate the corrected differential phase change data D_DIF . Therefore, according to this measuring device 1, for example, the path from the first adder 27 to the first probe 29 in the excitation unit 2 and the path from the second probe 44 to the fifth mixer 39 in the receiver unit 3 are Even in a configuration in which a difference in phase shift occurs according to the frequency of a signal that passes through, it is possible to calculate the differential phase change data D- DIF from which the error caused by the difference in phase shift for each frequency is removed. . Therefore, according to this measuring apparatus 1, based on the phase shift θ1 REF at a specific frequency and this corrected final differential phase change data D DIM , a plurality of The phase change data D IP (that is, the frequency characteristic of the insertion phase θ IP ) indicating the phase shift (insertion phase θ IP ) at the frequency of (frequency at each differential frequency interval (f 2 −f 1 )) is accurately and can be calculated automatically.

また、この測定装置1によれば、励振ユニット2および受信ユニット3が、処理部5とデジタル伝送路L1,L2を介して接続されると共に、移動機構4を介して相対的に移動可能に構成されているため、異なる位置に配設された複数の測定対象100の各電極100a,100bに第1プローブ29および第2プローブ44を自動的に接触させること(つまり、第1ポート28および第2ポート43を自動的に接続すること)ができる結果、複数の測定対象100についての差分位相変化データDDIM、ひいては位相変化データDIPを連続して測定することができる。なお、移動機構4を備えない構成であってもよく、この構成においても、差分位相変化データDDIM、補正用差分位相変化データDDIC、位相変化データDIPなどを自動的に算出できるという効果が奏されるのは勿論である。 Further, according to this measuring apparatus 1, the excitation unit 2 and the receiving unit 3 are connected to the processing unit 5 via the digital transmission lines L1 and L2, and are relatively movable via the moving mechanism 4. Therefore, the first probe 29 and the second probe 44 are automatically brought into contact with the electrodes 100a and 100b of the plurality of measurement objects 100 arranged at different positions (that is, the first port 28 and the second probe 44). As a result of being able to automatically connect the port 43), the differential phase change data D DIM and thus the phase change data D IP for a plurality of measurement objects 100 can be continuously measured. It should be noted that a configuration without the moving mechanism 4 may be used, and even in this configuration, there is an effect that the differential phase change data D DIM , the correction differential phase change data D DIC , the phase change data D IP , etc. can be automatically calculated. is of course played.

なお、例えば、上記の第1加算部27から第1プローブ29までの経路や、第2プローブ44から第5ミキサ部39までの経路が、上記のような周波数毎の位相のずれに差が生じない構成のときには、測定装置1は、上記の補正用差分位相測定処理および補正処理の実行を省く構成を採用することができる。この構成では、処理部5は、図7に示す差分位相変化データDDIFに代えて、図6に示す差分位相変化データDDIMを使用して、位相変化データDIPを算出する。この構成の測定装置1によれば、挿入位相θIPを示す位相変化データDIPを、簡易に、より短時間で測定することができる。 In addition, for example, the path from the first addition section 27 to the first probe 29 and the path from the second probe 44 to the fifth mixer section 39 have a difference in phase shift for each frequency as described above. When there is no configuration, the measuring apparatus 1 can employ a configuration that omits execution of the above-described correction differential phase measurement processing and correction processing. In this configuration, the processing unit 5 uses the differential phase change data D- DIM shown in FIG. 6 instead of the differential phase change data D- DIF shown in FIG. 7 to calculate the phase change data DIP . According to the measuring device 1 having this configuration, the phase change data D IP indicating the insertion phase θ IP can be measured easily and in a short time.

また、上記の測定装置1では、処理部5が複数の周波数(差分周波数間隔(f-f)毎の周波数)での位相ずれ(挿入位相θIP)を自動的に算出して、挿入位相θIPで構成される位相変化データDIP(つまり、挿入位相θIPの周波数特性)を自動的に測定する好ましい構成を採用しているが、図5に示す補正用差分位相変化データDDICおよび図6に示す差分位相変化データDDIMを測定する処理までを(補正処理等を省く上記したより簡易な構成では、図6に示す差分位相変化データDDIMを測定する処理までを)処理部5が自動的に実行するだけの構成とすることもできる。この場合、挿入位相θIPの算出については、補正用差分位相変化データDDICおよび差分位相変化データDDIM(補正処理等を省くより簡易な構成では、差分位相変化データDDIM)と、上記した特定周波数での位相ずれθ1REFとに基づいて、人手で、または他の外部装置で演算する。 Further, in the measuring apparatus 1 described above, the processing unit 5 automatically calculates the phase shift (insertion phase θ IP ) at a plurality of frequencies (frequency for each differential frequency interval (f 2 −f 1 )), and inserts Although a preferable configuration for automatically measuring the phase change data D IP (that is, the frequency characteristic of the insertion phase θ IP) composed of the phase θ IP is adopted, the correction differential phase change data D DIC shown in FIG . and the process of measuring the differential phase change data D DIM shown in FIG. 5 can be automatically executed. In this case, the insertion phase θ IP is calculated using the correction differential phase change data D DIC and the differential phase change data D DIM (the differential phase change data D DIM in a simpler configuration omitting the correction process, etc.). It is calculated manually or by other external device based on the phase shift θ1 REF at a specific frequency.

また、上記の測定装置1では、第1信号出力部22は、第1周波数fの第1正弦波信号S1a、および第2周波数fの第2正弦波信号S1bを含む第1信号S1の一例として、第1正弦波信号S1aおよび第2正弦波信号S1bが加算された第1信号S1を出力し、第2信号出力部23は、第1周波数fの第1余弦波信号S2a、および第2周波数fの第2余弦波信号S2bとを含む第2信号S1の一例として、第1余弦波信号S2aおよび第2余弦波信号S2bが加算された第2信号S2を出力し、第3信号出力部32は、第1周波数fの第3正弦波信号S3a、および第2周波数fの第4正弦波信号S3bを含む第3信号S3の一例として、第3正弦波信号S3aおよび第4正弦波信号S3bが加算された第3信号S3を出力し、第4信号出力部33は、第1周波数fの第3余弦波信号S4a、および第2周波数fの第4余弦波信号S4bとを含む第4信号S4の一例として、第3余弦波信号S4aおよび第4余弦波信号S4bが加算された第4信号S4を出力する構成を採用しているが、この構成に限定されるものではない。測定対象100が線形なものであるときには、この構成の測定装置1で挿入位相θIPを測定できるが、測定対象100が非線形なものであるときには、第1信号出力部22から出力される第1信号S1、第2信号出力部23から出力される第2信号S2、第3信号出力部32から出力される第3信号S3、および第4信号出力部33から出力される第4信号S4は、以下で説明する信号とするのが好ましい。この信号について図9を参照して説明する。 In addition, in the measuring apparatus 1 described above, the first signal output unit 22 outputs the first signal S1 including the first sine wave signal S1a having the first frequency f1 and the second sine wave signal S1b having the second frequency f2. As an example, the first signal S1 obtained by adding the first sine wave signal S1a and the second sine wave signal S1b is output, and the second signal output unit 23 outputs the first cosine wave signal S2a of the first frequency f1 , and As an example of the second signal S1 including the second cosine wave signal S2b of the second frequency f2 , the second signal S2 obtained by adding the first cosine wave signal S2a and the second cosine wave signal S2b is output. The signal output unit 32 outputs the third sine wave signal S3a and the third sine wave signal S3b as an example of the third signal S3 including the third sine wave signal S3a of the first frequency f1 and the fourth sine wave signal S3b of the second frequency f2. The fourth signal output unit 33 outputs the third signal S3 to which the four sine wave signals S3b are added, and the fourth signal output unit 33 outputs the third cosine wave signal S4a with the first frequency f1 and the fourth cosine wave signal S4a with the second frequency f2. As an example of the fourth signal S4 including S4b, a configuration for outputting the fourth signal S4 obtained by adding the third cosine wave signal S4a and the fourth cosine wave signal S4b is adopted, but the configuration is limited to this configuration. not a thing When the object 100 to be measured is linear, the insertion phase θ IP can be measured with the measuring apparatus 1 having this configuration. The signal S1, the second signal S2 output from the second signal output section 23, the third signal S3 output from the third signal output section 32, and the fourth signal S4 output from the fourth signal output section 33 are Preferably, the signals are as described below. This signal will be described with reference to FIG.

具体的には、第1信号出力部22は、図9に示すように、第1周波数fの第1正弦波信号S1a、および第2周波数fの第2正弦波信号S1bが時分割で連続するように組み合わされた第1信号S1を出力し、第3信号出力部32は、第1周波数fの第3正弦波信号S3a(第1正弦波信号S1aに対応する信号)、および第2周波数fの第4正弦波信号S3b(第2正弦波信号S1bに対応する信号)が時分割で連続するように組み合わされた第3信号S3を出力する。 Specifically, as shown in FIG. 9, the first signal output unit 22 outputs a first sine wave signal S1a having a first frequency f1 and a second sine wave signal S1b having a second frequency f2 in a time division manner. The third signal output section 32 outputs a first signal S1 that is continuously combined, and outputs a third sinusoidal signal S3a (a signal corresponding to the first sinusoidal signal S1a) having a first frequency f1 , and a third sinusoidal signal S1a. The fourth sine wave signal S3b (signal corresponding to the second sine wave signal S1b) of two frequencies f2 is combined so as to be continuous in a time division to output the third signal S3.

また、第2信号出力部23は、図示はしないが、第1周波数fの第1余弦波信号S2a(第1正弦波信号S1aの位相を90°ずらした信号)、および第2周波数fの第2余弦波信号S2b(第2正弦波信号S1bの位相を90°ずらした信号)が時分割で連続するように組み合わされた第2信号S2を出力する。また、第4信号出力部33は、図示はしないが、第1周波数fの第3余弦波信号S4a(第3正弦波信号S3aの位相を90°ずらした信号)、および第2周波数fの第4余弦波信号S4b(第4正弦波信号S3bの位相を90°ずらした信号)が時分割で連続するように組み合わされた第4信号S4を出力する。 Although not shown, the second signal output unit 23 outputs a first cosine wave signal S2a (a signal obtained by shifting the phase of the first sine wave signal S1a by 90°) of the first frequency f1 and a second frequency f2. The second cosine wave signal S2b (a signal obtained by shifting the phase of the second sine wave signal S1b by 90°) is continuously combined in a time-sharing manner to output a second signal S2. Further, although not shown, the fourth signal output unit 33 outputs a third cosine wave signal S4a of the first frequency f1 (a signal obtained by shifting the phase of the third sine wave signal S3a by 90°) and a second frequency f2. A fourth cosine wave signal S4b (a signal obtained by shifting the phase of the fourth sine wave signal S3b by 90°) is continuously combined in a time division manner to output a fourth signal S4.

この構成の第1信号出力部22、第2信号出力部23、第3信号出力部32および第4信号出力部33を備えた測定装置1によれば、測定対象100が非線形なものであっても、単一の周波数で測定した場合と同様の結果が得られるため、その挿入位相θIPを示す位相変化データDIPを正確に測定することができる。 According to the measuring apparatus 1 including the first signal output section 22, the second signal output section 23, the third signal output section 32, and the fourth signal output section 33 having this configuration, even if the measurement target 100 is nonlinear, Since the same results as when measured at a single frequency are obtained, the phase change data D IP indicating the insertion phase θ IP can be accurately measured.

1 測定装置
2 励振ユニット
3 受信ユニット
4 移動機構
5 処理部
22 第1信号出力部
23 第2信号出力部
24 第1局発部
25 第1ミキサ部
26 第2ミキサ部
27 第1加算部
28 第1ポート
32 第3信号出力部
33 第4信号出力部
34 第2局発部
35 第3ミキサ部
36 第4ミキサ部
37 第2加算部
38 基準局発部
39 第5ミキサ部
40 第6ミキサ部
43 第2ポート
100 測定対象
100a,100b 電極
IP 位相変化データ
DIC 補正用差分位相変化データ
DIM,DDIF 差分位相変化データ
S1 第1信号
S2 第2信号
S3 第3信号
S4 第4信号
LO1a 第1正弦波励振信号
LO1b 第1余弦波励振信号
LO2a 第2正弦波励振信号
LO2b 第2余弦波励振信号
mx1 第1ミキシング信号
mx2 第2ミキシング信号
mx3 第3ミキシング信号
mx4 第4ミキシング信号
mx5 第5ミキシング信号
mx6 第6ミキシング信号
Spa 通過信号
Sr 正弦波基準信号
tx1 励振信号
tx2 内部励振信号
θ1REF 特定周波数での位相ずれ
θIP 挿入位相(位相ずれ)
1 measuring device
2 Excitation unit
3 Receiving unit
4 moving mechanism
5 processing section 22 first signal output section 23 second signal output section 24 first local oscillator section 25 first mixer section 26 second mixer section 27 first addition section 28 first port 32 third signal output section 33 fourth signal Output section 34 Second local oscillator section 35 Third mixer section 36 Fourth mixer section 37 Second addition section 38 Reference local oscillator section 39 Fifth mixer section 40 Sixth mixer section 43 Second port 100 Measurement target 100a, 100b Electrode D IP Phase change data D Differential phase change data for DIC correction D DIM , D DIF differential phase change data S1 First signal S2 Second signal S3 Third signal S4 Fourth signal S LO1a first sine wave excitation signal S LO1b first cosine wave Excitation signal S LO2a Second sine wave excitation signal S LO2b Second cosine wave excitation signal S mx1 First mixing signal S mx2 Second mixing signal S mx3 Third mixing signal S mx4 Fourth mixing signal S mx5 Fifth mixing signal S mx6 6th mixing signal Spa passing signal Sr sine wave reference signal S tx1 excitation signal S tx2 internal excitation signal θ1 REF phase shift at specific frequency θ IP insertion phase (phase shift)

Claims (10)

測定対象の一方の電極に接続される第1ポートから励振信号を出力する励振ユニット、当該励振ユニットと別体にして構成されて、前記測定対象の他方の電極に接続される第2ポートから当該測定対象を通過した前記励振信号を通過信号として受信する受信ユニット、および処理部を備え、
前記励振ユニットは、
第1周波数の第1正弦波信号、および当該第1周波数のm倍(mは2以上の任意の自然数)の第2周波数であって前記第1正弦波信号と同一振幅の第2正弦波信号を含む第1信号を出力する第1信号出力部と、
前記第1正弦波信号に対して位相が90°ずれると共に当該第1正弦波信号と同一振幅で、かつ前記第1周波数の信号である第1余弦波信号、および前記第2正弦波信号に対して位相が90°ずれると共に前記第1正弦波信号と同一振幅で、かつ前記第2周波数の信号である第2余弦波信号を含む第2信号を出力する第2信号出力部と、
前記第1正弦波信号と同一振幅の第1正弦波励振信号、および当該第1正弦波励振信号の位相を90°ずらした信号である第1余弦波励振信号を設定された局発周波数で出力する第1局発部と、
前記第1信号、前記第1余弦波励振信号、前記第2信号および前記第1正弦波励振信号に基づいて、前記局発周波数に前記第1周波数が加算された第1加算周波数の第1正弦波加算信号、および前記局発周波数に前記第2周波数が加算された第2加算周波数の第2正弦波加算信号を含む信号を前記励振信号として前記第1ポートに出力する第1信号生成部とを備え、
前記受信ユニットは、
前記第1正弦波信号と同一振幅であって同一周波数の第3正弦波信号、および前記第2正弦波信号と同一振幅であって同一周波数の第4正弦波信号を含む第3信号を出力する第3信号出力部と、
前記第1余弦波信号と同一振幅であって同一周波数の第3余弦波信号、および前記第2余弦波信号と同一振幅であって同一周波数の第4余弦波信号を含む第4信号を出力する第4信号出力部と、
前記第1正弦波励振信号と同一振幅であって同一周波数の第2正弦波励振信号および前記第1余弦波励振信号と同一振幅であって同一周波数の第2余弦波励振信号を設定された前記局発周波数で出力する第2局発部と、
前記第3信号、前記第2余弦波励振信号、前記第4信号および前記第2正弦波励振信号に基づいて、前記励振信号と同一振幅であって同一周波数の内部励振信号を出力する第2信号生成部と、
前記第1正弦波信号と同一振幅の正弦波基準信号を設定された前記局発周波数で出力する基準局発部と、
前記第1正弦波加算信号に対して前記測定対象を通過する際に生じる第1位相ずれ分だけ位相がずれた第1正弦波通過信号、および前記第2正弦波加算信号に対して前記測定対象を通過する際に生じる第2位相ずれ分だけ位相がずれた第2正弦波通過信号を含む前記第2ポートで受信される前記通過信号と、前記正弦波基準信号とをミキシングして第1出力ミキシング信号として出力すると共に、前記正弦波基準信号および前記内部励振信号をミキシングして第2出力ミキシング信号として出力する受信側ミキサ部とを備え、
前記処理部は、
前記第1局発部、前記第2局発部および前記基準局発部に対して前記局発周波数を設定する周波数設定処理、
前記第1周波数であって前記第1位相ずれ分を含む第1余弦波受信信号と前記第2周波数であって前記第2位相ずれ分を含む第2余弦波受信信号とが加算された信号を前記第1出力ミキシング信号から抽出すると共に、前記第1周波数の第1余弦波参照信号と前記第2周波数の第2余弦波参照信号とが加算された信号を前記第2出力ミキシング信号から抽出するフィルタ処理、
並びに前記第1余弦波受信信号および前記第1余弦波参照信号の位相差と前記第2余弦波受信信号および前記第2余弦波参照信号の位相差との差分値を、前記第1位相ずれ分および前記第2位相ずれ分の差分位相として算出すると共に、前記第1加算周波数および前記第2加算周波数に対応させて前記差分位相を記憶する位相算出処理を実行可能に構成されて、
記周波数設定処理において設定する前記局発周波数を予め規定された測定周波数帯域に亘って変更しつつ当該周波数設定処理から前記位相算出処理までの各処理を実行することにより、前記測定対象に関する前記差分位相についての前記第1周波数および前記第2周波数の差分周波数間隔毎の変化状態を示す差分位相変化データを測定する差分位相測定処理を実行する測定装置。
an excitation unit for outputting an excitation signal from a first port connected to one electrode of the object to be measured; A receiving unit that receives the excitation signal that has passed through the measurement target as a passing signal, and a processing unit,
The excitation unit is
A first sine wave signal having a first frequency, and a second sine wave signal having a second frequency m times the first frequency (m is an arbitrary natural number equal to or greater than 2) and having the same amplitude as the first sine wave signal a first signal output unit that outputs a first signal including
A first cosine wave signal that is 90° out of phase with the first sine wave signal, has the same amplitude as the first sine wave signal, and has the first frequency, and the second sine wave signal a second signal output unit for outputting a second signal including a second cosine wave signal having a phase difference of 90° and having the same amplitude as the first sine wave signal and having the second frequency;
Outputting a first sine wave excitation signal having the same amplitude as the first sine wave signal and a first cosine wave excitation signal, which is a signal obtained by shifting the phase of the first sine wave excitation signal by 90°, at a set local oscillator frequency a first local oscillator that
Based on the first signal, the first cosine wave excitation signal, the second signal and the first sine wave excitation signal, a first sine of a first added frequency obtained by adding the first frequency to the local oscillator frequency a first signal generating unit configured to output to the first port, as the excitation signal, a signal including a wave sum signal and a second sine wave sum signal of a second sum frequency obtained by adding the second frequency to the local oscillation frequency; with
The receiving unit is
outputting a third signal including a third sine wave signal having the same amplitude and frequency as the first sine wave signal and a fourth sine wave signal having the same amplitude and frequency as the second sine wave signal; a third signal output unit;
outputting a fourth signal including a third cosine wave signal having the same amplitude and frequency as the first cosine wave signal and a fourth cosine wave signal having the same amplitude and frequency as the second cosine wave signal; a fourth signal output unit;
A second sine wave excitation signal having the same amplitude and frequency as the first sine wave excitation signal and a second cosine wave excitation signal having the same amplitude and frequency as the first cosine wave excitation signal are set. a second local oscillator that outputs at a local oscillator frequency;
A second signal that outputs an internal excitation signal having the same amplitude and frequency as the excitation signal based on the third signal, the second cosine wave excitation signal, the fourth signal, and the second sine wave excitation signal. a generator;
a reference local oscillator that outputs a sinusoidal reference signal having the same amplitude as the first sinusoidal signal at the set local oscillation frequency;
A first sine wave passing signal whose phase is shifted by a first phase shift generated when passing through the measurement object with respect to the first sine wave sum signal, and the measurement object with respect to the second sine wave sum signal. a second sinusoidal pass-through signal received at the second port including a second sinusoidal pass-through signal phase-shifted by a second phase shift occurring when passing through a first output a receiving side mixer unit that outputs as a mixed signal and mixes the sine wave reference signal and the internal excitation signal to output as a second output mixed signal;
The processing unit is
frequency setting processing for setting the local oscillator frequency for the first local oscillator, the second local oscillator, and the reference local oscillator;
a signal obtained by adding a first received cosine wave signal having the first frequency and including the first phase shift and a second received cosine wave signal having the second frequency and including the second phase shift; extracting from the first output mixing signal and extracting a signal obtained by adding a first cosine wave reference signal of the first frequency and a second cosine wave reference signal of the second frequency from the second output mixing signal; filtering,
and the difference value between the phase difference between the first received cosine wave signal and the first cosine wave reference signal and the phase difference between the second received cosine wave signal and the second cosine wave reference signal, the first phase shift and a differential phase corresponding to the second phase shift, and a phase calculation process for storing the differential phase in association with the first addition frequency and the second addition frequency,
By executing each process from the frequency setting process to the phase calculation process while changing the local oscillator frequency set in the frequency setting process over a predetermined measurement frequency band, the A measuring apparatus for performing a differential phase measurement process of measuring differential phase change data indicating a change state of the differential phase for each differential frequency interval of the first frequency and the second frequency.
前記処理部は、
前記測定対象に代えてスルー校正用の標準器が前記第1ポートおよび前記第2ポート間に接続された状態において、前記周波数設定処理において設定する前記局発周波数を前記測定周波数帯域に亘って変更しつつ当該周波数設定処理から前記位相算出処理までの各処理を実行することにより、当該測定周波数帯域内における前記標準器に関する前記差分位相についての前記差分周波数間隔毎の変化状態を示す補正用差分位相変化データを測定する補正用差分位相測定処理と、
前記差分位相変化データを前記補正用差分位相変化データで補正する補正処理とを実行する請求項1記載の測定装置。
The processing unit is
The local oscillator frequency set in the frequency setting process is changed over the measurement frequency band in a state in which a standard device for thru calibration is connected between the first port and the second port in place of the measurement target. By executing each process from the frequency setting process to the phase calculation process while performing the correction differential phase indicating the change state of the differential phase with respect to the standard device in the measurement frequency band for each differential frequency interval a correction differential phase measurement process for measuring change data;
2. The measuring apparatus according to claim 1, further comprising a correction process of correcting the differential phase change data with the correction differential phase change data.
測定対象の一方の電極に接続される第1ポートから励振信号を出力する励振ユニット、当該励振ユニットと別体にして構成されて、前記測定対象の他方の電極に接続される第2ポートから当該測定対象を通過した前記励振信号を通過信号として受信する受信ユニット、および処理部を備え、
前記励振ユニットは、
第1周波数の第1正弦波信号、および当該第1周波数のm倍(mは2以上の任意の自然数)の第2周波数であって前記第1正弦波信号と同一振幅の第2正弦波信号を含む第1信号を出力する第1信号出力部と、
前記第1正弦波信号に対して位相が90°ずれると共に当該第1正弦波信号と同一振幅で、かつ前記第1周波数の信号である第1余弦波信号、および前記第2正弦波信号に対して位相が90°ずれると共に前記第1正弦波信号と同一振幅で、かつ前記第2周波数の信号である第2余弦波信号を含む第2信号を出力する第2信号出力部と、
前記第1正弦波信号と同一振幅の第1正弦波励振信号、および当該第1正弦波励振信号の位相を90°ずらした信号である第1余弦波励振信号を設定された局発周波数で出力する第1局発部と、
前記第1信号および前記第1余弦波励振信号をミキシングして第1ミキシング信号として出力する第1ミキサ部と、
前記第2信号および前記第1正弦波励振信号をミキシングして第2ミキシング信号として出力する第2ミキサ部と、
前記第1ミキシング信号および前記第2ミキシング信号を加算することにより、前記局発周波数に前記第1周波数が加算された第1加算周波数の第1正弦波加算信号、および前記局発周波数に前記第2周波数が加算された第2加算周波数の第2正弦波加算信号を含む信号を前記励振信号として前記第1ポートに出力する第1加算部とを備え、
前記受信ユニットは、
前記第1正弦波信号と同一振幅であって同一周波数の第3正弦波信号、および前記第2正弦波信号と同一振幅であって同一周波数の第4正弦波信号を含む第3信号を出力する第3信号出力部と、
前記第1余弦波信号と同一振幅であって同一周波数の第3余弦波信号、および前記第2余弦波信号と同一振幅であって同一周波数の第4余弦波信号を含む第4信号を出力する第4信号出力部と、
前記第1正弦波励振信号と同一振幅であって同一周波数の第2正弦波励振信号および前記第1余弦波励振信号と同一振幅であって同一周波数の第2余弦波励振信号を設定された前記局発周波数で出力する第2局発部と、
前記第3信号および前記第2余弦波励振信号をミキシングして第3ミキシング信号として出力する第3ミキサ部と、
前記第4信号および前記第2正弦波励振信号をミキシングして第4ミキシング信号として出力する第4ミキサ部と、
前記第3ミキシング信号および前記第4ミキシング信号を加算すると共に内部励振信号として出力する第2加算部と、
前記第1正弦波信号と同一振幅の正弦波基準信号を設定された前記局発周波数で出力する基準局発部と、
前記第2ポートで受信される前記通過信号であって、前記第1正弦波加算信号に対して前記測定対象を通過する際に生じる第1位相ずれ分だけ位相がずれた第1正弦波通過信号、および前記第2正弦波加算信号に対して前記測定対象を通過する際に生じる第2位相ずれ分だけ位相がずれた第2正弦波通過信号を含む信号と、前記正弦波基準信号とをミキシングして第5ミキシング信号として出力する第5ミキサ部と、
前記正弦波基準信号および前記内部励振信号をミキシングして第6ミキシング信号として出力する第6ミキサ部とを備え、
前記処理部は、
前記励振ユニット内の前記第1局発部と、前記受信ユニット内の前記第2局発部および前記基準局発部とに対して前記局発周波数を設定する周波数設定処理、
前記第1周波数であって前記第1位相ずれ分を含む第1余弦波受信信号と前記第2周波数であって前記第2位相ずれ分を含む第2余弦波受信信号とが加算された信号を第5信号として前記第5ミキシング信号から抽出する第1フィルタ処理、
前記第1周波数の第1余弦波参照信号と前記第2周波数の第2余弦波参照信号とが加算された信号を第6信号として前記第6ミキシング信号から抽出する第2フィルタ処理、
前記第1余弦波受信信号および前記第1余弦波参照信号の位相差と前記第2余弦波受信信号および前記第2余弦波参照信号の位相差との差分値を、前記第1位相ずれ分および前記第2位相ずれ分の差分位相として算出する位相算出処理、
並びに前記第1加算周波数および前記第2加算周波数の組に対応させて前記差分位相を記憶する記憶処理を実行可能に構成されて、
前記周波数設定処理において設定する前記局発周波数を、増加させるときには新たに設定する当該局発周波数に基づく前記第1加算周波数が直前に設定した当該局発周波数に基づく前記第2加算周波数と一致するように、減少させるときには新たに設定する当該局発周波数に基づく前記第2加算周波数が直前に設定した当該局発周波数に基づく前記第1加算周波数と一致するように、予め規定された測定周波数帯域に亘って段階的に変更しつつ当該周波数設定処理から前記記憶処理までの各処理を実行することにより、当該測定周波数帯域内における前記測定対象に関する前記差分位相についての前記第1周波数および前記第2周波数の差分周波数間隔毎の変化状態を示す差分位相変化データを測定する差分位相測定処理を実行する測定装置。
an excitation unit for outputting an excitation signal from a first port connected to one electrode of the object to be measured; A receiving unit that receives the excitation signal that has passed through the measurement target as a passing signal, and a processing unit,
The excitation unit is
A first sine wave signal having a first frequency, and a second sine wave signal having a second frequency m times the first frequency (m is an arbitrary natural number equal to or greater than 2) and having the same amplitude as the first sine wave signal a first signal output unit that outputs a first signal including
A first cosine wave signal that is 90° out of phase with the first sine wave signal, has the same amplitude as the first sine wave signal, and has the first frequency, and the second sine wave signal a second signal output unit for outputting a second signal including a second cosine wave signal having a phase difference of 90° and having the same amplitude as the first sine wave signal and having the second frequency;
Outputting a first sine wave excitation signal having the same amplitude as the first sine wave signal and a first cosine wave excitation signal, which is a signal obtained by shifting the phase of the first sine wave excitation signal by 90°, at a set local oscillator frequency a first local oscillator that
a first mixer unit that mixes the first signal and the first cosine wave excitation signal and outputs a first mixed signal;
a second mixer unit that mixes the second signal and the first sinusoidal excitation signal and outputs a second mixed signal;
By adding the first mixing signal and the second mixing signal, a first sine wave addition signal of a first addition frequency obtained by adding the first frequency to the local oscillation frequency and the first sine wave addition signal to the local oscillation frequency a first addition unit that outputs a signal including a second sine wave addition signal of a second addition frequency obtained by adding two frequencies as the excitation signal to the first port;
The receiving unit
outputting a third signal including a third sine wave signal having the same amplitude and frequency as the first sine wave signal and a fourth sine wave signal having the same amplitude and frequency as the second sine wave signal; a third signal output unit;
outputting a fourth signal including a third cosine wave signal having the same amplitude and frequency as the first cosine wave signal and a fourth cosine wave signal having the same amplitude and frequency as the second cosine wave signal; a fourth signal output unit;
A second sine wave excitation signal having the same amplitude and frequency as the first sine wave excitation signal and a second cosine wave excitation signal having the same amplitude and frequency as the first cosine wave excitation signal are set. a second local oscillator that outputs at a local oscillator frequency;
a third mixer that mixes the third signal and the second cosine wave excitation signal and outputs a third mixed signal;
a fourth mixer that mixes the fourth signal and the second sinusoidal excitation signal and outputs a fourth mixed signal;
a second addition unit that adds the third mixing signal and the fourth mixing signal and outputs the result as an internal excitation signal;
a reference local oscillator that outputs a sinusoidal reference signal having the same amplitude as the first sinusoidal signal at the set local oscillation frequency;
a first sinusoidal pass-through signal received at the second port, the first sinusoidal pass-through signal being out of phase with respect to the first summed sinusoidal signal by a first phase shift occurring when passing through the object to be measured; , and a signal including a second sine wave passing signal whose phase is shifted by a second phase shift generated when passing through the object to be measured with respect to the second sine wave sum signal, and the sine wave reference signal. a fifth mixer section for outputting as a fifth mixing signal;
a sixth mixer unit that mixes the sine wave reference signal and the internal excitation signal and outputs a sixth mixed signal;
The processing unit is
frequency setting processing for setting the local oscillator frequency for the first local oscillator in the excitation unit and the second local oscillator and the reference local oscillator in the receiving unit;
a signal obtained by adding a first received cosine wave signal having the first frequency and including the first phase shift and a second received cosine wave signal having the second frequency and including the second phase shift; a first filtering process for extracting from the fifth mixing signal as a fifth signal;
a second filtering process of extracting a signal obtained by adding the first cosine wave reference signal of the first frequency and the second cosine wave reference signal of the second frequency as a sixth signal from the sixth mixing signal;
A difference value between a phase difference between the first received cosine wave signal and the first cosine wave reference signal and a phase difference between the second received cosine wave signal and the second cosine wave reference signal is calculated by the first phase shift and a phase calculation process for calculating a differential phase for the second phase shift;
and a storage process of storing the differential phase in association with the set of the first addition frequency and the second addition frequency,
When the local oscillator frequency set in the frequency setting process is increased, the first added frequency based on the newly set local oscillator frequency matches the second added frequency based on the previously set local oscillator frequency. A measurement frequency band defined in advance such that when decreasing, the second addition frequency based on the newly set local oscillation frequency matches the first addition frequency based on the local oscillation frequency set immediately before By executing each process from the frequency setting process to the storage process while changing stepwise over the measurement frequency band, the first frequency and the second A measuring device that performs differential phase measurement processing for measuring differential phase change data that indicates a change state of frequency for each differential frequency interval.
前記処理部は、
前記測定対象に代えてスルー校正用の標準器が前記第1ポートおよび前記第2ポート間に接続された状態において、前記周波数設定処理において設定する前記局発周波数を、増加させるときには新たに設定する当該局発周波数に基づく前記第1加算周波数が直前に設定した当該局発周波数に基づく前記第2加算周波数と一致するように、減少させるときには新たに設定する当該局発周波数に基づく前記第2加算周波数が直前に設定した当該局発周波数に基づく前記第1加算周波数と一致するように、前記測定周波数帯域に亘って段階的に変更しつつ当該周波数設定処理から前記記憶処理までの各処理を実行することにより、当該測定周波数帯域内における前記標準器に関する前記差分位相についての前記差分周波数間隔毎の変化状態を示す補正用差分位相変化データを測定する補正用差分位相測定処理と、
前記差分位相変化データを前記補正用差分位相変化データで補正する補正処理とを実行する請求項3記載の測定装置。
The processing unit is
The local oscillator frequency set in the frequency setting process is newly set when increasing it in a state in which a standard device for thru calibration is connected between the first port and the second port in place of the object to be measured. The second addition based on the local oscillation frequency is newly set when decreasing such that the first addition frequency based on the local oscillation frequency coincides with the second addition frequency based on the local oscillation frequency set immediately before. Each process from the frequency setting process to the storage process is executed while changing stepwise over the measurement frequency band so that the frequency matches the first addition frequency based on the local oscillator frequency set immediately before. a correction differential phase measurement process for measuring correction differential phase change data indicating a state of change for each differential frequency interval of the differential phase with respect to the standard device in the measurement frequency band;
4. The measuring apparatus according to claim 3, further comprising a correction process of correcting the differential phase change data with the correction differential phase change data.
前記処理部は、前記測定周波数帯域内における前記差分周波数間隔で規定される複数の周波数のうちの任意の1つの特定周波数の正弦波信号を含む前記励振信号を前記励振ユニットから出力したときに前記受信ユニットで受信される前記通過信号に含まれる当該特定周波数の正弦波信号に生じる位相ずれと、前記差分位相変化データとに基づいて、前記測定周波数帯域内における前記複数の周波数での位相ずれを示す位相変化データを算出する位相データ算出処理を実行する請求項1または3記載の測定装置。 When the excitation signal including a sine wave signal of any one specific frequency among a plurality of frequencies defined by the differential frequency interval within the measurement frequency band is output from the excitation unit, the processing unit outputs the Phase shifts at the plurality of frequencies within the measurement frequency band are determined based on the phase shift occurring in the sine wave signal of the specific frequency included in the passing signal received by the receiving unit and the differential phase change data. 4. The measuring device according to claim 1 or 3, which executes a phase data calculation process for calculating the phase change data shown. 前記処理部は、前記測定周波数帯域内における前記差分周波数間隔で規定される複数の周波数のうちの任意の1つの特定周波数の正弦波信号を含む前記励振信号を前記励振ユニットから出力したときに前記受信ユニットで受信される前記通過信号に含まれる当該特定周波数の正弦波信号に生じる位相ずれと、前記補正処理において補正された前記差分位相変化データとに基づいて、前記測定周波数帯域内における前記複数の周波数での位相ずれを示す位相変化データを算出する位相データ算出処理を実行する請求項2または4記載の測定装置。 When the excitation signal including a sine wave signal of any one specific frequency among a plurality of frequencies defined by the differential frequency interval within the measurement frequency band is output from the excitation unit, the processing unit outputs the Based on the phase shift occurring in the sine wave signal of the specific frequency included in the pass-through signal received by the receiving unit and the differential phase change data corrected in the correction process, the plurality of signals within the measurement frequency band 5. The measuring apparatus according to claim 2 or 4, which executes a phase data calculation process for calculating phase change data indicating a phase shift at a frequency of . 前記第1信号出力部は、前記第1正弦波信号および前記第2正弦波信号が加算された前記第1信号を出力し、
前記第2信号出力部は、前記第1余弦波信号および前記第2余弦波信号が加算された前記第2信号を出力し、
前記第3信号出力部は、前記第3正弦波信号および前記第4正弦波信号が加算された前記第3信号を出力し、
前記第4信号出力部は、前記第3余弦波信号および前記第4余弦波信号が加算された前記第4信号を出力する請求項1から6のいずれかに記載の測定装置。
The first signal output unit outputs the first signal obtained by adding the first sine wave signal and the second sine wave signal,
The second signal output unit outputs the second signal obtained by adding the first cosine wave signal and the second cosine wave signal,
The third signal output unit outputs the third signal obtained by adding the third sine wave signal and the fourth sine wave signal,
The measuring apparatus according to any one of claims 1 to 6, wherein the fourth signal output section outputs the fourth signal obtained by adding the third cosine wave signal and the fourth cosine wave signal.
前記第1信号出力部は、前記第1正弦波信号および前記第2正弦波信号が時分割で連続するように組み合わされた前記第1信号を出力し、
前記第2信号出力部は、前記第1余弦波信号および前記第2余弦波信号が時分割で連続するように組み合わされた前記第2信号を出力し、
前記第3信号出力部は、前記第3正弦波信号および前記第4正弦波信号が時分割で連続するように組み合わされた前記第3信号を出力し、
前記第4信号出力部は、前記第3余弦波信号および前記第4余弦波信号が時分割で連続するように組み合わされた前記第4信号を出力する請求項1から6のいずれかに記載の測定装置。
The first signal output unit outputs the first signal in which the first sine wave signal and the second sine wave signal are combined so as to be continuous in a time division manner,
The second signal output unit outputs the second signal in which the first cosine wave signal and the second cosine wave signal are combined so as to be continuous in a time division manner,
The third signal output unit outputs the third signal in which the third sine wave signal and the fourth sine wave signal are combined so as to be continuous in a time division manner,
7. The fourth signal output unit according to any one of claims 1 to 6, wherein the third cosine wave signal and the fourth cosine wave signal are combined so as to be continuous in a time division manner to output the fourth signal. measuring device.
前記励振ユニットおよび前記受信ユニットは、移動機構を介して相対的に移動可能に構成されている請求項1から8のいずれかに記載の測定装置。 9. The measuring apparatus according to any one of claims 1 to 8, wherein the excitation unit and the reception unit are relatively movable via a moving mechanism. 前記移動機構を備えている請求項9記載の測定装置。 The measuring device according to claim 9, comprising the moving mechanism.
JP2018238631A 2018-12-20 2018-12-20 measuring device Active JP7301535B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2018238631A JP7301535B2 (en) 2018-12-20 2018-12-20 measuring device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2018238631A JP7301535B2 (en) 2018-12-20 2018-12-20 measuring device

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2020101407A JP2020101407A (en) 2020-07-02
JP7301535B2 true JP7301535B2 (en) 2023-07-03

Family

ID=71139358

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2018238631A Active JP7301535B2 (en) 2018-12-20 2018-12-20 measuring device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP7301535B2 (en)

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004132985A (en) 2002-10-07 2004-04-30 Rohde & Schwarz Gmbh & Co Kg Measuring device, especially, vectorial network analyzer with separate oscillator
US7058377B1 (en) 2003-08-14 2006-06-06 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy Dual channel downconverter for pulsed radio frequency measurements
US20170324375A1 (en) 2016-05-06 2017-11-09 Eight Ten Labs LLC Method to Remove the Effects of LO Drift from Vector Network Analyzer Measurements

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004132985A (en) 2002-10-07 2004-04-30 Rohde & Schwarz Gmbh & Co Kg Measuring device, especially, vectorial network analyzer with separate oscillator
US7058377B1 (en) 2003-08-14 2006-06-06 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy Dual channel downconverter for pulsed radio frequency measurements
US20170324375A1 (en) 2016-05-06 2017-11-09 Eight Ten Labs LLC Method to Remove the Effects of LO Drift from Vector Network Analyzer Measurements

Also Published As

Publication number Publication date
JP2020101407A (en) 2020-07-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8463224B2 (en) Arbitrary multiband overlay mixer apparatus and method for bandwidth multiplication
EP3451000B1 (en) Vector network analyzer and measuring method for frequency-converting measurements
CN111788782A (en) Method and apparatus for measuring distance from passive intermodulation sources
JPS5832666B2 (en) How to change the color of the image.
JP2527104B2 (en) Orthogonal sequence generator and radar apparatus including orthogonal sequence generator
CN104467927A (en) Method and device for compensating phases of receive channel
US9810726B2 (en) Method and system for calibrating phases of comb teeth in comb signal with pilot tone and using calibrated comb teeth phases to measure a device under test
US11899128B2 (en) Frequency response calibration for radio frequency integrated circuit with multiple receiving channels
JP7301535B2 (en) measuring device
JP2008232807A (en) Signal analyzer
CN115792770A (en) Method and system for acquiring inherent coherent calibration data between channels of vector network analyzer
JP2006504960A (en) How to measure the scattering parameters of a multiport device under test using a multiport network analyzer with a non-sinusoidal measurement signal
EP3076189A1 (en) Band overlay separator
EP1515147B1 (en) Method and apparatus for determining the group delay caused by a device under test
JP2005337993A (en) Method for measuring transfer function of frequency analyzer
CN116346558B (en) A method and system for generating quadrature signals
JP2006194703A (en) AC power measuring apparatus and program
JP3561184B2 (en) IQ splitter device
JPH0396870A (en) Measuring instrument
US9350470B1 (en) Phase slope reference adapted for use in wideband phase spectrum measurements
US7038465B2 (en) System and method for calibrating balanced signals
RU2700334C1 (en) Method of measuring phase difference of harmonic signals at outputs of linear paths with low signal-to-noise ratios
JP4881904B2 (en) Signal generator
JP2015070497A (en) Signal analysis apparatus, synchronization system, and synchronization method
JPH11308152A (en) Spread spectrum signal analysis device/method

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20211025

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20221020

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20221122

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20230119

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20230308

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20230606

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20230621

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 7301535

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150