JP7316877B2 - Vacuum process equipment and method for cooling process object in vacuum process equipment - Google Patents
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Description
本発明は、たとえば半導体製造装置において、真空チャンバ内で、ガラス基板等のプロセス対象物に対して蒸着等により薄膜形成等の所定のプロセス処理を行う真空プロセス装置および真空プロセス装置におけるプロセス対象物の冷却方法に関するものである。 The present invention relates to, for example, a semiconductor manufacturing apparatus. It relates to the cooling method.
半導体デバイスの製造プロセスには多くの微細加工、薄膜形成技術が適用されている。
それらの装置は、真空プロセス装置とも総称され、真空中での物理、化学的現象が利用されている。
Many microfabrication and thin film forming techniques are applied to the manufacturing process of semiconductor devices.
These devices are also collectively called vacuum process devices, and utilize physical and chemical phenomena in a vacuum.
真空によって生み出される物理的、化学的加工原理としては、放電、イオン化、スパッタリング現象等を挙げることができる。
これらの現象は、プラズマエッチング(Plasma Etching)、プラズマCVD(Plasma Chemical Vapor Deposition)、イオン打ち込み(Ion Implantation)、スパッタリングデポジッション(Sputtering Deposition)などに適用されている。
Electric discharge, ionization, sputtering phenomena, etc. can be mentioned as physical and chemical processing principles produced by vacuum.
These phenomena are applied to plasma etching, plasma chemical vapor deposition (CVD), ion implantation, sputtering deposition, and the like.
これらの現象が適用される真空プロセス装置においては、プロセスの途中、いわゆるプラズマ源、ヒータ源などの加熱源を用いることから、プロセス対象物に加熱による影響等により蓄積された反りや材料変質などの現象が発生してしまう。 In the vacuum process equipment to which these phenomena are applied, heat sources such as so-called plasma sources and heater sources are used during the process. phenomenon occurs.
たとえば、真空蒸着では、蒸着材料を気化させるために、蒸着材料の温度および蒸着材料を収容するるつぼの温度が高温となる。
そして、蒸着材料をプロセス対象物である基板に蒸着させるため、高温のるつぼの上方に基板が配置される。
蒸着中は、主に、以下の理由により基板の温度が上昇する。
高温のるつぼおよび溶融した蒸着材料の表面からも輻射熱により基板の温度が上昇する。
For example, in vacuum deposition, the temperature of the vapor deposition material and the temperature of the crucible containing the vapor deposition material become high in order to vaporize the vapor deposition material.
Then, the substrate is placed above the hot crucible in order to deposit the vapor deposition material onto the substrate, which is the process object.
During deposition, the temperature of the substrate rises mainly for the following reasons.
The temperature of the substrate also rises due to radiant heat from the high-temperature crucible and the surface of the molten vapor deposition material.
そこで、真空プロセス装置においては、温度上昇に伴うプロセス対象物(たとえば基板)における反りや材料変質を抑制するために、プロセス対象物の温度を制御する冷却装置(冷却システム)が採用されている(たとえば特許文献1参照)。 Therefore, in vacuum process equipment, a cooling device (cooling system) is employed to control the temperature of the process object (for example, a substrate) in order to suppress warping and material deterioration in the process object (for example, a substrate) due to temperature rise ( For example, see Patent Document 1).
特許文献1に開示された冷却装置は、真空チャンバ内に設けられ、プロセス対象物である基板の走行を案内する冷却されたロールと、ロール周辺の真空チャンバ内の空間を、蒸着を行う第1圧力室と、第1圧力室より高い所定圧力を有する第2圧力室とに分離する分離部を有し、ロールは、第2圧力室にて基板を巻き付け、基板とロールとの間にガス層を形成する。
この冷却装置は、所定圧力を有する第2圧力室にて基板をロールに巻き付けると、基板とロールとが接触し始める部分の周囲に所定圧力のガスが存在するので、基板とロールとの間の微小な間隙にガスが自然に巻き込まれてガス層が形成される。
そして、このガス層が熱伝達に寄与し、基板の冷却効果をもたらすことになる。
The cooling device disclosed in
In this cooling device, when the substrate is wound around the roll in the second pressure chamber having a predetermined pressure, gas of a predetermined pressure is present around the portion where the substrate and the roll start to come into contact with each other. A gas layer is formed by naturally entraining gas in minute gaps.
This gas layer contributes to heat transfer and provides a cooling effect for the substrate.
つまり、この冷却装置は、冷たいロールが冷却プレートとして機能し、真空中において、この冷却プレートとプロセス対象物としての基板との間にガスが貯まり、たとえば100Pa以上のガスであると、真空中の冷媒として機能し、プロセス対象物としての基板の熱を冷却プレートとしてのローラに放熱する。
この冷却方法は、ガス冷媒冷却法、あるいは、接触冷却法ということができる。
That is, in this cooling device, the cold roll functions as a cooling plate, and in a vacuum, gas accumulates between this cooling plate and the substrate as the object to be processed. It functions as a coolant and dissipates the heat of the substrate as the process object to the roller as the cooling plate.
This cooling method can be called a gas refrigerant cooling method or a contact cooling method.
しかしながら、上述したようないわゆるガス冷媒冷却法を採用することは、シールの維持やプロセス真空度の維持が困難である。 However, adopting the so-called gas refrigerant cooling method as described above makes it difficult to maintain the seal and the degree of process vacuum.
また、量産用の真空プロセス装置においては、分布歩留まり向上や時間短縮効率化のため、プロセス中の対象物が真空チャンバ内で高速回転や高速移動することなどが必要になる。
しかしその際に、一般的に考えられる接触冷却法を適用することは効率が著しく低下する。
In addition, in a vacuum process apparatus for mass production, it is necessary to rotate or move the object in the process at high speed in the vacuum chamber in order to improve the distribution yield and shorten the time.
At that time, however, applying the generally conceived contact cooling method significantly reduces the efficiency.
本発明は、シールの維持やプロセス真空度の維持が容易で、プロセス対象物が真空チャンバ内で高速回転や高速移動をする場合にも効率よく適用でき、しかも効率の良い冷却を実現することが可能な真空プロセス装置および真空プロセス装置におけるプロセス対象物の冷却方法を提供することにある。 INDUSTRIAL APPLICABILITY The present invention can easily maintain a seal and maintain a process vacuum, can be efficiently applied even when a process object rotates or moves at high speed in a vacuum chamber, and can achieve efficient cooling. An object of the present invention is to provide a vacuum process apparatus and a method for cooling an object to be processed in the vacuum process apparatus.
本発明の第1の観点の真空プロセス装置は、真空チャンバと、前記真空チャンバ内に配置されたプロセス材料供給部のプロセス材料を加熱して供給する加熱源と、前記真空チャンバ内に、プロセス対象面が前記プロセス材料供給部側に臨むように配置され、前記プロセス材料が供給されて所定の対象物が形成されるプロセス対象物と、第1面と第2面とを有し、前記真空チャンバ内に、前記第1面が前記プロセス対象物のプロセス対象面と反対側の非プロセス対象面と対向するように配置された冷却プレートと、前記冷却プレートの第1面に配置された熱放射シートとを有する。 A vacuum process apparatus according to a first aspect of the present invention comprises: a vacuum chamber; A process object having a surface facing the process material supply unit, a process material supplied with the process material to form a predetermined object, a first surface and a second surface, and the vacuum chamber. a cooling plate disposed such that the first surface faces a non-processed surface of the process object opposite to the processable surface; and a heat radiation sheet disposed on the first surface of the cooling plate. and
好適には、前記熱放射シートは、粘着剤により前記冷却プレートの第1面に貼り付けられている。 Preferably, the heat radiation sheet is attached to the first surface of the cooling plate with an adhesive.
また、好適には、前記冷却プレートには、冷媒が循環する冷媒循環路が形成されている。 Preferably, the cooling plate is formed with a coolant circulation path through which a coolant circulates.
また、好適には、前記冷却プレートは、複数枚のプロセス対象物を前記プロセス対象面が前記プロセス材料供給部側に臨むように保持し、円板形状を有して円板の中心を回転中心として回転可能に前記真空チャンバに軸シールされて設けられている。 Preferably, the cooling plate holds a plurality of objects to be processed so that the surface to be processed faces the process material supply unit, has a disk shape, and rotates around the center of the disk. It is axially sealed to the vacuum chamber so as to be rotatable.
また、好適には、前記冷却プレートは、前記第1面に設けられ、前記プロセス対象物の非プロセス対象面と前記熱放射シート面との間に間隙が形成されるように、前記プロセス対象物の外縁部を保持する保持部を有する。 Also preferably, the cooling plate is provided on the first surface of the process object so that a gap is formed between the non-process object surface of the process object and the heat radiation sheet surface. It has a holding portion that holds the outer edge of the.
本発明の第2の観点は、真空チャンバと、前記真空チャンバ内に配置されたプロセス材料供給部のプロセス材料を加熱して供給する加熱源と、前記真空チャンバ内に、プロセス対象面が前記プロセス材料供給部側に臨むように配置され、前記プロセス材料が供給されて所定のプロセス対象物が形成されるプロセス対象物と、を有する真空プロセス装置におけるプロセス対象物の冷却方法であって、第1面と第2面とを有し、当該第1面に熱放射シートを貼り付けた冷却プレートを、前記真空チャンバ内に、前記第1面が前記プロセス対象物のプロセス対象面と反対側の非プロセス対象面と対向するように配置し、前記冷却プレートの第1面に貼り付けられた前記熱放射シートにより、前記プロセス対象物の少なくとも輻射熱を吸収して前記冷却プレート側に熱放射して前記プロセス対象物を冷却する。 A second aspect of the present invention is a vacuum chamber; a process object arranged to face a material supply unit side, and to which the process material is supplied to form a predetermined process object, the cooling method for a process object in a vacuum process apparatus comprising: A cooling plate having a surface and a second surface, with a thermal radiation sheet attached to the first surface, is placed in the vacuum chamber so that the first surface is on the opposite side of the object to be processed from the surface to be processed. The heat radiation sheet arranged to face the surface to be processed and attached to the first surface of the cooling plate absorbs at least the radiant heat of the object to be processed and radiates the heat toward the cooling plate, thereby Cool the process object.
本発明によれば、シールの維持やプロセス真空度の維持が容易で、プロセス対象物が真空チャンバ内で高速回転や高速移動をする場合にも効率よく適用でき、しかも効率の良い冷却を実現することが可能となる。 INDUSTRIAL APPLICABILITY According to the present invention, it is easy to maintain the seal and the degree of process vacuum, it can be efficiently applied even when the process object rotates or moves at high speed in the vacuum chamber, and efficient cooling is realized. becomes possible.
以下に、本発明の真空プロセス装置の一例としての真空成膜装置とそれを用いたプロセス対象物の冷却方法の実施の形態について、図面に関連付けて説明する。 Embodiments of a vacuum film forming apparatus as an example of the vacuum process apparatus of the present invention and a method for cooling an object to be processed using the apparatus will be described below with reference to the drawings.
(第1の実施形態)
[真空成膜装置の構成]
図1は、本発明の第1の実施形態に係る真空プロセス装置を採用した真空成膜装置であるイオンビームアシスト真空蒸着装置を模式的に示す構成図である。
(First embodiment)
[Configuration of Vacuum Film Forming Apparatus]
FIG. 1 is a configuration diagram schematically showing an ion beam assisted vacuum deposition apparatus, which is a vacuum film forming apparatus employing the vacuum process apparatus according to the first embodiment of the present invention.
本第1の実施形態の真空蒸着装置1においては、たとえば、成膜チャンバである真空チャンバ10に、図示しない排気管および真空ポンプが接続されており、内部が所定の圧力に減圧可能となっている。真空蒸着による成膜時における真空チャンバ10内の背圧は、たとえば10-2~10-5Pa程度である。
In the
真空チャンバ10の内部には、下方から上方に向かって、プロセス材料供給部のプロセス材料を加熱して供給する加熱源20、光学ガラス基板等により形成される成膜対象基板としてのプロセス対象物30、およびプロセス対象物30を冷却するための冷却プレート40が、所定間隔をおいて配置されている。
冷却プレート40の第1面401には、プロセス対象物30の少なくとも輻射熱を吸収して冷却プレート40側に熱放射する熱放射シート50が配置されている。熱放射シート50は、たとえば冷却プレート40の第1面401に対して粘着剤60により貼り付けられている。
そして、真空チャンバ10の外部には、冷却プレート40内に形成される冷媒循環路と連結され、熱交換を行う熱交換器70が配置されている。
Inside the
A
A
加熱源20は、プロセス材料供給部200として、たとえば第1真空蒸発源210および第2真空蒸着源220が配置されている。第1真空蒸発源210の内部に第1蒸着材料211が収容されており、また、第2真空蒸発源220の内部に第2蒸着材料221が収容されている。
第1蒸着材料211はたとえばSiO2であり、第2蒸着材料221はたとえばTiO2あるいはTa2O5である。
各真空蒸着源210,220には、たとえば不図示の抵抗加熱、電子ビーム加熱、レーザービーム加熱、電子銃などの加熱手段が設けられており、真空蒸発源において蒸着材料が加熱されて気化すると蒸着材料の蒸気が噴出する。
The
The first
Each of the
たとえば、真空チャンバ10内には、第1真空蒸発源210および第2真空蒸着源220の蒸着材料の蒸気を噴出する方向に、石英ガラスなどの光学基板である成膜対象基板としてのプロセス対象物30を膜形成面としてのプロセス対象面301がプロセス材料供給部200側に臨むように保持する基板ホルダ31が設けられている。
基板ホルダ31は、たとえば冷却プレート40の第1面401側に形成され、真空チャンバ10の上方からプロセス対象物30の外縁部を保持しかつ支持するように構成されている。
For example, in the
The
なお、図1では、真空蒸着源を2つ設けて2種類の薄膜の多層膜を形成する例を示しているが、真空蒸着源を3つ設けて3種類の薄膜の多層膜を形成する等、種々の態様が可能である。
3つの真空蒸着源を用いる場合、たとえば第1蒸着材料はSiO2であり、第2蒸着材料はSi3N4であり、第3蒸着材料はa-SiN:Hである。
Although FIG. 1 shows an example in which two vacuum deposition sources are provided to form a multilayer film of two types of thin films, a multilayer film of three types of thin films may be formed by providing three vacuum deposition sources. , various embodiments are possible.
When using three vacuum deposition sources, for example, the first deposition material is SiO 2 , the second deposition material is Si 3 N 4 and the third deposition material is a-SiN:H.
また、たとえば、真空チャンバ10内に酸素イオンなどのイオンをプロセス対象物30に照射するイオンソース230が設けられており、イオンビームアシスト真空蒸着を行うことができる。
イオンソース230からイオンを成膜対象基板としてのプロセス対象物30の膜形成面に照射することで、プロセス材料供給部200から供給される蒸着物質により成膜されて膜厚が厚くなるプロセスと、既に成膜された膜の表面近傍の一部領域が、イオンソース230から照射されるイオンによりスパッタされて膜厚が薄くなるプロセスとを同時に進行させながら成膜できる。
Further, for example, an
A process of irradiating the film formation surface of the
[プロセス対象物30の冷却システム]
図2は、本第1の実施形態に係る真空蒸着装置1におけるプロセス対象物30の冷却システムの一構成例を模式的に示す図である。
[Cooling system for process object 30]
FIG. 2 is a diagram schematically showing one configuration example of a cooling system for the
冷却プレート40は、第1面401と第2面402とを有し、真空チャンバ10内に、第1面401がプロセス対象物30のプロセス対象面301と反対側の非プロセス対象面302と対向するように配置されている。
The cooling
冷却プレート40には、冷媒が循環する冷媒循環路410が形成されている。
冷媒循環路410は、熱交換器70の冷たい冷媒の供給路710と第1側面(図2の例では右側面)403側で連結され、第1面401に沿うように配置された第1冷媒路411と、第2側面(図2の例では左側面)404側で折り返すための折り返し路412と、折り返し路412に連結され、暖められた熱い冷媒を熱交換器70側に送り返す、熱交換器70の熱い冷媒の排出路720と第1側面(図2の例では右側面)403側で連結された第2冷媒路413と、により形成されている。
The cooling
The
冷却プレート40は、この熱交換器70の熱交換作用により、たとえば0°C~60°C程度に保持される。
The cooling
熱放射シート50は、冷却プレート40の第1面401に粘着剤60により貼り付けられ、プロセス対象物30の少なくとも輻射熱を吸収して冷却シート40側、具体的には第1面401側に熱放射する。
The
熱放射シート50は、たとえば加熱源20により所定の熱量の熱を受けて温度Tgが200°C程度に上昇したプロセス対象物30による輻射熱を吸収してその熱を電磁波(たとえば遠赤外線)に変換し、外部、すなわち、熱交換システムで冷却される冷却プレート40の第1面401側に熱放射する。
The
ここで、冷却プレート40の温度をTc、熱放射シート50の温度をTs、熱放射シート50の輻射率をεs、プロセス対象物の温度をTg、プロセス対象物30の輻射率をεg、加熱源20からプロセス対処物30までの過熱量をQh、Stefan-Boltzmann定数をσとして表すと、プロセス対象物30の温度は次式で与えられる。
Here, the temperature of the cooling
図3は、プロセス対象物30の冷却システムにおいて、熱放射シートがある場合とない場合の冷却効果を理論的計算により導いた結果を示す図である。
図13において、横軸は冷却プレート40の温度Tcを、縦軸はプロセス対象物30の温度Tgを表している。
また、Aで示す曲線が熱放射シート50の輻射率εsが0.2のときのプロセス対象物30の温度Tgを、Bで示す曲線が熱放射シート50の輻射率εsが0.50のときのプロセス対象物30の温度Tgを、Cで示す曲線が熱放射シート50の輻射率εsが0.9のときのプロセス対象物30の温度Tgを示している。
なお、熱放射シート50の輻射率εsが0.2のときのとは、熱放射シートがない場合に相当する。
また、冷却プレート40の温度Tcは、熱交換器70の性能により異なる。
FIG. 3 is a diagram showing the result of theoretical calculation of the cooling effect with and without the heat radiation sheet in the cooling system of the
In FIG. 13 , the horizontal axis represents the temperature Tc of the cooling
Further, the curve indicated by A indicates the temperature Tg of the
Note that when the emissivity εs of the
Also, the temperature Tc of the cooling
計算条件は以下の通りである。
・Tc=Ts
・εs :0.2/ 0.5 / 0.9
・εg=0.9
・Qh=0.044W・cm-2
・σ=5.67×10-8W・m-2・K-4
The calculation conditions are as follows.
・Tc = Ts
・εs: 0.2/0.5/0.9
・εg = 0.9
・Qh=0.044 W・cm −2
・σ=5.67×10 −8 W・m −2・K −4
結果、図3に示すように、熱放射シート50が無く輻射率εsが0.2の場合、プロセス対象物30の温度Tcは193度である。
熱放射シート50の輻射率εsが0.5の場合、プロセス対象物30の温度Tcは119.8度に下がる。
熱放射シート50の輻射率εsが0.9の場合、プロセス対象物30の温度Tcは82.7度に下がる。
As a result, as shown in FIG. 3, when there is no
When the emissivity εs of the
When the emissivity εs of the
このように、本第1の実施形態の真空プロセス装置において、冷却プレート40は、第1面401と第2面402とを有し、真空チャンバ10内に、第1面401がプロセス対象物30のプロセス対象面301と反対側の非プロセス対象面302と対向するように配置されており、熱放射シート50が、冷却プレート40の第1面401に粘着剤60により貼り付けられており、熱放射シート50がプロセス対象物30の少なくとも輻射熱を吸収して冷却シート40側に熱放射することから、熱放射シートがない場合に比べて、真空内のプロセス対象物30に対する冷却効果を向上させることができ、効率的な冷却システムを実現することが可能となる。
As described above, in the vacuum process apparatus of the first embodiment, the cooling
以上説明したように、本第1の実施形態によれば、真空プロセス装置は、真空チャンバ10と、真空チャンバ10内に配置されたプロセス材料供給部200のプロセス材料を加熱して供給する加熱源20と、真空チャンバ10内に、プロセス対象面301がプロセス材料供給部200側に臨むように配置され、プロセス材料が供給されて所定の対象物が形成されるプロセス対象物30と、第1面401と第2面402とを有し、真空チャンバ10内に、第1面401がプロセス対象物30のプロセス対象面301と反対側の非プロセス対象面302と対向するように配置された冷却プレート40と、冷却プレート40の第1面401に配置された熱放射シート50と、を有する。
As described above, according to the first embodiment, the vacuum process apparatus includes the
したがって、本第1の実施形態によれば、以下の効果を得ることができる。
シールの維持やプロセス真空度の維持が容易で、プロセス対象物が真空チャンバ内で高速回転や高速移動をする場合にも効率よく適用でき、しかも効率の良い冷却を実現することが可能となる。
より具体的には、熱放射シート50が、冷却プレート40の第1面401に粘着剤60により貼り付けられており、熱放射シート50がプロセス対象物30の少なくとも輻射熱を吸収して冷却シート40側に熱放射することから、熱放射シートがない場合に比べて、真空内のプロセス対象物30に対する冷却効果を向上させることができ、効率的な冷却システムを実現することが可能となる。
Therefore, according to the first embodiment, the following effects can be obtained.
It is easy to maintain the seal and the degree of process vacuum, and it can be efficiently applied even when the process object rotates or moves at high speed in the vacuum chamber, and moreover, efficient cooling can be realized.
More specifically, the
(第2の実施形態)
図4は、本第2の実施形態に係る真空プロセス装置を採用した真空蒸着装置におけるプロセス対象物の冷却システムの構成例を模式的に示す図である。
図5(A)および(B)は、図4の真空蒸着装置の回転される冷却プレート40Aの外周部に円状に保持された複数枚のプロセス対象物および複数の加熱源20-1,20-2,20-3の配置例の様子を模式的に示す図である。
(Second embodiment)
FIG. 4 is a diagram schematically showing a configuration example of a cooling system for a process object in a vacuum vapor deposition apparatus employing the vacuum process apparatus according to the second embodiment.
5A and 5B show a plurality of process objects and a plurality of heat sources 20-1 and 20 circularly held on the outer periphery of the
本第2の実施形態に係る真空蒸着装置1Aが第1の実施形態に係る真空蒸着装置1と異なる点は以下の通りである。
本第2の実施形態に係る真空蒸着装置1Aにおいて、冷却プレート40Aは、真空チャンバ10A内に、プロセス材料供給部の蒸着源を含む真空蒸発源のプロセス材料の蒸気を噴出する方向に、複数枚のプロセス対象物30をプロセス対象面301が加熱源20のプロセス材料供給部側に臨むように保持し、平面円板形状(またはドーム状の形状)を有して平面円板の中心を回転中心として図示しないモータの駆動により回転可能に、真空チャンバ10Aに軸シールされて設けられている。
また、冷却プレート40Aにおける冷媒循環路710Aは、図2に示す2つの冷媒循環路710が連結された冷却プレート内で循環可能に構成されている。
The difference of the
In the vacuum
また、冷却プレート40Aは、第1面401に設けられ、プロセス対象物30の非プロセス対象面302と熱放射シート50Aの放射面501との間に間隙が形成されるように、プロセス対象物30の外縁部を保持する保持部420を有する。
In addition, the
本第2の実施形態によれば、複数のプロセス対象物30は、それぞれ保持部420によって回転可能な冷却プレート40Aに固定され、固定された状態において、プロセス対象物30の非プロセス対象面302と熱放射シート50Aの放射面501との間に間隙が形成されることから、冷却プレート40Aに回転に伴い、図5(A)中、矢印Yで示すように、円環となる空冷路が形成され、ある領域に熱がこもってしまう等の不具合の発生が防止され、さらに効率の良い冷却システムを実現することが可能となる。
According to the second embodiment, the plurality of process objects 30 are each fixed to the
さらに、本第2の実施形態によれば、以下の効果を得ることができる。
すなわち、本第2の実施形態によれば、複数のプロセス対象物30は、それぞれ保持部420によって回転可能な冷却プレート40Aに固定されることから、真空プロセスにおいて、量産化に対応しながら歩留まりを向上させることができる。
Furthermore, according to the second embodiment, the following effects can be obtained.
That is, according to the second embodiment, since the plurality of process objects 30 are each fixed to the
本発明は上記の説明に限定されない。
たとえば、イオンビームアシスト真空蒸着装置および方法に限らず、その他の真空成膜装置および方法に適用可能である。さらに、真空成膜以外にスパッタリングによる成膜あるいはCVD(化学気相成長)による成膜など、その他の薄膜形成装置および方法にも適用可能である。
その他、本発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の変更が可能である。
The invention is not limited to the above description.
For example, it is applicable not only to the ion beam assisted vacuum deposition apparatus and method, but also to other vacuum deposition apparatuses and methods. In addition to vacuum film formation, the present invention can also be applied to other thin film formation apparatuses and methods such as film formation by sputtering or film formation by CVD (chemical vapor deposition).
In addition, various modifications are possible without departing from the gist of the present invention.
10,10A・・・真空チャンバ、20,20A,20-1,20-2,20-3・・・加熱源、200・・・プロセス材料供給部、210・・・第1真空蒸着源、211・・・第1蒸着材料、220・・・第2真空蒸着源、221・・・第2蒸着材料、230・・・イオンソース、30・・・プロセス対象物、301・・・プロセス対象面、302・・・非プロセス対象面、40,40A・・・冷却プレート、401・・・第1面、402・・・第2面、410・・・第1冷媒路、420・・・折り返し路、430・・・第2冷媒路、50,50A・・・熱放射シート、60・・・粘着剤、70・・・熱交換器、710,710A・・・冷媒循環路。
10, 10A... vacuum chamber, 20, 20A, 20-1, 20-2, 20-3... heating source, 200... process material supply unit, 210... first vacuum deposition source, 211 ... first vapor deposition material, 220 ... second vacuum vapor deposition source, 221 ... second vapor deposition material, 230 ... ion source, 30 ... process object, 301 ... process object surface, 302 Non-process target surfaces 40,
Claims (4)
前記複数のプロセス対象物を収容する真空チャンバと、
前記真空チャンバ内に配置されたプロセス材料供給部の前記プロセス材料を加熱して供給する加熱源と、
前記プロセス対象面が前記プロセス材料供給部側に臨むように前記複数のプロセス対象物を保持する保持部と、前記複数のプロセス対象物の前記非プロセス対象面に対向する第1面と、を有し、前記真空チャンバ内に位置している冷却プレートと
前記第1面に配置された、輻射率が0.5以上の熱放射シートと、
を有し、
前記冷却プレートは、前記第1面の平面視で当該冷却プレートの中央側の回転中心の回りに回転可能に、前記真空チャンバに軸シールされて設けられており、
前記保持部は、前記非プロセス対象面と前記熱放射シート面との間に間隙が形成されるように、前記複数のプロセス対象物の外縁部を保持する、
真空プロセス装置。 A vacuum process apparatus for supplying process material to a plurality of process objects each having a process surface and an opposite non-process surface, comprising:
a vacuum chamber containing the plurality of process objects ;
a heating source that heats and supplies the process material of the process material supply unit arranged in the vacuum chamber;
a holding unit that holds the plurality of process objects such that the process object surfaces face the process material supply unit side; and a first surface that faces the non-process object surfaces of the plurality of process objects. and a cooling plate located within the vacuum chamber and
a thermal radiation sheet having an emissivity of 0.5 or higher, disposed on the first surface;
has
The cooling plate is axially sealed to the vacuum chamber so as to be rotatable around a rotation center on the central side of the cooling plate in plan view of the first surface,
The holding part holds outer edges of the plurality of process objects such that a gap is formed between the non-process object surface and the heat radiation sheet surface.
Vacuum process equipment.
請求項1記載の真空プロセス装置。 2. The vacuum process apparatus according to claim 1, wherein said thermal emission sheet is attached to said first surface with an adhesive.
請求項1または2記載の真空プロセス装置。 3. The vacuum process apparatus according to claim 1, wherein the cooling plate is formed with a coolant circulation path through which a coolant circulates.
前記熱放射シートにより、前記複数のプロセス対象物の少なくとも輻射熱を吸収して前記冷却プレート側に熱放射して前記複数のプロセス対象物を冷却する
真空プロセス装置におけるプロセス対象物の冷却方法。 A method for cooling a process object in a vacuum process apparatus according to any one of claims 1 to 3 ,
A method for cooling a process object in a vacuum process apparatus, wherein at least radiant heat of the plurality of process objects is absorbed by the heat radiation sheet and radiated toward the cooling plate to cool the plurality of process objects.
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