JP7329801B2 - Surface illumination device for inspection - Google Patents
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Description
本発明は、物品を検査するために物品に面状の光を照射する検査用面照明装置に関するものである。 The present invention relates to an inspection surface illumination device for irradiating planar light onto an article for inspecting the article.
従来より、工場で生産された物品(製品)について、検査用照明装置により光を照射しカメラにより撮影して検査(欠陥、キズ、汚れ、異物などの外観検査)することが行われてきた。検査用照明装置の中には、複数個の発光素子(通常は、LED)が2次元配列された発光素子配列部を有する発光基板体を備えて、一定の均一性で面状の光を物品に照射するもの(検査用面照明装置)がある。 2. Description of the Related Art Conventionally, articles (products) produced in a factory have been inspected (appearance inspection for defects, scratches, stains, foreign matter, etc.) by irradiating them with light from an inspection lighting device and photographing them with a camera. The inspection illumination device includes a light-emitting substrate body having a light-emitting element array portion in which a plurality of light-emitting elements (usually, LEDs) are arranged two-dimensionally. There is a device that irradiates the surface (surface illumination device for inspection).
例えば、特許文献1に示される検査用面照明装置は、物品である錠剤の全体に均一に面状の光を照射するものである。錠剤を透過した光は、カメラにより撮影され、それにより、錠剤の形状及び面積が基準データと比較されて欠陥品かどうかが判断される。また、特許文献2の例えば図6に示される検査用面照明装置は、皮膜が表面に形成された物品に面状の光を照射するものである。物品を反射した光は、カメラにより撮影され、それにより、皮膜の膜厚むらが検出される。
For example, a planar illumination device for inspection disclosed in
ところで、検査用面照明装置は、それから放射される光の縁部では強度が低下して行くため、発光素子配列部の周辺に反射鏡を設けて一定の均一性が得られる面積を増大させるようにすることも行われる。また、通常は、発光基板体への外部からの電源の配線は、一般的な電源配線コードが用いられる。また、発光素子は、薄型の表面実装型であることも少なくない。こうした場合、光が所定の指向性で放射される高さ(基板上の高さ)が低いため、検査用面照明装置から放射される光の一定の均一性を広い範囲で保つには、電源の配線を行うことが容易ではない場合も起こる。 By the way, since the intensity of the light emitted from the surface illumination device for inspection decreases at the edges, it is necessary to provide a reflecting mirror around the light emitting element arrangement portion to increase the area where a certain uniformity can be obtained. It is also done. Also, a general power supply wiring cord is normally used for the wiring of the power supply from the outside to the light emitting substrate. In addition, the light-emitting element is often of a thin surface-mounted type. In such a case, the height at which the light is emitted with a predetermined directivity (the height above the board) is low, so the power supply Sometimes it is not easy to do the wiring.
本発明は、係る事由に鑑みてなされたものであり、その目的は、薄い表面実装型の発光素子を用いても、放射される光の一定の均一性を広い範囲で保ちつつ、電源の配線を容易に行うことができる検査用面照明装置を提供することにある。 SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of such circumstances, and an object of the present invention is to maintain uniformity of emitted light over a wide range even when a thin surface-mounted light-emitting element is used, and to reduce power supply wiring. To provide an inspection surface illumination device capable of easily performing
上記目的を達成するために、請求項1に記載の検査用面照明装置は、基板に複数個の発光素子が2次元配列されて表面実装された発光素子配列部と前記基板に形成された2個の電源端子部を有し、該2個の電源端子部の近傍であって前記基板の端部の一部に第1の切り欠きが形成された発光基板体と、前記発光素子配列部の周辺に設けられ、下部の一部に第2の切り欠きが形成された反射鏡と、2本の電源配線コードと、を備え、前記2本の電源配線コードは、前記発光素子配列部から放射され前記反射鏡に反射されようとする光を妨げないように、前記反射鏡の前記第2の切り欠きと前記基板の前記第1の切り欠きを通って前記2個の電源端子部に接続されている。
In order to achieve the above object, the surface illumination device for inspection according to
請求項2に記載の検査用面照明装置は、請求項1に記載の検査用面照明装置において、前記第1の切り欠きは、前記基板の角部に形成されている。 According to a second aspect of the present invention, there is provided an inspection surface illumination device according to the first aspect, wherein the first notch is formed at a corner of the substrate.
請求項3に記載の検査用面照明装置は、請求項1又は2に記載の検査用面照明装置において、少なくとも1本の前記電源配線コードは、前記第1の切り欠きに位置する部分の一部が前記反射鏡の下面に接している。
本発明の検査用面照明装置によれば、薄い表面実装型の発光素子を用いても、放射される光の一定の均一性を広い範囲で保ちつつ、電源の配線を容易に行うことができる。 According to the surface illumination device for inspection of the present invention, even if a thin surface-mounted light-emitting element is used, it is possible to easily wire the power supply while maintaining uniformity of emitted light over a wide range. .
以下、本発明を実施するための形態を説明する。本発明の実施形態に係る検査用面照明装置1は、図1に示すように、ハウジング2と発光基板体3と反射鏡4と2本の電源配線コード5A、5Bを備えている。また、検査用面照明装置1は、通常、図2に示すような拡散板6を備えている。図1では、図示の都合上、発光基板体3等の手前側に位置する拡散板6を透過して示している。また、図1及び図2(及び後述する図3、図5)では、後述する電流制限用の抵抗31bは図示を省略している。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION Embodiments for carrying out the present invention will be described below. As shown in FIG. 1, an inspection
ハウジング2は、その内部に発光基板体3と反射鏡4が設けられている。ハウジング2は、様々な形状及び構造が可能である。ハウジング2は、側面から2本の電源配線コード5A、5Bを外部被覆体(シース)5C(図3(a)参照)でまとめたケーブル5が出ている。ケーブル5の端部にはコネクタ5Dが取り付けられている。コネクタ5Dには、検査用面照明装置1の調光を制御する調光電源装置などが接続される。なお、図3(及び後述する図5)では、ハウジング2と拡散板6の図示を省略している。
The
発光基板体3は、発光素子配列部31を有している。発光素子配列部31は、複数個の発光素子(通常は、LED)31aが2次元配列(図1では、横(左右方向)8個で縦9個の2次元配列)されている。発光素子31aは、基板30に表面実装されている。発光素子31aは、その表面から所定の指向性で光を放射する。発光素子31aは、その厚みは特に限定されるものではないが、例えば、約0.25mm~約1mmのものである。なお、発光素子31aの具体的な個数及び配列は、検査用面照明装置1の仕様に合わせて様々なものが可能である。
The light
発光素子配列部31では、例えば、図4に示すように、所定数の発光素子31aが電流制限用の抵抗31bとともに直列に接続され、その直列体が所定列だけ並列に接続される。発光素子31aの数は、特に限定されるものではなく、仕様に応じて決定される。
In the light-emitting
また、発光基板体3は、図3(b)及び図4に示すように、基板30に形成された2個の電源端子部32A、32Bを有しており、それらに2本の電源配線コード5A、5Bが接続される。2個の電源端子部32A、32Bは、通常、基板30に形成された図3(b)に示すようなランド、パッド、又はパターンの一部などである。電流は、一方の電源端子部32A、発光素子配列部31の発光素子31a、他方の電源端子部32Bの順に流れる(図4参照)。検査用面照明装置1は、通常、この電流が流れる期間が調光電源装置などにより制御されることにより、調光される。
As shown in FIGS. 3B and 4, the light
また、発光基板体3は、基板30の端部の一部に第1の切り欠き33が形成されている(図3(b)参照)。第1の切り欠き33は、2個の電源端子部32A、32Bの近傍に設けられている。第1の切り欠き33は、図1においては、基板30の角部の1つに形成されているが、ここには限定されず、基板30の端部の中央部等でも可能であり、また、ケーブル5が複数個有る場合は、反射鏡4の後述する第2の切り欠き41とともに、複数個形成されるようにすることが可能である。
Further, the light-emitting
反射鏡4は、発光素子配列部31の周辺に設けられている。詳細には、反射鏡4は、基板30の端部に沿ってその内側に立てられており、発光素子配列部31を囲っている。反射鏡4は、通常、4枚が発光素子配列部31を囲っている。反射鏡4は、光の反射のために銀色や白色などの反射層を有するものが可能である。反射鏡4は、検査用面照明装置1から放射する光の一定の均一性が得られる面積を増大させることができる。
The reflecting
また、反射鏡4は、その下部の一部に第2の切り欠き41が形成されている(図3(b)参照)。第2の切り欠き41は、形状及び大きさは特に限定されるものではないが、ケーブル5の外部被覆体5Cに合わせた形状及び大きさでよい。
A
2本の電源配線コード5A、5Bは、導体5Aa、5Baとそれを被覆する絶縁体5Ab、5Bbが設けられた構造である。2本の電源配線コード5A、5Bの外径(太さ)は、例えば、約1mm~約2mmである。2本の電源配線コード5A、5Bは、通常、反射鏡4の第2の切り欠き41の少し内側まで両方が外部被覆体5Cに被覆されてまとめられている(図3(a)参照)。2本の電源配線コード5A、5Bは、反射鏡4の第2の切り欠き41と発光基板体3の第1の切り欠き33を通って、2個の電源端子部32A、32Bに接続され、それにより電源の配線が行われている。
The two power
2本の電源配線コード5A、5Bは、第1の切り欠き33の縁部(輪郭線部)33A、33Bの近傍で絶縁体5Ab、5Bbが剥ぎ取られて、導体5Aa、5Baが2個の電源端子部32A、32Bにハンダ付け等により接続されている。そうすると、2本の電源配線コード5A、5Bは、絶縁体5Ab、5Bbが剥ぎ取られていない状態で基板30の上を長く延びることがないので、基板30から離れて浮き上がることがほぼなくなり、そのため、基板30からの高さを下げ易くなる。
Insulators 5Ab and 5Bb of the two power
絶縁体5Ab、5Bbが剥ぎ取られる位置は、図5(a)(及び図5(c))に示すように、第1の切り欠き33の縁部33A、33Bよりも内側(基板30の内側)であってもよいし、図5(b)に示すように、第1の切り欠き33の縁部33A、33Bよりも外側であってもよい。第1の切り欠き33の縁部33A、33Bよりも外側で絶縁体5Ab、5Bbが剥ぎ取られるようにすると(つまり、絶縁体5Ab、5Bbが基板30上ではすべて剥ぎ取られているようにすると)、基板30上では導体5Aa、5Baだけが残ることになるので、電源配線コード5A、5B全体として、基板30からの高さを下げることが可能である。
The position where the insulators 5Ab and 5Bb are stripped off is inside the
また、2本の電源配線コード5A、5Bの両方又は片方(図5(c)では両方)は、第1の切り欠き33に位置する部分の一部(詳しくは、絶縁体5Ab、5Bbの一部)が反射鏡4の下面に接するようにすることで、基板30から離れて浮き上がることが更になくなり、そのため、基板30からの高さを更に下げ易くなる。なお、反射鏡4の下面は、第1の切り欠き33では基板30に接していない(第1の切り欠き33以外では基板30に接している)。
Also, both or one of the two power
以上説明した構成の検査用面照明装置1は、発光素子配列部31から放射される光は、直接に又は反射鏡4に反射されてハウジングから放射する。ここで、2本の電源配線コード5A、5Bは、一般的な電源配線コードを用いて容易に電源の配線を行うことができ、それでも基板30からの高さを下げることができる。そうすると、2本の電源配線コード5A、5Bは、発光素子31aが薄い場合でも発光素子配列部31から放射され反射鏡4に反射されようとする光を妨げないようにすることができ、それにより、検査用面照明装置1から放射される光の一定の均一性を広い範囲で保つことができる。
In the inspection
本願発明者は、検査用面照明装置1を試作してそれから放射される光の実験を行った。また、比較のために、第1の切り欠き33を有さない以外は検査用面照明装置1と同様の比較用検査用面照明装置にて同様の実験を行った。使用した発光基板体3は、発光素子31aが横8個で縦9個の2次元配列しているものであり、発光素子31aの厚みが0.65mmで、2本の電源配線コード5A、5Bの外径は、1.05mmである。
The inventor of the present application made a prototype of the
実験の結果、検査用面照明装置1では、図6(a)に示すように、電源の配線が行われている角部でも光の一定の均一性を広い範囲で保っている。一方、比較用検査用面照明装置では、図6(b)に示すように、光は、当該角部では一定の均一性の範囲が狭まっている。
As a result of the experiment, the
以上、本発明の実施形態に係る検査用面照明装置について説明したが、本発明は、実施形態に記載したものに限られることなく、特許請求の範囲に記載した事項の範囲内でのさまざまな設計変更が可能である。 Although the inspection surface illuminating device according to the embodiment of the present invention has been described above, the present invention is not limited to the one described in the embodiment, and can be variously modified within the scope of the claims. Design changes are possible.
1 検査用面照明装置
2 ハウジング
3 発光基板体
30 基板
31 発光素子配列部
31a 発光素子
31b 抵抗
32A、32B 電源端子部
33 第1の切り欠き
33A、33B 第1の切り欠きの縁部
4 反射鏡
41 第2の切り欠き
5 ケーブル
5A、5B 電源配線コード
5Aa、5Ba 導体
5Ab、5Bb 絶縁体
5C 外部被覆体
5D コネクタ
REFERENCE SIGNS
Claims (3)
前記発光素子配列部の周辺に設けられ、下部の一部に第2の切り欠きが形成された反射鏡と、
2本の電源配線コードと、
を備え、
前記2本の電源配線コードは、前記発光素子配列部から放射され前記反射鏡に反射されようとする光を妨げないように、前記反射鏡の前記第2の切り欠きと前記基板の前記第1の切り欠きを通って前記2個の電源端子部に接続されている検査用面照明装置。 a light emitting element array portion in which a plurality of light emitting elements are two-dimensionally arranged and surface-mounted on a substrate; and two power supply terminal portions formed on the substrate; a light-emitting substrate body having a first notch formed in a part of an end portion of the substrate;
a reflecting mirror provided around the light emitting element arrangement portion and having a second notch formed in a part of the lower portion thereof;
two power wiring cords;
with
The two power supply wiring cords are arranged between the second notch of the reflecting mirror and the first cutout of the substrate so as not to interfere with the light emitted from the light emitting element array portion and about to be reflected by the reflecting mirror. a surface illumination device for inspection connected to the two power supply terminals through the cutouts of
前記第1の切り欠きは、前記基板の角部に形成されている検査用面照明装置。 In the inspection surface illumination device according to claim 1,
The inspection surface illumination device, wherein the first notch is formed at a corner of the substrate.
少なくとも1本の前記電源配線コードは、前記第1の切り欠きに位置する部分の一部が前記反射鏡の下面に接している検査用面照明装置。 In the inspection surface illumination device according to claim 1 or 2,
A surface illumination device for inspection, wherein a portion of the at least one power wiring cord located in the first notch is in contact with the lower surface of the reflecting mirror.
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