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JP7329801B2 - Surface illumination device for inspection - Google Patents
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Description

本発明は、物品を検査するために物品に面状の光を照射する検査用面照明装置に関するものである。 The present invention relates to an inspection surface illumination device for irradiating planar light onto an article for inspecting the article.

従来より、工場で生産された物品(製品)について、検査用照明装置により光を照射しカメラにより撮影して検査(欠陥、キズ、汚れ、異物などの外観検査)することが行われてきた。検査用照明装置の中には、複数個の発光素子(通常は、LED)が2次元配列された発光素子配列部を有する発光基板体を備えて、一定の均一性で面状の光を物品に照射するもの(検査用面照明装置)がある。 2. Description of the Related Art Conventionally, articles (products) produced in a factory have been inspected (appearance inspection for defects, scratches, stains, foreign matter, etc.) by irradiating them with light from an inspection lighting device and photographing them with a camera. The inspection illumination device includes a light-emitting substrate body having a light-emitting element array portion in which a plurality of light-emitting elements (usually, LEDs) are arranged two-dimensionally. There is a device that irradiates the surface (surface illumination device for inspection).

例えば、特許文献1に示される検査用面照明装置は、物品である錠剤の全体に均一に面状の光を照射するものである。錠剤を透過した光は、カメラにより撮影され、それにより、錠剤の形状及び面積が基準データと比較されて欠陥品かどうかが判断される。また、特許文献2の例えば図6に示される検査用面照明装置は、皮膜が表面に形成された物品に面状の光を照射するものである。物品を反射した光は、カメラにより撮影され、それにより、皮膜の膜厚むらが検出される。 For example, a planar illumination device for inspection disclosed in Patent Document 1 uniformly irradiates planar light onto the entire tablet, which is an article. Light transmitted through the tablet is captured by a camera, which compares the tablet's shape and area with reference data to determine if it is defective. Further, the surface illumination device for inspection shown in, for example, FIG. 6 of Patent Literature 2 irradiates planar light onto an article having a film formed on the surface thereof. The light reflected off the article is photographed by a camera, thereby detecting film thickness unevenness of the film.

特開平8-21805号公報JP-A-8-21805 特開2013-108775号公報JP 2013-108775 A

ところで、検査用面照明装置は、それから放射される光の縁部では強度が低下して行くため、発光素子配列部の周辺に反射鏡を設けて一定の均一性が得られる面積を増大させるようにすることも行われる。また、通常は、発光基板体への外部からの電源の配線は、一般的な電源配線コードが用いられる。また、発光素子は、薄型の表面実装型であることも少なくない。こうした場合、光が所定の指向性で放射される高さ(基板上の高さ)が低いため、検査用面照明装置から放射される光の一定の均一性を広い範囲で保つには、電源の配線を行うことが容易ではない場合も起こる。 By the way, since the intensity of the light emitted from the surface illumination device for inspection decreases at the edges, it is necessary to provide a reflecting mirror around the light emitting element arrangement portion to increase the area where a certain uniformity can be obtained. It is also done. Also, a general power supply wiring cord is normally used for the wiring of the power supply from the outside to the light emitting substrate. In addition, the light-emitting element is often of a thin surface-mounted type. In such a case, the height at which the light is emitted with a predetermined directivity (the height above the board) is low, so the power supply Sometimes it is not easy to do the wiring.

本発明は、係る事由に鑑みてなされたものであり、その目的は、薄い表面実装型の発光素子を用いても、放射される光の一定の均一性を広い範囲で保ちつつ、電源の配線を容易に行うことができる検査用面照明装置を提供することにある。 SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of such circumstances, and an object of the present invention is to maintain uniformity of emitted light over a wide range even when a thin surface-mounted light-emitting element is used, and to reduce power supply wiring. To provide an inspection surface illumination device capable of easily performing

上記目的を達成するために、請求項1に記載の検査用面照明装置は、基板に複数個の発光素子が2次元配列されて表面実装された発光素子配列部と前記基板に形成された2個の電源端子部を有し、該2個の電源端子部の近傍であって前記基板の端部の一部に第1の切り欠きが形成された発光基板体と、前記発光素子配列部の周辺に設けられ、下部の一部に第2の切り欠きが形成された反射鏡と、2本の電源配線コードと、を備え、前記2本の電源配線コードは、前記発光素子配列部から放射され前記反射鏡に反射されようとする光を妨げないように、前記反射鏡の前記第2の切り欠きと前記基板の前記第1の切り欠きを通って前記2個の電源端子部に接続されている。 In order to achieve the above object, the surface illumination device for inspection according to claim 1 comprises a light emitting element array portion in which a plurality of light emitting elements are two-dimensionally arrayed and surface-mounted on a substrate; a light emitting substrate body having two power terminal portions and a first notch formed in a portion of an end portion of the substrate near the two power terminal portions; A reflecting mirror provided on the periphery and having a second notch formed in a part of the lower portion thereof, and two power supply wiring cords, the two power supply wiring cords radiating from the light emitting element array section are connected to the two power supply terminals through the second notch of the reflecting mirror and the first notch of the substrate so as not to interfere with the light that is about to be reflected by the reflecting mirror. ing.

請求項2に記載の検査用面照明装置は、請求項1に記載の検査用面照明装置において、前記第1の切り欠きは、前記基板の角部に形成されている。 According to a second aspect of the present invention, there is provided an inspection surface illumination device according to the first aspect, wherein the first notch is formed at a corner of the substrate.

請求項3に記載の検査用面照明装置は、請求項1又は2に記載の検査用面照明装置において、少なくとも1本の前記電源配線コードは、前記第1の切り欠きに位置する部分の一部が前記反射鏡の下面に接している。 Claim 3 is the inspection surface illumination device according to claim 1 or 2, wherein at least one of the power supply wiring cords is one of the portions located in the first notches. portion is in contact with the lower surface of the reflecting mirror.

本発明の検査用面照明装置によれば、薄い表面実装型の発光素子を用いても、放射される光の一定の均一性を広い範囲で保ちつつ、電源の配線を容易に行うことができる。 According to the surface illumination device for inspection of the present invention, even if a thin surface-mounted light-emitting element is used, it is possible to easily wire the power supply while maintaining uniformity of emitted light over a wide range. .

本発明の実施形態に係る検査用面照明装置の平面図である。1 is a plan view of a surface illumination device for inspection according to an embodiment of the present invention; FIG. 同上の検査用面照明装置の図1のA-Aで示した切断面で切断した断面図である。FIG. 2 is a cross-sectional view of the surface illumination device for inspection taken along the cross-sectional plane indicated by AA in FIG. 1; 同上の検査用面照明装置の発光基板体の第1の切り欠きの近傍を拡大して示す斜視図であって、(a)が2本の電源配線コード等の図示を省略していないもの、(b)が2本の電源配線コード等の図示を省略したもの、である。FIG. 10 is an enlarged perspective view showing the vicinity of the first notch of the light-emitting substrate body of the inspection surface illumination device same as above, in which (a) does not omit illustration of two power supply wiring cords, etc.; (b) omits illustration of two power wiring cords and the like. 同上の検査用面照明装置の発光基板体の回路構成を示す回路図である。FIG. 3 is a circuit diagram showing a circuit configuration of a light-emitting substrate of the inspection surface illumination device; 同上の検査用面照明装置の発光基板体の第1の切り欠きの近傍を更に拡大して示す平面図であって、(a)が第1の切り欠きの縁部よりも内側で絶縁体が剥ぎ取られるようにしたもの、(b)が第1の切り欠きの縁部よりも外側で絶縁体が剥ぎ取られるようにしたもの、(c)が絶縁体の一部が反射鏡の下面に接するようにしたもの、である。FIG. 11 is a plan view showing the vicinity of the first notch of the light-emitting substrate body of the same inspection surface illumination device in an enlarged manner, in which (a) is an inner side of the edge of the first notch and the insulator is In (b), the insulator is stripped outside the edge of the first notch, and in (c), part of the insulator is on the lower surface of the reflector. It is something that touches. 光の実験結果を示す輝度分布図(電源の配線が行われている角部に対応する部分の輝度分布図)であって、(a)が本発明の実施形態に係る検査用面照明装置によるもの、(b)が比較用検査用面照明装置によるものである。FIG. 4 is a luminance distribution diagram showing experimental results of light (a luminance distribution diagram of a portion corresponding to a corner where power supply wiring is performed), in which (a) is obtained by the inspection surface illumination device according to the embodiment of the present invention; 1 and (b) are obtained by the surface illumination device for inspection for comparison.

以下、本発明を実施するための形態を説明する。本発明の実施形態に係る検査用面照明装置1は、図1に示すように、ハウジング2と発光基板体3と反射鏡4と2本の電源配線コード5A、5Bを備えている。また、検査用面照明装置1は、通常、図2に示すような拡散板6を備えている。図1では、図示の都合上、発光基板体3等の手前側に位置する拡散板6を透過して示している。また、図1及び図2(及び後述する図3、図5)では、後述する電流制限用の抵抗31bは図示を省略している。 DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION Embodiments for carrying out the present invention will be described below. As shown in FIG. 1, an inspection surface illumination device 1 according to an embodiment of the present invention includes a housing 2, a light emitting substrate 3, a reflecting mirror 4, and two power wiring cords 5A and 5B. Moreover, the inspection surface illumination device 1 usually includes a diffusion plate 6 as shown in FIG. In FIG. 1, for the convenience of illustration, the diffuser plate 6 positioned on the near side such as the light emitting substrate 3 is shown through. 1 and 2 (and FIGS. 3 and 5, which will be described later), the illustration of a resistor 31b for current limiting, which will be described later, is omitted.

ハウジング2は、その内部に発光基板体3と反射鏡4が設けられている。ハウジング2は、様々な形状及び構造が可能である。ハウジング2は、側面から2本の電源配線コード5A、5Bを外部被覆体(シース)5C(図3(a)参照)でまとめたケーブル5が出ている。ケーブル5の端部にはコネクタ5Dが取り付けられている。コネクタ5Dには、検査用面照明装置1の調光を制御する調光電源装置などが接続される。なお、図3(及び後述する図5)では、ハウジング2と拡散板6の図示を省略している。 The housing 2 is provided with a light emitting substrate 3 and a reflecting mirror 4 therein. Housing 2 can have a variety of shapes and configurations. From the side of the housing 2, a cable 5, which consists of two power supply wiring cords 5A and 5B connected by an external covering (sheath) 5C (see FIG. 3(a)), protrudes. A connector 5</b>D is attached to the end of the cable 5 . The connector 5D is connected to a dimming power supply device for controlling dimming of the inspection surface illumination device 1, and the like. 3 (and FIG. 5, which will be described later), illustration of the housing 2 and the diffusion plate 6 is omitted.

発光基板体3は、発光素子配列部31を有している。発光素子配列部31は、複数個の発光素子(通常は、LED)31aが2次元配列(図1では、横(左右方向)8個で縦9個の2次元配列)されている。発光素子31aは、基板30に表面実装されている。発光素子31aは、その表面から所定の指向性で光を放射する。発光素子31aは、その厚みは特に限定されるものではないが、例えば、約0.25mm~約1mmのものである。なお、発光素子31aの具体的な個数及び配列は、検査用面照明装置1の仕様に合わせて様々なものが可能である。 The light emitting substrate body 3 has a light emitting element array portion 31 . In the light-emitting element array portion 31, a plurality of light-emitting elements (usually LEDs) 31a are two-dimensionally arrayed (in FIG. 1, two-dimensional array of eight horizontally (horizontally) and nine vertically). The light emitting element 31 a is surface-mounted on the substrate 30 . The light emitting element 31a emits light with a predetermined directivity from its surface. Although the thickness of the light emitting element 31a is not particularly limited, it is, for example, about 0.25 mm to about 1 mm. Note that the specific number and arrangement of the light emitting elements 31a can be varied in accordance with the specifications of the surface illumination device 1 for inspection.

発光素子配列部31では、例えば、図4に示すように、所定数の発光素子31aが電流制限用の抵抗31bとともに直列に接続され、その直列体が所定列だけ並列に接続される。発光素子31aの数は、特に限定されるものではなく、仕様に応じて決定される。 In the light-emitting element array section 31, for example, as shown in FIG. 4, a predetermined number of light-emitting elements 31a are connected in series with a current limiting resistor 31b, and the series bodies are connected in parallel in a predetermined number of columns. The number of light emitting elements 31a is not particularly limited, and is determined according to specifications.

また、発光基板体3は、図3(b)及び図4に示すように、基板30に形成された2個の電源端子部32A、32Bを有しており、それらに2本の電源配線コード5A、5Bが接続される。2個の電源端子部32A、32Bは、通常、基板30に形成された図3(b)に示すようなランド、パッド、又はパターンの一部などである。電流は、一方の電源端子部32A、発光素子配列部31の発光素子31a、他方の電源端子部32Bの順に流れる(図4参照)。検査用面照明装置1は、通常、この電流が流れる期間が調光電源装置などにより制御されることにより、調光される。 As shown in FIGS. 3B and 4, the light emitting substrate body 3 has two power terminal portions 32A and 32B formed on the substrate 30, and two power wiring cords are attached to them. 5A and 5B are connected. The two power supply terminal portions 32A and 32B are usually lands, pads, or parts of patterns formed on the substrate 30 as shown in FIG. 3(b). A current flows through one power terminal portion 32A, the light emitting element 31a of the light emitting element array portion 31, and the other power terminal portion 32B in this order (see FIG. 4). The inspection surface illumination device 1 is normally dimmed by controlling the period during which the current flows by a dimming power supply device or the like.

また、発光基板体3は、基板30の端部の一部に第1の切り欠き33が形成されている(図3(b)参照)。第1の切り欠き33は、2個の電源端子部32A、32Bの近傍に設けられている。第1の切り欠き33は、図1においては、基板30の角部の1つに形成されているが、ここには限定されず、基板30の端部の中央部等でも可能であり、また、ケーブル5が複数個有る場合は、反射鏡4の後述する第2の切り欠き41とともに、複数個形成されるようにすることが可能である。 Further, the light-emitting substrate body 3 has a first notch 33 formed in a part of the end portion of the substrate 30 (see FIG. 3B). The first notch 33 is provided near the two power terminal portions 32A and 32B. The first notch 33 is formed at one of the corners of the substrate 30 in FIG. , when there are a plurality of cables 5, it is possible to form a plurality of them together with a second notch 41 of the reflecting mirror 4, which will be described later.

反射鏡4は、発光素子配列部31の周辺に設けられている。詳細には、反射鏡4は、基板30の端部に沿ってその内側に立てられており、発光素子配列部31を囲っている。反射鏡4は、通常、4枚が発光素子配列部31を囲っている。反射鏡4は、光の反射のために銀色や白色などの反射層を有するものが可能である。反射鏡4は、検査用面照明装置1から放射する光の一定の均一性が得られる面積を増大させることができる。 The reflecting mirror 4 is provided around the light emitting element array portion 31 . Specifically, the reflector 4 is erected inside along the edge of the substrate 30 and surrounds the light emitting element array portion 31 . Normally, four reflecting mirrors 4 surround the light emitting element array portion 31 . The reflecting mirror 4 can have a reflecting layer of silver, white, or the like for reflecting light. The reflecting mirror 4 can increase the area where a certain uniformity of the light emitted from the inspection surface illuminating device 1 can be obtained.

また、反射鏡4は、その下部の一部に第2の切り欠き41が形成されている(図3(b)参照)。第2の切り欠き41は、形状及び大きさは特に限定されるものではないが、ケーブル5の外部被覆体5Cに合わせた形状及び大きさでよい。 A second notch 41 is formed in a part of the lower portion of the reflecting mirror 4 (see FIG. 3(b)). The shape and size of the second notch 41 are not particularly limited, but may be a shape and size that match the outer covering 5C of the cable 5 .

2本の電源配線コード5A、5Bは、導体5Aa、5Baとそれを被覆する絶縁体5Ab、5Bbが設けられた構造である。2本の電源配線コード5A、5Bの外径(太さ)は、例えば、約1mm~約2mmである。2本の電源配線コード5A、5Bは、通常、反射鏡4の第2の切り欠き41の少し内側まで両方が外部被覆体5Cに被覆されてまとめられている(図3(a)参照)。2本の電源配線コード5A、5Bは、反射鏡4の第2の切り欠き41と発光基板体3の第1の切り欠き33を通って、2個の電源端子部32A、32Bに接続され、それにより電源の配線が行われている。 The two power supply wiring cords 5A and 5B have a structure in which conductors 5Aa and 5Ba and insulators 5Ab and 5Bb covering them are provided. The outer diameter (thickness) of the two power wiring cords 5A and 5B is, for example, about 1 mm to about 2 mm. The two power supply wiring cords 5A and 5B are generally covered with an outer covering 5C to a little inside the second notch 41 of the reflector 4 (see FIG. 3(a)). The two power wiring cords 5A and 5B are connected to the two power terminal portions 32A and 32B through the second notch 41 of the reflector 4 and the first notch 33 of the light emitting substrate 3, Wiring of the power supply is carried out accordingly.

2本の電源配線コード5A、5Bは、第1の切り欠き33の縁部(輪郭線部)33A、33Bの近傍で絶縁体5Ab、5Bbが剥ぎ取られて、導体5Aa、5Baが2個の電源端子部32A、32Bにハンダ付け等により接続されている。そうすると、2本の電源配線コード5A、5Bは、絶縁体5Ab、5Bbが剥ぎ取られていない状態で基板30の上を長く延びることがないので、基板30から離れて浮き上がることがほぼなくなり、そのため、基板30からの高さを下げ易くなる。 Insulators 5Ab and 5Bb of the two power supply wiring cords 5A and 5B are stripped near edge portions (outline portions) 33A and 33B of the first notch 33, and conductors 5Aa and 5Ba are separated into two pieces. It is connected to the power terminal portions 32A and 32B by soldering or the like. As a result, the two power supply wiring cords 5A and 5B do not extend long above the substrate 30 in a state where the insulators 5Ab and 5Bb are not stripped off, so that the two power supply wiring cords 5A and 5B are not separated from the substrate 30 and floated up. , the height from the substrate 30 can be easily lowered.

絶縁体5Ab、5Bbが剥ぎ取られる位置は、図5(a)(及び図5(c))に示すように、第1の切り欠き33の縁部33A、33Bよりも内側(基板30の内側)であってもよいし、図5(b)に示すように、第1の切り欠き33の縁部33A、33Bよりも外側であってもよい。第1の切り欠き33の縁部33A、33Bよりも外側で絶縁体5Ab、5Bbが剥ぎ取られるようにすると(つまり、絶縁体5Ab、5Bbが基板30上ではすべて剥ぎ取られているようにすると)、基板30上では導体5Aa、5Baだけが残ることになるので、電源配線コード5A、5B全体として、基板30からの高さを下げることが可能である。 The position where the insulators 5Ab and 5Bb are stripped off is inside the edges 33A and 33B of the first notch 33 (inside the substrate 30), as shown in FIG. 5(a) (and FIG. 5(c)). ), or, as shown in FIG. If the insulators 5Ab and 5Bb are stripped outside the edges 33A and 33B of the first notch 33 (that is, if the insulators 5Ab and 5Bb are all stripped off on the substrate 30, ), since only the conductors 5Aa and 5Ba remain on the substrate 30, it is possible to lower the height from the substrate 30 of the power supply wiring cords 5A and 5B as a whole.

また、2本の電源配線コード5A、5Bの両方又は片方(図5(c)では両方)は、第1の切り欠き33に位置する部分の一部(詳しくは、絶縁体5Ab、5Bbの一部)が反射鏡4の下面に接するようにすることで、基板30から離れて浮き上がることが更になくなり、そのため、基板30からの高さを更に下げ易くなる。なお、反射鏡4の下面は、第1の切り欠き33では基板30に接していない(第1の切り欠き33以外では基板30に接している)。 Also, both or one of the two power supply wiring cords 5A and 5B (both in FIG. 5(c)) is part of the portion located in the first notch 33 (specifically, one part of the insulators 5Ab and 5Bb). ) is in contact with the lower surface of the reflecting mirror 4, it is further prevented from floating away from the substrate 30, so that the height from the substrate 30 can be further reduced. Note that the lower surface of the reflecting mirror 4 is not in contact with the substrate 30 at the first notch 33 (it is in contact with the substrate 30 except at the first notch 33).

以上説明した構成の検査用面照明装置1は、発光素子配列部31から放射される光は、直接に又は反射鏡4に反射されてハウジングから放射する。ここで、2本の電源配線コード5A、5Bは、一般的な電源配線コードを用いて容易に電源の配線を行うことができ、それでも基板30からの高さを下げることができる。そうすると、2本の電源配線コード5A、5Bは、発光素子31aが薄い場合でも発光素子配列部31から放射され反射鏡4に反射されようとする光を妨げないようにすることができ、それにより、検査用面照明装置1から放射される光の一定の均一性を広い範囲で保つことができる。 In the inspection surface illuminating device 1 configured as described above, the light emitted from the light emitting element arrangement portion 31 is emitted from the housing either directly or after being reflected by the reflecting mirror 4 . Here, the two power supply wiring cords 5A and 5B can easily wire the power supply using a general power supply wiring cord, and the height from the substrate 30 can be lowered. Then, even if the light emitting element 31a is thin, the two power supply wiring cords 5A and 5B can prevent the light emitted from the light emitting element arrangement portion 31 and being reflected by the reflecting mirror 4 from being blocked. , the uniformity of the light emitted from the inspection surface illumination device 1 can be maintained over a wide range.

本願発明者は、検査用面照明装置1を試作してそれから放射される光の実験を行った。また、比較のために、第1の切り欠き33を有さない以外は検査用面照明装置1と同様の比較用検査用面照明装置にて同様の実験を行った。使用した発光基板体3は、発光素子31aが横8個で縦9個の2次元配列しているものであり、発光素子31aの厚みが0.65mmで、2本の電源配線コード5A、5Bの外径は、1.05mmである。 The inventor of the present application made a prototype of the surface illumination device 1 for inspection and conducted experiments on the light emitted from it. For comparison, the same experiment was conducted with a comparative inspection plane illumination device similar to the inspection plane illumination device 1 except that it did not have the first notch 33 . The light-emitting substrate 3 used has a two-dimensional array of light-emitting elements 31a of 8 in width and 9 in length. has an outer diameter of 1.05 mm.

実験の結果、検査用面照明装置1では、図6(a)に示すように、電源の配線が行われている角部でも光の一定の均一性を広い範囲で保っている。一方、比較用検査用面照明装置では、図6(b)に示すように、光は、当該角部では一定の均一性の範囲が狭まっている。 As a result of the experiment, the surface illumination device 1 for inspection maintains a certain uniformity of light over a wide range even at the corner where the power supply wiring is performed, as shown in FIG. 6(a). On the other hand, in the comparison inspection surface illumination device, as shown in FIG. 6B, the light has a narrow range of uniformity at the corner.

以上、本発明の実施形態に係る検査用面照明装置について説明したが、本発明は、実施形態に記載したものに限られることなく、特許請求の範囲に記載した事項の範囲内でのさまざまな設計変更が可能である。 Although the inspection surface illuminating device according to the embodiment of the present invention has been described above, the present invention is not limited to the one described in the embodiment, and can be variously modified within the scope of the claims. Design changes are possible.

1 検査用面照明装置
2 ハウジング
3 発光基板体
30 基板
31 発光素子配列部
31a 発光素子
31b 抵抗
32A、32B 電源端子部
33 第1の切り欠き
33A、33B 第1の切り欠きの縁部
4 反射鏡
41 第2の切り欠き
5 ケーブル
5A、5B 電源配線コード
5Aa、5Ba 導体
5Ab、5Bb 絶縁体
5C 外部被覆体
5D コネクタ
REFERENCE SIGNS LIST 1 surface illumination device for inspection 2 housing 3 light emitting substrate 30 substrate 31 light emitting element arrangement portion 31a light emitting element 31b resistor 32A, 32B power supply terminal portion 33 first notch 33A, 33B edge of first notch 4 reflector 41 second notch 5 cable 5A, 5B power wiring cord 5Aa, 5Ba conductor 5Ab, 5Bb insulator 5C outer cover 5D connector

Claims (3)

基板に複数個の発光素子が2次元配列されて表面実装された発光素子配列部と前記基板に形成された2個の電源端子部を有し、該2個の電源端子部の近傍であって前記基板の端部の一部に第1の切り欠きが形成された発光基板体と、
前記発光素子配列部の周辺に設けられ、下部の一部に第2の切り欠きが形成された反射鏡と、
2本の電源配線コードと、
を備え、
前記2本の電源配線コードは、前記発光素子配列部から放射され前記反射鏡に反射されようとする光を妨げないように、前記反射鏡の前記第2の切り欠きと前記基板の前記第1の切り欠きを通って前記2個の電源端子部に接続されている検査用面照明装置。
a light emitting element array portion in which a plurality of light emitting elements are two-dimensionally arranged and surface-mounted on a substrate; and two power supply terminal portions formed on the substrate; a light-emitting substrate body having a first notch formed in a part of an end portion of the substrate;
a reflecting mirror provided around the light emitting element arrangement portion and having a second notch formed in a part of the lower portion thereof;
two power wiring cords;
with
The two power supply wiring cords are arranged between the second notch of the reflecting mirror and the first cutout of the substrate so as not to interfere with the light emitted from the light emitting element array portion and about to be reflected by the reflecting mirror. a surface illumination device for inspection connected to the two power supply terminals through the cutouts of
請求項1に記載の検査用面照明装置において、
前記第1の切り欠きは、前記基板の角部に形成されている検査用面照明装置。
In the inspection surface illumination device according to claim 1,
The inspection surface illumination device, wherein the first notch is formed at a corner of the substrate.
請求項1又は2に記載の検査用面照明装置において、
少なくとも1本の前記電源配線コードは、前記第1の切り欠きに位置する部分の一部が前記反射鏡の下面に接している検査用面照明装置。
In the inspection surface illumination device according to claim 1 or 2,
A surface illumination device for inspection, wherein a portion of the at least one power wiring cord located in the first notch is in contact with the lower surface of the reflecting mirror.
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