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JP7341885B2 - switching circuit - Google Patents
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JP7341885B2 - switching circuit - Google Patents

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Description

本開示は、スイッチング回路に関する。 TECHNICAL FIELD This disclosure relates to switching circuits.

電力変換回路等において、スイッチング素子の高周波駆動は、電力変換回路等の小型、軽量化のために有効である。しかし、スイッチング素子の高周波駆動において、スイッチング素子のオフ動作時に過渡的に発生する高電圧(サージ電圧)が問題となる。 In power conversion circuits and the like, high-frequency driving of switching elements is effective for reducing the size and weight of power conversion circuits and the like. However, in high-frequency driving of the switching element, a problem arises due to the high voltage (surge voltage) that is transiently generated when the switching element is turned off.

このようなサージ電圧を抑制するための構成として、従来からスイッチング素子の制御端子と高電位側主端子との間にサージ抑制クランプ回路を設けることが知られている。しかし、このような構成では、制御端子に高電位側主端子の電圧が印加されることになるため、スイッチング素子を高電圧かつ高速(高周波)で駆動した場合に生じる損失が大きくなる。 As a configuration for suppressing such surge voltage, it has been known to provide a surge suppression clamp circuit between the control terminal of the switching element and the high potential side main terminal. However, in such a configuration, since the voltage of the high potential side main terminal is applied to the control terminal, the loss that occurs when the switching element is driven at high voltage and high speed (high frequency) increases.

これに対し、下記特許文献1では、制御端子と低電位側主端子との間に、サージ抑制クランプ回路としてダイオードとツェナーダイオードとが直列接続された回路要素が設けられた構成が開示されている。 On the other hand, Patent Document 1 below discloses a configuration in which a circuit element in which a diode and a Zener diode are connected in series as a surge suppression clamp circuit is provided between a control terminal and a low-potential side main terminal. .

特開2018-88772号公報Japanese Patent Application Publication No. 2018-88772

特許文献1のような構成においては、スイッチング素子の低電位側の寄生インダクタンスの電圧を用いてサージ電圧を抑制する。そのため、制御端子と高電位側主端子との間にサージ抑制クランプ回路が設けられた従来構成に比べて損失を小さくすることができる。 In the configuration as in Patent Document 1, surge voltage is suppressed using the voltage of the parasitic inductance on the low potential side of the switching element. Therefore, the loss can be reduced compared to the conventional configuration in which a surge suppression clamp circuit is provided between the control terminal and the high potential side main terminal.

しかし、特許文献1のような構成ではスイッチング素子の適切な保護の観点から改善の余地がある。 However, in the configuration as disclosed in Patent Document 1, there is room for improvement from the viewpoint of appropriate protection of the switching elements.

本開示は、上記課題を解決するものであり、サージ電圧の抑制を低損失で実現することができ、しかも、スイッチング素子をより適切に保護することができるスイッチング回路を提供することを目的とする。 The present disclosure aims to solve the above-mentioned problems, and to provide a switching circuit that can suppress surge voltage with low loss and protect switching elements more appropriately. .

本開示の一態様に係るスイッチング回路は、一対の主端子と、制御端子とを有するスイッチング素子と、前記制御端子に駆動電圧を印加することにより前記スイッチング素子を駆動する駆動回路と、前記一対の主端子間にサージ電圧が生じるのを抑制するサージ抑制回路と、を備え、前記駆動回路は、駆動信号出力端子および駆動基準電位端子を有し、前記駆動信号出力端子は、前記スイッチング素子の前記制御端子に接続され、前記駆動基準電位端子は、前記スイッチング素子の低電位側主端子とは別に前記スイッチング素子の低電位側に設けられる制御基準電位端子に第1配線を介して接続され、前記サージ抑制回路は、前記第1配線上に設けられた抵抗素子と、前記駆動基準電位端子と前記低電位側主端子とを接続する第2配線上に直列に設けられたダイオードおよびキャパシタと、前記キャパシタに印加される電圧を設定するキャパシタ電圧設定回路と、を備え、前記ダイオードは、カソードが前記駆動基準電位端子側に接続され、アノードが前記低電位側主端子側に接続され、前記キャパシタ電圧設定回路は、前記キャパシタに印加される電圧を能動的、もしくは受動的に変更することで、サージ抑制回路に電流が流れるためのサージ抑制動作電圧を設定する。 A switching circuit according to one aspect of the present disclosure includes: a switching element having a pair of main terminals and a control terminal; a drive circuit that drives the switching element by applying a drive voltage to the control terminal; a surge suppression circuit that suppresses generation of surge voltage between main terminals, the drive circuit has a drive signal output terminal and a drive reference potential terminal, and the drive signal output terminal is connected to the main terminal of the switching element. connected to a control terminal, the drive reference potential terminal is connected via a first wiring to a control reference potential terminal provided on the low potential side of the switching element separately from the low potential side main terminal of the switching element, The surge suppression circuit includes: a resistor element provided on the first wiring; a diode and a capacitor provided in series on a second wiring connecting the drive reference potential terminal and the low potential side main terminal; a capacitor voltage setting circuit that sets the voltage applied to the capacitor, the diode has a cathode connected to the driving reference potential terminal side, an anode connected to the low potential side main terminal side, and the diode has a cathode connected to the drive reference potential terminal side, an anode connected to the low potential side main terminal side, The setting circuit sets a surge suppression operating voltage for causing current to flow through the surge suppression circuit by actively or passively changing the voltage applied to the capacitor.

上記構成によれば、オフ動作時において、スイッチング素子の制御端子に印加される駆動電圧が低下し、スイッチング素子の主端子間に流れる電流が減少し、主端子間に過剰な電圧(サージ電圧)が発生すると、低電位側主端子の寄生インダクタンスに流れる電流が急減するため、寄生インダクタンスによって生じる誘導電圧が発生し、サージ抑制回路において低電位側主端子から駆動基準電位端子方向に電流(クランプ電流)が流れる。これにより、第1配線上に設けられた抵抗素子に電圧が発生し、駆動基準電位端子からスイッチング素子の制御基準電位端子に流れる電流が小さくなる。このため、スイッチング素子におけるスイッチング速度(ターンオフ速度)が遅くなり、サージ電圧が抑制される。このとき、寄生インダクタンスによって発生する誘導電圧は低電圧であり、低い動作電圧でサージ抑制回路を動作させることができるため、サージ電圧の抑制による損失を低減することができる。さらに、キャパシタ電圧設定回路は、キャパシタに印加される電圧を能動的、もしくは受動的に変更することにより、サージ抑制回路に電流が流れるためのサージ抑制動作電圧が変更される。例えば、オン動作時にはキャパシタ電圧設定回路がキャパシタに印加される電圧を高くする。キャパシタに印加される電圧が高くなると、寄生インダクタンスに生じる電圧により抵抗素子に発生する電圧が小さくなる。したがって、キャパシタに印加される電圧が高くなるスイッチング素子のオン動作時においては、抵抗素子に生じる電圧が小さくなり、サージ抑制回路にクランプ電流が流れにくくなる。したがって、スイッチング素子のオン動作時においてクランプ電流が流れるのを抑制することにより、制御端子と制御基準電位端子との間に過大な電圧が印加されることを防止することができる。これにより、スイッチング素子を適切に保護することができる。 According to the above configuration, during off-operation, the drive voltage applied to the control terminal of the switching element decreases, the current flowing between the main terminals of the switching element decreases, and an excessive voltage (surge voltage) occurs between the main terminals. When this occurs, the current flowing through the parasitic inductance of the low-potential side main terminal suddenly decreases, and an induced voltage is generated by the parasitic inductance.In the surge suppression circuit, a current (clamp current) flows from the low-potential side main terminal toward the drive reference potential terminal. ) flows. As a result, a voltage is generated in the resistance element provided on the first wiring, and the current flowing from the drive reference potential terminal to the control reference potential terminal of the switching element becomes small. Therefore, the switching speed (turn-off speed) of the switching element becomes slow, and surge voltage is suppressed. At this time, the induced voltage generated by the parasitic inductance is a low voltage, and the surge suppression circuit can be operated at a low operating voltage, so that losses due to suppression of the surge voltage can be reduced. Furthermore, by actively or passively changing the voltage applied to the capacitor, the capacitor voltage setting circuit changes the surge suppression operating voltage at which current flows through the surge suppression circuit. For example, during ON operation, the capacitor voltage setting circuit increases the voltage applied to the capacitor. As the voltage applied to the capacitor increases, the voltage generated across the resistive element decreases due to the voltage generated across the parasitic inductance. Therefore, during the ON operation of the switching element, in which the voltage applied to the capacitor is high, the voltage generated in the resistance element is reduced, making it difficult for a clamp current to flow through the surge suppression circuit. Therefore, by suppressing the clamp current from flowing during the ON operation of the switching element, it is possible to prevent excessive voltage from being applied between the control terminal and the control reference potential terminal. Thereby, the switching element can be appropriately protected.

前記サージ抑制回路は、前記低電位側主端子と前記制御基準電位端子との間において、前記第1配線および前記第2配線を含むサージ抑制配線に並列に接続されたバイパス回路を備え、前記バイパス回路は、当該バイパス回路に電流が流れるためのバイパス回路動作電圧が、前記キャパシタ電圧設定回路により設定されるサージ抑制動作電圧の範囲内にあるように構成されてもよい。 The surge suppression circuit includes a bypass circuit connected in parallel to surge suppression wiring including the first wiring and the second wiring between the low potential side main terminal and the control reference potential terminal, and the bypass circuit is connected in parallel to the surge suppression wiring including the first wiring and the second wiring. The circuit may be configured such that a bypass circuit operating voltage for allowing current to flow through the bypass circuit is within a range of a surge suppression operating voltage set by the capacitor voltage setting circuit.

上記構成によれば、サージ抑制回路に流れるクランプ電流が増大し、クランプ電流に伴って低電位側主端子と制御基準電位端子との間に印加される電圧がバイパス回路動作電圧より大きくなると、バイパス回路に電流が流れ、クランプ電流が抑制される。したがって、制御端子と制御基準電位端子との間に過大な電圧が印加されることを防止することができ、スイッチング素子を適切に保護することができる。 According to the above configuration, when the clamp current flowing through the surge suppression circuit increases and the voltage applied between the low potential side main terminal and the control reference potential terminal becomes larger than the bypass circuit operating voltage due to the clamp current, the bypass circuit increases. Current flows through the circuit and the clamp current is suppressed. Therefore, it is possible to prevent excessive voltage from being applied between the control terminal and the control reference potential terminal, and the switching element can be appropriately protected.

本開示の他の態様に係るスイッチング回路は、一対の主端子と、制御端子とを有するスイッチング素子と、前記制御端子に駆動電圧を印加することにより前記スイッチング素子を駆動する駆動回路と、前記一対の主端子間にサージ電圧が生じるのを抑制するサージ抑制回路と、を備え、前記駆動回路の駆動信号出力端子は、前記スイッチング素子の前記制御端子に接続され、前記サージ抑制回路は、前記制御端子と前記低電位側主端子とを接続するサージ抑制配線上に直列に設けられたダイオードおよびキャパシタと、前記キャパシタに印加される電圧を設定するキャパシタ電圧設定回路と、を備え、前記ダイオードは、カソードが前記制御端子側に接続され、アノードが前記低電位側主端子側に接続され、前記キャパシタ電圧設定回路は、前記キャパシタに印加される電圧を能動的、もしくは受動的に変更することで、前記サージ抑制回路に電流が流れるためのサージ抑制動作電圧を設定する。 A switching circuit according to another aspect of the present disclosure includes: a switching element having a pair of main terminals and a control terminal; a drive circuit that drives the switching element by applying a drive voltage to the control terminal; a surge suppression circuit that suppresses surge voltage from occurring between the main terminals of the drive circuit, a drive signal output terminal of the drive circuit is connected to the control terminal of the switching element, and the surge suppression circuit is connected to the control terminal of the switching element. A diode and a capacitor provided in series on a surge suppression wiring connecting a terminal and the low potential side main terminal, and a capacitor voltage setting circuit that sets a voltage applied to the capacitor, the diode comprising: A cathode is connected to the control terminal side, an anode is connected to the low potential side main terminal side, and the capacitor voltage setting circuit actively or passively changes the voltage applied to the capacitor, A surge suppression operating voltage is set so that a current flows through the surge suppression circuit.

上記構成によれば、スイッチング素子の制御端子に印加される駆動電圧が低下し、スイッチング素子の主端子間に流れる電流が減少し、主端子間に過剰な電圧(サージ電圧)が発生すると、低電位側主端子の寄生インダクタンスに流れる電流が急減するため、寄生インダクタンスによって生じる誘導電圧が発生し、サージ抑制回路のサージ抑制配線において低電位側主端子から制御端子方向に電流(クランプ電流)が流れる。スイッチング素子の制御端子に流れるクランプ電流により、スイッチング素子におけるスイッチング速度が遅くなり、サージ電圧が抑制される。このとき、寄生インダクタンスにサージ電圧による電流が流れることにより生じる電圧は低電圧であるため、サージ電圧の抑制の際に生じる損失を低減することができる。さらに、キャパシタ電圧設定回路は、キャパシタに印加される電圧を能動的、もしくは受動的に変更することにより、サージ抑制回路に電流が流れるためのサージ抑制動作電圧が変更される。例えば、オン動作時にはキャパシタ電圧設定回路がキャパシタに印加される電圧を高くする。キャパシタに印加される電圧が高くなると、寄生インダクタンスに生じる電圧により発生するクランプ電流が流れにくくなる。したがって、スイッチング素子のオン動作時においてクランプ電流が流れるのを抑制することにより、制御端子と低電位側主端子との間に過大な電圧が印加されることを防止することができる。これにより、スイッチング素子を適切に保護することができる。 According to the above configuration, when the drive voltage applied to the control terminal of the switching element decreases, the current flowing between the main terminals of the switching element decreases, and an excessive voltage (surge voltage) occurs between the main terminals, the voltage decreases. As the current flowing through the parasitic inductance of the main terminal on the potential side suddenly decreases, an induced voltage is generated due to the parasitic inductance, and a current (clamp current) flows from the main terminal on the low potential side toward the control terminal in the surge suppression wiring of the surge suppression circuit. . The clamp current flowing through the control terminal of the switching element slows down the switching speed of the switching element, suppressing surge voltage. At this time, since the voltage generated by the current flowing through the parasitic inductance due to the surge voltage is a low voltage, it is possible to reduce the loss that occurs when suppressing the surge voltage. Furthermore, by actively or passively changing the voltage applied to the capacitor, the capacitor voltage setting circuit changes the surge suppression operating voltage at which current flows through the surge suppression circuit. For example, during ON operation, the capacitor voltage setting circuit increases the voltage applied to the capacitor. When the voltage applied to the capacitor increases, it becomes difficult for the clamp current generated by the voltage generated in the parasitic inductance to flow. Therefore, by suppressing the clamp current from flowing during the ON operation of the switching element, it is possible to prevent excessive voltage from being applied between the control terminal and the low potential side main terminal. Thereby, the switching element can be appropriately protected.

前記駆動回路の駆動基準電位端子は、前記スイッチング素子の低電位側主端子とは別に前記スイッチング素子の低電位側に設けられる制御基準電位端子に第1配線を介して接続され、前記サージ抑制回路は、前記低電位側主端子と前記制御基準電位端子との間を接続する低電位側配線に並列に接続されたバイパス回路を備え、前記バイパス回路は、当該バイパス回路に電流が流れるためのバイパス回路動作電圧が、前記キャパシタ電圧設定回路により設定されるサージ抑制動作電圧の範囲内にあるように構成されてもよい。 The drive reference potential terminal of the drive circuit is connected via a first wiring to a control reference potential terminal provided on the low potential side of the switching element separately from the low potential side main terminal of the switching element, and includes a bypass circuit connected in parallel to a low potential side wiring connecting between the low potential side main terminal and the control reference potential terminal, and the bypass circuit is a bypass circuit for current to flow through the bypass circuit. The circuit operating voltage may be configured to be within a range of a surge suppression operating voltage set by the capacitor voltage setting circuit.

上記構成によれば、サージ抑制回路に流れるクランプ電流が増大し、クランプ電流に伴って低電位側主端子と制御端子との間に印加される電圧がバイパス回路動作電圧より大きくなると、バイパス回路に電流が流れ、クランプ電流が抑制される。したがって、制御端子と低電位側主端子との間に過大な電圧が印加されることを防止することができ、スイッチング素子を適切に保護することができる。 According to the above configuration, when the clamp current flowing in the surge suppression circuit increases and the voltage applied between the low potential side main terminal and the control terminal becomes larger than the bypass circuit operating voltage due to the clamp current, the bypass circuit Current flows and clamp current is suppressed. Therefore, it is possible to prevent excessive voltage from being applied between the control terminal and the low potential side main terminal, and the switching element can be appropriately protected.

前記キャパシタ電圧設定回路は、前記キャパシタに印加される電圧が前記スイッチング素子のオン動作時に前記スイッチング素子のオフ動作時より高い所定の電圧となるように、前記キャパシタに印加される電圧を設定してもよい。 The capacitor voltage setting circuit sets the voltage applied to the capacitor so that the voltage applied to the capacitor becomes a predetermined voltage higher when the switching element is turned on than when the switching element is turned off. Good too.

前記キャパシタ電圧設定回路は、前記駆動回路が前記スイッチング素子をオン動作させるための前記駆動信号に基づいて、前記キャパシタに前記所定の電圧を印加するように構成されていてもよい。 The capacitor voltage setting circuit may be configured such that the drive circuit applies the predetermined voltage to the capacitor based on the drive signal for turning on the switching element.

上記構成によれば、駆動信号に基づいてキャパシタに印加する電圧を切り替えるため、新たに信号を生成する必要をなくし、かつ、確実な電圧切替動作を実現することができる。 According to the above configuration, since the voltage applied to the capacitor is switched based on the drive signal, there is no need to generate a new signal, and a reliable voltage switching operation can be realized.

前記キャパシタ電圧設定回路は、前記キャパシタに並列に接続されるツェナーダイオードを含み、前記ツェナーダイオードは、カソードが前記キャパシタの低電位側主端子側に接続され、アノードが前記キャパシタの前記制御基準電位端子側に接続されてもよい。 The capacitor voltage setting circuit includes a Zener diode connected in parallel to the capacitor, the Zener diode has a cathode connected to the low potential main terminal side of the capacitor, and an anode connected to the control reference potential terminal of the capacitor. May be connected to the side.

上記構成によれば、サージ抑制動作電圧がツェナーダイオードの降伏電圧として設定される。寄生インダンクタンスにより生じる電圧がサージ抑制動作電圧を超えると、サージ抑制回路にクランプ電流が流れる。サージ抑制回路にクランプ電流が流れると、キャパシタが充電され、サージ抑制回路の動作電圧(サージ抑制動作電圧)が上昇する。サージ抑制動作電圧が上昇することによりクランプ電流が流れにくくなり、過度なクランプ電流がサージ抑制回路を流れることを抑制することができる。クランプ電流が流れなくなると、ツェナーダイオードの経路を通じてキャパシタに充電された電荷が放電され、サージ抑制動作電圧が元の状態(ツェナーダイオードの降伏電圧)に復帰する。したがって、キャパシタに印加する電圧を決定するために制御信号を別途生成することなく、キャパシタの電圧生成およびリセットを受動的に行うキャパシタ電圧設定回路を実現することができる。 According to the above configuration, the surge suppression operating voltage is set as the breakdown voltage of the Zener diode. When the voltage generated by the parasitic inductance exceeds the surge suppression operating voltage, a clamping current flows through the surge suppression circuit. When a clamp current flows through the surge suppression circuit, the capacitor is charged, and the operating voltage (surge suppression operating voltage) of the surge suppression circuit increases. By increasing the surge suppression operating voltage, it becomes difficult for the clamp current to flow, and it is possible to suppress excessive clamp current from flowing through the surge suppression circuit. When the clamp current stops flowing, the charge stored in the capacitor is discharged through the path of the Zener diode, and the surge suppression operating voltage returns to its original state (breakdown voltage of the Zener diode). Therefore, it is possible to realize a capacitor voltage setting circuit that passively generates and resets the voltage of the capacitor without separately generating a control signal to determine the voltage to be applied to the capacitor.

前記キャパシタ電圧設定回路は、前記駆動回路が前記スイッチング素子をオン動作させる前記駆動信号を出力している間、前記低電位側主端子から前記駆動基準電位端子に流れる電流によって、前記サージ抑制動作電圧が前記バイパス回路動作電圧より大きい前記所定の電圧になるまで前記キャパシタを充電するように構成されていてもよい。 The capacitor voltage setting circuit adjusts the surge suppression operating voltage by a current flowing from the low potential side main terminal to the drive reference potential terminal while the drive circuit outputs the drive signal that turns on the switching element. The capacitor may be charged until the predetermined voltage reaches the predetermined voltage, which is higher than the bypass circuit operating voltage.

上記構成によれば、サージ抑制回路に流れるクランプ電流を用いてキャパシタが充電されるため、サージ抑制回路の動作電圧が上昇する。サージ抑制動作電圧が上昇し、バイパス回路動作電圧より大きくなると、バイパス回路に電流が流れ、クランプ電流が抑制される。これにより、サージ抑制回路に過度な電流が流れることが防止される。したがって、スイッチング素子の端子間に過大な電圧が印加されることを防止することができ、スイッチング素子を適切に保護することができる。 According to the above configuration, since the capacitor is charged using the clamp current flowing through the surge suppression circuit, the operating voltage of the surge suppression circuit increases. When the surge suppression operating voltage increases and becomes higher than the bypass circuit operating voltage, current flows through the bypass circuit and the clamp current is suppressed. This prevents excessive current from flowing through the surge suppression circuit. Therefore, it is possible to prevent excessive voltage from being applied between the terminals of the switching element, and the switching element can be appropriately protected.

本開示の他の態様に係るスイッチング回路は、一対の主端子と、制御端子とを有するスイッチング素子と、前記制御端子に駆動電圧を印加することにより前記スイッチング素子を駆動する駆動回路と、前記一対の主端子間にサージ電圧が生じるのを抑制するサージ抑制回路と、を備え、前記駆動回路は、駆動信号出力端子および駆動基準電位端子を有し、前記駆動信号出力端子は、前記スイッチング素子の前記制御端子に接続され、前記駆動基準電位端子は、前記スイッチング素子の低電位側主端子とは別に前記スイッチング素子の低電位側に設けられる制御基準電位端子に第1配線を介して接続され、前記サージ抑制回路は、前記第1配線上に設けられた抵抗素子と、前記駆動基準電位端子と前記低電位側主端子とを接続する第2配線上に直列に設けられた第1ダイオードおよび第1ツェナーダイオードと、前記低電位側主端子と前記制御基準電位端子との間において、前記第1配線および前記第2配線を含むサージ抑制配線に並列に接続されたバイパス回路と、を備え、前記第1ダイオードは、カソードが前記駆動基準電位端子側に接続され、アノードが前記低電位側主端子側に接続され、前記第1ツェナーダイオードは、カソードが前記低電位側主端子側に接続され、アノードが前記制御基準電位端子側に接続され、前記バイパス回路は、当該バイパス回路に電流が流れるためのバイパス回路動作電圧が、前記サージ抑制配線上の前記抵抗素子、前記第1ダイオードおよび前記第1ツェナーダイオードに電流が流れるためのサージ抑制動作電圧より大きいように構成される。 A switching circuit according to another aspect of the present disclosure includes: a switching element having a pair of main terminals and a control terminal; a drive circuit that drives the switching element by applying a drive voltage to the control terminal; a surge suppression circuit that suppresses a surge voltage from occurring between the main terminals of the switching element, the drive circuit having a drive signal output terminal and a drive reference potential terminal, and the drive signal output terminal being the main terminal of the switching element. connected to the control terminal, the drive reference potential terminal is connected via a first wiring to a control reference potential terminal provided on the low potential side of the switching element separately from the low potential side main terminal of the switching element; The surge suppression circuit includes a resistance element provided on the first wiring, a first diode and a first diode provided in series on a second wiring connecting the drive reference potential terminal and the low potential side main terminal. 1 Zener diode, and a bypass circuit connected in parallel to surge suppression wiring including the first wiring and the second wiring between the low potential side main terminal and the control reference potential terminal, The first diode has a cathode connected to the driving reference potential terminal side and an anode connected to the low potential main terminal side, and the first Zener diode has a cathode connected to the low potential main terminal side, An anode is connected to the control reference potential terminal side, and the bypass circuit is configured such that a bypass circuit operating voltage for allowing a current to flow through the bypass circuit is connected to the resistance element on the surge suppression wiring, the first diode, and the first diode. The voltage is configured to be higher than the surge suppression operating voltage for current to flow through the Zener diode.

上記構成によれば、オフ動作時において、スイッチング素子の制御端子に印加される駆動電圧が低下し、スイッチング素子の主端子間に流れる電流が減少し、主端子間に過剰な電圧(サージ電圧)が発生すると、低電位側主端子の寄生インダクタンスに流れる電流が急減するため、寄生インダクタンスによって生じる誘導電圧が発生し、サージ抑制回路において低電位側主端子から駆動基準電位端子方向に電流(クランプ電流)が流れる。これにより、第1配線上に設けられた抵抗素子に電圧が発生し、駆動基準電位端子からスイッチング素子の制御基準電位端子に流れる電流が小さくなる。このため、スイッチング素子におけるスイッチング速度(ターンオフ速度)が遅くなり、サージ電圧が抑制される。このとき、寄生インダクタンスによって発生する誘導電圧は低電圧であり、低い動作電圧でサージ抑制回路を動作させることができるため、サージ電圧の抑制による損失を低減することができる。また、サージ抑制回路に流れるクランプ電流が増大し、クランプ電流に伴って低電位側主端子と制御基準電位端子との間に印加される電圧がバイパス回路動作電圧より大きくなると、バイパス回路に電流が流れ、クランプ電流が抑制される。したがって、制御端子と制御基準電位端子との間に過大な電圧が印加されることを防止することができ、スイッチング素子を適切に保護することができる。 According to the above configuration, during off-operation, the drive voltage applied to the control terminal of the switching element decreases, the current flowing between the main terminals of the switching element decreases, and an excessive voltage (surge voltage) occurs between the main terminals. When this occurs, the current flowing through the parasitic inductance of the low-potential side main terminal suddenly decreases, and an induced voltage is generated by the parasitic inductance.In the surge suppression circuit, a current (clamp current) flows from the low-potential side main terminal toward the drive reference potential terminal. ) flows. As a result, a voltage is generated in the resistance element provided on the first wiring, and the current flowing from the drive reference potential terminal to the control reference potential terminal of the switching element becomes small. Therefore, the switching speed (turn-off speed) of the switching element becomes slow, and surge voltage is suppressed. At this time, the induced voltage generated by the parasitic inductance is a low voltage, and the surge suppression circuit can be operated at a low operating voltage, so that losses due to suppression of the surge voltage can be reduced. Additionally, when the clamp current flowing through the surge suppression circuit increases and the voltage applied between the low potential side main terminal and the control reference potential terminal becomes larger than the bypass circuit operating voltage, the current flows through the bypass circuit. current, and the clamp current is suppressed. Therefore, it is possible to prevent excessive voltage from being applied between the control terminal and the control reference potential terminal, and the switching element can be appropriately protected.

本開示の他の態様に係るスイッチング回路は、一対の主端子と、制御端子とを有するスイッチング素子と、前記制御端子に駆動電圧を印加することにより前記スイッチング素子を駆動する駆動回路と、前記一対の主端子間にサージ電圧が生じるのを抑制するサージ抑制回路と、を備え、前記駆動回路は、駆動信号出力端子および駆動基準電位端子を有し、前記駆動信号出力端子は、前記スイッチング素子の前記制御端子に接続され、前記駆動基準電位端子は、前記スイッチング素子の低電位側主端子とは別に前記スイッチング素子の低電位側に設けられる制御基準電位端子に第1配線を介して接続され、前記サージ抑制回路は、前記制御端子と前記低電位側主端子とを接続する第2配線上に直列に設けられた第1ダイオードおよび第1ツェナーダイオードと、前記低電位側主端子と前記制御基準電位端子との間を接続する低電位側配線に並列に接続されたバイパス回路と、を備え、前記第1ダイオードは、カソードが前記制御端子側に接続され、アノードが前記低電位側主端子側に接続され、前記第1ツェナーダイオードは、カソードが前記低電位側主端子側に接続され、アノードが前記制御端子側に接続され、前記バイパス回路は、当該バイパス回路に電流が流れるためのバイパス回路動作電圧が、前記第2配線上の前記第1ダイオードおよび前記第1ツェナーダイオードに電流が流れるためのサージ抑制動作電圧より大きいように構成される。 A switching circuit according to another aspect of the present disclosure includes: a switching element having a pair of main terminals and a control terminal; a drive circuit that drives the switching element by applying a drive voltage to the control terminal; a surge suppression circuit that suppresses a surge voltage from occurring between the main terminals of the switching element, the drive circuit having a drive signal output terminal and a drive reference potential terminal, and the drive signal output terminal being the main terminal of the switching element. connected to the control terminal, the drive reference potential terminal is connected via a first wiring to a control reference potential terminal provided on the low potential side of the switching element separately from the low potential side main terminal of the switching element; The surge suppression circuit includes a first diode and a first Zener diode provided in series on a second wiring connecting the control terminal and the low potential side main terminal, and the low potential side main terminal and the control reference. a bypass circuit connected in parallel to a low potential side wiring connecting between the potential terminal and the first diode, the first diode has a cathode connected to the control terminal side, and an anode connected to the low potential main terminal side. The first Zener diode has a cathode connected to the low potential main terminal side, an anode connected to the control terminal side, and the bypass circuit is a bypass circuit for allowing current to flow through the bypass circuit. The operating voltage is configured to be higher than a surge suppression operating voltage for allowing current to flow through the first diode and the first Zener diode on the second wiring.

上記構成によれば、スイッチング素子の制御端子に印加される駆動電圧が低下し、スイッチング素子の主端子間に流れる電流が減少し、主端子間に過剰な電圧(サージ電圧)が発生すると、低電位側主端子の寄生インダクタンスに流れる電流が急減するため、寄生インダクタンスによって生じる誘導電圧が発生し、サージ抑制回路のサージ抑制配線において低電位側主端子から制御端子方向に電流(クランプ電流)が流れる。スイッチング素子の制御端子に流れるクランプ電流により、スイッチング素子におけるスイッチング速度が遅くなり、サージ電圧が抑制される。このとき、寄生インダクタンスにサージ電圧による電流が流れることにより生じる電圧は低電圧であるため、サージ電圧を抑制する際に生じる損失を低減することができる。また、サージ抑制回路に流れるクランプ電流が増大し、クランプ電流に伴って低電位側主端子と制御端子との間に印加される電圧がバイパス回路動作電圧より大きくなると、バイパス回路に電流が流れ、クランプ電流が抑制される。したがって、制御端子と低電位側主端子との間に過大な電圧が印加されることを防止することができ、スイッチング素子を適切に保護することができる。 According to the above configuration, when the drive voltage applied to the control terminal of the switching element decreases, the current flowing between the main terminals of the switching element decreases, and an excessive voltage (surge voltage) occurs between the main terminals, the voltage decreases. As the current flowing through the parasitic inductance of the main terminal on the potential side suddenly decreases, an induced voltage is generated due to the parasitic inductance, and a current (clamp current) flows from the main terminal on the low potential side toward the control terminal in the surge suppression wiring of the surge suppression circuit. . The clamp current flowing through the control terminal of the switching element slows down the switching speed of the switching element, suppressing surge voltage. At this time, since the voltage generated by the current flowing through the parasitic inductance due to the surge voltage is a low voltage, it is possible to reduce the loss that occurs when suppressing the surge voltage. Additionally, when the clamp current flowing through the surge suppression circuit increases and the voltage applied between the low-potential side main terminal and the control terminal becomes larger than the bypass circuit operating voltage, current flows through the bypass circuit. Clamp current is suppressed. Therefore, it is possible to prevent excessive voltage from being applied between the control terminal and the low potential side main terminal, and the switching element can be appropriately protected.

前記バイパス回路は、第2ダイオードおよび第2ツェナーダイオードが直列接続されるように構成されており、前記第2ダイオードは、カソードが前記制御基準電位端子側に接続され、アノードが前記低電位側主端子側に接続され、前記第2ツェナーダイオードは、カソードが前記低電位側主端子側に接続され、アノードが前記制御基準電位端子側に接続されてもよい。 The bypass circuit is configured such that a second diode and a second Zener diode are connected in series, and the second diode has a cathode connected to the control reference potential terminal side and an anode connected to the low potential side main terminal. The second Zener diode may have a cathode connected to the low potential main terminal side and an anode connected to the control reference potential terminal side.

本開示の構成によれば、サージ電圧の抑制を低損失で実現することができ、しかも、スイッチング素子をより適切に保護することができる。 According to the configuration of the present disclosure, surge voltage can be suppressed with low loss, and switching elements can be more appropriately protected.

図1は、本開示の実施の形態1に係るスイッチング回路の概略構成を示す図である。FIG. 1 is a diagram showing a schematic configuration of a switching circuit according to Embodiment 1 of the present disclosure. 図2は、図1に示すスイッチング回路において、キャパシタ電圧設定回路の一例を適用した場合を示す図である。FIG. 2 is a diagram showing a case where an example of a capacitor voltage setting circuit is applied to the switching circuit shown in FIG. 1. 図3は、図1に示すスイッチング回路において、キャパシタ電圧設定回路の他の例を適用した場合を示す図である。FIG. 3 is a diagram showing a case where another example of the capacitor voltage setting circuit is applied to the switching circuit shown in FIG. 1. 図4は、本開示の実施の形態2に係るスイッチング回路の概略構成を示す図である。FIG. 4 is a diagram showing a schematic configuration of a switching circuit according to Embodiment 2 of the present disclosure. 図5は、図4に示すバイパス回路の一具体例を示す回路図である。FIG. 5 is a circuit diagram showing a specific example of the bypass circuit shown in FIG. 4. 図6は、本開示の実施の形態3に係るスイッチング回路の概略構成を示す図である。FIG. 6 is a diagram showing a schematic configuration of a switching circuit according to Embodiment 3 of the present disclosure. 図7は、本開示の実施の形態4に係るスイッチング回路の概略構成を示す図である。FIG. 7 is a diagram showing a schematic configuration of a switching circuit according to Embodiment 4 of the present disclosure. 図8は、本開示の実施の形態5に係るスイッチング回路の概略構成を示す図である。FIG. 8 is a diagram showing a schematic configuration of a switching circuit according to Embodiment 5 of the present disclosure. 図9は、本開示の実施の形態6に係るスイッチング回路の概略構成を示す図である。FIG. 9 is a diagram showing a schematic configuration of a switching circuit according to Embodiment 6 of the present disclosure. 図10は、実施の形態1のスイッチング回路におけるサージ抑制動作のシミュレーション結果を示すグラフである。FIG. 10 is a graph showing the simulation results of the surge suppression operation in the switching circuit of the first embodiment. 図11は、実施の形態2のスイッチング回路におけるオフ動作時にバイパス回路が機能し、誤点呼が抑制されたシミュレーション結果を示すグラフである。FIG. 11 is a graph showing a simulation result in which the bypass circuit functions during the off-operation in the switching circuit of the second embodiment and false call calls are suppressed. 図12は、実施の形態2のスイッチング回路におけるオン動作時のシミュレーション結果を示すグラフである。FIG. 12 is a graph showing simulation results during on-operation in the switching circuit of the second embodiment.

以下、本発明の実施の形態を、図面を参照しながら説明する。なお、以下では全ての図を通じて同一または同じ機能を有する要素には同一の参照符号を付して、その重複する説明を省略する。 Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. Note that, hereinafter, elements that are the same or have the same functions are designated by the same reference numerals throughout all the figures, and redundant explanation thereof will be omitted.

(実施の形態1)
図1は、本開示の実施の形態1に係るスイッチング回路1Aの概略構成を示す図である。本実施の形態におけるスイッチング回路1Aは、少なくとも1つのスイッチング素子2を備えている。スイッチング素子2は、一対の主端子(高電位側主端子T1および低電位側主端子T2)と、制御端子T3を備えている。
(Embodiment 1)
FIG. 1 is a diagram showing a schematic configuration of a switching circuit 1A according to Embodiment 1 of the present disclosure. The switching circuit 1A in this embodiment includes at least one switching element 2. The switching element 2 includes a pair of main terminals (a high potential side main terminal T1 and a low potential side main terminal T2) and a control terminal T3.

さらに、スイッチング素子2は、低電位側主端子T2とは別にスイッチング素子2の低電位側に設けられる制御基準電位端子T4を備えている。制御基準電位端子T4は、後述する駆動回路3の基準電位を設定するために設けられる。例えば、スイッチング素子2は、4端子構造を有するn型MOSFETにより構成される。制御基準電位端子T4は、スイッチング素子2の低電位側において、低電位側主端子T2よりFETチップに近い場所に位置している。制御基準電位端子T4を、負荷が接続される低電位側主端子T2とは別に設けることにより、駆動回路3における駆動信号(駆動電圧)への影響を低減させることができる。なお、図1では、制御基準電位端子T4と低電位側主端子T2との間の配線に生じる寄生インダクタンスLpを表現するために、仮想のコイル2aを図示している。 Further, the switching element 2 includes a control reference potential terminal T4 provided on the low potential side of the switching element 2, separately from the low potential side main terminal T2. The control reference potential terminal T4 is provided to set a reference potential of the drive circuit 3, which will be described later. For example, the switching element 2 is constituted by an n-type MOSFET having a four-terminal structure. The control reference potential terminal T4 is located closer to the FET chip on the low potential side of the switching element 2 than the low potential side main terminal T2. By providing the control reference potential terminal T4 separately from the low potential side main terminal T2 to which the load is connected, the influence on the drive signal (drive voltage) in the drive circuit 3 can be reduced. In addition, in FIG. 1, a virtual coil 2a is illustrated in order to represent the parasitic inductance Lp that occurs in the wiring between the control reference potential terminal T4 and the low potential side main terminal T2.

さらに、スイッチング回路1Aは、制御端子T3に駆動電圧Vdを印加することによりスイッチング素子2を駆動する駆動回路3を備えている。駆動回路3は、駆動信号出力端子T5および駆動基準電位端子T6を有している。駆動信号出力端子T5は、スイッチング素子2の制御端子T3に接続されている。駆動基準電位端子T6は、後述する第1配線W1を介してスイッチング素子2の制御基準電位端子T4に接続されている。 Furthermore, the switching circuit 1A includes a drive circuit 3 that drives the switching element 2 by applying a drive voltage Vd to the control terminal T3. The drive circuit 3 has a drive signal output terminal T5 and a drive reference potential terminal T6. The drive signal output terminal T5 is connected to the control terminal T3 of the switching element 2. The drive reference potential terminal T6 is connected to the control reference potential terminal T4 of the switching element 2 via a first wiring W1, which will be described later.

駆動回路3は、駆動信号出力端子T5に駆動基準電位端子T6の電位よりスイッチング素子2の駆動電圧Vd分高い電位を有する駆動信号を出力する。駆動信号によりスイッチング素子2の制御端子T3と制御基準電位端子T4との間に印加される制御電圧Vgが所定のオン電圧となった場合、スイッチング素子2がオン動作する。また、駆動信号出力端子T5と駆動基準電位端子T6との間に印加される駆動電圧Vdが低くなり、制御電圧Vgがオン電圧より低い所定のオフ電圧となった場合、スイッチング素子2がオフ動作する。 The drive circuit 3 outputs a drive signal having a potential higher than the potential of the drive reference potential terminal T6 by the drive voltage Vd of the switching element 2 to the drive signal output terminal T5. When the drive signal causes the control voltage Vg applied between the control terminal T3 and the control reference potential terminal T4 of the switching element 2 to reach a predetermined on-voltage, the switching element 2 is turned on. Further, when the drive voltage Vd applied between the drive signal output terminal T5 and the drive reference potential terminal T6 becomes low and the control voltage Vg becomes a predetermined off voltage lower than the on voltage, the switching element 2 turns off. do.

オフ動作の際、駆動電圧Vdの低下による制御電圧Vgの低下に伴い、主端子T1,T2間の電流(スイッチ電流Ia)が減少すると、スイッチング素子2の主端子T1,T2間に過渡的に過大な電圧(サージ電圧Vs)が生じる恐れがある。サージ電圧Vsを含むスイッチ両端電圧Vaがスイッチング素子2の耐電圧を超えるとスイッチング素子2が損傷してしまう。一方で、このようなスイッチング回路1Aが用いられる電力変換回路を小型化、軽量化するためには、スイッチング回路1Aにおける高周波スイッチングが有効となる。そのため、スイッチング回路1Aは、高周波スイッチングを行うために、高速のスイッチング動作が求められる。その結果、高いサージ電圧Vsが発生し易い状況となる。 During off-operation, when the current between the main terminals T1 and T2 (switch current Ia) decreases due to a decrease in the control voltage Vg due to a decrease in the drive voltage Vd, a transient current occurs between the main terminals T1 and T2 of the switching element 2. An excessive voltage (surge voltage Vs) may occur. If the voltage Va across the switch including the surge voltage Vs exceeds the withstand voltage of the switching element 2, the switching element 2 will be damaged. On the other hand, high frequency switching in the switching circuit 1A is effective in reducing the size and weight of a power conversion circuit in which such a switching circuit 1A is used. Therefore, the switching circuit 1A is required to perform high-speed switching operation in order to perform high-frequency switching. As a result, a situation arises in which a high surge voltage Vs is likely to occur.

このようなサージ電圧Vsが一対の主端子T1,T2間に発生するのを抑制するために、スイッチング回路1Aは、スイッチング素子2の保護回路としてサージ抑制回路4Aを備えている。サージ抑制回路4Aは、抵抗素子5、ダイオード(第1ダイオード)6、キャパシタ7、およびキャパシタ電圧設定回路8を備えている。 In order to suppress generation of such a surge voltage Vs between the pair of main terminals T1 and T2, the switching circuit 1A includes a surge suppression circuit 4A as a protection circuit for the switching element 2. The surge suppression circuit 4A includes a resistance element 5, a diode (first diode) 6, a capacitor 7, and a capacitor voltage setting circuit 8.

抵抗素子5は、第1配線W1上に設けられる。すなわち、抵抗素子5の第1端部は、スイッチング素子2の制御基準電位端子T4に接続され、抵抗素子5の第2端部は、駆動回路3の駆動基準電位端子T6に接続されている。 The resistance element 5 is provided on the first wiring W1. That is, the first end of the resistance element 5 is connected to the control reference potential terminal T4 of the switching element 2, and the second end of the resistance element 5 is connected to the drive reference potential terminal T6 of the drive circuit 3.

ダイオード6およびキャパシタ7は、駆動回路3の駆動基準電位端子T6とスイッチング素子2の低電位側主端子T2とを接続する第2配線W2上に直列に設けられている。ダイオード6は、カソードが駆動基準電位端子T6側に接続され、アノードが低電位側主端子T2側に接続されている。キャパシタ7は、低電位側主端子T2から駆動基準電位端子T6に流れる電流によって充電可能に構成されている。 The diode 6 and the capacitor 7 are provided in series on the second wiring W2 that connects the drive reference potential terminal T6 of the drive circuit 3 and the low potential side main terminal T2 of the switching element 2. The diode 6 has a cathode connected to the drive reference potential terminal T6 side, and an anode connected to the low potential side main terminal T2 side. The capacitor 7 is configured to be chargeable by a current flowing from the low potential side main terminal T2 to the drive reference potential terminal T6.

図1の例では、ダイオード6のカソード側にキャパシタ7が接続されている。すなわち、ダイオード6のアノードに低電位側主端子T2が接続され、ダイオード6のカソードにキャパシタ7の一端部(高電位側)が接続され、キャパシタ7の他端部(低電位側)が駆動基準電位端子T6に接続されている。 In the example of FIG. 1, a capacitor 7 is connected to the cathode side of the diode 6. That is, the low potential side main terminal T2 is connected to the anode of the diode 6, one end (high potential side) of the capacitor 7 is connected to the cathode of the diode 6, and the other end (low potential side) of the capacitor 7 is the drive reference. It is connected to potential terminal T6.

以下に、本実施の形態におけるスイッチング回路1Aのオフ動作を説明する。スイッチング素子2の制御端子T3に印加される制御電圧Vgをスイッチング素子2がオフ状態となる閾値電圧以下に低下させるために、駆動回路3が駆動電圧Vdを低下させ、駆動基準電位端子T6から制御基準電位端子T4に向けて電流(放電電流)Idが流れる。スイッチング素子2の制御端子T3に印加される制御電圧Vgが低下すると、スイッチング素子2の主端子T1,T2間に流れるスイッチ電流Iaが減少し、主端子T1,T2間に過剰な電圧(サージ電圧Vs)が発生する場合がある。このとき、低電位側主端子T2の仮想のコイル2a(寄生インダクタンスLp)に流れる電流が急減するため、寄生インダクタンスLpによって生じる誘導電圧Vが発生し、誘導電圧Vがサージ抑制回路4Aのサージ抑制動作電圧Vo以上となった場合、サージ抑制回路4Aにおいて低電位側主端子T2から駆動基準電位端子T6方向に電流(クランプ電流)Icpが流れる。これにより、第1配線W1上に設けられた抵抗素子5に電圧(抵抗電圧V)が発生し、駆動基準電位端子T6からスイッチング素子2の制御基準電位端子T4に流れる放電電流Idが小さくなる。 The off-operation of the switching circuit 1A in this embodiment will be explained below. In order to lower the control voltage Vg applied to the control terminal T3 of the switching element 2 to below the threshold voltage at which the switching element 2 is turned off, the drive circuit 3 lowers the drive voltage Vd, and the control voltage Vg is applied from the drive reference potential terminal T6. A current (discharge current) Id flows toward the reference potential terminal T4. When the control voltage Vg applied to the control terminal T3 of the switching element 2 decreases, the switch current Ia flowing between the main terminals T1 and T2 of the switching element 2 decreases, causing excessive voltage (surge voltage) between the main terminals T1 and T2. Vs) may occur. At this time, the current flowing through the virtual coil 2a (parasitic inductance Lp) of the low-potential side main terminal T2 suddenly decreases, so that an induced voltage V L is generated due to the parasitic inductance Lp, and the induced voltage V L is caused by the surge suppression circuit 4A. When the surge suppression operating voltage Vo is higher than the surge suppression operating voltage Vo, a current (clamp current) Icp flows from the low potential side main terminal T2 to the drive reference potential terminal T6 in the surge suppression circuit 4A. As a result, a voltage (resistance voltage V R ) is generated in the resistance element 5 provided on the first wiring W1, and the discharge current Id flowing from the drive reference potential terminal T6 to the control reference potential terminal T4 of the switching element 2 becomes smaller. .

このため、駆動回路3における放電の速度が遅くなる。すなわち、スイッチング素子2におけるスイッチング速度(ターンオフ速度)が遅くなり、サージ電圧Vsが抑制される。このとき、寄生インダクタンスLpによって発生する誘導電圧Vは低電圧であり、低い動作電圧でサージ抑制回路4Aを動作させることができるため、サージ電圧Vsの抑制による損失を低減することができる。 Therefore, the speed of discharge in the drive circuit 3 becomes slow. That is, the switching speed (turn-off speed) of the switching element 2 becomes slow, and the surge voltage Vs is suppressed. At this time, the induced voltage VL generated by the parasitic inductance Lp is a low voltage, and the surge suppression circuit 4A can be operated at a low operating voltage, so that losses due to suppression of the surge voltage Vs can be reduced.

ここで、キャパシタ電圧設定回路8は、キャパシタ7に印加される電圧を設定するように構成されている。キャパシタ電圧設定回路8は、キャパシタ7に印加される電圧を能動的、もしくは受動的に変更することで、サージ抑制回路4Aに電流が流れるためのサージ抑制動作電圧Voを設定する。より具体的には、キャパシタ電圧設定回路8は、キャパシタ7に印加される電圧がスイッチング素子2のオン動作時にスイッチング素子2のオフ動作時の電圧VC1より高い所定の電圧VC2となるように、キャパシタ7に印加される電圧を設定する。 Here, the capacitor voltage setting circuit 8 is configured to set the voltage applied to the capacitor 7. The capacitor voltage setting circuit 8 actively or passively changes the voltage applied to the capacitor 7 to set a surge suppression operating voltage Vo for current to flow through the surge suppression circuit 4A. More specifically, the capacitor voltage setting circuit 8 sets the voltage applied to the capacitor 7 to a predetermined voltage V C2 when the switching element 2 is in the ON operation, which is higher than the voltage V C1 when the switching element 2 is in the OFF operation. , sets the voltage applied to the capacitor 7.

スイッチング素子2のオン動作時において、寄生インダクタンスLpに振動的な電流が流れることにより、誘導電圧Vが生じ、誘導電圧Vがサージ抑制回路4Aのサージ抑制動作電圧Vo以上となった場合、サージ抑制回路4Aにクランプ電流Icpが流れ得る。オン動作時にサージ抑制回路4Aにクランプ電流Icpが流れることにより、制御電圧Vgが過大となる恐れがある。 When the switching element 2 is turned on, an oscillatory current flows through the parasitic inductance Lp, and an induced voltage VL is generated, and when the induced voltage VL becomes equal to or higher than the surge suppression operating voltage Vo of the surge suppression circuit 4A, A clamp current Icp may flow through the surge suppression circuit 4A. When the clamp current Icp flows through the surge suppression circuit 4A during the ON operation, the control voltage Vg may become excessive.

そこで、オン動作時にはキャパシタ電圧設定回路8がキャパシタ7に印加される電圧を高くする。キャパシタ7に印加される電圧が高くなると、キャパシタ7に印加される電圧およびダイオード6に印加される電圧の和で示されるサージ抑制動作電圧Voが高くなる。オフ動作時におけるサージ抑制動作電圧をVo1とし、オン動作時におけるサージ抑制動作電圧をVo2とすると、Vo2>Vo1となる。これにより、誘導電圧Vにより抵抗素子5に発生する抵抗電圧Vが小さくなる。 Therefore, during the ON operation, the capacitor voltage setting circuit 8 increases the voltage applied to the capacitor 7. As the voltage applied to the capacitor 7 increases, the surge suppression operating voltage Vo, which is the sum of the voltage applied to the capacitor 7 and the voltage applied to the diode 6, increases. When the surge suppression operating voltage during OFF operation is Vo1 and the surge suppression operating voltage during ON operation is Vo2, Vo2>Vo1. As a result, the resistance voltage V R generated in the resistance element 5 due to the induced voltage V L becomes smaller.

したがって、キャパシタ7に印加される電圧が高くなるスイッチング素子2のオン動作時においては、抵抗素子5に生じる抵抗電圧Vが小さくなり、サージ抑制回路4Aにクランプ電流Icpが流れにくくなる。したがって、スイッチング素子2のオン動作時においてクランプ電流Icpが流れるのを抑制することにより、制御端子T3と制御基準電位端子T4との間に過大な電圧が印加されることを防止することができる。これにより、スイッチング素子2を適切に保護することができる。 Therefore, when the switching element 2 is turned on, where the voltage applied to the capacitor 7 is high, the resistance voltage VR generated in the resistance element 5 becomes small, and the clamp current Icp becomes difficult to flow through the surge suppression circuit 4A. Therefore, by suppressing the clamp current Icp from flowing during the ON operation of the switching element 2, it is possible to prevent excessive voltage from being applied between the control terminal T3 and the control reference potential terminal T4. Thereby, the switching element 2 can be appropriately protected.

なお、キャパシタ電圧設定回路8は、キャパシタ7に印加される電圧がスイッチング素子2のオン動作時にスイッチング素子2のオフ動作時の電圧VC1より高い所定の電圧VC2となるように、キャパシタ7に印加される電圧を設定可能である限り、特に限定されない。 Note that the capacitor voltage setting circuit 8 sets the voltage applied to the capacitor 7 so that the voltage applied to the capacitor 7 becomes a predetermined voltage V C2 which is higher than the voltage V C1 when the switching element 2 is turned off when the switching element 2 is turned on. There is no particular limitation as long as the applied voltage can be set.

図2は、図1に示すスイッチング回路1Aにおいて、キャパシタ電圧設定回路の一例を適用した場合を示す図である。図2の例においては、キャパシタ電圧設定回路の符号を8aとする。図2の例において、キャパシタ電圧設定回路8aは、駆動回路3と同様の構成を備えている。キャパシタ電圧設定回路8aは、駆動信号出力端子T7および駆動基準電位端子T8を有している。駆動信号出力端子T7は、キャパシタ7の高電位側端子に接続され、駆動基準電位端子T8は、キャパシタ7の低電位側端子に接続される。 FIG. 2 is a diagram showing an example of a capacitor voltage setting circuit applied to the switching circuit 1A shown in FIG. In the example of FIG. 2, the capacitor voltage setting circuit is designated by 8a. In the example of FIG. 2, the capacitor voltage setting circuit 8a has the same configuration as the drive circuit 3. Capacitor voltage setting circuit 8a has a drive signal output terminal T7 and a drive reference potential terminal T8. The drive signal output terminal T7 is connected to the high potential side terminal of the capacitor 7, and the drive reference potential terminal T8 is connected to the low potential side terminal of the capacitor 7.

キャパシタ電圧設定回路8aの駆動信号出力端子T7から駆動回路3の駆動信号出力端子T5から出力される駆動信号と同じタイミングで駆動信号が出力される。すなわち、駆動回路3から出力される駆動電圧Vdに基づいてスイッチング素子2に制御電圧Vgとしてオン電圧が印加される間、駆動信号出力端子T7に駆動基準電位端子T8の電位より所定電圧分高い電位を有する駆動信号を出力する。キャパシタ電圧設定回路8aが出力する駆動信号の電圧は、駆動回路3が出力する駆動電圧Vdと同じでもよいし異なっていてもよい。 A drive signal is output from the drive signal output terminal T7 of the capacitor voltage setting circuit 8a at the same timing as the drive signal output from the drive signal output terminal T5 of the drive circuit 3. That is, while the on-voltage is applied as the control voltage Vg to the switching element 2 based on the drive voltage Vd output from the drive circuit 3, the drive signal output terminal T7 has a potential higher by a predetermined voltage than the potential of the drive reference potential terminal T8. outputs a drive signal having the following values. The voltage of the drive signal output by the capacitor voltage setting circuit 8a may be the same as or different from the drive voltage Vd output by the drive circuit 3.

このように、キャパシタ電圧設定回路8aは、駆動回路3がスイッチング素子2をオン動作させるための駆動信号に基づいて、キャパシタ7に所定の電圧を印加するように構成されている。すなわち、スイッチング素子2の駆動信号に基づいてキャパシタ7に印加する電圧が切り替えられるため、新たに信号を生成する必要をなくし、かつ、確実な電圧切替動作を実現することができる。 In this way, the capacitor voltage setting circuit 8a is configured to apply a predetermined voltage to the capacitor 7 based on the drive signal for the drive circuit 3 to turn on the switching element 2. That is, since the voltage applied to the capacitor 7 is switched based on the drive signal of the switching element 2, there is no need to generate a new signal, and a reliable voltage switching operation can be realized.

図3は、図1に示すスイッチング回路1Aにおいて、キャパシタ電圧設定回路の他の例を適用した場合を示す図である。図3の例においては、キャパシタ電圧設定回路の符号を8bとする。図3の例において、キャパシタ電圧設定回路8bは、キャパシタ7に並列に接続されるツェナーダイオード13を含んでいる。 FIG. 3 is a diagram showing a case where another example of the capacitor voltage setting circuit is applied to the switching circuit 1A shown in FIG. 1. In the example of FIG. 3, the capacitor voltage setting circuit is designated by 8b. In the example of FIG. 3, capacitor voltage setting circuit 8b includes a Zener diode 13 connected in parallel to capacitor 7.

ツェナーダイオード13は、カソードがキャパシタ7の低電位側主端子T2側(図3の例ではキャパシタ7とダイオード6との間)に接続され、アノードがキャパシタ7の制御基準電位端子T4側に接続される。さらに、図3の例では、ツェナーダイオード13に抵抗素子14が直列に接続されている。 The Zener diode 13 has a cathode connected to the low potential main terminal T2 side of the capacitor 7 (in the example of FIG. 3, between the capacitor 7 and the diode 6), and an anode connected to the control reference potential terminal T4 side of the capacitor 7. Ru. Furthermore, in the example of FIG. 3, a resistance element 14 is connected in series to the Zener diode 13.

上記構成によれば、サージ抑制動作電圧Voがツェナーダイオード13の降伏電圧Vz3として設定される。オン動作時またはオフ動作時において寄生インダクタンスLpにより生じる誘導電圧Vがサージ抑制動作電圧Voを超えると、サージ抑制回路4Aにクランプ電流Icpが流れる。 According to the above configuration, the surge suppression operating voltage Vo is set as the breakdown voltage Vz3 of the Zener diode 13. When the induced voltage VL generated by the parasitic inductance Lp exceeds the surge suppression operating voltage Vo during ON or OFF operation, a clamp current Icp flows through the surge suppression circuit 4A.

サージ抑制回路4Aにクランプ電流Icpが流れると、キャパシタ7が充電され、サージ抑制回路4Aの動作電圧(サージ抑制動作電圧)Voが上昇する。サージ抑制動作電圧Voが上昇することによりクランプ電流Icpが流れにくくなり、過度なクランプ電流Icpがサージ抑制回路4Aを流れることを抑制することができる。 When the clamp current Icp flows through the surge suppression circuit 4A, the capacitor 7 is charged, and the operating voltage (surge suppression operating voltage) Vo of the surge suppression circuit 4A increases. By increasing the surge suppression operating voltage Vo, it becomes difficult for the clamp current Icp to flow, and it is possible to suppress excessive clamp current Icp from flowing through the surge suppression circuit 4A.

オン動作またはオフ動作が完了し、クランプ電流Icpが流れなくなると、ツェナーダイオード13の経路を通じてキャパシタ7に充電された電荷が放電され、サージ抑制動作電圧Voが元の状態(ツェナーダイオード13の降伏電圧Vz3)に復帰する。したがって、キャパシタ7に印加する電圧を決定するために制御信号を別途生成することなく、キャパシタ7の電圧生成およびリセットを受動的に行うキャパシタ電圧設定回路8bを実現することができる。 When the ON or OFF operation is completed and the clamp current Icp stops flowing, the charge charged in the capacitor 7 is discharged through the path of the Zener diode 13, and the surge suppression operating voltage Vo returns to its original state (breakdown voltage of the Zener diode 13). Vz3). Therefore, the capacitor voltage setting circuit 8b that passively generates and resets the voltage of the capacitor 7 can be realized without separately generating a control signal to determine the voltage applied to the capacitor 7.

スイッチング素子2のオフ動作時において、サージ抑制回路4Aのサージ抑制配線に流れるクランプ電流Icpが増大すると、抵抗素子5に生じる抵抗電圧Vが増大し、制御端子T3と制御基準電位端子T4との間に印加される制御電圧Vgが大きくなる。制御電圧Vgが過大になると、スイッチング素子2がオン動作(誤点呼)してしまう恐れがある。 When the switching element 2 is turned off, when the clamp current Icp flowing through the surge suppression wiring of the surge suppression circuit 4A increases, the resistance voltage VR generated in the resistance element 5 increases, and the voltage between the control terminal T3 and the control reference potential terminal T4 increases. The control voltage Vg applied during this period increases. If the control voltage Vg becomes excessively large, there is a risk that the switching element 2 will turn on (erroneous roll call).

このような問題についても、図3に示すキャパシタ電圧設定回路8bであれば、クランプ電流が流れることにより、サージ抑制動作電圧Voが上昇するため、低電位側主端子T2と制御基準電位端子T4との間の電圧が過大となるのを抑制することができ、誤点呼を防止することができる。 Regarding this problem, if the capacitor voltage setting circuit 8b shown in FIG. It is possible to suppress the voltage between them from becoming excessive, and it is possible to prevent erroneous roll calls.

(実施の形態2)
次に、本開示の実施の形態2について説明する。図4は、本開示の実施の形態2に係るスイッチング回路1Bの概略構成を示す図である。本実施の形態において実施の形態1と同様の構成については同じ符号を付し、説明を省略する。
(Embodiment 2)
Next, a second embodiment of the present disclosure will be described. FIG. 4 is a diagram showing a schematic configuration of a switching circuit 1B according to Embodiment 2 of the present disclosure. In this embodiment, the same components as in Embodiment 1 are designated by the same reference numerals, and the description thereof will be omitted.

本実施の形態におけるスイッチング回路1Bが実施の形態1におけるスイッチング回路1Aと異なる点は、保護回路であるサージ抑制回路4Bが、低電位側主端子T2と制御基準電位端子T4との間に接続されたバイパス回路9を備えていることである。バイパス回路9は、第1配線W1および第2配線W2を含むサージ抑制配線に並列に接続されている。サージ抑制配線には、低電位側主端子T2から制御基準電位端子T4までの間において、ダイオード6、キャパシタ7および抵抗素子5が設けられる。 The difference between the switching circuit 1B in the present embodiment and the switching circuit 1A in the first embodiment is that the surge suppression circuit 4B, which is a protection circuit, is connected between the low potential side main terminal T2 and the control reference potential terminal T4. It is equipped with a bypass circuit 9. The bypass circuit 9 is connected in parallel to surge suppression wiring including the first wiring W1 and the second wiring W2. The surge suppression wiring is provided with a diode 6, a capacitor 7, and a resistance element 5 between the low potential side main terminal T2 and the control reference potential terminal T4.

バイパス回路9は、当該バイパス回路9に電流が流れるためのバイパス回路動作電圧Vpが、キャパシタ電圧設定回路8により設定されるサージ抑制動作電圧Voの範囲(変動範囲)内にあるように構成される。本実施の形態において、オフ動作時におけるサージ抑制動作電圧Vo1、オン動作時におけるサージ抑制動作電圧Vo2およびバイパス回路動作電圧Vpの関係は、Vo1<Vp<Vo2となる。 The bypass circuit 9 is configured such that the bypass circuit operating voltage Vp for current to flow through the bypass circuit 9 is within the range (variation range) of the surge suppression operating voltage Vo set by the capacitor voltage setting circuit 8. . In the present embodiment, the relationship between the surge suppression operating voltage Vo1 during OFF operation, the surge suppression operating voltage Vo2 during ON operation, and the bypass circuit operating voltage Vp is Vo1<Vp<Vo2.

上述したように、サージ抑制回路4Bのサージ抑制配線に流れるクランプ電流Icpが増大すると、制御端子T3と制御基準電位端子T4との間に印加される制御電圧Vgが大きくなる。制御電圧Vgが過大になると、スイッチング素子2がオン動作(誤点呼)してしまう恐れがある。 As described above, when the clamp current Icp flowing through the surge suppression wiring of the surge suppression circuit 4B increases, the control voltage Vg applied between the control terminal T3 and the control reference potential terminal T4 increases. If the control voltage Vg becomes excessively large, there is a risk that the switching element 2 will turn on (erroneous roll call).

そこで、本実施の形態において、スイッチング回路1Bは、クランプ電流Icpが増大した場合にバイパス回路9に電流を流すように構成されている。すなわち、上記構成によれば、サージ抑制回路4Bに流れるクランプ電流Icpが増大し、クランプ電流Icpに伴って低電位側主端子T2と制御基準電位端子T4との間に印加される制御電圧Vgがバイパス回路動作電圧Vpより大きくなると、バイパス回路9に電流(バイパス電流Ib)が流れ、サージ抑制配線に流れるクランプ電流Icpが抑制される。したがって、制御端子T3と制御基準電位端子T4との間に過大な電圧が印加され、スイッチング素子2が誤点呼することを防止することができる。 Therefore, in this embodiment, the switching circuit 1B is configured to allow current to flow through the bypass circuit 9 when the clamp current Icp increases. That is, according to the above configuration, the clamp current Icp flowing through the surge suppression circuit 4B increases, and the control voltage Vg applied between the low potential side main terminal T2 and the control reference potential terminal T4 increases with the clamp current Icp. When it becomes higher than the bypass circuit operating voltage Vp, a current (bypass current Ib) flows through the bypass circuit 9, and the clamp current Icp flowing through the surge suppression wiring is suppressed. Therefore, it is possible to prevent an excessive voltage from being applied between the control terminal T3 and the control reference potential terminal T4, thereby preventing the switching element 2 from performing an erroneous roll call.

さらに、バイパス回路9が設けられることにより、オン動作時に低電位側主端子T2と制御基準電位端子T4との間に過大な電圧が印加された場合においても、バイパス回路9にバイパス電流Ibが流れるため、スイッチング素子2のオン動作時においてクランプ電流Icpが流れるのを抑制することができ、制御端子T3と制御基準電位端子T4との間に過大な電圧が印加されることを防止することができる。 Furthermore, by providing the bypass circuit 9, even if an excessive voltage is applied between the low potential side main terminal T2 and the control reference potential terminal T4 during ON operation, the bypass current Ib flows through the bypass circuit 9. Therefore, it is possible to suppress the clamp current Icp from flowing during the ON operation of the switching element 2, and it is possible to prevent excessive voltage from being applied between the control terminal T3 and the control reference potential terminal T4. .

バイパス回路9は、所定のバイパス回路動作電圧Vp以上の電圧が印加された場合に、低電位側主端子T2および制御基準電位端子T4間にバイパス電流Ibを流す構成であれば特に限定されない。図5は、図4に示すバイパス回路9の一具体例を示す回路図である。例えば、バイパス回路9は、ダイオード(第2ダイオード)11およびツェナーダイオード12が直列接続されるように構成されている。 The bypass circuit 9 is not particularly limited as long as it has a configuration that causes the bypass current Ib to flow between the low potential side main terminal T2 and the control reference potential terminal T4 when a voltage equal to or higher than the predetermined bypass circuit operating voltage Vp is applied. FIG. 5 is a circuit diagram showing a specific example of the bypass circuit 9 shown in FIG. 4. For example, the bypass circuit 9 is configured such that a diode (second diode) 11 and a Zener diode 12 are connected in series.

ダイオード11は、カソードが制御基準電位端子T4側に接続され、アノードが低電位側主端子T2側に接続される。ツェナーダイオード12は、カソードが低電位側主端子T2側に接続され、アノードが制御基準電位端子T4側に接続される。図5の例に示すバイパス回路9においては、ツェナーダイオード12の降伏電圧Vz2およびダイオード11の順方向電圧降下を加算した電圧がバイパス回路動作電圧Vpとなる。なお、図5の例では、ダイオード11のカソードがツェナーダイオード12のカソードに接続されているが、両素子11,12のアノード同士が接続されてもよい。 The diode 11 has a cathode connected to the control reference potential terminal T4 side, and an anode connected to the low potential side main terminal T2 side. The Zener diode 12 has a cathode connected to the low potential side main terminal T2 side, and an anode connected to the control reference potential terminal T4 side. In the bypass circuit 9 shown in the example of FIG. 5, the voltage obtained by adding the breakdown voltage Vz2 of the Zener diode 12 and the forward voltage drop of the diode 11 becomes the bypass circuit operating voltage Vp. In the example of FIG. 5, the cathode of the diode 11 is connected to the cathode of the Zener diode 12, but the anodes of both elements 11 and 12 may be connected to each other.

さらに、本実施の形態において、図3に示すキャパシタ電圧設定回路8bを適用した場合、キャパシタ電圧設定回路8bは、駆動回路3がスイッチング素子2をオン動作させる駆動信号を出力している間、スイッチング素子2の低電位側主端子T2から駆動回路3の駆動基準電位端子T6に流れる電流によって、サージ抑制動作電圧Voがバイパス回路動作電圧Vpより大きい所定の電圧になるまでキャパシタ7を充電するように構成してもよい。 Furthermore, in this embodiment, when the capacitor voltage setting circuit 8b shown in FIG. A current flowing from the low potential side main terminal T2 of the element 2 to the drive reference potential terminal T6 of the drive circuit 3 charges the capacitor 7 until the surge suppression operating voltage Vo reaches a predetermined voltage higher than the bypass circuit operating voltage Vp. may be configured.

これにより、サージ抑制回路4Bに流れるクランプ電流Icpを用いてキャパシタ7が充電されるため、サージ抑制回路4Bのサージ抑制動作電圧Voが上昇する。サージ抑制動作電圧Voが上昇し、バイパス回路動作電圧Vpより大きくなると、バイパス回路9にバイパス電流Ibが流れ、クランプ電流Icpが抑制される。これにより、サージ抑制回路4Bに過度な電流が流れることが防止される。したがって、スイッチング素子2の主端子T1,T2間に過大な電圧が印加されることを防止することができ、スイッチング素子2を適切に保護することができる。 As a result, the capacitor 7 is charged using the clamp current Icp flowing through the surge suppression circuit 4B, so that the surge suppression operating voltage Vo of the surge suppression circuit 4B increases. When the surge suppression operating voltage Vo rises and becomes larger than the bypass circuit operating voltage Vp, the bypass current Ib flows through the bypass circuit 9, and the clamp current Icp is suppressed. This prevents excessive current from flowing through the surge suppression circuit 4B. Therefore, it is possible to prevent excessive voltage from being applied between the main terminals T1 and T2 of the switching element 2, and the switching element 2 can be appropriately protected.

(実施の形態3)
次に、本開示の実施の形態3について説明する。図6は、本開示の実施の形態3に係るスイッチング回路1Cの概略構成を示す図である。本実施の形態において実施の形態2と同様の構成については同じ符号を付し、説明を省略する。
(Embodiment 3)
Next, a third embodiment of the present disclosure will be described. FIG. 6 is a diagram showing a schematic configuration of a switching circuit 1C according to Embodiment 3 of the present disclosure. In this embodiment, the same components as in Embodiment 2 are denoted by the same reference numerals, and the description thereof will be omitted.

本実施の形態におけるスイッチング回路1Cが実施の形態2におけるスイッチング回路1Bと異なる点は、保護回路として、サージ抑制回路4Bにおけるキャパシタ7(およびキャパシタ電圧設定回路8)の代わりに、ツェナーダイオード(第1ツェナーダイオード)10が設けられたサージ抑制回路4Cを備えていることである。 The difference between the switching circuit 1C in this embodiment and the switching circuit 1B in the second embodiment is that a Zener diode (the first The surge suppression circuit 4C is provided with a Zener diode (zener diode) 10.

すなわち、サージ抑制回路4Cは、第1配線W1上に設けられた抵抗素子5と、第2配線W2上に直列に設けられた第1ダイオード6および第1ツェナーダイオード10と、低電位側主端子T2と制御基準電位端子T4との間において、第1配線W1および第2配線W2を含むサージ抑制配線に並列に接続されたバイパス回路9と、を備えている。第1ダイオード6は、カソードが駆動基準電位端子T6側に接続され、アノードが低電位側主端子T2側に接続されている。第1ツェナーダイオード10は、カソードが低電位側主端子T2側に接続され、アノードが制御基準電位端子T4側に接続されている。 That is, the surge suppression circuit 4C includes a resistance element 5 provided on the first wiring W1, a first diode 6 and a first Zener diode 10 provided in series on the second wiring W2, and a low potential side main terminal. A bypass circuit 9 is provided between T2 and the control reference potential terminal T4, which is connected in parallel to the surge suppression wiring including the first wiring W1 and the second wiring W2. The first diode 6 has a cathode connected to the drive reference potential terminal T6 side, and an anode connected to the low potential side main terminal T2 side. The first Zener diode 10 has a cathode connected to the low potential side main terminal T2, and an anode connected to the control reference potential terminal T4.

本実施の形態において、バイパス回路9は、当該バイパス回路9に電流が流れるためのバイパス回路動作電圧Vpが、サージ抑制配線上の抵抗素子5、第1ダイオード6および第1ツェナーダイオード10に電流が流れるためのサージ抑制動作電圧Voより大きいように構成される。 In the present embodiment, the bypass circuit 9 has a bypass circuit operating voltage Vp that allows current to flow through the bypass circuit 9, and a current that flows through the resistive element 5, the first diode 6, and the first Zener diode 10 on the surge suppression wiring. It is configured to be larger than the surge suppression operating voltage Vo for flowing.

本実施の形態においても、実施の形態1と同様に、寄生インダクタンスLpによって生じる誘導電圧Vがサージ抑制回路4Cのサージ抑制動作電圧Vo以上となった場合、サージ抑制回路4Cにクランプ電流Icpが流れる。これにより、第1配線W1上に設けられた抵抗素子5に抵抗電圧Vが発生し、駆動基準電位端子T6からスイッチング素子2の制御基準電位端子T4に流れる放電電流Idが小さくなる。このため、スイッチング素子2におけるスイッチング速度が遅くなり、サージ電圧Vsが抑制される。 In this embodiment, as in the first embodiment, when the induced voltage VL generated by the parasitic inductance Lp becomes equal to or higher than the surge suppression operating voltage Vo of the surge suppression circuit 4C, the clamp current Icp is applied to the surge suppression circuit 4C. flows. As a result, a resistance voltage V R is generated in the resistance element 5 provided on the first wiring W1, and the discharge current Id flowing from the drive reference potential terminal T6 to the control reference potential terminal T4 of the switching element 2 becomes small. Therefore, the switching speed in the switching element 2 is slowed down, and the surge voltage Vs is suppressed.

さらに、実施の形態2と同様に、サージ抑制回路4Cに流れるクランプ電流Icpが増大し、クランプ電流Icpに伴って低電位側主端子T2と制御基準電位端子T4との間に印加される電圧がバイパス回路動作電圧Vpより大きくなると、バイパス回路9にバイパス電流Ibが流れ、クランプ電流Icpが抑制される。したがって、制御端子T3と制御基準電位端子T4との間に過大な電圧が印加されることを防止することができ、スイッチング素子2を適切に保護することができる。 Furthermore, as in the second embodiment, the clamp current Icp flowing through the surge suppression circuit 4C increases, and the voltage applied between the low potential side main terminal T2 and the control reference potential terminal T4 increases with the clamp current Icp. When it becomes higher than the bypass circuit operating voltage Vp, the bypass current Ib flows through the bypass circuit 9, and the clamp current Icp is suppressed. Therefore, it is possible to prevent excessive voltage from being applied between the control terminal T3 and the control reference potential terminal T4, and the switching element 2 can be appropriately protected.

(実施の形態4)
次に、本開示の実施の形態4について説明する。図7は、本開示の実施の形態4に係るスイッチング回路1Dの概略構成を示す図である。本実施の形態において実施の形態1と同様の構成については同じ符号を付し、説明を省略する。
(Embodiment 4)
Next, a fourth embodiment of the present disclosure will be described. FIG. 7 is a diagram showing a schematic configuration of switching circuit 1D according to Embodiment 4 of the present disclosure. In this embodiment, the same components as in Embodiment 1 are designated by the same reference numerals, and the description thereof will be omitted.

本実施の形態におけるスイッチング回路1Dが実施の形態1におけるスイッチング回路1Aと異なる点は、保護回路として、サージ抑制回路4Aにおけるダイオード6およびキャパシタ7が制御端子T3と低電位側主端子T2とを接続するサージ抑制配線W3上に直列に設けられたサージ抑制回路4Dを備えていることである。 The difference between the switching circuit 1D in this embodiment and the switching circuit 1A in the first embodiment is that, as a protection circuit, a diode 6 and a capacitor 7 in the surge suppression circuit 4A connect the control terminal T3 and the low potential side main terminal T2. A surge suppression circuit 4D is provided in series on the surge suppression wiring W3.

すなわち、ダイオード6は、カソードが制御端子T3側に接続され、アノードが低電位側主端子T2側に接続されている。また、キャパシタ7は、低電位側主端子T2から制御端子T3に流れる電流によって充電可能に構成されている。 That is, the diode 6 has a cathode connected to the control terminal T3 side, and an anode connected to the low potential side main terminal T2 side. Further, the capacitor 7 is configured to be chargeable by a current flowing from the low potential side main terminal T2 to the control terminal T3.

本実施の形態において、スイッチ駆動電圧Vdの低下に伴い、スイッチング素子2の制御端子T3に印加される制御電圧Vgが低下すると、スイッチング素子2の主端子T1,T2間に流れるスイッチ電流Iaが減少し、主端子T1,T2間に過剰な電圧(サージ電圧Vs)が発生する場合がある。このとき、低電位側主端子T2の寄生インダクタンスLpに流れる電流が急減するため、寄生インダクタンスLpによって生じる誘導電圧Vが発生し、誘導電圧Vがサージ抑制回路4Dのサージ抑制動作電圧Vo以上となった場合、サージ抑制回路4Dのサージ抑制配線W3において低電位側主端子T2から制御端子T3方向に電流(クランプ電流Icp)が流れる。これにより、スイッチング素子2の制御端子T3に流れる電流により、スイッチング素子2におけるスイッチング速度が遅くなり、サージ電圧Vsが抑制される。このとき、寄生インダクタンスLpにサージ電圧Vsによる電流が流れることにより生じる誘導電圧Vは低電圧であるため、サージ電圧Vsの抑制の際に生じる損失を低減することができる。 In this embodiment, when the control voltage Vg applied to the control terminal T3 of the switching element 2 decreases as the switch drive voltage Vd decreases, the switch current Ia flowing between the main terminals T1 and T2 of the switching element 2 decreases. However, an excessive voltage (surge voltage Vs) may occur between the main terminals T1 and T2. At this time, the current flowing through the parasitic inductance Lp of the low-potential side main terminal T2 suddenly decreases, so an induced voltage V L is generated by the parasitic inductance Lp, and the induced voltage V L exceeds the surge suppression operating voltage Vo of the surge suppression circuit 4D. In this case, a current (clamp current Icp) flows from the low potential side main terminal T2 to the control terminal T3 in the surge suppression wiring W3 of the surge suppression circuit 4D. As a result, the current flowing through the control terminal T3 of the switching element 2 slows down the switching speed of the switching element 2, and suppresses the surge voltage Vs. At this time, since the induced voltage VL generated by the current flowing through the parasitic inductance Lp due to the surge voltage Vs is a low voltage, it is possible to reduce the loss that occurs when suppressing the surge voltage Vs.

さらに、実施の形態1と同様に、オン動作時にはキャパシタ電圧設定回路8がキャパシタ7に印加される電圧を高くする。キャパシタ7に印加される電圧が高くなると、寄生インダクタンスLpに生じる電圧により発生するクランプ電流Icpが流れにくくなる。したがって、スイッチング素子2のオン動作時においてクランプ電流Icpが流れるのを抑制することにより、制御端子T3と低電位側主端子T2との間に過大な電圧が印加されることを防止することができる。これにより、スイッチング素子2を適切に保護することができる。 Furthermore, as in the first embodiment, capacitor voltage setting circuit 8 increases the voltage applied to capacitor 7 during on-operation. When the voltage applied to the capacitor 7 becomes higher, the clamp current Icp generated by the voltage generated in the parasitic inductance Lp becomes difficult to flow. Therefore, by suppressing the clamp current Icp from flowing during the ON operation of the switching element 2, it is possible to prevent excessive voltage from being applied between the control terminal T3 and the low potential side main terminal T2. . Thereby, the switching element 2 can be appropriately protected.

なお、本実施の形態におけるキャパシタ電圧設定回路8として、実施の形態1(図2,3)で説明したキャパシタ電圧設定回路8a,8bの何れをも採用し得る。 Note that as the capacitor voltage setting circuit 8 in this embodiment, either of the capacitor voltage setting circuits 8a and 8b described in Embodiment 1 (FIGS. 2 and 3) can be adopted.

(実施の形態5)
次に、本開示の実施の形態5について説明する。図8は、本開示の実施の形態5に係るスイッチング回路1Eの概略構成を示す図である。本実施の形態において実施の形態4と同様の構成については同じ符号を付し、説明を省略する。
(Embodiment 5)
Next, Embodiment 5 of the present disclosure will be described. FIG. 8 is a diagram showing a schematic configuration of a switching circuit 1E according to Embodiment 5 of the present disclosure. In this embodiment, the same components as in Embodiment 4 are designated by the same reference numerals, and the description thereof will be omitted.

本実施の形態におけるスイッチング回路1Eが実施の形態4におけるスイッチング回路1Dと異なる点は、保護回路であるサージ抑制回路4Eが、低電位側主端子T2と制御基準電位端子T4との間に接続されたバイパス回路9を備えていることである。バイパス回路9は、低電位側主端子T2と制御基準電位端子T4との間を接続する低電位側配線W4に並列に接続されている。バイパス回路9の構成は、実施の形態2と同様である。 The difference between the switching circuit 1E in this embodiment and the switching circuit 1D in the fourth embodiment is that a surge suppression circuit 4E, which is a protection circuit, is connected between the low potential side main terminal T2 and the control reference potential terminal T4. It is equipped with a bypass circuit 9. The bypass circuit 9 is connected in parallel to a low potential side wiring W4 that connects between the low potential side main terminal T2 and the control reference potential terminal T4. The configuration of bypass circuit 9 is similar to that of the second embodiment.

本実施の形態において、サージ抑制回路4Eに流れるクランプ電流Icpが増大し、クランプ電流Icpに伴って低電位側主端子T2と制御端子T3との間に印加される電圧がバイパス回路動作電圧Vpより大きくなると、バイパス回路9に電流(バイパス電流Ib)が流れ、クランプ電流Icpが抑制される。したがって、制御端子T3と低電位側主端子T2との間に過大な電圧が印加されることを防止することができ、スイッチング素子2を適切に保護することができる。 In this embodiment, the clamp current Icp flowing through the surge suppression circuit 4E increases, and the voltage applied between the low potential side main terminal T2 and the control terminal T3 becomes lower than the bypass circuit operating voltage Vp due to the clamp current Icp. When it becomes large, a current (bypass current Ib) flows through the bypass circuit 9, and the clamp current Icp is suppressed. Therefore, it is possible to prevent excessive voltage from being applied between the control terminal T3 and the low potential side main terminal T2, and the switching element 2 can be appropriately protected.

(実施の形態6)
次に、本開示の実施の形態6について説明する。図9は、本開示の実施の形態6に係るスイッチング回路1Fの概略構成を示す図である。本実施の形態において実施の形態5と同様の構成については同じ符号を付し、説明を省略する。
(Embodiment 6)
Next, a sixth embodiment of the present disclosure will be described. FIG. 9 is a diagram showing a schematic configuration of a switching circuit 1F according to Embodiment 6 of the present disclosure. In this embodiment, the same components as in Embodiment 5 are denoted by the same reference numerals, and the description thereof will be omitted.

本実施の形態におけるスイッチング回路1Fが実施の形態5におけるスイッチング回路1Eと異なる点は、保護回路として、サージ抑制回路4Eにおけるキャパシタ7(およびキャパシタ電圧設定回路8)の代わりに、ツェナーダイオード(第1ツェナーダイオード)10が設けられたサージ抑制回路4Fを備えていることである。 The difference between the switching circuit 1F in this embodiment and the switching circuit 1E in the fifth embodiment is that, as a protection circuit, a Zener diode (first The surge suppression circuit 4F is provided with a Zener diode (zener diode) 10.

すなわち、サージ抑制回路4Fは、サージ抑制配線W3上に直列に設けられた第1ダイオード6および第1ツェナーダイオード10と、低電位側主端子T2と制御基準電位端子T4との間において、低電位側配線W4に並列に接続されたバイパス回路9と、を備えている。第1ダイオード6は、カソードが駆動基準電位端子T6側に接続され、アノードが低電位側主端子T2側に接続されている。第1ツェナーダイオード10は、カソードが低電位側主端子T2側に接続され、アノードが制御基準電位端子T4側に接続されている。 That is, the surge suppression circuit 4F maintains a low potential between the first diode 6 and the first Zener diode 10 provided in series on the surge suppression wiring W3, the low potential side main terminal T2, and the control reference potential terminal T4. A bypass circuit 9 is connected in parallel to the side wiring W4. The first diode 6 has a cathode connected to the drive reference potential terminal T6 side, and an anode connected to the low potential side main terminal T2 side. The first Zener diode 10 has a cathode connected to the low potential side main terminal T2, and an anode connected to the control reference potential terminal T4.

本実施の形態において、バイパス回路9は、当該バイパス回路9に電流が流れるためのバイパス回路動作電圧Vpが、サージ抑制配線上の抵抗素子5、第1ダイオード6および第1ツェナーダイオード10に電流が流れるためのサージ抑制動作電圧Voより大きいように構成される。 In the present embodiment, the bypass circuit 9 has a bypass circuit operating voltage Vp that allows current to flow through the bypass circuit 9, and a current that flows through the resistive element 5, the first diode 6, and the first Zener diode 10 on the surge suppression wiring. It is configured to be larger than the surge suppression operating voltage Vo for flowing.

本実施の形態においても、実施の形態4と同様に、寄生インダクタンスLpによって生じる誘導電圧Vがサージ抑制回路4Fのサージ抑制動作電圧Vo以上となった場合、サージ抑制回路4Fにクランプ電流Icpが流れる。これにより、スイッチング素子2の制御端子T3に流れる電流により、スイッチング素子2におけるスイッチング速度が遅くなり、サージ電圧Vsが抑制される。 In this embodiment, as in the fourth embodiment, when the induced voltage VL generated by the parasitic inductance Lp becomes equal to or higher than the surge suppression operating voltage Vo of the surge suppression circuit 4F, the clamp current Icp is applied to the surge suppression circuit 4F. flows. As a result, the current flowing through the control terminal T3 of the switching element 2 slows down the switching speed of the switching element 2, and suppresses the surge voltage Vs.

さらに、実施の形態5と同様に、サージ抑制回路4Fに流れるクランプ電流Icpが増大し、クランプ電流Icpに伴って低電位側主端子T2と制御端子T3との間に印加される電圧がバイパス回路動作電圧Vpより大きくなると、バイパス回路9にバイパス電流Ibが流れ、クランプ電流Icpが抑制される。したがって、制御端子T3と低電位側主端子T2との間に過大な電圧が印加されることを防止することができ、スイッチング素子2を適切に保護することができる。 Further, as in the fifth embodiment, the clamp current Icp flowing through the surge suppression circuit 4F increases, and the voltage applied between the low potential side main terminal T2 and the control terminal T3 increases with the clamp current Icp to the bypass circuit. When it becomes higher than the operating voltage Vp, a bypass current Ib flows through the bypass circuit 9, and the clamp current Icp is suppressed. Therefore, it is possible to prevent excessive voltage from being applied between the control terminal T3 and the low potential side main terminal T2, and the switching element 2 can be appropriately protected.

[シミュレーション結果]
図10は、実施の形態1の保護回路におけるサージ抑制動作のシミュレーション結果を示すグラフである。図10に示すグラフは、上から順に、寄生インダクタンスLpによって生じる誘導電圧V、クランプ電流Icp、抵抗電圧V、放電電流Idおよびスイッチ両端電圧Vaのオフ動作時における時間的変化を示すグラフである。
[simulation result]
FIG. 10 is a graph showing the simulation results of the surge suppression operation in the protection circuit of the first embodiment. The graph shown in FIG. 10 is a graph showing, from top to bottom, temporal changes in induced voltage V L caused by parasitic inductance Lp, clamp current Icp, resistance voltage V R , discharge current Id, and voltage Va across the switch during off-operation. be.

図10の放電電流Idのグラフに示されるように、オフ動作が開始されると、駆動回路3における駆動電圧の放電に伴う放電電流Idが第1配線W1上を、駆動基準電位端子T6から制御基準電位端子T4に向けて流れる。この放電電流Idは、駆動電圧が放電に伴い降下するため、時間経過に伴って徐々に小さくなる。 As shown in the graph of the discharge current Id in FIG. 10, when the off-operation is started, the discharge current Id accompanying the discharge of the drive voltage in the drive circuit 3 is controlled from the drive reference potential terminal T6 on the first wiring W1. It flows toward the reference potential terminal T4. This discharge current Id gradually decreases over time because the drive voltage drops with discharge.

この放電電流Idが抵抗素子5に流れることにより、抵抗素子5には抵抗電圧Vが発生する。図10の抵抗電圧Vのグラフに示されるように、放電電流Idの低下に伴って抵抗電圧Vも時間経過に伴って徐々に小さくなる。 When this discharge current Id flows through the resistance element 5, a resistance voltage VR is generated in the resistance element 5. As shown in the graph of the resistance voltage VR in FIG. 10, the resistance voltage VR also gradually decreases over time as the discharge current Id decreases.

一方、図10のスイッチ両端電圧Vaのグラフに示されるように、スイッチング素子2のオフ動作に伴い、主端子T1,T2間にサージ電圧Vsが発生している。特に、図10のグラフでは、時刻t1および時刻t2において比較的大きな電圧が発生している。ターンオフ時のスイッチ電流Iaの変化に伴い、図10の誘導電圧Vのグラフに示されるように、寄生インダクタンスLpによる誘導電圧Vが発生している。 On the other hand, as shown in the graph of the voltage Va across the switch in FIG. 10, as the switching element 2 turns off, a surge voltage Vs is generated between the main terminals T1 and T2. In particular, in the graph of FIG. 10, relatively large voltages are generated at time t1 and time t2. As the switch current Ia changes during turn-off, an induced voltage V L is generated due to the parasitic inductance Lp, as shown in the graph of the induced voltage V L in FIG. 10 .

図10のクランプ電流Icpのグラフに示されるように、時刻t1,t2におけるサージ電圧Vsの発生とともに生じる誘導電圧Vがサージ抑制回路4Aのサージ抑制動作電圧Vo以上となることで、クランプ電流Icpが発生している。このクランプ電流Icpにより抵抗電圧Vが時刻t1,t2において一時的に持ち上げられる。この結果、駆動回路3の放電が抑制され、放電電流Idが小さくなる。 As shown in the graph of the clamp current Icp in FIG. 10, the induced voltage VL generated with the generation of the surge voltage Vs at times t1 and t2 becomes equal to or higher than the surge suppression operating voltage Vo of the surge suppression circuit 4A, so that the clamp current Icp is occurring. This clamp current Icp temporarily raises the resistance voltage VR at times t1 and t2. As a result, the discharge of the drive circuit 3 is suppressed, and the discharge current Id becomes small.

駆動回路3の放電が抑制されることにより、スイッチング素子2におけるスイッチング速度(ターンオフ速度)が遅くなり、その後のサージ電圧Vsの発生が抑制される。図10のスイッチ両端電圧Vaのグラフにおける実施例は、サージ抑制回路4Aを備えた実施の形態1のスイッチング回路1Aを示し、比較例は、サージ抑制回路4Aを備えていないスイッチング回路におけるスイッチ両端電圧Vaを示している。このグラフにおける実施例と比較例との対比から、スイッチング素子2に上記サージ抑制回路4Aを設けることにより、サージ電圧Vsの発生が抑制されていることが示される。 By suppressing the discharge of the drive circuit 3, the switching speed (turn-off speed) in the switching element 2 is slowed down, and subsequent generation of the surge voltage Vs is suppressed. The example in the graph of the voltage Va across the switch in FIG. 10 shows the switching circuit 1A of the first embodiment equipped with the surge suppression circuit 4A, and the comparative example shows the voltage across the switch in a switching circuit not equipped with the surge suppression circuit 4A. It shows Va. A comparison between the example and the comparative example in this graph shows that the provision of the surge suppression circuit 4A in the switching element 2 suppresses the generation of the surge voltage Vs.

図11は、実施の形態2のスイッチング回路1Bにおけるオフ動作時にバイパス回路9が機能し、誤点呼が抑制されたシミュレーション結果を示すグラフである。図11に示すグラフは、上から順に、スイッチ駆動電圧Vd、スイッチ電流Ia、誘導電圧V、クランプ電流Icp、バイパス電流Ibおよびスイッチ両端電圧Vaのオフ動作時における時間的変化を示すグラフである。 FIG. 11 is a graph showing simulation results in which the bypass circuit 9 functions during the off-operation in the switching circuit 1B of the second embodiment, and erroneous call calls are suppressed. The graph shown in FIG. 11 is a graph showing, from top to bottom, temporal changes in switch drive voltage Vd, switch current Ia, induced voltage V L , clamp current Icp, bypass current Ib, and switch voltage Va during off-operation. .

図11のスイッチ駆動電圧Vdのグラフに示されるように、オフ動作の開始によって駆動電圧Vdは時間経過とともに低下する。駆動電圧Vdの低下に伴ってスイッチ電流Iaも低下する。これらに対応して、スイッチ両端電圧Vaは急上昇する。このときに、主端子T1,T2間にはサージ電圧Vsが生じ得る。例えば特許文献1のような、コンデンサとツェナーダイオードとで構成された従来のサージ抑制回路においては、実施の形態2のようなバイパス回路9が存在しないため、オフ動作時に誤点呼が発生し、図11のスイッチ両端電圧Vaのグラフにおける破線の波形(比較例の波形)に示されるように、スイッチ両端電圧Vaの波形は、振動的となる場合がある。 As shown in the graph of the switch drive voltage Vd in FIG. 11, the drive voltage Vd decreases over time due to the start of the off-operation. As drive voltage Vd decreases, switch current Ia also decreases. Corresponding to these, the voltage Va across the switch rapidly increases. At this time, a surge voltage Vs may occur between the main terminals T1 and T2. For example, in a conventional surge suppression circuit configured with a capacitor and a Zener diode as in Patent Document 1, there is no bypass circuit 9 as in Embodiment 2, so an erroneous call occurs during off-operation. As shown in the broken line waveform (waveform of the comparative example) in the graph of the voltage Va across the switch in No. 11, the waveform of the voltage Va across the switch may be oscillatory.

これに対し、本実施の形態では、サージ電圧Vsの発生に伴って寄生インダクタンスLpによって生じる誘導電圧Vがサージ抑制動作電圧Vo(オフ動作時におけるサージ抑制動作電圧Vo1)以上となった場合、図11のクランプ電流Icpのグラフに示されるように、サージ抑制回路4Bにクランプ電流Icpが流れる。これにより、スイッチング素子2のターンオフ速度が遅くなり、図11のスイッチ両端電圧Vaのグラフにおける実線の波形(実施例の波形)に示されるように、サージ電圧Vsが抑えられる。 In contrast, in the present embodiment, when the induced voltage VL generated by the parasitic inductance Lp due to the generation of the surge voltage Vs becomes equal to or higher than the surge suppression operating voltage Vo (the surge suppression operating voltage Vo1 during off-operation), As shown in the graph of clamp current Icp in FIG. 11, clamp current Icp flows through the surge suppression circuit 4B. As a result, the turn-off speed of the switching element 2 is slowed down, and the surge voltage Vs is suppressed, as shown by the solid line waveform (waveform of the example) in the graph of the voltage Va across the switch in FIG.

さらに、図11のバイパス電流Ibのグラフに示されるように、例えば時刻t3等において、誘導電圧Vがバイパス回路動作電圧Vpを超えるとバイパス回路9にバイパス電流Ibが流れる。これにより、図11のクランプ電流Icpのグラフに示されるように、クランプ電流Icpが過大になるのが抑えられる。その結果、誤点呼が抑えられ、スイッチング素子2が適切に保護される。 Furthermore, as shown in the graph of the bypass current Ib in FIG. 11, when the induced voltage VL exceeds the bypass circuit operating voltage Vp at, for example, time t3, the bypass current Ib flows through the bypass circuit 9. This prevents the clamp current Icp from becoming excessive, as shown in the graph of the clamp current Icp in FIG. As a result, erroneous roll calls are suppressed and the switching element 2 is appropriately protected.

図12は、実施の形態2のスイッチング回路1Bにおけるオン動作時のシミュレーション結果を示すグラフである。図12に示すグラフは、上から順に、スイッチ駆動電圧Vd、スイッチ電流Ia、誘導電圧V、クランプ電流Icp、バイパス電流Ibおよびスイッチ両端電圧Vaのオフ動作時における時間的変化を示すグラフである。 FIG. 12 is a graph showing simulation results during on-operation in the switching circuit 1B of the second embodiment. The graph shown in FIG. 12 is a graph showing, from top to bottom, temporal changes in switch drive voltage Vd, switch current Ia, induced voltage V L , clamp current Icp, bypass current Ib, and switch voltage Va during off-operation. .

図12のスイッチ駆動電圧Vdのグラフに示されるように、時刻t4におけるオン動作の開始によって駆動電圧Vdは時間経過とともに上昇する。駆動電圧Vdの上昇の際、図12の誘導電圧Vのグラフに示されるように、サージ抑制動作電圧がオフ動作時の電圧Vo1からそれより高い電圧Vo2に切り替えられる。 As shown in the graph of the switch drive voltage Vd in FIG. 12, the drive voltage Vd increases over time due to the start of the on operation at time t4. When the drive voltage Vd increases, as shown in the graph of the induced voltage VL in FIG. 12, the surge suppression operating voltage is switched from the voltage Vo1 during the OFF operation to a higher voltage Vo2.

図12のスイッチ電流Iaのグラフに示されるように、駆動電圧Vdの上昇に伴ってスイッチ電流Iaも上昇する。これらに対応して、図12のスイッチ両端電圧Vaのグラフに示されるように、スイッチ両端電圧Vaは急激に下降する。図12の誘導電圧Vのグラフに示されるように、このようなスイッチ両端電圧Vaの急変に伴ってスイッチング素子2の寄生インダクタンスLpによって誘導電圧Vが発生する。 As shown in the graph of the switch current Ia in FIG. 12, the switch current Ia also increases as the drive voltage Vd increases. Correspondingly, as shown in the graph of the voltage Va across the switch in FIG. 12, the voltage Va across the switch rapidly decreases. As shown in the graph of the induced voltage V L in FIG. 12, an induced voltage V L is generated by the parasitic inductance Lp of the switching element 2 with such a sudden change in the voltage Va across the switch.

しかし、このような誘導電圧Vによってオフ動作時と同様のクランプ電流Icpがサージ抑制回路4Bに流れると、スイッチ駆動電圧Vdが過大になってしまい、それに伴ってスイッチング素子2に印加される制御電圧Vgがスイッチング素子2の耐電圧を超えることによりスイッチング素子2が損傷してしまう恐れがある。 However, if a clamp current Icp similar to that during off-operation flows through the surge suppression circuit 4B due to such an induced voltage VL , the switch drive voltage Vd becomes excessive, and the control applied to the switching element 2 accordingly becomes excessive. If the voltage Vg exceeds the withstand voltage of the switching element 2, the switching element 2 may be damaged.

これに対し、本実施の形態では、キャパシタ電圧設定回路8によりオン動作時におけるサージ抑制動作電圧Voがオフ動作時の電圧Vo1より高い電圧Vo2に切り替えられている。このため、図12のクランプ電流Icpのグラフに示されるように、誘導電圧Vが発生してもその誘導電圧Vは、サージ抑制動作電圧Vo2未満となり、クランプ電流Icpが発生しない。 On the other hand, in the present embodiment, the capacitor voltage setting circuit 8 switches the surge suppression operating voltage Vo during the ON operation to a voltage Vo2 higher than the voltage Vo1 during the OFF operation. Therefore, as shown in the graph of the clamp current Icp in FIG. 12, even if the induced voltage V L is generated, the induced voltage V L is less than the surge suppression operating voltage Vo2, and the clamp current Icp is not generated.

また、本例においては、バイパス回路動作電圧Vpがオン動作時におけるサージ抑制動作電圧Vo2よりも低い電圧に設定されている。このため、図12の誘導電圧Vのグラフに示されるように、時刻t5において誘導電圧Vがバイパス回路動作電圧Vpを超えている。これにより、図12のバイパス電流Ibのグラフに示されるように、バイパス電流Ibが発生している。 Further, in this example, the bypass circuit operating voltage Vp is set to a voltage lower than the surge suppression operating voltage Vo2 during the ON operation. Therefore, as shown in the graph of the induced voltage V L in FIG. 12, the induced voltage V L exceeds the bypass circuit operating voltage Vp at time t5. As a result, bypass current Ib is generated, as shown in the graph of bypass current Ib in FIG.

このように、比較的に大きい誘導電圧Vが生じても、クランプ電流Icpが流れる前に、バイパス回路9にバイパス電流Ibが流れる。これにより、オン動作時においては、クランプ電流Icpを極力流さないようにすることができ、スイッチ駆動電圧Vdが過大になるのを防止することができる。 In this way, even if a relatively large induced voltage VL occurs, bypass current Ib flows through bypass circuit 9 before clamp current Icp flows. Thereby, during the ON operation, it is possible to prevent the clamp current Icp from flowing as much as possible, and it is possible to prevent the switch drive voltage Vd from becoming excessive.

以上のように、図10~図12のグラフによれば、本開示の各実施の形態において、サージ電圧Vsの抑制を低損失で実現することができ、しかも、スイッチング素子2をより適切に保護することができることが示されている。なお、図10~図12においては、実施の形態1における保護回路または実施の形態2における保護回路についてのシミュレーション結果を示したが、他の実施の形態においても、同様の作用を奏する構成を有する限り、同様のシミュレーション結果が得られると推察される。 As described above, according to the graphs of FIGS. 10 to 12, in each embodiment of the present disclosure, it is possible to suppress the surge voltage Vs with low loss, and moreover, protect the switching element 2 more appropriately. It has been shown that it can be done. Note that although FIGS. 10 to 12 show simulation results for the protection circuit in the first embodiment or the protection circuit in the second embodiment, other embodiments also have configurations that exhibit similar effects. It is presumed that similar simulation results can be obtained.

(他の実施の形態)
以上、本発明の実施の形態について説明したが、本発明は上記実施の形態に限定されるものではなく、その趣旨を逸脱しない範囲内で種々の改良、変更、修正が可能である。
(Other embodiments)
Although the embodiments of the present invention have been described above, the present invention is not limited to the above embodiments, and various improvements, changes, and modifications can be made without departing from the spirit thereof.

例えば、上記各実施の形態においては、スイッチング素子2として、4端子構造を有するn型MOSFETを用いた例を示したが、本開示の構成は、p型MOSFET等の他のFET素子、IGBT等のバイポーラトランジスタ素子等、他の種類のスイッチング素子2にも適用可能である。 For example, in each of the above embodiments, an example is shown in which an n-type MOSFET having a four-terminal structure is used as the switching element 2, but the configuration of the present disclosure can be applied to other FET elements such as a p-type MOSFET, IGBT, etc. It is also applicable to other types of switching elements 2, such as bipolar transistor elements.

本開示は、スイッチング回路において、サージ電圧の抑制を低損失で実現することができ、しかも、スイッチング素子をより適切に保護するために有用である。 INDUSTRIAL APPLICABILITY The present disclosure can suppress surge voltage with low loss in a switching circuit, and is useful for more appropriately protecting switching elements.

1A~1F スイッチング回路
2 スイッチング素子
3 駆動回路
4A~4F サージ抑制回路(保護回路)
5 抵抗素子
6 ダイオード(第1ダイオード)
7 キャパシタ
8,8a,8b キャパシタ電圧設定回路
9 バイパス回路
10 ツェナーダイオード(第1ツェナーダイオード)
11 ダイオード(第2ダイオード)
12 ツェナーダイオード(第2ツェナーダイオード)
13 ツェナーダイオード(第3ツェナーダイオード)
T1 高電位側主端子(一対の主端子)
T2 低電位側主端子(一対の主端子)
T3 制御端子
T4 制御基準電位端子
T5 駆動信号出力端子
T6 駆動基準電位端子
W1 第1配線
W2 第2配線
W3 サージ抑制配線
1A to 1F Switching circuit 2 Switching element 3 Drive circuit 4A to 4F Surge suppression circuit (protection circuit)
5 Resistance element 6 Diode (first diode)
7 Capacitor 8, 8a, 8b Capacitor voltage setting circuit 9 Bypass circuit 10 Zener diode (first Zener diode)
11 Diode (second diode)
12 Zener diode (second Zener diode)
13 Zener diode (third Zener diode)
T1 High potential side main terminal (pair of main terminals)
T2 Low potential side main terminal (pair of main terminals)
T3 Control terminal T4 Control reference potential terminal T5 Drive signal output terminal T6 Drive reference potential terminal W1 First wiring W2 Second wiring W3 Surge suppression wiring

Claims (10)

一対の主端子と、制御端子とを有するスイッチング素子と、
前記制御端子に駆動電圧を印加することにより前記スイッチング素子を駆動する駆動回路と、
前記一対の主端子間にサージ電圧が生じるのを抑制するサージ抑制回路と、を備え、
前記駆動回路は、駆動信号出力端子および駆動基準電位端子を有し、
前記駆動信号出力端子は、前記スイッチング素子の前記制御端子に接続され、
前記駆動基準電位端子は、前記スイッチング素子の低電位側主端子とは別に前記スイッチング素子の低電位側に設けられる制御基準電位端子に第1配線を介して接続され、
前記サージ抑制回路は、
前記第1配線上に設けられた抵抗素子と、
前記駆動基準電位端子と前記低電位側主端子とを接続する第2配線上に直列に設けられたダイオードおよびキャパシタと、
前記キャパシタに印加される電圧を設定するキャパシタ電圧設定回路と、を備え、
前記ダイオードは、カソードが前記駆動基準電位端子側に接続され、アノードが前記低電位側主端子側に接続され、
前記キャパシタ電圧設定回路は、前記キャパシタに印加される電圧を能動的、もしくは受動的に変更することで、前記サージ抑制回路に電流が流れるためのサージ抑制動作電圧を設定する、スイッチング回路。
a switching element having a pair of main terminals and a control terminal;
a drive circuit that drives the switching element by applying a drive voltage to the control terminal;
a surge suppression circuit that suppresses generation of surge voltage between the pair of main terminals;
The drive circuit has a drive signal output terminal and a drive reference potential terminal,
The drive signal output terminal is connected to the control terminal of the switching element,
The drive reference potential terminal is connected to a control reference potential terminal provided on the low potential side of the switching element separately from the low potential side main terminal of the switching element via a first wiring,
The surge suppression circuit includes:
a resistance element provided on the first wiring;
a diode and a capacitor provided in series on a second wiring connecting the drive reference potential terminal and the low potential side main terminal;
a capacitor voltage setting circuit that sets the voltage applied to the capacitor;
The diode has a cathode connected to the drive reference potential terminal side, an anode connected to the low potential side main terminal side,
The capacitor voltage setting circuit is a switching circuit that actively or passively changes the voltage applied to the capacitor to set a surge suppression operating voltage for current to flow through the surge suppression circuit.
前記サージ抑制回路は、前記低電位側主端子と前記制御基準電位端子との間において、前記第1配線および前記第2配線を含むサージ抑制配線に並列に接続されたバイパス回路を備え、
前記バイパス回路は、当該バイパス回路に電流が流れるためのバイパス回路動作電圧が、前記キャパシタ電圧設定回路により設定されるサージ抑制動作電圧の範囲内にあるように構成される、請求項1に記載のスイッチング回路。
The surge suppression circuit includes a bypass circuit connected in parallel to surge suppression wiring including the first wiring and the second wiring between the low potential side main terminal and the control reference potential terminal,
The bypass circuit according to claim 1, wherein the bypass circuit is configured such that a bypass circuit operating voltage for allowing a current to flow through the bypass circuit is within a range of a surge suppression operating voltage set by the capacitor voltage setting circuit. switching circuit.
一対の主端子と、制御端子とを有するスイッチング素子と、
前記制御端子に駆動電圧を印加することにより前記スイッチング素子を駆動する駆動回路と、
前記一対の主端子間にサージ電圧が生じるのを抑制するサージ抑制回路と、を備え、
前記駆動回路の駆動信号出力端子は、前記スイッチング素子の前記制御端子に接続され、
前記サージ抑制回路は、
前記制御端子と前記スイッチング素子の低電位側主端子とを接続するサージ抑制配線上に直列に設けられたダイオードおよびキャパシタと、
前記キャパシタに印加される電圧を設定するキャパシタ電圧設定回路と、を備え、
前記ダイオードは、カソードが前記制御端子側に接続され、アノードが前記低電位側主端子側に接続され、
前記キャパシタ電圧設定回路は、前記キャパシタに印加される電圧を能動的、もしくは受動的に変更することで、前記サージ抑制回路に電流が流れるためのサージ抑制動作電圧を設定する、スイッチング回路。
a switching element having a pair of main terminals and a control terminal;
a drive circuit that drives the switching element by applying a drive voltage to the control terminal;
a surge suppression circuit that suppresses generation of surge voltage between the pair of main terminals;
A drive signal output terminal of the drive circuit is connected to the control terminal of the switching element,
The surge suppression circuit includes:
a diode and a capacitor provided in series on a surge suppression wiring connecting the control terminal and the low potential side main terminal of the switching element ;
a capacitor voltage setting circuit that sets the voltage applied to the capacitor;
The diode has a cathode connected to the control terminal side, an anode connected to the low potential main terminal side,
The capacitor voltage setting circuit is a switching circuit that actively or passively changes the voltage applied to the capacitor to set a surge suppression operating voltage for current to flow through the surge suppression circuit.
前記駆動回路の駆動基準電位端子は、前記スイッチング素子の低電位側主端子とは別に前記スイッチング素子の低電位側に設けられる制御基準電位端子に第1配線を介して接続され、
前記サージ抑制回路は、前記低電位側主端子と前記制御基準電位端子との間を接続する低電位側配線に並列に接続されたバイパス回路を備え、
前記バイパス回路は、当該バイパス回路に電流が流れるためのバイパス回路動作電圧が、前記キャパシタ電圧設定回路により設定されるサージ抑制動作電圧の範囲内にあるように構成される、請求項3に記載のスイッチング回路。
The drive reference potential terminal of the drive circuit is connected to a control reference potential terminal provided on the low potential side of the switching element separately from the low potential side main terminal of the switching element via a first wiring,
The surge suppression circuit includes a bypass circuit connected in parallel to a low potential side wiring connecting between the low potential side main terminal and the control reference potential terminal,
4. The bypass circuit according to claim 3, wherein the bypass circuit is configured such that a bypass circuit operating voltage for allowing a current to flow through the bypass circuit is within a range of a surge suppression operating voltage set by the capacitor voltage setting circuit. switching circuit.
前記キャパシタ電圧設定回路は、前記キャパシタに印加される電圧が前記スイッチング素子のオン動作時に前記スイッチング素子のオフ動作時より高い所定の電圧となるように、前記キャパシタに印加される電圧を設定する、請求項1から4の何れかに記載のスイッチング回路。 The capacitor voltage setting circuit sets the voltage applied to the capacitor so that the voltage applied to the capacitor becomes a predetermined voltage higher when the switching element is turned on than when the switching element is turned off. A switching circuit according to any one of claims 1 to 4. 前記キャパシタ電圧設定回路は、前記駆動回路が前記スイッチング素子をオン動作させるため駆動信号に基づいて、前記キャパシタ所定の電圧を印加するように構成されている、請求項1から5の何れかに記載のスイッチング回路。 6. The capacitor voltage setting circuit according to claim 1, wherein the drive circuit applies a predetermined voltage to the capacitor based on a drive signal for turning on the switching element. Switching circuit described in . 前記駆動回路の駆動基準電位端子は、前記スイッチング素子の低電位側主端子とは別に前記スイッチング素子の低電位側に設けられる制御基準電位端子に第1配線を介して接続され、
前記キャパシタ電圧設定回路は、前記キャパシタに並列に接続されるツェナーダイオードを含み、
前記ツェナーダイオードは、カソードが前記キャパシタの低電位側主端子側に接続され、アノードが前記キャパシタの前記制御基準電位端子側に接続される、請求項1から5の何れかに記載のスイッチング回路。
The drive reference potential terminal of the drive circuit is connected to a control reference potential terminal provided on the low potential side of the switching element separately from the low potential side main terminal of the switching element via a first wiring,
The capacitor voltage setting circuit includes a Zener diode connected in parallel to the capacitor,
6. The switching circuit according to claim 1, wherein the Zener diode has a cathode connected to the low potential main terminal side of the capacitor, and an anode connected to the control reference potential terminal side of the capacitor.
前記キャパシタ電圧設定回路は、前記駆動回路が前記スイッチング素子をオン動作させ駆動信号を出力している間、前記低電位側主端子から前記駆動基準電位端子に流れる電流によって、前記サージ抑制動作電圧が前記バイパス回路動作電圧より大き所定の電圧になるまで前記キャパシタを充電するように構成されている、請求項2または4に記載のスイッチング回路。 The capacitor voltage setting circuit adjusts the surge suppression operating voltage by a current flowing from the low potential side main terminal to the drive reference potential terminal while the drive circuit outputs a drive signal that turns on the switching element. 5. The switching circuit according to claim 2, wherein the switching circuit is configured to charge the capacitor until it reaches a predetermined voltage greater than the bypass circuit operating voltage. 一対の主端子と、制御端子とを有するスイッチング素子と、
前記制御端子に駆動電圧を印加することにより前記スイッチング素子を駆動する駆動回路と、
前記一対の主端子間にサージ電圧が生じるのを抑制するサージ抑制回路と、を備え、
前記駆動回路は、駆動信号出力端子および駆動基準電位端子を有し、
前記駆動信号出力端子は、前記スイッチング素子の前記制御端子に接続され、
前記駆動基準電位端子は、前記スイッチング素子の低電位側主端子とは別に前記スイッチング素子の低電位側に設けられる制御基準電位端子に第1配線を介して接続され、
前記サージ抑制回路は、
前記第1配線上に設けられた抵抗素子と、
前記駆動基準電位端子と前記低電位側主端子とを接続する第2配線上に直列に設けられた第1ダイオードおよび第1ツェナーダイオードと、
前記低電位側主端子と前記制御基準電位端子との間において、前記第1配線および前記第2配線を含むサージ抑制配線に並列に接続されたバイパス回路と、を備え、
前記第1ダイオードは、カソードが前記駆動基準電位端子側に接続され、アノードが前記低電位側主端子側に接続され、
前記第1ツェナーダイオードは、カソードが前記低電位側主端子側に接続され、アノードが前記制御基準電位端子側に接続され、
前記バイパス回路は、当該バイパス回路に電流が流れるためのバイパス回路動作電圧が、前記サージ抑制配線上の前記抵抗素子、前記第1ダイオードおよび前記第1ツェナーダイオードに電流が流れるためのサージ抑制動作電圧より大きいように構成される、スイッチング回路。
a switching element having a pair of main terminals and a control terminal;
a drive circuit that drives the switching element by applying a drive voltage to the control terminal;
a surge suppression circuit that suppresses generation of surge voltage between the pair of main terminals;
The drive circuit has a drive signal output terminal and a drive reference potential terminal,
The drive signal output terminal is connected to the control terminal of the switching element,
The drive reference potential terminal is connected to a control reference potential terminal provided on the low potential side of the switching element separately from the low potential side main terminal of the switching element via a first wiring,
The surge suppression circuit includes:
a resistance element provided on the first wiring;
a first diode and a first Zener diode provided in series on a second wiring connecting the drive reference potential terminal and the low potential side main terminal;
a bypass circuit connected in parallel to surge suppression wiring including the first wiring and the second wiring between the low potential side main terminal and the control reference potential terminal;
The first diode has a cathode connected to the drive reference potential terminal side, an anode connected to the low potential side main terminal side,
The first Zener diode has a cathode connected to the low potential side main terminal side, an anode connected to the control reference potential terminal side,
In the bypass circuit, a bypass circuit operating voltage for allowing a current to flow through the bypass circuit is a surge suppressing operating voltage for allowing a current to flow through the resistive element on the surge suppression wiring, the first diode, and the first Zener diode. A switching circuit configured to be larger.
一対の主端子と、制御端子とを有するスイッチング素子と、
前記制御端子に駆動電圧を印加することにより前記スイッチング素子を駆動する駆動回路と、
前記一対の主端子間にサージ電圧が生じるのを抑制するサージ抑制回路と、を備え、
前記駆動回路は、駆動信号出力端子および駆動基準電位端子を有し、
前記駆動信号出力端子は、前記スイッチング素子の前記制御端子に接続され、
前記駆動基準電位端子は、前記スイッチング素子の低電位側主端子とは別に前記スイッチング素子の低電位側に設けられる制御基準電位端子に第1配線を介して接続され、
前記サージ抑制回路は、
前記制御端子と前記低電位側主端子とを接続する第2配線上に直列に設けられた第1ダイオードおよび第1ツェナーダイオードと、
前記低電位側主端子と前記制御基準電位端子との間を接続する低電位側配線に並列に接続されたバイパス回路と、を備え、
前記第1ダイオードは、カソードが前記制御端子側に接続され、アノードが前記低電位側主端子側に接続され、
前記第1ツェナーダイオードは、カソードが前記低電位側主端子側に接続され、アノードが前記制御端子側に接続され、
前記バイパス回路は、当該バイパス回路に電流が流れるためのバイパス回路動作電圧が、前記第2配線上の前記第1ダイオードおよび前記第1ツェナーダイオードに電流が流れるためのサージ抑制動作電圧より大きいように構成され
前記バイパス回路は、第2ダイオードおよび第2ツェナーダイオードが直列接続されるように構成されており、
前記第2ダイオードは、カソードが前記制御基準電位端子側に接続され、アノードが前記低電位側主端子側に接続され、
前記第2ツェナーダイオードは、カソードが前記低電位側主端子側に接続され、アノードが前記制御基準電位端子側に接続される、スイッチング回路。
a switching element having a pair of main terminals and a control terminal;
a drive circuit that drives the switching element by applying a drive voltage to the control terminal;
a surge suppression circuit that suppresses generation of surge voltage between the pair of main terminals;
The drive circuit has a drive signal output terminal and a drive reference potential terminal,
The drive signal output terminal is connected to the control terminal of the switching element,
The drive reference potential terminal is connected to a control reference potential terminal provided on the low potential side of the switching element separately from the low potential side main terminal of the switching element via a first wiring,
The surge suppression circuit includes:
a first diode and a first Zener diode provided in series on a second wiring connecting the control terminal and the low potential side main terminal;
a bypass circuit connected in parallel to a low potential side wiring connecting between the low potential side main terminal and the control reference potential terminal,
The first diode has a cathode connected to the control terminal side, an anode connected to the low potential main terminal side,
The first Zener diode has a cathode connected to the low potential main terminal side, an anode connected to the control terminal side,
The bypass circuit is configured such that a bypass circuit operating voltage for allowing current to flow through the bypass circuit is higher than a surge suppression operating voltage for allowing current to flow through the first diode and the first Zener diode on the second wiring. configured ,
The bypass circuit is configured such that a second diode and a second Zener diode are connected in series,
The second diode has a cathode connected to the control reference potential terminal side, an anode connected to the low potential side main terminal side,
A switching circuit in which the second Zener diode has a cathode connected to the low potential side main terminal side and an anode connected to the control reference potential terminal side.
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