JP7395428B2 - ダスト放射線モニタおよびダスト放射線計測方法 - Google Patents

Description

本発明の実施形態は、ダスト放射線モニタおよびダスト放射線計測方法に関する。

放射線管理区域内における作業を行うにあたっては、作業エリアの空気に含まれる放射性物質の濃度（単位体積当たりの放射能。以下、「ダスト濃度」とも呼ぶ。）を測定し、当該エリアの安全監視を常時行うことが必須である。これを達成する装置としてダスト放射線モニタがある。ダスト濃度の測定においては、サンプリング点から測定装置まで配管を敷設し、ポンプにより吸引した気体をろ紙で集塵し、ろ紙対面に配置する放射線検出器にてろ紙から放出される放射線を検知し、そこから出力されるパルス状の電気信号を計数し、それを基にダスト濃度を算出する方式が一般的である。

しかし、たとえば建物や機器の解体を進めている作業エリアにおいては、作業の中で多量の粉塵等が舞い上がり、高濃度の放射性物質が含まれる気体を一時的に、もしくは一定時間吸引することがあり得る。この時、放射線検出器は頻繁に放射線を検知するため、放射線検出器から出力される各々のパルス状の電気信号が頻発し重畳することにより正しい計数が困難となることが想定される。つまり計測機器としての測定上限を超えるような高いダスト濃度となる場合においては、測定機器が飽和状態となり監視が困難となることが懸念されており、その解決策が求められている。

一方、放射線計測システムにおいて、放射線量が低い場合には放射線計数率に基づいて放射線量を評価し、放射線量が高い場合には所定時間内の平均電流に基づいて放射線量を評価する技術が知られている。

特開昭６１－６２８８６号公報 特開２００３－３５７７９号公報

しかし、ダスト濃度が大幅に変化した場合に、ダスト濃度を低濃度領域から高濃度領域までの広い測定レンジにわたって、途切れなく連続的に測定する技術は知られていない。

本発明の実施形態は、ダスト濃度が大幅に変化した場合であっても、広い測定レンジにわたって、途切れなく連続的にダスト放射線を測定することができるようにすることを目的とする。

本発明の実施形態に係るダスト放射線モニタは、ダストを含むガスを流通させる集塵容器と、前記集塵容器に取り付けられて、前記ダストを捕集して前記ガスを透過させるフィルタと、前記フィルタで捕集された前記ダストから出る放射線を検出して電気信号を出力する放射線検出器と、前記放射線検出器の出力に基づいて放射線の計数率を算出する計数処理回路と、前記放射線検出器の出力の所定時間内の平均電流を算出する平均電流処理部と、前記計数処理回路で得られた前記計数率と、前記平均電流処理部で得られた平均電流と、に基づいて、前記ガス中のダスト濃度を算出する濃度演算部と、を有するダスト放射線モニタであって、前記濃度演算部は、前記計数率と前記ガス中のダスト濃度とが比例すると仮定して、前記計数率に基づいて前記ガス中のダスト濃度に対応する計数率濃度を算出する計数率濃度演算部と、前記平均電流と前記ガス中のダスト濃度とが比例すると仮定して、前記平均電流に基づいて前記ガス中のダスト濃度に対応する平均電流濃度を算出する平均電流濃度演算部と、前記計数率濃度演算部の出力が所定の低濃度基準値よりも高く、かつ前記平均電流濃度演算部の出力が前記低濃度基準値よりも高い所定の高濃度基準値よりも低い場合に、前記計数率濃度と前記平均電流濃度との加重平均を算出する加重平均算出部と、を備え、前記加重平均は、前記計数率濃度が前記低濃度基準値に近いほど前記計数率濃度への加重率が大きく、前記平均電流濃度が前記高濃度基準値に近いほど前記平均電流濃度への加重率が大きくなるように加重するものであって、前記計数率濃度への加重率は、前記計数率濃度が前記低濃度基準値に等しいときに１であり、前記平均電流濃度が前記高濃度基準値に等しいときにゼロであること、を特徴とする。

また、本発明の実施形態に係るダスト放射線計測方法は、ダストを含むガスをフィルタに透過させて前記ダストを捕集するダスト捕集ステップと、前記フィルタで捕集された前記ダストから出る放射線を放射線検出器によって検出して電気信号を出力する放射線検出ステップと、前記放射線検出器の出力に基づいて放射線の計数率を算出する計数処理ステップと、前記放射線検出器の出力の所定時間内の平均電流を算出する平均電流算出ステップと、前記計数率と前記ガス中のダスト濃度とが比例すると仮定して、前記計数率に基づいて、前記ガス中のダスト濃度に対応する計数率濃度を算出する計数率濃度演算ステップと、前記平均電流と前記ガス中のダスト濃度とが比例すると仮定して、前記平均電流に基づいて、前記ガス中のダスト濃度に対応する平均電流濃度を算出する平均電流濃度演算ステップと、前記計数率濃度が所定の低濃度基準値よりも高く、かつ前記平均電流濃度が前記低濃度基準値よりも高い所定の高濃度基準値よりも低い場合に、前記計数率濃度と前記平均電流濃度との加重平均を算出する加重平均算出ステップと、を備えたダスト放射線計測方法であって、前記加重平均は、前記計数率濃度が前記低濃度基準値に近いほど前記計数率濃度への加重率が大きく、前記平均電流濃度が前記高濃度基準値に近いほど前記平均電流濃度への加重率が大きくなるように加重するものであって、前記計数率濃度への加重率は、前記計数率濃度が前記低濃度基準値に等しいときに１とし、前記平均電流濃度が前記高濃度基準値に等しいときにゼロとし、前記計数率濃度が前記低濃度基準値以下である場合には前記計数率濃度を前記ガス中のダスト濃度とし、前記平均電流濃度が前記高濃度基準値以上である場合には前記平均電流濃度を前記ガス中のダスト濃度とし、前記計数率濃度が前記低濃度基準値よりも高く、かつ、前記平均電流濃度が前記高濃度基準値よりも低い場合には、前記加重平均を前記ガス中のダスト濃度とすること、を特徴とする。

本発明の実施形態によれば、ダスト濃度が大幅に変化した場合であっても、広い測定レンジにわたって、途切れなく連続的にダスト放射線を測定することができる。

本発明に係るダスト放射線モニタの一実施形態の構成を示すブロック図。 図１のダスト放射線モニタを用いたダスト放射線測定方法の一実施形態の手順を示すフロー図。 本発明に係るダスト放射線モニタの一実施形態におけるダスト濃度算出の手法を説明するための図であって、横軸は真のダクト濃度であり、縦軸はダスト濃度指示値である。 図１のダスト放射線モニタを用いたダスト放射線測定方法の一実施形態において、低濃度基準値、高濃度基準値および加重率関係式を決定する手順を示すフロー図。

以下に、図面を参照して本発明の一実施形態に係るダスト放射線モニタおよびダスト放射線計測方法について説明する。

図１は、本発明に係るダスト放射線モニタの一実施形態の構成を示すブロック図である。このダスト放射線モニタは、集塵容器１２と、吸引ポンプ１３と、ろ紙（フィルタ）１４と、放射線検出器１５と、増幅回路１６と、計数処理回路１７と、平均電流処理部１８と、濃度演算部１９とを有する。

集塵容器１２にはガス導入管２１およびガス排出管２２が接続され、ガス排出管２２に吸引ポンプ１３が取り付けられている。ろ紙１４は、集塵容器１２に取り付けられている。測定対象であるダスト（塵埃）を含むガス（たとえば空気）１１は、ガス導入管２１から集塵容器１２に導入され、ろ紙１４を透過して、吸引ポンプ１３によって吸引され、ガス排出管２２から排出される。ガス１１中に含まれたダストは、ろ紙１４によって捕集される。ろ紙１４は、微細な孔を無数に有し、紙もしくは樹脂の材質で構成されるものである。集塵容器１２には、図示しないろ紙巻取り装置が取り付けられていて、所定時間（たとえば、数分ないし数時間）に放射線検出が終了するごとに新たなろ紙１４の部分がガス１１中に曝されるように構成されている。

放射線検出器１５は、ろ紙１４によって捕集されたダストから発せられる放射線を電気信号に変換するものであって、放射線（たとえばβ線）を検知して発光するシンチレータ２５と、光を受光するとそれに応じた電気信号を出力する光電子増倍管２６とを有する。放射線検出器１５に放射線２４が入射するとシンチレータ２５がわずかな蛍光を発生する。シンチレータ２５から発せられた光が光電子増倍管２６に入射して光電子が生成され、電子数が数百～数万倍の数に増幅され、光電子増倍管２６よりパルス状の電気信号として出力される。放射線検出器１５は筐体が閉構造となっており、外部からの光は入らないように構成されている。

増幅回路１６は、ケーブル３０によって放射線検出器１５に接続されていて、光電子増倍管２６から出力される電気信号を増幅するものである。

計数処理回路１７は、増幅回路１６の出力に基づいて、設定された閾値以下の信号を除去する波高弁別処理を行い、単位時間当たりの電気信号の数を計数して、計数率（単位時間当たりパルス数）を算出する。

平均電流処理部１８は、増幅回路１６の出力である電気信号の所定時間内の平均である平均電流値を算出する。

濃度演算部１９は、計数処理回路１７の出力および平均電流処理部１８の出力に基づいてダスト濃度を出力するものであって、計数率濃度演算部３３と、平均電流濃度演算部３４と、加重平均演算部３５と、出力選択部３６とを有している。

計数率濃度演算部３３は、計数処理回路１７の出力である計数率Ｒに対して換算係数を乗じることによってダスト濃度を算出する。ダスト濃度を算出するための演算は、たとえば下記の式（１）による。式（１）において、Ｃはダスト濃度、Ｒは計数率、ηは検出器固有の検出効率、Ｑはろ紙１４を通過したガスの流量の平均値、ｔは集塵経過時間、Ｄはろ紙１４固有の捕集効率である。この式（１）を用いる場合は、換算係数は、Ｄ・η／（Ｑ・ｔ）である。なお、（Ｑ・ｔ）は塵埃経過時間内にフィルタ１４を透過したガスの体積である。

Ｃ＝Ｄ・η・Ｒ／（Ｑ・ｔ） ・・・ （１）
計数率濃度演算部３３によって得られたダスト濃度を、ここでは「計数率濃度」と呼ぶ。ダスト濃度が比較的低い場合に、計数率濃度がダクト濃度として使用される。

平均電流濃度演算部３４では、平均電流処理部１８の出力に、係数を乗ずることにより、ダスト濃度を求める。この係数は平均電流と計数率の関係性を示すものであり、予め得られているものとする。平均電流濃度演算部３４によって得られたダスト濃度を、ここでは「平均電流濃度」と呼ぶ。ダスト濃度が比較的高い場合に、平均電流濃度がダクト濃度として使用される。

計数率濃度演算部３３の出力および平均電流濃度演算部３４の出力は、ともに、加重平均演算部３５および出力選択部３６に入力される。加重平均演算部３５は、計数率濃度が所定の低濃度基準値よりも高く平均電流濃度が所定の高濃度基準値よりも低い場合に、計数率濃度と平均電流濃度の加重平均を計算して、その結果を出力選択部３６に出力する。高濃度基準値は低濃度基準値よりも高い。高濃度基準値、低濃度基準値および加重平均の計算方法については、図３および図４を用いて後述する。

出力選択部３６は、計数率濃度が低濃度基準値以下のときは計数率濃度をダクト濃度として出力し、平均電流濃度が高濃度基準値以上のときは平均電流濃度をダクト濃度として出力し、計数率濃度が低濃度基準値より高く平均電流濃度が高濃度基準値より低いときは加重平均演算部３５の出力をダクト濃度として出力する。

図２は、図１のダスト放射線モニタを用いたダスト放射線測定方法の一実施形態の手順を示すフロー図である。

まず、ダストを含むガス１１をフィルタ１４に透過させてダストを捕集する（ダスト捕集ステップＳ１１）。つぎに、フィルタ１４で捕集されたダストから出る放射線を放射線検出器１５によって検出して電気信号を出力する（放射線検出ステップＳ１２）。

つぎに、計数処理回路１７が、放射線検出器１５の出力に基づいて放射線の計数率を算出する（計数処理ステップＳ１３）。また、平均電流処理部１８が、放射線検出器１５の出力の所定時間内の平均電流を算出する（平均電流算出ステップＳ１４）。

つぎに、計数率濃度演算部３３が、計数率とガス中のダスト濃度とが比例すると仮定して、計数率とガスの体積とに基づいて、ガス中のダスト濃度に対応する計数率濃度を算出する（計数率濃度演算ステップＳ１５）。また、平均電流濃度演算部３４が、平均電流とガス中のダスト濃度とが比例すると仮定して、平均電流とガスの体積とに基づいて、ガス中のダスト濃度に対応する平均電流濃度を算出する（平均電流濃度演算ステップＳ１６）。

つぎに、計数率濃度が所定の低濃度基準値よりも高く、かつ平均電流濃度が低濃度基準値よりも高い所定の高濃度基準値よりも低い場合に、加重平均演算部３５が、計数率濃度と平均電流濃度との加重平均を算出する（加重平均算出ステップＳ１７）。

つぎに、出力選択部３６が、計数率濃度、平均電流濃度および加重平均のうちの一つを選択してガス中のダスト濃度として出力する（濃度計測結果出力ステップＳ１８）。ここで、計数率濃度が低濃度基準値以下である場合には計数率濃度をガス中のダスト濃度として選択し、平均電流濃度が高濃度基準値以上である場合には平均電流濃度をガス中のダスト濃度として選択する。また、計数率濃度が低濃度基準値よりも高く、かつ、平均電流濃度が高濃度基準値よりも低い場合には、加重平均をガス中のダスト濃度として選択する。

ここで、計数率濃度と平均電流濃度とを用いて広範囲のダスト濃度を求める方法について、図３を用いて説明する。

図３は、本発明に係るダスト放射線モニタの一実施形態におけるダスト濃度算出の手法を説明するための図であって、横軸は真のダクト濃度であり、縦軸はダスト濃度指示値である。

計数処理回路１７による計数率濃度は比較的低計数率において高い精度を持ち、また平均電流処理部１８による平均電流濃度は比較的高計数率において高い精度を持つ。計数処理回路１７は、高計数率、つまり多量の放射性物質がろ紙１４に集塵される場合においては、パルス状の電気信号の頻度が非常に高くなり、各々の電気信号が重畳することにより正確な計数が困難となり精度が低下する。また、平均電流処理部１８は、比較的低計数率において、パルス状の電気信号により平均化を行うことから精度が低い。

図３に示すように、計数処理回路１７による計数率濃度の指示値Ｃ１は、真のダスト濃度が低濃度基準値ＣＬ以下の比較的低い場合は、真のダスト濃度に一致する。そのため、真のダスト濃度が低濃度基準値ＣＬ以下の比較的低い場合は、計数率濃度の指示値Ｃ１を真のダスト濃度とすることができる。真のダスト濃度が低濃度基準値ＣＬを超えると、計数率濃度の指示値Ｃ１は真のダスト濃度よりも低い値を示す。

平均電流処理部１８による平均電流濃度の指示値Ｃ２は、真のダスト濃度が高濃度基準値ＣＨ以上の比較的高い場合は、真のダスト濃度に一致する。そのため、真のダスト濃度が高濃度基準値ＣＨ以上の比較的高い場合は、計数率濃度の指示値Ｃ２を真のダスト濃度とすることができる。真のダスト濃度が高濃度基準値ＣＨを下回ると、計数率濃度の指示値Ｃ２は真のダスト濃度よりも高い値を示す。

ＣＬ～ＣＨの中間領域については、下記の式（２）により、計数処理による計数率濃度の指示値Ｃ１と平均電流による平均電流濃度の指示値Ｃ２の加重平均を計算し、この加重平均をダスト濃度とする。

Ｃ＝ｋ・Ｃ１＋（１－ｋ）・Ｃ２ ・・・ （２）
ここで、ｋは、計数率濃度への加重率であって、計数率濃度の指示値Ｃ１および平均電流濃度の指示値Ｃ２の関数であり、ゼロから１の値である。平均電流濃度への加重率は（１－ｋ）となる。計数率濃度の指示値Ｃ１が低濃度基準値ＣＬに等しい場合はｋ＝１であり、平均電流濃度の指示値Ｃ２が高濃度基準値ＣＨに等しい場合はｋ＝０である。ＣＬ～ＣＨの中間領域において、計数率濃度への加重率ｋは、計数率濃度の指示値Ｃ１が大きいほど、また、平均電流濃度の指示値Ｃ２が大きいほど、小さくなる。

つぎに、上記の処理を行うために必要となる低濃度基準値、高濃度基準値および加重率関係式を決定する手順について、図４を用いて説明する。図４は、図１のダスト放射線モニタを用いたダスト放射線測定方法の一実施形態において、低濃度基準値、高濃度基準値および加重率関係式を決定する手順を示すフロー図である。

これらの値および関係式を決定するに当たっては、はじめに、図１に示すダスト放射線モニタを用いて、さらに、少なくとも３種類以上の既知のダスト濃度のガスそれぞれについて、ダスト捕集ステップＳ１１と放射線検出ステップＳ１２と計数処理ステップＳ１３と（図２参照）を行う。これによって、計数率とダスト濃度との関係を求める（計数率ダスト濃度関係取得ステップＳ５１）。これにより、図３の計数処理によるダスト濃度指示値Ｃ１の曲線を得ることができる。

同様に、図１に示すダスト放射線モニタを用いて、さらに、少なくとも３種類以上の既知のダスト濃度のガスそれぞれについて、ダスト捕集ステップＳ１１と放射線検出ステップＳ１２と平均電流算出ステップＳ１４と（図２参照）を行う。これによって、平均電流とダスト濃度との関係を求める（平均電流ダスト濃度関係取得ステップＳ５２）。これにより、図３の平均電流によるダスト濃度指示値Ｃ２の曲線を得ることができる。

なお、上述の計数率ダスト濃度関係取得ステップＳ５１において用いる既知のダスト濃度のガスと、平均電流ダスト濃度関係取得ステップＳ５２において用いる既知のダスト濃度のガスとは、一部または全部で共通のものであってもよい。また、既知のダスト濃度のガスが共通である場合においては、計数率ダスト濃度関係取得ステップＳ５１および平均電流ダスト濃度関係取得ステップＳ５２におけるダスト捕集ステップＳ１１および放射線検出ステップＳ１２は、それぞれ共通のステップとすることができる。

つぎに、図３の計数処理によるダスト濃度指示値Ｃ１の曲線が、傾き１で原点を通る直線からずれ始める点として、低濃度基準値ＣＬを求める（低濃度基準値決定ステップＳ５３）。計数処理によるダスト濃度指示値Ｃ１の曲線は、低濃度基準値ＣＬ以下の領域で傾き１で原点を通る直線となっている。

同様に、図３の平均電流による濃度指示値Ｃ２の曲線が、傾き１で原点を通る直線からずれ始める点として、高濃度基準値ＣＨを求める（高濃度基準値決定ステップＳ５４）。平均電流による濃度指示値Ｃ２の曲線は、高濃度基準値ＣＨ以上の領域で傾き１で原点を通る直線となっている。

つぎに、図３で、真のダスト濃度が低濃度基準値ＣＬと高濃度基準値ＣＨの間にある領域（中間領域）で、式（２）を満足させる加重率ｋの式を決定する（加重率関係式決定ステップＳ５５）。

ここで、加重率ｋは、計数処理によるダスト濃度指示値Ｃ１と平均電流による濃度指示値Ｃ２の関数であり、図３の真のダスト濃度Ｃと、計数処理によるダスト濃度指示値Ｃ１の曲線および平均電流による濃度指示値Ｃ２の曲線の関係から、その関係式を決定することができる。

以上説明した実施形態によれば、ダスト濃度が大幅に変化した場合であっても、広い測定レンジにわたって、途切れなく連続的にダスト放射線を測定することができる。

以上説明したダスト放射線モニタの実施形態において、計数処理回路１７、平均電流処理部１８および濃度演算部１９は、電子回路などのハードウェアで実現することもできるが、その一部または全部を電子計算機のソフトウェアによって実現することもできる。

［その他の実施形態］
本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれると同様に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれるものである。

１１…ガス（空気）、 １２…集塵容器、 １３…吸引ポンプ、 １４…ろ紙（フィルタ）、 １５…放射線検出器、 １６…増幅回路、 １７…計数処理回路、 １８…平均電流処理部、 １９…濃度演算部、 ２１…ガス導入管、 ２２…ガス排出管、 ２４…放射線、 ２５…シンチレータ、 ２６…光電子増倍管、 ３０…ケーブル、 ３３…計数率濃度演算部、 ３４…平均電流濃度演算部、 ３５…加重平均演算部、 ３６…出力選択部

Claims (4)

1. ダストを含むガスを流通させる集塵容器と、
   前記集塵容器に取り付けられて、前記ダストを捕集して前記ガスを透過させるフィルタと、
   前記フィルタで捕集された前記ダストから出る放射線を検出して電気信号を出力する放射線検出器と、
   前記放射線検出器の出力に基づいて放射線の計数率を算出する計数処理回路と、
   前記放射線検出器の出力の所定時間内の平均電流を算出する平均電流処理部と、
   前記計数処理回路で得られた前記計数率と、前記平均電流処理部で得られた平均電流と、に基づいて、前記ガス中のダスト濃度を算出する濃度演算部と、
   を有するダスト放射線モニタであって、
   前記濃度演算部は、
   前記計数率と前記ガス中のダスト濃度とが比例すると仮定して、前記計数率に基づいて前記ガス中のダスト濃度に対応する計数率濃度を算出する計数率濃度演算部と、
   前記平均電流と前記ガス中のダスト濃度とが比例すると仮定して、前記平均電流に基づいて前記ガス中のダスト濃度に対応する平均電流濃度を算出する平均電流濃度演算部と、
   前記計数率濃度演算部の出力が所定の低濃度基準値よりも高く、かつ前記平均電流濃度演算部の出力が前記低濃度基準値よりも高い所定の高濃度基準値よりも低い場合に、前記計数率濃度と前記平均電流濃度との加重平均を算出する加重平均算出部と、
   を備え、
   前記加重平均は、前記計数率濃度が前記低濃度基準値に近いほど前記計数率濃度への加重率が大きく、前記平均電流濃度が前記高濃度基準値に近いほど前記平均電流濃度への加重率が大きくなるように加重するものであって、前記計数率濃度への加重率は、前記計数率濃度が前記低濃度基準値に等しいときに１であり、前記平均電流濃度が前記高濃度基準値に等しいときにゼロであること、
   を特徴とするダスト放射線モニタ。
2. 前記計数率濃度が前記低濃度基準値以下である場合には前記計数率濃度を前記ガス中のダスト濃度として出力し、
   前記平均電流濃度が前記高濃度基準値以上である場合には前記平均電流濃度を前記ガス中のダスト濃度として出力し、
   前記計数率濃度が前記低濃度基準値よりも高く、かつ、前記平均電流濃度が前記高濃度基準値よりも低い場合には、前記加重平均を前記ガス中のダスト濃度として出力するように構成されていること、
   を特徴とする請求項１に記載のダスト放射線モニタ。
3. ダストを含むガスをフィルタに透過させて前記ダストを捕集するダスト捕集ステップと、
   前記フィルタで捕集された前記ダストから出る放射線を放射線検出器によって検出して電気信号を出力する放射線検出ステップと、
   前記放射線検出器の出力に基づいて放射線の計数率を算出する計数処理ステップと、
   前記放射線検出器の出力の所定時間内の平均電流を算出する平均電流算出ステップと、
   前記計数率と前記ガス中のダスト濃度とが比例すると仮定して、前記計数率に基づいて、前記ガス中のダスト濃度に対応する計数率濃度を算出する計数率濃度演算ステップと、
   前記平均電流と前記ガス中のダスト濃度とが比例すると仮定して、前記平均電流に基づいて、前記ガス中のダスト濃度に対応する平均電流濃度を算出する平均電流濃度演算ステップと、
   前記計数率濃度が所定の低濃度基準値よりも高く、かつ前記平均電流濃度が前記低濃度基準値よりも高い所定の高濃度基準値よりも低い場合に、前記計数率濃度と前記平均電流濃度との加重平均を算出する加重平均算出ステップと、
   を備えたダスト放射線計測方法であって、
   前記加重平均は、前記計数率濃度が前記低濃度基準値に近いほど前記計数率濃度への加重率が大きく、前記平均電流濃度が前記高濃度基準値に近いほど前記平均電流濃度への加重率が大きくなるように加重するものであって、前記計数率濃度への加重率は、前記計数率濃度が前記低濃度基準値に等しいときに１とし、前記平均電流濃度が前記高濃度基準値に等しいときにゼロとし、
   前記計数率濃度が前記低濃度基準値以下である場合には前記計数率濃度を前記ガス中のダスト濃度とし、
   前記平均電流濃度が前記高濃度基準値以上である場合には前記平均電流濃度を前記ガス中のダスト濃度とし、
   前記計数率濃度が前記低濃度基準値よりも高く、かつ、前記平均電流濃度が前記高濃度基準値よりも低い場合には、前記加重平均を前記ガス中のダスト濃度とすること、
   を特徴とするダスト放射線計測方法。
4. 少なくとも３種類の既知のダスト濃度のガスそれぞれについて、前記ダスト捕集ステップと前記放射線検出ステップと前記計数処理ステップとを行うことによって、前記計数率と前記ダスト濃度との関係を求める計数率ダスト濃度関係取得ステップと、
   少なくとも３種類の既知のダスト濃度のガスそれぞれについて、前記ダスト捕集ステップと前記放射線検出ステップと前記平均電流算出ステップとを行うことによって、前記平均電流と前記ダスト濃度との関係を求める平均電流ダスト濃度関係取得ステップと、
   前記計数率と前記ダスト濃度との関係および前記平均電流と前記ダスト濃度との関係に基づいて、前記低濃度基準値および前記高濃度基準値を決定する基準値決定ステップと、
   前記計数率と前記ダスト濃度との関係および前記平均電流と前記ダスト濃度との関係に基づいて、前記計数率および前記平均電流の関数として前記加重率を求める加重率関係式を決定する加重率関係式決定ステップと、
   をさらに有することを特徴とする請求項３に記載のダスト放射線計測方法。

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