JP7401232B2 - Non-destructive testing equipment - Google Patents
Non-destructive testing equipment Download PDFInfo
- Publication number
- JP7401232B2 JP7401232B2 JP2019173845A JP2019173845A JP7401232B2 JP 7401232 B2 JP7401232 B2 JP 7401232B2 JP 2019173845 A JP2019173845 A JP 2019173845A JP 2019173845 A JP2019173845 A JP 2019173845A JP 7401232 B2 JP7401232 B2 JP 7401232B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- inspected
- carry
- radiation
- inspection
- inspection table
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/04—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B15/00—Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Description
本発明の実施形態は、非破壊検査装置に関する。 Embodiments of the present invention relate to non-destructive testing equipment.
X線で代表される放射線を被検査物に照射し、被検査物を透過することで減弱した放射線の二次元分布を検出して画像化することで、被検査物の非破壊検査を行う非破壊検査装置が知られている。被検査物は、例えば、リチウムイオンポリマー電池である。リチウムイオンポリマー電池は、その内部に平面状の正極板と負極板が積層する構造を有している。 A non-destructive inspection method that performs non-destructive inspection of the inspected object by irradiating the inspected object with radiation, typically X-rays, and detecting the two-dimensional distribution of the attenuated radiation as it passes through the inspected object and creating an image. Destructive inspection devices are known. The object to be inspected is, for example, a lithium ion polymer battery. A lithium ion polymer battery has a structure in which a flat positive electrode plate and a negative electrode plate are stacked inside.
この積層にズレがあると、すなわち、正極板が負極板よりはみ出していると、はみ出した正極板にリチウムが析出してショートし、発火するおそれがある。そのため、リチウムイオンポリマー電池の内部における正極板と負極板の位置ズレを検査する必要がある。この検査が、非破壊検査装置によって行われている。 If there is a misalignment in this lamination, that is, if the positive electrode plate protrudes from the negative electrode plate, there is a risk that lithium will be deposited on the protruding positive electrode plate, causing a short circuit and causing a fire. Therefore, it is necessary to inspect the positional deviation between the positive electrode plate and the negative electrode plate inside the lithium ion polymer battery. This inspection is performed using a non-destructive inspection device.
検査の正確さを向上させるためには、被検査物の4つの角のうち、少なくとも2つを撮像することが望ましい。そのために、例えば、1つの角に放射線ビームを照射した後、被検査物を水平面に沿って回転させ、さらに別の角に放射線ビームを照射し、2つの角を撮像している。 In order to improve inspection accuracy, it is desirable to image at least two of the four corners of the object to be inspected. For this purpose, for example, after irradiating one corner with a radiation beam, the object to be inspected is rotated along a horizontal plane, and another corner is irradiated with a radiation beam, and the two corners are imaged.
しかしながら、このような検査装置では、1つの被検査物を検査するために、撮像、回転、撮像、という3つの工程が必要となり、検査に時間がかかる。特に、被検査物の品質向上のために被検査物の4つの角全てを検査するとなると、倍以上の工程が必要となる。一方で、検査タクトを向上させるために検査ラインを複数設けると、装置の大型化、複雑化に繋がるという問題があった。 However, in such an inspection apparatus, in order to inspect one inspected object, three steps of imaging, rotation, and imaging are required, and the inspection takes time. In particular, if all four corners of the object to be inspected are to be inspected in order to improve the quality of the object, more than twice as many steps are required. On the other hand, when multiple inspection lines are provided to improve inspection tact, there is a problem in that the apparatus becomes larger and more complex.
本実施形態は、上記課題を解決すべく、検査タクトを向上させる非破壊検査装置を提供することを目的とする。 This embodiment aims at providing a non-destructive inspection apparatus that improves inspection tact in order to solve the above-mentioned problems.
実施形態の非破壊検査装置は、次のような構成を備える。
(1)4つの角を有する被検査物に放射線ビームを照射する2つの放射線発生器。
(2)前記2つの放射線発生器にそれぞれ対向して設けられた2つの放射線検出器。
(3)前記被検査物を載置する検査台。
(4)前記被検査物を撮像する、前記検査台の上方において所定の間隔を開けて設けられた2つの撮像部。
(5)前記放射線ビームの光軸は、前記被検査物の手前で交差し、前記被検査物の4つの角のうち前記放射線発生器側の2つの角を透過する。
(6)前記検査台は、移動機構を備える。
(7)前記移動機構は、前記2つの撮像部が撮像した画像から取得した前記放射線ビームの光軸と前記被検査物の前記2つの角の位置関係に基づいて、前記2つの角を前記放射線ビームの光軸に合わせる。
The non-destructive testing device of the embodiment has the following configuration.
(1) Two radiation generators that irradiate a radiation beam onto an object to be inspected having four corners.
(2) Two radiation detectors provided opposite to the two radiation generators, respectively.
(3) An inspection table on which the object to be inspected is placed.
(4) Two imaging units provided at a predetermined interval above the inspection table , which capture images of the object to be inspected.
(5) The optical axes of the radiation beams intersect in front of the object to be inspected, and transmit through two corners on the radiation generator side among the four corners of the object to be inspected.
(6) The examination table includes a moving mechanism.
(7) The moving mechanism moves the two corners to the radiation beam based on the positional relationship between the optical axis of the radiation beam acquired from the images captured by the two imaging units and the two corners of the object to be inspected. Align with the optical axis of the beam.
[1.第1の実施形態]
[1-1.実施形態の構成]
以下、第1の実施形態に係る非破壊検査装置について、図面を参照しつつ詳細に説明する。図1及び図2は、本実施形態に係る非破壊検査装置1の構成を示す平面図及び側面図である。非破壊検査装置1は、被検査物100に放射線を照射し、被検査物100を透過した放射線を検出する。この検出結果に基づき、非破壊検査装置1は、被検査物100の透視画像を生成する。
[1. First embodiment]
[1-1. Configuration of embodiment]
Hereinafter, a non-destructive testing apparatus according to a first embodiment will be described in detail with reference to the drawings. 1 and 2 are a plan view and a side view showing the configuration of a
[被検査物]
被検査物100は、平面視で4つ角を有する概略直方体形状であれば特に限定しないが、本実施形態においては、積層構造を有するリチウムイオンポリマー電池とする。リチウムイオンポリマー電池は、交互に重ねられた四角形の正極板と負極板が、電解液が充填されたケースに収納されてなる。正極板と負極板の間にはセパレータが存在し、正極板には正極リードが、負極板には負極リードが接続され、それぞれ1本に束ねられて外部に取り出されている。被検査物100は、トレー10に載置された状態で検査、搬送される。トレー10にはその表面に複数の位置決め部材11(図4参照)が立設し、この複数の位置決め部材11の間に被検査物100は位置決めされ、固定されている。
[Object to be inspected]
The object to be inspected 100 is not particularly limited as long as it has a generally rectangular parallelepiped shape with four corners in plan view, but in this embodiment, it is a lithium ion polymer battery having a stacked structure. A lithium-ion polymer battery consists of alternating square positive and negative electrode plates housed in a case filled with electrolyte. A separator is present between the positive electrode plate and the negative electrode plate, and a positive electrode lead is connected to the positive electrode plate, and a negative electrode lead is connected to the negative electrode plate, and each is bundled into one and taken out to the outside. The object to be inspected 100 is inspected and transported while being placed on the
[非破壊検査装置]
図1及び図2に示すように、非破壊検査装置1は、被検査物100の透視画像を撮像する放射線発生器2と放射線検出器3、被検査物100を検査位置Pまで移動させる検査台4、検査台4上で被検査物100を上方から撮像してその位置決めを行う撮像部5、遮蔽箱6、被検査物100が載置されたトレー10を搬送する搬送機構7、搬送機構7から検査台4へと、及び検査台4から搬送機構7へとトレー10を移送する移送機構8、を備える。非破壊検査装置1は、これらの構成を制御する制御装置9を更に備える。
[Non-destructive testing equipment]
As shown in FIGS. 1 and 2, the
放射線発生器2は、被検査物100に向けて放射線ビームを照射する。放射線ビームは、焦点を頂点として角錐形状に拡大する放射線の束である。放射線は、例えばX線である。この放射線発生器2は、例えばX線管である。
The
放射線検出器3は、放射線発生器2の焦点と対向して配置され、放射線の透過経路に応じて減弱した放射線強度の二次元分布を検出し、当該放射線強度に比例した透過データを出力する。この放射線検出器3は、例えばイメージインテンシファイア(I.I.)とカメラ、又はフラットパネルディテクタ(FPD)により構成される。
The
本実施形態において、放射線発生器2と放射線検出器3は、2組設けられている。図3に示すように、2組の放射線発生器2と放射線検出器3は、各組が被検査物100の角を挟むように対向して配置されている。より詳細には、2つの放射線発生器2は、平面視において、それぞれの放射線ビームの光軸が検査台4上の被検査物100の手前で交差するように横並びに設けられる。被検査物100の手前で交差した放射線は、被検査物100の4つの角のうち放射線発生器2側の2つの角を透過する。この2つの角を透過した放射線は、それぞれ対応する放射線検出器3に検出される。
In this embodiment, two sets of
検査台4は、被検査物100が載置されたトレー10を載せ、搬送高さ位置Lからその上方に設定された検査高さ位置Hへと上昇させ、さらに検査位置Pへと移動させる。搬送高さ位置Lは、搬送機構7と略同じ高さにある検査台4の高さ位置である。検査高さ位置Hは、放射線発生器2が被検査物100の角を撮像する高さ位置である。検査位置Pは、被検査物100の放射線発生器2側の2つの角が放射線ビームの光軸に合うような当該被検査物100の位置である。検査台4は、自身をXYZ軸方向に移動させる移動機構41と、上下方向に延びる軸を中心に回転させる回転機構42とを備える。移動機構41は、例えば、サーボモータによって駆動されるボールねじ機構を用いることができる。すなわち、移動機構41は、サーボモータの駆動により、検査台4の支持面43をX軸方向、Y軸方向、Z軸方向に沿って移動させる。なお、本実施形態において、被検査物100の搬送方向をX軸方向、搬送機構7の載置面(水平面)においてX軸方向と垂直な方向をY方向、検査台4の昇降方向をZ軸方向とする。
The inspection table 4 is loaded with the
移動機構41の移動によって、被検査物100の2つの角は、放射線ビームの光軸に合わせられる。回転機構42は、移動機構41の上に設けられ、例えば、モータ等の駆動源を含んでなるアクチュエータである。なお、移動機構41の下に回転機構42が設けられてもよい。回転機構42は、検査台4の支持面43をZ軸を中心に回転させる。この回転によって、検査台4上の被検査物100の角と放射線ビームの光軸との位置合わせを行うと共に、被検査物100を180°回転させることにより被検査物100の放射線発生器2側から遠い方の2つの角を撮像することが可能となる。
By moving the moving
図4に示すように、トレー10が載せられる検査台4の支持面43は、一定の間隔を開けて並列した略同じ高さの3つの面からなり、それぞれの面が支柱44によって支持されている。3つの面の間隔及び3本の支柱44の間隔は、いずれも後述する移送機構8の2本のアーム81a、81bのそれぞれの幅よりも広く設けられる。移動機構41及び回転機構42は、3本の支柱44を一緒に移動させるので、支持面43の3つの面及び3本の支柱44の間隔は不変である。
As shown in FIG. 4, the
図2に示すように、撮像部5は、検査台4の上方に設けられ、平面視における被検査物100の位置ズレを検出するために被検査物100を撮像する。撮像部5は、赤外線(IR)カメラ、CCDカメラ、CMOSカメラを用いることができる。なお、本実施形態の撮像部5は、所定の間隔を開けて2つ設けられる。これは、互いに視差を有する2つの撮像部5からの画像を照合することで、平面視における被検査物100の位置ズレだけでなく、被検査物100の角の高さ位置も検出できるからである。
As shown in FIG. 2, the
遮蔽箱6は、放射線発生器2、放射線検出器3を囲い、放射線を遮蔽する。遮蔽箱6は、鉛などの放射線を遮蔽する材料を含み構成されている。遮蔽箱6は、例えば直方体形状である。遮蔽箱6には、被検査物100が載置されたトレー10を内部に搬入する搬入口61、遮蔽箱6内部の被検査物100を遮蔽箱6外部に搬出する搬出口62が設けられている。
The
図4に示すように、搬送機構7は、被検査物100が載置されたトレー10を搬入口61から検査台4へと、さらに検査台4から搬出口62へと搬送する機構である。搬送機構7は、遮蔽箱6に設けられた搬入口61と搬出口62を結ぶ方向に概略直線状に設けられ、遮蔽箱6を貫通している。すなわち、搬送機構7の搬送経路は、遮蔽箱6に設けられた搬入口61と搬出口62を結ぶ概略直線状である。搬送機構7は、搬送経路の途上に設けられる検査台4の前後に設けられた搬入コンベア71と搬出コンベア72を備える。搬入コンベア71は、遮蔽箱6の搬入口61側に設けられ、被検査物100を搬入口61から検査台4まで搬送する。搬出コンベア72は、遮蔽箱6の搬出口62側に設けられ、被検査物100を検査台4から搬出口62へと搬送する。搬入コンベア71と搬出コンベア72の表面には一定間隔ごとに突起73が設けられ、この突起73は、トレー10の搬送方向と垂直な一対の辺に設けられた凹みに係合し、トレー10を位置決めする。本実施形態の搬入コンベア71と搬出コンベア72は、コンベアベルトを2条としたので、トレー10の凹みは搬送方向と垂直な一対の辺に2つずつ設けられ、合計4つの凹みに4つの突起73が係合している。このように、2条のベルトに設けられた突起73によって、トレー10は一定の間隔を開けて搬送される。
As shown in FIG. 4, the
図4に示すように、搬送機構7は、搬入コンベア71から検査台4へと、及び検査台4から搬出コンベア72へと、被検査物100が載置されたトレー10を移送する移送機構8を備える。本実施形態の移送機構8は、搬入コンベア71上のトレー10と検査台4上のトレー10とを2つ同時に移送する。そのため、移送機構8は、検査台4の手前で搬入コンベア71上に停止しているトレー10と検査台4上のトレー10とを下方から支持できる長さの2本のアーム81a、81bを備える。2本のアーム81a、81bは、搬出コンベア72の2条のベルトの間に配置されるもので、基端側が互いに繋がった平面視で概略U字形状の部材である。2本のアーム81a、81bの先端側が搬入コンベア71の方に突出し、基端側は搬出コンベア72側に設けられたアーム移動機構82に支持されている。
As shown in FIG. 4, the
アーム移動機構82は、2本のアーム81a、81bを搬出コンベア72の搬出方向(X軸方向)に沿って往復移動させると共に、搬入コンベア71、検査台4及び搬出コンベア72の表面からトレー10を昇降させる。すなわち、アーム移動機構82は、X軸方向に延びる2本のレール82aとこのレール82a上を走行するスライダ82bとを備える。また、アーム移動機構82は、2本のアーム81a、81bを上下方向(Z軸方向)に移動させる昇降機構82cを備える。昇降機構82cは、例えば、サーボモータによって駆動されるボールねじ機構を用いることができる。
The
図5に示すように、制御装置9は、放射線発生器2と放射線検出器3、検査台4、撮像部5、搬送機構7及び移送機構8を制御する。また、制御装置9は、放射線発生器2及び放射線検出器3が撮像した透視画像や撮像部5が撮像した画像を解析する。すなわち、搬送機構7の搬入コンベア71、搬出コンベア72及び移送機構8に被検査物100を搬送させる。また、撮像部5に検査台4上の被検査物100を撮像させ、この画像に基づいて検査台4をXYZ方向に移動させ、被検査物100の角を放射線ビームの光軸に合わせる。さらに、放射線発生器2と放射線検出器3に被検査物100を撮像させる。制御装置9は、所謂コンピュータであり、CPU、HDD又はSSDといったストレージ、RAM及びドライバ回路で構成される。ストレージはプログラムを記憶し、RAMはプログラムが展開され、またデータが一時的に記憶され、CPUはプログラムを処理し、ドライバ回路はCPUの処理結果に従って各構成に電力を供給する。
As shown in FIG. 5, the
[1-2.実施形態の作用]
本実施形態の被検査物100の搬送及び検査手順について、図6及び図7を参照しつつ、以下に説明する。搬送機構7の搬送経路には、被検査物100が載置されたトレー10が一定の間隔ごとに位置決めされ、並べられている。搬送機構7は、これらのトレー10を搬入口61から搬出口62へと搬送する。まず、搬送機構7の搬入コンベア71は、これらのトレー10を搬入口61から検査台4の手前まで搬送する。搬入コンベア71は、検査対象の被検査物100が載置されたトレー10(以下、対象トレー10aともいう。)を検査台4の手前まで搬送すると、ベルトコンベヤの動作を一時停止する。なお、検査台4上には、今しがた検査を終えたトレー10(被検査物100)が載置されている(以下、検査済トレー10bともいう。)。ここでは、検査台4の高さと搬送機構7の高さとは略同一である。すなわち、検査台4は搬送高さ位置Lに位置している。
[1-2. Effect of embodiment]
The transportation and inspection procedure of the
図6(a)に示すように、移送機構8によって、2本のアーム81a、81bは、対象トレー10aの方向(X軸方向)へと移動する。2本のアーム81a、81bは、その先端から検査台4の3本の支柱44の間を通り、検査済トレー10bの下方を潜りながら、対象トレー10aの下方へと進出する(ステップS01)。図6(b)に示すように、2本のアーム81a、81bは、その先端が対象トレー10aの下方を超えて進出すると、X軸方向への移動を停止し、今度は上方向へと移動する。この時、2本のアーム81a、81bは、搬入コンベア71の2条のベルトの間、及び支持面43の3つの面の間からせり出し、対象トレー10a及び検査済トレー10bを持ち上げる(ステップS02)。
As shown in FIG. 6A, the two
図6(c)に示すように、この持ち上げによって対象トレー10a及び検査済トレー10bがそれぞれ2条のベルト及び検査台4から離れると、2本のアーム81a、81bは上方向への移動を停止し、搬出コンベア72の方向(X軸方向)へと移動し、対象トレー10aを検査台4の上方へ、かつ検査済トレー10bを搬出コンベア72の上方へと移動させる(ステップS03)。図6(d)に示すように、対象トレー10aが検査台4の上方まで来ると、2本のアーム81a、81bはX軸方向への移動を停止し、下方向へと移動する。この時、2本のアーム81a、81bは支持面43を成す3つの面の間を通って下方向に移動し、対象トレー10aは2本のアーム81a、81bの手を離れて搬送高さ位置Lにある検査台4の支持面43に受け渡される(ステップS04)。また、対象トレー10aの検査台4への受け渡しと同時に、検査済トレー10bの搬出コンベア72への受け渡しも行われる。この受け渡しは、2本のアーム81a、81bが搬出コンベア72の2条のベルトの間を通り抜けて下方向に移動することによって行われる。この時、検査済トレー10bに設けられた凹部12は、搬出コンベア72の2条のベルトの表面に設けられた突起73と係合し、位置決めされる。
As shown in FIG. 6(c), when the
移送機構8から対象トレー10aを受け取った検査台4は、移動機構41によって対象トレー10aを搬送高さ位置Lから検査高さ位置Hまで上昇させる(ステップS05)。各被検査物100の高さが略同一である場合は、検査台4が対象トレー10aを受け取る搬送高さ位置Lから検査高さ位置Hまでの移動距離は一定である。一方、各被検査物100の高さにバラツキがある場合は、2つの撮像部5によって被検査物100を上方から撮像して被検査物100の角の高さを検出することによって、この移動距離を調整してもよい。
Upon receiving the
検査高さ位置Hにおいて、撮像部5は、対象トレー10aに載置された被検査物100を上方から撮像する。制御装置9は、撮像部5が撮像した画像を取得及び解析し、平面視における被検査物100の位置ズレがないか確認する。位置ズレが検出された場合、検査台4は移動機構41によって被検査物100の位置を調整し、検査位置Pへと移動させる(ステップS06)。
At the inspection height position H, the
この位置ズレの検出は、例えば、平面視における2つの放射線ビームの光軸のラインを予め制御装置9が記憶しておき、撮像部5が撮像した画像から、被検査物100の放射線側の2つの角がこの光軸のライン上にあるか否かを判定することによって行われる。位置ズレが検出された場合、被検査物100の放射線側の2つの角がこの光軸のライン上に乗るように、検査台4の移動機構41または回転機構42、あるいはこれら両方が被検査物100を移動させる。
Detection of this positional shift is carried out, for example, by storing in advance the lines of the optical axes of the two radiation beams in a plan view in the
この移動について簡単に説明する。図3は、高さ位置Hまで移動した被検査物100の4つの角A1、A2、A3、A4のうち角A1だけが、放射線ビームの光軸のライン上に位置している状態を示している。まず、撮像部5が、この光軸と被検査物100の角の位置関係を、上方から撮像する。次に、制御装置9は、この撮像画像を分析することで、被検査物100が検査位置Pにないことを認識し、被検査物100を検査位置Pに移動させるためのX軸方向及びY軸方向への移動量を算出する。制御装置9は、この移動量に基づいて、検査台4の移動機構41または回転機構42、あるいはこれら両方によって、被検体100を移動させる。
This movement will be briefly explained. FIG. 3 shows a state in which only corner A1 of the four corners A1, A2, A3, and A4 of the inspected
このような移動量を算出するための画像処理方法としては、例えば、パターンマッチングを用いる方法、位相限定相関法を用いる方法などが利用できる。また、ICPなど既知の位置合わせアルゴリズムを用いてもよい。 As an image processing method for calculating such a movement amount, for example, a method using pattern matching, a method using a phase-only correlation method, etc. can be used. Also, a known alignment algorithm such as ICP may be used.
トレー10に載置された被検査物100が検査位置Pに移動した後、2つの放射線発生器2は、被検査物100に対して2つの異なる方向から放射線ビームを照射する。平面視における被検査物100の4つ角のうち、A1とA2が同時に撮像され、A1とA2を透過した放射線が放射線検出器3によって検出される(ステップS07-1)。制御装置9は、撮像された被検査物100のA1、A2における透視画像を放射線検出器3から取得し、所定のプログラムによって被検査物100の良不良を判定する。この後、後述のステップS08に進むが、その前にA3とA4を撮像するステップを挟んでもよい。すなわち、検査台4の回転機構42が支持面43を180°回転させ、2つの放射線発生器2によって、被検査物100の四つ角のうちA3とA4を同時に撮像してから(ステップS07-2)、ステップS08へと進んでもよい。
After the inspected
ステップS08は、被検査物100の撮像後、検査台4を搬送高さ位置Lまで下方向に移動させるステップである。すなわち、今しがた検査を終えたトレー10(被検査物100)が搬送高さ位置Lに位置する。最後に、搬入コンベア71が次の対象トレー10aを検査台4の手前まで移送し、搬出コンベア72が最初の検査済トレー10bを搬出口62の方へと搬送する(ステップS09)。すなわち、次に支持台から移送される検査済トレー10bを載置するためのスペースが搬出コンベア72に設けられる。以上、ステップS01~S09の動作が繰り返され、トレー10に載置された被検査物100が順次搬送及び検査される。
Step S08 is a step of moving the inspection table 4 downward to the transport height position L after capturing the image of the
[1-3.実施形態の効果]
(1)本実施形態では、放射線発生器2は2つ設けられ、それぞれの放射線ビームの光軸が被検査物100の手前で交差するように設けられているので、被検査物100の4つの角のうち2つの角のみを一度に撮像することができる。これにより、被検査物100の1つの角を撮像した後に被検査物100を回転させるなどして別の1つの角を再び撮像するといった工程を省くことができるので、被検査物100の検査タクトを向上させることができる。
[1-3. Effects of embodiment]
(1) In this embodiment, two
(2)本実施形態では、撮像部5による被検査物100の撮像画像に基づいて、被検査物100の位置ズレを検出し、検査台4の移動機構41によってこの位置ズレを修正することができる。これにより、被検査物100のサイズのバラツキに依らず、被検査物100の角を正確に撮像することができる。
(2) In this embodiment, it is possible to detect a positional shift of the inspected
(3)本実施形態では、検査台4の回転機構42によって、被検査物100を180°回転させることができる。これにより、被検査物100の良否判定を厳格なものとするために4つの角全てを撮像する場合であっても、従来では4度の撮像と3度の回転する工程が必要となるところ、2度の撮像と1度の回転のみで検査を完了することができる。
(3) In this embodiment, the
(4)本実施形態では、2本のアーム81a、81bを備える移送機構8によって、搬入コンベア71上のトレー10と検査台4上のトレー10とを2つ同時に移送することができる。これにより、まず検査台4上のトレー10を移送し、次に搬入コンベア71上のトレー10を移送するという2工程を踏む場合と比較して、被検査物100の検査タクトを向上させることができる。
(4) In this embodiment, the two
(5)本実施形態では、搬送機構7のベルトコンベヤに一定の間隔で突起73が設けられ、被検査物100を載置するトレー10にはこの突起73に係合する凹部12が設けられている。これにより、搬送されるトレー10の間隔を一定にすることができるため、移送装置による2つのトレー10の同時移送が確実なものとなる。
(5) In this embodiment, the belt conveyor of the
[2.他の実施形態]
本明細書においては、本発明に係る複数の実施形態を説明したが、これらの実施形態は例として提示したものであって、発明の範囲を限定することを意図していない。以上のような実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の範囲を逸脱しない範囲で、種々の省略や置き換え、変更を行うことができる。これらの実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれると同様に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれるものである。
[2. Other embodiments]
Although a plurality of embodiments according to the present invention have been described in this specification, these embodiments are presented as examples and are not intended to limit the scope of the invention. The embodiments described above can be implemented in various other forms, and various omissions, substitutions, and changes can be made without departing from the scope of the invention. These embodiments and their modifications are included within the scope and gist of the invention as well as within the scope of the invention described in the claims and its equivalents.
(1)第1の実施形態では、被検査物100の角の位置ズレが検出された際、検査台4を移動させて放射線ビームの光軸に合わせたが、放射線発生器2の照射方向を変更させてもよい。この場合、放射線発生器2及び放射線検出器3には移動機構41が設けられ、この移動機構41によって照射方向及びそれに対向する検出方向を変更することができる。
(1) In the first embodiment, when the positional deviation of the corner of the inspected
(2)第1の実施形態の移送機構8は、2本のアーム81a、81bがトレー10を下から掬い上げて移送するものとしたが、例えば、トレー10を上から把持して移送するものであってもよい。また、アーム81a、81bの本数についても、2本に限らず、例えば3本であってもよい。この場合、検査台4の支持面43は4つの面からなる。
(2) In the
(3)第1の実施形態では、被検査物100の角A1とA2を同時に撮像できるように2組の放射線発生器2と放射線検出器3を配置したが、他の2つの角を同時に撮像できるように2組の放射線発生器2と放射線検出器3を配置することもできる。例えば、被検査物100の搬送方向前方側の2つの角(図3におけるA2、A3)を撮影するように2つの放射線発生器2を検査台4の搬出側に配置しても良いし、搬送方向後方の2つの角(図3におけるA1、A4)を撮影するように、2つの放射線発生器2を検査台4の搬入側に配置しても良い。
(3) In the first embodiment, two sets of
(4)第1の実施形態では、トレー10の搬送機構7と検査台4とを別部材としたが、トレー10の搬送機構7自体が検査台4を兼用することもできる。すなわち、搬送機構7によって搬送されるトレー10の位置決めが正確に行われるのであれば、搬送機構7を2組の放射線発生器2と放射線検出器3による検査位置Pで停止させ、その状態で搬送機構7に保持されているトレー10上の被検査物100の透視画像を撮像しても良い。
(4) In the first embodiment, the
1…非破壊検査装置
10…トレー
10a…対象トレー
10b…検査済トレー
11…位置決め部材
12…凹部
100…被検査物
2…放射線発生器
3…放射線検出器
4…検査台
41…移動機構
42…回転機構
43…支持面
44…支柱
5…撮像部
6…遮蔽箱
61…搬入口
62…搬出口
7…搬送機構
71…搬入コンベア
72…搬出コンベア
73…突起
8…移送機構
81a、81b…アーム
82…アーム移動機構
82a…レール
82b…スライダ
82c…昇降機構
9…制御装置
1...
Claims (4)
前記2つの放射線発生器にそれぞれ対向して設けられた2つの放射線検出器と、
前記被検査物を載置する検査台と、
前記被検査物を撮像する、前記検査台の上方において所定の間隔を開けて設けられた2つの撮像部と、
を備え、
前記放射線ビームの光軸は、前記被検査物の手前で交差し、前記被検査物の4つの角のうち前記放射線発生器側の2つの角を透過し、
前記検査台は、移動機構を備え、
前記移動機構は、前記2つの撮像部が撮像した画像から取得した前記放射線ビームの光軸と前記被検査物の前記2つの角の位置関係に基づいて、前記2つの角を前記放射線ビームの光軸に合わせる、
非破壊検査装置。 two radiation generators that irradiate a radiation beam to an object to be inspected having four corners;
two radiation detectors provided opposite to the two radiation generators, respectively;
an inspection table on which the object to be inspected is placed;
two imaging units provided at a predetermined interval above the inspection table , which capture images of the object to be inspected;
Equipped with
The optical axis of the radiation beam intersects in front of the object to be inspected, and transmits through two corners on the radiation generator side among the four corners of the object to be inspected,
The examination table includes a moving mechanism,
The moving mechanism moves the two corners to the light of the radiation beam based on the positional relationship between the optical axis of the radiation beam acquired from the images captured by the two imaging units and the two corners of the object to be inspected. Align with the axis
Non-destructive testing equipment.
前記回転機構は、前記被検査物の4つの角のうち前記放射線発生器と反対側の2つの角を前記放射線発生器側に向ける、
請求項1に記載の非破壊検査装置。 The examination table includes a rotation mechanism,
The rotation mechanism directs two corners of the object to be inspected, which are opposite to the radiation generator, toward the radiation generator.
The non-destructive testing device according to claim 1.
前記搬入側の搬送機構に載置された前記被検査物を前記検査台へ、かつ前記検査台に載置された前記被検査物を前記搬出側の搬送機構へ、前記被検査物を2つ同時に移送する移送機構と、
を更に備える、
請求項1に記載の非破壊検査装置。 a conveyance mechanism that is provided on an input side and an output side of the inspection table, and conveys a plurality of the inspection objects arranged at regular intervals;
The object to be inspected placed on the transport mechanism on the carry-in side is transferred to the inspection table, and the object to be inspected placed on the inspection table is transferred to the transfer mechanism on the carry-out side. A transport mechanism that simultaneously transports the
further comprising;
The non-destructive testing device according to claim 1.
前記搬入側の搬送機構に載置された前記被検査物と、前記検査台に載置された前記被検査物と、を下方から支持する2本のアームと、
前記2本のアームを支持し、前記2本のアームを往復移動および昇降させるアーム移動機構と、を含み、
前記アーム移動機構は、前記2本のアームを前記搬出側の搬送機構の搬出方向に沿って往復移動させると共に、前記搬出側の搬送機構、前記検査台、及び前記搬出側の搬送機構の表面から前記被検査物を昇降させるように構成される、
請求項3に記載の非破壊検査装置。 The transfer mechanism is
two arms that support the object to be inspected placed on the transport mechanism on the carry-in side and the object to be inspected placed on the inspection table from below;
an arm movement mechanism that supports the two arms and reciprocates and raises and lowers the two arms;
The arm moving mechanism reciprocates the two arms along the carry-out direction of the carry-out side conveyance mechanism, and also moves the two arms back and forth along the carry-out direction of the carry-out-side conveyance mechanism, and also moves the two arms between the carry-out side conveyance mechanism, the inspection table, and the surface of the carry-out side conveyance mechanism. configured to raise and lower the inspected object from
The non-destructive testing device according to claim 3.
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2019173845A JP7401232B2 (en) | 2019-09-25 | 2019-09-25 | Non-destructive testing equipment |
| CN202010439967.5A CN112649448B (en) | 2019-09-25 | 2020-05-22 | Non-destructive inspection equipment |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2019173845A JP7401232B2 (en) | 2019-09-25 | 2019-09-25 | Non-destructive testing equipment |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2021050992A JP2021050992A (en) | 2021-04-01 |
| JP7401232B2 true JP7401232B2 (en) | 2023-12-19 |
Family
ID=75157636
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2019173845A Active JP7401232B2 (en) | 2019-09-25 | 2019-09-25 | Non-destructive testing equipment |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP7401232B2 (en) |
| CN (1) | CN112649448B (en) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN113984799B (en) * | 2021-09-13 | 2022-11-18 | 深圳市日联科技有限公司 | X-ray omnibearing detection system and method for laminated lithium battery |
| DE102021130653A1 (en) * | 2021-11-23 | 2023-05-25 | Volkswagen Aktiengesellschaft | Method for determining the placement accuracy of a plurality of electrode sheets in a stack and a measuring device |
| DE102022102764A1 (en) | 2022-02-07 | 2023-08-10 | Volkswagen Aktiengesellschaft | Determination of the relative alignment of layers of an electrode-separator composite |
Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006090793A (en) | 2004-09-22 | 2006-04-06 | Shimadzu Corp | X-ray fluoroscope |
| JP2007101392A (en) | 2005-10-05 | 2007-04-19 | Shimadzu Corp | X-ray inspection equipment |
| US20110096900A1 (en) | 2009-10-26 | 2011-04-28 | Sk Energy Co., Ltd. | Electrode Inspection Device for Battery and Method of the Same |
| JP2012127709A (en) | 2010-12-14 | 2012-07-05 | Showa Denko Kk | Inspection device for cylindrical body |
| JP2018105773A (en) | 2016-12-27 | 2018-07-05 | コニカミノルタ株式会社 | X-ray imaging system |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2010104107A1 (en) * | 2009-03-13 | 2010-09-16 | ポニー工業株式会社 | X-ray inspection apparatus and x-ray inspection method |
| CN204203128U (en) * | 2014-10-31 | 2015-03-11 | 世高株式会社 | X ray checking device |
-
2019
- 2019-09-25 JP JP2019173845A patent/JP7401232B2/en active Active
-
2020
- 2020-05-22 CN CN202010439967.5A patent/CN112649448B/en active Active
Patent Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006090793A (en) | 2004-09-22 | 2006-04-06 | Shimadzu Corp | X-ray fluoroscope |
| JP2007101392A (en) | 2005-10-05 | 2007-04-19 | Shimadzu Corp | X-ray inspection equipment |
| US20110096900A1 (en) | 2009-10-26 | 2011-04-28 | Sk Energy Co., Ltd. | Electrode Inspection Device for Battery and Method of the Same |
| JP2012127709A (en) | 2010-12-14 | 2012-07-05 | Showa Denko Kk | Inspection device for cylindrical body |
| JP2018105773A (en) | 2016-12-27 | 2018-07-05 | コニカミノルタ株式会社 | X-ray imaging system |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN112649448B (en) | 2024-09-13 |
| CN112649448A (en) | 2021-04-13 |
| JP2021050992A (en) | 2021-04-01 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR101380858B1 (en) | Battery inspection apparatus | |
| JP7401232B2 (en) | Non-destructive testing equipment | |
| CN108307656B (en) | X-ray inspection method and X-ray inspection apparatus | |
| JP5502132B2 (en) | Inspection device | |
| KR101669510B1 (en) | Apparatus for Investigating Objects with X-ray Having Structure of Carrier Fixation | |
| CN112889119B (en) | Non-destructive automatic inspection system | |
| KR101673544B1 (en) | An Apparatus for Inspecting Batteries Automatically in Succession | |
| KR200487281Y1 (en) | Apparatus for examining substrate | |
| KR20190013014A (en) | An X-ray Inspecting Apparatus Capable of Investigating a Inner Defect and a Welding Part | |
| KR101654819B1 (en) | A Moving Stage for X-ray Inspection and An Apparatus with the Same | |
| KR102646569B1 (en) | A Plural Conveying Paths Type of an X-ray Investigating Apparatus | |
| KR20210002965A (en) | A Noncontact Type of an X-Ray Investigating Apparatus and a Method for Investigating an Article with the Same | |
| KR20220149024A (en) | A Method for Investigating an Arrangement of a Battery Cell | |
| KR102049429B1 (en) | X-ray Apparatus for Inspecting Object Automatically Using Controlled Transfer Structure | |
| JP2023142052A (en) | Radiation inspection device | |
| KR102270832B1 (en) | An X-ray Apparatus for Detecting a Flaw of an Object with a Structure of Multi-Investigating Point and Multi-Exit Passage | |
| KR102522899B1 (en) | Apparatus for inspecting loaded status of electronic components | |
| JP7407629B2 (en) | Non-destructive testing equipment | |
| TW202012947A (en) | Electronic component handler and electronic component tester | |
| JP2015219035A (en) | Inspection device | |
| KR20200068180A (en) | An X-Ray Investigating Apparatus for Avoiding an Interference | |
| JP7485543B2 (en) | Non-destructive Inspection Equipment | |
| WO2021177491A1 (en) | X-ray inspection apparatus having multi-path structure | |
| JP7466362B2 (en) | Non-destructive Inspection Equipment | |
| JP2006177760A (en) | X-ray inspection apparatus, X-ray inspection method, and X-ray inspection program |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20220704 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20230329 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20230411 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20230609 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20230829 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20230921 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20231114 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20231207 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 7401232 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111 |
|
| R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |