Deprecated: The each() function is deprecated. This message will be suppressed on further calls in /home/zhenxiangba/zhenxiangba.com/public_html/phproxy-improved-master/index.php on line 456
JP7401232B2 - Non-destructive testing equipment - Google Patents
[go: Go Back, main page]

JP7401232B2 - Non-destructive testing equipment - Google Patents

Non-destructive testing equipment Download PDF

Info

Publication number
JP7401232B2
JP7401232B2 JP2019173845A JP2019173845A JP7401232B2 JP 7401232 B2 JP7401232 B2 JP 7401232B2 JP 2019173845 A JP2019173845 A JP 2019173845A JP 2019173845 A JP2019173845 A JP 2019173845A JP 7401232 B2 JP7401232 B2 JP 7401232B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
inspected
carry
radiation
inspection
inspection table
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2019173845A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2021050992A (en
Inventor
賢次郎 福田
正治 篠原
秀一 半杭
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba IT and Control Systems Corp
Original Assignee
Toshiba IT and Control Systems Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba IT and Control Systems Corp filed Critical Toshiba IT and Control Systems Corp
Priority to JP2019173845A priority Critical patent/JP7401232B2/en
Priority to CN202010439967.5A priority patent/CN112649448B/en
Publication of JP2021050992A publication Critical patent/JP2021050992A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP7401232B2 publication Critical patent/JP7401232B2/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/02Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
    • G01N23/04Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B15/00Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Description

本発明の実施形態は、非破壊検査装置に関する。 Embodiments of the present invention relate to non-destructive testing equipment.

X線で代表される放射線を被検査物に照射し、被検査物を透過することで減弱した放射線の二次元分布を検出して画像化することで、被検査物の非破壊検査を行う非破壊検査装置が知られている。被検査物は、例えば、リチウムイオンポリマー電池である。リチウムイオンポリマー電池は、その内部に平面状の正極板と負極板が積層する構造を有している。 A non-destructive inspection method that performs non-destructive inspection of the inspected object by irradiating the inspected object with radiation, typically X-rays, and detecting the two-dimensional distribution of the attenuated radiation as it passes through the inspected object and creating an image. Destructive inspection devices are known. The object to be inspected is, for example, a lithium ion polymer battery. A lithium ion polymer battery has a structure in which a flat positive electrode plate and a negative electrode plate are stacked inside.

この積層にズレがあると、すなわち、正極板が負極板よりはみ出していると、はみ出した正極板にリチウムが析出してショートし、発火するおそれがある。そのため、リチウムイオンポリマー電池の内部における正極板と負極板の位置ズレを検査する必要がある。この検査が、非破壊検査装置によって行われている。 If there is a misalignment in this lamination, that is, if the positive electrode plate protrudes from the negative electrode plate, there is a risk that lithium will be deposited on the protruding positive electrode plate, causing a short circuit and causing a fire. Therefore, it is necessary to inspect the positional deviation between the positive electrode plate and the negative electrode plate inside the lithium ion polymer battery. This inspection is performed using a non-destructive inspection device.

検査の正確さを向上させるためには、被検査物の4つの角のうち、少なくとも2つを撮像することが望ましい。そのために、例えば、1つの角に放射線ビームを照射した後、被検査物を水平面に沿って回転させ、さらに別の角に放射線ビームを照射し、2つの角を撮像している。 In order to improve inspection accuracy, it is desirable to image at least two of the four corners of the object to be inspected. For this purpose, for example, after irradiating one corner with a radiation beam, the object to be inspected is rotated along a horizontal plane, and another corner is irradiated with a radiation beam, and the two corners are imaged.

特開2011-39014号公報Japanese Patent Application Publication No. 2011-39014

しかしながら、このような検査装置では、1つの被検査物を検査するために、撮像、回転、撮像、という3つの工程が必要となり、検査に時間がかかる。特に、被検査物の品質向上のために被検査物の4つの角全てを検査するとなると、倍以上の工程が必要となる。一方で、検査タクトを向上させるために検査ラインを複数設けると、装置の大型化、複雑化に繋がるという問題があった。 However, in such an inspection apparatus, in order to inspect one inspected object, three steps of imaging, rotation, and imaging are required, and the inspection takes time. In particular, if all four corners of the object to be inspected are to be inspected in order to improve the quality of the object, more than twice as many steps are required. On the other hand, when multiple inspection lines are provided to improve inspection tact, there is a problem in that the apparatus becomes larger and more complex.

本実施形態は、上記課題を解決すべく、検査タクトを向上させる非破壊検査装置を提供することを目的とする。 This embodiment aims at providing a non-destructive inspection apparatus that improves inspection tact in order to solve the above-mentioned problems.

実施形態の非破壊検査装置は、次のような構成を備える。
(1)4つの角を有する被検査物に放射線ビームを照射する2つの放射線発生器。
(2)前記2つの放射線発生器にそれぞれ対向して設けられた2つの放射線検出器。
(3)前記被検査物を載置する検査台。
(4)前記被検査物を撮像する、前記検査台の上方において所定の間隔を開けて設けられた2つの撮像部。
(5)前記放射線ビームの光軸は、前記被検査物の手前で交差し、前記被検査物の4つの角のうち前記放射線発生器側の2つの角を透過する。
(6)前記検査台は、移動機構を備える。
(7)前記移動機構は、前記2つの撮像部が撮像した画像から取得した前記放射線ビームの光軸と前記被検査物の前記2つの角の位置関係に基づいて、前記2つの角を前記放射線ビームの光軸に合わせる。
The non-destructive testing device of the embodiment has the following configuration.
(1) Two radiation generators that irradiate a radiation beam onto an object to be inspected having four corners.
(2) Two radiation detectors provided opposite to the two radiation generators, respectively.
(3) An inspection table on which the object to be inspected is placed.
(4) Two imaging units provided at a predetermined interval above the inspection table , which capture images of the object to be inspected.
(5) The optical axes of the radiation beams intersect in front of the object to be inspected, and transmit through two corners on the radiation generator side among the four corners of the object to be inspected.
(6) The examination table includes a moving mechanism.
(7) The moving mechanism moves the two corners to the radiation beam based on the positional relationship between the optical axis of the radiation beam acquired from the images captured by the two imaging units and the two corners of the object to be inspected. Align with the optical axis of the beam.

実施形態に係る非破壊検査装置の構成を示す平面図である。FIG. 1 is a plan view showing the configuration of a non-destructive testing device according to an embodiment. 実施形態に係る非破壊検査装置の構成を示す側面図である。FIG. 1 is a side view showing the configuration of a non-destructive testing device according to an embodiment. 実施形態に係る放射線発生器と被検査物との位置関係を示す平面図である。FIG. 2 is a plan view showing the positional relationship between the radiation generator and the object to be inspected according to the embodiment. 実施形態に係る搬送機構及び検査台を示す斜視図である。It is a perspective view showing a conveyance mechanism and an examination stand concerning an embodiment. 実施形態に係る制御装置と各構成の関係を示すブロック図である。FIG. 2 is a block diagram showing the relationship between the control device and each component according to the embodiment. 実施形態に係る搬送装置及び検査台の動作を説明する図である。It is a figure explaining operation of a conveyance device and an examination stand concerning an embodiment. 実施形態に係る非破壊検査装置の動作を示すフローチャートである。It is a flow chart showing operation of a non-destructive inspection device concerning an embodiment.

[1.第1の実施形態]
[1-1.実施形態の構成]
以下、第1の実施形態に係る非破壊検査装置について、図面を参照しつつ詳細に説明する。図1及び図2は、本実施形態に係る非破壊検査装置1の構成を示す平面図及び側面図である。非破壊検査装置1は、被検査物100に放射線を照射し、被検査物100を透過した放射線を検出する。この検出結果に基づき、非破壊検査装置1は、被検査物100の透視画像を生成する。
[1. First embodiment]
[1-1. Configuration of embodiment]
Hereinafter, a non-destructive testing apparatus according to a first embodiment will be described in detail with reference to the drawings. 1 and 2 are a plan view and a side view showing the configuration of a non-destructive testing device 1 according to this embodiment. The non-destructive testing device 1 irradiates an object to be inspected 100 with radiation and detects the radiation that has passed through the object to be inspected 100 . Based on this detection result, the non-destructive inspection apparatus 1 generates a perspective image of the inspected object 100.

[被検査物]
被検査物100は、平面視で4つ角を有する概略直方体形状であれば特に限定しないが、本実施形態においては、積層構造を有するリチウムイオンポリマー電池とする。リチウムイオンポリマー電池は、交互に重ねられた四角形の正極板と負極板が、電解液が充填されたケースに収納されてなる。正極板と負極板の間にはセパレータが存在し、正極板には正極リードが、負極板には負極リードが接続され、それぞれ1本に束ねられて外部に取り出されている。被検査物100は、トレー10に載置された状態で検査、搬送される。トレー10にはその表面に複数の位置決め部材11(図4参照)が立設し、この複数の位置決め部材11の間に被検査物100は位置決めされ、固定されている。
[Object to be inspected]
The object to be inspected 100 is not particularly limited as long as it has a generally rectangular parallelepiped shape with four corners in plan view, but in this embodiment, it is a lithium ion polymer battery having a stacked structure. A lithium-ion polymer battery consists of alternating square positive and negative electrode plates housed in a case filled with electrolyte. A separator is present between the positive electrode plate and the negative electrode plate, and a positive electrode lead is connected to the positive electrode plate, and a negative electrode lead is connected to the negative electrode plate, and each is bundled into one and taken out to the outside. The object to be inspected 100 is inspected and transported while being placed on the tray 10 . A plurality of positioning members 11 (see FIG. 4) are erected on the surface of the tray 10, and the object to be inspected 100 is positioned and fixed between the plurality of positioning members 11.

[非破壊検査装置]
図1及び図2に示すように、非破壊検査装置1は、被検査物100の透視画像を撮像する放射線発生器2と放射線検出器3、被検査物100を検査位置Pまで移動させる検査台4、検査台4上で被検査物100を上方から撮像してその位置決めを行う撮像部5、遮蔽箱6、被検査物100が載置されたトレー10を搬送する搬送機構7、搬送機構7から検査台4へと、及び検査台4から搬送機構7へとトレー10を移送する移送機構8、を備える。非破壊検査装置1は、これらの構成を制御する制御装置9を更に備える。
[Non-destructive testing equipment]
As shown in FIGS. 1 and 2, the nondestructive inspection apparatus 1 includes a radiation generator 2 and a radiation detector 3 that take a fluoroscopic image of an object to be inspected 100, and an inspection table that moves the object to be inspected 100 to an inspection position P. 4. An imaging unit 5 that images the inspected object 100 from above on the inspection table 4 and positions it; a shielding box 6; a transport mechanism 7 that transports the tray 10 on which the inspected object 100 is placed; A transfer mechanism 8 for transferring the tray 10 from the inspection table 4 to the inspection table 4 and from the inspection table 4 to the transfer mechanism 7 is provided. The non-destructive testing device 1 further includes a control device 9 that controls these configurations.

放射線発生器2は、被検査物100に向けて放射線ビームを照射する。放射線ビームは、焦点を頂点として角錐形状に拡大する放射線の束である。放射線は、例えばX線である。この放射線発生器2は、例えばX線管である。 The radiation generator 2 irradiates a radiation beam toward the object 100 to be inspected. A radiation beam is a bundle of radiation that expands into a pyramid shape with a focal point as its apex. The radiation is, for example, an X-ray. This radiation generator 2 is, for example, an X-ray tube.

放射線検出器3は、放射線発生器2の焦点と対向して配置され、放射線の透過経路に応じて減弱した放射線強度の二次元分布を検出し、当該放射線強度に比例した透過データを出力する。この放射線検出器3は、例えばイメージインテンシファイア(I.I.)とカメラ、又はフラットパネルディテクタ(FPD)により構成される。 The radiation detector 3 is disposed facing the focal point of the radiation generator 2, detects a two-dimensional distribution of radiation intensity that is attenuated according to the radiation transmission path, and outputs transmission data proportional to the radiation intensity. The radiation detector 3 includes, for example, an image intensifier (I.I.), a camera, or a flat panel detector (FPD).

本実施形態において、放射線発生器2と放射線検出器3は、2組設けられている。図3に示すように、2組の放射線発生器2と放射線検出器3は、各組が被検査物100の角を挟むように対向して配置されている。より詳細には、2つの放射線発生器2は、平面視において、それぞれの放射線ビームの光軸が検査台4上の被検査物100の手前で交差するように横並びに設けられる。被検査物100の手前で交差した放射線は、被検査物100の4つの角のうち放射線発生器2側の2つの角を透過する。この2つの角を透過した放射線は、それぞれ対応する放射線検出器3に検出される。 In this embodiment, two sets of radiation generators 2 and radiation detectors 3 are provided. As shown in FIG. 3, the two sets of radiation generators 2 and radiation detectors 3 are arranged opposite to each other so that the corners of the object to be inspected 100 are sandwiched between each set. More specifically, the two radiation generators 2 are arranged side by side so that the optical axes of their respective radiation beams intersect in front of the object to be inspected 100 on the inspection table 4 in plan view. The radiation that intersects in front of the object to be inspected 100 passes through two of the four corners of the object to be inspected 100 on the radiation generator 2 side. The radiation transmitted through these two corners is detected by the corresponding radiation detectors 3, respectively.

検査台4は、被検査物100が載置されたトレー10を載せ、搬送高さ位置Lからその上方に設定された検査高さ位置Hへと上昇させ、さらに検査位置Pへと移動させる。搬送高さ位置Lは、搬送機構7と略同じ高さにある検査台4の高さ位置である。検査高さ位置Hは、放射線発生器2が被検査物100の角を撮像する高さ位置である。検査位置Pは、被検査物100の放射線発生器2側の2つの角が放射線ビームの光軸に合うような当該被検査物100の位置である。検査台4は、自身をXYZ軸方向に移動させる移動機構41と、上下方向に延びる軸を中心に回転させる回転機構42とを備える。移動機構41は、例えば、サーボモータによって駆動されるボールねじ機構を用いることができる。すなわち、移動機構41は、サーボモータの駆動により、検査台4の支持面43をX軸方向、Y軸方向、Z軸方向に沿って移動させる。なお、本実施形態において、被検査物100の搬送方向をX軸方向、搬送機構7の載置面(水平面)においてX軸方向と垂直な方向をY方向、検査台4の昇降方向をZ軸方向とする。 The inspection table 4 is loaded with the tray 10 on which the object to be inspected 100 is placed, raised from the conveyance height position L to an inspection height position H set above the conveyance height position L, and then moved to the inspection position P. The transport height position L is the height position of the inspection table 4 which is approximately at the same height as the transport mechanism 7. The inspection height position H is a height position at which the radiation generator 2 images the corner of the object 100 to be inspected. The inspection position P is a position of the object to be inspected 100 such that two corners of the object to be inspected 100 on the side of the radiation generator 2 are aligned with the optical axis of the radiation beam. The inspection table 4 includes a movement mechanism 41 that moves itself in the XYZ axis directions, and a rotation mechanism 42 that rotates it around an axis extending in the vertical direction. As the moving mechanism 41, for example, a ball screw mechanism driven by a servo motor can be used. That is, the moving mechanism 41 moves the support surface 43 of the inspection table 4 along the X-axis direction, the Y-axis direction, and the Z-axis direction by driving a servo motor. In this embodiment, the transport direction of the inspection object 100 is the X-axis direction, the direction perpendicular to the X-axis direction on the mounting surface (horizontal surface) of the transport mechanism 7 is the Y-direction, and the vertical direction of the inspection table 4 is the Z-axis. direction.

移動機構41の移動によって、被検査物100の2つの角は、放射線ビームの光軸に合わせられる。回転機構42は、移動機構41の上に設けられ、例えば、モータ等の駆動源を含んでなるアクチュエータである。なお、移動機構41の下に回転機構42が設けられてもよい。回転機構42は、検査台4の支持面43をZ軸を中心に回転させる。この回転によって、検査台4上の被検査物100の角と放射線ビームの光軸との位置合わせを行うと共に、被検査物100を180°回転させることにより被検査物100の放射線発生器2側から遠い方の2つの角を撮像することが可能となる。 By moving the moving mechanism 41, the two corners of the object to be inspected 100 are aligned with the optical axis of the radiation beam. The rotation mechanism 42 is provided on the movement mechanism 41 and is, for example, an actuator including a drive source such as a motor. Note that the rotation mechanism 42 may be provided below the movement mechanism 41. The rotation mechanism 42 rotates the support surface 43 of the inspection table 4 around the Z-axis. By this rotation, the corner of the object 100 on the inspection table 4 and the optical axis of the radiation beam are aligned, and by rotating the object 100 by 180 degrees, the radiation generator 2 side of the object 100 is rotated 180 degrees. It becomes possible to image the two corners that are farthest from each other.

図4に示すように、トレー10が載せられる検査台4の支持面43は、一定の間隔を開けて並列した略同じ高さの3つの面からなり、それぞれの面が支柱44によって支持されている。3つの面の間隔及び3本の支柱44の間隔は、いずれも後述する移送機構8の2本のアーム81a、81bのそれぞれの幅よりも広く設けられる。移動機構41及び回転機構42は、3本の支柱44を一緒に移動させるので、支持面43の3つの面及び3本の支柱44の間隔は不変である。 As shown in FIG. 4, the support surface 43 of the examination table 4 on which the tray 10 is placed consists of three surfaces of approximately the same height that are arranged in parallel at a certain interval, and each surface is supported by a support 44. There is. The spacing between the three surfaces and the spacing between the three pillars 44 are both wider than the respective widths of two arms 81a and 81b of the transfer mechanism 8, which will be described later. Since the moving mechanism 41 and the rotating mechanism 42 move the three support columns 44 together, the intervals between the three surfaces of the support surface 43 and the three support columns 44 remain unchanged.

図2に示すように、撮像部5は、検査台4の上方に設けられ、平面視における被検査物100の位置ズレを検出するために被検査物100を撮像する。撮像部5は、赤外線(IR)カメラ、CCDカメラ、CMOSカメラを用いることができる。なお、本実施形態の撮像部5は、所定の間隔を開けて2つ設けられる。これは、互いに視差を有する2つの撮像部5からの画像を照合することで、平面視における被検査物100の位置ズレだけでなく、被検査物100の角の高さ位置も検出できるからである。 As shown in FIG. 2, the imaging unit 5 is provided above the inspection table 4 and images the object 100 to be inspected in order to detect a positional shift of the object 100 in plan view. The imaging unit 5 can use an infrared (IR) camera, a CCD camera, or a CMOS camera. Note that two imaging units 5 in this embodiment are provided with a predetermined interval therebetween. This is because by comparing images from two imaging units 5 that have parallax with each other, it is possible to detect not only the positional deviation of the object 100 to be inspected in plan view, but also the height position of the corner of the object 100 to be inspected. be.

遮蔽箱6は、放射線発生器2、放射線検出器3を囲い、放射線を遮蔽する。遮蔽箱6は、鉛などの放射線を遮蔽する材料を含み構成されている。遮蔽箱6は、例えば直方体形状である。遮蔽箱6には、被検査物100が載置されたトレー10を内部に搬入する搬入口61、遮蔽箱6内部の被検査物100を遮蔽箱6外部に搬出する搬出口62が設けられている。 The shielding box 6 surrounds the radiation generator 2 and the radiation detector 3 and shields radiation. The shielding box 6 is configured to include a radiation shielding material such as lead. The shielding box 6 has a rectangular parallelepiped shape, for example. The shielding box 6 is provided with an entrance 61 for transporting the tray 10 on which the object to be inspected 100 is placed inside, and an exit 62 for transporting the object 100 inside the shielding box 6 to the outside of the shielding box 6. There is.

図4に示すように、搬送機構7は、被検査物100が載置されたトレー10を搬入口61から検査台4へと、さらに検査台4から搬出口62へと搬送する機構である。搬送機構7は、遮蔽箱6に設けられた搬入口61と搬出口62を結ぶ方向に概略直線状に設けられ、遮蔽箱6を貫通している。すなわち、搬送機構7の搬送経路は、遮蔽箱6に設けられた搬入口61と搬出口62を結ぶ概略直線状である。搬送機構7は、搬送経路の途上に設けられる検査台4の前後に設けられた搬入コンベア71と搬出コンベア72を備える。搬入コンベア71は、遮蔽箱6の搬入口61側に設けられ、被検査物100を搬入口61から検査台4まで搬送する。搬出コンベア72は、遮蔽箱6の搬出口62側に設けられ、被検査物100を検査台4から搬出口62へと搬送する。搬入コンベア71と搬出コンベア72の表面には一定間隔ごとに突起73が設けられ、この突起73は、トレー10の搬送方向と垂直な一対の辺に設けられた凹みに係合し、トレー10を位置決めする。本実施形態の搬入コンベア71と搬出コンベア72は、コンベアベルトを2条としたので、トレー10の凹みは搬送方向と垂直な一対の辺に2つずつ設けられ、合計4つの凹みに4つの突起73が係合している。このように、2条のベルトに設けられた突起73によって、トレー10は一定の間隔を開けて搬送される。 As shown in FIG. 4, the transport mechanism 7 is a mechanism that transports the tray 10 on which the object to be inspected 100 is placed from the entrance 61 to the inspection table 4, and further from the examination table 4 to the exit 62. The transport mechanism 7 is provided approximately linearly in a direction connecting an inlet 61 and an outlet 62 provided in the shielding box 6 , and passes through the shielding box 6 . That is, the conveyance path of the conveyance mechanism 7 is a generally straight line connecting the carry-in port 61 and the carry-out port 62 provided in the shielding box 6. The transport mechanism 7 includes a carry-in conveyor 71 and a carry-out conveyor 72 provided before and after the inspection table 4 provided in the middle of the transport route. The carry-in conveyor 71 is provided on the carry-in port 61 side of the shielding box 6 and transports the object to be inspected 100 from the carry-in port 61 to the inspection table 4 . The carry-out conveyor 72 is provided on the side of the carry-out port 62 of the shielding box 6 and conveys the object to be inspected 100 from the inspection table 4 to the carry-out port 62 . Protrusions 73 are provided at regular intervals on the surfaces of the carry-in conveyor 71 and the carry-out conveyor 72, and the protrusions 73 engage with recesses provided on a pair of sides perpendicular to the conveyance direction of the tray 10, thereby moving the tray 10. Position. Since the carry-in conveyor 71 and the carry-out conveyor 72 of this embodiment have two conveyor belts, two recesses of the tray 10 are provided on each pair of sides perpendicular to the conveyance direction, and four protrusions are formed in a total of four recesses. 73 is engaged. In this way, the trays 10 are conveyed at a constant interval by the protrusions 73 provided on the two belts.

図4に示すように、搬送機構7は、搬入コンベア71から検査台4へと、及び検査台4から搬出コンベア72へと、被検査物100が載置されたトレー10を移送する移送機構8を備える。本実施形態の移送機構8は、搬入コンベア71上のトレー10と検査台4上のトレー10とを2つ同時に移送する。そのため、移送機構8は、検査台4の手前で搬入コンベア71上に停止しているトレー10と検査台4上のトレー10とを下方から支持できる長さの2本のアーム81a、81bを備える。2本のアーム81a、81bは、搬出コンベア72の2条のベルトの間に配置されるもので、基端側が互いに繋がった平面視で概略U字形状の部材である。2本のアーム81a、81bの先端側が搬入コンベア71の方に突出し、基端側は搬出コンベア72側に設けられたアーム移動機構82に支持されている。 As shown in FIG. 4, the transport mechanism 7 is a transport mechanism 8 that transports the tray 10 on which the object to be inspected 100 is placed from the carry-in conveyor 71 to the inspection table 4 and from the inspection table 4 to the carry-out conveyor 72. Equipped with The transfer mechanism 8 of this embodiment transfers two trays 10 on the carry-in conveyor 71 and the trays 10 on the inspection table 4 at the same time. Therefore, the transfer mechanism 8 includes two arms 81a and 81b of a length that can support the tray 10 stopped on the carry-in conveyor 71 in front of the inspection table 4 and the tray 10 on the inspection table 4 from below. . The two arms 81a and 81b are disposed between the two belts of the carry-out conveyor 72, and are generally U-shaped members in a plan view whose base ends are connected to each other. The distal ends of the two arms 81a and 81b protrude toward the carry-in conveyor 71, and the base ends are supported by an arm moving mechanism 82 provided on the carry-out conveyor 72 side.

アーム移動機構82は、2本のアーム81a、81bを搬出コンベア72の搬出方向(X軸方向)に沿って往復移動させると共に、搬入コンベア71、検査台4及び搬出コンベア72の表面からトレー10を昇降させる。すなわち、アーム移動機構82は、X軸方向に延びる2本のレール82aとこのレール82a上を走行するスライダ82bとを備える。また、アーム移動機構82は、2本のアーム81a、81bを上下方向(Z軸方向)に移動させる昇降機構82cを備える。昇降機構82cは、例えば、サーボモータによって駆動されるボールねじ機構を用いることができる。 The arm moving mechanism 82 reciprocates the two arms 81a and 81b along the carry-out direction (X-axis direction) of the carry-out conveyor 72, and removes the tray 10 from the surfaces of the carry-in conveyor 71, the inspection table 4, and the carry-out conveyor 72. Raise and lower. That is, the arm moving mechanism 82 includes two rails 82a extending in the X-axis direction and a slider 82b running on the rails 82a. The arm moving mechanism 82 also includes a lifting mechanism 82c that moves the two arms 81a and 81b in the vertical direction (Z-axis direction). For example, a ball screw mechanism driven by a servo motor can be used as the lifting mechanism 82c.

図5に示すように、制御装置9は、放射線発生器2と放射線検出器3、検査台4、撮像部5、搬送機構7及び移送機構8を制御する。また、制御装置9は、放射線発生器2及び放射線検出器3が撮像した透視画像や撮像部5が撮像した画像を解析する。すなわち、搬送機構7の搬入コンベア71、搬出コンベア72及び移送機構8に被検査物100を搬送させる。また、撮像部5に検査台4上の被検査物100を撮像させ、この画像に基づいて検査台4をXYZ方向に移動させ、被検査物100の角を放射線ビームの光軸に合わせる。さらに、放射線発生器2と放射線検出器3に被検査物100を撮像させる。制御装置9は、所謂コンピュータであり、CPU、HDD又はSSDといったストレージ、RAM及びドライバ回路で構成される。ストレージはプログラムを記憶し、RAMはプログラムが展開され、またデータが一時的に記憶され、CPUはプログラムを処理し、ドライバ回路はCPUの処理結果に従って各構成に電力を供給する。 As shown in FIG. 5, the control device 9 controls the radiation generator 2, the radiation detector 3, the examination table 4, the imaging section 5, the transport mechanism 7, and the transport mechanism 8. Further, the control device 9 analyzes the fluoroscopic images taken by the radiation generator 2 and the radiation detector 3 and the images taken by the imaging unit 5. That is, the inspection object 100 is conveyed by the carry-in conveyor 71, the carry-out conveyor 72, and the transfer mechanism 8 of the conveyance mechanism 7. Further, the imaging unit 5 is caused to image the object 100 on the inspection table 4, and based on this image, the inspection table 4 is moved in the XYZ directions to align the corner of the object 100 with the optical axis of the radiation beam. Furthermore, the radiation generator 2 and the radiation detector 3 are caused to image the inspection object 100. The control device 9 is a so-called computer, and includes a CPU, a storage such as an HDD or an SSD, a RAM, and a driver circuit. The storage stores programs, the RAM expands programs and temporarily stores data, the CPU processes programs, and the driver circuit supplies power to each component according to the processing results of the CPU.

[1-2.実施形態の作用]
本実施形態の被検査物100の搬送及び検査手順について、図6及び図7を参照しつつ、以下に説明する。搬送機構7の搬送経路には、被検査物100が載置されたトレー10が一定の間隔ごとに位置決めされ、並べられている。搬送機構7は、これらのトレー10を搬入口61から搬出口62へと搬送する。まず、搬送機構7の搬入コンベア71は、これらのトレー10を搬入口61から検査台4の手前まで搬送する。搬入コンベア71は、検査対象の被検査物100が載置されたトレー10(以下、対象トレー10aともいう。)を検査台4の手前まで搬送すると、ベルトコンベヤの動作を一時停止する。なお、検査台4上には、今しがた検査を終えたトレー10(被検査物100)が載置されている(以下、検査済トレー10bともいう。)。ここでは、検査台4の高さと搬送機構7の高さとは略同一である。すなわち、検査台4は搬送高さ位置Lに位置している。
[1-2. Effect of embodiment]
The transportation and inspection procedure of the inspection object 100 of this embodiment will be described below with reference to FIGS. 6 and 7. On the transport path of the transport mechanism 7, trays 10 on which objects to be inspected 100 are placed are positioned and lined up at regular intervals. The conveyance mechanism 7 conveys these trays 10 from the carry-in port 61 to the carry-out port 62. First, the carrying-in conveyor 71 of the carrying mechanism 7 carries these trays 10 from the carrying-in port 61 to the front of the inspection table 4. When the carry-in conveyor 71 conveys the tray 10 (hereinafter also referred to as the target tray 10a) on which the inspection object 100 to be inspected is placed in front of the inspection table 4, the operation of the belt conveyor is temporarily stopped. Note that a tray 10 (inspected object 100) that has just been inspected is placed on the inspection table 4 (hereinafter also referred to as an inspected tray 10b). Here, the height of the inspection table 4 and the height of the transport mechanism 7 are approximately the same. That is, the inspection table 4 is located at the transport height position L.

図6(a)に示すように、移送機構8によって、2本のアーム81a、81bは、対象トレー10aの方向(X軸方向)へと移動する。2本のアーム81a、81bは、その先端から検査台4の3本の支柱44の間を通り、検査済トレー10bの下方を潜りながら、対象トレー10aの下方へと進出する(ステップS01)。図6(b)に示すように、2本のアーム81a、81bは、その先端が対象トレー10aの下方を超えて進出すると、X軸方向への移動を停止し、今度は上方向へと移動する。この時、2本のアーム81a、81bは、搬入コンベア71の2条のベルトの間、及び支持面43の3つの面の間からせり出し、対象トレー10a及び検査済トレー10bを持ち上げる(ステップS02)。 As shown in FIG. 6A, the two arms 81a and 81b are moved by the transfer mechanism 8 in the direction of the target tray 10a (X-axis direction). The two arms 81a, 81b pass between the three pillars 44 of the inspection table 4 from their tips, go under the inspected tray 10b, and advance below the target tray 10a (step S01). As shown in FIG. 6(b), when the tips of the two arms 81a and 81b advance beyond the bottom of the target tray 10a, they stop moving in the X-axis direction and then move upward. do. At this time, the two arms 81a and 81b protrude from between the two belts of the carry-in conveyor 71 and between the three surfaces of the support surface 43, and lift the target tray 10a and the inspected tray 10b (step S02). .

図6(c)に示すように、この持ち上げによって対象トレー10a及び検査済トレー10bがそれぞれ2条のベルト及び検査台4から離れると、2本のアーム81a、81bは上方向への移動を停止し、搬出コンベア72の方向(X軸方向)へと移動し、対象トレー10aを検査台4の上方へ、かつ検査済トレー10bを搬出コンベア72の上方へと移動させる(ステップS03)。図6(d)に示すように、対象トレー10aが検査台4の上方まで来ると、2本のアーム81a、81bはX軸方向への移動を停止し、下方向へと移動する。この時、2本のアーム81a、81bは支持面43を成す3つの面の間を通って下方向に移動し、対象トレー10aは2本のアーム81a、81bの手を離れて搬送高さ位置Lにある検査台4の支持面43に受け渡される(ステップS04)。また、対象トレー10aの検査台4への受け渡しと同時に、検査済トレー10bの搬出コンベア72への受け渡しも行われる。この受け渡しは、2本のアーム81a、81bが搬出コンベア72の2条のベルトの間を通り抜けて下方向に移動することによって行われる。この時、検査済トレー10bに設けられた凹部12は、搬出コンベア72の2条のベルトの表面に設けられた突起73と係合し、位置決めされる。 As shown in FIG. 6(c), when the target tray 10a and the inspected tray 10b are separated from the two belts and the inspection table 4 by this lifting, the two arms 81a and 81b stop moving upward. Then, it moves in the direction of the carry-out conveyor 72 (X-axis direction), and moves the target tray 10a above the inspection table 4 and the inspected tray 10b above the carry-out conveyor 72 (step S03). As shown in FIG. 6(d), when the target tray 10a reaches above the inspection table 4, the two arms 81a and 81b stop moving in the X-axis direction and move downward. At this time, the two arms 81a and 81b move downward passing between the three surfaces forming the support surface 43, and the target tray 10a leaves the hands of the two arms 81a and 81b and reaches the conveyance height position. It is delivered to the support surface 43 of the inspection table 4 located at L (step S04). Further, at the same time as the target tray 10a is delivered to the inspection table 4, the inspected tray 10b is also delivered to the carry-out conveyor 72. This transfer is performed by the two arms 81a and 81b passing between the two belts of the carry-out conveyor 72 and moving downward. At this time, the recess 12 provided in the inspected tray 10b engages with the protrusion 73 provided on the surface of the two belts of the carry-out conveyor 72, and is positioned.

移送機構8から対象トレー10aを受け取った検査台4は、移動機構41によって対象トレー10aを搬送高さ位置Lから検査高さ位置Hまで上昇させる(ステップS05)。各被検査物100の高さが略同一である場合は、検査台4が対象トレー10aを受け取る搬送高さ位置Lから検査高さ位置Hまでの移動距離は一定である。一方、各被検査物100の高さにバラツキがある場合は、2つの撮像部5によって被検査物100を上方から撮像して被検査物100の角の高さを検出することによって、この移動距離を調整してもよい。 Upon receiving the target tray 10a from the transfer mechanism 8, the inspection table 4 uses the moving mechanism 41 to raise the target tray 10a from the transport height position L to the inspection height position H (step S05). When the heights of the objects 100 to be inspected are substantially the same, the moving distance from the transport height position L where the inspection table 4 receives the target tray 10a to the inspection height position H is constant. On the other hand, if there is variation in the height of each object to be inspected 100, the height of the corner of the object to be inspected 100 is detected by capturing an image of the object to be inspected 100 from above using the two imaging units 5. You may adjust the distance.

検査高さ位置Hにおいて、撮像部5は、対象トレー10aに載置された被検査物100を上方から撮像する。制御装置9は、撮像部5が撮像した画像を取得及び解析し、平面視における被検査物100の位置ズレがないか確認する。位置ズレが検出された場合、検査台4は移動機構41によって被検査物100の位置を調整し、検査位置Pへと移動させる(ステップS06)。 At the inspection height position H, the imaging unit 5 images the object to be inspected 100 placed on the target tray 10a from above. The control device 9 acquires and analyzes the image captured by the imaging unit 5, and checks whether there is any positional shift of the inspected object 100 in plan view. When a positional shift is detected, the inspection table 4 adjusts the position of the inspected object 100 using the moving mechanism 41 and moves it to the inspection position P (step S06).

この位置ズレの検出は、例えば、平面視における2つの放射線ビームの光軸のラインを予め制御装置9が記憶しておき、撮像部5が撮像した画像から、被検査物100の放射線側の2つの角がこの光軸のライン上にあるか否かを判定することによって行われる。位置ズレが検出された場合、被検査物100の放射線側の2つの角がこの光軸のライン上に乗るように、検査台4の移動機構41または回転機構42、あるいはこれら両方が被検査物100を移動させる。 Detection of this positional shift is carried out, for example, by storing in advance the lines of the optical axes of the two radiation beams in a plan view in the control device 9, and from the image taken by the imaging unit 5, the line on the radiation side of the object 100 to be inspected. This is done by determining whether the two corners are on the line of this optical axis. When a positional shift is detected, the movement mechanism 41 or the rotation mechanism 42 of the inspection table 4, or both of them, move the inspection table 4 so that the two corners on the radiation side of the inspection table 100 are on the line of this optical axis. Move 100.

この移動について簡単に説明する。図3は、高さ位置Hまで移動した被検査物100の4つの角A1、A2、A3、A4のうち角A1だけが、放射線ビームの光軸のライン上に位置している状態を示している。まず、撮像部5が、この光軸と被検査物100の角の位置関係を、上方から撮像する。次に、制御装置9は、この撮像画像を分析することで、被検査物100が検査位置Pにないことを認識し、被検査物100を検査位置Pに移動させるためのX軸方向及びY軸方向への移動量を算出する。制御装置9は、この移動量に基づいて、検査台4の移動機構41または回転機構42、あるいはこれら両方によって、被検体100を移動させる。 This movement will be briefly explained. FIG. 3 shows a state in which only corner A1 of the four corners A1, A2, A3, and A4 of the inspected object 100 that has been moved to the height position H is located on the line of the optical axis of the radiation beam. There is. First, the imaging unit 5 images the positional relationship between the optical axis and the corner of the object to be inspected 100 from above. Next, by analyzing this captured image, the control device 9 recognizes that the object to be inspected 100 is not at the inspection position P, and moves the object to be inspected 100 to the inspection position P in the X-axis and Y-axis directions. Calculate the amount of movement in the axial direction. The control device 9 moves the subject 100 using the moving mechanism 41 or the rotating mechanism 42 of the examination table 4, or both, based on this movement amount.

このような移動量を算出するための画像処理方法としては、例えば、パターンマッチングを用いる方法、位相限定相関法を用いる方法などが利用できる。また、ICPなど既知の位置合わせアルゴリズムを用いてもよい。 As an image processing method for calculating such a movement amount, for example, a method using pattern matching, a method using a phase-only correlation method, etc. can be used. Also, a known alignment algorithm such as ICP may be used.

トレー10に載置された被検査物100が検査位置Pに移動した後、2つの放射線発生器2は、被検査物100に対して2つの異なる方向から放射線ビームを照射する。平面視における被検査物100の4つ角のうち、A1とA2が同時に撮像され、A1とA2を透過した放射線が放射線検出器3によって検出される(ステップS07-1)。制御装置9は、撮像された被検査物100のA1、A2における透視画像を放射線検出器3から取得し、所定のプログラムによって被検査物100の良不良を判定する。この後、後述のステップS08に進むが、その前にA3とA4を撮像するステップを挟んでもよい。すなわち、検査台4の回転機構42が支持面43を180°回転させ、2つの放射線発生器2によって、被検査物100の四つ角のうちA3とA4を同時に撮像してから(ステップS07-2)、ステップS08へと進んでもよい。 After the inspected object 100 placed on the tray 10 moves to the inspection position P, the two radiation generators 2 irradiate the inspected object 100 with radiation beams from two different directions. Of the four corners of the inspected object 100 in plan view, images of A1 and A2 are captured simultaneously, and the radiation that passes through A1 and A2 is detected by the radiation detector 3 (step S07-1). The control device 9 acquires the photographed fluoroscopic images at A1 and A2 of the inspected object 100 from the radiation detector 3, and determines whether the inspected object 100 is good or bad according to a predetermined program. After this, the process proceeds to step S08, which will be described later, but a step of capturing images of A3 and A4 may be inserted before that. That is, the rotation mechanism 42 of the inspection table 4 rotates the support surface 43 by 180 degrees, and the two radiation generators 2 simultaneously image A3 and A4 of the four corners of the object to be inspected 100 (step S07-2). , the process may proceed to step S08.

ステップS08は、被検査物100の撮像後、検査台4を搬送高さ位置Lまで下方向に移動させるステップである。すなわち、今しがた検査を終えたトレー10(被検査物100)が搬送高さ位置Lに位置する。最後に、搬入コンベア71が次の対象トレー10aを検査台4の手前まで移送し、搬出コンベア72が最初の検査済トレー10bを搬出口62の方へと搬送する(ステップS09)。すなわち、次に支持台から移送される検査済トレー10bを載置するためのスペースが搬出コンベア72に設けられる。以上、ステップS01~S09の動作が繰り返され、トレー10に載置された被検査物100が順次搬送及び検査される。 Step S08 is a step of moving the inspection table 4 downward to the transport height position L after capturing the image of the inspection object 100. That is, the tray 10 (inspected object 100) that has just been inspected is located at the transport height position L. Finally, the carry-in conveyor 71 transports the next target tray 10a to the front of the inspection table 4, and the carry-out conveyor 72 transports the first inspected tray 10b toward the carry-out port 62 (step S09). That is, a space is provided on the carry-out conveyor 72 for placing the inspected tray 10b to be transferred next from the support stand. The above operations of steps S01 to S09 are repeated, and the objects to be inspected 100 placed on the tray 10 are sequentially transported and inspected.

[1-3.実施形態の効果]
(1)本実施形態では、放射線発生器2は2つ設けられ、それぞれの放射線ビームの光軸が被検査物100の手前で交差するように設けられているので、被検査物100の4つの角のうち2つの角のみを一度に撮像することができる。これにより、被検査物100の1つの角を撮像した後に被検査物100を回転させるなどして別の1つの角を再び撮像するといった工程を省くことができるので、被検査物100の検査タクトを向上させることができる。
[1-3. Effects of embodiment]
(1) In this embodiment, two radiation generators 2 are provided, and the optical axes of the respective radiation beams are provided to intersect in front of the object to be inspected 100. Only two of the corners can be imaged at a time. This makes it possible to eliminate the step of imaging one corner of the object 100 and then rotating the object 100 to image another corner again, so the inspection tact of the object 100 can be reduced. can be improved.

(2)本実施形態では、撮像部5による被検査物100の撮像画像に基づいて、被検査物100の位置ズレを検出し、検査台4の移動機構41によってこの位置ズレを修正することができる。これにより、被検査物100のサイズのバラツキに依らず、被検査物100の角を正確に撮像することができる。 (2) In this embodiment, it is possible to detect a positional shift of the inspected object 100 based on the captured image of the inspected object 100 by the imaging unit 5, and correct this positional shift using the moving mechanism 41 of the inspection table 4. can. Thereby, the corners of the object to be inspected 100 can be accurately imaged regardless of variations in the size of the object to be inspected 100.

(3)本実施形態では、検査台4の回転機構42によって、被検査物100を180°回転させることができる。これにより、被検査物100の良否判定を厳格なものとするために4つの角全てを撮像する場合であっても、従来では4度の撮像と3度の回転する工程が必要となるところ、2度の撮像と1度の回転のみで検査を完了することができる。 (3) In this embodiment, the rotation mechanism 42 of the inspection table 4 can rotate the inspection object 100 by 180 degrees. As a result, even when all four corners are imaged in order to strictly judge the quality of the inspected object 100, a process of 4 degrees of imaging and 3 degrees of rotation is required in the conventional method. The inspection can be completed with only two imaging steps and one rotation.

(4)本実施形態では、2本のアーム81a、81bを備える移送機構8によって、搬入コンベア71上のトレー10と検査台4上のトレー10とを2つ同時に移送することができる。これにより、まず検査台4上のトレー10を移送し、次に搬入コンベア71上のトレー10を移送するという2工程を踏む場合と比較して、被検査物100の検査タクトを向上させることができる。 (4) In this embodiment, the two trays 10 on the carry-in conveyor 71 and the trays 10 on the inspection table 4 can be transferred simultaneously by the transfer mechanism 8 including the two arms 81a and 81b. As a result, the inspection tact of the object to be inspected 100 can be improved compared to the case where the two steps of first transferring the tray 10 on the inspection table 4 and then transferring the tray 10 on the carry-in conveyor 71 are performed. can.

(5)本実施形態では、搬送機構7のベルトコンベヤに一定の間隔で突起73が設けられ、被検査物100を載置するトレー10にはこの突起73に係合する凹部12が設けられている。これにより、搬送されるトレー10の間隔を一定にすることができるため、移送装置による2つのトレー10の同時移送が確実なものとなる。 (5) In this embodiment, the belt conveyor of the transport mechanism 7 is provided with protrusions 73 at regular intervals, and the tray 10 on which the object to be inspected 100 is placed is provided with the recesses 12 that engage with the protrusions 73. There is. Thereby, the interval between the trays 10 to be transported can be made constant, so that the simultaneous transport of the two trays 10 by the transport device is ensured.

[2.他の実施形態]
本明細書においては、本発明に係る複数の実施形態を説明したが、これらの実施形態は例として提示したものであって、発明の範囲を限定することを意図していない。以上のような実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の範囲を逸脱しない範囲で、種々の省略や置き換え、変更を行うことができる。これらの実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれると同様に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれるものである。
[2. Other embodiments]
Although a plurality of embodiments according to the present invention have been described in this specification, these embodiments are presented as examples and are not intended to limit the scope of the invention. The embodiments described above can be implemented in various other forms, and various omissions, substitutions, and changes can be made without departing from the scope of the invention. These embodiments and their modifications are included within the scope and gist of the invention as well as within the scope of the invention described in the claims and its equivalents.

(1)第1の実施形態では、被検査物100の角の位置ズレが検出された際、検査台4を移動させて放射線ビームの光軸に合わせたが、放射線発生器2の照射方向を変更させてもよい。この場合、放射線発生器2及び放射線検出器3には移動機構41が設けられ、この移動機構41によって照射方向及びそれに対向する検出方向を変更することができる。 (1) In the first embodiment, when the positional deviation of the corner of the inspected object 100 is detected, the inspection table 4 is moved to align with the optical axis of the radiation beam, but the irradiation direction of the radiation generator 2 is changed. You may change it. In this case, the radiation generator 2 and the radiation detector 3 are provided with a moving mechanism 41, and the moving mechanism 41 can change the irradiation direction and the detection direction opposite thereto.

(2)第1の実施形態の移送機構8は、2本のアーム81a、81bがトレー10を下から掬い上げて移送するものとしたが、例えば、トレー10を上から把持して移送するものであってもよい。また、アーム81a、81bの本数についても、2本に限らず、例えば3本であってもよい。この場合、検査台4の支持面43は4つの面からなる。 (2) In the transfer mechanism 8 of the first embodiment, the two arms 81a and 81b scoop up the tray 10 from below and transfer it, but for example, the transfer mechanism 8 may grasp the tray 10 from above and transfer it. It may be. Furthermore, the number of arms 81a and 81b is not limited to two, but may be three, for example. In this case, the support surface 43 of the inspection table 4 consists of four surfaces.

(3)第1の実施形態では、被検査物100の角A1とA2を同時に撮像できるように2組の放射線発生器2と放射線検出器3を配置したが、他の2つの角を同時に撮像できるように2組の放射線発生器2と放射線検出器3を配置することもできる。例えば、被検査物100の搬送方向前方側の2つの角(図3におけるA2、A3)を撮影するように2つの放射線発生器2を検査台4の搬出側に配置しても良いし、搬送方向後方の2つの角(図3におけるA1、A4)を撮影するように、2つの放射線発生器2を検査台4の搬入側に配置しても良い。 (3) In the first embodiment, two sets of radiation generators 2 and radiation detectors 3 are arranged so that corners A1 and A2 of the object to be inspected 100 can be imaged simultaneously, but the other two corners can be imaged simultaneously. It is also possible to arrange two sets of radiation generators 2 and radiation detectors 3 so that the radiation generator 2 and the radiation detector 3 can be used. For example, the two radiation generators 2 may be placed on the unloading side of the inspection table 4 so as to photograph the two front corners (A2 and A3 in FIG. 3) of the inspection object 100 in the transport direction; Two radiation generators 2 may be arranged on the carry-in side of the examination table 4 so as to photograph the two rear corners (A1 and A4 in FIG. 3).

(4)第1の実施形態では、トレー10の搬送機構7と検査台4とを別部材としたが、トレー10の搬送機構7自体が検査台4を兼用することもできる。すなわち、搬送機構7によって搬送されるトレー10の位置決めが正確に行われるのであれば、搬送機構7を2組の放射線発生器2と放射線検出器3による検査位置Pで停止させ、その状態で搬送機構7に保持されているトレー10上の被検査物100の透視画像を撮像しても良い。 (4) In the first embodiment, the transport mechanism 7 for the tray 10 and the inspection table 4 are separate members, but the transport mechanism 7 for the tray 10 itself can also serve as the inspection table 4. That is, if the tray 10 transported by the transport mechanism 7 is accurately positioned, the transport mechanism 7 is stopped at the inspection position P by the two sets of radiation generators 2 and radiation detectors 3, and the tray 10 is transported in that state. A perspective image of the inspection object 100 on the tray 10 held by the mechanism 7 may be taken.

1…非破壊検査装置
10…トレー
10a…対象トレー
10b…検査済トレー
11…位置決め部材
12…凹部
100…被検査物
2…放射線発生器
3…放射線検出器
4…検査台
41…移動機構
42…回転機構
43…支持面
44…支柱
5…撮像部
6…遮蔽箱
61…搬入口
62…搬出口
7…搬送機構
71…搬入コンベア
72…搬出コンベア
73…突起
8…移送機構
81a、81b…アーム
82…アーム移動機構
82a…レール
82b…スライダ
82c…昇降機構
9…制御装置
1...Non-destructive inspection device 10...Tray 10a...Target tray 10b...Inspected tray 11...Positioning member 12...Recess 100...Object to be inspected 2...Radiation generator 3...Radiation detector 4...Inspection table 41...Movement mechanism 42... Rotating mechanism 43...Supporting surface 44...Strut 5...Imaging unit 6...Shielding box 61...Carrying inlet 62...Carrying out port 7...Transporting mechanism 71...Carrying in conveyor 72...Carrying out conveyor 73...Protrusion 8...Transfer mechanism 81a, 81b...Arm 82 ...Arm moving mechanism 82a...Rail 82b...Slider 82c...Elevating mechanism 9...Control device

Claims (4)

4つの角を有する被検査物に放射線ビームを照射する2つの放射線発生器と、
前記2つの放射線発生器にそれぞれ対向して設けられた2つの放射線検出器と、
前記被検査物を載置する検査台と、
前記被検査物を撮像する、前記検査台の上方において所定の間隔を開けて設けられた2つの撮像部と、
を備え、
前記放射線ビームの光軸は、前記被検査物の手前で交差し、前記被検査物の4つの角のうち前記放射線発生器側の2つの角を透過し、
前記検査台は、移動機構を備え、
前記移動機構は、前記2つの撮像部が撮像した画像から取得した前記放射線ビームの光軸と前記被検査物の前記2つの角の位置関係に基づいて、前記2つの角を前記放射線ビームの光軸に合わせる、
非破壊検査装置。
two radiation generators that irradiate a radiation beam to an object to be inspected having four corners;
two radiation detectors provided opposite to the two radiation generators, respectively;
an inspection table on which the object to be inspected is placed;
two imaging units provided at a predetermined interval above the inspection table , which capture images of the object to be inspected;
Equipped with
The optical axis of the radiation beam intersects in front of the object to be inspected, and transmits through two corners on the radiation generator side among the four corners of the object to be inspected,
The examination table includes a moving mechanism,
The moving mechanism moves the two corners to the light of the radiation beam based on the positional relationship between the optical axis of the radiation beam acquired from the images captured by the two imaging units and the two corners of the object to be inspected. Align with the axis
Non-destructive testing equipment.
前記検査台は、回転機構を備え、
前記回転機構は、前記被検査物の4つの角のうち前記放射線発生器と反対側の2つの角を前記放射線発生器側に向ける、
請求項1に記載の非破壊検査装置。
The examination table includes a rotation mechanism,
The rotation mechanism directs two corners of the object to be inspected, which are opposite to the radiation generator, toward the radiation generator.
The non-destructive testing device according to claim 1.
前記検査台の搬入側と搬出側とにそれぞれ設けられ、前記被検査物を一定の間隔で複数並べた状態で搬送する搬送機構と、
前記搬入側の搬送機構に載置された前記被検査物を前記検査台へ、かつ前記検査台に載置された前記被検査物を前記搬出側の搬送機構へ、前記被検査物を2つ同時に移送する移送機構と、
を更に備える、
請求項1に記載の非破壊検査装置。
a conveyance mechanism that is provided on an input side and an output side of the inspection table, and conveys a plurality of the inspection objects arranged at regular intervals;
The object to be inspected placed on the transport mechanism on the carry-in side is transferred to the inspection table, and the object to be inspected placed on the inspection table is transferred to the transfer mechanism on the carry-out side. A transport mechanism that simultaneously transports the
further comprising;
The non-destructive testing device according to claim 1.
前記移送機構は、
前記搬入側の搬送機構に載置された前記被検査物と、前記検査台に載置された前記被検査物と、を下方から支持する2本のアームと、
前記2本のアームを支持し、前記2本のアームを往復移動および昇降させるアーム移動機構と、を含み、
前記アーム移動機構は、前記2本のアームを前記搬出側の搬送機構の搬出方向に沿って往復移動させると共に、前記搬出側の搬送機構、前記検査台、び前記搬出側の搬送機構の表面から前記被検査物を昇降させるように構成される、
請求項3に記載の非破壊検査装置。
The transfer mechanism is
two arms that support the object to be inspected placed on the transport mechanism on the carry-in side and the object to be inspected placed on the inspection table from below;
an arm movement mechanism that supports the two arms and reciprocates and raises and lowers the two arms;
The arm moving mechanism reciprocates the two arms along the carry-out direction of the carry-out side conveyance mechanism, and also moves the two arms back and forth along the carry-out direction of the carry-out-side conveyance mechanism, and also moves the two arms between the carry-out side conveyance mechanism, the inspection table, and the surface of the carry-out side conveyance mechanism. configured to raise and lower the inspected object from
The non-destructive testing device according to claim 3.
JP2019173845A 2019-09-25 2019-09-25 Non-destructive testing equipment Active JP7401232B2 (en)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2019173845A JP7401232B2 (en) 2019-09-25 2019-09-25 Non-destructive testing equipment
CN202010439967.5A CN112649448B (en) 2019-09-25 2020-05-22 Non-destructive inspection equipment

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2019173845A JP7401232B2 (en) 2019-09-25 2019-09-25 Non-destructive testing equipment

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2021050992A JP2021050992A (en) 2021-04-01
JP7401232B2 true JP7401232B2 (en) 2023-12-19

Family

ID=75157636

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2019173845A Active JP7401232B2 (en) 2019-09-25 2019-09-25 Non-destructive testing equipment

Country Status (2)

Country Link
JP (1) JP7401232B2 (en)
CN (1) CN112649448B (en)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113984799B (en) * 2021-09-13 2022-11-18 深圳市日联科技有限公司 X-ray omnibearing detection system and method for laminated lithium battery
DE102021130653A1 (en) * 2021-11-23 2023-05-25 Volkswagen Aktiengesellschaft Method for determining the placement accuracy of a plurality of electrode sheets in a stack and a measuring device
DE102022102764A1 (en) 2022-02-07 2023-08-10 Volkswagen Aktiengesellschaft Determination of the relative alignment of layers of an electrode-separator composite

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006090793A (en) 2004-09-22 2006-04-06 Shimadzu Corp X-ray fluoroscope
JP2007101392A (en) 2005-10-05 2007-04-19 Shimadzu Corp X-ray inspection equipment
US20110096900A1 (en) 2009-10-26 2011-04-28 Sk Energy Co., Ltd. Electrode Inspection Device for Battery and Method of the Same
JP2012127709A (en) 2010-12-14 2012-07-05 Showa Denko Kk Inspection device for cylindrical body
JP2018105773A (en) 2016-12-27 2018-07-05 コニカミノルタ株式会社 X-ray imaging system

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2010104107A1 (en) * 2009-03-13 2010-09-16 ポニー工業株式会社 X-ray inspection apparatus and x-ray inspection method
CN204203128U (en) * 2014-10-31 2015-03-11 世高株式会社 X ray checking device

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006090793A (en) 2004-09-22 2006-04-06 Shimadzu Corp X-ray fluoroscope
JP2007101392A (en) 2005-10-05 2007-04-19 Shimadzu Corp X-ray inspection equipment
US20110096900A1 (en) 2009-10-26 2011-04-28 Sk Energy Co., Ltd. Electrode Inspection Device for Battery and Method of the Same
JP2012127709A (en) 2010-12-14 2012-07-05 Showa Denko Kk Inspection device for cylindrical body
JP2018105773A (en) 2016-12-27 2018-07-05 コニカミノルタ株式会社 X-ray imaging system

Also Published As

Publication number Publication date
CN112649448B (en) 2024-09-13
CN112649448A (en) 2021-04-13
JP2021050992A (en) 2021-04-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101380858B1 (en) Battery inspection apparatus
JP7401232B2 (en) Non-destructive testing equipment
CN108307656B (en) X-ray inspection method and X-ray inspection apparatus
JP5502132B2 (en) Inspection device
KR101669510B1 (en) Apparatus for Investigating Objects with X-ray Having Structure of Carrier Fixation
CN112889119B (en) Non-destructive automatic inspection system
KR101673544B1 (en) An Apparatus for Inspecting Batteries Automatically in Succession
KR200487281Y1 (en) Apparatus for examining substrate
KR20190013014A (en) An X-ray Inspecting Apparatus Capable of Investigating a Inner Defect and a Welding Part
KR101654819B1 (en) A Moving Stage for X-ray Inspection and An Apparatus with the Same
KR102646569B1 (en) A Plural Conveying Paths Type of an X-ray Investigating Apparatus
KR20210002965A (en) A Noncontact Type of an X-Ray Investigating Apparatus and a Method for Investigating an Article with the Same
KR20220149024A (en) A Method for Investigating an Arrangement of a Battery Cell
KR102049429B1 (en) X-ray Apparatus for Inspecting Object Automatically Using Controlled Transfer Structure
JP2023142052A (en) Radiation inspection device
KR102270832B1 (en) An X-ray Apparatus for Detecting a Flaw of an Object with a Structure of Multi-Investigating Point and Multi-Exit Passage
KR102522899B1 (en) Apparatus for inspecting loaded status of electronic components
JP7407629B2 (en) Non-destructive testing equipment
TW202012947A (en) Electronic component handler and electronic component tester
JP2015219035A (en) Inspection device
KR20200068180A (en) An X-Ray Investigating Apparatus for Avoiding an Interference
JP7485543B2 (en) Non-destructive Inspection Equipment
WO2021177491A1 (en) X-ray inspection apparatus having multi-path structure
JP7466362B2 (en) Non-destructive Inspection Equipment
JP2006177760A (en) X-ray inspection apparatus, X-ray inspection method, and X-ray inspection program

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20220704

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20230329

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20230411

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20230609

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20230829

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20230921

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20231114

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20231207

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 7401232

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350