JP7407339B2 - ずれ検出方法およびずれ検出装置 - Google Patents

Description

本願は、電池の製造分野に関し、特に、電極アセンブリを巻回して製造する際に電極アセンブリの位置ずれを検出するためのずれ検出方法およびずれ検出装置に関する。

電極アセンブリは、電池セル内で電気化学反応を起こす部品として、一般的に、第１の電極シート、第２の電極シートおよびセパレータを巻回または積層して形成される。電極アセンブリの巻回過程において、第１の電極シート、第２の電極シートおよびセパレータにヨーイング現象が発生しやすいため、第１の電極シート、第２の電極シートおよびセパレータが正常位置からずれてしまう。電極アセンブリの巻回の良否は、電池セルの性能に直接影響する。したがって、電極アセンブリのずれ検出を如何に正確に行えるかは、電池の製造にとって非常に重要である。

本発明は、上記問題点に鑑み、電極アセンブリの巻回時の位置ずれを正確に検出することができるずれ検出方法およびずれ検出装置を提供する。

第１の態様では、第１の電極シート、第２の電極シートおよびセパレータを含む電極アセンブリの巻回時の位置ずれを検出するためのずれ検出方法であって、第１のカメラおよび第２のカメラによって、前記電極アセンブリの巻回過程における第１の電極シートの画像を含む第１の画像と前記電極アセンブリの巻回過程における第２の電極シートの画像を含む第２の画像とを取得するステップと、前記第１の画像における基準点および前記第２の画像における基準点から、前記第１の画像および第２の画像に現れる同じ対象の位置である特定位置までの距離に基づき、前記第１のカメラおよび前記第２のカメラがずれているか否かを判定するカメラずれ判定ステップと、前記第１のカメラおよび前記第２のカメラがずれていないと判定された場合、前記第１の画像における基準点から第１の電極シートの境界までの垂直距離と、前記第２の画像における基準点から第２の電極シートの境界までの垂直距離に基づき、前記電極アセンブリがずれているか否かを判定する電極アセンブリずれ判定ステップと、を含むずれ検出方法を提供する。

電極アセンブリが巻回されると、第１の電極シート、第２の電極シートおよびセパレータが積層され、かつ撮影ユニットの制限を受けるため、第１のカメラによって取得された第１の図および第２カメラによって取得された第２の図を用いて、電極アセンブリの巻回時の位置ずれを検出する必要がある。したがって、電極アセンブリの位置ずれに関する正確な判定にとって、第１のカメラおよび第２のカメラが正しい位置にあることが前提となる。本願の実施例に係る技術案では、第１のカメラによって取得された第１の画像と第２のカメラによって取得された第２画像だけで、カメラの位置ずれと電極アセンブリの位置ずれを判定することができ、カメラ位置ずれの判定のために画像を別途取得する必要がない。これにより、第１のカメラおよび第２のカメラが正しい位置にあることを低コストで効率的に確保し、これを前提として電極アセンブリの位置ずれを正確に判定することができる。

一部の実施例では、カメラずれ判定ステップは、第１の画像に基づき、第１の基準点から前記特定位置までの距離である第１の距離を取得するステップと、第２の画像に基づき、第２の基準点から前記特定位置までの距離である第２の距離を取得するステップと、前記第１の距離と前記第２の距離との差が第１の閾値より大きい場合、前記第１のカメラと前記第２のカメラとの間に相対変位が生じていると判定するステップと、を含む。本願の実施例に係る技術案では、第１のカメラおよび／または第２のカメラがずれていない限り、第１の画像の第１の基準点および第２の画像の第２の基準点はそれぞれ電極アセンブリの固定点に対応し、かつ特定位置は、第１の画像にも第２の画像にも現れ、電極アセンブリの固定点にも対応する。したがって、第１の基準点から特定位置までの距離と、第２の基準点から特定位置までの距離との差は一定である。このように、この差を第１の閾値と比較することにより、第１のカメラと第２のカメラとの間に相対変位が生じているか否かを容易に判定することができる。

一部の実施例では、カメラずれ判定ステップは、前記第１の画像において、第１の基準点から前記特定位置までの距離である第１の距離を取得するステップと、前記第２の画像において、第２の基準点から前記特定位置までの距離である第２の距離を取得するステップと、前記第１の距離が第１の距離の参考値範囲を超える場合、前記第１のカメラがずれていると判定するステップと、前記第２の距離が第２の距離の参考値範囲を超える場合、前記第２のカメラがずれていると判定するステップと、を含む。このように、第１の距離、第２の距離をそれぞれ所定値と比較することにより、第１のカメラと第２のカメラが位置ずれしているか否かをそれぞれ判定することができ、第１の距離と第２の距離との関係を判定するよりも正確にどのカメラが位置ずれしているかを判定することができる。

一部の実施例では、前記特定位置は、前記セパレータの境界であるか、または前記特定位置は、前記電極アセンブリへのレーザ照射位置であり、前記レーザは、レーザマシンによって放出されて電極アセンブリに照射され、前記第１の画像および前記第２の画像に画素の境界を生成するために用いられる。本願の実施例に係る技術案では、セパレータは、第１の画像にも第２の画像にも現れ、かつセパレータの縁は第１の電極シートおよび第２の電極シートの縁を超えているため、非常に識別されやすい。したがって、セパレータの境界を特定位置として設定することにより、他の装置を別途導入しなくても、第１のカメラと第２のカメラの位置ずれを容易に判定できる。また、レーザで第１の画像および第２の画像に特定位置を生成し、第１のカメラおよび第２のカメラの位置ずれを判定することもできる。

一部の実施例では、電極アセンブリずれ判定ステップは、前記第１の画像において、第３の基準点から前記第１の電極シートの境界までの垂直距離である第３の距離を取得するステップと、前記第２の画像において、第４の基準点から前記第２の電極シートの境界までの垂直距離である第４の距離を取得するステップと、前記第１の距離と前記第２の距離との差が前記第１の閾値以下であり、かつ前記第３の距離と前記第４の距離との差から前記第１の電極シートの境界と前記第２の電極シートの境界との所定距離を引いて得られた差（絶対値）が第２の閾値より大きい場合、前記電極アセンブリがずれていると判定するステップと、を含む。このように、第１のカメラおよび第２のカメラが正しい位置にあることを確保した前提で、依然として第１の画像および第２の画像により、電極アセンブリの巻回時の位置がずれているか否かを正確に判定することができる。

一部の実施例では、電極アセンブリずれ判定ステップは、前記第１の画像において、第３の基準点から前記第１の電極シートの境界までの垂直距離である第３の距離を取得するステップと、前記第２の画像において、第４の基準点から前記第２の電極シートの境界までの垂直距離である第４の距離を取得するステップと、前記第１の距離と前記第２の距離との差が前記第１の閾値以下であり、かつ前記第３の距離が第３の距離の参考値範囲を超える場合、前記第１の電極シートがずれていると判定するステップと、前記第１の距離と前記第２の距離との差が前記第１の閾値以下であり、かつ前記第４の距離が第４の距離の参考値範囲を超える場合、前記第２の電極シートがずれていると判定するステップと、を含む。このように、第３の距離および第４の距離をそれぞれ所定値と比較することにより、第１の電極シートと第２の電極シートがそれぞれ位置ずれしているか否かを判定することができ、第３の距離と第４の距離との関係を判定するよりも正確にどの電極シートが位置ずれしているかを判定することができる。

一部の実施例では、電極アセンブリずれ判定ステップは、前記第１の画像において、第３の基準点から前記第１の電極シートの境界までの垂直距離である第３の距離を取得し、前記第２の画像において、第４の基準点から前記第２の電極シートの境界までの垂直距離である第４の距離を取得するステップと、前記第３の距離と前記第４の距離との差から前記第１の電極シートの境界と前記第２の電極シートの境界との所定距離を引いた後、さらに前記第１の距離と前記第２の距離との差を引いて得られた差（絶対値）が第３の閾値より大きい場合、前記電極アセンブリがずれていると判定するステップと、を含む。本願の実施例に係る技術案では、第１の距離と第２の距離との差は、第１のカメラと第２のカメラによる第１の画像と第２の画像との間の座標系のずれである。第３の距離と第４の距離との差から、第１の距離と第２の距離との差をさらに引くことにより、巻回時の電極アセンブリの位置判定を行う際に、第１のカメラと第２のカメラの位置ずれを除去し、第１の電極シートの境界と第２の電極シートの境界との実際の距離を取得できるため、電極アセンブリの位置ずれをより正確に判定することができる。

一部の実施例では、前記第２のカメラは、赤外線光源を用いて１層の前記セパレータを透過し、その後ろの前記第２の電極シートを撮影する。これにより、第２の画像において第２の電極シートを識別することを確保し、第３の距離と比較して電極アセンブリが巻回時に位置ずれしているか否かを判定するように第４の距離をさらに取得することができる。

一部の実施例では、前記セパレータは、第１のセパレータおよび第２のセパレータを含み、前記第１の画像は、第１の電極シートおよび第１のセパレータを含み、前記第２の画像は、第２の電極シートおよび第２のセパレータを含み、前記特定位置は、前記第２のセパレータが前記第１のセパレータから露出している境界であるか、または前記第１のセパレータが前記第２のセパレータから露出している境界である。これにより、第１のセパレータおよび／または第２のセパレータが位置ずれしたとしても、第１の画像における特定位置と第２の画像における特定位置とが対応していることを確保することができる。

第２の態様では、第１の電極シート、第２の電極シートおよびセパレータを含む電極アセンブリの巻回時の位置ずれを検出するためのずれ検出装置であって、前記電極アセンブリの巻回過程における第１の電極シートの画像を含む第１の画像と、前記電極アセンブリの巻回過程における第２の電極シートの画像を含む第２の画像と、をそれぞれ取得する第１のカメラおよび第２のカメラと、前記第１の画像における基準点および前記第２の画像における基準点から特定位置までの距離に基づき、前記第１のカメラおよび前記第２のカメラがずれているか否かを判定し、前記第１のカメラおよび第２のカメラがずれていないと判定された場合、前記第１の画像における基準点から第１の電極シートの境界までの垂直距離および前記第２の画像における基準点から第２の電極シートの境界までの垂直距離に基づき、前記電極アセンブリがずれているか否かを判定するずれ判定ユニットとを備えるずれ検出装置を提供する。

本明細書に示された図面は、本願のさらなる理解を提供するために用いられ、本願の一部を構成し、本願の概略的な実施例およびその説明は、本願の説明に用いられ、本願を不当に制限するものではない。以下のような図面がある。

本願の一実施例に係る電極アセンブリ製造設備の概略図である。 本願の一実施例に係る巻回後の電極アセンブリの概略図である。 本願の一実施例に係る巻回後の電極アセンブリのＸ－Ｙ断面を含む断面図である。 本願の一実施例に係る電極アセンブリを展開した場合の概略図である。 本願の一実施例に係るずれ検出方法のフローチャートである。 本願の一実施形態に係る第１の画像および第２の画像の概略図である。 本願の一実施形態の、第１のカメラおよび第２のカメラが許容範囲内の位置ずれを起こした際の実際の電極アセンブリのずれ量を示す図である。 本願の一実施形態の、第１のセパレータが第２のセパレータから露出している際の特定位置を示す図である。

符号の説明：
１００－電極アセンブリ
１－第１の電極シート
１１－第１のタブ
２－第２の電極シート
２２－第２のタブ
３－セパレータ
３１－第１のセパレータ
３２－第２のセパレータ
４－撮影ユニット
４１－第１のカメラ
４２－第２のカメラ
５－巻線針
６－特定位置
Ｔ１－第１の画像
Ｔ２－第２の画像
Ａ１－第１の基準点
Ａ２－第２の基準点
ｄ１－第１の距離
ｄ２－第２の距離
ｄ３－第３の距離
ｄ４－第４の距離
２００－ずれ検出方法

本願の実施例の目的、技術案および利点をより明確化するために、以下は本願の実施例における図面を参照し、本願の実施例に係る技術案を明確に説明する。明らかに、ここで説明される実施例は本願の全部の実施例ではなく、一部に過ぎない。本願の実施例に基づき、当業者が創造的な努力をせずに得られる他の実施例はいずれも本願の保護範囲内である。

特に定義しない限り、本明細書で用いられる全ての技術用語および科学用語は、本願に係る当業者が一般的に理解するものと同じ意味を有する。本明細書で用いられる用語は、具体的な実施例を説明するためだけであり、本願を限定することを意図するものではない。本願の明細書、特許請求の範囲および図面の簡単な説明における「含む」や「有する」という用語、並びにそれらのいかなる変形は、非排他的な包含をカバーすることを意図するものである。本願の明細書や特許請求の範囲または上記図面における「第１」「第２」などの用語は、特定の順序や主従関係を表すためではなく、異なる対象を区別するために用いられる。

本明細書で言う「実施例」は、実施例に記載の特定の特徴、構造または特性を組み合わせたものが本願の少なくとも１つの実施例に含まれ得ることを意味する。本明細書の各箇所に現れるこの用語は、必ずしも全てが同じ実施例を指すものではなく、他の実施例と互いに排他的で独立または代替の実施例を意味するものでもない。当業者が明示的にも暗黙的にも理解できるように、本願に記載された実施例は他の実施例と組み合わせることができる。

本願の説明において、特に明記・限定しない限り、技術用語の「装着」、「つながる」、「接続」、「取付」などは、広義に理解されるべきである。例えば、固定接続、取り外し可能な接続、または一体化でもよく、直接つながっても中間媒体を介した間接つながってもよく、二つの素子内部の連通であってもよい。当業者からすれば、具体的な状況に応じて本願におけるこれらの用語の具体的な意味を理解できる。

本願の「および／または」という用語は、関連する対象の関連関係を説明するものに過ぎず、３つの関係があり得ることを意味する。「Ａおよび／またはＢ」を例にすると、単にＡ、ＡとＢの両方、単にＢという３つの場合があり得る。また、本文における「／」は、一般的に前後の関連対象が「または」という関係を有すると示す。

本願に現れた「複数」は、２つ以上（２つを含む）を意味する。同様に、「複数組」は、２組以上（２組を含む）を意味し、「複数枚」は、２枚以上（２枚を含む）を意味する。

図１は、本願の一実施例に係る電極アセンブリ製造設備の概略図である。図２は、巻回してなる電極アセンブリ１００を示している。図１に示すように、電極アセンブリ製造設備は、搬送装置および巻回装置、つまり巻線針５を備える。搬送装置によって、ベルト状の第１の電極シート１、第２の電極シート２およびセパレータ３を巻線針５まで搬送し、第１の電極シート１、セパレータ３、第２の電極シート２およびセパレータ３を順次に巻線針５に巻き付けて電極アセンブリ１００を形成する（図２を参照）。図１における巻線針５は例示的なものに過ぎず、電池セルの種類や電池筐体の形状に応じて、電極アセンブリは断面が円筒形または楕円形である電極アセンブリとして巻回されることができる（図２、図３を参照）。

巻線針５が１回転する（３６０°）毎に、電極アセンブリ１００は１層ずつ増加する。図２に示すように、電極アセンブリ１００のＸ方向における厚さは、巻線針５の回転につれて徐々に厚くなる。また、ベルト状の第１の電極シート１、第２の電極シート２およびセパレータ３（第１のセパレータ３１および第２のセパレータ３２を含む）の幅によって、電極アセンブリ１００のＺ軸方向における高さが決められる。図３は、図２に示す電極アセンブリ１００のＸ－Ｙ平面における断面図である。図３に示すように、各巻回層において、Ｘ方向に沿って外から内へと順次に第２のセパレータ３２、第２の電極シート２、第１のセパレータ３１および第１の電極シート１である。このように、各巻回層において、第２の電極シート２および第１の電極シート１は、第１のセパレータ３１および第２のセパレータ３２によって分離されている。

電極アセンブリの巻回過程において重要なパラメータは、巻回後の電極アセンブリ１００のＺ軸方向における整列度である。具体的には、巻回後の電極アセンブリ１００のＺ軸方向における整列度とは、Ｚ軸方向における第２の電極シート２と第１の電極シート１との相対位置のことである。図４は、積層して巻回された後の電極アセンブリ１００をＹ方向に沿って展開した図である。図に示すように、Ｚ軸方向（すなわち、展開された電極アセンブリ１００の幅方向）において、外から内へと順次に、セパレータ３（第１のセパレータ３１、第２のセパレータ３２を含む）、第２の電極シート２および第１の電極シート１が位置している。すなわち、Ｚ軸方向において、第１のセパレータ３１と第２のセパレータ３２は境界が面一で最外側に位置し、第１の電極シート１は最内側に位置し、かつ第２の電極シート２は第１の電極シート１から一定の距離（所定距離）を隔てている。電極アセンブリ１００の巻回過程では、第２の電極シート２および第１の電極シート１にヨーイング現象が発生しやすいため、第２の電極シート２と第１の電極シート１との相対位置がずれてしまい、製造される電池セルの品質や性能に影響を及ぼす。したがって、第２の電極シート２と第１の電極シート１との相対位置のずれを監視するために、電極アセンブリ製造装置は、撮影ユニット４をさらに備える。

理想的には、撮影ユニットは、巻回後の電極アセンブリ１００を撮影し、得られた画像において第２の電極シート２および第１の電極シート１を識別することによって、第２の電極シート２と第１の電極シート１との相対位置の関係を判定する。しかし、上述したように、電極アセンブリの各巻回層について、第１の電極シート１を撮影するために、第２のセパレータ３２、第２の電極シート２および第１のセパレータ３１を透過しなければならない。既存の撮影ユニットの限界により、例えば、赤外線撮影ユニットの透過能力は非常に限られており、撮影された巻回後の第１の電極シート１または第２の電極シート２の画像において、第２の電極シート２および第１の電極シート１を正確に識別してその相対位置の関係を判定することは非常に難しい。そのため、第１の電極シート１と第２の電極シート２がそれぞれ撮影された第１の画像Ｔ１と第２の画像Ｔ２によって、電極シートの位置ずれを判定する必要がある。

したがって、通常、第１のカメラ４１と第２のカメラ４２の撮影ユニットを用いて第１の画像Ｔ１と第２の画像Ｔ２をそれぞれ撮影する。第１の画像Ｔ１は、電極アセンブリ１００の巻回過程における第１の電極シート１を含み、第２の画像Ｔ２は、電極アセンブリ１００の巻回過程における第２の電極シート２を含む。しかし、続く問題は、まず第１の画像Ｔ１における座標系と第２の画像Ｔ２における座標系との相対関係が固定され、つまり、第１のカメラ４１および第２のカメラ４２が所定の位置にあり、ずれていないことを確保しなければならないということである。

以上のことを考慮し、発明者らが鋭意検討を行った結果、電極アセンブリ１００の巻回時の位置ずれを検出するためのずれ検出方法２００を提供する。図５は、本願の一実施例に係るずれ検出方法２００のフローチャートである。図６は、本願の一実施形態に係る第１の画像および第２の画像の概略図である。図５、図６に示すように、このずれ検出方法２００は、第１のカメラ４１および第２のカメラ４２によって、電極アセンブリ１００の巻回過程における第１の電極シート１の画像を含む第１の画像Ｔ１と、電極アセンブリ１００の巻回過程における第２の電極シート２の画像を含む第２の画像Ｔ２と、をそれぞれ取得するステップと、第１の画像Ｔ１における基準点および第２の画像Ｔ２における基準点から、第１の画像Ｔ１および第２の画像Ｔ２に現れる同じ対象の位置である特定位置６までの距離に基づき、第１のカメラ４１および第２のカメラ４２がずれているか否かを判定するカメラずれ判定ステップと、第１のカメラ４１および第２のカメラ４２がずれていないと判定された場合、第１の画像Ｔ１における基準点から第１の電極シート１の境界までの垂直距離と、第２の画像Ｔ２における基準点から第２の電極シート２の境界までの垂直距離に基づき、電極アセンブリ１００がずれているか否かを判定する電極アセンブリずれ判定ステップと、を含む。

上述したように、電極アセンブリ１００がずれているか否かを判定するために、第１のカメラ４１によって撮影された第１の電極シート１を含む第１の画像Ｔ１と、第２のカメラ４２によって撮影された第２の電極シート２を含む第２の画像Ｔ２と、を用いる必要がある。本願の実施例では、特定位置６は、第１の画像Ｔ１にも第２の画像Ｔ２にも現れ、電極アセンブリ１００の固定点に対応している。また、第１の画像Ｔ１および第２の画像Ｔ２には、対応関係を有する基準点が予め設定されており、第１のカメラ４１および第２のカメラ４２がずれていない限り、第１の画像Ｔ１および第２の画像Ｔ２における基準点は、それぞれ電極アセンブリ１００の固定点に対応し、つまり、第１の画像Ｔ１における基準点から特定位置６までの距離と、第２の画像Ｔ２における基準点から特定位置６までの距離との差は一定である。したがって、第１の画像Ｔ１における基準点から特定位置６までの距離と、第２の画像Ｔ２における基準点から特定位置６までの距離に基づき、第１のカメラ４１および第２のカメラ４２がずれているか否かを判定することができる。次に、第１のカメラ４１および第２のカメラ４２がずれていないと判定された場合、依然として第１の画像Ｔ１および第２の画像Ｔ２により、電極アセンブリ１００がずれているか否かを判定する。つまり、カメラ位置ずれ判定のためだけに画像を別途取得する必要がない。このように、低コストで効率的に第１のカメラ４１、第２のカメラ４２が正しい位置にあることを確保し、これを前提として電極アセンブリの位置ずれを正確に判定することができる。

本願の一部の実施例によれば、特定位置６はセパレータ３の境界であるか、または特定位置６は電極アセンブリへのレーザ照射位置であり、ここで、レーザは、レーザマシンによって放出されて電極アセンブリに照射され、第１の画像Ｔ１および第２の画像Ｔ２において画素の境界を形成するために用いられる。図６に示される特定位置６は、タブ１１、２２側から離れたセパレータ３の境界であるが、本願はこれに限定されず、特定位置６は、タブ１１、２２側のセパレータ３の境界であってもよい。特定位置６が電極アセンブリへのレーザ照射位置である場合、好ましくは、照射点が第１のカメラ４１によっても第２のカメラ４２によっても取得できる一つのレーザマシンを用いる。本願は２つのレーザマシンを用いることも可能であるが、２つのレーザマシンの位置合わせなどの問題を考慮する必要がある。

図６に示すように、撮影された巻回前の電極アセンブリ１００を有する第１の画像Ｔ１において、第１の電極シート１は、Ｘ軸方向に沿って最外側に位置し、第１の電極シート１の下方では順次に第１のセパレータ３１、第２の電極シート２および第２のセパレータ３２である。撮影ユニット４の透過能力にもよるが、第１の画像Ｔ１において、第１の電極シート１および第１のセパレータ３１を識別することが可能である。撮影された巻回後の電極アセンブリ１００を有する第２の画像Ｔ２において、第２のセパレータ３２は、Ｘ軸方向に沿って最外側に位置し、第２のセパレータ３２の下方では順次に第２の電極シート２、第１のセパレータ３１および第１の電極シート１である。撮影ユニット４の透過能力にもよるが、第２の画像Ｔ２において、少なくとも第２のセパレータ３２および第２の電極シート２を識別することが可能である。また、第１の画像Ｔ１において、第１のセパレータ３１の縁は第１の電極シート１を超えており、第２の画像Ｔ２において、第２のセパレータ３２の縁は第２の電極シート２の縁を超えているため、第１の画像Ｔ１および第２の画像Ｔ２において第１のセパレータ３１の境界および第２のセパレータ３２の境界を識別しやすい。さらに、図４に示すように、第１のセパレータ３１の境界と第２のセパレータ３２の境界はＺ軸方向において面一であり、つまり、第１の画像Ｔ１における第１のセパレータ３１の境界は、第２の画像Ｔ２における第２のセパレータ３２の境界に対応している。したがって、セパレータ３の境界は、第１の画像Ｔ１にも第２の画像Ｔ２にも現れ、かつ電極アセンブリ１００の同じ位置に対応している。このように、セパレータ３の境界を特定位置に設定することにより、他の装置を別途導入しなくても、第１のカメラ４１および第２のカメラ４２の位置ずれを容易に判定することができる。

レーザによって第１の画像Ｔ１および第２の画像Ｔ２に特定位置６を形成してもよい。これにより、例えば、第１のセパレータ３１および／または第２のセパレータ３２の製造誤差や第１のセパレータ３１および／または第２のセパレータ３２のずれによる影響を排除することができる。特定位置６が電極アセンブリへのレーザ照射位置である場合、好ましくは、照射点が第１のカメラ４１によっても第２のカメラ４２によっても取得できる一つのレーザマシンを用いる。

本願の一部の実施例によれば、ずれ検出方法２００のカメラずれ判定ステップは、第１の画像Ｔ１に基づき、第１の基準点Ａ１から特定位置６までのＺ軸方向に沿った距離である第１の距離ｄ１を取得するステップと、第２の画像Ｔ２に基づき、第２の基準点Ａ２から特定位置６までのＺ軸方向に沿った距離である第２の距離ｄ２を取得するステップと、第１の距離ｄ１と第２の距離ｄ２との差が第１の閾値より大きい場合、第１のカメラ４１と第２のカメラ４２との間に相対変位が生じていると判定するステップと、を含む。

第１の距離ｄ１は、第１の基準点Ａ１から特定位置６までのＺ軸方向に沿った画素点に画素当量を乗じたものであり、第２の距離ｄ２は、第２の基準点Ａ２からＺ軸方向に沿って特定位置６までの画素点に画素当量を乗じたものである。ここで、画素当量とは、一つの画素点が表す実際の距離であり、例えば、第１の画像Ｔ１において、第１の電極シート１のＺ軸の実際の幅を第１の画像Ｔ１における第１の電極シート１の総画素値で割ることによって求めることができる。

第１のカメラ４１がずれていない場合、第１の基準点Ａ１が確定されると、第１の基準点Ａ１は、常に第１の電極シート１の固定点に対応し、つまり、第１の画像において、第１の基準点Ａ１から特定位置６までのＺ軸方向に沿った距離ｄ１は一定である。同様に、第２のカメラ４２がずれていない場合、第２の基準点Ａ２から特定位置６までのＺ軸方向に沿った距離ｄ２も一定である。したがって、第１の距離ｄ１と第２の距離ｄ２との差も一定である。通常、第１のカメラ４１と第２のカメラ４２が同時にずれる確率は非常に低い。よって、第１のカメラ４１および第２のカメラ４２の位置ずれを別々に判定する必要がなく、判定効率を向上させることができる。

図６に示すように、第１の基準点Ａ１を以下のように確定してもよい。すなわち、第１のカメラ４１がラインスキャンカメラの場合、第１の電極シート１のＺ軸方向における中点が第１の画像Ｔ１の中央位置に現れ、つまり第１の電極シート１のＺ軸方向における中点が、第１の画像Ｔ１のＺ軸方向における画素中央点と重ねるように（例えば、第１の画像Ｔ１がＺ軸方向において４０９６画素を有する場合、画素中央点は２０４８番目の画素点である）、第１のカメラ４１の視野範囲を調整し、第１の基準点Ａ１を第１の画像Ｔ１のＺ軸方向における画素中央点として設定する。第２の基準点Ａ２を同様に確定してもよい。すなわち、第２の電極シート２のＺ軸方向における中点が、第２の画像Ｔ２のＺ軸方向における画素中央点と重ねるように、第２のカメラ４２の視野範囲を調整し、第２の基準点Ａ２を第２の画像Ｔ２のＺ軸方向における画素中央点として設定する。これにより、第１の基準点Ａ１は、第１の電極シート１のＺ軸方向における中点の画素点（２０４８番目の画素点）に対応し、第２の基準点Ａ２は、第２の電極シート２のＺ軸方向における中点の画素点（２０４８番目の画素点）に対応する。第１の画像Ｔ１および第２の画像Ｔ２の特定位置６はともにセパレータ３の境界に対応し、かつ理想的には第１の電極シート１の中点と第２の電極シート２の中点とが重なる。この理想的な場合では、第１のカメラ４１および第２のカメラ４２がずれていなければ、第１の基準点Ａ１から特定位置６までの第１の距離ｄ１は、第２の基準点Ａ２から特定位置６までの第２の距離ｄ２に等しい。このように、この差を第１の閾値（例えば、０．１５ｍｍ）と比較することにより、第１のカメラと第２のカメラとの間に相対変位が生じているか否かを容易に判定することができる。ただし、第１の基準点Ａ１および第２の基準点Ａ２は、画素中央点に限定されず、得られる第１の距離ｄ１と第２の距離ｄ２との関係が確定されているものであれば、第１の基準点Ａ１および第２の基準点Ａ２を任意に選択してもよい。また、第１のカメラ４１および第２のカメラ４２がラインスキャンカメラの場合、得られる第１の画像Ｔ１および第２の画像Ｔ２は一次元の線となる。しかし、第１のカメラ４１および第２のカメラ４２は、ラインスキャンカメラでなくてもよく、この場合、第１の画像Ｔ１および第２の画像Ｔ２は、二次元の画像であり、つまり、Ｙ方向に一定の長さを有するものである。第１の画像Ｔ１および第２の画像Ｔ２が二次元の場合、第１の画像Ｔ１および第２の画像Ｔ２におけるＹ方向のある同じ位置に対してラインスキャンカメラと同じ操作を行ってもよく、第１の距離ｄ１および第２の距離ｄ２をＹ方向全体の平均距離にしてもよい。

本願の一部の実施例によれば、ずれ検出方法２００のカメラずれ判定ステップは、第１の画像Ｔ１において、第１の基準点Ａ１から特定位置６までのＺ軸方向に沿った距離である第１の距離ｄ１を取得するステップと、第２の画像Ｔ２において、第２の基準点Ａ２から特定位置６までのＺ軸方向に沿った距離である第２の距離ｄ２を取得するステップと、第１の距離ｄ１が第１の距離の参考値範囲ｄ１＿ｒｅｆを超える場合、第１のカメラ４１がずれていると判定するステップと、第２の距離ｄ２が第２の距離の参考値範囲ｄ２＿ｒｅｆを超える場合、第２のカメラ４２がずれていると判定するステップと、を含む。

これにより、第１の距離ｄ１および第２の距離ｄ２をそれぞれ所定値ｄ１＿ｒｅｆおよび所定値ｄ２＿ｒｅｆと比較することにより、第１のカメラ４１と第２のカメラ４２とが位置ずれしているか否かをそれぞれ判定でき、第１の距離ｄ１と第２の距離ｄ２との関係を判定するよりも正確にどのカメラが位置ずれしているかを判定することができる。

あるいは、先に第１の距離ｄ１と第２の距離ｄ２との関係を判定し、第１のカメラ４１および第２のカメラ４２が位置ずれしているか否かを確認してもよい。第１のカメラ４１および第２のカメラ４２が位置ずれしていると確認されたら、第１の距離ｄ１と第１の距離の所定値ｄ１＿ｒｅｆ、および第２の距離ｄ２と第２の距離の所定値ｄ２＿ｒｅｆとの比較をさらに行い、どのカメラが位置ずれしているかをより正確に把握する。第１のカメラ４１および第２のカメラ４２が位置ずれしていないと確認された場合、第１の距離ｄ１と第１の距離の所定値ｄ１＿ｒｅｆ、および第２の距離ｄ２と第２の距離の所定値ｄ２＿ｒｅｆとの比較を行う必要がないため、ずれ判定の効率を向上させることができる。

本願の一部の実施例によれば、ずれ検出方法２００の電極アセンブリずれ判定ステップは、第１の画像Ｔ１において、第３の基準点Ａ３から第１の電極シート１の境界までの垂直距離である第３の距離ｄ３を取得するステップと、第２の画像Ｔ２において、第４の基準点Ａ４から第２の電極シート２の境界までの垂直距離である第４の距離ｄ４を取得するステップと、第１の距離ｄ１と第２の距離ｄ２との差が第１の閾値以下であり、かつ第３の距離ｄ３と第４の距離ｄ４との差から、第１の電極シート１境界と第２の電極シート２境界との所定距離を引いて得られた差が第２の閾値より大きい場合、電極アセンブリ１００がずれていると判定するステップと、を含む。

上述したように、電極アセンブリの巻回過程における重要なパラメータは、巻回後の電極アセンブリ１００のＺ軸方向における整列度であり、特に第１の電極シート１の境界と第２の電極シート２の境界との間の垂直距離である。第１のカメラ４１および第２のカメラ４２が正しい位置にあることが確保される前提において（第１の距離ｄ１と第２の距離ｄ２との差が第１の閾値以下である）、依然として第１の画像Ｔ１および第２の画像Ｔ２により、第３の距離ｄ３と第４の距離ｄ４との差を用いて第１の電極シート１の境界と第２の電極シート２の境界との垂直距離を取得することができ、得られた第１の電極シート１の境界と第２の電極シート２の境界との垂直距離をその所定距離とさらに比較すれば、電極アセンブリ１００の巻回時の位置がずれているか否かを正確に判定することができる。

なお、図６に示すように、第１の画像Ｔ１において、第３の基準点Ａ３は、第１の基準点Ａ１と重なっていてもよい。第２の画像Ｔ２において、第４の基準点Ａ４は、第２の基準点Ａ２と重なっていてもよい。ただし、第３の基準点Ａ３および第４の基準点Ａ４はこれに限定されるものではなく、得られる第３の距離ｄ３と第４の距離ｄ４との関係が確定されているものであればよい。

本願の一部の実施例によれば、ずれ検出方法２００の電極アセンブリずれ判定ステップは、第１の画像Ｔ１において、第３の基準点Ａ３から第１の電極シート１の境界までの垂直距離である第３の距離ｄ３を取得するステップと、第２の画像Ｔ２において、第４の基準点Ａ４から第２の電極シート２の境界までの垂直距離である第４の距離ｄ４を取得するステップと、第１の距離ｄ１と第２の距離ｄ２との差が第１の閾値以下であり、かつ第３の距離ｄ３が第３の距離の参考値ｄ３＿ｒｅｆ範囲を超える場合、第１の電極シート１がずれていると判定するステップと、第１の距離ｄ１と第２の距離ｄ２との差が第１の閾値以下であり、かつ第４の距離ｄ４が第４の距離の参考値ｄ４＿ｒｅｆ範囲を超える場合、第２の電極シート２がずれていると判定するステップと、を含む。このように、第３の距離ｄ３および第４の距離ｄ４を、所定値ｄ３＿ｒｅｆおよび所定値ｄ４＿ｒｅｆとそれぞれ比較することにより、第１の電極シート１と第２の電極シート２が位置ずれしているかをそれぞれ判定することができ、第３の距離ｄ３と第４の距離ｄ４との関係を判定するよりも正確にどの電極シートが位置ずれしているかを判定することができる。

あるいは、先に第３の距離ｄ３と第４の距離ｄ４との関係を判定し、電極アセンブリ１００が巻回時に位置ずれしているかを判定してもよい。電極アセンブリ１００が巻回時に位置ずれしていると判定されたら、第３の距離ｄ３と第３の距離の所定値ｄ３＿ｒｅｆ、および第４の距離ｄ４と第４の距離の所定値ｄ４＿ｒｅｆとの比較をさらに行い、どの電極シートが位置ずれしているかをより正確に把握することができる。電極アセンブリ１００が巻回時に位置ずれしていないと判定された場合、第３の距離ｄ３および第４の距離ｄ４と、所定値ｄ３＿ｒｅｆおよび所定値ｄ４＿ｒｅｆとの比較を行う必要がないため、ずれ判定の効率を向上させることができる。

本願の一部の実施例によれば、ずれ検出方法２００の電極アセンブリずれ判定ステップは、第１の画像Ｔ１において、第３の基準点Ａ３から第１の電極シート１の境界までの垂直距離である第３の距離ｄ３を取得し、第２の画像Ｔ２において、第４の基準点Ａ４から第２の電極シート２の境界までの垂直距離である第４の距離ｄ４を取得するステップと、第３の距離ｄ３と第４の距離ｄ４との差から前記第１の電極シートの境界と前記第２の電極シートの境界との所定距離を引いた後、さらに第１の距離ｄ１と第２の距離ｄ２との差を引いて得られた差が第３の閾値より大きい場合、電極アセンブリがずれていると判定するステップと、を含む。

図７に示すように、第１のカメラ４１および／または第２のカメラ４２の位置がわずかにずれているものの、ｄ１－ｄ２が第１の閾値より小さい場合、第３の距離ｄ３と第４の距離ｄ４との差によって得られる第１の電極シート１の境界と第２の電極シート２の境界とのずれ量は二つの部分を含む。すなわち、第１のカメラ４１および第２のカメラ４２による第１の画像Ｔ１、第２の画像Ｔ２における座標系のずれｄ１－ｄ２と、実際の第１の電極シート１の境界と第２の電極シート２の境界とのずれ量である。したがって、実際の第１の電極シート１の境界と第２の電極シート２の境界とのずれ量は、第３の距離ｄ３と第４の距離ｄ４との差から第１の距離ｄ１と第２の距離ｄ２との差を引いたものになる。このように、第１のカメラ４１と第２のカメラ４２の位置ずれによる影響を排除し、電極アセンブリ１００の位置ずれをより正確に判定することができる。

図７には、第１の基準点Ａ１と第３の基準点Ａ３が重なっており、かつ第２の基準点Ａ２と第４の基準点Ａ４が重なっている場合が示されている。理解すべきなのは、本願はこれに限定されるものではなく、第３の基準点Ａ３および第４の基準点Ａ４によって得られるｄ３およびｄ４が明確な対応関係を有し、第１の基準点Ａ１および第２の基準点Ａ２によって得られるｄ１およびｄ２が明確な対応関係を有し、かつｄ１－ｄ２が第１のカメラ４１および第２のカメラ４２による第１の画像Ｔ１および第２の画像Ｔ２における座標系のずれであることを満たせば、第１の基準点Ａ１～第４の基準点Ａ４を任意に選択してもよい。

本願の一部の実施例によれば、第２のカメラ４２は、赤外線光源を用いて１層のセパレータを透過し、その後ろの第２の電極シート２を撮影する。上述したように（図６を参照）、第２の画像Ｔ２において、第２の電極シート２は、第２のセパレータ３２の下方に位置する。このように、第２のセパレータ３２を透過可能な赤外線カメラの使用により、第２の画像Ｔ２において第２の電極シート２を識別することを確保し、第３の距離ｄ３と比較して電極アセンブリ１００が巻回時に位置ずれしているか否かを判定するように第４の距離ｄ４をさらに取得することができる。

本願の一部の実施例によれば、セパレータ３は、第１のセパレータ３１および第２のセパレータ３２を含み、第１の画像Ｔ１は、第１の電極シート１および第１のセパレータ３１を含み、第２の画像Ｔ２は、第２の電極シート２および第２のセパレータ３２を含み、特定位置６は、第２のセパレータ３２が第１のセパレータ３１から露出している境界であるか、または第１のセパレータ３１が第２のセパレータ３２から露出している境界である。

図８は、第１のセパレータ３１が第２のセパレータ３２から露出している例を示す図である。図８から分かるように、第１の画像Ｔ１では、第１のセパレータ３１は、第２のセパレータ３２の上方にあるため、第１のセパレータ３１の境界を識別し、それを特定位置６にすることができる。第２の画像Ｔ２では、第１のセパレータ３１は、第２のセパレータ３２の下方にあるが、第１のセパレータ３１が第２のセパレータ３２から露出しているため、第２の画像Ｔ２において第１のセパレータ３１の境界を識別し、それを特定位置６にすることもできる。これにより、第１の画像Ｔ１における特定位置６と第２の画像Ｔ２における特定位置６とが対応し、ともに第１のセパレータ３１の境界である。第２のセパレータ３２の境界が第１のセパレータの境界から露出している場合も同じである。このように、第１のセパレータ３１および／または第２のセパレータ３２が位置ずれしたとしても、第１の画像Ｔ１における特定位置６と第２の画像Ｔ２における特定位置６とが対応し、かつ電極アセンブリ１００の同じ位置に対応することを確保することができる。

本願の一部の実施例によれば、第２の画像Ｔ２を取得する時間は、第１の画像Ｔ１を取得する時間よりも遅く、この時間差は、第１のカメラ４１および第２のカメラ４２の撮影位置や電極アセンブリ１００の巻回速度によって設定される。このように、この時間差を調整することにより、撮影された第１の画像Ｔ１および第２の画像Ｔ２に、巻回後の同じ位置での第１の電極シート１および第２の電極シート２を表示させることができるため、同じ位置での第１の電極シート１および第２の電極シート２に対して位置ずれ検出を行うことが可能となり、検出結果がより正確になることができる。

本願の一部の実施例によれば、電極アセンブリの巻回時の位置ずれを検出するためのずれ検出装置であって、電極アセンブリ１００は、第１の電極シート１、第２の電極シート２およびセパレータ３を含み、ずれ検出装置は、電極アセンブリ１００の巻回過程における第１の電極シート１の画像を含む第１の画像Ｔ１と電極アセンブリ１００の巻回過程における第２の電極シート２の画像を含む第２の画像Ｔ２とをそれぞれ取得する第１のカメラ４１および第２のカメラ４２と、第１の画像Ｔ１における基準点および第２の画像Ｔ２における基準点から特定位置６までの距離に基づき、第１のカメラ４１および第２のカメラ４２がずれているか否かを判定し、第１のカメラ４１および第２のカメラ４２がずれていないと判定された場合、第１の画像Ｔ１における基準点から第１の電極シート１の境界までの垂直距離および第２の画像Ｔ２における基準点から第２の電極シート２の境界までの垂直距離に基づき、電極アセンブリ１００がずれているか否かを判定するずれ判定ユニットとを備えるずれ検出装置を提供する。

本願の一部の実施例によれば、図１～図６を参照すると、本願は、
第１のカメラ４１および第２のカメラ４２によって、電極アセンブリ１００の巻回過程における第１の電極シート１の画像を含む第１の画像Ｔ１と、電極アセンブリ１００の巻回過程における第２の電極シート２の画像を含む第２の画像Ｔ２と、を取得するステップと、
第１の画像Ｔ１における第１の基準点Ａ１を第１の画像Ｔ１のＺ軸方向における画素中央点（例えば、Ｚ軸方向に４０９６画素を有するラインスキャンカメラの場合、画素中央点は２０９６番目の画素点である）として設定し、第２の画像Ｔ２における第２の基準点Ａ２を第２の画像Ｔ２のＺ軸方向における画素中央点として設定し、かつ特定位置６をセパレータ３の境界として設定する。これにより、第１の画像Ｔ１における第１の基準点Ａ１からセパレータ３の境界までの第１の距離ｄ１と、第２の画像Ｔ２における第２の基準点Ａ２から特定位置６までの第２の距離ｄ２と、を取得する。第１の距離ｄ１および第２の距離ｄ２を第１の閾値と比較することにより、前記第１のカメラ４１および／または前記第２のカメラ４２がずれているか否かを判定する。第１のカメラ４１および／または第２のカメラ４２がずれている場合、第１の距離ｄ１と第１の距離の所定値ｄ１＿ｒｅｆ、第２の距離ｄ２と第２の距離の所定値ｄ２＿ｒｅｆをさらに比較することにより、第のカメラ４１と第２のカメラ４２のどちらのカメラがずれているかを判定するステップと、を含むずれ検出方法２００を提供する。

前記第１のカメラ４１および前記第２のカメラ４２がずれていないと判定された場合、電極アセンブリ１００がずれているか否かを判定する。第１の画像Ｔ１において、第３の基準点Ａ３が第１の基準点Ａ１と重ねるように設定し、かつ第２の画像Ｔ２において、第４の基準点Ａ４が第２の基準点Ａ２と重ねるように設定する。これにより、第１の画像Ｔ１における第３の基準点Ａ３（第１の基準点Ａ１）から第１の電極シート１の境界までの第３の距離ｄ３と、第２の画像Ｔ２における第４の基準点Ａ４（第２の基準点Ａ２）から第２の電極シート２の境界までの第４の距離ｄ４と、を取得する。この場合、ｄ３－ｄ４－（ｄ１－ｄ２）は実際の第１の電極シート１の境界と第２の電極シート２の境界とのずれ量であり、つまり、第１のカメラ４１および第２のカメラ４２の影響を排除した実際の電極アセンブリ１００のずれ量である。これに基づき、電極アセンブリ１００がずれているか否かをより正確に判定することができる。

最後に、説明すべきなのは、本願は上述した実施例に限定されるものではないことである。上述した実施例は、例示的なものに過ぎず、本願の技術案の範囲内で、技術的思想と実質的に同一の構成を有し、同一の効果を奏する実施例はすべて本願の保護範囲内に含まれる。また、本願の主旨を逸脱しない範囲で、実施例に対して当業者が考え得る様々な変形を加え、実施例の構成要素の一部を組み合わせてなる他の形態も本願の範囲内に含まれる。

Claims (10)

1. 第１の電極シート、第２の電極シートおよびセパレータを含む電極アセンブリの巻回時の位置ずれを検出するためのずれ検出方法であって、
   第１のカメラおよび第２のカメラによって、前記電極アセンブリの巻回過程における第１の電極シートの画像を含む第１の画像と、前記電極アセンブリの巻回過程における第２の電極シートの画像を含む第２の画像と、を取得するステップと、
   前記第１の画像における基準点および／または前記第２の画像における基準点から、前記第１の画像および前記第２の画像に現れる同じ対象の位置である特定位置までの距離に基づき、前記第１のカメラおよび／または前記第２のカメラがずれているか否かを判定するカメラずれ判断ステップと、
   前記第１のカメラおよび前記第２のカメラがずれていないと判定された場合、前記第１の画像における基準点から前記第１の電極シートの境界までの垂直距離と、前記第２の画像における基準点から前記第２の電極シートの境界までの垂直距離に基づき、前記電極アセンブリがずれているか否かを判定する電極アセンブリずれ判定ステップと、
   を含むずれ検出方法。
2. 前記カメラずれ判断ステップは、
   前記第１の画像に基づき、第１の基準点から前記特定位置までの距離である第１の距離を取得するステップと、
   前記第２の画像に基づき、第２の基準点から前記特定位置までの距離である第２の距離を取得するステップと、
   前記第１の距離と前記第２の距離との差が第１の閾値より大きい場合、前記第１のカメラと前記第２のカメラとの間に相対変位が生じていると判定するステップと、
   を含む請求項１に記載のずれ検出方法。
3. 前記カメラずれ判断ステップは、
   前記第１の画像に基づき、第１の基準点から前記特定位置までの距離である第１の距離を取得するステップと、
   前記第２の画像に基づき、第２の基準点から前記特定位置までの距離である第２の距離を取得するステップと、
   前記第１の距離が前記第１の距離の参考値範囲を超える場合、前記第１のカメラがずれていると判定するステップと、
   前記第２の距離が前記第２の距離の参考値範囲を超える場合、前記第２のカメラがずれていると判定するステップと、
   を含む請求項１に記載のずれ検出方法。
4. 前記特定位置は、前記セパレータの境界であるか、または前記電極アセンブリへのレーザ照射位置であり、
   前記レーザは、レーザマシンによって放出されて電極アセンブリに照射され、前記第１の画像および前記第２の画像に画素の境界を生成するために用いられる請求項１～３のいずれかに記載のずれ検出方法。
5. 前記電極アセンブリずれ判定ステップは、
   前記第１の画像に基づき、第３の基準点から前記第１の電極シートの境界までの垂直距離である第３の距離を取得するステップと、
   前記第２の画像に基づき、第４の基準点から前記第２の電極シートの境界までの垂直距離である第４の距離を取得するステップと、
   前記第１の距離と前記第２の距離との差が前記第１の閾値以下であり、かつ前記第３の距離と前記第４の距離との差から前記第１の電極シートの前記境界と前記第２の電極シートの前記境界との所定距離を引いて得られた差が第２の閾値より大きい場合、前記電極アセンブリがずれていると判定するステップと、
   を含む請求項２に記載のずれ検出方法。
6. 前記電極アセンブリずれ判定ステップは、
   前記第１の画像に基づき、第３の基準点から前記第１の電極シートの境界までの垂直距離である第３の距離を取得するステップと、
   前記第２の画像に基づき、第４の基準点から前記第２の電極シートの境界までの垂直距離である第４の距離を取得するステップと、
   前記第１の距離と前記第２の距離との差が前記第１の閾値以下であり、かつ前記第３の距離が第３の距離の参考値範囲を超える場合、前記第１の電極シートがずれていると判定するステップと、
   前記第１の距離と前記第２の距離との差が前記第１の閾値以下であり、かつ前記第４の距離が第４の距離の参考値範囲を超える場合、前記第２の電極シートがずれていると判定するステップと、
   を含む請求項２に記載のずれ検出方法。
7. 前記電極アセンブリずれ判定ステップは、
   前記第１の画像において、第３の基準点から前記第１の電極シートの境界までの垂直距離である第３の距離を取得し、前記第２の画像において、第４の基準点から前記第２の電極シートの境界までの垂直距離である第４の距離を取得するステップと、
   前記第３の距離と前記第４の距離との差から前記第１の電極シートの境界と前記第２の電極シートの境界との所定距離を引いた後、さらに前記第１の距離と前記第２の距離との差を引いて得られた差が第３の閾値より大きい場合、前記電極アセンブリがずれていると判定するステップと、
   を含む請求項２に記載のずれ検出方法。
8. 前記第２のカメラは、赤外線光源を用いて１層の前記セパレータを透過し、その後ろの前記第２の電極シートを撮影する請求項１～３のいずれか１項に記載のずれ検出方法。
9. 前記セパレータは、第１のセパレータおよび第２のセパレータを含み、
   前記第１の画像は、前記第１の電極シートおよび前記第１のセパレータを含み、
   前記第２の画像は、前記第２の電極シートおよび前記第２のセパレータを含み、
   前記特定位置は、前記第２のセパレータが前記第１のセパレータから露出している境界であるか、または前記第１のセパレータが前記第２のセパレータから露出している境界である請求項１～３のいずれか１項に記載のずれ検出方法。
10. 第１の電極シート、第２の電極シートおよびセパレータを含む電極アセンブリの巻回時の位置ずれを検出するためのずれ検出装置であって、
    前記電極アセンブリの巻回過程における前記第１の電極シートの画像を含む第１の画像と、前記電極アセンブリの巻回過程における前記第２の電極シートの画像を含む第２の画像と、をそれぞれ取得する第１のカメラおよび第２のカメラと、
    前記第１の画像における基準点および前記第２の画像における基準点から特定位置までの距離に基づき、前記第１のカメラおよび前記第２のカメラがずれているか否かを判定し、
    前記第１のカメラおよび前記第２のカメラがずれていないと判定された場合、前記第１の画像における基準点から前記第１の電極シートの境界までの垂直距離と、前記第２の画像における基準点から前記第２の電極シートの境界までの垂直距離に基づき、前記電極アセンブリがずれているか否かを判定するずれ判定ユニットと、
    を備えるずれ検出装置。