JP7409151B2 - Manufacturing method for copper clad laminates - Google Patents
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Description
本発明は、銅張積層板の製造方法に関する。さらに詳しくは、本発明は、フレキシブルプリント配線板(FPC)などの製造に用いられる銅張積層板の製造方法に関する。 The present invention relates to a method for manufacturing a copper-clad laminate. More specifically, the present invention relates to a method for manufacturing a copper-clad laminate used for manufacturing flexible printed wiring boards (FPC) and the like.
液晶パネル、ノートパソコン、デジタルカメラ、携帯電話などの電子機器には、樹脂フィルムの表面に配線パターンが形成されたフレキシブルプリント配線板や、フレキシブルプリント配線板に半導体チップを実装したチップオンフィルムが用いられる。 Electronic devices such as LCD panels, notebook computers, digital cameras, and mobile phones use flexible printed wiring boards, in which wiring patterns are formed on the surface of a resin film, and chip-on films, in which semiconductor chips are mounted on flexible printed wiring boards. It will be done.
フレキシブルプリント配線板は銅張積層板から製造される。銅張積層板の製造方法としてメタライジング法が知られている。メタライジング法による銅張積層板の製造は、例えば、つぎの手順で行なわれる。まず、樹脂フィルムの表面にニッケルクロム合金からなる下地金属層を成膜する。つぎに、下地金属層の上に銅薄膜層を成膜する。つぎに、銅薄膜層の上に銅めっき被膜を成膜する。銅めっきにより、配線パターンを形成するのに適した膜厚となるまで導体層を厚膜化する。メタライジング法により、樹脂フィルム上に直接導体層が形成された、いわゆる2層基板と称されるタイプの銅張積層板が得られる。 Flexible printed wiring boards are manufactured from copper-clad laminates. A metallizing method is known as a method for manufacturing copper-clad laminates. The manufacture of a copper-clad laminate by the metallizing method is performed, for example, by the following procedure. First, a base metal layer made of a nickel chromium alloy is formed on the surface of a resin film. Next, a copper thin film layer is formed on the base metal layer. Next, a copper plating film is formed on the copper thin film layer. The conductor layer is thickened by copper plating until it has a thickness suitable for forming a wiring pattern. By the metallizing method, a copper-clad laminate of a so-called two-layer board type in which a conductor layer is directly formed on a resin film is obtained.
サブトラクティブ法、セミアディティブ法(特許文献1参照)などにより、銅張積層板に配線パターンを形成することで、フレキシブルプリント配線板が得られる。また、フレキシブルプリント配線板にスズめっきを行なった後、ソルダーレジスト、カバーレイなどにより保護膜を形成し、半導体チップを実装すれば、チップオンフィルムが得られる。 A flexible printed wiring board can be obtained by forming a wiring pattern on a copper-clad laminate using a subtractive method, a semi-additive method (see Patent Document 1), or the like. Furthermore, after tin-plating a flexible printed wiring board, a protective film is formed using a solder resist, a coverlay, etc., and a semiconductor chip is mounted on the board to obtain a chip-on-film.
銅張積層板を製造する際に、ロールツーロール方式のめっき装置を用いて基材の一方の面に銅めっき被膜を成膜すると、得られた銅張積層板に反りが生じることがある。銅張積層板に反りがあると、配線パターンを形成する装置内での銅張積層板の搬送が安定しない。また、露光工程において行なわれる銅張積層板の真空吸着が困難になる。そのため、反りのない銅張積層板を製造することが求められる。 When manufacturing a copper-clad laminate, if a roll-to-roll plating device is used to form a copper plating film on one surface of a base material, the resulting copper-clad laminate may warp. If the copper-clad laminate is warped, the copper-clad laminate cannot be transported stably within an apparatus that forms wiring patterns. Further, vacuum suction of the copper-clad laminate during the exposure process becomes difficult. Therefore, it is required to manufacture copper-clad laminates that do not warp.
銅張積層板の反りはロールツーロール方式のめっき装置において基材にかかる搬送張力が一因となっている。搬送張力に対して伸びやすいフィルムの場合、フィルムが伸びた状態で銅めっき被膜が成膜される。めっき後に搬送張力から開放されたフィルムは元の長さに縮もうとする。しかし、フィルムの表面には銅めっき被膜が成膜されているため、銅めっき被膜側は縮むことができない。そのため、銅張積層板には銅めっき被膜側が突出した凸形状の反りが生じる。一方、搬送張力に対して伸びにくいフィルムの場合、めっき後のフィルムはあまり収縮しない。しかし、銅めっき被膜は時間の経過とともに再結晶が進行して収縮しようとする。そのため、銅張積層板には銅めっき被膜側が窪んだ凹形状の反りが生じる。 The warping of copper-clad laminates is caused by the transport tension applied to the base material in roll-to-roll plating equipment. In the case of a film that stretches easily under transport tension, the copper plating film is formed while the film is stretched. After plating, the film released from the transport tension tends to shrink to its original length. However, since a copper plating film is formed on the surface of the film, the copper plating film side cannot shrink. Therefore, a convex warpage occurs in the copper-clad laminate, with the copper plating film side protruding. On the other hand, in the case of a film that does not stretch easily under transport tension, the film does not shrink much after plating. However, the copper plating film tends to shrink as recrystallization progresses over time. Therefore, the copper-clad laminate has a concave warpage in which the copper plating film side is depressed.
例えば、高周波用の液晶ポリマーフィルムは搬送張力に対して伸びやすい。そのため、液晶ポリマーフィルムを用いて銅張積層板を製造すると、凸形状の反りが生じやすい。また、ポリイミドフィルムは搬送張力に対して伸びにくい。そのため、ポリイミドフィルムを用いて銅張積層板を製造すると、凹形状の反りが生じやすい。このように、フィルムの種類によって反りの傾向が異なる。 For example, liquid crystal polymer films for high frequencies tend to stretch under transport tension. Therefore, when a copper-clad laminate is manufactured using a liquid crystal polymer film, convex warpage is likely to occur. Furthermore, polyimide films do not stretch easily under conveying tension. Therefore, when a copper-clad laminate is manufactured using a polyimide film, concave warpage is likely to occur. In this way, the tendency for warping differs depending on the type of film.
本発明は上記事情に鑑み、反りの少ない銅張積層板が得られる銅張積層板の製造方法を提供することを目的とする。 In view of the above circumstances, an object of the present invention is to provide a method for manufacturing a copper-clad laminate that can produce a copper-clad laminate with less warpage.
第1態様の銅張積層板の製造方法は、ロールツーロールにより基材を搬送しつつ、該基材をブライトナー成分を含む銅めっき液を用いた電解めっきを行なうめっき槽と該基材に付着した該銅めっき液を除去する空走区間とを交互に通し、該基材の一方の面に銅めっき被膜を成膜して銅張積層板を得るにあたり、前記銅めっき液のブライトナー成分の濃度を高くすることで前記銅張積層板の前記銅めっき被膜側が窪んだ凹形状の反りを低減し、前記銅めっき液のブライトナー成分の濃度を低くすることで前記銅張積層板の前記銅めっき被膜側が突出した凸形状の反りを低減することを特徴とする。
第2態様の銅張積層板の製造方法は、ロールツーロールにより基材を搬送しつつ、該基材をブライトナー成分を含む銅めっき液を用いた電解めっきを行なうめっき槽と該基材に付着した該銅めっき液を除去する空走区間とを交互に通し、該基材の一方の面に銅めっき被膜を成膜して銅張積層板を得るにあたり、前記銅めっき液のブライトナー成分の濃度を所定値に設定して第1の銅張積層板を製造し、前記第1の銅張積層板が前記銅めっき被膜側が窪んだ凹形状の反りを有する場合は、前記銅めっき液のブライトナー成分の濃度を高くして第2の銅張積層板を製造し、前記第1の銅張積層板が前記銅めっき被膜側が突出した凸形状の反りを有する場合は、前記銅めっき液のブライトナー成分の濃度を低くして第2の銅張積層板を製造することを特徴とする。
The method for producing a copper-clad laminate according to the first aspect includes transporting the base material by roll-to-roll, and transferring the base material to a plating tank in which electrolytic plating is performed using a copper plating solution containing a brightener component. When forming a copper plating film on one side of the substrate to obtain a copper-clad laminate, the brightener component of the copper plating solution is By increasing the concentration of the brightener component of the copper-clad laminate, the warpage of the copper-plated layer side of the copper-clad laminate is reduced, and by decreasing the concentration of the brightener component of the copper-plating solution, the It is characterized by reducing warpage of the convex shape where the copper plating film side protrudes .
The method for producing a copper-clad laminate according to the second aspect includes transporting the base material by roll-to-roll, and transferring the base material to a plating tank in which electrolytic plating is performed using a copper plating solution containing a brightener component. When forming a copper plating film on one side of the substrate to obtain a copper-clad laminate, the brightener component of the copper plating solution is A first copper -clad laminate is manufactured by setting the concentration of When the second copper-clad laminate is manufactured by increasing the concentration of the brightener component, and the first copper-clad laminate has a convex warp with the copper plating film side protruding , the concentration of the copper plating solution is increased. The method is characterized in that the second copper-clad laminate is manufactured by lowering the concentration of the brightener component.
本発明によれば、銅めっき液のブライトナー成分の濃度を調整することで、反りの少ない銅張積層板を製造できる。 According to the present invention, a copper-clad laminate with less warpage can be manufactured by adjusting the concentration of the brightener component in the copper plating solution.
つぎに、本発明の実施形態を図面に基づき説明する。
図1に示すように、本発明の一実施形態に係る方法により製造される銅張積層板1は、基材10と、基材10の表面に成膜された銅めっき被膜20とからなる。図1に示すように基材10の片面のみに銅めっき被膜20が成膜されてもよいし、基材10の両面に銅めっき被膜20が成膜されてもよい。
Next, embodiments of the present invention will be described based on the drawings.
As shown in FIG. 1, a copper-clad laminate 1 manufactured by a method according to an embodiment of the present invention includes a base material 10 and a copper plating film 20 formed on the surface of the base material 10. As shown in FIG. 1, the copper plating film 20 may be formed on only one side of the base material 10, or the copper plating film 20 may be formed on both sides of the base material 10.
銅めっき被膜20は電解めっきにより成膜される。したがって、基材10は銅めっき被膜20が成膜される側の表面に導電性を有する素材であればよい。例えば、基材10は絶縁性を有するベースフィルム11の表面に金属層12が成膜されたものである。ベースフィルム11として液晶ポリマー(LCP)フィルム、ポリイミドフィルムなどの樹脂フィルムを用いることができる。金属層12はスパッタリング法などの乾式成膜法により成膜される。金属層12は下地金属層13と銅薄膜層14とからなる。下地金属層13と銅薄膜層14とはベースフィルム11の表面にこの順に積層されている。一般に、下地金属層13はニッケル、クロム、またはニッケルクロム合金からなる。特に限定されないが、下地金属層13の厚さは5~50nmが一般的であり、銅薄膜層14の厚さは50~400nmが一般的である。 The copper plating film 20 is formed by electrolytic plating. Therefore, the base material 10 may be any material as long as it has conductivity on the surface on which the copper plating film 20 is formed. For example, the base material 10 is formed by forming a metal layer 12 on the surface of a base film 11 having insulating properties. As the base film 11, a resin film such as a liquid crystal polymer (LCP) film or a polyimide film can be used. The metal layer 12 is formed by a dry film forming method such as a sputtering method. The metal layer 12 consists of a base metal layer 13 and a copper thin film layer 14. The base metal layer 13 and the copper thin film layer 14 are laminated in this order on the surface of the base film 11. Generally, base metal layer 13 is made of nickel, chromium, or a nickel-chromium alloy. Although not particularly limited, the thickness of the base metal layer 13 is generally 5 to 50 nm, and the thickness of the copper thin film layer 14 is generally 50 to 400 nm.
銅めっき被膜20は金属層12の表面に成膜されている。特に限定されないが、銅めっき被膜20の厚さは1~12μmが一般的である。なお、金属層12と銅めっき被膜20とを合わせて「導体層」と称する。 A copper plating film 20 is formed on the surface of the metal layer 12. Although not particularly limited, the thickness of the copper plating film 20 is generally 1 to 12 μm. Note that the metal layer 12 and the copper plating film 20 are collectively referred to as a "conductor layer."
銅めっき被膜20は、例えば、図2に示すようなロールツーロール方式のめっき装置3により成膜される。めっき装置3は、ロールツーロールにより長尺帯状の基材10を搬送しつつ、基材10に対して電解めっきを行なう装置である。めっき装置3はロール状に巻回された基材10を繰り出す供給装置31と、めっき後の基材10(銅張積層板1)をロール状に巻き取る巻取装置32とを有する。 The copper plating film 20 is formed by, for example, a roll-to-roll type plating apparatus 3 as shown in FIG. 2 . The plating apparatus 3 is an apparatus that performs electrolytic plating on the base material 10 while conveying the long strip-shaped base material 10 by roll-to-roll. The plating device 3 includes a supply device 31 that feeds out a base material 10 wound into a roll, and a winding device 32 that winds up the base material 10 (copper-clad laminate 1) after plating into a roll.
基材10の搬送経路には複数のめっき槽33が設けられている。めっき槽33には銅めっき液が貯留されている。また、めっき槽33の内部にはアノードが配置されている。基材10はめっき槽33を通過する際に銅めっき液に浸漬する。その状態で、アノードと基材10との間に電流を流すことで電解めっきが行なわれ、基材10の表面に銅めっき被膜20が成膜される。 A plurality of plating tanks 33 are provided on the transport path of the base material 10. Copper plating solution is stored in the plating tank 33. Further, an anode is arranged inside the plating tank 33. When the base material 10 passes through the plating bath 33, it is immersed in the copper plating solution. In this state, electrolytic plating is performed by passing a current between the anode and the base material 10, and a copper plating film 20 is formed on the surface of the base material 10.
隣り合うめっき槽33の間には空間が設けられている。この空間を空走区間34と称する。空走区間34では電解めっきが行なわれない。空走区間34において基材10は銅めっき液から引き上げられて空気中を搬送される。各空走区間34には基材10を搬送する複数の搬送ローラが配置されている。また、空走区間34には基材10に電流を供給する給電ローラが配置されることが一般的である。 A space is provided between adjacent plating tanks 33. This space is referred to as a free running section 34. Electrolytic plating is not performed in the idle running section 34. In the idle running section 34, the base material 10 is lifted out of the copper plating solution and conveyed in the air. A plurality of conveyance rollers for conveying the base material 10 are arranged in each idle running section 34. Further, a power supply roller that supplies current to the base material 10 is generally arranged in the idle running section 34 .
めっき槽33から出た直後の基材10には銅めっき液が付着している。基材10に付着した銅めっき液は搬送ローラにより掻き取られ、除去される。したがって、空走区間34では基材10に付着した銅めっき液が除去される。搬送ローラの抱き角が大きいほど、搬送ローラによって多くの銅めっき液が掻き取られるようになるため、銅めっき液の除去量が多くなる。ここで、抱き角とは、搬送ローラの周面のうち基材10のめっき面(銅めっき被膜20を成膜する方の面)と接している部分の搬送ローラの回転軸を中心とした角度範囲を意味する。 Copper plating solution is attached to the base material 10 immediately after coming out of the plating bath 33. The copper plating solution adhering to the base material 10 is scraped off and removed by the conveyance roller. Therefore, in the idle running section 34, the copper plating solution adhering to the base material 10 is removed. The larger the angle of embrace of the conveyance rollers, the more copper plating solution is scraped off by the conveyance rollers, so the amount of copper plating solution removed increases. Here, the embracing angle is the angle around the rotation axis of the conveying roller at the portion of the circumferential surface of the conveying roller that is in contact with the plating surface of the base material 10 (the surface on which the copper plating film 20 is formed). means range.
基材10はめっき槽33と空走区間34とを交互に通過する。この搬送の過程で、基材10には電解めっきよりその表面に銅めっき被膜20が成膜される。これにより、長尺帯状の銅張積層板1が得られる。 The base material 10 alternately passes through the plating bath 33 and the idle running section 34. During this transportation process, a copper plating film 20 is formed on the surface of the base material 10 by electrolytic plating. As a result, a long strip-shaped copper-clad laminate 1 is obtained.
なお、めっき槽33および空走区間34の数は特に限定されない。一般に、めっき槽33は4~19槽配置され、空走区間34は3~18区間となる。最も上流のめっき槽33と供給装置31との間に前処理槽を設けてもよい。また、最も下流のめっき槽33と巻取装置32との間に後処理槽を設けてもよい。 Note that the number of plating tanks 33 and idle running sections 34 is not particularly limited. Generally, 4 to 19 plating tanks 33 are arranged, and 3 to 18 empty running sections 34 are arranged. A pretreatment tank may be provided between the most upstream plating tank 33 and the supply device 31. Further, a post-treatment tank may be provided between the most downstream plating tank 33 and the winding device 32.
本実施形態では、基材10を供給装置31から巻取装置32まで搬送する一回のめっき処理により、基材10の一方の面に銅めっき被膜20を成膜する。基材10の片面のみに銅めっき被膜20が成膜された片面銅張積層板を製造する場合には、一回のめっき処理で終了する。基材10の両面に銅めっき被膜20が成膜された両面銅張積層板を製造する場合には、基材10の表裏を反転させつつ二回のめっき処理を行なう。具体的には、基材10の一方の面に銅めっき被膜20を成膜して片面銅張積層板を得た後、基材10の表裏を反転させて他方の面に銅めっき被膜20を成膜し、両面銅張積層板を得る。特に、表裏の銅めっき被膜20の厚さが異なる両面銅張積層板を製造する場合、成膜の条件によっては銅張積層板1に反りが生じることがある。 In this embodiment, the copper plating film 20 is formed on one surface of the base material 10 by a single plating process in which the base material 10 is transported from the supply device 31 to the winding device 32. When manufacturing a single-sided copper-clad laminate in which the copper plating film 20 is formed on only one side of the base material 10, the plating process is completed in one time. When manufacturing a double-sided copper-clad laminate in which the copper plating film 20 is formed on both sides of the base material 10, the plating process is performed twice while the base material 10 is turned over. Specifically, after forming the copper plating film 20 on one surface of the base material 10 to obtain a single-sided copper-clad laminate, the base material 10 is turned over and the copper plating film 20 is deposited on the other surface. A film is formed to obtain a double-sided copper-clad laminate. In particular, when manufacturing a double-sided copper-clad laminate in which the copper plating films 20 on the front and back sides have different thicknesses, the copper-clad laminate 1 may warp depending on the conditions of film formation.
めっき槽33に貯留される銅めっき液は水溶性銅塩を含む。銅めっき液に一般的に用いられる水溶性銅塩であれば、特に限定されず用いられる。水溶性銅塩として、無機銅塩、アルカンスルホン酸銅塩、アルカノールスルホン酸銅塩、有機酸銅塩などが挙げられる。無機銅塩として、硫酸銅、酸化銅、塩化銅、炭酸銅などが挙げられる。アルカンスルホン酸銅塩として、メタンスルホン酸銅、プロパンスルホン酸銅などが挙げられる。アルカノールスルホン酸銅塩として、イセチオン酸銅、プロパノールスルホン酸銅などが挙げられる。有機酸銅塩として、酢酸銅、クエン酸銅、酒石酸銅などが挙げられる。 The copper plating solution stored in the plating tank 33 contains water-soluble copper salt. Any water-soluble copper salt commonly used in copper plating solutions may be used without particular limitation. Examples of water-soluble copper salts include inorganic copper salts, alkanesulfonic acid copper salts, alkanolsulfonic acid copper salts, and organic acid copper salts. Examples of inorganic copper salts include copper sulfate, copper oxide, copper chloride, and copper carbonate. Examples of the copper alkanesulfonate include copper methanesulfonate and copper propanesulfonate. Examples of copper alkanolsulfonate salts include copper isethionate and copper propanolsulfonate. Examples of organic acid copper salts include copper acetate, copper citrate, and copper tartrate.
銅めっき液に用いる水溶性銅塩として、無機銅塩、アルカンスルホン酸銅塩、アルカノールスルホン酸銅塩、有機酸銅塩などから選択された1種類を単独で用いてもよいし、2種類以上を組み合わせて用いてもよい。例えば、硫酸銅と塩化銅とを組み合わせる場合のように、無機銅塩、アルカンスルホン酸銅塩、アルカノールスルホン酸銅塩、有機酸銅塩などから選択された1つのカテゴリー内の異なる2種類以上を組み合わせて用いてもよい。ただし、銅めっき液の管理の観点からは、1種類の水溶性銅塩を単独で用いることが好ましい。 As the water-soluble copper salt used in the copper plating solution, one type selected from inorganic copper salts, alkanesulfonic acid copper salts, alkanolsulfonic acid copper salts, organic acid copper salts, etc. may be used alone, or two or more types may be used. may be used in combination. For example, when combining copper sulfate and copper chloride, two or more different types within one category selected from inorganic copper salts, alkanesulfonic acid copper salts, alkanolsulfonic acid copper salts, organic acid copper salts, etc. May be used in combination. However, from the viewpoint of managing the copper plating solution, it is preferable to use one type of water-soluble copper salt alone.
銅めっき液は硫酸を含んでもよい。硫酸の添加量を調整することで、銅めっき液のpHおよび硫酸イオン濃度を調整できる。 The copper plating solution may contain sulfuric acid. By adjusting the amount of sulfuric acid added, the pH and sulfate ion concentration of the copper plating solution can be adjusted.
銅めっき液は一般的にめっき液に添加される添加剤を含む。銅めっき液は少なくともブライトナー成分を含む。また、銅めっき液はレベラー成分、ポリマー成分、塩素成分などを含んでもよい。 Copper plating solutions generally include additives that are added to the plating solution. The copper plating solution contains at least a brightener component. Further, the copper plating solution may contain a leveler component, a polymer component, a chlorine component, and the like.
ブライトナー成分は硫黄を含む。ブライトナー成分として、特に限定されないが、ビス(3-スルホプロピル)ジスルフィド(略称SPS)、3-メルカプトプロパン-1-スルホン酸(略称MPS)などから選択された1種類を単独で、または2種類以上を組み合わせて用いることが好ましい。レベラー成分は窒素を含有するアミンなどで構成される。レベラー成分として、特に限定されないが、ジアリルジメチルアンモニウムクロライド、ヤヌス・グリーンBなどから選択された1種類を単独で、または2種類以上を組み合わせて用いることが好ましい。ポリマー成分として、特に限定されないが、ポリエチレングリコール、ポリプロピレングリコール、ポリエチレングリコール-ポリプロピレングリコール共重合体から選択された1種類を単独で、または2種類以上を組み合わせて用いることが好ましい。塩素成分として、特に限定されないが、塩酸、塩化ナトリウムなどから選択された1種類を単独で、または2種類以上を組み合わせて用いることが好ましい。 Brightener ingredients contain sulfur. The brightener component is not particularly limited, but one or two types selected from bis(3-sulfopropyl) disulfide (abbreviation SPS), 3-mercaptopropane-1-sulfonic acid (abbreviation MPS), etc. It is preferable to use a combination of the above. The leveler component is composed of nitrogen-containing amines and the like. The leveler component is not particularly limited, but it is preferable to use one type selected from diallyldimethylammonium chloride, Janus Green B, etc. alone or in combination of two or more types. The polymer component is not particularly limited, but it is preferable to use one type selected from polyethylene glycol, polypropylene glycol, and polyethylene glycol-polypropylene glycol copolymer alone or in combination of two or more types. The chlorine component is not particularly limited, but it is preferable to use one type selected from hydrochloric acid, sodium chloride, etc. alone or in combination of two or more types.
銅めっき液の各成分の含有量は任意に選択できる。ただし、銅めっき液は銅を15~70g/L、硫酸を20~250g/L含有することが好ましい。そうすれば、銅めっき被膜20を十分な速度で成膜できる。銅めっき液はブライトナー成分を1~50mg/L含有することが好ましい。そうすれば、析出結晶を微細化し銅めっき被膜20の表面を平滑にできる。銅めっき液はレベラー成分を1~300mg/L含有することが好ましい。そうすれば、突起を抑制し平坦な銅めっき被膜20を形成できる。銅めっき液はポリマー成分を10~1,500mg/L含有することが好ましい。そうすれば、基材10端部への電流集中を緩和し均一な銅めっき被膜20を形成できる。銅めっき液は塩素成分を20~80mg/L含有することが好ましい。そうすれば、異常析出を抑制できる。 The content of each component in the copper plating solution can be arbitrarily selected. However, the copper plating solution preferably contains 15 to 70 g/L of copper and 20 to 250 g/L of sulfuric acid. In this way, the copper plating film 20 can be formed at a sufficient speed. The copper plating solution preferably contains a brightener component of 1 to 50 mg/L. By doing so, the precipitated crystals can be made finer and the surface of the copper plating film 20 can be made smooth. The copper plating solution preferably contains a leveler component of 1 to 300 mg/L. In this way, protrusions can be suppressed and a flat copper plating film 20 can be formed. The copper plating solution preferably contains a polymer component of 10 to 1,500 mg/L. By doing so, current concentration on the end portion of the base material 10 can be alleviated and a uniform copper plating film 20 can be formed. The copper plating solution preferably contains 20 to 80 mg/L of chlorine component. In this way, abnormal precipitation can be suppressed.
銅めっき液の温度は20~35℃が好ましい。また、めっき槽33内の銅めっき液を撹拌することが好ましい。銅めっき液を撹拌する手段は、特に限定されないが、噴流を利用した手段を用いることができる。例えば、ノズルから噴出させた銅めっき液を基材10に吹き付けることで、銅めっき液を撹拌できる。 The temperature of the copper plating solution is preferably 20 to 35°C. Further, it is preferable to stir the copper plating solution in the plating tank 33. The means for stirring the copper plating solution is not particularly limited, but means using jet flow can be used. For example, the copper plating solution can be stirred by spraying the copper plating solution jetted from a nozzle onto the base material 10.
電解めっきと空走(電解めっきを伴わない搬送)とを交互に行なうことにより成膜された銅めっき被膜20は、図1に示すような積層構造を有する。すなわち、銅めっき被膜20は低硫黄濃度層21と高硫黄濃度層22とが、厚さ方向に交互に積層された構造を有する。ここで、低硫黄濃度層21は相対的に硫黄濃度が低い層であり、高硫黄濃度層22は相対的に硫黄濃度が高い層である。 The copper plating film 20 formed by alternately performing electrolytic plating and dry transport (transportation without electrolytic plating) has a laminated structure as shown in FIG. That is, the copper plating film 20 has a structure in which low sulfur concentration layers 21 and high sulfur concentration layers 22 are alternately laminated in the thickness direction. Here, the low sulfur concentration layer 21 is a layer with a relatively low sulfur concentration, and the high sulfur concentration layer 22 is a layer with a relatively high sulfur concentration.
このように、低硫黄濃度層21と高硫黄濃度層22とが積層される理由は、つぎのとおりであると考えられる。
電解を行なっている間は、銅めっき被膜20の表面に添加剤(ブライトナー成分、レベラー成分およびポリマー成分)が吸着する。ここで、レベラー成分およびポリマー成分は電解に起因する電気的な作用により銅めっき被膜20の表面に吸着する。一方、ブライトナー成分は電解に関わらず銅めっき被膜20の表面に吸着する。
The reason why the low sulfur concentration layer 21 and the high sulfur concentration layer 22 are stacked in this way is considered to be as follows.
During electrolysis, additives (brightener component, leveler component, and polymer component) are adsorbed on the surface of the copper plating film 20. Here, the leveler component and the polymer component are adsorbed onto the surface of the copper plating film 20 by electrical action caused by electrolysis. On the other hand, the brightener component is adsorbed on the surface of the copper plating film 20 regardless of electrolysis.
電解の後、空走を行なうと、銅めっき被膜20の表面に付着した銅めっき液の大部分は搬送ローラにより除去される。これにともない、銅めっき被膜20の表面に吸着していたレベラー成分およびポリマー成分の大部分が脱落する。これは、電気的な作用による吸着がなくなり、また、搬送ローラによる物理的な作用が働くからである。一方、ブライトナー成分は比較的銅めっき被膜20の表面に残留しやすい。その結果、銅めっき被膜20の表面は、相対的にブライトナー成分が多く吸着した状態となる。 When idle running is performed after electrolysis, most of the copper plating solution adhering to the surface of the copper plating film 20 is removed by the conveyance roller. Along with this, most of the leveler component and polymer component adsorbed on the surface of the copper plating film 20 fall off. This is because the attraction due to electrical action is eliminated and the physical action from the conveyance rollers is activated. On the other hand, the brightener component tends to remain on the surface of the copper plating film 20 relatively easily. As a result, the surface of the copper plating film 20 has a relatively large amount of brightener component adsorbed thereon.
この状態で次の電解が行なわれると、電解の初期において、銅めっき被膜20に新たな銅が積層される際に多くのブライトナー成分が取り込まれる。そうすると、相対的にブライトナー成分が濃い層が形成される。ブライトナー成分には硫黄が含まれることから、ブライトナー成分が濃い層が高硫黄濃度層22となる。 When the next electrolysis is performed in this state, many brightener components are taken in when new copper is deposited on the copper plating film 20 in the early stage of the electrolysis. In this case, a layer containing a relatively high brightener component is formed. Since the brightener component contains sulfur, the layer with a high concentration of the brightener component becomes the high sulfur concentration layer 22.
ところで、銅張積層板1が反りを有することがある。銅張積層板1を構成するベースフィルム11は、めっき装置3の搬送張力により伸びた状態となるため、めっき後に搬送張力から開放されると収縮しようとする。また、銅めっき被膜20は時間の経過とともに再結晶が進行して収縮しようとする。ベースフィルム11が銅めっき被膜20よりも収縮した場合、銅張積層板1には銅めっき被膜20側が突出した凸形状の反りが生じる。一方、銅めっき被膜20がベースフィルム11よりも収縮した場合、銅張積層板1には銅めっき被膜20側が窪んだ凹形状の反りが生じる。 By the way, the copper-clad laminate 1 may have warpage. The base film 11 constituting the copper-clad laminate 1 is stretched due to the conveying tension of the plating device 3, and therefore tends to contract when released from the conveying tension after plating. Further, the copper plating film 20 tends to shrink as recrystallization progresses over time. When the base film 11 shrinks more than the copper plating film 20, a convex warpage occurs in the copper clad laminate 1 with the copper plating film 20 side protruding. On the other hand, when the copper plating film 20 shrinks more than the base film 11, a concave warpage occurs in the copper clad laminate 1 with the copper plating film 20 side depressed.
本願発明者は、銅めっき液のブライトナー成分の濃度を調整することで、銅張積層板1の反りを低減できることを見出した。具体的には、銅めっき液のブライトナー成分の濃度を高くすることで銅張積層板1の凹形状の反りを低減できる。また、銅めっき液のブライトナー成分の濃度を低くすることで銅張積層板1の凸形状の反りを低減できる。 The inventor of the present application has discovered that warping of the copper-clad laminate 1 can be reduced by adjusting the concentration of the brightener component in the copper plating solution. Specifically, by increasing the concentration of the brightener component in the copper plating solution, the warpage of the concave shape of the copper-clad laminate 1 can be reduced. Further, by lowering the concentration of the brightener component of the copper plating solution, warping of the convex shape of the copper-clad laminate 1 can be reduced.
銅めっき液のブライトナー成分の濃度によって銅張積層板1の反りが変化する理由は、つぎのとおりであると考えられる。
銅めっき液のブライトナー成分の濃度を高くすると、空走区間34において銅めっき液が除去された後においても、銅めっき被膜20の表面に残留する添加剤は、レベラー成分およびポリマー成分の比率が低く、ブライトナー成分の比率が高い。銅めっき被膜20に取り込まれる不純物の総量はめっき条件により定まる。したがって、めっき条件が同じであれば、銅めっき被膜20の表面に残留する添加剤のブライトナー成分の比率が高いほど、高硫黄濃度層22における硫黄濃度が高くなる。その結果、銅めっき被膜20の再結晶を抑える効果が高くなり、銅めっき被膜20の収縮が抑制される。銅めっき被膜20の収縮が抑制されることから、銅張積層板1の反りは凸傾向側に変化する。
The reason why the warpage of the copper-clad laminate 1 changes depending on the concentration of the brightener component of the copper plating solution is considered to be as follows.
When the concentration of the brightener component of the copper plating solution is increased, the additive remaining on the surface of the copper plating film 20 even after the copper plating solution is removed in the free running section 34 has a ratio of the leveler component and the polymer component. The ratio of brightener ingredients is high. The total amount of impurities incorporated into the copper plating film 20 is determined by the plating conditions. Therefore, if the plating conditions are the same, the higher the proportion of the brightener component of the additive remaining on the surface of the copper plating film 20, the higher the sulfur concentration in the high sulfur concentration layer 22. As a result, the effect of suppressing recrystallization of the copper plating film 20 becomes high, and shrinkage of the copper plating film 20 is suppressed. Since the shrinkage of the copper plating film 20 is suppressed, the warpage of the copper clad laminate 1 changes to the convex tendency side.
これに対して、銅めっき液のブライトナー成分の濃度を低くすると、空走区間34において銅めっき液が除去された後においても、銅めっき被膜20の表面に残留する添加剤は、レベラー成分およびポリマー成分の比率が高く、ブライトナー成分の比率が低い。そのため、高硫黄濃度層22における硫黄濃度が低くなる。その結果、銅めっき被膜20の再結晶を抑える効果が低くなり、銅めっき被膜20が収縮しやすくなる。銅めっき被膜20が収縮しやすいことから、銅張積層板1の反りは凹傾向側に変化する。 On the other hand, when the concentration of the brightener component in the copper plating solution is lowered, even after the copper plating solution is removed in the free running section 34, the additive remaining on the surface of the copper plating film 20 is reduced to a leveler component and The proportion of polymer components is high and the proportion of brightener components is low. Therefore, the sulfur concentration in the high sulfur concentration layer 22 becomes low. As a result, the effect of suppressing recrystallization of the copper plating film 20 becomes low, and the copper plating film 20 tends to shrink. Since the copper plating film 20 tends to shrink, the warpage of the copper clad laminate 1 changes to the concave tendency side.
銅めっき液のブライトナー成分の濃度によって銅めっき被膜20の収縮しやすさが変化する。銅めっき被膜20の収縮をベースフィルム11の収縮に釣り合うようにすれば、銅張積層板1の反りを低減できる。 The ease with which the copper plating film 20 shrinks varies depending on the concentration of the brightener component in the copper plating solution. By balancing the shrinkage of the copper plating film 20 with the shrinkage of the base film 11, warping of the copper-clad laminate 1 can be reduced.
銅めっき液のブライトナー成分の濃度の調整は、製造された銅張積層板1の反り量をフィードバックすることで行なわれる。まず、銅めっき液のブライトナー成分の濃度を所定値に設定して第1の銅張積層板1を製造する。そして、第1の銅張積層板1の反り量を測定する。第1の銅張積層板1が凹形状の反りを有する場合は、銅めっき液のブライトナー成分の濃度を高くして第2の銅張積層板1を製造する。第1の銅張積層板1が凸形状の反りを有する場合は、銅めっき液のブライトナー成分の濃度を低くして第2の銅張積層板1を製造する。これを繰り返し行なうことで、反りのない(反り量が許容範囲)の銅張積層板1が得られるブライトナー成分の濃度を特定する。以上のように、銅めっき液のブライトナー成分の濃度を調整することで、反りの少ない銅張積層板1を製造できる。 The concentration of the brightener component in the copper plating solution is adjusted by feeding back the amount of warpage of the manufactured copper-clad laminate 1. First, the first copper-clad laminate 1 is manufactured by setting the concentration of the brightener component of the copper plating solution to a predetermined value. Then, the amount of warpage of the first copper-clad laminate 1 is measured. When the first copper-clad laminate 1 has a concave warpage, the second copper-clad laminate 1 is manufactured by increasing the concentration of the brightener component in the copper plating solution. If the first copper-clad laminate 1 has a convex warp, the second copper-clad laminate 1 is manufactured by lowering the concentration of the brightener component in the copper plating solution. By repeating this process, the concentration of the brightener component at which a copper-clad laminate 1 without warping (the amount of warping is within an acceptable range) is determined. As described above, by adjusting the concentration of the brightener component of the copper plating solution, a copper-clad laminate 1 with less warpage can be manufactured.
つぎに、実施例を説明する。
(ブライトナー成分濃度と反り量との関係性の評価1)
銅めっき液のブライトナー成分濃度と銅張積層板の反り量との関係性を評価した。
つぎの手順で、基材を準備した。ベースフィルムとして、厚さ35μmの液晶ポリマーフィルム(KGK社製 SAR35)を用意した。ベースフィルムをマグネトロンスパッタリング装置にセットした。マグネトロンスパッタリング装置内にはニッケルクロム合金ターゲットと銅ターゲットとが設置されている。ニッケルクロム合金ターゲットの組成はCrが20質量%、Niが80質量%である。真空雰囲気下で、ベースフィルムの片面に、厚さ18nmのニッケルクロム合金からなる下地金属層を形成し、その上に厚さ150nmの銅薄膜層を形成した。
Next, an example will be described.
(Evaluation of the relationship between brightener component concentration and amount of warpage 1)
The relationship between the brightener component concentration of the copper plating solution and the amount of warpage of the copper-clad laminate was evaluated.
A base material was prepared according to the following procedure. A 35 μm thick liquid crystal polymer film (SAR35 manufactured by KGK) was prepared as a base film. The base film was set in a magnetron sputtering device. A nickel chromium alloy target and a copper target are installed in the magnetron sputtering device. The composition of the nickel-chromium alloy target is 20% by mass of Cr and 80% by mass of Ni. A base metal layer made of a nickel chromium alloy with a thickness of 18 nm was formed on one side of the base film under a vacuum atmosphere, and a copper thin film layer with a thickness of 150 nm was formed thereon.
つぎに、銅めっき液を調整した。銅めっき液は銅を30g/L、硫酸を70g/L、レベラー成分を50mg/L、ポリマー成分を1,100mg/L、塩素成分を50mg/L含有する。レベラー成分としてジアリルジメチルアンモニウムクロライド-二酸化硫黄共重合体(ニットーボーメディカル株式会社製 PAS-A―5)を用いた。ポリマー成分としてポリエチレングリコール-ポリプロピレングリコール共重合体(日油株式会社製 ユニルーブ50MB-11)を用いた。塩素成分として塩酸(和光純薬工業株式会社製の35%塩酸)を用いた。 Next, a copper plating solution was prepared. The copper plating solution contains 30 g/L of copper, 70 g/L of sulfuric acid, 50 mg/L of leveler component, 1,100 mg/L of polymer component, and 50 mg/L of chlorine component. Diallyldimethylammonium chloride-sulfur dioxide copolymer (PAS-A-5, manufactured by Nittobo Medical Co., Ltd.) was used as a leveler component. A polyethylene glycol-polypropylene glycol copolymer (Unilube 50MB-11, manufactured by NOF Corporation) was used as a polymer component. Hydrochloric acid (35% hydrochloric acid manufactured by Wako Pure Chemical Industries, Ltd.) was used as the chlorine component.
また、銅めっき液はブライトナー成分を含む。ブライトナー成分としてビス(3-スルホプロピル)ジスルフィド(RASCHIG GmbH社製の試薬)を用いた。ブライトナー成分の濃度が5、10、15、20mg/Lの4種類の銅めっき液を用意した。 Further, the copper plating solution contains a brightener component. Bis(3-sulfopropyl) disulfide (a reagent manufactured by RASCHIG GmbH) was used as a brightener component. Four types of copper plating solutions with brightener component concentrations of 5, 10, 15, and 20 mg/L were prepared.
ロールツーロール方式のめっき装置を用いて、基材の片面に厚さ8.0μmの銅めっき被膜を成膜した。ここで、基材を前記銅めっき液が貯留されためっき槽と空走区間とを交互に通した。銅めっき液の温度を31℃とした。電解めっきの間、ノズルから噴出させた銅めっき液を基材の表面に対して略垂直に吹き付けることで、銅めっき液を撹拌した。 A copper plating film with a thickness of 8.0 μm was formed on one side of the base material using a roll-to-roll type plating apparatus. Here, the base material was passed alternately through a plating tank in which the copper plating solution was stored and an idle running section. The temperature of the copper plating solution was 31°C. During electrolytic plating, the copper plating solution was sprayed from a nozzle approximately perpendicularly to the surface of the base material, thereby stirring the copper plating solution.
めっき槽は7槽、空走区間は6区間である。電解めっきの一回あたりの時間は2分である。1槽目の電解めっきでは電流密度を1A/dm2とした。2槽目の電解めっきでは電流密度を2A/dm2とした。3~7槽目の電解めっきでは電流密度を3A/dm2とした。また、空走区間における搬送ローラの基材の抱き角を120°とした。 There are 7 plating tanks and 6 empty running sections. The time per electrolytic plating is 2 minutes. In the first electrolytic plating bath, the current density was 1 A/dm 2 . In the second electrolytic plating bath, the current density was 2 A/dm 2 . In the third to seventh electrolytic plating baths, the current density was 3 A/dm 2 . Further, the embrace angle of the base material of the conveyance roller in the idle running section was set to 120°.
ブライトナー成分の濃度が異なる4種類の銅めっき液を用いて、4つの銅張積層板を製造した。得られた4つの銅張積層板を、それぞれ試料1~4と称する。得られた試料1~4について、つぎの手順で反り量を測定した。まず、試料を1辺が10cmの正方形に切り出した。切り出した試料を側方から観察して反り量を測定した。ここで、銅めっき被膜が成膜された面を上向きとして、四隅が浮き上がった凹形状の反りが生じている場合は、四隅の浮き上がり量を反り量とした。以下、凹形状の反り量を+表記する。また、銅めっき被膜が成膜された面を上向きとして、中央部が浮き上がった凸形状の反りが生じている場合は、中央部の浮き上がり量を反り量とした。以下、凸形状の反り量を-表記する。 Four copper-clad laminates were manufactured using four types of copper plating solutions with different concentrations of brightener components. The four copper-clad laminates obtained are referred to as samples 1 to 4, respectively. The amount of warpage of the obtained samples 1 to 4 was measured according to the following procedure. First, the sample was cut into a square with one side of 10 cm. The cut sample was observed from the side and the amount of warpage was measured. Here, when the surface on which the copper plating film was formed was facing upward and there was a concave warp with raised four corners, the amount of raised four corners was defined as the amount of warp. Hereinafter, the amount of warpage of the concave shape is indicated by +. In addition, when the surface on which the copper plating film was formed was facing upward and there was a convex warp with a raised central portion, the amount of raised central portion was defined as the amount of warpage. Hereinafter, the amount of warpage of the convex shape will be expressed as -.
その結果を表1に示す。
表1より、銅めっき液のブライトナー成分の濃度を高くするほど、銅張積層板の反りが凸傾向側に変化する。これより、ブライトナー成分の濃度を調整することで、銅張積層板の反りを低減できることが確認された。 From Table 1, the higher the concentration of the brightener component in the copper plating solution, the more the warpage of the copper-clad laminate changes to the convex tendency side. From this, it was confirmed that warping of the copper-clad laminate can be reduced by adjusting the concentration of the brightener component.
(ブライトナー成分濃度と反り量との関係性の評価2)
ベースフィルムとして厚さ35μmのポリイミドフィルム(宇部興産社製 Upilex-35SGAV1)を用いた以外は、上記評価と同様の手順で銅張積層板を製造した。また、空走区間における搬送ローラの基材の抱き角を180°とした。
(Evaluation of the relationship between brightener component concentration and amount of warpage 2)
A copper-clad laminate was manufactured in the same manner as in the above evaluation except that a 35 μm thick polyimide film (Upilex-35SGAV1, manufactured by Ube Industries, Ltd.) was used as the base film. Further, the embrace angle of the base material of the conveyance roller in the idle running section was set to 180°.
ブライトナー成分の濃度が異なる4種類の銅めっき液を用いて、4つの銅張積層板を製造した。得られた4つの銅張積層板を、それぞれ試料5~8と称する。 Four copper-clad laminates were manufactured using four types of copper plating solutions with different concentrations of brightener components. The four copper-clad laminates obtained are referred to as Samples 5 to 8, respectively.
得られた試料5~8について反り量を測定した。その結果を表2に示す。
表2からも、銅めっき液のブライトナー成分の濃度を高くするほど、銅張積層板の反りが凸傾向側に変化することが分かる。したがって、液晶ポリマーフィルムを用いた場合に限らず、ポリイミドフィルムを用いた場合でも、ブライトナー成分の濃度を調整することで、銅張積層板の反りを低減できることが確認された。 Table 2 also shows that the higher the concentration of the brightener component in the copper plating solution, the more the warpage of the copper-clad laminate changes to the convex tendency side. Therefore, it was confirmed that warping of a copper-clad laminate can be reduced by adjusting the concentration of the brightener component, not only when a liquid crystal polymer film is used but also when a polyimide film is used.
1 銅張積層板
10 基材
20 銅めっき被膜
3 めっき装置
33 めっき槽
34 空走区間
1 Copper-clad laminate 10 Base material 20 Copper plating film 3 Plating device 33 Plating tank 34 Free running section
Claims (2)
前記銅めっき液のブライトナー成分の濃度を高くすることで前記銅張積層板の前記銅めっき被膜側が窪んだ凹形状の反りを低減し、前記銅めっき液のブライトナー成分の濃度を低くすることで前記銅張積層板の前記銅めっき被膜側が突出した凸形状の反りを低減する
ことを特徴とする銅張積層板の製造方法。 A plating tank in which the base material is electrolytically plated using a copper plating solution containing a brightener component while the base material is conveyed by roll-to-roll, and an idle running section in which the copper plating solution adhering to the base material is removed. to form a copper plating film on one side of the base material to obtain a copper-clad laminate.
By increasing the concentration of the brightener component of the copper plating solution, the warpage of the copper-clad laminate having a concave shape in which the copper plating film side is depressed is reduced, and the concentration of the brightener component of the copper plating solution is lowered. A method for manufacturing a copper -clad laminate, characterized in that warpage in a protruding convex shape on the copper-plated film side of the copper-clad laminate is reduced.
前記銅めっき液のブライトナー成分の濃度を所定値に設定して第1の銅張積層板を製造し、
前記第1の銅張積層板が前記銅めっき被膜側が窪んだ凹形状の反りを有する場合は、前記銅めっき液のブライトナー成分の濃度を高くして第2の銅張積層板を製造し、
前記第1の銅張積層板が前記銅めっき被膜側が突出した凸形状の反りを有する場合は、前記銅めっき液のブライトナー成分の濃度を低くして第2の銅張積層板を製造する
ことを特徴とする銅張積層板の製造方法。 A plating tank in which the base material is electrolytically plated using a copper plating solution containing a brightener component while the base material is conveyed by roll-to-roll, and an idle running section in which the copper plating solution adhering to the base material is removed. to form a copper plating film on one side of the base material to obtain a copper-clad laminate.
manufacturing a first copper-clad laminate by setting the concentration of the brightener component of the copper plating solution to a predetermined value;
If the first copper-clad laminate has a concave warp in which the copper plating film side is depressed , a second copper-clad laminate is manufactured by increasing the concentration of the brightener component of the copper plating solution,
When the first copper-clad laminate has a convex warp with the copper plating film side protruding , a second copper-clad laminate is manufactured by lowering the concentration of the brightener component of the copper plating solution. A method for manufacturing a copper-clad laminate, characterized by:
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