JP7410402B2 - 外観検査システム - Google Patents
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Description
以下に説明する実施形態に係る外観検査システムでは、ニューラルネットワーク等の学習モデルを判定そのものに用いない従前の自動外観検査装置(一次検査部)において不良と判定された対象物の画像に基づいて、学習モデルを用いた二次検査部が、真の不良品と過判定品とを分別する二次判定をリアルアイムに行う。
実施形態について図面を参照しながら説明する。図1に示すように、本実施形態に係る外観検査システム(100)は、対象物(1)を撮像した画像に基づき、機械学習を用いずに不良判定を行う一次検査部(10)と、一次検査部(10)で不良と判定された対象物の画像に基づき、第1の機械学習モデル(21)を用いて、真の不良品と過判定品とを分別する二次検査部(20)とを備える。
本実施形態によると、一次検査部(10)で不良と判定された対象物(1)の画像に基づき、二次検査部(20)が、第1の機械学習モデル(21)を用いて過判定品かどうかを再判定する。このため、過判定品の発生を抑制できるので、検査の最終段で過判定品かどうかを再検査する工数を削減できるので、過判定品の発生に起因する生産性の低下を抑制することができ、過判定の量が多い場合は特に効果的である。
変形例1について図面を参照しながら説明する。図5に示すように、本変形例に係る外観検査システム(100)が、図1に示す前記実施形態と異なっている点は、第2の機械学習モデル(31)を用いて、第1の機械学習モデル(21)の学習用の良品画像を多数生成する学習データ生成部(30)を備えていることである。尚、図5においては、図1に示す前記実施形態と同じ構成要素には同じ符号を付す。
以上に説明した本変形例では、前記実施形態と同様の効果に加えて、次のような効果を得ることができる。
変形例2について図面を参照しながら説明する。図9に示すように、本変形例に係る外観検査システム(100)が、図1に示す前記実施形態と異なっている点は、第1の機械学習モデル(21)は、検査項目(例えば、巨視部、微視部)に応じて機械学習が行われた複数の学習モデルから構成され、二次検査部(20)は、複数の学習モデルを階層的に組み合わせて用いることである。尚、図9においては、図1に示す前記実施形態と同じ構成要素には同じ符号を付す。
以上に説明した本変形例では、前記実施形態と同様の効果に加えて、次のような効果を得ることができる。すなわち、検査項目に応じて最適に機械学習が行われた複数の学習モデルを階層的に組み合わせて用いることにより、真の不良品と過判定品との分別を精度良く効率的に行うことができる。また、ある項目で不良があった場合は、次の項目の不良判定を行うことをせず、「不良(NG)」を確定して検査を効率よく完了させることもできる。逆に、対象に応じて1つ又は複数の検査項目を任意に選択できるようにプログラミングしておいて、希望の結果情報を集めるようにすることも可能である。
変形例3について図面を参照しながら説明する。図10に示すように、本変形例に係る外観検査システム(100)が、図1に示す前記実施形態と異なっている点は、以下の通りである。すなわち、第1の機械学習モデル(21)は、類似形状を持つ対象物をグルーピングしたカテゴリー毎に予め複数用意され、一次検査部(10)は、対象物(1)を撮像した画像から、当該対象物(1)のカテゴリーを判定し、二次検査部(20)は、一次検査部(10)で判定された対象物(1)のカテゴリーに対応する第1の機械学習モデル(21)を用いる。尚、図10においては、図1に示す前記実施形態と同じ構成要素には同じ符号を付す。
以上に説明した本変形例では、前記実施形態と同様の効果に加えて、次のような効果を得ることができる。すなわち、検査される対象物(1)が様々な形状を有する場合に、類似形状を持つ対象物をグルーピングしたカテゴリー毎に第1の機械学習モデル(21)の学習を最適化することができる。従って、真の不良品と過判定品との分別を高精度で行うことができる。
前記実施形態(変形例を含む。以下同じ。)では、多数の電子部品がはんだ付け等で実装されたプリント基板を対象物(1)とした場合を例示したが、対象物(1)が特に限定されないことは言うまでもない。例えば、生鮮野菜を対象物(1)とする出荷検査に、前記実施形態の外観検査システム(100)を用いてもよい。生鮮野菜の出荷検査では、鮮度を表す葉の色合い等の野菜全体に現れる特徴と、生育期間を示す切り株の径等の特定部位に現れる特徴の両方を検査したい場合があるが、前記実施形態の外観検査システム(100)を用いることにより、野菜全体に現れる特徴と特定部位に現れる特徴とをそれぞれ巨視部と微視部とに分けて、精度良く効率的に検査することができる。
20 二次検査部
21 第1の機械学習モデル
30 学習データ生成部
31 第2の機械学習モデル
100 外観検査システム
Claims (6)
- 対象物を撮像した画像に基づき、機械学習を用いずに不良判定を行う一次検査部(10)と、
前記一次検査部(10)で不良と判定された対象物の画像に基づき、第1の機械学習モデル(21)を用いて、真の不良品と過判定品とを分別する二次検査部(20)とを備え、
前記第1の機械学習モデル(21)に対して、教師データとして良品画像を用いた機械学習が予め行われ、
前記二次検査部(20)は、前記不良と判定された対象物の画像から前記第1の機械学習モデル(21)により生成された良品画像と、前記不良と判定された対象物の画像との差分に基づいて、真の不良品と過判定品とを分別し、
前記二次検査部(20)は、前記不良と判定された対象物の画像の全体及び/又は特定部分のそれぞれについて、前記第1の機械学習モデル(21)により生成された良品画像との差分を評価し、
前記二次検査部(20)は、前記画像の前記全体に対する不良判定を行った後、当該全体に不良が無ければ、前記画像の前記特定部の位置認識を行い、その後、位置認識された当該特定部の不良判定を行う
ことを特徴とする外観検査システム。 - 請求項1において、
少なくとも輪郭を含む線画情報に基づき、第2の機械学習モデル(31)を用いて、前記第1の機械学習モデル(21)の学習用の良品画像を多数生成する学習データ生成部(30)をさらに備える
ことを特徴とする外観検査システム。 - 請求項1において、
少なくとも1つの実画像に基づき、第2の機械学習モデル(31)を用いて、前記第1の機械学習モデル(21)の学習用の良品画像を多数生成する学習データ生成部(30)をさらに備える
ことを特徴とする外観検査システム。 - 請求項2において、
前記第2の機械学習モデル(31)に対して、前記線画情報の部位別に与えられたヒント情報からテクスチャーを生成するように予め機械学習が行われ、
前記学習データ生成部(30)は、前記第2の機械学習モデル(31)により生成されたテクスチャーにノイズを付加して学習用の良品画像を多数生成する
ことを特徴とする外観検査システム。 - 請求項1~4のいずれか1項において、
前記第1の機械学習モデル(21)は、検査項目に応じて機械学習が行われた複数の学習モデルから構成され、
前記二次検査部(20)は、前記複数の学習モデルを階層的に組み合わせて用いる
ことを特徴とする外観検査システム。 - 請求項1~5のいずれか1項において、
前記第1の機械学習モデル(21)は、対象物のカテゴリー毎に予め複数用意され、
前記一次検査部(10)は、対象物を撮像した画像から、当該対象物のカテゴリーを判定し、
前記二次検査部(20)は、前記一次検査部(10)で判定された対象物のカテゴリーに対応する前記第1の機械学習モデル(21)を用いる
ことを特徴とする外観検査システム。
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|---|---|---|---|---|
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| JP7821013B2 (ja) * | 2022-03-24 | 2026-02-26 | 株式会社Screenホールディングス | 検査システム、教師データ生成装置、教師データ生成方法およびプログラム |
| JP2023171035A (ja) * | 2022-05-20 | 2023-12-01 | キヤノン株式会社 | 画像認識方法、プログラム、記録媒体及び画像認識装置 |
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| WO2026013862A1 (ja) * | 2024-07-11 | 2026-01-15 | Ntt株式会社 | 検出装置 |
Citations (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004294360A (ja) | 2003-03-28 | 2004-10-21 | Hitachi High-Technologies Corp | 欠陥分類方法及び装置 |
| JP2018205123A (ja) | 2017-06-05 | 2018-12-27 | 学校法人梅村学園 | 画像検査システムの性能調整のための検査用画像を生成する画像生成装置及び画像生成方法 |
| US20190318471A1 (en) | 2018-04-13 | 2019-10-17 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. | Hot spot defect detecting method and hot spot defect detecting system |
| WO2020031984A1 (ja) | 2018-08-08 | 2020-02-13 | Blue Tag株式会社 | 部品の検査方法及び検査システム |
| JP6653929B1 (ja) | 2019-07-18 | 2020-02-26 | Jeインターナショナル株式会社 | 自動判別処理装置、自動判別処理方法、検査システム、プログラム、および記録媒体 |
| JP2020030145A (ja) | 2018-08-23 | 2020-02-27 | 東京エレクトロンデバイス株式会社 | 検査装置及び検査システム |
| WO2020071234A1 (ja) | 2018-10-05 | 2020-04-09 | 日本電産株式会社 | 画像処理装置、画像処理方法、外観検査システムおよびコンピュータプログラム |
| CN110992329A (zh) | 2019-11-28 | 2020-04-10 | 上海微创医疗器械(集团)有限公司 | 一种产品表面缺陷检测方法、电子设备及可读存储介质 |
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Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH08136466A (ja) * | 1994-11-10 | 1996-05-31 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 画像パターン検査装置 |
| WO2018098394A1 (en) * | 2016-11-25 | 2018-05-31 | Glowforge Inc. | Fabrication with image tracing |
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Patent Citations (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004294360A (ja) | 2003-03-28 | 2004-10-21 | Hitachi High-Technologies Corp | 欠陥分類方法及び装置 |
| JP2018205123A (ja) | 2017-06-05 | 2018-12-27 | 学校法人梅村学園 | 画像検査システムの性能調整のための検査用画像を生成する画像生成装置及び画像生成方法 |
| US20190318471A1 (en) | 2018-04-13 | 2019-10-17 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. | Hot spot defect detecting method and hot spot defect detecting system |
| WO2020031984A1 (ja) | 2018-08-08 | 2020-02-13 | Blue Tag株式会社 | 部品の検査方法及び検査システム |
| JP2020030145A (ja) | 2018-08-23 | 2020-02-27 | 東京エレクトロンデバイス株式会社 | 検査装置及び検査システム |
| WO2020071234A1 (ja) | 2018-10-05 | 2020-04-09 | 日本電産株式会社 | 画像処理装置、画像処理方法、外観検査システムおよびコンピュータプログラム |
| JP2020187657A (ja) | 2019-05-16 | 2020-11-19 | 株式会社キーエンス | 画像検査装置 |
| JP6653929B1 (ja) | 2019-07-18 | 2020-02-26 | Jeインターナショナル株式会社 | 自動判別処理装置、自動判別処理方法、検査システム、プログラム、および記録媒体 |
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