JP7458924B2 - 液晶ポリエステル樹脂、成形品、および電気電子部品 - Google Patents
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Description
芳香族ヒドロキシカルボン酸に由来する構成単位(I)
芳香族ジオール化合物に由来する構成単位(II)、および
芳香族ジカルボン酸に由来する構成単位(III)
を含んでなり、
前記構成単位(I)が、6-ヒドロキシ-2-ナフトエ酸に由来する構成単位(IA)を含み、
前記構成単位(III)が、テレフタル酸に由来する構成単位(IIIA)、およびイソフタル酸に由来する構成単位(IIIB)を含み、
測定周波数10GHzにおける誘電正接が、1.50×10-3以下であり、
融点が295℃以上であり、
融点と結晶化点との温度差が35℃以上であることを特徴とする。
前記構成単位(I)~(III)の組成比(モル%)が、下記の条件:
39モル%≦構成単位(IA)≦70モル%
1モル%≦構成単位(IB)≦6モル%
12モル%≦構成単位(II)≦30モル%
10モル%≦構成単位(IIIA)≦21モル%
2モル%≦構成単位(IIIB)≦9モル%
を満たすことが好ましい。
42モル%≦構成単位(IA)≦69モル%
2モル%≦構成単位(IB)≦5モル%
13モル%≦構成単位(II)≦28モル%
10モル%≦構成単位(IIIA)≦20モル%
3モル%≦構成単位(IIIB)≦8モル%
を満たすことが好ましい。
本発明による液晶ポリエステル樹脂は、芳香族ヒドロキシカルボン酸に由来する構成単位(I)、芳香族ジオール化合物に由来する構成単位(II)、および 芳香族ジカルボン酸に由来する構成単位(III)を含んでなる。さらに、液晶ポリエステル樹脂は、構成単位(I)が、6-ヒドロキシ-2-ナフトエ酸に由来する構成単位(IA)を含み、好ましくはp-ヒドロキシ安息香酸に由来する構成単位(IB)をさらに含み、構成単位(III)が、テレフタル酸に由来する構成単位(IIIA)、およびイソフタル酸に由来する構成単位(IIIB)を含み、下記の特定の性質(誘電正接、融点、融点と結晶化点の温度差)を有するものである。
なお、本明細書において、液晶ポリエステル樹脂の10GHzにおける誘電正接は、キーサイト・テクノロジー社のネットワークアナライザーN5247A等を用いて、スプリットポスト誘電体共振器法(SPDR法)により測定することができる。
本発明による液晶ポリエステル樹脂の結晶化点は、下限値としては、好ましくは240℃以上であり、より好ましくは245℃以上であり、また、上限値としては、好ましくは290℃以下であり、より好ましくは280℃以下である。
本発明による液晶ポリエステル樹脂の融点と結晶化点の温度差(=「融点(℃)」-「結晶化点(℃)」)は、下限値としては、35℃以上であり、好ましくは40℃以上であり、また、上限値としては、好ましくは70℃以下であり、より好ましくは60℃以下である。本発明による液晶ポリエステル樹脂の融点と結晶化点の温度差を上記数値範囲とすることにより、液晶ポリエステルを溶融成形する際に、液晶ポリエステルが溶融してから固化するまでに十分な時間をかけることができ、成形温度等の温度条件設定の自由度を高くすることが可能である。従って、射出成形安定性および紡糸安定性等の加工安定性を向上させることができる。
なお、本明細書において、液晶ポリエステル樹脂の融点および結晶化点は、示差走査熱量計(DSC)により測定した値である。具体的には、昇温速度10℃/分で室温から340~360℃まで昇温して液晶ポリエステル樹脂を完全に融解させた後、速度10℃/分で30℃まで降温した時に得られる発熱ピークの頂点を結晶化点(Tc)、さらに10℃/分の速度で360℃まで昇温する時に得られる吸熱ピークの頂点を融点(Tm)とした。
なお、本明細書において、液晶ポリエステル樹脂の粘度は、JIS K7199に準拠し、キャピラリーレオメーター粘度計を用いて測定することができる。
39モル%≦構成単位(IA)≦70モル%
1モル%≦構成単位(IB)≦6モル%
12モル%≦構成単位(II)≦30モル%
10モル%≦構成単位(IIIA)≦21モル%
2モル%≦構成単位(IIIB)≦9モル%
を満たすことが好ましい。
さらに、本発明による液晶ポリエステル樹脂は、構成単位(I)~(III)の組成比(モル%)が、下記の条件:
42モル%≦構成単位(IA)≦69モル%
2モル%≦構成単位(IB)≦5モル%
13モル%≦構成単位(II)≦28モル%
10モル%≦構成単位(IIIA)≦20モル%
3モル%≦構成単位(IIIB)≦8モル%
を満たすことがより好ましく、
48モル%≦構成単位(IA)≦67モル%
2モル%≦構成単位(IB)≦5モル%
14モル%≦構成単位(II)≦25モル%
11モル%≦構成単位(IIIA)≦18モル%
3モル%≦構成単位(IIIB)≦7モル%
を満たすことがさらに好ましい。
本発明による液晶ポリエステル樹脂は、構成単位(I)~(III)の組成比(モル%)が上記の条件を満たすことにより、低誘電正接を有しながら、耐熱性および加工安定性のバランスに優れたものとなる。
液晶ポリエステル樹脂は、芳香族ヒドロキシカルボン酸に由来する構成単位(I)を含む。芳香族ヒドロキシカルボン酸に由来する構成単位(I)は、下記式(IA)で表される6-ヒドロキシ-2-ナフトエ酸に由来する構成単位(IA)を含む。液晶ポリエステル樹脂中における構成単位(IA)の組成比(モル%)は、好ましくは39モル%以上70モル%以下である。液晶ポリエステル樹脂の誘電正接の低下、耐熱性の向上、および加工安定性の向上という観点からは、構成単位(IA)の組成比(モル%)は、下限値としては、好ましくは42モル%以上であり、より好ましくは48モル%以上であり、さらに好ましくは50モル%以上であり、また、上限値としては、好ましくは69モル%以下であり、より好ましくは67モル%以下であり、さらに好ましくは65モル%以下である。
液晶ポリエステル樹脂は、芳香族ジオール化合物に由来する構成単位(II)を含むものであり、液晶ポリエステル樹脂中における構成単位(II)の組成比(モル%)は、好ましくは12モル%以上30モル%以下である。液晶ポリエステル樹脂の誘電正接の低下、耐熱性の向上、および加工安定性の向上という観点からは、構成単位(II)の組成比(モル%)は、下限値としては、好ましくは13モル%以上であり、より好ましくは14モル%以上であり、また、上限値としては、好ましくは28モル%以下であり、より好ましくは24モル%以下である。
液晶ポリエステル樹脂は、芳香族ジカルボン酸に由来する構成単位(III)を含む。さらに、芳香族ジカルボン酸に由来する構成単位(III)は、下記式(IIIA)で表されるテレフタル酸に由来する構成単位(IIIA)を含む。液晶ポリエステル樹脂中における構成単位(IIIA)の組成比(モル%)は、好ましくは10モル%以上21モル%以下である。液晶ポリエステル樹脂の誘電正接の低下、耐熱性の向上、および加工安定性の向上という観点からは、構成単位(IIIA)の組成比(モル%)は、下限値としては、好ましくは11モル%以上であり、より好ましくは12モル%以上であり、また、上限値としては、好ましくは20モル%以下であり、より好ましくは18モル%以下である。
本発明に係る液晶ポリエステル樹脂は、構成単位(I)~(III)を与えるモノマーを、溶融重合、固相重合、溶液重合およびスラリー重合等、従来公知の方法で重合することにより製造することができる。一実施態様において、本発明に係る液晶ポリエステル樹脂は、溶融重合のみによって製造することができる。また、溶融重合によりプレポリマーを作製し、これをさらに固相重合する2段階重合によっても製造することができる。
本発明による成形品は、液晶ポリエステル樹脂を含んでなるものであり、その形状は用途に応じ適宜変更されるものであり、特に限定されず、例えば、板状、シート状、繊維状等とすることができる。
本発明による電気電子部品は、液晶ポリエステル樹脂を含む成形品(例えば、射出成形品等)を備えてなる。上記成形品を備えてなる電気電子部品としては、例えば、ETC、GPS、無線LANおよび携帯電話等の電子機器や通信機器に使用されるアンテナ、高速伝送用コネクタ、CPUソケット、回路基板、フレキシブルプリント基板(FPC)、積層用回路基板、衝突防止用レーダーなどのミリ波および準ミリ波レーダー、RFIDタグ、コンデンサー、インバーター部品、ケーブルの被覆材、リチウムイオン電池等の二次電池の絶縁材、スピーカー振動板等が挙げられる。
(実施例1)
撹拌翼を有する重合容器に6-ヒドロキシ-2-ナフトエ酸(HNA)48モル%、p-ヒドロキシ安息香酸(HBA)2モル%、4,4’-ジヒドロキシビフェニル(BP)25モル%、テレフタル酸(TPA)20モル%、およびイソフタル酸(IPA)5モル%を加え、触媒として酢酸カリウムを仕込み、重合容器の減圧-窒素注入を3回行った後、無水酢酸(水酸基に対して1.05モル当量)を更に添加し、150℃まで昇温し、還流状態で2時間アセチル化反応を行った。
モノマー仕込みを、HNA50モル%、HBA2モル%、BP24モル%、TPA16モル%、およびIPA8モル%に変更した以外は実施例1と同様にして、ポリエステル樹脂を得た。次に、上記と同様にして、ポリエステル樹脂の液晶性を確認した。
モノマー仕込みを、HNA50モル%、HBA2モル%、BP24モル%、TPA16モル%、およびIPA6モル%に変更した以外は実施例1と同様にして、ポリエステル樹脂を得た。次に、上記と同様にして、ポリエステル樹脂の液晶性を確認した。
モノマー仕込みを、HNA68モル%、HBA2モル%、BP15モル%、TPA11モル%、およびIPA4モル%に変更した以外は実施例1と同様にして、ポリエステル樹脂を得た。次に、上記と同様にして、ポリエステル樹脂の液晶性を確認した。
モノマー仕込みを、HNA56モル%、HBA4モル%、BP20モル%、TPA16モル%、およびIPA4モル%に変更した以外は実施例1と同様にして、ポリエステル樹脂を得た。次に、上記と同様にして、ポリエステル樹脂の液晶性を確認した。
モノマー仕込みを、HNA66モル%、HBA4モル%、BP15モル%、TPA11モル%、およびIPA4モル%に変更した以外は実施例1と同様にして、ポリエステル樹脂を得た。次に、上記と同様にして、ポリエステル樹脂の液晶性を確認した。
モノマー仕込みを、HNA47モル%、HBA5モル%、BP24モル%、TPA20モル%、およびIPA4モル%に変更した以外は実施例1と同様にして、ポリエステル樹脂を得た。次に、上記と同様にして、ポリエステル樹脂の液晶性を確認した。
モノマー仕込みを、HNA50モル%、BP25モル%、TPA15モル%、およびIPA10モル%に変更した以外は実施例1と同様にして、ポリエステル樹脂を得た。次に、上記と同様にして、ポリエステル樹脂の液晶性を確認した。
モノマー仕込みを、HNA48モル%、HBA2モル%、BP25モル%、およびTPA25モル%に変更した以外は実施例1と同様にして、ポリエステル樹脂を得た。次に、上記と同様にして、ポリエステル樹脂の液晶性を確認した。
モノマー仕込みを、HNA48モル%、HBA2モル%、BP25モル%、TPA13モル%、およびIPA12モル%に変更した以外は実施例1と同様にして、ポリエステル樹脂を得た。次に、上記と同様にして、ポリエステル樹脂の液晶性を確認した。
モノマー仕込みを、HNA58モル%、HBA2モル%、BP20モル%、TPA19モル%、およびIPA1モル%に変更した以外は実施例1と同様にして、ポリエステル樹脂を得た。次に、上記と同様にして、ポリエステル樹脂の液晶性を確認した。
モノマー仕込みを、HNA27モル%およびHBA73モル%に変更した以外は実施例1と同様にして、ポリエステル樹脂を得た。次に、上記と同様にして、ポリエステル樹脂の液晶性を確認した。
実施例および比較例において得られた液晶ポリエステル樹脂を融点~融点+20℃条件で加熱溶融、射出成形し、30mm×30mm×0.4mmの平板状試験片を作製した。
上記で作製した平板状試験片の面内方向の誘電正接(tanδ)について、キーサイト・テクノロジー社のネットワークアナライザーN5247Aを用いて、スプリットポスト誘電体共振器法(SPDR法)により、周波数10GHzの誘電正接を測定した。測定結果を表1に示す。
実施例および比較例において得られた液晶ポリエステル樹脂の融点および結晶化点を、日立ハイテクサイエンス(株)製の示差走査熱量計(DSC)により測定した。まず、昇温速度10℃/分で室温から340~360℃まで昇温して液晶ポリエステル樹脂を完全に融解させた後、速度10℃/分で30℃まで降温した時に得られる発熱ピークの頂点を結晶化点(Tc)、さらに10℃/分の速度で360℃まで昇温する時に得られる吸熱ピークの頂点を融点(Tm)とした。また、得られた融点および結晶化点から融点および結晶化点の差を算出した。融点、結晶化点、ならびに融点および結晶化点の差を表1に示した。
実施例および比較例において得られた液晶ポリエステル樹脂の耐熱性と加工安定性のバランスを下記の基準により評価した。評価基準の点数は数値が大きい方が好ましく、3点以上を合格とした。評価結果を表1に示した。
(評価基準)
5:融点が300℃以上340℃以下であり、かつ、融点と結晶化点の差が40℃以上であり、耐熱性と加工安定性のバランスに非常に優れていた。
4:融点が300℃以上340℃以下であり、かつ、融点と結晶化点の差が35℃以上40℃未満であり、耐熱性と加工安定性のバランスに特に優れていた。
3:融点が295℃以上300℃未満であり、かつ、融点と結晶化点の差が40℃以上であり、耐熱性と加工安定性のバランスに優れていた。
2:融点が295℃未満もしくは340℃超であったか、または、融点と結晶化点の差が35℃未満であり、耐熱性と加工安定性のバランスに劣っていた。
1:融点が295℃未満もしくは340℃超であり、かつ、融点と結晶化点の差が35℃未満であり、耐熱性と加工安定性のバランスに特に劣っていた。
実施例および比較例において得られた液晶ポリエステル樹脂の、せん断速度100S-1における融点+20℃での溶融粘度(Pa・s)を、キャピラリーレオメーター粘度計((株)東洋精機製作所キャピログラフ1D)と内径1mmキャピラリーを用い、JIS K7199に準拠して測定した。測定結果を表1に示した。
(試験片の成形)
実施例5で得られた液晶ポリエステル樹脂を、射出成形機(Rambaldi製:Babyplast)で射出成形して、ISO527に準じたダンベル状引張試験片を作製した。
上記で作製した引張試験片を用い、ISO 527に準拠して、引張強度(MPa)および引張伸び(%)の測定を行った。
Claims (7)
- 芳香族ヒドロキシカルボン酸に由来する構成単位(I)、
芳香族ジオール化合物に由来する構成単位(II)、および
芳香族ジカルボン酸に由来する構成単位(III)
を含んでなり、
前記構成単位(I)が、6-ヒドロキシ-2-ナフトエ酸に由来する構成単位(IA)およびp-ヒドロキシ安息香酸に由来する構成単位(IB)を含み、
前記構成単位(II)が、4,4’-ジヒドロキシビフェニルに由来する構成単位であり、
前記構成単位(III)が、テレフタル酸に由来する構成単位(IIIA)、およびイソフタル酸に由来する構成単位(IIIB)を含み、
前記構成単位(I)~(III)の組成比(モル%)が、下記の条件:
39モル%≦構成単位(IA)≦70モル%
1モル%≦構成単位(IB)≦6モル%
12モル%≦構成単位(II)≦30モル%
10モル%≦構成単位(IIIA)≦21モル%
2モル%≦構成単位(IIIB)≦9モル%
を満たし、
測定周波数10GHzにおける誘電正接が、1.50×10-3以下であり、
融点が295℃以上であり、
融点と結晶化点との温度差が35℃以上であることを特徴とする、液晶ポリエステル樹脂。 - 融点が340℃以下である、請求項1に記載の液晶ポリエステル樹脂。
- 前記構成単位(I)~(III)の組成比(モル%)が、下記の条件:
42モル%≦構成単位(IA)≦69モル%
2モル%≦構成単位(IB)≦5モル%
13モル%≦構成単位(II)≦28モル%
10モル%≦構成単位(IIIA)≦20モル%
3モル%≦構成単位(IIIB)≦8モル%
を満たす、請求項1または2に記載の液晶ポリエステル樹脂。 - 前記構成単位(I)~(III)の組成比(モル%)が、下記の条件:
47モル%≦構成単位(IA)≦68モル%
2モル%≦構成単位(IB)≦5モル%
15モル%≦構成単位(II)≦25モル%
11モル%≦構成単位(IIIA)≦20モル%
4モル%≦構成単位(IIIB)≦8モル%
を満たす、請求項1~3のいずれか一項に記載の液晶ポリエステル樹脂。 - 請求項1~4のいずれか一項に記載の液晶ポリエステル樹脂を含む、繊維状の成形品。
- 請求項1~4のいずれか一項に記載の液晶ポリエステル樹脂を含む、射出成形品。
- 請求項5または6に記載の成形品を備える、電気電子部品。
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