JP7466348B2 - Anisotropic conductive paste and method for manufacturing electronic substrate - Google Patents
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Description
本発明は、異方性導電ペーストおよび電子基板の製造方法に関する。 The present invention relates to an anisotropic conductive paste and a method for manufacturing an electronic substrate.
近年、フレキ基板(フレキシブル性を有する配線基板)とリジット基板(フレキシブル性を有しない配線基板)との接続や、電子部品と配線基板との接続には、異方性導電接着剤(異方性導電フィルム、異方性導電ペースト)を用いた接続方式が利用されている。例えば、電子部品と配線基板とを接続する場合には、電極が形成された電子部品と、電極のパターンが形成された配線基板との間に異方性導電接着剤を配置し、電子部品と配線基板とを熱圧着して電気的接続を確保している。 In recent years, connection methods using anisotropic conductive adhesives (anisotropic conductive films, anisotropic conductive pastes) have been used to connect flex boards (flexible wiring boards) and rigid boards (non-flexible wiring boards) and to connect electronic components and wiring boards. For example, when connecting electronic components and wiring boards, anisotropic conductive adhesive is placed between the electronic component on which electrodes are formed and the wiring board on which an electrode pattern is formed, and the electronic component and wiring board are thermocompression-bonded to ensure electrical connection.
異方性導電ペーストとしては、はんだ粉末と、熱硬化性樹脂と、カルボン酸系硬化剤と、イミダゾール系硬化剤と、アミン系硬化剤とを含有するペーストが提案されている(例えば、特許文献1)。電子部品と配線基板とを熱圧着させると、接続対象である電子部品および配線基板の電極同士をはんだ接合することができ、これらの電極同士の間での導電性が確保される。一方、電子部品の電極同士の間隙や配線基板の電極同士の間隙では、樹脂成分内にはんだ粉末が埋設されたような状態となり、隣接電極間の絶縁性が確保される。 As an anisotropic conductive paste, a paste containing solder powder, a thermosetting resin, a carboxylic acid-based curing agent, an imidazole-based curing agent, and an amine-based curing agent has been proposed (for example, Patent Document 1). When an electronic component and a wiring board are thermocompression-bonded, the electrodes of the electronic component and the wiring board to be connected can be solder-joined, and conductivity between these electrodes is ensured. Meanwhile, in the gaps between the electrodes of the electronic component and the gaps between the electrodes of the wiring board, solder powder is embedded in the resin component, ensuring insulation between adjacent electrodes.
特許文献1に記載のような異方性導電ペーストを用いる場合には、エポキシ樹脂などの熱硬化性樹脂とその硬化剤とを反応させるために、180℃以上の高温で熱圧着がされる。このように高温で熱圧着をする場合には、エポキシ樹脂の硬化の進行よりも低い温度領域で、配線基板や電子部品に由来するガス(主に水などの低沸点物質)が発生する。そして、このガスが硬化前の低粘度のエポキシ樹脂中に取り込まれることによって、ボイドが発生するという問題が生じる。
そのため、従来の熱圧着工程では、ボイドの低減対策として、配線基板や電子部品の内部に取り込まれる低沸点物質を、予め揮発させておく必要があった。具体的には、配線基板や電子部品に対し、例えば、温度150℃で5~10分間程度の条件でプリベーク処理が行われていた。しかしながら、このようなプリベーク処理では、5~10分間程度の処理時間を要することから、プリベーク処理を省略することが求められている。
When using an anisotropic conductive paste as described in Patent Document 1, thermocompression bonding is performed at a high temperature of 180° C. or more to react a thermosetting resin such as an epoxy resin with its curing agent. When performing thermocompression bonding at such a high temperature, gas (mainly low boiling point substances such as water) originating from the wiring board and electronic components is generated in a temperature range lower than the progress of curing of the epoxy resin. Then, this gas is taken into the low viscosity epoxy resin before curing, which causes the problem of voids being generated.
Therefore, in the conventional thermocompression bonding process, it was necessary to volatilize in advance the low boiling point substances that were taken into the wiring board or electronic components as a measure to reduce voids. Specifically, the wiring board or electronic components were pre-baked at a temperature of 150° C. for about 5 to 10 minutes. However, since such a pre-baking process requires a processing time of about 5 to 10 minutes, there is a demand to omit the pre-baking process.
そこで、本発明は、熱圧着工程前のプリベーク処理を省略する場合において、ボイドの発生をより低減できる異方性導電ペースト、並びに、電子基板の製造方法を提供することを目的とする。 The present invention aims to provide an anisotropic conductive paste and a method for manufacturing an electronic substrate that can further reduce the occurrence of voids when the pre-bake process before the thermocompression bonding process is omitted.
本発明の一態様に係る異方性導電ペーストは、(A)はんだ粉末と、(B)エポキシ樹脂と、(C)硬化剤と、(D)活性剤と、(E)プレゲル化剤と、(F)無機フィラーとを含有し、前記(F)成分が、(F1)ハロイサイトを含有することを特徴とするものである。 The anisotropic conductive paste according to one embodiment of the present invention contains (A) solder powder, (B) epoxy resin, (C) hardener, (D) activator, (E) pregelling agent, and (F) inorganic filler, and is characterized in that the (F) component contains (F1) halloysite.
本発明の一態様に係る異方性導電ペーストにおいては、前記(F1)成分は、ナノチューブ状の微粒子であり、前記微粒子の長さが、0.1μm以上3μm以下であり、前記微粒子の外径が20nm以上100nm以下であることが好ましい。
本発明の一態様に係る異方性導電ペーストにおいては、前記(F1)成分は、アミノメチルプロパノールおよびポリアクリル酸アンモニウムで表面処理が施されていることが好ましい。
本発明の一態様に係る異方性導電ペーストにおいては、前記(E)成分が、ポリメタクリル酸エステル系有機微粒子であることが好ましい。
In an anisotropic conductive paste according to one embodiment of the present invention, the component (F1) is preferably nanotube-shaped microparticles, the length of the microparticles being 0.1 μm or more and 3 μm or less, and the outer diameter of the microparticles being 20 nm or more and 100 nm or less.
In the anisotropic conductive paste according to one aspect of the present invention, the component (F1) is preferably surface-treated with aminomethylpropanol and ammonium polyacrylate.
In the anisotropic conductive paste according to one aspect of the present invention, the component (E) is preferably polymethacrylate-based organic fine particles.
本発明の一態様に係る電子基板の製造方法は、前記本発明の一態様に係る異方性導電ペーストを用いた電子基板の製造方法であって、配線基板上に前記異方性導電ペーストを塗布する塗布工程と、前記塗布工程後の前記配線基板に対し、90℃以上150℃以下の温度で3秒間以上120秒間以下の熱処理を施すプリヒート工程と、前記異方性導電ペースト上に電子部品を配置し、前記電子部品を前記配線基板に熱圧着する熱圧着工程と、を備えることを特徴とする方法である。 The method for manufacturing an electronic board according to one embodiment of the present invention is a method for manufacturing an electronic board using the anisotropic conductive paste according to the embodiment of the present invention, and is characterized by comprising a coating step of coating the anisotropic conductive paste onto a wiring board, a preheating step of subjecting the wiring board after the coating step to a heat treatment at a temperature of 90°C or higher and 150°C or lower for 3 seconds or higher and 120 seconds or lower, and a thermocompression step of placing electronic components on the anisotropic conductive paste and thermocompression bonding the electronic components to the wiring board.
本発明によれば、熱圧着工程前のプリベーク処理を省略する場合において、ボイドの発生をより低減できる異方性導電ペースト、並びに、電子基板の製造方法を提供できる。 The present invention provides an anisotropic conductive paste and a method for manufacturing an electronic substrate that can further reduce the occurrence of voids when the pre-bake process before the thermocompression bonding process is omitted.
先ず、本実施形態の異方性導電ペーストについて説明する。
本実施形態の異方性導電ペーストは、以下説明する(A)導電性粒子、(B)エポキシ樹脂、(C)硬化剤、(D)活性剤、(E)プレゲル化剤および(F)無機フィラーを含有するものである。そして、この(F)成分が、(F1)ハロイサイトを含有することを特徴とする。
First, the anisotropic conductive paste of this embodiment will be described.
The anisotropic conductive paste of the present embodiment contains (A) conductive particles, (B) epoxy resin, (C) curing agent, (D) activator, (E) pregelling agent, and (F) inorganic filler, which are described below. The (F) component contains (F1) halloysite.
[(A)成分]
本実施形態に用いる(A)はんだ粉末は、240℃以下の融点を有することが好ましく、低温プロセス化の観点からは、180℃以下の融点を有することがより好ましく、130℃以上160℃以下の融点を有することが特に好ましい。一方で、このはんだ粉末は、はんだ接合の強度の観点からは、180℃以上の融点を有することがより好ましい。
また、このはんだ粉末は、環境への影響の観点から、鉛フリーはんだ粉末であることが好ましい。ここで、鉛フリーはんだ粉末とは、鉛を添加しないはんだ金属または合金の粉末のことをいう。ただし、鉛フリーはんだ粉末中に、不可避的不純物として鉛が存在することは許容されるが、この場合に、鉛の量は、100質量ppm以下であることが好ましい。
[Component (A)]
The solder powder (A) used in this embodiment preferably has a melting point of 240° C. or less, and from the viewpoint of low-temperature processing, more preferably has a melting point of 180° C. or less, and particularly preferably has a melting point of 130° C. or more and 160° C. or less. On the other hand, from the viewpoint of the strength of the solder joint, this solder powder more preferably has a melting point of 180° C. or more.
From the viewpoint of the impact on the environment, the solder powder is preferably lead-free solder powder. Here, lead-free solder powder refers to a powder of a solder metal or alloy to which no lead is added. However, although the presence of lead as an unavoidable impurity in the lead-free solder powder is permitted, in this case, the amount of lead is preferably 100 mass ppm or less.
(A)成分は、スズ(Sn)、ビスマス(Bi)、銅(Cu)、銀(Ag)、アンチモン(Sb)、インジウム(In)、亜鉛(Zn)、およびチタン(Ti)からなる群から選択される少なくとも1種の金属からなる金属または合金であることが好ましい。例えば、スズ基のはんだとしては、Sn-0.7Cuなどのスズ-銅系;Sn-3.5Agなどのスズ-銀系;Sn-3.0Ag-0.5Cu、Sn-3.5Ag-0.7Cu、Sn-1.0Ag-0.7Cu、Sn-0.3Ag-0.7Cuなどのスズ-銀-銅系;Sn-2.5Ag-1.0Bi-0.5Cu、Sn-1.0Ag-2.0Bi-0.5Cuなどのスズ-銀-ビスマス-銅系;Sn-3.5Ag-0.5Bi-8.0Inなどのスズ-銀-ビスマス-インジウム系;Sn-1.0Ag-0.7Cu-2.0Bi-0.2Inなどのスズ-銀-銅-ビスマス-インジウム系;Sn-58Biなどのスズ-ビスマス系;Sn-1.0Ag-58Biなどのスズ-銀-ビスマス系;Sn-5.0Sbなどのスズーアンチモン系;Sn-9Znなどのスズ-亜鉛系;Sn-8.0Zn-3.0Biなどのスズ-亜鉛-ビスマス系;Sn-30In-12Sb-3Znなどのスズ-インジウム-アンチモン-亜鉛系;Sn-56Bi-4Tiなどのスズ-ビスマス-チタン系;Sn-3.5Ag-4Tiなどのスズ-銀-チタン系;Sn-52Inなどのスズ-インジウム系などが挙げられる。インジウム基のはんだとしては、金属インジウムのインジウム系;In-3.0Agなどのインジウム-銀系が挙げられる。また、上記金属、合金には更に微量成分として、上記の金属以外にも、鉄(Fe)、ニッケル(Ni)、コバルト(Co)、モリブデン(Mo)、リン(P)、セリウム(Ce)、ゲルマニウム(Ge)、シリコン(Si)、ガリウム(Ga)、アルミニウム(Al)、ニオブ(Nb)、バナジウム(V)、カルシウム(Ca)、マグネシウム(Mg)、ジルコニウム(Zr)、金(Au)、パラジウム(Pd)、白金(Pt)、鉛(Pb)などを含有していてもよい。これらの中でも、はんだ接合の強度の観点からは、スズ-銀-銅系、スズ-銀系などが好ましい。また、低融点特性の点からは、スズ-ビスマス系、スズ-銀-ビスマス系、スズ-インジウム系、インジウム系、インジウム-銀系などがより好ましい。 It is preferable that the (A) component is a metal or alloy consisting of at least one metal selected from the group consisting of tin (Sn), bismuth (Bi), copper (Cu), silver (Ag), antimony (Sb), indium (In), zinc (Zn), and titanium (Ti). For example, tin-based solders include tin-copper-based solders such as Sn-0.7Cu; tin-silver-based solders such as Sn-3.5Ag; tin-silver-copper-based solders such as Sn-3.0Ag-0.5Cu, Sn-3.5Ag-0.7Cu, Sn-1.0Ag-0.7Cu, and Sn-0.3Ag-0.7Cu; tin-silver-bismuth-copper-based solders such as Sn-2.5Ag-1.0Bi-0.5Cu and Sn-1.0Ag-2.0Bi-0.5Cu; tin-silver-bismuth-indium-based solders such as Sn-3.5Ag-0.5Bi-8.0In; and tin-silver-bismuth-indium-based solders such as Sn-1.0Ag-0.7Cu-2.0Bi-0.2In. Examples of the solder include tin-silver-copper-bismuth-indium solders, tin-bismuth solders such as Sn-58Bi, tin-silver-bismuth solders such as Sn-1.0Ag-58Bi, tin-antimony solders such as Sn-5.0Sb, tin-zinc solders such as Sn-9Zn, tin-zinc-bismuth solders such as Sn-8.0Zn-3.0Bi, tin-indium-antimony-zinc solders such as Sn-30In-12Sb-3Zn, tin-bismuth-titanium solders such as Sn-56Bi-4Ti, tin-silver-titanium solders such as Sn-3.5Ag-4Ti, and tin-indium solders such as Sn-52In. Indium-based solders include indium solders of metallic indium, and indium-silver solders such as In-3.0Ag. In addition, the above metals and alloys may further contain, as trace components, iron (Fe), nickel (Ni), cobalt (Co), molybdenum (Mo), phosphorus (P), cerium (Ce), germanium (Ge), silicon (Si), gallium (Ga), aluminum (Al), niobium (Nb), vanadium (V), calcium (Ca), magnesium (Mg), zirconium (Zr), gold (Au), palladium (Pd), platinum (Pt), lead (Pb), and the like. Among these, from the viewpoint of the strength of the solder joint, tin-silver-copper system and tin-silver system are preferable. Furthermore, from the viewpoint of low melting point characteristics, tin-bismuth system, tin-silver-bismuth system, tin-indium system, indium system, indium system, indium-silver system, and the like are more preferable.
(A)成分の平均粒子径は、通常1μm以上40μm以下であるが、はんだ付けパッドのピッチが狭い電子基板にも対応するという観点から、1μm以上20μm以下であることがより好ましく、2μm以上15μm以下であることがさらにより好ましく、3μm以上12μm以下であることが特に好ましい。なお、平均粒子径は、動的光散乱式の粒子径測定装置により測定できる。 The average particle diameter of component (A) is usually 1 μm or more and 40 μm or less, but from the viewpoint of being compatible with electronic boards with narrow pitches of solder pads, it is more preferably 1 μm or more and 20 μm or less, even more preferably 2 μm or more and 15 μm or less, and particularly preferably 3 μm or more and 12 μm or less. The average particle diameter can be measured by a dynamic light scattering type particle diameter measuring device.
(A)成分の配合量は、異方性導電ペースト100質量%に対して、10質量%以上50質量%以下であることが好ましく、15質量%以上35質量%以下であることがより好ましく、18質量%以上25質量%以下であることが特に好ましい。(A)成分の配合量が前記下限以上であれば、得られる異方性導電ペーストの接着強度および導電性を確保できる。他方、(A)成分の配合量が前記上限以下であれば、得られる異方性導電ペーストの絶縁性を確保できる。 The amount of component (A) is preferably 10% by mass or more and 50% by mass or less, more preferably 15% by mass or more and 35% by mass or less, and particularly preferably 18% by mass or more and 25% by mass or less, relative to 100% by mass of the anisotropic conductive paste. If the amount of component (A) is equal to or more than the lower limit, the adhesive strength and conductivity of the resulting anisotropic conductive paste can be ensured. On the other hand, if the amount of component (A) is equal to or less than the upper limit, the insulating properties of the resulting anisotropic conductive paste can be ensured.
[(B)成分]
本実施形態に用いる(B)エポキシ樹脂としては、公知のエポキシ樹脂を適宜用いることができる。また、この(B)成分は、(B1)25℃において液状のビスフェノール型エポキシ樹脂と、(B1)成分以外の他のエポキシ樹脂(以下(B2)成分ともいう)とを含有することが好ましい。このように、(B1)成分および(B2)成分を併用することにより、プリヒート時のプレゲル性を維持しつつ、接着強度を向上できる。
[Component (B)]
As the epoxy resin (B) used in this embodiment, a known epoxy resin can be appropriately used. In addition, the component (B) preferably contains (B1) a bisphenol type epoxy resin that is liquid at 25°C and an epoxy resin other than the component (B1) (hereinafter also referred to as component (B2)). In this way, by using the components (B1) and (B2) in combination, it is possible to improve the adhesive strength while maintaining the pregel property during preheating.
(B1)成分としては、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、およびビスフェノールF型エポキシ樹脂などが挙げられる。これらは1種を単独で用いてもよく、2種以上を混合して用いてもよい。 Examples of component (B1) include bisphenol A type epoxy resins and bisphenol F type epoxy resins. These may be used alone or in combination of two or more.
前記(B2)成分としては、ノボラック型エポキシ樹脂(ビフェニルノボラック型エポキシ樹脂、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂およびフェノールノボラック型エポキシ樹脂など)、結晶性エポキシ樹脂(テトラキス(グリシジルオキシフェニル)エタン、トリグリシジルイソシアヌレートなど)、ビフェニル型エポキシ樹脂、ナフタレン型エポキシ樹脂、ジシクロペンタジエン型エポキシ樹脂、および25℃において固体のビスフェノール型エポキシ樹脂などが挙げられる。これらの中でも、耐熱性などの観点から、結晶性エポキシ樹脂、またはナフタレン型エポキシ樹脂が好ましい。また、これらは1種を単独で用いてもよく、2種以上を混合して用いてもよい。 Examples of the (B2) component include novolac type epoxy resins (such as biphenyl novolac type epoxy resins, cresol novolac type epoxy resins, and phenol novolac type epoxy resins), crystalline epoxy resins (such as tetrakis(glycidyloxyphenyl)ethane, triglycidyl isocyanurate), biphenyl type epoxy resins, naphthalene type epoxy resins, dicyclopentadiene type epoxy resins, and bisphenol type epoxy resins that are solid at 25°C. Among these, crystalline epoxy resins or naphthalene type epoxy resins are preferred from the viewpoint of heat resistance and the like. These may be used alone or in combination of two or more.
(B1)成分および(B2)成分を併用する場合、(B1)成分の配合量は、(B)成分100質量%に対して、10質量%以上90質量%以下であることが好ましく、30質量%以上70質量%以下であることがより好ましい。 When the (B1) and (B2) components are used in combination, the amount of the (B1) component is preferably 10% by mass or more and 90% by mass or less, and more preferably 30% by mass or more and 70% by mass or less, relative to 100% by mass of the (B) component.
(B)成分の配合量は、異方性導電ペースト100質量%に対して、25質量%以上70質量%以下であることが好ましく、30質量%以上60質量%以下であることがより好ましく、35質量%以上50質量%以下であることが特に好ましい。(B)成分の配合量が前記下限以下であれば、得られる異方性導電ペーストの接着強度を確保できる。他方、(B)成分の配合量が前記上限以下であれば、得られる異方性導電ペーストの粘度を低くでき、塗布性を確保できる。 The amount of component (B) is preferably 25% by mass or more and 70% by mass or less, more preferably 30% by mass or more and 60% by mass or less, and particularly preferably 35% by mass or more and 50% by mass or less, relative to 100% by mass of the anisotropic conductive paste. If the amount of component (B) is equal to or less than the lower limit, the adhesive strength of the resulting anisotropic conductive paste can be ensured. On the other hand, if the amount of component (B) is equal to or less than the upper limit, the viscosity of the resulting anisotropic conductive paste can be reduced, ensuring coatability.
[(C)成分]
本実施形態に用いる(C)硬化剤としては、イミダゾール類、イミダゾール誘導体、エポキシ樹脂アミンアダクト系硬化剤および潜在性硬化剤などが挙げられる。これらは1種を単独で用いてもよく、2種以上を混合して用いてもよい。また、硬化性および硬化物の性能の観点から、イミダゾール類およびイミダゾール誘導体の少なくともいずれか1つと、エポキシ樹脂アミンアダクト系硬化剤と併用することが好ましい。さらに、イミダゾール類およびイミダゾール誘導体の少なくともいずれか1つと、エポキシ樹脂アミンアダクト系硬化剤と、潜在性硬化剤とを併用することが特に好ましい。
[Component (C)]
The curing agent (C) used in this embodiment includes imidazoles, imidazole derivatives, epoxy resin amine adduct curing agents, and latent curing agents. These may be used alone or in combination of two or more. In addition, from the viewpoint of curability and performance of the cured product, it is preferable to use at least one of imidazoles and imidazole derivatives in combination with an epoxy resin amine adduct curing agent. Furthermore, it is particularly preferable to use at least one of imidazoles and imidazole derivatives in combination with an epoxy resin amine adduct curing agent and a latent curing agent.
イミダゾール類としては、2-フェニル-4-メチル-5-ヒドロキシメチルイミダゾール、2-フェニル-4,5-ジヒドロキシメチルイミダゾール、2,4-ジアミノ-6-[2’-エチル-4’-メチルイミダゾリル-(1’)]-エチル-s-トリアジン、2,4-ジアミノ-6-[2’-メチルイミダゾリル-(1’)]-エチル-s-トリアジン、2,4-ジアミノ-6-[2’-メチルイミダゾリル-(1’)]-エチル-s-トリアジンイソシアヌル酸付加物、1-シアノエチル-2-フェニルイミダゾール、1-シアノエチル-2-フェニルイミダゾリウムトリメリテイト、1-シアノエチル-2-ウンデシルイミダゾール、および2,4-ジアミノ-6-[2’-ウンデシルイミダゾリル-(1’)]-エチル-s-トリアジンなどが挙げられる。これらの中でも、2-フェニル-4-メチル-5-ヒドロキシメチルイミダゾール、2,4-ジアミノ-6-[2’-メチルイミダゾリル-(1’)]-エチル-s-トリアジンイソシアヌル酸付加物、および1-シアノエチル-2-フェニルイミダゾリウムトリメリテイトなどを用いることが好ましい。これらは1種を単独で用いてもよく、2種以上を混合して用いてもよい。
イミダゾール類の市販品としては、2P4MHZ、2PHZ-PW、2E4MZ-A、2MZ-A、2MA-OK、2PZ-CN、2PZCNS-PW、C11Z-CN、およびC11Z-Aなど(四国化成工業社製など、商品名)が挙げられる。
Examples of imidazoles include 2-phenyl-4-methyl-5-hydroxymethylimidazole, 2-phenyl-4,5-dihydroxymethylimidazole, 2,4-diamino-6-[2'-ethyl-4'-methylimidazolyl-(1')]-ethyl-s-triazine, 2,4-diamino-6-[2'-methylimidazolyl-(1')]-ethyl-s-triazine, 2,4-diamino-6-[2'-methylimidazolyl-(1')]-ethyl-s-triazine isocyanuric acid adduct, 1-cyanoethyl-2-phenylimidazole, 1-cyanoethyl-2-phenylimidazolium trimellitate, 1-cyanoethyl-2-undecylimidazole, and 2,4-diamino-6-[2'-undecylimidazolyl-(1')]-ethyl-s-triazine. Among these, it is preferable to use 2-phenyl-4-methyl-5-hydroxymethylimidazole, 2,4-diamino-6-[2'-methylimidazolyl-(1')]-ethyl-s-triazine isocyanuric acid adduct, 1-cyanoethyl-2-phenylimidazolium trimellitate, etc. These may be used alone or in combination of two or more.
Commercially available imidazoles include 2P4MHZ, 2PHZ-PW, 2E4MZ-A, 2MZ-A, 2MA-OK, 2PZ-CN, 2PZCNS-PW, C11Z-CN, and C11Z-A (product names, manufactured by Shikoku Chemical Industry Co., Ltd., etc.).
イミダゾール誘導体は、イミダゾール類から誘導して得られるものである。前記イミダゾール誘導体の市販品としては、サンマイド LH-210、Imicure AMI-2、および、Imicure HAPIなど(エアープロダクツ社製、商品名)が挙げられる。
エポキシ樹脂アミンアダクト系硬化剤としては、例えば、アミキュアPN-23、PN-F、MY-24、VDH、UDH、PN-31、PN-40(味の素ファインテクノ社製、商品名)、EH-3615S、EH-3293S、EH-3366S、EH-3842、EH-3670S、EH-3636AS、EH-4346S、EH-5030S(ADEKA社製、商品名)が挙げられる。
潜在性硬化剤としては、例えば、ノバキュア HX-3921HP(旭化成社製、商品名)などが挙げられる。
The imidazole derivative is obtained by derivatizing imidazoles. Commercially available imidazole derivatives include Sanmide LH-210, Imicure AMI-2, Imicure HAPI, etc. (trade names, manufactured by Air Products Co., Ltd.).
Examples of epoxy resin amine adduct curing agents include Amicure PN-23, PN-F, MY-24, VDH, UDH, PN-31, and PN-40 (trade names, manufactured by Ajinomoto Fine-Techno Co., Ltd.), EH-3615S, EH-3293S, EH-3366S, EH-3842, EH-3670S, EH-3636AS, EH-4346S, and EH-5030S (trade names, manufactured by ADEKA Corporation).
An example of the latent curing agent is Novacure HX-3921HP (trade name, manufactured by Asahi Kasei Corporation).
(C)成分の配合量は、異方性導電ペースト100質量%に対して、5質量%以上35質量%以下であることが好ましく、10質量%以上30質量%以下であることがより好ましく、15質量%以上28質量%以下であることが特に好ましい。(C)成分の配合量が前記下限以上であれば、得られる異方性導電ペーストの硬化性を確保できる。他方、(C)成分の配合量が前記上限以下であれば、得られる異方性導電ペーストの保存安定性を確保できる。 The amount of component (C) is preferably 5% by mass or more and 35% by mass or less, more preferably 10% by mass or more and 30% by mass or less, and particularly preferably 15% by mass or more and 28% by mass or less, relative to 100% by mass of the anisotropic conductive paste. If the amount of component (C) is equal to or more than the lower limit, the hardening properties of the resulting anisotropic conductive paste can be ensured. On the other hand, if the amount of component (C) is equal to or less than the upper limit, the storage stability of the resulting anisotropic conductive paste can be ensured.
[(D)成分]
本実施形態に用いる(D)活性剤としては、有機酸、有機酸アミン塩、非解離型活性剤、およびアミン系活性剤などが挙げられる。これらは1種を単独で用いてもよく、2種以上を混合して用いてもよい。これらの中でも、環境対策の観点からは、有機酸、有機酸アミン塩を用いることが好ましい。
[Component (D)]
The (D) activator used in the present embodiment includes organic acids, organic acid amine salts, non-dissociation type activators, and amine-based activators. These may be used alone or in combination of two or more. Among these, from the viewpoint of environmental protection, it is preferable to use organic acids and organic acid amine salts.
有機酸としては、モノカルボン酸、ジカルボン酸などの他に、その他の有機酸が挙げられる。
モノカルボン酸としては、ギ酸、酢酸、プロピオン酸、ブチリック酸、バレリック酸、カプロン酸、エナント酸、カプリン酸、ラウリル酸、ミリスチン酸、ペンタデシル酸、パルミチン酸、マルガリン酸、ステアリン酸、ツベルクロステアリン酸、アラキジン酸、ベヘニン酸、リグノセリン酸、グリコール酸などが挙げられる。
ジカルボン酸としては、シュウ酸、マロン酸、コハク酸、グルタル酸、アジピン酸、ピメリン酸、スベリン酸、アゼライン酸、セバシン酸、フマル酸、マレイン酸、酒石酸、ジグリコール酸などが挙げられる。これらの中でも、グルタル酸、アジピン酸などが好ましい。
その他の有機酸としては、ダイマー酸、レブリン酸、乳酸、アクリル酸、安息香酸、サリチル酸、アニス酸、クエン酸、ピコリン酸などが挙げられる。
Examples of the organic acid include monocarboxylic acids, dicarboxylic acids, and other organic acids.
Examples of monocarboxylic acids include formic acid, acetic acid, propionic acid, butyric acid, valeric acid, caproic acid, enanthic acid, capric acid, lauric acid, myristic acid, pentadecylic acid, palmitic acid, margaric acid, stearic acid, tuberculostearic acid, arachidic acid, behenic acid, lignoceric acid, and glycolic acid.
Examples of dicarboxylic acids include oxalic acid, malonic acid, succinic acid, glutaric acid, adipic acid, pimelic acid, suberic acid, azelaic acid, sebacic acid, fumaric acid, maleic acid, tartaric acid, diglycolic acid, etc. Among these, glutaric acid, adipic acid, etc. are preferred.
Other organic acids include dimer acid, levulinic acid, lactic acid, acrylic acid, benzoic acid, salicylic acid, anisic acid, citric acid, and picolinic acid.
有機酸アミン塩は、前記有機酸のアミン塩である。前記アミンとしては、適宜公知のアミンを用いることができる。このようなアミンは、芳香族アミンであってもよく、脂肪族アミンであってもよい。これらは1種を単独で用いてもよく、2種以上を混合して用いてもよい。このようなアミンとしては、有機酸アミン塩の安定性などの観点から、炭素数3~13のアミンを用いることが好ましく、炭素数4~7の1級アミンを用いることがより好ましい。
芳香族アミンとしては、ベンジルアミン、アニリン、1,3-ジフェニルグアニジンなどが挙げられる。これらの中でも、ベンジルアミンが特に好ましい。
脂肪族アミンとしては、プロピルアミン、ブチルアミン、ペンチルアミン、ヘキシルアミン、ヘプチルアミン、オクチルアミン、シクロヘキシルアミン、トリエタノールアミンなどが挙げられる。
The organic acid amine salt is an amine salt of the organic acid. As the amine, any known amine can be used. Such an amine may be an aromatic amine or an aliphatic amine. These may be used alone or in combination of two or more. As such an amine, from the viewpoint of the stability of the organic acid amine salt, it is preferable to use an amine having 3 to 13 carbon atoms, and it is more preferable to use a primary amine having 4 to 7 carbon atoms.
Examples of aromatic amines include benzylamine, aniline, 1,3-diphenylguanidine, etc. Among these, benzylamine is particularly preferred.
Examples of the aliphatic amine include propylamine, butylamine, pentylamine, hexylamine, heptylamine, octylamine, cyclohexylamine, and triethanolamine.
非解離型活性剤としては、ハロゲン原子が共有結合により結合した非塩系の有機化合物が挙げられる。このハロゲン化化合物としては、塩素化物、臭素化物、フッ化物のように塩素、臭素、フッ素の各単独元素の共有結合による化合物でもよいが、塩素、臭素およびフッ素の任意の2つまたは全部のそれぞれの共有結合を有する化合物でもよい。これらの化合物は、水性溶媒に対する溶解性を向上させるために、例えばハロゲン化アルコールやハロゲン化カルボキシル化合物のように水酸基やカルボキシル基などの極性基を有することが好ましい。ハロゲン化アルコールとしては、2,3-ジブロモプロパノール、2,3-ジブロモブタンジオール、トランス-2,3-ジブロモ-2-ブテン-1,4-ジオール、1,4-ジブロモ-2-ブタノール、トリブロモネオペンチルアルコールなどの臭素化アルコール、1,3-ジクロロ-2-プロパノール、1,4-ジクロロ-2-ブタノールなどの塩素化アルコール、3-フルオロカテコールなどのフッ素化アルコール、その他これらに類する化合物が挙げられる。ハロゲン化カルボキシル化合物としては、2-ヨード安息香酸、3-ヨード安息香酸、2-ヨードプロピオン酸、5-ヨードサリチル酸、5-ヨードアントラニル酸などのヨウ化カルボキシル化合物、2-クロロ安息香酸、3-クロロプロピオン酸などの塩化カルボキシル化合物、2,3-ジブロモプロピオン酸、2,3-ジブロモコハク酸、2-ブロモ安息香酸などの臭素化カルボキシル化合物、その他これらに類する化合物が挙げられる。 Non-dissociation type activators include non-salt organic compounds in which halogen atoms are bonded by covalent bonds. The halogenated compounds may be compounds formed by covalent bonds of each of the elements chlorine, bromine, and fluorine, such as chlorides, bromides, and fluorides, but may also be compounds having covalent bonds of any two or all of chlorine, bromine, and fluorine. These compounds preferably have polar groups such as hydroxyl groups and carboxyl groups, such as halogenated alcohols and halogenated carboxyl compounds, in order to improve the solubility in aqueous solvents. Examples of halogenated alcohols include brominated alcohols such as 2,3-dibromopropanol, 2,3-dibromobutanediol, trans-2,3-dibromo-2-butene-1,4-diol, 1,4-dibromo-2-butanol, and tribromoneopentyl alcohol, chlorinated alcohols such as 1,3-dichloro-2-propanol and 1,4-dichloro-2-butanol, fluorinated alcohols such as 3-fluorocatechol, and other compounds similar to these. Examples of halogenated carboxyl compounds include iodinated carboxyl compounds such as 2-iodobenzoic acid, 3-iodobenzoic acid, 2-iodopropionic acid, 5-iodosalicylic acid, and 5-iodoanthranilic acid, chlorinated carboxyl compounds such as 2-chlorobenzoic acid and 3-chloropropionic acid, brominated carboxyl compounds such as 2,3-dibromopropionic acid, 2,3-dibromosuccinic acid, and 2-bromobenzoic acid, and other compounds similar to these.
アミン系活性剤としては、アミン類(エチレンジアミンなどのポリアミンなど)、アミン塩類(トリメチロールアミン、シクロヘキシルアミン、ジエチルアミンなどのアミンやアミノアルコールなどの有機酸塩や無機酸塩(塩酸、硫酸、臭化水素酸など))、アミノ酸類(グリシン、アラニン、アスパラギン酸、グルタミン酸、バリンなど)、アミド系化合物などが挙げられる。具体的には、ジフェニルグアニジン臭化水素酸塩、シクロヘキシルアミン臭化水素酸塩、ジエチルアミン塩(塩酸塩、コハク酸塩、アジピン酸塩、セバシン酸塩など)、トリエタノールアミン、モノエタノールアミン、これらのアミンの臭化水素酸塩などが挙げられる。 Examples of amine-based activators include amines (polyamines such as ethylenediamine), amine salts (organic acid salts and inorganic acid salts (hydrochloric acid, sulfuric acid, hydrobromic acid, etc.) of amines and amino alcohols such as trimethylolamine, cyclohexylamine, and diethylamine), amino acids (glycine, alanine, aspartic acid, glutamic acid, valine, etc.), and amide compounds. Specific examples include diphenylguanidine hydrobromide, cyclohexylamine hydrobromide, diethylamine salts (hydrochloride, succinate, adipate, sebacate, etc.), triethanolamine, monoethanolamine, and hydrobromides of these amines.
(D)成分の配合量としては、異方性導電ペースト100質量%に対して、0.1質量%以上10質量%以下であることが好ましく、0.5質量%以上5質量%以下であることがより好ましく、1質量%以上3質量%以下であることが特に好ましい。(D)成分の配合量が前記下限以上であれば、はんだ粉末の表面への活性作用を確保できる。また、(D)成分の配合量が前記上限以下であれば、得られる異方性導電ペーストの絶縁性を確保できる。 The amount of component (D) is preferably 0.1% by mass or more and 10% by mass or less, more preferably 0.5% by mass or more and 5% by mass or less, and particularly preferably 1% by mass or more and 3% by mass or less, relative to 100% by mass of the anisotropic conductive paste. If the amount of component (D) is equal to or more than the lower limit, the activation effect on the surface of the solder powder can be ensured. Also, if the amount of component (D) is equal to or less than the upper limit, the insulating properties of the resulting anisotropic conductive paste can be ensured.
[(E)成分]
本実施形態に用いる(E)プレゲル化剤は、エポキシ樹脂との相溶性が良好な有機微粒子である。また、この(E)成分は、所定温度以上かつエポキシ樹脂の硬化温度以下に加熱した場合に、有機微粒子が膨潤することで、異方性導電ペーストをゲル化できるものである。(E)成分は、ボイド抑制の観点から、ポリメタクリル酸エステル系有機微粒子であることが好ましい。また、このポリメタクリル酸エステル系有機微粒子は、親水処理がされているものであることが好ましい。また、(E)成分は、コアシェル構造を有するものであってもよい。
[Component (E)]
The pre-gelling agent (E) used in this embodiment is organic fine particles that have good compatibility with epoxy resin. Moreover, when this component (E) is heated to a temperature equal to or higher than a predetermined temperature and equal to or lower than the curing temperature of the epoxy resin, the organic fine particles swell, thereby gelling the anisotropic conductive paste. From the viewpoint of suppressing voids, the component (E) is preferably polymethacrylate-based organic fine particles. Moreover, it is preferable that the polymethacrylate-based organic fine particles are hydrophilically treated. Moreover, the component (E) may have a core-shell structure.
(E)成分の平均粒子径は、0.1μm以上5μm以下であることが好ましく、0.3μm以上3μm以下であることがより好ましい。なお、平均粒子径は、動的光散乱式の粒子径測定装置により測定できる。
(E)成分の市販品としては、ゼフィアックF301、F303、F320、およびF351など(アイカ工業社製など、商品名)が挙げられる。
The average particle size of component (E) is preferably from 0.1 μm to 5 μm, and more preferably from 0.3 μm to 3 μm. The average particle size can be measured by a dynamic light scattering particle size measuring device.
Commercially available products of component (E) include Zefiac F301, F303, F320, and F351 (product names, manufactured by Aica Kogyo Co., Ltd., etc.).
(E)成分の配合量は、異方性導電ペースト100質量%に対して、2質量%以上25質量%以下であることが好ましく、3質量%以上20質量%以下であることがより好ましく、4質量%以上15質量%以下であることが特に好ましい。(E)成分の配合量が前記下限以上であれば、ボイドの抑制効果を更に向上できる。他方、(E)成分の配合量が前記上限以下であれば、得られる異方性導電ペーストの接着強度および導通性を更に向上できる。 The amount of component (E) is preferably 2% by mass or more and 25% by mass or less, more preferably 3% by mass or more and 20% by mass or less, and particularly preferably 4% by mass or more and 15% by mass or less, relative to 100% by mass of the anisotropic conductive paste. If the amount of component (E) is equal to or more than the lower limit, the effect of suppressing voids can be further improved. On the other hand, if the amount of component (E) is equal to or less than the upper limit, the adhesive strength and conductivity of the resulting anisotropic conductive paste can be further improved.
[(F)成分]
本実施形態に用いる(F)無機フィラーは、(F1)ハロイサイトを含有することが必要である。(F1)成分により、ボイドの発生を抑制できる理由については、発明者らは以下の通りであると推察している。すなわち、ボイドは、熱圧着時に主に基板から気化した水分が樹脂中に取り込まれ、その水分に起因して発生すると推察する。そして、この(F1)成分によれば、熱圧着時に水分が樹脂中に取り込まれることを抑制でき、また、取り込まれた水分によりボイドが生じることを抑制できる。このようにして、(F1)成分により、ボイドの発生を抑制できる。
[Component (F)]
The inorganic filler (F) used in this embodiment must contain halloysite (F1). The inventors speculate that the reason why the (F1) component can suppress the generation of voids is as follows. That is, it is speculated that the voids are generated due to the moisture that is mainly evaporated from the substrate during thermocompression bonding and is taken into the resin. And, according to this (F1) component, it is possible to suppress the moisture from being taken into the resin during thermocompression bonding, and also to suppress the generation of voids due to the taken-in moisture. In this way, the (F1) component can suppress the generation of voids.
(F1)成分は、アルミノシリカ系粘土鉱産物(Al2Si2O5(OH)4・2H2O)であり、ナノチューブ状の微粒子である。
この微粒子の長さLは、0.1μm以上3μm以下であることが好ましく、0.2μm以上2μm以下であることが特に好ましい。
この微粒子の外径Dは、20nm以上100nm以下であることが好ましく、50nm以上70nm以下であることが特に好ましい。
この微粒子の内径は、10nm以上40nm以下であることが好ましく、15nm以上30nm以下であることが特に好ましい。
この微粒子のアスペクト比(L/D)は、5以上30以下であることが好ましく、10以上20以下であることが特に好ましい。
The component (F1) is an alumino-silica clay mineral product (Al 2 Si 2 O 5 (OH) 4.2H 2 O) and is in the form of nanotube-like fine particles.
The length L of the fine particles is preferably 0.1 μm or more and 3 μm or less, and particularly preferably 0.2 μm or more and 2 μm or less.
The outer diameter D of the fine particles is preferably 20 nm or more and 100 nm or less, and particularly preferably 50 nm or more and 70 nm or less.
The inner diameter of the fine particles is preferably 10 nm or more and 40 nm or less, and particularly preferably 15 nm or more and 30 nm or less.
The aspect ratio (L/D) of the fine particles is preferably 5 or more and 30 or less, and particularly preferably 10 or more and 20 or less.
(F1)成分は、接着強度の観点から、表面処理が施されていることが好ましい。表面処理剤としては、公知の表面処理剤を適宜使用できる。ただし、(A)成分および(B)成分との相性の観点から、表面処理剤は、アミノメチルプロパノールおよびポリアクリル酸アンモニウムの組合せとすることが好ましい。 From the viewpoint of adhesive strength, it is preferable that the (F1) component has been subjected to a surface treatment. Any known surface treatment agent can be used as the surface treatment agent. However, from the viewpoint of compatibility with the (A) and (B) components, it is preferable that the surface treatment agent is a combination of aminomethylpropanol and ammonium polyacrylate.
(F1)成分の配合量は、異方性導電ペースト100質量%に対して、0.5質量%以上12質量%以下であることが好ましく、1質量%以上9質量%以下であることがより好ましく、2質量%以上7質量%以下であることが特に好ましい。(F1)成分の配合量が前記下限以上であれば、ボイドの抑制効果を更に向上できる。他方、(F1)成分の配合量が前記上限以下であれば、チクソ性が高すぎて、塗布不良となることはない。 The amount of the (F1) component is preferably 0.5% by mass or more and 12% by mass or less, more preferably 1% by mass or more and 9% by mass or less, and particularly preferably 2% by mass or more and 7% by mass or less, relative to 100% by mass of the anisotropic conductive paste. If the amount of the (F1) component is equal to or more than the lower limit, the effect of suppressing voids can be further improved. On the other hand, if the amount of the (F1) component is equal to or less than the upper limit, the thixotropy is not too high, resulting in poor coating.
(F)成分は、(F1)成分以外の他の無機フィラー(以下(F2)成分ともいう)を含有していてもよい。
(F2)成分としては、アモルファスシリカなどが挙げられる。アモルファスシリカとしては、アエロジルR974、およびアエロジル200などが挙げられる。(F2)成分により、得られる異方性導電ペーストを塗布した際に、にじみにくくできる。
The component (F) may contain an inorganic filler other than the component (F1) (hereinafter also referred to as component (F2)).
Examples of the component (F2) include amorphous silica. Examples of the amorphous silica include Aerosil R974 and Aerosil 200. The component (F2) can prevent the resulting anisotropic conductive paste from bleeding when applied.
(F)成分の配合量は、異方性導電ペースト100質量%に対して、0.5質量%以上12質量%以下であることが好ましい。(F)成分の配合量が前記下限以上であれば、十分なチクソ性が得られ、ダレを十分に抑制できる。また、(F)成分の配合量が前記上限以下であれば、チクソ性が高すぎて、塗布不良となることはない。 The amount of component (F) is preferably 0.5% by mass or more and 12% by mass or less relative to 100% by mass of the anisotropic conductive paste. If the amount of component (F) is equal to or more than the lower limit, sufficient thixotropy is obtained and sagging can be sufficiently suppressed. Also, if the amount of component (F) is equal to or less than the upper limit, the thixotropy is not too high, resulting in poor coating.
本実施形態の異方性導電ペーストは、必要に応じて、前記(A)成分~前記(F)成分の他に、チクソ剤、界面活性剤、消泡剤、粉末表面処理剤、反応抑制剤、沈降防止剤などの添加剤を含有していてもよい。これらの添加剤の配合量としては、異方性導電ペースト100質量%に対して、0.01質量%以上10質量%以下であることが好ましく、0.05質量%以上5質量%以下であることがより好ましい。 The anisotropic conductive paste of this embodiment may contain additives such as a thixotropic agent, a surfactant, an antifoaming agent, a powder surface treatment agent, a reaction inhibitor, and an anti-settling agent, in addition to the components (A) to (F) as necessary. The amount of these additives is preferably 0.01% by mass or more and 10% by mass or less, and more preferably 0.05% by mass or more and 5% by mass or less, relative to 100% by mass of the anisotropic conductive paste.
[電子基板の製造方法]
次に、本実施形態の電子基板の製造方法について説明する。
本実施形態の電子基板の製造方法は、前述した本実施形態の異方性導電ペーストを用いた電子基板の製造方法であって、配線基板上に前記異方性導電ペーストを塗布する塗布工程と、前記塗布工程後の前記配線基板に対し、90℃以上150℃以下の温度で3秒間以上120秒間以下の熱処理を施すプリヒート工程と、前記異方性導電ペースト上に電子部品を配置し、前記電子部品を前記配線基板に熱圧着する熱圧着工程と、を備えることを特徴とする方法である。
配線基板としては、プリント配線基板などの公知の配線基板を使用できる。また、電子部品としては、複数の電極を有するものであれば、特に限定されず、例えば、フレキ基板であってもよい。ここでは、異方性導電ペーストを用いて、リジット基板およびフレキ基板の電極同士を接続する場合を例に挙げて説明する。
[Electronic Substrate Manufacturing Method]
Next, a method for manufacturing the electronic substrate according to this embodiment will be described.
The manufacturing method for an electronic board of this embodiment is a manufacturing method for an electronic board using the anisotropic conductive paste of this embodiment described above, and is characterized by comprising: a coating step of coating the anisotropic conductive paste onto a wiring board; a preheating step of subjecting the wiring board after the coating step to a heat treatment at a temperature of 90°C or higher and 150°C or lower for 3 seconds or higher and 120 seconds or lower; and a thermocompression bonding step of placing electronic components on the anisotropic conductive paste and thermocompression bonding the electronic components to the wiring board.
The wiring board may be a known wiring board such as a printed wiring board. The electronic component is not particularly limited as long as it has a plurality of electrodes, and may be, for example, a flexible board. Here, an example will be described in which an anisotropic conductive paste is used to connect the electrodes of a rigid board and a flexible board.
塗布工程においては、前記リジット基板上に前記異方性導電ペーストを塗布する。
ここで用いる塗布装置としては、例えば、ディスペンサー、スクリーン印刷機、ジェットディスペンサーおよびメタルマスク印刷機が挙げられる。
また、塗布膜の厚みは、特に限定されないが、50μm以上500μm以下であることが好ましく、100μm以上300μm以下であることがより好ましい。厚みが前記下限未満では、リジット基板の電極上にフレキ基板を搭載した際の付着力が低下する傾向にあり、他方、前記上限を超えると、接続部分以外にもペーストがはみ出しやすくなる傾向にある。
In the coating step, the anisotropic conductive paste is coated on the rigid substrate.
Examples of the coating device used here include a dispenser, a screen printer, a jet dispenser, and a metal mask printer.
The thickness of the coating film is not particularly limited, but is preferably 50 μm to 500 μm, and more preferably 100 μm to 300 μm. If the thickness is less than the lower limit, the adhesive strength when the flexible board is mounted on the electrode of the rigid board tends to decrease, while if the thickness exceeds the upper limit, the paste tends to easily overflow into areas other than the connection parts.
プリヒート工程においては、前記塗布工程後の前記配線基板に対し、90℃以上150℃以下の温度で3秒間以上120秒間以下の熱処理を施す。
プリヒート工程における熱処理は、前記範囲内であればよいが、作業性の観点から適宜変更してもよい。例えば、熱処理の温度は、100℃以上150℃以下であることが好ましく、110℃以上140℃以下であることがより好ましく、120℃以上130℃以下であることが特に好ましい。なお、熱処理の温度は、前記はんだ粉末の融点よりも低いことが好ましい。また、熱処理の時間は、3秒間以上30秒間以下であることが好ましく、5秒間以上20秒間以下であることがより好ましく、5秒間以上10秒間以下であることが特に好ましい。
また、はんだ粉末を含有する異方性導電ペーストを用いる場合には、熱処理の温度を、前記はんだ粉末の融点よりも1℃以上低い温度(より好ましくは10℃以上低い温度)とすることが好ましい。
なお、本実施形態においては、このように処理時間の短いプリヒート工程を行うことにより、熱圧着工程前のプリベーク処理を省略できる。すなわち、従来は、ボイドの低減対策として、配線基板や電子部品の内部に取り込まれる低沸点物質を、予め揮発させておくプリベーク処理が必要であった。しかし、本実施形態の異方性導電ペーストを用いる場合には、プリヒート工程により、異方性導電ペーストをプレゲル化することができる。そして、配線基板や電子部品に由来するガス(主に水などの低沸点物質)が発生したとしても、エポキシ樹脂中に取り込まれることを抑制できる。そのため、熱圧着工程前のプリベーク処理を省略した場合でも、ボイドの発生を十分に抑制できる。
In the preheating step, the wiring board after the coating step is subjected to a heat treatment at a temperature of 90° C. to 150° C. for 3 seconds to 120 seconds.
The heat treatment in the preheating step may be performed within the above range, but may be changed as appropriate from the viewpoint of workability. For example, the heat treatment temperature is preferably 100°C or more and 150°C or less, more preferably 110°C or more and 140°C or less, and particularly preferably 120°C or more and 130°C or less. The heat treatment temperature is preferably lower than the melting point of the solder powder. The heat treatment time is preferably 3 seconds or more and 30 seconds or less, more preferably 5 seconds or more and 20 seconds or less, and particularly preferably 5 seconds or more and 10 seconds or less.
Furthermore, when an anisotropic conductive paste containing solder powder is used, the heat treatment temperature is preferably set to a temperature 1° C. or more lower (more preferably 10° C. or more lower) than the melting point of the solder powder.
In this embodiment, the pre-baking process before the thermocompression bonding process can be omitted by performing the pre-heating process with such a short processing time. That is, in the past, a pre-baking process was required to volatilize low-boiling point substances that are taken into the wiring board or electronic components in advance as a measure to reduce voids. However, when the anisotropic conductive paste of this embodiment is used, the anisotropic conductive paste can be pre-gelled by the pre-heating process. And even if gas (mainly low-boiling point substances such as water) originating from the wiring board or electronic components is generated, it is possible to suppress the gas from being taken into the epoxy resin. Therefore, even if the pre-baking process before the thermocompression bonding process is omitted, the generation of voids can be sufficiently suppressed.
熱圧着工程においては、前記異方性導電ペースト上に前記フレキ基板を配置し、前記フレキ基板を前記リジット基板に熱圧着する。また、はんだ粉末を含有する異方性導電ペーストを用いる場合には、熱圧着時の温度を、前記はんだ粉末の融点よりも1℃以上高い温度(より好ましくは10℃以上高い温度)とすることが好ましい。
熱圧着時の温度が、前記はんだ粉末の融点よりも1℃以上高いという条件を満たさない場合には、はんだを十分に溶融させることができない傾向にある。そのため、フレキ基板およびリジット基板の間に十分なはんだ接合を形成できず、フレキ基板およびリジット基板の間の導電性が不十分となる傾向にある。
熱圧着時の温度は、130℃以上250℃以下とすることが好ましく、150℃以上240℃以下とすることがより好ましく、180℃以上220℃以下とすることが特に好ましい。
熱圧着時の圧力は、特に限定されないが、0.05MPa以上4MPa以下とすることが好ましく、0.1MPa以上3.5MPa以下とすることがより好ましい。圧力が前記下限以上であれば、リジット基板およびフレキ基板の間に十分なはんだ接合を形成でき、リジット基板およびフレキ基板の間の導電性を向上できる。他方、圧力が前記上限以下であれば、リジット基板に過度のストレスがかかることを抑制でき、デッドスペースを少なくできる。
なお、本実施形態においては、上記のように、熱圧着時の圧力を、導電性フィラー系の異方性導電ペーストを用いる方法による場合と比較して、低い圧力範囲に設定することができる。そのため、熱圧着工程に用いる装置の低コスト化を達成することもできる。
熱圧着時の時間は、特に限定されないが、通常、1秒間以上60秒間以下であり、2秒間以上20秒間以下であることが好ましく、3秒間以上15秒間以下であることがより好ましい。
In the thermocompression bonding step, the flexible substrate is placed on the anisotropic conductive paste, and the flexible substrate is thermocompression bonded to the rigid substrate. When an anisotropic conductive paste containing solder powder is used, the temperature during thermocompression bonding is preferably 1° C. or more higher (more preferably 10° C. or more higher) than the melting point of the solder powder.
If the temperature during thermocompression bonding does not satisfy the condition that it is 1° C. or more higher than the melting point of the solder powder, the solder tends not to be melted sufficiently, and therefore a sufficient solder joint cannot be formed between the flexible board and the rigid board, and the conductivity between the flexible board and the rigid board tends to be insufficient.
The temperature during thermocompression bonding is preferably 130°C or higher and 250°C or lower, more preferably 150°C or higher and 240°C or lower, and particularly preferably 180°C or higher and 220°C or lower.
The pressure during thermocompression bonding is not particularly limited, but is preferably 0.05 MPa to 4 MPa, and more preferably 0.1 MPa to 3.5 MPa. If the pressure is equal to or higher than the lower limit, a sufficient solder joint can be formed between the rigid board and the flexible board, and the conductivity between the rigid board and the flexible board can be improved. On the other hand, if the pressure is equal to or lower than the upper limit, excessive stress on the rigid board can be prevented, and dead space can be reduced.
In this embodiment, as described above, the pressure during thermocompression bonding can be set to a lower pressure range than in the case of the method using an anisotropic conductive paste of a conductive filler, and therefore the cost of the device used in the thermocompression bonding process can be reduced.
The time for thermocompression bonding is not particularly limited, but is usually from 1 to 60 seconds, preferably from 2 to 20 seconds, and more preferably from 3 to 15 seconds.
また、本発明の異方性導電ペーストを用いた接続方法は、前記接続方法に限定されるものではなく、本発明の目的を達成できる範囲での変形、改良などは本発明に含まれるものである。 In addition, the connection method using the anisotropic conductive paste of the present invention is not limited to the above connection method, and any modifications or improvements that can achieve the object of the present invention are included in the present invention.
次に、本発明を実施例および比較例によりさらに詳細に説明するが、本発明はこれらの例によってなんら限定されるものではない。なお、実施例および比較例にて用いた材料を以下に示す。
((A)成分)
はんだ粉末:平均粒子径は12μm、はんだの融点は139℃、はんだの組成は42Sn/58Bi
((B1)成分)
エポキシ樹脂A:ビスフェノールF型とビスフェノールA型との混合液状エポキシ樹脂、商品名「EPICRON EXA-830LVP」、DIC社製
((B2)成分)
エポキシ樹脂B:ナフタレン型エポキシ樹脂、商品名「EPICRON HP-4032D」、DIC社製
((C)成分)
硬化剤A:2,4-ジアミノ-6-[2’-メチルイミダゾリル-(1’)]-エチル-s-トリアジン、商品名「キュアゾール2P4MHZ」、四国化成工業社製
硬化剤B:エポキシ樹脂アミンアダクト、「EH-5030S」、ADEKA社製
硬化剤C:潜在性硬化剤、商品名「ノバキュア HX-3921HP」、旭化成社製
((D)成分)
活性剤:アジピン酸
((E)成分)
プレゲル化剤:改質ポリメタクリル酸エステル微粒子(親水処理)、商品名「ゼフィアック F303」、アイカ工業社製
((F1)成分)
無機フィラーA:ハロイサイト(表面処理なし)、商品名「DRAGONITE HP:M」、ファイマテック社製
無機フィラーB:ハロイサイト(表面処理あり(アミノメチルプロパノールおよびポリアクリル酸アンモニウム))、商品名「DRAGONITE APA:M」、ファイマテック社製
((F2)成分)
無機フィラーC:アモルファスシリカ、商品名「AEROSIL R974」、日本アエロジル社製
The present invention will now be described in more detail with reference to examples and comparative examples, but the present invention is not limited to these examples. The materials used in the examples and comparative examples are shown below.
(Component (A))
Solder powder: average particle size 12 μm, solder melting point 139° C., solder composition 42Sn/58Bi
(Component (B1))
Epoxy resin A: a mixed liquid epoxy resin of bisphenol F type and bisphenol A type, product name "EPICRON EXA-830LVP", manufactured by DIC Corporation (component (B2))
Epoxy resin B: naphthalene type epoxy resin, product name "EPICRON HP-4032D", manufactured by DIC Corporation (component (C))
Curing agent A: 2,4-diamino-6-[2'-methylimidazolyl-(1')]-ethyl-s-triazine, trade name "Curezol 2P4MHZ", manufactured by Shikoku Chemical Industry Co., Ltd. Curing agent B: epoxy resin amine adduct, "EH-5030S", manufactured by ADEKA Corporation Curing agent C: latent curing agent, trade name "Novacure HX-3921HP", manufactured by Asahi Kasei Corporation (component (D))
Activator: Adipic acid (component (E))
Pregelling agent: Modified polymethacrylic acid ester fine particles (hydrophilic treatment), product name "Zefiac F303", manufactured by Aica Kogyo Co., Ltd. (component (F1))
Inorganic filler A: halloysite (without surface treatment), trade name "DRAGONITE HP:M", manufactured by Fimatec Co., Ltd. Inorganic filler B: halloysite (with surface treatment (aminomethylpropanol and ammonium polyacrylate)), trade name "DRAGONITE APA:M", manufactured by Fimatec Co., Ltd. (component (F2))
Inorganic filler C: amorphous silica, product name "AEROSIL R974", manufactured by Nippon Aerosil Co., Ltd.
[実施例1]
エポキシ樹脂A18質量部、エポキシ樹脂B18質量部、硬化剤A5質量部、硬化剤B5質量部、硬化剤C16質量部、活性剤1質量部、無機フィラーA5質量部、無機フィラーB2質量部、およびプレゲル化剤A10質量部を容器に投入し、攪拌機にて予備混合した後、3本ロールを用いて室温にて混合し分散させて樹脂組成物を得た。
その後、得られた樹脂組成物64質量部に対し、硬化剤C16質量部、およびはんだ粉末20質量部を容器に投入し、混練機にて2時間混合することで異方性導電ペーストを調製した。
次に、リジット基板(基材:FR-4、ライン幅:100μm、ピッチ:200μm、銅厚:18μm)を準備し、リジット基板の櫛形電極上に、得られた異方性導電ペーストをディスペンサーにて塗布した(厚み:0.2mm)。そして、塗布後のリジット基板に対し、130℃の温度で10秒間のプリヒートを行い、その後、異方性導電ペースト上に、フレキ基板(ライン幅:100μm、ピッチ:200μm、銅厚:12μm)を配置し、熱圧着装置(大橋製作所社製)を用いて、温度180℃、圧力2.0MPa、圧着時間15秒の条件で、フレキ基板をリジット基板に熱圧着して、フレキ基板付のリジット基板(評価基板)を作製した。
[Example 1]
18 parts by mass of epoxy resin A, 18 parts by mass of epoxy resin B, 5 parts by mass of curing agent A, 5 parts by mass of curing agent B, 16 parts by mass of curing agent C, 1 part by mass of activator, 5 parts by mass of inorganic filler A, 2 parts by mass of inorganic filler B, and 10 parts by mass of pre-gelling agent A were charged into a container and pre-mixed with a stirrer, and then mixed and dispersed at room temperature using a three-roll mill to obtain a resin composition.
Thereafter, 64 parts by mass of the obtained resin composition, 16 parts by mass of curing agent C, and 20 parts by mass of solder powder were added to a container, and mixed for 2 hours in a kneader to prepare an anisotropic conductive paste.
Next, a rigid substrate (base material: FR-4, line width: 100 μm, pitch: 200 μm, copper thickness: 18 μm) was prepared, and the obtained anisotropic conductive paste was applied to the comb-shaped electrodes of the rigid substrate using a dispenser (thickness: 0.2 mm). The rigid substrate after application was preheated at a temperature of 130° C. for 10 seconds, and then a flexible substrate (line width: 100 μm, pitch: 200 μm, copper thickness: 12 μm) was placed on the anisotropic conductive paste, and the flexible substrate was thermocompression-bonded to the rigid substrate using a thermocompression bonding device (manufactured by Ohashi Manufacturing Co., Ltd.) under conditions of a temperature of 180° C., a pressure of 2.0 MPa, and a compression time of 15 seconds, to produce a rigid substrate (evaluation substrate) with a flexible substrate.
[実施例2および比較例1]
表1に示す組成に従い各材料を配合した以外は実施例1と同様にして、異方性導電ペーストを得た。
また、得られた異方性導電ペーストを用いた以外は実施例1と同様にして、フレキ基板付のリジット基板(評価基板)を作製した。
[Example 2 and Comparative Example 1]
An anisotropic conductive paste was obtained in the same manner as in Example 1, except that the materials were mixed according to the composition shown in Table 1.
Moreover, a rigid board (evaluation board) with a flexible board was produced in the same manner as in Example 1, except that the obtained anisotropic conductive paste was used.
<異方性導電ペーストの評価>
異方性導電ペーストの評価(ボイド、接着強度、導通性、絶縁性)を以下のような方法で行った。得られた結果を表1に示す。
(1)ボイド
評価基板を、測定顕微鏡(オリンパス社製の「STM6」)で観察し、評価基板におけるリジット基板とフレキ基板が重なり合う部分の面積と、泡の存在する箇所の面積とを測定し、泡の占める比率[(泡の存在する箇所の面積)/(重なり合う部分の面積)×100%]を測定した。ボイドの評価は、以下の基準に従って評価した。
○:泡の占める比率が10%以下である。
△:泡の占める比率が10%超20%以下である。
×:泡の占める比率が20%超である。
(2)接着強度(ピール強度)
試験機(Dage社製の「Dage4000」)を用い、評価基板におけるリジット基板に対するフレキ基板の角度が90度となるようにして、フレキ基板を試験速度50mm/minで引っ張り、そのときのピール強度(単位:N/mm)を測定した。そして、接着強度は、以下の基準に従って評価した。
◎:ピール強度が1.0N/mm以上である。
○:ピール強度が0.8N/mm以上1.0N/mm未満である。
△:ピール強度が0.6N/mm以上0.8N/mm未満である。
×:ピール強度が0.6N/mm未満である。
(3)導通性
デジタルマルチメーター(アジレント・テクノロジー社製の「34410A」)を用いて、評価基板の抵抗値を測定した。なお、リジット基板の電極とフレキ基板の電極に、それぞれ端子を接続して抵抗値を測定した。測定基準として抵抗値が測定されれば、導通していることがわかり、回路の形成が可能であると判断できる。導通性は、以下の基準に従って評価した。
○:抵抗値が100mΩ以下である。
△:抵抗値が100mΩ超である。
×:抵抗値が高すぎて、測定できない。
(4)絶縁性
評価基板を、温度85℃湿度85%RHの恒温恒湿槽に投入し、評価基板の櫛形電極の部分に、15Vの電圧を印加した。そして、恒温恒湿槽内で500時間経過後に、櫛形電極の部分絶縁抵抗値(単位:Ω)を測定した。絶縁性は、以下の基準に従って評価した。
○:絶縁抵抗値が1.0×108Ω以上である。
△:絶縁抵抗値が1.0×106Ω以上1.0×108Ω未満である。
×:絶縁抵抗値が1.0×106Ω未満である。
<Evaluation of anisotropic conductive paste>
The anisotropic conductive paste was evaluated (voids, adhesive strength, conductivity, and insulation) by the following methods. The results are shown in Table 1.
(1) Voids The evaluation board was observed with a measuring microscope (Olympus "STM6"), and the area of the overlapping part of the rigid board and the flexible board in the evaluation board and the area of the part where bubbles existed were measured, and the ratio of the bubbles [(area of the part where bubbles exist) / (area of the overlapping part) x 100%] was measured. The evaluation of voids was made according to the following criteria.
A: The ratio of bubbles is 10% or less.
Δ: The ratio of bubbles is more than 10% and 20% or less.
×: The ratio of bubbles is more than 20%.
(2) Adhesive strength (peel strength)
Using a tester (Dage 4000 manufactured by Dage), the flexible board was pulled at a test speed of 50 mm/min so that the angle of the flexible board to the rigid board in the evaluation board was 90 degrees, and the peel strength (unit: N/mm) at that time was measured. The adhesive strength was evaluated according to the following criteria.
⊚: Peel strength is 1.0 N/mm or more.
◯: The peel strength is 0.8 N/mm or more and less than 1.0 N/mm.
Δ: The peel strength is 0.6 N/mm or more and less than 0.8 N/mm.
×: The peel strength is less than 0.6 N/mm.
(3) Continuity The resistance of the evaluation board was measured using a digital multimeter (Agilent Technologies "34410A"). The resistance was measured by connecting terminals to the electrodes of the rigid board and the flexible board. If a resistance value is measured as the measurement standard, it is understood that there is continuity, and it can be determined that a circuit can be formed. The conductivity was evaluated according to the following criteria.
◯: The resistance value is 100 mΩ or less.
Δ: The resistance value is more than 100 mΩ.
×: The resistance value is too high to measure.
(4) Insulation The evaluation board was placed in a thermo-hygrostat chamber at a temperature of 85° C. and a humidity of 85% RH, and a voltage of 15 V was applied to the comb-shaped electrodes of the evaluation board. After 500 hours in the thermo-hygrostat chamber, the partial insulation resistance value (unit: Ω) of the comb-shaped electrodes was measured. The insulation was evaluated according to the following criteria.
◯: The insulation resistance value is 1.0×10 8 Ω or more.
Δ: The insulation resistance value is 1.0×10 6 Ω or more and less than 1.0×10 8 Ω.
×: The insulation resistance value is less than 1.0×10 6 Ω.
表1に示す結果からも明らかなように、本発明の異方性導電ペーストを用いた場合(実施例1および2)には、ボイド、接着強度、導通性、および絶縁性の全ての結果が良好であった。従って、本発明の異方性導電ペーストによれば、熱圧着工程前のプリベーク処理を省略する場合において、ボイドの発生をより低減できることが確認された。
これに対し、ハロイサイトを含有しない異方性導電ペーストを用いた場合(比較例1)には、ボイド、接着強度および絶縁性の点で劣ることが分かった。この理由は、ハロイサイトを含有しない場合には、ボイドが十分に抑制できず、そのボイドにより、接着強度や絶縁性が低下してしまうものと推察される。
As is clear from the results shown in Table 1, when the anisotropic conductive paste of the present invention was used (Examples 1 and 2), the results for voids, adhesive strength, conductivity, and insulation were all good. Therefore, it was confirmed that the anisotropic conductive paste of the present invention can further reduce the occurrence of voids when the pre-bake treatment before the thermocompression bonding step is omitted.
In contrast, when an anisotropic conductive paste not containing halloysite was used (Comparative Example 1), it was found to be inferior in terms of voids, adhesive strength, and insulating properties. The reason for this is presumably that when halloysite is not contained, voids cannot be sufficiently suppressed, and the adhesive strength and insulating properties are reduced due to the voids.
本発明の異方性導電ペーストは、配線基板同士(例えば、フレキ基板とリジット基板)を接続する技術や、電子部品と配線基板とを接続する技術として好適に用いることができる。 The anisotropic conductive paste of the present invention can be suitably used as a technique for connecting wiring boards together (e.g., a flexible board and a rigid board) or as a technique for connecting electronic components to a wiring board.
Claims (5)
前記(F)成分が、(F1)ハロイサイト(ただし、加水ハロイサイトを除く)を含有する
ことを特徴とする異方性導電ペースト。 (A) a solder powder, (B) an epoxy resin, (C) a curing agent, (D) an activator, (E) a pregelling agent, and (F) an inorganic filler;
An anisotropic conductive paste, characterized in that the component (F) contains (F1) halloysite (excluding hydrated halloysite) .
前記(F)成分が、(F1)ハロイサイトを含有し、
前記(F1)成分は、アミノメチルプロパノールおよびポリアクリル酸アンモニウムで表面処理が施されている
ことを特徴とする異方性導電ペースト。 (A) a solder powder, (B) an epoxy resin, (C) a curing agent, (D) an activator, (E) a pregelling agent, and (F) an inorganic filler;
The (F) component contains (F1) halloysite ,
The component (F1) is surface-treated with aminomethylpropanol and ammonium polyacrylate.
1. An anisotropic conductive paste comprising:
前記(F1)成分は、ナノチューブ状の微粒子であり、
前記微粒子の長さが、0.1μm以上3μm以下であり、前記微粒子の外径が20nm以上100nm以下である
ことを特徴とする異方性導電ペースト。 The anisotropic conductive paste according to claim 1 or 2 ,
The component (F1) is a nanotube-shaped fine particle,
The anisotropic conductive paste, characterized in that the fine particles have a length of 0.1 μm or more and 3 μm or less, and an outer diameter of the fine particles is 20 nm or more and 100 nm or less.
前記(E)成分が、ポリメタクリル酸エステル系有機微粒子である
ことを特徴とする異方性導電ペースト。 The anisotropic conductive paste according to any one of claims 1 to 3,
The anisotropic conductive paste, wherein the component (E) is polymethacrylate-based organic fine particles.
配線基板上に前記異方性導電ペーストを塗布する塗布工程と、
前記塗布工程後の前記配線基板に対し、90℃以上150℃以下の温度で3秒間以上120秒間以下の熱処理を施すプリヒート工程と、
前記異方性導電ペースト上に電子部品を配置し、前記電子部品を前記配線基板に熱圧着する熱圧着工程と、
を備えることを特徴とする電子基板の製造方法。 A method for manufacturing an electronic substrate using the anisotropic conductive paste according to any one of claims 1 to 4, comprising the steps of:
a coating step of coating the anisotropic conductive paste on a wiring board;
a preheating step of subjecting the wiring substrate after the coating step to a heat treatment at a temperature of 90° C. or more and 150° C. or less for 3 seconds or more and 120 seconds or less;
a thermocompression bonding step of placing an electronic component on the anisotropic conductive paste and thermocompression bonding the electronic component to the wiring board;
A method for manufacturing an electronic substrate, comprising:
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