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JP7475206B2 - Light-emitting device - Google Patents
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JP7475206B2 - Light-emitting device - Google Patents

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Description

本発明は、発光素子を含む発光装置に関する。 The present invention relates to a light-emitting device including a light-emitting element.

レーザ光を出射する発光素子を光源に用い、当該レーザ光を回折光学素子(Diffractive Optical Element:DOE)に通して配光パターンを制御する発光装置が知られている。このような発光装置では、DOEの脱落によって所定の配光パターンが乱れることや、発光素子のレーザ光が直接出射される等の不具合を起こす。そのため、DOEの脱落を検知し、光照射を停止する等の工夫がなされている。 Light-emitting devices are known that use a light-emitting element that emits laser light as a light source, and control the light distribution pattern by passing the laser light through a diffractive optical element (DOE). In such light-emitting devices, if the DOE falls off, problems such as the specified light distribution pattern being disrupted or the laser light of the light-emitting element being directly emitted can occur. For this reason, measures have been taken to detect the falling off of the DOE and stop the light emission.

例えば、特許文献1には、成形パッケージ構造体と、垂直共振器面発光レーザ(VCSEL)素子と、成形パッケージ構造体に導通接点を有する光学素子とを備えたVCSEL照明器モジュールが開示されている。特許文献1によれば、光学素子が部分的に又は完全に成形パッケージ構造体から取り外された際、制御回路がVCSEL素子の光照射を停止させることが開示されている。 For example, U.S. Patent No. 5,399,633 discloses a VCSEL illuminator module that includes a molded packaging structure, a vertical cavity surface emitting laser (VCSEL) element, and an optical element having conductive contacts on the molded packaging structure. U.S. Patent No. 5,399,633 discloses that a control circuit stops the light emission of the VCSEL element when the optical element is partially or completely removed from the molded packaging structure.

米国特許第10,290,993号U.S. Pat. No. 10,290,993

しかしながら、特許文献1に開示された発光装置では、成形パッケージ構造体と光学素子との導通接点における導通が失われた際においてのみVCSEL素子の光照射が停止される。そのため、例えば、導通接点に関与しない位置において光学素子に亀裂が生じた場合、すなわち、導通接点における導通が失われずに光学素子の損傷が発生した場合には、当該損傷が検知されず、発光装置から所定の基準を満たさない配光パターンにて出射光が出射してしまう可能性があるという問題がある。 However, in the light emitting device disclosed in Patent Document 1, the light emission of the VCSEL element is stopped only when the electrical continuity is lost at the conductive contact between the molded package structure and the optical element. Therefore, for example, if a crack occurs in the optical element at a position not related to the conductive contact, that is, if the optical element is damaged without losing electrical continuity at the conductive contact, the damage may not be detected, and the light emitting device may emit light with a light distribution pattern that does not satisfy a predetermined standard.

本発明は、上記点に鑑みてなされたものであり、光学素子のいずれの領域に損傷が生じた場合であっても当該損傷を容易に検出することが可能な発光装置を提供することを目的としている。 The present invention has been made in consideration of the above points, and aims to provide a light-emitting device that can easily detect damage even if the damage occurs in any area of the optical element.

本発明によって提供される発光装置は、回路基板と、前記回路基板上に設けられ、上面を有する底部及び前記底部の前記上面に配されかつ前記底部の前記上面の1の領域を露出する開口を有する枠部からなる保持体と、前記底部の前記上面の前記1の領域に載置された発光素子と、前記開口を覆うように前記枠部に保持された光散乱部材と、前記光散乱部材の上面に形成された透光性導電膜と、各々の一端が前記透光性導電膜に接続され、各々の他端が前記回路基板に接続されている第1の複数の配線及び前記回路基板に固定されかつ前記第1の複数の配線全体を担持するフレキシブルプリント回路基板を備える配線構造体と、を含むことを特徴としている。 The light emitting device provided by the present invention is characterized by including a circuit board, a holder provided on the circuit board and consisting of a bottom having an upper surface and a frame having an opening disposed on the upper surface of the bottom and exposing one area of the upper surface of the bottom, a light emitting element placed on the one area of the upper surface of the bottom, a light scattering member held on the frame so as to cover the opening, a translucent conductive film formed on the upper surface of the light scattering member, a first plurality of wirings each having one end connected to the translucent conductive film and the other end connected to the circuit board, and a wiring structure including a flexible printed circuit board fixed to the circuit board and carrying the entire first plurality of wirings.

本発明によれば、光学素子のいずれの領域に損傷が生じた場合であっても当該損傷を容易に検出することができる。 According to the present invention, damage can be easily detected regardless of the region of the optical element where the damage occurs.

実施例1に係る発光装置の構成を示す斜視図である。1 is a perspective view showing a configuration of a light emitting device according to a first embodiment. 実施例1に係る発光装置の上面図である。FIG. 2 is a top view of the light emitting device according to the first embodiment. 実施例1に係る発光装置の断面図である。1 is a cross-sectional view of a light emitting device according to a first embodiment. 実施例1に係る発光装置の光散乱部材の損傷検出状況を模式的に示す図である。10A and 10B are diagrams illustrating a damage detection state of the light scattering member of the light emitting device according to the first embodiment. 実施例2に係る発光装置の上面図である。FIG. 11 is a top view of a light emitting device according to a second embodiment. 実施例2に係る発光装置の断面図である。FIG. 11 is a cross-sectional view of a light emitting device according to a second embodiment. 実施例3に係る発光装置の構成を示す斜視図である。FIG. 11 is a perspective view showing a configuration of a light emitting device according to a third embodiment. 実施例4に係る発光装置の構成を示す斜視図である。FIG. 13 is a perspective view showing a configuration of a light emitting device according to a fourth embodiment. 実施例5に係る発光装置の上面図である。FIG. 13 is a top view of a light emitting device according to a fifth embodiment. 実施例5に係る発光装置の断面図である。FIG. 13 is a cross-sectional view of a light emitting device according to a fifth embodiment.

以下、本発明の実施例について図面を参照して具体的に説明する。なお、図面において同一の構成要素については同一の符号を付け、重複する構成要素の説明は省略する。 The following describes in detail an embodiment of the present invention with reference to the drawings. Note that the same components in the drawings are given the same reference numerals, and descriptions of duplicated components are omitted.

図1は、本発明の実施例1に係る発光装置10の構成を示す斜視図である。回路基板20は、例えば、発光装置10と他の電子部品を実装させることが可能な基板であって、平板状に形成されている。回路基板20は、例えば、ガラスエポキシ材(FR-4)、またはアルミナ(Al23)等の絶縁基板に銅等の導電体で配線がパターニングされたプリント基板である。回路基板20は、本実施例では、矩形の平面形状を有している。 1 is a perspective view showing a configuration of a light emitting device 10 according to a first embodiment of the present invention. The circuit board 20 is a board on which the light emitting device 10 and other electronic components can be mounted, and is formed in a flat plate shape. The circuit board 20 is a printed board in which wiring is patterned with a conductor such as copper on an insulating board such as a glass epoxy material (FR-4) or alumina (Al 2 O 3 ). In this embodiment, the circuit board 20 has a rectangular planar shape.

保持体30は、回路基板20上に配された上面形状が矩形の平板状の底部31と当該底部31の上面の外縁に沿って延在している枠部33を備える。保持体30は、例えば、窒化アルミニウム(AlN)やアルミナ(Al23)等のセラミック基板から構成されている。枠部33は、底部31の上面を露出する開口33Hを有している。 The holder 30 includes a bottom 31 having a rectangular, flat top surface disposed on the circuit board 20, and a frame 33 extending along the outer edge of the top surface of the bottom 31. The holder 30 is made of a ceramic substrate such as aluminum nitride (AlN) or alumina ( Al2O3 ). The frame 33 has an opening 33H exposing the top surface of the bottom 31.

発光素子40は、底部31上に配され、上面に発光面を有する発光素子である。発光素子40は、例えば、赤外領域の波長範囲のレーザ光が基板面に垂直に射出される垂直共振器面発光レーザ(VCSEL)素子である。本実施例のVCSEL素子には、複数のレーザ光の出射領域が格子状に配列されたアレイ型VCSEL素子を用いている。 The light-emitting element 40 is disposed on the bottom 31 and has a light-emitting surface on the upper surface. The light-emitting element 40 is, for example, a vertical-cavity surface-emitting laser (VCSEL) element that emits laser light in the infrared wavelength range perpendicular to the substrate surface. The VCSEL element used in this embodiment is an array-type VCSEL element in which multiple laser light emission regions are arranged in a lattice pattern.

光散乱部材50は、発光素子40の上方において枠部33に保持されている上面形状が矩形の平板状の透光部材である。光散乱部材50は、発光素子40から射出された光の配光パターンを制御する透光性部材である。光散乱部材50は、例えば、石英ガラス等の表面にレーザ光の回折現象を発生させる微細構造パターンを備えた回折光学素子(DOE)である。 The light scattering member 50 is a translucent member having a rectangular flat top surface shape that is held by the frame portion 33 above the light emitting element 40. The light scattering member 50 is a translucent member that controls the light distribution pattern of the light emitted from the light emitting element 40. The light scattering member 50 is, for example, a diffractive optical element (DOE) that has a fine structure pattern that generates a diffraction phenomenon of laser light on the surface of quartz glass or the like.

透光性導電膜60は、光散乱部材50の上面に亘って形成されている透光性の導電体膜である。透光性導電膜60は、例えば、酸化インジウムスズ(ITO)やアンチモン酸化スズ(ATO)、酸化インジウムガリウム亜鉛(IGZO)等の透光性金属からなっている。 The translucent conductive film 60 is a translucent conductive film formed over the upper surface of the light scattering member 50. The translucent conductive film 60 is made of a translucent metal such as indium tin oxide (ITO), antimony tin oxide (ATO), or indium gallium zinc oxide (IGZO).

配線構造体70は、例えば、ポリイミドを用いた薄膜状の絶縁性フィルムを基材とし、当該基材に担持された銅箔による複数の配線を備えたフレキシブルプリント回路基板(Flexible Printed Circuits:FPC)である。 The wiring structure 70 is, for example, a flexible printed circuit (FPC) having a thin insulating film made of polyimide as a base material and multiple wiring made of copper foil supported on the base material.

配線構造体70は、回路基板20の上面に固定されている基板側固定部71、透光性導電膜60を介して光散乱部材50の上面に固定されている部材側固定部72、及び基板側固定部71と部材側固定部72を接続する接続部73を有している。 The wiring structure 70 has a board-side fixing portion 71 fixed to the upper surface of the circuit board 20, a member-side fixing portion 72 fixed to the upper surface of the light scattering member 50 via the translucent conductive film 60, and a connection portion 73 connecting the board-side fixing portion 71 and the member-side fixing portion 72.

部材側固定部72は、枠部33に沿って枠状に延在しており、中央に開口部72Oを有している。部材側固定部72は、部材側固定部72の下面に互いに離間して形成された、複数の導電性の部材によって、透光性導電膜60に接続されている。 The component-side fixing portion 72 extends in a frame shape along the frame portion 33 and has an opening 72O in the center. The component-side fixing portion 72 is connected to the translucent conductive film 60 by a plurality of conductive members formed at a distance from each other on the underside of the component-side fixing portion 72.

上述の複数の導電性の部材の各々には、上記した配線構造体70の基材に担持されている複数の配線の各々の一端(部材側固定部72側の端部)が接続されている。 Each of the plurality of conductive members is connected to one end (the end on the member-side fixing portion 72 side) of each of the plurality of wirings supported on the base material of the wiring structure 70 described above.

当該複数の配線の各々は、接続部73を介して基板側固定部71まで伸張し、他端(基板側固定部71側の端部)において、回路基板20上の配線(図示せず)に接続されている。 Each of the multiple wirings extends to the board-side fixing part 71 via the connection part 73, and at the other end (the end on the board-side fixing part 71 side), is connected to wiring (not shown) on the circuit board 20.

判定回路ICは、回路基板20に設けられている集積回路である。判定回路ICは、上述した配線構造体70の基材に担持されている複数の配線の各々の他端(基板側固定部71側の端部)に接続されている端子を有し、当該端子と電気的に接続されている透光性導電膜60の電気抵抗や電気抵抗率の検知が可能である。 The determination circuit IC is an integrated circuit provided on the circuit board 20. The determination circuit IC has terminals connected to the other ends (ends on the substrate side fixing portion 71 side) of the multiple wirings supported on the base material of the wiring structure 70 described above, and is capable of detecting the electrical resistance and electrical resistivity of the translucent conductive film 60 electrically connected to the terminals.

図2は、発光装置10の上面図である。上述したように、配線構造体70は、基板側固定部71、部材側固定部72、及び基板側固定部71と部材側固定部72を接続する接続部73を有している。 Figure 2 is a top view of the light-emitting device 10. As described above, the wiring structure 70 has a substrate-side fixing portion 71, a member-side fixing portion 72, and a connection portion 73 that connects the substrate-side fixing portion 71 and the member-side fixing portion 72.

第1の複数の配線としての配線75は、上述したように、配線構造体70の基材に担持されている銅箔によって形成された配線である。本実施例において、配線構造体70は、2枚の薄膜状の絶縁性フィルムからなる基材を有し、当該2枚の薄膜状の絶縁性フィルムによって複数の配線75が挟持される構造を有している。 The wiring 75 as the first plurality of wirings is, as described above, a wiring formed of copper foil supported on the base material of the wiring structure 70. In this embodiment, the wiring structure 70 has a base material made of two thin insulating films, and has a structure in which the plurality of wirings 75 are sandwiched between the two thin insulating films.

上述のように、複数の配線75の各々は、互いに離隔しつつ基板側固定部71から部材側固定部72まで伸張している。本実施例においては、配線構造体70は、配線75を4本有している。 As described above, each of the multiple wirings 75 extends from the substrate side fixing portion 71 to the component side fixing portion 72 while being spaced apart from one another. In this embodiment, the wiring structure 70 has four wirings 75.

基板側固定部71は、上面形状が長方形を有し、長手方向の一辺が接続部73に接続されている。基板側固定部71は、下面に互いに離間して一列に形成された4つの開口71Hを備えている。この開口71Hの各々から配線75の各々の一端が露出している。 The board-side fixing part 71 has a rectangular shape on the top surface, and one of its longitudinal sides is connected to the connection part 73. The board-side fixing part 71 has four openings 71H formed in a row spaced apart from each other on the bottom surface. One end of each of the wiring 75 is exposed from each of the openings 71H.

開口71Hの各々から露出した配線75の一端は、回路基板20に形成された4本の配線(図示せず)に電気的に接続され、さらに当該4本の配線が回路基板20に実装された当該判定回路ICの所定の端子と電気的に接続されている。 One end of the wiring 75 exposed from each of the openings 71H is electrically connected to four wirings (not shown) formed on the circuit board 20, and the four wirings are further electrically connected to predetermined terminals of the determination circuit IC mounted on the circuit board 20.

部材側固定部72は、上面形状が矩形を有し、上面の外縁の一辺に沿った部分において接続部73に接続されている。部材側固定部72は、上述したように、枠部33に沿って枠状に延在しており、中央に開口部72Oを有している。 The member-side fixing part 72 has a rectangular shape on the top surface and is connected to the connection part 73 at a portion along one side of the outer edge of the top surface. As described above, the member-side fixing part 72 extends in a frame shape along the frame part 33 and has an opening 72O in the center.

すなわち、光散乱部材50上に形成された透光性導電膜60は、発光素子40上の部分において、開口部72Oから外部に露出している。言い換えれば、発光素子40から上方に出射された光は、光散乱部材50及び透光性導電膜60を通り、かつ開口部72Oを介して発光装置10の外部に出射される。本実施例において、開口部72Oは、上面視において光散乱部材50及び透光性導電膜60よりも小さい面積を有する。このように、開口部72Oの周囲を囲む部材側固定部72は、透光性導電膜60のガードとして働く。 That is, the translucent conductive film 60 formed on the light scattering member 50 is exposed to the outside from the opening 72O in the portion above the light emitting element 40. In other words, the light emitted upward from the light emitting element 40 passes through the light scattering member 50 and the translucent conductive film 60, and is emitted to the outside of the light emitting device 10 through the opening 72O. In this embodiment, the opening 72O has an area smaller than the light scattering member 50 and the translucent conductive film 60 in a top view. In this way, the member side fixing portion 72 surrounding the periphery of the opening 72O acts as a guard for the translucent conductive film 60.

部材側固定部72は、部材側固定部72の下面に互いに離間して形成され、かつ各々の開口面積が等しい円形の4つの開口72Hを備えている。具体的には、開口72Hの各々は、部材側固定部72の4つの角部分に形成されている。言い換えれば、開口72Hの各々は、矩形(正方形又は長方形)の4つの頂点となるように形成されている。 The member-side fixing part 72 has four circular openings 72H that are spaced apart from one another and have the same opening area on the underside of the member-side fixing part 72. Specifically, the openings 72H are formed at the four corners of the member-side fixing part 72. In other words, the openings 72H are formed to form the four vertices of a rectangle (square or oblong).

開口72Hの各々から配線75の各々の他端が露出している。配線75の各々は、開口72Hの各々を介して透光性導電膜60に電気的に接続されている。 The other end of each of the wirings 75 is exposed from each of the openings 72H. Each of the wirings 75 is electrically connected to the translucent conductive film 60 through each of the openings 72H.

接続部73は、上面形状が長方形状を有し、基板側固定部71の少なくとも一辺と部材側固定部72の少なくとも一辺とを接続している。接続部73は、部材側固定部72から伸長した4本の配線75の各々を内包している。 The connection portion 73 has a rectangular shape on the top surface and connects at least one side of the board side fixing portion 71 to at least one side of the component side fixing portion 72. The connection portion 73 contains each of the four wirings 75 extending from the component side fixing portion 72.

以上、発光装置10を構成する光散乱部材50の上面に設けた透光性導電膜60の電気抵抗率は、配線構造体70の配線75及び回路基板20の配線(図示せず)を介して、回路基板20の他の部分に実装した判定回路ICによって検知可能となる。言い換えれば、発光装置10の透光性導電膜60の電気抵抗率を、判定回路ICによって検知できる回路構成となっている。 As described above, the electrical resistivity of the translucent conductive film 60 provided on the upper surface of the light scattering member 50 constituting the light emitting device 10 can be detected by a determination circuit IC mounted on another portion of the circuit board 20 via the wiring 75 of the wiring structure 70 and the wiring (not shown) of the circuit board 20. In other words, the circuit configuration is such that the electrical resistivity of the translucent conductive film 60 of the light emitting device 10 can be detected by the determination circuit IC.

図3は、発光装置10の3-3線に沿った断面図である。なお、図3においては、配線構造体70に担持されている配線75を省略して示している。 Figure 3 is a cross-sectional view of the light-emitting device 10 taken along line 3-3. Note that in Figure 3, the wiring 75 carried by the wiring structure 70 is omitted.

基板配線20A、20Bは、回路基板20上において互いに離隔してパターニングされた金属配線である。基板配線20A及び20Bの各々は、発光装置10の外部の電源(図示せず)に接続されている。 The board wiring 20A and 20B are metal wirings patterned and spaced apart from each other on the circuit board 20. Each of the board wiring 20A and 20B is connected to an external power source (not shown) of the light emitting device 10.

基板配線20Cは、回路基板20上において、基板配線20A及び20Bと互いに離隔してパターニングされた金属配線である。基板配線20Cは、上述した配線75と判定回路ICを接続する配線である。基板配線20Cは、一端が上述の判定回路ICに接続されており、他端が開口71Hを介して配線75に接続されている。 The board wiring 20C is a metal wiring patterned on the circuit board 20 so as to be spaced apart from the board wirings 20A and 20B. The board wiring 20C is a wiring that connects the above-mentioned wiring 75 and the determination circuit IC. One end of the board wiring 20C is connected to the above-mentioned determination circuit IC, and the other end is connected to the wiring 75 via the opening 71H.

具体的には、開口71H内には当該開口71Hから露出する配線75に電気的に接続されたニッケル(Ni)/金(Au)層からなる電極71Aが形成されている(表記「a/b」は、a金属層、b金属層の順にて積層された積層金属層を表す)。この電極71Aは、配線75と錫銀銅(Sn-Ag-Cu)からなる導電体51を介して接合されており、基板配線20Cと電気的に接続されている(表記「a-b-c」は、a、b、cからなる合金を表す)。 Specifically, within the opening 71H, an electrode 71A made of nickel (Ni)/gold (Au) layers is formed, electrically connected to the wiring 75 exposed from the opening 71H (the notation "a/b" indicates a laminated metal layer in which the a metal layer is laminated followed by the b metal layer). This electrode 71A is joined to the wiring 75 via a conductor 51 made of tin-silver-copper (Sn-Ag-Cu), and is electrically connected to the board wiring 20C (the notation "a-b-c" indicates an alloy made of a, b, and c).

第1の実装電極31A及び第2の実装電極31Bは、保持体30の底部31の下面に互いに離間して形成されているタングステン(W)/ニッケル(Ni)/金(Au)層からなる金属電極である。第1の実装電極31A及び第2の実装電極31Bは、それぞれ基板配線20A及び20BにSn-Ag-Cu導電体からなる接合材52を介して接合されている。 The first mounting electrode 31A and the second mounting electrode 31B are metal electrodes made of tungsten (W)/nickel (Ni)/gold (Au) layers formed at a distance from each other on the underside of the bottom 31 of the holder 30. The first mounting electrode 31A and the second mounting electrode 31B are bonded to the board wiring 20A and 20B, respectively, via bonding material 52 made of a Sn-Ag-Cu conductor.

第1の給電パッド31C及び第2の給電パッド31Dは、保持体30の底部31の上面に互いに離間して形成されているW/Ni/Au層からなる金属電極である。第1の給電パッド31C上には発光素子40が配されており、第1の給電パッド31Cと発光素子40の下面電極(図示せず)とが金錫(Au-Sn)はんだ等の導電性接合材によって接合されることで互いに電気的に接続されている。第2の給電パッド31Dと発光素子40の上面電極(図示せず)とは金(Au)からなるボンディングワイヤWで接続されている。 The first power supply pad 31C and the second power supply pad 31D are metal electrodes made of W/Ni/Au layers formed at a distance from each other on the upper surface of the bottom 31 of the holder 30. The light emitting element 40 is disposed on the first power supply pad 31C, and the first power supply pad 31C and the lower electrode (not shown) of the light emitting element 40 are electrically connected to each other by being joined with a conductive bonding material such as gold-tin (Au-Sn) solder. The second power supply pad 31D and the upper electrode (not shown) of the light emitting element 40 are connected with a bonding wire W made of gold (Au).

なお、第1の実装電極31Aと第1の給電パッド31C、第2の実装電極31Bと第2の給電パッド31Dは、それぞれ保持体30の底部31を上下方向に貫通するタングステン(W)からなる貫通ビア31Vによって電気的に接続されている。 The first mounting electrode 31A and the first power supply pad 31C, and the second mounting electrode 31B and the second power supply pad 31D are each electrically connected by a through via 31V made of tungsten (W) that penetrates the bottom 31 of the holder 30 in the vertical direction.

図3に示すように、枠部33は、枠部33の上部において段差構造を有している。具体的には、枠部33は、上面33S1を有しており、上面33S1から上方に突出した突出部33Aを有している。突出部33Aは、上面33S1の外縁に沿って形成されている。突出部33Aは、上面33S2を備える。 As shown in FIG. 3, the frame 33 has a step structure at the top of the frame 33. Specifically, the frame 33 has an upper surface 33S1 and a protruding portion 33A that protrudes upward from the upper surface 33S1. The protruding portion 33A is formed along the outer edge of the upper surface 33S1. The protruding portion 33A has an upper surface 33S2.

光散乱部材50は、透光性の板状部材からなる基部50A及び基部50Aの下面に形成され、微細な凹凸を有する透光性の部材からなる拡散構造部50Bを備える断面構造を有している。 The light scattering member 50 has a cross-sectional structure including a base 50A made of a translucent plate-like member and a diffusion structure 50B formed on the underside of the base 50A and made of a translucent member having fine irregularities.

拡散構造部50Bは、基部50Aの下面に亘って設けられ、発光素子40から入射された光を光学回折により拡散させる働きを有する。より具体的には、拡散構造部50Bは、発光素子40から出射されるレーザ光を回折させ、平面形状及び高さを有する複数の微細な凹凸構造体によって、ビーム断面が円形且つガウシアン強度分布であるレーザビームを、ビーム断面が矩形且つ均一強度分布で上下左右に拡散角を有する光に変換する。 The diffusion structure 50B is provided across the lower surface of the base 50A and serves to diffuse the light incident from the light emitting element 40 by optical diffraction. More specifically, the diffusion structure 50B diffracts the laser light emitted from the light emitting element 40, and converts the laser beam, which has a circular beam cross section and a Gaussian intensity distribution, into light, which has a rectangular beam cross section, a uniform intensity distribution, and diffusion angles up, down, left, and right, by using a plurality of fine concave-convex structures having a planar shape and height.

言い換えれば、光散乱部材50は、線状のレーザビームを角錐状に広がる光となるように、配光パターンを変換する配光変換器である。なお、当該配光パターンは、光散乱部材50の拡散構造部50Bの形成面における微細な凹凸構造の配列パターンを調整することにより、六角形、台形等、任意に設定できる。 In other words, the light scattering member 50 is a light distribution converter that converts the light distribution pattern from a linear laser beam to a pyramidal light distribution. The light distribution pattern can be arbitrarily set to a hexagon, trapezoid, or other shape by adjusting the arrangement pattern of the fine uneven structure on the formation surface of the diffusion structure portion 50B of the light scattering member 50.

光散乱部材50は、例えば、ガラスからなる基部50Aの下面に樹脂材からなる拡散構造部50Bが貼付されている構造を有していてもよい。また、基部50Aと拡散構造部50Bは、ガラスまたは透光性の樹脂によって一体成型されていてもよい。 The light scattering member 50 may have a structure in which, for example, a diffusion structure 50B made of a resin material is attached to the underside of a base 50A made of glass. In addition, the base 50A and the diffusion structure 50B may be integrally molded from glass or a translucent resin.

光散乱部材50は、例えば、側面が突出部33Aの側面と離間するように、上面33S1上に載置されている。光散乱部材50と上面33S1は、接合材(図示せず)を用いて接合されている。また、光散乱部材50の側面と突出部33Aの側面との間隙は、例えば、エポキシ系の封止材55を用いて封止されている。 The light scattering member 50 is placed on the upper surface 33S1, for example, so that its side surface is spaced from the side surface of the protruding portion 33A. The light scattering member 50 and the upper surface 33S1 are bonded together using a bonding material (not shown). In addition, the gap between the side surface of the light scattering member 50 and the side surface of the protruding portion 33A is sealed, for example, using an epoxy-based sealant 55.

部材側電極72Aは、配線構造体70の部材側固定部72の下面に離間して形成された複数の導電性の部材である。具体的には、部材側電極72Aは、配線75に電気的に接続されており、図2に示した部材側固定部72の各々の開口面積が等しい円形の開口72Hの各々から、当該開口72Hで画定された形状で下方に突出したNi/Au層等からなる金属電極である。 The member-side electrodes 72A are a plurality of conductive members formed at intervals on the lower surface of the member-side fixing portion 72 of the wiring structure 70. Specifically, the member-side electrodes 72A are electrically connected to the wiring 75, and are metal electrodes made of Ni/Au layers or the like that protrude downward from each of the circular openings 72H, each of which has the same opening area, of the member-side fixing portion 72 shown in FIG. 2, in a shape defined by the openings 72H.

上述の電極(31A、31B、71A、72A)、給電パッド(31C、31D)、貫通ビア(31V)、導電体(51、52)、ボンディングワイヤW、等は目的に応じてタングステン(W)、銅(Cu)、銀(Ag)、金(Cu)、プラチナ(Pt)、パラジウム(Pd)、ロジウム(Rh)、ニッケル(Ni)、チタン(Ti)、錫(Sn)等の導電性金属から適宜選択できる。また、当該部材が積層金属であるか合金であるかについても、目的に応じて適宜選択できる。なお、後述する電極、給電パッド、貫通ビア、導電体についても同様である。 The above-mentioned electrodes (31A, 31B, 71A, 72A), power supply pads (31C, 31D), through vias (31V), conductors (51, 52), bonding wires W, etc. can be appropriately selected from conductive metals such as tungsten (W), copper (Cu), silver (Ag), gold (Cu), platinum (Pt), palladium (Pd), rhodium (Rh), nickel (Ni), titanium (Ti), tin (Sn), etc., depending on the purpose. In addition, whether the member is a laminated metal or an alloy can also be appropriately selected depending on the purpose. The same applies to the electrodes, power supply pads, through vias, and conductors described below.

部材側電極72Aは、導電ペースト78によって透光性導電膜60の上面に接合されている。すなわち、配線75の各々は、部材側電極72A及び導電ペースト78を介して透光性導電膜60に電気的に接続されている。 The component side electrode 72A is joined to the upper surface of the translucent conductive film 60 by conductive paste 78. That is, each of the wirings 75 is electrically connected to the translucent conductive film 60 via the component side electrode 72A and the conductive paste 78.

導電ペースト78は、例えば、はんだ粒子とエポキシ樹脂等の熱硬化性樹脂とを混錬させた異方性導電ペーストでも良い。異方性導電ペーストは、そのままでは絶縁体のような振る舞いをするが、加圧されることにより当該加圧部分の加圧方向に沿った方向においてはんだ粒子が凝集して導通状態となる。この際、加圧されていない部分については絶縁状態のままである。 The conductive paste 78 may be, for example, an anisotropic conductive paste made by kneading solder particles with a thermosetting resin such as epoxy resin. Anisotropic conductive paste behaves like an insulator when left as is, but when pressure is applied, the solder particles aggregate in the direction along the pressure direction of the pressurized portion, resulting in a conductive state. At this time, the non-pressurized portion remains in an insulated state.

本実施例においては、異方性導電ペーストからなる導電ペースト78を透光性導電膜60の外縁に沿って連続的に塗布している。この場合、透光性導電膜60上に配線構造体70を載置する際に、下方に突出した部材側電極72Aによって、導電ペースト78が押圧され、当該部材側電極72Aによって押圧された部分のみが導電性をもつ。従って、部材側電極72Aの各々が、互いに導電ペースト78を介しては導通せずに、透光性導電膜60に電気的に接続される。 In this embodiment, conductive paste 78 made of anisotropic conductive paste is continuously applied along the outer edge of the translucent conductive film 60. In this case, when the wiring structure 70 is placed on the translucent conductive film 60, the conductive paste 78 is pressed by the component side electrodes 72A protruding downward, and only the portions pressed by the component side electrodes 72A are conductive. Therefore, each of the component side electrodes 72A is electrically connected to the translucent conductive film 60 without being conductive to each other via the conductive paste 78.

言い換えれば、上面視において、各々の部材側電極72Aと重なる領域の導電ペースト78のみが導通状態となり、部材側電極72Aと透光性導電膜60とが導通している。上記以外の領域において、導電ペースト78は絶縁状態を維持しているため、各々の部材側電極72Aは、透光性導電膜60に対して矩形の頂点となる4箇所で電気的に接続されている。 In other words, when viewed from above, only the conductive paste 78 in the area overlapping with each component-side electrode 72A is in a conductive state, and the component-side electrode 72A and the translucent conductive film 60 are conductive. In areas other than the above, the conductive paste 78 maintains an insulating state, so that each component-side electrode 72A is electrically connected to the translucent conductive film 60 at four points that are the vertices of a rectangle.

なお、上方視において、透光性導電膜60に部材側電極72Aが押し当てられている部分、すなわち透光性導電膜60と部材側電極72Aが重なっている部分にNi/Au層からなる電極(電極パッド)を設けることもできる。当該電極(電極パッド)を設けることで、導電ペースト78を介した接続安定性を向上させることができる。また、当該電極(電極パッド)によって電極面積精度が向上するので、電気抵抗率(又は電気抵抗)の検知精度を向上させることができる。 In addition, when viewed from above, an electrode (electrode pad) made of a Ni/Au layer can be provided in the portion where the component side electrode 72A is pressed against the translucent conductive film 60, i.e., the portion where the translucent conductive film 60 and the component side electrode 72A overlap. By providing this electrode (electrode pad), the connection stability via the conductive paste 78 can be improved. In addition, the electrode (electrode pad) improves the electrode area precision, and therefore the detection precision of the electrical resistivity (or electrical resistance) can be improved.

また、透光性導電膜60の少なくとも外部雰囲気に露出された部分に、透光性且つ絶縁性を有する保護膜を設けることができる。保護膜として、例えば、透光性且つ絶縁性に加え、埃や汚れが付きにくい性質を有するフッ素樹脂膜等がある。 A protective film having both light-transmitting and insulating properties can be provided on at least the portion of the transparent conductive film 60 exposed to the external atmosphere. For example, a protective film may be a fluororesin film that is not only light-transmitting and insulating, but also resistant to dust and dirt.

接続部73は、上述したように、基板側固定部71と部材側固定部72を接続しており、部材側固定部72から伸長した複数の配線75の各々を内包している。本実施例の接続部73は、部材側固定部72から基板側固定部71まで、断面視において緩やかに屈曲している、すなわちスロープ状になっている。このように、接続部73を緩やかなスロープ状とすることで、基板側固定部71が接続部73の弾性で外れることを防止できる。 As described above, the connection portion 73 connects the board-side fixing portion 71 and the member-side fixing portion 72, and contains each of the multiple wirings 75 extending from the member-side fixing portion 72. In this embodiment, the connection portion 73 is gently curved in cross section from the member-side fixing portion 72 to the board-side fixing portion 71, that is, it is shaped like a slope. In this way, by making the connection portion 73 shaped like a gentle slope, it is possible to prevent the board-side fixing portion 71 from coming off due to the elasticity of the connection portion 73.

また、接続部73は、基板側固定部71と部材側固定部72とを任意の形状で接続可能である。具体的には、回路基板20上の基板側固定部71が発光装置10の近傍または遠方に位置している場合であっても、接続部73を任意の長さに設定し、基板側固定部71と部材側固定部72とを接続させることが可能となる。 The connection portion 73 can connect the board-side fixing portion 71 and the component-side fixing portion 72 in any shape. Specifically, even if the board-side fixing portion 71 on the circuit board 20 is located near or far from the light-emitting device 10, the connection portion 73 can be set to any length to connect the board-side fixing portion 71 and the component-side fixing portion 72.

以上、基板側固定部71、部材側固定部72、接続部73で構成された配線構造体70について説明したが、基板側固定部71は前述の構造に限るものではない。基板側固定部71は、配線構造体70の各々の配線75を、回路基板20の対応する配線と接続できる構造であれば良い。 The wiring structure 70, which is composed of the board-side fixing portion 71, the member-side fixing portion 72, and the connection portion 73, has been described above, but the board-side fixing portion 71 is not limited to the structure described above. The board-side fixing portion 71 may have any structure as long as it can connect each of the wirings 75 of the wiring structure 70 to the corresponding wiring of the circuit board 20.

例えば、接続部73の基板側固定部71側の端部において、接続部73を構成する2枚の薄膜状の絶縁性フィルムの一方を他方よりも短く設定し、担持されている配線75が他方のフィルム上に短冊状に露出されている構造でも良い。また、回路基板20にソケットが設けられている構造でも良い。この構造により、接続部73の基板側固定部71側の端部を当該ソケットに直接差し込んで電気的な接続をなす構造であっても良い。 For example, at the end of the connection part 73 on the side of the fixed part 71 on the board side, one of the two thin insulating films constituting the connection part 73 may be set shorter than the other, and the wiring 75 carried thereon may be exposed in a strip shape on the other film. Also, a socket may be provided on the circuit board 20. With this structure, the end of the connection part 73 on the side of the fixed part 71 on the board side may be directly inserted into the socket to establish an electrical connection.

図4は、発光装置10における光散乱部材50の損傷検出状況を模式的に表した図である。図4に示すように、透光性導電膜60上には4点の部材側電極72Aの各々(72A(1)~72A(4))が配置されている。 Figure 4 is a schematic diagram showing the damage detection status of the light scattering member 50 in the light emitting device 10. As shown in Figure 4, four member side electrodes 72A (72A(1) to 72A(4)) are arranged on the translucent conductive film 60.

上述の説明からわかるように、部材側電極72A(1)~72A(4)は、配線75の各々を介して、それぞれが判定回路ICに接続されている。すなわち、判定回路ICは、部材側電極72A(1)~72A(4)の各々の間における透光性導電膜60の電気抵抗率の検知が可能である。 As can be seen from the above explanation, the component side electrodes 72A(1) to 72A(4) are each connected to the determination circuit IC via the respective wiring 75. In other words, the determination circuit IC can detect the electrical resistivity of the translucent conductive film 60 between each of the component side electrodes 72A(1) to 72A(4).

例えば、光散乱部材50のいずれかの領域に亀裂等の損傷が生じた場合、光散乱部材50の上面に形成された透光性導電膜60にも損傷が生じ得る。本実施例によれば、透光性導電膜60上に接合された複数の部材側電極72Aの各々によって、透光性導電膜60の電気抵抗率を測定することにより、当該損傷を検出する。すなわち、判定回路ICは、この電気抵抗率の値またはその変化によって、透光性導電膜60の損傷、ひいては光散乱部材50の損傷の検出が可能である。 For example, if damage such as a crack occurs in any area of the light scattering member 50, damage may also occur in the translucent conductive film 60 formed on the upper surface of the light scattering member 50. According to this embodiment, the damage is detected by measuring the electrical resistivity of the translucent conductive film 60 using each of the multiple member side electrodes 72A bonded onto the translucent conductive film 60. In other words, the determination circuit IC can detect damage to the translucent conductive film 60, and therefore damage to the light scattering member 50, based on the value of this electrical resistivity or its change.

光散乱部材50の損傷は、例えば、透光性導電膜60に対してファン・デル・パウ(Van Der Pauw)法によるシート抵抗(表面抵抗率)を検知することで検出可能である。 Damage to the light scattering member 50 can be detected, for example, by detecting the sheet resistance (surface resistivity) of the translucent conductive film 60 using the Van Der Pauw method.

本実施例において、判定回路ICは、透光性導電膜60上に配された4つの部材側電極72Aの各々の内、ある2点の電極間に電流を流し、前記2点とは異なる2点の電極間の電圧を測定し、透光性導電膜60のシート抵抗を検知する。 In this embodiment, the determination circuit IC passes a current between two of the four component side electrodes 72A arranged on the translucent conductive film 60, measures the voltage between two other electrodes, and detects the sheet resistance of the translucent conductive film 60.

具体的には、例えば、図4に示すように部材側電極72A(1)-72A(3)間におけるシート抵抗と、部材側電極72A(2)-72A(4)間におけるシート抵抗を比較し、一定の対称性が保たれている場合は損傷なしと判定する。一方、前記対称性に変化が見られた場合は損傷ありと判定する。 Specifically, for example, as shown in FIG. 4, the sheet resistance between component side electrodes 72A(1)-72A(3) is compared with the sheet resistance between component side electrodes 72A(2)-72A(4), and if a certain degree of symmetry is maintained, it is determined that there is no damage. On the other hand, if a change is observed in the symmetry, it is determined that there is damage.

上記シート抵抗の対称性が失われている場合、すなわち、光散乱部材50に損傷が発生している、またはその可能性があると判定した場合、判定回路ICは外部にその旨を示す信号を発信可能である。例えば、判定回路ICは、光散乱部材50に損傷が発生している、またはその可能性があると判定した場合は、発光素子40への給電を行う制御部(図示せず)にその旨を示す信号を発信する。制御部は、その信号を受信して、発光素子40への電流供給を停止することができる。 When the symmetry of the sheet resistance is lost, that is, when it is determined that the light scattering member 50 is damaged or there is a possibility of damage, the determination circuit IC can transmit a signal indicating this to the outside. For example, when the determination circuit IC determines that the light scattering member 50 is damaged or there is a possibility of damage, it transmits a signal indicating this to a control unit (not shown) that supplies power to the light-emitting element 40. The control unit can receive this signal and stop the supply of current to the light-emitting element 40.

従って、光散乱部材50のいずれの領域に損傷が生じた場合であっても、発光素子40への電流供給を停止することが可能となる。このように、光散乱部材50の損傷を検出した際に、発光素子40の発光を止めることで、発光素子40の出射光が散乱されずに直接発光装置10の外部に出射されることを防止することが可能となる。すなわち、本実施例の発光装置10によれば、光散乱部材50の損傷に由来する、発光装置10の配光パターンの異常、発光素子40のレーザ光が直接出射される等の不具合事象を防止することができる。 Therefore, even if damage occurs in any area of the light scattering member 50, it is possible to stop the current supply to the light emitting element 40. In this way, by stopping the light emission of the light emitting element 40 when damage to the light scattering member 50 is detected, it is possible to prevent the emitted light of the light emitting element 40 from being directly emitted outside the light emitting device 10 without being scattered. In other words, according to the light emitting device 10 of this embodiment, it is possible to prevent malfunctions caused by damage to the light scattering member 50, such as abnormalities in the light distribution pattern of the light emitting device 10 and direct emission of laser light from the light emitting element 40.

また、上記構成とすることにより、配線構造体70は、保持体30及び光散乱部材50に対する取付け性が良好なため、透光性導電膜60及び回路基板20への取り付けや構造変更が容易となる。具体的には、例えば、透光性導電膜60の上面に設けた複数の部材側電極76の位置調整や配線構造体70の配線パターンの変更等を容易に行うことができる。 In addition, with the above configuration, the wiring structure 70 has good attachment properties to the holder 30 and the light scattering member 50, making it easy to attach it to the translucent conductive film 60 and the circuit board 20 and to change the structure. Specifically, for example, it is easy to adjust the positions of the multiple member-side electrodes 76 provided on the upper surface of the translucent conductive film 60 and to change the wiring pattern of the wiring structure 70.

従って、本実施例によれば、光散乱部材50の上面側に配線構造体70を設ける構成とすることにより、光散乱部材50の損傷検出機能に加え、当該機能を簡便な構造により実現できる発光装置を提供可能である。 Therefore, according to this embodiment, by providing the wiring structure 70 on the upper surface side of the light scattering member 50, it is possible to provide a light emitting device that can achieve this function with a simple structure in addition to the function of detecting damage to the light scattering member 50.

図5は、実施例2に係る発光装置11の上面図である。発光装置11は、配線構造体70の配線パターンが実施例1の発光装置10の配線構造体70と異なっている。具体的には、配線構造体70の配線75に加えて、配線85が設けられている。 Figure 5 is a top view of the light-emitting device 11 according to Example 2. The light-emitting device 11 has a wiring pattern of the wiring structure 70 that is different from the wiring structure 70 of the light-emitting device 10 of Example 1. Specifically, in addition to the wiring 75 of the wiring structure 70, wiring 85 is provided.

第2の複数の配線としての配線85は、実施例1に示した配線構造体70の配線75と同様に、配線構造体70の基材に担持されている銅箔によって形成された配線である。複数の配線85は、配線75と同様に、配線構造体70の基材を構成する2枚の薄膜状の絶縁性フィルムによって挟持されている。 The second plurality of wirings, 85, is a wiring formed of copper foil supported on the base material of the wiring structure 70, similar to the wiring 75 of the wiring structure 70 shown in Example 1. The plurality of wirings 85, similar to the wiring 75, is sandwiched between two thin insulating films that constitute the base material of the wiring structure 70.

配線85の各々は、互いに離隔しつつ基板側固定部71から部材側固定部72まで伸張している。本実施例において、配線構造体70は、配線75及び配線85を各々4本有している。 Each of the wirings 85 extends from the substrate side fixing part 71 to the component side fixing part 72 while being spaced apart from each other. In this embodiment, the wiring structure 70 has four wirings 75 and four wirings 85.

図5に示すように、基板側固定部71は、実施例1に示した4つの開口71Hに加えて、下面に互いに離間して一列に形成された4つの開口81Hを備えている。実施例2においては、4つの開口71Hの各々と4つの開口81Hの各々とが一直線上に配列されている。また、図5に示すように、開口81Hが両端に2つずつ配され、それに挟み込まれるように4つの開口71Hが配されている。この開口81Hの各々から配線85の各々の一端(基板側固定部71側の端部)が露出している。 As shown in FIG. 5, in addition to the four openings 71H shown in Example 1, the board-side fixing part 71 has four openings 81H formed in a row on the underside at a distance from each other. In Example 2, each of the four openings 71H and each of the four openings 81H are arranged in a straight line. Also, as shown in FIG. 5, two openings 81H are arranged on each end, and four openings 71H are arranged so as to be sandwiched between them. One end of each of the wiring 85 (the end on the board-side fixing part 71 side) is exposed from each of these openings 81H.

開口81Hの各々から露出した配線85の一端は、回路基板20に形成された4本の配線(図示せず)に電気的に接続され、さらに当該4本の配線が回路基板20に実装された当該判定回路ICの所定の端子と電気的に接続されている。 One end of the wiring 85 exposed from each of the openings 81H is electrically connected to four wirings (not shown) formed on the circuit board 20, and the four wirings are further electrically connected to predetermined terminals of the determination circuit IC mounted on the circuit board 20.

実施例2において、枠部33の上面33S2には、上面33S2の内縁に沿って伸長しかつ円環状に形成された金属膜からなる枠部接合電極86が形成されている。 In Example 2, a frame joining electrode 86 made of a metal film formed in a circular ring shape and extending along the inner edge of the upper surface 33S2 of the frame 33 is formed on the upper surface 33S2.

部材側固定部72は、実施例1に示した4つの開口72Hに加えて、部材側固定部72の下面に互いに離間して形成された各々の開口面積が等しい円形の4つの開口82Hを備えている。具体的には、開口82Hの各々は、部材側固定部72の4つの角部分に形成されている。言い換えれば、開口82Hの各々は、矩形(正方形又は長方形)の4つの頂点となるように形成されている。実施例1に示した4つの開口72Hの各々よりも外縁側に形成されている。 In addition to the four openings 72H shown in Example 1, the member-side fixing part 72 has four circular openings 82H with equal opening areas formed at a distance from each other on the underside of the member-side fixing part 72. Specifically, the openings 82H are formed at the four corners of the member-side fixing part 72. In other words, the openings 82H are formed so as to form the four vertices of a rectangle (square or oblong). They are formed on the outer edge side of the four openings 72H shown in Example 1.

また、開口82Hは、枠部接合電極86と対向するように形成されている。なお、実施例2において、開口72Hの各々は、透光性導電膜60の4つの角の各々の上に矩形の4つの頂点となるように形成されている。 The opening 82H is formed to face the frame joining electrode 86. In Example 2, the openings 72H are formed on the four corners of the translucent conductive film 60 so as to form the four vertices of a rectangle.

開口82Hの各々から配線85の各々の他端(部材側固定部72側の端部)が露出しており、導電性の部材によって配線85の各々の他端が上記枠部接合電極86に電気的に接続されている。言い換えれば、配線85の各々の他端同士が、枠部接合電極86によって電気的に接続されている。 The other end of each of the wirings 85 (the end on the member-side fixing portion 72 side) is exposed from each of the openings 82H, and each of the other ends of the wirings 85 is electrically connected to the frame joining electrode 86 by a conductive member. In other words, the other ends of each of the wirings 85 are electrically connected to each other by the frame joining electrode 86.

接続部73は、部材側固定部72から伸長した4本の配線75及び4本の配線85の各々を内包している。4本の配線85は、図5に示すように、配線85の2本ずつが4本の配線75を挟み込むように配されている。 The connection portion 73 contains four wires 75 and four wires 85 extending from the member-side fixing portion 72. As shown in FIG. 5, the four wires 85 are arranged so that two of the wires 85 sandwich one of the four wires 75.

以上、実施例1と同様に、発光装置11を構成する光散乱部材50の上面に設けた透光性導電膜60の電気抵抗率は、配線構造体70の配線75及び回路基板20の配線(図示せず)を介して、回路基板20の他の部分に実装した判定回路ICによって検知可能となる。 As described above, similarly to Example 1, the electrical resistivity of the translucent conductive film 60 provided on the upper surface of the light scattering member 50 constituting the light emitting device 11 can be detected by a determination circuit IC mounted on another part of the circuit board 20 via the wiring 75 of the wiring structure 70 and the wiring (not shown) of the circuit board 20.

上記に加えて、上面33S2に形成された枠部接合電極86の電気抵抗率は、配線構造体70の配線85及び回路基板20の配線(図示せず)を介して、回路基板20の他の部分に実装した判定回路ICによって検知可能となる。 In addition to the above, the electrical resistivity of the frame joining electrode 86 formed on the upper surface 33S2 can be detected by a determination circuit IC mounted on another part of the circuit board 20 via the wiring 85 of the wiring structure 70 and the wiring of the circuit board 20 (not shown).

言い換えれば、発光装置11の透光性導電膜60の電気抵抗率及び枠部接合電極86の電気抵抗率を、判定回路ICによって検知できる回路構成となっている。 In other words, the circuit configuration is such that the electrical resistivity of the translucent conductive film 60 of the light-emitting device 11 and the electrical resistivity of the frame joining electrode 86 can be detected by the determination circuit IC.

図6は、発光装置12の6-6線に沿った断面図である。なお、図6においては、配線構造体70に担持されている配線75及び配線85を省略して示している。 Figure 6 is a cross-sectional view of the light-emitting device 12 taken along line 6-6. Note that in Figure 6, the wiring 75 and wiring 85 carried by the wiring structure 70 are omitted.

基板配線20Dは、回路基板20上において、基板配線20A及び20Bと互いに離隔してパターニングされた金属配線である。基板配線20Dは、上述した配線85と判定回路ICを接続する配線である。基板配線20Dは、一端が上述の判定回路ICに接続されており、他端が開口81Hを介して配線85に接続されている。 The board wiring 20D is a metal wiring patterned on the circuit board 20 so as to be spaced apart from the board wirings 20A and 20B. The board wiring 20D is a wiring that connects the above-mentioned wiring 85 and the determination circuit IC. One end of the board wiring 20D is connected to the above-mentioned determination circuit IC, and the other end is connected to the wiring 85 via the opening 81H.

具体的には、開口81H内には当該開口81Hから露出する配線85に電気的に接続されたNi/Au層からなる電極81Aが形成されている。この電極81Aは、配線85とSn-Ag-Cu導電体からなる接合材53を介して接合されており、基板配線20Dと電気的に接続されている。 Specifically, an electrode 81A made of a Ni/Au layer is formed in the opening 81H and is electrically connected to the wiring 85 exposed from the opening 81H. This electrode 81A is joined to the wiring 85 via a bonding material 53 made of a Sn-Ag-Cu conductor, and is electrically connected to the board wiring 20D.

部材側電極82Aは、配線85に電気的に接続されており、配線構造体70の部材側固定部82の開口82H(図5参照)の各々から当該開口82Hで画定された形状で下方に突出したNi/Au層からなる金属電極である。部材側電極82Aは、導電ペースト88によって枠部接合電極86の上面に接合されている。すなわち、配線85の各々は、部材側電極82A及び導電ペースト88を介して枠部接合電極86に電気的に接続されている。 The member-side electrode 82A is electrically connected to the wiring 85 and is a metal electrode made of a Ni/Au layer that protrudes downward from each of the openings 82H (see FIG. 5) of the member-side fixing portion 82 of the wiring structure 70 in a shape defined by the opening 82H. The member-side electrode 82A is joined to the upper surface of the frame joining electrode 86 by a conductive paste 88. That is, each of the wirings 85 is electrically connected to the frame joining electrode 86 via the member-side electrode 82A and the conductive paste 88.

本実施例においても、異方性導電ペーストからなる導電ペースト88は、上述した枠部接合電極86に沿って連続的に塗布してもよい。または、透光性導電膜60上の導電ペースト78が枠部接合電極86の上面まで延在して塗布されていても良い。この場合、枠部接合電極86上に配線構造体70を載置する際に、下方に突出した部材側電極82Aによって、導電ペースト78又は88が押圧され、当該部材側電極82Aによって押圧された部分のみが導電性をもつ。従って、部材側電極82Aの各々が、互いに導電ペースト88を介しては導通せずに、枠部接合電極86に電気的に接続される。 In this embodiment, the conductive paste 88 made of anisotropic conductive paste may be continuously applied along the above-mentioned frame joining electrode 86. Alternatively, the conductive paste 78 on the translucent conductive film 60 may be applied so as to extend to the upper surface of the frame joining electrode 86. In this case, when the wiring structure 70 is placed on the frame joining electrode 86, the conductive paste 78 or 88 is pressed by the member side electrode 82A protruding downward, and only the portion pressed by the member side electrode 82A has conductivity. Therefore, each of the member side electrodes 82A is electrically connected to the frame joining electrode 86 without being conductive to each other via the conductive paste 88.

上述したように、本実施例における発光装置11の配線構造体70は、4本の配線75の各々が透光性導電膜60に接続される配線パターンと、4本の配線85の各々が枠部接合電極86に接続される配線パターンの2つの構造を備えている。 As described above, the wiring structure 70 of the light-emitting device 11 in this embodiment has two structures: a wiring pattern in which each of the four wires 75 is connected to the translucent conductive film 60, and a wiring pattern in which each of the four wires 85 is connected to the frame joining electrode 86.

判定回路ICは、実施例1と同様に、透光性導電膜60上に配された4つの部材側電極72Aの各々の内、ある2点の電極間に電流を流し、前記2点とは異なる2点の電極間の電圧を測定し、透光性導電膜60の電気抵抗率を検知する。 As in the first embodiment, the determination circuit IC passes a current between two of the four component-side electrodes 72A arranged on the translucent conductive film 60, measures the voltage between two other electrodes, and detects the electrical resistivity of the translucent conductive film 60.

従って、実施例1と同様に、上記電気抵抗率の変化に伴う光散乱部材50の損傷を検出した際に、発光素子40の発光を止めることで、発光素子40の出射光が散乱されずに直接発光装置11の外部に出射されることを防止することが可能となる。すなわち、本実施例の発光装置11によれば、光散乱部材50の損傷に由来する、発光装置11の配光パターンの異常、発光素子40のレーザ光が直接出射される等の不具合事象を防止することができる。 Therefore, similarly to Example 1, when damage to the light scattering member 50 due to the change in electrical resistivity is detected, it is possible to prevent the light emitted by the light emitting element 40 from being directly emitted outside the light emitting device 11 without being scattered by stopping the light emission of the light emitting element 40. In other words, according to the light emitting device 11 of this example, it is possible to prevent malfunctions caused by damage to the light scattering member 50, such as an abnormality in the light distribution pattern of the light emitting device 11 and the direct emission of laser light from the light emitting element 40.

また、本実施例によれば、回路基板20に固定された配線構造体70によって、光散乱部材50を押さえ付ける構造となっている。これにより、光散乱部材50の脱落を機械的に防止することができる。 In addition, according to this embodiment, the wiring structure 70 fixed to the circuit board 20 is configured to hold down the light scattering member 50. This makes it possible to mechanically prevent the light scattering member 50 from falling off.

また、上記構成とすることにより、配線構造体70は、上面視において露出されているため、透光性導電膜60及び回路基板20への取り付けや構造変更が容易となる。具体的には、例えば、透光性導電膜60の上面に設けた複数の部材側電極76の位置調整や配線構造体70の配線パターンの変更等を容易に行うことができる。 In addition, with the above configuration, the wiring structure 70 is exposed when viewed from above, which makes it easy to attach it to the translucent conductive film 60 and the circuit board 20 and to change its structure. Specifically, for example, it is easy to adjust the positions of the multiple component-side electrodes 76 provided on the upper surface of the translucent conductive film 60 and to change the wiring pattern of the wiring structure 70.

従って、本実施例によれば、光散乱部材50の上面側に配線構造体70を設ける構成とすることにより、光散乱部材50の損傷検出機能に加え、光散乱部材50の機械的及び電気的な脱落防止機能と当該機能を簡便な構造により実現できる発光装置を提供可能である。 Therefore, according to this embodiment, by providing the wiring structure 70 on the upper surface side of the light scattering member 50, it is possible to provide a light emitting device that can achieve not only the function of detecting damage to the light scattering member 50, but also the function of preventing the light scattering member 50 from falling off mechanically and electrically, and that can achieve this function with a simple structure.

さらに、本実施例によれば、判定回路ICは、枠部接合電極86上に配された4つの部材側電極82Aの各々を介して、保持体30と配線構造体70との電気的な接続状態の変化を判定する。 Furthermore, according to this embodiment, the judgment circuit IC judges the change in the electrical connection state between the holding body 30 and the wiring structure 70 via each of the four component side electrodes 82A arranged on the frame joining electrode 86.

上記電気的な接続状態が失われている場合、すなわち、配線構造体70の脱落が発生している、またはその可能性、及び光散乱部材50の脱落の可能性があると判定した場合、判定回路ICは外部にその旨を示す信号を発信可能である。判定回路ICは、例えば、配線構造体70の脱落が発生している、またはその可能性があると判定した場合は、発光素子40への給電を行う制御部(図示せず)にその旨を示す信号を発信する。制御部は、その信号を受信して、発光素子40への電流供給を停止することができる。 If the electrical connection is lost, that is, if it is determined that the wiring structure 70 has fallen off or there is a possibility of this, and that the light scattering member 50 has fallen off, the determination circuit IC can transmit a signal to the outside indicating this. For example, if the determination circuit IC determines that the wiring structure 70 has fallen off or there is a possibility of this, it transmits a signal to that effect to a control unit (not shown) that supplies power to the light-emitting element 40. The control unit can receive this signal and stop the supply of current to the light-emitting element 40.

従って、本実施例において、配線構造体70が、4本の配線75と、4本の配線85の2つの配線構造を備えることにより、光散乱部材50の損傷検出機能、光散乱部材50の機械的及び電気的な脱落防止機能及び当該機能を簡便な構造により実現できることに加え、配線構造体70の脱落検出機能を有する発光装置を提供可能である。 Therefore, in this embodiment, the wiring structure 70 has two wiring structures, four wires 75 and four wires 85, and thus it is possible to provide a light-emitting device that has a function for detecting damage to the light scattering member 50, a function for preventing the light scattering member 50 from falling off mechanically and electrically, and a function for detecting the falling off of the wiring structure 70, in addition to being able to realize these functions with a simple structure.

図7は、実施例3に係る発光装置12の構成を示す斜視図である。発光装置12は、配線構造体90の構成が実施例1の発光装置10の配線構造体70と異なっている。具体的には、配線構造体90に袖部92B及び固定部92Cが設けられている。 Figure 7 is a perspective view showing the configuration of the light-emitting device 12 according to the third embodiment. The light-emitting device 12 has a wiring structure 90 that is different from the wiring structure 70 of the light-emitting device 10 of the first embodiment. Specifically, the wiring structure 90 is provided with a sleeve portion 92B and a fixing portion 92C.

配線構造体90は、回路基板20に接続される基板側固定部91、透光性導電膜60の上面に配される部材側固定部92、基板側固定部91と部材側固定部92を接続する接続部93から構成される。 The wiring structure 90 is composed of a board-side fixing part 91 that is connected to the circuit board 20, a member-side fixing part 92 that is arranged on the upper surface of the translucent conductive film 60, and a connection part 93 that connects the board-side fixing part 91 and the member-side fixing part 92.

部材側固定部92は、実施例1の発光装置10における配線構造体70と同様に、枠部33に沿って枠状に延在しており、中央に開口部92Oを有する天面部92Aを有している。天面部92Aは、部材側固定部92の下面に互いに離間して形成された複数の導電性の部材(図示せず)によって、透光性導電膜60に接続されている。 The component-side fixing portion 92 extends in a frame shape along the frame portion 33, similar to the wiring structure 70 in the light-emitting device 10 of Example 1, and has a top surface portion 92A with an opening 92O in the center. The top surface portion 92A is connected to the translucent conductive film 60 by a plurality of conductive members (not shown) formed at a distance from each other on the lower surface of the component-side fixing portion 92.

実施例1と同様に、上述した導電性の部材の各々には、配線構造体90の基材に担持されている複数の配線の各々の一端が接続されている。当該複数の配線の各々は、接続部93を介して基板側固定部91まで伸張し、他端において、回路基板20上の配線(図示せず)に接続されている。 As in Example 1, one end of each of the multiple wirings supported on the base material of the wiring structure 90 is connected to each of the conductive members described above. Each of the multiple wirings extends to the board-side fixing part 91 via the connection part 93, and is connected at the other end to wiring (not shown) on the circuit board 20.

複数の袖部92Bは、天面部92Aの上面の外周部から底部31の外側面及び枠部33の外側面に沿って下方に向けて延在し、回路基板20に達している。複数の固定部92Cは、複数の袖部92Bの先端部から回路基板20の上面に沿って伸張しており、回路基板20に接合されている。 The multiple sleeves 92B extend downward from the outer periphery of the upper surface of the top surface 92A along the outer surface of the bottom 31 and the outer surface of the frame 33, and reach the circuit board 20. The multiple fixing portions 92C extend from the tips of the multiple sleeves 92B along the upper surface of the circuit board 20 and are joined to the circuit board 20.

すなわち、部材側固定部92の天面部92A及び袖部92Bの各々によって、保持体30が覆われている。なお、袖部92Bは、接続部93が接続された天面部92Aの部分おいて、当該接続部93を挟むように2つに分かれて下方に伸張している。また、袖部92Bは、保持体30に密接するように、予め熱プレス等によって曲げ加工を施している。 That is, the holding body 30 is covered by each of the top surface portion 92A and the sleeve portion 92B of the member-side fixing portion 92. The sleeve portion 92B is divided into two and extends downward at the portion of the top surface portion 92A where the connection portion 93 is connected, so as to sandwich the connection portion 93. The sleeve portion 92B is also bent in advance by a heat press or the like so that it fits closely to the holding body 30.

袖部92B及び固定部92Cの内部には、袖部92B及び固定部92Cの全体に亘って連続的に形成された薄い金属膜(図示せず)が、上記配線75と同様に挟持されることで担持されている。 Inside the sleeve portion 92B and the fixed portion 92C, a thin metal film (not shown) is continuously formed over the entire sleeve portion 92B and the fixed portion 92C, and is supported by being clamped in the same manner as the wiring 75 described above.

また、固定部92Cの各々の下面には、回路基板20に形成された接地配線と上記袖部92B及び固定部92Cに亘って連続的に形成された金属膜とを接続するための開口(図示せず)が形成されている。すなわち、袖部92B及び固定部92Cに担持されている金属膜は、回路基板20を介して接地されている。 In addition, an opening (not shown) is formed on the underside of each of the fixed portions 92C to connect the ground wiring formed on the circuit board 20 to the metal film formed continuously across the sleeve portion 92B and the fixed portion 92C. In other words, the metal film supported on the sleeve portion 92B and the fixed portion 92C is grounded via the circuit board 20.

本実施例において、部材側固定部92に設けた袖部92B及び固定部92Cは、電磁シールドとしての機能を有する。具体的には、例えば、袖部92B及び固定部92Cの各々に担持された金属膜を形成することによって、発光素子40の駆動時に生じたノイズが外部に漏れ出すことを防止し、例えば、発光装置12の外部の装置に当該ノイズが影響することを防ぐことができる。 In this embodiment, the sleeve portion 92B and the fixing portion 92C provided on the member-side fixing portion 92 function as an electromagnetic shield. Specifically, for example, by forming a metal film supported on each of the sleeve portion 92B and the fixing portion 92C, it is possible to prevent noise generated when the light-emitting element 40 is driven from leaking out to the outside, and to prevent the noise from affecting devices external to the light-emitting device 12, for example.

なお、上述した薄い金属膜は、袖部92B及び固定部92Cの表面全体に亘って連続的に形成されていてもよい。薄い金属膜は、例えば、銅や金の薄膜からなる。 The thin metal film may be formed continuously over the entire surface of the sleeve portion 92B and the fixed portion 92C. The thin metal film may be, for example, a thin film of copper or gold.

また、実施例1と同様に、判定回路ICは、配線構造体90の基材に担持されている複数の配線の各々の他端に接続されている端子を有し、当該端子同士の抵抗値を検出可能である。 Also, as in Example 1, the determination circuit IC has terminals connected to the other ends of each of the multiple wirings supported on the base material of the wiring structure 90, and is capable of detecting the resistance value between the terminals.

本実施例によれば、実施例1の発光装置10と同様に、光散乱部材50の損傷検出機能、光散乱部材50の機械的な脱落防止機能及び当該機能を簡便な構造により実現できる発光装置を提供可能である。 According to this embodiment, like the light-emitting device 10 of the first embodiment, it is possible to provide a light-emitting device that has a function for detecting damage to the light-scattering member 50, a function for preventing the light-scattering member 50 from mechanically falling off, and can realize these functions with a simple structure.

さらに、本実施例によれば、部材側固定部92に金属膜を設けた天面部92A、袖部92B及び固定部92Cを備えることによって、電磁シールド機能を有する発光装置を提供可能である。 Furthermore, according to this embodiment, by providing the top surface portion 92A, the sleeve portion 92B, and the fixing portion 92C with a metal film on the component side fixing portion 92, it is possible to provide a light-emitting device with an electromagnetic shielding function.

なお、本実施例における配線構造体90の配線パターンは、実施例1に係る発光装置10の配線構造体70の配線パターンのみに限らない。例えば、実施例2に係る発光装置11の配線構造体70の配線パターンを適用してもよい。 The wiring pattern of the wiring structure 90 in this embodiment is not limited to the wiring pattern of the wiring structure 70 of the light-emitting device 10 in Example 1. For example, the wiring pattern of the wiring structure 70 of the light-emitting device 11 in Example 2 may be applied.

具体的には、配線構造体90が、実施例2の配線構造体70に示すように、4本の配線75及び4本の配線85の2つの配線を担持していてもよい。これにより、光散乱部材50の損傷検出機能、光散乱部材50の機械的な脱落防止機能、当該機能を簡便な構造により実現可能とする機能、電磁シールド機能に加え、配線構造体90の脱落検出機能を有する発光装置を提供可能である。 Specifically, the wiring structure 90 may carry two wires, four wires 75 and four wires 85, as shown in the wiring structure 70 of Example 2. This makes it possible to provide a light-emitting device that has a function for detecting damage to the light scattering member 50, a function for preventing the light scattering member 50 from mechanically falling off, a function for enabling the above functions to be realized by a simple structure, an electromagnetic shielding function, and in addition, a function for detecting the falling off of the wiring structure 90.

図8は、実施例4に係る発光装置13の構成を示す斜視図である。発光装置13は、配線構造体100の構成が、実施例1の発光装置10の配線構造体70と異なっている。具体的には、保持体30を覆うように部材側固定部102に基板側固定部101及び接続部103が設けられている。 Figure 8 is a perspective view showing the configuration of the light emitting device 13 according to Example 4. The light emitting device 13 has a wiring structure 100 whose configuration is different from the wiring structure 70 of the light emitting device 10 of Example 1. Specifically, the member-side fixing portion 102 is provided with a board-side fixing portion 101 and a connection portion 103 so as to cover the holder 30.

配線構造体100は、回路基板20に接続される基板側固定部101、透光性導電膜60の上面に配される部材側固定部102、基板側固定部101と部材側固定部102を接続する接続部103から構成される。また、配線構造体100は、保持体30に密接するように、予め熱プレス等によって曲げ加工を施している。 The wiring structure 100 is composed of a board-side fixing part 101 that is connected to the circuit board 20, a member-side fixing part 102 that is disposed on the upper surface of the translucent conductive film 60, and a connection part 103 that connects the board-side fixing part 101 and the member-side fixing part 102. In addition, the wiring structure 100 is previously bent by a heat press or the like so that it fits closely to the holding body 30.

部材側固定部102は、実施例1の発光装置10における配線構造体70と同様に、枠部33に沿って枠状に延在しており、中央に開口部102Oを有している。複数の接続部103は、部材側固定部102の上面の外周部から底部31の外側面及び枠部33の外側面に沿って下方に向けて延在し、回路基板20に達している。複数の基板側固定部101は、複数の接続部103の先端部から回路基板20の上面に沿って伸張しており、回路基板20に接合されている。 The component-side fixing portion 102 extends in a frame shape along the frame portion 33, similar to the wiring structure 70 in the light-emitting device 10 of Example 1, and has an opening 102O in the center. The multiple connection portions 103 extend downward from the outer periphery of the upper surface of the component-side fixing portion 102 along the outer surface of the bottom portion 31 and the outer surface of the frame portion 33, and reach the circuit board 20. The multiple board-side fixing portions 101 extend from the tips of the multiple connection portions 103 along the upper surface of the circuit board 20 and are joined to the circuit board 20.

本実施例では、2つの接続部103及び基板側固定部101が、部材側固定部102を介して各々対向するように接続されている。すなわち、部材側固定部102及び2つの接続部103によって、保持体30が覆われている。 In this embodiment, the two connection parts 103 and the substrate side fixing part 101 are connected to face each other via the member side fixing part 102. In other words, the holding body 30 is covered by the member side fixing part 102 and the two connection parts 103.

図8に示すように、基板側固定部101の各々は、基板側固定部101の下面に互いに離間して一列に形成された各々の開口面積が等しい矩形の2つの開口101Hを備えている。この開口101Hの各々から配線105の各々の一端が露出している。 As shown in FIG. 8, each of the substrate-side fixing parts 101 has two rectangular openings 101H with equal opening areas formed in a row spaced apart from each other on the underside of the substrate-side fixing part 101. One end of each of the wirings 105 is exposed from each of the openings 101H.

部材側固定部102は、実施例1と同様に、部材側固定部102の下面に互いに離間して形成された各々の開口面積が等しい円形の4つの開口102Hを備えている。具体的には、開口102Hの各々は、部材側固定部102の4つの角部分に形成されている。言い換えれば、開口102Hの各々は、矩形(正方形又は長方形)の4つの頂点となるように形成されている。この開口102Hの各々から配線105の各々の他端が露出している。配線105の各々の他端は、開口102Hを介して透光性導電膜60に電気的に接続されている。 As in the first embodiment, the member-side fixing portion 102 has four circular openings 102H with equal opening areas formed at a distance from each other on the lower surface of the member-side fixing portion 102. Specifically, the openings 102H are formed at the four corners of the member-side fixing portion 102. In other words, the openings 102H are formed to be the four vertices of a rectangle (square or oblong). The other end of each of the wirings 105 is exposed from each of the openings 102H. The other end of each of the wirings 105 is electrically connected to the translucent conductive film 60 via the openings 102H.

複数の配線としての配線105は、実施例1に示した配線構造体70の配線75と同様に、配線構造体100の基材に担持されている銅箔によって形成された配線である。複数の配線105は、配線75と同様に、配線構造体100の基材を構成する2枚の薄膜状の絶縁性フィルムによって挟持されている。本実施例において、配線105は、互いに離隔しつつ基板側固定部101の各々から部材側固定部102まで2本ずつ伸張している。 The multiple wirings 105 are wirings formed of copper foil supported on the base material of the wiring structure 100, similar to the wiring 75 of the wiring structure 70 shown in Example 1. The multiple wirings 105 are sandwiched between two thin insulating films that constitute the base material of the wiring structure 100, similar to the wiring 75. In this example, the wirings 105 extend two at a time from each of the substrate side fixing parts 101 to the component side fixing parts 102 while being spaced apart from each other.

回路基板20には、判定回路ICに接続され、配線105の各々に対応した4本の配線(図示せず)が形成されている。配線105の各々は、開口101Hを介して当該配線の各々に接続されることで、当該判定回路ICに接続されている。 Four wirings (not shown) are formed on the circuit board 20, which are connected to the determination circuit IC and correspond to each of the wirings 105. Each of the wirings 105 is connected to the corresponding wiring through the opening 101H, and is thereby connected to the determination circuit IC.

以上、実施例1と同様に、発光装置13を構成する光散乱部材50の上面に設けた透光性導電膜60の電気抵抗率は、配線構造体100の配線105及び回路基板20の配線(図示せず)を介して、回路基板20の他の部分に実装した判定回路ICによって検知可能となる。言い換えれば、発光装置13における透光性導電膜60の電気抵抗率を、判定回路ICによって検知できる回路構成となっている。 As described above, similarly to Example 1, the electrical resistivity of the translucent conductive film 60 provided on the upper surface of the light scattering member 50 constituting the light emitting device 13 can be detected by a determination circuit IC mounted on another portion of the circuit board 20 via the wiring 105 of the wiring structure 100 and the wiring (not shown) of the circuit board 20. In other words, the circuit configuration is such that the electrical resistivity of the translucent conductive film 60 in the light emitting device 13 can be detected by the determination circuit IC.

本実施例によれば、実施例1の発光装置10と同様に、光散乱部材50の損傷検出機能、光散乱部材50の機械的な脱落防止機能及び当該機能を簡便な構造により実現可能とする機能を有する発光装置を提供可能である。 According to this embodiment, like the light-emitting device 10 of the first embodiment, it is possible to provide a light-emitting device having a function for detecting damage to the light-scattering member 50, a function for preventing the light-scattering member 50 from mechanically falling off, and a function for enabling these functions to be realized by a simple structure.

本実施例の発光装置13の配線構造体100は、保持体を挟み込む2つの位置において、2つの基板側固定部101によって回路基板20に固定されている。従って、上記構成は、1つの基板側固定部71のみが回路基板20に固定されている実施例1の発光装置10と比較して、強固に光散乱部材50を押さえ付けることが可能となる。 The wiring structure 100 of the light emitting device 13 of this embodiment is fixed to the circuit board 20 by two board side fixing parts 101 at two positions that sandwich the holder. Therefore, the above configuration makes it possible to firmly press down the light scattering member 50 compared to the light emitting device 10 of Example 1 in which only one board side fixing part 71 is fixed to the circuit board 20.

従って、本実施例によれば、光散乱部材50の損傷検出機能及び当該機能を簡便な構造により実現可能とする機能に加えて、光散乱部材50の強固かつ機械的な脱落防止機能を有する発光装置を提供可能である。 Therefore, according to this embodiment, in addition to the function of detecting damage to the light scattering member 50 and the function of enabling said function to be realized with a simple structure, it is possible to provide a light emitting device that has a strong mechanical function of preventing the light scattering member 50 from falling off.

図9は、実施例5に係る発光装置14の上面図である。発光装置14は、配線構造体110の構成が実施例1の発光装置10の配線構造体70と異なっている。具体的には、配線構造体110に複数の配線115が設けられている。 Figure 9 is a top view of the light-emitting device 14 according to Example 5. The light-emitting device 14 has a wiring structure 110 with a different configuration from the wiring structure 70 of the light-emitting device 10 of Example 1. Specifically, the wiring structure 110 has a plurality of wirings 115.

配線構造体110は、上面視において、平面形状が矩形の板状基板である。配線構造体110は、例えば、ポリイミドを用いた薄膜状の絶縁性フィルムを基材とし、当該基材に担持された銅箔による複数の配線を備えたフレキシブルプリント回路基板(FPC)である。 The wiring structure 110 is a plate-like substrate with a rectangular planar shape when viewed from above. The wiring structure 110 is, for example, a flexible printed circuit board (FPC) that uses a thin insulating film made of polyimide as a substrate and has multiple wiring made of copper foil supported on the substrate.

配線構造体110は、枠部33に沿って枠状に延在しており、中央に開口部110Oを有している。配線構造体110は、2枚の薄膜状の絶縁性フィルムからなる基材を有し、当該2枚の薄膜状の絶縁性フィルムによって複数の配線115が挟持される構造を有している。 The wiring structure 110 extends in a frame shape along the frame portion 33 and has an opening 110O in the center. The wiring structure 110 has a base material made of two thin insulating films, and has a structure in which multiple wirings 115 are sandwiched between the two thin insulating films.

複数の配線115は、例えば、平面形状が三角形の銅箔からなる配線であって、図9に示すように、配線構造体110の4つの角の各々に沿うように設けられている。本実施例においては、配線構造体110は、配線115を4つ有している。 The multiple wirings 115 are, for example, wirings made of copper foil with a triangular planar shape, and are arranged along each of the four corners of the wiring structure 110 as shown in FIG. 9. In this embodiment, the wiring structure 110 has four wirings 115.

配線構造体110は、配線構造体110の下面に互いに離間して形成された各々の開口面積が等しい円形の4つの開口110Hを備えている。開口110Hの各々は、配線構造体110の4つの角部分に形成されている。言い換えれば、開口110Hの各々は、矩形(正方形又は長方形)の4つの頂点となるように形成されている。 The wiring structure 110 has four circular openings 110H with equal opening areas formed at a distance from each other on the underside of the wiring structure 110. Each of the openings 110H is formed at one of the four corners of the wiring structure 110. In other words, each of the openings 110H is formed to form the four vertices of a rectangle (square or oblong).

配線115の各々は、開口110Hの各々から露出しており、開口110Hに接続された複数の導電性の部材を介して透光性導電膜60に電気的に接続されている。 Each of the wirings 115 is exposed from each of the openings 110H and is electrically connected to the translucent conductive film 60 via a plurality of conductive members connected to the openings 110H.

本実施例において、枠部37の上面37S2には、上面37S2の4つの角部の各々の内縁に沿って、L字形の金属膜からなる枠部接合電極112の各々が形成されている。 In this embodiment, the upper surface 37S2 of the frame 37 has frame joining electrodes 112 made of an L-shaped metal film formed along the inner edges of each of the four corners of the upper surface 37S2.

配線構造体110は、配線構造体110の下面に互いに離間して形成された各々の開口面積が等しいL字形の4つの開口110Lを備えている。開口110Lの各々は、枠部37の上面の4つの角に沿うようにL字形に設けられている。 The wiring structure 110 has four L-shaped openings 110L with equal opening areas formed at a distance from each other on the underside of the wiring structure 110. Each of the openings 110L is L-shaped and aligned with the four corners of the upper surface of the frame portion 37.

具体的には、開口110Lの各々は、配線構造体110の4つの角部分に形成されている。開口110Lの各々は、4つの開口110Hの各々よりも外縁側に形成されている。また、開口110Lは、枠部接合電極112と対向するように形成されている。 Specifically, each of the openings 110L is formed at one of the four corners of the wiring structure 110. Each of the openings 110L is formed closer to the outer edge than each of the four openings 110H. In addition, the openings 110L are formed so as to face the frame joining electrode 112.

配線115の各々は、開口110Lに接続された複数の導電性の部材を介して上記枠部接合電極112に電気的に接続されている。 Each of the wirings 115 is electrically connected to the frame joining electrode 112 via a plurality of conductive members connected to the opening 110L.

以上、実施例1と同様に、発光装置14を構成する光散乱部材50の上面に設けた透光性導電膜60の電気抵抗率は、配線構造体110の配線115及び回路基板20の配線(図示せず)を介して、回路基板20の他の部分に実装した判定回路ICによって検出可能となる。 As described above, similarly to Example 1, the electrical resistivity of the translucent conductive film 60 provided on the upper surface of the light scattering member 50 constituting the light emitting device 14 can be detected by a determination circuit IC mounted on another part of the circuit board 20 via the wiring 115 of the wiring structure 110 and the wiring (not shown) of the circuit board 20.

上記に加えて、上面37S2に形成された枠部接合電極112の電気抵抗率は、配線構造体110の配線115及び回路基板20の配線(図示せず)を介して、回路基板20の他の部分に実装した判定回路ICによって検知可能となる。 In addition to the above, the electrical resistivity of the frame joining electrode 112 formed on the upper surface 37S2 can be detected by a determination circuit IC mounted on another part of the circuit board 20 via the wiring 115 of the wiring structure 110 and the wiring of the circuit board 20 (not shown).

言い換えれば、本実施例では、発光装置14の透光性導電膜60の電気抵抗率及び枠部接合電極112の電気抵抗率を、判定回路ICによって検知できる回路構成となっている。 In other words, in this embodiment, the circuit configuration is such that the electrical resistivity of the translucent conductive film 60 of the light-emitting device 14 and the electrical resistivity of the frame joining electrode 112 can be detected by the determination circuit IC.

図10は、発光装置14の10-10線に沿った断面図である。基板配線20E、20Fは、回路基板20上において互いに離隔してパターニングされた金属配線である。 Figure 10 is a cross-sectional view of the light-emitting device 14 taken along line 10-10. The board wiring 20E and 20F are metal wirings patterned and spaced apart from each other on the circuit board 20.

基板配線20E及び20Fの各々は、発光装置10の外部の電源(図示せず)に接続されている。基板配線20E及び20Fの各々は、回路基板20上において、上述した判定回路ICに接続されている。 Each of the board wirings 20E and 20F is connected to a power source (not shown) external to the light emitting device 10. Each of the board wirings 20E and 20F is connected to the above-mentioned determination circuit IC on the circuit board 20.

保持体35は、回路基板20上に配された上面形状が矩形の平板状の底部36と当該底部36の上面の外縁に沿って延在している枠部37を備える。底部36は、第1の部分36P1及び第1の部分36P1上に接合されている第2の部分36P2からなる。枠部37は、底部31の上面を露出する開口37Hを有している。 The holder 35 has a bottom 36 that is a flat rectangular plate-like shape on the circuit board 20 and a frame 37 that extends along the outer edge of the top surface of the bottom 36. The bottom 36 is made up of a first portion 36P1 and a second portion 36P2 that is joined onto the first portion 36P1. The frame 37 has an opening 37H that exposes the top surface of the bottom 31.

第1の実装電極36A及び第2の実装電極36Bは、保持体35の底部36の下面に互いに離間して形成されているW/Ni/Au層からなる金属電極である。第1の実装電極36A及び第2の実装電極36Bは、それぞれ基板配線20E及び20FにSn-Ag-Cu導電体からなる接合材54を介して接合されている。 The first mounting electrode 36A and the second mounting electrode 36B are metal electrodes made of W/Ni/Au layers formed at a distance from each other on the underside of the bottom 36 of the holder 35. The first mounting electrode 36A and the second mounting electrode 36B are bonded to the board wiring 20E and 20F, respectively, via bonding material 54 made of a Sn-Ag-Cu conductor.

図10に示すように、枠部37は、枠部37の上部において段差構造を有している。具体的には、枠部37は、上面37S1を有しており、上面37S1から上方に突出した突出部37Aを有している。突出部37Aは、上面37S1の外縁に沿って形成されている。突出部37Aは、上面37S2を備える。 As shown in FIG. 10, the frame 37 has a step structure at the top of the frame 37. Specifically, the frame 37 has an upper surface 37S1 and a protruding portion 37A that protrudes upward from the upper surface 37S1. The protruding portion 37A is formed along the outer edge of the upper surface 37S1. The protruding portion 37A has an upper surface 37S2.

上述したように、底部36は第1の部分36P1及び第2の部分36P2から構成される。第1の部分36P1は、第1の部分36P1を上下方向に貫通するWからなる貫通ビア36V1及び36V2を備える。第2の部分36P2は、第2の部分36P2を上下方向に貫通するWからなる貫通ビア36V3及び36V4を備える。 As described above, the bottom 36 is composed of a first portion 36P1 and a second portion 36P2. The first portion 36P1 has through vias 36V1 and 36V2 made of W that penetrate the first portion 36P1 in the vertical direction. The second portion 36P2 has through vias 36V3 and 36V4 made of W that penetrate the second portion 36P2 in the vertical direction.

電極36Eは、貫通ビア36V1及び貫通ビア36V3を電気的に接続するように第1の部分36P1の上面に配されている。貫通ビア36V1は電極36Eの一端部近傍に接続され、貫通ビア36V3は電極36Eの他端部近傍に接続されている。 The electrode 36E is disposed on the upper surface of the first portion 36P1 so as to electrically connect the through via 36V1 and the through via 36V3. The through via 36V1 is connected near one end of the electrode 36E, and the through via 36V3 is connected near the other end of the electrode 36E.

枠部37を上下方向に貫通するWからなる貫通ビア37V1は、貫通ビア36V3、電極36E及び貫通ビア36V1を介して、第1の実装電極36Aに電気的に接続されている。また、枠部37を上下方向に貫通するWからなる貫通ビア37V2は、貫通ビア36V4及び貫通ビア36V2を介して、第2の実装電極36Bに電気的に接続されている。 Through via 37V1 made of W that penetrates frame 37 in the vertical direction is electrically connected to first mounting electrode 36A via through via 36V3, electrode 36E, and through via 36V1. Furthermore, through via 37V2 made of W that penetrates frame 37 in the vertical direction is electrically connected to second mounting electrode 36B via through via 36V4 and through via 36V2.

枠部接合電極112は、上面形状がL字形を有する導電体であり、接合材(図示せず)を介して突出部37Aの上面37S2に接合されている。具体的には、枠部接合電極112は、上述した配線構造体110の開口110Lと垂直方向において重なるように上面37S2の各々の4つの角に設けられている。枠部接合電極112は、枠部37を上下方向に貫通する貫通ビア37V1及び37V2に電気的に接続されている。 The frame joining electrodes 112 are conductors having an L-shaped upper surface and are joined to the upper surface 37S2 of the protrusion 37A via a joining material (not shown). Specifically, the frame joining electrodes 112 are provided at each of the four corners of the upper surface 37S2 so as to overlap vertically with the openings 110L of the wiring structure 110 described above. The frame joining electrodes 112 are electrically connected to the through vias 37V1 and 37V2 that vertically pass through the frame 37.

導電シート120は、透光性導電膜60の外縁に沿って円環状に形成されており、封止材55を跨いで上面37S2及び透光性導電膜60の2つを跨ぐように形成されている。また、導電シート120は、枠部接合電極112の上面を覆っており、枠部接合電極112と電気的に接続されている。 The conductive sheet 120 is formed in a circular ring shape along the outer edge of the translucent conductive film 60, and is formed to straddle both the upper surface 37S2 and the translucent conductive film 60 across the sealing material 55. The conductive sheet 120 also covers the upper surface of the frame joining electrode 112, and is electrically connected to the frame joining electrode 112.

部材側電極110Aは、開口110Hに接続された複数の導電性の部材である。配線115に電気的に接続されており、配線構造体110の開口110Hの各々から当該開口110Hで画定された形状で下方に突出したNi/Au層からなる金属電極である。部材側電極110Aは、導電シート120を介して透光性導電膜60の上面に接合されている。すなわち、配線115の各々は、部材側電極110A及び導電シート120を介して透光性導電膜60に電気的に接続されている。 The component side electrodes 110A are a plurality of conductive members connected to the openings 110H. They are electrically connected to the wiring 115 and are metal electrodes made of Ni/Au layers that protrude downward from each of the openings 110H of the wiring structure 110 in a shape defined by the opening 110H. The component side electrodes 110A are joined to the upper surface of the translucent conductive film 60 via the conductive sheet 120. That is, each of the wirings 115 is electrically connected to the translucent conductive film 60 via the component side electrodes 110A and the conductive sheet 120.

部材側電極110Bは、開口110Lに接続された複数の導電性の部材である。配線115に電気的に接続されており、配線構造体110の開口110Lの各々から当該開口110Lで画定された形状で下方に突出したNi/Au層からなる金属電極である。部材側電極110Bは、導電シート120を介して枠部接合電極112の上面に接合されている。すなわち、配線115の各々は、部材側電極110B及び導電シート120を介して枠部接合電極112に電気的に接続されている。 The component side electrodes 110B are a plurality of conductive members connected to the openings 110L. They are electrically connected to the wiring 115 and are metal electrodes made of Ni/Au layers that protrude downward from each of the openings 110L of the wiring structure 110 in a shape defined by the openings 110L. The component side electrodes 110B are joined to the upper surface of the frame joining electrode 112 via the conductive sheet 120. That is, each of the wirings 115 is electrically connected to the frame joining electrode 112 via the component side electrodes 110B and the conductive sheet 120.

導電シート120は、例えば、はんだ粒子とエポキシ樹脂等の熱硬化性樹脂とを混錬させてフィルム状に成型した異方性導電シートである。異方性導電シートは、そのままでは絶縁体のような振る舞いをするが、加圧されることにより当該加圧部分の加圧方向に沿った方向においてはんだ粒子が凝集して導通状態となる。この際、加圧されていない部分については絶縁状態のままである。 The conductive sheet 120 is, for example, an anisotropic conductive sheet formed by kneading solder particles and a thermosetting resin such as epoxy resin and molding it into a film. An anisotropic conductive sheet behaves like an insulator when left as is, but when pressure is applied, the solder particles aggregate in the direction along the pressure direction of the pressurized part, resulting in a conductive state. At this time, the unpressurized parts remain in an insulated state.

透光性導電膜60上に配線構造体70を載置する際に、下方に突出した部材側電極110A及び110Bによって、導電シート120が押圧され、当該部材側電極110A及び110Bによって押圧された部分のみが導電性をもつ。従って、部材側電極110A及び110Bの各々が、互いに導電シートを介しては導通せずに、透光性導電膜60及び枠部接合電極112に電気的に接続される。 When the wiring structure 70 is placed on the translucent conductive film 60, the conductive sheet 120 is pressed by the downwardly protruding component side electrodes 110A and 110B, and only the portions pressed by the component side electrodes 110A and 110B are conductive. Therefore, each of the component side electrodes 110A and 110B is electrically connected to the translucent conductive film 60 and the frame joining electrode 112 without being conductive to each other via the conductive sheet.

言い換えれば、上面視において、部材側電極110A及び110Bの各々と重なる領域の導電シート120のみが導通状態となっている。上記以外の領域において、導電シート120は絶縁状態を維持しているため、部材側電極110A及び部材側電極110Bの各々は、透光性導電膜60及び枠部接合電極112に対して矩形の頂点となる4箇所で電気的に接続されている。 In other words, when viewed from above, only the conductive sheet 120 in the areas overlapping with each of the component side electrodes 110A and 110B is in a conductive state. In areas other than the above, the conductive sheet 120 maintains an insulating state, so each of the component side electrodes 110A and 110B is electrically connected to the translucent conductive film 60 and the frame joining electrode 112 at four points that are the vertices of a rectangle.

上述したように、本実施例における発光装置14の配線構造体110は、4つの配線115の各々が部材側電極110Aを介して透光性導電膜60に接続される構造と、部材側電極110Bを介して枠部接合電極112に接続される構造の2つを備えている。 As described above, the wiring structure 110 of the light-emitting device 14 in this embodiment has two structures: one in which each of the four wirings 115 is connected to the translucent conductive film 60 via the component side electrode 110A, and the other in which each of the wirings 115 is connected to the frame joining electrode 112 via the component side electrode 110B.

判定回路ICは、実施例1と同様に、透光性導電膜60上に配された4つの部材側電極110Aの各々の内、ある2点の電極間に電流を流し、前記2点とは異なる2点の電極間の電圧を測定し、透光性導電膜60の電気抵抗率を検知する。 As in the first embodiment, the determination circuit IC passes a current between two of the four component side electrodes 110A arranged on the translucent conductive film 60, measures the voltage between two other electrodes, and detects the electrical resistivity of the translucent conductive film 60.

従って、実施例1と同様に、上記電気抵抗率の変化に伴う光散乱部材50の損傷を検出した際に、発光素子40の発光を止めることで、発光素子40の出射光が散乱されずに直接発光装置14の外部に出射されることを防止することが可能となる。すなわち、本実施例の発光装置14によれば、光散乱部材50の損傷に由来する、発光装置14の配光パターンの異常、発光素子40のレーザ光が直接出射される等の不具合事象を防止することができる。 Therefore, similarly to Example 1, when damage to the light scattering member 50 due to the change in electrical resistivity is detected, it is possible to prevent the light emitted by the light emitting element 40 from being directly emitted outside the light emitting device 14 without being scattered by stopping the light emission of the light emitting element 40. In other words, according to the light emitting device 14 of this example, it is possible to prevent malfunctions caused by damage to the light scattering member 50, such as an abnormality in the light distribution pattern of the light emitting device 14 and the direct emission of laser light from the light emitting element 40.

また、上記構成とすることにより、配線構造体110は、上面視において露出されているため、透光性導電膜60への取り付けや構造変更が容易となる。具体的には、例えば、透光性導電膜60の上面に設けた複数の部材側電極110A及び110Bの位置調整や配線構造体70の配線パターンの変更等を容易に行うことができる。 In addition, with the above configuration, the wiring structure 110 is exposed when viewed from above, making it easy to attach it to the translucent conductive film 60 and change its structure. Specifically, for example, it is easy to adjust the positions of the multiple component side electrodes 110A and 110B provided on the upper surface of the translucent conductive film 60 and change the wiring pattern of the wiring structure 70.

さらに、本実施例によれば、判定回路ICは、枠部接合電極112上に配された部材側電極110Bの各々の電気的な接続状態の変化を判定する。 Furthermore, according to this embodiment, the judgment circuit IC judges the change in the electrical connection state of each of the component side electrodes 110B arranged on the frame joining electrode 112.

上記電気的な接続状態が失われている場合、すなわち、配線構造体110の脱落が発生している、またはその可能性があると判定した場合、判定回路ICは外部にその旨を示す信号を発信可能である。例えば、判定回路ICは、配線構造体70の脱落が発生している、またはその可能性があると判定した場合は、発光素子40への給電を行う制御部(図示せず)にその旨を示す信号を発信する。制御部は、その信号を受信して、発光素子40への電流供給を停止することができる。 If the electrical connection is lost, that is, if it is determined that the wiring structure 110 has fallen off or there is a possibility of this happening, the determination circuit IC can transmit a signal to the outside indicating this. For example, if the determination circuit IC determines that the wiring structure 70 has fallen off or there is a possibility of this happening, it transmits a signal to that effect to a control unit (not shown) that supplies power to the light-emitting element 40. The control unit can receive this signal and stop the supply of current to the light-emitting element 40.

さらに、上記構成により、保持体の外部に別途、回路基板20に接続するための配線を設ける必要がなくなる。具体的には、透光性導電膜60に接続された配線115は、枠部接合電極112及び底部36及び枠部37の内部に設けられた配線構造を介して判定回路ICまで電気的に接続されている。すなわち、発光装置のコンパクト化を図ることができる。 Furthermore, the above configuration eliminates the need to provide separate wiring outside the holder for connection to the circuit board 20. Specifically, the wiring 115 connected to the translucent conductive film 60 is electrically connected to the determination circuit IC via the frame joining electrode 112 and a wiring structure provided inside the bottom 36 and frame 37. In other words, the light-emitting device can be made more compact.

従って、本実施例によれば、光散乱部材50の損傷検出機能、配線構造体110の脱落検出機能及び当該機能を簡便な構造により実現可能とする機能に加えて、発光装置のコンパクト化の機能を有する発光装置を提供可能である。 Therefore, according to this embodiment, it is possible to provide a light emitting device that has the function of detecting damage to the light scattering member 50, the function of detecting the detachment of the wiring structure 110, and the function of realizing these functions with a simple structure, as well as the function of making the light emitting device compact.

実施例1~5において説明したように、当該実施例における発光装置によれば、発光素子上に設けた光散乱部材における損傷の有無を、配線を担持する配線構造体によって容易に検出することができる。すなわち、本実施例の発光装置によれば、光散乱部材の損傷に由来する、発光装置の配光パターンの異常、発光素子のレーザ光が直接出射される等の不具合事象を防止することができる。 As explained in Examples 1 to 5, the light emitting device in these Examples can easily detect the presence or absence of damage to the light scattering member provided on the light emitting element by the wiring structure that supports the wiring. In other words, the light emitting device in this Example can prevent malfunctions caused by damage to the light scattering member, such as abnormalities in the light distribution pattern of the light emitting device and direct emission of laser light from the light emitting element.

また、上記構成とすることにより、配線構造体は、上面視において露出されているため、透光性導電膜及び回路基板への取り付けや構造変更が容易となる。具体的には、例えば、透光性導電膜の上面に設けた複数の部材側電極の位置調整や配線構造体の配線パターンの変更等を容易に行うことができる。 In addition, with the above configuration, the wiring structure is exposed when viewed from above, making it easy to attach it to the translucent conductive film and the circuit board and to change the structure. Specifically, for example, it is easy to adjust the positions of the multiple component-side electrodes provided on the upper surface of the translucent conductive film and to change the wiring pattern of the wiring structure.

さらに、実施例2において説明したように、枠部の上面に配線構造体に担持された配線の各々を接合することによって、配線構造体の脱落の有無を判定回路によって判定することができる。 Furthermore, as described in Example 2, by joining each of the wires carried by the wiring structure to the upper surface of the frame, the determination circuit can determine whether the wiring structure has fallen off.

さらに、実施例5において説明したように、発光装置の保持体内に配線構造を備えることにより、発光装置のコンパクト化を図ることができる。 Furthermore, as explained in Example 5, by providing a wiring structure inside the holder of the light emitting device, the light emitting device can be made more compact.

なお、上記実施例において、保持体、光散乱部材及び配線構造体の部材側固定部の平面形状は矩形である場合について説明したが、これに限られない。例えば、円形等の曲線を含む形状と有していてもよい。 In the above embodiment, the planar shape of the holder, the light scattering member, and the member-side fixing portion of the wiring structure is rectangular, but this is not limited to this. For example, the shape may include a curve, such as a circle.

また、上記実施例において、配線構造体の部材側固定部は、中心に開口部を設ける構造としたが、内部に配線が可能であり、かつ発光素子40から出射された光を阻害しない構成であればよい。すなわち、例えば、配線構造体70の部材側固定部72はコの字の形状であってもよい。 In addition, in the above embodiment, the component-side fixing portion of the wiring structure has a structure with an opening in the center, but it is sufficient if wiring can be provided inside and the configuration does not block the light emitted from the light-emitting element 40. That is, for example, the component-side fixing portion 72 of the wiring structure 70 may be U-shaped.

本発明に係る発光装置は、上述した実施例に限られるものではなく、用途等に応じて適宜変更可能である。 The light emitting device according to the present invention is not limited to the above-mentioned embodiment, but can be modified as appropriate depending on the application, etc.

10、11、12、13、14 発光装置
20 回路基板
30、35 保持体
31、36 底部
33、37 枠部
31A、36A 第1の実装電極
31B、36B 第2の実装電極
31C 第1の給電パッド
31D 第2の給電パッド
40 発光素子
50 光散乱部材
60 透光性導電膜
70、90、100、110 配線構造体
75、85、95、105、115 配線
78、88 導電ペースト
86、112 枠部接合電極
120 導電シート
IC 判定回路
10, 11, 12, 13, 14 Light emitting device 20 Circuit board 30, 35 Holder 31, 36 Bottom 33, 37 Frame 31A, 36A First mounting electrode 31B, 36B Second mounting electrode 31C First power supply pad 31D Second power supply pad 40 Light emitting element 50 Light scattering member 60 Translucent conductive film 70, 90, 100, 110 Wiring structure 75, 85, 95, 105, 115 Wiring 78, 88 Conductive paste 86, 112 Frame joining electrode 120 Conductive sheet IC Determination circuit

Claims (5)

回路基板と、
前記回路基板上に設けられ、上面を有する底部及び前記底部の前記上面に配されかつ前記底部の前記上面の1の領域を露出する開口を有する枠部からなる保持体と、
前記底部の前記上面の前記1の領域に載置された発光素子と、
前記開口を覆うように前記枠部に保持された光散乱部材と、
前記光散乱部材の上面に形成された透光性導電膜と、
各々の一端が前記透光性導電膜に接続され、各々の他端が前記回路基板に接続されている第1の複数の配線及び前記回路基板に固定されかつ前記第1の複数の配線全体を担持するフレキシブルプリント回路基板を備える配線構造体と、
を含み、
前記配線構造体の前記フレキシブルプリント回路基板は前記透光性導電膜の上面に沿って延在し、かつ前記透光性導電膜を露出する開口部を有し、
前記配線構造体の前記フレキシブルプリント回路基板は、前記保持体の前記枠部上に配されておりかつ前記開口部を有する上部と、前記上部から前記保持体の前記枠部の外側面に沿って延在する袖部とを有し、前記袖部は前記回路基板を介して接地されている金属膜を担持していることを特徴とする発光装置。
A circuit board;
a holder provided on the circuit board, the holder including a bottom having an upper surface and a frame disposed on the upper surface of the bottom and having an opening exposing one region of the upper surface of the bottom;
a light emitting element mounted on the one region of the top surface of the bottom portion;
a light scattering member held by the frame so as to cover the opening;
a light-transmitting conductive film formed on an upper surface of the light scattering member;
a wiring structure including a first plurality of wirings, each of which has one end connected to the light-transmitting conductive film and the other end connected to the circuit board, and a flexible printed circuit board fixed to the circuit board and carrying the first plurality of wirings as a whole;
Including,
the flexible printed circuit board of the wiring structure extends along an upper surface of the translucent conductive film and has an opening exposing the translucent conductive film;
A light-emitting device characterized in that the flexible printed circuit board of the wiring structure has an upper portion that is arranged on the frame portion of the holder and has the opening, and a sleeve portion extending from the upper portion along the outer surface of the frame portion of the holder, and the sleeve portion carries a metal film that is grounded via the circuit board.
前記配線構造体の前記フレキシブルプリント回路基板は、前記保持体を跨ぐように延在し、前記保持体を挟み込む2つの位置において前記回路基板に固定されていることを特徴とする請求項に記載の発光装置。 The light-emitting device according to claim 1 , wherein the flexible printed circuit board of the wiring structure extends across the holding body and is fixed to the circuit board at two positions that sandwich the holding body. 前記枠部の上面には導電体が配され、
前記配線構造体は、前記フレキシブルプリント回路基板に担持され、各々の一端が前記導電体に接続されかつ各々の他端が前記回路基板に接続されている第2の複数の配線を有することを特徴とする請求項1又は2に記載の発光装置。
A conductor is disposed on the upper surface of the frame,
The light-emitting device described in claim 1 or 2, characterized in that the wiring structure has a second plurality of wirings supported on the flexible printed circuit board, each of which has one end connected to the conductor and each of which has the other end connected to the circuit board.
前記透光性導電膜は、前記光散乱部材の上面に亘って形成されていることを特徴とする請求項1乃至のいずれか1つに記載の発光装置。 4. The light emitting device according to claim 1, wherein the transparent conductive film is formed across an upper surface of the light scattering member. 前記透光性導電膜は、ITO、ATO、IGZOのいずれかであることを特徴とする請求項1乃至のいずれか1つに記載の発光装置。 5. The light emitting device according to claim 1, wherein the transparent conductive film is made of any one of ITO, ATO, and IGZO.
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