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JP7483312B2 - Antibacterial materials - Google Patents
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JP7483312B2 - Antibacterial materials - Google Patents

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Description

本発明は、細菌の発生、生育、増殖などを抑制することができる抗菌材に関するものである。 The present invention relates to an antibacterial material that can inhibit the occurrence, growth, and proliferation of bacteria.

従来より、食品分野や、医療分野、衛生関連の分野など、様々な分野で抗菌材が使用されている。例えば食品の分野においては、食品の腐敗を抑えて食中毒などの発生を抑止する役割を担っている。また、賞味期限を伸ばして食品の保存性を向上させている。近年問題となっている食品ロスの問題に対しても、保存性の向上により食品の廃棄を抑制することができ、食品のコスト低減にも寄与することができる。このほかにも、健康志向の高まりから個人が使用する様々な物品や、公共の場で多数の人々によって使用される物品などに対しても抗菌材が使用されている。 Traditionally, antibacterial materials have been used in a variety of fields, including the food industry, the medical industry, and hygiene-related fields. For example, in the food industry, they play a role in preventing food spoilage and the occurrence of food poisoning. They also extend the expiration date and improve the shelf life of food. As a countermeasure to the recent problem of food waste, improved shelf life can reduce food waste and contribute to reducing food costs. In addition, with the rise in health consciousness, antibacterial materials are also used in various items used by individuals and items used by many people in public places.

一般的な抗菌材としては、基材の表面に薬剤を塗布したり、表面材料に薬剤を混合して抗菌性を実現している場合が多い。薬剤の場合、食品への溶出が懸念される場合がある。また、使用する薬剤に耐性を獲得した耐性菌の発生も懸念されている。抗菌材としてはこのほかにも、銀あるいは銀イオンを用いた抗菌材なども用いられている。 In most cases, antibacterial materials are made antibacterial by applying a chemical agent to the surface of the base material or by mixing a chemical agent into the surface material. In the case of chemical agents, there are concerns that they may leach into food. There are also concerns about the emergence of resistant bacteria that have acquired resistance to the chemical agents used. Other antibacterial materials that are used include those that use silver or silver ions.

2012年ころから、トンボやセミなどの羽に存在するナノ表面構造に抗菌作用があることが報告されており、特許文献1には、セミの羽根の形状を模した構造を形成して抗菌性を得ることが記載されている。この特許文献1における抗菌材は、シリコン基板をエッチングすることにより柱状突起を形成するものであり、特に、その柱状突起をAsp≧1.80exp(-0.00083p)を満たすように形成している。ここで、Aspは柱状突起の縦断面形状のアスペクト比、pは隣り合う2つの柱状突起の中心間距離である。この条件を満たす柱状突起を形成することにより、細菌の生存率を1%以下にすることができると記載されている。 Since around 2012, it has been reported that the nano surface structures present in the wings of dragonflies, cicadas, and other insects have antibacterial properties, and Patent Document 1 describes how antibacterial properties can be achieved by forming a structure that mimics the shape of a cicada's wing. The antibacterial material in Patent Document 1 forms columnar protrusions by etching a silicon substrate, and in particular, the columnar protrusions are formed to satisfy Asp ≧ 1.80exp (-0.00083p). Here, Asp is the aspect ratio of the vertical cross-sectional shape of the columnar protrusions, and p is the center-to-center distance between two adjacent columnar protrusions. It is described that by forming columnar protrusions that satisfy this condition, the survival rate of bacteria can be reduced to 1% or less.

特許文献1において柱状突起を形成する具体的な方法としてポリスチレンビーズを敷き並べておいてプラズマを照射して炭化させ、炭化により収縮して開いた隙間についてシリコン基板上に金の薄膜を形成し、ウェットエッチングにより柱状突起を現出させた後に金の薄膜を除去し、さらに表面のシリコン酸化膜を除去して完成させている。このような加工を行うには大規模な装置が必要であり、多大な費用を要するとともに、製造工程で金などの貴金属を用いており、製造された抗菌材も非常に高価にならざるを得ない。さらに、基材として使用できる材料も、シリコン基板など、エッチングに適する限られた材料しか使用できず、そのため用途も限定されてしまう。 In Patent Document 1, the specific method of forming columnar protrusions is to lay out polystyrene beads, irradiate them with plasma to carbonize them, form a thin gold film on a silicon substrate in the gaps that have shrunk due to the carbonization, and then remove the thin gold film and the silicon oxide film on the surface to complete the process. This type of processing requires large-scale equipment, which is very expensive, and since precious metals such as gold are used in the manufacturing process, the antibacterial material produced is inevitably very expensive. Furthermore, only limited materials suitable for etching, such as silicon substrates, can be used as substrates, which limits the applications.

一方、加工方法として研磨加工の技術は広く一般的に使用されており、上述のエッチングなどと比べれば格段に安価に加工することができる。技術分野としては全く異なるが、粉体の付着を防ぐ技術として特許文献2に「F研磨」として記載されている方法がある。従来、研磨加工は凹凸を減らすあるいはなくすために行われているが、特許文献2に記載されている方法を用いると、研磨加工でありながらも所定の凹凸を形成することができる。 On the other hand, polishing is a widely used processing method, and is much cheaper than the above-mentioned etching. Although it is a completely different technical field, there is a method described in Patent Document 2 as "F-polishing" as a technique for preventing powder adhesion. Conventionally, polishing has been performed to reduce or eliminate unevenness, but the method described in Patent Document 2 makes it possible to form the desired unevenness while still using polishing.

特開2019-072475号公報JP 2019-072475 A 特許第4064438号公報Japanese Patent No. 4064438

本発明は、上述した事情に鑑みてなされたもので、安価に、広い用途で使用することができる抗菌材を提供することを目的とするものである。 The present invention was made in consideration of the above-mentioned circumstances, and aims to provide an antibacterial material that is inexpensive and can be used for a wide range of purposes.

本願請求項1に記載の発明は、基材の表面の一部あるいは全部に、研磨により所定の凹凸が形成されており、前記所定の凹凸は、波長が略1μmにおいて平均の波高対波長比が0.0001以上0.01以下の凹凸であることを特徴とする抗菌材である。 The invention described in claim 1 of the present application is an antibacterial material characterized in that a predetermined unevenness is formed by polishing on part or all of the surface of a base material , and the predetermined unevenness is an unevenness having an average wave height to wavelength ratio of 0.0001 or more and 0.01 or less at a wavelength of approximately 1 μm .

本発明によれば、研磨加工を用いているので、従来のエッチング加工などに比べて非常に安価に加工できるとともに、基材として多くの種類の材料に対して加工することができ、広い用途で使用可能な抗菌材を提供することができるという効果がある。 The present invention uses polishing, which allows for much cheaper processing than conventional etching processes, and can be used with many different types of substrate materials, providing an antibacterial material that can be used in a wide range of applications.

本発明の抗菌材の第1の実施の形態を示す概略図である。1 is a schematic diagram showing a first embodiment of an antibacterial material of the present invention. F研磨の各ランク及び鏡面仕上げを行った場合における波長に対する波高対波長比の関係の一例を示すグラフである。1 is a graph showing an example of the relationship between the wave height and wavelength ratio with respect to the wavelength when each rank of F polishing and mirror finishing are performed. 本発明の抗菌材の第1の実施の形態及び鏡面仕上げ品を使用した抗菌作用の試験結果の一例の説明図である。FIG. 2 is an explanatory diagram of an example of test results of the antibacterial effect using the first embodiment of the antibacterial material of the present invention and a mirror-finished product. 本発明の抗菌材の第2の実施の形態を示す概略図である。FIG. 2 is a schematic diagram showing a second embodiment of the antibacterial material of the present invention. 本発明の抗菌材の第2の実施の形態の変形例を示す概略図である。FIG. 2 is a schematic diagram showing a modified example of the second embodiment of the antibacterial material of the present invention.

図1は、本発明の抗菌材の第1の実施の形態を示す概略図である。図中、11は金属体、12は凹凸である。図1に示した例では、抗菌材の基材を金属体11としている。図1(A)に示した例における金属体11は板状であり、その表面(片面または両面)の一部または全部に、研磨により所定の凹凸12が形成されている。また図1(B)に示した例における金属体11は球体であり、その表面の一部または全部に、研磨により所定の凹凸12が形成されている。この凹凸12は、抗菌作用を得たい部分、あるいは、食品などの抗菌作用を得たい物品に接触する部分に形成しておくとよい。 Figure 1 is a schematic diagram showing a first embodiment of the antibacterial material of the present invention. In the figure, 11 is a metal body and 12 is an irregularity. In the example shown in Figure 1, the base material of the antibacterial material is the metal body 11. In the example shown in Figure 1 (A), the metal body 11 is plate-shaped, and a predetermined irregularity 12 is formed by polishing on part or all of its surface (one side or both sides). In the example shown in Figure 1 (B), the metal body 11 is a sphere, and a predetermined irregularity 12 is formed by polishing on part or all of its surface. The irregularity 12 may be formed on the part where an antibacterial effect is desired, or on the part that comes into contact with an article such as food where an antibacterial effect is desired.

基材となる金属体11としてはステンレスなどを用いることができるが、これに限らず、アルミニウムやチタン合金など、様々な金属であってよいし、研磨により凹凸12を形成できれば金属に限られるものではない。また、金属体11の形状も図1(A)、(B)に示した例に限られるものではなく、薄いシート状や、棒状、4面体や6面体などのキューブ型、基部と直立部を有するようなスタンド型、櫛形、メッシュ状、容器の内蓋形などを含め、種々の形状でよいことは言うまでもない。 Although stainless steel or the like can be used as the base metal body 11, various metals such as aluminum and titanium alloys can be used, and the metal is not limited to metal as long as the unevenness 12 can be formed by polishing. In addition, the shape of the metal body 11 is not limited to the examples shown in Figures 1(A) and (B), and it goes without saying that various shapes are acceptable, including a thin sheet shape, a rod shape, a cube shape such as a tetrahedron or hexahedron, a stand shape with a base and an upright part, a comb shape, a mesh shape, an inner lid shape of a container, and the like.

所定の凹凸12としては、どのような凹凸であるかが分かっているものであるとよく、周波数特性がほぼ揃った凹凸であるとよい。例えば、波長が略1μmにおいて平均の波高対波長比が0.0001以上0.01以下となるような凹凸が形成されているとよい。この所定の凹凸12の一例については測定結果を用いて後述する。また、このような所定の凹凸12を形成した部分では、後述する実験例でも示しているように抗菌作用が確認できており、金属体11に所定の凹凸12を形成することによって抗菌材として使用することができる。 The predetermined unevenness 12 should be one whose type is known, and should have roughly uniform frequency characteristics. For example, it is preferable that the unevenness is formed so that the average wave height to wavelength ratio is 0.0001 or more and 0.01 or less at a wavelength of approximately 1 μm. An example of the predetermined unevenness 12 will be described later using measurement results. Furthermore, in the portion where such predetermined unevenness 12 is formed, antibacterial action has been confirmed, as shown in the experimental example described later, and the metal body 11 can be used as an antibacterial material by forming the predetermined unevenness 12.

形成する所定の凹凸12は、どのような方向のスジ状の凹凸でもよいし、あるいは、いくつかの方向の凹凸が交差するように形成されていてもよい。例えば図1(A)に示すような板状の金属体11であれば、長手方向に延在する凹凸でも、短手方向に延在する凹凸でもよい。また、図1(B)に示すような球状の金属体11であれば、略緯度方向と略経度方向に交差する凹凸であってもよい。もちろん、ランダムに形成される凹凸であっても、全体として上述の条件を満たすような凹凸であればよい。また、金属体11の表面の一部に、例えば帯状に設けたり、例えば図1(A)に示すような板状の金属体11であれば、片面のみに設け、両面に設ける場合でも異なる位置に設けたり、模様のように形成するなど、凹凸12の形成位置や形状は限られない。 The predetermined unevenness 12 to be formed may be stripe-like unevenness in any direction, or unevenness in several directions may be formed so as to intersect. For example, in the case of a plate-shaped metal body 11 as shown in FIG. 1(A), the unevenness may extend in the longitudinal direction or in the lateral direction. In addition, in the case of a spherical metal body 11 as shown in FIG. 1(B), the unevenness may intersect approximately in the latitude direction and approximately in the longitude direction. Of course, even if the unevenness is formed randomly, it is sufficient as long as the unevenness satisfies the above-mentioned conditions as a whole. In addition, the formation position and shape of the unevenness 12 are not limited, and it may be formed, for example, in a band shape on a part of the surface of the metal body 11, or, for example, in the case of a plate-shaped metal body 11 as shown in FIG. 1(A), on only one side, or even if on both sides, it may be formed in different positions, or formed like a pattern.

金属体11に所定の凹凸12を形成する加工方法として、研磨を用いている。一般的な研磨加工では表面に存在する凹凸を削り落として滑らかな面を形成する技術であるが、ここでは研磨加工を上述のような所定の凹凸12を形成するために用いる。以前から凹凸を残す研磨加工も行われているが、残った凹凸はどのような状態であるかがわからず、再現性は無い。本発明では、金属体11の表面に対して、どのような凹凸であるかが分かっている所定の凹凸12を形成する。この所定の凹凸12を形成するための一つの方法として、例えば上述の特許文献2に「F研磨」として記載されている方法を利用することができる。このF研磨加工を行うと、それまで存在していた凹凸は排除され、研磨による所定の凹凸が形成されることから、安定した状態で所定の凹凸12が形成されることになる。このF研磨の技術は、特許文献2においては金属面への粉体の付着を防止する技術として記載されているが、抗菌作用については考えられてこなかった。 Polishing is used as a processing method for forming the predetermined unevenness 12 on the metal body 11. In general polishing, the unevenness existing on the surface is scraped off to form a smooth surface, but here, polishing is used to form the predetermined unevenness 12 as described above. Polishing that leaves unevenness has been performed in the past, but the state of the remaining unevenness is unknown and there is no reproducibility. In the present invention, the predetermined unevenness 12, the unevenness of which is known, is formed on the surface of the metal body 11. As one method for forming the predetermined unevenness 12, for example, the method described as "F polishing" in the above-mentioned Patent Document 2 can be used. When this F polishing is performed, the unevenness that existed until then is eliminated, and the predetermined unevenness is formed by polishing, so that the predetermined unevenness 12 is formed in a stable state. This F polishing technology is described in Patent Document 2 as a technology to prevent powder from adhering to the metal surface, but its antibacterial effect has not been considered.

特許文献2に記載されているF研磨は、研磨作業を進めても鋭利さが失われないダイヤモンド等の硬質研磨粒子を紙または布に貼り付けた研磨材を使用して金属表面を研磨処理するものである。研磨粒子の公称精粗度に応じてランク分けしており、表面仕上げの状態が粗い順に「F-2」(#60)、「F-1」(#120)、「F0」(#240)、「F1」(#320)、「F2」(#400)、「F3」(#500)、「F4」(#600)、「F5」(#800)、「F6」(#1000)、「F7」(#2000)などと称することとする。 The F polishing described in Patent Document 2 is a method of polishing metal surfaces using an abrasive consisting of hard abrasive particles such as diamonds, which do not lose their sharpness even as the polishing process progresses, attached to paper or cloth. The abrasive particles are ranked according to their nominal roughness, and the surface finish is designated in order of roughness as "F-2" (#60), "F-1" (#120), "F0" (#240), "F1" (#320), "F2" (#400), "F3" (#500), "F4" (#600), "F5" (#800), "F6" (#1000), "F7" (#2000), etc.

上述のF研磨によって形成された所定の凹凸12について、フーリエ変換を用いた波数解析を試みた。この解析によって、凹凸12の特徴を定量化し、具体的に、どのような間隔の凹凸がどのくらい高低差があるのかを数値で表すことができる。F研磨のいくつかのランクのF研磨による鋼板表面の凹凸形状について、次式(1)
X(k)=Σn=0 N-1x(n)・exp(-2πknj/N) …(1)
に従い離散フーリエ変換を行い、凹凸の波長(凹凸ピッチ)成分Lと波高成分Hの関係を解析した。比較参考のために、鏡面仕上げを行った場合についてもフーリエ解析を行い、F研磨との比較を行った。なお(1)式において、x(n)は、鋼板表面を探針センサで所定の長さ(距離)方向に走査した場合に、所定のサンプリング間隔の点で探針センサにより計測される高さ方向の値(表面の凹凸を表す)、すなわち、総サンプリング数N中のn番目のディジタルサンプリング値である。また、kは、単位長当たりの波数(空間周波数)f[回/μm]に対応する値であり(k=0,1,2,…,N-1)、全計測距離をD[μm]とすると、k=fDで表される。
A wave number analysis using Fourier transform was attempted for the predetermined irregularities 12 formed by the above-mentioned F-polishing. This analysis quantifies the characteristics of the irregularities 12, and specifically, it is possible to numerically express the height difference of the irregularities at what intervals. The irregular shapes of the steel sheet surface by F-polishing at several ranks can be calculated using the following formula (1):
X(k) = Σ n = 0 N-1 x(n) · exp(-2πknj/N) ... (1)
A discrete Fourier transform was performed according to the formula (1), and the relationship between the wavelength (unevenness pitch) component L of the unevenness and the wave height component H was analyzed. For comparison, a Fourier analysis was also performed on the case where mirror finishing was performed, and a comparison was made with F polishing. In addition, in formula (1), x(n) is the height direction value (representing the unevenness of the surface) measured by the probe sensor at a predetermined sampling interval when the steel sheet surface is scanned in a predetermined length (distance) direction with the probe sensor, that is, the nth digital sampling value out of the total sampling number N. In addition, k is a value corresponding to the number of waves (spatial frequency) f [times/μm] per unit length (k=0, 1, 2, ..., N-1), and k=fD is expressed by assuming that the total measurement distance is D [μm].

つまり、X(k)は、単位長当たり波数対応値kに対するフーリエ変換後の信号強度を表すベクトルであり、このベクトルの絶対値(長さ)が波の凹凸に比例する。従って、値kに対する変換後信号強度X(k)に対して、凹凸形状の波高Hは2|X(k)|/Nで表され、波高Hと波長Lの比(「波高対波長比」あるいは「波高比」という)H/Lは
H/L=2|X(k)|/NL …(2)
で表される。
That is, X(k) is a vector that represents the signal strength after Fourier transform for the wave number corresponding value k per unit length, and the absolute value (length) of this vector is proportional to the wave unevenness. Therefore, for the transformed signal strength X(k) for the value k, the wave height H of the uneven shape is expressed as 2|X(k)|/N, and the ratio of the wave height H to the wavelength L (called the "wave height to wavelength ratio" or "wave height ratio") H/L is H/L=2|X(k)|/NL ... (2)
It is expressed as:

図2は、F研磨の各ランク及び鏡面仕上げを行った場合における波長に対する波高対波長比の関係の一例を示すグラフである。上述の波高対波長比を波長ごとに示すと、一例として図2に示すような結果が得られた。図2には、F研磨のランクがF-2、F-1、F0、F1、F5、F7の場合と、鏡面仕上げを行った場合(「鏡面」と記している)を示している。実際の計測では、100μm以上の計測距離について0.1μm以下のサンプリング間隔で計測するとともに、そのような計測を数カ所で行い、それらの解析結果を平均して示している。 Figure 2 is a graph showing an example of the relationship between the wave height-to-wavelength ratio and the wavelength for each rank of F polishing and when mirror finishing is performed. When the above-mentioned wave height-to-wavelength ratio is shown for each wavelength, an example result such as that shown in Figure 2 is obtained. Figure 2 shows the cases of F polishing ranks F-2, F-1, F0, F1, F5, and F7, and the case where mirror finishing is performed (marked "mirror"). In actual measurements, measurements were taken at sampling intervals of 0.1 μm or less for measurement distances of 100 μm or more, and such measurements were taken at several locations, and the analysis results are shown as an average.

図2に示した解析結果を参照すると、波長Lが略1μmで各グラフに明確な違いが現れている。この波長Lが1μmで見ると、F研磨を行った場合には、鏡面仕上げを行った場合に比べて波高対波長比の値として大きな値を示している。より具体的には、波長Lが1μmにおける波高対波長比の値は、鏡面仕上げを行った場合には0.0001以下であるのに対して、F研磨を行った場合には、いずれも0.0001以上となっており、ランクがF7では0.0001から0.0003程度、F5では0.0002から0.0004程度、F1の場合には0.0006から0.001程度、F0の場合には0.001から0.002程度、F-1の場合には0.005から0.007程度、F-2の場合には0.008から0.01程度であった。 Referring to the analysis results shown in Figure 2, a clear difference appears in each graph at a wavelength L of approximately 1 μm. When viewed at a wavelength L of 1 μm, when F polishing is performed, the value of the wave height to wavelength ratio is larger than when mirror finishing is performed. More specifically, the value of the wave height to wavelength ratio at a wavelength L of 1 μm is 0.0001 or less when mirror finishing is performed, whereas it is 0.0001 or more in all cases when F polishing is performed, and the ranks are approximately 0.0001 to 0.0003 for F7, 0.0002 to 0.0004 for F5, 0.0006 to 0.001 for F1, 0.001 to 0.002 for F0, 0.005 to 0.007 for F-1, and 0.008 to 0.01 for F-2.

また、図2に示した解析結果によれば、例えば波長Lが1μmで見ると、F研磨を行った場合には、鏡面仕上げを行った場合に比べてグラフの振幅が小さい。この振幅は、各波長における平均値から2~3割程度である。従って、F研磨によってほぼ揃った凹凸が安定して形成されていることが分かる。なお、鏡面仕上げを行った場合の波高対波長比は2桁程度のばらつきが存在しており、凹凸が安定して形成されていないことが分かる。また、未研磨の面や研磨前の凹凸を残した面においては、測定する箇所によって解析結果が異なっており、またばらつきが大きく、図2に示すような揃った凹凸が存在していないことが分かった。 Furthermore, according to the analysis results shown in Figure 2, for example, when wavelength L is 1 μm, the amplitude of the graph is smaller when F polishing is performed than when mirror finishing is performed. This amplitude is about 20 to 30 percent of the average value at each wavelength. Therefore, it can be seen that F polishing stably forms roughly uniform unevenness. However, when mirror finishing is performed, the wave height to wavelength ratio varies by about two orders of magnitude, indicating that the unevenness is not stably formed. Furthermore, on unpolished surfaces and surfaces where the unevenness before polishing remains, the analysis results differ depending on the location of measurement, and there is also a large variation, and it was found that uniform unevenness as shown in Figure 2 does not exist.

もちろん、F研磨の場合にも、それぞれの凹凸にはばらつきがあるものの、面として見ると周波数特性が揃った凹凸が形成されており、このようなほぼ揃った周波数特性の凹凸が安定して再現されている。このことは、金属体11の表面に所定の凹凸12が安定して再現されていることを示している。 Of course, even in the case of F polishing, there is variation in each unevenness, but when viewed as a surface, unevenness with uniform frequency characteristics is formed, and unevenness with such roughly uniform frequency characteristics is stably reproduced. This shows that the specified unevenness 12 is stably reproduced on the surface of the metal body 11.

研磨により形成された凹凸は特許文献1に記載されているような柱状ではないと考えられることから、特許文献1に記載されている条件との比較を一概に行えるものではない。仮に波長Lを突起の中心間距離、波高対波長比をアスペクト比と対応付けすると、特許文献1ではアスペクト比が0.3程度以上となるのに対して本発明における波高対波長比は0.0001以上0.01以下であり、遙かに小さい値である。このように、本発明では特許文献1において示されている条件の範囲外で抗菌作用が得られていることが分かる。 The unevenness formed by polishing is not thought to be columnar as described in Patent Document 1, so a general comparison with the conditions described in Patent Document 1 cannot be made. If we assume that the wavelength L corresponds to the center-to-center distance of the protrusions and the wave height to wavelength ratio corresponds to the aspect ratio, then in Patent Document 1 the aspect ratio is approximately 0.3 or more, whereas in the present invention the wave height to wavelength ratio is 0.0001 or more and 0.01 or less, a much smaller value. In this way, it can be seen that in the present invention, an antibacterial effect is obtained outside the range of conditions shown in Patent Document 1.

図3は、本発明の抗菌材の第1の実施の形態及び鏡面仕上げ品を使用した抗菌作用の試験結果の一例の説明図である。本発明の抗菌材が実際に抗菌作用を有することを確かめるため、次のような試験を行った。まず、図1(A)に示したような板状でステンレス製の金属体11に、上述したF研磨のランクがF-2、F0、F3、F7により表面を研磨して所定の凹凸12を形成したものをそれぞれ用意した。これらを「F-2品」、「F0品」、「F3品」、「F7品」として示している。また比較例として、表面を鏡面仕上げした金属体11を用意した。この場合を「鏡面品」として示している。 Figure 3 is an explanatory diagram of an example of the test results of the antibacterial effect using the first embodiment of the antibacterial material of the present invention and a mirror-finished product. In order to confirm that the antibacterial material of the present invention actually has antibacterial effect, the following test was conducted. First, a plate-shaped stainless steel metal body 11 as shown in Figure 1 (A) was prepared, with the surface polished to the above-mentioned F polishing ranks of F-2, F0, F3, and F7 to form the specified irregularities 12. These are shown as "F-2 product", "F0 product", "F3 product", and "F7 product". As a comparative example, a metal body 11 with a mirror-finished surface was also prepared. This case is shown as "mirror product".

用意した5種類の金属体11の表面に、大腸菌を105 個程度播種し、24時間、37℃で静置した。その後、10mlのリン酸緩衝液で大腸菌液を回収し、回収液中の菌数を計数した。計数した結果を図3に示している。図3(A)には計数結果を示し、図3(B)にはそれぞれの計数結果を棒グラフとして示している。 Approximately 105 Escherichia coli were seeded on the surfaces of the five types of metal bodies 11 prepared, and left to stand at 37°C for 24 hours. After that, the Escherichia coli liquid was recovered with 10 ml of phosphate buffer, and the number of bacteria in the recovered liquid was counted. The counting results are shown in Figure 3. Figure 3(A) shows the counting results, and Figure 3(B) shows each counting result as a bar graph.

この試験の結果、「鏡面品」では菌数が8.4×104 個であったが、「F-2品」では1.8×104 個、「F0品」では1.2×104 個、「F3品」では6.0×103 個、「F7品」では53個であった。全体として、「鏡面品」よりも所定の凹凸12を形成した場合の方が菌数が減少しており、抗菌作用があることが分かった。特に「F7品」では、菌数が0.1%以下に減少しており、非常に高い抗菌作用を示している。 As a result of this test, the number of bacteria in the "mirror-finished product" was 8.4 x 10 4 , while the number was 1.8 x 10 4 in the "F-2 product", 1.2 x 10 4 in the "F0 product", 6.0 x 10 3 in the "F3 product", and 53 in the "F7 product". Overall, the number of bacteria was reduced in the case where the specified irregularities 12 were formed compared to the "mirror-finished product", demonstrating the existence of an antibacterial effect. In particular, the number of bacteria in the "F7 product" was reduced to below 0.1%, indicating a very high antibacterial effect.

この試験の結果から、「鏡面品」のように表面にほとんど凹凸がない状態では抗菌作用はほとんどなく、表面に凹凸12を形成しておくことによって抗菌作用が得られていることがわかる。従って、図2より波長Lが1μmにおける波高対波長比の値は0.0001以上の凹凸12を設けておくとよい。また、F研磨によって形成された凹凸12の波高対波長比は0.01以下であることから、表面に形成する凹凸12の波高対波長比は、0.0001以上0.01以下であればよい。 The results of this test show that there is almost no antibacterial effect when the surface is almost completely uneven, such as in a "mirror-finished product," but that antibacterial effect is achieved by forming the unevenness 12 on the surface. Therefore, as shown in Figure 2, it is advisable to provide the unevenness 12 with a wave-height-to-wavelength ratio of 0.0001 or more when the wavelength L is 1 μm. Also, since the wave-height-to-wavelength ratio of the unevenness 12 formed by F polishing is 0.01 or less, it is sufficient for the wave-height-to-wavelength ratio of the unevenness 12 formed on the surface to be 0.0001 or more and 0.01 or less.

さらにF研磨のランクから、粗い凹凸よりも細かい凹凸の方が抗菌作用が高いことがわかった。例えば菌数を1/10程度に減少させるのであれば、「F0品」よりも波高対波長比を小さくしておけばよく、波高対波長比が0.001より小さい凹凸12を表面に形成しておけばよいであろう。さらに例えば菌数を1/1000程度に減少させるのであれば、「F7品」程度の波高対波長比、すなわち0.0001から0.0003程度の凹凸12を表面に形成しておけばよいであろう。 Furthermore, from the F polishing rank, it was found that finer irregularities have a stronger antibacterial effect than coarse irregularities. For example, if the number of bacteria is to be reduced to about 1/10, it would be sufficient to make the wave height to wavelength ratio smaller than that of the "F0 product", and form irregularities 12 on the surface with a wave height to wavelength ratio of less than 0.001. Furthermore, if the number of bacteria is to be reduced to about 1/1000, it would be sufficient to form irregularities 12 on the surface with a wave height to wavelength ratio of about that of the "F7 product", that is, about 0.0001 to 0.0003.

このような所定の凹凸12は、F研磨技術を含め、研磨という一般的な加工方法により形成している。そのため、従来のエッチング加工などに比べて簡易な設備で加工でき、比較的安価に加工することができる。また、基材についても従来のSi基板に限られず様々な基材を使用することができ、広い用途において利用することができる。もちろん、基材に所定の凹凸12を形成しているだけであって薬剤を使用していないので、薬害を引き起こすことはなく、安全である。 These predetermined irregularities 12 are formed by a common processing method called polishing, including F-polishing technology. Therefore, compared to conventional etching processes, processing can be performed with simpler equipment and at relatively low cost. In addition, the substrate is not limited to conventional Si substrates, and various substrates can be used, allowing for use in a wide range of applications. Of course, since the predetermined irregularities 12 are simply formed on the substrate and no chemicals are used, no chemical damage is caused and the process is safe.

例えば食品の分野では雑菌の繁殖を防ぐことが要求される。もちろん、完全に滅菌でき、菌の侵入を完全に防止できれば、それに越したことはない。しかし、費用対効果を考えた場合、滅菌までは現実的でない場合もある。ある程度の除菌ができ、抗菌の作用により菌の生育、増殖などをある程度抑制することができるだけでも、食品の賞味期限を延ばして食品ロスを低減でき、食品のコスト低減にも寄与することができ、その効果は計り知れない。F研磨により所定の凹凸12を形成した金属体11を用いることによって、そのような効果を得ることができる。さらに、上述の試験では、「F7品」では、菌がほぼ死滅しており、その効果は非常に大きい。 For example, in the food industry, it is necessary to prevent the growth of germs. Of course, it would be best if it were possible to completely sterilize and completely prevent the intrusion of germs. However, when considering cost-effectiveness, sterilization may not be realistic. Even if it is possible to eliminate germs to a certain extent and to suppress the growth and proliferation of germs to a certain extent through antibacterial action, it is possible to extend the expiration date of food and reduce food waste, and it can also contribute to reducing food costs, and the effect is immeasurable. Such an effect can be obtained by using a metal body 11 with the specified unevenness 12 formed by F polishing. Furthermore, in the above-mentioned test, the bacteria were almost completely killed in the "F7 product", and the effect is very large.

所定の凹凸12を形成することにより抗菌作用を得ることができる理由として、上述した関西大学のチームは凹凸の突起が細菌の細胞膜を破るとしている。しかし、金属体11に形成している所定の凹凸12は、波長が略1μmでの平均の波高対波長比が0.0001以上0.01以下程度である。このような所定の凹凸12の突起は小さく、突起が細菌に与える物理的なダメージは大きくはないであろう。一方、凹凸面では凸部に電荷が集まることが知られており、凸部における表面電位の変化が細菌に影響し、あるいは凸部に細菌が接触することにより表面電位の違いの影響を受け、細菌の繁殖や増殖を抑えたり細菌を死滅させていると発明者らは考えている。 The Kansai University team believes that the reason why the formation of the specified irregularities 12 can provide an antibacterial effect is that the protrusions of the irregularities break the cell membrane of bacteria. However, the specified irregularities 12 formed on the metal body 11 have an average wave height to wavelength ratio of about 0.0001 to 0.01 at a wavelength of approximately 1 μm. The protrusions of such specified irregularities 12 are small, and the physical damage they cause to bacteria is unlikely to be significant. On the other hand, it is known that charges accumulate in the protrusions on an irregular surface, and the inventors believe that changes in the surface potential of the protrusions affect bacteria, or that bacteria come into contact with the protrusions and are affected by the difference in surface potential, suppressing the growth and proliferation of bacteria or killing them.

図4は、本発明の抗菌材の第2の実施の形態を示す概略図である。図中、21は容器、22は内側面、23は内底面、24は外面である。この第2の実施の形態では、内面が抗菌作用を有する容器21の例を示している。図4に示す例では、断面が内底面23に対して内側面22が略直立する形状であるが、このような形状に限らず、容器21の形状は任意であり、口広や口細形状でもよいし、枡形などのような平面方向の断面が円形以外の形状であってもよい。 Figure 4 is a schematic diagram showing a second embodiment of the antibacterial material of the present invention. In the figure, 21 is a container, 22 is an inner surface, 23 is an inner bottom surface, and 24 is an outer surface. In this second embodiment, an example of a container 21 whose inner surface has antibacterial properties is shown. In the example shown in Figure 4, the cross section has a shape in which the inner surface 22 is approximately perpendicular to the inner bottom surface 23, but this is not limited to such a shape, and the shape of the container 21 is arbitrary, and it may be a wide-mouthed or narrow-mouthed shape, or the cross section in the planar direction may be a shape other than a circle, such as a square shape.

容器21の内側面22または内底面23あるいはその両方の、一部または全部には、所定の凹凸12が形成されている。この所定の凹凸12は、上述の第1の実施の形態と同様であり、研磨により形成される。例えば、波長が略1μmにおいて平均の波高対波長比が0.0001以上0.01以下の凹凸を研磨により形成するとよい。また、この所定の凹凸12は、形成されている箇所によらず略均一であって、面として見ると周波数特性がほぼ揃った凹凸が形成されているとよい。このような所定の凹凸12を容器21内に形成することによって、容器21に収容する内容物における細菌の発生、増殖などを抑制することができる。 A predetermined unevenness 12 is formed on a part or the whole of the inner side surface 22 or the inner bottom surface 23 of the container 21, or on both. This predetermined unevenness 12 is similar to that of the first embodiment described above, and is formed by polishing. For example, unevenness having an average wave height to wavelength ratio of 0.0001 or more and 0.01 or less at a wavelength of approximately 1 μm may be formed by polishing. In addition, this predetermined unevenness 12 is approximately uniform regardless of the location where it is formed, and it is preferable that unevenness with approximately uniform frequency characteristics is formed when viewed as a surface. By forming such predetermined unevenness 12 in the container 21, it is possible to suppress the generation and proliferation of bacteria in the contents stored in the container 21.

このような所定の凹凸12を形成する研磨方法の一例としては、第1の実施の形態と同様に上述のF研磨を用いることができる。形成する所定の凹凸12は、内側面22においては上下方向(容器21の開口部と内底面23を結ぶ方向)に延在する凹凸として形成したり、周方向に延在する凹凸としたり、スパイラル状の凹凸にするなど、どのような方向のスジ状の凹凸でもよい。また、内底面23についても、同心円状の凹凸や、放射状の凹凸など、種々のスジ状の凹凸であってよい。いずれの場合も、スジ状の凹凸に限らず、ランダムに形成される凹凸であってもよい。 As an example of a polishing method for forming such predetermined irregularities 12, the above-mentioned F-polishing can be used as in the first embodiment. The predetermined irregularities 12 to be formed may be unevenness extending in the vertical direction (the direction connecting the opening of the container 21 and the inner bottom surface 23) on the inner surface 22, unevenness extending in the circumferential direction, or spiral unevenness, and may be stripe-like unevenness in any direction. Also, the inner bottom surface 23 may have various stripe-like irregularities, such as concentric circular unevenness or radial unevenness. In any case, the unevenness is not limited to stripe-like unevenness, and may be randomly formed unevenness.

もちろん、所定の凹凸12は内側面22や内底面23の全体に施すほか、内側面22については収容物が触れやすい内底面23から所定の高さまでとしたり、内底面23についても一部のみに設けるなど、部分的に所定の凹凸12を施すものであってもよいことは上述の通りである。 Of course, as mentioned above, the predetermined unevenness 12 may be applied to the entire inner surface 22 and inner bottom surface 23, or may be applied only partially, such as to the inner surface 22 up to a predetermined height from the inner bottom surface 23 where the contents are likely to come into contact, or to only a portion of the inner bottom surface 23.

図5は、本発明の抗菌材の第2の実施の形態の変形例を示す概略図である。31は金属部である。この変形例では、容器21がガラスなどで形成されており、その容器21の内側面22の下部に異なる材料、ここでは金属部31を配した例を示している。図5に示した例では、容器21の内底面23及び内側面22の下部が金属部31となっている。図4に示した例では容器21を金属により構成した例を示したが、例えばこの変形例のように凹凸を形成する領域について金属部31で構成し、それ以外の部分について別の材質に変更してもよい。 Figure 5 is a schematic diagram showing a modified example of the second embodiment of the antibacterial material of the present invention. 31 is a metal part. In this modified example, the container 21 is made of glass or the like, and a different material, here a metal part 31, is arranged on the lower part of the inner surface 22 of the container 21. In the example shown in Figure 5, the inner bottom surface 23 and the lower part of the inner surface 22 of the container 21 are made of metal part 31. In the example shown in Figure 4, an example is shown in which the container 21 is made of metal, but for example, as in this modified example, the area forming the unevenness may be made of metal part 31, and the other parts may be changed to a different material.

金属部31には、内底面23あるいは内側面22部分またはその両方の、一部または全部に対して所定の凹凸12が形成されている。この所定の凹凸12として、上述のようにF研磨など、種々の研磨加工により、波長が1μm以下の範囲において平均の波高対波長比が0.0001以上0.01以下の凹凸が形成されているとよい。この金属部31は、周囲を容器21のガラス部に接合されている。接合方法は任意であるが、例えば接着や溶着などにより行えばよい。 The metal part 31 has a predetermined unevenness 12 formed on a part or the whole of the inner bottom surface 23 or the inner side surface 22, or both. As the predetermined unevenness 12, it is preferable that unevenness with an average wave height to wavelength ratio of 0.0001 or more and 0.01 or less is formed by various polishing processes such as F polishing as described above in a wavelength range of 1 μm or less. The periphery of this metal part 31 is joined to the glass part of the container 21. Any joining method may be used, for example, by gluing or welding.

容器21のガラス部は透明である必要はなく、色ガラスや半透明、不透明なガラス、装飾が施されたガラスなどであってもよい。もちろん、容器21の材質はガラスに限られるものではなく、プラスチックやその他の材質を用いてもよい。また、金属部31についても所定の凹凸12が形成できる材料であれば種々の材料を用いてもよい。 The glass part of the container 21 does not need to be transparent, and may be colored glass, translucent glass, opaque glass, decorated glass, etc. Of course, the material of the container 21 is not limited to glass, and plastic or other materials may be used. In addition, various materials may be used for the metal part 31 as long as they are capable of forming the specified irregularities 12.

上述した第1の実施の形態及び第2の実施の形態及びこれらの変形例から分かるように、本発明によれば、上述のような所定の凹凸12を形成するという非常に簡単な構成でありながら、抗菌作用を得ることができる。これによって、薬剤などを用いずに安全で、かつ安価に、広い用途で使用することができる抗菌材を提供することができる。 As can be seen from the first and second embodiments and their modifications described above, the present invention can provide an antibacterial effect even with a very simple structure of forming the specified irregularities 12 as described above. This makes it possible to provide an antibacterial material that is safe, inexpensive, and can be used for a wide range of purposes without using chemicals, etc.

なお、第1の実施の形態で示した金属体11に所定の凹凸12を設ける構成と、第2の実施の形態で示した容器21の内面に所定の凹凸12を設ける構成とを組み合わせ、所定の凹凸12が設けられた容器21内に、所定の凹凸12が形成された金属体11を投入して用いてもよいことは言うまでもない。 It goes without saying that the configuration shown in the first embodiment in which the metal body 11 is provided with the predetermined irregularities 12 may be combined with the configuration shown in the second embodiment in which the inner surface of the container 21 is provided with the predetermined irregularities 12, and the metal body 11 on which the predetermined irregularities 12 are formed may be placed in the container 21 on which the predetermined irregularities 12 are provided.

上述した第1,第2の実施の形態及びこれらの変形例において、金属体11や金属部31として用いられる材質としては、一般的に用いられるステンレスのほか、アルミニウムやチタン、銅、スズなど、種々の金属や、様々な合金などであってもよい。また、これらの実施の形態や変形例では基材として金属を用いる例を示しているが、これに限らず、金属以外の材料であってもよく、所定の凹凸12を研磨により形成できる材質であれば、種々の材質の部材を用いてよい。さらには、例えば研磨により凹凸12を型に形成しておき、その型を用いて樹脂などにより成形したり、型を用いて後加工を施してもよく、成形後の面に所定の凹凸12が形成されていればよい。 In the first and second embodiments and their modified examples described above, the material used for the metal body 11 and the metal part 31 may be various metals such as aluminum, titanium, copper, and tin, as well as various alloys, in addition to the commonly used stainless steel. Furthermore, in these embodiments and modified examples, an example is shown in which a metal is used as the base material, but this is not limited to this, and materials other than metals may also be used, and members of various materials may be used as long as the material can be used to form the specified irregularities 12 by polishing. Furthermore, for example, the irregularities 12 may be formed in a mold by polishing, and the mold may be used to mold with resin or the like, or post-processing may be performed using the mold, and it is sufficient that the specified irregularities 12 are formed on the surface after molding.

11…金属体、12…凹凸、21…容器、22…内側面、23…内底面、24…外面、31…金属部。 11...metal body, 12...concave and recess, 21...container, 22...inner surface, 23...inner bottom surface, 24...outer surface, 31...metal part.

Claims (1)

基材の表面の一部あるいは全部に、研磨により所定の凹凸が形成されており、前記所定の凹凸は、波長が略1μmにおいて平均の波高対波長比が0.0001以上0.01以下の凹凸であることを特徴とする抗菌材。 An antibacterial material characterized in that a predetermined unevenness is formed by polishing on part or all of the surface of a substrate , and the predetermined unevenness has an average wave height to wavelength ratio of 0.0001 or more and 0.01 or less at a wavelength of approximately 1 μm .
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